JPH06314634A - コンデンサアレイ - Google Patents

コンデンサアレイ

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JPH06314634A
JPH06314634A JP5102634A JP10263493A JPH06314634A JP H06314634 A JPH06314634 A JP H06314634A JP 5102634 A JP5102634 A JP 5102634A JP 10263493 A JP10263493 A JP 10263493A JP H06314634 A JPH06314634 A JP H06314634A
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sintered body
capacitor
capacitor array
capacitor units
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Yoshiaki Kono
芳明 河野
Tatsuya Suzuki
達也 鈴木
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 隣接するコンデンサユニット間における浮遊
容量に起因する悪影響を防止し得るコンデンサアレイを
提供する。 【構成】 誘電体セラミックスよりなる焼結体11内に
おいて、セラミック層を介して重なり合うように複数の
内部電極を形成することにより、第1〜第3のコンデン
サユニット12〜14が構成されているコンデンサアレ
イであって、各コンデンサユニット12〜14間を分離
するために溝15,16が焼結体の上面11cから下面
11d側に向かって延びるように形成されている、コン
デンサアレイ20。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、複数のコンデンサユニ
ットが1個のセラミック焼結体を用いて構成されている
コンデンサアレイに関し、特に、隣接するコンデンサユ
ニット間の構造が改良されたコンデンサアレイに関す
る。
【0002】
【従来の技術】電子機器の小型化に伴い、電子部品の小
型化及び高密度実装化が進められている。例えばコンデ
ンサでは、超小型の積層セラミックコンデンサが開発さ
れており、プリント回路基板上にこれらの超小型積層セ
ラミックコンデンサを多数実装してなる回路が実現され
ている。
【0003】また、電子部品の高密度実装を果たすため
に、複数のコンデンサを一体化してなるコンデンサアレ
イも用いられている。コンデンサアレイは、1個のセラ
ミック焼結体内にセラミック層を介して重なり合うよう
に内部電極を形成することにより構成されたコンデンサ
ユニットを焼結体内において複数個並設したものであ
る。コンデンサアレイを用いれば、用意するコンデンサ
の数を低減することができ、かつ実装作業を簡略化する
ことができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】電子部品の高密度実装
を可能とするには、上記のように積層コンデンサをより
小型のものとすることが望ましい。しかしながら、小型
の積層コンデンサになるほど、内部電極の面積が小さく
なり、かつ非常に軽くなる。その結果、プリント回路基
板に実装するに際し、溶融はんだの表面張力により積層
コンデンサが一方の外部電極側を下端として立設され、
他方の外部電極がプリント回路基板の上方に浮いてしま
う現象(ツームストーン現象)が生じるという問題があ
った。すなわち、積層コンデンサが小型になればなるほ
ど、プリント回路基板上に実装することが非常に困難に
なるという問題があった。
【0005】他方、上記コンデンサアレイを用いた場合
には、複数個のコンデンサユニットが1個の焼結体内に
構成されているため、上記のような溶融はんだの表面張
力によるツームストーン現象は生じ難い。しかしなが
ら、コンデンサアレイでは、1個の焼結体内において複
数個のコンデンサユニットが並設されているため、隣接
するコンデンサユニット間において浮遊容量が発生する
ことを避けることができない。よって、コンデンサアレ
イを使用する回路に該浮遊容量により悪影響を与えるこ
とがあった。
【0006】本発明の目的は、高密度実装に適してお
り、安定にプリント回路基板上に実装することができる
だけでなく、隣接するコンデンサユニット間の浮遊容量
による悪影響を低減し得る構造を備えたコンデンサアレ
イを提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、セラミック焼結体内にセラミック層を介して厚み方
向に重なり合うように複数の内部電極を形成することに
より構成された複数のコンデンサユニットが前記焼結体
内に並設された積層コンデンサアレイにおいて、前記焼
結体のうち隣合うコンデンサユニット間において、焼結
体の上面及び下面の少なくとも一方から厚み方向に延び
るように溝が形成されており、該溝によって隣合うコン
デンサユニット間が隔てられていることを特徴とする、
コンデンサアレイである。
【0008】また、請求項2に記載の発明は、セラミッ
ク焼結体内にセラミック層を介して厚み方向に重なり合
うように複数の内部電極を形成することにより構成され
た複数のコンデンサユニットが前記焼結体内に並設され
た積層コンデンサアレイにおいて、前記焼結体のうち隣
合うコンデンサ間において、焼結体の上面及び下面の少
なくとも一方から厚み方向に延びるように溝が形成され
ており、該溝に焼結体よりも比誘電率の低い絶縁性材料
が充填されており、該絶縁性材料からなる層により隣合
うコンデンサユニットが隔てられていることを特徴とす
る、コンデンサアレイである。
【0009】すなわち、請求項1,2に記載の発明は、
隣合うコンデンサユニット間において焼結体の上面及び
下面の少なくとも一方から厚み方向に延びるように溝を
形成し、該溝によって隣合うコンデンサユニット間を分
離したことにおいて共通する。
【0010】
【作用及び発明の効果】請求項1に記載の発明のコンデ
ンサアレイでは、隣合うコンデンサユニット間が、上記
溝により隔てられている。溝の部分の比誘電率は、空気
の比誘電率に等しいため、コンデンサアレイを構成して
いる誘電体セラミックスの比誘電率に比べて非常に低
い。従って、隣接するコンデンサユニット間における浮
遊容量が、上記溝を形成することにより非常に小さくさ
れている。
【0011】よって、請求項1に記載の発明によれば、
隣接コンデンサユニット間の浮遊容量が著しく低減され
るため、隣接するコンデンサユニット間の浮遊容量によ
る悪影響を確実に防止することが可能となる。
【0012】また、請求項2に記載の発明のコンデンサ
アレイでは、隣接するコンデンサユニット間が、上記比
誘電率の低い絶縁材料層により分離されている。従っ
て、隣接するコンデンサユニット間における浮遊容量
が、上記絶縁材料層を構成することにより、非常に小さ
くされている。
【0013】よって、請求項2に記載の発明によれば、
請求項1に記載の発明の場合と同様に、隣接するコンデ
ンサユニット間の浮遊容量を著しく低減し得るため、該
浮遊容量による悪影響を確実に防止することが可能とな
る。
【0014】さらに、請求項2に記載の発明のコンデン
サアレイでは、溝に絶縁材料が充填されているため、溝
を設けたことによる機械的強度の低下も生じ難い。以上
のように、請求項1,2に記載の発明によれば、従来の
超小型の積層コンデンサを複数個実装する場合に比べ
て、実装コストを低減することができ、かつ実装に際し
てのチップ立ち現象を防止することができる。また、従
来の積層コンデンサアレイと比べた場合には、隣接する
コンデンサユニット間の浮遊容量による悪影響を低減し
得るため、所望通りの特性を発揮し得る回路を確実に構
成することができる。
【0015】
【実施例の説明】以下、本発明の実施例のコンデンサア
レイを図面を参照しつつ説明することにより本発明を明
らかにする。なお、以下の説明においては、各実施例の
コンデンサアレイの製造方法を先に説明することによ
り、該コンデンサアレイの構造を明らかにする。
【0016】第1の実施例 まず、図1(a)及び(b)に示すように、矩形のセラ
ミックグリーンシート1,2を用意する。セラミックグ
リーンシート1,2は、例えばチタン酸バリウム系セラ
ミック粉末のような誘電体セラミック粉末を公知慣用の
バインダ及び有機溶媒と混練することにより得られたス
ラリーを、ドクターブレード法等の適宜のシート成形法
により成形し、打ち抜くことにより得られる。
【0017】セラミックグリーンシート1の上面には、
一方端縁1aから、他方端縁1bに向かって、但し他方
端縁1bには至らないように略矩形の内部電極3〜5が
形成されている。内部電極3〜5は、図示のように全体
として略矩形形状を有するが、端縁1aに引き出されて
いる部分近傍が他の部分に比べて相対的に幅が小さくな
るように形成されている。
【0018】同様に、セラミックグリーンシート2の上
面においても、一方端縁2bから、他方端縁2a側に向
かって、但し他方端縁2aには至らないように、略矩形
の内部電極6〜8が形成されている。
【0019】上記内部電極3〜5,6〜8は、それぞ
れ、AgもしくはAg−Pdなどを含有する導電ペース
トを印刷することにより形成される。もっとも、他の導
電膜形成方法により内部電極3〜8を形成してもよい。
【0020】次に、上記セラミックグリーンシート1,
2をそれぞれ複数枚用意し、交互に、図1(a),
(b)に示した向きのまま積層し、図2に略図的に示す
ように、その上方及び下方の適宜の枚数の無地のセラミ
ックグリーンシート9,10を積層し、厚み方向に圧着
する。上記のようにして圧着することにより積層体を得
る。得られた積層体を焼成することにより、図3及び図
4に示す焼結体11が得られる。
【0021】図3から明らかなように、焼結体11の端
面11aには、上述した内部電極6〜8が露出されてい
る。また、図4から明らかなように、焼結体11の中央
部分においては、内部電極3と内部電極6とが、内部電
極4と内部電極7とが、内部電極5と内部電極8とが、
それぞれ厚み方向において交互に積層されている。従っ
て、内部電極3,6がセラミック層を介して重なり合っ
ている部分において第1のコンデンサユニット12が、
内部電極4,7がセラミック層を介して重なり合ってい
る部分において第2のコンデンサユニット13が、内部
電極5,8がセラミック層を介して重なり合っている部
分において第3のコンデンサユニット14が構成される
ことになる。
【0022】次に、図5に示すように、セラミック焼結
体11の上面11c側から、下面11dに向かって、但
し下面11dには至らないように溝15,16を形成す
る。このようにして、隣接するコンデンサユニット12
〜14間が溝15,16により隔てられることになる。
溝15,16の加工は、ダイヤモンドカッターやダイシ
ングマシーン等を用いて行うことができる。また、溝1
5,16の幅は、焼結体11の寸法、各コンデンサユニ
ット12〜14の大きさ等によって適宜定められるが、
溝15,16は、各コンデンサユニット12〜14の内
部電極が重なり合っている部分よりも下方に至るように
形成することが望ましい。
【0023】次に、図6に示すように、上記焼結体11
の端面11aと端面11bに、Ag含有導電ペーストを
塗布し、焼き付けることにより、それぞれ、外部電極1
7a,17b〜19a,19bを形成することにより、
第1の実施例のコンデンサアレイ20を得ることができ
る。
【0024】コンデンサアレイ20では、図6及び図7
から明らかなように、各コンデンサユニット12〜14
間が上記溝15,16により分離されている。従って、
隣合うコンデンサユニット12〜14間における浮遊容
量を著しく低減することかできる。
【0025】次に、第1の実施例の具体的な実験例につ
き説明する。セラミックグリーンシート1,2として、
チタン酸バリウムを主成分とするセラミックスラリーを
厚み10μmに設定し、60mm×40mmの矩形の形
状の大きさに打ち抜いたものを用いた。また、上記焼成
は1300℃の温度で行い、ダイヤモンドカッターで
2.5mm×1.5mmの矩形の平面形状を有するよう
に切断した後、さらにダイヤモンドカッターにより上記
溝15,16を最下層の内部電極よりも下方に至るよう
に形成し、上記のように外部電極を形成することにより
実施例のコンデンサアレイを得た。
【0026】比較のために、上記溝を形成しないことを
除いては、上記と同様にして得られたコンデンサアレイ
を比較例として用意した。上記のようにして得た実施例
及び比較例のコンデンサアレイ20,22を、図8
(a),(b)に示すように、焼結体11の上面11c
側が下となる向きにして回路基板21上に半田により接
合した。次に、回路基板21上に実装された状態のま
ま、−25℃の温度に冷却し、しかる後+125℃まで
加熱し、再度−25℃まで冷却する工程を1サイクルと
し、該冷熱サイクル1000サイクル終了した後に、各
コンデンサアレイの絶縁抵抗を測定した。
【0027】絶縁抵抗が初期の絶縁抵抗から10%以上
変化したサンプルを故障とみなし、実施例及び比較例の
各コンデンサアレイ50個につき上記の測定を行った。
結果を下記の表1に示す。なお、1個のコンデンサアレ
イ中、一つのコンデンサユニットにおいて上記故障が存
在した場合、該コンデンサアレイ1個が故障であるとカ
ウントした。
【0028】
【表1】
【0029】表1から明らかなように、比較例のコンデ
ンサアレイ22では、故障率が16%であるのに対し、
実施例のコンデンサアレイ20では、上記故障が全く発
生しなかった。
【0030】第2の実施例 図9に示すセラミックグリーンシート31,32を第1
の実施例と同様にして用意する。
【0031】セラミックグリーンシート31上には、端
縁31aから端縁31bに向かって延びるように矩形の
内部電極33〜35が形成されている。また、セラミッ
クグリーンシート32上には、端縁32a,32b間で
はなく、セラミックグリーンシート32の短手方向に延
びる端縁32c,32d間に至るように矩形の内部電極
36が形成されている。
【0032】上記内部電極33〜36の形成は、第1の
実施例と同様にして行い得る。次に、上記セラミックグ
リーンシート31,32を、図9に示す向きのまま交互
に積層し、上方及び下方に適宜の枚数の無地のセラミッ
クグリーンシートを積層し、厚み方向に圧着した後、焼
成することにより、図10及び図11に示す焼結体41
が得られる。
【0033】図11から明らかなように、焼結体41の
中央部分においては、内部電極33〜35が、それぞ
れ、内部電極36と厚み方向において交互に重なり合っ
ている。また、焼結体41の端面41a,41bには、
上記内部電極33〜35が露出されており、端面41
c,41dには内部電極36が露出されている。
【0034】次に、第1の実施例と同様に、ダイシング
マシーン又はダイヤモンドカッターを用いて、焼結体4
1の上面41eから、さらに最下層の内部電極36より
も下方に至るように、但し、下面41fには至らないよ
うに溝45,46を形成した。溝45,46の形成によ
って、第1〜第3のコンデンサユニット42〜44が分
離されて構成される。
【0035】しかる後、図13に示すように、焼結体4
1の端面41a,41bに、内部電極33〜35に電気
的に接続される外部電極47a,47a〜49a,49
bを、端面41c,41dに外部電極50a,50aを
形成する。また、溝45,46の内面に、内部電極36
の各コンデンサユニットに残存している部分に接合され
る外部電極50c,50dを形成する。
【0036】上記のようにして得た第2の実施例のコン
デンサアレイ51では、各コンデンサユニット42〜4
4の一方の電位に接続される内部電極が共通外部電極で
ある外部電極50a,50aに引き出されている。
【0037】第2の実施例のコンデンサアレイにおいて
も、上記溝45,46によりコンデンサユニット42〜
44間が分離されているため、隣接するコンデンサユニ
ット間における浮遊容量を著しく低減し得る。
【0038】第2の実施例のコンデンサアレイについ
て、第1の実施例についての具体的な実験例と同様にし
て具体的な実験を行い、溝45,46が形成されていな
い比較例のコンデンサアレイとの比較を行った。結果
を、下記の表2に示す。
【0039】
【表2】
【0040】表2から明らかなように、−25℃→+1
25℃→−25℃の冷熱サイクルを1000サイクル終
了した後において、第2の実施例の積層コンデンサアレ
イでは、絶縁抵抗値についての故障率が0%と、比較例
のコンデンサアレイに比べて低く、信頼性に優れている
ことが判る。
【0041】第3の実施例 図15(a),(b)に示すセラミックグリーンシート
61,62を第1の実施例と同様にして用意した。
【0042】セラミックグリーンシート61,62の上
面に、それぞれ、略矩形の内部電極63,64を、第1
の実施例と同様にして形成した。なお内部電極63は、
セラミックグリーンシート61の一方端縁61aにおい
て所定の距離を隔てて3箇所に引き出されている。同様
に、内部電極64につていも、セラミックグリーンシー
ト62の一方端縁62a(積層後に上記セラミックグリ
ーンシート61の端縁61aとは反対側に位置する端
縁)において所定間隔を隔てて3箇所に引き出されてい
る。
【0043】次に、上記セラミックグリーンシート6
1,62を、図15に示した向きのまま交互に積層し、
以後の工程につていは、第1,第2の実施例と同様にし
て焼結体を得た。得られた焼結体を図16及び図17に
示す。
【0044】図16,図17から明らかなように、焼結
体71では、一方端面71aに内部電極64が引き出さ
れている。この内部電極64の引き出されている部分
を、それぞれ、参照番号64a,64b,64cで示
す。また、図16で明らかではないが、焼結体71の他
方側端面71bには、図15に示した内部電極63が3
箇所において厚み方向に複数引き出されている。
【0045】さらに、図17から明らかなように、焼結
体71内においては、上記内部電極63,64が交互に
積層されている。次に、上記焼結体71の上面71cか
ら下面71d側に向かって、但し下面71dには至らな
いようにダイヤモンドカッター又はダイシングマシーン
を用いて溝75,76を形成した。その結果、溝75,
76の形成により、溝75,76で隔てられた第1〜第
3のコンデンサユニット72〜74が構成される。
【0046】すなわち、溝75,76を形成することに
より、内部電極63,64が2箇所で切断され、各コン
デンサユニット72〜74を構成するための内部電極が
焼結体71の厚み方向において交互にセラミック層を介
して重なり合うように形成される。
【0047】次に、図19に示すようにセラミック焼結
体71の対向端面71a,71bに、第1の実施例と同
様に、外部電極77a,77b〜79a〜79bを形成
した。さらに、上記溝75,76にPb−Si−Al系
ガラスを充填し、800℃の温度で焼き付けることによ
り図20及び図21に示すコンデンサアレイ80を得
た。図20及び図21において、81,82は、それぞ
れ、上記のようにガラスを焼き付けることにより構成さ
れた絶縁材料層を示す。本実施例では、上記絶縁材料層
81,82により隣合うコンデンサユニット72〜74
間が分離されているため、第1,第2の実施例の場合と
同様に、隣合うコンデンサユニット間における浮遊容量
の発生を著しく低減することができる。
【0048】しかも、絶縁材料層81,82が溝75,
76を充填するように形成されているため、機械的強度
も高められる。なお、本実施例においては、絶縁材料層
81,82を構成する材料として、Pb−Si−Al系
ガラスを用いたが、焼結体71を構成するための誘電体
セラミックに比べて比誘電率が非常に低い材料であれ
ば、任意の絶縁性材料、例えば他のガラスや合成樹脂を
用いてもよい。
【0049】第4の実施例 第4の実施例は、第2の実施例のコンデンサアレイをさ
らに改良したものである。すなわち、図13及び図14
に示したコンデンサアレイ51において、さらに溝4
5,46内にPb−Si−Al系ガラスを充填し、80
0℃の温度で焼き付けることにより絶縁材料層を形成し
たことに特徴を有し、その他の点につていは、第2の実
施例と同様である。
【0050】従って、第4の実施例のコンデンサアレイ
では、図22(a),(b)に示すように、第1〜第3
のコンデンサユニット42〜44が、溝45,46内に
充填された絶縁材料層91,92を隔てて分離されてい
る。第4の実施例のコンデンサアレイ93では、上記の
ように絶縁材料層91,92が隣接するコンデンサユニ
ット間に構成されているため、第2の実施例のコンデン
サアレイ51と同様に隣接するコンデンサユニット間の
浮遊容量を著しく低減し得るだけでなく、機械的強度が
高められる。
【0051】上述したきた各実施例においては、隣接す
るコンデンサユニット間を分離するための溝は、焼結体
の上面から下面に向かって至るように形成されていた
が、下面側から上面に向かって溝が形成されていてもよ
く、あるいは上面及び下面の双方から厚み方向に沿って
延びるように溝が形成されていてもよい。もっとも、隣
接するコンデンサユニット間の浮遊容量を確実に低減す
るためには、重なり合っている内部電極が位置する部分
の側方に溝が位置される必要がある。従って、上面及び
下面の一方側から溝を形成することが好ましい。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)及び(b)は、それぞれ、第1の実施例
で用意したセラミックグリーンシート及びその上に形成
される内部電極の形状を示す各平面図。
【図2】複数枚のセラミックグリーンシートを積層する
工程を説明するための略図的斜視図。
【図3】焼結体を示す斜視図。
【図4】図3のA−A線に沿う略図的断面図。
【図5】溝が形成された焼結体を示す斜視図。
【図6】第1の実施例のコンデンサアレイを示す斜視
図。
【図7】図6のA−A線に沿う断面図。
【図8】(a)及び(b)は、それぞれ、第1の実施例
及び比較例のコンデンサアレイを試験用回路基板上に実
装した状態を示す各側面図。
【図9】(a)及び(b)は、それぞれ、第2の実施例
において用意したセラミックグリーンシート及びその上
に形成される内部電極の形状を示す各平面図。
【図10】焼結体を示す斜視図。
【図11】図10のA−A線に沿う断面図。
【図12】溝を形成された焼結体を示す斜視図。
【図13】第2の実施例のコンデンサアレイを示す斜視
図。
【図14】図13のA−A線に沿う断面図。
【図15】(a)及び(b)は、それぞれ、第3の実施
例において用意したセラミックグリーンシート及びその
上に形成される内部電極の形状を説明するための各平面
図。
【図16】焼結体を示す斜視図。
【図17】図16のA−A線に沿う断面図。
【図18】焼結体に溝を形成した状態を示す斜視図。
【図19】第3の実施例において外部電極を形成した状
態を示す斜視図。
【図20】第3の実施例のコンデンサアレイを示す斜視
図。
【図21】図20のA−A線に沿う断面図。
【図22】(a)及び(b)は、第4の実施例のコンデ
ンサアレイの斜視図及びA−A線に沿う断面図。
【符号の説明】
11…焼結体 12〜14…第1〜第3のコンデンサユニット 15,16…溝 11c…焼結体の上面 17a,17b〜19a,19b…外部電極
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年7月22日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0051
【補正方法】変更
【補正内容】
【0051】上述してきた各実施例においては、隣接す
るコンデンサユニット間を分離するための溝は、焼結体
の上面から下面に向かって至るように形成されたいた
が、下面側から上面に向かって溝が形成されていてもよ
く、あるいは上面及び下面の双方から厚み方向に沿って
延びるように溝が形成されていてもよい。もっとも、隣
接するコンデンサユニット間の浮遊容量を確実に低減す
るためには、重なり合っている内部電極が位置する部分
の側方に溝が位置される必要がある。従って、上面及び
下面の一方側から溝を形成することが好ましい。また、
本発明のコンデンサアレイの製造方法は、上記実施例の
工程順及び方法に限定されるものではないことをここで
指摘しておく。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 セラミック焼結体内にセラミック層を介
    して厚み方向に重なり合うように複数の内部電極を形成
    することにより構成された複数のコンデンサユニットが
    前記焼結体内に並設された積層コンデンサアレイにおい
    て、 前記焼結体のうち隣合うコンデンサユニット間におい
    て、焼結体の上面及び下面の少なくとも一方から厚み方
    向に延びるように溝が形成されており、該溝によって隣
    合うコンデンサユニット間が隔てられていることを特徴
    とする、コンデンサアレイ。
  2. 【請求項2】 セラミック焼結体内にセラミック層を介
    して厚み方向に重なり合うように複数の内部電極を形成
    することにより構成された複数のコンデンサユニットが
    前記焼結体内に並設された積層コンデンサアレイにおい
    て、 前記焼結体のうち隣合うコンデンサ間において、焼結体
    の上面及び下面の少なくとも一方から厚み方向に延びる
    ように溝が形成されており、該溝に焼結体よりも比誘電
    率の低い絶縁性材料が充填されており、該絶縁性材料か
    らなる層により隣合うコンデンサユニットが隔てられて
    いることを特徴とする、コンデンサアレイ。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08222985A (ja) * 1995-02-10 1996-08-30 Nippon Antenna Co Ltd 基板実装における分布キャパシタの形成構造および直列共振回路
JP2003526903A (ja) * 1999-04-20 2003-09-09 シーゲイト テクノロジー エルエルシー 差動型pztアクチベータの電極パターンの形成
US6794729B2 (en) 2001-03-01 2004-09-21 Nec Corporation Stacked capacitor and method of forming the same as well as semiconductor device using the same and circuit board using the same
US7436648B2 (en) * 2006-03-07 2008-10-14 Tdk Corporation Multilayer capacitor and mounted structure thereof
JP2009099826A (ja) * 2007-10-18 2009-05-07 Murata Mfg Co Ltd 積層セラミック電子部品
JP2016105453A (ja) * 2014-09-01 2016-06-09 株式会社村田製作所 電子部品内蔵基板
KR20200115089A (ko) * 2019-03-29 2020-10-07 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 콘덴서 어레이 및 복합 전자 부품

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7996067B2 (en) 1999-06-15 2011-08-09 Given Imaging Ltd. In-vivo imaging device, optical system and method
US7813789B2 (en) 1999-06-15 2010-10-12 Given Imaging Ltd. In-vivo imaging device, optical system and method

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08222985A (ja) * 1995-02-10 1996-08-30 Nippon Antenna Co Ltd 基板実装における分布キャパシタの形成構造および直列共振回路
JP2003526903A (ja) * 1999-04-20 2003-09-09 シーゲイト テクノロジー エルエルシー 差動型pztアクチベータの電極パターンの形成
JP4713742B2 (ja) * 1999-04-20 2011-06-29 シーゲイト テクノロジー エルエルシー 差動型pztアクチュエータの電極パターンの形成方法
US6794729B2 (en) 2001-03-01 2004-09-21 Nec Corporation Stacked capacitor and method of forming the same as well as semiconductor device using the same and circuit board using the same
US7436648B2 (en) * 2006-03-07 2008-10-14 Tdk Corporation Multilayer capacitor and mounted structure thereof
JP2009099826A (ja) * 2007-10-18 2009-05-07 Murata Mfg Co Ltd 積層セラミック電子部品
JP4650475B2 (ja) * 2007-10-18 2011-03-16 株式会社村田製作所 積層セラミックコンデンサアレイ
JP2016105453A (ja) * 2014-09-01 2016-06-09 株式会社村田製作所 電子部品内蔵基板
KR20200115089A (ko) * 2019-03-29 2020-10-07 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 콘덴서 어레이 및 복합 전자 부품
US11495416B2 (en) 2019-03-29 2022-11-08 Murata Manufacturing Co., Ltd. Capacitor array and composite electronic component
US11670462B2 (en) 2019-03-29 2023-06-06 Murata Manufacturing Co., Ltd. Capacitor array and composite electronic component

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