JP2014074631A - 外観検査装置および外観検査方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】検査対象物の正常部位とは光沢度が異なる不良部位の検出および不良の種別の判定を精度良く行う。
【解決手段】タイヤTを撮像するラインセンサカメラ10と、主として正反射光がラインセンサカメラ10に入射するようにタイヤTを照明する第1照明装置11と、主として拡散反射光がラインセンサカメラ10に入射するようにタイヤTを照明する第2照明装置12と、第1照明装置11による照明と第2照明装置12による照明とを選択的に切り替える照明制御部22と、第1照明装置11の照明下で撮像された第1画像と、第2照明装置12の照明下で撮像された第2画像と、第1画像と第2画像との差分画像とに基づいて、タイヤTの正常部位とは光沢度が異なる不良部位を検出するとともに、検出した不良部位が光沢不良部位であるか粗面不良部位であるかを判定する画像解析装置30と、を備える。
【選択図】図2

Description

本発明は、検査対象物の外観を検査する外観検査装置および外観検査方法に関する。
従来、照明光で照明された検査対象物をカメラで撮像し、得られた画像に対して画像処理を行うことで検査対象物の外観を検査する外観検査装置が知られている。外観検査装置における照明には、大きく分けて、正反射光(直接光)を検査に用いる方法と、拡散反射光(散乱光)を検査に用いる方法とがある。前者の方法と後者の方法とでは、それぞれ、良好に検出できる不良の種類が異なるため、一般的には、検出しようとする不良の種類に応じて適切な照明を選択して使用している。
また、正反射光の受光により得られる検査対象物の画像と、拡散反射光の受光により得られる検査対象物の画像との双方を取得して、異なる種類の不良を検出できるようにした外観検査装置もある。例えば、特許文献1には、複数のラインカメラを用いて検査対象物からの正反射光と拡散反射光とを個別に受光し、正反射光の受光により得られる画像を用いて検査対象物上の黒色物や白色物の検出を行うとともに、拡散反射光の受光により得られる画像を用いて検査対象物の傷、異物、泡、すじ突起物等の検出を行う外観検査装置が開示されている。
また、特許文献2には、検査対象物に対して波長が異なる2つの照明光を各々照射し、一方の波長の正反射光と、他方の波長の拡散反射光とを1つのカメラで同時に受光し、一方の波長の正反射光を受光することで得られる画像を用いて検査対象物の表面の凹凸状態の検査を行うとともに、他方の波長の拡散反射光を受光することで得られる画像を用いて検査対象物に描画された画像の描画状態の検査を行う外観検査装置が開示されている。
特開平6−137844号公報 特開2006−46941号公報
特許文献2で開示される外観検査装置は、正反射光と拡散反射光とを1つのカメラで同時に受光する構成であるため、特許文献1で開示される外観検査装置のように複数のカメラを用いる構成と比較して、装置の小型化や装置の製造コスト低減を図る上で有利となる。しかし、特許文献2で開示される外観検査装置は、波長が異なる2つの照明光を用いて得られた画像をもとに検査を行うため、特に光沢度の変化として現れるような不良を適切に検査できない虞がある。すなわち、検査対象物に照射される照明光はその波長に応じて検査対象物での拡散率が異なるため、波長が異なる2つの照明光を用いて得られた画像から光沢度の変化が生じている不良部位と正常な部位とを弁別するのは困難であり、不良部位を検出する際の検出精度が低下するという問題がある。また、従来技術では、光沢度の変化が生じている不良部位が検出できたとしても、その不良部位が正常な部位と比べて光沢度が大きい不良部位なのか、光沢度が小さい不良部位なのかといった不良の種別の判定ができない。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、検査対象物の正常部位とは光沢度が異なる不良部位の検出および不良の種別の判定を精度良く行うことができる外観検査装置および外観検査方法を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る外観検査装置は、検査対象物を撮像する撮像部と、主として正反射光が前記撮像部に入射するように前記検査対象物を照明する第1照明部と、主として拡散反射光が前記撮像部に入射するように前記検査対象物を照明する第2照明部と、前記第1照明部による照明と前記第2照明部による照明とを選択的に切り替える照明切り替え部と、前記第1照明部により照明された前記検査対象物を前記撮像部が撮像することで得られる第1画像と、前記第2照明部により照明された前記検査対象物を前記撮像部が撮像することで得られる第2画像と、前記第1画像と前記第2画像との差分である差分画像と、に基づいて、前記検査対象物の正常部位とは光沢度が異なる不良部位を検出するとともに、検出した不良部位が、前記正常部位よりも光沢度が大きい第1不良部位であるか、または、前記正常部位よりも光沢度が小さい第2不良部位であるかを判定する不良部位検出部と、を備えることを特徴とする。
また、本発明に係る外観検査方法は、撮像部が撮像する検査対象物の画像を用いて前記検査対象物の外観を検査する外観検査装置において実行される外観検査方法であって、主として正反射光が前記撮像部に入射するように前記検査対象物を照明して前記撮像部により前記検査対象物を撮像する第1工程と、主として拡散反射光が前記撮像部に入射するように前記検査対象物を照明して前記撮像部により前記検査対象物を撮像する第2工程と、前記第1工程で得られた第1画像と、前記第2工程で得られた第2画像と、前記第1画像と前記第2画像との差分である差分画像と、に基づいて、前記検査対象物の正常部位とは光沢度が異なる不良部位を検出するとともに、検出した不良部位が、前記正常部位よりも光沢度が大きい第1不良部位であるか、または、前記正常部位よりも光沢度が小さい第2不良部位であるかを判定する第3工程と、を含むことを特徴とする。
本発明によれば、検査対象物の正反射光を撮像部に入射させることで得られる第1画像と、拡散反射光を撮像部に入射させることで得られる第2画像と、第1画像と第2画像との差分画像と、に基づいて、検査対象物の正常部位とは光沢度が異なる不良部位を検出するとともに、検出した不良部位が正常部位よりも光沢度が大きい第1不良部位であるか、または、正常部位よりも光沢度が小さい第2不良部位であるかを判定するので、検査対象物の正常部位とは光沢度が異なる不良部位の検出および不良の種別の判定を精度良く行うことができるという効果を奏する。
図1−1は、実施形態に係るタイヤ外観検査装置の平面図である。 図1−2は、実施形態に係るタイヤ外観検査装置を図1−1中の矢印A方向から見た側面図である。 図2は、タイヤ外観検査装置の画像解析を含む制御系の概略構成を示すブロック図である。 図3は、タイヤの側面部における光沢度と正反射光および拡散反射光との関係を示す概念図である。 図4は、タイヤの側面部における光沢度と正反射光および拡散反射光との関係を示す概念図である。 図5は、ラインセンサカメラを用いてタイヤの側面部における光沢不良部位およびその周囲を撮像して得た第1画像の画像例を示す図である。 図6は、ラインセンサカメラを用いてタイヤの側面部における光沢不良部位およびその周囲を撮像して得た第2画像の画像例を示す図である。 図7は、画像解析装置による不良部位の検出処理の一例を示すフローチャートである。
以下に添付図面を参照して、この発明に係る外観検査装置および外観検査方法の実施の形態を詳細に説明する。以下で説明する実施の形態は、自動車のタイヤを検査対象物とするタイヤ外観検査装置に対して本発明を適用した例である。
図1−1は、本実施形態に係るタイヤ外観検査装置1の平面図であり、図1−2は、タイヤ外観検査装置1を図1−1中の矢印A方向から見た側面図である。図1−1および図1−2に示すように、タイヤ外観検査装置1は、搬送用ローラ2を有する検査台3を備える。検査台3には、検査対象物であるタイヤTに対して実際に検査を行う検査位置P1と、検査前のタイヤTを待機させる待機位置P2とが設けられている。タイヤTは、作業者によって検査台3の待機位置P2に平置きの状態で載せられる。そして、検査を行う際は、作業者が待機位置P2のタイヤTを搬送用ローラ2上で図1−1中の矢印B方向に移動させることで、検査位置P1へと搬送する。
検査台3の検査位置P1には、該検査位置P1に搬送されたタイヤTを回転可能に保持する保持部材4が設けられている。保持部材4は、タイヤTのビード部に例えば4箇所で係合する係合部5を有する。作業者は、検査位置P1に搬送されたタイヤTのビード部に保持部材4の係合部5を係合させる。これにより、タイヤTが保持部材4に保持される。
保持部材4には、タイヤTを回転させるためのモータ6の回転軸の先端が、軸受け7によって連結されている。また、モータ6の回転軸には、ソレノイドバルブ8が設けられている。ソレノイドバルブ8は、通電による電磁作用によってモータ6の回転軸を伸張させ、保持部材4を図1−2中の矢印C方向に移動させて、タイヤTを検査台3から離間させる。この状態で、モータ6を作動させることにより、保持部材4に保持されたタイヤTを図1−2中の矢印Dで示すように回転させることができる。モータ6およびソレノイドバルブ8の動作は、後述する制御部によって制御される。
検査台3の検査位置P1の上方には、ラインセンサカメラ10、第1照明装置11、および第2照明装置12が設けられている。
ラインセンサカメラ10は、モータ6の作動により回転するタイヤTの側面部を撮像する。ラインセンサカメラ10の撮像位置Piは、図1−1中の一点鎖線で示すように、タイヤTの径方向に沿った直線状の位置である。ラインセンサカメラ10は、この撮像位置Piにおける反射光を受光して電気信号に変換することにより、1ライン分の画像(ライン画像)を取得する。そして、ラインセンサカメラ10は、タイヤTが回転している状態でライン画像の取得を繰り返すことで、タイヤTの側面部の全周に亘る画像を撮像することができる。
第1照明装置11は、主として正反射光がラインセンサカメラ10に入射するように、タイヤTの側面部における撮像位置Piを照明する。例えば、第1照明装置11は、所定波長のLEDを光源とし、このLEDが出射する光を集光レンズで直線光に変換して出力するライン照明装置として構成される。そして、第1照明装置11は、出力する直線光がタイヤTの側面部における撮像位置Piに照射され、且つ、その正反射光がラインセンサカメラ10に入射する位置および角度で、検査位置P1の上方に配置されている。
第2照明装置12は、主として拡散反射光がラインセンサカメラ10に入射するように、タイヤTの側面部におけるラインセンサカメラ10の撮像位置Piを照明する。例えば、第2照明装置12は、第1照明装置11と同一波長のLEDを光源とし、このLEDが出射する光を拡散板で拡散してエリア照明光として出力するエリア照明装置として構成される。そして、第2照明装置12は、出力するエリア照明光がタイヤTの側面部における撮像位置Piを含む所定範囲に照射される位置および角度で、検査位置P1の上方に配置されている。
第1照明装置11と第2照明装置12は、後述する制御部の制御によって選択的に動作する。すなわち、第1照明装置11がタイヤTの側面部を照明しているときは、第2照明装置12による照明は行われない。また、第2照明装置12がタイヤTの側面部を照明しているときは、第1照明装置11による照明は行われない。そして、ラインセンサカメラ10は、第1照明装置11により照明されたタイヤTの側面部と、第2照明装置12により照明されたタイヤTの側面部とを各々撮像する。以下、第1照明装置11により照明されたタイヤTの側面部をラインセンサカメラ10で撮像することで得られる画像を第1画像といい、第2照明装置12により照明されたタイヤTの側面部をラインセンサカメラ10で撮像することで得られる画像を第2画像という。第1画像と第2画像は、それぞれ後述の画像解析装置に送られ、タイヤTの側面部の不良部位を検出するために用いられる。
図2は、タイヤ外観検査装置1の画像解析を含む制御系の概略構成を示すブロック図である。タイヤ外観検査装置1は、図2に示すように、装置全体の動作を制御する制御部20を備える。上述したソレノイドバルブ8、モータ6、第1照明装置11、第2照明装置12、およびラインセンサカメラ10は、それぞれ制御部20に接続されている。そのほか、制御部20には、作業者が検査の開始を指示するために操作する検査開始スイッチ15が接続されている。また、ラインセンサカメラ10は、画像解析装置(不良部位検出部)30にも接続され、ラインセンサカメラ10で取得されたライン画像は、画像解析装置30に随時送られる。
制御部20は、例えば、CPUやROM、RAM、各種入出力インターフェースなどを備えるマイクロコントローラとして構成され、CPUがRAMをワークエリアとして利用してROMに格納された各種制御プログラムを実行することによって、駆動制御部21、照明制御部(照明切り替え部)22、およびカメラ制御部23の各制御機能を実現する。
駆動制御部21は、作業者により検査開始スイッチ15が操作されると、ソレノイドバルブ8およびモータ6の動作を制御して、保持部材4に保持されたタイヤTを所定の高さ位置において一定速度で回転させる。すなわち、作業者により検査開始スイッチ15が操作されると、駆動制御部21は、まず、ソレノイドバルブ8を作動させて、保持部材4に保持されたタイヤTの側面部が、ラインセンサカメラ10と第1照明装置11との位置関係から定まる所定の高さ位置(タイヤTの側面部での正反射光がラインセンサカメラ10に入射する位置)となるように、保持部材4およびこれに保持されたタイヤTを図1−2中の矢印C方向に移動させる。この際、駆動制御部21は、検査対象とするタイヤTのサイズあるいは識別情報を例えば作業者の設定入力により取得して、タイヤTのサイズに合わせてソレノイドバルブ8に通電する電流値を制御することで、タイヤTの側面部が所定の高さ位置となるように調整してもよい。次に、駆動制御部21は、タイヤTの側面部が所定の高さ位置となっている状態で、タイヤTが一定速度で回転するようにモータ6の動作を制御する。
照明制御部22は、ラインセンサカメラ10が撮像するタイヤTの側面部に対する照明を制御する制御機能であり、特に、第1照明部11による照明と第2照明部12による照明とが選択的に切り替わるように、これら第1照明部11および第2照明部12の動作を制御する。すなわち、照明制御部22は、一定速度で回転するタイヤTの側面部に、第1照明部11からの直線状の照明光と第2照明部12からのエリア照明光とが時分割で交互に照射されるように、第1照明部11および第2照明部12の動作を制御する。
例えば、照明制御部22は、ラインセンサカメラ10が1ライン分のライン画像を取得するごとに、第1照明部11による照明と第2照明部12による照明とを切り替える。また、照明制御部22は、タイヤTが1周するまで第1照明部11による照明を継続させ、タイヤTが1周したら第1照明部11による照明から第2照明部12による照明に切り替えて、タイヤTが再度1周するまで第2照明部12による照明を継続させるように制御してもよい。前者の場合は、タイヤTが1周すると、タイヤTの側面部の全周に亘る第1画像と第2画像とが得られるため、検査の高速化を図る上で有利となる。一方、後者の場合は、タイヤTの側面部の全周に亘る第1画像と第2画像とを得るにはタイヤTを2周させる必要があるが、前者の場合と比較して第1画像および第2画像の解像度を高めることができる。
カメラ制御部23は、ラインセンサカメラ10の動作を制御する。具体的には、カメラ制御部23は、ラインセンサカメラ10におけるシャッタタイミングやAGCのゲインなどの各種のパラメータを設定するためのパラメータ設定信号をラインセンサカメラ10に送出し、第1照明装置11または第2照明装置12による照明と同期して、タイヤTの側面部における撮像位置Piのライン画像が随時取得されるように、ラインセンサカメラ10の動作を制御する。ラインセンサカメラ10は、カメラ制御部23による制御のもとでタイヤTの側面部における撮像位置Piのライン画像を随時取得し、取得したライン画像を画像解析装置30に随時出力する。第1照明装置11の照明下でラインセンサカメラ10により取得された撮像位置Piのライン画像を繋ぎ合わせることで、タイヤTの1周分の第1画像が得られ、第2照明装置12の照明下でラインセンサカメラ10により取得された撮像位置Piのライン画像を繋ぎ合わせることで、タイヤTの1周分の第2画像が得られる。
画像解析装置30は、第1画像と、第2画像と、これら第1画像と第2画像との差分である差分画像とを用いて、タイヤTの側面部において光沢度が正常部位と異なる不良部位を検出するとともに、その不良部位が正常部位と比べて光沢度が大きい不良部位であるか(以下、このような不良部位を光沢不良部位と呼ぶ。)、あるいは、正常部位と比べて光沢度が小さい不良部位であるか(以下、このような不良部位を粗面不良部位と呼ぶ。)を判定する。
図3および図4は、タイヤTの側面部における光沢度と正反射光および拡散反射光との関係を示す概念図である。タイヤTの側面部において光沢度が大きい部位は、照明光に対する反射率が大きくなっているため、図3に示すように、ラインセンサカメラ10に入射する正反射光の強度が大きくなる一方で、ラインセンサカメラ10に入射する拡散反射光の強度が小さくなる。これに対し、タイヤTの側面部において光沢度が小さい部位は、照明光に対する反射率が小さくなっているため、図4に示すように、ラインセンサカメラ10に入射する拡散反射光の強度が大きくなる一方で、ラインセンサカメラ10に入射する正反射光の強度が小さくなる。したがって、タイヤTの側面部における光沢不良部位は、正常部位と比較すると、第1画像における当該部位の輝度値が大きくなり、且つ、第2画像における当該部位の輝度値が小さくなる。一方、タイヤTの側面部における粗面不良部位は、正常部位と比較すると、第2画像における当該部位の輝度値が大きくなり、且つ、第1画像における当該部位の輝度値が小さくなる。
図5および図6は、実際にラインセンサカメラ10を用いて、タイヤTの側面部における光沢不良部位およびその周囲を撮像して得た画像(図5が第1画像、図6が第2画像)の例であり、図中の楕円で囲んだ部分が光沢不良部位である。ここでは、タイヤ成形用金型の空気抜き穴に入り込んだ溶融原料が固化してできた突起物(ベント、スピュー)がタイヤ成形用金型内に残り、そのまま次のタイヤ成形を行うことで生じる不良を撮像しており、この不良が発生した部位は正常部位と比較して光沢度が大きく、光沢不良部位となる。なお、図5および図6に示す画像は、見やすくするために画像全体の明るさとコントラストを補正している。
光沢不良部位は、図5に示すように、ラインセンサカメラ10において主に正反射光を検出することで得られる第1画像上では、周囲と比較して明るく(輝度が大きく)なっている。また、光沢不良部位は、図6に示すように、ラインセンサカメラ10において主に拡散反射光を検出することで得られる第2画像上では、周囲と比較して暗く(輝度が小さく)なっている。このように、光沢不良部位は、第1画像上では正常部位と比較して輝度値が大きくなり、第2画像上では正常部位と比較して輝度値が小さくなる。したがって、第1画像と第2画像との差分である差分画像を求めることで、正常部位に対する光沢不良部位の輝度値の差を大きく取ることができる。
また、粗面不良部位については、具体的な画像の図示は省略するが、光沢不良部位とは逆に、ラインセンサカメラ10において主に正反射光を検出することで得られる第1画像上では、周囲と比較して暗く(輝度が小さく)なり、ラインセンサカメラ10において主に拡散反射光を検出することで得られる第2画像上では、周囲と比較して明るく(輝度が大きく)なる。このように、粗面不良部位は、第1画像上では正常部位と比較して輝度値が小さくなり、第2画像上では正常部位と比較して輝度値が大きくなるので、差分画像を求めることで、正常部位に対する粗面不良部位の輝度値の差を大きく取ることができる。
以上のことから、画像解析装置30は、まず、第1画像と第2画像との差分である差分画像を生成し、この差分画像を用いて、タイヤTの側面部において光沢度が正常部位とは異なる不良部位を検出する。具体的には、画像解析装置30は、例えば、タイヤTの全周に亘る差分画像に対して、注目する画像領域のウィンドウをスキャンしながら検査を行う場合、ウィンドウ内の領域(以下、注目部位と呼ぶ。)の輝度値と、差分画像全体の輝度平均値、あるいは、注目部位の周囲の所定範囲の輝度平均値との差を求め、求めた差の絶対値が所定の閾値を超える場合に、注目部位を不良部位として検出する。そして、画像解析装置30は、不良部位を検出した場合は、タイヤT側面部における不良部位の位置を特定するための情報(例えば、差分画像上での座標位置)を保持する。なお、注目部位の輝度値は、注目部位を構成するすべての画素の輝度平均値であってもよいし、注目部位の中の代表画素の輝度値であってもよい。また、輝度値の閾値は、予め実験などによって最適な値を求めておけばよい。
タイヤTの側面部において光沢度が正常部位とは異なる不良部位は、上述したように、その不良部位が光沢不良部位であっても粗面不良部位であっても、差分画像を用いることで正常部位に対する輝度値の差を大きく取ることができる。例えば、正常部位における任意の画素の輝度値と不良部位における任意の画素の輝度値とを比較した場合、第1画像上では正常部位の画素値が35、不良部位の画素値が61であり、第2画像上では正常部位の画素値が24、不良部位の画素値が16であったとする。この場合、正常部位に対する不良部位の輝度値の差は、第1画像上では−26(=35−61)であり、第2画像上では8(=24−16)であるが、差分画像上では−34(=11−45)となり、正常部位に対する不良部位の輝度値の差は差分画像上で大きくなる。したがって、差分画像を用いることで、正常部位と不良部位との分離を精度よく行って、不良部位を精度よく検出することができる。
しかし、差分画像から検出された不良部位は、光沢不良部位である場合もあれば、粗面不良部位である場合もあり、差分画像のみからこれら不良の種別を判定することは困難である。そこで、画像解析装置30は、第1画像と第2画像とを用いて、不良部位が光沢不良部位であるか粗面不良部位であるかの判定を行う。
具体的には、画像解析装置30は、例えば、差分画像を用いて検出したタイヤTの側面部における不良部位の位置を、検出時に保持した情報を用いて特定し、その位置を注目部位として第1画像および第2画像上でマッピングする。そして、画像解析装置30は、注目部位の第1画像における輝度値を第1画像全体の輝度平均値、あるいは、第1画像における注目部位の周囲の所定範囲の輝度平均値から減算し、その値(第1減算値)が正の値であるか、負の値であるかを確認する。また、画像解析装置30は、注目部位の第2画像における輝度値を第2画像全体の輝度平均値、あるいは、第2画像における注目部位の周囲の所定範囲の輝度平均値から減算し、その値(第2減算値)が正の値であるか、負の値であるかを確認する。そして、画像解析装置30は、第1減算値が負の値であり、且つ、第2減算値が正の値である場合に、差分画像を用いて検出した不良部位が光沢不良部位であると判定する。また、画像解析装置30は、第1減算値が正の値であり、且つ、第2減算値が負の値である場合に、差分画像を用いて検出した不良部位が粗面不良部位であると判定する。なお、注目部位の輝度値は、差分画像を用いた検査時と同様に、注目部位を構成するすべての画素の輝度平均値であってもよいし、注目部位の中の代表画素の輝度値であってもよい。
図7は、画像解析装置30において実施される不良部位の検出処理の一例を示すフローチャートである。以下、この図7のフローチャートを参照して、画像解析装置30の一連の動作を説明する。
画像解析装置30は、まず、第1照明装置11による照明下でラインセンサカメラ10が撮像位置Piを撮像することで得られるライン画像を繋ぎ合わせて、タイヤTの1周分の第1画像を取得する(ステップS101)。また、画像解析装置30は、第2照明装置12による照明下でラインセンサカメラ10が撮像位置Piを撮像することで得られるライン画像を繋ぎ合わせて、タイヤTの1周分の第2画像を取得する(ステップS102)。なお、ステップS101とステップS102の順番は任意であり、第2画像を取得した後に第1画像を取得するようにしてもよい。
次に、画像解析装置30は、ステップS101で取得した第1画像と、ステップS102で取得した第2画像とを用い、これら第1画像および第2画像を構成する画素ごとに、第1画像における輝度値と第2画像における輝度値との差分を取り、差分画像を生成する(ステップS103)。
次に、画像解析装置30は、ステップS101で取得した第1画像の画像全体における輝度平均値L1、ステップS102で取得した第2画像の画像全体における輝度平均値L2、およびステップS103で生成した差分画像の画像全体における輝度平均値L3をそれぞれ算出する(ステップS104)。
次に、画像解析装置30は、検査の対象となる注目部位を選択する(ステップS105)。
次に、画像解析装置30は、ステップS105で選択した注目部位の差分画像における輝度値L3_tと、ステップS104で算出した差分画像の輝度平均値L3との差を求め、求めた差の絶対値が所定閾値Thを超えているか否かを判定する(ステップS106)。そして、差分画像における注目部位の輝度値L3_tと差分画像の輝度平均値L3との差の絶対値が所定閾値Th以下であれば(ステップS106:No)、画像解析装置30は、注目部位を正常部位と判定して(ステップS107)、ステップS112に進む。
一方、差分画像における注目部位の輝度値L3_tと差分画像の輝度平均値L3との差の絶対値が所定閾値Thを超えていれば(ステップS106:Yes)、画像解析装置30は、注目部位を不良部位として検出し、その注目部位の位置を特定するための情報を保持する。そして、画像解析装置30は、保持した情報をもとに第1画像および第2画像における注目部位の位置をそれぞれ特定し、第1画像における注目部位の輝度値L1_tをステップS104で算出した第1画像の輝度平均値L1から減じた値(第1減算値:L1−L1_t)と、第2画像における注目部位の輝度値L2_tをステップS104で算出した第2画像の輝度平均値L2から減じた値(第2減算値:L2−L2_t)とをそれぞれ求め、第1減算値が負の値(L1−L1_t<0)で、且つ、第2減算値が正の値(L2−L2_t>0)となっているか否かを判定する(ステップS108)。
ここで、第1減算値が負の値であり、且つ、第2減算値が正の値であれば(ステップS108:Yes)、画像解析装置30は、注目部位を光沢不良部位と判定して(ステップS109)、ステップS112に進む。一方、第1減算値が正の値であったり、第2減算値が負の値であったりした場合は(ステップS108:No)、画像解析装置30は、次に、第1減算値が正の値(L1−L1_t>0)で、且つ、第2減算値が負の値(L2−L2_t<0)となっているか否かを判定する(ステップS110)。そして、第1減算値が正の値であり、且つ、第2減算値が負の値であれば(ステップS110:Yes)、画像解析装置30は、注目部位を粗面不良部位と判定して(ステップS111)、ステップS112に進む。一方、第1減算値が負の値であったり、第2減算値が正の値であったりした場合は(ステップS110:No)、画像解析装置30は、何らかのノイズによりステップS106で誤判定が生じたものとして、注目部位を正常部位と判定し(ステップS107)、ステップS112に進む。
画像解析装置30は、ステップS106〜ステップS111の処理によってステップS105で選択した注目部位が正常部位であるか、光沢不良部位であるか、粗面不良部位であるかを判定すると、次のステップS112で、タイヤTの側面部の全周に亘って検査が終了したか否かを判定する。そして、検査を行っていない部位があれば(ステップS112:No)、ステップS105に戻って新たな注目部位を選択し、ステップS106〜ステップS111の処理を繰り返す。一方、タイヤTの側面部の全周に亘って検査が終了すると(ステップS112:Yes)、図7のフローチャートで示す一連の処理を終了する。
なお、図7のフローチャートで示した例では、注目部位の輝度値の比較対象として画像全体の輝度平均値(L1,L2,L3)を用いているが、これに代えて、注目部位の周囲の所定範囲の輝度平均値を用いてもよい。この場合、画像全体の輝度平均値(L1,L2,L3)を算出するステップS104の処理は省略され、ステップS105で注目部位を選択した後に、第1画像、第2画像、および差分画像のそれぞれについて、選択した注目部位の周囲の所定範囲の輝度平均値が算出される。
また、図7のフローチャートで示した例では、1つの注目部位ごとに、差分画像に基づく不良部位の検出と、第1画像および第2画像に基づく不良の種類の判定とを連続して行うようにしているが、タイヤTの側面部の全周に対して差分画像に基づく不良部位の検出を行った後、不良部位として検出された個々の注目部位について、第1画像および第2画像に基づく不良の種類の判定を行うようにしてもよい。
また、図7のフローチャートで示した例では、タイヤTの1周分の第1画像と第2画像とから差分画像を生成し、これらタイヤTの1周分の第1画像、第2画像および差分画像を用いて不良部位の検出および不良の種類の判定を行うようにしているが、ラインセンサカメラ10が1ライン分のライン画像を撮像するごとに第1照明装置11による照明と第2照明装置12による照明とを切り替えるようにした場合には、1ラインごとに第1画像と第2画像との差分画像を求め、タイヤTの1周分の第1画像および第2画像が得られる前に、1ラインごとにリアルタイムで不良部位の検出および不良の種類の判定を行うこともできる。
以上、具体的な例を挙げながら詳細に説明したように、本実施形態に係るタイヤ外観検査装置1は、検査対象物であるタイヤTの側面部を撮像するラインセンサカメラ10と、主として正反射光がラインセンサカメラ10に入射するように、タイヤTの側面部におけるラインセンサカメラ10の撮像位置Piを照明する第1照明装置11と、主として拡散反射光がラインセンサカメラ10に入射するように、タイヤTの側面部におけるラインセンサカメラ10の撮像位置Piを照明する第2照明装置12と、を備える。そして、制御部20の照明制御部22が、第1照明装置11による照明と第2照明装置12による照明とを選択的に切り替えて、画像解析装置30が、第1照明装置11により照明されたタイヤTの側面部における撮像位置Piをラインセンサ10が撮像することにより得られた第1画像と、第2照明装置12により照明されたタイヤTの側面部における撮像位置Piをラインセンサ10が撮像することにより得られた第2画像との差分画像に基づいて、タイヤTの側面部における不良部位を検出するようにしている。したがって、本実施形態に係るタイヤ外観検査装置1は、検査対象物であるタイヤTの側面部において、正常部位とは光沢度が異なる不良部位を精度よく検出することができる。
また、本実施形態に係るタイヤ外観検査装置1では、画像解析装置30が、差分画像に基づいて検出した不良部位について、第1画像と第2画像とを用いてその不良部位が光沢不良部位であるのか粗面不良部位であるのかを判定するようにしているので、不良部位の検出だけでなく、その不良の種類の判定も精度よく行うことができる。
また、本実施形態に係るタイヤ外観検査装置1では、ラインセンサカメラ10が1ライン分のライン画像を撮像するたびに、制御部20の照明制御部22が第1照明装置11による照明と第2照明装置12による照明との切り替えを行うことで、検査の高速化を図ることができる。
また、本実施形態に係るタイヤ外観検査装置1では、第1照明装置11と第2照明装置12が同一波長の照明光でタイヤTの側面部における撮像位置Piを照明するようにしているので、照明光の波長の違いによって第1画像と第2画像とで光沢度に応じた輝度値が変動するといった不都合を未然に回避することができ、正常部位とは光沢度が異なる不良部位を精度よく検出することができる。
なお、上記実施の形態では、本発明をタイヤ外観検査装置に適用した例について説明したが、本発明は、タイヤ外観検査装置に限らず、検査対象物の光沢度の不良を検査するあらゆる外観検査装置に対して広く適用することができる。また、上記実施の形態として開示した技術事項は、本発明の好ましい適用例を例示したものであり、本発明の技術的範囲が上記実施の形態として開示した技術事項に限定されるものではない。本発明の技術的範囲は、上記実施の形態として開示した具体的な技術事項に加え、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において容易に想到し得る様々な変形例、代替技術を含むものである。
以上のように、本発明は、検査対象物の光沢度の不良を精度よく検出できるようにする技術として有用である。
1 タイヤ外観検査装置
10 ラインセンサカメラ
11 第1照明装置
12 第2照明装置
20 制御部
22 照明制御部
30 画像解析装置

Claims (7)

  1. 検査対象物を撮像する撮像部と、
    主として正反射光が前記撮像部に入射するように前記検査対象物を照明する第1照明部と、
    主として拡散反射光が前記撮像部に入射するように前記検査対象物を照明する第2照明部と、
    前記第1照明部による照明と前記第2照明部による照明とを選択的に切り替える照明切り替え部と、
    前記第1照明部により照明された前記検査対象物を前記撮像部が撮像することで得られる第1画像と、前記第2照明部により照明された前記検査対象物を前記撮像部が撮像することで得られる第2画像と、前記第1画像と前記第2画像との差分である差分画像と、に基づいて、前記検査対象物の正常部位とは光沢度が異なる不良部位を検出するとともに、検出した不良部位が、前記正常部位よりも光沢度が大きい第1不良部位であるか、または、前記正常部位よりも光沢度が小さい第2不良部位であるかを判定する不良部位検出部と、を備えることを特徴とする外観検査装置。
  2. 前記不良部位検出部は、注目部位の前記差分画像における輝度値と前記差分画像の輝度平均値または前記差分画像における前記注目部位の周囲の所定範囲の輝度平均値との差の絶対値が所定閾値を超える場合に、前記注目部位を前記不良部位として検出し、さらに、検出した前記不良部位の前記第1画像における輝度値を前記第1画像の輝度平均値または前記第1画像における前記不良部位の周囲の所定範囲の輝度平均値から減じた値が負の値であり、且つ、前記不良部位の前記第2画像における輝度値を前記第2画像の輝度平均値または前記第2画像における前記不良部位の周囲の所定範囲の輝度平均値から減じた値が正の値である場合に、前記不良部位が前記第1不良部位であると判定することを特徴とする請求項1に記載の外観検査装置。
  3. 前記不良部位検出部は、注目部位の前記差分画像における輝度値と前記差分画像の輝度平均値または前記差分画像における前記注目部位の周囲の所定範囲の輝度平均値との差の絶対値が所定閾値を超える場合に、前記注目部位を前記不良部位として検出し、さらに、検出した前記不良部位の前記第1画像における輝度値を前記第1画像の輝度平均値または前記第1画像における前記不良部位の周囲の所定範囲の輝度平均値から減じた値が正の値であり、且つ、前記不良部位の前記第2画像における輝度値を前記第2画像の輝度平均値または前記第2画像における前記不良部位の周囲の所定範囲の輝度平均値から減じた値が負の値である場合に、前記不良部位が前記第2不良部位であると判定することを特徴とする請求項1に記載の外観検査装置。
  4. 前記撮像部はラインセンサカメラであり、
    前記第1照明部は、前記検査対象物における前記ラインセンサカメラの撮像位置を直線状の照明光で照明することを特徴とする請求項1に記載の外観検査装置。
  5. 前記照明切り替え部は、前記ラインセンサカメラが1ライン分の撮像を行うたびに、前記第1照明部による照明と前記第2照明部による照明とを切り替えることを特徴とする請求項4に記載の外観検査装置。
  6. 前記第1照明部と前記第2照明部は、同一波長の照明光で前記検査対象物を照明することを特徴とする請求項1に記載の外観検査装置。
  7. 撮像部が撮像する検査対象物の画像を用いて前記検査対象物の外観を検査する外観検査装置において実行される外観検査方法であって、
    主として正反射光が前記撮像部に入射するように前記検査対象物を照明して前記撮像部により前記検査対象物を撮像する第1工程と、
    主として拡散反射光が前記撮像部に入射するように前記検査対象物を照明して前記撮像部により前記検査対象物を撮像する第2工程と、
    前記第1工程で得られた第1画像と、前記第2工程で得られた第2画像と、前記第1画像と前記第2画像との差分である差分画像と、に基づいて、前記検査対象物の正常部位とは光沢度が異なる不良部位を検出するとともに、検出した不良部位が、前記正常部位よりも光沢度が大きい第1不良部位であるか、または、前記正常部位よりも光沢度が小さい第2不良部位であるかを判定する第3工程と、を含むことを特徴とする外観検査方法。
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