JP2001291744A - Icチップの接合方法及びこれを用いた水晶発振器 - Google Patents

Icチップの接合方法及びこれを用いた水晶発振器

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JP2001291744A
JP2001291744A JP2000106214A JP2000106214A JP2001291744A JP 2001291744 A JP2001291744 A JP 2001291744A JP 2000106214 A JP2000106214 A JP 2000106214A JP 2000106214 A JP2000106214 A JP 2000106214A JP 2001291744 A JP2001291744 A JP 2001291744A
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chip
bonding method
bumps
bonding
electrodes
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Tatsunobu Shibuya
龍伸 渋谷
Susumu Negishi
進 根岸
Shinron Gon
ゴン・シンロン
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Nihon Dempa Kogyo Co Ltd
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Nihon Dempa Kogyo Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]

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  • Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】接合不良を防止したICチップの接合方法及び
これを用いた生産性の高い水晶発振器を提供する。 【構成】ICチップの一主面に形成した複数の端子電極
にそれぞれバンプを設けて、基板に形成された回路パタ
ーンとしての複数の導電路の接続端子部に超音波熱圧着
によって前記バンプを接続してなるICチップの接合方
法において、前記端子電極を電気的に接続した複数の共
通電極から形成してそれぞれにバンプを設けた構成とす
る。また、この接合方法を用いて、容器本体の凹部にI
Cチップを接続し、水晶片を収容して水晶発振器を構成
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、バンプを用いた超
音波熱圧着によるICチップの接合方法を産業上の技術
分野とし、特に接続不良を防止した接合方法及びこれを
用いた水晶発振器に関する。
【0002】
【従来の技術】(発明の背景)種々の電子回路を集積化
したICチップは多くの電子機器に使用され、その小型
化の原動力となっている。近年では、ワイヤボンディン
グに比較して小型化をさらに促進することから、水晶発
振器においても端子電極の形成された一主面を基板に直
接に接合する所謂フェースダウンボンディングが採用さ
れている。このようなものの一つにバンプを用いた超音
波熱圧着による接合方法がある。
【0003】(従来技術の一例)第4図は一従来例を説
明する水晶発振器の断面図である。水晶発振器は、積層
セラミックからなり凹部と段部を有する容器本体1にI
Cチップ2と水晶片3を収容し、カバー4を接合して密
閉する。容器本体1の凹部底面1aには、第5図に示し
たように回路パターンとしての導電路5が形成される。
また、段部には図示しない水晶端子が形成される。
【0004】回路パターン(導電路5)は、下地電極と
しての一層目を印刷及び焼成によるタングステン(W)
として、その表面に電解メッキによる金が形成される。
そして、通常では、導電路5の先端側となる黒点で示す
接続端子部(導電端子部とする)6を露出し、これ以外
は図示しないアルミナ等の絶縁材で覆われる(第5
図)。
【0005】ICチップ2は一主面の対向する一組の両
辺側に端子電極7を有し、例えば金粒とした球状の所謂
バンプ8が形成される(第6図)。そして、ICチップ
2の一主面を凹部底面に対向させ、バンプ8と導電路5
の先端側となる導電端子部6とを位置決めして当接す
る。
【0006】そして、超音波熱圧着機によって、ICチ
ップ2を熱圧着(押圧)しながら超音波によって水平方
向に振動させ、バンプ8を楕円状に押し潰して導電端子
部6と接続する。すなわち、金属(ここでは金)の固相
拡散によって接合される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】(従来技術の問題点)
しかしながら、上記構成の水晶発振器では、ICチップ
2と導電端子部6との接続不良により、高価なICチッ
プ2を無駄にして歩留まりも悪く、生産性の低い問題が
あった。
【0008】これらの原因は数多く存在するが、これら
の一つに例えばバンプ8の大きさが80μ程度と小さく、
基板表面の凹凸によって導電端子部6とバンプ8との平
行度が取れずに、バンプ8が導電端子部6に充分に接触
しない場合がある。
【0009】(発明の目的)本発明は、接合不良を防止
したICチップの接合方法及びこれを用いた生産性の高
い水晶発振器を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、ICチップの
端子電極を電気的に接続した複数の共通電極から形成し
てそれぞれにバンプを設けたことを基本的な解決手段と
する。
【0011】
【作用】本発明では、電気的に接続した複数の共通電極
からICチップの端子電極を形成したので、接続確率を
高めることができる。以下、本発明の一実施例を水晶発
振器を例として説明する。
【0012】第1図は本発明の一実施例としての水晶発
振器に採用されるICチップの一主面の平面図である。
なお、前従来例図と同一部分には同番号を付与してその
説明は簡略又は省略する。水晶発振器は、前述したよう
に、積層セラミックからなり凹部底面にICチップ2を
固着し、段部に水晶片3を保持して、カバー4を接合し
た構成とする(前第4図)。
【0013】そして、この実施例では、ICチップ2の
一主面に設ける端子電極7は電気的に接続した二つの共
通電極7(ab)からなる。この例では、共通電極7
(ab)は分割独立し、ICチップ2の辺方向に沿って
形成され、表面にて共通接続する。そして、各共通電極
7(ab)にはそれぞれバンプ8が設けられる。
【0014】また、容器本体1の凹部底面には、ICチ
ップ2の共通電極7(ab)に対応して図示しない分割
接続された導電端子部6が形成される。そして、ICチ
ップ2のバンプ8が超音波熱圧着によって凹部底面の分
割された導電端子部8に接合される。
【0015】このような構成であれば、ICチップ2に
おける同一の端子電極7を二つの共通電極7(ab)か
ら形成してそれぞれにバンプ8を設けるので、いずれか
一方が凹部底面の分割された導電端子部8に接合すれ
ば、電気的な接続を確実にする。したがって、電気的接
続の確率を高めるので、導通不良を防止する。
【0016】
【他の事項】上記実施例では、共通電極7(ab)はI
Cチップ2の表面にて接続したが、ICチップ2の内部
にて結線してもよい。また、ICチップ2の共通電極7
(ab)は及び凹部底面の導電端子部6は分割して形成
したが、分割することなく即ち従来よりも約2倍の大き
さとして形成してもよい。
【0017】また、共通電極7(ab)は、ICチップ
2の辺方向に沿って形成したが、この場合には各端子電
極7を共通電極7(ab)から形成すると密集するの
で、第2図に示したように端子電極7の配列される辺方
向に対して直交方向に共通電極7(ab)を形成しても
よい。
【0018】共通電極7(ab)は2個としたが、例え
ば2個以上の4個としてもよく(第3図)、これらは適
宜に選択される。但し、バンプ8の数が増えると凹部底
面の導電端子部6の面積も増加して縮小化を阻害するの
で、最小限の2個が望ましい。また、全ての端子電極7
を共通電極から形成することなく、必要に応じた箇所の
端子電極7を分割して複数の共通電極にすればよい。
【0019】また、ICチップ2と水晶片3を一主面側
の凹部に収容したが、両主面に凹部を設けて別個に収容
してもよい。そして、水晶発振器を例として説明した
が、各分野でのICチップ2の実装方法に適用できる。
【0020】
【発明の効果】本発明は、ICチップの端子電極を電気
的に接続した複数の共通電極から形成してそれぞれにバ
ンプを設けたので、接合不良を防止したICチップの接
合方法及びこれを用いた生産性の高い水晶発振器を提供
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例としての水晶発振器に採用さ
れるICチップの一主面の平面図である。
【図2】本発明の他の実施例を説明するICチップの一
主面の平面図である。
【図3】本発明の他の実施例を説明するICチップの一
主面の平面図である。
【図4】従来例及び本発明を説明する水晶発振器の断面
図である。
【図5】従来例を説明する、容器本体の凹部底面に形成
された回路パターンの図である。
【図6】従来例を説明する、ICチップの一主面の平面
図である。
【符号の説明】
1 容器本体、2 ICチップ、3 水晶片、4 カバ
ー、5 導電路、6導電端子部、7 端子電極、7(a
b) 共通電極、8 バンプ.

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ICチップの一主面に形成した複数の端子
    電極にそれぞれバンプを設けて、基板に形成された回路
    パターンとしての複数の導電路の接続端子部に超音波熱
    圧着によって前記バンプを接続してなるICチップの接
    合方法において、前記端子電極を電気的に接続した複数
    の共通電極から形成してそれぞれにバンプを設けたこと
    を特徴とするICチップの接合方法。
  2. 【請求項2】請求項1におけるICチップの接合方法を
    用いて、容器本体の凹部にICチップを接続して、水晶
    片を収容したことを特徴とする水晶発振器。
JP2000106214A 1999-12-07 2000-04-07 Icチップの接合方法及びこれを用いた水晶発振器 Pending JP2001291744A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014057107A (ja) * 2013-12-20 2014-03-27 Renesas Electronics Corp 半導体装置の製造方法および半導体装置
US8975120B2 (en) 2009-05-29 2015-03-10 Renesas Electronics Corporation Method of manufacturing semiconductor device

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US8975120B2 (en) 2009-05-29 2015-03-10 Renesas Electronics Corporation Method of manufacturing semiconductor device
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