JP2001503008A - ガラスの成形方法 - Google Patents

ガラスの成形方法

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Abstract

(57)【要約】 溶融、清澄、供給、または形成用の容器に白金またはモリブデンを使用する製造装置でガラスを製造する方法において、この容器の外側の水素の分圧が、白金構造体の内側の水素の分圧に対して制御または操作されて、その白金またはモリブデンと接触するガラス内の表面ふくれを最小にする。

Description

【発明の詳細な説明】 ガラスの成形方法 発明の分野 本発明は、白金またはモリブデンを使用する製造装置において、ガラス、特に 、ヒ素を比較的含まないガラスを成形する方法に関するものである。本発明は、 ヒ素含有材料を使用する必要なく、高融点または高歪み点のガラス、例えば、フ ラットパネルディスプレイ装置のガラス基板に使用されるようなガラスを成形す るのに特に有用である。 発明の背景 液晶ディスプレイ(LCD)は、照明に関して外部光源に依存する受動性フラ ットパネルディスプレイである。それらLCDは、セグメント型(segmented) ディスプレイとして、または二種類の基本的な形態の内の一つに製造される。こ の二種類のマトリクスの基板の必要条件(透明性、およびディスプレイの加工中 に曝される化学的条件への耐性以外の)は異なる。第一の種類は、液晶材料の閾 値特性に依存して、内因性マトリクス駆動される(intrinsic matrix addressed )。第二の種類は、外因性マトリクス(extrinsic matrix)すなわち能動(acti ve)マトリクス(AM)駆動される。ここにおいて、ダイオード、金属−絶縁体 −金属(MIM)素子、または薄膜トランジスタ(TFT)のアレイが各々のピ クセルに電気的スイッチを提供している。両方の場合において、二枚のガラスシ ートがディスプレイの構造を形成する。この二枚のシート間の間隔は、約5−10 μmの臨界間隔寸法である。 内因的に駆動されたLCDは、典型的に350℃以下の温度での金属蒸着技術を 用い、その後、標準的な金属エッチング手法を用いることにより製造される。そ の結果、その基体の必要条件はしばしば、セグメント型ディスフルイの必要条件 と同じである。バリア層を備えたソーダライムシリカガラスが、ほとんどの用途 にとって適切であることが証明されている。内因的に駆動されたLCDの高性能 版である超ねじれネマティック(STN)型では、間隙の寸法を均一に保持する 目 的のために、非常に精密な平面度の必要条件が加えられた。その必要条件のため に、フロートガラス製造工程を用いて製造されたソーダライムシリカガラスは、 研磨しなければならない。そのような研磨工程には、費用と時間がかかり、ガラ スシートのその後の加工にマイナスの影響を与える可能性のある、多量のガラス 粒子が生じてしまう。あるいは、研磨を必要としない工程、例えば、溶融下方延 伸(fusion downdraw)を用いてガラスを形成しても差し支えない。 外因的に駆動されるLCDは、各々の光学素子(サブピクセル)に位置する電 気的スイッチの性質に依存してさらに分類することができる。外因的に(すなわ ち、能動マトリクス、AMLCD)駆動されたLCDの二つの最も普及している 種類は、非晶質(a−Si)または多結晶質(poly−Si)ケイ素薄膜トラ ンジスタ(TFT)のいずれかに基づくものである。 米国特許第4,824,808号(ダンボージュニア:Dumbaugh,Jr.)には、外因的に駆 動されたLCDに関する基板の必要条件を完全に満たすための、ガラスの有する 望ましい特性が四つ記載されている: 第一に、ガラスは、TFTがアルカリ金属で汚染される可能性を避けるために 、意図的に加えられたアルカリ金属酸化物を実質的に含んではならない; 第二に、ガラス基板は、TFTの製造中に使用される試薬に耐えられるほど十 分に化学的に耐久性でなければならない; 第三に、ガラスとTFTアレイ中に存在するケイ素との間の膨脹のずれが、基 板の加工温度が増大するときでさえ、比較的低レベルに維持されなければならな い; 第四に、ガラスは、低コストで高品質の薄いシート形態で製造できなければな らない。すなわち、そのガラスに、必要な表面仕上げを確保するために、多大な 研削および研磨を必要としてはならない。 この最後の必要条件は、実質的に仕上がった状態のガラスシートを製造できる シートガラス製造工程が必要とされるために、満たすのが最も難しい。この必要 条件を満たすことのできる工程の一つは、あふれ下方延伸(overflow downdraw) シート製造工程、または溶融シート製造工程として知られている特別な下方延伸 工程である。溶融すなわちあふれ下方延伸工程は、溶融ガラスをトラフに供給す る 工程を含み、ここで溶融ガラスがトラフからあふれ、パイプの両側から流れだし 、そのパイプの底部で互いに融合する。この工程は、例えば、米国特許第3,338, 696号(ドカーティー(Dockerty))および同第3,682,609号(ドカーティー)に記 載されている。融合形成されたガラスシートは、フロートガラスシートとは異な り、形成後に研磨する必要のないほど十分に平滑である。上述した必要条件を満 たす二種類のガラスであるコ−ニング社のコード7059および1737のシートガラス が、外因的に駆動されたLCDの基板として現在用いられている。これらガラス は、あふれ下方延伸工程を用いて作成されており、したがって、形成後の研磨を 必要としない。 最近、外因的に駆動されたLCDの解像度を改良する上で、五つ目のガラスの 必要条件、すなわち、高いガラス歪み点が新たに見出された。よく理解されてい るように、歪み点が高くなるほど、耐熱収縮性が大きくなる。TFT加工中の連 続するフォトリソグラフィー工程および他のパターン形成工程を行っている間に 精密に位置合せを行う上で低熱収縮が望ましい。その結果、より高い歪み点を有 するガラスが、外因的に駆動されたLCD、特に、poly−SiTFT技術を 用いたLCDにとって一般的に好ましい。したがって、素子の加工中に熱収縮が 最小とされるように高い歪み点を示すガラスを開発しようとする研究が盛んに行 われてきた。コーニングコード1737のガラスが急速に業界基準となってきた。こ のガラスは、AMLCD基板業界において最高の歪み点(666℃)を有している 。これらのガラスはしばしば、そのような高い歪み点と同時に、高い融解温度、 例えば、約1550-1650℃を有する。 「チップオンガラス」(COG)と称する別の技術により、さらに、熱膨張に おいてケイ素と密接に適合する基板ガラスの必要性が強調された。例えば、初期 のLCD装置には、その基板ガラスにはドライバチップが取り付けられていなか った。その代わりに、シリコンチップが、離れて取り付けられ、従順な、すなわ ち柔軟な配線によりLCD基板回路に接続されていた。LCD装置の技術が改良 され、それら装置が大型になり、より微細な解像度が必要とされるようになって きたので、これらの柔軟な取付けが、コストと不確かな信頼性のために許容され なくなってきた。この状況により、シリコンチップのテープオートマチックボン ディング(TAB:Tape Automatic Bonding))に至った。この工程において、 シリコンチップおよびこのチップへの電気的接続体をキャリヤテープ上に取り付 け、このサブアッセンブリをLCD基板に直接的に取り付け、その後、LCD回 路への接続を完了した。TABは、信頼性を改良し、導体の許容密度を約200μ mのピッチまで増大させながら、コストを減少させた。これらは全て重要な要因 である。しかしながら、COGにより、これら三つの要因に関してTABに勝る 改良が得られる。したがって、LCD装置のサイズと品質の必要条件が増大する につれ、集積回路のシリコンチップの使用に依存して、それら装置にCOGが要 求されている。この理由のために、基板ガラスは、好ましくは、ケイ素の線熱膨 張係数と密接に適合する線熱膨張係数、すなわち、約32-46×10-7/℃、最も好 ましくは32-40×10-7/℃の線熱膨張係数(0℃−300℃)を有する。 フラットパネルディスプレイ用途に製造される多くのガラス、特に、下方延伸 工程(例えば、溶融またはスロット延伸工程)により形成されるガラスは、耐火 性金属、例えば、白金または白金合金からなる製造設備を用いて、溶融または形 成される。これは、その工程の清澄および状態調節のセクションにおいて特に当 てはまる。そのセクションで、組成的不均一性の発生およびガラスの酸化物耐火 性材料との接触により生じる気体状包含物の発生を最小にするために、耐火性金 属が用いられている。さらに、これら製造工程の多くに、ヒ素が清澄剤として用 いられている。これは、ヒ素が、知られている消澄剤で最高温度のものであるか らである。これは、溶融ガラス浴に加えられたときに、高い融解温度(例えば、 1450℃より高い)でさえもガラス溶融物からO2を放出できることを意味してい る。この高温でのO2放出(ガラス製造の融解と清澄の段階における気泡の除去 に役立つ)は、より低い条件調節温度でのO2を吸収する強い傾向(ガラス中の 残留する気体状包含物を破壊するのに役立つ)と協同して、実質的に気体状包含 物を実質的に含まないガラス製品が得られる。他の清澄剤は、典型的に、清澄剤 として高融解温度ガラスに加えられたときに、融解し、それら酸素をあまりに早 すぎる時期に放出し、条件調節工程中にあまりに遅くO2を再吸収し、それによ って、それらの清澄および酸素再吸収能力が不能になってしまう。 環境的な観点から見て、ヒ素を清澄剤として使用する必要なく、そのような高 い融点および歪み点を有するガラスを製造する代わりの方法を見つけることが望 ましい。そのようなガラスを下方延伸(特に溶融様の)工程により製造する方法 を見つけることが特に望ましい。残念ながら、そのように行う以前の努力は、ガ ラス中に許容できないほどの量の気泡が発生することにより妨げられてきた。こ のような気泡の発生は、白金または白金含有合金のような耐火性金属を溶融ガラ ス供給装置に使用するガラスに関して特に問題となっている。これは、白金(お よびモリブデン)のような金属により、そのガラスに、ガラス/白金(またはガ ラス/モリブデン)の界面、すなわち、ガラスが白金と接触するところで気泡を 発生させる、電気化学反応が生じることがあるからである。ガラス/白金または ガラス/モリブデンの接触領域におけるこの気泡の発生は、ここでは、表面ふく れと称されている。 発明の概要 本発明は、製造工程の溶融、清澄、供給、条件調節または形成のセクションに おいて白金、パラジウム、ロジウム、モリブデン、またはそれらの合金を用いる 製造工程でガラスを形成する方法に関するものである。本発明は、ガラス中(ま たは製造容器の内側)の水素分圧に対して適切な製造容器の外側の水素分圧を制 御することを含んでいる。ガラス製造装置の白金またはモリブデン含有部分の内 側対外側の相対的な水素分圧をそのように制御することにより、白金またはモリ ブデンを用いていたそのようなガラス製造装置において現在まで問題であった表 面ふくれの量を制御し、所望であれば、減少させることができる。このふくれの 量は、例えば、水素がガラスから容器の白金壁に移行するのを防ぐ(そうでなけ れば、そのような移行により、気泡を形成するおそれのあるガラス/白金界面に 酸素の豊富な領域を生じることがある)のに十分な量の容器の外側の水素分圧を 提供することにより、減少させることができる。この装置の内側と外側の水素の 蒸気分圧は、例えば、その装置の内側と外側の水蒸気分圧を制御することにより 制御することができる。 例えば、白金含有形成容器を使用するガラス製造装置に関して、溶融ガラス中 の、または形成容器の内側の水蒸気分圧(したがって、水素の蒸気分圧)に対し て白金製の形成容器の外側の水蒸気分圧(したがって、水素の蒸気分圧)を調節 することにより、As23を使用する必要なくガラスをうまく清澄できることを 発見した。必要が所望である場合には、通常、高い融解温度(融解温度は、ここ では、ガラスが200ポアズの粘度を示す温度として定義されている)でAs23 ほど効率的ではない他の清澄成分をうまく用いてもよい。そのような清澄剤の例 としては、Sb23、CeO2、SnO2、Fe23、ハロゲン化物、硫酸塩、お よびそれらの混合物が挙げられる。そのような清澄剤は、本発明にしたがって、 As23の代わりに使用して、白金またはモリブデン製の製造容器を用いるガラ ス製造装置においてガラスをうまく清澄することができる。 内側と外側の水素の蒸気分圧の間の所望の関係を、例えば、溶融、清澄、条件 調節、供給および形成の工程中においてガラス中に比較的低い含水量を用いるこ とにより促進してもよい。ガラス中のそのような低含水量は、以下に説明するよ うに、例えば、ハロゲン化物含有材料を用いて、ガラス中のβ−OH、または含 有量を減少させることにより、達成することができる。 あるいは、本発明によれば、そのような関係は、白金含有またはモリブデン含 有製造容器の外側の雰囲気を制御することにより促進させても差し支えない。あ る実施の形態において、水素がガラスから白金製容器に移行するのを防ぐのに十 分な水素の分圧が、その白金製容器の外側で維持されている。そうしなければ、 そのような水素の移行により、ガラスと白金との界面でますます酸素が形成され 、これにより、この領域においてガラス中の気泡が形成されることとなる。白金 またはモリブデン含有製造容器は、ここに使用しているように、ガラスがその最 終形状に到達する地点の前に位置し、白金またはモリブデンをガラスと接触する 関係で用いている製造工程の構成部材(したがって、溶融、清澄、条件調節、供 給管、または形成セクションに白金またはモリブデンを使用している製造装置) を意味する。 白金またはモリブデン含有容器の周りの雰囲気の制御は、例えば、その工程の 白金(またはモリブデン)含有部分の周りに雰囲気制御外囲器を構築することに より促進される。あるいは、より大きな外囲器を、全製造工程の周りに提供する か、またはそうでなければ、空気雰囲気の露点が、形成工程の外側の水(したが って、水素)の蒸気分圧が形成工程の内側に存在するものと比較して制御されて いる周囲空気雰囲気を提供しても差し支えない。 本発明は、白金またはモリブデン製の製造容器を用いた製造工程を用いて製造 されるどのような酸化物ガラスの形成にも適用できると考えられる。本発明は、 ホウケイ酸塩ガラスおよびアルミノケイ酸塩ガラス、特に約1500℃より高い融点 (ここでは、粘度が200ポアズに対応する温度として定義されている)を有する ガラス、並びに高い歪み点、すなわち、630℃より高い、より好ましくは640℃よ り高い歪み点を有するガラスを製造するのに特に有用である。そのようなガラス は今まで、典型的に、清澄剤として多量のAs23を用いて製造されてきた。本 発明は、本質的にまたは実質的にヒ素を含まない、高融点および高歪み点を有す るそのようなガラスを形成することができる。実質的にヒ素を含まないとは、そ のようなガラスが0.02モルパーセント未満(このような量は、原料に含まれる不 純物の結果として通常存在する)のAs23を有することを意味する。これは、 数多くの技術に直ちに用いることのできる重大な成果であり、そのような技術の 一つに、特に、フラットパネルディスプレイ用の高歪み点ガラスシート基板の形 成がある。本発明はまた、製造工程の溶融または形成段階中にガラスと接触する 白金またはモリブデンもしくはそれらの合金を使用する製造装置を用いてそのよ うな高融点ガラスを形成することができる。この工程は、下方延伸工程を用いて 形成されるガラスの形成に特に適している。本発明の方法は、清澄剤としてヒ素 をほとんどまたは全く必要とせずに、他の高歪み点(すなわち、約630℃よりも 高い)ケイ酸塩ガラス、特にアルミノケイ酸塩またはホウケイ酸塩ガラスを形成 することができる。 形成容器の内側対外側の所望の相対的な分圧は、その形成容器がガラス接触材 料として白金またはモリブデン(もしくはパラジウムまたはロジウム)を含有す るか否かに依存する。 例えば、白金は、主にその不活性特性のためにガラス形成容器に使用するのに 適している。しかしながら、白金は、ガラス溶融物からその白金に水素を移行さ せることができ、それによって、ガラス/白金界面で酸素が豊富な層を形成する ことができ、この層により表面ふくれが生じる場合がある。その結果、白金製の ガラス製造容器に関して、水素の相対的な内側と外側の分圧を対応するレベル (おそらくは実質的に等しい)維持し、それにより、ガラス製造容器の内または 外のいずれかの水素の移行が生じないようにすることが望ましい。しかしながら 、移行が生じようとし、ガラス中に表面気泡の形成を防ぐことが望ましい場合、 そのような水素の移行が容器の外側からガラス中に生じることがより望ましい。 したがって、別の実施の形態において、白金製またはモリブデン製の製造容器の 外側の水素の分圧が、少なくともある程度の水素が容器中に移行するのに十分な レベル(例えば、容器の内側のレベルよりも高い)に維持される。 一方で、モリブデンは、酸化物の溶融物に対する還元材料として機能する。し たがって、モリブデン含有形成容器の内側の水素の分圧よりも低い、該形成容器 の外側の水素の分圧を維持して、ガラス成分の還元の結果として形成されるふく れ(溶解したSO3の還元の結果としてのSO2気泡の形成)の量を減少させるこ とが望ましい。 簡単な図面の説明 図1は、本発明による湿度制御外囲器を示している。 発明の詳細な説明 本発明は、白金またはモリブデン含有製造装置内でガラスを溶融および形成す る方法に関するものである。本発明は、清澄剤として多量のヒ素を用いる必要な く、ガラス、そして高融点(約1500℃より大きい)ケイ酸塩ガラス組成物でさえ も形成することができる。理論に結びつけることを意図するものではないが、例 えば、白金製装置に生じる気泡形成表面ふくれ効果が、白金−ガラス溶融物界面 近くに酸素の豊富な層が形成された結果として生じると考えられる。ガラス中の この酸素が豊富な層は、その溶融物の熱電電解質、酸化物清澄剤の分解、および ガラス中に溶解したOH基の数の組合せにより形成されると考えられる。この後 者のほとんどの効果は、ガラスの白金との接触の結果としてふくれの率に大きな 影響を与えると考えられる。OH基は中性の水素および酸素に解離すると考えら れる。次いで、この水素は、白金表皮に浸透し、ガラスの溶解度限界を越えた場 合に、気泡を形成することができる酸素をガラスの表面領域(白金接触領域)で 濃厚にすることができる。このように、装置の外側対装置の内側の相対的な水素 の分圧を制御することにより、白金金属を通る水素の浸透を制御することができ 、 したがって、気泡の発生が減少する。 これは、例えば、白金製容器を囲む空気中の水分量(したがって、水素の蒸気 分圧)を制御することにより実施することができる。製造装置の白金含有部分を 、例えば、水の分圧が、水素の制御された高分圧を形成して、ガラスから白金を 通って雰囲気中への水素の拡散(白金製容器の場合のように)を埋め合わせる手 段として制御されている湿度ジャケット中に包囲しても差し支えない。これは、 白金製装置内における酸化された境界層に著しい寄与することを減少させ、さら に、ガラス溶融物中で溶解したO2をOH基に転化することにより過剰な酸化を 減少させるように機能しても差し支えない。この全体的な影響が、白金を用いる 製造工程の溶融および形成セクションにおける酸素のふくれ形成を最小にする。 湿度ジャケットすなわち外囲器の形状は重要ではないと考えられる。その外囲 器は、比較的漏れ気密であるべきであるが、その機能はガスを排除するというこ とよりむしろ水の分圧を維持することであるので、真空気密性は必要とされない 。好ましくは、外囲器の外側の雰囲気からの空気が外囲器の内側中に導入されな いように、その外囲器内に正の圧力を使用する。白金含有装置に関して、水の分 圧をできるだけ高く維持することが望ましい。この分圧の上限、したがって、制 御された露点は、溶融される特定のガラス、使用する清澄剤、および製造装置が モリブデンおよび/または白金を使用するか否かを含む様々な要因に依存する。 例えば、以下の表Iに示した実施例3のガラス組成物に関して、約55°Fと約65 °Fの間の制御された露点がふくれを避けるのに最も望ましいことが現在考えら れている。ある程度の加熱が、単に、白金金属を使用する製造工程の高温セクシ ョンを包囲することにより予測され、したがって、外囲器の追加の加熱を必要と してもしなくてもよい。水蒸気は、例えば、給湿器に用いられる汎用技術を用い ることにより、または所望であるかたまは必要であれば、水の制御流動を沸騰さ せるまたはフラッシュ蒸発させることにより導入しても差し支えない。別の実施 の形態において、水素ガスを用いて水素の分圧を制御しても差し支えなく、例え ば、ある割合の水素ガスが混合された主に窒素ガスを含む混合物をその外囲器中 にポンプで送り込んでも差し支えなく、その水素の割合は、所望のように変更さ れる。 本発明はまた、ケイ酸塩ガラス組成物およびそのようなケイ酸塩組成物を、ヒ 素をほとんどまたは全く用いずに製造する方法に関するものである。好ましいガ ラスは、アルミノケイ酸塩ガラスまたはホウケイ酸塩ガラスである。そのような ガラスの好ましい製造工程は、下方延伸シート製造工程によるものである。ここ で用いられているように、下方延伸シート製造工程は、ガラスシートが、下方に 移動している間に形成されるガラスシート製造工程のいかなる形態をも意味する 。溶融すなわちあふれ下方延伸形成工程において、溶融ガラスが、トラフ中に流 入し、次いで、あふれ、パイプの両側から下方にこぼれ、根元として知られてい る所(パイプが終わり、ガラスの二つのあふれ部分が再接合する所)互いに融合 し、冷たくなるまで下方に引き伸ばされる。あふれ下方延伸シート製造工程が、 例えば、米国特許第3,338,696号(ドカーティー)および同第3,682,609号(ドカ ーティー)に記載されている。溶融形成工程に対する利点の一つは、ガラス表面 をどのような耐火性形成表面とも接触させずに、ガラスシートを形成できること である。これにより、滑らかで不純物を含まない表面が得られる。さらに、この 技術は、非常に平滑で薄いシートを非常に高い許容差で形成することができる。 その結果、溶融形成されたガラスシートは、フロートにより形成されたガラスシ ートとは異なり、TFTおよびSTN LCDの用途にとってコストのかかる研 磨段階を必要としない。 下方延伸シート形成技術の他の形態としては、スロット延伸および再延伸形成 技術が挙げられる。そのスロット延伸技術において、溶融ガラスが、底部にスロ ットが機械加工されたトラフに流入する。ガラスシートは、そのスロットから下 方に引っ張られる。ガラスの品質は、明らかに、機械加工されたスロットの精度 に依存する。再延伸工程は、概して、ガラス組成物をある形状のブロックに予備 形成し、次いで、そのガラスを再加熱し、より薄いシート製品に下方に引き伸ば す各工程を含んでいる。 好ましい実施の形態において、形成されるガラス中の含水量は、比較的低レベ ルに維持される。ガラス中の含水量を測定する方法の一つは、ベータ−OH(β −OH)を測定することによるものである。β−OHは、ここに用いているよう に、IR分光学により測定されるようなガラス中のヒドロキシル含有量の尺度で あり、基本ヒドロキシル吸収を用いて決定される。その吸収はこの材料に関して 、 約2800nmで生じる。β−OHは、2809nmでのこの材料の線吸収係数(吸光度 /mm厚さ)である。下記の等式は、試料のIR透過スペクトルからどのように してβ−OHが計算されるかを示している。 β−OH=(1/X)LOG10(T1/T2) ここで、Xはミリメートルで表した試料の厚さであり、T1は基準波長(2600n m)での試料の透過率であり、T2はヒドロキシル吸収波長(2809nm)の最小 試料透過率である。この基準波長は、試料内の表面反射、散乱、および屈折によ る信号損失を埋め合わせ、吸収のない領域から、関心のある吸収波長にできるだ け近く選択される。 下方延伸シート形成工程により低ヒ素含有ガラスを形成する本発明の好ましい 実施の形態において、バッチ成分は、得られるガラスが、β−OHレベルにより 表されるような、0.5未満、より好ましくは、0.4未満、そして最も好ましくは、 0.35未満の含水量を有するように選択される。 本発明により形成されるガラスは、好ましくは、0.1モルパーセント未満のA s23を含有し、最も好ましくは、実質的にAs23を含まない。本発明の方法 を用いれば、得られるガラス中に存在するAs23の量として表して、0.05モル パーセント未満のAs23、そしてさらに、0.02モルパーセント未満のAs23 を用いてケイ酸塩ガラス(特にアルミノケイ酸塩ガラスおよびホウケイ酸塩ガラ ス)を形成できることが分かった。白金を基材とする金属供給装置を用いた下方 延伸シート形成工程を用いて形成した場合でさえも、そのようなガラスを、著し い量の電気化学ふくれを生じさせずに形成できる。最も好ましい実施の形態にお いて、これらのガラスの清澄を促進させるために、Sb23、CeO2、SnO2 、Fe23、およびこれらの混合物をそのようなガラスに、単体または組合せで 、約0.02−2モルパーセントの間の量で加える。好ましい実施の形態において、 Sb23を約0.2−0.5モルパーセントの間の量で加える。 ガラスの含水量またはβ−OH値は、様々な方法で減少させることができる。 例えば、単にバッチ材料を適切に選択することにより、ガラス中の水分レベルを ある程度調節することができる。さらに、水分は、ハロゲン化物材料のような乾 燥剤を加えることにより減少させることができる。例えば、ハロゲン化物含有材 料を、約0.1−4モルパーセントのハロゲン化物、より好ましくは0.1−2モルパ ーセントのハロゲン化物、そして最も好ましくは約0.1−0.3モルパーセントのハ ロケン化物を含有する組成を有する最終ガラスga得られる量で加えてもよい。実 施例に開示されたガラス組成物を形成する好ましい実施の形態において、0.4モ ルパーセントの塩素を、例えば、CaCl2としてバッチに配合し、得られるガ ラスにおいて約0.15−0.19モルパーセントのClを達成する。 さらに、ガラス中に溶解される揮発性気体全ての分圧の合計を1気圧未満に維 持することが望ましい。この結果を促進させる方法の一つは、バッチ材料を適切 に選択することにより、得られるガラス中の硫黄の量を制限することによるもの である。好ましくは、バッチ材料は、形成されるガラス中のSO3として表され る硫黄は、できるだけ低く、好ましくは、100ppm未満、より好ましくは、50 ppm未満、そして最も好ましくは25ppm未満となるように選択すべきである 。 本発明による方法は、例えば、酸化物基準のモルパーセントで表して、60-73 %のSiO2、8-14%のAl23、5-17%のB23、0-5%のTiO2、0-5%のT a25、0-5%のMgO、1-13%のCaO、0-8%のSrOおよび0-14%のBaO を含む組成を有するガラスのような、高歪み点アルミノホウケイ酸塩ガラスを形 成するのに特に有利である。 より好ましくは、基礎ガラスは、酸化物基準のモルパーセントで表して、64-7 0%のSiO2、9.5-14%のAl23、5-12%のB23、0-5%のTiO2、0-5% のTa25、0-5%のMgO、3-13%のCaO、0-5.5%のSrOおよび2-8%の BaOを含み、MgO+CaO+SrO+BaOの合計が10-20%である組成を 有する。 この好ましい組成範囲内に含まれるガラスが、例えば、米国特許第5,374,595 号に開示されている。その明細書をここに引用する。本発明により形成された好 ましいガラスは、0℃−300℃の温度範囲に亘り32-46×10-7/℃の間、より好ま しくは、32-40×10-7/℃の間の線熱膨張係数;630℃より高い、より好ましくは 、640℃より高い、そして最も好ましくは650℃より高い歪み点;1125℃未満の液 相線温度;下方延伸製造工程により形成できるのに十分な、好ましくは、400,00 0ポアズより大きい、より好ましくは、600,000ポアズ(60,000Pa・s)より大 きい液相線粘度;95℃で5重量%のHCl水溶液中に24時間浸漬した後の2mg /c m2未満の損失重量;溶融および形成温度での失透に対する長期安定性;および1 675℃未満での約200ポアズ(20Pa・s)の溶融粘度を示す。本発明の方法を、 例えば、米国特許第5,374,595号における実施例として列記されたガラスのよう な、上述した範疇に含まれる組成を有するガラスに用いてもよく、それによって 、そのようなガラスをヒ素を使用する必要なく、清澄し、形成することができる 。 最も好ましいガラスにおいて、低水分レベルに加えて、Al23のレベルがB23のレベルより大きく、最も好ましいガラスにおいて、その組成は、モルパー セントで表して、約65-69%のSiO2、約10-12%のAl23、約7-10%のB23 、約0-3%のTiO2、約0-3%のTa25、約1-5%のMgO、約3-9%のCaO 、約1-3%のSrOおよび約2-5%のBaOを含み、MgO+CaO+SrO+B aOの合計が約11-16%である組成を有する。好ましくは、そのようなガラス中 のAl23:B23の比率は、1より大きい。 本発明のガラスは、好ましくは、0.2モルパーセントのAs23、より好まし くは、0.05モルパーセントのAs23、そして最も好ましくは、0.02モルパーセ ント(原料の不純物の結果として通常存在する量)のAs23を有する。そのよ うなガラスが、米国特許出願第08/742,610号にも記載されている。その明細書を ここに引用する。 ここに記載されている方法は、様々なガラス、特に、形成領域に白金を用いた 下方延伸製造工程により形成されたガラスに適用できる。例えば、本発明の用途 は、限定するものではないが、以下の表Iに列記したもののようなガラスの形成 に有益であると考えられる。これらのガラスは、この種の製品の商業生産に典型 的に用いられるあふれ下方延伸装置と類似の研究所規模の連続溶融装置において 調製したものである。この実験用の溶融装置では、白金/ロジウム合金の耐火性 金属供給装置を用いており、ここで、溶融ガラスが白金合金金属に接触する。表 Iの実施例4は、市販のコーニングコード1737のガラスに密接に対応し、得られ たガラスにおいて約0.4モルパーセントが存在することとなった量のヒ素を用い て清澄した。実施例1、2および3は、水分量を減少させることのこれら組成物 への影響を示している。ガラスのβ−OH値が減少するにつれ、ガラス中の気体 状包含物(Inc./lb.)も減少する。これらの実施例において、気体状包含物は、 主 に、溶融ガラスを供給する白金合金製パイプにより生じた電気化学ふくれの結果 であり、その結果、白金のような金属を用いた製造工程を正確に模倣している。 気体状包含物は、二、三日の期間に亘りポンド当たり基準で測定した。実施例に より示されているように、ポンド当たりの包含物は、β−OH値が減少するごと に著しく低下した。このことが清澄剤としてAs23を使用する必要なく行われ たという事実により、この実施は重要なことである。 表Iは、酸化物基準の重量部で表された、本発明を説明する様々なβ−OHレ ベルの類似のガラス組成物を列記している。個々の成分のごぷ計がほぼ100とな るので、全ての実質的な目的にとって、列記した値は、重量パーセントを表すも のとしてもよい。表IAは、酸化物基準のモルパーセントで表した同一のガラス 組成物を列記している。実際のバッチ成分は、互いに他のバッチ成分と溶融した ときに、適切な比率で所望の酸化物に転化される、酸化物または他の化合物いず れかのどのような材料であってもよい。例えば、SrCO3およびCaCO3は、 それぞれ、SrOおよびCaOの供給源を提供することができる。実施例3にお いて、Clは、バッチより0.2重量パーセントの過剰のレベルでCaCl2として 加え、得られたガラス中において約0.87重量パーセントのClが維持された。バ ッチより約2.7重量パーセント過剰の水が実施例1および4に加えられた。 表Iはまた、当業者に慣習的な技術にしたがって、ガラスに決定されるいくつ かの化学的特性および物理的特性の測定値を列記している。このように、×10-7 /℃で表された0℃−300℃の温度範囲に亘る線熱膨張係数(CTE)、並びに ℃で表された、軟化点、アニール点、および歪み点は、ファイバの伸長により測 定した。HCl中の耐久性は、95℃で5重量%のHCl水溶液の浴中に24時間に 亘り浸漬した後の損失重量(mg/cm2)を測定することにより決定した。 ガラスの液相線温度は、標準液相線方法を用いて測定した。この方法は、白金 製ボート内に破砕したガラス粒子を配置し、このボートを勾配温度領域を有する 炉内に配置し、ボートを適切な温度領域で24時間に亘り加熱し、結晶がガラスの 内部に現れる最高温度を顕微鏡検査により測定する各工程を含む。溶融温度(℃ で表される)(ガラス溶融物が200ポアズ[20Pa・s]の粘度を示す温度とし て定義されている)を、高温粘度データに適合させるようにファルチャーの方程 式 を用いて計算した。液相線粘度もまた、ファルチャーの方程式の係数を用いて計 算し、×1,000,000ポアズ(100,000Pa・s)として表されている。SnO2を 、製造の溶融条件を再現するのに適切な量で実施例1−3に加えた。ここでは、 ガラスを溶融するのに用いたスズ電極により、得られたガラス中に酸化スズが残 留した。 表I SiO2 59.49 58.82 58.91 57.07 Al23 16.4 16.7 16.58 16.46 B23 8.29 8.3 8.21 8.35 MgO 0.737 0.739 0.765 0.77 CaO 4.109 4.111 4.116 4.21 SrO 1.889 1.883 1.887 1.88 BaO 8.6 8.59 8.61 9.49 SnO2 0.062 0.09 0.092 Sb23 1.857 1.852 1.856 0 As23 0 0 0 1.11 加えたH2Oの% 2.70 0 0 2.7 Cl 0 0 0.087 0 β−OH 0.481 0.41 0.358 0.440 Inc./Ib. 15.2 2.06 0.26 .21 軟化点 973 976 977 968 融点 1641 1638 1644 1625 歪み点 660 665 664 658 アニール点 717 719 720 714 液相線温度 1080 1080 1090 1050 液相線粘度 1.37 1.4 1.06 2.51 HCI耐久性 0.46 0.44 0.45 0.61 CTE 36.3 36.6 36.6 37.6 表IA SiO2 68.6 68.2 68.3 67.3 Al23 11.1 11.4 11.3 11.4 B23 8.25 8.31 8.22 8.5 MgO 1.27 1.28 1.32 1.35 CaO 5.08 5.11 5.11 5.32 SrO 1.26 1.27 1.27 1.28 BaO 3.89 3.9 3.91 4.39 SnO2 0.03 0.04 0.04 -- Sb23 0.44 0.44 0.44 -- As23 0.4 以下の実施例は、説明であって、制限を意図するものではなく、これら実施例 は、白金製の形成、溶融、または供給装置の外側の水素の分圧を制御することの 得られたガラスに与え得る影響を示している。実施例 この実施例は、pt容器の空気接触表面上の雰囲気の露点が、ガラス/pt界 面でのpO2(O2の分圧)に影響を与え、その結果としてこの領域に形成される 酸素の表面ふくれの量に影響を与えることを示している。この実験において、端 部が閉じた、0.030インチ厚の壁を有する、0.435インチの直径のPt−10Rh 管二つを、上述した実施例3と同様の組成を有する溶融ガラス(したがって、そ のガラスはSb23を用いて清澄した)中に浸漬し、約1590℃まで加熱した。実 験中ずっと、これら二つの管における露点は、それそれ、68°Fおよび87°F維 持された。また、ジルコニア酸素参照電極をそのガラス中に浸漬した。この電極 は、安定な参照電極として用いた。ジルコニア酸素センサの内側の酸素の分圧お よび露点を一定に維持した。そのような酸素電極は、白金のように、分圧差のた めに水素移行しずらく、したがって、良好な参照電極を構成する。次いで、各々 の白金管のジルコニア酸素電極に対する直流電位を100時間に亘りモニタした。 この直流電位は、約4−5時間以内に平衡に達した。100時間後、実験を終了し 、それらの管のガラス露出部分からのPt試料を、Sb分析のために採取した。 測定した平衡直流電位は、ネルンストの方程式による管表面でのガラス溶融物中 の酸素の分圧に関連することが分かった。したがって、溶融ガラスと白金管との 間の界面 での酸素の分圧に関する以下に報告する数は、ネルンストの方程式; E=(RT/nF)In(Pt/ガラス界面でのpO2/参照のpO2) を用いて計算した。ここで、 R=気体定数 T=度Kで表した温度 n=交換した電子の数(4) F=ファラデー定数。 この試験の結果は、直流電位およびしたがってPt/ガラス界面での酸素の分 圧は、白金管の内側の雰囲気の露点に関連したことを示した。白金中のSb不純 物のレベルも、Pt/ガラス界面でのpO2に関連した。 露点 pO2 Pt中のSbのppm 68°F 0.48気圧 337 87°F 0.19気圧 623 この実施例は、露点が減少するにつれ、白金/ガラス界面での酸素の分圧が増 大することを示している。白金/ガラス界面での酸素の増大した分圧は、水素の 白金を通って外側の雰囲気中への移行の証拠を示している。これがガラス製造工 程である場合には、白金/ガラス界面での酸素の蒸気分圧が増大すると、この領 域におけるふくれが増大することとなるであろう。また、露点が増大するにつれ 、白金中に移行するアンチモン(この場合に清澄剤として用いられた)の濃度が 同様に増大するという事実も証拠となる。これは、Pt容器中のSbの量が増大 するにつれ、生じるPt/Sb合金の融点が、典型的に用いられているPtまた はPt/Rh合金の融点よりも一般的に低いので、同様に問題となりうる。これ は、明らかな製造上の問題、例えば、Pt含有容器の溶融に導かれうる。その結 果、Sb23を用いて清澄されるガラスに関して、白金製容器の外側の露点は、 好ましくは、ガラス中のふくれが感知できるほど生じないレベルに維持されるべ きであり、それでも、Sbの白金製容器中への移行が実質的に最小となる。 所定のガラス製造工程にとって最適な露点は、特定の製造工程および形成され るガラスの組成を含む様々な要因に依存して異なる。例えば、ある製造工程にお いて、Ptを通る正味の水素移行がゼロの条件であることが望ましい。そのよう な条件下では、貴金属製容器が不活性容器と同程度のものとなる(すなわち、容 器の璧を通って、水素が全く移行しない)。 好ましい実施の形態において、検出装置により、その拡散水素の流れをモニタ する。例えば、そのような検出装置は、上述した実施例において記載されたもの と類似していてもよく、ここで、白金壁の一部が白金製容器本体から電気的に隔 離されており、その直流電位が、ガラス溶融物中に挿入された安定な酸素参照電 極に対して測定される。測定された電位は、白金管センサ中の白金壁を通る水素 移行量に比例する。上記のように示したように、水素移行量は、白金製容器の外 側対内側の水素の相対的な分圧に依存する。その結果、この測定された電位を用 いて、白金製製造容器の外側対内側の相対的な水素分圧を測定することができる 。したがって、所望の直流電位は、白金製製造容器の外側対内側の相対的な水素 分圧を調節することにより維持してもよい。上記のごとく説明したように、これ は、ガラスと接触する白金を用いる製造工程の部分を密閉または包囲し、これら 外囲器の内側の湿度または露点を制御することにより行っても差し支えない。そ の結果、表面ふくれのないガラスが形成された満足のいく水素分圧関係(内側対 外側)が見つかるまで、様々な組合せを用いても差し支えない。この湿度関係に 対応する直流電位に注目することにより、この電位を標的電位として用い、必要 であれば湿度を変更し、この電位を標的電位に維持しても差し支えない。あるい は、直流の電流を制御して、参照電極に対するそのような所望の一定電位に白金 製容器を保持しても差し支えない。 好ましい測定装置が図1に示されている。白金製容器10が、溶融ガラス13がそ こを通って流れる白金壁12を備えている。容器10の白金璧12はどのような形状( 例えば、断面が円形または矩形)を有していても差し支えなく、容器10を通る溶 融ガラスの流れる方向は重要ではない。白金製フラッグ電極14が溶融ガラス中に 浸漬されている。白金製フラッグは白金の平らなシートを意味するものであり、 それにより、その白金の両側が溶融ガラスと接触し、したがって、そのフラッグ は水素の浸透を経験しない。白金管20も溶融ガラス13中に浸漬されており、その 内側が、白金製容器10の外側の雰囲気と接触している。フラッグ電極14および白 金管20の両方は、絶縁材料24により白金製製造容器10から隔離されている。次い で、フラッグ電極14および白金管20が図1に示すように接続されている。コント ローラ15が、電極14および20の間の標的電位を維持するのに必要な可変直流電源 16からの電圧を調節するのに用いられている。次いで、この電圧を維持するのに 必要な電流が、白金壁20、したがって、同様に白金壁12を通る水素の流れの尺度 として電流計14から読み取られる。例えば、電流の増加は、ガラスからPt装置 の外側の雰囲気中への水素の移行速度の正味の減少を意味する。逆に、電流の減 少は、ガラスからPt装置の外側の雰囲気中への水素の移行速度の正味の増加を 意味する。 図1に示した装置は、外囲器30(概略で示されている)により包囲されており 、この外囲器により、白金製容器10を囲む水素の分圧を制御することができる。 したがって、上述した測定装置が標的電位からの変化を示す場合には、外囲器30 の内側の湿度を調節して、この変化を修正する。クレームした本発明の範囲に含 まれる他の変更例が当業者には明らかとなる。例えば、フラッグ14および白金管 20の間の電位を単に電圧調整器によりモニタし、その電圧に対して生じた信号を 測定し、次いで、その信号を、信号に応答して外囲器内の湿度または露点を増大 または減少させることのできる制御装置に送信しても差し支えない。さらに、図 1においては容器10の一部のみが包囲されているけれども、好ましい実施の形態 において、白金製容器を用いた製造工程の全体が包囲される。明らかに、水素の 分圧が直接的に変更されるのであれば、同様の制御装置を改良しても差し支えな い。 説明を目的として本発明を詳細に記載してきたが、そのような詳細はその目的 のみのためであり、以下の請求の範囲により定義された本発明の精神および範囲 から逸脱せずに当業者により変更をここに行っても差し支えないことが理解され よう。例えば、ここに記載した原理の多くは、白金製製造容器に関して記載され ているが、これらの原理は、モリブデン、パラジウム、ロジウム、またはそれら の合金を用いた製造容器にも同等に適用できる。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.製造工程の溶融、清澄、供給、または形成用の容器に、白金、モリブデン、 パラジウム、ロジウム、およびそれらの合金からなる群より選択された金属を 用いた製造工程で酸化物ガラスを形成する方法であって、該容器の内側の水素 の分圧に対して該容器の外側の水素の分圧を制御する段階を含むことを特徴と する方法。 2.前記制御段階が、形成されたガラス中の包含物の存在に応答して前記外側の 水素の分圧を調節することを含むことを特徴とする請求の範囲第1項記載の方 法。 3.前記制御段階が、前記容器の内側の水蒸気の分圧に対して該容器を囲む水蒸 気の分圧を調節することを含むことを特徴とする請求の範囲第1項記載の方法 。 4.前記容器の周りに外囲器を提供して、前記制御段階を促進させることを含む ことを特徴とする請求の範囲第1項記載の方法。 5.前記制御段階が、前記外囲器内の湿度を操作する手段を用いることを含むこ とを特徴とする請求の範囲第4項記載の方法。 6.前記制御段階が前記外囲器を加湿することを含むことを特徴とする請求の範 囲第4項記載の方法。 7.前記制御段階が前記外囲器を除湿することを含むことを特徴とする請求の範 囲第4項記載の方法。 8.前記制御段階が、前記外囲器の内側の露点を制御することを含むことを特徴 とする請求の範囲第4項記載の方法。 9.前記制御段階が、参照に対する前記容器内の電位をモニタし、該容器の外側 の前記分圧をモニタした電位にしたがって調節することを含むことを特徴とす る請求の範囲第1項記載の方法。 10.前記調節段階が、前記既知の参照電位に対して前記容器内の所望の電位を維 持するのに必用な直流の電流をモニタすることを含むことを特徴とする請求の 範囲第9項記載の方法。 11.前記容器が白金からなり、前記方法が、電流の減少に応答して前記容器の外 側の水素の分圧を増大させ、電流の増大に応答して前記容器の外側の水素の分 圧を減少させることを含むことを特徴とする請求の範囲第10項記載の方法。 12.前記容器がモリブデンからなり、前記方法が、電流の増大に応答して前記容 器の外側の水素の分圧を減少させ、電流の減少に応答して前記容器の外側の水 素の分圧を増大させることを含むことを特徴とする請求の範囲第10項記載の方 法。 13.前記ガラスを下方延伸ガラス製造工程を用いて形成することを含むことを特 徴とする請求の範囲第1項記載の方法。 14.形成されたガラスがAs23として表されるヒ素を0.2モルパーセント未満 含有するようにバッチ成分を選択することを含むことを特徴とする請求の範囲 第1項記載の方法。 15.形成されたガラスのβ−OHが約0.5mm-1未満となるようにバッチ成分を 選択することを含むことを特徴とする請求の範囲第14項記載の方法。 16.前記下方延伸ガラス製造工程がシート形成下方延伸工程であることを特徴と する請求の範囲第13項記載の方法。 17.前記溶融段階における下方延伸工程が溶融工程であることを特徴とする請求 の範囲第16項記載の方法。 18.Sb23、CeO2、SnO2、Fe23、ハロゲン化物含有化合物、硫酸塩 含有化合物、およびそれらの混合物からなる群より選択される薬剤から実質的 になる清澄剤を用いることを含むことを特徴とする請求の範囲第1項記載の方 法。 19.前記バッチ成分および工程の制御変数が、前記ガラスが0.1モルパーセント 未満のAs23を含むように調節されることを特徴とする請求の範囲第18項記 載の方法。 20.前記バッチ成分および工程の制御変数が、前記溶融段階のガラスが実質的に ヒ素を含まないように調節されることを特徴とする請求の範囲第18項記載の方 法。 21.前記溶融段階が、0.02モルパーセントから1モルパーセントまでの間のSb 23を有するガラスが得られる量でヒ素含有材料を用いることを特徴とする請 求の範囲第1項記載の方法。 22.前記溶融段階が、形成されたガラス中のハロゲン化物が約0.1モルパーセン トから約2モルパーセントまでとなるのに十分な量でハロゲン化物含有化合物 を用いることを含むことを特徴とする請求の範囲第1項記載の方法。 23.形成されたガラスが、酸化物基準のモルパーセントで表して、60-73%のS iO2、8-14%のAl23、5-17%のB23、0-5%のTiO2、0-5%のTa2 5、0-5%のMgO、1-13%のCaO、0-8%のSrOおよび0-14%のBaO を有するアルミノホウケイ酸塩ガラスからなることを特徴とする請求の範囲第 1項記載の方法。 24.前記形成されたガラスが、実質的にアルカリ金属酸化物を含まず、630℃よ り高い歪み点、および0℃−300℃の温度範囲に亘る32-40×10-7/℃の線熱膨 張係数を示すことを特徴とする請求の範囲第23項記載の方法。 25.請求の範囲第1項記載の方法を用いて形成されたケイ酸塩ガラスシート。 26.請求の範囲第22項記載の方法を用いて形成されたケイ酸塩ガラスシート。 27.前記ガラスが0.1モルパーセント未満のAs23を含むことを特徴とする請 求の範囲第26項記載の方法。 28.前記ガラスが実質的にAs23を含まないことを特徴とする請求の範囲第26 項記載の方法。 29.白金、パラジウム、ロジウム、モリブデン、およびそれらの合金からなる群 より選択される金属を用いるガラス製造容器を通る水素の相対的流動を測定す る方法であって、 参照電極を溶融ガラス中に浸漬し、 該溶融ガラス中に白金管を浸漬し、ここで該白金管内の雰囲気が、白金また はモリブデンの壁の外側の雰囲気と接触しており、 前記参照電極に対する前記白金管の直流電位を測定する各工程を含むことを 特徴とする方法。 30.前記参照電極を前記白金管から絶縁することを含むことを特徴とする請求の 範囲第29項記載の方法。 31.前記参照電極が、該電極の内側対外側の水素の分圧の差により生じる水素移 行のために電気化学的変動を受けにくいことを特徴とする請求の範囲第29項記 載の方法。 32.前記参照電極が白金フラッグからなることを特徴とする請求の範囲第31項記 載の方法。 33.前記参照電極がジルコニア酸素センサからなることを特徴とする請求の範囲 第31項記載の方法。 34.請求の範囲第29項記載の測定方法を用いて、白金製またはモリブデン製の製 造容器の外側の水素の蒸気分圧を制御する方法であって、前記電位に応答する 前記白金壁の内側の水素の分圧と比較して該白金壁の外側の水素の分圧を調節 することを含むことを特徴とする方法。 35.前記制御段階が、前記容器中への水素の移行のためにガラス/白金界面に沿 って包含物が形成されるのを防ぐのに十分な、該容器の外側の水素の分圧を提 供することを含むことを特徴とする請求の範囲第1項記載の方法。 36.前記制御段階が、前記容器の内側のガラス中の水素の分圧よりも大きい、該 容器の外側の水素の分圧を提供することを含むことを特徴とする請求の範囲第 1項記載の方法。
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