JP2000306765A - 積層セラミック電子部品 - Google Patents
積層セラミック電子部品Info
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- JP2000306765A JP2000306765A JP11111994A JP11199499A JP2000306765A JP 2000306765 A JP2000306765 A JP 2000306765A JP 11111994 A JP11111994 A JP 11111994A JP 11199499 A JP11199499 A JP 11199499A JP 2000306765 A JP2000306765 A JP 2000306765A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 デラミネーションやクラックなどの構造欠陥
が発生しにくく、耐衝撃性や耐候性に優れた信頼性の高
い積層セラミック電子部品を提供する。 【解決手段】 セラミック層1aを介して互いに対向す
るように複数の内部電極2が配設された構造を有するセ
ラミック素子1の、内部電極2と該内部電極2間のセラ
ミック層1aにより形成される機能素子部20の周囲に
配設され、機能素子部20が外部に露出しないように囲
繞する保護機能部21の少なくとも一部を樹脂4により
形成する。また、内部電極と該内部電極間のセラミック
層により形成される機能素子部の少なくとも一部が露出
した状態のセラミック素子を、単独で又は他の部品とと
もに基板上に実装した状態で、樹脂によりモールドする
か、又はケースに収納する。
が発生しにくく、耐衝撃性や耐候性に優れた信頼性の高
い積層セラミック電子部品を提供する。 【解決手段】 セラミック層1aを介して互いに対向す
るように複数の内部電極2が配設された構造を有するセ
ラミック素子1の、内部電極2と該内部電極2間のセラ
ミック層1aにより形成される機能素子部20の周囲に
配設され、機能素子部20が外部に露出しないように囲
繞する保護機能部21の少なくとも一部を樹脂4により
形成する。また、内部電極と該内部電極間のセラミック
層により形成される機能素子部の少なくとも一部が露出
した状態のセラミック素子を、単独で又は他の部品とと
もに基板上に実装した状態で、樹脂によりモールドする
か、又はケースに収納する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本願発明は、セラミック層と
内部電極が積層された構造を有する積層セラミック電子
部品に関する。
内部電極が積層された構造を有する積層セラミック電子
部品に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】積層セ
ラミック電子部品の代表的なものの一つである積層セラ
ミックコンデンサは、例えば、図8に示すように、セラ
ミック素子51中に、セラミック層51aを介して互い
に対向するように複数の内部電極52が配設され、か
つ、交互に逆側の端面に引き出されているとともに、端
面に引き出された内部電極52と導通するように、セラ
ミック素子51の両端面に一対の外部電極53が配設さ
れた構造を有している。
ラミック電子部品の代表的なものの一つである積層セラ
ミックコンデンサは、例えば、図8に示すように、セラ
ミック素子51中に、セラミック層51aを介して互い
に対向するように複数の内部電極52が配設され、か
つ、交互に逆側の端面に引き出されているとともに、端
面に引き出された内部電極52と導通するように、セラ
ミック素子51の両端面に一対の外部電極53が配設さ
れた構造を有している。
【0003】なお、この積層セラミックコンデンサにお
いては、内部電極52とこの内部電極52間のセラミッ
ク層51aにより形成される機能素子部60(図8
(b))が外部に露出しないように、保護機能部61とし
て、内部電極52の両側には、内部電極52が形成され
ていない部分(サイドギャップ)54が設けられてお
り、上下両面側には、内部電極の配設されていないセラ
ミックグリーンシートを積層することにより形成された
外層55が設けられている。すなわち、従来の積層セラ
ミック電子部品においては、機能素子部60(図8
(b))が外部に露出しないように、サイドギャップ54
及び外層55からなる保護機能部61(図8(b))によ
り囲繞されるように構成されている。
いては、内部電極52とこの内部電極52間のセラミッ
ク層51aにより形成される機能素子部60(図8
(b))が外部に露出しないように、保護機能部61とし
て、内部電極52の両側には、内部電極52が形成され
ていない部分(サイドギャップ)54が設けられてお
り、上下両面側には、内部電極の配設されていないセラ
ミックグリーンシートを積層することにより形成された
外層55が設けられている。すなわち、従来の積層セラ
ミック電子部品においては、機能素子部60(図8
(b))が外部に露出しないように、サイドギャップ54
及び外層55からなる保護機能部61(図8(b))によ
り囲繞されるように構成されている。
【0004】ところで、積層セラミックコンデンサにお
いては、小型化、高容量化への要求に応えるために、素
子厚(セラミック層51aを介して互いに対向する内部
電極52の間隔)を薄くしたり、内部電極52の積層枚
数を増やしたりすることが行われているが、素子厚を薄
くしたり、内部電極の積層枚数を増やしたりするにつれ
て、内部電極とセラミックの熱膨張率の差や、焼結時の
収縮挙動の不整合性などから、デラミネーションやクラ
ックなどの構造欠陥が発生しやすくなり、信頼性が低下
するという問題が生じる。
いては、小型化、高容量化への要求に応えるために、素
子厚(セラミック層51aを介して互いに対向する内部
電極52の間隔)を薄くしたり、内部電極52の積層枚
数を増やしたりすることが行われているが、素子厚を薄
くしたり、内部電極の積層枚数を増やしたりするにつれ
て、内部電極とセラミックの熱膨張率の差や、焼結時の
収縮挙動の不整合性などから、デラミネーションやクラ
ックなどの構造欠陥が発生しやすくなり、信頼性が低下
するという問題が生じる。
【0005】また、このような構造欠陥を、製造工程で
の加工条件を変更することにより抑制するようにした場
合にも、内部に大きな応力が残留することになり、外部
からの機械的衝撃や、熱的衝撃により、サイドギャップ
54や外層55などが破損して、内部の機能素子部60
を保護する機能を果たさなくなるという問題点がある。
の加工条件を変更することにより抑制するようにした場
合にも、内部に大きな応力が残留することになり、外部
からの機械的衝撃や、熱的衝撃により、サイドギャップ
54や外層55などが破損して、内部の機能素子部60
を保護する機能を果たさなくなるという問題点がある。
【0006】また、内部電極52の積層枚数が増える
と、積層セラミック電子部品の製造工程で、内部電極パ
ターンを配設したセラミックグリーンシートを積層して
圧着する場合に、内部電極52の両側のサイドギャップ
54では、内部電極が存在しない分だけ密度が低くな
り、十分に圧下することができずに、層間での剥がれが
生じやすいという問題点がある。
と、積層セラミック電子部品の製造工程で、内部電極パ
ターンを配設したセラミックグリーンシートを積層して
圧着する場合に、内部電極52の両側のサイドギャップ
54では、内部電極が存在しない分だけ密度が低くな
り、十分に圧下することができずに、層間での剥がれが
生じやすいという問題点がある。
【0007】本願発明は、上記問題点を解決するもので
あり、デラミネーションやクラックなどの構造欠陥が発
生しにくく、耐衝撃性や耐候性に優れ、信頼性の高い積
層セラミック電子部品を提供することを目的とする。
あり、デラミネーションやクラックなどの構造欠陥が発
生しにくく、耐衝撃性や耐候性に優れ、信頼性の高い積
層セラミック電子部品を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本願発明の積層セラミック電子部品は、セラミック
層を介して互いに対向するように複数の内部電極が配設
された構造を有するセラミック素子の、内部電極と該内
部電極間のセラミック層により形成される機能素子部の
周囲に配設され、前記機能素子部が外部に露出しないよ
うに囲繞する保護機能部の少なくとも一部を樹脂により
形成したことを特徴としている。
に、本願発明の積層セラミック電子部品は、セラミック
層を介して互いに対向するように複数の内部電極が配設
された構造を有するセラミック素子の、内部電極と該内
部電極間のセラミック層により形成される機能素子部の
周囲に配設され、前記機能素子部が外部に露出しないよ
うに囲繞する保護機能部の少なくとも一部を樹脂により
形成したことを特徴としている。
【0009】保護機能部の少なくとも一部を樹脂により
形成するようにした場合、保護機能部全体をセラミック
により形成するようにした従来の積層セラミック電子部
品の場合に比べて、内部電極とセラミックの熱膨張率の
差や、焼結時の収縮挙動の不整合性などに起因する、デ
ラミネーションやクラックなどの構造欠陥の発生を抑制
することが可能になり、信頼性を向上させることが可能
になる。
形成するようにした場合、保護機能部全体をセラミック
により形成するようにした従来の積層セラミック電子部
品の場合に比べて、内部電極とセラミックの熱膨張率の
差や、焼結時の収縮挙動の不整合性などに起因する、デ
ラミネーションやクラックなどの構造欠陥の発生を抑制
することが可能になり、信頼性を向上させることが可能
になる。
【0010】また、積み重ね方向に平行な側面を樹脂に
より囲繞するようにした場合、該側面が樹脂により絶縁
されるため、比較的薄い厚みで絶縁を行うことができ、
セラミック素子の側面に達するまで内部電極を形成する
ことが可能になり、内部電極の両側にサイドギャップを
設けるようにした従来のセラミック素子に比べて、取得
容量を犠牲にすることなくセラミック素子を小型化する
ことが可能になる。そして、そのようにした場合には、
内部電極の両側にサイドギャップを設けるようにした従
来の積層セラミック電子部品において、内部電極の積層
枚数が増えたときに生じるような、サイドギャップでの
圧下が不十分になることに起因する層間での剥がれの発
生を防止することが可能になり、信頼性を向上させるこ
とが可能になる。
より囲繞するようにした場合、該側面が樹脂により絶縁
されるため、比較的薄い厚みで絶縁を行うことができ、
セラミック素子の側面に達するまで内部電極を形成する
ことが可能になり、内部電極の両側にサイドギャップを
設けるようにした従来のセラミック素子に比べて、取得
容量を犠牲にすることなくセラミック素子を小型化する
ことが可能になる。そして、そのようにした場合には、
内部電極の両側にサイドギャップを設けるようにした従
来の積層セラミック電子部品において、内部電極の積層
枚数が増えたときに生じるような、サイドギャップでの
圧下が不十分になることに起因する層間での剥がれの発
生を防止することが可能になり、信頼性を向上させるこ
とが可能になる。
【0011】また、セラミック素子の上下両面側を樹脂
により囲繞するようにした場合、これまた、比較的薄い
厚みで絶縁を行うことができ、セラミックからなる外層
が保護機能部を形成している従来の積層セラミック電子
部品の場合に比べて、セラミック素子の積み重ね方向一
杯にまで、内部電極を積み重ねることが可能になり、内
部電極の積層枚数を増やして、特性の向上を図ることが
可能になる。
により囲繞するようにした場合、これまた、比較的薄い
厚みで絶縁を行うことができ、セラミックからなる外層
が保護機能部を形成している従来の積層セラミック電子
部品の場合に比べて、セラミック素子の積み重ね方向一
杯にまで、内部電極を積み重ねることが可能になり、内
部電極の積層枚数を増やして、特性の向上を図ることが
可能になる。
【0012】なお、セラミック素子の、外部電極の形成
されていない面のすべてを樹脂により囲繞することによ
り、セラミック自体が露出している面をなくして、外部
からの衝撃や雰囲気による影響を受けにくくして、さら
に信頼性を向上させることができる。
されていない面のすべてを樹脂により囲繞することによ
り、セラミック自体が露出している面をなくして、外部
からの衝撃や雰囲気による影響を受けにくくして、さら
に信頼性を向上させることができる。
【0013】また、請求項2の積層セラミック電子部品
は、セラミック層を介して互いに対向するように複数の
内部電極が配設されているとともに、内部電極と導通す
るように外部電極が配設され、内部電極と該内部電極間
のセラミック層により形成される機能素子部の少なくと
も一部が露出した状態のセラミック素子の前記外部電極
にリード端子を取り付け、前記リード端子の少なくとも
一部を露出させた状態で、全体を樹脂により囲繞したこ
とを特徴としている。
は、セラミック層を介して互いに対向するように複数の
内部電極が配設されているとともに、内部電極と導通す
るように外部電極が配設され、内部電極と該内部電極間
のセラミック層により形成される機能素子部の少なくと
も一部が露出した状態のセラミック素子の前記外部電極
にリード端子を取り付け、前記リード端子の少なくとも
一部を露出させた状態で、全体を樹脂により囲繞したこ
とを特徴としている。
【0014】外部電極にリード端子を取り付け、リード
端子の少なくとも一部を露出させた状態で、全体を樹脂
により囲繞するようにした場合、樹脂の保護機能によ
り、デラミネーションやクラックなどの構造欠陥の発生
を抑制して、信頼性の高い端子付の積層セラミック電子
部品を得ることが可能になる。
端子の少なくとも一部を露出させた状態で、全体を樹脂
により囲繞するようにした場合、樹脂の保護機能によ
り、デラミネーションやクラックなどの構造欠陥の発生
を抑制して、信頼性の高い端子付の積層セラミック電子
部品を得ることが可能になる。
【0015】また、請求項3の積層セラミック電子部品
は、セラミック層を介して互いに対向するように複数の
内部電極が配設されているとともに、内部電極と導通す
るように外部電極が配設され、内部電極と該内部電極間
のセラミック層により形成される機能素子部の少なくと
も一部が露出した状態のセラミック素子が、単独で又は
他の部品とともに基板上に実装された状態で、樹脂によ
りモールドされているか、又はケースに収納されている
ことを特徴としている。
は、セラミック層を介して互いに対向するように複数の
内部電極が配設されているとともに、内部電極と導通す
るように外部電極が配設され、内部電極と該内部電極間
のセラミック層により形成される機能素子部の少なくと
も一部が露出した状態のセラミック素子が、単独で又は
他の部品とともに基板上に実装された状態で、樹脂によ
りモールドされているか、又はケースに収納されている
ことを特徴としている。
【0016】セラミック層を介して複数の内部電極を配
設するとともに、内部電極と導通するように外部電極を
配設した、機能素子部の少なくとも一部が露出した状態
のセラミック素子を、単独で又は他の部品とともに基板
上に実装された状態で、樹脂によりモールドするか又は
ケースに収納することにより、モールド樹脂やケースの
保護機能により、デラミネーションやクラックなどの構
造欠陥の発生を抑制して、信頼性の高い積層セラミック
電子部品を得ることが可能になる。
設するとともに、内部電極と導通するように外部電極を
配設した、機能素子部の少なくとも一部が露出した状態
のセラミック素子を、単独で又は他の部品とともに基板
上に実装された状態で、樹脂によりモールドするか又は
ケースに収納することにより、モールド樹脂やケースの
保護機能により、デラミネーションやクラックなどの構
造欠陥の発生を抑制して、信頼性の高い積層セラミック
電子部品を得ることが可能になる。
【0017】なお、本願発明においては、樹脂によりモ
ールドした状態で、これをケース内に収納した構成とす
ることも可能であり、その場合には、さらに保護機能を
高めて信頼性を向上させることが可能になる。
ールドした状態で、これをケース内に収納した構成とす
ることも可能であり、その場合には、さらに保護機能を
高めて信頼性を向上させることが可能になる。
【0018】また、請求項4の積層セラミック電子部品
は、セラミック層を介して互いに対向するように複数の
内部電極が配設されているとともに、内部電極と導通す
るように外部電極が配設され、内部電極と該内部電極間
のセラミック層により形成される機能素子部の少なくと
も一部が露出した状態のセラミック素子が、外部から前
記外部電極に導電接続可能な態様で樹脂ケース内に収納
されていることを特徴としている。
は、セラミック層を介して互いに対向するように複数の
内部電極が配設されているとともに、内部電極と導通す
るように外部電極が配設され、内部電極と該内部電極間
のセラミック層により形成される機能素子部の少なくと
も一部が露出した状態のセラミック素子が、外部から前
記外部電極に導電接続可能な態様で樹脂ケース内に収納
されていることを特徴としている。
【0019】セラミック素子が、外部から外部電極に導
電接続可能な態様で樹脂ケース内に収納された構成とし
た場合にも、樹脂ケースの保護機能により、デラミネー
ションやクラックなどの構造欠陥の発生を抑制して、信
頼性の高い積層セラミック電子部品を得ることが可能に
なる。
電接続可能な態様で樹脂ケース内に収納された構成とし
た場合にも、樹脂ケースの保護機能により、デラミネー
ションやクラックなどの構造欠陥の発生を抑制して、信
頼性の高い積層セラミック電子部品を得ることが可能に
なる。
【0020】また、請求項5の積層セラミック電子部品
は、前記外部電極が、導電性樹脂からなるものであるこ
とを特徴としている。
は、前記外部電極が、導電性樹脂からなるものであるこ
とを特徴としている。
【0021】外部電極を、導電性樹脂を塗布し、硬化さ
せて形成するようにした場合、ガラス成分を含む導電性
ペーストを塗布して、焼き付けることにより外部電極を
形成する場合のように、焼結後のセラミック素子に再び
大きな熱的衝撃を与えることなく積層セラミック電子部
品を製造することが可能になり、さらに確実に、構造欠
陥のない積層セラミック電子部品を製造することが可能
になり、本願発明をより実効あらしめることができる。
せて形成するようにした場合、ガラス成分を含む導電性
ペーストを塗布して、焼き付けることにより外部電極を
形成する場合のように、焼結後のセラミック素子に再び
大きな熱的衝撃を与えることなく積層セラミック電子部
品を製造することが可能になり、さらに確実に、構造欠
陥のない積層セラミック電子部品を製造することが可能
になり、本願発明をより実効あらしめることができる。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、本願発明の実施の形態を示
してその特徴とするところをさらに詳しく説明する。
してその特徴とするところをさらに詳しく説明する。
【0023】[実施形態1]なお、この実施形態1で
は、積層セラミック電子部品として、積層セラミックコ
ンデンサを例にとって説明する。図1は、本願発明の一
実施形態にかかる積層セラミックコンデンサを示す図で
あり、(a)は正面断面図、(b)は側面断面図、(c)は外
観構成を示す斜視図である。
は、積層セラミック電子部品として、積層セラミックコ
ンデンサを例にとって説明する。図1は、本願発明の一
実施形態にかかる積層セラミックコンデンサを示す図で
あり、(a)は正面断面図、(b)は側面断面図、(c)は外
観構成を示す斜視図である。
【0024】この実施形態1の積層セラミックコンデン
サAにおいては、図1に示すように、セラミック素子1
中に、複数の内部電極2が、セラミック層1aを介して
互いに対向するように配設されているとともに、交互に
逆側の端面11に引き出されている。なお、内部電極2
は、セラミック素子1の幅方向全体に形成されており、
従来の積層セラミックコンデンサ(図8)では設けられ
ているサイドギャップ54(図8(b))は設けられてい
ない。また、従来の積層セラミックコンデンサ(図8)
では、保護機能部61の一部を構成するように配設され
ている上下両面側の外層(セラミック層)55(図8
(a))も、この実施形態の積層セラミックコンデンサA
においては配設されていない。
サAにおいては、図1に示すように、セラミック素子1
中に、複数の内部電極2が、セラミック層1aを介して
互いに対向するように配設されているとともに、交互に
逆側の端面11に引き出されている。なお、内部電極2
は、セラミック素子1の幅方向全体に形成されており、
従来の積層セラミックコンデンサ(図8)では設けられ
ているサイドギャップ54(図8(b))は設けられてい
ない。また、従来の積層セラミックコンデンサ(図8)
では、保護機能部61の一部を構成するように配設され
ている上下両面側の外層(セラミック層)55(図8
(a))も、この実施形態の積層セラミックコンデンサA
においては配設されていない。
【0025】なお、図1などにおいて、内部電極2とこ
の内部電極2間のセラミック層1aにより形成される機
能素子部20の上下両面側に、薄いセラミック層が存在
しているが、これは内部電極を印刷したセラミックグリ
ーンシートを積層することにより製造されることに起因
するものであって、機能素子部20を保護することを意
図するものではなく、また、保護機能を果たすだけの厚
みも持たせてはいない。さらに、場合によっては、この
セラミック層はまったくなくてもよい。
の内部電極2間のセラミック層1aにより形成される機
能素子部20の上下両面側に、薄いセラミック層が存在
しているが、これは内部電極を印刷したセラミックグリ
ーンシートを積層することにより製造されることに起因
するものであって、機能素子部20を保護することを意
図するものではなく、また、保護機能を果たすだけの厚
みも持たせてはいない。さらに、場合によっては、この
セラミック層はまったくなくてもよい。
【0026】すなわち、製造工程上の理由などにより、
内部電極2とこの内部電極2間のセラミック層1aによ
り形成される部分(機能素子部)20の上下両面側に、
実質的に保護機能部としての機能を果たさないような薄
いセラミック層が存在している状態のものも、本願発明
においては、保護機能部を備えていないセラミック素子
の概念に含まれる。
内部電極2とこの内部電極2間のセラミック層1aによ
り形成される部分(機能素子部)20の上下両面側に、
実質的に保護機能部としての機能を果たさないような薄
いセラミック層が存在している状態のものも、本願発明
においては、保護機能部を備えていないセラミック素子
の概念に含まれる。
【0027】そして、セラミック素子1の内部電極2が
引き出された端面11を除く面は、主成分であるエポキ
シ樹脂にフェノール樹脂を含有させた、耐熱性及び耐候
性の良好な樹脂4により囲繞されており、このセラミッ
ク素子1を囲繞する樹脂4が機能素子部20を保護する
保護機能部21となっている。
引き出された端面11を除く面は、主成分であるエポキ
シ樹脂にフェノール樹脂を含有させた、耐熱性及び耐候
性の良好な樹脂4により囲繞されており、このセラミッ
ク素子1を囲繞する樹脂4が機能素子部20を保護する
保護機能部21となっている。
【0028】また、セラミック素子1の、内部電極2が
引き出された両端面11には、内部電極2と導通するよ
うに、一対の外部電極3が配設されている。なお、外部
電極3は、セラミック素子1の上面及び側面にまで回り
込むように形成されており、セラミック素子1の表面が
外部に露出しないように構成されている。
引き出された両端面11には、内部電極2と導通するよ
うに、一対の外部電極3が配設されている。なお、外部
電極3は、セラミック素子1の上面及び側面にまで回り
込むように形成されており、セラミック素子1の表面が
外部に露出しないように構成されている。
【0029】次に、この積層セラミックコンデンサAの
製造方法について説明する。まず、チタン酸バリウムを
主成分とするセラミックグリーンシートを形成する。
製造方法について説明する。まず、チタン酸バリウムを
主成分とするセラミックグリーンシートを形成する。
【0030】それから、このセラミックグリーンシート
に、パラジウムを主成分とする電極ペーストを塗布す
る。
に、パラジウムを主成分とする電極ペーストを塗布す
る。
【0031】そして、このセラミックグリーンシートを
所定枚数積層し、圧着した後、所定の位置で切断するこ
とにより、図2に示すように、複数の内部電極2が、セ
ラミック層1aを介して互いに対向するとともに、交互
に逆側の端面に引き出された構造を有する個々の素子
(未焼成のセラミック素子1)に分割し、これを焼成す
ることにより、実質的に機能素子部20のみからなるセ
ラミック素子(焼結体)1を得る。
所定枚数積層し、圧着した後、所定の位置で切断するこ
とにより、図2に示すように、複数の内部電極2が、セ
ラミック層1aを介して互いに対向するとともに、交互
に逆側の端面に引き出された構造を有する個々の素子
(未焼成のセラミック素子1)に分割し、これを焼成す
ることにより、実質的に機能素子部20のみからなるセ
ラミック素子(焼結体)1を得る。
【0032】それから、図3に示すように、セラミック
素子1の、内部電極2が引き出された両端面11以外の
上下両面及び側面を、エポキシ樹脂にフェノール樹脂を
含有させた樹脂4により被覆する。
素子1の、内部電極2が引き出された両端面11以外の
上下両面及び側面を、エポキシ樹脂にフェノール樹脂を
含有させた樹脂4により被覆する。
【0033】次に、内部電極2が引き出された両端面1
1に、Agを主成分とする導電樹脂を塗布して所定の温
度で熱処理し、導電樹脂を硬化させることにより外部電
極3を形成する。これにより、図1に示すような、機能
素子部20が保護機能部21により囲繞された構造を有
する積層セラミックコンデンサAが得られる。なお、こ
の実施形態では、素子厚:2.5μm、内部電極の積層
枚数:430枚、セラミック素子外寸:3.2mm(長
さ)×1.6mm(幅)×1.6mm(高さ)の積層セラミ
ックコンデンサを製造した。
1に、Agを主成分とする導電樹脂を塗布して所定の温
度で熱処理し、導電樹脂を硬化させることにより外部電
極3を形成する。これにより、図1に示すような、機能
素子部20が保護機能部21により囲繞された構造を有
する積層セラミックコンデンサAが得られる。なお、こ
の実施形態では、素子厚:2.5μm、内部電極の積層
枚数:430枚、セラミック素子外寸:3.2mm(長
さ)×1.6mm(幅)×1.6mm(高さ)の積層セラミ
ックコンデンサを製造した。
【0034】それから、上記のようにして得た積層セラ
ミックコンデンサAについて、焼成後の構造欠陥の発生
の有無の確認を行うとともに、曲げ試験、熱衝撃試験
(ヒートサイクル試験)、耐湿試験、高温負荷試験を行
い、その特性を調べた。また、比較のため、図8に示す
ような従来の積層セラミックコンデンサ(比較例)を製
造し、その特性を調べた。その結果を表1に示す。
ミックコンデンサAについて、焼成後の構造欠陥の発生
の有無の確認を行うとともに、曲げ試験、熱衝撃試験
(ヒートサイクル試験)、耐湿試験、高温負荷試験を行
い、その特性を調べた。また、比較のため、図8に示す
ような従来の積層セラミックコンデンサ(比較例)を製
造し、その特性を調べた。その結果を表1に示す。
【0035】
【表1】
【0036】表1に示すように、比較例においては、焼
成後に構造欠陥が発生しているばかりではなく、曲げ試
験、熱衝撃試験(ヒートサイクル試験)、耐湿試験、高
温負荷試験においても不良が発生しているが、本願発明
の実施形態にかかる積層セラミックコンデンサAでは、
焼成後に構造欠陥の発生は認められず、また、曲げ試
験、熱衝撃試験(ヒートサイクル試験)、耐湿試験、高
温負荷試験においても、不良の発生は認められなかっ
た。
成後に構造欠陥が発生しているばかりではなく、曲げ試
験、熱衝撃試験(ヒートサイクル試験)、耐湿試験、高
温負荷試験においても不良が発生しているが、本願発明
の実施形態にかかる積層セラミックコンデンサAでは、
焼成後に構造欠陥の発生は認められず、また、曲げ試
験、熱衝撃試験(ヒートサイクル試験)、耐湿試験、高
温負荷試験においても、不良の発生は認められなかっ
た。
【0037】このように、本願発明の実施形態において
良好な結果が得られているのは、セラミック素子1が実
質的に機能素子部20のみから形成され、この機能素子
部20が樹脂4(保護機能部21)により囲繞された構
造を有していることから、焼成時には、コンデンサとし
て機能する機能素子部20のみを焼結させるだけでよ
く、比較例の場合のように、機能素子部の周囲のセラミ
ックからなる保護機能部を焼結させる必要がなく、セラ
ミック素子への熱的衝撃を抑制することが可能になるこ
と、サイドギャップがなく、圧着時に均一な圧着が行わ
れることなどの理由によるものと考えられる。
良好な結果が得られているのは、セラミック素子1が実
質的に機能素子部20のみから形成され、この機能素子
部20が樹脂4(保護機能部21)により囲繞された構
造を有していることから、焼成時には、コンデンサとし
て機能する機能素子部20のみを焼結させるだけでよ
く、比較例の場合のように、機能素子部の周囲のセラミ
ックからなる保護機能部を焼結させる必要がなく、セラ
ミック素子への熱的衝撃を抑制することが可能になるこ
と、サイドギャップがなく、圧着時に均一な圧着が行わ
れることなどの理由によるものと考えられる。
【0038】また、セラミック素子の、内部電極が引き
出された両端面以外の上下両面及び側面を樹脂で囲繞す
るようにしているので、内部電極の引き出し端面以外の
側面に内部電極が露出しても樹脂により絶縁されること
から、製造時のマザーセラミックグリーンシートに配設
する電極パターンを連続体とすることが可能になり、製
造効率を向上させることができるようになる。また、電
極有効面積を大きく取ることが可能になるため、小型
化、高容量化を実現することが可能になる。
出された両端面以外の上下両面及び側面を樹脂で囲繞す
るようにしているので、内部電極の引き出し端面以外の
側面に内部電極が露出しても樹脂により絶縁されること
から、製造時のマザーセラミックグリーンシートに配設
する電極パターンを連続体とすることが可能になり、製
造効率を向上させることができるようになる。また、電
極有効面積を大きく取ることが可能になるため、小型
化、高容量化を実現することが可能になる。
【0039】なお、上記実施形態では、セラミック素子
1の内部電極2が引き出された端面11以外の面(上下
両面及び両側面)を樹脂4で囲繞した場合について説明
したが、必要に応じて、図4に示すように、両側面のみ
を樹脂4で囲繞することも可能である。なお、その場
合、上下両面側には、保護層として、例えばセラミック
層5aなどを配設することにより保護機能を果たさせる
ことができる。また、図5に示すように、上下両面側の
みを樹脂4で囲繞することも可能である。なお、図5の
構成では、内部電極2が露出するセラミック素子1の側
面に、例えば、これまでと同様の、あるいは別個のセラ
ミック層5bを配設することにより保護機能を果たさせ
ることができる。
1の内部電極2が引き出された端面11以外の面(上下
両面及び両側面)を樹脂4で囲繞した場合について説明
したが、必要に応じて、図4に示すように、両側面のみ
を樹脂4で囲繞することも可能である。なお、その場
合、上下両面側には、保護層として、例えばセラミック
層5aなどを配設することにより保護機能を果たさせる
ことができる。また、図5に示すように、上下両面側の
みを樹脂4で囲繞することも可能である。なお、図5の
構成では、内部電極2が露出するセラミック素子1の側
面に、例えば、これまでと同様の、あるいは別個のセラ
ミック層5bを配設することにより保護機能を果たさせ
ることができる。
【0040】また、上記実施形態では、外部電極を、導
電樹脂を用いて形成したが、従来のように導電ペースト
を塗布、焼付けすることにより外部電極を形成し、その
後、セラミック素子の露出部分のうちの所定の部分を樹
脂で囲繞するように構成することも可能である。
電樹脂を用いて形成したが、従来のように導電ペースト
を塗布、焼付けすることにより外部電極を形成し、その
後、セラミック素子の露出部分のうちの所定の部分を樹
脂で囲繞するように構成することも可能である。
【0041】[実施形態2]図6は、本願発明の他の実
施形態にかかる積層セラミック電子部品(積層セラミッ
クコンデンサ)を示す図である。この実施形態2の積層
セラミック電子部品Bは、実施形態1の積層セラミック
コンデンサAを構成するセラミック素子1と同一の構成
を有するセラミック素子1の端面に外部電極3を形成
し、さらに外部電極3にリード端子6を取り付けた後、
リード端子6の一部(下端部)のみを露出させるように
して、全体を樹脂4でモールドすることにより形成され
ている。このように構成された積層セラミック電子部品
(積層セラミックコンデンサ)においても、上記実施形
態1の場合と同様の効果を得ることができる。
施形態にかかる積層セラミック電子部品(積層セラミッ
クコンデンサ)を示す図である。この実施形態2の積層
セラミック電子部品Bは、実施形態1の積層セラミック
コンデンサAを構成するセラミック素子1と同一の構成
を有するセラミック素子1の端面に外部電極3を形成
し、さらに外部電極3にリード端子6を取り付けた後、
リード端子6の一部(下端部)のみを露出させるように
して、全体を樹脂4でモールドすることにより形成され
ている。このように構成された積層セラミック電子部品
(積層セラミックコンデンサ)においても、上記実施形
態1の場合と同様の効果を得ることができる。
【0042】[実施形態3]図7は、本願発明のさらに
他の実施形態(実施形態3)にかかる積層セラミック電
子部品を示す斜視図である。
他の実施形態(実施形態3)にかかる積層セラミック電
子部品を示す斜視図である。
【0043】この実施形態3の積層セラミック電子部品
Cは、実施形態1と同じ構成を有する積層セラミックコ
ンデンサAを、図7に示すように、他の部品(電子部
品)8とともに、基板7上に実装するとともに、基板7
の上面側全体を樹脂4でモールドすることにより形成さ
れている。
Cは、実施形態1と同じ構成を有する積層セラミックコ
ンデンサAを、図7に示すように、他の部品(電子部
品)8とともに、基板7上に実装するとともに、基板7
の上面側全体を樹脂4でモールドすることにより形成さ
れている。
【0044】この実施形態3の積層セラミック電子部品
Cについても、上記実施形態1の場合と同様に、焼成後
の構造欠陥の発生の有無の確認を行うとともに、曲げ試
験、熱衝撃試験(ヒートサイクル試験)、耐湿試験、高
温負荷試験を行ったが、焼成後の構造欠陥の発生は認め
られず、また、曲げ試験、熱衝撃試験(ヒートサイクル
試験)、耐湿試験、高温負荷試験においても、不良の発
生は認められなかった。
Cについても、上記実施形態1の場合と同様に、焼成後
の構造欠陥の発生の有無の確認を行うとともに、曲げ試
験、熱衝撃試験(ヒートサイクル試験)、耐湿試験、高
温負荷試験を行ったが、焼成後の構造欠陥の発生は認め
られず、また、曲げ試験、熱衝撃試験(ヒートサイクル
試験)、耐湿試験、高温負荷試験においても、不良の発
生は認められなかった。
【0045】なお、この実施形態3の積層セラミック電
子部品Cの場合、基板7ごとモールドされることから、
耐衝撃性や耐候性が担保されるため、必要以上にセラミ
ックからなる保護部を形成することが不要になり、焼成
後の構造欠陥の発生を抑制して、高い信頼性を実現する
ことが可能になる。
子部品Cの場合、基板7ごとモールドされることから、
耐衝撃性や耐候性が担保されるため、必要以上にセラミ
ックからなる保護部を形成することが不要になり、焼成
後の構造欠陥の発生を抑制して、高い信頼性を実現する
ことが可能になる。
【0046】なお、本願発明において、上述の基板7の
上面側部分(積層セラミックコンデンサA、他の部品
(電子部品)8など)をケース(図示せず)に収納し、
ケース内に樹脂を充填するように構成することも可能で
ある。その場合、ケースとしては、金属製のケースや樹
脂製のケースなど種々の材料からなるケースを用いるこ
とが可能であり、また、金属製のシールドをケースとし
て利用することも可能である。
上面側部分(積層セラミックコンデンサA、他の部品
(電子部品)8など)をケース(図示せず)に収納し、
ケース内に樹脂を充填するように構成することも可能で
ある。その場合、ケースとしては、金属製のケースや樹
脂製のケースなど種々の材料からなるケースを用いるこ
とが可能であり、また、金属製のシールドをケースとし
て利用することも可能である。
【0047】また、ケース内に樹脂を充填しない構成と
することも可能である。その場合にも、ケースが保護部
としての機能を果たすため、樹脂により囲繞する場合と
同様の効果を得ることができる。なお、その場合には、
ケースとして、樹脂などの絶縁材料からなるものを用い
ることが好ましい。
することも可能である。その場合にも、ケースが保護部
としての機能を果たすため、樹脂により囲繞する場合と
同様の効果を得ることができる。なお、その場合には、
ケースとして、樹脂などの絶縁材料からなるものを用い
ることが好ましい。
【0048】また、上記実施形態では、セラミック素子
の少なくとも一部を樹脂により囲繞するようにした場合
を例にとって説明したが、外部から、例えばリード端子
などで外部電極に導電接続可能な態様で樹脂ケース内に
収納するように構成することも可能である。
の少なくとも一部を樹脂により囲繞するようにした場合
を例にとって説明したが、外部から、例えばリード端子
などで外部電極に導電接続可能な態様で樹脂ケース内に
収納するように構成することも可能である。
【0049】また、上記実施形態においては、積層セラ
ミックコンデンサを例にとって説明したが、本願発明
は、積層セラミックコンデンサに限らず、積層バリス
タ、LC複合部品などの種々の積層セラミック電子部品
に適用することが可能である。
ミックコンデンサを例にとって説明したが、本願発明
は、積層セラミックコンデンサに限らず、積層バリス
タ、LC複合部品などの種々の積層セラミック電子部品
に適用することが可能である。
【0050】また、上記実施形態では、樹脂として、エ
ポキシ樹脂を主成分とする樹脂を用いた場合について説
明したが、本願発明において、樹脂の種類はこれに限ら
れるものではなく、その他の熱硬化性樹脂や熱可塑性樹
脂、紫外線硬化樹脂その他種々の樹脂を広く用いること
が可能である。
ポキシ樹脂を主成分とする樹脂を用いた場合について説
明したが、本願発明において、樹脂の種類はこれに限ら
れるものではなく、その他の熱硬化性樹脂や熱可塑性樹
脂、紫外線硬化樹脂その他種々の樹脂を広く用いること
が可能である。
【0051】本願発明は、さらにその他の点においても
上記実施形態に限定されるものではなく、内部電極の構
成材料、内部電極の積層数、積層セラミック電子部品を
構成するセラミックの種類、セラミック素子の具体的な
形状、寸法などに関し、発明の要旨の範囲内において、
種々の応用、変形を加えることが可能である。
上記実施形態に限定されるものではなく、内部電極の構
成材料、内部電極の積層数、積層セラミック電子部品を
構成するセラミックの種類、セラミック素子の具体的な
形状、寸法などに関し、発明の要旨の範囲内において、
種々の応用、変形を加えることが可能である。
【0052】
【発明の効果】上述のように、本願発明(請求項1)の
積層セラミック電子部品は、内部電極と該内部電極間の
セラミック層により形成される機能素子部の周囲に配設
されて、機能素子部が外部に露出しないように囲繞する
保護機能部の少なくとも一部を樹脂により形成するよう
にしているので、保護機能部全体をセラミックにより形
成するようにした従来の積層セラミック電子部品の場合
に比べて、内部電極とセラミックの熱膨張率の差や、焼
結時の収縮挙動の不整合性などに起因する、デラミネー
ションやクラックなどの構造欠陥の発生を抑制すること
が可能になり、信頼性を向上させることが可能になる。
積層セラミック電子部品は、内部電極と該内部電極間の
セラミック層により形成される機能素子部の周囲に配設
されて、機能素子部が外部に露出しないように囲繞する
保護機能部の少なくとも一部を樹脂により形成するよう
にしているので、保護機能部全体をセラミックにより形
成するようにした従来の積層セラミック電子部品の場合
に比べて、内部電極とセラミックの熱膨張率の差や、焼
結時の収縮挙動の不整合性などに起因する、デラミネー
ションやクラックなどの構造欠陥の発生を抑制すること
が可能になり、信頼性を向上させることが可能になる。
【0053】また、積み重ね方向に平行な側面を樹脂に
より囲繞するようにした場合、該側面が樹脂により絶縁
されるため、セラミック素子の側面に達するまで内部電
極を形成することが可能になり、有効電極面積を増やし
て、小型、大容量化を図ることが可能になる。また、サ
イドギャップを設けることが不要になる結果、内部電極
の積層枚数が増えたときに生じるような、サイドギャッ
プでの圧下が不十分になることに起因する層間での剥が
れの発生を防止することが可能になり、信頼性を向上さ
せることが可能になる。
より囲繞するようにした場合、該側面が樹脂により絶縁
されるため、セラミック素子の側面に達するまで内部電
極を形成することが可能になり、有効電極面積を増やし
て、小型、大容量化を図ることが可能になる。また、サ
イドギャップを設けることが不要になる結果、内部電極
の積層枚数が増えたときに生じるような、サイドギャッ
プでの圧下が不十分になることに起因する層間での剥が
れの発生を防止することが可能になり、信頼性を向上さ
せることが可能になる。
【0054】また、セラミック素子の上下両面側を樹脂
により囲繞するようにした場合、セラミックからなる外
層が保護機能部を形成している従来の積層セラミック電
子部品の場合に比べて、セラミック素子の積み重ね方向
一杯にまで、内部電極を積み重ねることが可能になり、
内部電極の積層枚数を増やして、特性の向上を図ること
が可能になる。
により囲繞するようにした場合、セラミックからなる外
層が保護機能部を形成している従来の積層セラミック電
子部品の場合に比べて、セラミック素子の積み重ね方向
一杯にまで、内部電極を積み重ねることが可能になり、
内部電極の積層枚数を増やして、特性の向上を図ること
が可能になる。
【0055】また、請求項2の積層セラミック電子部品
のように、外部電極にリード端子を取り付け、リード端
子の少なくとも一部を露出させた状態で、全体を樹脂に
より囲繞するようにした場合、樹脂の保護機能により、
デラミネーションやクラックなどの構造欠陥の発生を抑
制して、信頼性の高い端子付の積層セラミック電子部品
を得ることが可能になる。
のように、外部電極にリード端子を取り付け、リード端
子の少なくとも一部を露出させた状態で、全体を樹脂に
より囲繞するようにした場合、樹脂の保護機能により、
デラミネーションやクラックなどの構造欠陥の発生を抑
制して、信頼性の高い端子付の積層セラミック電子部品
を得ることが可能になる。
【0056】また、請求項3の積層セラミック電子部品
のように、セラミック層を介して複数の内部電極を配設
するとともに、内部電極と導通するように外部電極を配
設した、機能素子部の少なくとも一部が露出した状態の
セラミック素子を、単独で又は他の部品とともに基板上
に実装された状態で、樹脂によりモールドするか又はケ
ースに収納するようにした場合、モールド樹脂やケース
の保護機能により、デラミネーションやクラックなどの
構造欠陥の発生を抑制して、信頼性の高い積層セラミッ
ク電子部品を得ることが可能になる。
のように、セラミック層を介して複数の内部電極を配設
するとともに、内部電極と導通するように外部電極を配
設した、機能素子部の少なくとも一部が露出した状態の
セラミック素子を、単独で又は他の部品とともに基板上
に実装された状態で、樹脂によりモールドするか又はケ
ースに収納するようにした場合、モールド樹脂やケース
の保護機能により、デラミネーションやクラックなどの
構造欠陥の発生を抑制して、信頼性の高い積層セラミッ
ク電子部品を得ることが可能になる。
【0057】なお、本願発明においては、樹脂によりモ
ールドした状態で、これをケース内に収納した構成とす
ることも可能であり、その場合には、さらに保護機能を
高めて信頼性を向上させることが可能になる。
ールドした状態で、これをケース内に収納した構成とす
ることも可能であり、その場合には、さらに保護機能を
高めて信頼性を向上させることが可能になる。
【0058】また、請求項4の積層セラミック電子部品
のように、セラミック素子が、外部から外部電極に導電
接続可能な態様で樹脂ケース内に収納された構成とした
場合、樹脂ケースの保護機能により、デラミネーション
やクラックなどの構造欠陥の発生を抑制して、信頼性の
高い積層セラミック電子部品を得ることが可能になる。
のように、セラミック素子が、外部から外部電極に導電
接続可能な態様で樹脂ケース内に収納された構成とした
場合、樹脂ケースの保護機能により、デラミネーション
やクラックなどの構造欠陥の発生を抑制して、信頼性の
高い積層セラミック電子部品を得ることが可能になる。
【0059】また、請求項5の積層セラミック電子部品
のように、外部電極を、導電性樹脂を塗布し、硬化させ
て形成するようにした場合、ガラス成分を含む導電性ペ
ーストを塗布して、焼き付けることにより外部電極を形
成する場合のように、焼結後のセラミック素子に再び大
きな熱的衝撃を与えることなく積層セラミック電子部品
を製造することが可能になり、さらに確実に、構造欠陥
のない積層セラミック電子部品を製造することが可能に
なる。
のように、外部電極を、導電性樹脂を塗布し、硬化させ
て形成するようにした場合、ガラス成分を含む導電性ペ
ーストを塗布して、焼き付けることにより外部電極を形
成する場合のように、焼結後のセラミック素子に再び大
きな熱的衝撃を与えることなく積層セラミック電子部品
を製造することが可能になり、さらに確実に、構造欠陥
のない積層セラミック電子部品を製造することが可能に
なる。
【図1】本願発明の一実施形態(実施形態1)にかかる
積層セラミック電子部品(積層セラミックコンデンサ)
を示す図であり、(a)は正面断面図、(b)は側面断面
図、(c)は外観構成を示す斜視図である。
積層セラミック電子部品(積層セラミックコンデンサ)
を示す図であり、(a)は正面断面図、(b)は側面断面
図、(c)は外観構成を示す斜視図である。
【図2】本願発明の一実施形態にかかる積層セラミック
電子部品(積層セラミックコンデンサ)の製造方法の一
工程で形成したセラミック素子の概略構成を示す斜視図
である。
電子部品(積層セラミックコンデンサ)の製造方法の一
工程で形成したセラミック素子の概略構成を示す斜視図
である。
【図3】本願発明の一実施形態にかかる積層セラミック
電子部品(積層セラミックコンデンサ)の製造方法の一
工程で形成したセラミック素子の、内部電極が引き出さ
れた両端面以外の面を樹脂により囲繞した状態を示す斜
視図である。
電子部品(積層セラミックコンデンサ)の製造方法の一
工程で形成したセラミック素子の、内部電極が引き出さ
れた両端面以外の面を樹脂により囲繞した状態を示す斜
視図である。
【図4】本願発明の積層セラミック電子部品(積層セラ
ミックコンデンサ)の変形例を示す図であり、セラミッ
ク素子の側面のみを樹脂で囲繞した状態を示す断面図で
ある。
ミックコンデンサ)の変形例を示す図であり、セラミッ
ク素子の側面のみを樹脂で囲繞した状態を示す断面図で
ある。
【図5】本願発明の積層セラミック電子部品(積層セラ
ミックコンデンサ)の変形例を示す図であり、セラミッ
ク素子の上下両面のみを樹脂で囲繞した状態を示す断面
図である。
ミックコンデンサ)の変形例を示す図であり、セラミッ
ク素子の上下両面のみを樹脂で囲繞した状態を示す断面
図である。
【図6】本願発明の他の実施形態(実施形態2)にかか
る積層セラミック電子部品(積層セラミックコンデン
サ)を示す断面図である。
る積層セラミック電子部品(積層セラミックコンデン
サ)を示す断面図である。
【図7】本願発明のさらに他の実施形態(実施形態3)
にかかる積層セラミック電子部品を示す斜視図である。
にかかる積層セラミック電子部品を示す斜視図である。
【図8】従来の積層セラミックコンデンサを示す図であ
り、(a)は正面断面図、(b)は側面断面図、(c)は外観
構成を示す斜視図である。
り、(a)は正面断面図、(b)は側面断面図、(c)は外観
構成を示す斜視図である。
1 セラミック素子 1a セラミック層 2 内部電極 3 外部電極 4 樹脂 5a,5b セラミック層 6 リード端子 7 基板 8 他の部品(電子部品) 11 セラミック素子の内部電極が引き出
された端面 20 機能素子部 21 保護機能部 A,B 積層セラミック電子部品(積層セラ
ミックコンデンサ) C 積層セラミック電子部品
された端面 20 機能素子部 21 保護機能部 A,B 積層セラミック電子部品(積層セラ
ミックコンデンサ) C 積層セラミック電子部品
フロントページの続き (72)発明者 細川 孝夫 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株式 会社村田製作所内 Fターム(参考) 5E001 AB03 AF01 AF06 AG01 5E082 AA01 AA07 AB03 BC19 BC32 BC33 EE04 EE23 EE35 FG06 FG26 FG54 GG10 GG28 HH01 HH06 HH25 HH26 HH27 HH47 HH48 MM24
Claims (5)
- 【請求項1】セラミック層を介して互いに対向するよう
に複数の内部電極が配設された構造を有するセラミック
素子の、内部電極と該内部電極間のセラミック層により
形成される機能素子部の周囲に配設され、前記機能素子
部が外部に露出しないように囲繞する保護機能部の少な
くとも一部を樹脂により形成したことを特徴とする積層
セラミック電子部品。 - 【請求項2】セラミック層を介して互いに対向するよう
に複数の内部電極が配設されているとともに、内部電極
と導通するように外部電極が配設され、内部電極と該内
部電極間のセラミック層により形成される機能素子部の
少なくとも一部が露出した状態のセラミック素子の前記
外部電極にリード端子を取り付け、前記リード端子の少
なくとも一部を露出させた状態で、全体を樹脂により囲
繞したことを特徴とする積層セラミック電子部品。 - 【請求項3】セラミック層を介して互いに対向するよう
に複数の内部電極が配設されているとともに、内部電極
と導通するように外部電極が配設され、内部電極と該内
部電極間のセラミック層により形成される機能素子部の
少なくとも一部が露出した状態のセラミック素子が、単
独で又は他の部品とともに基板上に実装された状態で、
樹脂によりモールドされているか、又はケースに収納さ
れていることを特徴とする積層セラミック電子部品。 - 【請求項4】セラミック層を介して互いに対向するよう
に複数の内部電極が配設されているとともに、内部電極
と導通するように外部電極が配設され、内部電極と該内
部電極間のセラミック層により形成される機能素子部の
少なくとも一部が露出した状態のセラミック素子が、外
部から前記外部電極に導電接続可能な態様で樹脂ケース
内に収納されていることを特徴とする積層セラミック電
子部品。 - 【請求項5】前記外部電極が、導電性樹脂からなるもの
であることを特徴とする請求項2〜4のいずれかに記載
の積層セラミック電子部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11111994A JP2000306765A (ja) | 1999-04-20 | 1999-04-20 | 積層セラミック電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11111994A JP2000306765A (ja) | 1999-04-20 | 1999-04-20 | 積層セラミック電子部品 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000306765A true JP2000306765A (ja) | 2000-11-02 |
Family
ID=14575295
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11111994A Pending JP2000306765A (ja) | 1999-04-20 | 1999-04-20 | 積層セラミック電子部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000306765A (ja) |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003007561A (ja) * | 2001-06-26 | 2003-01-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | モールド型積層セラミック電子部品 |
JP2014027085A (ja) * | 2012-07-26 | 2014-02-06 | Tdk Corp | 電子部品 |
JP2014072516A (ja) * | 2012-09-27 | 2014-04-21 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 積層セラミック電子部品 |
US9349536B2 (en) | 2012-11-07 | 2016-05-24 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic electronic component |
JP2016208003A (ja) * | 2015-04-20 | 2016-12-08 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. | キャパシタ部品 |
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