JP2008256691A - 光沢又は光沢差等の表面特性の測定システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本システムは、目標10上の点Cに第1の光ビーム(B−C)を放射して、第1の方向に通常の鏡面の反射を生成するように構成された第1の照明体1Aと、目標10上の点Cに第2の光ビーム線(E−C)を放射して、第1の方向に通常に拡散する反射を生成するように構成された第2の照明体1Bと、第1の方向における通常の鏡面の反射及び通常に拡散する反射を検出するように構成された線形アレイセンサ2と、線形アレイセンサ2によって検出された通常の鏡面の反射及び通常に拡散する反射を処理するように構成されたプロセッサとを含む。
【選択図】図1
Description
2:センサ(線形アレイセンサ)
3:セルフォック(登録商標)レンズ
10:目標
20:1枚の紙
Claims (5)
- 表面特性を検出するためのシステムであって、
目標上の点に第1の光ビームを放射して、第1の方向に通常の鏡面の反射を生成するように構成された第1の照明体と、
前記目標上の点に第2の光ビームを放射して、前記第1の方向に通常に拡散する反射を生成するように構成された第2の照明体と、
前記第1の方向における前記通常の鏡面の反射及び前記通常に拡散する反射を検出するように構成された線形アレイセンサと、
前記線形アレイセンサによって検出された、前記通常の鏡面の反射及び前記通常に拡散する反射を処理するように構成されたプロセッサと、
を含むことを特徴とするシステム。 - 前記線形アレイセンサは、全幅アレイセンサ、コンタクトイメージセンサ、又はCCDアレイセンサのいずれかである、ことを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記線形アレイセンサが行うサンプリングは、該線形アレイセンサの各々の走査線が、(1)前記通常の鏡面の反射と前記通常に拡散する反射との組み合わせのキャプチャ及び(2)前記通常に拡散する反射のキャプチャを交互にするように、前記第1照明体及び前記第2照明体を同期させるように構成されている、ことを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- (i) 前記目標の表面の法線に関する前記第1の方向における前記通常の鏡面の反射及び前記通常に拡散する反射の角度と、
(ii)前記目標表面の法線に関する前記第1の照明体から放射されたビームの角度と、
(iii) 前記目標表面の法線に関する前記第2の照明体から放射されたビームの角度と、
の少なくとも1つが選択的に調節可能である、
ことを特徴とする請求項1に記載のシステム。 - 表面特性を検出するためのシステムであって、
目標上の点に光ビームを放射して、第1の方向に通常の鏡面の反射を生成し且つ第2の方向に通常に拡散する反射を生成するように、構成された照明体と、
前記第1の方向における前記通常の鏡面の反射を検出するように構成された第1の線形アレイセンサと、
前記第2の方向における前記通常に拡散する反射を検出するように構成された第2の線形アレイセンサと、
前記第1の線形アレイセンサによって検出された前記通常の鏡面の反射及び前記第2の線形アレイセンサによって検出された前記通常に拡散する反射を処理するように構成されたプロセッサと、
を含むことを特徴とするシステム。
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