JP2001311741A - 電気計測用の測定プローブユニット - Google Patents
電気計測用の測定プローブユニットInfo
- Publication number
- JP2001311741A JP2001311741A JP2000130368A JP2000130368A JP2001311741A JP 2001311741 A JP2001311741 A JP 2001311741A JP 2000130368 A JP2000130368 A JP 2000130368A JP 2000130368 A JP2000130368 A JP 2000130368A JP 2001311741 A JP2001311741 A JP 2001311741A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- measured
- measurement probe
- measuring
- measuring probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】大型導体からなる被測定物の測定ポイントに対
し測定プローブを位置固定して接触させることにより、
これを持つ必要をなくして正確な測定作業を遂行できる
電気計測用の測定プローブユニットを提供する。 【解決手段】被測定物１０１の断面形状との関係で定ま
る凹設載置面１５を底面１４側に有して被測定物１０１
を跨ぐようにして載置される基台部１１と、押圧付勢さ
れた接触ピン２４を有して該基台部１１に配設される測
定プローブ２１とで構成され、該測定プローブ２１は、
基台部１１における上面１２ａの略中央部位から凹設載
置面１５へと貫通させた測定プローブ装着用孔１６を介
することにより、接触ピン２４を凹設載置面１５から突
出させて着脱自在に配設した。
し測定プローブを位置固定して接触させることにより、
これを持つ必要をなくして正確な測定作業を遂行できる
電気計測用の測定プローブユニットを提供する。 【解決手段】被測定物１０１の断面形状との関係で定ま
る凹設載置面１５を底面１４側に有して被測定物１０１
を跨ぐようにして載置される基台部１１と、押圧付勢さ
れた接触ピン２４を有して該基台部１１に配設される測
定プローブ２１とで構成され、該測定プローブ２１は、
基台部１１における上面１２ａの略中央部位から凹設載
置面１５へと貫通させた測定プローブ装着用孔１６を介
することにより、接触ピン２４を凹設載置面１５から突
出させて着脱自在に配設した。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、大型導体からなる
被測定物に固定して電圧、電流、抵抗等の電気的な変量
を測定する際に好適に用いることができる電気計測用の
測定プローブユニットに関する。
被測定物に固定して電圧、電流、抵抗等の電気的な変量
を測定する際に好適に用いることができる電気計測用の
測定プローブユニットに関する。
【０００２】
【従来の技術】通常、被測定物の電圧、電流、抵抗等の
電気的な変量を測定する際には、図５に示すように二本
の測定プローブ１，１を被測定物１０１の各測定ポイン
トに各別に押し当てることにより行われている。
電気的な変量を測定する際には、図５に示すように二本
の測定プローブ１，１を被測定物１０１の各測定ポイン
トに各別に押し当てることにより行われている。
【０００３】この場合、測定プローブ１，１は、図示し
ないケーブルを介して測定器に接続されており、該測定
器の表示部に出力表示される数値等を測定値として読み
取ることにより測定作業が行われる。
ないケーブルを介して測定器に接続されており、該測定
器の表示部に出力表示される数値等を測定値として読み
取ることにより測定作業が行われる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、測定プローブ
１，１を被測定物１０１の測定ポイントに各別に押し当
てて行われる上記測定作業は、測定作業者が一方の手で
一方の測定プローブ１の把持部２を、他方の手で他方の
測定プローブ１の把持部２を各別に持ちながら行う必要
があるので、測定中は手が塞がって一人では測定器の操
作や測定値の書き取りが困難になる不都合があった。
１，１を被測定物１０１の測定ポイントに各別に押し当
てて行われる上記測定作業は、測定作業者が一方の手で
一方の測定プローブ１の把持部２を、他方の手で他方の
測定プローブ１の把持部２を各別に持ちながら行う必要
があるので、測定中は手が塞がって一人では測定器の操
作や測定値の書き取りが困難になる不都合があった。
【０００５】また、測定プローブ１，１を測定作業者の
両手を広げた間隔よりも離れた測定ポイントに各別に接
触させる必要がある場合には、これら測定プローブ１，
１を一人で持って測定作業を行うことができない不具合
もあった。
両手を広げた間隔よりも離れた測定ポイントに各別に接
触させる必要がある場合には、これら測定プローブ１，
１を一人で持って測定作業を行うことができない不具合
もあった。
【０００６】さらに、測定プローブ１，１を手で持って
測定する場合には、各測定ポント相互の二点間があらか
じめ定められている一定距離としなければならないとき
であっても、正確に当該一定距離を維持できない問題も
あった。
測定する場合には、各測定ポント相互の二点間があらか
じめ定められている一定距離としなければならないとき
であっても、正確に当該一定距離を維持できない問題も
あった。
【０００７】本発明は従来技術にみられた上記課題に鑑
み、被測定物の測定ポイントに対し測定プローブを位置
固定した状態のもとで接触させることにより、測定作業
者が測定プローブを持つ必要をなくして正確な測定作業
を遂行できる電気計測用の測定プローブユニットを提供
することに目的がある。
み、被測定物の測定ポイントに対し測定プローブを位置
固定した状態のもとで接触させることにより、測定作業
者が測定プローブを持つ必要をなくして正確な測定作業
を遂行できる電気計測用の測定プローブユニットを提供
することに目的がある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
すべくなされたものであり、そのうちの第１の発明は、
被測定物の断面形状との関係で定まる凹設載置面を底面
側に有して被測定物を跨ぐようにして載置される基台部
と、押圧付勢された接触ピンを有して該基台部に配設さ
れる測定プローブとで構成され、該測定プローブは、前
記基台部における上面の略中央部位から凹設載置面へと
貫通させた測定プローブ装着用孔を介することにより、
前記接触ピンを前記凹設載置面から突出させて着脱自在
に配設したことに構成上の特徴がある。この場合、前記
凹設載置面には、測定プローブ装着用孔の周囲に設けら
れた凹陥部を具備させるのが好ましい。
すべくなされたものであり、そのうちの第１の発明は、
被測定物の断面形状との関係で定まる凹設載置面を底面
側に有して被測定物を跨ぐようにして載置される基台部
と、押圧付勢された接触ピンを有して該基台部に配設さ
れる測定プローブとで構成され、該測定プローブは、前
記基台部における上面の略中央部位から凹設載置面へと
貫通させた測定プローブ装着用孔を介することにより、
前記接触ピンを前記凹設載置面から突出させて着脱自在
に配設したことに構成上の特徴がある。この場合、前記
凹設載置面には、測定プローブ装着用孔の周囲に設けら
れた凹陥部を具備させるのが好ましい。
【０００９】また、第２の発明は、被測定物の断面形状
との関係で定まる凹設載置面を底面側に有して被測定物
を跨ぐようにして載置される基台部と、該基台部に螺着
される介装支台部と、押圧付勢された接触ピンを有して
該介装支台部に配設される測定プローブとで構成され、
前記介装支台部は、前記基台部における上面の略中央部
位から凹設載置面に向けて貫通形成された雌ねじ孔と螺
合する雄ねじ部をその下側部に有し、該雄ねじ部を介し
て基台部への着脱を自在に配設し、前記測定プローブ
は、前記介装支台部の上面の略中央部位から下面へと貫
通させた測定プローブ装着用孔を介することにより、前
記接触ピンを介装支台部の前記下面から突出させて着脱
自在に配設したことに構成上の特徴がある。この場合、
前記介装支台部には、前記雌ねじ孔の周囲に設けられた
凹陥部を下面側に具備させるのが好ましい。
との関係で定まる凹設載置面を底面側に有して被測定物
を跨ぐようにして載置される基台部と、該基台部に螺着
される介装支台部と、押圧付勢された接触ピンを有して
該介装支台部に配設される測定プローブとで構成され、
前記介装支台部は、前記基台部における上面の略中央部
位から凹設載置面に向けて貫通形成された雌ねじ孔と螺
合する雄ねじ部をその下側部に有し、該雄ねじ部を介し
て基台部への着脱を自在に配設し、前記測定プローブ
は、前記介装支台部の上面の略中央部位から下面へと貫
通させた測定プローブ装着用孔を介することにより、前
記接触ピンを介装支台部の前記下面から突出させて着脱
自在に配設したことに構成上の特徴がある。この場合、
前記介装支台部には、前記雌ねじ孔の周囲に設けられた
凹陥部を下面側に具備させるのが好ましい。
【００１０】さらに、上記いずれの発明においても、前
記基台部は、前記被測定物の側面側との対面部位に設け
た雌ねじ孔から導入される螺杆材を介して該被測定物へ
の固定を自在に形成することができる。
記基台部は、前記被測定物の側面側との対面部位に設け
た雌ねじ孔から導入される螺杆材を介して該被測定物へ
の固定を自在に形成することができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】図１は、第１の発明の一例につき
被測定物に設置する前の状態として、図２は、設置後の
状態としてそれぞれを示したものである。
被測定物に設置する前の状態として、図２は、設置後の
状態としてそれぞれを示したものである。
【００１２】これらの図によれば、その全体は、被測定
物１０１の断面形状との関係で定まる凹設載置面１５を
底面１４側に有して被測定物１０１を跨ぐようにして載
置される基台部１１と、押圧付勢された接触ピン２４を
有して該基台部１１に配設される測定プローブ２１とで
構成されている。
物１０１の断面形状との関係で定まる凹設載置面１５を
底面１４側に有して被測定物１０１を跨ぐようにして載
置される基台部１１と、押圧付勢された接触ピン２４を
有して該基台部１１に配設される測定プローブ２１とで
構成されている。
【００１３】これを図示例に即してより具体的に説明す
れば、基台部１１は、例えば測定物１０１が長尺な大型
導体からなる略直方体形状を呈するものであれば、その
長さ方向と直交する位置関係でその頂面１０２上に載置
される当接部１２と、該当接部１２から各別に垂設され
て被測定物１０１の長さ方向での両側面１０３に各別に
対面配置される一対の脇当て部１３，１３とで、底面１
４側に画成された凹設載置面１５を有して断面略コ字形
となって一体に形成されている。
れば、基台部１１は、例えば測定物１０１が長尺な大型
導体からなる略直方体形状を呈するものであれば、その
長さ方向と直交する位置関係でその頂面１０２上に載置
される当接部１２と、該当接部１２から各別に垂設され
て被測定物１０１の長さ方向での両側面１０３に各別に
対面配置される一対の脇当て部１３，１３とで、底面１
４側に画成された凹設載置面１５を有して断面略コ字形
となって一体に形成されている。
【００１４】この場合における基台部１１は、被測定物
１０１の具体的な断面形状に対応合致し得る形状が少な
くともその凹設載置面１５に付与されて形成されるのも
のであり、例えば被測定物１０１の断面形状がドーム状
を呈するものであれば、ある程度のクリアランスを有し
てこれに対応合致するように凹曲させた凹設載置面１５
が形成されることになる。
１０１の具体的な断面形状に対応合致し得る形状が少な
くともその凹設載置面１５に付与されて形成されるのも
のであり、例えば被測定物１０１の断面形状がドーム状
を呈するものであれば、ある程度のクリアランスを有し
てこれに対応合致するように凹曲させた凹設載置面１５
が形成されることになる。
【００１５】また、一対の脇当て部１３，１３の少なく
ともいずれか一方、図１に示す例では右側に位置する脇
当て部１３には、側面１０２への圧接を自在に形成され
た真ちゅうやアルミニウム等の導電材からなる螺杆材１
９が螺合密着される雌ねじ孔１８が形成されている。な
お、該雌ねじ孔１８は、所望により一対の脇当て部１
３，１３の双方に設けたり、逆にまったく設けないでお
くこともできる。
ともいずれか一方、図１に示す例では右側に位置する脇
当て部１３には、側面１０２への圧接を自在に形成され
た真ちゅうやアルミニウム等の導電材からなる螺杆材１
９が螺合密着される雌ねじ孔１８が形成されている。な
お、該雌ねじ孔１８は、所望により一対の脇当て部１
３，１３の双方に設けたり、逆にまったく設けないでお
くこともできる。
【００１６】一方、測定プローブ２１としては、例えば
図３に示されるように、銅等の導電材からなるフランジ
２２ａ付きのソケット部２２と、該ソケット部２２内に
収容される同じく導電材からなる圧縮用コイルバネ２３
と、該圧縮用コイルバネ２３に支持させた状態でソケッ
ト部２２に保持される同じく導電材からなる接触ピン２
４とを少なくとも備えたものを好適に用いることができ
る。しかし、測定プローブ２１は、上記図示例に限定さ
れるものではなく、押圧付勢された接触ピン２４を備え
ているものであれば適宜構造のものを採用することがで
きる。
図３に示されるように、銅等の導電材からなるフランジ
２２ａ付きのソケット部２２と、該ソケット部２２内に
収容される同じく導電材からなる圧縮用コイルバネ２３
と、該圧縮用コイルバネ２３に支持させた状態でソケッ
ト部２２に保持される同じく導電材からなる接触ピン２
４とを少なくとも備えたものを好適に用いることができ
る。しかし、測定プローブ２１は、上記図示例に限定さ
れるものではなく、押圧付勢された接触ピン２４を備え
ているものであれば適宜構造のものを採用することがで
きる。
【００１７】しかも、測定プローブ２１は、基台部１１
における当接部１２の上面１２ａの略中央部位から凹設
載置面１５へと貫通させた測定プローブ装着用孔１６を
介することにより、接触ピン２４を凹設載置面１５から
下方に突出させた状態のもとで着脱自在に配設されてい
る。
における当接部１２の上面１２ａの略中央部位から凹設
載置面１５へと貫通させた測定プローブ装着用孔１６を
介することにより、接触ピン２４を凹設載置面１５から
下方に突出させた状態のもとで着脱自在に配設されてい
る。
【００１８】この場合における測定プローブ装着用孔１
６への測定プローブ２１の取付けは、測定プローブ装着
用孔１６内に測定プローブ２１のソケット部２２をその
フランジ２２ａを孔端に当接させて圧入したり、接着剤
を介在させて固着することにより行うことができる。な
お、測定プローブ２１は、ソケット部２２の頂部にはん
だ付け２５をしたケーブル２６を介して図示しない測定
器と電気的に接続されている。
６への測定プローブ２１の取付けは、測定プローブ装着
用孔１６内に測定プローブ２１のソケット部２２をその
フランジ２２ａを孔端に当接させて圧入したり、接着剤
を介在させて固着することにより行うことができる。な
お、測定プローブ２１は、ソケット部２２の頂部にはん
だ付け２５をしたケーブル２６を介して図示しない測定
器と電気的に接続されている。
【００１９】また、測定プローブ保持用孔１６の周囲に
位置する凹設載置面１５には、接触ピン２４が被測定物
１０１に当接して後退した際の逃げ空間として必要な凹
陥部１７を設けておくのが好ましい。
位置する凹設載置面１５には、接触ピン２４が被測定物
１０１に当接して後退した際の逃げ空間として必要な凹
陥部１７を設けておくのが好ましい。
【００２０】一方、図４は、第２の発明の一例を示す説
明図であり、その全体は、被測定物１０１の断面形状と
の関係で定まる凹設載置面３５を底面３４側に有して被
測定物１０１を跨ぐようにして載置される基台部３１
と、該基台部３１に螺着される介装支台部４１と、押圧
付勢された接触ピン２４を有して該介装支台部４１に配
設される測定プローブ２１とで構成されている。
明図であり、その全体は、被測定物１０１の断面形状と
の関係で定まる凹設載置面３５を底面３４側に有して被
測定物１０１を跨ぐようにして載置される基台部３１
と、該基台部３１に螺着される介装支台部４１と、押圧
付勢された接触ピン２４を有して該介装支台部４１に配
設される測定プローブ２１とで構成されている。
【００２１】これを図示例に即してより具体的に説明す
れば、基台部３１は、例えば測定物１０１が長尺な大型
導体からなる略直方体形状を呈するものであれば、その
長さ方向と直交する位置関係でその頂面１０２上に載置
される当接部３２と、該当接部３２から各別に垂設され
て被測定物１０１の長さ方向での両側面１０３に各別に
対面配置される一対の脇当て部３３，３３とで、底面３
４側に画成された凹設載置面３５を有して断面略コ字形
となって一体に形成されている。
れば、基台部３１は、例えば測定物１０１が長尺な大型
導体からなる略直方体形状を呈するものであれば、その
長さ方向と直交する位置関係でその頂面１０２上に載置
される当接部３２と、該当接部３２から各別に垂設され
て被測定物１０１の長さ方向での両側面１０３に各別に
対面配置される一対の脇当て部３３，３３とで、底面３
４側に画成された凹設載置面３５を有して断面略コ字形
となって一体に形成されている。
【００２２】この場合における基台部３１は、図１に示
す例と同様に被測定物１０１の具体的な断面形状に対応
合致し得る形状が少なくともその凹設載置面３５に付与
されて形成されることになる。
す例と同様に被測定物１０１の具体的な断面形状に対応
合致し得る形状が少なくともその凹設載置面３５に付与
されて形成されることになる。
【００２３】また、基台部３１の当接部３２には、その
上面３２ａの略中央部位から凹設載置面３５に向けて雌
ねじ孔３６が貫通形成されており、該雌ねじ孔３６を介
して介装支台部４１を螺着できるようになっている。
上面３２ａの略中央部位から凹設載置面３５に向けて雌
ねじ孔３６が貫通形成されており、該雌ねじ孔３６を介
して介装支台部４１を螺着できるようになっている。
【００２４】なお、一対の脇当て部３３，３３には、図
１に示すような雌ねじ孔１８が設けられていないが、必
要により少なくともいずれか一方の脇当て部１３に雌ね
じ孔を設け、側面１０２への圧接を自在に形成された螺
杆材を螺合密着できるようにしておくこともできる。
１に示すような雌ねじ孔１８が設けられていないが、必
要により少なくともいずれか一方の脇当て部１３に雌ね
じ孔を設け、側面１０２への圧接を自在に形成された螺
杆材を螺合密着できるようにしておくこともできる。
【００２５】一方、介装支台部４１は、基台部３１の雌
ねじ孔３６と螺合する雄ねじ部４３がその下側部４３に
形成されており、該雄ねじ部４３を介して基台部３１の
側への螺合・離脱が自在となって形成されている。
ねじ孔３６と螺合する雄ねじ部４３がその下側部４３に
形成されており、該雄ねじ部４３を介して基台部３１の
側への螺合・離脱が自在となって形成されている。
【００２６】しかも、介装支台部４１は、その上面４１
ａの略中央部位から下面４１ｂへと貫通させた測定プロ
ーブ装着用孔４４を有しており、該測定プローブ装着用
孔４４を介することにより、例えば図３に示す測定プロ
ーブ２１が介装支台部４１の下面４１ｂから接触ピン２
４を下方に突出させた状態で着脱自在に配設できるよう
になっている。
ａの略中央部位から下面４１ｂへと貫通させた測定プロ
ーブ装着用孔４４を有しており、該測定プローブ装着用
孔４４を介することにより、例えば図３に示す測定プロ
ーブ２１が介装支台部４１の下面４１ｂから接触ピン２
４を下方に突出させた状態で着脱自在に配設できるよう
になっている。
【００２７】この場合における測定プローブ装着用孔４
４への測定プローブ２１の取付けは、図１に示す場合と
同様に、測定プローブ装着用孔４４内に測定プローブ２
１のソケット部２２をそのフランジ２２ａを孔端に当接
させて圧入したり、接着剤を介在させて固着することに
より行うことができる。なお、測定プローブ２１は、図
１に示す例と同様にソケット部２２の頂部にはんだ付け
２５をしたケーブル２６を介して図示しない測定器と電
気的に接続されている。
４への測定プローブ２１の取付けは、図１に示す場合と
同様に、測定プローブ装着用孔４４内に測定プローブ２
１のソケット部２２をそのフランジ２２ａを孔端に当接
させて圧入したり、接着剤を介在させて固着することに
より行うことができる。なお、測定プローブ２１は、図
１に示す例と同様にソケット部２２の頂部にはんだ付け
２５をしたケーブル２６を介して図示しない測定器と電
気的に接続されている。
【００２８】また、測定プローブ保持用孔４４の周囲に
は、測定プローブ２１の接触ピン２４が被測定物１０１
に当接して後退した際の逃げ空間として必要な凹陥部４
５をあらかじめ設けておくのが好ましい。
は、測定プローブ２１の接触ピン２４が被測定物１０１
に当接して後退した際の逃げ空間として必要な凹陥部４
５をあらかじめ設けておくのが好ましい。
【００２９】次に、本発明の作用・効果を図１に示す第
１の発明を例に説明すれば、被測定物１０１に対し電
圧、電流、抵抗等の電気的な変量を測定するに際して
は、まず、被測定物１０１における所定の測定位置にあ
ってその長さ方向と直交する方向での頂面１０２上に当
接部１２を載置し、各脇当て部１３を対応する側面１０
３に対面させた配置関係のもとで基台部１１が配置され
る。
１の発明を例に説明すれば、被測定物１０１に対し電
圧、電流、抵抗等の電気的な変量を測定するに際して
は、まず、被測定物１０１における所定の測定位置にあ
ってその長さ方向と直交する方向での頂面１０２上に当
接部１２を載置し、各脇当て部１３を対応する側面１０
３に対面させた配置関係のもとで基台部１１が配置され
る。
【００３０】次いで、基台部１１は、脇当て部１３の雌
ねじ孔１８に螺杆材１９を緊締螺着することにより、図
２に示すように被測定物１０１に対し当接部１２と脇当
て部１３と螺杆材１９の先端面との三方向から支持され
た状態のもとで確実に固定配置することができる。
ねじ孔１８に螺杆材１９を緊締螺着することにより、図
２に示すように被測定物１０１に対し当接部１２と脇当
て部１３と螺杆材１９の先端面との三方向から支持され
た状態のもとで確実に固定配置することができる。
【００３１】この際、測定プローブ１１の接触ピン２４
は、被測定物１０１の上面１０２に当接し、圧縮コイル
バネ２３の押圧力に抗して強制的に後退させられる結
果、接触ピン２４と被測定物１０１とは密に接触される
ことになる。
は、被測定物１０１の上面１０２に当接し、圧縮コイル
バネ２３の押圧力に抗して強制的に後退させられる結
果、接触ピン２４と被測定物１０１とは密に接触される
ことになる。
【００３２】しかも、この場合、基台部１１の凹設載置
面１５が測定プローブ装着用孔１６の周囲に設けられた
凹陥部１７を有するものであれば、被測定物１０１に当
接して後退した際に接触ピン２４を該凹陥部１７内に確
実に逃がすことができる。
面１５が測定プローブ装着用孔１６の周囲に設けられた
凹陥部１７を有するものであれば、被測定物１０１に当
接して後退した際に接触ピン２４を該凹陥部１７内に確
実に逃がすことができる。
【００３３】一方、本発明の作用・効果を図４に示す第
２の発明を例に説明すれば、被測定物１０１に対し電
圧、電流、抵抗等の電気的な変量を測定するに際して
は、まず、被測定物１０１における所定の測定位置にあ
ってその長さ方向と直交する方向での頂面１０２上に当
接部３２を載置し、各脇当て部３３を対応する側面１０
３に対面させた配置関係のもとで基台部３１が配置され
る。
２の発明を例に説明すれば、被測定物１０１に対し電
圧、電流、抵抗等の電気的な変量を測定するに際して
は、まず、被測定物１０１における所定の測定位置にあ
ってその長さ方向と直交する方向での頂面１０２上に当
接部３２を載置し、各脇当て部３３を対応する側面１０
３に対面させた配置関係のもとで基台部３１が配置され
る。
【００３４】この際、測定プローブ１１の接触ピン２４
は、被測定物１０１の上面１０２に当接し、圧縮コイル
バネ２３の押圧力に抗して強制的に後退させられる結
果、接触ピン２４と被測定物１０１とは密に接触される
ことになる。
は、被測定物１０１の上面１０２に当接し、圧縮コイル
バネ２３の押圧力に抗して強制的に後退させられる結
果、接触ピン２４と被測定物１０１とは密に接触される
ことになる。
【００３５】しかも、この場合、介装支台部４１が測定
プローブ装着用孔４４の周囲に設けられた凹陥部４５を
有するものであれば、被測定物１０１に当接して後退し
た際に接触ピン２４を該凹陥部４５内に確実に逃がすこ
とができる。
プローブ装着用孔４４の周囲に設けられた凹陥部４５を
有するものであれば、被測定物１０１に当接して後退し
た際に接触ピン２４を該凹陥部４５内に確実に逃がすこ
とができる。
【００３６】しかも、図４に示す第２の発明の例による
場合には、測定プローブ２１は、介装支台部４１の側に
装着させることができるので、それだけ基台部３１の当
接部３２の肉厚を薄くして小型化できる。また、異なる
性能の測定プローブ２１を各別に装着させた複数個の介
装支台部４１を用意することで、必要な測定プローブ２
１が装着されている介装支台部４１を従前のものと交換
する必要が生じても、ただちに対応させることができ
る。さらに、簡単に分解できるので、故障等の修理もよ
り容易に行うことができる。
場合には、測定プローブ２１は、介装支台部４１の側に
装着させることができるので、それだけ基台部３１の当
接部３２の肉厚を薄くして小型化できる。また、異なる
性能の測定プローブ２１を各別に装着させた複数個の介
装支台部４１を用意することで、必要な測定プローブ２
１が装着されている介装支台部４１を従前のものと交換
する必要が生じても、ただちに対応させることができ
る。さらに、簡単に分解できるので、故障等の修理もよ
り容易に行うことができる。
【００３７】また、本発明によれば、その第１の発明と
第２に発明とのいずれによっても、被測定物１０１と図
示しない測定器とは、接触ピン２４→圧縮用コイルバネ
２３→ソケット部２２→ケーブル２６という電気経路を
経て電気的に接続され、電圧、電流、抵抗等の電気的な
変量を手を離した状態で円滑に測定することができる。
したがって、一人で測定する場合であっても測定器の操
作や測定値の書き取りができる。
第２に発明とのいずれによっても、被測定物１０１と図
示しない測定器とは、接触ピン２４→圧縮用コイルバネ
２３→ソケット部２２→ケーブル２６という電気経路を
経て電気的に接続され、電圧、電流、抵抗等の電気的な
変量を手を離した状態で円滑に測定することができる。
したがって、一人で測定する場合であっても測定器の操
作や測定値の書き取りができる。
【００３８】また、測定に際しては、基台部１１，３１
をその凹設載置面１５，３５を介して被測定物１０１に
単に載置するだけで、接触ピン２４を被測定物１０１に
自動的に接触させることができるので、測定作業の効率
を高めることができる。
をその凹設載置面１５，３５を介して被測定物１０１に
単に載置するだけで、接触ピン２４を被測定物１０１に
自動的に接触させることができるので、測定作業の効率
を高めることができる。
【００３９】さらに、基台部１１または基台部３１を２
個以上用いて測定する場合であっても、測定作業者の両
手を広げた間隔よりも離れた測定ポイントに各別に設置
することができ、しかも、その際に測定ポント相互間の
距離を正確に位置決めすることもできる。
個以上用いて測定する場合であっても、測定作業者の両
手を広げた間隔よりも離れた測定ポイントに各別に設置
することができ、しかも、その際に測定ポント相互間の
距離を正確に位置決めすることもできる。
【００４０】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、測定
プローブを備える基台部は、測定ポイントが仮に測定作
業者の両手を広げた間隔よりも離れていても各別に設置
できるので、一人であっても測定器を操作したり、測定
値の書き取りを行いながら円滑に測定作業を遂行するこ
とができる。
プローブを備える基台部は、測定ポイントが仮に測定作
業者の両手を広げた間隔よりも離れていても各別に設置
できるので、一人であっても測定器を操作したり、測定
値の書き取りを行いながら円滑に測定作業を遂行するこ
とができる。
【００４１】また、測定に際しては、基台部をその凹設
載置面を介して被測定物に単に載置するだけで、接触ピ
ンを被測定物に自動的に接触させることができるので、
測定作業の効率を高めることができる。
載置面を介して被測定物に単に載置するだけで、接触ピ
ンを被測定物に自動的に接触させることができるので、
測定作業の効率を高めることができる。
【００４２】さらに、第２の発明によれば、測定プロー
ブが介装支台部の側に装着されているので、それだけ基
台部を小型化できる。また、測定プローブの交換も介装
支台部を取り替えることで簡単に行うことができる。
ブが介装支台部の側に装着されているので、それだけ基
台部を小型化できる。また、測定プローブの交換も介装
支台部を取り替えることで簡単に行うことができる。
【００４３】さらにまた、本発明において接触退行時に
おける接触ピンの逃げ空間である凹陥部を備えている場
合には、接触ピンを比較的長くして配設してもその測定
時に破損されることをなくすことができる。
おける接触ピンの逃げ空間である凹陥部を備えている場
合には、接触ピンを比較的長くして配設してもその測定
時に破損されることをなくすことができる。
【００４４】なお、基台部が螺杆材を介して被測定物に
固定できる構造を備えている場合には、それだけ安定し
た状態のもとで測定作業を遂行することができる。
固定できる構造を備えている場合には、それだけ安定し
た状態のもとで測定作業を遂行することができる。
【図１】被測定物に設置する前の状態での第１の発明の
一例を示す説明図。
一例を示す説明図。
【図２】被測定物に設置した後の状態での第１の発明の
一例を示す説明図。
一例を示す説明図。
【図３】第２の発明の一例を示す説明図。
【図４】本発明に用いられる測定プローブの一例を示す
説明図。
説明図。
【図５】従来手法による被測定物と測定プローブとの配
置関係を示す説明図。
置関係を示す説明図。
１１，３１ 基台部 １２，３２ 当接部 １２ａ 上面 １３，３３ 脇当て部 １４，３４ 底面 １５，３５ 凹設載置面 １６ 測定プローブ装着用孔 １７ 凹陥部 １８ 雌ねじ孔 １９ 螺杆材 ２１ 測定プローブ ２２ ソケット部 ２２ａ フランジ ２３ 圧縮用コイルバネ ２４ 接触ピン ２５ はんだ付け ２６ ケーブル ３６ 雌ねじ孔 ４１ 介装支台部 ４１ａ 上面 ４１ｂ 下面 ４２ 下側部 ４３ 雄ねじ部 ４４ 測定プローブ装着用孔 ４５ 凹陥部 １０１ 被測定物 １０２ 上面 １０３ 側面
Claims (5)
- 【請求項１】 被測定物の断面形状との関係で定まる凹
設載置面を底面側に有して被測定物を跨ぐようにして載
置される基台部と、押圧付勢された接触ピンを有して該
基台部に配設される測定プローブとで構成され、 該測定プローブは、前記基台部における上面の略中央部
位から凹設載置面へと貫通させた測定プローブ装着用孔
を介することにより、前記接触ピンを前記凹設載置面か
ら突出させて着脱自在に配設したことを特徴とする電気
計測用の測定プローブユニット。 - 【請求項２】 前記凹設載置面には、測定プローブ装着
用孔の周囲に設けられた凹陥部を具備させたことを特徴
とする請求項１に記載の電気計測用の測定プローブユニ
ット。 - 【請求項３】 被測定物の断面形状との関係で定まる凹
設載置面を底面側に有して被測定物を跨ぐようにして載
置される基台部と、該基台部に螺着される介装支台部
と、押圧付勢された接触ピンを有して該介装支台部に配
設される測定プローブとで構成され、 前記介装支台部は、前記基台部における上面の略中央部
位から凹設載置面に向けて貫通形成された雌ねじ孔と螺
合する雄ねじ部をその下側部に有し、該雄ねじ部を介し
て基台部への着脱を自在に配設し、 前記測定プローブは、前記介装支台部の上面の略中央部
位から下面へと貫通させた測定プローブ装着用孔を介す
ることにより、前記接触ピンを介装支台部の前記下面か
ら突出させて着脱自在に配設したことを特徴とする電気
計測用の測定プローブユニット。 - 【請求項４】 前記介装支台部には、前記雌ねじ孔の周
囲に設けられた凹陥部を下面側に具備させたことを特徴
とする請求項３に記載の電気計測用の測定プローブユニ
ット。 - 【請求項５】 前記基台部は、前記被測定物の側面側と
の対面部位に設けた雌ねじ孔から導入される螺杆材を介
して該被測定物への固定を自在に形成したことを特徴と
する請求項１ないし４のいずれかに記載の電気計測用の
測定プローブユニット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000130368A JP2001311741A (ja) | 2000-04-28 | 2000-04-28 | 電気計測用の測定プローブユニット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000130368A JP2001311741A (ja) | 2000-04-28 | 2000-04-28 | 電気計測用の測定プローブユニット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001311741A true JP2001311741A (ja) | 2001-11-09 |
Family
ID=18639492
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000130368A Pending JP2001311741A (ja) | 2000-04-28 | 2000-04-28 | 電気計測用の測定プローブユニット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001311741A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002286751A (ja) * | 2001-03-22 | 2002-10-03 | Hioki Ee Corp | プローブユニットおよび回路基板検査装置 |
| CN104407225A (zh) * | 2014-11-29 | 2015-03-11 | 洛阳康耀电子有限公司 | 一种氧化铟锡膜手持式探头测试装置及其方法 |
-
2000
- 2000-04-28 JP JP2000130368A patent/JP2001311741A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002286751A (ja) * | 2001-03-22 | 2002-10-03 | Hioki Ee Corp | プローブユニットおよび回路基板検査装置 |
| CN104407225A (zh) * | 2014-11-29 | 2015-03-11 | 洛阳康耀电子有限公司 | 一种氧化铟锡膜手持式探头测试装置及其方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4851217B2 (ja) | コネクタ検査装置 | |
| US5504435A (en) | Testing contactor for small-size semiconductor devices | |
| JP2001183416A (ja) | テスト方法及びそれに用いるソケット及び半導体装置 | |
| JP4678034B2 (ja) | 検査治具 | |
| JP2001311741A (ja) | 電気計測用の測定プローブユニット | |
| JP2014127407A (ja) | 電気接触子及び電気部品用ソケット | |
| KR0155573B1 (ko) | 반도체 디바이스의 검사장치 | |
| US7686645B2 (en) | Apparatus and method of zeroing a test instrument | |
| JP2001066351A (ja) | 回路基板検査装置及びコネクタ | |
| JP2006351474A (ja) | 電気的接続装置 | |
| JP2014071091A (ja) | プローブユニットおよび検査装置 | |
| JPH065320A (ja) | 接続回路のチェック装置 | |
| JP2009257895A (ja) | 検査治具 | |
| JP4657731B2 (ja) | 半導体試験用ソケット | |
| KR100548169B1 (ko) | 측벽 측정용 핀프로브및 접촉방법 | |
| JP7309219B2 (ja) | プローブ端子、評価用ソケット、およびデバイスの評価方法 | |
| JP2014126363A (ja) | 電気接触子及び電気部品用ソケット | |
| JPH0566243A (ja) | Ｌｓｉ評価用治具 | |
| JPH1151994A (ja) | 電気接続補助装置 | |
| JP3390572B2 (ja) | 電子デバイスの搬送コンタクト構造 | |
| JP2000035455A (ja) | 通電検査装置 | |
| JPS63153481A (ja) | 集積回路測定用接続装置 | |
| JPH0340940B2 (ja) | ||
| TW201142307A (en) | Jig of electric detection and method for manufacturing a wiring substrate | |
| JPH06160430A (ja) | コネクタピン電圧測定治具 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070419 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090520 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090527 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090930 |