JP2019517003A - 表面検査システム及び表面検査方法 - Google Patents
表面検査システム及び表面検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019517003A JP2019517003A JP2018561965A JP2018561965A JP2019517003A JP 2019517003 A JP2019517003 A JP 2019517003A JP 2018561965 A JP2018561965 A JP 2018561965A JP 2018561965 A JP2018561965 A JP 2018561965A JP 2019517003 A JP2019517003 A JP 2019517003A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- field illumination
- sheet element
- line
- camera
- inspection system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 85
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims abstract description 15
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 9
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 6
- 239000002966 varnish Substances 0.000 description 4
- 239000011111 cardboard Substances 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000000123 paper Substances 0.000 description 3
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- -1 holograms Substances 0.000 description 1
- 239000011087 paperboard Substances 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/57—Measuring gloss
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/86—Investigating moving sheets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8822—Dark field detection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8822—Dark field detection
- G01N2021/8825—Separate detection of dark field and bright field
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/062—LED's
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Description
Claims (16)
- 検査領域内に存在するシート要素の表面を検査する表面検査システム(10)であって、
画像評価ユニット(18)と、
カメラ(12)と、
暗視野照明(14)と、
明視野照明(16)と、を備え、
前記画像評価ユニット(18)は、明視野照明条件の下で取り込まれた線画像を暗視野照明条件の下で取り込まれた線画像から差し引くように構成される、
ことを特徴とする表面検査システム。 - 前記カメラ(12)は、ラインカメラである、
請求項1に記載の表面検査システム。 - 前記暗視野照明(14)は、対向して配置された2つの反射体を有する単一のLED列を備える、
請求項1又は2に記載の表面検査システム。 - 前記明視野照明(16)は、平行に配置される複数のLED列を備える、
請求項1ないし3のいずれか1項に記載の表面検査システム。 - 前記カメラ(12)において、前記暗視野照明(14)から生じる前記光の強度は、拡散反射面を有するシート要素(4)が検査される場合、前記明視野照明(16)から生じる前記光の強度と同じである、
請求項1ないし4のいずれか1項に記載の表面検査システム。 - 前記暗視野照明(14)の光軸面は、前記視域(20)の配向に垂直である正中面に対してほぼ45°の角度で配置される、
請求項1ないし5のいずれか1項に記載の表面検査システム。 - 前記暗視野照明(16)の光軸面は、前記視域(20)の配向に垂直な正中面(M)に対してほぼ30°の角度で配置される、
請求項1ないし6のいずれか1項に記載の表面検査システム。 - 前記カメラ(12)の観察面は、前記視域(20)の配向に垂直な正中面(M)に対してほぼ20°の角度で配置される、
請求項1ないし7のいずれか1項に記載の表面検査システム。 - 前記カメラ(12)は、検査される前記シート要素(4)の前記表面で、0.1〜0.6mm、好ましくは0.3mm程度の範囲の解像度を有する、
請求項1ないし8のいずれか1項に記載の表面検査システム。 - 詳細には請求項1ないし9のいずれか1項に記載のシステムを使用してシート要素加工機を通過するシート要素上の高反射表面の領域を識別する方法であって、最初に、前記視域(20)内の前記シート要素(4)の前記表面の線画像(I16)を、明視野照明条件の下で取り込み、前記視域(20)内の前記シート要素(4)の同じ表面の線画像(I14)を、暗視野照明条件の下で取り込み、次に、前記2つの線画像(I14、I16)を比較し、例えば、互いから差し引くことを含み、
前記表面は、前記2つの線画像(I14、I16)間の差(Sn)が予め定義された閾値を上回る場合に反射性と識別される、
ことを特徴とする方法。 - 前記2つの線画像(I14、I16)を強度に関して比較する、
請求項10に記載の方法。 - 前記線画像(I14、I16)を画素単位で比較する、
請求項10又は11に記載の方法。 - 再構成画像を、暗視野照明の下で取り込まれた前記線画像に基づいて生成し、再構成画像を、明視野照明条件の下で取り込まれた前記線画像に基づいて生成し、反射面を、前記再構成画像を比較することによって識別する、
請求項10ないし12のいずれか1項に記載の方法。 - 前記カメラ(12)は、毎秒10,000を超える線画像、好ましくは毎秒20,000を超える線画像を取り込むようになっている、
請求項10ないし13のいずれか1項に記載の方法。 - 前記シート要素(4)は、5〜15m/s程度の速度で前記表面検査システム(10)に対して移動される、
請求項10ないし14のいずれか1項に記載の方法。 - 前記検査されたシート要素(4)は、反射面を少なくとも部分的に有する、
請求項10ないし15のいずれか1項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP16172031 | 2016-05-30 | ||
EP16172031.3 | 2016-05-30 | ||
PCT/EP2017/025150 WO2017207116A1 (en) | 2016-05-30 | 2017-05-29 | Surface inspection system and surface inspection method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019517003A true JP2019517003A (ja) | 2019-06-20 |
JP6893219B2 JP6893219B2 (ja) | 2021-06-23 |
Family
ID=56096519
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018561965A Active JP6893219B2 (ja) | 2016-05-30 | 2017-05-29 | 表面検査システム及び表面検査方法 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11022553B2 (ja) |
EP (1) | EP3465155B1 (ja) |
JP (1) | JP6893219B2 (ja) |
KR (2) | KR102291429B1 (ja) |
CN (1) | CN109313133B (ja) |
BR (1) | BR112018071434B1 (ja) |
CA (1) | CA3021912C (ja) |
ES (1) | ES2894869T3 (ja) |
WO (1) | WO2017207116A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021179366A (ja) * | 2020-05-14 | 2021-11-18 | コニカミノルタ株式会社 | 画像検査装置、画像形成システム、画像検査方法、および画像検査プログラム |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108445008A (zh) * | 2018-02-27 | 2018-08-24 | 首钢京唐钢铁联合有限责任公司 | 一种带钢表面缺陷的检测方法 |
JP2020094879A (ja) * | 2018-12-11 | 2020-06-18 | コニカミノルタ株式会社 | 加飾印刷検査装置、加飾印刷検査システム、加飾印刷検査方法、及び、プログラム |
CN113507847B (zh) | 2019-03-05 | 2023-01-20 | 菲利普莫里斯生产公司 | 检查台和用于检查片材材料的方法 |
DE102019107174B4 (de) * | 2019-03-20 | 2020-12-24 | Thyssenkrupp Rasselstein Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion der Oberfläche eines sich bewegenden Bands |
DE102022208364A1 (de) * | 2022-08-11 | 2024-02-22 | Bhs Corrugated Maschinen- Und Anlagenbau Gmbh | Wellpappenanlage sowie Verfahren zur Überwachung einer Wellpappenanlage |
DE102022125409A1 (de) * | 2022-09-30 | 2024-04-04 | Cruse Technologies Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Aufnahme mehrerer Abbildungen eines Objekts mit unterschiedlichen Beleuchtungskonfigurationen |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5087822A (en) * | 1990-06-22 | 1992-02-11 | Alcan International Limited | Illumination system with incident beams from near and far dark field for high speed surface inspection of rolled aluminum sheet |
EP0898163A1 (en) * | 1997-08-22 | 1999-02-24 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Förderung Der Angewandten Forschung E.V. | Method and apparatus for automatic inspection of moving surfaces |
JP2000241362A (ja) * | 1999-02-18 | 2000-09-08 | Spectra Physics Visiontech Oy | 表面品質検査装置及びその方法 |
US20080245979A1 (en) * | 2007-04-06 | 2008-10-09 | Xerox Corporation | Gloss and differential gloss measuring system |
JP2012002601A (ja) * | 2010-06-15 | 2012-01-05 | Ricoh Co Ltd | 画像検査装置、画像検査方法、及び画像形成装置 |
JP2012042297A (ja) * | 2010-08-18 | 2012-03-01 | Kurabo Ind Ltd | 撮像光学検査装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20020054291A1 (en) * | 1997-06-27 | 2002-05-09 | Tsai Bin-Ming Benjamin | Inspection system simultaneously utilizing monochromatic darkfield and broadband brightfield illumination sources |
JP2000249660A (ja) | 1999-02-26 | 2000-09-14 | Idemitsu Petrochem Co Ltd | 表面検査装置および表面検査方法 |
CA2365879C (en) * | 1999-03-18 | 2009-11-24 | Nkk Corporation | Method for marking defect and device therefor |
JP3810599B2 (ja) | 1999-11-11 | 2006-08-16 | 株式会社リコー | 欠陥検出装置 |
GB0606217D0 (en) * | 2006-03-29 | 2006-05-10 | Pilkington Plc | Glazing inspection |
CN103486539B (zh) * | 2013-09-06 | 2016-09-14 | 广州市胜亚灯具制造有限公司 | 一种反光器 |
CN104897693A (zh) | 2015-06-12 | 2015-09-09 | 武汉中导光电设备有限公司 | 一种玻璃表面缺陷增强装置及其检测方法 |
-
2017
- 2017-05-29 ES ES17732308T patent/ES2894869T3/es active Active
- 2017-05-29 US US16/099,042 patent/US11022553B2/en active Active
- 2017-05-29 CA CA3021912A patent/CA3021912C/en active Active
- 2017-05-29 KR KR1020187034671A patent/KR102291429B1/ko active IP Right Grant
- 2017-05-29 CN CN201780033485.6A patent/CN109313133B/zh active Active
- 2017-05-29 JP JP2018561965A patent/JP6893219B2/ja active Active
- 2017-05-29 KR KR1020207031193A patent/KR20200126025A/ko not_active Application Discontinuation
- 2017-05-29 BR BR112018071434-8A patent/BR112018071434B1/pt active IP Right Grant
- 2017-05-29 EP EP17732308.6A patent/EP3465155B1/en active Active
- 2017-05-29 WO PCT/EP2017/025150 patent/WO2017207116A1/en unknown
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5087822A (en) * | 1990-06-22 | 1992-02-11 | Alcan International Limited | Illumination system with incident beams from near and far dark field for high speed surface inspection of rolled aluminum sheet |
EP0898163A1 (en) * | 1997-08-22 | 1999-02-24 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Förderung Der Angewandten Forschung E.V. | Method and apparatus for automatic inspection of moving surfaces |
WO1999010730A1 (en) * | 1997-08-22 | 1999-03-04 | Spectra-Physics Visiontech Oy | Method and apparatus for automatic inspection of moving surfaces |
US6166393A (en) * | 1997-08-22 | 2000-12-26 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten | Method and apparatus for automatic inspection of moving surfaces |
JP2001514386A (ja) * | 1997-08-22 | 2001-09-11 | スペクトラ−フィジックス・ビジョンテック・オイ | 移動表面の自動的な検査のための方法及び装置 |
JP2000241362A (ja) * | 1999-02-18 | 2000-09-08 | Spectra Physics Visiontech Oy | 表面品質検査装置及びその方法 |
US20080245979A1 (en) * | 2007-04-06 | 2008-10-09 | Xerox Corporation | Gloss and differential gloss measuring system |
JP2008256691A (ja) * | 2007-04-06 | 2008-10-23 | Xerox Corp | 光沢又は光沢差等の表面特性の測定システム |
JP2012002601A (ja) * | 2010-06-15 | 2012-01-05 | Ricoh Co Ltd | 画像検査装置、画像検査方法、及び画像形成装置 |
JP2012042297A (ja) * | 2010-08-18 | 2012-03-01 | Kurabo Ind Ltd | 撮像光学検査装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021179366A (ja) * | 2020-05-14 | 2021-11-18 | コニカミノルタ株式会社 | 画像検査装置、画像形成システム、画像検査方法、および画像検査プログラム |
JP7476658B2 (ja) | 2020-05-14 | 2024-05-01 | コニカミノルタ株式会社 | 画像検査装置、画像形成システム、画像検査方法、および画像検査プログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CA3021912C (en) | 2020-12-29 |
ES2894869T3 (es) | 2022-02-16 |
WO2017207116A1 (en) | 2017-12-07 |
EP3465155A1 (en) | 2019-04-10 |
KR20190002637A (ko) | 2019-01-08 |
CN109313133B (zh) | 2021-09-03 |
BR112018071434A2 (pt) | 2019-02-05 |
EP3465155B1 (en) | 2021-09-22 |
JP6893219B2 (ja) | 2021-06-23 |
BR112018071434B1 (pt) | 2022-12-27 |
CN109313133A (zh) | 2019-02-05 |
CA3021912A1 (en) | 2017-12-07 |
KR20200126025A (ko) | 2020-11-05 |
KR102291429B1 (ko) | 2021-08-19 |
US20190154578A1 (en) | 2019-05-23 |
US11022553B2 (en) | 2021-06-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6893219B2 (ja) | 表面検査システム及び表面検査方法 | |
DK1738136T3 (en) | MEASURING APPARATUS AND PROCEDURE IN A DISTRIBUTION SYSTEM | |
US7105848B2 (en) | Dual level out-of-focus light source for amplification of defects on a surface | |
US20170191946A1 (en) | Apparatus for and method of inspecting surface topography of a moving object | |
JP5174540B2 (ja) | 木材欠陥検出装置 | |
US11169095B2 (en) | Surface inspection system and method using multiple light sources and a camera offset therefrom | |
US20180213134A1 (en) | Optical Inspection System | |
US10740890B2 (en) | Image processing apparatus, method, and storage medium | |
JP6782449B2 (ja) | 表面検査方法及びその装置 | |
JP2012063190A (ja) | 表面凸凹検出装置および表面凸凹検出方法 | |
JP5787668B2 (ja) | 欠陥検出装置 | |
KR100484812B1 (ko) | 이미지 센서를 이용한 표면 검사방법 및 검사장치 | |
US6768812B1 (en) | Method for locating features on an object using varied illumination | |
JP4967132B2 (ja) | 対象物表面の欠陥検査方法 | |
JP2010230450A (ja) | 物体表面検査装置 | |
JP6409606B2 (ja) | キズ欠点検査装置およびキズ欠点検査方法 | |
WO2024214474A1 (ja) | 微多孔構造を有するシート状物の欠点検査装置、および微多孔構造を有するシート状物の欠点検査方法 | |
JP2010223914A (ja) | 物体表面の欠陥検査方法および欠陥検査装置 | |
JP5610711B2 (ja) | 欠陥検査装置 | |
JP2005274442A (ja) | 光学式金属板表面検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181126 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190924 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190925 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20191219 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200220 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200608 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20201203 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210308 |
|
C60 | Trial request (containing other claim documents, opposition documents) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60 Effective date: 20210308 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20210316 |
|
C21 | Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21 Effective date: 20210318 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210513 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210531 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6893219 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |