JP2001205549A - 基板エッジ部の片面研磨方法およびその装置 - Google Patents

基板エッジ部の片面研磨方法およびその装置

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JP2001205549A
JP2001205549A JP2000015510A JP2000015510A JP2001205549A JP 2001205549 A JP2001205549 A JP 2001205549A JP 2000015510 A JP2000015510 A JP 2000015510A JP 2000015510 A JP2000015510 A JP 2000015510A JP 2001205549 A JP2001205549 A JP 2001205549A
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polishing
edge portion
edge
wafer
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Shunji Hakomori
駿二 箱守
Toru Asai
徹 浅井
Noriaki Mizuno
憲明 水野
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B9/00Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor
    • B24B9/02Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground
    • B24B9/06Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
    • B24B9/065Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of thin, brittle parts, e.g. semiconductors, wafers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B21/00Machines or devices using grinding or polishing belts; Accessories therefor
    • B24B21/002Machines or devices using grinding or polishing belts; Accessories therefor for grinding edges or bevels

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板のエッジ部の上面および端面を研磨帯で
研磨する基板エッジ部の片面研磨方法およびその装置を
提供する。 【解決手段】 基板を回転可能に保持する基板保持部材
と、この基板保持部材に対して相対的に接離可能な支持
部材とを有し、該支持部材に、基板のエッジ部の片面お
よび端面に研磨帯を介在した状態で、付勢部材で押圧さ
れる移動部を配設し、基板の回転時に基板のエッジ部の
片面および端面を研磨帯が研磨するように構成した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、基板エッジ部の
片面研磨方法およびその装置に関し、詳しくは、半導体
ウエハ、ガラス板、石英板、セラミックス基板等の円板
状基板の外周部であるエッジ部を鏡面研磨したり、ある
いは、それらの片面に酸化膜、絶縁膜等がパターンとし
て形成された円板状の基板において、最外側のパターン
の外側の酸化膜で代表される絶縁膜等を除去するために
エッジ部を鏡面研磨するための片面研磨方法およびその
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】たとえば、半導体デバイスの基板として
用いられているウエハは、たとえばシリコン等の単結晶
インゴットをその軸線方向に対して直角にスライスし、
このスライスして得られたものに対して面取り、ラッピ
ング、エッチング、アニーリング、ポリッシング等の工
程を経ることによって製造されるようになっている。そ
して、上記のようなウエハ製造工程において行われてい
る面取りはウエハのエッジ部分におけるチッピングの防
止を主要な目的としており、この面取りにおいては、通
常、硬剛性砥石によってウエハエッジ部を削り取る方法
が採用されている。
【0003】しかし、近年、半導体デバイスがより高密
度化するに従って、その製造工程における発塵対策は一
層厳しくなり、その素材であるウエハに対しても発塵の
ないことが重要な要件となり、その結果、ウエハエッジ
部に対してもウエハの鏡面部なみに研磨する必要性が高
まってきた。さらに、ウエハの片面部に、例えば酸化膜
や絶縁膜等のパターンを形成されたウエハの場合には片
面エッジ部の酸化膜や絶縁膜等が発塵して悪影響を及ぼ
す恐れがある。したがって、あらかじめ、最外側のパタ
ーンよりも外側の酸化膜や絶縁膜を除去しておいて発塵
の可能性を無くしておく必要があり、そのためにウエハ
の上面エッジ部を研磨する必要が生じている。
【0004】一般的には、ウエハの面取り部であるエッ
ジ部を研磨する研磨装置としては、特許第281579
7号公報、および特許第2889108号公報に示すよ
うな物が知られている。ここで、特許第2815797
号公報に示す装置は、研磨バフにウエハのエッジ部の外
周部とほぼ一致する曲率を有する弧状研磨溝を形成し、
この弧状研磨溝内にウエハの外周部、すなわちウエハエ
ッジ部を押圧して研磨するように構成したものである。
また、特許第2889108号公報に示す装置は、回転
ドラムの内部に巻回して収納した研磨用テープを回転ド
ラムの周面に繰り出して回転ドラムを巻回したのちに再
び内部に巻き取るように構成し、回転ドラムの周面に位
置する研磨用テープの部分でウエハのエッジ部を研磨す
るようにしており、この研磨時に回転ドラムを揺動手段
によって前後方向に所定の揺動角度で傾斜するように構
成したものである。
【0005】しかしながら、特許第2815797号公
報に示す装置にあっては、研磨バフ自体に、ウエハのエ
ッジ部に略一致する弧状研磨溝を形成し、この弧状研磨
溝をウエハのエッジ部に押圧して研磨するようになって
いるので、弧状研磨溝をウエハのエッジ部に対して常に
一定の方向から押圧させる必要がある。そして、この方
向がずれた場合にはウエハのエッジ部の研磨が不安定で
ある。また、研磨バフに弧状研磨溝を形成した場合に
は、研磨するウエハのエッジ部の面取り形状は種々ある
ので複数の溝を用意する必要があり、煩雑である。ま
た、研磨によって弧状研磨溝の形状が次第に磨耗し、磨
耗し過ぎた時はウエハのエッジ部だけではなく、平面部
まで研磨する恐れがあるという種々の問題点を有してい
る。
【0006】一方、特許第2889108号公報に示す
装置にあっては、研磨時に回転ドラムを前後方向に傾斜
させる必要があり、この傾斜させるための傾斜機構が複
雑であるとともに、装置自体が大型、かつ、高価になっ
てしまうという問題点を有していた。
【0007】さらに、支持部の外側に位置する研磨帯に
種々な大きさの溝を配設して、合致する溝にウエハのエ
ッジ部を押圧して研磨するようにした装置が存在してい
るが、研磨によって溝の形状が異なってしまって溝がウ
エハのエッジ部に合致しなくなり、良好なる研磨を行う
ことができなくなってしまうという恐れがあった。
【0008】そして、上記のいずれの装置にあってもウ
エハのエッジ部上下面を同時に研磨するように構成され
ているので、ウエハのエッジ部の片面のみの研磨を行う
には不向きであった。
【0009】なお、特開平7−193030号公報には
溝を形成していない研磨帯を使用したものが示されてい
るが、このものにあっては、下側の駆動ローラを無くす
ことによってウエハの片面のみに作用させることができ
るが、研磨帯には砥粒が埋設されており、この砥粒が埋
設された研磨帯をウエハエッジ部に対して移動させる構
成のためにウエハエッジ部を研磨するのではなく研削す
るようになっている。したがって、研削中においては常
に研磨帯が移動する必要があり、移動を停止した時には
最後に接触した砥粒の研削痕がついてしまうものであ
り、ポリシリコン膜を除去するためにはこのように構成
する必要がある。これに対し、後述するように本願に示
すものにあっては基板エッジ部を研磨する構成のために
研磨帯自体に砥粒が埋設されるということなく、しか
も、研磨時には研磨帯を停止させる構成となっている。
したがって、本願の目的とすることと、前記特開平7−
193030号公報に示すものが目的とすることとは全
く相違するものである。
【0010】上記したように、従来のものの場合には種
々の問題点を有しており、さらに、研磨装置としてはウ
エハの全面に渡って鏡面状態に仕上げる必要があるの
で、ウエハ自体を支持するウエハ支持機構のウエハと接
触する部位を少なくする必要があり、ウエハを支持する
際の接触部を極力少なくする必要がある。
【0011】この発明の目的は、巾の狭いパッドである
研磨帯を研磨対象物であるウエハ等の基板のエッジ部に
押付けて基板のエッジ部を研磨することができ、しか
も、研磨時に基板を傾斜させる必要がないので傾斜機構
が不要であり、全体を小型、かつ、安価にすることがで
きる基板エッジ部の片面研磨方法およびその装置を提供
することにある。
【0012】この発明の他の目的は、巾の狭いパッドで
ある研磨帯を研磨対象物であるウエハ等の基板のエッジ
部に押付けて基板のエッジ部を研磨することができ、し
かも、研磨時に基板を傾斜させる必要がないので傾斜機
構が不要であり、全体を小型、かつ、安価にすることが
でき、さらに、基板エッジ部の研磨時に作用させる押圧
力を調整することができて、所望の研磨状態を得ること
ができ、しかも、片面に酸化膜や絶縁膜等のパターンが
形成されている場合であっても所望の箇所を確実に研磨
することができる基板エッジ部の片面研磨方法およびそ
の装置を提供することにある。
【0013】
【問題点を解決するための手段】上記の目的を達成する
ためにこの発明は、基板保持部材で回転可能に保持され
た基板のエッジ部のうちの片面に、研磨帯を介在した状
態で、前記エッジ部と当接する面を有するとともに、付
勢部材によって付勢されている移動部を当接して、基板
のエッジ部の片面および端面に研磨帯を押圧し、この状
態で前記基板を回転させて基板の片面および端面を研磨
するようにした構成を有している。また、この発明は、
基板を回転可能に保持する基板保持部材と、この基板保
持部材に対して相対的に接離可能な支持部材とを有し、
該支持部材に、基板のエッジ部の片面のおよび端面に研
磨帯を介在した状態で当接する移動部を配設した構成を
有している。さらに、この発明は、基板を回転可能に保
持する基板保持部材と、この基板保持部材に対して相対
的に接離可能な支持部材とを有し、該支持部材は、基板
に固定部と、上下動可能な移動部とを配設してなり、前
記移動部は付勢部材で付勢されて基板のエッジ部の片面
に当接可能であり、さらに、研磨帯を配設し、該研磨帯
は、前記移動部と基板との間に位置して基板のエッジ部
の片面および端面に接触する構成を有している。そし
て、前記研磨帯は巻回された状態で前記移動部の一方側
に位置して端部が順次繰り出されるとともに、移動部の
先端部下面を覆ったのちの端部は移動部の他方側に位置
して順次巻き取られるようになっており、また、前記研
磨帯は、その繰り出しおよび巻き取りは、前記基板のエ
ッジ部と移動部の下面とに押付けられた研磨時に停止す
るようになっている。
【0014】
【作用】この発明は上記の手段を採用したことにより、
基板はそのエッジ部の片面および端面が支持部材に設け
た研磨帯を押圧した状態で回転するので、基板のエッジ
部の片面および端面は研磨帯によって確実に研磨される
ことになる。しかも、研磨帯は付勢部材で付勢されてい
る移動部で押圧されているので移動部の形状に応じた基
板エッジ部の部位を研磨することができる。さらに、研
磨帯は送り出し、巻き取り可能となっているので研磨時
には研磨帯の移動を停止し、非研磨時には送り出し、巻
き取りを行うことで順次新しい研磨帯の部位を基板のエ
ッジ部に当接させて研磨に供することができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、図面に示すこの発明の実施
の形態について説明する。図面にはこの発明による基板
エッジ部の片面研磨装置の概略図が示されており、図1
には支持部材と保持部材とが離間した状態を示す概略図
が、図2には前記支持部材が移動して保持部材に保持さ
れた基板のエッジ部の片面および端面を研磨する状態を
示す概略図が示されている。
【0016】前記基板エッジ部の片面研磨装置1は、た
とえば半導体ウエハ(以下ウエハという)2を、例えば
真空吸着等の手段で水平状態で回転可能に保持している
ウエハ保持部材3と、このウエハ保持部材3の回転中心
軸に対して水平方向に移動して接近・離間可能に設けら
れている支持部材4とを有している。
【0017】前記ウエハ保持部材3は、研磨装置の略中
央部に位置し、図示しない搬送部材から搬送されてきた
ウエハ2を、吸着等の手段で上部に吸着する保持部5
と、図示しない駆動源によって前記保持部5を水平方向
に回転するようになっている回転駆動部6とを有してい
る。
【0018】前記支持部材4は、上下方向に起立した基
部7の上部に、内方への突出部8を一体に形成してあ
る。また、この基部7の内方側の側面には固定部9と、
この固定部9の下側に位置するガイド部10とが設けら
れ、前記固定部9にはシリンダ11が配設されて、この
シリンダ11の作動部11aが固定部9を貫通して上下
方向に出没するようになっている。
【0019】一方、前記ガイド部10には、先端部が研
磨帯20をガイドするようになっている移動部12が上
下動可能に配設されている。そして、この移動部12と
前記固定部9との間には付勢部材であるばね13が配設
されている。また、前記移動部12に設けられた孔12
aを前記シリンダ11の作動部11aが貫通していると
ともに、作動部11aの先端部に設けられ係止部14に
よって前記ばね13が圧縮された状態で保持されてい
る。したがって、前記移動部12は係止部14によって
ばね13の付勢力に抗して移動が阻止された状態で保持
されている。
【0020】さらに、前記固定部9の上方の基部7には
先端にローラ15が設けられたガイド部16が一体に設
けられ、さらにこのガイド部16の上部に位置する前記
突出部8にはシリンダ17が設けられ、このシリンダ1
7の作動部17aには前記ガイド部16の上面に押圧可
能な押付け部18が設けられている。
【0021】また、前記移動部12の下方には一対のガ
イドローラ19が配設され、一方、前記支持部材4の外
側であって、前記ローラ15およびガイドローラ19に
対応する位置には繰り出しおよび巻き取り可能に巻回し
た研磨帯20、20がそれぞれ設けられている。
【0022】前記支持部材4は、水平方向移動源(図示
せず)によってウエハ保持部材3から離間している状態
から接近した状態にウエハ保持部材3の回転中心に向か
って移動し、これによってウエハ2のエッジ部2aの上
面(傾斜面を含む)および端面に研磨帯20が接触する
ようになる。また、繰り出しおよび巻き取り可能に巻回
した研磨帯20、20は、一対のガイドローラ19、移
動部12の先端およびローラ15を介して一方の研磨帯
20から他方の研磨帯20に至っており、ガイド部16
と押付け部18との間で挟持されて固定されるようにな
っている。
【0023】なお、21はウエハ2のエッジ部2aにス
ラリーを供給するためのノズルであり、このようにスラ
リーを供給することでさらに研磨状態を良好にすること
ができる。
【0024】つぎに前記のものの作動について説明す
る。上記のように構成された研磨装置においては、ま
ず、ウエハ2は搬送部材(図示せず)によって搬送され
て前記ウエハ保持部材3に渡される。すなわち、このウ
エハ保持部材3では搬送されたウエハ2を吸着等の手段
で保持部5の上面に保持するようになっており、このの
ち駆動源によって前記保持部5が回転駆動部6の軸心を
中心として回転される。この場合、ウエハ2は、その片
面が保持されているのでウエハ保持部材3との接触が少
なくてシミ等が発生する恐れがない。
【0025】一方、前記支持部材4は、水平方向移動源
(図示せず)によって、ウエハ保持部材3から離間して
いる状態から接近した状態にウエハ保持部材3の回転軸
心に向かって移動する。言い換えればウエハ2のエッジ
部2aが支持部材4の内部に移動してエッジ部2aの端
部で研磨帯20を押しつつ移動部12の下方に至り、そ
の状態で停止する。
【0026】そして、前記シリンダ11を作動させて作
動部11aを突出させると、移動部12は、ばね13の
付勢力によって下方に移動する。したがって、この状態
にあっては、研磨帯20がウエハ2のエッジ部2aの上
面および端面に接触し、しかも付勢部材であるばね13
によって押圧された状態となっている。
【0027】そして、前記ウエハ保持部材3の回転駆動
部6が回転すると研磨帯20の押圧している部位によっ
て擦られてウエハ2のエッジ部2aは研磨されるもので
ある。したがって、上面に酸化膜や絶縁膜等がパターン
として形成されている場合であっても、最外側のパター
ンよりも外側の絶縁膜等は研磨帯20と接触させておけ
ば除去可能であり、最外側のパターンよりもどのぐらい
外側を除去するかは移動部の下側の形状に依存する。
【0028】そして、研磨によって研磨帯20のうちの
研磨に供せられた部位が磨耗した場合には研磨帯20を
一方に巻き取って新しい部位を移動部12の先端部の下
側に位置させて再び研磨を行うものである。したがっ
て、常に最適な研磨帯20でウエハ2のエッジ部2aを
研磨することができるので、エッジ部2aの研磨の良好
性を確保することができる。この場合、所定の時間ごと
に研磨帯20を巻き取ることや、あるいはウエハ保持部
材3の所定の回転ごとに研磨帯20を巻き取ったり、種
々なことを採用することができる。
【0029】そして、ウエハ2のエッジ部2aにノズル
21等からスラリーを供給することで研磨状態を良好に
することもできる。さらに、研磨中は研磨帯20の送り
出しを停止し、ある程度磨耗した時点で送って新しい部
分を表出させるように構成したり、あるいは研磨作業ご
とに所定ピッチだけ送るように間欠送りをしてもよく、
これらの動作に関しては従来公知の種々の手段を採用す
ることができる。このように構成することで研磨帯20
を効率良く使用できてコストを低くすることができる。
【0030】上記の実施の形態に示すように構成する
と、ウエハ2のエッジ部2aで研磨帯20を押圧するだ
けで、移動部12の下側自体がウエハ2のエッジ部2a
の形状に合致するようになっているのでウエハ2のエッ
ジ部2aを傾斜させることなく研磨帯20が確実にウエ
ハ2のエッジ部2aに押圧して研磨することができる。
したがって、ウエハ2のエッジ部2aがラウンド状の場
合や、台形状の場合であっても、移動部12の先端部の
下側自体を合致するように構成することで研磨帯20が
確実にウエハ2のエッジ部2aに押圧して研磨すること
ができる。
【0031】なお、前記実施の形態においては、ウエハ
2を支持するウエハ保持部材3と研磨帯20を支持する
支持部材4とのうちの支持部材4をウエハ保持部材3に
対して接離するように構成したが、この逆であっても良
く、また、接離させるための移動機構に関しては、従来
公知の移動部材側にワイヤおよびバランスウェイトを使
用して、このバランスウェイトによって移動部材を移動
させ、また、シリンダ11によって元の状態に復帰させ
る機構等の種々な機構を採用することができる。さら
に、支持部材4を複数配設しておいて、研磨時には各支
持部材4がウエハ2のエッジ部2aに近寄って研磨する
ように構成することで研磨時間を大幅に短縮することが
できる。
【0032】
【発明の効果】この発明は前記のように構成したことに
より、この発明による方法にあっては、基板のエッジ部
の上面および端面が順次繰り出し可能となっている研磨
帯で押圧され、この状態で基板を回転させるようにした
ので、基板のエッジ部の上面および端面は確実に研磨さ
れる。また、研磨帯が磨耗した時には研磨帯の新しい部
位を表出することができるので研磨効率が良いものであ
る。また、この発明による装置にあっては、支持部材の
移動部の下面を介して研磨帯を押圧することで基板のエ
ッジ部の上面および端面を研磨することができる。さら
に、この発明による装置にあっては、移動部は、その下
面が付勢部材によって研磨帯を基板のエッジ部に所定の
付勢力で押圧しているので、基板のエッジ部の上面およ
び端面を確実に研磨することができる。そして、研磨帯
が磨耗した時は順次研磨帯の新しい部位を表出させるこ
とができて研磨帯の全体を効率良く使用することがで
き、製造コストおよびランニングコストを低くすること
ができる。さらに、基板のエッジ部がラウンド状の場合
や、台形状の場合であっても、移動部の下面の形状をそ
れに合致するように構成することで研磨帯が確実に基板
のエッジ部の上面および端面を押圧して研磨することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施の形態を示す基板エッジ部の片
面研磨装置の概略図であり、支持部材と保持部材とが離
間した状態を示す概略図である。
【図2】前記支持部材が移動して保持部材に保持された
基板のエッジ部の片面および端面を研磨する状態を示す
概略図である。
【符号の説明】
1……基板エッジ部の片面研磨装置 2……ウエハ 2a……エッジ部 3……ウエハ保持部材 4……支持部材 5……保持部 6……回転駆動部 7……基部 8……突出部 9……固定部 10……ガイド部 11、17……シリンダ 11a、17a……作動部 12……移動部 12a……孔 13……ばね 14……係止部 15……ローラ 16……ガイド部 18……押付け部 19……ガイドローラ 20……研磨帯 21……ノズル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 水野 憲明 神奈川県綾瀬市早川2647 スピードファ ム・アイペック株式会社内 Fターム(参考) 3C049 AA05 AA14 AB01 AB09 CA02 CA05 CB03 3C058 AA05 AA14 AB01 AB09 CA02 CB03 DA17

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板保持部材で回転可能に保持された基
    板のエッジ部のうちの片面に、研磨帯を介在した状態
    で、前記エッジ部と当接する面を有するとともに、付勢
    部材によって付勢されている移動部を当接して、基板の
    エッジ部の片面および端面に研磨帯を押圧し、この状態
    で前記基板を回転させて基板の片面および端面を研磨す
    るようにしたことを特徴とする基板エッジ部の片面研磨
    方法。
  2. 【請求項2】 基板を回転可能に保持する基板保持部材
    と、この基板保持部材に対して相対的に接離可能な支持
    部材とを有し、該支持部材に、基板のエッジ部の片面お
    よび端面に研磨帯を介在した状態で当接する移動部を配
    設したことを特徴とする基板エッジ部の片面研磨装置。
  3. 【請求項3】 基板を回転可能に保持する基板保持部材
    と、この基板保持部材に対して相対的に接離可能な支持
    部材とを有し、該支持部材は、基板に固定部と、上下動
    可能な移動部とを配設してなり、前記移動部は付勢部材
    で付勢されて基板のエッジ部の片面に当接可能であり、
    さらに、研磨帯を配設し、該研磨帯は、前記移動部と基
    板との間に位置して基板のエッジ部の片面および端面に
    接触することを特徴とする基板エッジ部の片面研磨装
    置。
  4. 【請求項4】 前記研磨帯は巻回された状態で前記移動
    部の一方側に位置して端部が順次繰り出されるととも
    に、移動部の先端部下面を覆ったのちの端部は移動部の
    他方側に位置して順次巻き取られるようになっている請
    求項2または3記載の基板エッジ部の片面研磨装置。
  5. 【請求項5】 前記研磨帯は、その繰り出しおよび巻き
    取りは、前記基板のエッジ部と移動部の下面とに押付け
    られた研磨時に停止するようになっている請求項4記載
    の基板エッジ部の片面研磨装置。
JP2000015510A 2000-01-25 2000-01-25 基板エッジ部の片面研磨方法およびその装置 Withdrawn JP2001205549A (ja)

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