JP2678875B2 - コネクタ検査用治具 - Google Patents
コネクタ検査用治具Info
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
Description
装された状態で基板等の電気的な機能検査を行うための
検査用治具に関し,特にある誤差範囲で位置決めされた
基板等やコネクタの位置誤差を吸収して,検査用治具の
接触子が正確にコネクタの露出した端子部に接触するよ
うに構成された検査用治具に関するものである。
等の機能の検査を行う方法としては,第1の方法とし
て,コネクタと他の機能基板等とを別のコネクタを介し
て接続して機能検査を行うことが行われていた。また,
第2の方法としては,コネクタの周辺に検査用パッドを
設け,該検査用パッドに接触子を押し当てて検査すると
いう方法がとられていた。
法においては,基板等を単体で検査することができず,
このため検査に要する工数が多くなり,検査工程が煩雑
になるといった欠点を有していた。また,第2の方法に
おいては,検査用パッドを設けることから実装密度が低
下するばかりでなく,コネクタ自身の実装の状態を確認
することができないといった欠点を有していた。
技術の課題に鑑みて,コネクタが基板等に実装された状
態で,基板等の機能検査を効率良く,かつ実装密度を低
下させることなく,しかもコネクタの実装状態を確認し
ながら検査を行うことのできる検査用治具を提供するこ
とにある。
態のコネクタの電気的な検査をするためのコネクタ検査
用治具において,前記コネクタの露出した端子部に接触
するための互いに電気的に絶縁された複数の検査用接触
子と,前記検査用接触子を前記端子部に接触させるとと
もに前記検査用接触子と前記コネクタとの相対位置を案
内する案内機構とを備え,前記実装状態のコネクタと前
記コネクタ検査用治具との相対位置のずれを,2軸のコ
ンプライアンス機構により吸収し,位置ずれ無く前記コ
ネクタの露出した端子部に前記検査用接触子を接触でき
るように構成したことを特徴とするコネクタ検査用治具
が得られる。
前記2軸のコンプライアンス機構の各々は,互いに平行
な2枚の板バネを有していることを特徴とするコネクタ
検査用治具が得られる。
たコネクタがX軸方向および/またはY軸方向に誤差を
もって位置決めされていても,治具をZ軸方向に降下さ
せるだけで,治具の接触子をコネクタの端子部に正確に
押し当てることができる。
を参照して説明する。図1は本発明の一実施例のコネク
タ検査用治具を示した斜視図で,図2は動作状態を示し
た正面図である。なお,以下の記載にあっては,上下方
向をZ軸方向,前後方向をX軸方向,左右方向をY軸方
向と呼ぶ。
ベース部材1の長辺を形成する側の対向する両側面に
は,これら側面と平行に下方に延出した第1の板バネ2
A,2Bの上端がネジS1によって固定されている。こ
れら第1の板バネ2A,2Bは,コンプライアンス機構
を構成する。第1の板バネ2A,2Bの下端は,水平断
面形状が十字状をしたジョイント部材3の正面および背
面(X軸と直交する面)側の中央突出部の外側壁面にネ
ジS2によって固定されている。この第1の板バネ2
A,2Bは板厚方向に弾性を有しており,ベース部材1
とジョイント部材3を板バネ2A,2Bの板厚方向たる
X軸方向に相対的に反対方向に移動させたとき,撓むよ
うに構成されている。すなわち,ベース部材1を固定位
置においた状態のとき,ジョイント部材3は板バネ2
A,2Bを撓ませてX軸方向に移動することが可能とな
っている。
向と直交する面)には夫々第2の板バネ4A,4Bの上
端部がネジS3によって固定されている。第2の板バネ
の下端4A,4Bはプローブホルダ5の両側面にネジS
4でもって固定されている。この第2の板バネ4A,4
Bも板厚方向に弾性を有しており,ジョイント部材3と
プローブホルダ5をY軸方向に相対的に反対方向に移動
させたとき,第2の板バネ4A,4Bは図2に示すよう
に撓むように構成されている。すなわち,プローブホル
ダ5はジョイント部材3を中心としてY方向に移動可能
になっている。
するプローブ6が側面方向(Y方向)に向けて列設され
ている。プローブ6の上端には,図示しない検査用機器
に接続された電線7を挿通状態で受容する開口部が形成
されている。また,プローブ6の下端には,前記電線7
と電気的接続される接触子6aが形成されている。この
接触子6aを基板9上に実装されたコネクタ10の端子
部10aに押し当てることによってコネクタおよび基板
9の検査を行う。
10の両側面に当接して位置決めするコネクタガイド8
A,8Bが設けられている。プローブホルダ5の底面側
の前後方向には,図1から分るように,コネクタ10を
X軸方向に案内するテーパー状のガイド部51が形成さ
れている。またコネクタガイド8A,8Bの内側にも,
図2から分るようにコネクタ10をY軸方向に案内する
テーパー状のガイド部81が形成されている。これらの
ガイド部51,81はコネクタ案内機構を構成する。即
ち,検査時において本発明の実施例に係る治具をコネク
タ10側に押し付けると,これらのガイド部51,81
によって案内されながらコネクタ10がプローブホルダ
5とコネクタガイド8A,8Bによって画定されたコネ
クタ収容部に収容されていき,プローブ6の接触子6a
をコネクタ10の対応する端子部10aへ導通状態に接
触させることができる。
るコンプライアンス機構の作動状態について図2を参照
しながら説明する。コネクタ10が例えば正規の位置か
らY軸方向にδ1(<δ2(ガイド部81の面取り
量))だけずれて位置決めされて取付けられていたとす
る。この場合,プローブホルダ5は第2のバネ部材4
A,4Bによって追従移動可能にジョイント部材3に取
付けられているので,Y軸方向の案内機構であるコネク
タガイド8A,8Bに形成された面取り量をδ2とする
ガイド部81により,本治具が降下するにしたがってコ
ネクタ10の両側端面がガイド部81を滑りながらY軸
方向(図2に示す場合は左方向)に移動する。そして,
最終的に図2に示すようにプローブホルダ5とコネクタ
ガイド8A,8B内に画定された収容部に収容され,プ
ローブ6の接触子6aをコネクタ10の端子部10aに
押し当てることができる。
基板9への実装位置がずれている場合について説明した
が,コネクタ10がX軸方向たる図2における紙面垂直
方向にずれている場合には,プローブホルダ5の前後側
に形成されたガイド部51により,本治具が降下するに
したがってコネクタ10の前後面がガイド部51を滑り
ながらX軸方向に移動する。すなわち,ジョイント部材
3がX軸方向に追従移動してプローブホルダ5とコネク
タガイド8A,8B内に画定された収容部にコネクタ1
0を収容させ,プローブ6の接触子6aをコネクタ10
の端子部10aに押し当てる。
ダ5とコネクタガイド8A,8Bとを別体に構成した上
で一体的に接続するものとして説明したが,本発明はこ
れに限定されるものではなく,プローブホルダ5とコネ
クタガイド8A,8Bとを一体的に成形しておくもので
も良い。すなわち,プローブホルダ5にコネクタガイド
8A,8Bの機能をもたせるような形状構造にしておい
てもよいものである。
ば,プローブを保持したプローブホルダがX軸方向,Y
軸方向に移動可能に構成されており,かつ,検査時にコ
ネクタを保持するプローブホルダおよびコネクタガイド
にガイド部が形成されているので,コネクタの実装位置
がX軸方向およびY軸方向に多少ずれていても,治具を
単にZ軸方向に降下させるだけで,プローブの接触子を
確実にコネクタの端子部に押し当てることができ,コネ
クタおよび該コネクタが装填された基板の電気的検査を
迅速かつ正確に行うことができる。また,本発明におい
ては,検査用治具を降下させるだけで,プローブの接触
子をコネクタの端子部に接触させることができるので,
コネクタの実装状態を確認しながら検査を行うことがで
きる。
ッドを設ける必要がなくなり,コネクタの実装密度を向
上させることができる。
単であるので,保守が容易で,かつ製作費用も安価とな
り,コストダウンの要請に応えることができる。
を示した外観斜視図である。
を示した正面図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 実装状態のコネクタの電気的な検査をす
るためのコネクタ検査用治具において,前記コネクタの
露出した端子部に接触するための互いに電気的に絶縁さ
れた複数の検査用接触子と,前記検査用接触子を前記端
子部に接触させるとともに前記検査用接触子と前記コネ
クタとの相対位置を案内する案内機構とを備え,前記実
装状態のコネクタと前記コネクタ検査用治具との相対位
置のずれを,2軸のコンプライアンス機構により吸収
し,位置ずれ無く前記コネクタの露出した端子部に前記
検査用接触子を接触できるように構成したことを特徴と
するコネクタ検査用治具。 - 【請求項2】 請求項1記載のコネクタにおいて,前記
2軸のコンプライアンス機構の各々は,互いに平行な2
枚の板バネを有していることを特徴とするコネクタ検査
用治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5257048A JP2678875B2 (ja) | 1993-10-14 | 1993-10-14 | コネクタ検査用治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5257048A JP2678875B2 (ja) | 1993-10-14 | 1993-10-14 | コネクタ検査用治具 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07111176A JPH07111176A (ja) | 1995-04-25 |
JP2678875B2 true JP2678875B2 (ja) | 1997-11-19 |
Family
ID=17301018
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5257048A Expired - Lifetime JP2678875B2 (ja) | 1993-10-14 | 1993-10-14 | コネクタ検査用治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2678875B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3482541B2 (ja) * | 1994-06-30 | 2003-12-22 | 日本航空電子工業株式会社 | スライダーロック治具 |
JP4712482B2 (ja) * | 2005-08-11 | 2011-06-29 | 古河電気工業株式会社 | 端子アライメント検査治具 |
JP5203785B2 (ja) * | 2008-04-16 | 2013-06-05 | 大西電子株式会社 | 検査治具 |
JP2010160012A (ja) * | 2009-01-07 | 2010-07-22 | Hitachi Computer Peripherals Co Ltd | プローブ検査装置 |
JP5579547B2 (ja) * | 2010-09-07 | 2014-08-27 | 株式会社ヨコオ | コネクタ接続用検査治具 |
JP6114615B2 (ja) * | 2013-04-05 | 2017-04-12 | モレックス エルエルシー | コネクタ嵌合装置、及び電子機器の検査方法 |
TW202033967A (zh) | 2018-12-21 | 2020-09-16 | 日商友華股份有限公司 | 檢查用輔助具支持具、支持具及檢查用輔助具 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0227682U (ja) * | 1988-08-10 | 1990-02-22 | ||
JPH02284370A (ja) * | 1989-04-25 | 1990-11-21 | Matsushita Electric Works Ltd | 電気機器のコネクタ構造 |
-
1993
- 1993-10-14 JP JP5257048A patent/JP2678875B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07111176A (ja) | 1995-04-25 |
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Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100801 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110801 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120801 Year of fee payment: 15 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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