JP2001177357A - 差動アンプ - Google Patents

差動アンプ

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JP2001177357A
JP2001177357A JP36004499A JP36004499A JP2001177357A JP 2001177357 A JP2001177357 A JP 2001177357A JP 36004499 A JP36004499 A JP 36004499A JP 36004499 A JP36004499 A JP 36004499A JP 2001177357 A JP2001177357 A JP 2001177357A
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JP
Japan
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amplifier
transistor
differential
stage
differential amplifier
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Pending
Application number
JP36004499A
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English (en)
Inventor
Toshio Fujimura
俊夫 藤村
Shinji Sakamoto
慎司 坂本
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ICに内蔵するCMOS差動アンプを偶数個縦
続接続する場合において、IC内部のアンプブロックの
マスク配置や配線層を工夫することにより、オフセット
を相殺できるようにする。 【解決手段】ICに内蔵される偶数個の差動アンプが縦
続接続される構成において、お互いのオフセット電圧を
キャンセルするように接続し、IC内部のアンプブロッ
クの素子配置及び配線パターンを前段の差動アンプと後
段の差動アンプとで点対称となるように配置する。ある
いは、IC内部のアンプブロックの素子配置を各差動ア
ンプとも同一とし、前段の差動アンプと後段の差動アン
プとでアンプ入力段のトランジスタ部の接続が互いに逆
になるように配線パターンを構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ICに内蔵するC
MOS差動アンプにおいて、マスク設計の際、CMOS
差動アンプを偶数個縦続接続する場合のオフセットキャ
ンセルに関するものである。
【0002】
【従来の技術】図8〜図10にCMOS差動アンプのオ
フセット電圧をキャンセルする一般的なマスク設計手法
を示す。CMOS差動アンプのオフセット電圧は一般的
にアンプ入力段の差動部分(図9のAとB及びCとD)
の特性ばらつきが主な原因である。この特性ばらつき
は、トランジスタの形状やICを作成する際のイオン注
入の向きなどにより発生するもので、IC内に複数の同
じマスク形状のアンプを同一の向きに並べた場合、それ
ぞれのオフセット電圧は同一方向でほぼ同一の大きさと
なる。従来の技術としては、入力段のトランジスタA,
Bを、図10に示すように、たすき掛けの配置にするこ
とで、差動段の特性ばらつきを抑えるマスク設計を行な
っていた。図中、Drain、Gate、Source
と記してあるものは、それぞれドレイン電極、ゲート電
極、ソース電極であり、周知のように、第1の導電型の
不純物半導体基板の表面に、第2の導電型の不純物拡散
領域を適宜間隔を離間して形成し、表面に酸化膜層のよ
うな薄い絶縁層を形成したうえで、その絶縁層上にポリ
シリコン等の導電膜を形成してゲート電極とし、また、
前記第2導電型の不純物拡散領域に前記絶縁層に設けた
コンタクト窓を介してアルミニウム配線を接続してそれ
ぞれドレイン電極、ソース電極とし、半導体基板に接続
されたソース電極とゲート電極の間に電圧を印加するこ
とにより、ドレイン・ソース間の半導体基板表面に導電
性のチャネルを形成する、いわゆる絶縁ゲート型トラン
ジスタを構成している。
【0003】図10において、Aは入力段の第1のトラ
ンジスタであり、対角線方向に配置された2個のトラン
ジスタA1,A2のドレイン電極、ソース電極をそれぞ
れ第1のアルミニウム配線で並列接続し、ゲートを1
つのポリシリコンゲートで構成している。また、Bは入
力段の第2のトランジスタであり、対角線方向に配置さ
れた2個のトランジスタB1,B2のドレイン電極、ソ
ース電極をそれぞれ第2のアルミニウム配線で並列接
続し、ゲート電極をアルミニウム配線,で並列接続
したものである。なお、図8はCMOS差動アンプの回
路記号、図9はIC化されたCMOS差動アンプの内部
構成を示す回路図である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術の場
合、入力段のトランジスタサイズが大きい場合は、トラ
ンジスタを分割し、たすき掛けのマスク図を作成できる
が、入力段のトランジスタサイズが小さい場合は、この
ようなたすき掛けの形状がとれない場合がある。
【0005】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
のであり、その目的とするところは、ICに内蔵するC
MOS差動アンプを偶数個縦続接続する場合において、
IC内部のアンプブロックのマスク配置や配線層を工夫
することにより、オフセットを相殺できるようにするこ
とにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、請求項1の差動アンプにあっては、ICに内蔵さ
れる偶数個の差動アンプが縦続接続される構成におい
て、お互いのオフセット電圧をキャンセルするように接
続し、IC内部のアンプブロックの素子配置及び配線パ
ターンを前段の差動アンプと後段の差動アンプとで点対
称となるように配置したことを特徴とするものである。
【0007】また、同じ課題を解決するために、請求項
2の差動アンプにあっては、ICに内蔵される偶数個の
差動アンプが縦続接続される構成において、お互いのオ
フセット電圧をキャンセルするように接続し、IC内部
のアンプブロックの素子配置を各差動アンプとも同一と
し、前段の差動アンプと後段の差動アンプとでアンプ入
力段のトランジスタ部の接続が互いに逆になるように配
線パターンを構成したことを特徴とするものである。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は請求項1の発明の素子配置
と配線パターンを示す平面図である。図中、VDDは電
源ライン、VSSはグランドラインを意味する。このマ
スクパターンには、2つのアンプ1,2が含まれてお
り、2つのアンプ1,2は図2の回路図のように縦続接
続されている。各アンプ1,2は、それぞれ図3に示す
ように、トランジスタA,B,C,D,Eを含む入力段
と、電流源、及び出力段から構成されている。入力段の
トランジスタAのゲート電極は差動アンプの−側入力端
子、トランジスタBのゲート電極は差動アンプの+側入
力端子となる。
【0009】以下、図1の配線パターンを図2及び図3
と対応させながら説明する。まず、回路全体の入力端子
はアンプ1の入力段におけるトランジスタBのゲートに
接続されている。アンプ1のトランジスタBのソース
は、アンプ1のトランジスタAのソースと接続されると
共に、アンプ1のトランジスタEのドレインに接続され
ている。アンプ1のトランジスタBのドレインは出力段
への入力に接続されると共に、アンプ1のトランジスタ
Dのドレインに接続されている。アンプ1のトランジス
タAのドレインは、アンプ1のトランジスタC,Dの各
ゲートに接続されると共に、アンプ1のトランジスタC
のドレインに接続されている。アンプ1の出力段からの
出力信号線は、アンプ1のトランジスタAのゲートに接
続されると共に、次段のアンプ2の入力段におけるトラ
ンジスタBのゲートに接続されている。アンプ2のトラ
ンジスタBのソースは、アンプ2のトランジスタAのソ
ースと接続されると共に、アンプ2のトランジスタEの
ドレインに接続されている。アンプ2のトランジスタB
のドレインは出力段への入力に接続されると共に、アン
プ2のトランジスタDのドレインに接続されている。ア
ンプ2のトランジスタAのドレインは、アンプ2のトラ
ンジスタC,Dの各ゲートに接続されると共に、アンプ
2のトランジスタCのドレインに接続されている。アン
プ2の出力段からの出力信号線は、アンプ2のトランジ
スタAのゲートに接続されると共に、回路全体の出力端
子に接続されている。なお、アンプ1,2のトランジス
タC,Dの各ソースはグランドラインVSSに接続され
ている。また、アンプ1,2のトランジスタEの各ソー
スは電源ラインVDDに接続されており、各ゲートは電
流源及び出力段の電源ラインVDD側のトランジスタの
ゲートと接続されている。
【0010】上記配線パターンにおいて、2つの配線が
交差する部分については、第1のアルミニウム配線と第
2のアルミニウム配線が立体交差するようになってお
り、図中、黒く塗りつぶした配線は第1のアルミニウム
配線、灰色で示した配線は第2のアルミニウム配線であ
る。たとえば、アンプ1の出力段からの出力信号線がア
ンプ1の入力段におけるトランジスタAのゲートに接続
される配線では、黒く塗りつぶした第1のアルミニウム
配線が灰色で示した第2のアルミニウム配線の上を2箇
所跨いでいる。アンプ2についても同様である。
【0011】この構成は、アンプ単体ではオフセットキ
ャンセルができないが、偶数個のアンプを縦続接続した
構成にすることで、オフセット電圧を回路全体としてキ
ャンセルするものである。すなわち、IC内蔵の偶数個
の差動アンプが縦続接続される構成において、お互いの
オフセット電圧をキャンセルするように接続し、マスク
設計の際、差動アンプ2つの場合は、図1のように、ア
ンプブロックのマスク図をアンプ1とアンプ2が点対称
となるように配置し、アンプ4つ以上の場合もアンプ1
とアンプ2と同様に、繰り返し配置するものである。こ
れにより、各アンプのオフセット電圧の向きが逆向きと
なり、全体としてオフセット電圧をキャンセルすること
ができる。アンプのオフセット電圧は入力段が支配的で
はあるが、全ての要因が入力段だけにあるわけではない
ので、電流源や出力段も含めて、アンプ全体を回転させ
た形の方が、それぞれのアンプのオフセット電圧が良く
合致するから、精度良くオフセットキャンセルができる
のである。
【0012】図4は請求項1の発明の素子配置と配線パ
ターンを示す平面図である。図中、VDDは電源ライ
ン、VSSはグランドラインを意味する。このマスクパ
ターンには、2つのアンプ1,2が含まれており、2つ
のアンプ1,2は図2の回路図のように縦続接続されて
いる。各アンプ1,2は、それぞれ図3に示すように、
トランジスタA,B,C,D,Eを含む入力段と、電流
源、及び出力段から構成されている。入力段のトランジ
スタAのゲート電極は差動アンプの−側入力端子、トラ
ンジスタBのゲート電極は差動アンプの+側入力端子と
なる。
【0013】以下、図4の配線パターンを図3及び図2
と対応させながら説明する。まず、回路全体の入力端子
はアンプ1の入力段におけるトランジスタBのゲートに
接続されている。アンプ1のトランジスタBのソース
は、アンプ1のトランジスタAのソースと接続されると
共に、アンプ1のトランジスタEのドレインに接続され
ている。アンプ1のトランジスタBのドレインは出力段
への入力に接続されると共に、アンプ1のトランジスタ
Dのドレインに接続されている。アンプ1のトランジス
タAのドレインは、アンプ1のトランジスタC,Dの各
ゲートに接続されると共に、アンプ1のトランジスタC
のドレインに接続されている。アンプ1の出力段からの
出力信号線は、アンプ1のトランジスタAのゲートに接
続されると共に、次段のアンプ2の入力段におけるトラ
ンジスタBのゲートに接続されている。アンプ2のトラ
ンジスタBのソースは、アンプ2のトランジスタAのソ
ースと接続されると共に、アンプ2のトランジスタEの
ドレインに接続されている。アンプ2のトランジスタB
のドレインは出力段への入力に接続されると共に、アン
プ2のトランジスタDのドレインに接続されている。ア
ンプ2のトランジスタAのドレインは、アンプ2のトラ
ンジスタC,Dの各ゲートに接続されると共に、アンプ
2のトランジスタCのドレインに接続されている。アン
プ2の出力段からの出力信号線は、アンプ2のトランジ
スタAのゲートに接続されると共に、回路全体の出力端
子に接続されている。なお、アンプ1,2のトランジス
タC,Dの各ソースはグランドラインVSSに接続され
ている。また、アンプ1,2のトランジスタEの各ソー
スは電源ラインVDDに接続されており、各ゲートは電
流源及び出力段の電源ラインVDD側のトランジスタの
ゲートと接続されている。
【0014】上記配線パターンにおいて、2つの配線が
交差する部分については、第1のアルミニウム配線と第
2のアルミニウム配線が立体交差するようになってお
り、図中、黒く塗りつぶした配線は第1のアルミニウム
配線、灰色で示した配線は第2のアルミニウム配線であ
る。たとえば、アンプ1の出力段からの出力信号線がア
ンプ1の入力段におけるトランジスタAのゲートに接続
される配線では、黒く塗りつぶした第1のアルミニウム
配線が灰色で示した第2のアルミニウム配線の上を2箇
所跨いでいるが、アンプ2の出力段からの出力信号線が
アンプ2の入力段におけるトランジスタAのゲートに接
続される配線は、灰色で示した第2のアルミニウム配線
のみで構成されている。
【0015】この構成では、アンプブロックのマスク図
の素子配置は各アンプ1,2とも同一にし、配線層でア
ンプ入力段のトランジスタ部を、お互いに逆になるよう
に接続している。図4の場合は、入力段のトランジスタ
A,Bがアンプ1と2とでお互いに逆になるように接続
されており、また、トランジスタC,Dについてもアン
プ1と2とでお互いに逆になるように接続されている。
この構成では、マスク設計の際、アンプ1,2を全て同
じ向きに配置することができるので、電源ラインVDD
やグランドラインVSSが共通にでき、マスクのレイア
ウトを行いやすい。なお、アンプが4つ以上の場合も同
様に繰り返し接続する。
【0016】(実施例1)図5に請求項1の一実施例に
かかる差動アンプICの素子配置及び配線パターンを示
す。アンプ1とアンプ2を縦続接続し、図7に示すよう
に、後段のアンプ2に抵抗R2/R1のゲインを持たせ
た構成において、マスク設計を、アンプ1とアンプ2が
点対称となるように配置することで、それぞれのオフセ
ット電圧が逆向きで同程度の大きさとなるため、オフセ
ット電圧をキャンセルすることができる。これは、IC
内に同じマスク形状のアンプを同一の向きに並べた場
合、それぞれのオフセット電圧は同一方向でほぼ同一の
大きさとなるためである。
【0017】(実施例2)図6に請求項2の一実施例に
かかる差動アンプICの素子配置及び配線パターンを示
す。アンプ1とアンプ2を縦続接続し、図7に示すよう
に、後段のアンプ2に抵抗R2/R1のゲインを持たせ
た構成において、マスク設計を、アンプ1とアンプ2の
素子の配置は同一にし、配線層でアンプ入力段のトラン
ジスタ部を、お互いに逆になるように接続することで、
図5の実施例と同様の理由により、それぞれのオフセッ
ト電圧をキャンセルすることができる。
【0018】
【発明の効果】請求項1の発明によれば、偶数個の差動
アンプを縦続接続し、それぞれの差動アンプをマスク形
状を変えずに点対称に配置することで、各アンプのオフ
セット電圧の向きが逆向きで同程度の大きさとなり、全
体としてオフセット電圧をキャンセルすることができ
る。これは、アンプのオフセット電圧は入力段が支配的
ではあるが、全ての要因が入力段だけにあるわけではな
いので、アンプ全体を回転させた形の方が、それぞれの
アンプのオフセット電圧が良く合致するからであり、こ
れにより、精度良くオフセットキャンセルができるとい
う効果がある。
【0019】請求項2の発明によれば、偶数個の差動ア
ンプを縦続接続し、それぞれの差動アンプを素子配置が
同一となるように配置し、配線層でアンプ入力段のトラ
ンジスタ部を、前段と後段とではお互いに逆になるよう
に接続することで、各差動アンプのオフセット電圧が逆
向きで同程度の大きさとなり、全体としてオフセット電
圧をキャンセルすることができる。この場合、マスク設
計の際、各段の差動アンプを全て同じ向きに配置するこ
とができるので、電源ラインやグランドラインが共通に
でき、マスクのレイアウトを行いやすいという効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1の差動アンプのマスクパターンを示す
平面図である。
【図2】図1の差動アンプの縦続接続関係を示す回路図
である。
【図3】図2の個々のアンプの内部構成を示す図であ
る。
【図4】請求項2の差動アンプのマスクパターンを示す
平面図である。
【図5】請求項1の発明の一実施例のマスクパターンを
示す平面図である。
【図6】請求項2の発明の一実施例のマスクパターンを
示す平面図である。
【図7】図5又は図6に対応する差動アンプの縦続接続
関係を示す回路図である。
【図8】従来の差動アンプの回路記号を示す簡略化され
た回路図である。
【図9】従来の差動アンプの内部構成を示す回路図であ
る。
【図10】従来の差動アンプの入力段のマスクパターン
を示す平面図である。
【符号の説明】
1 アンプ(前段) 2 アンプ(後段)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5F038 BB05 CA02 CA06 CD18 DF01 EZ20 5F064 AA01 BB22 CC12 CC22 DD05 5J066 AA01 CA12 CA13 CA15 HA10 KA02 MA08 ND05 QA03 TA01 5J091 AA01 AA12 CA12 CA13 CA15 HA10 KA02 MA08 QA03 TA01

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ICに内蔵される偶数個の差動アンプ
    が縦続接続される構成において、お互いのオフセット電
    圧をキャンセルするように接続し、IC内部のアンプブ
    ロックの素子配置及び配線パターンを前段の差動アンプ
    と後段の差動アンプとで点対称となるように配置したこ
    とを特徴とする差動アンプ。
  2. 【請求項2】 ICに内蔵される偶数個の差動アンプ
    が縦続接続される構成において、お互いのオフセット電
    圧をキャンセルするように接続し、IC内部のアンプブ
    ロックの素子配置を各差動アンプとも同一とし、前段の
    差動アンプと後段の差動アンプとでアンプ入力段のトラ
    ンジスタ部の接続が互いに逆になるように配線パターン
    を構成したことを特徴とする差動アンプ。
JP36004499A 1999-12-17 1999-12-17 差動アンプ Pending JP2001177357A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009188223A (ja) * 2008-02-07 2009-08-20 Seiko Instruments Inc 半導体装置
JP2011244651A (ja) * 2010-05-20 2011-12-01 Renesas Electronics Corp 昇圧回路
US9373621B2 (en) 2008-11-28 2016-06-21 Cypress Semiconductor Corporation Analog circuit cell array having some transistors that include two connected gate electrodes and two connected source regions

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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US9373621B2 (en) 2008-11-28 2016-06-21 Cypress Semiconductor Corporation Analog circuit cell array having some transistors that include two connected gate electrodes and two connected source regions
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