JP2000252439A - 溶融された拡散領域と分散されたドライバ系を有するセンスアンプ装置 - Google Patents

溶融された拡散領域と分散されたドライバ系を有するセンスアンプ装置

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JP2000252439A
JP2000252439A JP2000045945A JP2000045945A JP2000252439A JP 2000252439 A JP2000252439 A JP 2000252439A JP 2000045945 A JP2000045945 A JP 2000045945A JP 2000045945 A JP2000045945 A JP 2000045945A JP 2000252439 A JP2000252439 A JP 2000252439A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 個々のセンスアンプトランジスタグループの
間の臨界的な拡散領域間隔が回避され、センスアンプト
ランジスタとドライバとの最適な結合が得られるように
改善を行うこと。 【解決手段】 各導電性タイプの複数のセンスアンプト
ランジスタが、それぞれ1つの共通の延在した拡散領域
を有しており、さらに前記センスアンプトランジスタ用
のドライバが前記拡散領域に対して並行に直接これらに
隣接して配設されるように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、多数のセンスアン
プトランジスタと、該センスアンプトランジスタに対応
付けされた複数のドライバとを有する、半導体メモリ装
置のためのセンスアンプ装置に関する。そのようなセン
スアンプは、書込み/読出し増幅器とも称される。本願
では“ドライバ”とは、固有のトランジスタか又は複数
の個別トランジスタを意味し、これらはそれぞれセンス
アンプトランジスタの起動制御のために設けられてい
る。
【0002】
【従来の技術】半導体メモリ装置の場合には、複数のセ
ンスアンプトランジスタがドライバと交互にセル領域の
縁部に沿って配設されている。このことは、センスアン
プトランジスタのグループがドライバに追従しているこ
とを意味し、さらにそれにはまた別のセンスアンプトラ
ンジスタのグループがつながっている。このような配置
構成は図3に示してある。この場合センスアンプトラン
ジスタのグループ1がドライバ2と交互に示されてお
り、この配置構成のもとではセル領域が例えば図3の右
側におかれている。
【0003】この種のセンスアンプトランジスタ1とド
ライバ2の構成は、半導体メモリ装置のレイアウトに対
しては所定の利点を示しており、そのためこれまではそ
のような実施形態から離れることはなかった。この利点
とは例えば、センスアンプグループとドライバの交互配
置による面積の節約にある。
【0004】しかしながら図3によるセンスアンプ装置
の欠点として、個々のセンスアンプトランジスタグルー
プ1がそれぞれ異なる拡散領域を有し、その他にも各グ
ループ1の個々のセンスアンプトランジスタと、対応す
るドライバ2との間のワイヤリング区間が比較的長くな
ってしまう欠点を有している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従って本発明の課題
は、センスアンプ装置において、個々のセンスアンプト
ランジスタグループの間の臨界的な拡散領域間隔が回避
され、センスアンプトランジスタとドライバとの最適な
結合が得られるように改善を行うことである。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記課題は本発明によ
り、各導電性タイプの複数のセンスアンプトランジスタ
が、それぞれ1つの共通の延在した拡散領域を有してお
り、さらに前記センスアンプトランジスタ用のドライバ
が前記拡散領域に対して並行に直接これらに隣接して配
設されるように構成されて解決される。
【0007】本発明によるセンスアンプ装置の場合で
は、センスアンプとドライバに対するこれまでのレイア
ウトの構想から離れて、センスアンプトランジスタグル
ープとドライバの交互配置の代わりに、ここではまず各
導電性タイプのセンスアンプトランジスタ、すなわちP
形センスアンプトランジスタとN形センスアンプトラン
ジスタに対してそれぞれ1つの帯状に延在する拡散領域
を設け、それによって完成後の臨界的な拡散領域間隔が
回避される。ドライバはそれぞれ直接的にN形センスア
ンプトランジスタないしP形センスアンプトランジスタ
に隣接しておかれ、そのためドライバとセンスアンプト
ランジスタの間の最適な結合が実施可能となり、電荷移
送を遅延せしめるような大きな配線抵抗は存在しない。
【0008】本発明によれば実質的に、それぞれ全ての
P形センスアンプトランジスタと全てのN形センスアン
プトランジスタが共通の拡散領域を有しており、この拡
散領域がメモリセル領域の側方に配置されている。この
P形センスアンプトランジスタないしN形センスアンプ
トランジスタに対する拡散領域に対して並列にそれぞれ
1つのドライバが設けられ、このドライバは前述したよ
うに1つ又は複数のトランジスタからなっている。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明の別の有利な実施例によれ
ば、前記センスアンプトランジスタは、U字状に形成さ
れ、複数の列にて線形に配設されており、それによって
当該U字状部の脚部が一つの方向でそれぞれ一列に延在
し、前記ドライバは当該列に対して並行に、開放脚部に
沿って配設されている。
【0010】センスアンプトランジスタのU字状の構成
によってその値は実際には倍加する。これまでの半導体
メモリ装置におけるセンスアンプトランジスタの直線的
に延在していたゲートに代えて、本発明によるセンスア
ンプ装置では、そのゲートがこれまでのように直線的で
はなく、U字状に形成されているセンスアンプトランジ
スタが用いられている。これはチャネル幅が有利には実
質的に倍増する。
【0011】このU字形状のセンスアンプトランジスタ
は、既に前述したように、ドライバの直接近傍に設けら
れており、そのためドライバとセンスアンプトランジス
タの間では配線抵抗の小さな短い局所的接続が形成され
得る。それによりドライバとセンスアンプトランジスタ
の間の電荷移送の遅延が避けられる。
【0012】さらに有利には、前記U字状のセンスアン
プトランジスタにおいて、当該U字状部の脚部とソース
の間にドレインが当該U字状部の脚部外で存在してい
る。
【0013】
【実施例】次に本発明を図面に基づき以下の明細書で詳
細に説明する。なお図3は既に冒頭で説明済みである。
【0014】図1には本発明によるセンスアンプ装置の
概略的な平面図が示されている。この装置では、センス
アンプトランジスタの帯状部3が(図1では例えば右側
にある)メモリセル領域に隣接して設けられている。各
帯状部3の直ぐ隣にはドライバ4が設けられており、そ
れによって帯状部3の個々のセンスアンプトランジスタ
とドライバ4の間には短い配線が生じるだけである。
【0015】図2には、この帯状部3が詳細に示されて
いる。すなわち各帯状部3は、U字形状のMOSセンス
アンプトランジスタ6列からなり、この場合図示の“U
字形状”はゲート電極の構成を表している。このU字状
部の脚部の間には、ドレインDが存在し、それに対して
ソースSは、このU字状部の外側に配設される。センス
アンプトランジスタ6のこの構成によって、大きなチャ
ネル幅が生じる。これはセンスアンプトランジスタとそ
の機能に対して有利に働く。
【0016】このセンスアンプトランジスタ6は、全て
共通の拡散領域内におかれている。この拡散領域は、2
つの帯状部3に対して共通である。この拡散領域は、N
形導電性またはP形導電性であってもよい。このこと
は、このセンスアンプトランジスタ6がN形チャネルM
OSトランジスタなのかP形チャネルMOSトランジス
タなのかに依存している。N形チャネルMOSトランジ
スタに対しては、例えばP形導電性の拡散領域が利用さ
れる。それに対してP形チャネルMOSトランジスタの
場合には、N形導電性のチャネル領域が適用される。
【0017】半導体メモリ装置に複数のN形センスアン
プトランジスタとP形センスアンプトランジスタが設け
られる場合には、図2に示した配置構成が点線11で表
されているように繰り返される。このことは例えば図2
においてN形センスアンプトランジスタ6が示されてい
る場合、P形センスアンプトランジスタの列3とドライ
バ5による同じ配置構成が繰り返される。これは点線1
1で表されている。
【0018】ドライバ5は、センスアンプトランジスタ
6の近傍におかれている。それにより、比較的短い局所
的接続を用いた配線7によってセンスアンプトランジス
タ6の所望の電極(ソースノード)とドライバ5との接
続が可能となる。それによって配線抵抗は低く抑えられ
るので、電荷移送の遅延は避けられる。
【0019】図4には、センスアンプトランジスタ6の
2つの帯状部を2つ備えた拡散領域の上方からの平面を
示した図である(わかりやすくするためにセンスアンプ
トランジスタ6のコンタクトは強調して示されてい
る)。この帯状部3の隣にはドライバ5が設けられてお
り、この場合ここでは2つの帯状部3に1つのドライバ
5のみが対応付けられている。しかしながら場合によっ
ては図2に概略的に示されているように第2のドライバ
5が設けられてもよい。
【0020】図4の左方に示されている帯状部3は、N
形センスアンプトランジスタを形成している。それに対
して図4の右方に示されている帯状部3は、P形センス
アンプトランジスタを含んでいる。この図4から明らか
なように、ドライバ5は、センスアンプトランジスタの
直ぐ近傍の1つ又は複数のトランジスタからなってお
り、そのため配線7によって比較的低い配線抵抗で、実
質的に遅延を伴わない電荷移送(出力伝送)が保証され
る。
【0021】センスアンプトランジスタ6は、拡散領域
8に存在し、この拡散領域は図4及び図5の実施例にお
いてはセンスアンプトランジスタ6のそれぞれ2つの帯
状部3に対して共通である。
【0022】図6には、半導体基板9上の拡散領域8に
おける3つのセンスアンプトランジスタ6によるライン
AA′の断面が示されている。ゲート電極Gは、U字形
状でこのU字状部外に配設されている。それに対してド
レインDはこのU字状部内に存在する。
【0023】図5は、図4の平面上方に存在する金属化
面のさらなる平面図である。この図からは特にセンスア
ンプトランジスタ6とドライバ5の間の接続のための配
線部7が認められる。その他にもさらにビット線路10
が示されており、これはセンスアンプトランジスタ3と
ドライバ5の上方の高い平面内で延在する。
【0024】本発明によるセンスアンプ装置の特に有利
な点は、センスアンプトランジスタのドライバ5に対す
る最適な結合が大きな配線抵抗を伴うことなく行われる
ことと、センスアンプトランジスタ3の拡散領域8の完
全な溶融構造である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるセンスアンプ装置の概略的な平面
図である。
【図2】図1に示されたセンスアンプ装置を個々のセン
スアンプトランジスタの構成と共に示した平面図であ
る。
【図3】従来のセンスアンプ装置の平面図である。
【図4】本発明によるセンスアンプ装置の拡散面を示し
た図である。
【図5】図4によるセンスアンプ装置の配線面がより緻
密に描かれている平面図である。
【図6】図4のラインAA′に沿った断面を示した図で
ある。
【符号の説明】
1 センスアンプトランジスタグループ 2 ドライバ 3 帯状部 4 ドライバ 5 ドライバ 6 センスアンプトランジスタ 7 配線部 G ゲート S ソース D ドレイン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ドミニク サヴィニャク ドイツ連邦共和国 イスマニング バーン ホーフシュトラーセ 2 (72)発明者 ヘルムート シュナイダー ドイツ連邦共和国 ミュンヘン ジークム ント−シャッキー−シュトラーセ 20

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 多数のセンスアンプトランジスタ(6)
    と、これらに対応付けされた複数のドライバ(5)とを
    有する、半導体メモリ装置用のセンスアンプ装置におい
    て、 各導電性タイプの複数のセンスアンプトランジスタ
    (6)が、それぞれ1つの共通の延在した拡散領域
    (8)を有しており、さらに前記センスアンプトランジ
    スタ(6)用のドライバ(5)が前記拡散領域(8)に
    対して並行に直接これらに隣接して配設されていること
    を特徴とするセンスアンプ装置。
  2. 【請求項2】 前記センスアンプトランジスタ(6)
    は、U字状に形成され、複数の列(3)にて線形に配設
    されており、それによって当該U字状部の脚部が一つの
    方向でそれぞれ一列に延在し、前記ドライバ(5)は当
    該列(3)に対して並行に、開放脚部に沿って配設され
    ている、請求項1記載のセンスアンプ装置。
  3. 【請求項3】 前記各センスアンプトランジスタ(6)
    とドライバ(5)の間に短い局所的接続部(7)が設け
    られている、請求項1または2記載のセンスアンプ装
    置。
  4. 【請求項4】 前記U字状のセンスアンプトランジスタ
    (6)において、当該U字状部の脚部とソース(S)の
    間にドレイン(D)が当該U字状部の脚部外で存在して
    いる、請求項2または3記載のセンスアンプ装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100680973B1 (ko) 2005-12-28 2007-02-09 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자의 센스 엠프 형성방법
JP2008277857A (ja) * 2008-06-25 2008-11-13 Toshiba Corp 半導体装置及びその製造方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6404019B1 (en) * 2000-09-29 2002-06-11 Infineon Technologies Ag Sense amplifier

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS609152A (ja) * 1983-06-29 1985-01-18 Fujitsu Ltd 半導体装置
US4584672A (en) * 1984-02-22 1986-04-22 Intel Corporation CMOS dynamic random-access memory with active cycle one half power supply potential bit line precharge
JP3242101B2 (ja) * 1990-10-05 2001-12-25 三菱電機株式会社 半導体集積回路
JP3129336B2 (ja) * 1991-12-09 2001-01-29 沖電気工業株式会社 半導体記憶装置
JP3352577B2 (ja) * 1995-12-21 2002-12-03 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 記憶装置
JP3556416B2 (ja) * 1996-11-29 2004-08-18 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置
JP3209265B2 (ja) * 1997-08-01 2001-09-17 日本電気株式会社 半導体回路
US5831912A (en) * 1997-09-26 1998-11-03 Siemens Aktiengesellschaft Semiconductor memory having space-efficient layout

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100680973B1 (ko) 2005-12-28 2007-02-09 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자의 센스 엠프 형성방법
JP2008277857A (ja) * 2008-06-25 2008-11-13 Toshiba Corp 半導体装置及びその製造方法

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TW508790B (en) 2002-11-01
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