JP2001006381A - チャージポンプ回路 - Google Patents

チャージポンプ回路

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JP2001006381A JP17661099A JP17661099A JP2001006381A JP 2001006381 A JP2001006381 A JP 2001006381A JP 17661099 A JP17661099 A JP 17661099A JP 17661099 A JP17661099 A JP 17661099A JP 2001006381 A JP2001006381 A JP 2001006381A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電荷の転送効率が高いチャージポンプ回路を
提供する。 【解決手段】 チャージポンプ単位回路22.1におい
て、スイッチング用のNチャネルMOSトランジスタ2
3のゲート−ドレイン間にPチャネルMOSトランジス
タ25を接続し、このPチャネルMOSトランジスタ2
5を切換回路28によってオン/オフ制御する。また、
倍電圧回路36によって電源電圧VCCの2倍の振幅を
有するクロック信号CLK2′を生成し、このクロック
信号CLK2′をキャパシタ27に与えてNチャネルM
OSトランジスタ23のゲートを昇圧させる。Nチャネ
ルMOSトランジスタ23の抵抗値が十分に小さくな
り、正電荷の転送効率が高くなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はチャージポンプ回
路に関し、特に、クロック信号に同期して入力ノードの
正電荷または負電荷を出力ノードに転送させるチャージ
ポンプ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、フラッシュメモリには、デー
タ書込およびデータ消去用の高電圧を生成するための正
チャージポンプ回路および負チャージポンプ回路が設け
られている(図1参照)。
【0003】図19(a)〜(c)は、従来の正チャー
ジポンプ回路の構成を示す回路ブロック図である。
【0004】図19(a)において、この正チャージポ
ンプ回路は、NチャネルMOSトランジスタ101と、
直列接続されたN段(ただし、Nは偶数である)のチャ
ージポンプ単位回路102.1〜102.Nとを含む。
NチャネルMOSトランジスタ101は、電源電位VC
Cのラインと初段のチャージポンプ単位回路102.1
の入力ノードとの間にダイオード接続される。
【0005】奇数段のチャージポンプ単位回路102.
1,102.3,…,102.N−1は、それぞれクロ
ック信号CLK11,CLK12に同期して後段のチャ
ージポンプ単位回路102.2,102.4,…,10
2.Nに正電荷を供給する。偶数段のチャージポンプ単
位回路102.2,102.4,…,102.Nは、そ
れぞれクロック信号CLK13,CLK14に同期して
後段のチャージポンプ単位回路102.3,102.
5,…,102.N−1および出力ノードに正電荷を供
給する。最終段のチャージポンプ単位回路102.Nの
出力電位が、この正チャージポンプ回路の出力電位VO
となる。
【0006】チャージポンプ単位回路102.1は、図
19(b)に示すように、NチャネルMOSトランジス
タ103、抵抗素子104およびキャパシタ105,1
06を含む。NチャネルMOSトランジスタ103は、
チャージポンプ単位回路102.1の入力ノードN10
2と出力ノードN103の間に接続される。抵抗素子1
04は、NチャネルMOSトランジスタ103のゲート
と入力ノードN102との間に接続される。キャパシタ
105の一方電極はクロック信号CLK11を受け、そ
の他方電極は入力ノードN102に接続される。キャパ
シタ106の一方電極はクロック信号CLK12を受
け、その他方電極はNチャネルMOSトランジスタ10
3のゲートに接続される。
【0007】他の奇数段のチャージポンプ単位回路10
2.3,102.5,…,102.N−1の各々は、チ
ャージポンプ単位回路112.1と同じ構成である。偶
数段のチャージポンプ単位回路102.2,102.
4,…,102.Nの各々は、図19(c)に示すよう
に、クロック信号CLK11,CLK12がクロック信
号CLK13,CLK14で置換されるだけで、その他
はチャージポンプ単位回路102.1と同じである。
【0008】図20はクロック信号CLK11〜CLK
14の波形図、図21は奇数段のチャージポンプ単位回
路102.1,102.3,…,102.N−1の入力
ノードN101の電位VI、NチャネルMOSトランジ
スタ103のゲート電位VGおよび出力ノードN103
の電位VOの波形図である。以下、図20および図21
に従って正チャージポンプ回路の動作について説明す
る。
【0009】まず図20を参照して、クロック信号CL
K11は、所定の周期を有し、そのデューティ比は50
%である。図20では、クロック信号CLK11は、時
刻t1〜t3,t5〜t7で「H」レベルとなり、時刻
t3〜t5で「L」レベルとなっている。他のクロック
信号CLK12〜CLK14の各々は、クロック信号C
LK11と同じ周期を有する。クロック信号CLK12
は、クロック信号CLK11が「H」レベルになってい
る期間の後半の期間(時刻t2〜t3,t6〜t7)で
「H」レベルとなり、それ以外の期間は「L」レベルと
なる。クロック信号CLK13,CLK14は、それぞ
れクロック信号CLK11,CLK12を1/2周期だ
け遅延させた信号である。
【0010】時刻t1よりも前の時刻では、クロック信
号CLK11,CLK12はともに「L」レベルになっ
ている。このためVI,VGはともに「H」レベルとな
り、キャパシタ105,106はそれぞれ電源電圧VC
Cで充電されている。
【0011】時刻t1においてクロック信号CLK11
が「L」レベルから「H」レベルに立上がると、キャパ
シタ105を介して入力ノードN102が電源電圧VC
Cだけ昇圧され、入力ノードN102の電位VIは抵抗
素子104を介してNチャネルMOSトランジスタ10
3のゲートに伝達され、ゲート電位VGは回路の時定数
で決まる曲線に沿って上昇する。
【0012】時刻t2においてクロック信号CLK12
が「L」レベルから「H」レベルに立上がると、キャパ
シタ106を介してゲート電位VGが電源電圧VCCだ
け昇圧され、NチャネルMOSトランジスタ103の抵
抗値が小さくなって入力ノードN102から出力ノード
N103に正電荷が移動し、入力電位VIが下降し出力
電位VOが上昇する。
【0013】時刻t3においてクロック信号CLK1
1,CLK12が「H」レベルから「L」レベルに立下
がると、時刻t1よりも前の時刻と同じ状態に戻る。
【0014】時刻t3〜t5ではクロック信号CLK1
1,CLK12は「L」レベルに固定され、奇数段のチ
ャージポンプ単位回路102.1,102.3,…,1
02.N−1は動作しない。この時刻t3〜t5では、
偶数段のチャージポンプ単位回路102.2,102.
4,…,102.Nは時刻t1〜t3における奇数段の
チャージポンプ単位回路102.1,102.3,…,
102.N−1と同様に動作する。
【0015】このように、この正チャージポンプ回路で
は、クロック信号CLK11〜CLK14に同期して奇
数段のチャージポンプ単位回路102.1,102.
3,…,102.N−1と偶数段のチャージポンプ単位
回路102.2,102.4,…,102.Nとが交互
に動作し、各チャージポンプ単位回路から次段のチャー
ジポンプ単位回路に正電荷が供給され、各チャージポン
プ単位回路で昇圧されて最終段のチャージポンプ単位回
路102.Nからは高レベルの正電位VOが出力され
る。
【0016】図22(a)〜(c)は、従来の負チャー
ジポンプ回路の構成を示す回路ブロック図である。
【0017】図22(a)において、この負チャージポ
ンプ回路は、PチャネルMOSトランジスタ111と、
直列接続されたN段のチャージポンプ単位回路112.
1〜112.Nとを含む。PチャネルMOSトランジス
タ111は、初段のチャージポンプ単位回路112.1
の入力ノードと接地電位VSSのラインとの間にダイオ
ード接続される。
【0018】奇数段のチャージポンプ単位回路112.
1,112.3,…,112.N−1は、それぞれクロ
ック信号CLK31,CLK32に同期して後段のチャ
ージポンプ単位回路112.2,112.4,…,11
2.Nに負電荷を供給する。偶数段のチャージポンプ単
位回路112.2,112.4,…,112.N−2
は、それぞれクロック信号CLK33,CLK34に同
期して後段のチャージポンプ単位回路112.3,11
2.5,…,112.N−1および出力ノードに負電荷
を供給する。最終段のチャージポンプ単位回路112.
Nの出力電位が、この負チャージポンプ回路の出力電位
VOとなる。
【0019】チャージポンプ単位回路112.1は、図
22(b)に示すように、PチャネルMOSトランジス
タ113、抵抗素子114およびキャパシタ115,1
16を含む。PチャネルMOSトランジスタ113は、
チャージポンプ単位回路112.1の入力ノードN11
2と出力ノードN113の間に接続される。抵抗素子1
14は、PチャネルMOSトランジスタ113のゲート
と入力ノードN112との間に接続される。キャパシタ
115の一方電極はクロック信号CLK31を受け、そ
の他方電極は入力ノードN112に接続される。キャパ
シタ116の一方電極はクロック信号CLK32を受
け、その他方電極はNチャネルMOSトランジスタ11
3のゲートに接続される。
【0020】他の奇数段のチャージポンプ単位回路11
2.3,112.5,…,112.N−1の各々は、チ
ャージポンプ単位回路112.1と同じ構成である。偶
数段のチャージポンプ単位回路112.2,112.
4,…,112.Nの各々は、図22(c)に示すよう
に、クロック信号CLK31,CLK32がクロック信
号CLK33,CLK34で置換されるだけで、その他
はチャージポンプ単位回路112.1と同じである。
【0021】図23はクロック信号CLK31〜CLK
34の波形図、図24は奇数段のチャージポンプ単位回
路112.1,112.3,…,112.N−1と入力
ノードN112の電位VI、PチャネルMOSトランジ
スタ113のゲート電位VGおよび出力ノードN113
の電位VOの波形図である。以下、図23および図24
に従って負チャージポンプ回路の動作について説明す
る。
【0022】まず図23を参照して、クロック信号CL
K31は、所定の周期を有し、そのデューティ比は50
%である。図23では、クロック信号CLK31は、時
刻t1〜t3で「L」レベルとなり、時刻t3〜t5で
「H」レベルとなっている。他のクロック信号CLK3
2〜CLK34の各々は、クロック信号CLK31と同
じ周期を有する。クロック信号CLK32は、クロック
信号CLK31が「L」レベルになる期間の後半の期間
(時刻t2〜t3)で「L」レベルとなり、それ以外の
期間は「H」レベルとなる。クロック信号CLK33,
CLK34は、それぞれクロック信号CLK31,CL
K32を1/2周期だけ遅延させた信号である。
【0023】時刻t1よりも前の時刻では、クロック信
号CLK31,CLK32はともに「H」レベルになっ
ている。このためVI,VGはともに「L」レベルとな
り、キャパシタ115,116はそれぞれ電源電圧−V
CCで充電されている。
【0024】時刻t1においてクロック信号CLK31
が「H」レベルから「L」レベルに立下がると、キャパ
シタ115を介して入力ノードN112が電源電圧VC
Cだけ降圧され、入力ノードN112の電位VIは抵抗
素子114を介してNチャネルMOSトランジスタ11
3のゲートに伝達され、ゲート電位VGは回路の時定数
で決まる曲線に沿って下降する。
【0025】時刻t2においてクロック信号CLK32
が「H」レベルから「L」レベルに立下がると、キャパ
シタ116を介してゲート電位VGが電源電位VCCだ
け降圧され、PチャネルMOSトランジスタ113の抵
抗値は小さくなって入力ノードN112から出力ノード
N113に負電荷が移動し、入力電位VIが上昇し出力
電位VOが下降する。
【0026】時刻t3においてクロック信号CLK3
1,CLK32が「L」レベルから「H」レベルに立上
がると、時刻t1よりも前の時刻と同じ状態になる。
【0027】時刻t3〜t5ではクロック信号CLK3
1,CLK32は「H」レベルに固定され、奇数段のチ
ャージポンプ単位回路112.1,112.3,…,1
12.N−1は動作しない。この時刻t3〜t5では、
偶数段のチャージポンプ単位回路112.2,112.
4,…,112.Nは時刻t1〜t3における奇数段の
チャージポンプ単位回路112.1,112.3,…,
112.N−1と同様に動作する。
【0028】このように、この負チャージポンプ回路で
は、クロック信号CLK31〜CLK34に同期して奇
数段のチャージポンプ単位回路112.1,112.
3,…,112.N−1と偶数段のチャージポンプ単位
回路112.2,112.4,…,112.Nとが交互
に動作し、各チャージポンプ単位回路から次段のチャー
ジポンプ単位回路に負電荷が供給され、各チャージポン
プ単位回路で降圧されて最終段のチャージポンプ単位回
路112.Nからは負の高電位VOが出力される。
【0029】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年の半導
体製品の低電源電圧化に伴い、フラッシュメモリにも低
電源電圧化が求められている。上述のように、フラッシ
ュメモリには、高電圧を生成するためのチャージポンプ
回路が設けられているが、電源電圧が低減化されると
(特に2V以下になると)、従来のチャージポンプ回路
では高電圧を生成することが困難になってくる。
【0030】すなわち、図19の正チャージポンプ回路
では、NチャネルMOSトランジスタ103を導通させ
るためにはVG−VO>Vthn(ただし、Vthnは
NチャネルMOSトランジスタ103のしきい値電圧で
ある)の条件を満たさなければならないが、最終段に近
いほどいわゆる基板効果によってVthnが大きくな
り、NチャネルMOSトランジスタ103が導通しにく
くなるため、正電荷を効率よく次段に転送できなくな
る。
【0031】同様に図22の負チャージポンプ回路で
は、PチャネルMOSトランジスタ114を導通させる
ためにはVG−VO<Vthp(ただし、VthpはP
チャネルMOSトランジスタ113のしきい値電圧であ
る)の条件を満たさなければならないが、最終段に近い
ほど基板効果によってVthpが大きくなり、Pチャネ
ルMOSトランジスタ113が導通しにくくなるため、
負電荷を効率よく次段に転送できなくなる。
【0032】それゆえに、この発明の主たる目的は、電
荷を効率よく転送できるチャージポンプ回路を提供する
ことである。
【0033】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
クロック信号に同期して入力ノードの正電荷または負電
荷を出力ノードに転送させるチャージポンプ回路であっ
て、第1の導電型式の第1のトランジスタ、第2の導電
型式の第2のトランジスタ、第1の駆動回路、第1の切
換回路、および第2の駆動回路を備える。第1の導電型
式の第1のトランジスタは、入力ノードと出力ノードの
間に接続される。第2の導電型式の第2のトランジスタ
は、入力ノードと第1のトランジスタの入力電極との間
に接続される。第1の駆動回路は、クロック信号の各1
周期内の第1の期間に入力ノードを予め定められた第1
の電圧だけ昇圧または降圧させる。第1の切換回路は、
第1の期間内の第2の期間は第2のトランジスタの入力
電極を第1のトランジスタの入力電極に接続して第2の
トランジスタを非導通にし、それ以外の期間は第2のト
ランジスタの入力電極に活性化電位を与えて第2のトラ
ンジスタを導通させる。第2の駆動回路は、第2の期間
内の第3の期間に第1のトランジスタの入力電極を予め
定められた第2の電圧だけ昇圧または降圧させて第1の
トランジスタを導通させ、入力ノードの正電荷または負
電荷を出力ノードに転送させる。
【0034】請求項2に係る発明では、請求項1に係る
発明の予め定められた第1の電圧は電源電圧であり、予
め定められた第2の電圧は電源電圧よりも大きく、第2
の駆動回路は、振幅変換回路および第1のキャパシタを
含む。振幅変換回路は、クロック信号と同じ周期を有
し、各1周期内において第3の期間は第1の電位にな
り、それ以外の期間は第2の電位になり、その振幅が電
源電圧である基準クロック信号を受け、その基準クロッ
ク信号の振幅を予め定められた第2の電圧に変換して出
力する。第1のキャパシタの一方電極は振幅変換回路の
出力クロック信号を受け、その他方電極は第1のトラン
ジスタの入力電極に接続される。
【0035】請求項3に係る発明では、請求項2に係る
発明の予め定められた第2の電圧は電源電圧の2倍の電
圧であり、振幅変換回路は、第2のキャパシタ、充電回
路および第2の切換回路を含む。充電回路は、基準クロ
ック信号が第2または第1の電位である期間は第2のキ
ャパシタの一方電極に電源電位を与えるとともにその他
方電極に接地電位を与え、第2のキャパシタを電源電圧
に充電する。第2の切換回路は、基準クロック信号が第
1または第2の電位である期間は充電回路によって充電
された第2のキャパシタの他方電極に電源電位を与える
とともにその一方電極を第1のキャパシタの一方電極に
接続し、基準クロック信号が第2または第1の電位であ
る期間は第1のキャパシタの一方電極に接地電位を与え
る。
【0036】請求項4に係る発明では、請求項2に係る
発明の振幅変換回路は、内部チャージポンプ回路、制御
回路および第2の切換回路を含む。内部チャージポンプ
回路は、内部電源ノードに正電荷または負電荷を供給す
る。制御回路は、内部電源ノードが予め定められた基準
電位になるように内部チャージポンプ回路を制御する。
第2の切換回路は、基準クロック信号が第1または第2
の電位である期間は第1のキャパシタの一方電極を内部
電源ノードに接続し、基準クロック信号が第2または第
1の電位である期間は第1のキャパシタの一方電極に接
地電位を与える。
【0037】請求項5に係る発明は、クロック信号に同
期して入力ノードの正電荷または負電荷を出力ノードに
転送させるチャージポンプ回路であって、トランジス
タ、抵抗素子、第1の駆動回路および第2の駆動回路を
備え、第2の駆動回路は、振幅変換回路および第1のキ
ャパシタを含む。トランジスタは、入力ノードと出力ノ
ードの間に接続される。抵抗素子は、入力ノードとトラ
ンジスタの入力電極との間に接続される。第1の駆動回
路は、クロック信号の各1周期内の第1の期間に入力ノ
ードを電源電圧だけ昇圧または降圧させる。第2の駆動
回路は、第1の期間内の第2の期間にトランジスタの入
力電極を電源電圧よりも大きな予め定められた電圧だけ
昇圧または降圧させてトランジスタを導通させ、入力ノ
ードの正電荷または負電荷を出力ノードに転送させる。
振幅変換回路は、クロック信号と同じ周期を有し、各1
周期内において第2の期間は第1の電位になり、それ以
外の期間は第2の電位になり、その振幅は電源電圧であ
る基準クロック信号を受け、その基準クロック信号の振
幅を予め定められた電圧に変換して出力する。第1のキ
ャパシタの一方電極は振幅変換回路の出力クロック信号
を受け、その他方電極はトランジスタの入力電極に接続
される。
【0038】請求項6に係る発明は、クロック信号に同
期して入力ノードの正電荷または負電荷を出力ノードに
転送させるチャージポンプ回路であって、トランジス
タ、ダイオード素子、第1の駆動回路および第2の駆動
回路を備え、第2の駆動回路は、振幅変換回路および第
1のキャパシタを含む。トランジスタは、入力ノードと
出力ノードの間に接続される。ダイオード素子は、入力
ノードとトランジスタの入力電極との間に接続され、ト
ランジスタの入力電極の正電荷または負電荷が入力ノー
ドに流れるのを防止する。第1の駆動回路は、クロック
信号の各1周期内の第1の期間に入力ノードを電源電圧
だけ昇圧または降圧させる。第2の駆動回路は、第1の
期間内の第2の期間にトランジスタの入力電極を電源電
圧よりも大きな予め定められた電圧だけ昇圧または降圧
させてトランジスタを導通させ、入力ノードの正電荷ま
たは負電荷を出力ノードに転送させる。振幅変換回路
は、クロック信号と同じ周期を有し、各1周期内におい
て第2の期間は第1の電位になり、それ以外の期間は第
2の電位になり、その振幅が電源電圧である基準クロッ
ク信号を受け、その基準クロック信号の振幅を予め定め
られた電圧に変換して出力する。第1のキャパシタの一
方電極は振幅変換回路の出力クロック信号を受け、その
他方電極はトランジスタの入力電極に接続される。
【0039】請求項7に係る発明では、請求項5または
6に係る発明の予め定められた電圧は電源電圧の2倍の
電圧であり、振幅変換回路は、第2のキャパシタ、充電
回路および第2の切換回路を含む。充電回路は、基準ク
ロック信号が第2または第1の電位である期間は第2の
キャパシタの一方電極に電源電位を与えるとともにその
他方電極に接地電位を与え、第2のキャパシタを電源電
圧に充電する。第2の切換回路は、基準クロック信号が
第1または第2の電位である期間は充電回路によって充
電された第2のキャパシタの他方電極に電源電位を与え
るとともにその一方電極を第1のキャパシタの一方電極
に接続し、基準クロック信号が第2または第1の電位で
ある期間は第1のキャパシタの一方電極に接地電位を与
える。
【0040】請求項8に係る発明では、請求項5または
6に係る発明の振幅変換回路は、内部チャージポンプ回
路、制御回路および第2の切換回路を含む。内部チャー
ジポンプ回路は、内部電源ノードに正電荷または負電荷
を供給する。制御回路は、内部電源ノードが予め定めら
れた基準電位になるようにチャージポンプ回路を制御す
る。第2の切換回路は、基準クロック信号が第1または
第2の電位である期間は第1のキャパシタの一方電極を
内部電源ノードに接続し、基準クロック信号が第2また
は第1の電位である期間は第1のキャパシタの一方電極
に接地電位を与える。
【0041】請求項9に係る発明では、請求項1から8
のいずれかに係る発明のチャージポンプ回路は、不揮発
性半導体記憶装置内に設けられている。
【0042】
【発明の実施の形態】[実施の形態1]図1は、この発
明の実施の形態1によるフラッシュメモリの構成を示す
ブロック図である。図1を参照して、このフラッシュメ
モリは、メモリアレイ1、アドレスバッファ2、Xデコ
ーダ3、Yデコーダ4、書込/読出回路5、入出力バッ
ファ6、複数の正チャージポンプ回路7、複数の負チャ
ージポンプ回路8、ディストリビュータ9および制御回
路10を備える。
【0043】メモリアレイ1は、複数のメモリブロック
BLK0〜BLKm(ただし、mは自然数である)を含
む。複数のメモリブロックBLK0〜BLKmは、それ
ぞれ半導体基板の複数のウェルの表面に形成されてい
る。
【0044】メモリブロックBLK0〜BLKmの各々
は、複数行,複数列(図では、図面の簡単化のため2行
1列のみが示される)に配列された複数のメモリセルM
Cと、各行に対応して設けられたワード線WLと、各隣
接する2つの行に対応して設けられたソース線SLと、
各列に対応して設けられた副ビット線SBLと、各列に
対応して設けられた選択ゲートSG(NチャネルMOS
トランジスタ)とを含む。また、複数のメモリブロック
BLK0〜BLKmに共通に、各列に対応して主ビット
線MBLが設けられる。各副ビット線SBLは、選択ゲ
ートSGを介して主ビット線MBLに接続される。
【0045】各メモリセルMCは、図2(a)(b)に
示すように、半導体基板のウェル11表面の上方に絶縁
層を介して浮遊ゲート13を形成し、さらにその上方に
絶縁層を介して制御ゲート14を形成し、ゲート13,
14の両側のウェル11表面にそれぞれソース12sお
よびドレイン12dを形成したものである。制御ゲート
14、ドレイン12dおよびソース12sは、それぞれ
対応のワード線WL、副ビット線SBLおよびソース線
SLに接続される。
【0046】書込動作時は、表1上段に示すように、メ
モリセルMCのドレイン12dおよび制御ゲート14に
それぞれ+6Vおよび−8Vが印加され、ソース12s
はオープン(フローティング)にされ、ウェル11は接
地される。これにより、図2(a)に示すように、トン
ネル効果によって浮遊ゲート13からドレイン12dに
電子が引き抜かれ、図3に示すように、メモリセルMC
のしきい値電圧Vthが2Vに下がる。すなわち、デー
タ「0」が書込まれる。
【0047】
【表1】
【0048】消去動作時は、表1中段に示すように、メ
モリセルMCの制御ゲート14に+10Vが印加され、
ソース12sおよびウェル11に−8Vが印加され、ド
レイン12dはオープンにされる。これにより、図2
(b)に示すように、トンネル効果によってソース12
sおよびウェル11から浮遊ゲート17に電子が注入さ
れ、図3に示すように、メモリセルMCのしきい値電圧
Vthが約6Vに上がる。すなわち、データ「1」が書
込まれる。
【0049】読出動作時は、表1下段に示すように、メ
モリセルMCのドレイン12aに1Vが印加され、制御
ゲート14に+3.3Vが印加され、ソース12sおよ
びウェル11に0Vが印加されて、図3に示すように、
ドレイン12dとソース12sの間にしきい値電流It
h(通常は数十μA)が流れるか否かが検出される。メ
モリセルMCにデータ「0」が書込まれている場合は電
流Ithが流れ、そうでない場合は電流Ithは流れな
い。
【0050】図1に戻って、アドレスバッファ2は、外
部から与えられるアドレス信号AddをXデコーダ3お
よびYデコーダ4に選択的に与える。Xデコーダ3は、
アドレス信号Addに従って複数のメモリブロックBL
K0〜BLKmのうちのいずれかのメモリブロック(た
とえばBLK0)を選択し、選択したメモリブロックB
LK0の選択ゲートSGを導通させて、選択したメモリ
ブロックBLK0の副ビット線SBLを主ビット線MB
Lに結合させる。また、Xデコーダ3は、動作モードに
応じて、選択したメモリブロックBLK0のウェル電圧
VWを0Vまたは−8Vにするとともに、そのソース線
SLをオープン,0Vまたは−8Vにする。
【0051】さらに、Xデコーダ3は、アドレス信号A
ddに従って複数のワード線WLのうちのいずれかのワ
ード線WLを選択し、選択したワード線WLに動作モー
ドに応じた電圧−8V,+10Vまたは+3.3Vを印
加する。Yデコーダ4は、アドレス信号Addに従っ
て、複数の主ビット線MBLのうちのいずれかの主ビッ
ト線MBLを選択する。
【0052】書込/読出回路5は、書込動作時に、入出
力バッファ6を介して外部から与えられたデータDIに
従って、Yデコーダ4によって選択された主ビット線M
BLに書込電圧(+6V)を与え、デコーダ3,4によ
って選択されたメモリセルMCにデータを書込む。ま
た、書込/読出回路5は、読出動作時に、デコーダ3,
4によって選択された主ビット線MBL、選択ゲートS
Gおよび副ビット線SBLを介して選択されたメモリセ
ルMCのドレイン12dに1Vを印加し、電流が流入す
るか否かを検出し、検出結果に応じたデータDOを入出
力バッファ6を介して外部に出力する。
【0053】チャージポンプ回路7,8は、書込、読
出、消去の各動作時にXデコーダ3および書込/読出回
路5で用いられる種々の電圧を生成する。正チャージポ
ンプ回路7は正電圧を生成し、負チャージポンプ回路8
は負電圧を生成する。ディストリビュータ9は、動作モ
ードに応じて、チャージポンプ回路7,8で生成された
電圧をXデコーダ3および書込/読出回路5に分配す
る。制御回路10は、外部から与えられるコマンド信号
CMDに従って所定の動作モードを選択し、フラッシュ
メモリ全体を制御する。
【0054】次に、このフラッシュメモリの動作につい
て説明する。まず、コマンド信号CMDが制御回路10
に与えられて動作モードが設定される。
【0055】書込動作時は、アドレス信号Addで指定
されたメモリセルMCに対応するワード線WLに−8V
が印加され、そのメモリセルMCが選択ゲートSGを介
して主ビット線MBLに接続され、ソース線SLがオー
プンにされ、ウェル電圧VWが0Vにされる。この状態
で書込/読出回路5によって主ビット線MBLに+6V
が与えられ、選択されたメモリセルMCにデータ「0」
が書込まれる。
【0056】消去動作時は、ソース線SLおよびウェル
電圧VWが−8Vにされる。この状態で、アドレス信号
Addで指定されたワード線WLに+10Vが与えら
れ、ワード線WLに接続されたメモリセルMCのデータ
が消去される。
【0057】読出動作時は、アドレス信号Addで指定
されたメモリセルMCが副ビット線SBL、選択ゲート
SGおよび主ビット線MBLを介して書込/読出回路5
に接続されるとともに、そのメモリセルMCに対応する
ワード線WLに+3.3Vが印加される。メモリセルM
Cのデータは、書込/読出回路5によって読出され、入
出力バッファ6を介して外部に出力される。
【0058】以下、この実施の形態1の特徴となる正チ
ャージポンプ回路7について詳細に説明する。正チャー
ジポンプ回路7は、図4(a)に示すように、Nチャネ
ルMOSトランジスタ21と、直列接続されたN段のチ
ャージポンプ単位回路22.1〜22.Nとを含む。N
チャネルMOSトランジスタ21は、電源電位VCCの
ラインと初段のチャージポンプ単位回路22.1の入力
ノードとの間に接続され、そのゲートは電源電位VCC
のラインに接続される。NチャネルMOSトランジスタ
21は、ダイオードとして動作し、電源電位VCCのラ
インからの正電荷を初段のチャージポンプ単位回路2
2.1の入力ノードに与える。
【0059】奇数段のチャージポンプ単位回路22.
1,22.3,…,22.N−1は、それぞれクロック
信号CLK1〜CLK3に同期して後段のチャージポン
プ単位回路22.2,22.4,…,22.Nに正電荷
を供給する。偶数段のチャージポンプ単位回路22.
2,22.4,…,22.Nは、それぞれクロック信号
CLK4〜CLK6に同期して後段のチャージポンプ単
位回路22.3,22.5,…,22.N−1および出
力ノードに正電荷を供給する。最終段のチャージポンプ
単位回路22.Nの出力電位がこの正チャージポンプ回
路7の出力電位VOとなる。
【0060】チャージポンプ単位回路22.1は、図4
(b)に示すように、NチャネルMOSトランジスタ2
3,24、PチャネルMOSトランジスタ25、キャパ
シタ26,27、切換回路28、および倍電圧回路36
を含む。NチャネルMOSトランジスタ23は、チャー
ジポンプ単位回路22.1の入力ノードN22と出力ノ
ードN23の間に接続される。NチャネルMOSトラン
ジスタ24は、電源電位VCCのラインとNチャネルM
OSトランジスタ23のゲート(ノードN24)との間
に接続され、そのゲートは電源電位VCCのラインに接
続される。NチャネルMOSトランジスタ24は、ダイ
オードとして動作し、ノードN24に正電荷を供給す
る。
【0061】PチャネルMOSトランジスタ25は、入
力ノードN22とノードN24との間に接続され、その
ゲートは切換回路28の出力ノードN32に接続され
る。キャパシタ26の一方電極はクロック信号CLK1
を受け、その他方電極は入力ノードN22に接続され
る。キャパシタ27の一方電極は倍電圧回路36の出力
クロック信号CLK2′を受け、その他方電極はノード
N24に接続される。
【0062】切換回路28は、PチャネルMOSトラン
ジスタ31,32、NチャネルMOSトランジスタ3
3,34およびインバータ35を含む。MOSトランジ
スタ31と33、32と34は、それぞれノードN24
と接地電位VSSのラインとの間に直列接続される。P
チャネルMOSトランジスタ31のゲートはPチャネル
MOSトランジスタ32のドレイン(ノードN32)に
接続され、PチャネルMOSトランジスタ32のゲート
はPチャネルMOSトランジスタ31のドレイン(ノー
ドN31)に接続される。クロック信号CLK3は、N
チャネルMOSトランジスタ34のゲートに入力される
とともに、インバータ35を介してNチャネルMOSト
ランジスタ33のゲートに入力される。
【0063】クロック信号CLK3が「L」レベルの期
間は、MOSトランジスタ32,33が導通し、MOS
トランジスタ31,34は非導通になって、Pチャネル
MOSトランジスタ25のゲートがPチャネルMOSト
ランジスタ32を介してノードN24の電位VGを受け
る。クロック信号CLK3が「H」レベルの期間は、M
OSトランジスタ31,34が導通し、MOSトランジ
スタ32,33は非導通になって、PチャネルMOSト
ランジスタ25のゲートがNチャネルMOSトランジス
タ34を介して接地電位VSSを受ける。
【0064】倍電圧回路36は、図5に示すように、イ
ンバータ41,42、キャパシタ43、PチャネルMO
Sトランジスタ44〜46、およびNチャネルMOSト
ランジスタ47,48を含む。インバータ41,42、
キャパシタ43およびPチャネルMOSトランジスタ4
6は、倍電圧回路36の入力ノードN41と出力ノード
N46との間に直列接続される。PチャネルMOSトラ
ンジスタ46のゲートは、インバータ41の出力を受け
る。
【0065】PチャネルMOSトランジスタ44および
NチャネルMOSトランジスタ47は、キャパシタ43
およびPチャネルMOSトランジスタ46間のノードN
43と接地電位VSSのラインとの間に直列接続され、
各々のゲートはインバータ41の出力を受ける。Pチャ
ネルMOSトランジスタ45は、電源電位VCCのライ
ンとノードN43との間に接続され、そのゲートはMO
Sトランジスタ44と47の間のノードN44に接続さ
れる。NチャネルMOSトランジスタ48は、出力ノー
ドN46と接地電位GNDのラインとの間に接続され、
そのゲートはインバータ41の出力を受ける。
【0066】入力ノードN41には、クロック信号CL
K2が入力される。クロック信号CLK2は、図6
(a)に示すように、電源電圧VCCの振幅を有する。
クロック信号CLK2が「L」レベルの期間は、インバ
ータ41の出力が「H」レベルとなり、インバータ42
の出力が「L」レベルとなる。また、PチャネルMOS
トランジスタ44は非導通になりNチャネルMOSトラ
ンジスタ47が導通してノードN47が「L」レベルに
なり、PチャネルMOSトランジスタ45が導通してノ
ードN43が「H」レベルになる。これにより、キャパ
シタ43が電源電圧VCCで充電される。また、Pチャ
ネルMOSトランジスタ46が非導通になり、Nチャネ
ルMOSトランジスタ48が導通して出力ノードN46
が「L」レベルになる。
【0067】クロック信号CLK2が「H」レベルに立
上がると、インバータ41の出力が「L」レベルに立下
がる。これにより、PチャネルMOSトランジスタ44
が導通しNチャネルMOSトランジスタ47が非導通に
なってノードN44が「H」レベルになり、Pチャネル
MOSトランジスタ45が非導通になる。また、Pチャ
ネルMOSトランジスタ46が導通し、NチャネルMO
Sトランジスタ48が非導通になる。同時に、インバー
タ42の出力が「H」レベル(電源電位VCC)に立上
がり、これにキャパシタ43の充電電圧VCCを加えた
電圧2VCCが出力ノードN46に出力される。したが
って、倍電圧回路36の出力信号は、図6(b)に示す
ように、クロック信号CLK2の振幅を2倍にしたクロ
ック信号CLK2′となる。
【0068】他の奇数段のチャージポンプ単位回路2
2.3,22.5,…,22.N−1もチャージポンプ
単位回路22.1と同じ構成である。偶数段のチャージ
ポンプ単位回路22.2,22.4,…,22.Nは、
クロック信号CLK1〜CLK3がクロック信号CLK
4〜CLK6で置換されるだけで、その他はチャージポ
ンプ単位回路22.1と同じである。
【0069】図7はクロック信号CLK1〜CLK6の
波形図、図8は奇数段のチャージポンプ単位回路22.
1,22.3,…,22.N−1の入力ノードN22の
電位VI、NチャネルMOSトランジスタ23のゲート
電位VGおよび出力ノードN23の電位VOの波形図で
ある。以下、図7および図8に従って、正チャージポン
プ回路7の動作について説明する。
【0070】まず図7を参照して、クロック信号CLK
1は、所定の周期を有し、そのデューティ比は50%で
ある。図7では、クロック信号CLK1は、時刻t1〜
t6で「H」レベルとなり、時刻t6〜t11で「L」
レベルとなっている。他のクロック信号CLK2〜CL
K6の各々は、クロック信号CLK1と同じ周期を有す
る。クロック信号CLK3は、クロック信号CLK1が
「H」レベルとなる期間の中間の期間(時刻t2〜t
5)に「L」レベルとなり、それ以外の期間は「H」レ
ベルとなる。
【0071】クロック信号CLK2は、クロック信号C
LK3が「L」レベルとなる期間の中間期間(時刻t3
〜t4)に「H」レベルとなり、それ以外の期間は
「L」レベルとなる。クロック信号CLK4〜CLK5
は、それぞれクロック信号CLK1〜CLK3を1/2
周期だけ遅延させた信号である。
【0072】時刻t1よりも前の時刻では、クロック信
号CLK1,CLK2が「L」レベルとなり、クロック
信号CLK3は「H」レベルとなっている。このため、
切換回路28ではMOSトランジスタ31,34が導通
しMOSトランジスタ32,33が非導通となってノー
ドN32が「L」レベルとなり、PチャネルMOSトラ
ンジスタ25は導通している。また、電源電位VCCの
ラインからNチャネルMOSトランジスタ24およびP
チャネルMOSトランジスタ25を介して入力ノードN
25に正電荷が流入し、キャパシタ26は電源電圧VC
Cで充電されている。また、倍電圧回路36の出力クロ
ック信号は「L」レベルになり、キャパシタ27は電源
電圧VCCで充電されている。
【0073】時刻t1においてクロック信号CLK1が
「L」レベルから「H」レベルに立上がると、キャパシ
タ26を介して入力ノードN22が電源電圧VCCだけ
昇圧され、入力ノードN22の電位VIは導通状態のP
チャネルMOSトランジスタ25を介してノードN24
に伝達され、ノードN24の電位VGも電源電圧VCC
だけ昇圧される。
【0074】次いで時刻t2においてクロック信号CL
K3が「H」レベルから「L」レベルに立下がると、切
換回路28のMOSトランジスタ32,33が導通しM
OSトランジスタ31,34が非導通になって、「H」
レベルのゲート電位VGがPチャネルMOSトランジス
タ32を介してPチャネルMOSトランジスタ25のゲ
ートに与えられ、PチャネルMOSトランジスタ25が
非導通になる。
【0075】次に時刻t3においてクロック信号CLK
2が「L」レベルから「H」レベルに立上がると、倍電
圧回路36の出力クロック信号CLK2′が高電位2V
CCに立上がり、その分だけゲート電位VGが昇圧され
る。これによりNチャネルMOSトランジスタ23の抵
抗値が十分に小さくなり、入力ノードN22から出力ノ
ードN23に正電荷が移動し、入力電位VIが低下し出
力電位VOが上昇する。
【0076】次いで時刻t4においてクロック信号CL
K2が「L」レベルに立下がると、ゲート電位VGが2
VCCだけ降圧され、NチャネルMOSトランジスタ2
3の抵抗値が大きくなって正電荷の移動が少なくなる。
【0077】次に時刻t5においてクロック信号CLK
3が「H」レベルに立上がると、切換回路28のMOS
トランジスタ31,34が導通しMOSトランジスタ3
2,33が非導通になってPチャネルMOSトランジス
タ25のゲートが「L」レベルとなり、PチャネルMO
Sトランジスタ25が導通する。これにより、MOSト
ランジスタ24,25を介して入力ノードN22が
「H」レベルにプリチャージされる。次いで時刻t6に
おいてクロック信号CLK1が「L」レベルになると、
時刻t1よりも前の時刻と同じ状態になる。
【0078】時刻t6〜t11では、クロック信号CL
K1,CLK2は「L」レベルに固定され、クロック信
号CLK3が「H」レベルに固定され、奇数段のチャー
ジポンプ単位回路22.1,22.3,…,22.N−
1は動作しない。この時刻t6〜t11では、偶数段の
チャージポンプ単位回路22.2,22.4,…,2
2.Nは、時刻t1〜t6における奇数段のチャージポ
ンプ単位回路22.1,22.3,…,22.N−1と
同様に動作し、入力ノードN22の正電荷を出力ノード
N23に供給する。
【0079】このように、この正チャージポンプ回路7
では、クロック信号CLK1〜CLK6に同期して奇数
段のチャージポンプ単位回路22.1,22.3,…,
22.N−1と偶数段のチャージポンプ単位回路22.
2,22.4,…,22.Nとが交互に動作し、各チャ
ージポンプ単位回路から次段のチャージポンプ単位回路
に正電荷が供給され、各チャージポンプ単位回路で昇圧
されて最終段のチャージポンプ単位回路22.Nからは
高レベルの正電位が出力される。
【0080】この実施の形態では、倍電圧回路36によ
ってクロック信号CLK2の2倍の振幅を有するクロッ
ク信号CLK2′を生成し、このクロック信号CLK
2′を用いてNチャネルMOSトランジスタ23のゲー
ト電位VGを昇圧するので、クロック信号CLK2でN
チャネルMOSトランジスタ103のゲート電位VGを
昇圧していた従来に比べ、ゲート電位VGが高くなり、
NチャネルMOSトランジスタ23の導通抵抗値が小さ
くなる。また、NチャネルMOSトランジスタ23のゲ
ート−ドレイン間にPチャネルMOSトランジスタ25
を接続し、切換回路28によってPチャネルMOSトラ
ンジスタ25をオン/オフ制御するので、NチャネルM
OSトランジスタ103のゲート/ドレイン間を抵抗素
子104で接続していた従来のようにNチャネルMOS
トランジスタ103のゲートから入力ノードN102に
正電荷が逆流してゲート電位VGが低下することもな
い。したがって、チャージポンプ単位回路22.1〜2
2.Nの各々における正電荷の伝達効率が高くなり、フ
ラッシュメモリの電源電圧VCCの低減化が進められた
場合でも高レベルの正電圧を容易に生成できる。
【0081】なお、この実施の形態では、チャージポン
プ単位回路22.1〜22.Nの各々に倍電圧回路36
および切換回路28を設けたが、倍電圧回路36および
切換回路28を複数のチャージポンプ単位回路に共通に
設けてもよい。たとえば奇数段のチャージポンプ単位回
路22.1,22.3,…,22.N−1に共通の倍電
圧回路36および切換回路28を設け、偶数段のチャー
ジポンプ単位回路22.2,22.4,…,22.Nに
共通の倍電圧回路36および切換回路28を設けてもよ
い。
【0082】また、この実施の形態では、偶数段のチャ
ージポンプ単位回路22.1〜22.Nを設けたが、奇
数段のチャージポンプ単位回路22.1〜22.N−1
を設けてもよいことは言うまでもない。
【0083】図9は、実施の形態1の変更例による正チ
ャージポンプ回路の要部を示す図である。この正チャー
ジポンプ回路が図4の正チャージポンプ回路7と異なる
点は、倍電圧回路36か振幅変換回路50で置換される
点である。図9において、この振幅変換回路50は、正
チャージポンプ回路51、電位検出回路52および切換
回路53を含む。
【0084】正チャージポンプ回路51は、電位検出回
路52によって制御され、内部電源ノードN51に正電
荷を供給する。電位検出回路52は、内部電源ノードN
51が予め定められた高電位VCPになるように正チャ
ージポンプ回路51を制御する。すなわち電位検出回路
52は、内部電源ノードN51がVCPに到達したこと
に応じて正チャージポンプ回路51を停止させ、内部電
源ノードN51の電位がVCPよりも低下したことに応
じて正チャージポンプ回路51を駆動させる。
【0085】切換回路53は、PチャネルMOSトラン
ジスタ54,55、NチャネルMOSトランジスタ5
6,57およびインバータ58を含む。MOSトランジ
スタ54と56,55と57は、それぞれノードN51
と接地電位VSSのラインとの間に直列接続される。P
チャネルMOSトランジスタ54のゲートはPチャネル
MOSトランジスタ55のドレイン(ノードN55)に
接続され、PチャネルMOSトランジスタ55のゲート
はPチャネルMOSトランジスタ54のドレイン(ノー
ドN54)に接続される。クロック信号CLK2は、N
チャネルMOSトランジスタ56のゲートに直接入力さ
れるとともに、インバータ58を介してNチャネルMO
Sトランジスタ57のゲートに入力される。
【0086】クロック信号CLK2が「L」レベルの期
間は切換回路53のMOSトランジスタ54,57が導
通してノードN55が「L」レベルになり、クロック信
号CLK2が「H」レベルの期間は切換回路53のMO
Sトランジスタ55,56が導通してノードN55が高
電位VCPとなる。したがって、ノードN55には、図
10に示すように、振幅が高電圧VCPのクロック信号
CLK2′が現われる。このクロック信号CLK2′
は、図4の倍電圧回路36の出力クロック信号CLK
2′の代わりにキャパシタ27に与えられる。VCPの
値は、図4のNチャネルMOSトランジスタ23の抵抗
値を十分に小さくすることができるような値(たとえば
3VCC)に設定される。
【0087】この変更例では、クロック信号CLK2′
の振幅を2VCCよりも大きな所望の値に設定できるの
で、電源電圧VCCの低減化がさらに進められた場合で
も、高電位VOを容易に生成できる。
【0088】[実施の形態2]図11(a)(b)は、
この発明の実施の形態2による正チャージポンプ回路の
構成を示す回路ブロック図である。
【0089】図11(a)において、この正チャージポ
ンプ回路は、NチャネルMOSトランジスタ61と、直
列接続されたN段のチャージポンプ単位回路62.1〜
62.Nとを含む。NチャネルMOSトランジスタ61
は、電源電位VCCのラインと初段のチャージポンプ単
位回路62.1の入力ノードとの間にダイオード接続さ
れる。
【0090】奇数段のチャージポンプ単位回路62.
1,62.3,…,62.N−1は、それぞれクロック
信号CLK11,CLK12に同期して後段のチャージ
ポンプ単位回路62.2,62.4,…,62.Nに正
電荷を供給する。偶数段のチャージポンプ単位回路6
2.2,62.4,…,62.Nは、それぞれクロック
信号CLK13,CLK14に同期して後段のチャージ
ポンプ単位回路62.3,62.5,…,62.N−1
および出力ノードに正電荷を供給する。クロック信号C
LK11〜CLK14は、図20で示したクロック信号
と同じである。最終段のチャージポンプ単位回路62.
Nの出力電位がこの正チャージポンプ回路の出力電位V
Oとなる。
【0091】チャージポンプ単位回路62.1は、図1
1(b)に示すように、NチャネルMOSトランジスタ
63、抵抗素子64、キャパシタ65,66、および倍
電圧回路67を含む。NチャネルMOSトランジスタ6
3は、チャージポンプ単位回路62.1の入力ノードN
62と出力ノードN63の間に接続される。抵抗素子6
3は、NチャネルMOSトランジスタ63のゲートと入
力ノードN62との間に接続される。キャパシタ65の
一方電極はクロック信号CLK11を受け、その他方電
極は入力ノードN62に接続される。キャパシタ66の
一方電極は倍電圧回路67の出力クロック信号CLK1
2′を受け、その他方電極はNチャネルMOSトランジ
スタ63のゲートに接続される。倍電圧回路67は、ク
ロック信号CLK12の振幅を2倍にしたクロック信号
CLK12′を生成する。
【0092】クロック信号CLK11が「L」レベルか
ら「H」レベルに立上がると、入力ノードN62が電源
電圧VCCだけ昇圧され、入力ノードN62の電位VI
は抵抗素子64を介してNチャネルMOSトランジスタ
63のゲートに伝達される。次いでクロック信号CLK
12が「L」レベルから「H」レベルに立上がると、倍
電圧回路67の出力クロック信号CLK12′が「L」
レベルから高電位2VCCに立上がり、これによってN
チャネルMOSトランジスタ63のゲート電位VGが2
VCCだけ昇圧され、NチャネルMOSトランジスタ6
3の抵抗値は十分小さくなる。これにより入力ノードN
62の正電荷が出力ノードN63を介して次段のチャー
ジポンプ単位回路62.2に供給される。
【0093】他の奇数段のチャージポンプ単位回路6
2.3,62.5,…,62.N−1の各々は、チャー
ジポンプ単位回路62.1と同じ構成である。偶数段の
チャージポンプ単位回路62.2,62.4,…,6
2.Nの各々は、クロック信号CLK11,CLK12
がクロック信号CLK13,CLK14で置換されるだ
けで、その他はチャージポンプ単位回路62.1と同じ
である。
【0094】したがって、この正チャージポンプ回路が
図19で示した従来の正チャージポンプ回路と異なるの
は、チャージポンプ単位回路62.1〜62.Nの各々
に倍電圧回路67が設けられている点である。この倍電
圧回路67によってクロック信号CLK12の2倍の振
幅を有するクロック信号CLK12′を生成し、このク
ロック信号CLK12′を用いてNチャネルMOSトラ
ンジスタ63のゲート電位VGを昇圧するので、クロッ
ク信号CLK2でNチャネルMOSトランジスタ103
のゲート電位VGを昇圧していた従来に比べ、ゲート電
位VGが高くなりNチャネルMOSトランジスタの導通
抵抗値が小さくなる。したがって、チャージポンプ単位
回路62.1〜62.Nの各々における正電荷の伝達効
率が高くなり、電源電圧VCCの低減化が進められた場
合でも高レベルの正電圧を容易に生成できる。
【0095】実施の形態1と比較すると、PチャネルM
OSトランジスタ25を抵抗素子64で置換したので昇
圧時にNチャネルMOSトランジスタ63のゲートから
抵抗素子64を介して入力ノードN62に正電荷がリー
クする点で劣るが、クロック信号CLKの数が少なくて
済む点、および回路構成が簡単になる点で優れている。
【0096】図12は、実施の形態2の変更例による正
チャージポンプ回路の初段のチャージポンプ単位回路6
8.1の構成を示す回路ブロック図である。図12にお
いて、このチャージポンプ単位回路68.1が図11
(b)のチャージポンプ単位回路62.1と異なる点
は、抵抗素子64がダイオード69で置換されている点
である。ダイオード69のアノードは入力ノードN62
に接続され、そのカソードはNチャネルMOSトランジ
スタ63のゲートに接続される。
【0097】この変更例では、抵抗素子64をダイオー
ド69で置換したので、NチャネルMOSトランジスタ
63のゲートの正電荷はダイオード69で阻止され、入
力ノードN62にリークすることがない点で図11のチ
ャージポンプ単位回路62.1よりも優れている。しか
し、クロック信号CLK11が「H」レベルに立上がっ
たときに、入力ノードN62の電位VIからダイオード
69の拡散電位Vdを減算した電位VI−Vdにしかゲ
ート電位VGが昇圧されない点で、そのときにゲート電
位VGが入力電位VIに等しくなる図11のチャージポ
ンプ単位回路62.1よりも劣る。
【0098】[実施の形態3]図13(a)(b)は、
この発明の実施の形態3による負チャージポンプ回路の
構成を示す回路ブロック図である。図13(a)におい
て、この負チャージポンプ回路は、PチャネルMOSト
ランジスタ71と、直列接続されたN段のチャージポン
プ単位回路72.1〜72.Nとを含む。PチャネルM
OSトランジスタ71は、接地電位VSSのラインと初
段のチャージポンプ単位回路72.1の入力ノードとの
間に接続され、そのゲートは接地電位VSSのラインに
接続される。PチャネルMOSトランジスタ71は、ダ
イオードとして動作し、接地電位VSSのラインからの
負電荷を初段のチャージポンプ単位回路72.1の入力
ノードに与える。
【0099】奇数段のチャージポンプ単位回路72.
1,72.3,…,72.N−1は、それぞれクロック
信号CLK21〜CLK23に同期して後段のチャージ
ポンプ単位回路72.2,72.4,…,72.Nに負
電荷を供給する。偶数段のチャージポンプ単位回路7
2.2,72.4,…,72.Nは、それぞれクロック
信号CLK24〜CLK26に同期して後段のチャージ
ポンプ単位回路72.3,72.5,…,72.N−1
および出力ノードに負電荷を供給する。最終段のチャー
ジポンプ単位回路72.Nの出力電位は、この負チャー
ジポンプ回路の出力電位VOとなる。
【0100】チャージポンプ単位回路72.1は、図1
3(b)に示すように、PチャネルMOSトランジスタ
73、NチャネルMOSトランジスタ74、キャパシタ
75,76、信号重畳回路77および倍電圧回路78を
含む。PチャネルMOSトランジスタ73は、チャージ
ポンプ単位回路72.1の入力ノードN72と出力ノー
ドN73の間に接続される。NチャネルMOSトランジ
スタ74は、PチャネルMOSトランジスタ73のゲー
ト(ノードN74)と入力ノードN72との間に接続さ
れ、そのゲートは信号重畳回路77の出力クロック信号
/CLK23を受ける。
【0101】キャパシタ75の一方電極はクロック信号
CLK21を受け、その他方電極は入力ノードN72に
接続される。キャパシタ76の一方電極は倍電圧回路7
8の出力クロック信号CLK22′を受け、その他方電
極はノードN74に接続される。
【0102】信号重畳回路77は、図14に示すように
インバータ81、PチャネルMOSトランジスタ82〜
85およびNチャネルMOSトランジスタ86,87を
含む。MOSトランジスタ84と86,85と87は、
それぞれ電源電位VCCのラインとノードN86との間
に直列接続される。ノードN86は、ノードN74およ
びNチャネルMOSトランジスタ74のウェルに接続さ
れる。MOSトランジスタ84,86のゲートとMOS
トランジスタ85のドレインとは共通接続される。MO
Sトランジスタ85と87のゲートとMOSトランジス
タ84のドレインとは、出力ノードN87に接続され
る。インバータ81およびPチャネルMOSトランジス
タ82は、入力ノードN81とPチャネルMOSトラン
ジスタ84のドレイン(ノードN87)との間に接続さ
れ、PチャネルMOSトランジスタ83は入力ノードN
81とPチャネルMOSトランジスタ85のドレインと
の間に接続される。PチャネルMOSトランジスタ8
2,83のゲートは接地される。PチャネルMOSトラ
ンジスタ82,83の各々は、ダイオードとして動作
し、電流が入力ノードN81側に逆流するのを防止す
る。入力ノードN81には、クロック信号CLK23が
入力される。
【0103】クロック信号CLK23が「L」レベルの
期間は、MOSトランジスタ84,87が導通しMOS
トランジスタ85,86が非導通になって、出力ノード
N87が「H」レベルになる。クロック信号CLK23
が「H」レベルの期間は、MOSトランジスタ85,8
6が導通しMOSトランジスタ84,87が非導通にな
って、出力ノードN87はノードN86の電位VGにな
る。したがって、図13のNチャネルMOSトランジス
タ74のゲート−ソース間にはクロック信号CLK23
の反転信号/CLK23が与えられる。
【0104】倍電圧回路78は、クロック信号CLK2
2の振幅を2倍にしてクロック信号CLK22′を生成
する。
【0105】他の奇数段のチャージポンプ単位回路7
2.3,72.5,…,72.N−1の各々は、チャー
ジポンプ単位回路72.1と同じ構成である。偶数段の
チャージポンプ単位回路72.2,72.4,…,7
2.Nの各々は、クロック信号CLK21〜CLK23
がクロック信号CLK24〜CLK26で置換されるだ
けであり、その他はチャージポンプ単位回路72.1と
同じである。
【0106】図15はクロック信号CLK21〜CLK
26の波形図、図16は奇数段のチャージポンプ単位回
路72.1,72.3,…,72.N−1の入力ノード
N72の電位VI、PチャネルMOSトランジスタ73
のゲート電位VGおよび出力ノードN73の電位VOの
波形図である。以下、図15および図16に従って、負
チャージポンプ回路の動作について説明する。
【0107】図15を参照して、クロック信号CLK2
1は、所定の周期を有し、そのデューティ比は50%で
ある。図15では、クロック信号CLK21は、時刻t
1〜t6で「L」レベルとなり、時刻t6〜t11で
「H」レベルとなる。他のクロック信号CLK22〜C
LK26の各々は、クロック信号CLK21と同じ周期
を有する。クロック信号CLK23は、クロック信号C
LK21が「L」レベルとなる期間の中間の期間(時刻
t2〜t5)に「H」レベルとなり、それ以外の期間は
「H」レベルとなる。クロック信号CLK22は、クロ
ック信号CLK23が「H」レベルとなる期間の中間の
期間(時刻t3〜t4)に「L」レベルとなり、それ以
外の期間は「H」レベルとなる。クロック信号CLK2
4〜CLK26は、それぞれクロック信号CLK21〜
CLK23を1/2周期だけ遅延させた信号である。
【0108】時刻t1よりも前の時刻では、クロック信
号CLK21,CLK22が「H」レベルとなりクロッ
ク信号CLK23は「L」レベルとなっている。このた
めクロック信号/CLK23は「H」レベルとなり、N
チャネルMOSトランジスタ74は導通している。ま
た、キャパシタ75,76は、それぞれ電源電圧−VC
Cおよび高電圧−2VCCで充電されている。
【0109】時刻t1においてクロック信号CLK21
が「H」レベルから「L」レベルに立下がると、キャパ
シタ75を介して入力ノードN72が電源電圧VCCだ
け降圧され、入力ノードN72の電位VIは導通状態の
NチャネルMOSトランジスタ74を介してノードN7
2に伝達され、ノードN70の電位VGも電源電圧VC
Cだけ降圧される。
【0110】次いで時刻t2においてクロック信号CL
K23が「L」レベルから「H」レベルに立上がると、
信号重畳回路77のMOSトランジスタ85,86が導
通しMOSトランジスタ84,87が非導通になってN
チャネルMOSトランジスタ74のゲート電位とソース
電位が等しくなり、NチャネルMOSトランジスタ74
が非導通になる。
【0111】次に時刻t3においてクロック信号CLK
22が「H」レベルから「L」レベルに立下がると、倍
電圧回路78の出力クロック信号CLK22′が高電位
2VCCから「L」レベルに立下がり、その分だけゲー
ト電位VGが降圧される。これにより、PチャネルMO
Sトランジスタ73の抵抗値が十分に小さくなり、入力
ノードN72から出力ノードN73に負電荷が移動し、
入力電位VIは上昇し出力電位VOが低下する。
【0112】次いで時刻t4においてクロック信号CL
K22が「H」レベルに立上がると、ゲート電位VGが
2VCCだけ昇圧され、PチャネルMOSトランジスタ
73の抵抗値が大きくなって負電荷の移動が少なくな
る。
【0113】次に時刻t5においてクロック信号CLK
23が「L」レベルに立下がると、信号重畳回路77の
MOSトランジスタ84,87が導通しMOSトランジ
スタ85,86が非導通になってクロック信号/CLK
23が「H」レベルになり、MOSトランジスタ74が
導通する。次いで時刻t6においてクロック信号CLK
21が「H」レベルに立上がると、時刻t1よりも前の
時刻と同じ状態になる。
【0114】時刻t6〜t11では、クロック信号CL
K21,CLK22は「H」レベルに固定され、クロッ
ク信号CLK23は「L」レベルに固定され、奇数段の
チャージポンプ単位回路72.1,72.3,…,7
2.N−1は動作しない。この時刻t6〜t11では、
偶数段のチャージポンプ単位回路72.2,72.4,
…,72.Nは、時刻t1〜t6における奇数段のチャ
ージポンプ単位回路72.1,72.3,…,72.N
−1と同様に動作し、入力ノードN72の負電荷を出力
ノードN73に供給する。
【0115】このように、この負チャージポンプ回路で
は、クロック信号CLK21〜CLK26に同期して奇
数段のチャージポンプ単位回路72.1,72.3,
…,72.N−1と偶数段のチャージポンプ単位回路7
2.2,72.4,…,72.Nとが交互に動作し、各
チャージポンプ単位回路から次段のチャージポンプ単位
回路に負電荷が供給され、各チャージポンプ単位回路で
降圧されて最終段のチャージポンプ単位回路72.Nか
らは負の高電位が出力される。
【0116】この実施の形態では、倍電圧回路78によ
ってクロック信号CLK22の2倍の振幅を有するクロ
ック信号CLK22′を生成し、このクロック信号CL
K22′を用いてPチャネルMOSトランジスタ73の
ゲート電位VGを降圧するので、クロック信号CLK2
2でPチャネルMOSトランジスタ113のゲート電位
VGを降圧していた従来に比べ、ゲート電位VGが低く
なりPチャネルMOSトランジスタの導通抵抗値が低く
なる。また、PチャネルMOSトランジスタ73のゲー
ト−ドレイン間にNチャネルMOSトランジスタ74を
接続し、信号重畳回路77によってNチャネルMOSト
ランジスタ74をオン/オフ制御するので、Pチャネル
MOSトランジスタ113のゲート−ドレイン間を抵抗
素子114で接続した従来のようにPチャネルMOSト
ランジスタ113の負電荷が入力ノードN112に逆流
してゲート電位が上昇することもない。したがって、チ
ャージポンプ単位回路72.1〜72.Nの各々におけ
る負電荷の伝達効率が高くなり、フラッシュメモリの電
源電圧VCCの低減化が進められた場合でも負の高電圧
を容易に生成できる。
【0117】なお、この実施の形態では、チャージポン
プ単位回路72.1〜72.Nの各々に倍電圧回路78
および信号重畳回路77を設けたが、倍電圧回路78お
よび信号重畳回路77の複数のチャージポンプ単位回路
に共通に設けてもよい。たとえば奇数段のチャージポン
プ単位回路72.1,72.3,…,72.N−1に共
通の倍電圧回路78および信号重畳回路77を設け、偶
数段のチャージポンプ単位回路72.2,72.4,
…,72.Nに共通の倍電圧回路78および信号重畳回
路77を設けてもよい。
【0118】また、この実施の形態では、偶数段のチャ
ージポンプ単位回路72.1〜72.Nを設けたが、奇
数段のチャージポンプ単位回路72.1〜72.N−1
でもよいことは言うまでもない。
【0119】また、倍電圧回路78を図9で示したよう
な振幅変換回路50で置換してもよい。
【0120】[実施の形態4]図17(a)(b)は、
この発明の実施の形態4による負チャージポンプ回路の
構成を示す回路ブロック図である。
【0121】図17(a)において、この負チャージポ
ンプ回路は、PチャネルMOSトランジスタ91と、直
列接続されたN段のチャージポンプ単位回路92.1〜
92.Nとを含む。PチャネルMOSトランジスタ91
は、初段のチャージポンプ単位回路92.1の入力ノー
ドNと接地電位VSSのラインとの間にダイオード接続
される。
【0122】奇数段のチャージポンプ単位回路92.
1,92.3,…,92.N−1は、それぞれクロック
信号CLK31,CLK32に同期して後段のチャージ
ポンプ単位回路92.2,92.4,…,92.Nに負
電荷を供給する。偶数段のチャージポンプ単位回路9
2.2,92.4,…,92.Nは、それぞれクロック
信号CLK33,CLK34に同期して後段のチャージ
ポンプ単位回路92.3,92.5,…,92.N−1
に負電荷を供給する。クロック信号CLK31〜CLK
34は、図23に示したものと同じ信号である。最終段
のチャージポンプ単位回路92.Nの出力電位が、この
負チャージポンプ回路の出力電位VOとなる。
【0123】チャージポンプ単位回路92.1は、図1
7(b)に示すように、PチャネルMOSトランジスタ
93、抵抗素子94、キャパシタ95,96および倍電
圧回路97を含む。PチャネルMOSトランジスタ93
は、チャージポンプ単位回路92.1の入力ノードN9
2と出力ノードN93の間に接続される。抵抗素子94
は、PチャネルMOSトランジスタ93のゲートと入力
ノードN92との間に接続される。キャパシタ95の一
方電極はクロック信号CLK31を受け、その他方電極
は入力ノードN92に接続される。キャパシタ96の一
方電極は倍電圧回路97の出力クロック信号CLK3
2′を受け、その他方電極はPチャネルMOSトランジ
スタ93のゲートに接続される。倍電圧回路97は、ク
ロック信号CLK32の振幅を2倍したクロック信号C
LK32′を生成する。
【0124】クロック信号CLK31が「H」レベルか
ら「L」レベルに立下がると、入力ノードN92が電源
電圧VCCだけ降圧され、入力ノードN92の電位VI
は抵抗素子94を介してNチャネルMOSトランジスタ
93のゲートに伝達される。次いでクロック信号CLK
32が「H」レベルから「L」レベルに立下がると、倍
電圧回路97の出力クロック信号CLK32′が高電位
2VCCから「L」レベルに立下がり、これによってP
チャネルMOSトランジスタ93のゲート電位VGが2
VCCだけ降圧され、PチャネルMOSトランジスタ9
3の抵抗値が十分に小さくなる。これにより入力ノード
N92の負電荷が出力ノードN93を介して次段のチャ
ージポンプ単位回路92.2に供給される。
【0125】他の奇数段のチャージポンプ単位回路9
2.3,92.5,…,92.N−1の各々は、チャー
ジポンプ単位回路92.1と同じ構成であり、偶数段の
チャージポンプ単位回路92.2,92.4,…,9
2.Nの各々は、クロック信号CLK31,CLK32
がクロック信号CLK33,CLK34で置換されるだ
けで、その他はチャージポンプ単位回路92.1と同じ
である。
【0126】したがって、この負チャージポンプ回路が
図22で示した従来の負チャージポンプ回路と異なるの
は、チャージポンプ単位回路92.1〜92.Nの各々
に倍電圧回路97が設けられている点である。この倍電
圧回路97によってクロック信号CLK32の2倍の振
幅を有するクロック信号CLK32′を生成し、このク
ロック信号CLK32′を用いてPチャネルMOSトラ
ンジスタ93のゲート電位VGを降圧するので、クロッ
ク信号CLK32でPチャネルMOSトランジスタ11
3のゲート電位VGを降圧していた従来に比べ、ゲート
電位VGが低くなりPチャネルMOSトランジスタの導
通抵抗値が小さくなる。したがって、チャージポンプ単
位回路92.1〜92.Nの各々における負電荷の伝達
効率が高くなり、フラッシュメモリの電源電圧VCCの
低減化が進められた場合でも負の高電圧を容易に生成で
きる。
【0127】実施の形態3と比較すると、NチャネルM
OSトランジスタ74は抵抗素子94で置換したので降
圧時に負電荷が抵抗素子94を介して入力ノードN92
にリークする点で劣るが、クロック信号CLKの数が少
なくて済む点および回路構成が簡単になる点で優れてい
る。
【0128】なお、この実施の形態4では、倍電圧回路
97をチャージポンプ単位回路92.1〜92.Nの各
々に設けたが、倍電圧回路97を複数のチャージポンプ
単位回路に共通に設けてもよい。また、倍電圧回路97
を図9で示したような振幅変換回路50で置換してもよ
い。
【0129】また、この実施の形態4では、偶数段のチ
ャージポンプ単位回路92.1〜92.Nを設けたが、
奇数段のチャージポンプ単位回路92.1〜92.N−
1を設けてもよい。
【0130】図18は、実施の形態4の変更例による負
チャージポンプ回路の初段のチャージポンプ単位回路9
8.1の構成を示す回路ブロック図である。図18にお
いて、このチャージポンプ単位回路98.1が図17
(b)のチャージポンプ単位回路92.1と異なる点
は、抵抗素子94がダイオード99で置換されている点
である。ダイオード99のアノードはPチャネルMOS
トランジスタ93のゲートに接続され、そのカソードは
入力ノードN92に接続される。
【0131】この変更例では、抵抗素子94をダイオー
ド99で置換したので、PチャネルMOSトランジスタ
93のゲートの負電荷はダイオード99で阻止され、入
力ノードN92にリークすることがない点で図17
(b)のチャージポンプ単位回路92.1よりも優れて
いる。しかし、クロック信号CLK31が「L」レベル
に立下がったときに、入力ノードN92の電位VIにダ
イオード99の拡散電位Vdを加算した電位VI+Vd
にしかゲート電位VGが降圧されない点で、そのときに
ゲート電位VGが入力電位VIに等しくなる図17
(b)のチャージポンプ単位回路92.1よりも劣る。
【0132】なお、今回開示された実施の形態は全ての
点で例示であって、制限的なものではないと考えられる
べきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特
許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の
意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意
図される。
【0133】
【発明の効果】以上のように、請求項1に係る発明で
は、入力ノードと出力ノードの間に接続された第1の導
電型式の第1のトランジスタと、入力ノードと第1のト
ランジスタの入力電極との間に接続された第2の導電型
式の第2のトランジスタと、クロック信号の各1周期内
の第1の期間に入力ノードを第1の電圧だけ昇圧または
降圧させる第1の駆動回路と、第1の期間内の第2の期
間は第1および第2のトランジスタの入力電極を接続し
て第2のトランジスタを非導通にし、それ以外の期間は
第2のトランジスタの入力電極に活性化電位を与えて導
通させる第1の切換回路と、第2の期間内の第3の期間
に第1のトランジスタの入力電極を第2の電圧だけ昇圧
または降圧させて第1のトランジスタを導通させる第2
の駆動回路とを備える。したがって、入力ノードと第1
のトランジスタの入力電極との間に抵抗素子を接続して
いた従来のように第1のトランジスタの入力電極を昇圧
または降圧したときに第1のトランジスタの入力電極の
正電荷または負電荷が入力ノードに逆流しないので、、
第1のトランジスタの抵抗値を小さくすることができ、
電荷の転送を効率よく行なうことができる。
【0134】請求項2に係る発明では、請求項1に係る
発明の第1の電圧は電源電圧であり、第2の電圧は電源
電圧よりも大きく、第2の駆動回路は、第3の期間は第
1の電位になり、それ以外の期間は第2の電位になり、
その振幅が電源電圧である基準クロック信号を受け、そ
の基準クロック信号の振幅を第2の電圧に変換して出力
する振幅変換回路と、その一方電極が振幅変換回路の出
力クロック信号を受け、その他方電極が第1のトランジ
スタの入力電極に接続された第1のキャパシタとを含
む。この場合は、第1のトランジスタの抵抗値を一層小
さくすることができ、電荷の転送を一層効率よく行なう
ことができる。
【0135】請求項3に係る発明では、請求項2に係る
発明の第2の電圧は電源電圧の2倍の電圧であり、振幅
変換回路は、第2のキャパシタと、基準クロック信号が
第2または第1の電位である期間は第2のキャパシタの
一方電極に電源電位を与えるとともにその他方電極に接
地電位を与えて第2のキャパシタを電源電圧に充電する
充電回路と、基準クロック信号が第1または第2の電位
である期間は充電回路によって充電された第2のキャパ
シタの他方電極に電源電位を与えるとともにその一方電
極を第1のキャパシタの一方電極に接続し、基準クロッ
ク信号が第2または第1の電位である期間は第1のキャ
パシタの一方電極に接地電位を与える第2の切換回路と
を含む。この場合は、第1のトランジスタの入力電極を
電源電圧の2倍の電圧だけ昇圧または降圧させることが
でき、第1のトランジスタの抵抗値を十分に小さくでき
る。
【0136】請求項4に係る発明では、請求項2に係る
発明の振幅変換回路は、内部電源ノードに正電荷を供給
する内部チャージポンプ回路と、内部電源ノードが予め
定められた基準電位になるように内部チャージポンプ回
路を制御する制御回路と、基準クロック信号が第1また
は第2の電位である期間は第1のキャパシタの一方電極
を内部電源ノードに接続し、基準クロック信号が第2ま
たは第1の電位である期間は第1のキャパシタの一方電
極に接地電位を与える第2の切換回路とを含む。この場
合は、基準電位を所望のレベルに設定することで第1の
トランジスタの入力電極を所望の電圧だけ昇圧または降
圧させることができ、第1のトランジスタの抵抗値を十
分に小さくできる。
【0137】請求項5に係る発明では、入力ノードと出
力ノードの間に接続されたトランジスタと、入力ノード
とトランジスタの入力電極との間に接続された抵抗素子
と、クロック信号の各1周期内の第1の期間に入力ノー
ドを電源電圧だけ昇圧または降圧させる第1の駆動回路
と、第1の期間内の第2の期間にトランジスタの入力電
極を電源電圧よりも大きな予め定められた電圧だけ昇圧
または降圧させてトランジスタを導通させる第2の駆動
回路とを備える。この第1の駆動回路は、第2の期間は
第1の電位になり、それ以外の期間は第2の電位にな
り、その振幅が電源電圧である基準クロック信号を受
け、その基準クロック信号の振幅を予め定められた電圧
に変換して出力する振幅変換回路と、その一方電極が振
幅変換回路の出力クロック信号を受け、その他方電極が
トランジスタの入力電極に接続された第1のキャパシタ
とを含む。したがって、トランジスタの入力電極を電源
電圧だけで昇圧または降圧していた従来に比べ、トラン
ジスタの抵抗値を小さくすることができ、電荷の転送を
効率よく行なうことができる。
【0138】請求項6に係る発明は、入力ノードと出力
ノードの間に接続されたトランジスタと、入力ノードと
トランジスタの入力電極との間に接続されたダイオード
素子と、クロック信号の各1周期内の第1の期間に入力
ノードを電源電圧だけ昇圧または降圧させる第1の駆動
回路と、第1の期間内の第2の期間にトランジスタの入
力電極を電源電圧よりも大きな予め定められた電圧だけ
昇圧または降圧させてトランジスタを導通させる第2の
駆動回路とを備える。この第2の駆動回路は、第2の期
間は第1の電位になり、それ以外の期間は第2の電位に
なり、その振幅が電源電圧である基準クロック信号を受
け、その基準クロック信号の振幅を予め定められた電圧
に変換して出力する振幅変換回路と、その一方電極が振
幅変換回路の出力クロック信号を受け、その他方電極が
トランジスタの入力電極に接続される第1のキャパシタ
とを含む。したがって、トランジスタの入力電極を電源
電圧だけで昇圧または降圧していた従来に比べ、トラン
ジスタの抵抗値を小さくすることができ、電荷の転送を
効率よく行なうことができる。また、トランジスタの入
力電極を昇圧または降圧したときにトランジスタの入力
電極の正電荷または負電荷が入力ノードに逆流しないの
で、トランジスタの抵抗値を小さくすることができ、電
荷の転送を効率よく行なうことができる。
【0139】請求項7に係る発明では、請求項5または
6に係る発明の予め定められた電圧は電源電圧の2倍の
電圧であり、振幅変換回路は、第2のキャパシタと、基
準クロック信号が第2または第1の電位である期間は第
2のキャパシタの一方電極に電源電位を与えるとともに
その他方電極に接地電位を与えて第2のキャパシタを電
源電圧に充電する充電回路と、基準クロック信号が第1
または第2の電位である期間は第2のキャパシタの他方
電極に電源電位を与えるとともにその一方電極を第1の
キャパシタの一方電極に接続し、基準クロック信号が第
2または第1の電位である期間は第1のキャパシタの一
方電極に接地電位を与える第2の切換回路とを含む。こ
の場合は、トランジスタの入力電極を電源電圧の2倍の
電圧だけ昇圧または降圧させることができ、トランジス
タの抵抗値を十分小さくできる。
【0140】請求項8に係る発明では、請求項5または
6に係る発明の振幅変換回路は、内部電源ノードに正電
荷を供給する内部チャージポンプ回路と、内部電源ノー
ドが予め定められた基準電位になるようにチャージポン
プ回路を制御する制御回路と、基準クロック信号が第1
または第2の電位である期間は第1のキャパシタの一方
電極を内部電源ノードに接続し、基準クロック信号が第
2または第1の電位である期間は第1のキャパシタの一
方電極に接地電位を与える第2の切換回路とを含む。こ
の場合は、基準電位を所望のレベルに設定することでト
ランジスタの入力電極を所望の電圧だけ昇圧または降圧
させることができ、トランジスタの抵抗値を十分小さく
できる。
【0141】請求項9に係る発明では、請求項1から8
のいずれかに係る発明のチャージポンプ回路が、不揮発
性半導体記憶装置内に設けられている。この場合は、不
揮発性半導体記憶装置の電源電圧の低減化が進められた
場合でも、高電圧を容易に生成できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1によるフラッシュメ
モリの構成を示すブロック図である。
【図2】 図1に示したメモリセルの構成およびその動
作を説明するための断面図である。
【図3】 図2に示したメモリセルの動作を説明するた
めの図である。
【図4】 図1に示した正チャージポンプ回路の構成を
示す回路ブロック図である。
【図5】 図4に示した倍電圧回路の構成を示す回路図
である。
【図6】 図5に示した倍電圧回路の動作を示すタイム
チャートである。
【図7】 図4に示したクロック信号CLK1〜CLK
6の波形図である。
【図8】 図4に示したチャージポンプ単位回路の動作
を示す波形図である。
【図9】 実施の形態1の変更例を示す回路ブロック図
である。
【図10】 図9に示した振幅変換回路の動作を示すタ
イムチャートである。
【図11】 この発明の実施の形態2による正チャージ
ポンプ回路の構成を示す回路ブロック図である。
【図12】 実施の形態2の変更例を示す回路ブロック
図である。
【図13】 この発明の実施の形態3による負チャージ
ポンプ回路の構成を示す回路ブロック図である。
【図14】 図13に示した信号重畳回路の構成を示す
回路図である。
【図15】 図13に示したクロック信号CLK21〜
CLK26の波形図である。
【図16】 図13に示したチャージポンプ単位回路の
動作を示す波形図である。
【図17】 この発明の実施の形態4による負チャージ
ポンプ回路の構成を示す回路ブロック図である。
【図18】 実施の形態4の変更例を示す回路ブロック
図である。
【図19】 従来の正チャージポンプ回路の構成を示す
回路ブロック図である。
【図20】 図19に示したクロック信号CLK11〜
CLK14の波形図である。
【図21】 図10に示したチャージポンプ単位回路の
動作を示す波形図である。
【図22】 従来の負チャージポンプ回路の構成を示す
回路ブロック図である。
【図23】 図22に示したクロック信号CLK31〜
CLK34の波形図である。
【図24】 図22に示したチャージポンプ単位回路の
動作を示す波形図である。
【符号の説明】
1 メモリアレイ、2 アドレスバッファ、3 Xデコ
ーダ、4 Yデコーダ、5 書込/読出回路、6 入出
力バッファ、7 正チャージポンプ回路、8負チャージ
ポンプ回路、9 ディストリビュータ、10 制御回
路、WL ワード線、SL ソース線、SG 選択ゲー
ト、SBL 副ビット線、MBL 主ビット線、BLK
メモリブロック、11 ウェル、12d ドレイン、
12sソース、13 浮遊ゲート、14 制御ゲート、
21,23,24,33,34,47,48,56,5
7,61,63,74,86,87,101,103N
チャネルMOSトランジスタ、22,62,68,7
2,92,98,102,112 チャージポンプ単位
回路、25,31,32,44〜46,54,55,7
1,73,82〜85,91,93,113 Pチャネ
ルMOSトランジスタ、26,27,43,65,6
6,75,76,95,96,105,106,11
5,116 キャパシタ、28,58 切換回路、3
5,41,42,58 インバータ、36,67,7
8,97 倍電圧回路、52 電位検出回路、64,9
4,104,114 抵抗素子、69,99 ダイオー
ド、77 信号重畳回路。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 クロック信号に同期して入力ノードの正
    電荷または負電荷を出力ノードに転送させるチャージポ
    ンプ回路であって、 前記入力ノードと前記出力ノードの間に接続された第1
    または第2の導電形式の第1のトランジスタ、 前記入力ノードと前記第1のトランジスタの入力電極と
    の間に接続された第2の導電形式の第2のトランジス
    タ、 前記クロック信号の各1周期内の第1の期間に前記入力
    ノードを予め定められた第1の電圧だけ昇圧または降圧
    させる第1の駆動回路、 前記第1の期間内の第2の期間は前記第2のトランジス
    タの入力電極を前記第1のトランジスタの入力電極に接
    続して前記第2のトランジスタを非導通にし、それ以外
    の期間は前記第2のトランジスタの入力電極に活性化電
    位を与えて前記第2のトランジスタを導通させる第1の
    切換回路、および前記第2の期間内の第3の期間に前記
    第1のトランジスタの入力電極を予め定められた第2の
    電圧だけ昇圧または降圧させて前記第1のトランジスタ
    を導通させ、前記入力ノードの正電荷または負電荷を出
    力ノードに転送させる第2の駆動回路を備える、チャー
    ジポンプ回路。
  2. 【請求項2】 前記予め定められた第1の電圧は電源電
    圧であり、 前記予め定められた第2の電圧は前記電源電圧よりも大
    きく、 前記第2の駆動回路は、 前記クロック信号と同じ周期を有し、各1周期内におい
    て前記第3の期間は第1の電位になり、それ以外の期間
    は第2の電位になり、その振幅が前記電源電圧である基
    準クロック信号を受け、その基準クロック信号の振幅を
    前記予め定められた第2の電圧に変換して出力する振幅
    変換回路、およびその一方電極が前記振幅変換回路の出
    力クロック信号を受け、その他方電極が前記第1のトラ
    ンジスタの入力電極に接続された第1のキャパシタを含
    む、請求項1に記載のチャージポンプ回路。
  3. 【請求項3】 前記予め定められた第2の電圧は、前記
    電源電圧の2倍の電圧であり、 前記振幅変換回路は、 第2のキャパシタ、 前記基準クロック信号が前記第2または第1の電位であ
    る期間は前記第2のキャパシタの一方電極に電源電位を
    与えるとともにその他方電極に接地電位を与え、前記第
    2のキャパシタを電源電圧に充電する充電回路、および
    前記基準クロック信号が前記第1または第2の電位であ
    る期間は前記充電回路によって充電された前記第2のキ
    ャパシタの他方電極に前記電源電位を与えるとともにそ
    の一方電極を前記第1のキャパシタの一方電極に接続
    し、前記基準クロック信号が前記第2または第1の電位
    である期間は前記第1のキャパシタの一方電極に前記接
    地電位を与える第2の切換回路を含む、請求項2に記載
    のチャージポンプ回路。
  4. 【請求項4】 前記振幅変換回路は、 内部電源ノードに正電荷を供給する内部チャージポンプ
    回路、 前記内部電源ノードが予め定められた基準電位になるよ
    うに前記内部チャージポンプ回路を制御する制御回路、
    および前記基準クロック信号が前記第1または第2の電
    位である期間は前記第1のキャパシタの一方電極を前記
    内部電源ノードに接続し、前記基準クロック信号が前記
    第2または第1の電位である期間は前記第1のキャパシ
    タの一方電極に前記接地電位を与える第2の切換回路を
    含む、請求項2に記載のチャージポンプ回路。
  5. 【請求項5】 クロック信号に同期して入力ノードの正
    電荷または負電荷を出力ノードに転送させるチャージポ
    ンプ回路であって、 前記入力ノードと前記出力ノードの間に接続されたトラ
    ンジスタ、 前記入力ノードと前記トランジスタの入力電極との間に
    接続された抵抗素子、 前記クロック信号の各1周期内の第1の期間に前記入力
    ノードを電源電圧だけ昇圧または降圧させる第1の駆動
    回路、および前記第1の期間内の第2の期間に前記トラ
    ンジスタの入力電極を前記電源電圧よりも大きな予め定
    められた電圧だけ昇圧または降圧させて前記トランジス
    タを導通させ、前記入力ノードの正電荷または負電荷を
    出力ノードに転送させる第2の駆動回路を備え、 前記第2の駆動回路は、 前記クロック信号と同じ周期を有し、各1周期内におい
    て前記第2の期間は第1の電位になり、それ以外の期間
    は第2の電位になり、その振幅が前記電源電圧である基
    準クロック信号を受け、その基準クロック信号の振幅を
    前記予め定められた電圧に変換して出力する振幅変換回
    路、およびその一方電極が前記振幅変換回路の出力クロ
    ック信号を受け、その他方電極が前記トランジスタの入
    力電極に接続された第1のキャパシタを含む、チャージ
    ポンプ回路。
  6. 【請求項6】 クロック信号に同期して入力ノードの正
    電荷または負電荷を出力ノードに転送させるチャージポ
    ンプ回路であって、 前記入力ノードと前記出力ノードの間に接続されたトラ
    ンジスタ、 前記入力ノードと前記トランジスタの入力電極との間に
    接続され、前記トランジスタの入力電極の正電荷または
    負電荷が前記入力ノードに流れるのを防止するためのダ
    イオード素子、 前記クロック信号の各1周期内の第1の期間に前記入力
    ノードを電源電圧だけ昇圧または降圧させる第1の駆動
    回路、および前記第1の期間内の第2の期間に前記トラ
    ンジスタの入力電極を前記電源電圧よりも大きな予め定
    められた電圧だけ昇圧または降圧させて前記トランジス
    タを導通させ、前記入力ノードの正電荷または負電荷を
    出力ノードに転送させる第2の駆動回路を備え、 前記第2の駆動回路は、 前記クロック信号と同じ周期を有し、各1周期内におい
    て前記第2の期間は第1の電位になり、それ以外の期間
    は第2の電位になり、その振幅が前記電源電圧である基
    準クロック信号を受け、その基準クロック信号の振幅を
    前記予め定められた電圧に変換して出力する振幅変換回
    路、およびその一方電極が前記振幅変換回路の出力クロ
    ック信号を受け、その他方電極が前記トランジスタの入
    力電極に接続された第1のキャパシタを含む、チャージ
    ポンプ回路。
  7. 【請求項7】 前記予め定められた電圧は、前記電源電
    圧の2倍の電圧であり、 前記振幅変換回路は、 第2のキャパシタ、 前記基準クロック信号が前記第2または第1の電位であ
    る期間は前記第2のキャパシタの一方電極に電源電位を
    与えるとともにその他方電極に接地電位を与え、前記第
    2のキャパシタを前記電源電圧に充電する充電回路、お
    よび前記基準クロック信号が前記第1または第2の電位
    である期間は前記充電回路によって充電された前記第2
    のキャパシタの他方電極に前記電源電位を与えるととも
    にその一方電極を前記第1のキャパシタの一方電極に接
    続し、前記基準クロック信号が前記第2または第1の電
    位である期間は前記第1のキャパシタの一方電極に前記
    接地電位を与える第2の切換回路を含む、請求項5また
    は請求項6に記載のチャージポンプ回路。
  8. 【請求項8】 前記振幅変換回路は、 内部電源ノードに正電荷または負電荷を供給する内部チ
    ャージポンプ回路、 前記内部電源ノードが予め定められた基準電位になるよ
    うに前記チャージポンプ回路を制御する制御回路、およ
    び前記基準クロック信号が前記第1または第2の電位で
    ある期間は前記第1のキャパシタの一方電極を前記内部
    電源ノードに接続し、前記基準クロック信号が前記第2
    または第1の電位である期間は前記第1のキャパシタの
    一方電極に前記接地電位を与える第2の切換回路を含
    む、請求項5または請求項6に記載のチャージポンプ回
    路。
  9. 【請求項9】 前記チャージポンプ回路は、不揮発性半
    導体記憶装置内に設けられている、請求項1から請求項
    8のいずれかに記載のチャージポンプ回路。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006066051A (ja) * 2004-08-26 2006-03-09 Hynix Semiconductor Inc 半導体装置の高電圧スイッチ回路
JP2006311703A (ja) * 2005-04-28 2006-11-09 Seiko Instruments Inc チャージポンプ回路を有する電子機器
JP2007159386A (ja) * 2005-11-08 2007-06-21 Toshiba Corp 半導体チャージポンプ
JP2008027509A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Seiko Epson Corp 昇圧回路及び不揮発性メモリ装置
JP2013257938A (ja) * 2006-09-13 2013-12-26 Mosaid Technologies Inc フラッシュのマルチレベル閾値分布方式

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW494631B (en) * 2000-01-26 2002-07-11 Sanyo Electric Co Charge pump circuit
KR100376132B1 (ko) * 2001-03-28 2003-03-15 삼성전자주식회사 전압 발생회로 및 방법
JP2003168288A (ja) * 2001-11-29 2003-06-13 Nec Microsystems Ltd 半導体昇圧回路、昇圧電源装置
CN1219352C (zh) * 2001-12-17 2005-09-14 松下电器产业株式会社 放大电路
ITTO20040791A1 (it) * 2004-11-11 2005-02-11 St Microelectronics Srl Dispositivo a pompa di carica con aumentata erogazione di corrente
KR100636508B1 (ko) * 2004-11-11 2006-10-18 삼성에스디아이 주식회사 차지펌프 회로와 이를 이용한 직류 변환장치
FR2886783B1 (fr) * 2005-06-03 2008-02-01 Atmel Corp Pompe a charge bi-directionnelle a haut rendement
WO2006132757A2 (en) * 2005-06-03 2006-12-14 Atmel Corporation High efficiency bi-directional charge pump circuit
WO2007084496A2 (en) * 2006-01-17 2007-07-26 Broadcom Corporation Power over ethernet controller integrated circuit architecture
KR100746616B1 (ko) * 2006-03-27 2007-08-08 주식회사 하이닉스반도체 스윙폭조절회로 및 이를 이용한 고전압 펌핑회로
US7855591B2 (en) * 2006-06-07 2010-12-21 Atmel Corporation Method and system for providing a charge pump very low voltage applications
EP1903653B1 (en) * 2006-08-31 2018-09-26 Avago Technologies General IP (Singapore) Pte. Ltd. Over-voltage protection for power and data applications
KR100842744B1 (ko) * 2006-11-20 2008-07-01 주식회사 하이닉스반도체 클럭조절회로 및 이를 이용한 전압펌핑장치
US7894220B2 (en) * 2008-03-27 2011-02-22 Elite Semiconductor Memory Technology Inc. Voltage generating circuit
KR20100049758A (ko) * 2008-11-04 2010-05-13 삼성전자주식회사 승압 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치
JP5385220B2 (ja) * 2010-06-30 2014-01-08 ルネサスエレクトロニクス株式会社 不揮発性メモリ、データ処理装置、及びマイクロコンピュータ応用システム
KR101204569B1 (ko) * 2010-12-03 2012-11-23 에스케이하이닉스 주식회사 고전압 발생기 및 고전압 발생 방법
EP3355459B1 (en) * 2017-01-30 2020-01-29 ams AG Voltage converter and method for voltage conversion
US10847227B2 (en) * 2018-10-16 2020-11-24 Silicon Storage Technology, Inc. Charge pump for use in non-volatile flash memory devices

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR0172850B1 (ko) * 1995-11-23 1999-03-30 문정환 고효율 전하 펌프회로
JPH10247386A (ja) * 1997-03-03 1998-09-14 Mitsubishi Electric Corp 昇圧電位供給回路及び半導体記憶装置
KR100273208B1 (ko) * 1997-04-02 2000-12-15 김영환 반도체메모리장치의고효율전하펌프회로
US6078212A (en) * 1997-08-18 2000-06-20 Micron Technology, Inc. VT cancellation in output stage of charge pump
US5886566A (en) * 1997-08-21 1999-03-23 Integrated Silicon Solution, Inc. High voltage charge transfer stage

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006066051A (ja) * 2004-08-26 2006-03-09 Hynix Semiconductor Inc 半導体装置の高電圧スイッチ回路
JP2006311703A (ja) * 2005-04-28 2006-11-09 Seiko Instruments Inc チャージポンプ回路を有する電子機器
JP2007159386A (ja) * 2005-11-08 2007-06-21 Toshiba Corp 半導体チャージポンプ
JP2008027509A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Seiko Epson Corp 昇圧回路及び不揮発性メモリ装置
JP2013257938A (ja) * 2006-09-13 2013-12-26 Mosaid Technologies Inc フラッシュのマルチレベル閾値分布方式
US9263146B2 (en) 2006-09-13 2016-02-16 Conversant Intellectual Property Management Inc. Flash multi-level threshold distribution scheme

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