JP4650475B2 - 積層セラミックコンデンサアレイ - Google Patents

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Description

この発明は、積層セラミックコンデンサアレイに関するもので、特に、積層セラミックコンデンサアレイにおける内部応力に起因する構造欠陥発生を抑制するための技術に関するものである。
積層セラミック電子部品は、複数のセラミック層が互いの間の界面に沿って内部電極を位置させた状態で積層された構造を有するセラミック積層体を備えている。積層セラミック電子部品を製造するに当たり、セラミック積層体は焼成工程を経て得られるものであるので、セラミック積層体を得るための焼成工程では、セラミック層と内部電極とが同時に焼成されることになる。このとき、セラミック層を構成するセラミックと内部電極を構成する金属との間での焼結収縮挙動の違いにより、得られたセラミック積層体においてクラックなどの構造欠陥が生じることがある。このことを、積層セラミックコンデンサを例として、以下に、より詳細に説明する。
積層セラミックコンデンサにおいて、セラミック層を構成するセラミックとしてBaTiOが、また、内部電極を構成する金属としてNiがそれぞれよく用いられている。これらBaTiOとNiとの関係で見ると、通常、Niの方が熱収縮率が高い。したがって、焼成後、室温までの冷却過程において、セラミック層は相対的に低い熱収縮率をもって収縮しようとし、他方、内部電極は相対的に高い熱収縮率をもって収縮しようとする。
しかしながら、焼成により両者は一体化されているため、互いに自由に収縮することができない。この結果、セラミック層が本来の収縮量より大きく収縮し、これによって、セラミック層に圧縮応力が加わり、他方、内部電極が本来の収縮量より小さく収縮し、これによって、内部電極に引張応力が加わる。そして、これら圧縮応力や引張応力が内部応力としてセラミック積層体の内部に残留し、経時後にクラックを発生させることがある。
ところで、電子機器の小型化・高性能化に伴い、積層セラミック電子部品についても、小型化・高性能化が要求されている。たとえば積層セラミックコンデンサについては、セラミック層および内部電極の厚みを薄くし、それぞれの積層枚数を増やすことにより、小型化かつ大容量化を図ることが要求されている。
このように、セラミック層や内部電極の積層枚数が増えることにより、セラミック積層体内部に残留する内部応力も積算して大きくなる傾向にある。そして、内部応力は、内部電極とセラミック層との境界となる部分、すなわち内部電極の周辺部に集中しやすい。
図9は、たとえば特開平6−314634号公報(特許文献1)に記載されるものであって、この発明にとって興味ある従来の積層セラミック電子部品の一例としてのコンデンサアレイ1の内部構造を示す平面図である。ここで、(a)と(b)とは、互いに異なる断面に沿って示したものである。
コンデンサアレイ1は、積層された複数のセラミック層2をもって構成され、かつ互いに対向する第1および第2の主面(図9では図示されない。)と互いに対向する第1および第2の側面3および4とを有する、直方体形状のセラミック積層体5を備えている。セラミック積層体5の第1の主面上には、たとえば4個の第1の外部端子電極6が並んで形成され、第2の側面4上には、たとえば4個の第2の外部端子電極7が並んで形成されている。
セラミック積層体5の内部には、図9(a)に示されるように、4個の第1の外部端子電極6にそれぞれ電気的に接続される4個の第1の内部電極8が形成されるとともに、図9(b)に示されるように、4個の第2の外部端子電極7にそれぞれ電気的に接続される4個の第2の内部電極9が形成される。
第1の内部電極8は、特定のセラミック層2を挟んで第2の内部電極9と対向する第1の対向部10と、第1の対向部10から第1の側面3に向かって引き出されかつ第1の外部端子電極6に電気的に接続された第1の引出し部11とを有している。他方、第2の内部電極9は、特定のセラミック層2を挟んで第1の内部電極8と対向する第2の対向部1と、第2の対向部12から第2の側面4に向かって引き出されかつ第2の外部端子電極7に電気的に接続された第2の引出し部13とを有している。引出し部11および13の各幅は、それぞれ、対向部10および12の幅より狭くされている。
図10は、図9(a)に示したセラミック積層体5の一部を拡大して示したものである。図10には、第1の内部電極8として、第1の対向部10の一部が図示されるとともに、第2の内部電極9として、第2の引出し部13が破線で図示されている。また、第2の内部電極9における第2の対向部12は第1の対向部10と重なり合っている。
図10からわかるように、第1の対向部10の、第1の引出し部11側とは逆側の端辺14は、第2の対向部12の、第2の引出し部13側の端辺15と重なり合っており、そのため、これら端辺14および15部分に内部応力が集中しやすい。また、第2の引出し部13の両側辺16および17部分にも内部応力が集中しやすい。これらの結果、図10において円で囲んだ、第2の引出し部13の付け根部分のコーナー18に内部応力が最も集中することになり、このコーナー18部分を起点としてクラックが発生しやすくなる。
なお、図10では図示されない第1の引出し部11側についても、上記と同様のことが言える。
特開平6−314634号公報(図1)
そこで、この発明の目的は、上述の問題を解決し得る積層セラミックコンデンサアレイを提供しようとすることである。
この発明は、積層された複数のセラミック層をもって構成され、かつ互いに対向する第1および第2の主面と互いに対向する第1および第2の側面とを有するセラミック積層体と、第1の側面上に形成され、かつ第1の側面の幅よりも狭い帯状を有する、4個の第1の外部端子電極と、第2の側面上に形成され、かつ第2の側面の幅よりも狭い帯状を有する、4個の第2の外部端子電極と、セラミック積層体の内部にそれぞれ形成され、かつセラミック積層体の主面方向に並ぶように配置される、組の第1および第2の内部電極とを備える、積層セラミックコンデンサアレイに向けられるものであって、上述した技術的課題を解決するため、次のような構成を備えることを特徴としている。
第1の内部電極は、特定のセラミック層を挟んで第2の内部電極と対向する第1の対向部と、第1の対向部から第1の側面に向かって引き出されかつ第1の外部端子電極に電気的に接続された第1の引出し部と、第1の対向部から第2の側面には達しないが第2の側面上の第2の外部端子電極に向かって部分的に突出した第1の突起部とを有する。
他方、第2の内部電極は、特定のセラミック層を挟んで第1の内部電極と対向する第2の対向部と、第2の対向部から第2の側面に向かって引き出されかつ第2の外部端子電極に電気的に接続された第2の引出し部と、第2の対向部から第1の側面には達しないが第1の側面上の第1の外部端子電極に向かって部分的に突出した第2の突起部とを有している。
上記第1の引出し部の幅は、第1の対向部の幅より狭く、また、第2の引出し部の幅は、第2の対向部の幅より狭い。また、上記第1の突起部の幅は、第2の外部端子電極の幅より狭く、第2の突起部の幅は、第1の外部端子電極の幅より狭い。また、第1の突起部の幅は、第1の対向部の幅より狭く、第2の突起部の幅は、第2の対向部の幅より狭い。
そして、第1の突起部の両側辺は、セラミック層を挟んで対向する第2の引出し部の両側辺の外側に位置し、かつ、第2の引出し部の側辺とも、第2の引出し部の付け根部分のコーナーとも積層方向に沿って重なっておらず、また、第2の突起部の両側辺は、セラミック層を挟んで対向する第1の引出し部の両側辺の外側に位置し、かつ、第1の引出し部の側辺とも、第1の引出し部の付け根部分のコーナーとも積層方向に沿って重なっていない
この発明に係る積層セラミック電子部品において、複数の第1の内部電極と複数の第2の内部電極とが積層方向に交互に配置されていてもよい。
また、複数の第1の内部電極は互いに同一面内に位置され、複数の第2の内部電極は、第1の内部電極が配置された面とは異なる、互いに同一面内に位置されても、あるいは、同一面内に、第1の内部電極と第2の内部電極とが交互に位置されていてもよい。
この発明に係る積層セラミック電子部品において、第1および第2の突起部の各辺は、丸みを帯びたコーナーを有することが好ましい。
さらに、第1および第2の対向部の各辺は、それぞれ、第1および第2の引出し部側において、丸みを帯びたコーナーを有することが好ましい。
この発明によれば、第1および第2の内部電極の各々について、対向部が互いに対向する部分において、突起部が存在するので、一方の対向部の各端辺が他方の引出し部の付け根部分のコーナーと重ならないようにすることができる。また、各突起部の両側辺が各引出し部の両側辺の外側に位置するため、各突起部の両側辺が、各引出し部の側辺とも、各引出し部の付け根部分のコーナーとも重ならないようにすることができる。これらのことから、特定の箇所での内部応力の集中を緩和することができ、内部応力に起因するクラック等の構造欠陥発生を抑制することができる。
この発明による上述した効果は、たとえば積層セラミックコンデンサのように、複数の第1の内部電極と複数の第2の内部電極とが積層方向に交互に配置されているとき、セラミック積層体の内部に残留する内部応力が大きくなる傾向にあるため、より顕著に発揮される。
また、この発明に係る積層セラミックコンデンサアレイのように、複数組の第1および第2の内部電極が、セラミック積層体の主面方向に並ぶように配置されているとき、内部電極の数が多く、かつ内部電極の周辺部が多く存在することになり、それゆえ、残留内部応力が全体として大きくなりやすいため、上述したこの発明による効果がより顕著に発揮される。
また、上述のように、複数組の第1および第2の内部電極がセラミック積層体の主面方向に並ぶように配置されている場合であって、同一面内に、第1の内部電極と第2の内部電極とが交互に位置されている場合には、第1および第2の引出し部の一方が、特定の面内において、第1および第2の側面の一方に偏って配置されることがなくなり、隣り合うセラミック層同士の接合部分のバランスが取れるため、積層セラミック電子部品の信頼性を向上させることができる。
また、第1および第2の突起部の各辺が丸みを帯びたコーナーを有すると、突起部先端のコーナーに集中する内部応力を緩和することができる。
また、第1および第2の対向部の各辺が、それぞれ、第1および第2の引出し部側において、丸みを帯びたコーナーを有していると、第1および第2の対向部の間で、一方の対向部のコーナーと他方の対向部のコーナーとを重ならないようにすることができるため、対向部のコーナーにおける内部応力の集中を有利に緩和することができる。
図1ないし図4は、この発明の第1の実施形態による積層セラミックコンデンサアレイ21を説明するためのものである。ここで、図1は、コンデンサアレイ21の外観を示す斜視図であり、図2は、コンデンサアレイ21の外観を示す平面図である。図3は、コンデンサアレイ21の内部構造を示す平面図であって、(a)と(b)とは、互いに異なる断面に沿って示したものである。
コンデンサアレイ21は、積層された複数のセラミック層22をもって構成され、かつ互いに対向する第1および第2の主面23および24と互いに対向する第1および第2の側面25および26と互いに対向する第1および第2の端面27および28とを有する、直方体形状のセラミック積層体29を備えている。
セラミック層22は、たとえば、BaTiO、CaTiO、SrTiO、CaZrOなどを主成分とする誘電体セラミックから構成される。なお、これら主成分に、Mn化合物、Fe化合物、Cr化合物、Co化合物、Ni化合物などの副成分が添加されていてもよい。また、セラミック層22の厚みは、たとえば1〜10μmとされることが好ましい。
セラミック積層体29の第1の側面25上には、4個の第1の外部端子電極30が並んで形成される。他方、第2の側面26上には、4個の第2の外部端子電極31が並んで形成されている。第1の外部端子電極30は、第1の側面25の幅よりも狭い帯状を有している。第2の外部端子電極31は、第2の側面26の幅よりも狭い帯状を有している。
これら外部端子電極30および31の導電成分として、たとえば、Cu、Ni、Ag、Pd、Ag−Pd合金、Auなどを用いることができる。外部端子電極30および31は、上記のような金属を焼結金属として含む下地導体膜と、この下地導体膜上に形成されためっき膜とにより構成されることができる。めっき膜を構成する金属としては、たとえば、Cu、Ni、Sn、Auなどを用いることができる。また、Ni−Sn、Ni−Au、Cu−Ni−Auなどの複数層からなるめっき膜であってもよい。めっき膜の厚みは、1層当たり、1〜10μmであることが好ましい。上述した下地導体膜とめっき膜との間に、エポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂とAgなどの金属フィラーとを含む導電性樹脂層が設けられてもよい。また、外部端子電極30および31は、直接、めっきにより形成されてもよい。
セラミック積層体29の内部には、図3に示すように、第1および第2の内部電極32および33がそれぞれ形成される。この実施形態では、取得静電容量を大きくするため、複数の第1の内部電極32と複数の第2の内部電極33とが積層方向に交互に配置されている。また、4組の第1および第2の内部電極32および33が、セラミック積層体29の主面方向に並ぶように配置されている。この実施形態では、4個の第1の内部電極32は、図3(a)に示すように、互いに同一面内に位置され、4個の第2の内部電極33は、図3(b)に示すように、第1の内部電極32が配置された面とは異なる、互いに同一面内に位置されている。
第1の内部電極32は、特定のセラミック層22を挟んで第2の内部電極33と対向する第1の対向部34と、第1の対向部34から第1の側面25に向かって引き出されかつ第1の外部端子電極30に電気的に接続された第1の引出し部35と、第1の対向部34から第2の側面26には達しないが第2の側面26上の第2の外部端子電極31に向かって部分的に突出した第1の突起部36とを有している。
第2の内部電極33は、特定のセラミック層22を挟んで第1の内部電極32と対向する第2の対向部37と、第2の対向部37から第2の側面26に向かって引き出されかつ第2の外部端子電極31に電気的に接続された第2の引出し部38と、第2の対向部37から第1の側面25には達しないが第1の側面25上の第1の外部端子電極30に向かって部分的に突出した第2の突起部39とを有している。
上述した第1の引出し部35の幅は、第1の対向部34の幅より狭くされ、同様に、第2の引出し部38の幅は、第2の対向部37の幅より狭くされる。また、上述した第1の突起部36の幅は、第2の外部端子電極31の幅より狭くされ、第2の突起部39の幅は、第1の外部端子電極30の幅より狭くされる。また、第1の突起部36の幅は、第1の対向部34の幅より狭くされ、第2の突起部39の幅は、第2の対向部37の幅より狭くされる。
内部電極32および33に含まれる導電成分としては、たとえば、Ni、Cu、Ag、Pd、Ag−Pd合金、Auなどを用いることができる。また、内部電極32および33の各々の厚みは、0.5〜2.0μmであることが好ましい。
図4は、図3(a)に示したセラミック積層体29の一部を拡大して示す図である。図4には、第1の内部電極32における第1の対向部34の一部および第1の突起部36が示されている。また、図4には、第2の内部電極33における第2の対向部37の一部および第2の引出し部38が破線で示されている。
図4からわかるように、第1の突起部36の両側辺40および41は、セラミック層22を挟んで対向する第2の引出し部38の両側辺42および43の外側に位置し、かつ、第2の引出し部38の側辺とも、第2の引出し部38の付け根部分のコーナーとも積層方向に沿って重なっていない。図4では図示しないが、第2の突起部39の両側辺も、同様に、第1の引出し部35の両側辺の外側に位置し、かつ、第1の引出し部35の側辺とも、第1の引出し部35の付け根部分のコーナーとも積層方向に沿って重なっていない
図4に示すように、第1の内部電極32には第1の突起部36が存在するので、第1の対向部34の第1の対向部34の端辺44が第2の引出し部38の付け根部分のコーナーと重ならないようにすることができる。また、第1の突起部36の両側辺40および41が第2の引出し部38の両側辺42および43の外側に位置するため、第1の突起部36の両側辺40および41が、第2の引出し部38の両側辺42および43とも、第2の引出し部38の付け根部分のコーナーとも重ならないようにすることができる。
これらのことから、第2の引出し部38の付け根部分のコーナーにおいて内部応力が集中することを緩和できる。同様のことが、第2の突起部39と第1の引出し部35との間についても言える。これらの結果、セラミック積層体29において、内部応力に起因するクラック等の構造欠陥発生を抑制することができる。
次に、上述したコンデンサアレイ21の製造方法の一例について説明する。
まず、セラミック層22となるべきセラミックグリーンシート、外部端子電極30および31のための導電性ペースト、ならびに内部電極32および33のための導電性ペーストがそれぞれ用意される。これらセラミックグリーンシートおよび各導電性ペーストには、バインダおよび溶剤が含まれるが、これらについては、公知の有機バインダおよび有機溶剤を用いることができる。
次に、セラミックグリーンシート上に、たとえばスクリーン印刷法などにより所定のパターンをもって導電性ペーストが印刷される。これによって、内部電極32および33となるべき導電性ペースト膜が形成されたセラミックグリーンシートが得られる。
次に、上述のように導電性ペースト膜が形成されたセラミックグリーンシートを所定の順序で積層し、その上下に導電性ペースト膜が形成されていない外層用セラミックグリーンシートを所定枚数積層することによって、生の状態のマザー積層体が得られる。生のマザー積層体は、必要に応じて、静水圧プレスなどの手段により積層方向に圧着される。
次に、生のマザー積層体は所定のサイズにカットされ、それによって、セラミック積層体29の生の状態のものが切り出される。
次に、生のセラミック積層体29が焼成される。焼成温度は、セラミックグリーンシートに含まれるセラミック材料や導電性ペースト膜に含まれる金属材料にもよるが、たとえば900〜1300℃に選ばれることが好ましい。焼成雰囲気としては、大気、N、水蒸気+Nなどの雰囲気が、導電性ペーストに含まれる金属等の種類によって使い分けられる。
次に、焼結後のセラミック積層体29の第1および第2の側面25および26上に、導電性ペーストを塗布し、焼き付けることによって、第1および第2の外部端子電極30および31が形成される。外部端子電極30および31を形成するための焼付け温度は、700〜900℃に選ばれることが好ましく、焼付けの雰囲気としては、外部端子電極30および31に含まれる金属の種類に応じて、大気、N、水蒸気+Nなどの雰囲気が使い分けられる。第1および第2の外部端子電極30および31は、図1および図2に示されるように、好ましくは、第1および第2の側面25および26の各々から第1および第2の主面23および24の各々の一部にまで延びるように形成される。
次に、必要に応じて、外部端子電極30および31の表面にめっき膜が形成され、コンデンサアレイ21が完成される。
図5は、この発明の第2の実施形態によるコンデンサアレイ21aを説明するための図3に相当する図である。図5において、図3に示した要素に相当する要素には同様の参照符号を付し、重複する説明は省略する。
図5に示したコンデンサアレイ21aでは、(a)および(b)の各々に示すように、同一面内に第1の内部電極32と第2の内部電極33とが交互に位置されていることを特徴としている。このような構成を採用することにより、特定の面内において、第1および第2の引出し部35および38のいずれか一方が第1および第2の側面25および26のいずれか一方に偏って配置されることがなくなり、隣り合うセラミック層22同士の接合部分のバランスが取れるため、コンデンサアレイ21aの信頼性が向上する。
図6は、この発明の第3の実施形態によるコンデンサアレイ21bを説明するための図3に相当する図である。図6において、図3に示した要素に相当する要素には同様の参照符号を付し、重複する説明は省略する。
図6に示したコンデンサアレイ21bでは、第1および第2の突起部36および39の各辺は、丸みを帯びたコーナー47を有することを特徴としている。このような構成を採用することにより、突起部36および39の各々先端のコーナー47に集中しやすい内部応力を緩和することができる。
なお、上述したような第1および第2の突起部36および39が丸みを帯びたコーナー47を有する構成は、図5に示したコンデンサアレイ21aにおいても採用することができる。
図7および図8は、この発明の第4の実施形態によるコンデンサアレイ21cを説明するための図3および図4にそれぞれ相当する図である。図7および図8において、図3、図4または図6に示した要素に相当する要素には同様の参照符号を付し、重複する説明は省略する。
図7および図8に示したコンデンサアレイ21cでは、図6に示したコンデンサアレイ21bの場合と同様、第1および第2の突起部36および39の各辺が丸みを帯びたコーナー47を有するという特徴に加えて、第1および第2の対向部34および37の各辺が、それぞれ、第1および第2の引出し部35および38側において、丸みを帯びたコーナー48を有することを特徴としている。
このような構成が採用されることにより、図6に示したコンデンサアレイ21bの場合と同様の効果が奏されるとともに、図8によく示されるように、第1の対向部34の第1の突起部36側のコーナー49と第2の対向部37の第2の引出し部38側のコーナー48とが重なり合わないため、この部分における内部応力集中を有利に緩和することができる。
図8では図示しないが、第2の対向部37の第2の突起部39側のコーナーと第1の対向部34の第1の引出し部35側のコーナーとについても同様のことが言える。
なお、図7および図8を参照して説明した構成は、図5に示したコンデンサアレイ21aにも適用することができる。
次に、この発明による効果を確認するために実施した実験例について説明する。
この発明の範囲内の実施例に係る試料として、図7および図8に示した第4の実施形態が有する設計に基づいてコンデンサアレイを作製した。
まず、BaTiO系のセラミック粉末を含むセラミックスラリーを成形、乾燥し、セラミックグリーンシートを作製した。次に、スクリーン印刷によりセラミックグリーンシート上にNiを含む導電性ペーストを印刷し、所定の内部電極となるべき導電性ペースト膜を形成した。このとき、この発明の範囲内の実施例に係る試料としては、内部電極にそれぞれ突起部を有するものを作製したが、さらに、比較例に係る試料として、内部電極に突起部を有しないものも作製した。
次に、セラミックグリーンシートを積層、圧着し、マザー積層体を作製し、マザー積層体から生のセラミック積層体を切り出し、生のセラミック積層体を最高温度1200℃、2時間の条件で焼成した。
次に、焼結したセラミック積層体の側面にCuを含む導電性ペーストを塗布し、最高温度850℃、イン‐アウト1時間の条件で焼付け、外部端子電極の下地導体膜を形成した。次に、この下地導体膜上に、Niめっき膜およびSnめっき膜を順次形成した。
以上のようにして、サイズ2.0mm×1.25mm×0.85mm、セラミック層厚み1.6μm、内部電極厚み1.0μm、有効なセラミック層の積層枚数250枚の実施例および比較例の各々に係るコンデンサアレイを作製した。
次に、実施例および比較例の各々10000個ずつについて、温度40℃、湿度95%、10V、1000時間の条件で耐湿負荷試験を行なった。その後、各試料について、アジレントテクノロジー社製の「4ch高抵抗計4349B」を用いて、IR(絶縁抵抗)を測定し、IRが10Ωを下回っていたものをクラックが発生しているものとみなし、不良と判断した。その結果、10000個の試料中、比較例では7個の試料について不良と判断されたのに対し、実施例では不良と判断されたものが無かった。
この発明の第1の実施形態によるコンデンサアレイ21の外観を示す斜視図である。 図1に示したコンデンサアレイ21の外観を示す平面図である。 図1に示したコンデンサアレイ21の内部構造を示す平面図である。 図3(a)に示したセラミック積層体29の一部を拡大して示す平面図である。 この発明の第2の実施形態によるコンデンサアレイ21aを説明するための図3に相当する図である。 この発明の第3の実施形態によるコンデンサアレイ21bを説明するための図3に相当する図である。 この発明の第4の実施形態によるコンデンサアレイ21cを説明するための図3に相当する図である。 図7(a)に示したセラミック積層体29の一部を拡大して示す平面図である。 この発明にとって興味ある従来のコンデンサアレイ1の内部構造を示す平面図である。 図9(a)に示したセラミック積層体5の一部を拡大して示す平面図である。
符号の説明
21,21a,21b,21c コンデンサアレイ
22 セラミック層
23,24 主面
25,26 側面
29 セラミック積層体
30.31 外部端子電極
32,33 内部電極
34,37 対向部
35,38 引出し部
36,39 突起部
40,41 突起部の側辺
42,43 引出し部の側辺
47,48 丸みを帯びたコーナー

Claims (6)

  1. 積層された複数のセラミック層をもって構成され、かつ互いに対向する第1および第2の主面と互いに対向する第1および第2の側面とを有する、セラミック積層体と、
    前記第1の側面上に形成され、かつ前記第1の側面の幅よりも狭い帯状を有する、4個の第1の外部端子電極と、
    前記第2の側面上に形成され、かつ前記第2の側面の幅よりも狭い帯状を有する、4個の第2の外部端子電極と、
    前記セラミック積層体の内部にそれぞれ形成され、かつ前記セラミック積層体の主面方向に並ぶように配置される、組の第1および第2の内部電極と
    を備え、
    前記第1の内部電極は、特定の前記セラミック層を挟んで前記第2の内部電極と対向する第1の対向部と、前記第1の対向部から前記第1の側面に向かって引き出されかつ前記第1の外部端子電極に電気的に接続された第1の引出し部と、前記第1の対向部から前記第2の側面には達しないが前記第2の側面上の前記第2の外部端子電極に向かって部分的に突出した第1の突起部とを有し、
    前記第2の内部電極は、特定の前記セラミック層を挟んで前記第1の内部電極と対向する第2の対向部と、前記第2の対向部から前記第2の側面に向かって引き出されかつ前記第2の外部端子電極に電気的に接続された第2の引出し部と、前記第2の対向部から前記第1の側面には達しないが前記第1の側面上の前記第1の外部端子電極に向かって部分的に突出した第2の突起部とを有し、
    前記第1の引出し部の幅は、前記第1の対向部の幅より狭く、
    前記第2の引出し部の幅は、前記第2の対向部の幅より狭く、
    前記第1の突起部の幅は、前記第2の外部端子電極の幅より狭く、
    前記第2の突起部の幅は、前記第1の外部端子電極の幅より狭く、
    前記第1の突起部の幅は、前記第1の対向部の幅より狭く、
    前記第2の突起部の幅は、前記第2の対向部の幅より狭く、
    前記第1の突起部の両側辺は、前記セラミック層を挟んで対向する前記第2の引出し部の両側辺の外側に位置し、かつ、前記第2の引出し部の側辺とも、前記第2の引出し部の付け根部分のコーナーとも積層方向に沿って重なっておらず、
    前記第2の突起部の両側辺は、前記セラミック層を挟んで対向する前記第1の引出し部の両側辺の外側に位置し、かつ、前記第1の引出し部の側辺とも、前記第1の引出し部の付け根部分のコーナーとも積層方向に沿って重なっていない
    積層セラミックコンデンサアレイ。
  2. 複数の前記第1の内部電極と複数の前記第2の内部電極とが積層方向に交互に配置されている、請求項1に記載の積層セラミックコンデンサアレイ。
  3. 複数の前記第1の内部電極は互いに同一面内に位置され、複数の前記第2の内部電極は、前記第1の内部電極が配置された面とは異なる、互いに同一面内に位置される、請求項1または2に記載の積層セラミックコンデンサアレイ。
  4. 同一面内に、第1の内部電極と第2の内部電極とが交互に位置されている、請求項1または2に記載の積層セラミックコンデンサアレイ。
  5. 前記第1および第2の突起部の各辺は、丸みを帯びたコーナーを有する、請求項1ないし4のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサアレイ。
  6. 前記第1および第2の対向部の各辺は、それぞれ、前記第1および第2の引出し部側において、丸みを帯びたコーナーを有する、請求項1ないし5のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサアレイ。
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7152291B2 (en) 2002-04-15 2006-12-26 Avx Corporation Method for forming plated terminations
JP4896642B2 (ja) * 2006-09-12 2012-03-14 Tdk株式会社 積層コンデンサ及び電子機器
KR101228688B1 (ko) * 2010-11-25 2013-02-01 삼성전기주식회사 적층형 세라믹 캐패시터
JP2017098445A (ja) * 2015-11-26 2017-06-01 太陽誘電株式会社 セラミック電子部品及びセラミック電子部品の製造方法
KR101813365B1 (ko) * 2016-03-22 2017-12-28 삼성전기주식회사 적층형 커패시터 및 그 실장 기판
KR20180058634A (ko) 2016-11-24 2018-06-01 티디케이가부시기가이샤 전자 부품

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5918422U (ja) * 1982-07-27 1984-02-04 日本電気株式会社 積層コンデンサ
JPH02312217A (ja) * 1989-05-26 1990-12-27 Murata Mfg Co Ltd 積層コンデンサ
JPH06314634A (ja) * 1993-04-28 1994-11-08 Murata Mfg Co Ltd コンデンサアレイ
JP2000124064A (ja) * 1998-10-21 2000-04-28 Tdk Corp 積層チップ部品
JP2001044061A (ja) * 1999-07-30 2001-02-16 Kyocera Corp 積層セラミックコンデンサ
JP2001203122A (ja) * 2000-01-20 2001-07-27 Murata Mfg Co Ltd 積層コンデンサの製造方法及び積層コンデンサ
JP2004047707A (ja) * 2002-07-11 2004-02-12 Murata Mfg Co Ltd 積層セラミックコンデンサアレイ

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5583738A (en) * 1993-03-29 1996-12-10 Murata Manufacturing Co., Ltd. Capacitor array
US6212060B1 (en) * 1999-03-31 2001-04-03 Krypton Isolation, Inc. Multi-capacitor device
US6441459B1 (en) * 2000-01-28 2002-08-27 Tdk Corporation Multilayer electronic device and method for producing same
US6515842B1 (en) * 2000-03-30 2003-02-04 Avx Corporation Multiple array and method of making a multiple array
DE60114200T2 (de) * 2000-07-06 2006-07-13 Phycomp Holding B.V. Keramischer vielschichtkondensatornetzwerk
DE10202915A1 (de) * 2002-01-25 2003-08-21 Epcos Ag Elektrokeramisches Bauelement mit Innenelektroden
KR100544908B1 (ko) * 2002-04-01 2006-01-24 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 세라믹 전자부품 및 그 제조방법
JP2005259982A (ja) * 2004-03-11 2005-09-22 Tdk Corp 積層セラミックコンデンサ
KR100616687B1 (ko) * 2005-06-17 2006-08-28 삼성전기주식회사 적층형 칩 커패시터

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5918422U (ja) * 1982-07-27 1984-02-04 日本電気株式会社 積層コンデンサ
JPH02312217A (ja) * 1989-05-26 1990-12-27 Murata Mfg Co Ltd 積層コンデンサ
JPH06314634A (ja) * 1993-04-28 1994-11-08 Murata Mfg Co Ltd コンデンサアレイ
JP2000124064A (ja) * 1998-10-21 2000-04-28 Tdk Corp 積層チップ部品
JP2001044061A (ja) * 1999-07-30 2001-02-16 Kyocera Corp 積層セラミックコンデンサ
JP2001203122A (ja) * 2000-01-20 2001-07-27 Murata Mfg Co Ltd 積層コンデンサの製造方法及び積層コンデンサ
JP2004047707A (ja) * 2002-07-11 2004-02-12 Murata Mfg Co Ltd 積層セラミックコンデンサアレイ

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