JP2001256775A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2001256775A5
JP2001256775A5 JP2000066689A JP2000066689A JP2001256775A5 JP 2001256775 A5 JP2001256775 A5 JP 2001256775A5 JP 2000066689 A JP2000066689 A JP 2000066689A JP 2000066689 A JP2000066689 A JP 2000066689A JP 2001256775 A5 JP2001256775 A5 JP 2001256775A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power supply
circuit
block
voltage
switch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000066689A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001256775A (ja
JP3916837B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2000066689A priority Critical patent/JP3916837B2/ja
Priority claimed from JP2000066689A external-priority patent/JP3916837B2/ja
Priority to US09/799,694 priority patent/US6643162B2/en
Priority to TW090105317A priority patent/TW488060B/zh
Publication of JP2001256775A publication Critical patent/JP2001256775A/ja
Priority to US10/676,004 priority patent/US6906944B2/en
Publication of JP2001256775A5 publication Critical patent/JP2001256775A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3916837B2 publication Critical patent/JP3916837B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Claims (6)

  1. 複数のブロックに分けられて強誘電体キャパシタを持つメモリセルが配列されたメモリセルアレイと、
    このメモリセルアレイの各ブロック毎に設けられてメモリ動作に必要な昇圧電圧を発生する昇圧電源回路と、
    外部電源端子につながる電源線と前記各昇圧電源回路の電源供給端子との間にそれぞれ設けられて通常のメモリ動作時はオンを保つ昇圧電源スイッチと、
    前記電源線の電圧レベル低下を検知する電圧検出回路と、
    この電圧検出回路の出力により前記メモリセルアレイの選択されているブロックを除き他のブロックに対応する前記昇圧電源スイッチをオフにするスイッチ制御回路と
    を有することを特徴とする強誘電体メモリ。
  2. 前記電源線の電圧が供給されて内部電源電圧を出力する内部電源回路と、
    この内部電源回路に併設された電源用キャパシタと、
    前記内部電源回路と前記電源線との間に設けられて前記電圧検出回路の出力によりオフ制御される内部電源スイッチと
    を有することを特徴とする請求項1記載の強誘電体メモリ。
  3. 複数のブロックに分けられて強誘電体キャパシタを持つメモリセルが配列されたメモリセルアレイと、
    外部電源端子に接続された、第1の電源キャパシタが接続された電源線と、
    前記メモリセルアレイの各ブロック毎に設けられてメモリ動作に必要な昇圧電圧を発生するための、前記電源線に接続される昇圧電源回路と、
    前記各ブロック毎の昇圧電源回路と前記電源線との間に配置された、通常オンである昇圧電源スイッチと、
    前記電源線の電圧レベル低下を検知する電圧検出回路と、
    この電圧検出回路の出力により前記メモリセルアレイの選択されているブロックを除き他のブロックに対応する前記昇圧電源スイッチをオフにするスイッチ制御回路と
    を有することを特徴とする強誘電体メモリ。
  4. 前記電源線の電圧が供給されて内部電源電圧を出力する内部電源回路と、
    前記内部電源回路と前記電源線との間を接続する、通常オンであって前記電圧検出回路の出力によりオフ制御される内部電源スイッチと、
    前記内部電源回路と内部電源スイッチとの接続ノードに接続された第2の電源キャパシタと
    を有することを特徴とする請求項3記載の強誘電体メモリ。
  5. 前記スイッチ制御回路は、
    アドレス信号をデコードして前記メモリセルアレイのブロックを選択するブロックデコーダと、
    このブロックデコーダの出力と前記電圧検出回路の検出出力の論理により前記昇圧電源スイッチを制御する論理ゲートと
    を有することを特徴とする請求項1又は3記載の強誘電体メモリ。
  6. 前記スイッチ制御回路は、アドレスバッファを介して供給されるブロックアドレスに従ってブロック選択を行う
    ことを特徴とする請求項1又は3記載の強誘電体メモリ。
JP2000066689A 2000-03-10 2000-03-10 強誘電体メモリ Expired - Fee Related JP3916837B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000066689A JP3916837B2 (ja) 2000-03-10 2000-03-10 強誘電体メモリ
US09/799,694 US6643162B2 (en) 2000-03-10 2001-03-07 Ferroelectric memory having a device responsive to current lowering
TW090105317A TW488060B (en) 2000-03-10 2001-03-07 Ferroelectric memory
US10/676,004 US6906944B2 (en) 2000-03-10 2003-10-02 Ferroelectric memory

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000066689A JP3916837B2 (ja) 2000-03-10 2000-03-10 強誘電体メモリ

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2001256775A JP2001256775A (ja) 2001-09-21
JP2001256775A5 true JP2001256775A5 (ja) 2005-05-12
JP3916837B2 JP3916837B2 (ja) 2007-05-23

Family

ID=18586009

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000066689A Expired - Fee Related JP3916837B2 (ja) 2000-03-10 2000-03-10 強誘電体メモリ

Country Status (3)

Country Link
US (2) US6643162B2 (ja)
JP (1) JP3916837B2 (ja)
TW (1) TW488060B (ja)

Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1187140A3 (en) * 2000-09-05 2002-09-11 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for driving semiconductor memory
JP3951773B2 (ja) * 2002-03-28 2007-08-01 富士通株式会社 リーク電流遮断回路を有する半導体集積回路
US6735117B2 (en) * 2002-07-01 2004-05-11 Honeywell International Inc. Hold-up power supply for flash memory
KR100469153B1 (ko) 2002-08-30 2005-02-02 주식회사 하이닉스반도체 강유전체 메모리 장치
JP2005101522A (ja) * 2003-08-21 2005-04-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路装置
JP2005115857A (ja) * 2003-10-10 2005-04-28 Sony Corp ファイル記憶装置
JP2008500601A (ja) * 2004-05-25 2008-01-10 松下電器産業株式会社 半導体メモリカード
JP4197678B2 (ja) * 2004-12-24 2008-12-17 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体装置
US7212431B2 (en) * 2004-12-29 2007-05-01 Hynix Semiconductor Inc. Nonvolatile ferroelectric memory device and control method thereof
KR100665844B1 (ko) * 2005-01-04 2007-01-09 삼성전자주식회사 강유전체 메모리 장치 및 그의 구동방법
US7589584B1 (en) * 2005-04-01 2009-09-15 Altera Corporation Programmable voltage regulator with dynamic recovery circuits
JP4822828B2 (ja) * 2005-12-13 2011-11-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 不揮発性記憶装置
JP2007251351A (ja) * 2006-03-14 2007-09-27 Renesas Technology Corp 半導体装置
JP4996277B2 (ja) 2007-02-09 2012-08-08 株式会社東芝 半導体記憶システム
CN101675480B (zh) * 2007-05-18 2013-01-23 富士通半导体股份有限公司 半导体存储器
JP2009003991A (ja) * 2007-06-19 2009-01-08 Toshiba Corp 半導体装置及び半導体メモリテスト装置
JP2009032324A (ja) * 2007-07-26 2009-02-12 Spansion Llc 複数のメモリブロックを備える不揮発性記憶装置
WO2009107382A1 (ja) * 2008-02-27 2009-09-03 パナソニック株式会社 半導体集積回路、およびこれを備えた各種装置
US8031549B2 (en) * 2008-09-19 2011-10-04 Freescale Semiconductor, Inc. Integrated circuit having boosted array voltage and method therefor
JP2010097633A (ja) * 2008-10-14 2010-04-30 Toshiba Corp 半導体記憶装置
US8072237B1 (en) 2009-06-04 2011-12-06 Altera Corporation Computer-aided design tools and memory element power supply circuitry for selectively overdriving circuit blocks
JP4908560B2 (ja) * 2009-08-31 2012-04-04 株式会社東芝 強誘電体メモリ及びメモリシステム
US8164964B2 (en) * 2009-09-16 2012-04-24 Arm Limited Boosting voltage levels applied to an access control line when accessing storage cells in a memory
DE102010011749B4 (de) 2010-03-17 2018-05-03 Texas Instruments Deutschland Gmbh Elektronische Vorrichtung und Verfahren zur FRAM-Spannungsversorgungsverwaltung
US8120984B2 (en) * 2010-03-23 2012-02-21 Ememory Technology Inc. High-voltage selecting circuit which can generate an output voltage without a voltage drop
US8437169B2 (en) * 2010-12-20 2013-05-07 Texas Instruments Incorporated Fast response circuits and methods for FRAM power loss protection
JP2013077962A (ja) * 2011-09-30 2013-04-25 Renesas Electronics Corp 論理回路、半導体集積回路
JP2013191262A (ja) * 2012-03-15 2013-09-26 Elpida Memory Inc 半導体装置
US9444460B1 (en) 2013-11-22 2016-09-13 Altera Corporation Integrated circuits with programmable overdrive capabilities
JP6287609B2 (ja) * 2014-06-11 2018-03-07 株式会社ソシオネクスト 半導体装置及び半導体装置の設計方法
US10121534B1 (en) 2015-12-18 2018-11-06 Altera Corporation Integrated circuit with overdriven and underdriven pass gates
KR20180047835A (ko) * 2016-11-01 2018-05-10 에스케이하이닉스 주식회사 저항성 메모리 장치
JP6389937B1 (ja) * 2017-08-29 2018-09-12 力晶科技股▲ふん▼有限公司 電源制御回路及び電源制御回路を備えた論理回路装置
US10229727B1 (en) 2018-03-13 2019-03-12 Micron Technology, Inc. Apparatus and method for controlling erasing data in ferroelectric memory cells
US10600468B2 (en) * 2018-08-13 2020-03-24 Wuxi Petabyte Technologies Co, Ltd. Methods for operating ferroelectric memory cells each having multiple capacitors
US11527277B1 (en) 2021-06-04 2022-12-13 Kepler Computing Inc. High-density low voltage ferroelectric memory bit-cell
US11696451B1 (en) 2021-11-01 2023-07-04 Kepler Computing Inc. Common mode compensation for non-linear polar material based 1T1C memory bit-cell
US11482270B1 (en) * 2021-11-17 2022-10-25 Kepler Computing Inc. Pulsing scheme for a ferroelectric memory bit-cell to minimize read or write disturb effect and refresh logic
US11997853B1 (en) 2022-03-07 2024-05-28 Kepler Computing Inc. 1TnC memory bit-cell having stacked and folded planar capacitors with lateral offset
US11741428B1 (en) 2022-12-23 2023-08-29 Kepler Computing Inc. Iterative monetization of process development of non-linear polar material and devices
US11765908B1 (en) 2023-02-10 2023-09-19 Kepler Computing Inc. Memory device fabrication through wafer bonding

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US633517A (en) * 1899-06-03 1899-09-19 Thorber Thorvalson Car-coupling.
JP2768172B2 (ja) * 1992-09-30 1998-06-25 日本電気株式会社 半導体メモリ装置
US5532953A (en) * 1995-03-29 1996-07-02 Ramtron International Corporation Ferroelectric memory sensing method using distinct read and write voltages
JP3497601B2 (ja) * 1995-04-17 2004-02-16 松下電器産業株式会社 半導体集積回路
KR100200922B1 (ko) * 1995-12-27 1999-06-15 윤종용 반도체 메모리장치의 펌핑전압발생기
US5703804A (en) 1996-09-26 1997-12-30 Sharp Kabushiki K.K. Semiconductor memory device
JP3961680B2 (ja) * 1998-06-30 2007-08-22 株式会社東芝 半導体記憶装置
JP2000123578A (ja) 1998-10-13 2000-04-28 Sharp Corp 半導体メモリ装置
JP3309822B2 (ja) * 1999-01-12 2002-07-29 日本電気株式会社 半導体記憶装置及びその試験方法
JP2002042496A (ja) * 2000-07-26 2002-02-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 強誘電体メモリ

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001256775A5 (ja)
JP2001338493A5 (ja)
US6628564B1 (en) Semiconductor memory device capable of driving non-selected word lines to first and second potentials
JP2000036190A5 (ja)
JP2008521157A5 (ja)
JPH09180448A (ja) 半導体メモリ装置の昇圧電圧発生器
JP2009545834A5 (ja)
JP3702851B2 (ja) 不揮発性半導体装置の昇圧回路
JP2008511921A (ja) 高電力効率のメモリ及びカード
TW201203272A (en) Power control of an integrated circuit memory
JP2004103153A (ja) 不揮発性半導体記憶装置の電圧発生回路
JP2002074960A5 (ja)
JPH05274872A (ja) 半導体記憶装置
JP2003059261A (ja) メモリシステム及び半導体集積回路
US9666297B1 (en) Memory device, memory system including the same and operation method of the memory system
JPH07220472A (ja) 内部電源回路
JP3954482B2 (ja) フラッシュメモリ装置
JP3998908B2 (ja) 不揮発性メモリ装置
WO2002019335A3 (en) Word line decoding architecture in a flash memory
JP2004213804A (ja) 強誘電体記憶装置
JP2002157880A (ja) 半導体記憶装置
JP2003007075A (ja) 不揮発性半導体記憶装置
JP3158542B2 (ja) 半導体メモリ装置
JP5727121B2 (ja) 内部電圧生成回路及びこれを備える半導体装置
JP4086368B2 (ja) 半導体装置