JP4851217B2 - コネクタ検査装置 - Google Patents

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本発明は、コネクタに組み込まれた端子の導通状態や組み込み状態を検査するコネクタ検査装置に関するものである。
電気接続箱などに設けられたコネクタ、あるいは単体のコネクタは、製造工程において、端子の有無、導通状態、組み込み状態などの検査が厳格に行われる。この種の検査に用いられるコネクタ検査装置は一般に、先端がコネクタの端子に接触するプローブと、このプローブを前記コネクタの端子に対応する位置に保持するホルダーとを備えている。プローブの後端は電線を介して検査回路に接続されている(特許文献1参照)。
検査は、コネクタを所定の位置にセットし、ホルダーを前進させて、プローブをコネクタの端子に接触させ、検査回路で検査信号の送受を行うことにより行われる。1回の検査が終わると、ホルダーを後退させ、コネクタを取り外して、次のコネクタの検査を行う。
特開2001−332370号公報
従来のコネクタ検査装置は、ホルダーの端面からプローブの先端部が長く突出しているため、コネクタの検査を繰り返し行っているうちに、プローブの傾きや損傷などの不具合が発生しやすい。プローブの不具合が発生すると、正確な検査を行えなくなるため、プローブの交換が必要となるが、従来のコネクタ検査装置はプローブの交換が面倒であった。
本発明の目的は、プローブの傾きや損傷などの不具合が発生しにくく、しかもプローブの不具合が発生したときにはプローブの交換を容易に行えるコネクタ検査装置を提供することにある。
この目的を達成するため本発明は、先端がコネクタの複数の端子に個別に接触する複数のプローブと、これらのプローブを前記コネクタの端子に対応する位置に保持するホルダーとを備えたコネクタ検査装置において、
前記プローブは、雄ねじ筒体に軸棒をスライド自在に貫通させ、軸棒の先端にコネクタの端子に接触する接触子を取り付け、この接触子と前記雄ねじ筒体との間にコイルばねを圧縮状態で介挿し、軸棒の後端付近にストッパーを設けたものからなり、
前記ホルダーは、前記プローブの雄ねじ筒体がねじ込み固定される複数の雌ねじ部を形成した後端側ブロック部と、この後端側ブロック部の先端側に一体に形成されたコネクタ位置決め用の先端側ブロック部とを有し、先端側ブロック部に、前記プローブのコイルばねの部分と接触子の後端部分とを収容する凹部を各プローブ毎に形成したものからなり、
前記プローブは、雄ねじ筒体を前記ホルダーの雌ねじ部にねじ込み固定した状態で、コイルばねの部分と接触子の後端部分とが前記先端側ブロック部の凹部に収容され、接触子の先端部だけが凹部の開口端面から突出している、ことを特徴とするものである。
本発明の検査装置において、プローブの雄ねじ筒体の先端部外周面には、雄ねじ筒体を回転させる工具を係合させるための平行面が形成されていることが好ましい。
また本発明の検査装置において、検査するコネクタが雄端子コネクタである場合には、ホルダーの先端側ブロック部が、雄端子コネクタのハウジングの内壁面に摺接する外壁面を有しており、この外壁面の後端に、雄端子コネクタのハウジングの先端面に突き当たる突き当て面が形成されていることが好ましい。
また本発明の検査装置において、検査するコネクタが雌端子コネクタである場合には、ホルダーの先端側ブロック部が、凹部の開口端面が雌端子コネクタのハウジングの先端面に突き当たる突き当て面となっており、この突き当て面の周囲に、雌端子コネクタのハウジングの外壁面に摺接する内壁面を有する周壁が突設されていることが好ましい。
本発明によれば、プローブを、雄ねじ筒体のねじ込みによってホルダーに固定する構造としたので、プローブの着脱が容易であり、プローブの交換を容易に行うことができる。また、ホルダーにねじ込み固定された雄ねじ筒体に軸棒をスライド自在に貫通させているため、軸棒の傾きが発生しにくく、接触子の先端位置が正確になるので、コネクタの端子との接触状態が安定する。さらに、プローブのコイルばねの部分と接触子の後端部分は先端側ブロック部に形成された凹部に収容され、凹部の開口端面から突出しているのは接触子の先端部だけであるため、プローブは損傷を受けにくく、かつ傾きが発生しにくくなり、繰り返し検査に対する耐久性が高い。
また、雄ねじ筒体のねじ込みは凹部の奥で行うことになるが、プローブの雄ねじ筒体の先端部外周面に平行面を形成しておくことにより、その平行面に雄ねじ筒体を回転させる工具を係合させて、雄ねじ筒体のねじ込みを容易に行うことができる。
また、雄端子コネクタの検査の場合は、ホルダーの先端側ブロック部の外壁面を、雄端子コネクタのハウジングの内壁面に摺接するように形成しておけば、コネクタの雄端子とプローブの接触子との位置決めを正確にかつ容易に行うことができる。さらに先端側ブロック部の外壁面の後端に、雄端子コネクタのハウジングの先端面が突き当たる突き当て面を形成しておけば、プローブの接触子がコネクタの雄端子に突き当たったときの接触子の後退距離を一定にすることができるので、プローブの接触子とコネクタの雄端子との接触圧を均等化でき、より安定した検査を行うことができる。
また、雌端子コネクタの検査の場合は、ホルダーの先端側ブロック部の、凹部の開口端面を、雌端子コネクタのハウジングの先端面への突き当て面としておけば、プローブの接触子がコネクタの雌端子に突き当たったときの接触子の後退距離を一定にすることができるので、プローブの接触子とコネクタの雌端子との接触圧を均等化でき、より安定した検査を行うことができる。さらに前記突き当て面の周囲に、雌端子コネクタのハウジングの外壁面に摺接する内壁面を有する周壁を突設しておけば、コネクタの雌端子とプローブの接触子との位置決めを正確にかつ容易に行うことができる。
〔実施形態1〕図1は本発明の一実施形態を示す。このコネクタ検査装置1は、雄端子コネクタ3を検査するものである。雄端子コネクタ3は、箱形のハウジング5内に複数の雄端子7が所定の配列で突出した形態である。検査装置1は、先端がコネクタ3の雄端子7に接触するプローブ9と、このプローブ9を、コネクタ3の雄端子7に対応する位置に保持する絶縁性のホルダー11とを備えている。ホルダー11は、垂直支持体13及び水平支持体15を介してエアシリンダ17のピストン19に支持され、上下動可能になっている。
プローブ9は、図2に示すように、外周面に雄ねじ部が形成された雄ねじ筒体21に、軸棒23をスライド自在に貫通させ、軸棒23の先端にコネクタの端子に接触する接触子25を取り付け、この接触子25と前記雄ねじ筒体21との間の軸棒23の外周にコイルばね27を圧縮状態で介挿し、軸棒23の後端付近にストッパー29を設けたものである。雄ねじ筒体21の先端部には両側面が平行にカットされたフランジ部31が形成されている。フランジ部31の両側の平行面33は、雄ねじ筒体21を回転させる工具(後述)を係合させる部分である。フランジ部31は六角ナットの形態であってもよい。プローブ9は、接触子25に外力がかからないときは、図2(A)に示すように、コイルばね27の反発力で、ストッパー29が雄ねじ筒体21の後端に当接した状態にあり、接触子25に押し上げ力がかかると、同図(C)に示すように、軸棒23が雄ねじ筒体21内でスライドして、上方に変位する。
また図1に示すように、ホルダー11は、垂直支持体13に支持された後端側ブロック部35と、この後端側ブロック部35の先端側に突設された先端側ブロック部37とを有している。先端側ブロック部37は、雄端子コネクタ3のハウジング5に嵌合する大きさに形成されている。後端側ブロック部35には、プローブ9の雄ねじ筒体21がねじ込み固定される雌ねじ部39が形成されている。また先端側ブロック部37には、プローブ9のコイルばね27の部分と接触子25の後端部分とを収容する凹部41が形成されている。プローブ9は、雄ねじ筒体21をホルダー11の雌ねじ部39にねじ込み固定すると、接触子25の先端部が凹部41の開口端面43から突出した状態となる。
上記のような構成にすると、凹部41の奥で雄ねじ筒体21のねじ込みを行うことになるので、プローブ9をホルダー11に固定するときは、図3に示すような工具45を使用するとよい。この工具45は、プローブ9のコイルばね27と接触子25の部分を収容する筒部47を有し、その筒部47の先端に、雄ねじ筒体21の先端部の平行面33を挟持する挟持片49が形成されているものである。この工具45にプローブ9を図3のようにセットした状態で、プローブ9の雄ねじ筒体21を図4(A)のように凹部41に挿入し、工具45をねじ込み方向に回転させれば、同図(B)のように雄ねじ筒体21を雌ねじ部39にねじ込むことができる。最後までねじ込むと、フランジ部31が凹部41の奥面に突き当たり、それ以上ねじ込めなくなる。工具45は、ねじ込み終了後に引き抜く。
また、プローブ9を交換する必要が生じたときは、交換するプローブに図4(B)のように工具45を装着し、工具45をねじ込みと逆方向に回転させて、プローブ9をホルダー11から取り外し、その後、新しいプローブを上記のようにして取り付ければよい。このように、この検査装置は、プローブ9の着脱が容易であるので、プローブの交換を簡単に、効率よく行うことができる。
なお、ホルダー11に取り付けられたプローブ9の後端には、図1に示すように、着脱可能な接続キャップ51により電線53が接続される。電線53は図示しない検査回路に接続されている。
また前述のように、ホルダー11の先端側ブロック部37は、雄端子コネクタ3のハウジング5に嵌合する大きさに形成されているため、ホルダー11をコネクタ3に向けて下降させていくと(又はコネクタ3をホルダー11に向けて上昇させていくと)、図5に示すように、まず先端側ブロック部37の外壁面55がハウジング5の内壁面57に摺接する。これにより、コネクタ3とホルダー11のX−Y座標軸が正確に一致し、雄端子7と接触子25を正確に対向させることができる。したがってコネクタ3をセットする位置が若干ずれても、コネクタ3とホルダー11を正確に位置決めすることができ、作業がやりやすくなるだけでなく、プローブ9の損傷も起きにくくなる。
また、ホルダー11をさらに下降させていくと、図6に示すように、接触子25が雄端子7に接触した後、雄端子7に押し返されてホルダー11に対し一定距離後退した段階で、先端側ブロック部37の外壁面55の後端位置に形成された突き当て面59が、ハウジング5の先端面61に突き当たる。このため、ホルダー11はそれ以上、下降できなくなる。したがって、ホルダー11のストローク距離を一定にできると共に、接触子25と雄端子7との接触圧を均等化できるので、バラツキのない、より安定した検査を行うことができる。
〔実施形態2〕図7は本発明の他の実施形態を示す。このコネクタ検査装置1は、雌端子コネクタ63を検査するものである。雌端子コネクタ63は、ハウジング65内に複数の雌端子67を所定の配列で収納した形態である。検査装置1の構成は実施形態1とほぼ同じである。すなわち、ホルダー11は後端側ブロック部35と先端側ブロック部37を有し、後端側ブロック部35に雌ねじ部39を形成し、先端側ブロック部37に凹部41を形成したものである。またプローブ9は、雄ねじ筒体21と、軸棒23と、接触子25と、コイルばね27と、ストッパー29とで構成されている。実施形態1と異なる点は、先端側ブロック部37の凹部41の開口端面43が、雌端子コネクタのハウジング65の先端面69に突き当たる突き当て面となっていることと、この突き当て面43の周囲に周壁71が突設され、この周壁71の内壁面73が雌端子コネクタのハウジング65の外壁面75と摺接するようになっていることである。
これにより、ホルダー11を雌端子コネクタ63に向けて下降させていくと、まず周壁71の内壁面73がハウジング65の外壁面75に摺接するので、雌端子コネクタ63とホルダー11のX−Y座標軸を正確に一致させることができ、実施形態1と同様な効果が得られる。また、ホルダー11をさらに下降させていくと、図8に示すように、接触子25が雌端子67に接触した後、ホルダー11に対して一定距離後退した段階で、先端側ブロック部37の突き当て面43が、ハウジング65の先端面69に突き当たり、ホルダー11はそれ以上、下降できなくなる。したがって、この点でも実施形態1と同様な効果が得られる。
本発明に係るコネクタ検査装置の一実施形態を示す断面図。 図1の検査装置に用いられるプローブの、(A)は正面図、(B)は(A)のB−B線断面図、(C)は接触子が押し上げられたときの正面図。 図2のプローブをホルダーに取り付けるのに用いる工具の、(A)は断面図、(B)は(A)のB−B線断面図。 (A)、(B)は図3の工具を用いて図2のプローブをホルダーに取り付ける手順を示す断面図。 図1の検査装置のプローブをコネクタの雄端子に接触させる途中の段階を示す断面図。 図1の検査装置のプローブをコネクタの雄端子に接触させて検査を行う状態を示す断面図。 本発明に係るコネクタ検査装置の他の実施形態を、プローブをコネクタの雌端子に接触させる途中の段階で示す断面図。 図7の検査装置のプローブをコネクタの雌端子に接触させて検査を行う状態を示す断面図。
符号の説明
1:コネクタ検査装置
3:雄端子コネクタ
5:ハウジング
7:雄端子
9:プローブ
11:ホルダー
17:エアシリンダ
21:雄ねじ筒体
23:軸棒
25:接触子
27:コイルばね
29:ストッパー
31:フランジ部
33:平行面
35:後端側ブロック部
37:先端側ブロック部
39:雌ねじ部
41:凹部
43:開口端面
45:工具
55:外壁面
57:内壁面
59:突き当て面
61:先端面
63:雌端子コネクタ
65:ハウジング
67:雌端子
69:先端面
71:周壁
73:内壁面
75:外壁面

Claims (4)

  1. 先端がコネクタの複数の端子に個別に接触する複数のプローブと、これらのプローブを前記コネクタの端子に対応する位置に保持するホルダーとを備えたコネクタ検査装置において、
    前記プローブは、雄ねじ筒体に軸棒をスライド自在に貫通させ、軸棒の先端にコネクタの端子に接触する接触子を取り付け、この接触子と前記雄ねじ筒体との間にコイルばねを圧縮状態で介挿し、軸棒の後端付近にストッパーを設けたものからなり、
    前記ホルダーは、前記プローブの雄ねじ筒体がねじ込み固定される複数の雌ねじ部を形成した後端側ブロック部と、この後端側ブロック部の先端側に一体に形成されたコネクタ位置決め用の先端側ブロック部とを有し、先端側ブロック部に、前記プローブのコイルばねの部分と接触子の後端部分とを収容する凹部を各プローブ毎に形成したものからなり、
    前記プローブは、雄ねじ筒体を前記ホルダーの雌ねじ部にねじ込み固定した状態で、コイルばねの部分と接触子の後端部分とが前記先端側ブロック部の凹部に収容され、接触子の先端部だけが凹部の開口端面から突出している、ことを特徴とするコネクタ検査装置。
  2. プローブの雄ねじ筒体の先端部外周面には、雄ねじ筒体を回転させる工具を係合させるための平行面が形成されていることを特徴とする請求項1記載のコネクタ検査装置。
  3. ホルダーの先端側ブロック部は、雄端子コネクタのハウジングの内壁面に摺接する外壁面を有しており、この外壁面の後端には、雄端子コネクタのハウジングの先端面に突き当たる突き当て面が形成されていることを特徴とする請求項1記載のコネクタ検査装置。
  4. ホルダーの先端側ブロック部は、凹部の開口端面が雌端子コネクタのハウジングの先端面に突き当たる突き当て面となっており、この突き当て面の周囲に、雌端子コネクタのハウジングの外壁面に摺接する内壁面を有する周壁が突設されていることを特徴とする請求項1記載のコネクタ検査装置。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5125854B2 (ja) * 2008-07-30 2013-01-23 富士通株式会社 プロービング用ソケット
CN103048493A (zh) * 2012-12-19 2013-04-17 昆山迈致治具科技有限公司 一种pcb板压紧治具
CN103323735B (zh) * 2013-07-02 2015-06-17 东辰塑胶(南通)有限公司 小灯泡座端子顶出力电子检测工装
TWI598593B (zh) * 2016-06-22 2017-09-11 致茂電子股份有限公司 電流探針以及適於更換此電流探針的治具
KR101866410B1 (ko) * 2016-11-16 2018-06-11 명보 주식회사 핀 터미널 삽입고정 테스트지그
JP7243738B2 (ja) * 2018-11-29 2023-03-22 株式会社村田製作所 プローブ嵌合構造
CN110779867B (zh) * 2019-11-21 2022-01-18 惠州市迈锐光电有限公司 一种便捷led显示屏线材插针座测试工具
JP2021135214A (ja) * 2020-02-28 2021-09-13 三菱電機エンジニアリング株式会社 通電コンタクトユニット、及び試験システム
KR102228603B1 (ko) * 2020-05-26 2021-03-17 (주) 네스텍코리아 스크루 포고핀 및 이를 이용한 핀블럭 어셈블리
JP2021189084A (ja) * 2020-06-02 2021-12-13 東理システム株式会社 電流テストプローブホルダーおよび電流テストプローブ装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6247093Y2 (ja) * 1980-11-25 1987-12-24
JPS58119766A (ja) * 1981-12-30 1983-07-16 Omron Tateisi Electronics Co サイリスタの点弧回路
JPS5921768A (ja) * 1982-07-27 1984-02-03 ハニ−スチ−ル株式会社 タフテイング方法
JPH0960629A (ja) * 1995-08-24 1997-03-04 Dantani Plywood Co Ltd ねじ止め機構
JP2000012138A (ja) * 1998-06-23 2000-01-14 Hitachi Telecom Technol Ltd コネクタ装置とこのコネクタ装置を用いたケーブル試験装置とこのコネクタ装置を用いたケーブル組立方法とこのコネクタ装置を用いたケーブル試験方法
JP2004349074A (ja) * 2003-05-21 2004-12-09 Sumitomo Wiring Syst Ltd 雄コネクタ
JP3935119B2 (ja) * 2003-07-24 2007-06-20 矢崎総業株式会社 ワイヤハーネス用検査治具の検査ピン及びワイヤハーネス用検査治具

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