JP2002006502A - レジスト用(共)重合体およびレジスト組成物 - Google Patents
レジスト用(共)重合体およびレジスト組成物Info
- Publication number
- JP2002006502A JP2002006502A JP2000392856A JP2000392856A JP2002006502A JP 2002006502 A JP2002006502 A JP 2002006502A JP 2000392856 A JP2000392856 A JP 2000392856A JP 2000392856 A JP2000392856 A JP 2000392856A JP 2002006502 A JP2002006502 A JP 2002006502A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polymer
- resist
- group
- carbon atoms
- formula
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Materials For Photolithography (AREA)
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Polymerisation Methods In General (AREA)
- Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)
Abstract
いは電子線リソグラフィー等に用いた場合に、高い感度
および/または解像度が得られるレジスト用(共)重合
体を提供する。 【解決手段】 脂環式骨格を有する単量体単位およびラ
クトン骨格を有する単量体単位から選ばれる少なくとも
一種の単量体単位を含むレジスト用(共)重合体であっ
て、分子末端に式(1)で表わされる分子末端基が含ま
れていないことを特徴とするレジスト用(共)重合体。 【化1】 (R1およびR2はH、炭素数1〜10のアルキル基、−
COO−RA、−X−COO−RA、−CONRB−RA、
−X−CONRB−RA、−NRB−RA、または−X−N
RB−RAであり、R3はシアノ基または炭素数2〜10
のシアノアルキル基である。なお、Xは炭素数1〜10
のアルキレン基であり、RAおよびRBはHまたは炭素数
1〜10のアルキル基である。)
Description
合体およびレジスト組成物に関し、特にエキシマレーザ
ーあるいは電子線を使用する微細加工に好適な化学増幅
型レジスト用(共)重合体およびレジスト組成物に関す
る。
造における微細加工の分野においてはリソグラフィー技
術の進歩により急速に微細化が進んでいる。その微細化
の手法としては一般に露光光源の短波長化が用いられ、
具体的には従来のg線、i線に代表される紫外線からD
UVへ変化してきている。
8nm)リソグラフィー技術が市場に導入され、さらに
短波長化を計ったArFエキシマレーザー(193n
m)リソグラフィー技術が導入されようとしており、さ
らに次世代の技術としてはF2エキシマレーザー(15
7nm)リソグラフィー技術が研究されている。また、
これらと若干異なるタイプのリソグラフィー技術として
電子線リソグラフィー技術についても精力的に研究され
ている。
対する高解像度のレジストとして、インターナショナル
・ビジネス・マシーン(IBM)社より「化学増幅型レ
ジスト」が提唱され、現在、この化学増幅型レジストの
改良および開発が精力的に進められている。
に使用される樹脂もその構造変化を余儀なくされてい
る。KrFエキシマレーザーリソグラフィーにおいて
は、248nmに対して透明性の高いポリヒドロキシス
チレンやその水酸基を酸解離性の溶解抑制基で保護した
ものが用いられたが、ArFエキシマレーザーリソグラ
フィーにおいては、上記樹脂は193nmにおいては透
明性が不十分でほとんど使用不可能であるため、193
nmにおいて透明なアクリル系樹脂あるいはシクロオレ
フィン系樹脂が注目されている。このようなアクリル系
樹脂としては、例えば、エステル部にアダマンタン骨格
を有する(メタ)アクリル酸エステルとエステル部にラ
クトン骨格を有する(メタ)アクリル酸エステルの共重
合体が特開平10−319595号公報、特開平10−
274852号公報等に記載されている。
クトン骨格を有する単量体を共重合してレジスト用共重
合体を製造する方法において、使用される重合開始剤と
しては、2,2’−アゾビスイソブチロニトリル(以
下、AIBNとも言う。)が知られれている。また、共
重合に使用されるAIBNの使用量は、特開平10−3
19595号公報では全ての単量体1モルに対して約
0.15モル、特開平10−274852号公報では全
ての単量体1モルに対して0.02モルであり、レジス
ト用途以外の一般の共重合体と同程度である。
ら知られている方法で製造されたレジスト用(共)重合
体はレジストに用いた場合の感度や解像度が十分でな
く、工業的にさらに高い感度や解像度が得られるレジス
ト用(共)重合体が望まれているのが現状である。
ザーリソグラフィーあるいは電子線リソグラフィー等に
用いた場合に、高い感度および/または解像度が得られ
るレジスト用(共)重合体を提供することにある。
用(共)重合体の立体規則性、(共)重合連鎖構造およ
びその分布、あるいは末端基構造等の微細構造について
鋭意検討した結果、(共)重合体の微細構造の中でも、
末端基構造がレジストの感度や解像度に大きく影響する
ことを見出し本発明に至った。
量体単位およびラクトン骨格を有する単量体単位から選
ばれる少なくとも一種の単量体単位を含むレジスト用
(共)重合体であって、分子末端に式(1)で表わされ
る分子末端基が含まれていないことを特徴とするレジス
ト用(共)重合体である。
COO−RA、−X−COO−RA、−CONRB−RA、
−X−CONRB−RA、−NRB−RA、または−X−N
RB−RAであり、R3はシアノ基または炭素数2〜10
のシアノアルキル基である。なお、Xは炭素数1〜10
のアルキレン基であり、RAおよびRBはHまたは炭素数
1〜10のアルキル基である。)
わされる化合物を重合開始剤として使用して製造され
た、脂環式骨格を有する単量体単位およびラクトン骨格
を有する単量体単位から選ばれる少なくとも一種の単量
体単位を含むレジスト用(共)重合体であって、式
(2)で表わされる重合開始剤の使用量が全ての原料単
量体1モルに対して0.018モル以下であることを特
徴とするレジスト用(共)重合体である。
OO−RA、−X−COO−RA、−CONRB−RA、−
X−CONRB−RA、−NRB−RA、または−X−NR
B−RAであり、R8およびR9はシアノ基または炭素数2
〜10のシアノアルキル基である。なお、Xは炭素数1
〜10のアルキレン基であり、RAおよびRBはHまたは
炭素数1〜10のアルキル基である。)
体単位およびラクトン骨格を有する単量体単位から選ば
れる少なくとも一種の単量体単位を含むレジスト用
(共)重合体であって、分子末端に前記式(1)で表わ
される分子末端基が、式(3)で表わされる分子末端基
100個に対して9個未満であることを特徴とするレジ
スト用(共)重合体である。
用(共)重合体を含むことを特徴とするレジスト組成物
である。
は、脂環式骨格を有する単量体単位およびラクトン骨格
を有する単量体単位から選ばれる少なくとも一種の単量
体単位を含むレジスト用(共)重合体である。本発明の
実施において用いられる脂環式骨格を有する単量体単位
とは、環状の飽和炭化水素を1個以上有する構造を含む
単量体単位である。脂環式骨格を有する単量体単位を含
むレジスト用(共)重合体およびその樹脂組成物はドラ
イエッチング耐性を有している。
ば、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、イソボルニ
ル(メタ)アクリレート、アダマンチル(メタ)アクリ
レート、トリシクロデカニル(メタ)アクリレート、ジ
シクロペンタジエニル(メタ)アクリレート等、および
これら化合物の脂環式環上に置換基を有する誘導体を
(共)重合することにより(共)重合体に導入できる。
以下、このような単量体単位を導入できる単量体を脂環
式骨格を有する単量体と言う。脂環式骨格を有する単量
体としては、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、イ
ソボルニル(メタ)アクリレート、アダマンチル(メ
タ)アクリレート、トリシクロデカニル(メタ)アクリ
レート、ジシクロペンタジエニル(メタ)アクリレー
ト、およびこれら化合物の脂環式環上に置換基を有する
誘導体が好ましい。このような単量体として具体的に
は、1−イソボニルメタクリレート、2−メタクリロイ
ルオキシ−2−メチルアダマンタン、シクロヘキシルメ
タクリレート、アダマンチルメタクリレート、トリシク
ロデカニルメタクリレート、ジシクロペンタジエニルメ
タクリレート等が挙げられる。脂環式骨格を有する単量
体単位を含むレジスト用(共)重合体は、ドライエッチ
ング耐性に優れており、またこれら単量体単位が酸によ
り脱離する保護基を含有していると優れた感度を有す
る。
式骨格を有する単量体は1種、あるいは必要に応じて2
種以上を組み合わせて使用することができる。
合、脂環式骨格を有する単量体は、単量体成分全体に対
し10〜90モル%の範囲で用いることが好ましく、よ
り好ましくは、40〜60モル%の範囲である。脂環式
骨格を有する単量体は、多いほど得られる(共)重合体
およびその樹脂組成物のドライエッチング耐性が向上
し、少ないほど他の単量体の性質が強く現れる。他の単
量体がラクトン骨格を有する単量体の場合、脂環式骨格
を有する単量体が少ないほど密着性が向上する。
内にカルボキシル基を含む環状の飽和炭化水素を有する
構造を含む単量体単位である。ラクトン骨格を有する単
量体単位を含むレジスト用(共)重合体およびその樹脂
組成物は、金属表面等の極性の高い表面に対する密着性
を有している。
ば、δ−バレロラクトン環を有する(メタ)アクリレー
ト、δ−バレロラクトン環を有するメチレン、γ−ブチ
ロラクトン環を有する(メタ)アクリレート、γ−ブチ
ロラクトン環を有するメチレン、多環式ラクトンを有す
る(メタ)アクリレート、多環式ラクトンを有するメチ
レン等、およびこれらの化合物のラクトン環上に置換基
を有する誘導体を(共)重合することにより(共)重合
体に導入できる。以下、このような単量体単位を導入で
きる単量体をラクトン骨格を有する単量体と言う。ラク
トン骨格を有する単量体としては、δ−バレロラクトン
環を有する(メタ)アクリレート、γ−ブチロラクトン
環を有する(メタ)アクリレート、多環式ラクトンを有
する(メタ)アクリレート、およびこれらの化合物のラ
クトン環上に置換基を有する誘導体が好ましい。このよ
うな単量体として具体的には、β−メタクリロイルオキ
シ−β−メチル−δ−バレロラクトン、4,4−ジメチ
ル−2−メチレン−γ−ブチロラクトン、β−メタクリ
ロイルオキシ−γ−ブチロラクトン、β−メタクリロイ
ルオキシ−β−メチル−γ−ブチロラクトン、α−メタ
クリロイルオキシ−γ−ブチロラクトン、2−(1−メ
タクリロイルオキシ)エチル−4−ブタノリド、パント
イルラクトンメタクリレート、5−メタクリロイルオキ
シ−6−ヒドロキシビシクロ[2,2,1]ヘプタン−
2−カルボキシリック−6−ラクトン、8−メタクリロ
イルオキシ−3−オキソ−4−オキサトリシクロ[5,
2,1,02,6]デカン等が挙げられる。ラクトン骨格
を有する単量体単位を含むレジスト用(共)重合体は、
金属表面等の極性の高い表面に対する密着性に優れてお
り、またこれら単量体が酸により脱離する保護基を含有
していると優れた感度を有する。
トン骨格を有する単量体は1種、あるいは必要に応じて
2種以上を組み合わせて使用することができる。
場合、ラクトン骨格を有する単量体は、単量体成分全体
に対し10〜90モル%の範囲で用いられることが好ま
しく、より好ましくは、40〜60モル%の範囲であ
る。ラクトン骨格を有する単量体は、多いほど得られる
共重合体およびその樹脂組成物の密着性が向上し、少な
いほど他の単量体の性質が強く現れる。他の単量体が脂
環式骨格を有する単量体の場合、ラクトン骨格を有する
単量体が少ないほどドライエッチング耐性が向上する。
エキシマレーザーリソグラフィー用に使用する場合は、
脂環式骨格を有する単量体単位とラクトン骨格を有する
単量体単位の両方を含むことが好ましい。また、本発明
のレジスト用(共)重合体は、脂環式骨格を有する単量
体単位および/またはラクトン骨格を有する単量体単位
以外の単量体単位が含まれていてもよい。すなわち、本
発明のレジスト用(共)重合体は、脂環式骨格を有する
単量体および/またはラクトン骨格を有する単量体と共
重合可能な他のビニル系単量体(以下、他のビニル系単
量体という。)を共重合したものであってもよい。
例えば、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)
アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレー
ト、n−プロピル(メタ)アクリレート、iso−プロ
ピル(メタ)アクリレート、n−ブチル(メタ)アクリ
レート、iso−ブチル(メタ)アクリレート、ter
t−ブチル(メタ)アクリレート、メトキシメチル(メ
タ)アクリレート、エトキシエチル(メタ)アクリレー
ト、n−プロポキシエチル(メタ)アクリレート、is
o−プロポキシエチル(メタ)アクリレート、n−ブト
キシエチル(メタ)アクリレート、iso−ブトキシエ
チル(メタ)アクリレート、tert−ブトキシエチル
(メタ)アクリレート等の直鎖または分岐骨格構造を持
つ(メタ)アクリル酸エステル;スチレン、α−メチル
スチレン、ビニルトルエン、p−ヒドロキシスチレン、
3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシスチレ
ン、3,5−ジメチル−4−ヒドロキシスチレン等の芳
香族アルケニル化合物;アクリル酸、メタクリル酸、マ
レイン酸、無水マレイン酸、イタコン酸、無水イタコン
酸等の不飽和カルボン酸;アクリルアミド、塩化ビニ
ル、エチレン等が挙げられる。これらは必要に応じて1
種または2種以上を組み合わせて用いることができる。
の密着性およびドライエッチング耐性を大きく損なわな
い範囲で用いることができ、一般には単量体成分全体に
対して40モル%以下とすることが好ましい。
式(1)で表わされる分子末端基が含まれていないか、
または含まれていてもその量が少ないことが特徴であ
る。前記式(1)で表わされる分子末端基としては、例
えば、4−メトキシ−2,4−ジメチルバレロニトリル
基、2,4−ジメチルバレロニトリル基、イソブチロニ
トリル基、2−メチルブチロニトリル基、1−シクロヘ
キサンカルボニトリル基、4−シアノペンタン酸基等が
挙げられる。なお、式(1)において、R1およびR2は
H、炭素数1〜10のアルキル基、−COO−RA、−
X−COO−RA、−CONRB−RA、−X−CONRB
−RA、−NRB−RA、または−X−NR B−RAであ
り、R3はシアノ基または炭素数2〜10のシアノアル
キル基である。なお、Xは炭素数1〜10のアルキレン
基であり、RAおよびRBはHまたは炭素数1〜10のア
ルキル基である。ここにおけるアルキル基、シアノアル
キル基、およびアルキレン基は、直鎖、分岐、あるいは
環状のいずれでもよい。
子末端基が存在しないことは、後述する測定法によって
得られた13C−NMRスペクトルに観測される式(1)
で表わされる分子末端基に由来する全ての信号がノイズ
内に隠れる等で識別できないことにより確認できる。
剤のラジカル体が反応溶液中に生じ、このラジカル体を
起点として単量体の逐次重合が進行する。そのため得ら
れた重合体の末端には重合開始残基が存在する。前記式
(1)で表わされる分子末端基が含まれない(共)重合
体を製造するには、式(1)の構造を含む前記式(2)
のような重合開始剤を全く使用せず(共)重合を行う必
要がある。式(2)の化合物は、一般にアゾ化合物と呼
ばれるもので、例えば、2,2’−アゾビスイソブチロ
ニトリル、2,2’−アゾビス(4−メトキシ−2,4
−ジメチルバレロニトリル)、2,2’−アゾビス
(2,4−ジメチルバレロニトリル)、2,2’−アゾ
ビス(2−メチルブチロニトリル)、1,1’−アゾビ
ス(1−シクロヘキサンカルボニトリル)、2−(カル
バモイルアゾ)イソブチロニトリル、2−フェニルアゾ
−2,4−ジメチル−4−メトキシバレロニトリル、
4,4’−アゾビス(4−シアノペンタン酸)等が挙げ
られる。なお、式(2)において、R4〜R7は、H、炭
素数1〜10のアルキル基、−COO−RA、−X−C
OO−RA、−CONRB−RA、−X−CONRB−
RA、−NRB−RA、または−X−NRB−RAであり、
R8およびR9はシアノ基または炭素数2〜10のシアノ
アルキル基である。なお、Xは炭素数1〜10のアルキ
レン基であり、RAおよびRBはHまたは炭素数1〜10
のアルキル基である。ここにおけるアルキル基、シアノ
アルキル基、およびアルキレン基は、直鎖、分岐、ある
いは環状のいずれでもよい。
わりに使用する重合開始剤は、熱によりラジカルを発生
し、単量体を重合させることが可能なものであればよ
い。このような重合開始剤としては、例えば、一般にケ
トンパーオキサイド類と呼ばれる、メチルエチルケトン
パーオキサイド、シクロヘキサノンパーオキサイド等の
化合物、一般にパーオキシケタール類と呼ばれる、1,
1−ビス(tert−ヘキシルパーオキシ)3,3,5
−トリメチルシクロヘキサン、1,1−ビス(tert
−ヘキシルパーオキシ)シクロヘキサン等の化合物、一
般にハイドロパーオキサイド類またはジアルキルパーオ
キサイド類と呼ばる、P−メンタンハイドロパーオキサ
イド、2,5−ジメチル−2,5−ビス(tert−ブ
チルパーオキシ)ヘキサン等の化合物、一般にジアシル
パーオキサイド類と呼ばる、イソブチリルパーオキサイ
ド、3,3,5−トリメチルヘキサノイルパーオキサイ
ド等の化合物、一般にパーオキシエステル類と呼ばれ
る、1,1,3,3−テトラメチルブチルパーオキシネ
オデカネート、tert−ヘキシルパーオキシネオデカ
ネート等の化合物、一般にパーオキシジカーボネート類
と呼ばれる、ジ−n−プロピルパーオキシジカーボネー
ト、ジイソプロピルパーオキシジカーボネート等の化合
物、一般にアゾ化合物と呼ばれる、アゾビスイソブチロ
ニトリル、ジメチル−2,2’−アゾビスイソブチレー
ト等の化合物が挙げられる。
重合体の製造に使用する重合開始剤としては、熱により
効率的にラジカルを発生し、構造中にニトリル基や水酸
基、カルボン酸基等の極性基を有しないものが好まし
く、ArFエキシマレーザー等の短波長の光源を用いる
リソグラフィー用の(共)重合体を製造する場合には、
光線透過率をできるだけ低下させないよう構造中に芳香
環を有しないものが好ましい。また、重合時の安全性等
を考慮すると、重合開始剤は10時間半減期温度が60
℃以上のものが好ましい。本発明のレジスト用(共)重
合体の製造に好適に使用できる重合開始剤としては、例
えば、式(4)〜(10)で表わされる化合物等が挙げ
られる。
タール類と呼ばれ、例えば、1,1−ビス(tert−
ヘキシルパーオキシ)3,3,5−トリメチルシクロヘ
キサン、1,1−ビス(tert−ヘキシルパーオキ
シ)シクロヘキサン、1,1−ビス(tert−ブチル
パーオキシ)3,3,5−トリメチルシクロヘキサン、
1,1−ビス(tert−ブチルパーオキシ)2−メチ
ルシクロヘキサン、1,1−ビス(tert−ブチルパ
ーオキシ)シクロヘキサン、1,1−ビス(tert−
ブチルパーオキシ)シクロドデカン、2,2−ビス(t
ert−ブチルパーオキシ)ブタン、n−ブチル−4,
4−ビス(tert−ブチルパーオキシ)バレレート、
2,2−ビス(4,4−ジ−tert−ブチルパーオキ
シシクロヘキシル)プロパン等が挙げられる。
ーオキサイド類と呼ばれ、例えば、2,5−ジメチル−
2,5−ビス(tert−ブチルパーオキシ)ヘキサ
ン、ジ−tert−ブチルパーオキサイド、2,5−ジ
メチル−2,5−ビス(tert−ブチルパーオキシ)
−3−ヘキシン等が挙げられる。
オキサイド類と呼ばれ、例えば、イソブチリルパーオキ
サイド、3,3,5−トリメチルヘキサノイルパーオキ
サイド、オクタノイルパーオキサイド、ラウロイルパー
オキサイド、ステアロイルパーオキサイド等が挙げられ
る。
パーオキシエステル類と呼ばれ、例えば、1,1,3,
3−テトラメチルブチルパーオキシネオデカネート、t
ert−ヘキシルパーオキシネオデカネート、tert
−ブチルパーオキシネオデカネート、tert−ヘキシ
ルパーオキシピバレート、tert−ブチルパーオキシ
ピバレート、1,1,3,3−テトラメチルブチルパー
オキシ−2−エチルヘキサノエート、2,5−ジメチル
−2,5−ビス(2−エチルヘキサノイルパーオキシ)
ヘキサン、1−シクロヘキシル−1−メチルエチルパー
オキシ−2−エチルヘキサノエート、tert−ヘキシ
ルパーオキシ−2−エチルヘキサノエート、tert−
ブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノエート、ter
t−ブチルパーオキシイソブチレート、tert−ヘキ
シルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、ter
t−ブチルパーオキシ3,3,5−トリメチルヘキサノ
エート、tert−ブチルパーオキシラウレート、te
rt−ブチルパーオキシイソプロピルモノカーボネー
ト、tert−ブチルパーオキシ2−エチルヘキシルモ
ノカーボネート、tert−ブチルパーオキシアセテー
ト等が挙げられる。
カーボネート類と呼ばれ、例えば、ジ−n−プロピルパ
ーオキシジカーボネート、ジイソプロピルパーオキシジ
カーボネート、ビス(4−tert−ブチルシクロヘキ
シル)パーオキシジカーボネート、ジ−2−エトキシエ
チルパーオキシジカーボネート、ジ−2−エチルヘキシ
ルパーオキシジカーボネート、ジ−3−メトキシブチル
パーオキシジカーボネート、ジ−sec−ブチルパーオ
キシジカーボネート、ジ(3−メチル−3−メトキシブ
チル)パーオキシジカーボネート等が挙げられる。
と呼ばれ、ジメチル−2,2’−アゾビスイソブチレー
ト、2,2’−アゾビス(2,4,4−トリメチルペン
タン)、2,2’−アゾビス(2−メチルプロパン)、
ジブチル−2,2’−アゾビスイソブチレート等が挙げ
られる。
R14、R17〜R19およびR25〜R30は、H、炭素数1〜
10のアルキル基、−COO−RA、−X−COO−
RA、−CONRB−RA、−X−CONRB−RA、−N
RB−RA、または−X−NRB−RAであり、R12、
R13、R15、R16およびR20〜R24は炭素数1〜10の
アルキル基、−COO−RA、−X−COO−RA、−C
ONRB−RA、−X−CONRB−RA、−NRB−RA、
または−X−NRB−RAである。なお、Xは炭素数1〜
10のアルキレン基であり、RAおよびRBはHまたは炭
素数1〜10のアルキル基である。ここにおけるアルキ
ル基およびアルキレン基は、直鎖、分岐、あるいは環状
のいずれでもよい。
式(2)のような重合開始剤を使用する場合は、式
(2)で表わされる重合開始剤の使用量が全ての単量体
1モルに対して0.018モル以下となるようにする
か、あるいは、前記式(3)で表わされる分子末端基1
00個に対して9個未満となるようにレジスト用(共)
重合体を製造する。
を全ての単量体1モルに対して0.018モル以下とな
るようにする場合、このような重合開始剤の使用量は好
ましくは0.014モル以下であり、特に0.008モ
ル以下が好ましい。
る際には連鎖移動剤を使用してもよい。連鎖移動剤を用
いると、低分子量の(共)重合体を製造する際に重合開
始剤の量を少なくすることができる、(共)重合体の分
子量分布を小さくすることができる等の利点がある。ま
た、式(11)で表わされる連鎖移動剤を使用すると、
レジストの感度が向上するという効果が得られる。
しては、例えば、1−ブタンチオール、2−ブタンチオ
ール、1−オクタンチオール、1−デカンチオール、1
−テトラデカンチオール、シクロヘキサンチオール、2
−メチル−1−プロパンチオール、2−メチルプロパン
チオール等が挙げられる。なお、式(11)において、
R25は炭素数1〜20のアルキル基であるが、ここにお
けるアルキル基は、直鎖、分岐、あるいは環状のいずれ
でもよい。また連鎖移動剤には、重合時の単量体の安定
性等を考慮すると、カルボン酸基や水酸基等の極性基は
含有しない方が好ましい。
をもつ重合体が反応溶液中に生じるが、連鎖移動剤を使
用すると、この成長末端のラジカルと連鎖移動剤が衝突
して成長末端が失活した重合体になる。一方で、連鎖移
動剤はラジカルを持った構造になり、このラジカル体が
起点となって、再び単量体が逐次重合していく。そのた
め得られた重合体の末端には連鎖移動残基が存在する。
ArFエキシマレーザー等の短波長の光源を用いるリソ
グラフィー用の(共)重合体を製造する場合には、得ら
れる(共)重合体の光線透過率をできるだけ低下させな
いよう構造中に芳香環を有しない連鎖移動剤が好まし
い。
構造を含む例えば式(11)で表わされる化合物等を用
いると、このような連鎖移動剤は成長末端との衝突によ
り硫黄原子部分にラジカルを持ったラジカル体になるの
で、このような連鎖移動剤を用いて重合させた重合体に
は連鎖移動残基として式(3)で表わされる分子末端に
存在する。式(3)で表わされる分子末端基のR10とし
ては、例えば、プロピル基、n−ブチル基、tert−
ブチル基、n−オクチル基、n−デカニル基等が挙げら
れる。なお、式(3)において、R10は炭素数1〜20
のアルキル基であるが、ここにおけるアルキル基は、直
鎖、分岐、あるいは環状のいずれでもよい。
される分子末端基を有している場合の式(1)で表わさ
れる分子末端基の量は、式(3)で表わされる分子末端
基100個に対して9個未満であることが好ましく、特
に7個以下が好ましい。
に対して式(1)で表わされる分子末端基が9個未満で
あるレジスト用(共)重合体を得る方法は特に限定され
ないが、例えば、式(3)で表わされる構造を含んだ連
鎖移動剤1モルに対して、式(1)で表わされる構造を
含んだ重合開始剤を0.5モル未満として(共)重合さ
せる等の方法が挙げられる。
は、後述する測定法によって得られた13C−NMRスペ
クトルに観測されるそれぞれの分子末端に由来する信号
の積分値から計算される。分子末端基量は、その分子構
造上の全ての炭素原子についての信号を観測して計算す
る必要はなく、分子末端基に由来し、かつ観測でき、さ
らに分子末端基であると帰属できる全ての信号を用いて
計算する。なお、式(3)で表わされる分子末端基に由
来する全ての信号がノイズ内に隠れる等で識別できない
場合は、式(3)で表わされる分子末端基は含まないも
のと考える。
信号の帰属について、脂環式骨格を有する単量体である
2−メタクリロイルオキシ−2−メチルアダマンタン
(以下、MAdMAとも言う。)とラクトン骨格を有す
るβ−メタクリロイルオキシ−γ−ブチロラクトン(以
下、HGBMAとも言う。)を、重合開始剤としてアゾ
ビスイソブチロニトリル、連鎖移動剤としてn−オクチ
ルメルカプタンを用いて得られた共重合体(共重合組成
比:MAdMA/HGBMA=50モル/50モル)を
例にとって以下に説明する。ただし、13C−NMRスペ
クトルによる分子末端構造の帰属および分子末端基の定
量において、単量体成分、重合開始剤、連鎖移動剤の種
類や組み合わせ、あるいは共重合体の共重合組成比等に
よって、化学シフトや観測される信号、あるいは定量す
るための数式は異なる。
ルキルチオ基としてはn−オクチル基、シアノアルキル
基としてはイソブチロニトリル基である。n−オクチル
基の特徴的な信号は、13.5ppm(1位)、21.
7ppm(2位)、30.9ppm(3位)、28.2
ppm(4位および5位)および27.8ppm(6
位)に観測される。またイソブチロニトリル基の特徴的
な信号は、30.2ppm(メチル基)および124.
6ppm(ニトリル基)に観測される。なお、n−オク
チル基の7位と8位、およびイソブチロニトリル基の4
級炭素の信号については、単量体成分の信号に重なって
いて観測および帰属は困難である。
するイソブチロニトリル末端基の数Aは次式により求め
ることができる。この式におけるS1、S2、S3、S
45およびS6は、それぞれ13.5ppm(1位)、
21.7ppm(2位)、30.9ppm(3位)、2
8.2ppm(4位および5位)および27.8ppm
(6位)に観測される信号の面積値であり、N1および
N2は、それぞれ24.9ppm(メチル基)および1
24.6ppm(ニトリル基)に観測される信号の面積
値である。
たレジストが従来品に比べて高感度および/または高解
像度を示す理由について、本発明者らは次のように推定
している。すなわち、従来のレジスト用(共)重合体
は、成形材料用等の一般の(共)重合体と比べて相対的
に低分子量であるにもかかわらず、(共)重合に使用さ
れるAIBNの使用量が一般の(共)重合体の場合と同
程度の多量の重合開始剤を使用して製造されていた。こ
のようにして製造された従来のレジスト用(共)重合体
では、リソグラフィーの光源から発せられる波長に吸収
を有する例えば式(1)で表わされるような構造を含む
末端基の分子鎖1本に占める割合が大きかったので、感
度や解像度が十分でなかった。本発明はこの点を制御す
ることで前記問題を解決したものと推定している。
る方法は特に限定されないが、一般に溶液重合と言われ
る重合方法が好ましい。溶液重合では、予め、単量体、
重合開始剤と、連鎖移動剤を併用する場合はその連鎖移
動剤を有機溶剤に溶解させた単量体溶液を、所定温度に
保持した有機溶剤中に滴下する、いわゆる滴下重合法が
好適である。滴下重合法における重合温度は、特に限定
はされないが、50〜150℃の範囲が好ましい。
体、重合開始剤と、連鎖移動剤を併用する場合はその連
鎖移動剤、および得られる(共)重合体のいずれも溶解
できる溶剤が好ましい。このような有機溶媒としては、
例えば、1,4−ジオキサン、イソプロピルアルコー
ル、アセトン、テトラヒドロフラン、メチルイソブチル
ケトン等が挙げられる。
均分子量は特に限定はされないが、好ましくは1,00
0〜100,000の範囲である。
用方法の一例について説明する。溶液重合等の方法で製
造された(共)重合体溶液は、テトラヒドロフラン、
1,4−ジオキサン等の良溶媒にて適当な溶液粘度に希
釈した後、メタノール、水等の多量の貧溶媒中に滴下し
て(共)重合体を析出させる。その後、その析出物を濾
別し十分に乾燥する。この工程は一般に「再沈」と呼ば
れ、場合により不要となることがあるが、重合溶液中に
残存する未反応の単量体、あるいは重合開始剤等を取り
除くために非常に有効である。これらの未反応物は、そ
のまま残存しているとレジスト性能に悪影響を及ぼす可
能性があるので、できるだけ取り除くことが好ましい。
スト用(共)重合体を溶剤に溶解させる。この溶剤は、
目的に応じて任意に選択されるが、(共)重合体の溶解
性以外の理由、例えば、塗膜の均一性、外観、あるいは
安全性等を考慮する必要がある。このような溶剤として
は、例えば、乳酸エチル、プロピレングリコールモノメ
チルエーテルアセテート、シクロヘキサン、ジグライム
等が挙げられる。
幅型レジストに使用する場合は、光酸発生剤を用いるこ
とが必要である。光酸発生剤は、化学増幅型レジスト組
成物の酸発生剤として使用可能なものの中から任意に選
択することができる。このような光酸発生剤としては、
例えば、オニウム塩化合物、スルホンイミド化合物、ス
ルホン化合物、スルホン酸エステル化合物、キノンジア
ジド化合物、およびジアゾメタン化合物等が挙げられ
る。中でも、スルホニウム塩、ヨードニウム塩、ホスホ
ニウム塩、ジアゾニウム塩、ピリジニウム塩等のオニウ
ム塩化合物が好適であり、具体的には、トリフェニルス
ルホニウムトリフレート、トリフェニルスルホニウムヘ
キサフルオロアンチモネート、トリフェニルスルホニウ
ムナフタレンスルホネート、(ヒドロキシフェニル)ベ
ンジルメチルスルホニウムトルエンスルホネート、ジフ
ェニルヨードニウムトリフレート、ジフェニルヨードニ
ウムピレンスルホネート、ジフェニルヨードニウムドデ
シルベンゼンスルホネート、ジフェニルヨードニウムヘ
キサフルオロアンチモネート等を挙げることができる。
合して使用することができる。光酸発生剤の使用量は選
択された光酸発生剤の種類により適宜選定されるが、
(共)重合体100質量部当たり、通常0.1〜20質
量部、好ましくは0.5〜10質量部である。光酸発生
剤の使用量が0.1質量部未満では、露光により発生し
た酸の触媒作用による化学反応を十分に生起させること
が困難となる恐れがあり、また20質量部を超えると、
組成物を塗布する際に塗布むらが生じたり、現像時にス
カム等を発生する恐れがある。
界面活性剤、増感剤、ハレーション防止剤、保存安定
剤、消泡剤等の各種添加剤を必要に応じて配合すること
ができる。
るが、本発明はかかる実施例のみに限定されるものでは
ない。なお、各実施例、比較例中「部」とあるのは特に
断りのない限り「質量部」を示す。また、実施例および
比較例中の物性等の測定は以下の方法を用いて行った。
解し、0.5μmメンブランフィルターで濾過した試料
溶液をゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー
(GPC)を用いて測定した。分離カラムはShode
x GPC K−805Lを2本直列、溶媒はクロロホ
ルム、流量1.0mL/min、検出器は示差屈折計、
測定温度35℃、注入量0.1mL、標準ポリマーとし
てポリメタクリル樹脂を使用した。
%)1 H−NMRの測定により求めた。この測定は、日本電
子(株)製GSX−400型FT−NMRを用いて、試
料の約5質量%の重水素化クロロホルムあるいは重水素
化アセトン溶液を直径5mmφの試験管に入れ、測定温
度40℃、観測周波数400MHz、シングルパルスモ
ードにて、64回の積算により行った。
子(株)製GSX−400型FT−NMRを用いて、試
料の約30質量%の重水素化ジメチルスルホキシド溶液
を直径5mmφのNMR測定用サンプル管に入れ、測定
温度60℃において、プロトン完全デカップリングモー
ドで測定した。測定条件は、フリップアングルを90
°、パルス間隔を36秒、積算回数は5000回とし
た。また、基準ピークとしては、測定溶媒として使用し
た重水素化ジメチルスルホキシドの信号を39.5pp
mとして設定した。この基準による化学シフトはテトラ
メチルシランを0.0ppmとした値にほぼ一致する。
また、この測定条件では、全ての炭素の磁化回復率が9
9%以上であるため、定量的な議論ができる。
ルスルホニウムトリフレートを2部、および溶剤として
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを
500部を混合して均一溶液とした後、孔径0.1μm
のメンブランフィルターで濾過し、レジスト組成物溶液
を調整した。その後、この組成物溶液をシリコンウエハ
ー上にスピンコートした後、ホットプレートを用いて、
120℃、60秒間プリベークを行い、膜厚0.5μm
のレジスト膜を形成した。次いでArFエキシマレーザ
ー露光機を使用して露光した後、ホットプレートを用い
て120℃、60秒間露光後ベークを行った。次いで、
2.38質量%水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液
を用いて室温で現像し、純水で洗浄し、乾燥して、レジ
ストパターンを形成した。ライン・アンド・スペース
(L/S=1/1)を1/1の線幅に形成する露光量を
感度として測定した。
ンの最小寸法(μm)を解像度とした。
ンサー、および温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気
下で、1,4−ジオキサン20.0部入れ、攪拌しなが
ら湯浴の温度を80℃に上げた。1−イソボニルメタク
リレート26.3部、β−メタクリロイルオキシ−β−
メチル−γ−ブチロラクトン26.9部、1,4−ジオ
キサン62.5部、1−ブタンチオール1.8部、ジメ
チル−2,2’−アゾビスイソブチレート0.3部(全
単量体1モルに対して0.00492モル、1−ブタン
チオール1モルに対して0.065モル)を混合した単
量体溶液を一定速度で6時間かけて、フラスコ中へ滴下
し、その後、80℃の温度を2時間保持した。次いで、
得られた反応溶液をテトラヒドロフランで約2倍に希釈
し、約10倍量のメタノール中に攪拌しながら滴下し、
白色の析出物(共重合体A−1)の沈殿を得た。得られ
た沈殿を濾別し、減圧下60℃で約40時間乾燥した。
得られた共重合体A−1の各物性を測定した結果を表1
に示した。
ンサー、および温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気
下で、1,4−ジオキサン20.0部入れ、攪拌しなが
ら湯浴の温度を80℃に上げた。2−メタクリロイルオ
キシ−2−メチルアダマンタン28.4部、β−メタク
リロイルオキシ−γ−ブチロラクトン20.6部、1,
4−ジオキサン62.5部、1−オクタンチオール1.
8部、2,2’−アゾビスイソブチロニトリル0.3部
(全単量体1モルに対して0.00756モル、1−オ
クタンチオール1モルに対して0.149モル)を混合
した単量体溶液を一定速度で12時間かけて、フラスコ
中へ滴下し、その後、80℃の温度を30分間保持し
た。次いで、得られた反応溶液をテトラヒドロフランで
約2倍に希釈し、約10倍量のメタノール中に攪拌しな
がら滴下し、白色の析出物(共重合体A−2)の沈殿を
得た。得られた沈殿を濾別し、減圧下60℃で約40時
間乾燥した。得られた共重合体A−2の各物性を測定し
た結果を表1に示した。
ンサー、および温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気
下で、1,4−ジオキサン20.0部入れ、攪拌しなが
ら湯浴の温度を80℃に上げた。2−メタクリロイルオ
キシ−2−メチルアダマンタン28.4部、β−メタク
リロイルオキシ−β−メチル−δ−バレロラクトン2
3.9部、1,4−ジオキサン62.5部、n−ブタン
チオール1.8部、2,2’−アゾビス(2−メチルブ
チロニトリル)0.3部(全単量体1モルに対して0.
00645モル、n−ブタンチオール1モルに対して
0.078モル)を混合した単量体溶液を一定速度で1
2時間かけて、フラスコ中へ滴下し、その後、80℃の
温度を30分間保持した。次いで、得られた反応溶液を
テトラヒドロフランで約2倍に希釈し、約10倍量のメ
タノール中に攪拌しながら滴下し、白色の析出物(共重
合体A−3)の沈殿を得た。得られた沈殿を濾別し、減
圧下60℃で約40時間乾燥した。得られた共重合体A
−3の各物性を測定した結果を表1に示した。
ンサー、および温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気
下で、1,4−ジオキサン20.0部入れ、攪拌しなが
ら湯浴の温度を80℃に上げた。2−メタクリロイルオ
キシ−2−メチルアダマンタン25.6部、β−メタク
リロイルオキシ−γ−ブチロラクトン18.6部、2−
ヒドロキシエチルメタクリレート3.2部、1,4−ジ
オキサン62.5部、1−デカンチオール1.5部、
1,1,3,3−テトラメチルブチルパーオキシ−2−
エチルヘキサノエート0.4部(全単量体1モルに対し
て0.00604モル、1−デカンチオール1モルに対
して0.171モル)を混合した単量体溶液を一定速度
で6時間かけて、フラスコ中へ滴下し、その後、80℃
の温度を2時間保持した。次いで、得られた反応溶液を
テトラヒドロフランで約2倍に希釈し、約10倍量のメ
タノール中に攪拌しながら滴下し、白色の析出物(共重
合体A−4)の沈殿を得た。得られた沈殿を濾別し、減
圧下60℃で約40時間乾燥した。得られた共重合体A
−4の各物性を測定した結果を表1に示した。
ンサー、および温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気
下で、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテ
ート20.0部入れ、攪拌しながら湯浴の温度を80℃
に上げた。2−メタクリロイルオキシ−2−メチルアダ
マンタン25.6部、β−メタクリロイルオキシ−γ−
ブチロラクトン18.6部、エチルアクリレート2.4
部、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテー
ト62.5部、1−オクタンチオール1.4部、2,
2’−アゾビス(2−メチルブチロニトリル)0.3部
(全単量体1モルに対して0.00642モル、1−オ
クタンチオール1モルに対して0.163モル)を混合
した単量体溶液を一定速度で12時間かけて、フラスコ
中へ滴下し、その後、80℃の温度を30分間保持し
た。次いで、得られた反応溶液をプロピレングリコール
モノメチルエーテルアセテートで約2倍に希釈し、約1
0倍量のメタノール中に攪拌しながら滴下し、白色の析
出物(共重合体A−5)の沈殿を得た。得られた沈殿を
濾別し、減圧下60℃で約40時間乾燥した。得られた
共重合体A−5の各物性を測定した結果を表1に示し
た。
ンサー、および温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気
下で、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテ
ート20.0部入れ、攪拌しながら湯浴の温度を80℃
に上げた。2−メタクリロイルオキシ−2−メチルアダ
マンタン25.6部、β−メタクリロイルオキシ−γ−
ブチロラクトン18.6部、α−メチレンブチロラクト
ン2.4部、プロピレングリコールモノメチルエーテル
アセテート62.5部、1−シクロヘキサンチオール
1.5部、2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレ
ロニトリル)0.4部(全単量体1モルに対して0.0
0661モル、1−シクロヘキサンチオール1モルに対
して0.161モル)を混合した単量体溶液を一定速度
で6時間かけて、フラスコ中へ滴下し、その後、80℃
の温度を2時間保持した。次いで、得られた反応溶液を
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートで
約2倍に希釈し、約10倍量のメタノール中に攪拌しな
がら滴下し、白色の析出物(共重合体A−6)の沈殿を
得た。得られた沈殿を濾別し、減圧下60℃で約40時
間乾燥した。得られた共重合体A−6の各物性を測定し
た結果を表1に示した。
ンサー、および温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気
下で、1,4−ジオキサン20.0部入れ、攪拌しなが
ら湯浴の温度を80℃に上げた。2−メタクリロイルオ
キシ−2−メチルアダマンタン25.6部、β−メタク
リロイルオキシ−γ−ブチロラクトン18.6部、ω−
カルボキシ−ポリカプロラクトン[n≒2]モノアクリ
レート(東亞合成社製)7.3部、1,4−ジオキサン
62.5部、ジメチル−2,2’−アゾビスイソブチレ
ート6.5部(全単量体1モルに対して0.116モ
ル)を混合した単量体溶液を一定速度で6時間かけて、
フラスコ中へ滴下し、その後、80℃の温度を2時間保
持した。次いで、得られた反応溶液をテトラヒドロフラ
ンで約2倍に希釈し、約10倍量のメタノール中に攪拌
しながら滴下し、白色の析出物(共重合体A−7)の沈
殿を得た。得られた沈殿を濾別し、減圧下60℃で約4
0時間乾燥した。得られた共重合体A−7の各物性を測
定した結果を表1に示した。
ンサー、および温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気
下で、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテ
ート20.0部入れ、攪拌しながら湯浴の温度を80℃
に上げた。2−メタクリロイルオキシ−2−メチルアダ
マンタン25.6部、β−メタクリロイルオキシ−γ−
ブチロラクトン18.6部、2−メタクリロイルオキシ
エチルヘキサヒドロフタル酸6.9部、プロピレングリ
コールモノメチルエーテルアセテート62.5部、1−
オクタンチオール1.8部、2,2’−アゾビスイソブ
チロニトリル0.3部(全単量体1モルに対して0.0
0752モル、1−オクタンチオール1モルに対して
0.177モル)を混合した単量体溶液を一定速度で1
2時間かけて、フラスコ中へ滴下し、その後、80℃の
温度を30分間保持した。次いで、得られた反応溶液を
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートで
約2倍に希釈し、約10倍量のメタノール中に攪拌しな
がら滴下し、白色の析出物(共重合体A−8)の沈殿を
得た。得られた沈殿を濾別し、減圧下60℃で約40時
間乾燥した。得られた共重合体A−8の各物性を測定し
た結果を表1に示した。
ンサー、および温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気
下で、γ−ブチロラクトン20.0部入れ、攪拌しなが
ら湯浴の温度を80℃に上げた。2−メタクリロイルオ
キシ−2−メチルアダマンタン28.4部、5−メタク
リロイルオキシ−6−ヒドロキシビシクロ[2,2,
1]ヘプタン−2−カルボキシリック−6−ラクトン2
6.9部、γ−ブチロラクトン62.5部、1−ブタン
チオール0.9部、tert−ブチルパーオキシイソブ
チレート0.3部(全単量体1モルに対して0.007
73モル、1−ブタンチオール1モルに対して0.18
8モル)を混合した単量体溶液を一定速度で12時間か
けて、フラスコ中へ滴下し、その後、80℃の温度を3
0分間保持した。次いで、得られた反応溶液をγ−ブチ
ロラクトンで約2倍に希釈し、約10倍量のメタノール
中に攪拌しながら滴下し、白色の析出物(共重合体A−
9)の沈殿を得た。得られた沈殿を濾別し、減圧下60
℃で約40時間乾燥した。得られた共重合体A−9の各
物性を測定した結果を表1に示した。
デンサー、および温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲
気下で、1,4−ジオキサン20.0部入れ、攪拌しな
がら湯浴の温度を80℃に上げた。2−メタクリロイル
オキシ−2−メチルアダマンタン28.4部、8−メタ
クリロイルオキシ−3−オキソ−4−オキサトリシクロ
[5,2,1,02,6]デカン28.6部、1,4−ジ
オキサン62.5部、1−デカンチオール1.6部、
2,2’−アゾビスイソブチロニトリル0.3部(全単
量体1モルに対して0.00753モル、1−ブタンチ
オール1モルに対して0.199モル)を混合した単量
体溶液を一定速度で6時間かけて、フラスコ中へ滴下
し、その後、80℃の温度を2時間保持した。次いで、
得られた反応溶液を1,4−ジオキサンで約2倍に希釈
し、約10倍量のメタノール中に攪拌しながら滴下し、
白色の析出物(共重合体A−10)の沈殿を得た。得ら
れた沈殿を濾別し、減圧下60℃で約40時間乾燥し
た。得られた共重合体A−10の各物性を測定した結果
を表1に示した。
ンサー、および温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気
下で、2−メタクリロイルオキシ−2−メチルアダマン
タン28.4部、β−メタクリロイルオキシ−γ−ブチ
ロラクトン20.6部、1,4−ジオキサン82.5
部、1−オクタンチオール1.8部、2,2’−アゾビ
スイソブチロニトリル0.3部(全単量体1モルに対し
て0.00756モル、1−オクタンチオール1モルに
対して0.149モル)を全量入れ、攪拌しながら湯浴
の温度を80℃に上げ、その温度で8時間重合させた。
次いで、得られた反応溶液をテトラヒドロフランで約2
倍に希釈し、約10倍量のメタノール中に攪拌しながら
滴下し、白色の析出物(共重合体B−1)の沈殿を得
た。得られた沈殿を濾別し、減圧下60℃で約40時間
乾燥した。得られた共重合体B−1の各物性を測定した
結果を表1に示した。
ンサー、および温度計を備えたフラスコに、窒素雰囲気
下で、1,4−ジオキサン20.0部入れ、攪拌しなが
ら湯浴の温度を80℃に上げた。2−メタクリロイルオ
キシ−2−メチルアダマンタン28.4部、β−メタク
リロイルオキシ−β−メチル−δ−バレロラクトン2
3.9部、1,4−ジオキサン62.5部、2,2’−
アゾビス(2−メチルブチロニトリル)4.8部(全単
量体1モルに対して0.103モル)を混合した単量体
溶液を一定速度で6時間かけて、フラスコ中へ滴下し、
その後、80℃の温度を2時間保持した。次いで、得ら
れた反応溶液をテトラヒドロフランで約2倍に希釈し、
約10倍量のメタノール中に攪拌しながら滴下し、白色
の析出物(共重合体B−2)の沈殿を得た。得られた沈
殿を濾別し、減圧下60℃で約40時間乾燥した。得ら
れた共重合体B−2の各物性を測定した結果を表1に示
した。
とおりである。 IBX :1−イソボニルメタクリレート MAdMA:2−メタクリロイルオキシ−2−メチルア
ダマンタン MBLMA:β−メタクリロイルオキシ−β−メチル−
γ−ブチロラクトン HGBMA:β−メタクリロイルオキシ−γ−ブチロラ
クトン MLMA :β−メタクリロイルオキシ−β−メチル−
δ−バレロラクトン M−1 :5−メタクリロイルオキシ−6−ヒドロキ
シビシクロ[2,2,1]ヘプタン−2−カルボキシリ
ック−6−ラクトン M−2 :8−メタクリロイルオキシ−3−オキソ−
4−オキサトリシクロ[5,2,1,02,6]デカンH
EMA :2−ヒドロキシエチルメタクリレート EA :エチルアクリレート MBL :α−メチレンブチロラクトン M5300:ω−カルボキシ−ポリカプロラクトン[n
≒2]モノアクリレート HH :2−メタクリロイルオキシエチルヘキサヒ
ドロフタル酸 n−Bu :n−ブチルチオ基 n−Oc :n−オクチルチオ基 n−De :n−デシルチオ基 CyHex:シクロヘキシルチオ基 IBN :イソブチロニトリル基 2MBN :2−メチルブチロニトリル基 DMVN :2,4−ジメチルバレロニトリル基
ては感度の低下がなく解像度が向上した。一方、比較例
1および2においては、感度および解像度ともに改善さ
れなかった。
用(共)重合体およびレジスト組成物は、非常に感度が
高く、また解像度も良好であるので、高精度の微細なレ
ジストパターンを安定して形成することができる。その
ため、本発明のレジスト用(共)重合体およびレジスト
組成物は、DUVエキシマレーザーリソグラフィーある
いは電子線リソグラフィー、特にArFエキシマレーザ
ー(193nm)を使用するリソグラフィーに好適に用
いることができる。
Claims (6)
- 【請求項1】 脂環式骨格を有する単量体単位およびラ
クトン骨格を有する単量体単位から選ばれる少なくとも
一種の単量体単位を含むレジスト用(共)重合体であっ
て、分子末端に式(1)で表わされる分子末端基が含ま
れていないことを特徴とするレジスト用(共)重合体。 【化1】 (R1およびR2はH、炭素数1〜10のアルキル基、−
COO−RA、−X−COO−RA、−CONRB−RA、
−X−CONRB−RA、−NRB−RA、または−X−N
RB−RAであり、R3はシアノ基または炭素数2〜10
のシアノアルキル基である。なお、Xは炭素数1〜10
のアルキレン基であり、RAおよびRBはHまたは炭素数
1〜10のアルキル基である。) - 【請求項2】 少なくとも式(2)で表わされる化合物
を重合開始剤として使用して製造された、脂環式骨格を
有する単量体単位およびラクトン骨格を有する単量体単
位から選ばれる少なくとも一種の単量体単位を含むレジ
スト用(共)重合体であって、式(2)で表わされる重
合開始剤の使用量が全ての原料単量体1モルに対して
0.018モル以下であることを特徴とするレジスト用
(共)重合体。 【化2】 (R4〜R7は、H、炭素数1〜10のアルキル基、−C
OO−RA、−X−COO−RA、−CONRB−RA、−
X−CONRB−RA、−NRB−RA、または−X−NR
B−RAであり、R8およびR9はシアノ基または炭素数2
〜10のシアノアルキル基である。なお、Xは炭素数1
〜10のアルキレン基であり、RAおよびRBはHまたは
炭素数1〜10のアルキル基である。) - 【請求項3】 脂環式骨格を有する単量体単位およびラ
クトン骨格を有する単量体単位から選ばれる少なくとも
一種の単量体単位を含むレジスト用(共)重合体であっ
て、分子末端に前記式(1)で表わされる分子末端基
が、式(3)で表わされる分子末端基100個に対して
9個未満であることを特徴とするレジスト用(共)重合
体。 【化3】 (R10は炭素数1〜20のアルキル基である。) - 【請求項4】 レジスト用(共)重合体が、式(4)〜
(10)で表わされる少なくとも一種の化合物を重合開
始剤として使用して製造されたものであることを特徴と
する請求項1〜3記載のレジスト用(共)重合体。 【化4】 (R11、R14、R17〜R19およびR25〜R30は、H、炭
素数1〜10のアルキル基、−COO−RA、−X−C
OO−RA、−CONRB−RA、−X−CONRB−
RA、−NRB−RA、または−X−NRB−RAであり、
R12、R13、R15、R1 6およびR20〜R24は炭素数1〜
10のアルキル基、−COO−RA、−X−COO−
RA、−CONRB−RA、−X−CONRB−RA、−N
RB−RA、または−X−NRB−RAである。なお、Xは
炭素数1〜10のアルキレン基であり、RAおよびRBは
Hまたは炭素数1〜10のアルキル基である。) - 【請求項5】 レジスト用(共)重合体が、式(11)
で表わされる化合物を連鎖移動剤として使用して製造さ
れたものであることを特徴とする請求項1〜4記載のレ
ジスト用(共)重合体。 【化5】 (R31は炭素数1〜20のアルキル基である。) - 【請求項6】 請求項1〜5記載のレジスト用(共)重
合体を含むことを特徴とするレジスト組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000392856A JP5132850B2 (ja) | 2000-04-20 | 2000-12-25 | レジスト用(共)重合体およびレジスト組成物 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000-120083 | 2000-04-20 | ||
JP2000120083 | 2000-04-20 | ||
JP2000120083 | 2000-04-20 | ||
JP2000392856A JP5132850B2 (ja) | 2000-04-20 | 2000-12-25 | レジスト用(共)重合体およびレジスト組成物 |
Related Child Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009186131A Division JP5411620B2 (ja) | 2000-04-20 | 2009-08-10 | レジスト用(共)重合体およびレジスト組成物 |
JP2010197892A Division JP5631670B2 (ja) | 2000-04-20 | 2010-09-03 | レジスト用(共)重合体およびレジスト組成物 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002006502A true JP2002006502A (ja) | 2002-01-09 |
JP5132850B2 JP5132850B2 (ja) | 2013-01-30 |
Family
ID=26590501
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000392856A Expired - Lifetime JP5132850B2 (ja) | 2000-04-20 | 2000-12-25 | レジスト用(共)重合体およびレジスト組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5132850B2 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002046179A1 (fr) * | 2000-12-06 | 2002-06-13 | Mitsubishi Rayon Co., Ltd. | Esters de (meth)acrylate, alcools de depart pour la preparation de ces esters, procede de preparation de ces alcools et de ces esters, polymeres de ces esters, compositions de resist chimiquement amplifiables et procede de realisation de motifs |
WO2004096787A1 (ja) * | 2003-04-28 | 2004-11-11 | Mitsubishi Chemical Corporation | 多環式ラクトン化合物及び多環式ラクトン構造を有する(メタ)アクリレート化合物、並びにその製造方法 |
JP2004359669A (ja) * | 2003-04-28 | 2004-12-24 | Mitsubishi Chemicals Corp | 多環式ラクトン化合物及び多環式ラクトン構造を有する(メタ)アクリレート化合物、並びにその製造方法 |
JP2005003862A (ja) * | 2003-06-11 | 2005-01-06 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | ネガ型レジスト組成物、及びそれを用いたレジストパターン形成方法 |
JP2007302809A (ja) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Shin Etsu Chem Co Ltd | レジスト材料用重合体及びその製造方法、レジスト材料、パターン形成方法 |
JP2011215430A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Jsr Corp | 感放射線性樹脂組成物およびそれに用いる重合体 |
WO2012133352A1 (ja) * | 2011-03-31 | 2012-10-04 | Jsr株式会社 | フォトレジスト組成物 |
WO2013047528A1 (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Jsr株式会社 | フォトレジスト組成物及びレジストパターン形成方法 |
WO2016124493A1 (en) | 2015-02-02 | 2016-08-11 | Basf Se | Latent acids and their use |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000095826A (ja) * | 1998-07-23 | 2000-04-04 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 硬化性組成物 |
JP2000186118A (ja) * | 1998-05-11 | 2000-07-04 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 新規なエステル化合物、高分子化合物、レジスト材料、及びパタ―ン形成方法 |
JP2001117231A (ja) * | 1999-10-19 | 2001-04-27 | Fuji Photo Film Co Ltd | 遠紫外線露光用ポジ型フォトレジスト組成物 |
JP2001296661A (ja) * | 2000-04-17 | 2001-10-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | ポジ型フォトレジスト組成物 |
JP2002161117A (ja) * | 2000-02-24 | 2002-06-04 | Shipley Co Llc | ポリマー及びフォトレジスト組成物 |
-
2000
- 2000-12-25 JP JP2000392856A patent/JP5132850B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000186118A (ja) * | 1998-05-11 | 2000-07-04 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 新規なエステル化合物、高分子化合物、レジスト材料、及びパタ―ン形成方法 |
JP2000095826A (ja) * | 1998-07-23 | 2000-04-04 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 硬化性組成物 |
JP2001117231A (ja) * | 1999-10-19 | 2001-04-27 | Fuji Photo Film Co Ltd | 遠紫外線露光用ポジ型フォトレジスト組成物 |
JP2002161117A (ja) * | 2000-02-24 | 2002-06-04 | Shipley Co Llc | ポリマー及びフォトレジスト組成物 |
JP2001296661A (ja) * | 2000-04-17 | 2001-10-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | ポジ型フォトレジスト組成物 |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7339014B2 (en) | 2000-12-06 | 2008-03-04 | Mitsubishi Rayon Co., Ltd. | (Meth)acrylate, raw material alcohol for the (meth)acrylate, method of producing the (meth)acrylate and the alcohol, polymer produced by polymerizing the (meth)acrylate, chemically amplified resist composition, and method of the formation of a pattern |
WO2002046179A1 (fr) * | 2000-12-06 | 2002-06-13 | Mitsubishi Rayon Co., Ltd. | Esters de (meth)acrylate, alcools de depart pour la preparation de ces esters, procede de preparation de ces alcools et de ces esters, polymeres de ces esters, compositions de resist chimiquement amplifiables et procede de realisation de motifs |
US7041838B2 (en) | 2000-12-06 | 2006-05-09 | Mitsubishi Rayon Co., Ltd. | (Meth)acrylate esters, starting alcohols for the preparation thereof, processes for preparing both, polymers of the esters, chemically amplifiable resist compositions, and method for forming patterns |
WO2004096787A1 (ja) * | 2003-04-28 | 2004-11-11 | Mitsubishi Chemical Corporation | 多環式ラクトン化合物及び多環式ラクトン構造を有する(メタ)アクリレート化合物、並びにその製造方法 |
JP2004359669A (ja) * | 2003-04-28 | 2004-12-24 | Mitsubishi Chemicals Corp | 多環式ラクトン化合物及び多環式ラクトン構造を有する(メタ)アクリレート化合物、並びにその製造方法 |
JP2005003862A (ja) * | 2003-06-11 | 2005-01-06 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | ネガ型レジスト組成物、及びそれを用いたレジストパターン形成方法 |
JP2007302809A (ja) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Shin Etsu Chem Co Ltd | レジスト材料用重合体及びその製造方法、レジスト材料、パターン形成方法 |
JP2011215430A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Jsr Corp | 感放射線性樹脂組成物およびそれに用いる重合体 |
WO2012133352A1 (ja) * | 2011-03-31 | 2012-10-04 | Jsr株式会社 | フォトレジスト組成物 |
JP5862657B2 (ja) * | 2011-03-31 | 2016-02-16 | Jsr株式会社 | フォトレジスト組成物 |
WO2013047528A1 (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Jsr株式会社 | フォトレジスト組成物及びレジストパターン形成方法 |
JPWO2013047528A1 (ja) * | 2011-09-30 | 2015-03-26 | Jsr株式会社 | フォトレジスト組成物及びレジストパターン形成方法 |
WO2016124493A1 (en) | 2015-02-02 | 2016-08-11 | Basf Se | Latent acids and their use |
US9994538B2 (en) | 2015-02-02 | 2018-06-12 | Basf Se | Latent acids and their use |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5132850B2 (ja) | 2013-01-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4000295B2 (ja) | レジスト用共重合体およびその製造方法、ならびにレジスト組成物 | |
TWI402276B (zh) | 光阻用聚合物、光阻組成物及圖案製造方法與光阻用聚合物用原料化合物 | |
KR101554046B1 (ko) | 포토레지스트용 공중합체의 제조방법 | |
JP4881002B2 (ja) | レジスト用重合体およびレジスト組成物 | |
JP2008050422A (ja) | 半導体レジストの保護膜用樹脂及び半導体の製造方法 | |
JP4502308B2 (ja) | 共重合体 | |
JP4315756B2 (ja) | (共)重合体、レジスト組成物、およびパターン形成方法 | |
JP5132850B2 (ja) | レジスト用(共)重合体およびレジスト組成物 | |
JP4372561B2 (ja) | レジスト用共重合体およびその製造方法、レジスト組成物ならびにパターン製造方法 | |
JP5620627B2 (ja) | レジスト用重合体の製造方法、レジスト組成物、および微細パターンが形成された基板の製造方法 | |
JP4315761B2 (ja) | (共)重合体、製造方法、レジスト組成物およびパターン形成方法 | |
JP2005060638A (ja) | 重合体、製造方法、レジスト組成物およびパターン形成法 | |
JP4323250B2 (ja) | 重合体、重合体の製造方法、レジスト組成物およびパターン形成方法 | |
JP5411620B2 (ja) | レジスト用(共)重合体およびレジスト組成物 | |
JP2001002735A (ja) | 化学増幅型レジスト用共重合体の製造法 | |
JP4236423B2 (ja) | 重合体、レジスト組成物、およびパターン形成方法 | |
JP5653583B2 (ja) | 半導体リソグラフィー用共重合体の製造方法 | |
JP5584980B2 (ja) | レジスト材料、レジスト組成物、微細パターンが形成された基板の製造方法、およびレジスト用重合体の製造方法 | |
JP4270959B2 (ja) | 重合体、レジスト組成物、およびパターン形成方法 | |
JP6705286B2 (ja) | 重合性単量体の製造方法、リソグラフィー用重合体の製造方法およびレジスト組成物の製造方法 | |
JP2018095687A (ja) | フォトレジスト用樹脂、フォトレジスト樹脂の製造方法、フォトレジスト用樹脂組成物、及びパターン形成方法 | |
JP2016204633A (ja) | フォトレジスト用樹脂、フォトレジスト樹脂の製造方法、フォトレジスト用樹脂組成物、及びパターン形成方法 | |
JP4390197B2 (ja) | 重合体、レジスト組成物およびパターン製造方法 | |
JP2001002717A (ja) | 化学増幅型レジスト用共重合体の製造方法 | |
JP2005272807A (ja) | レジスト用重合体 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071219 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090611 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090810 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091203 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100106 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100318 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100506 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100610 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100903 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100929 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20101004 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20101105 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121001 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121107 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151116 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5132850 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151116 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151116 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |