ES2894869T3 - Sistema de inspección de superficies y método de inspección de superficies - Google Patents

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Abstract

Un sistema (10) de inspección de superficie adecuado para determinar la posición de las partes brillantes sobre la superficie de elementos laminares (4) presentes en un área de inspección (20), que comprende una unidad (18) de evaluación de imágenes, una cámara (12), un iluminador de campo oscuro (14) y un iluminador de campo claro (16), estando la unidad (18) de evaluación de imágenes configurada para sustraer una imagen lineal capturada en condiciones de iluminación de campo claro desde una imagen lineal capturada en condiciones de iluminación de campo oscuro, caracterizado por que la intensidad de la luz que se origina desde el iluminador de campo oscuro (14) es, en la cámara (12), la misma que la intensidad de la luz que se origina desde el iluminador de campo claro (16) cuando se está inspeccionando un elemento laminar (4) que tiene una superficie difusamente reflectante.

Description

DESCRIPCIÓN
Sistema de inspección de superficies y método de inspección de superficies
La invención se refiere a un sistema de inspección de superficies para inspeccionar la superficie de elementos laminares presentes en un área de inspección. La invención se refiere además a un método para identificar áreas de superficie altamente reflectantes sobre un elemento laminar que se está moviendo a través de una máquina de procesamiento de elementos laminares. La invención se puede implementar en particular en una estación de control de calidad en una máquina de procesamiento de elementos laminares.
En este caso, se entiende que la expresión "máquina de procesamiento de elementos laminares" comprende cualquier máquina que se esté utilizando para procesar elementos laminares tales como papel, cartón, laminado de plástico o materiales similares, en particular, máquinas de impresión, máquinas de recubrimiento, máquinas de laminado y máquinas de conversión (por ejemplo, corte, estampado, plegado y/o encolado).
Sobre el elemento laminar, pueden encontrarse superficies altamente reflectantes ("brillantes") como consecuencia de laminado, hologramas, barniz o una estructura similar que esté presente. Es conveniente por muchas razones poder determinar la posición de las superficies brillantes sobre un elemento laminar, ya que muchos controles de calidad se basan en verificar la posición de un elemento con respecto a otro elemento. Con este fin, el documento EP 2397840 A2 proporciona un aparato de formación de imágenes mediante el cual los datos basados en la luz, incluida la luz reflejada especular y la luz reflejada difusa, pueden separarse con precisión en datos basados únicamente en luz reflejada especular y datos basados únicamente en luz reflejada difusa. Sin embargo, no es tarea fácil detectar la posición de superficies brillantes sobre un elemento laminar que se mueve a velocidades de hasta 15 m/s a través de una máquina de procesamiento de elementos laminares.
Por tanto, un objeto de la invención es proporcionar un sistema y un método que permitan detectar con fiabilidad la posición de superficies brillantes sobre un elemento laminar que se esté moviendo a través de una máquina de procesamiento de elementos laminares.
Para conseguir este objeto, la invención proporciona un sistema de inspección de superficies adecuado para determinar la posición de partes brillantes sobre la superficie de elementos laminares presentes en un área de inspección, que comprende una unidad de evaluación de imágenes, una cámara, un iluminador de campo oscuro y un iluminador de campo claro, estando la unidad de evaluación de imágenes configurada para sustraer una imagen lineal capturada en condiciones de iluminación de campo claro desde una imagen lineal capturada en condiciones de iluminación de campo oscuro. De acuerdo con la invención, la intensidad de la luz que se origina desde el iluminador de campo oscuro es, en la cámara, la misma que la intensidad de la luz que se origina desde el iluminador de campo claro cuando se está inspeccionando un elemento laminar que tiene una superficie difusamente reflectante.
Este objeto también se consigue con un método para identificar áreas de superficie reflectante sobre un elemento laminar que se está moviendo a través de una máquina de procesamiento de elementos laminares, en particular, mediante el uso del sistema definido anteriormente, en donde primero se está capturando una imagen lineal de la superficie del elemento laminar en el área de visualización en condiciones de iluminación de campo claro y se está capturando una imagen lineal de la misma superficie del elemento laminar en el área de visualización en condiciones de iluminación de campo oscuro, y en donde luego las imágenes de dos líneas se comparan sustrayéndose una de otra, en donde la superficie se identifica como reflectante si la diferencia entre las dos imágenes lineales está por encima de un umbral predefinido. De nuevo, la potencia del iluminador de campo oscuro y del iluminador de campo claro se ajusta o controla de modo que la intensidad de la luz reflejada a la cámara desde una superficie difusamente reflectante del elemento laminar sea la misma para ambos iluminadores.
La invención se basa en el concepto general de aprovechar la diferencia de reflexión que se puede observar al iluminar superficies difusamente reflectantes como un difusor lambertiano (por ejemplo, papel blanco) por un lado y superficies brillantes (por ejemplo, laminado, un holograma o barniz) por otro. Cuando los iluminadores iluminan una superficie difusamente reflectante, la intensidad de la imagen lineal capturada por la cámara es (casi) idéntica. Cuando los iluminadores iluminan una superficie altamente reflectante, entonces la intensidad, vista por la cámara, de la luz que se origina desde el iluminador de campo claro es mucho mayor que la intensidad de la luz que se origina desde el iluminador de campo oscuro. Esta diferencia se puede detectar con relativa facilidad incluso cuando un elemento laminar se está moviendo a altas velocidades.
La cámara puede ser una cámara 2D (cámara de área). En vista de la cantidad de datos a procesar, se prefiere, no obstante, utilizar una cámara lineal.
En vista de que la cámara es preferentemente una cámara lineal, la expresión "imagen lineal" se utiliza a continuación cuando se hace referencia a las imágenes capturadas por la cámara. Sin embargo, si la cámara es una cámara de área, la imagen lineal capturada por la cámara no consiste en una única línea sino en una pluralidad lineales.
De acuerdo con una realización preferida, el iluminador de campo oscuro comprende una única fila de LED a lo largo de la cual se proporcionan dos reflectores dispuestos de manera opuesta. Por tanto, el iluminador de campo oscuro proporciona una luz que está lejos de ser especular para evitar que cualquier área reflectante inclinada parezca clara al iluminarse con el iluminador de campo oscuro.
El iluminador de campo claro comprende preferentemente una pluralidad de filas de LED que están dispuestas en paralelo. Las diferentes filas están dispuestas con diferentes planos ópticos para que siempre haya algo de luz reflejándose directamente, en condiciones de reflexión cercanas a especulares, hacia la cámara aunque la superficie del elemento laminar en el área de visualización no sea perfectamente plana. Por tanto, las condiciones de campo claro se mantienen incluso para áreas inclinadas sobre el elemento laminar.
La imagen lineal capturada con iluminación de campo claro se puede comparar muy fácilmente con la imagen lineal capturada con iluminación de campo oscuro porque la intensidad de la luz que se origina en el iluminador de campo oscuro es, en la cámara, la misma que la intensidad de la luz que se origina desde el iluminador de campo claro cuando se está inspeccionando un elemento laminar que tiene una superficie difusamente reflectante. Como la comparación se realiza sustrayendo las imágenes lineales unas de otras, el resultado es cero para partes de la superficie que no son reflectantes.
En una realización preferida, el plano óptico del iluminador de campo oscuro está dispuesto en un ángulo de aproximadamente 45 ° con respecto a un plano que es perpendicular a la orientación del área de visualización, el plano óptico del iluminador de campo claro está dispuesto en un ángulo de aproximadamente 30 ° con respecto a un plano que es perpendicular a la orientación del área de visualización, y el plano de visualización de la cámara está dispuesto en un ángulo de aprox. 20 ° con respecto a un plano que es perpendicular a la orientación del área de visualización. Esta disposición ha demostrado dar buenos resultados.
Con el fin de lograr la precisión deseada al determinar la posición de las superficies brillantes en el elemento laminar, la cámara tiene una resolución, en la superficie del elemento laminar a inspeccionar, en el intervalo de 0,05 a 0,6 mm y preferentemente en el orden de 0,1 mm. Por lo general, es posible una resolución más alta, pero hace que sea necesario analizar más datos.
Para determinar la posición de superficies brillantes sobre el elemento laminar, es suficiente comparar las dos imágenes lineales en cuanto a su intensidad.
Las imágenes se pueden comparar línea a línea y píxel a píxel para obtener información precisa sobre la posición de las superficies brillantes tanto en la dirección x como en la dirección y.
Como alternativa, se está creando una imagen reconstruida basada en las imágenes lineales capturadas con iluminación de campo oscuro, y se está creando una imagen reconstruida basada en las imágenes lineales capturadas en condiciones de iluminación de campo claro, en donde las superficies reflectantes se están identificando comparando las imágenes reconstruidas. Esta comparación se puede hacer para todas las imágenes reconstruidas o solo para partes seleccionadas.
El elemento laminar se está moviendo con respecto al sistema de inspección de superficies con una velocidad en el orden de 1 a 15 m/s. Para permitir una determinación de la posición en la dirección x con la precisión deseada, se prefiere que la cámara esté adaptada para capturar más de 10.000 imágenes lineales y preferentemente más de 40.000 imágenes lineales.
La invención se describirá ahora con referencia a una realización preferida que se muestra en los dibujos adjuntos. En los dibujos,
- la Figura 1 muestra esquemáticamente en una vista lateral un sistema de inspección de superficies de acuerdo con la invención empleado en una estación de control de calidad de una máquina de procesamiento de elementos laminares;
- la Figura 2 muestra esquemáticamente el sistema de inspección de superficies de la Figura 1 en una vista superior;
- la Figura 3 muestra esquemáticamente el sistema de inspección de superficies de la Figura 1 con mayor detalle;
- la Figura 4 muestra esquemáticamente diferentes imágenes lineales capturadas por la cámara del sistema de inspección de superficies, y el resultado de una comparación de las imágenes lineales;
- la Figura 5 muestra esquemáticamente las diferentes imágenes lineales capturadas por la cámara; y
- la Figura 6 muestra esquemáticamente cómo se están generando imágenes reconstruidas basadas en las imágenes lineales capturadas en diferentes condiciones de iluminación.
En la Figura 1, se muestra esquemáticamente una estación 2 de control de calidad, que se emplea en una máquina de procesamiento de elementos laminares de la cual se pueden ver mesas 3 transportadoras. La máquina de procesamiento de elementos laminares puede procesar elementos laminares 4 que se están transportando en la dirección de la flecha A. Los elementos laminares 4 pueden ser hojas de papel, cartón, laminado de plástico o un material similar, o pueden tener la forma de una banda más larga. La máquina de procesamiento de elementos laminares puede ser una máquina de impresión, una máquina de estampado, una máquina de laminado, una máquina de plegado, una máquina de encolado, etc.
La estación 2 de control de calidad se utiliza para controlar la calidad de los elementos laminares 4. De acuerdo con la invención, la estación 2 de control de calidad se usa para determinar la posición de "partes brillantes" sobre la superficie de los elementos laminares 4. Las "partes brillantes" son partes con una superficie altamente reflectante. Ejemplos de dichas porciones brillantes son hologramas, laminado y/o barniz presentes sobre el elemento laminar 4.
La estación de control de calidad comprende un sistema 10 de inspección de superficies. El sistema 10 de inspección de superficie comprende una cámara 12, un iluminador de campo oscuro 14, un iluminador de campo claro 16 y una unidad 18 de evaluación de imágenes.
La cámara 12 está adaptada para capturar una imagen lineal de un área de visualización (una línea de interés) 20 que se extiende perpendicularmente a la dirección A sobre todo el ancho de la máquina de procesamiento de elementos laminares. Está dispuesta en un ángulo de aprox. 20 ° con respecto a un plano mediano M que es perpendicular a la superficie de los elementos laminares 4 dentro del área de visualización.
El iluminador de campo oscuro 14 está adaptado para iluminar el área de visualización 20. El plano óptico del iluminador de campo oscuro 14 está dispuesto en un ángulo de aprox. 45 ° con respecto al plano mediano.
El iluminador de campo oscuro 14 puede ser generalmente de cualquier tipo. En una realización particular, comprende una fila de LED dispuestos unos junto a otros, y dos reflectores dispuestos uno frente a otro a lo largo de la fila de LED. Este tipo de iluminador se puede utilizar para iluminar la superficie de los elementos laminares 4 en el área de visualización 20 con una intensidad que es constante a pesar de las variaciones de altura.
El iluminador de campo claro 16 también está adaptado para iluminar el área de visualización 20. El plano óptico del iluminador de campo claro 16 está dispuesto en un ángulo de aprox. 30 ° con respecto al plano mediano.
El iluminador de campo claro 16 puede ser generalmente de cualquier tipo. En una realización particular, comprende varias filas paralelas de LED dispuestos unos junto a otros, estando cada fila adaptada para iluminar el área de visualización 20. Este tipo de iluminador se puede utilizar en diferentes aplicaciones para dirigir luz en diferentes direcciones al área de visualización 20.
Es más, se puede usar un difusor para garantizar una radiancia uniforme al verse desde el área de visualización 20 para tener un iluminador de campo claro uniforme.
En vista del hecho de que el iluminador 14 se está utilizando como iluminador de campo oscuro, está dispuesto sobre el mismo lado del plano mediano M que la cámara 12. El iluminador 16 está, sin embargo, ya que está utilizándose como un iluminador de campo claro, dispuesto en el lado opuesto del plano mediano M. Dependiendo de las circunstancias particulares, es posible utilizar solo una de las diferentes filas de LED, es decir, la que tiene su plano óptico inclinado con respecto al plano mediano M en un ángulo cercano a 20 °. Dicho de otro modo, es la fila de LED lo que la cámara 12 podría ver en condiciones de reflexión especulares sobre la superficie del elemento laminar 4. Como alternativa, se están utilizando varias filas de LED del iluminador de campo claro 16, con el plano óptico de algunas de las filas inclinado en ángulos que son diferentes al ángulo en el que está dispuesta la cámara 12 con respecto al plano mediano M.
Lo importante aquí es que la potencia del iluminador de campo oscuro 14 y del iluminador de campo claro 16 se ajusta o controla de modo que la intensidad de la luz reflejada a la cámara 12 desde una superficie difusamente reflectante del elemento laminar 4 sea la misma para ambos iluminadores. Dicho de otro modo: la intensidad de la luz que se origina desde el iluminador de campo claro 16, reflejada sobre una superficie difusamente reflectante del elemento laminar 4 en el área de visualización 20 y luego recibida por la cámara 12 es la misma que la intensidad de luz reflejada que se origina desde el iluminador de campo oscuro 14, reflejada sobre la misma superficie difusamente reflectante del elemento laminar 4 en el área de visualización 20 y luego recibida por la cámara 12.
La superficie difusamente reflectante puede ser papel o cartón.
Para inspeccionar la superficie de elementos laminares movidos a través de la estación 2 de inspección de calidad, ambos iluminadores 14, 16 se activan uno tras otro, y la cámara 12 captura una imagen lineal para cada situación de iluminación. Estas imágenes lineales son evaluadas por la unidad 18 de evaluación de imágenes donde se sustraen unas de otras.
El método para determinar la posición de las partes de superficie brillante sobre elementos laminares 4 se describirá ahora con referencia a la Figura 4, que ayuda a comprender el principio básico que subyace a la evaluación de imágenes objeto.
La Figura 4 muestra esquemáticamente en la línea media superior imágenes que están siendo capturadas por la cámara 12. En este ejemplo, se muestra que cada imagen lineal tiene doce píxeles de ancho. En la práctica, una imagen lineal que cubra todo el ancho del área de visualización 20 consistirá en varios miles a varios diez miles de píxeles, ya que la cámara 12 normalmente tiene una resolución, en el área de visualización al nivel de la superficie de los elementos laminares, del orden de 0,05 mm a 0,3 mm y preferentemente de 0,1 mm.
Las imágenes lineales se están capturando aquí por pares, con la primera imagen lineal l14 siendo capturada con iluminación de campo oscuro por medio de un iluminador de campo oscuro 14, y la imagen lineal I16 siendo capturada con iluminación de campo claro por medio de un iluminador de campo claro 16. Obviamente, también podría ser al revés.
La velocidad máxima a la que se estén capturando imágenes lineales depende de la velocidad a la que se puedan encender y apagar los iluminadores 14, 16. Son posibles velocidades de hasta 80 kHz. Por consiguiente, la cámara 12 captura 80.000 imágenes lineales por segundo.
El primer par de imágenes lineales l14, I16 está siendo capturado desde una superficie en el área de visualización 20 que se está reflejando difusamente. Como la potencia de ambos iluminadores se ajustó para dar como resultado la misma intensidad en la cámara 12, ambas imágenes lineales son idénticas. Esto se indica aquí por el hecho de que los píxeles de la imagen lineal están vacíos, lo que significa una baja intensidad de luz capturada.
En la mitad inferior de la Figura 4, se muestra el resultado de una evaluación de imágenes realizada por la unidad 18 de evaluación de imágenes. Aquí, las imágenes lineales se sustraen unas de otras. Dado que las imágenes lineales son idénticas, el resultado de la sustracción es cero para cada píxel. Esto se indica aquí mediante píxeles vacíos en la imagen sustraída S1.
El segundo par de imágenes lineales I14, I16 está siendo capturado desde una superficie en el área de visualización 20 que se está reflejando difusamente para la mayor parte del ancho, pero que tiene una parte altamente reflectante, por ejemplo, un laminado metálico estampado que aquí tiene cuatro píxeles de ancho. El resultado es que la cámara 12 captura, al iluminarse con el iluminador de campo oscuro 14, incluso menos intensidad que antes, ya que la luz se está reflejando lejos de la cámara. Los píxeles de la imagen lineal I14 están en consecuencia vacíos. Sin embargo, al iluminarse con el iluminador de campo claro 16, la cámara 12 captura una alta intensidad ya que al menos parte de la luz se está reflejando directamente hacia la cámara. Por consiguiente, los cuatro píxeles donde el laminado metálico estampado refleja la luz se muestran en negro para indicar una alta intensidad.
Al sustraer las dos imágenes lineales la una de la otra, el resultado vuelve a ser cero para aquellos píxeles que fueron iluminados con reflexión difusa. Sin embargo, para los píxeles en el área del holograma, la sustracción da como resultado un valor alto (ya sea positivo o negativo, dependiendo del orden en el que las dos imágenes lineales se sustraigan una de otra). Este valor alto está indicado por píxeles negros en la imagen sustraída S2.
Para el tercer par de imágenes lineales l14, I16, la situación es la misma que antes; aquí se supone que el laminado metálico estampado aún no ha pasado completamente a través del área de visualización.
El cuarto par de imágenes lineales I14, I16 corresponde a una situación en la que el holograma se ha movido completamente a través del área de visualización 20 de modo que el elemento laminar 4 tiene una superficie difusamente reflectante en el área de visualización 20. Por consiguiente, la intensidad de ambas imágenes lineales capturadas es idéntica y el resultado de la sustracción es cero para todos los píxeles.
Por tanto, es posible determinar dónde (tanto en la dirección x como en la dirección y) hay partes de superficie brillante presentes sobre un elemento laminar que se está moviendo a través del área de visualización 20.
Puede entenderse que la expresión "misma intensidad con reflexión difusa" no deberá entenderse en un sentido matemático. Debido a las tolerancias, la intensidad variará, y la intensidad también variará con la superficie difusamente reflectante particular que se está iluminando. Por lo tanto, "la misma intensidad" significa que la intensidad de la luz que se origina desde cualquier iluminador 14, 16 y se refleja sobre una superficie difusamente reflectante está por debajo de un determinado umbral que se elige de modo que la intensidad de la luz que se origina desde el iluminador de campo claro 16 y se refleja desde una superficie brillante esté por encima de este umbral. El umbral se puede elegir dependiendo de las superficies que se estén inspeccionando. Como ejemplo, se puede elegir una diferencia de intensidad de <1 % para barniz laminado, mientras que solo se puede elegir una diferencia de <10 % para laminado.
Se pueden implementar diferentes umbrales ajustando la potencia de los LED o ajustando un coeficiente aplicado a las imágenes lineales capturadas.
También es posible analizar las imágenes lineales capturadas en cuanto a su intensidad de escala de grises y hacer que la unidad de evaluación de imágenes analice una imagen compuesta por imágenes sustraídas en cuanto a cambios repentinos de la intensidad de escala de grises.
Sobre la base de la Figura 4, se describió que las imágenes lineales obtenidas con iluminación de campo claro y las imágenes lineales obtenidas con iluminación de campo oscuro se comparan línea a línea. En la práctica, a partir de las imágenes lineales entrelazadas capturadas en las diferentes condiciones de iluminación, se creará una imagen BFI reconstruida (imagen reconstruida que consiste en las imágenes lineales capturadas con iluminación de campo claro) y una imagen DFI reconstruida (imagen reconstruida que consiste en imágenes lineales capturadas con iluminación de campo oscuro), y estas imágenes serán analizadas por la unidad de evaluación de imágenes.
La Figura 5 muestra esquemáticamente las imágenes lineales entrelazadas I14 (mostradas en líneas normales) y 116 (mostradas en líneas de puntos) capturadas por la cámara. Aquí, solo se muestran diez de las imágenes lineales de cada condición de iluminación. En la práctica, varios miles de imágenes lineales I14, I16 se están capturando para cada elemento laminar 4. Suponiendo que 4.000 imágenes lineales14 y 4.000 imágenes lineales I16 se están capturando para un elemento laminar 4 y esa cámara 12 es capaz de capturar 80.000 imágenes lineales por segundo, entonces se pueden procesar diez elementos laminares 4 por segundo.
La Figura 6 muestra esquemáticamente cómo se reconstruye una imagen DFI 40 reconstruida a partir de las imágenes lineales I14 y cómo se reconstruye una imagen BFI 50 reconstruida a partir de imágenes lineales I16.
Si la cámara 12 captura imágenes lineales en más de las dos condiciones de iluminación que se describen aquí (BFI y DFI) y se muestran en la Figura 5, entonces los datos capturados por la cámara 12 consistirían en tres o más tipos de imágenes lineales entrelazadas, y se reconstruirían tres o más imágenes reconstruidas (una para cada condición de iluminación).
La unidad 18 de evaluación de imágenes procesa las imágenes reconstruidas 40, 50 (ya sea en su totalidad o en aquellas partes que sean de interés) para detectar un elemento de interés. Aquí, las imágenes reconstruidas 40, 50 se comparan para identificar partes de superficie reflectante.
Puede suceder que las partes de superficie del elemento laminar 4 que no son perpendiculares al plano mediano M hagan que la luz se refleje hacia la cámara con una intensidad tal que se sobrepase el umbral. Esto se traduce en una lectura falsa ("artefacto") que puede ser identificada por la unidad 18 de evaluación de imágenes debido a sus dimensiones en la dirección x; los artefactos tienen una longitud menor que la longitud habitual de las partes de superficie con una superficie altamente reflectante.
El sistema 10 de inspección de superficie se puede calibrar. Esto se puede hacer colocando un objetivo ancho en el área de visualización 20 o moviendo un objetivo más pequeño a lo largo de todo el ancho del área de visualización 20.
De manera adicional, cada LED o cada grupo de LED se activa a un nivel ajustado a lo largo de cada iluminador para proporcionar la misma señal en el objetivo a lo largo del ancho del área de visualización 20.
La calibración se utiliza para ajustar la potencia operativa de los LED o para establecer adecuadamente el coeficiente aplicado a las imágenes lineales capturadas.

Claims (15)

REIVINDICACIONES
1. Un sistema (10) de inspección de superficie adecuado para determinar la posición de las partes brillantes sobre la superficie de elementos laminares (4) presentes en un área de inspección (20), que comprende una unidad (18) de evaluación de imágenes, una cámara (12), un iluminador de campo oscuro (14) y un iluminador de campo claro (16), estando la unidad (18) de evaluación de imágenes configurada para sustraer una imagen lineal capturada en condiciones de iluminación de campo claro desde una imagen lineal capturada en condiciones de iluminación de campo oscuro, caracterizado por que la intensidad de la luz que se origina desde el iluminador de campo oscuro (14) es, en la cámara (12), la misma que la intensidad de la luz que se origina desde el iluminador de campo claro (16) cuando se está inspeccionando un elemento laminar (4) que tiene una superficie difusamente reflectante.
2. El sistema de inspección de superficies de la reivindicación 1, en donde la cámara (12) es una cámara lineal.
3. El sistema de inspección de superficies de la reivindicación 1 o la reivindicación 2, en donde el iluminador de campo oscuro (14) comprende una única fila de LED a lo largo de la cual se proporcionan dos reflectores dispuestos de manera opuesta.
4. El sistema de inspección de superficies de cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en donde el iluminador de campo claro (16) comprende una pluralidad de filas de LED que están dispuestas en paralelo.
5. El sistema de inspección de superficies según se define en cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en donde el plano óptico del iluminador de campo oscuro (14) está dispuesto en un ángulo de aproximadamente 45 ° con respecto a un plano mediano (M) que es perpendicular a la orientación del área de visualización (20).
6. El sistema de inspección de superficies según se define en cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en donde el plano óptico del iluminador de campo claro (16) está dispuesto en un ángulo de aproximadamente 30 ° con respecto a un plano mediano (M) que es perpendicular a la orientación del área de visualización (20).
7. El sistema de inspección de superficies según se define en cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en donde el plano de visualización de la cámara (12) está dispuesto en un ángulo de aprox. 20 ° con respecto a un plano mediano (M) que es perpendicular a la orientación del área de visualización (20).
8. El sistema de inspección de superficies de cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en donde la cámara (12) tiene una resolución, en la superficie del elemento laminar (4) que se va a inspeccionar, en el intervalo de 0,1 a 0,6 mm y preferentemente en el orden de 0,3 mm.
9. Un método para identificar áreas de superficie reflectante sobre un elemento laminar (4) que se está moviendo a través de una máquina de procesamiento de elementos laminares, en particular mediante el uso del sistema según se define en cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en donde primero se está capturando una imagen lineal (I16) de la superficie del elemento laminar (4) en el área de visualización (20) en condiciones de iluminación de campo claro y se está capturando una imagen lineal (I14) de la misma superficie del elemento laminar (4) en el área de visualización (20) en condiciones de iluminación de campo oscuro, y en donde luego las imágenes de dos líneas (I14, I16) se comparan sustrayéndose una de otra, en donde la superficie se identifica como reflectante si la diferencia (Sn) entre las dos imágenes lineales (I14, I16) está por encima de un umbral predefinido, caracterizado por que la potencia del iluminador de campo oscuro (14) y del iluminador de campo claro (16) se ajusta o controla de modo que la intensidad de la luz reflejada a la cámara (12) desde una superficie difusamente reflectante del elemento laminar (4) sea la misma para ambos iluminadores.
10. El método de la reivindicación 9, en donde las dos imágenes lineales (I14, I16) se comparan en cuanto a su intensidad.
11. El método de la reivindicación 9 o la reivindicación 10, en donde las imágenes lineales (I14, I16) se comparan píxel a píxel.
12. El método de cualquiera de las reivindicaciones 9 a 11, en donde se está creando una imagen reconstruida basada en las imágenes lineales capturadas con iluminación de campo oscuro y en donde se está creando una imagen reconstruida basada en las imágenes lineales capturadas en condiciones de iluminación de campo claro, y en donde superficies reflectantes se están identificando comparando las imágenes reconstruidas.
13. El método de cualquiera de las reivindicaciones 9 a 12, en donde la cámara (12) está adaptada para capturar más de 10.000 imágenes lineales y preferentemente más de 20.000 imágenes lineales.
14. El método de cualquiera de las reivindicaciones 9 a 13, en donde el elemento laminar (4) se está moviendo con respecto al sistema (10) de inspección de superficies con una velocidad en el orden de 5 a 15 m/s.
15. El método de cualquiera de las reivindicaciones 9 a 14, en donde los elementos laminares inspeccionados (4) tienen al menos parcialmente una superficie reflectante.
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