JP2020008387A - 導通検査治具 - Google Patents
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Abstract
【課題】導通検査をする場所の制約がなく、コネクタの勘合精度が高い導通検査治具を提供する。【解決手段】導通検査治具の治具本体10には、本体ガイド部12と本体底部19との間に本体ムービング部13が形成され、本体ムービング部13にピンガードプレート30が進退可能に配置され、ピンガードプレート30は本体ガイド部12に向かってスプリング40によって付勢されている。位置決めピン20はピンガードプレート30に形成された位置決めピン孔32を貫通し、検査対象であるコネクタの後端面に形成された凹部に侵入可能であり、導通ピン50はピンガードプレート30に形成された導通ピン孔35に侵入し、ピンガードプレート30がコネクタの当接によって本体底部19方向に押し込まれた際、先端51が導通ピン孔35から突出して、先端51または側面がコネクタに収容された端子に接触可能になっている。【選択図】図2
Description
本発明は導通検査治具、特に導通ピンをコネクタに収容された端子に接触させることによって導通を検査する導通検査治具に関する。
従来、車両等に設置されるコネクタに収容された端子の導通を検査する導通検査治具は、治具基板に固定されたコネクタセット部と、コネクタセット部に向かって進退可能な検査部とを有し、検査部には複数の導通ピンが設置されている。そして、コネクタセット部にセットされたコネクタの後端面に平行になるセット部後端面を設け、検査部にはセット部後端面に平行な検査部板壁を設け、検査部板壁の前端面側にスプリングによって付勢されたピンガードプレートを配置して、検査部板壁およびピンガードプレートを導通ピンが貫通した発明(導通検査治具の導通ピン保護構造)が開示されている(たとえば、特許文献1参照)。
特許文献1に開示された発明(以下「従来技術」と称す場合がある)は、導通検査時に、ピンガードプレートはセット部後端面と検査部板壁とに挟圧されることによって傾きが防止されるため、確実な導通検査ができる。
しかしながら、従来技術は、治具基板にコネクタセット部が固定され、治具基板に設けられた案内手段に案内された検査部を、作業者がレバー操作によって進退させるものであるため、以下の問題があった。
しかしながら、従来技術は、治具基板にコネクタセット部が固定され、治具基板に設けられた案内手段に案内された検査部を、作業者がレバー操作によって進退させるものであるため、以下の問題があった。
すなわち、治具基板が検査セクションの検査台等に固定され、一方の手で保持したコネクタをコネクタセット部にセットし(第1の動作)、他方の手でレバーを操作する(第2の動作)必要があった。このため、治具基板を固定可能な架台等を製造ライン等の直上あるいは製造ライン等の近くに配置することが困難なことから、製造ライン等の一部において導通検査をすることが困難で、機動性を欠いていた。
特に、製造ラインにおいて、大型であり持ち運びが困難な製品を対象に導通検査を行う場合は、コネクタセット部および検査部を治具基板から離し、コネクタセット部に検査対象のコネクタを手で勘合させ、コネクタセット部に向けて検査部を手で移動させる状況が発生し得る。このとき、勘合精度の低下が予測されることから、勘合精度の向上が要請されていた。
特に、製造ラインにおいて、大型であり持ち運びが困難な製品を対象に導通検査を行う場合は、コネクタセット部および検査部を治具基板から離し、コネクタセット部に検査対象のコネクタを手で勘合させ、コネクタセット部に向けて検査部を手で移動させる状況が発生し得る。このとき、勘合精度の低下が予測されることから、勘合精度の向上が要請されていた。
本発明は、前記要請に応えるものであり、導通検査をする場所の制約がなく、コネクタの勘合精度が高い導通検査治具を提供することにある。
本発明に係る導通検査治具は、本体底部を具備する筒状の治具本体と、前記治具本体の開口部に形成され、検査対象であるコネクタが挿入される本体ガイド部と、先端が前記コネクタの後端面に形成された凹部に侵入可能で、後端が前記本体底部に固定された位置決めピンと、前記コネクタに収容された端子に接触可能で、前記本体底部に固定された導通ピンとを有し、前記本体ガイド部に案内されて前記コネクタが挿入されると、前記位置決めピンが前記凹部に侵入することを特徴とする。
また、前記位置決めピンは3本以上であって、非対称に配置されていることを特徴とする。
また、前記位置決めピンは3本以上であって、非対称に配置されていることを特徴とする。
本発明に係る導通検査治具は位置決めピンを有し、位置決めピンが検査対象であるコネクタおよびピンガードプレートを正規の姿勢に位置決めするから、勘合精度が向上する。したがって、導通ピンは端子に正確に接触され、正確な導通検査が可能になる。そして、簡素な構成であるため、治具コストが安価になると共に、導通検査をする場所の制約がなくなり機動性が向上する。また、作業者の動作が簡素かつ迅速になる。
さらに、位置決めピンが非対称に配置されているから、コネクタのガイド部への誤挿入を防止することができる。なお、本発明において非対称とは、何れの直線に対しても対称でない場合と、何れかの直線に対して対称であっても、該直線に垂直な何れの直線に対しても対称でない場合とを指している。
さらに、位置決めピンが非対称に配置されているから、コネクタのガイド部への誤挿入を防止することができる。なお、本発明において非対称とは、何れの直線に対しても対称でない場合と、何れかの直線に対して対称であっても、該直線に垂直な何れの直線に対しても対称でない場合とを指している。
以下、図面を参照しながら、本発明の実施の形態1に係る導通検査治具について説明する。なお、各図面は模式的に描かれているため、各部材の形状や大きさ、あるいは部材間の位置関係は図示された形態に限定されるものではない。
[実施の形態1]
図1〜図3は本発明の実施の形態1に係る導通検査治具を模式的に説明するものであって、図1の(a)は全体を示す斜視図、図1の(b)は検査対象とするコネクタを示す正面図、図1の(c)は検査対象とするコネクタを示す側面図、図2の(a)は一部(治具本体)を示す正面図、図2の(b)は一部(治具本体)を示す側面視の断面図、図3の(a)は導通検査の開始初期における一部(治具本体)を示す側面視の断面図、図3の(b)は導通検査の途中における一部(治具本体)を示す側面視の断面図である。
図1〜図3は本発明の実施の形態1に係る導通検査治具を模式的に説明するものであって、図1の(a)は全体を示す斜視図、図1の(b)は検査対象とするコネクタを示す正面図、図1の(c)は検査対象とするコネクタを示す側面図、図2の(a)は一部(治具本体)を示す正面図、図2の(b)は一部(治具本体)を示す側面視の断面図、図3の(a)は導通検査の開始初期における一部(治具本体)を示す側面視の断面図、図3の(b)は導通検査の途中における一部(治具本体)を示す側面視の断面図である。
(全体構成)
図1の(a)において、導通検査治具100は、治具本体10と、治具本体10に連結されたケーブル120と、ケーブル120に連結された接続コネクタ130と、治具本体10を吊り下げるための吊り下げワイヤ140とを有している。
接続コネクタ130は検査対象であるコネクタ(図示しない)の導通検査する導通検査装置(図示しない)に接続されるものである。なお、吊り下げワイヤ140は、治具本体10に近い位置および接続コネクタ130に近い位置においてケーブル120に縛着され、たとえば、製造ライン等の直上または製造ライン等の近くに、旋回手段(ホイスト等)、減量手段(バランサ等)あるいは伸縮手段(スプリング等)を介して吊り下げられる。
図1の(a)において、導通検査治具100は、治具本体10と、治具本体10に連結されたケーブル120と、ケーブル120に連結された接続コネクタ130と、治具本体10を吊り下げるための吊り下げワイヤ140とを有している。
接続コネクタ130は検査対象であるコネクタ(図示しない)の導通検査する導通検査装置(図示しない)に接続されるものである。なお、吊り下げワイヤ140は、治具本体10に近い位置および接続コネクタ130に近い位置においてケーブル120に縛着され、たとえば、製造ライン等の直上または製造ライン等の近くに、旋回手段(ホイスト等)、減量手段(バランサ等)あるいは伸縮手段(スプリング等)を介して吊り下げられる。
(コネクタ)
図1の(b)および(c)において、検査対象であるコネクタは(所謂「製品側コネクタ」に同じ)1は、略矩形状のコネクタ後部2の端面(以下「コネクタ後端面」と称す)3に凹溝(図示しない)が形成され、その一部が位置決めピン挿入部4を構成している。このとき、位置決めピン挿入部4は4個所で、正面視において非対称に配置されている。また、コネクタ後部2には複数の端子孔5が形成され、端子孔5内に端子6が収容されている。このとき、端子6はコネクタ後端面3から突出していない。さらに、コネクタ後部2の外周にはコネクタフランジ7が設けられている。なお、位置決めピン挿入部4は凹溝(図示しない)の曲がり部ないし交差部や穴状の凹み部であって、4個所に限定されるものではない。また、端子6には導通検査の対象であるものと、導通検査の対象でないものとがある。
図1の(b)および(c)において、検査対象であるコネクタは(所謂「製品側コネクタ」に同じ)1は、略矩形状のコネクタ後部2の端面(以下「コネクタ後端面」と称す)3に凹溝(図示しない)が形成され、その一部が位置決めピン挿入部4を構成している。このとき、位置決めピン挿入部4は4個所で、正面視において非対称に配置されている。また、コネクタ後部2には複数の端子孔5が形成され、端子孔5内に端子6が収容されている。このとき、端子6はコネクタ後端面3から突出していない。さらに、コネクタ後部2の外周にはコネクタフランジ7が設けられている。なお、位置決めピン挿入部4は凹溝(図示しない)の曲がり部ないし交差部や穴状の凹み部であって、4個所に限定されるものではない。また、端子6には導通検査の対象であるものと、導通検査の対象でないものとがある。
(治具本体)
図2の(a)および(b)において、治具本体10は本体底部19を具備する筒状であって本体開口部11に、検査対象であるコネクタが挿入される本体ガイド部12が形成されている。本体ガイド部12は本体開口部11に近い範囲が僅かに拡大したラッパ状を呈し、コネクタ1の挿入を容易にしている。なお、本体底部19は治具本体10と一体に形成されても、別体に形成された後、治具本体10に設置されてもよい。
治具本体10は、先端21がコネクタ後端面3に形成された位置決めピン挿入部4に侵入可能で、図示しない後端が本体底部19に固定された位置決めピン20を有している。このとき、位置決めピン20は4本であって、位置決めピン挿入部4と同様に正面視において非対称な略方形に配置されている。なお、位置決めピン20の本数は限定されるものではない。
図2の(a)および(b)において、治具本体10は本体底部19を具備する筒状であって本体開口部11に、検査対象であるコネクタが挿入される本体ガイド部12が形成されている。本体ガイド部12は本体開口部11に近い範囲が僅かに拡大したラッパ状を呈し、コネクタ1の挿入を容易にしている。なお、本体底部19は治具本体10と一体に形成されても、別体に形成された後、治具本体10に設置されてもよい。
治具本体10は、先端21がコネクタ後端面3に形成された位置決めピン挿入部4に侵入可能で、図示しない後端が本体底部19に固定された位置決めピン20を有している。このとき、位置決めピン20は4本であって、位置決めピン挿入部4と同様に正面視において非対称な略方形に配置されている。なお、位置決めピン20の本数は限定されるものではない。
また、治具本体10には、本体ガイド部12と本体底部19との間に本体ムービング部13が形成され、本体ムービング部13に、位置決めピン20に案内されて進退可能なピンガードプレート30が配置され、さらに、ピンガードプレート30を本体ガイド部12に向かって付勢するスプリング40が本体スプリング穴14に配置されている。このとき、位置決めピン20は、ピンガードプレート30に形成された位置決めピン孔32を貫通している。そして、位置決めピン20は略方形配置された4本であるから、ピンガードプレート30はどの方向に対しても傾き難い姿勢に位置決めされている。なお、本発明はピンガードプレート30の配置を必須とするものではなく、配置を省略してもよい。
そして、本体スプリング穴14に配置されたスプリング40は、押し込みロッド41を介してピンガードプレート30を本体ガイド部12方向に付勢している。なお、本発明は付勢手段をコイル状のスプリング40に限定するものではなく、エアーシリンダーやトグル機構等何れであってもよい。また、ピンガードプレート30が配置されない場合は、当然に付勢手段は不要になる。
さらに、導通ピン50は、ピンガードプレート30に形成された導通ピン孔35に侵入し、導通ピン孔35から本体ガイド部12方向に突出した際、先端51または導通ピン50の側面が検査対象の端子6に接触可能になっている。なお、導通ピン50は、図示しない後端または中間部が本体底部19に固定され、ケーブル120に接続されている。
そして、本体スプリング穴14に配置されたスプリング40は、押し込みロッド41を介してピンガードプレート30を本体ガイド部12方向に付勢している。なお、本発明は付勢手段をコイル状のスプリング40に限定するものではなく、エアーシリンダーやトグル機構等何れであってもよい。また、ピンガードプレート30が配置されない場合は、当然に付勢手段は不要になる。
さらに、導通ピン50は、ピンガードプレート30に形成された導通ピン孔35に侵入し、導通ピン孔35から本体ガイド部12方向に突出した際、先端51または導通ピン50の側面が検査対象の端子6に接触可能になっている。なお、導通ピン50は、図示しない後端または中間部が本体底部19に固定され、ケーブル120に接続されている。
(動作)
図3の(a)において、本体ガイド部12に案内されてコネクタ1が挿入されると、位置決めピン20が位置決めピン挿入部4に侵入する。すなわち、コネクタ後部2の外郭は本体ガイド部12によって案内され、位置決めピン挿入部4は位置決めピン20によって置決めされるから、コネクタ1の傾きが防止される。
図3の(b)において、さらに挿入され、コネクタ後端面3がピンガードプレート30を本体底部19側に押している。このため、導通ピン50の先端51が導通ピン孔35から突出することによって、先端51は端子孔5に侵入し、先端51または導通ピン50の側面が検査対象の端子6に接触する。
図3の(a)において、本体ガイド部12に案内されてコネクタ1が挿入されると、位置決めピン20が位置決めピン挿入部4に侵入する。すなわち、コネクタ後部2の外郭は本体ガイド部12によって案内され、位置決めピン挿入部4は位置決めピン20によって置決めされるから、コネクタ1の傾きが防止される。
図3の(b)において、さらに挿入され、コネクタ後端面3がピンガードプレート30を本体底部19側に押している。このため、導通ピン50の先端51が導通ピン孔35から突出することによって、先端51は端子孔5に侵入し、先端51または導通ピン50の側面が検査対象の端子6に接触する。
(作用効果)
以上のように、治具本体10は吊り下げられるものであって、従来技術のような治具基板を有しないため、導通検査をする場所の制約がなくなるから、たとえば車の製造ライン等の一部において導通検査をすることが可能になり、機動性が向上する。
また、作業者が一方の手でコネクタ1を保持し、他方の手で治具本体10を保持し、コネクタ後部2を本体ガイド部12に挿入するだけで導通検査をすることができるから、作業が簡素で迅速になる。このとき、位置決めピン20は非対称に配置されているから、コネクタの誤挿入が防止される。
また、位置決めピン20が位置決めピン挿入部4に侵入することによってコネクタ1の傾きが防止されるから、すなわち「手勘合」でないから、勘合精度が向上し、より正確な導通検査が可能になる。
さらに、従来技術のような案内手段やレバー機構を有しないから、治具の構造が簡素かつ軽量で治具コストが安価になる。
なお、導通検査時以外の時は、導通ピン50は導通ピン孔35に侵入して、先端51がピンガードプレート30の表面から突出していないから、仮に、ピンガードプレート30に異物(作業者の指等を含む)が衝突したとしても、導通ピン50の損傷が防止されている。
以上のように、治具本体10は吊り下げられるものであって、従来技術のような治具基板を有しないため、導通検査をする場所の制約がなくなるから、たとえば車の製造ライン等の一部において導通検査をすることが可能になり、機動性が向上する。
また、作業者が一方の手でコネクタ1を保持し、他方の手で治具本体10を保持し、コネクタ後部2を本体ガイド部12に挿入するだけで導通検査をすることができるから、作業が簡素で迅速になる。このとき、位置決めピン20は非対称に配置されているから、コネクタの誤挿入が防止される。
また、位置決めピン20が位置決めピン挿入部4に侵入することによってコネクタ1の傾きが防止されるから、すなわち「手勘合」でないから、勘合精度が向上し、より正確な導通検査が可能になる。
さらに、従来技術のような案内手段やレバー機構を有しないから、治具の構造が簡素かつ軽量で治具コストが安価になる。
なお、導通検査時以外の時は、導通ピン50は導通ピン孔35に侵入して、先端51がピンガードプレート30の表面から突出していないから、仮に、ピンガードプレート30に異物(作業者の指等を含む)が衝突したとしても、導通ピン50の損傷が防止されている。
以上、本発明を実施の形態1をもとに説明した。この実施の形態1は例示であり、それらの各構成要素およびその組合せにいろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。たとえば、ケーブル120を撤去して、治具本体10を検査ステージの検査台に載置するようにしてもよいし、製造ラインの一部に載置台を設けて載置台に載置するようにしてもよい。
本発明は以上であるから、様々な形態のコネクタの導通検査をする導通検査治具として広く利用することができる。
1:コネクタ
2:コネクタ後部
3:コネクタ後端面
4:位置決めピン挿入部
5:端子孔
6:端子
7:コネクタフランジ
10:治具本体
11:本体開口部
12:本体ガイド部
13:本体ムービング部
14:本体スプリング穴
19:本体底部
20:位置決めピン
21:先端
22:後端
30:ピンガードプレート
32:位置決めピン孔
35:導通ピン孔
40:スプリング
41:押し込みロッド
50:導通ピン
51:先端
100:導通検査治具
120:ケーブル
130:接続コネクタ
140:吊り下げワイヤ
2:コネクタ後部
3:コネクタ後端面
4:位置決めピン挿入部
5:端子孔
6:端子
7:コネクタフランジ
10:治具本体
11:本体開口部
12:本体ガイド部
13:本体ムービング部
14:本体スプリング穴
19:本体底部
20:位置決めピン
21:先端
22:後端
30:ピンガードプレート
32:位置決めピン孔
35:導通ピン孔
40:スプリング
41:押し込みロッド
50:導通ピン
51:先端
100:導通検査治具
120:ケーブル
130:接続コネクタ
140:吊り下げワイヤ
Claims (2)
- 本体底部を具備する筒状の治具本体と、
前記治具本体の開口部に形成され、検査対象であるコネクタが挿入される本体ガイド部と
先端が前記コネクタの後端面に形成された凹部に侵入可能で、後端が前記本体底部に固定された位置決めピンと、
前記コネクタに収容された端子に接触可能で、前記本体底部に固定された導通ピンとを有し、
前記本体ガイド部に案内されて前記コネクタが挿入されると、前記位置決めピンが前記凹部に侵入することを特徴とする導通検査治具。 - 前記位置決めピンは3本以上であって、非対称に配置されていることを特徴とする請求項1記載の導通検査治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018128736A JP2020008387A (ja) | 2018-07-06 | 2018-07-06 | 導通検査治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018128736A JP2020008387A (ja) | 2018-07-06 | 2018-07-06 | 導通検査治具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020008387A true JP2020008387A (ja) | 2020-01-16 |
Family
ID=69151402
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018128736A Abandoned JP2020008387A (ja) | 2018-07-06 | 2018-07-06 | 導通検査治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2020008387A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111874551A (zh) * | 2020-08-05 | 2020-11-03 | 佛山隆深机器人有限公司 | 一种流动集束插接运输装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08240613A (ja) * | 1995-03-02 | 1996-09-17 | Hitachi Ltd | 差込式試験端子の誤接続防止構造 |
JPH08240612A (ja) * | 1995-03-02 | 1996-09-17 | Hitachi Ltd | 差込式試験端子用プラグ |
JP2001013193A (ja) * | 1999-06-30 | 2001-01-19 | Yazaki Corp | コネクタ導通検査具 |
JP2003337155A (ja) * | 2002-05-17 | 2003-11-28 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 検査冶具 |
-
2018
- 2018-07-06 JP JP2018128736A patent/JP2020008387A/ja not_active Abandoned
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08240613A (ja) * | 1995-03-02 | 1996-09-17 | Hitachi Ltd | 差込式試験端子の誤接続防止構造 |
JPH08240612A (ja) * | 1995-03-02 | 1996-09-17 | Hitachi Ltd | 差込式試験端子用プラグ |
JP2001013193A (ja) * | 1999-06-30 | 2001-01-19 | Yazaki Corp | コネクタ導通検査具 |
JP2003337155A (ja) * | 2002-05-17 | 2003-11-28 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 検査冶具 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111874551A (zh) * | 2020-08-05 | 2020-11-03 | 佛山隆深机器人有限公司 | 一种流动集束插接运输装置 |
CN111874551B (zh) * | 2020-08-05 | 2021-11-30 | 佛山隆深机器人有限公司 | 一种流动集束插接运输装置 |
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