JP2001308124A - Icチップの接合方法及びこれを用いた水晶発振器 - Google Patents

Icチップの接合方法及びこれを用いた水晶発振器

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JP2001308124A JP2000118851A JP2000118851A JP2001308124A JP 2001308124 A JP2001308124 A JP 2001308124A JP 2000118851 A JP2000118851 A JP 2000118851A JP 2000118851 A JP2000118851 A JP 2000118851A JP 2001308124 A JP2001308124 A JP 2001308124A
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bonding
film
oxide film
crystal oscillator
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Tatsunobu Shibuya
龍伸 渋谷
Susumu Negishi
進 根岸
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Nihon Dempa Kogyo Co Ltd
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Nihon Dempa Kogyo Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation

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Abstract

(57)【要約】 【目的】ICの内部回路に与える損傷を防止したICチ
ップの接合方法及びこれを用いた生産性の高い水晶発振
器を提供する。 【構成】シリコン基板の表面にP型領域とN型領域とを
絶縁する酸化膜を外周に形成して前記酸化膜の表面及び
枠内に前記P型領域又はN型領域と電気的に接続する導
体膜を設けて端子電極とし、前記シリコン基板上に保護
膜を設けて前記端子電極の表面にバンプを接続し、前記
バンプを超音波熱圧着によって押し潰しながら基板の導
電端子部に接続してなるICチップの接合方法におい
て、前記保護膜は前記酸化膜の枠を越えて前記端子電極
内に形成された構成とする。そして、、このICチップ
の接合方法を用いて、容器本体の凹部にICチップを接
続して、水晶片を収容した水晶発振器を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、バンプを用いた超
音波熱圧着によるICチップの接合方法及びこれを用い
た水晶発振器を産業上の技術分野とし、特にICチップ
としてのシリコン基板に生ずるクラックを防止したIC
チップの接合方法に関する。
【0002】
【従来の技術】(発明の背景)種々の電子回路を集積化
したICチップは多くの電子機器に使用され、その小型
化の原動力となっている。近年では、ワイヤボンディン
グに比較して小型化をさらに促進することから、水晶発
振器においても端子電極の形成された一主面を基板に直
接に接合する所謂フェースダウンボンディングが採用さ
れている。このようなものの一つにバンプを用いた超音
波熱圧着による接合方法がある。
【0003】(従来技術の一例)第3図は一従来例を説
明する水晶発振器の断面図である。水晶発振器は、積層
セラミックからなり凹部と段部を有する容器本体1にI
Cチップ2と水晶片3を収容し、カバー4を接合して密
閉する。容器本体1の凹部底面1aには、第4図に示し
たように回路パターンとしての導電路5が形成される。
また、段部には図示しない水晶端子が形成される。
【0004】回路パターン(導電路5)は、下地電極と
しての一層目を印刷及び焼成によるタングステン(W)
として、その表面に電解メッキによる金が形成される。
通常では、導電路5の先端側となる黒点で示す接続端子
部(導電端子部とする)6を露出し、これ以外は図示し
ないアルミナ等の絶縁材で覆われる。導電端子部6は長
方形状として長さ方向に平行に形成される。
【0005】ICチップ2はシリコン基板2aからな
り、図示しない発振回路を構成する増幅器や抵抗、コン
デンサ等を集積化してなる。第5図に示したように、シ
リコン基板2aの表面には、P型とN型領域を絶縁する
酸化膜(SiO2)2bを境界枠上に周回して形成する。
そして、酸化膜上及び酸化膜2bの枠内にAl(アル
ミ)膜2cを設けて、P型又はN型領域と電気的に接続
する端子電極7を形成する。これにより、端子電極7は
外周に段部を有する凹状となる。これらは、ICチップ
2の一主面における対向する一組の両辺側に設けられ
る。
【0006】ICチップ2の表面には、傷等を防止する
例えばポリイミドからなる保護膜8が端子電極7の段部
表面の外周にまたがって、全面的に形成される。そし
て、端子電極7(アルミ膜2c)の凹部底面に例えば金
粒とした球状の所謂バンプ9が二重にして形成される。
そして、ICチップ2の一主面を容器本体1の凹部底面
に対向させ、バンプ9と導電端子部6とを位置決めして
当接する。
【0007】次に、超音波熱圧着機によって、ICチッ
プ2を熱圧着(押圧)しながら超音波によって導電端子
部6の長さ方向にバンプ9を振動させ、楕円状に押し潰
して導電端子部6と接続する。すなわち、金属(ここで
は金)の固相拡散によって接合される。なお、バンプ9
は押圧力が均等に分散するように例えば3:2以上とし
て配置され、各辺においてほぼ同間隔で配置される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】(従来技術の問題点)
しかしながら、上記構成の水晶発振器では、超音波熱圧
着時の振動を伴う押圧力によって、シリコン基板2aの
表面から内部に向かってヒビや欠け等のクラックを生じ
る問題があった。すなわち、ICチップ2における端子
電極7の凹部底面に設けられたバンプ9は、超音波熱圧
着時の振動を伴う押圧力によって楕円方向に潰れる。こ
の場合、バンプ9は潰れながら段部のアルミ膜2cを押
圧し続け、第6図に示したように、凹状の端子電極7の
表面に倣った形状となる。
【0009】したがって、超音波熱圧着時には、段部の
下面にある酸化膜(SiO2)2bとアルミ膜2cとの矢印
Pで示す境界部が振動とともに押圧を受ける。そして、
酸化膜(SiO2)2bはアルミ膜2cに対して相対的に硬
性で、アルミ膜2cは軟性である。これにより、境界部
Pから、シリコン基板2の表面から内部に向かってクラ
ックを生じやすくなる。
【0010】この場合、端子電極7の直下及び近傍にあ
るICチップ2の内部回路に損傷を与えたり、導通(接
合)不良を引き起こす。これらのことから、高価なIC
チップ2を無駄にして歩留まりも悪く、生産性を低下さ
せる問題があった。
【0011】(発明の目的)本発明は、ICの内部回路
に与える損傷を防止したICチップの接合方法及びこれ
を用いた生産性の高い水晶発振器を提供することを目的
とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、シリコン基板
の保護膜を、端子電極7(アルミ膜2c)の外周下面に
設けられた酸化膜2bを越えて形成したことを基本的な
解決手段とする。
【0013】
【作用】本発明では、端子電極7の酸化膜2bを越えて
保護膜8を形成したので、酸化膜2bとアルミ膜2cの境
界部上には保護膜8が存在する。したがって、超音波熱
圧着時にバンプ9が潰れると、バンプ9は保護膜8を介
在させて境界部を押圧する。これにより、保護膜8が緩
衝体となって境界部への押圧力を軽減する。以下、本発
明の一実施例を説明する。
【0014】第1図は本発明の一実施例を説明する水晶
発振器特にICチップの断面図である。なお、前従来例
図と同一部分には同番号を付与してその説明は簡略又は
省略する。水晶発振器は、前述したように容器本体1の
回路パターンが形成された凹部底面にICチップ2を、
水晶端子を有する段部に水晶片3を保持し、カバー4を
接合して密閉する(前第3図参照)。
【0015】そして、この実施例でのICチップ2は、
凹状の端子電極7の凹部底面にまでポリイミドからなる
保護膜8を形成する。すなわち、保護膜8はシリコン基
板2aの酸化膜2b(SiO2)を越えたアルミ膜2c上
に形成される。そして、端子電極7の凹部底面に二重と
したバンプ9を接続し、超音波熱圧着によって容器本体
の導電端子部6に接続する。
【0016】このようなものでは、超音波熱圧着時に振
動と押圧によってバンプ9が潰れると、バンプ9は端子
電極7及び保護膜8の形成する表面に倣った形状とな
る。そして、この場合は、保護膜8は酸化膜(SiO2
2bを越えたアルミ膜2c上に形成される。したがっ
て、バンプ9は振動及び圧着によって潰れながら、保護
膜8上からアルミ膜2c及びその下の酸化膜2bを押圧
する。
【0017】したがって、酸化膜(SiO2)2bとアル
ミ膜2cとの境界部には保護膜8を経て振動とともに押
圧力が加わる。これにより、保護膜8が緩衝体として作
用するので、境界部への押圧力は減じられる。これらの
ことから、境界部からシリコン基板2aに発生するクラ
ックを防止し、水晶発振器の歩留まりを良好にして生産
性を向上できる。
【0018】
【他の事項】上記実施例では、端子電極7の凹部底面に
形成するバンプ9は二重としたが、単一であってもよ
い。また、保護膜8はポリイミドとしたが、緩衝作用を
もたらすものであればよく、更には例えばシリコン基板
の保護膜8とは独立的にAu(金)やAl膜を境界部上に
設けてもよく、要は境界部への押圧力を弱める構成であ
ればよい。また、端子電極7はアルミ膜2cとしたが、
例えば金膜でもよく導体膜であればよい。
【0019】
【発明の効果】本発明は、シリコン基板の保護膜を、端
子電極の外周下面に設けられた酸化膜を越えて形成した
ので、ICの内部回路に与える損傷を防止したICチッ
プの接合方法及びこれを用いた生産性の高い水晶発振器
を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を説明する水晶発振器に採用
されるICチップの一部断面図である。
【図2】本発明の一実施例を説明するバンプを潰した状
態のICチップの一部断面図である。
【図3】従来例及び本発明を説明する水晶発振器の断面
図である。
【図4】従来例を説明する容器本体の凹部底面に形成さ
れた回路パターンの図である。
【図5】従来例を説明するバンプを設けたICチップの
一部断面図である。
【図6】従来例を説明するバンプを潰した状態のICチ
ップの一部断面図である。
【符号の説明】
1 容器本体、2 ICチップ、2a シリコン基板、
2b 酸化膜、2cアルミ膜、3 水晶片、4 カバ
ー、5 導電路、6 導電端子部、7 端子電極、8
保護膜、9 バンプ、10 導電性接着剤.

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】シリコン基板の表面にP型領域とN型領域
    との境界枠に両者を絶縁する酸化膜を形成して前記酸化
    膜の表面及び境界枠内に前記P型領域又はN型領域と電
    気的に接続する導体膜を設けて端子電極とし、前記シリ
    コン基板上に保護膜を設けて前記端子電極の表面にバン
    プを接続し、前記バンプを超音波熱圧着によって押し潰
    しながら基板の導電端子部に接続してなるICチップの
    接合方法において、前記保護膜は前記酸化膜の枠を越え
    て前記端子電極内に形成されたことを特徴とするICチ
    ップの接合方法。
  2. 【請求項2】請求項1におけるICチップの接合方法を
    用いて、容器本体の凹部にICチップを接続して、水晶
    片を収容したことを特徴とする水晶発振器。
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