DE102005058873A1 - Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung der Oberfläche eines Körpers - Google Patents

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Abstract

Bei einem Lichtschnittverfahren kann eine erste (114) und eine zweite Messlichtprojektion auf einer Oberfläche eines zu vermessenden Objektes (110) von einer Kamera (106) eindeutig als erste (114) oder zweite Messlichtprojektion identifiziert werden, wenn eine Unterstützungseinrichtung (108) existiert, welche die Kamera (102) und/oder die Messlichtprojektoren (102; 104) so betreibt, dass bei jeder Lichtschnittaufnahme der Kamera (106) entweder die erste (114) oder die zweite Messlichtprojektion für die Kamera (106) sichbar ist. Die Möglichkeit der eindeutigen Identifizierung erlaubt es, mehrere räumlich überlappende und nicht exakt aufeinander ausgerichtete Messlichtprojektionen mittels einer Kamera (106) auszuwerten.

Description

  • Die vorliegende Erfindung befasst sich mit der berührungslosen Vermessung 3-dimensionaler Körper, insbesondere mit optischen Lichtschnittverfahren.
  • Anwendungen, in denen berührungslos die Oberfläche bzw. die Gestalt eines Körpers vermessen werden soll, sind vielfältig. Beispielsweise wird bei der Produktion von Flugzeugtragflächen bei einigen Flugzeugtypen die Form der Tragfläche nach einzelnen Produktionsschritten vermessen, um etwaige Abweichungen der tatsächlichen Form von einer Sollform festzustellen. Eine andere Anwendungsmöglichkeit ist beispielsweise die kontaktlose Vermessung der Oberfläche von Guss- oder Pressteilen, um fehlerhaft produzierte Teile aussondern zu können.
  • Häufig wird dabei zur berührungslosen Vermessung auf die optische Vermessung 3-dimensionaler Körper zurückgegriffen, wobei insbesondere das Lichtschnittverfahren oft verwendet wird.
  • Beim Lichtschnittverfahren, wie es in 5 schematisch dargestellt ist, wird eine Lichtlinie auf ein zu prüfendes Objekt projiziert. Der Verlauf der Lichtlinie auf der Oberfläche des Objekts wird unter einem Winkel zur Projektionsrichtung mit einer Kamera aufgezeichnet. Dieser Verlauf spiegelt mithin die Topographie der Oberfläche wieder und kann daher zur 3-dimensionalen Vermessung der Oberfläche benutzt werden, wenn das zu vermessende Objekt unter der Anordnung von Laser und Kamera bewegt wird.
  • 5 zeigt als Lichtprojektor einen Laser 2, eine Kamera 4 und als zu vermessendes Objekt beispielhaft eine einfa ches geometrisches Objekt, nämlich einen Quader 6. Der Laser 2 erzeugt mittels einer geeigneten Laseroptik einen aufgefächerten Strahl, der an der Messposition 8 auf die Oberfläche des Quaders 6 projiziert wird. Die Kamera 4 beobachtet die Lichtlinie an der Messposition 8. Da die Projektionsrichtung des Lasers 2 und die Beobachtungsrichtung der Kamera 4 einen Winkel bilden, wird von der Kamera 4 der Messstrahl bei einer Veränderung der Oberfläche des Quaders 6, beispielsweise bei einer Erhöhung auf der Oberfläche, an anderer Stelle auf dem Lichtsensor der Kamera 6 (beispielsweise einer CCD) nachgewiesen. Aus der Kenntnis des Winkels zwischen Laser 2 und Kamera 4 sowie der Kenntnis der Nachweisposition des Lichtstrahls im Kamerasensor, lässt sich die topographische Information über die Oberfläche des Quaders 6 an der Messposition 8 gewinnen. Wird nun der Quader in Richtung einer Scanrichtung 10 unter der Messposition 8 hindurchgeführt, so lässt sich ein 3-dimensionales Oberflächenprofil des zu vermessende Quaders erstellen.
  • In dem Beispiel, das in 5 gezeigt ist, ist es prinzipiell nur möglich, eine einzige Oberfläche des Quaders 6 zu vermessen, nämlich jene auf der an der Messposition 8 die Lichtprojektion des Lasers 2 sichtbar ist. Im allgemeinen Fall der 3-dimensionalen Vermessung von Körpern besteht das Problem, dass nur ein Teil der gesamten Oberfläche von der Lichtlinie und der Kamera erfasst wird und somit ein Rest der Oberfläche nicht beleuchtet wird. Soll die gesamte Oberfläche eines Körpers vermessen werden, müssen daher mehrere Lichtlinien und ein oder mehrere Kameras verwendet werden.
  • 6 veranschaulicht dies anhand der 3-dimensionalen Vermessung eines Quaders 20, der von einem ersten Laser 22 und von einem zweiten Laser 24 beleuchtet wird, wobei in 6 der Einfachheit halber nur eine Kamera 26 gezeigt ist. Wie es in 6 zu sehen ist, beleuchtet der Laser 1 die linke Seite und einen Teil der Oberfläche des Quaders 20, wohin gegen der zweite Laser 24 die rechte Seite und einen Teil der Oberfläche des Quaders beleuchtet.
  • Es ist anzumerken, dass zur vollständigen Vermessung des Quaders 20 mehrere Kameras von Nöten sind, die zusätzlich notwendigen Kameras sind jedoch nicht gezeigt, da sie für das Verständnis des Verfahrens nicht erforderlich sind. Um die Oberfläche des Quaders 20 mittels Kamera 1 vollständig vermessen zu können, müssen diejenigen Anteile der Lichtlinien des Lasers 22 und des Lasers 24, welche eine Linie auf die Oberfläche des Quaders 20 projizieren, einen räumlichen Überlapp aufweisen, um die vollständige Erfassung der Oberfläche zu ermöglichen. Weisen die Linien keinen Überlapp auf, müssten Anfangs- und Endpunkte der verschiedenen Lichtlinien exakt aufeinanderliegen. Da die Linien jedoch in der Regel mit einem Punktlaser mit einer speziellen Linienoptik erzeugt werden, hängt die Länge der auf dem Objekt erzeugten Lichtlinie vom Abstand des Lasers zum Objekt ab. Bei 3-dimensionalen Körpern ändert sich jedoch der Abstand der Oberfläche von den verschiedenen Lasern von Messort zu Messort (d.h. entlang einer Scanrichtung 30). Daher ist es unmöglich, Anfangs- und Endpunkte der Laser 22 und 24 aufeinander auszurichten.
  • Spezielle Lichtschnittsensoren in der Kamera 26 bestimmen die Position einer Lichtlinie bereits auf dem Sensor selbst, da dadurch eine möglichst hohe Messrate erreicht werden kann, die bei aktuell verfügbaren Sensoren bis zu 20.000 ausgewerteten Lichtlinien pro Sekunde beträgt.
  • Bei der Verwendung mehrerer Lichtlinien von verschiedenen Lasern, wie es in 6 auf der Oberfläche des Quaders 20 dargestellt ist, sind solche Sensoren jedoch nicht in der Lage zu entscheiden, welche der Lichtlinien zur korrekten Vermessung heranzuziehen ist. Um dieses Problem und damit einher gehende Fehlauswertungen zu umgehen, müssten die projizierten Lichtlinien nahtlos ineinander übergehen. Dies kann prinzipiell dadurch erreicht werden, dass die Lichtli nien zunächst parallel zueinander ausgerichtet und danach so lange parallel verschoben werden, bis sie exakt auf einander liegen. Obwohl dies prinzipiell möglich ist, ist dieses Vorgehen mit einem sehr hohen Justageaufwand verbunden. Ein zusätzliches Problem ist dabei, dass aufgrund von äußeren Einflüsse, wie z. B. durch sich verändernde Temperatur oder durch auftretende mechanische Spannungen, diese Justage zeitlich nicht stabil ist.
  • Ein weiteres Problem des Lichtschnittverfahrens besteht darin, dass erhabene Teile auf der Oberfläche des Objekts bei Einsatz einer Kamera und eines Lasers zu Abschattungen führen können, d.h. Teile der Oberfläche können dann nicht erfasst werden.
  • Dies ist anhand von 7 veranschaulicht, in der schematisch ein Laser 40, eine Kamera 42 und ein zu vermessendes Objekt 44 gezeigt ist. Die Vorschubrichtung 46 (Scanrichtung) ist anhand eines Pfeils symbolisiert.
  • Das zu vermessende Objekt 44 weist eine Erhöhung 48 auf, so dass mit der Anordnung aufgrund der gegebenen Geometrie und der geradlinigen Lichtausbreitung ein Bereich 50 nicht vermessen werden kann. In dem Bereich 50 ist das Projizieren eines Messlichtstrahls unmöglich, da dieser von der Erhöhung 48 abgeschattet wird.
  • Prinzipiell kann dieses Problem beispielsweise durch den Einsatz von zwei Kameras, die symmetrisch zur Projektionsrichtung der Lichtlinie angeordnet sind, gelöst werden. Wenn der Laser das Objekt beispielsweise senkrecht von oben beleuchtet und die Kameras die Position der Lichtlinie aus zwei unterschiedlichen Richtungen aufzeichnen. Offensichtlich können Abschattungseffekte somit in Scanrichtung weitgehend vermieden werden, da der Lichtstrahl selbst nicht abgeschattet werden kann und zumindest eine der Kameras jeweils den Lichtstrahl beobachten kann. Äußerst nachteilhaft an diesem Ansatz ist jedoch der stark erhöhte Kostenauf wand, der durch den Einsatz einer zweiten, komplexen Kamera entsteht. Da die Position von Laser und Kamera prinzipiell austauschbar ist, ist es auch möglich, eine Kamera und zwei Laser zu kombinieren, um Abschattungen zu vermeiden. Aufgrund des oben beschriebenen Problems der Ununterscheidbarkeit der Laserlinien ist dies jedoch in den dem Stand der Technik entsprechenden Verfahren unmöglich.
  • Allgemein werden beim Lichtschnittverfahren die projizierten Laserlinien lediglich beobachtet, d.h. das Verfahren basiert darauf, dass das Laserlicht am Ort des Auftreffens auf das Objektes diffus gestreut wird, so dass die Kamera die Linie des Lasers auf dem Objekt ohne Störungen beobachten kann. Beim herkömmlichen Lichtschnittverfahren kann es jedoch zu zusätzlichen Problemen kommen, wenn die Oberfläche von zu vermessenden Objekten teilweise reflektierend ist, so dass Reflexionen entstehen, die im ungünstigsten Fall in die Optik der Kamera reflektiert werden, wodurch das Bild der Kamera verfälscht wird. In einem solchen Fall treten in einem Teil des Kamerabildes, in dem nur die Lichtlinie zu sehen sein sollte, weitere helle Stellen auf, welche die Auswertung erschweren oder unmöglich machen. Werden beispielsweise diffus streuende Autoreifen auf reflektierenden Aluminiumfelgen vermessen, kann dieses Problem auftreten, wenn der Teil der Lichtlinie, der auf das Aluminium trifft, in dem Kamerabereich reflektiert wird. Mit dem Stand der Technik entsprechenden Lichtschnittverfahren kann der Reifen dann nicht mehr erfasst werden.
  • Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine Vorrichtung und ein Verfahren zu schaffen, durch die eine effizientere Anwendung des Lichtschnittverfahrens zum exakten Vermessen dreidimensionaler Körper möglich wird.
  • Diese Aufgabe wird durch eine Vorrichtung gemäß Anspruch 1 und durch ein Verfahren gemäß Anspruch 9 gelöst.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt dabei die Erkenntnis zugrunde, dass eine verbesserte Vermessung insbesondere dreidimensionaler Körper möglich ist, wenn eine Einrichtung vorgesehen wird, mit deren Hilfe eine erste und eine zweite Messlichtprojektion auf einer Oberfläche eines zu vermessenden Objektes eindeutig als von einem ersten oder zweiten Lichtprojektor stammend identifiziert werden kann. Zu diesem Zweck ist erfindungsgemäß eine Unterstützungseinrichtung vorgesehen, welche eine Kamera und/oder die Messlichtprojektoren vorzugsweise so betreibt, dass bei jeder Lichtschnittaufnahme der Kamera entweder nur die erste oder nur die zweite Messlichtprojektion für die Kamera sichtbar ist.
  • Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird das Problem der Identifizierung überlappender Lichtlinien dadurch gelöst, dass Lichtlinien nicht gleichzeitig, sondern sequentiell, also in verschiedenen Phasen des Messvorgangs aufeinanderfolgend auf das Objekt projiziert werden. Mittels der Unterstützungseinrichtung wird die für die Erfassung der jeweiligen Lichtlinie vorgesehene Kamera ebenfalls so getaktet, dass diese nur dann empfindlich ist, wenn jeweils nur eine aufzuzeichnende Lichtlinie aktiv ist.
  • Eine vollständige Aufnahme eines Objektes wird also in mehrere Phasen zerlegt, bei der jeweils nur Lichtlinien und Kameras aktiv sind, welche keine wechselseitig überlappenden Bereiche aufweisen. Somit wird effizient verhindert, dass eine Kamera zwei unterschiedliche Lichtlinien je Aufnahme sieht. Dadurch können spezielle Lichtschnittkameras verwendet werden, welche mit hoher Messfrequenz die Position einer Lichtlinie selbständig bestimmen, um effizient und kostengünstig mehrere parallele Lichtprojektionen zur Auswertung zu verwenden, wobei gleichzeitig die hohe Auswertegeschwindigkeit der Lichtschnittkameras lediglich um einen Faktor 2 verringert wird.
  • Somit können auf vorteilhafte Art und Weise unter anderem Abschattungen vermieden werden, wenn beispielsweise die Kamera das Objekt senkrecht von oben erfasst und symmetrisch zur Vertikalen zwei Laser zur Projektion einer Lichtlinie angeordnet werden, welche sequentiell ein- und ausgeschaltet werden. Die Messwerte der beiden (oder ggf. mehreren) Aufnahemphasen werden zusammengefasst, so dass für jeden Messabschnitt (bzw. Messpunkt, d.h. an jeder Stelle des Vorschubs in Scanrichtung) ein gültiger Messwert vorliegt. Durch Abscannen des Objektes werden die Messpunkte schließlich zu einem lückenlosen 3D-Bild der Oberfläche zusammengesetzt, wobei kaum Abschattungen mehr auftreten können. Die effektive Messrate wird durch das sequentielle Zuschalten von Lichtlinien und Kameras zwar reduziert, jedoch erlauben spezielle Lichtschnittsensoren so hohe Messraten, dass diese Reduktion der effektiven Messrate tolerierbar ist.
  • Die Anordnung von zwei Lasern symmetrisch zur Blickrichtung einer Kamera hat einen geringen Kostenmehraufwand zur Folge, um einen zweiten Laser zu installieren. Jedoch ist, bei geringer Laserleistung, der zusätzliche Kostenaufwand wesentlich geringer als bei Einsatz einer zweiten Kamera, wie es im Stand der Technik oftmals der Fall ist. Insgesamt ergibt sich somit der große Vorteil, dass bei Anwendung des erfindungsgemäßen Konzeptes mit geringem Kostenmehraufwand das Auftreten von Abschattungen verhindert werden kann. Ebenso kann so eine vollständige Oberfläche eines Objektes mittels mehrerer nicht exakt aufeinander ausgerichteter Lichtstreifen vermessen werden.
  • Bei einem weiteren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird die eindeutige Identifikation einer ersten und einer zweiten Messlichtprojektion dadurch ermöglicht, dass für die erste und die zweite Messlichtprojektion Laserlicht unterschiedlicher Wellenlänge verwendet wird. Dabei wird die jeweils gewünschte Kamera zur Erfassung der Lichtlinie mit einem entsprechenden optischen Filter ausgestattet, so dass Lichtlinien, die nicht erfasst werden sollen, hinreichend unterdrückt werden. Darüber hinaus kann von einer Unterstützungseinrichtung ein Lichtfilter einer einzelnen Kamera zeitlich variabel gewechselt werden, so dass auch mittels nur einer Kamera mehrere Laserstrahlen eindeutig unterschieden werden können. In einer Erweiterung können, sollten zwei unterschiedliche Wellenlängen nicht zur Vermeidung von Überlappungen ausreichen, prinzipiell beliebig viele weitere Wellenlängen hinzugenommen werden.
  • Bei einem weiteren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung weist ein Matrix- oder Zeilensensor innerhalb der Kamera, beispielsweise eine CCD, direkt auf einzelnen Pixeln befindliche, unterschiedliche Farbfilter auf, so dass eine Unterscheidung des ersten und des zweiten Laserstrahls automatisch dadurch erreicht wird, dass jeweils nur die mit dem entsprechenden Wellenlängenfilter ausgestatteten Pixel das Laserlicht sehen. Bei einem CCD-Sensor kann zum Beispiel jedes zweite Pixel, jede zweite Spalte oder jede zweite Zeile mit einem Wellenlängenfilter unterschiedlicher Durchlasscharakteristik belegt werden, so dass dann mit halber Ortsauflösung zwei unterschiedliche Laser automatisch unterschieden werden können. Eine Erweiterung auf prinzipiell beliebig viele unterschiedliche Farben ist möglich, wobei jedoch die mit der Anzahl der unterschiedlichen Farben geringer werdende Ortsauflösung bei Verwendung nur eines einzigen Chips zu bedenken ist. Kostengünstig können dabei beispielsweise herkömmliche RGB-Sensoren verwendet werden, wie sie unter anderem in Videokameras zum Einsatz kommen.
  • Das Verwenden unterschiedlich farbiger Laser hat den großen Vorteil, dass die Erfassung aller Lichtlinien parallel erfolgen kann. Dadurch kann die maximale Messfrequenz der Messkamera ausgenutzt werden. Die effektive Messfrequenz bei sequentiellen Methoden kann prinzipiell dadurch erhöht werden, dass die Belichtungszeiten verkürzt werden, was jedoch eine Erhöhung der eingesetzten Laserleistung voraus setzt, um pro einzelner Aufnahme die Messlinie noch reproduzieren zu können. Da Laser mit hoher Leistung wesentlich teuerer sind als Laser geringerer Leistung, birgt die Verwendung unterschiedlich farbiger Laserstrahlung zusätzlich einen signifikanten Kostenvorteil.
  • Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden im Nachfolgenden Bezug nehmend auf die beiliegenden Zeichnungen detailliert erläutert. Es zeigen:
  • 1 eine Prinzipdarstellung einer erfindungsgemäßen Lichtschnittmesseinrichtung;
  • 2 ein Taktzyklusdiagramm zum Betrieb der Lichtschnittmesseinrichtung aus 1;
  • 3a eine Lichtschnittmesseinrichtung zur vollständigen Vermessung einer 3-dimensionalen Oberfläche;
  • 3b ein Taktzyklusdiagramm zum Betrieb der Lichtschnittmesseinrichtung von 3a;
  • 4 ein Lichtschnittverfahren mit Lasern unterschiedlicher Wellenlänge;
  • 5 eine prinzipielle Funktionsweise des Lichtschnittmessverfahrens;
  • 6 eine Vermessung einer Oberfläche mittels mehrerer Lichtschnitte; und
  • 7 Abschattungseffekte beim Lichtschnittverfahren.
  • Die 1 zeigt ein Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Lichtschnittmesseinrichtung 100, die einen ersten Lichtprojektor 102, einen zweiten Lichtprojektor 104, eine Kamera 106 und eine Unterstützungseinrichtung 108 aufweist.
  • Die Lichtschnittmesseinrichtung 100 dient dem 3-dimensionalen Vermessen der Form eines Objektes 110, das unter der Lichtschnittmesseinrichtung 100 in der Scanrichtung 112 hindurchbewegt wird.
  • Bei dem in 1 gezeigten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird die Unterscheidbarkeit von zwei Messlichtstrahlen durch die Unterstützungseinrichtung 108 sichergestellt, die sowohl mit dem ersten Lichtprojektor 102, dem zweiten Lichtprojektor 104 als auch mit der Kamera 106 verbunden ist. Die Unterstützungseinrichtung 108 betreibt dabei die Kamera 106 und die Lichtprojektoren 102 und 104 in einer getakteten Art und Weise derart, dass für aufeinanderfolgende Bilder der Kamera 106 entweder eine Lichtprojektion 114 auf einer Oberfläche des Objekts 110 von dem ersten Lichtprojektor 102 erzeugt wird, wie es in 1 zu sehen ist, oder von dem zweiten Lichtprojektor 104. Ein Beispiel für ein Taktschema, mit dem das Umschalten durch die Unterstützungseinrichtung 108 erfolgt, ist in 2 dargestellt. Die Funktionsweise der Lichtschnittmesseinrichtung 100 wird im Folgenden bezug nehmend auf 2 erläutert.
  • 2 zeigt auf einer gemeinsamen x-Achse die Zeit in beliebigen Einheiten, während die Schaltzustände, d.h. der Ein-Zustand und der Aus-Zustand für den ersten Lichtprojektor in einer Taktzyklusdarstellung 130, für den zweiten Lichtprojektor 104 in einer Taktzyklusdarstellung 132 und für die Kamera 106 in einer Taktzyklusdarstellung 134 gezeigt sind.
  • Die Unterstützungseinrichtung 108 steuert die Lichtprojektoren 102 und 104 bzw. die Kamera 106 in einer ersten Phase 140 derart, dass der erste Lichtprojektor 102 die Projektion des Lichtstrahls auf dem Objekt 110 erzeugt, wobei die Kamera 106 aktiv ist und den projizierten Lichtstrahl aufnimmt. In einer darauffolgenden, zweiten Phase 142 wird hingegen der erste Lichtprojektor 102 inaktiv geschaltet, während der zweite Lichtprojektor 104 die Messlichtprojektion auf dem Objekt 110 erzeugt, welche mittels der Kamera 106 in der zweiten Phase 142 aufgezeichnet wird.
  • Wie es in den 1 und 2 zu sehen ist, ist es somit erfindungsgemäß möglich, die Quellen der Messlichtprojektion eindeutig einzelnen Kameraaufnahmen zuzuordnen.
  • Besonders vorteilhaft an dem in 1 gezeigten Ausführungsbeispiel ist, dass es in der in 1 gezeigten Anordnung der Komponenten in Scanrichtung kaum zu Abschattungseffekten kommen kann.
  • 3a zeigt ein weiteres bevorzugtes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung, bei dem ein Quader 3-dimensional vollständig erfasst wird, wobei unter vollständiger Erfassung zu verstehen ist, dass eine Auflagefläche des Quaders als eben angenommen und somit als bekannt vorausgesetzt wird, so dass lediglich drei verbleibende Seiten des Quaders durch eine erfindungsgemäße Lichtschnittmesseinrichtung zu bestimmen sind.
  • 3a zeigt einen zu vermessenden Quader 150, der in einer Scanrichtung 152 bewegt wird, wobei zur vollständigen Vermessung des Quaders 150 eine erste Kamera 154, eine zweite Kamera 156, eine dritte Kamera 158 sowie ein erster Laser 160 und ein zweiter Laser 162 verwendet werden. Die Taktsignale zur Ansteuerung der Kameras und der Laser sind in 3b gegen die Zeit in willkürlichen Einheiten aufgetragen, wobei ein Signal 170 den ersten Laser 160, ein Signal 172 den zweiten Laser 162, ein Signal 174 die erste Kamera 154, ein Signal 176 die zweite Kamera 156 und ein Signal 178 die dritte Kamera 158 steuern. Anhand der 3a und 3b soll im Folgenden kurz die Funktionsweise der erfindungsgemäßen Lichtschnittmesseinrichtung von 3a erläutert werden.
  • Der erste Laser 160 beleuchtet in einer ersten Messphase 180 die linke Seite des Quaders 150 und erzeugt dabei eine erste Messlichtprojektion 181, wobei der zweite Laser 162 ausgeschaltet ist. Die Position der zugehörigen Messlichtprojektion 181 wird in der Messphase 180 von der ersten Kamera 154 und von der dritten Kamera 158 erfasst. Durch die Schrägprojektion der Lichtlinie wird die komplette linke Seite des Quaders 150 und ein Teil der oberen Fläche des Quaders 150 beleuchtet. In der Messphase 180 werden daher von der dritten Kamera 158 3-dimensionale Positionen der linken Oberfläche und von der ersten Kamera 154 3-dimensionale Positionen von Teilen der oberen Oberfläche des Quaders 150 erfasst.
  • Durch die Bewegung des Quaders 150 in Scanrichtung 152 werden nacheinander 3D-Daten für die eben beschriebenen Teile des Quaders ermittelt. In einer zweiten Messphase 182 wird der erste Laser 160 ausgeschaltet, der zweite Laser 162 beleuchtet die rechte Oberfläche und einen Teil der oberen Oberfläche des Quaders 150 und erzeugt dabei eine zweite Messlichtprojektion 183. Die Erfassung der Messdaten erfolgt nun mit der ersten Kamera 154 und mit der zweiten Kamera 156. Erfindungsgemäß müssen die Lichtlinien des ersten Lasers 160 und des zweiten Lasers 162 nicht aufeinander zu liegen kommen, da der Quader 150 während des Scanvorgangs vollständig erfasst wird, wobei die Messdaten in einem Post-Processing auf einem Rechner korrekt zusammengesetzt werden können, um das vollständige 3-dimensionales Bild des Quaders 150 zu erzeugen. Durch das erfindungsgemäße getaktete Betreiben, das von einer Unterstützungseinrichtung gesteuert wird, wird also verhindert, dass der erste Laser 160 und der zweite Laser 162 zeitgleich betrieben werden.
  • Alternativ zum Einsatz von zwei oder mehr Kameras, wie es in 3a zu sehen ist, ist es auch möglich, eine einzelne Kamera zu verwenden, welche mittels einer geeigneten Optik den Quader 150 aus verschiedenen Perspektiven abbilden kann. Dies kann beispielsweise mittels eines optischen Strahlteilers und geometrisch geeignet angebrachten Spiegeln erreicht werden, wobei dann unterschiedliche Bildbereiche einer einzigen Aufnahme der Kamera den jeweiligen Perspektiven zugeordnet sind. In Anlehnung an 3a kann eine solche Aufteilung beispielsweise so erfolgen, dass ein linker Randbereich einer CCD-Aufnahme aus der Perspektive der Kamera 158 abgebildet ist, während ein mittlerer Bereich der CCD-Aufnahme aus der Perspektive der Kamera 154 gesehen wird und wobei ein rechter Randbereich der CCD-Aufnahme aus der Perspektive der Kamera 156 abgebildet ist. Dies hat den großen Vorteil, dass eine oder mehrere kostenintensive Kameras gespart werden können.
  • Die 4 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung, bei dem die Oberfläche eines Objektes mittels zweiter Lichtstrahlen und zweier Kameras vermessen wird.
  • Die 4 zeigt dabei ein zu vermessendes Objekt 200, einen ersten Messlichtprojektor 202, einen zweiten Messlichtprojektor 204, eine erste Kamera 212 und eine zweite Kamera 214. Auf der rechten Seite und auf einem Teil der Oberfläche des Objektes 200 wird von dem ersten Messlichtprojektor 202 ein erster Messlichtstreifen 222 in einer erste Farbe projiziert, bei dem das Licht also einen ersten Wellenlängenbereich umfasst. Auf der linken Seite und einem zweiten Teil der Oberfläche des Objektes 200 wird vom zweiten Messlichtprojektor 204 ein zweiter Messlichtstreifen 224 erzeugt, wobei der zweite Messlichtstreifen 224 eine andere Farbe hat als der erste Messlichtstreifen 222. Vor der ersten Kamera 212 ist ein erster Wellenlängenfilter 232 angebracht, dessen Filtercharakteristik so ausgewählt ist, dass die erste Kamera 212 nur den ersten Messlichtstreifen 222 der ersten Farbe beobachten kann. Äquivalent dazu befindet sich vor der zweiten Kamera 214 ein zweiter Filter 234, der eine Filtercharakteristik aufweist, die lediglich Licht im Wellenlängenbereich des zweiten Messlichtstreifens 224 pas sieren lässt, so dass die zweite Kamera 214 nur den zweiten Messlichtstreifen 224 sieht.
  • Auf diese Art und Weise kann erreicht werden, dass die Messung kontinuierlich erfolgen kann, d.h. dass keiner der Messlichtprojektoren zeitweise stillgelegt oder abgeschattet werden muss, was zu einer Reduzierung der effektiven Messrate einer Kamera um einen Faktor 2 führen würde. Daher kann erfindungsgemäß die hohe Messrate spezialisierter Lichtschnittkameras in vollem Umfang genutzt werden, wenn das erfindungsgemäße Konzept so implementiert wird, wie es in 4 zu sehen ist.
  • In einer alternativen Ausführungsform des in 4 gezeigten Konzeptes werden Messlinien unterschiedlicher Wellenlängen verwendet, wobei nur eine einzelne Kamera zur Beobachtung verwendet wird. Zusätzlich ist dann eine Einrichtung vorgesehen, die wechselnde Farbfilter vor der Kamera anordnet, so dass auf jeder Aufnahme nur eine eindeutig zuordenbare Messlinie beobachtet werden kann. Dies kann beispielsweise mittels eines Filterrades geschehen, das verschiedene Filterfolien in einzelnen Segmenten eines Kreises aufweist, wobei durch Rotation des Filterrades zeitlich präzise gesteuert einzelne Filterfolien vor das Objektiv der Kamera gebracht werden können. So wird der zusätzliche Kostenaufwand für eine zweite Kamera vermieden, jedoch wird die effektive Messrate um den Faktor 2 verringert. Im Fall der Verhinderung von Abschattungseffekten durch das Einsetzen zweier Laser ist dies jedoch akzeptabel, da in diesem Fall die effektive Messrate nur dann reduziert wird, wenn einer der Laserstrahlen tatsächlich abgeschattet ist.
  • Obwohl anhand der vorhergehenden Beispiele das erfindungsgemäße Konzept anhand der Steuerung bzw. des Einsatzes von zwei Lasern beschrieben wurde, wird es im allgemeinen bei komplexeren 3D-Oberflächen erforderlich sein, eine größere Anzahl von Lasern und Kameras einzusetzen, um Abschattungseffekte zu vermeiden und um die vollständige Oberfläche er fassen zu können. Dementsprechend kann es erforderlich werden, mehr als zwei Aufnahmephasen zu definieren, in denen mehrere Gruppen von Lasern und Kameras zu unterschiedlichen Zeiten aktiv sind, um die Messdaten der Oberfläche zu generieren. Dies ist auf vorteilhafte Weise mittels des erfindungsgemäßen Konzepts realisierbar, bei dem die Anzahl der unterschiedlichen Messphasen prinzipiell nicht limitiert ist. Darüber hinaus kann selbstverständlich auch eine beliebige Anzahl unterschiedlich farbiger Laser zum Einsatz kommen, um das erfindungsgemäße Konzept mittels einer beliebigen Anzahl von unterschiedlich farbigen Lasern und Kameras mit Farbfiltern umzusetzen.
  • Durch das erfindungsgemäße Verwenden mehrerer Laser kann dabei auf vorteilhafte Art und Weise auch das Problem von eventuell auftretenden Reflexionen beseitigt werden, wenn Kamerabilder mit Reflexionsanteilen verworfen werden können, da diese in einer zweiten Messphase durch ein redundantes Kamerabild ersetzt werden können. Dies ist möglich, da die eindeutige Zuordnung eines Messlichtstreifens zu einem Laser erfindungsgemäß ermöglicht wird.
  • Zusammengefasst ermöglicht es die vorliegende Erfindung also bei hinreichend glatter Oberfläche eine 3D-Erfassung eines Körpers während genau eines Scanvorganges auf Basis des Lichtschnittverfahrens zu rekonstruieren.
  • Obwohl in den in den vorhergehenden Abschnitten beschriebenen bevorzugten Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung die erfindungsgemäße Unterstützungseinrichtung, die eine eindeutige Identifikation einer ersten oder einer zweiten Messlichtprojektion in einer Lichtschnittaufnahme ermöglicht, anhand von zwei Beispielen, nämlich dem getakteten Betreiben einer Lichtschnittmesseinrichtung und dem Bereitstelen von Wellenlängenfiltern zum Unterscheiden verschiedenfarbiger Messlichtprojektionen beschrieben wurde, sind auch beliebige andere Ausführungsformen möglich.
  • Eine weitere Möglichkeit, die Unterstützungseinrichtung zu implementieren, die eine eindeutige Identifikation einer ersten oder einer zweiten Messlichtprojektion gestattet ist, die geometrische Form einer Messlichtprojektion zu verändern. Beispielsweise kann die Breite eines Lichtstreifens variiert werden, so dass beispielsweise ein verbreiterter von einem normalen Messlichtstreifen leicht unterschieden werden kann. Darüber hinaus kann die geometrische Gestalt eines Streifens in beliebiger Art und Weise zur Codierung der Information über den Ursprung des Streifens verwendet werden. Beispielsweise ist ein Streifen, der in bestimmten Abständen unterbrochen ist, vorstellbar, wobei die Sequenz der Unterbrechungen des Lichtstreifens den Code enthält. Darüber hinaus kann auch ein Muster aus kurzen Lichtstreifen, die senkrecht zum Verlauf des eigentlichen Messlichtstreifens angeordnet sind eine Codesequenz definieren, die zur Unterscheidung herangezogen werden kann.
  • Obwohl bei den beschriebenen Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung unterschiedliche Phasen der Belichtung in abwechselnder Reihenfolge durchlaufen werden, ist es ebenso möglich, eine Phase mehrmals hintereinander zu durchlaufen, wenn dies notwendig ist. Insbesondere kann die Steuerung auch dynamisch die Reihenfolge der Phasen verändern, sollte beispielsweise eine fehlerhafte Auswertung dies erfordern.
  • Abhängig von den Gegebenheiten kann das erfindungsgemäße Verfahren zum 3-dimensionalen Vermessen der Form eines Objektes in Hardware oder in Software implementiert werden. Die Implementierung kann auf einem digitalen Speichermedium, insbesondere einer Diskette oder CD mit elektronisch auslesbaren Steuersignalen erfolgen, die so mit einem programmierbaren Computersystem zusammenwirken können, dass das erfindungsgemäße Verfahren zum 3-dimensionalen Vermessen der Form eines Objektes ausgeführt wird. Allgemein besteht die Erfindung somit auch in einem Computer-Programm-Produkt mit einem auf einem maschinenlesbaren Träger ge speicherten Programmcode zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens, wenn das Computer-Programm-Produkt auf einem Rechner abläuft. In anderen Worten ausgedrückt kann die Erfindung somit als ein Computer-Programm mit einem Programmcode zur Durchführung des Verfahrens realisiert werden, wenn das Computer-Programm auf einem Computer abläuft.

Claims (18)

  1. Lichtschnittmesseinrichtung (100) zum 3-dimensionalen Vermessen der Form eines Objektes (110; 150), mit folgenden Merkmalen: einem ersten (102; 160) und einem zweiten Lichtprojektor (104; 162) zum Erzeugen einer ersten (114; 181) und einer zweiten (183) Messlichtprojektion auf einer Oberfläche des Objektes (110; 150); mindestens einer Kamera (106; 154) zum Erzeugen einer Lichtschnittaufnahme einer Oberfläche des Objektes (110; 150); und einer Unterstützungseinrichtung (108), die eine eindeutige Identifikation der ersten (114; 181) oder der zweiten (183) Messlichtprojektion in der Lichtschnittaufnahme ermöglicht.
  2. Lichtschnittmesseinrichtung (100) gemäß Anspruch 1, bei der die Unterstützungseinrichtung (108) ausgebildet ist, um zu bewirken, dass auf jeder Lichtschnittaufnahme für die Kamera (106; 154) entweder die erste (114; 181) oder die zweite Messlichtprojektion (183) sichtbar ist.
  3. Lichtschnittmesseinrichtung (100) gemäß einem der Ansprüche 1 oder 2, bei der die Unterstützungseinrichtung (108) ausgebildet ist, um den ersten (102; 160) und den zweiten (104; 162) Lichtprojektor sowie die Kamera (106; 154) derart getaktet anzusteuern, dass je Lichtschnittaufnahme entweder die erste (114; 181) oder die zweite (183) Messlichtprojektion auf der Oberfläche des Objektes (110; 150) sichtbar ist.
  4. Lichtschnittmesseinrichtung (100) gemäß einem der Ansprüche 1 oder 2, bei der der erste (102; 160) und der zweite (104; 162) Lichtprojektor unterschiedliche Lichtwellenlängen verwenden; und bei der die Unterstützungseinrichtung (108) einen Wellenlängenfilter für die Kamera (106; 154) mit einem ersten und einem zweiten Wellenlängenbereich aufweist, so dass bei einer Lichtschnittaufnahme im ersten Wellenlängenbereich nur die erste Messlichtprojektion (114; 181) und bei einer Lichtschnittaufnahme im zweiten Wellenlängenbereich nur die zweite (183) Messlichtprojektion in der Lichtschnittaufnahme sichtbar ist.
  5. Lichtschnittmesseinrichtung (100) gemäß Anspruch 4, bei der die Unterstützungseinrichtung eine Filtermatrix mit einem ersten Filtermatrixelement als Wellenlängenfilter mit dem ersten Wellenlängenbereich und einem zweiten Filtermatrixelement als Wellenlängenfilter mit dem zweiten Wellenlängenbereich aufweist, welche auf einer Sensorelementmatrix der Kamera so angeordnet sind, dass ein erstes Sensorelement von dem ersten Filtermatrixelement und dass ein zweites Sensorelement von dem zweiten Filtermatrixelement bedeckt wird.
  6. Lichtschnittmesseinrichtung (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, die eine zweite Kamera umfasst, wobei die Unterstützungseinrichtung (108) ausgebildet ist, um zu ermöglichen, dass auf der Lichtschnittaufnahme der ersten Kamera (156) nur die erste (114; 181) Messlichtprojektion und dass auf der Lichtschnittaufnahme der zweiten Kamera (158) nur die zweite Messlichtprojektion (183) sichtbar ist.
  7. Lichtschnittmesseinrichtung (100) gemäß Anspruch 6, bei der der erste (102; 160) und der zweite (104; 162) Lichtprojektor unterschiedliche Lichtwellenlängen verwenden; und bei der die Unterstützungseinrichtung (108) ausgebildet ist, um einen ersten Wellenlängenfilter für die erste Kamera und einen zweiten Wellenlängenfilter für die zweite Kamera bereit zu stellen, so dass für die erste Kamera nur die erste Messlichtprojektion (114; 181) und für die zweite Kamera nur die zweite Messlichtprojektion (183) sichtbar ist.
  8. Lichtschnittmesseinrichtung (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der ein von dem ersten (102; 160) und dem zweiten Messlichtprojektor (104; 162) auf der Oberfläche des Objektes (110; 150) erzeugtes geometrisches Muster räumlich überlappt, wobei das erste und das zweite geometrische Muster in einem Überlappbereich unstetig ineinander übergehen.
  9. Lichtschnittmesseinrichtung (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der eine optische Achse der Kamera (106; 154) im Wesentlichen senkrecht zu der Oberfläche des Objektes (10; 150) ist.
  10. Lichtschnittmesseinrichtung (100) gemäß Anspruch 9, bei der eine Relativbewegungsrichtung des Objekts und der optischen Achse der Kamera (106; 154) so gewählt ist, dass die optische Achse der Kamera (106; 154) bei einer Relativbewegung von Objekt und Kamera parallel zu der Relativbewegungsrichtung im wesentlichen senkrecht zur Oberfläche des Objekts bleibt.
  11. Lichtschnittmesseinrichtung (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der der erste (102; 160) und der zweite Lichtprojektor (104; 162) symmetrisch bezüglich der Kamera (106; 154) angeordnet sind.
  12. Lichtschnittmesseinrichtung (100) gemäß Anspruch 11, bei der eine durch die Position des ersten (102; 160) und des zweiten Lichtprojektors (104; 162) definierte Achse im Wesentlichen parallel zu einer Relativbewegungsrichtung zwischen dem Objekt und einer optischen Achse der Kamera (106; 154) ist.
  13. Lichtschnittmesseinrichtung (100) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, die zusätzlich eine Kameraunterstützungseinrichtung aufweist, um ein Erzeugen einer Lichtschnittaufnahme aus unterschiedlichen Perspektiven mittels einer Kamera zu ermöglichen.
  14. Lichtschnittmesseinrichtung (100) gemäß Anspruch 13, bei der die Kameraunterstützungseinrichtung ausgebildet ist, um ein Erzeugen einer Lichtschnittaufnahme zu ermöglichen, in der mehr als eine Perspektive des Objekts abgebildet wird.
  15. Verfahren zum 3-dimensionalen Vermessen der Form eines Objektes, mit folgenden Schritten: Erzeugen einer ersten und einer zweiten Messlichtprojektion auf einer Oberfläche des Objektes; Erzeugen einer Lichtschnittaufnahme einer Oberfläche des Objektes; und eindeutiges Identifizieren der ersten oder der zweiten Messlichtprojektion in der Lichtschnittaufnahme.
  16. Verfahren gemäß Anspruch 15 mit folgenden zusätzlichen Schritten: ausblenden der zweiten Messlichtprojektion beim Erzeugen der Lichtschnittaufnahme; und ausblenden der ersten Messlichtprojektion beim Erzeugen einer zweiten Lichtschnittaufnahme.
  17. Verfahren gemäß Anspruch 15, bei dem die erste Messlichtprojektion in einem ersten Wellenlängenbereich und bei dem die zweite Messlichtprojektion in einem zweiten Wellenlängenbereich erzeugt wird, wobei auf der Lichtschnittaufnahme nur der erste Wellenlängenbereich sichtbar ist, mit folgenden zusätzlichen Schritten: erzeugen einer zweiten Lichtschnittaufnahme der Oberfläche des Objektes parallel zum Erzeugen der Lichtschnittaufnahme, wobei auf der zweiten Lichtschnittaufnahme nur der zweite Wellenlängenbereich sichtbar ist.
  18. Computer-Programm mit einem Programmcode zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 15, wenn das Programm auf einem Computer abläuft.
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007063041A1 (de) * 2007-12-28 2009-07-02 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Laserlicht-Schnittanordnung und Laserlicht-Schnittverfahren zur Bestimmung des Höhenprofils eines Objekts
DE102008016736A1 (de) * 2008-03-31 2009-10-01 Urban Gmbh & Co Maschinenbau Kg Bearbeitungsmaschine für Tür- beziehungsweise Fensterrahmenprofile
DE102009059794A1 (de) * 2009-12-21 2011-06-22 Siemens Aktiengesellschaft, 80333 Kamera-Projektor-System und ein Verfahren zum Auslösen einer Kamera
DE102010021951A1 (de) * 2010-05-28 2011-12-01 Weber Maschinenbau Gmbh Breidenbach Abtasteinrichtung
WO2015024963A1 (de) * 2013-08-21 2015-02-26 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E.V. Vorrichtung und verfahren zur erfassung einer zumindest teilweise spiegelnden oberfläche
EP2322899A4 (de) * 2008-08-26 2015-10-28 Bridgestone Corp Verfahren zur erkennung der rauheit einer probe und vorrichtung zur durchführung dieses verfahrens
EP2993448A1 (de) * 2014-09-05 2016-03-09 BSH Hausgeräte GmbH Getränkespender mit einer füllstandsermittlung und verfahren zum betreiben des getränkespenders
WO2017046832A1 (en) * 2015-09-18 2017-03-23 Hamamatsu Photonics K.K. Optical distance measuring system

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5019849B2 (ja) * 2006-11-02 2012-09-05 株式会社ブリヂストン タイヤの表面検査方法および装置
US8643717B2 (en) * 2009-03-04 2014-02-04 Hand Held Products, Inc. System and method for measuring irregular objects with a single camera
JP4883429B2 (ja) * 2010-03-26 2012-02-22 住友金属工業株式会社 Uoe鋼管の製造方法および製造装置
US9229106B2 (en) 2010-08-13 2016-01-05 Ryan Dotson Enhancement of range measurement resolution using imagery
JP5562278B2 (ja) * 2011-03-15 2014-07-30 株式会社神戸製鋼所 タイヤ形状検査装置、及びタイヤ形状検査方法
US8994935B2 (en) * 2012-05-07 2015-03-31 Greg Cunningham KINNEY Laser alignment apparatus
US9488469B1 (en) * 2013-04-22 2016-11-08 Cognex Corporation System and method for high-accuracy measurement of object surface displacement using a laser displacement sensor
US9684010B2 (en) * 2013-05-24 2017-06-20 Pavel Romashkin Screen-less ballistic chronograph
US9389069B2 (en) * 2014-03-26 2016-07-12 Alces Technology, Inc. Compact 3D depth capture systems
WO2016103110A1 (en) 2014-12-22 2016-06-30 Pirelli Tyre S.P.A. Apparatus for controlling tyres in a production line
US10697857B2 (en) * 2014-12-22 2020-06-30 Pirelli Tyre S.P.A. Method and apparatus for checking tyres in a production line
US10210625B2 (en) * 2015-10-30 2019-02-19 Industrial Technology Research Institute Measurement system comprising angle adjustment module
US11095868B1 (en) * 2016-07-01 2021-08-17 Cognex Corporation Vision systems and methods of making and using the same
JP2019028860A (ja) * 2017-08-02 2019-02-21 東芝テック株式会社 物品撮影装置
JP6702343B2 (ja) * 2018-02-06 2020-06-03 株式会社ニコン 形状測定装置、構造物製造システム、及び形状測定方法
DE102018113919A1 (de) * 2018-06-11 2019-12-12 ATB Blank GmbH Vorrichtung zur Oberflächeninspektion eines Kraftfahrzeugs und Verfahren hierzu
DE102018129256A1 (de) * 2018-06-29 2020-01-02 Hauni Maschinenbau Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur optischen Messung an einem Produktstrang der Tabak verarbeitenden Industrie und Verwendung einer optischen Messvorrichtung
PL3587998T3 (pl) * 2018-06-29 2022-01-31 Hauni Maschinenbau Gmbh Urządzenie i sposób pomiaru optycznego na kablu produktu przemysłu tytoniowego i zastosowanie optycznego urządzenia pomiarowego
JP6907277B2 (ja) * 2018-08-30 2021-07-21 コグネックス・コーポレイション 歪みが低減された物体の3次元再構成を生成するための方法及び装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1991008439A1 (de) * 1989-12-05 1991-06-13 Böhler Gesellschaft M.B.H. Verfahren und anordnung zur optoelektronischen vermessung von gegenständen
DE4007502A1 (de) * 1990-03-09 1991-09-12 Zeiss Carl Fa Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen vermessung von objektoberflaechen
US6480287B2 (en) * 2000-11-06 2002-11-12 Industrial Technology Research Institute Three dimensional scanning system
US6496254B2 (en) * 1999-01-18 2002-12-17 Mydata Automation Ab Method and device for inspecting objects

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2554086A1 (de) 1975-12-02 1977-06-16 Ibm Deutschland Verfahren zur analyse und/oder zur ortsbestimmung von kanten
US4498778A (en) * 1981-03-30 1985-02-12 Technical Arts Corporation High speed scanning method and apparatus
DE3683423D1 (de) * 1985-05-20 1992-02-27 Fujitsu Ltd Verfahren zum messen einer dreidimensionalen lage eines objektes.
FR2664378B1 (fr) 1990-07-03 1992-10-16 Bertin & Cie Appareil de projection et de prise d'images pour la determination de la forme tridimensionnelle d'un objet.
US6028672A (en) * 1996-09-30 2000-02-22 Zheng J. Geng High speed three dimensional imaging method
US6044170A (en) * 1996-03-21 2000-03-28 Real-Time Geometry Corporation System and method for rapid shape digitizing and adaptive mesh generation
US6064759A (en) * 1996-11-08 2000-05-16 Buckley; B. Shawn Computer aided inspection machine
US6327374B1 (en) 1999-02-18 2001-12-04 Thermo Radiometrie Oy Arrangement and method for inspection of surface quality
JP2000292121A (ja) * 1999-04-08 2000-10-20 Minolta Co Ltd 3次元計測方法及び3次元入力装置
US6415051B1 (en) * 1999-06-24 2002-07-02 Geometrix, Inc. Generating 3-D models using a manually operated structured light source
FR2830079B1 (fr) * 2001-09-26 2004-04-30 Holo 3 Procede et dispositif de mesure d'au moins une grandeur geometrique d'une surface optiquement reflechissante
US7162070B2 (en) * 2003-06-06 2007-01-09 Acushnet Company Use of patterned, structured light to detect and measure surface defects on a golf ball
DE102004023033A1 (de) * 2004-05-06 2005-11-24 Claas Fertigungstechnik Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung von Bauteilen
US7375826B1 (en) * 2004-09-23 2008-05-20 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration (Nasa) High speed three-dimensional laser scanner with real time processing

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1991008439A1 (de) * 1989-12-05 1991-06-13 Böhler Gesellschaft M.B.H. Verfahren und anordnung zur optoelektronischen vermessung von gegenständen
DE4007502A1 (de) * 1990-03-09 1991-09-12 Zeiss Carl Fa Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen vermessung von objektoberflaechen
US6496254B2 (en) * 1999-01-18 2002-12-17 Mydata Automation Ab Method and device for inspecting objects
US6480287B2 (en) * 2000-11-06 2002-11-12 Industrial Technology Research Institute Three dimensional scanning system

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007063041A1 (de) * 2007-12-28 2009-07-02 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Laserlicht-Schnittanordnung und Laserlicht-Schnittverfahren zur Bestimmung des Höhenprofils eines Objekts
DE102008016736A1 (de) * 2008-03-31 2009-10-01 Urban Gmbh & Co Maschinenbau Kg Bearbeitungsmaschine für Tür- beziehungsweise Fensterrahmenprofile
EP2322899A4 (de) * 2008-08-26 2015-10-28 Bridgestone Corp Verfahren zur erkennung der rauheit einer probe und vorrichtung zur durchführung dieses verfahrens
DE102009059794A1 (de) * 2009-12-21 2011-06-22 Siemens Aktiengesellschaft, 80333 Kamera-Projektor-System und ein Verfahren zum Auslösen einer Kamera
DE102010021951A1 (de) * 2010-05-28 2011-12-01 Weber Maschinenbau Gmbh Breidenbach Abtasteinrichtung
WO2015024963A1 (de) * 2013-08-21 2015-02-26 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E.V. Vorrichtung und verfahren zur erfassung einer zumindest teilweise spiegelnden oberfläche
EP3199943A1 (de) * 2013-08-21 2017-08-02 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und verfahren zur erfassung einer zumindest teilweise spiegelnden oberfläche
US9891168B2 (en) 2013-08-21 2018-02-13 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E.V. Device and method for sensing at least one partially specular surface with column-by-column analysis of the global or local intensity maximum
EP2993448A1 (de) * 2014-09-05 2016-03-09 BSH Hausgeräte GmbH Getränkespender mit einer füllstandsermittlung und verfahren zum betreiben des getränkespenders
WO2017046832A1 (en) * 2015-09-18 2017-03-23 Hamamatsu Photonics K.K. Optical distance measuring system
US10921448B2 (en) 2015-09-18 2021-02-16 Hamamatsu Photonics K.K. Optical distance measuring system

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CA2632724A1 (en) 2007-06-14
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