JP2000241362A - 表面品質検査装置及びその方法 - Google Patents

表面品質検査装置及びその方法

Info

Publication number
JP2000241362A
JP2000241362A JP2000041822A JP2000041822A JP2000241362A JP 2000241362 A JP2000241362 A JP 2000241362A JP 2000041822 A JP2000041822 A JP 2000041822A JP 2000041822 A JP2000041822 A JP 2000041822A JP 2000241362 A JP2000241362 A JP 2000241362A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
moving object
camera
object according
channel
automatically inspecting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000041822A
Other languages
English (en)
Inventor
Piironen Timo
ティモ・ピイロネン
Paul Detlef
デトレフ・パウル
Kontio Pertti
ペルッティ・コンティオ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Thermo Radiometrie Oy
Original Assignee
Spectra Physics Visiontech Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Spectra Physics Visiontech Oy filed Critical Spectra Physics Visiontech Oy
Publication of JP2000241362A publication Critical patent/JP2000241362A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55Specular reflectivity
    • G01N21/57Measuring gloss
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/303Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details
    • G01N21/8903Optical details; Scanning details using a multiple detector array

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 移動物体の表面を自動検査する方法を提供す
ることである。 【解決手段】 少なくとも一つの光源をそれぞれ有する
方向であって、少なくとも2つの異なる照明方向から物
体表面の領域を照明し、前記被照明物体表面領域を分析
用の画像情報を提供するカメラを用いて画像化する段階
を備えた、移動物体の表面を自動検査する方法におい
て、異なる照明方向における光源を、1kHzより大きい
パルス周波数でパルス化して異なる時間に物体表面領域
を照明し、かつ被照明物体表面領域を前記パルスに同期
するライン走査カメラを用いてラインとして画像化する
ことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、圧延金属製品の表
面のようなストリップ状あるいはシート状の表面の光電
子測定装置による検査に関するものである。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】独国特
許第19 511 534号公開公報によれば、光源を使って少な
くとも2つの異なる照明方向から表面を照明することに
よって移動表面の3D特性を検査するものであって、各
照明方向の光源は互いに他方の照明方向とは異なる色の
光を用いて表面を照明する従来の方法及び装置を開示し
ている。物体表面は、異なる照明方向から同時に照明さ
れ、その照明された表面は、画像情報の分析を行うカメ
ラによってその画像化される。物体表面の3D特性分析
は、表面に対して検出された明度を比較する色分類をも
とにしている。
【0003】従来技術における方法及び装置では、2つ
の照明からの対称暗視野照明がその方法の中で使用され
るので、物体表面の3D特性の検査は可能であるが、表
面の光沢度及び反射率の検査はできない。3D分析が色
分類をもとにしているという事実は、この方法にとって
マイナスになる:例えば、この方法では、物体表面の表
面物質が完全に変化するかあるいは同じ表面物質の異な
る種類に変化するかのいずれか、またはその両方の形に
変化する、という表面物質の変化に対応させることはで
きないし、また、照明の変化に対応させることもできな
い。これは、特に製造工程における主要な問題である誤
警報を発生させることになる。
【0004】上記の理由により、従来の方法は、物体表
面における異なる異常間を区別するという非常に限定さ
れた能力しか持っていなかった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、上記の
問題を同時に解決する方法を実行するための方法及び装
置を提供することである。この目的は、移動物体の表面
の自動検査のための本発明の方法、すなわち、異なる照
明方向から物体表面上の領域を照らし、かつ画像情報の
分析を行うカメラを使って物体の照明された表面領域を
画像化する段階を備えた方法によって達成する。異なる
照明方向の光源は、パルス化されて異なる時間に物体表
面を照明するものであり、そのパルスの周波数は>1kH
zである。さらに、物体の照明された表面領域は、上記
パルスに同期するライン走査カメラを使ってラインとし
て画像化する。色が関わらないならば、使用されるライ
ン走査カメラは白黒カメラであってもよい。色も測定す
るならば、ライン走査カメラにカラーカメラを用いる。
【0006】また、本発明は、少なくとも2つの異なる
照明方向における少なくとも2つの異なる光源、すなわ
ち、検査中の物体の表面領域を照明する、各照明方向の
少なくとも一つの光源と;物体表面領域を画像化するカ
メラと、画像化によって物体表面から得られた画像情報
を分析する画像分析器とを備えた、移動物体の表面を検
査する装置に関するものである。光源について述べる
と、装置は、異なる照明方向から異なる時間に物体表面
を照明する光源を備える。表面から画像を得るために、
装置は、少なくとも一つのライン走査カメラを備える。
装置はさらに、光源の同期型パルス用のタイミングコン
トローラと、少なくとも一つのライン走査カメラとを有
し、そのパルス周波数は1kHzよりも大きいものであ
る。
【0007】本発明の好適な実施形態については、従属
項でクレームした。
【0008】本発明は、異なる照明方向の光源が1kHz
を越えてパルスにパルス化されて異なる時間に物体表面
領域を照明し、かつその物体の被照明表面領域をそのパ
ルスに同期するライン走査カメラを使ってラインとして
画像化するという思想に基づいている。
【0009】本発明の方法及び装置によって、様々な利
点が得られる。本発明では、異なる照明方向からの光ビ
ームによって異なる時間に照明される間に画像化された
物体表面領域を検査する画像分析が可能になる。これが
表面の3D特性の分析をかなり強化する。というのは、
異なる照明方向からの光ビームによって異なる時間に照
明される間に画像化された物体表面領域は、それが異な
る照明方向から同時に照明されたときよりも、さらに3
D特性を明らかにするからである。3D特性の分析を強
化するのに加えて、非同時の照明も、表面の光沢度及び
反射率の検査を強化する。本発明は光源及びライン走査
カメラの高速同期パルス化を含んでいるので、高速移動
物体の表面の検査も可能である。
【0010】本発明の好適な実施形態及び他の詳細に記
載される他の実施形態は、基礎発明の利点を強調し、ま
た他の利点を引き出すものである。この表面検査では、
色を正確に示すことにより3D分析を可能になり、ま
た、より精度の高い表面の光沢度分析及び反射率分析を
可能になる。精度が改善されれば、例えば、誤警報が回
避され、製造工程のかなりのスピードアップが可能にな
る。さらに、本発明の好適な実施形態は、遠方から、例
えば熱い移動表面のような移動表面を検査するという先
端的な方法を導入する。ここで、遠方からの表面検査と
は、表面を少なくとも1mm、ひょっとすると3mmも
の遠方から検査することを意味している。
【0011】
【発明の実施の形態】図1は、移動物体の表面20の品
質を検査する装置の構成を示している。物体の移動は、
矢印Aによって示した。好適な実施形態では、被検査表
面はストリップ状あるいはシート状であり、例えば、圧
延金属製品の表面である。この構成は、少なくとも2個
(図では3個)の光源10−12と、物体表面上の領域
を照明する照明方向13−15と、被照明表面領域を画
像化するライン走査カメラ21とを備えている。さら
に、ライン走査カメラ21の出力信号のチャネル分離
(channel separation)を行うチャネル分離器16と、
チャネル分離器から得られた画像情報を分析する画像ア
ナライザー17とを備えている。
【0012】図1では、移動物体の表面20は、少なく
とも異なる照明方向13−15の光源10−12によっ
て照明されている。物体表面上の被照明物体は、ライン
走査カメラ21によって画像化され、そのライン走査カ
メラ21から得られた出力信号はチャネル分離器16で
チャネル分離を受ける。チャネル分離されたチャネルC
H1、CH2等に含まれている画像情報をもとにして、
画像アナライザー17で画像分析を行い物体表面20を
検査する。
【0013】図2は、表面での光の物理的な振る舞いを
を示す基本的な例であり、本発明の理解を助けるもので
ある。ぞれぞれの図は、垂直に入射して物体表面から再
放出された光37が異なる表面でどのように振る舞うか
を示している。図2aは、物体表面40−41から再放
出された光の散乱を示している。表面40の反射率は表
面41の反射率より低いが、表面40から再放出された
光は、表面41から再放出された光31よりも大きく散
乱する。もう一つの相違は、表面40から再放出された
光30の量が表面41から再放出された光31の量より
小さいことである。
【0014】図2bは、異なる光沢度特性を有する表面
42−43から再放出された光32−33の様子を示し
ている。低めの光沢度を有する表面42から再放出され
た光32のビームは、高めの光沢度を有する表面43か
ら再放出された光33のビームより太い。ここでは、再
放出された光32−33の量はほぼ等しい。
【0015】図2cは、表面44−45から再放出され
た光34−35を示している。ここで、表面44は滑ら
かであり、一方、符号46で示すように表面45は平坦
ではない。表面45はこのように平坦でないために、表
面から再放出された光35が傾いている。
【0016】図3は、移動物体の表面20の品質を検査
する装置の構成を示しており、この構成では、物体表面
上の領域を照明する異なる照明方向13−15の光源1
0−12を備えており、そのため、用いられる各照明方
向は、少なくとも一つの光源と;照明の焦点を合わせる
ための焦点手段22−24と;物体の被照明表面領域を
画像化するためのライン走査カメラ21と;チャネル分
離器16と;画像アナライザー17と;上記構成要素の
作動と同期させるためのタイミングコントローラ18と
を備えている。物体の移動は矢印Aによって示されてい
る。色が関わらないならば、使用されるライン走査カメ
ラ21は白黒カメラであってもよい。色も測定するなら
ば、ライン走査カメラ21にカラーカメラを用いる。
【0017】図3の方法では、異なる照明方向13−1
5から異なる時間に照明する光源10−12と、ライン
走査カメラ21と、チャネル分離器16との作動をタイ
ミングコントローラ18によるパルス化によって同期す
る。このとき、異なる時間に照明する光源10−12の
パルス周波数は1kHzより大きいものである。画像化時
間は、タイミングコントローラ18によってこの方法の
中で決まるものであり:各画像化時間の間、用いた各照
明方向から一度だけ物体表面20を照明する。各画像化
時間の間、各照明方向13−15からの光ビームは、焦
点手段22−24よって、物体表面20上の少なくとも
同じ領域上に焦点を合わせる。本発明の好適な実施形態
においては、焦点手段22−24は、焦点レンズ及びコ
リメートレンズ(focusing and collimating lenses)
である。白黒カメラをライン走査カメラ21として用
い、かつ光源10−12を少なくとも2つの照明方向1
3−15からパルス化するとき、画像化時間の間に得ら
れた異なる照明方向13−15かからの光ビームが物体
表面20上の異なる領域上で焦点が合うように、本発明
の好適な実施形態を実施することも可能である。
【0018】光源10−12のパルス周波数は、検査中
の移動物体の速度をもとに決める。そのため、物体表面
20は徹底的に検査することができる。言い換えると、
所定の画像化時間中に、前の画像化時間中に照明しかつ
画像化した領域に隣接する領域を照明し、画像化する。
実施形態は、画像化時間中に照明しかつ画像化した表面
領域は、前の画像化時間中に照明しかつ画像化した領域
に隣接していなく、離れた位置にあるものである。その
距離が長いほど、物体表面20上の全く検査しない領域
が大きくなる。すなわち、全表面の品質を検査するわけ
ではなくなる。
【0019】ライン走査カメラ21の画像周波数fkは、
公式fk=n*fvによって定義する。ここで、nは照明方向
の数であり、fvは個々の照明方向の光源のパルス周波数
である。これは図3から明らかである。図3は、3つの
照明方向13−15が異なる時間に物体表面20上の領
域を照明するのに用いられるときに、ライン走査カメラ
21が十分高速であって、各照明方向から少なくとも一
つの光源によって一度に照明された物体表面領域を照明
しなければならないこと、すなわち、画像化される物体
の表面20上の領域を照明するのに3つの照明方向13
−15が用いられる状況において、ライン走査カメラ2
1の画像周波数が、個々の照明方向13−15の光源の
パルス周波数の3倍でなければならないことを示してい
る。
【0020】図4は、ライン走査カメラ21の作動の略
図である。このライン走査カメラ21は、物体の被照明
表面領域からの放出された光ビームを受光するセンサー
25を備えている。この構成では、各照明方向から照明
された物体表面領域をライン走査カメラ21を用いて、
カメラの出力信号を形成する異なる連続ラインとして画
像化するためのタイミングコントローラ18を備えてい
る。
【0021】図5は、物体表面領域は3つの異なる照明
方向13−15の光源によって照明するときの、異なる
照明方向の光源10−12に対するパルス化のスキーム
を示している。異なる照明方向13−15の光源は、物
体表面領域が画像化時間中に各照明方向13−15から
一度照明するようにパルス化されている。物体表面領域
が最初に照明される照明方向13からの光ビームはライ
ン走査カメラ21によってライン1として画像化し、ま
た、物体表面領域が2番目に照明される照明方向14か
らの光ビームはライン2として画像化し、さらに、物体
表面領域が3番目に照明される照明方向15からの光ビ
ームはライン3として画像化する。ライン走査カメラ2
1は、各照明方向13−15から照明された物体表面領
域を、カメラライン50をライン走査カメラ21の出力
信号として形成する異なる連続ラインとして画像化す
る。各ラインは、物体の被照明表面領域についての情報
を含む。例においては、異なる3つの照明方向13−1
5が用いられるときは、物体の被照明表面領域は、第一
の画像化時間においては、上記のようにライン1,ライ
ン2,ライン3として画像化する。続く画像化時間にお
いても同様に、物体の被照明表面領域は、同じオーダー
の照明方向13−15においてラインとして画像化す
る:第二の画像化時間においては、例えば、ライン4,
ライン5,ライン6とする。ラインは、上記のように最
後の画像がとられるまで画像化時間毎に配列する。これ
についての例は、ライン1,ライン2、ライン3,ライ
ン4,ライン5,ライン6,…ラインXのような一連の
ラインである。ここでラインXは最後に得られた画像を
意味する。一連のラインは、ライン走査カメラ21の出
力であり、例えば、ビデオ信号であり得る。
【0022】図6は、ライン走査カメラ21の出力にお
けるチャネル分離を行うチャネル分離器16を示してい
る。チャネル分離器16は、ライン走査カメラ21の受
信出力信号(カメラデータ)についてのチャネル分離を
行うマルチプレクサー51と;CH1,CH2,etcを
正しく識別するためのカウンター52と;チャネル分離
器16の出力でのFIFOの原理を満足するFIFO回
路53−55とを備えている。さらにチャネル分離器
は、補間された出力CH1*,CH2*,etcを画像アナ
ライザー17へ生じさせる補間回路111を備えてい
る。補間回路111は、各チャネルに対する画像を別々
に処理する。補間回路111の役割は、処理済みチャネ
ルCH1の(予定)組み合わせラインが完全に他のチャ
ネルCH2の(測定)ラインによって登録されるよう
に、チャネルの組み合わせラインについての出力信号を
評価し、それによってCH1及びCH2からの画像の画
素についての組み合わせに対する基礎を形成する。最も
単純な実施形態では、補間回路111を備えない。チャ
ネル分離器16は、コンピュータ上ではしるソフトウェ
アも備えることができる。
【0023】図6においては、マルチプレクサー51が
ライン走査カメラ21の出力信号(カメラデータ)上で
チャネル分離を行って、物体表面を照明するのに用いら
れる照明方向の数と同じ数のチャネルに一連のラインを
分離する。同じ照明方向から照明された物体表面領域上
の画像情報を含む線は、各画像化時間あたり同じ数のチ
ャネルに分離する。言い換えると、物体表面領域が3つ
の異なる照明方向13−15から照明し、その被照明表
面領域がライン1,ライン2、ライン3,ライン4,ラ
イン5,ライン6,…ラインXとして画像化する上記の
例においては、最初の画像化時間のラインは以下のよう
に分離する:ライン1はチャネルCH1として分離し、
ライン2はチャネルCH2、ライン3はチャネルCH3
として分離する。チャネル分離器16のカウンター52
は、タイミングコントローラ18からラインスタート命
令を受け、その命令をもとにカウンター52は分離され
るべきラインをそれらの数を正しく認識するように数え
る。言い換えると、その例では、カウンター52が行っ
たカウントをもとに、第2の画像化時間のラインを、対
応するオーダーの照明における同じチャネルに分離す
る:ライン4はCH1に分離し、ライン5はCH2に、
ライン6はCH3に分離する。チャネル分離は、一連の
ラインの終わりまで同じやり方で続く。チャネルは、F
IFO(firstin first out)の原理でFIFO回路5
3−55から、すなわち、ライン1,ライン2、ライン
3,ライン4,ライン5,ライン6,…ラインXから画
像分析へ供与し、第1ライン(ライン1)から分離され
たチャネルCH1はまず画像分析へ出力され、第2ライ
ン(ライン2)から分離したチャネルCH2は2番目に
画像分析へ出力し、etc。次の画像化時間のラインから
分離されたチャネルCH1,CH2,etcは、画像分析
へ、あるいは任意で、FIFOの原理に従い対応するオ
ーダーで画像分析前に実行される補間(interpolatio
n)へと出力する。
【0024】この構成は、チャネル分離器16から得ら
れたチャネルをもとに画像分析を行う画像アナライザー
17(図7参照)を備えている。画像アナライザー17
は、物体表面領域の物理的特性に関するチャネルの画像
情報を評価する評価器60と;表面領域上の物理的欠陥
を検出する検出器61と;表面領域の物理的欠陥の差別
的特徴を抽出する特徴抽出器62と;表面領域の物理的
欠陥(欠陥の面積、幅、長さ、コントラスト)を分類す
る選別器63と;表面の分類された物理的欠陥から正し
い結論を引き出す意思決定器64とを備えている。
【0025】図7の方法は、チャネル分離されたチャネ
ルに含まれた情報をもとに、物体表面を検査する画像分
析を実行する段階を備えている。この画像分析は、少な
くとも2つのチャネルに含まれた被照明物体表面領域上
の画像情報の分析を含んでいる。この画像分析は、物体
表面領域の物理的特性上のチャネルの画像情報の評価を
含んでいる。この評価をもとに、表面の物理的欠陥を検
出し、かつ分類する。また、欠陥の分類が定義する。定
義した分類をもとに分類を実施し、その分類をもとに、
表面の物理的欠陥についての結論を引き出す。
【0026】画像分析は少なくとも2つのチャネルの画
像情報を互いに比較することによって実施する。比較を
可能にするため、まったく同一画像化時間のチャネル
は、物体の少なくとも部分的に同じ表面領域上での画像
情報を含んでいる。チャネル比較は、物体表面領域の一
あるいは二以上の次のような特徴を明らかにするかもし
れない:3Dプロファイル(例えば、スロープ)、光沢
度、反射率。本発明の好適な実施形態においては、物体
表面領域は、少なくとも2つの照明方向から暗視野照明
されること、及び任意で、少なくとも1つの照明から明
視野照明されることが可能である。図3においては、2
つの暗視野照明方向13−14及び1つの明視野照明方
向15から移動物体の表面を照明する。本発明の好適な
実施形態における本質的なのは、全照明方向13−15
の光源12ができる限り等色である点である。光源の波
長域が本質的に同じ、すなわち、光源の照明強度の少な
くとも50%、好ましくは90%以上が同じ波長域にあ
るならば、その光源は等色である。表面20の色の変化
は、表面領域の特性の測定を乱さない。図8は、表面領
域の異なる特性がチャネル比較によって正確に計算する
方法を示している。用いられる各照明方向は、最初に高
域フィルターによるフィルタリングを受けるチャネルに
よって表す。物体表面領域の3Dプロファイルは、2つ
の暗視野照明方向13−14のチャネルの画像情報を互
いに比較することによって計算し、それによって一方の
チャネルを他方から減じる。物体表面領域の光沢度は、
3つの異なる照明方向13−15全てのチャネルの画像
情報を互いに比較することによって計算し、それによっ
て暗視野照明方向13−14のチャネルは明視野照明方
向15のチャネルから減じる。物体表面領域の反射率
は、3つの異なる照明方向13−15全てのチャネルの
画像情報を互いに比較することによって計算することが
でき、それによって3つのチャネル全てを互いに加え
る。
【0027】本発明の好適な実施形態においては、例え
ば2回の連続する画像化時間における同じ照明方向から
得られた画像情報を同じチャネルに分離する。例えば、
照明方向14から得られた画像情報と照明方向13及び
15から得られた画像情報とを比較することによりチャ
ネルを比較することによって、物体表面をチェックす
る。
【0028】この構成は、例えば、異なる時間で照明を
提供する光源10−12としてレーザーダイオード及び
/又はLEDを備えている。本発明の好適な実施形態に
おいては、レーザーダイオードのような等色のパルス化
可能光源の使用、及び移動物体の表面20の3D特性を
検査するためのライン走査カメラ21のような等カラー
カメラの使用によって色不足(off-color)の問題が除
去され、かなり信頼性の高い表面検査が可能となる。
【0029】レーザーダイオードを光源10−12とし
て使用することによって、遠方からの移動物体の表面
1、例えば熱い移動表面のより正確な検査が可能にな
る。ここでは、遠隔検査は、少なくとも1mm、もしか
すると3mm離れて検査することを意味している。物体
の移動は矢印Aによって示している。本発明の好適な実
施形態は、レーザーダイオードから放出された光ビーム
はコヒーレントであり、一方、光ビーム、すなわち照明
は、遠くからでさえ、小さな領域に焦点を合わせること
が可能である。他の点では、この装置及び方法は、同じ
構成要素を備え、及び上記の段階を備えている。
【0030】本発明の好適な実施形態において色を決定
するため、LEDのような広域の照明スペクトルを有す
る光源10−12、あるいは、LED及び/又はレーザ
ーダイオードのような異なる照明スペクトルを有する光
源(すなわち異なる色の光源)を、照明方向13−15
で用い、また、カラーカメラをライン走査カメラ21と
して用いる。最も正確な色測定は、400nmから70
0nmの可視光の全波長域をできるだけ等しい強度でカ
バーする広域スペクトルの光源を使って可能となる。こ
の種のスペクトル70を図9aに示す。正確さへの考慮
が不十分でもよいときには、結合した光源(combined s
ource)を色測定において用いることができ、結合光源
は異なる照明のスペクトルを有する、すなわち、それら
は異なる色の光源である。図9bは、例として一つの照
明方向の合体した光源71のスペクトルを示している。
異なる照明方向における光源のスペクトルは同一であ
る、すなわち、光源は等色である。異なる色の光源は、
実質的に異なる波長域を有し、光源の照明の50%以下
が同じ波長域に属しているにすぎない。広域波長スペク
トルを有する光源の光ビームの波長域は、50nm幅よ
り大きい。異なる時間に異なる照明方向13−15から
表面領域を照明すること、及び、本発明に一致する画像
化によってその被照明表面領域から得られる画像情報を
もとにした画像分析することによってもたらされる他の
利点は、色不足の問題が生じないことである。結合光源
が上記に対応する場合に用いられるときでさえ、この問
題は生じない。表面検査は色を正確に評価することを可
能にするので、表面3D分析、光沢度分析、及ぶ反射率
分析はさらに信頼性の高いものになる。改善された信頼
性の結果として、例えば、誤警報が回避されて製造工程
が大幅にスピードアップされる。
【0031】例えば、プラスチック表面は、それらが異
なる照明方向から検査されるときは、色がわずかに異な
っていてもよい。本発明の好適な実施形態では、パルス
化された光源及びカラーカメラをライン走査カメラ21
として使用することによって、各暗視野及び/又は明視
野照明方向13−15から照明された物体の各表面領域
において、色分離測定を行うことが可能になる。これ
は、検査中の表面の色特性について十分な情報を得るた
めにはときに重要となる。
【0032】本発明の好適な実施形態において本質的な
点は、物体表面を異なる照明方向13−15からどのよ
うに照明するかということである。本発明の好適な実施
形態では、照明特性も、光源に関係しない操作及び/又
は装備によってもたらされる。
【0033】図10は、検査中の移動表面20が暗視野
照明によって異なる時間に2つの異なる照明方向13−
14から照明したときの本発明の装置及び方法の好適な
実施形態を示している。物体の移動は矢印Aで示す。物
体表面領域は本発明に従って異なる時間に2つの異なる
照明方向13−14から照明したとき、ある画像化時間
中の上記の状況下で得られた暗視野照明された表面領域
の2つの画像は、成功の画像分析にとって十分な量の画
像情報を含んでいる。他の点は、この装置及び方法は、
上記と同じ構成要素と方法段階とを備えている。
【0034】図11は、移動物体の表面80を検査する
装置の好適な実施形態を示している。この装置は、移動
物体の表面領域を画像化する4つのライン走査カメラ8
4を備えている。装置はさらに、4つのライン走査カメ
ラ28−31によって画像化される広範囲領域85の全
領域が照明されうるように、照明方向に多くの光源81
−83を備えている。検査される物体の直交方向の移動
を矢印Bで示した。他の点では、装置は上記と同じ構成
要素を備えている。
【0035】図11で示した方法の好適な実施形態で
は、空間的に異なる位置に位置した4つのライン走査カ
メラ84を使って移動物体の隣接領域を画像化する。照
明方向における光源81−83の数は、移動物体の表面
領域の全領域が各照明方向から順に照明することができ
るように大きくとっている。他の点では、方法は上記と
同じ方法段階を備えている。
【0036】図11の好適な実施形態は、例えばホット
バンドの検査に応用されうる。従って、検査される物体
はホットな表面であり、照明方向から光源81−83を
用いて照明され、ライン走査カメラ84を用いて画像化
される。ここで、物体表面80は遠方から検査され、十
分な照明強度を保証するため、ここでは、光源81−8
3はレーザーダイオードでなければならない。
【0037】表面80の3D特性が表面の色が関連しな
い状況で測定されるときには、本発明の好適な実施形態
は、図10の装置と図11の装置を合わせて、色変調及
びパルス化によって実施する。実施形態においては、物
体表面は、2つの異なるペアの暗視野照明方向13,1
4と81,82と、明視野照明方向83とを与える5つ
の異なる照明方向13,14,81,82,83からの
異なる時間に照明する。同じ色、例えば、赤のパルス化
された光源は照明方向13及び14から照明し、かつ、
互いに同じ色、例えば、緑のパルス化された光源は照明
方向81及び82から照明する。明視野照明方向83
は、第3の色、例えば青の少なくとも一つのパルス化さ
れた光源を有する。物体表面領域の上記の画像情報から
得られたチャネルの画像情報を比較することによって、
表面3D特性の分析及び表面光沢度及び色の評価が可能
になる。
【0038】図12は、パルス化された照明を用いた移
動表面の検査とエリア走査カメラ121とを示してい
る。物体の移動は矢印Cで示した。移動表面は、最も一
般的なビデオスタンダードと同じカメラを用いたとき、
通常50Hzあるいは60Hzの周波数でひとつの画像
エリアを生じるエリア走査カメラ121を用いて画像化
される;特別なカメラを用いると、画像周波数はより高
速に、あるいはより低速にすることができる。画像エリ
アは典型的には、照明周期中に同時に照明される数100
の画像ライン(例えば、250)を備えている。各画像ラ
インは、数100の画素(例えば、750)を備えている。表
面120は、画像化される全エリア、すなわち、例えば
キセノンストローブあるいはLED光源を用いてパルス
化されうる光源122,123を用いて少なくとも2つ
の方向124,125からカメラ120で見たエリアで
一様に照明する。照明パルスは、物体表面120が例え
ば一画素の広さ以上移動する時間を有さないように短く
しなければならない。光源122,123について、光
源122が第1画像の照明周期中に一度パルス化し、か
つ光源123が第2画像の照明周期中に一度パルス化
し、etc(いくつの照明方向が用いられたかに対応し
て)、というようにパルス化する。カメラから得られた
画像を、各照明方向の画像から連続的な画像ラインチャ
ネルCH1,CH2,etcを形成するチャネル分離器1
6に供給する。さらに処理するために、異なるチャネル
の画像は組み合わせて、各チャネルの画像ラインが表面
120の同じ点で画像化されたことを確認する。これに
ついては、表面120の速度を測定すること、及び照明
パルス間でいくつの画像ラインが伝送されたかを計算す
ることによって行う。画像は、画像情報をもとに表面1
20の移動方向における2つ画像の間の相関を計算する
ことによってチャネル分離器16に登録することができ
る。移動表面120は完全に単一のカメラ121を用い
て検査可能であり、速度は、チャネル数によって分割さ
れた移動方向においてカメラ121によって見た表面1
20の領域の長さ、及び一画像の照明周期の長さを越え
てはならない。表面120の速度がこれより大きくなる
とき、一以上のカメラ、物体の移動方向における隣接エ
リアを画像化するカメラを用いる。チャネル分離は、画
像捕捉ボードを備えたコンピュータを用いたソフトウェ
ア、速度エンコーダを用いた表面速度の測定、及び結合
した光源122,123のパルス化制御によって実施す
ることができる。上記の方法で得られた位置登録チャネ
ルを、ライン走査カメラ法において生成されたチャネル
と同じ方法でさらに処理する。
【0039】ライン走査カメラ21で画像化するのに必
要な装備には、画像化光学要素、センサーのようなCC
Dライン検出器、及び信号処理エレクトロニクスを含
う。信号処理エレクトロニクスは、タイミングエレクト
ロニクス、増幅エレクトロニクス、AD変換エレクトロ
ニクス、及び出力接続エレクトロニクスを含む。
【0040】タイミングコントローラ18は、カメライ
ンターフェースボードに集積されたエレクトロニクス、
及び/又は離散化エレクトロニクスによって組み込む。
【0041】画像アナライザー17は、カメラインター
フェースボードと前処理ボードによってコンピュータソ
フトウェアとして組み込む。さらに詳しくいうと、アナ
ライザーの作動要素は以下のように組み込む。評価器6
0は、前処理ボード及び/又はコンピュータソフトウェ
アによって組み込む。検出器61は、前処理ボード及び
/又はコンピュータソフトウェアによって組み込む。特
徴抽出器62はコンピュータソフトウェアによって組み
込み、選別器63及び意思決定器64も同様である。
【0042】本発明は添付図面で示した例を参照して上
記のように説明されるが、本発明はそれに限定されるこ
となく、かつ添付のクレームに開示した発明思想内で多
くのやり方で変形可能であることを理解されたい。
【図面の簡単な説明】
【図1】 ライン走査カメラを一つ備えた装置の構成
を示している。
【図2】 垂直に入射して物体表面から再放出される
入射光が異なる表面上でどのように振る舞うかを示す図
である。
【図3】 一つのライン走査カメラとタイミングコン
トローラとを備えた構成を示す図である。
【図4】 ライン走査カメラの作動を示す略図であ
る。
【図5】 3つの照明方向の光源及びライン走査カメ
ラの出力信号をパルス化するスキームを示す図である。
【図6】 チャネル分離器の構成を示す図である。
【図7】 画像アナライザーの構成を示す図である。
【図8】 表面領域の異なる特性の計算のチャネル比
較を示す図である。
【図9】 (a)可視光の波長域のスペクトルを示す
図であり、(b)結合光源の波長域のスペクトルを示す
図である。
【図10】 検査中の表面を異なる2つの方向から異
なる時間に暗視野照明する装置の構成を示す図である。
【図11】 4つのライン走査カメラを備えた装置の
構成を示す図である。
【図12】 パルス化された照明とエリア走査カメラ
とを用いて移動物体の表面を検査する装置の構成を示す
図である。
【符号の説明】
10−12,81−83,122,123 光源 13−15,124,125 照明方向 16 チャネル分離器 17 画像アナライザー 18 タイミングコントローラ 20,40−45,120 物体表面 21,84 ライン走査カメラ 22−24 焦点手段 28−31 ライン走査カメラ 30−35、37 光 50 カメラライン 51 マルチプレクサー 52 カウンター 53−55 FIFO回路 60 評価器 61 検出器 62 特徴抽出器 63 選別器 64 意思決定器 111 補間回路 121 エリア走査カメラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ペルッティ・コンティオ フィンランド・FIN−90240・アウル・ コンティオンリンネ・5

Claims (71)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも一つの光源をそれぞれ有す
    る方向であって、少なくとも2つの異なる照明方向から
    物体表面の領域を照明し、前記被照明物体表面領域を分
    析用の画像情報を提供するカメラを用いて画像化する段
    階を備えた、移動物体の表面を自動検査する方法におい
    て、 異なる照明方向における光源を、1kHzより大きいパル
    ス周波数でパルス化して異なる時間に物体表面領域を照
    明し、かつ被照明物体表面領域を前記パルスに同期する
    ライン走査カメラを用いてラインとして画像化すること
    を特徴とする移動物体の表面を自動検査する方法。
  2. 【請求項2】 少なくとも一つの光源をそれぞれ有す
    る方向であって、少なくとも2つの異なる照明方向から
    物体表面の領域を照明し、前記被照明物体表面領域を分
    析用の画像情報を提供するカメラを用いて画像化する段
    階を備えた、移動物体の表面を自動検査する方法におい
    て、 異なる照明方向における光源をパルス化して異なる時間
    に物体表面領域を照明し、かつ被照明物体表面領域を前
    記パルスに同期するカメラを用いて画像化することを特
    徴とする移動物体の表面を自動検査する方法。
  3. 【請求項3】 画像化時間が、用いる照明方向の各々
    から前記物体表面領域を一度照明する時間の長さである
    ことを特徴とする請求項1又は請求項2のいずれか一項
    に記載の移動物体の表面を自動検査する方法。
  4. 【請求項4】 各画像化時間の間、物体の少なくとも
    部分的に同じ表面領域上では、光ビームが各々の照明方
    向から入射するように方向付けられていることを特徴と
    する請求項3に記載の移動物体の表面を自動検査する方
    法。
  5. 【請求項5】 各画像化時間の間、物体の異なる表面
    領域上では、光ビームが各々の照明方向から入射するよ
    うに方向付けられていることを特徴とする請求項3に記
    載の移動物体の表面を自動検査する方法。
  6. 【請求項6】 前記方向付けを焦点レンズとコリメー
    トレンズとを用いて行うことを特徴とする請求項4又は
    請求項5のいずれか一項に記載の移動物体の表面を自動
    検査する方法。
  7. 【請求項7】 前記画像化を少なくとも一つのカメラ
    を用いて行うことを特徴とする請求項2に記載の移動物
    体の表面を自動検査する方法。
  8. 【請求項8】 前記の少なくとも一つのカメラがエリ
    ア走査カメラであることを特徴とする請求項2から請求
    項7のいずれか一項に記載の移動物体の表面を自動検査
    する方法。
  9. 【請求項9】 各画像が被照明物体表面領域について
    の画像情報を有することを特徴とする請求項7に記載の
    移動物体の表面を自動検査する方法。
  10. 【請求項10】 各画像が前記カメラの出力信号を形
    成することを特徴とする請求項9に記載の移動物体の表
    面を自動検査する方法。
  11. 【請求項11】 前記チャネル分離を前記カメラの出
    力信号上で行うことを特徴とする請求項1又は請求項2
    のいずれか一項に記載の移動物体の表面を自動検査する
    方法。
  12. 【請求項12】 前記チャネル分離を行って、使用す
    る照明方向と同じ数のチャネルを提供することを特徴と
    する請求項11に記載の移動物体の表面を自動検査する
    方法。
  13. 【請求項13】 画像化周期の間に同じ照明方向から
    照明された物体表面領域についての画像情報を含む画像
    が同じチャネルとして分離されるように、前記チャネル
    分離を行うことを特徴とする請求項2から請求項12の
    いずれか一項に記載の移動物体の表面を自動検査する方
    法。
  14. 【請求項14】 前記のラインとして画像化を、少な
    くとも一つのライン走査カメラを用いて行うことを特徴
    とする請求項1に記載の移動物体の表面を自動検査する
    方法。
  15. 【請求項15】 前記ライン走査カメラが、各照明方
    向から照明された表面領域を異なるラインとして画像化
    することを特徴とする請求項1に記載の移動物体の表面
    を自動検査する方法。
  16. 【請求項16】 各ラインが、被照明物体表面領域に
    ついての画像情報を備えることを特徴とする請求項14
    に記載の移動物体の表面を自動検査する方法。
  17. 【請求項17】 前記ライン走査カメラが、各照明方
    向から照明された物体表面領域に対して、該ライン走査
    カメラの出力信号を形成する異なる連続ラインとして画
    像化することを特徴とする請求項14に記載の移動物体
    の表面を自動検査する方法。
  18. 【請求項18】 前記カメラの出力信号がビデオ信号
    であることを特徴とする請求項1又は請求項2のいずれ
    か一項に記載の移動物体の表面を自動検査する方法。
  19. 【請求項19】 画像化周期の間に同じ照明方向から
    照明された物体表面領域についての画像情報を含むライ
    ンが同じチャネルとして分離されるように、前記チャネ
    ル分離を行うことを特徴とする請求項1から請求項12
    のいずれか一項に記載の移動物体の表面を自動検査する
    方法。
  20. 【請求項20】 物体表面を検査するチャネル分離さ
    れたチャネルに含まれた画像情報をもとに画像分析を行
    うことを特徴とする請求項13又は請求項19のいずれ
    か一項に記載の移動物体の表面を自動検査する方法。
  21. 【請求項21】 被照明物体表面領域についての少な
    くとも2つのチャネルの画像情報を画像分析で分析する
    ことを特徴とする請求項20に記載の移動物体の表面を
    自動検査する方法。
  22. 【請求項22】 少なくとも2つのチャネルの画像情
    報を互いに比較することによって分析を行うことを特徴
    とする請求項21に記載の移動物体の表面を自動検査す
    る方法。
  23. 【請求項23】 前記のチャネル比較が、物体表面領
    域の特性である、3Dプロファイル、光沢度、及び反射
    率のうちの一あるいは二以上の特性を明らかにすること
    を特徴とする請求項22に記載の移動物体の表面を自動
    検査する方法。
  24. 【請求項24】 物体表面領域が、少なくとも2つの
    異なる照明方向から暗視野照明されることを特徴とする
    請求項1又は請求項2のいずれか一項に記載の移動物体
    の表面を自動検査する方法。
  25. 【請求項25】 物体表面領域が、少なくとも1つの
    異なる照明方向から明視野照明されることを特徴とする
    請求項24に記載の移動物体の表面を自動検査する方
    法。
  26. 【請求項26】 異なる照明方向からの光ビームが実
    質的に同じ波長域を揺することを特徴とする請求項1又
    は請求項2のいずれか一項に記載の移動物体の表面を自
    動検査する方法。
  27. 【請求項27】 前記波長域が実質的に同じであると
    き、照明強度の50%以上が同じ波長域内にあることを
    特徴とする請求項26に記載の移動物体の表面を自動検
    査する方法。
  28. 【請求項28】 好ましくは照明強度の90%以上が
    同じ波長域内にあることを特徴とする請求項27に記載
    の移動物体の表面を自動検査する方法。
  29. 【請求項29】 チャネルが高域フィルターであるこ
    とを特徴とする請求項22に記載の移動物体の表面を自
    動検査する方法。
  30. 【請求項30】 物体表面領域の3Dプロファイル
    が、2つの暗視野照明方向のチャネルの画像情報を、一
    方のチャネルを他方のチャネルから減じるようにして互
    いに比較することによって計算することができることを
    特徴とする請求項22から請求項29のいずれか一項に
    記載の移動物体の表面を自動検査する方法。
  31. 【請求項31】 物体表面領域の光沢度は、3つの異
    なる照明方向のチャネルの画像情報を、暗視野照明方向
    のチャネルを明視野照明方向のチャネルから減じるよう
    にして互いに比較することによって計算することができ
    ることを特徴とする請求項22から請求項29のいずれ
    か一項に記載の移動物体の表面を自動検査する方法。
  32. 【請求項32】 物体表面領域の反射率は、3つ照明
    方向全てのチャネルの画像情報を、その3つのチャネル
    を加え合わせるようにして互いに比較することによって
    計算することができることを特徴とする請求項22から
    請求項29のいずれか一項に記載の移動物体の表面を自
    動検査する方法。
  33. 【請求項33】 補間法を用いてチャネルを比較する
    ことによって物体表面をチェックすることを特徴とする
    請求項19に記載の移動物体の表面を自動検査する方
    法。
  34. 【請求項34】 ライン走査カメラの出力信号を、該
    出力信号が測定されなかった表面領域から評価されるこ
    とを特徴とする請求項33に記載の移動物体の表面を自
    動検査する方法。
  35. 【請求項35】 チャネル分離器を用いてチャネル分
    離を行い、かつ、異なる照明方向の光源とカメラとチャ
    ネル分離器とをタイミングコントローラによって同期さ
    せてパルス化することを特徴とする請求項1又は請求項
    2のいずれか一項に記載の移動物体の表面を自動検査す
    る方法。
  36. 【請求項36】 ライン走査カメラの画像周波数fkを
    公式fk=n*fvによって定義する(ここで、nは照明方向
    の数であり、fvは個々の照明方向の光源のパルス周波
    数)ことを特徴とする請求項1に記載の移動物体の表面
    を自動検査する方法。
  37. 【請求項37】 画像化は少なくとも一つのカラーカ
    メラを用いて行うことを特徴とする請求項1又は請求項
    2のいずれか一項に記載の移動物体の表面を自動検査す
    る方法。
  38. 【請求項38】 画像化は少なくとも一つの白黒カメ
    ラを用いて行うことを特徴とする請求項1又は請求項2
    のいずれか一項に記載の移動物体の表面を自動検査する
    方法。
  39. 【請求項39】 物体表面領域を光源としての少なく
    とも一つのレーザーダイオードを用いて照明することを
    特徴とする請求項1又は請求項2のいずれか一項に記載
    の移動物体の表面を自動検査する方法。
  40. 【請求項40】 物体表面領域を光源としての少なく
    とも一つのLEDダイオードを用いて照明することを特
    徴とする請求項1又は請求項2のいずれか一項に記載の
    移動物体の表面を自動検査する方法。
  41. 【請求項41】 物体表面領域を光源としての少なく
    とも一つの気体放電ランプを用いて照明することを特徴
    とする請求項2のいずれか一項に記載の移動物体の表面
    を自動検査する方法。
  42. 【請求項42】 異なる照明方向からの光ビームは実
    質的に異なる波長域を有することを特徴とする請求項1
    又は請求項2のいずれか一項に記載の移動物体の表面を
    自動検査する方法。
  43. 【請求項43】 前記波長域は実質的に異なってお
    り、照明強度の50%以上は異なる波長域に属している
    ことを特徴とする請求項42に記載の移動物体の表面を
    自動検査する方法。
  44. 【請求項44】 少なくとも2つのカメラが空間的に
    離れた位置に配置していることを特徴とする請求項1又
    は請求項2のいずれか一項に記載の移動物体の表面を自
    動検査する方法。
  45. 【請求項45】 少なくとも一つの光源が各照明方向
    で使用され方向であって、少なとも2つの異なる照明方
    向における、検査中の物体の表面領域を照明するための
    少なくとも2つの光源と;物体表面領域を画像化するカ
    メラと;画像化によって物体表面から得られた画像情報
    を分析する画像分析器と;を備えた、移動物体の表面検
    査装置において、 前記光源が異なる照明方向から異なる時間に物体表面領
    域を照明するものであり、 また、前記装置が、表面領域の画像を得る少なくとも一
    つのライン走査カメラと、 光源の同期型パルス用のタイミングコントローラと、 少なくとも一つのライン走査カメラとを備え、そのパル
    ス周波数は1kHzより大きいことを特徴とする移動物体
    の表面検査装置。
  46. 【請求項46】 少なくとも一つの光源が各照明方向
    で使用され方向であって、少なとも2つの異なる照明方
    向における、検査中の物体の表面領域を照明するための
    少なくとも2つの光源と;物体表面領域を画像化するカ
    メラと;画像化によって物体表面から得られた画像情報
    を分析する画像分析器と;を備えた、移動物体の表面検
    査装置において、 前記光源が異なる照明方向から異なる時間に物体表面領
    域を照明するものであり、 また、前記装置が、表面領域の画像を得る少なくとも一
    つのカメラと、 光源の同期型パルス用のタイミングコントローラと、 少なくとも一つのカメラとを備えたことを特徴とする移
    動物体の表面検査装置。
  47. 【請求項47】 画像化時間を、用いる照明方向の各
    々から前記物体表面領域を一度照明する時間の長さであ
    ると定めるタイミングコントローラを備えたことを特徴
    とする請求項45又は請求項46のいずれか一項に記載
    の移動物体の表面検査装置。
  48. 【請求項48】 画像化時間中に、用いられる各照明
    方向からの光ビームを、物体表面の少なくとも部分的に
    同じ領域上で焦点合わせする方向付け手段を備えたこと
    を特徴とする請求項47に記載の移動物体の表面検査装
    置。
  49. 【請求項49】 画像化時間中に、用いられる各照明
    方向からの光ビームを、物体表面の異なる領域上で焦点
    合わせする方向付け手段を備えたことを特徴とする請求
    項47に記載の移動物体の表面検査装置。
  50. 【請求項50】 前記方向付け手段が焦点レンズとコ
    リメートレンズとを備えたことを特徴とする請求項48
    又は請求項49のいずれか一項に記載の移動物体の表面
    検査装置。
  51. 【請求項51】 各照明方向から照明された物体表面
    領域に対して、カメラを用いて、カメラの出力信号を形
    成する異なる画像して画像化するタイミングコントロー
    ラを備えたことを特徴とする請求項46に記載の移動物
    体の表面検査装置。
  52. 【請求項52】 チャネル分離をカメラの出力信号上
    で行うチャネル分離器を備えたことを特徴とする請求項
    51に記載の移動物体の表面検査装置。
  53. 【請求項53】 各画像がチャネルとして分離するよ
    うにチャネル分離を行うチャネル分離器を備えたことを
    特徴とする請求項52に記載の移動物体の表面検査装
    置。
  54. 【請求項54】 画像化周期の間に同じ照明方向から
    照明された物体表面領域についての画像情報を含む画像
    が同じチャネルとして分離されるように、前記チャネル
    分離を行うチャネル分離器を備えたことを特徴とする請
    求項53に記載の移動物体の表面検査装置。
  55. 【請求項55】 ライン走査カメラが、各照明方向か
    ら照明された物体表面領域を、該ライン走査カメラの出
    力信号を形成する異なる連続ラインとして画像化するタ
    イミングコントローラを備えたことを特徴とする請求項
    45に記載の移動物体の表面検査装置。
  56. 【請求項56】 ライン走査カメラの出力信号上でチ
    ャネル分離を行うチャネル分離器を備えたことを特徴と
    する請求項55に記載の移動物体の表面検査装置。
  57. 【請求項57】 各ラインがチャネルとして分離され
    るようにチャネル分離を行うチャネル分離器を備えたこ
    とを特徴とする請求項56に記載の移動物体の表面検査
    装置。
  58. 【請求項58】 画像化周期の間に同じ照明方向から
    照明された物体表面領域についての画像情報を含むライ
    ンが同じチャネルとして分離されるように、前記チャネ
    ル分離を行うチャネル分離器を備えたことを特徴とする
    請求項57に記載の移動物体の表面検査装置。
  59. 【請求項59】 チャネルを比較することによって物
    体表面をチェックする補間器を備えたことを特徴とする
    請求項58に記載の移動物体の表面検査装置。
  60. 【請求項60】 ライン走査カメラの出力信号を、該
    出力信号が測定されなかった物体表面領域から評価する
    補間器を備えたことを特徴とする請求項59に記載の移
    動物体の表面検査装置。
  61. 【請求項61】 前記チャネル分離器が、チャネル分
    離を行うマルチプレクサーと、分離したチャネルを識別
    するカウンターと、チャネル分離器の出力においてFI
    FOの原理を満足するFIFO回路とを備えたことを特
    徴とする請求項56に記載の移動物体の表面検査装置。
  62. 【請求項62】 前記チャネル分離器が、コンピュー
    タソフトウェアを備えたことを特徴とする請求項52又
    は請求項56のいずれか一項に記載の移動物体の表面検
    査装置。
  63. 【請求項63】 少なくとも2つのチャネルに分離さ
    れたチャネルの情報についての画像分析を行う画像アナ
    ライザーを備えたことを特徴とする請求項54又は請求
    項58のいずれか一項に記載の移動物体の表面検査装
    置。
  64. 【請求項64】 異なる照明方向の光源と、少なくと
    も一つのカメラと、チャネル分離器とを同期させるタイ
    ミングコントローラを備えたことを特徴とする請求項4
    5又は請求項46のいずれか一項に記載の移動物体の表
    面検査装置。
  65. 【請求項65】 ライン走査カメラの画像周波数fkを
    公式fk=n*fvによって定義する(ここで、nは照明方向
    の数であり、fvは個々の照明方向の光源のパルス周波
    数)タイミングコントローラを備えたことを特徴とする
    請求項45に記載の移動物体の表面検査装置。
  66. 【請求項66】 装置の少なくとも一つのライン走査
    カメラが白黒カメラであることを特徴とする請求項45
    又は請求項46のいずれか一項に記載の移動物体の表面
    検査装置。
  67. 【請求項67】 装置の少なくとも一つのライン走査
    カメラがカラーカメラであることを特徴とする請求項4
    5又は請求項46のいずれか一項に記載の移動物体の表
    面検査装置。
  68. 【請求項68】 光源が少なくとも一つのレーザーダ
    イオードを備えたことを特徴とする請求項45又は請求
    項46のいずれか一項に記載の移動物体の表面検査装
    置。
  69. 【請求項69】 光源が少なくとも一つのLEDを備
    えたことを特徴とする請求項45又は請求項46のいず
    れか一項に記載の移動物体の表面検査装置。
  70. 【請求項70】 光源が少なくとも一つの気体放電ラ
    ンプを備えたことを特徴とする請求項46に記載の移動
    物体の表面検査装置。
  71. 【請求項71】 少なくとも一つのカメラがエリア走
    査カメラであることを特徴とする請求項46に記載の移
    動物体の表面検査装置。
JP2000041822A 1999-02-18 2000-02-18 表面品質検査装置及びその方法 Withdrawn JP2000241362A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/252,011 US6327374B1 (en) 1999-02-18 1999-02-18 Arrangement and method for inspection of surface quality
US252.011 1999-02-18

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000241362A true JP2000241362A (ja) 2000-09-08

Family

ID=22954264

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000041822A Withdrawn JP2000241362A (ja) 1999-02-18 2000-02-18 表面品質検査装置及びその方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6327374B1 (ja)
EP (1) EP1030173A1 (ja)
JP (1) JP2000241362A (ja)

Cited By (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004138417A (ja) * 2002-10-16 2004-05-13 Nippon Steel Corp 鋼板の疵検査方法およびその装置
JP2005214978A (ja) * 2004-01-30 2005-08-11 Leica Microsystems Semiconductor Gmbh ウェーハを検査するための装置及び方法
JP2005536732A (ja) * 2002-08-23 2005-12-02 ライカ マイクロシステムス セミコンダクタ ゲーエムベーハー 物体を検査するための装置及び方法
EP1621914A3 (en) * 2004-07-29 2006-09-20 Mitutoyo Corporation Strobe illumination
JP2007523333A (ja) * 2004-02-18 2007-08-16 イスラ ヴィズィオーン ジュステーム アーゲー 表面検査方法及びそのシステム
JP2007327896A (ja) * 2006-06-09 2007-12-20 Canon Inc 検査装置
JP2009513984A (ja) * 2005-10-31 2009-04-02 ザ・ボーイング・カンパニー 複合構造に欠陥がないか検査するための装置および方法
JP2011523457A (ja) * 2008-05-13 2011-08-11 エーファーカー ディ ケルシュアグル ゲーエムベーハー 移動する物体を光学的に検出するための方法
KR101070889B1 (ko) * 2004-04-08 2011-10-06 삼성테크윈 주식회사 리드프레임 검사용 조명기구
JP2012042297A (ja) * 2010-08-18 2012-03-01 Kurabo Ind Ltd 撮像光学検査装置
KR20120058443A (ko) * 2009-03-24 2012-06-07 오르보테크 엘티디. 다중 모드 이미징
JP2014062835A (ja) * 2012-09-21 2014-04-10 Ricoh Elemex Corp 検査装置
JP2014074631A (ja) * 2012-10-03 2014-04-24 Ricoh Elemex Corp 外観検査装置および外観検査方法
JP2014163771A (ja) * 2013-02-25 2014-09-08 Kurabo Ind Ltd 外観検査装置
JP2015025741A (ja) * 2013-07-26 2015-02-05 Jfeスチール株式会社 鋼板端面の欠陥検出方法及び欠陥検出装置
JP2015129715A (ja) * 2014-01-08 2015-07-16 リコーエレメックス株式会社 検査装置及び検査装置の制御方法
JP2015531068A (ja) * 2012-08-11 2015-10-29 シーゲイト テクノロジー エルエルシー 表面特徴の特徴決定
WO2016208622A1 (ja) * 2015-06-25 2016-12-29 Jfeスチール株式会社 表面欠陥検出装置および表面欠陥検出方法
WO2016208626A1 (ja) * 2015-06-25 2016-12-29 Jfeスチール株式会社 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、及び鋼材の製造方法
KR101749867B1 (ko) 2016-05-03 2017-06-23 김양수 피검체 검사를 위한 시분할 영상 획득 시스템 및 이를 이용한 시분할 영상 획득 방법
JPWO2016208606A1 (ja) * 2015-06-25 2017-06-29 Jfeスチール株式会社 表面欠陥検出装置、表面欠陥検出方法、及び鋼材の製造方法
JP2018189498A (ja) * 2017-05-08 2018-11-29 キヤノン株式会社 計測装置、および物品製造方法
JP2019020416A (ja) * 2017-07-20 2019-02-07 日立金属株式会社 金属薄板検査装置および金属薄板の検査方法
JP2019505760A (ja) * 2015-12-16 2019-02-28 ピレリ・タイヤ・ソチエタ・ペル・アツィオーニ タイヤを検査する方法および装置
JP2019507323A (ja) * 2015-12-28 2019-03-14 ピレリ・タイヤ・ソチエタ・ペル・アツィオーニ タイヤを検査するデバイス
WO2019103153A1 (ja) 2017-11-27 2019-05-31 日本製鉄株式会社 形状検査装置及び形状検査方法
JP2019095238A (ja) * 2017-11-20 2019-06-20 パナソニックIpマネジメント株式会社 画像処理システム、画像処理方法、及びプログラム
JP2019517003A (ja) * 2016-05-30 2019-06-20 ボブスト メックス ソシエテ アノニムBobst Mex SA 表面検査システム及び表面検査方法
JP2019117104A (ja) * 2017-12-27 2019-07-18 株式会社マイクロ・テクニカ 検査装置
JP2019135460A (ja) * 2018-02-05 2019-08-15 株式会社Screenホールディングス 画像取得装置、画像取得方法および検査装置
JP2019135461A (ja) * 2018-02-05 2019-08-15 株式会社Screenホールディングス 画像取得装置、画像取得方法および検査装置
US10883898B2 (en) 2015-12-28 2021-01-05 Pirelli Tyre S.P.A. Apparatus for checking tyres
US11359998B2 (en) 2015-12-28 2022-06-14 Pirelli Tyre S.P.A. Method for checking tyres in a tyre production line

Families Citing this family (94)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000090233A (ja) * 1998-09-08 2000-03-31 Olympus Optical Co Ltd 画像処理装置
JP3048570B1 (ja) * 1999-03-25 2000-06-05 ニチハ株式会社 被加工板の表面検査システム
DE19930173A1 (de) * 1999-06-30 2001-01-04 Parsytec Comp Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur prozeßoptimierenden Einstellung von Parametern eines Produktionsprozesses
US6721045B1 (en) 1999-09-07 2004-04-13 Applied Materials, Inc. Method and apparatus to provide embedded substrate process monitoring through consolidation of multiple process inspection techniques
US6630995B1 (en) 1999-09-07 2003-10-07 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for embedded substrate and system status monitoring
US7012684B1 (en) 1999-09-07 2006-03-14 Applied Materials, Inc. Method and apparatus to provide for automated process verification and hierarchical substrate examination
US6707544B1 (en) 1999-09-07 2004-03-16 Applied Materials, Inc. Particle detection and embedded vision system to enhance substrate yield and throughput
US6813032B1 (en) 1999-09-07 2004-11-02 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for enhanced embedded substrate inspection through process data collection and substrate imaging techniques
US6707545B1 (en) 1999-09-07 2004-03-16 Applied Materials, Inc. Optical signal routing method and apparatus providing multiple inspection collection points on semiconductor manufacturing systems
US6882416B1 (en) 1999-09-07 2005-04-19 Applied Materials, Inc. Methods for continuous embedded process monitoring and optical inspection of substrates using specular signature analysis
US6693708B1 (en) 1999-09-07 2004-02-17 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for substrate surface inspection using spectral profiling techniques
US6692430B2 (en) 2000-04-10 2004-02-17 C2Cure Inc. Intra vascular imaging apparatus
WO2001084126A2 (en) * 2000-04-28 2001-11-08 Electro Scientific Industries, Inc. Directional lighting and method to distinguish three dimensional information
FI20001568A (fi) * 2000-06-30 2001-12-31 Thermo Radiometrie Oy Pinnan muotojen määrittäminen
DE10044689A1 (de) * 2000-09-08 2002-03-21 Idm Gmbh Infrarot Sensoren Vorrichtung zur Überwachung eines Bereichs eines Raumes
DE10063293A1 (de) * 2000-12-19 2002-07-04 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Vorrichtung zur mehrkanaligen Inspektion von Oberflächen im Durchlauf
KR100406843B1 (ko) * 2001-04-06 2003-11-21 (주) 인텍플러스 색정보를 이용한 실시간 3차원 표면형상 측정방법 및 장치
IL153510A0 (en) * 2001-12-18 2003-07-06 Given Imaging Ltd Device, system and method for capturing in-vivo images with three-dimensional aspects
DE10201075A1 (de) 2002-01-14 2003-07-24 Basf Ag Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung des Weissanlaufens
DE10392670B4 (de) 2002-05-16 2012-10-11 C2Cure Inc. Miniatur-Kamerakopf
FI20021973A (fi) 2002-11-05 2004-05-06 Sr Instr Oy Synkroninen optinen mittaus- ja tarkistusmenetelmä ja laite
DE10353901A1 (de) * 2002-11-25 2004-06-09 Advanced LCD Technologies Development Center Co., Ltd., Yokohama Verfahren und Vorrichtung zur Bildung eines Substrats für Halbleiter oder dergleichen
DE10319543B4 (de) * 2003-04-30 2011-03-03 Byk-Gardner Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften
US7162070B2 (en) * 2003-06-06 2007-01-09 Acushnet Company Use of patterned, structured light to detect and measure surface defects on a golf ball
DE102004014245A1 (de) * 2004-03-24 2005-10-13 Reime Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum optischen Detektieren einer Oberfläche
CA2478757A1 (fr) * 2004-08-06 2006-02-06 Mario Talbot Detection du bois bleui et de la pourriture sur le bois d'oeuvre
US20060262295A1 (en) * 2005-05-20 2006-11-23 Vistec Semiconductor Systems Gmbh Apparatus and method for inspecting a wafer
DE102005031490A1 (de) * 2005-07-04 2007-02-01 Massen Machine Vision Systems Gmbh Kostengünstige multi-sensorielle Oberflächeninspektion
US8125563B2 (en) * 2005-11-10 2012-02-28 OBE OHNMACHT & BAUMGäRTNER GMBH & CO. KG Camera chip, camera and method for image recording
DE102005058873A1 (de) 2005-12-09 2007-06-14 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung der Oberfläche eines Körpers
US8017927B2 (en) 2005-12-16 2011-09-13 Honeywell International Inc. Apparatus, system, and method for print quality measurements using multiple adjustable sensors
US7688447B2 (en) * 2005-12-29 2010-03-30 Honeywell International Inc. Color sensor
FI119708B (fi) * 2006-02-01 2009-02-13 Viconsys Oy Laite rainan tarkkailemiseksi
WO2007118459A1 (de) * 2006-04-13 2007-10-25 Luedeker Wilhelm Optisches diskriminierungsverfahren für mindestens zwei materialien
US20080049972A1 (en) * 2006-07-07 2008-02-28 Lockheed Martin Corporation Mail imaging system with secondary illumination/imaging window
US20080013069A1 (en) * 2006-07-07 2008-01-17 Lockheed Martin Corporation Synchronization of strobed illumination with line scanning of camera
US20080035866A1 (en) * 2006-07-07 2008-02-14 Lockheed Martin Corporation Mail imaging system with UV illumination interrupt
US20080012981A1 (en) * 2006-07-07 2008-01-17 Goodwin Mark D Mail processing system with dual camera assembly
US20080161647A1 (en) * 2006-12-27 2008-07-03 Amit Pascal Device and method for multiple illumination fields of an in-vivo imaging device
US7880156B2 (en) * 2006-12-27 2011-02-01 Honeywell International Inc. System and method for z-structure measurements using simultaneous multi-band tomography
WO2008082411A1 (en) * 2007-01-03 2008-07-10 General Electric Company Method for examining molds and apparatus for accomplishing the same
ATE487990T1 (de) * 2007-01-05 2010-11-15 Nordson Benelux B V Optischer sensor zum detektieren eines kodes auf einem substrat
DE102007007828B4 (de) * 2007-02-16 2011-02-24 Bst International Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Beleuchten eines Druckbildes auf einer Materialbahn
EP1972930B1 (de) * 2007-03-19 2019-11-13 Concast Ag Verfahren zur Erkennung von Oberflächenmerkmalen metallurgischer Erzeugnisse, insbesondere Strangguss- und Walzerzeugnisse, sowie eine Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE102008025062B4 (de) * 2008-05-26 2016-07-28 Airbus Defence and Space GmbH Stroboskopisches Messvorrichtung und Verfahren hierzu
EP2322899B1 (en) * 2008-08-26 2022-03-16 Kabushiki Kaisha Bridgestone Specimen roughness detecting method, and apparatus for the method
CN102428361B (zh) * 2009-05-21 2014-07-02 本田技研工业株式会社 表面检查装置
NO336577B1 (no) * 2009-07-08 2015-09-28 Sapa As Fremgangsmåte og apparatur for inspeksjon av overflater
DE102009033886A1 (de) * 2009-07-20 2011-01-27 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren zur Darstellung der Oberfläche eines Objekts
AU2009245853B2 (en) * 2009-12-08 2013-12-19 Radar Portal Systems Pty Ltd High speed photometric stereo pavement scanner
TWI407075B (zh) * 2010-03-16 2013-09-01 Test Research Inc 量測立體物件之系統
CN102200431B (zh) * 2010-03-26 2013-10-02 德律科技股份有限公司 测量立体物件的系统
DE102010021853B4 (de) * 2010-05-28 2012-04-26 Isra Vision Ag Einrichtung und Verfahren zur optischen Überprüfung eines Gegenstands
US8401809B2 (en) 2010-07-12 2013-03-19 Honeywell International Inc. System and method for adjusting an on-line appearance sensor system
EP2508870A1 (fr) * 2011-04-05 2012-10-10 Siemens Vai Metals Technologies SAS Dispositif d'inspection de bande en défilement
WO2012139088A2 (en) * 2011-04-08 2012-10-11 Accusentry, Inc. System and method for generating multiple, interlaced images using a single scanning camera with multiple, alternating light sources
US8618929B2 (en) 2011-05-09 2013-12-31 Honeywell International Inc. Wireless conveyor belt condition monitoring system and related apparatus and method
US9234843B2 (en) * 2011-08-25 2016-01-12 Alliance For Sustainable Energy, Llc On-line, continuous monitoring in solar cell and fuel cell manufacturing using spectral reflectance imaging
DE102011118607A1 (de) * 2011-09-14 2013-03-14 Friedrich-Schiller-Universität Jena Verfahren und Anordnung zur Streulichtmessung
DE102011113670A1 (de) * 2011-09-20 2013-03-21 Schott Ag Beleuchtungsvorrichtung, Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren für die optische Prüfung eines Objekts
US9924105B2 (en) * 2011-12-12 2018-03-20 Visys Nv System and method for individually inspecting objects in a stream of products and a sorting apparatus comprising such system
CA2841464C (en) * 2013-02-01 2016-10-25 Centre De Recherche Industrielle Du Quebec Apparatus and method for scanning a surface of an article
US9257763B2 (en) 2013-07-02 2016-02-09 Gyrus Acmi, Inc. Hybrid interconnect
US9510739B2 (en) 2013-07-12 2016-12-06 Gyrus Acmi, Inc. Endoscope small imaging system
DE102013112260B4 (de) * 2013-11-07 2017-02-09 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen von Fehlstellen von abgelegten Faserhalbzeugen
CA2934796C (en) * 2013-12-27 2022-03-22 Jfe Steel Corporation Surface defect detecting method and surface defect detecting apparatus
US9482622B2 (en) * 2014-05-16 2016-11-01 Massachusetts Institute Of Technology Methods and apparatus for surface classification
JP6408259B2 (ja) * 2014-06-09 2018-10-17 株式会社キーエンス 画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器
KR102596252B1 (ko) * 2014-12-22 2023-10-31 피렐리 타이어 소시에떼 퍼 아찌오니 생산라인에서 타이어를 검사하기 위한 방법 및 기기
CN107110639B (zh) * 2014-12-22 2020-10-09 倍耐力轮胎股份公司 用于检查轮胎生产线上的轮胎的装置
DE102015209455A1 (de) * 2015-05-22 2016-11-24 Sac Sirius Advanced Cybernetics Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur optischen Erfassung von Innenwandungen
CN104897693A (zh) * 2015-06-12 2015-09-09 武汉中导光电设备有限公司 一种玻璃表面缺陷增强装置及其检测方法
DE102015212910A1 (de) * 2015-07-09 2017-01-12 Sac Sirius Advanced Cybernetics Gmbh Vorrichtung zur Beleuchtung von Gegenständen
MX2021001598A (es) 2015-12-16 2022-09-13 Pirelli Metodo y dispositivo para verificar neumaticos.
JP7074670B2 (ja) 2015-12-16 2022-05-24 ピレリ・タイヤ・ソチエタ・ペル・アツィオーニ タイヤを分析するためのデバイス及び方法
CN106918597B (zh) * 2015-12-25 2021-03-02 中国人民银行印制科学技术研究所 薄膜质量检测方法和薄膜质量检测系统
FR3049709B1 (fr) * 2016-04-05 2019-08-30 Areva Np Procede de detection d'un defaut sur une surface par eclairage multidirectionnel et dispositif associe
KR101885045B1 (ko) * 2016-04-08 2018-08-02 신닛테츠스미킨 카부시키카이샤 금속체의 표면 상태 감시 장치 및 금속체의 표면 상태 감시 방법
DE202016102851U1 (de) * 2016-05-30 2016-08-11 Bobst Mex Sa Bildaufnahmesystem und Qualitätskontrollstation mit Bildaufnahmesystem
CN109313141A (zh) * 2016-05-30 2019-02-05 鲍勃斯脱梅克斯股份有限公司 表面检查系统和检查方法
US10402958B2 (en) * 2016-09-22 2019-09-03 Current Lighting Solutions, Llc Systems and methods for window contamination detection
US10480935B2 (en) 2016-12-02 2019-11-19 Alliance For Sustainable Energy, Llc Thickness mapping using multispectral imaging
EP3722745B1 (en) * 2017-12-08 2023-09-06 Nippon Steel Corporation Shape inspection device and shape inspection method
CN113196040A (zh) * 2018-11-30 2021-07-30 杰富意钢铁株式会社 表面缺陷检测方法、表面缺陷检测装置、钢材的制造方法、钢材的品质管理方法、钢材的制造设备、表面缺陷判定模型的生成方法及表面缺陷判定模型
US11543353B2 (en) * 2019-01-18 2023-01-03 Essenlix Corporation Multi-mode illumination system
DE102019107174B4 (de) * 2019-03-20 2020-12-24 Thyssenkrupp Rasselstein Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion der Oberfläche eines sich bewegenden Bands
EP3754324B1 (de) * 2019-06-19 2023-11-29 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und vorrichtung zum klassifizieren einer partikelartigen verunreinigung auf einer oberfläche
CN110524306B (zh) * 2019-08-30 2021-10-22 山东大学 一种建立零件和刀具切削用量的匹配关系的系统及方法
CN110927073A (zh) * 2019-11-06 2020-03-27 广东弓叶科技有限公司 多光谱成像方法、电子装置及存储介质
DE102021002250A1 (de) 2021-04-16 2022-10-20 Baumer Inspection Gmbh Vorrichtung zum Bestimmen von Farb- und Neigungsbildern eines Objekts
CN113030112B (zh) * 2021-05-26 2021-08-31 苏州高视半导体技术有限公司 基于条纹光源的多光场成像方法、电子设备及存储介质
CN114710617B (zh) * 2022-03-18 2023-09-05 珠海思奇科技有限公司 双轴线阵相机拍照方法、系统、设备及存储介质
WO2023199265A1 (en) * 2022-04-15 2023-10-19 3M Innovative Properties Company Systems and methods for inspecting a worksurface
CN115307554B (zh) * 2022-10-12 2023-03-24 山东创新精密科技有限公司 基于目标图像处理的铝型材宽度检测设备及方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE195534C (ja)
US3892492A (en) 1972-10-16 1975-07-01 Loepfe Ag Geb Optoelectrical apparatus with directional light sources for detecting reflection behaviour of an object
JPS5952735A (ja) 1982-09-20 1984-03-27 Kawasaki Steel Corp 熱間鋼片の表面欠陥検出方法
US5039868A (en) 1988-11-24 1991-08-13 Omron Corporation Method of and apparatus for inspecting printed circuit boards and the like
AU8071791A (en) 1990-06-22 1992-01-23 Alcan International Limited Illumination system for high speed surface inspection of rolled aluminum sheet
US5365084A (en) 1991-02-20 1994-11-15 Pressco Technology, Inc. Video inspection system employing multiple spectrum LED illumination
JPH04279848A (ja) 1991-03-08 1992-10-05 Kawasaki Steel Corp 熱間圧延における鋼板表面状態観察装置及び観察方法
US5298963A (en) 1992-02-26 1994-03-29 Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd. Apparatus for inspecting the surface of materials
WO1994018643A1 (en) 1993-02-02 1994-08-18 Golden Aluminum Company Method and apparatus for imaging surfaces
USH1616H (en) * 1994-05-31 1996-12-03 Minnesota Mining And Manufacturing Company Web inspection system having enhanced video signal preprocessing
DE19511534C2 (de) * 1995-03-29 1998-01-22 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von 3D-Fehlstellen bei der automatischen Inspektion von Oberflächen mit Hilfe farbtüchtiger Bildauswertungssysteme
US5682229A (en) * 1995-04-14 1997-10-28 Schwartz Electro-Optics, Inc. Laser range camera
US6044170A (en) * 1996-03-21 2000-03-28 Real-Time Geometry Corporation System and method for rapid shape digitizing and adaptive mesh generation
US6122065A (en) * 1996-08-12 2000-09-19 Centre De Recherche Industrielle Du Quebec Apparatus and method for detecting surface defects
US5960104A (en) * 1996-08-16 1999-09-28 Virginia Polytechnic & State University Defect detection system for lumber
DE19720308C2 (de) 1997-05-15 1999-05-20 Parsytec Computer Gmbh Vorrichtung zur kontinuierlichen Detektion von Fehlern nach Größe und Art auf der Oberfläche eines bewegten Materials

Cited By (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005536732A (ja) * 2002-08-23 2005-12-02 ライカ マイクロシステムス セミコンダクタ ゲーエムベーハー 物体を検査するための装置及び方法
JP2004138417A (ja) * 2002-10-16 2004-05-13 Nippon Steel Corp 鋼板の疵検査方法およびその装置
JP2005214978A (ja) * 2004-01-30 2005-08-11 Leica Microsystems Semiconductor Gmbh ウェーハを検査するための装置及び方法
JP2007523333A (ja) * 2004-02-18 2007-08-16 イスラ ヴィズィオーン ジュステーム アーゲー 表面検査方法及びそのシステム
KR101070889B1 (ko) * 2004-04-08 2011-10-06 삼성테크윈 주식회사 리드프레임 검사용 조명기구
EP1621914A3 (en) * 2004-07-29 2006-09-20 Mitutoyo Corporation Strobe illumination
CN1727983B (zh) * 2004-07-29 2010-09-22 株式会社三丰 选通脉冲照明
JP2009513984A (ja) * 2005-10-31 2009-04-02 ザ・ボーイング・カンパニー 複合構造に欠陥がないか検査するための装置および方法
JP2007327896A (ja) * 2006-06-09 2007-12-20 Canon Inc 検査装置
JP2011523457A (ja) * 2008-05-13 2011-08-11 エーファーカー ディ ケルシュアグル ゲーエムベーハー 移動する物体を光学的に検出するための方法
KR101691242B1 (ko) * 2009-03-24 2016-12-29 오르보테크 엘티디. 다중 모드 이미징
KR20120058443A (ko) * 2009-03-24 2012-06-07 오르보테크 엘티디. 다중 모드 이미징
JP2012521559A (ja) * 2009-03-24 2012-09-13 オルボテック・リミテッド マルチモード・イメージング
JP2016006422A (ja) * 2009-03-24 2016-01-14 オルボテック・リミテッド マルチモード・イメージング
JP2012042297A (ja) * 2010-08-18 2012-03-01 Kurabo Ind Ltd 撮像光学検査装置
JP2015531068A (ja) * 2012-08-11 2015-10-29 シーゲイト テクノロジー エルエルシー 表面特徴の特徴決定
JP2014062835A (ja) * 2012-09-21 2014-04-10 Ricoh Elemex Corp 検査装置
JP2014074631A (ja) * 2012-10-03 2014-04-24 Ricoh Elemex Corp 外観検査装置および外観検査方法
JP2014163771A (ja) * 2013-02-25 2014-09-08 Kurabo Ind Ltd 外観検査装置
JP2015025741A (ja) * 2013-07-26 2015-02-05 Jfeスチール株式会社 鋼板端面の欠陥検出方法及び欠陥検出装置
JP2015129715A (ja) * 2014-01-08 2015-07-16 リコーエレメックス株式会社 検査装置及び検査装置の制御方法
WO2016208626A1 (ja) * 2015-06-25 2016-12-29 Jfeスチール株式会社 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、及び鋼材の製造方法
JP6079948B1 (ja) * 2015-06-25 2017-02-15 Jfeスチール株式会社 表面欠陥検出装置および表面欠陥検出方法
JPWO2016208606A1 (ja) * 2015-06-25 2017-06-29 Jfeスチール株式会社 表面欠陥検出装置、表面欠陥検出方法、及び鋼材の製造方法
JPWO2016208626A1 (ja) * 2015-06-25 2017-06-29 Jfeスチール株式会社 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、及び鋼材の製造方法
WO2016208622A1 (ja) * 2015-06-25 2016-12-29 Jfeスチール株式会社 表面欠陥検出装置および表面欠陥検出方法
JP2019505760A (ja) * 2015-12-16 2019-02-28 ピレリ・タイヤ・ソチエタ・ペル・アツィオーニ タイヤを検査する方法および装置
US10935467B2 (en) 2015-12-16 2021-03-02 Pirelli Tyre S.P.A Apparatus for checking tyres
US10883898B2 (en) 2015-12-28 2021-01-05 Pirelli Tyre S.P.A. Apparatus for checking tyres
US11359998B2 (en) 2015-12-28 2022-06-14 Pirelli Tyre S.P.A. Method for checking tyres in a tyre production line
JP2019507323A (ja) * 2015-12-28 2019-03-14 ピレリ・タイヤ・ソチエタ・ペル・アツィオーニ タイヤを検査するデバイス
KR101749867B1 (ko) 2016-05-03 2017-06-23 김양수 피검체 검사를 위한 시분할 영상 획득 시스템 및 이를 이용한 시분할 영상 획득 방법
US11022553B2 (en) 2016-05-30 2021-06-01 Bobst Mex Sa Surface inspection system and surface inspection method
JP2019517003A (ja) * 2016-05-30 2019-06-20 ボブスト メックス ソシエテ アノニムBobst Mex SA 表面検査システム及び表面検査方法
JP2018189498A (ja) * 2017-05-08 2018-11-29 キヤノン株式会社 計測装置、および物品製造方法
JP2019020416A (ja) * 2017-07-20 2019-02-07 日立金属株式会社 金属薄板検査装置および金属薄板の検査方法
JP7110777B2 (ja) 2017-07-20 2022-08-02 日立金属株式会社 金属薄板検査装置および金属薄板の検査方法
JP2019095238A (ja) * 2017-11-20 2019-06-20 パナソニックIpマネジメント株式会社 画像処理システム、画像処理方法、及びプログラム
JP7029693B2 (ja) 2017-11-20 2022-03-04 パナソニックIpマネジメント株式会社 画像処理システム、画像処理方法、及びプログラム
US10890441B2 (en) 2017-11-27 2021-01-12 Nippon Steel Corporation Shape inspection apparatus and shape inspection method
WO2019103153A1 (ja) 2017-11-27 2019-05-31 日本製鉄株式会社 形状検査装置及び形状検査方法
JP2019117104A (ja) * 2017-12-27 2019-07-18 株式会社マイクロ・テクニカ 検査装置
JP2019135460A (ja) * 2018-02-05 2019-08-15 株式会社Screenホールディングス 画像取得装置、画像取得方法および検査装置
JP2019135461A (ja) * 2018-02-05 2019-08-15 株式会社Screenホールディングス 画像取得装置、画像取得方法および検査装置
JP7113627B2 (ja) 2018-02-05 2022-08-05 株式会社Screenホールディングス 画像取得装置、画像取得方法および検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP1030173A1 (en) 2000-08-23
US6327374B1 (en) 2001-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000241362A (ja) 表面品質検査装置及びその方法
US10949963B2 (en) System and method for inspection of wet ophthalmic lens
JP6945245B2 (ja) 外観検査装置
EP0898163B1 (en) Method and apparatus for automatic inspection of moving surfaces
TWI399534B (zh) And a defect inspection device for performing defect inspection using image analysis
US6879392B2 (en) Method and apparatus for inspecting defects
US20070286471A1 (en) Auto Distinction System And Auto Distinction Method
TW201435331A (zh) 缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法
US20140152808A1 (en) Method and device for the reliable detection of material defects in transparent material
US6597448B1 (en) Apparatus and method of inspecting foreign particle or defect on a sample
KR101078404B1 (ko) 금속 표면 결함 검출을 위한 카메라.카메라를 포함하는 금속 표면 결함 검출 장치,및 금속 표면 결함 검출 방법
JPH07218451A (ja) 光学式鋼板表面検査装置
JP4184511B2 (ja) 金属試料表面の欠陥検査方法及び装置
JP2008286646A (ja) 表面疵検査装置
JP2004132773A (ja) 青果物の光沢検査装置
KR100633798B1 (ko) 반도체 안착상태 및 외관형상 검사장치
JPH0313853A (ja) 表面疵検査装置
JP7136064B2 (ja) 被検査体の表面検査装置および被検査体の表面検査方法
JP2009264882A (ja) 外観検査装置
JP2004138417A (ja) 鋼板の疵検査方法およびその装置
KR20220105838A (ko) 투명 기판 검사 장치 및 투명기판 검사 방법
KR100389967B1 (ko) 자동화 결함 검사 장치
JPH10242227A (ja) ウエハのマクロ検査方法および自動ウエハマクロ検査装置
JP4270604B2 (ja) 画像入力装置
JPH05142161A (ja) 外観検査方法およびその装置、磁気ヘツド検査方法およびその装置並びに磁気ヘツド製造設備

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20070501