JP2000188533A - クロック位相補正回路 - Google Patents
クロック位相補正回路Info
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- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
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Abstract
補正回路に関し、特に既存のDLL(Delay_Locked Lo
op)回路にハーフミキサーを用いて全てのロック範囲
(Lock Range)を予め減少することにより、速やかなロ
ックタイム(Lock Time)と非常に少ないジッター(Jit
ter)を有するクロック信号を発生させたクロック位相
補正回路に関する。 【解決手段】 既存のDLL装置の外部クロック入力端
と遅延手段入力端の間に、多数個の位相変換部と一つの
ハーフミキサーでなるトラック部を追加し、外部クロッ
クの位相を予めフィードバッククロックの位相に接近さ
せた後、最終的に既存のDLL装置を介して補正された
信号とフィードバッククロックとの位相差を縮めるに従
いロックタイムが少なくなり、ジッターの大きさが減少
する効果を有する。
Description
クロック位相補正回路に関し、特に既存のDLL(Dela
y_Locked Loop)回路にハーフミキサーを用い全てのロ
ック範囲(Lock Range)を予め減縮することにより、速
やかなロックタイム(Lock Time)と非常に小さいジッ
ターを有するクロック信号を発生させるためのクロック
位相補正回路に関する。
ディラム(SDRAM)、ラムバスディラム(Rambus
DRAM)、シンクリンクディラム(SyncLink DRA
M)そして、ダブルデータレート(Double Data Rate)
等でデータのセットアップタイムとホールドタイムとの
問題を解決するためクロック位相補正回路が用いられて
いる。
るに従いPLL(Phase Locked Loop)やDLL回路を
用い外部クロック(Extclk)と内部クロック(Intclk)
間の位相差を一致させたりSkewを取り除く。
由は、ICの集積度が高くなるとチップ内部のクロッ
クLoadingが増加してクロックドライバのディレイが増
加することになる。
増加するとセットアップタイムとホールドタイムが大き
くなり、動作周波数の高いシステムの設計に大きい制約
を与えることになる。このときOn−Chip PLLを用い
クロックドライバのSkewを無くすことができる。
要求するが、大部分のチップに入力されるクロックは5
0%のDuty Cycleを保証できない。従って、50%のDu
ty Cycleを保証するため内部クロックの周波数より2倍
高い周波数を有する外部クロックを受信した後、これを
ディバイディング(Dividing)して用いることになる。
数が高くなる短所があるためPLLを用いるとDuty Cyc
leを保証できるようになる。
ク(Extclk)より高い周波数で動作させる場合が多いが
これはシステム設計面で非常に有利である。このときP
LLを用いれば外部周波数より高い内部クロックを生成
することができる。
る。
内部クロック(Intclk)間の位相を一致させる回路で、
一般に用いられている従来のDLL装置が図1に示され
ている。
ィードバック(Fbclk)の間の位相差を比較する位相検
出器(30)と、前記位相検出器で検出された信号を受
信して遅延手段を調整する制御器(20)と、前記制御
器から制御信号を入力され遅延を調節する遅延手段と、
実際に物理的な遅延をモデリングするモデル部(40)
でなる。
プにより異なって構成されることがある。例えば、アナ
ログ遅延手段の場合図2や図3のように制御器はデジタ
ル−アナログ変換器(21)とカウンター(22)で構
成されたり、又は電荷ポンプ(23)で構成されること
がある。デジタル遅延手段の場合は図4のように選択器
(24)とカウンター(22)で構成されることがあ
る。
次の通りである。
k)とモデル部(40)を経てくるフィードバッククロ
ック(Fbclk)の位相差を位相検出器(30)が検出し
て“ハイ”や“ロー”信号を制御器(20)に伝送す
る。
れる“ハイ”又は“ロー”信号を受信して遅延手段(1
0)を制御する。制御器からの出力信号により遅延手段
(10)の遅延時間が制御される。このような過程を繰
返して行い、外部クロックと内部クロックの位相差を一
致させることになる。
減することができる遅延時間を1ステップ(Step)と定
義すれば、制御器(20)が遅延を1ステップ以下に調
整することはできない。さらに、最大限作ることができ
る遅延を最大遅延(Max−delay)とすれば、その大きさ
はDLL回路の動作周波数範囲を決定することになる。
即ち、DLL回路の動作はその最大遅延の大きさに制限
を受ける。このような理由により従来のDLL回路は1
ステップの大きさを縮少し、動作周波数範囲を広げるた
め最大遅延を大きくした。このため、遅延手段(10)
が占める面積が増大し実効性の問題が引き起こされる。
したような従来技術の諸問題点を解消するため創案され
たもので、直列接続された多数個の位相変換手段とハー
フミキサー(Half mixer)を、外部クロック入力端と遅
延手段の間に提供してDLL回路のロックタイム(lock
time)を向上させ、ジッターの大きさを減少させたク
ロック保証回路を提供することにその目的がある。
位相変換手段はモデル部から出力されるフィードバック
クロックにより制御され、ハーフミキサーから出力され
る位相制御された外部クロックが遅延手段に印加され
る。
するための本発明の第1実施例は、外部クロックを受信
して内部クロックを出力するクロック位相補正回路にお
いて、前記内部クロックを出力する遅延手段と、前記遅
延手段から出力される内部クロックを受信してフィード
バッククロックを出力するモデル部と、前記外部クロッ
クとモデル部から出力される前記フィードバッククロッ
クを入力されこれらの位相を比較した後、検出信号を出
力する位相検出器と、前記位相検出器から出力される検
出信号により動作して前記遅延手段を制御する制御信号
を前記遅延手段で出力する制御器と、前記外部クロック
と、前記外部クロックを反転させた反転外部クロック
と、前記フィードバッククロックを受信して前記外部ク
ロックの位相と前記フィードバッククロックの位相差を
減少させるトラック部を含み、前記遅延手段はトラック
部の出力信号を受信した後、前記制御器からの制御信号
に制御され前記内部クロックを出力することを特徴とす
る。
れた複数個の位相変換手段を含み、複数個の位相変換手
段は前記フィードバッククロックの位相を検出した後、
前記外部クロックの位相を順次前記フィードバッククロ
ックの位相に接近させる。
明の第2実施例は、外部クロックを受信して内部クロッ
クを出力するクロック位相補正回路において、前記内部
クロックを受信してフィードバッククロックを出力する
モデル部と、前記外部クロックと、前記外部クロックを
反転させた反転外部クロックと、前記フィードバックク
ロックを受信して前記外部クロックの位相と、前記フィ
ードバッククロックの位相差を減少させる直列連結され
た複数個の位相変換手段と、前記位相変換手段から出力
される位相の異なる一対の出力信号を受信し、前記一対
の出力信号の位相差の中間値を位相にする前記内部クロ
ックを出力するハーフミキサーを含み、前記複数個の位
相変換手段は前記フィードバッククロックの位相を検出
した後、前記外部クロックの位相を順次前記フィードバ
ッククロックの位相に接近させることを特徴とする。
いう用語は位相の範囲を区分するため用いられる。例え
ば、クロックの位相が0°−90°の間であれば1上限、9
0°−180°の間であれば2上限、180°−270°の間であ
れば3上限、270°−360°の間であれば4上限と呼ぶ。
特徴及び利点は、添付図面と係る次の詳しい説明を介し
てより明らかになるはずである。
の第1、第2実施例を説明すれば次の通りである。
略的に示したもので、既存のDLL装置にトラック部
(50)を追加して外部クロック(Extclk)の位相を予
めフィードバッククロック(Fbclk)の位相に接近させ
た後、最終的に既存のDLL装置を介しトラック部(5
0)により報償されたクロックとフィードバッククロッ
ク(Fbclk)の位相差を減縮することにより、速やかな
ロックタイムと非常に小さいジッターを有するようにし
たものである。トラック部の構成は以下の実施例で詳し
く記述される。
装置を示したものである。
有する二つの外部クロック(Extclk)とフィードバック
クロック(Fbclk)を入力されるトラック部(50)
と、前記トラック部から出力される出力信号Out23を
入力され、制御器から出力される信号によりディレイタ
イムが調節されて内部クロック(Intclk)を出力する遅
延手段と、前記内部クロック(Intclk)を入力されフィ
ードバッククロック(Fbclk)を出力するモデル部(4
0)と、前記モデル部(40)により出力されるフィー
ドバッククロック(Fbclk)と、外部クロック(Extcl
k)の位相を比べ“ハイ”又は“ロー”信号を前記制御
器で出力する位相検出器(30)と、前記位相検出器
(30)から出力される信号を入力され、前記遅延手段
を制御する信号を出力する制御器(20)でなる。
差を有する二つの外部クロック(Extclk、/Extclk)と
フィードバッククロック(Fbclk)を受信する第1位相
変換部(51)と、前記第1位相変換部(51)から出
力される信号(Out11とOut12)、及びフィードバッ
ククロック(Fbclk)を受信する第2位相変換部(5
3)と、前記第2位相変換部(53)の二つの出力であ
るOut21とOut22を受信してOut23を出力するハー
フミキサーでなる。
作は次の通りである。
が第1位相変換部(51)に入力されると、前記第1位
相変換部(51)は四つの上限中フィードバッククロッ
ク(Fbclk)が属する上限を選択し、その上限の基準と
なる二つの出力Out11とOut12を出力する。
すれば次の通りである。
クロックの位相が二上限に存在するとすれば、Aの位相
を有する信号と外部クロック/Extclkが選択され第2位
相変換部(53)に入力される。
clkを出力する第1位相変換部(51)に対する詳細ブ
ロック図が図7に示されている。
受信してOut1とOut2を出力するハーフミキサー(51
−1)と、前記外部クロックExtclkとフィードバックク
ロックを入力され位相差を比べた後、Sel1信号を出力
する第1位相検出器と、前記ハーフミキサー(51−
1)の二出力であるOut1とOut2を受信し、前記第1位
相検出器の出力であるSel1信号の制御を受けOut11信
号を出力する第1マルチプレクサと、前記第1マルチプ
レクサの出力であるOut11とフィードバッククロック
を受信して二位相を比べた後、Sel2信号を出力する第
2位相検出器と、外部クロックExtclkと/Extclkを受信
して前記第2位相検出器の出力であるSel2の制御を受
けOut12を出力する第2マルチプレクサでなる。
と、外部クロック/Extclkを図7を参照して説明すれば
次の通りである。
1で分かるようにAの位相を有する信号と/Aの位相を
有する信号を作る。
はアナログ乗算器であり、位相側面から見れば位相の異
なる二信号を受信して二位相の中間値を位相に有する信
号を出力する機能を有する。
ロックExtclkと/Extclkを入力され、90°の位相を有す
るA信号と270°の位相を有する/A信号を出力して前記
第1マルチプレクサに入力させる。
部クロックExtclkとフィードバッククロック(Fbclk)
を受信して二クロックの位相を比べる。このとき、前記
第1位相検出器(51−3)は180°の位相差を検出で
きるため、第1マルチプレクサ(51−7)がAの位相
を有する信号を選択するようSel1信号を前記第1マル
チプレクサ(51−7)に出力し、第1マルチプレクサ
(51−7)はAの位相を有する信号(Out11)を出
力する。
第1マルチプレクサ(51−7)の出力であるAとフィ
ードバッククロック(Fbclk)信号の位相差を検出し、
図11でAの信号を基準にフィードバッククロック(Fb
clk)信号の位相が180°以内に存在するため、第2マル
チプレクサ(51−9)が/Extclk信号を選択するようS
el2を第2マルチプレクサに送り出し、第2マルチプレ
クサは/Extclk信号を出力(Out12)に送り出す。
の基準信号Aと/Extclkは、図6で第2位相変換部(5
3)に入力される。
位相変換部(51)で出力されるAの信号と/Extclk信
号の中間位相を有する信号(Out21)と、前記Aの信
号と/Extclk信号中から一つを選択して出力(Out22)
に送り出す。
る信号を、一つの出力(Out21)に送り出し/Extclk信
号をさらに他の一つの出力(Out22)に送り出す。
部(53)に対する詳細ブロック図を示したもので、そ
の構成は次の通りである。
Out11とOut12を受信してOut21を出力するハーフ
ミキサー(53−1)と、前記ハーフミキサー(53−
1)の出力であるOut21とフィードバッククロック(F
bclk)信号を受信して、二位相を比べた後、“ハイ”又
は“ロー”レベルの出力であるSel1信号を出力する第
3位相検出器(53−3)と、前記第1位相変換部(5
1)の二出力であるOut11とOut12を受信し、前記第
3位相検出器(53−3)から出力されるSel1信号の
制御を受けOut22信号を出力する第3マルチプレクサ
(53−5)でなる。
して検討すれば次の通りである。
位相変換部(51)から出力されるA信号と/Extclk信
号を二入力に受信し、中間位相を有するB信号を出力
(Out21)に送り出す。
前記ハーフミキサー(53−1)から出力されるA信号
とフィードバッククロック(Fbclk)信号を受信して二
位相差を検出した後、Bの信号を基準にフィードバック
クロック(Fbclk)信号の位相が180°以内に存在するた
め第3マルチプレクサ(53−5)が/Extclk信号を選
択するようSel1を第3マルチプレクサ(53−5)に
送り出す。
は入力されるA信号と/Extclk中Sel1信号により/Extcl
k信号を出力(Out22)に送り出す。
力されるB信号と/Extclk信号は最後のハーフミキサー
(100)に入力される。
る回路図を示す。
間位相を有する信号を出力する役割を果たすことになる
が、図11を参照して検討して見れば、Out21とOut2
2入力端子に第2位相変換部(53)から出力されるB
信号と/Extclk信号が入力され、/Out21信号と/Out2
2端子に前記B信号と/Extclk信号の位相が反転した/B
とExtclk信号が入力され、出力端(Out23)には図1
1で分かるようにC信号が出力される。
L部分がハーフミキサー(100)の出力であるOut3
(図11では前記C)と、フィードバッククロック(Fb
clk)の位相差を縮めていくことになる。
バッククロック(Fbclk)の位相はBと/Extclk信号の間
に存在し、位相がCの信号が既存のDLL装置により動
きフィードバッククロック(Fbclk)の位相に合わせら
れていく。
かすことができるようにのみ設計すればよい。即ち、45
°(±22.5°)以内のロック範囲(Lock Range)を有する
ことになればよいのである。もし、図6で第2位相変換
部(53)と同一のブロックが一つさらにあるとすれ
ば、最後のハーフミキサー(100)の出力(Out3)
は図11でDの位相を有する信号となり、従って、既存
のDLL装置は区間だけを動かすことができればよ
い。即ち、22.5°(±11.25°)以内のロック範囲(Lock
Range)を有するだけでよいのである。
1実施例をより一般化させたDLL装置を示す第2実施
例である。
クExtclk、/Extclk入力端と内部クロック(Intclk)を出
力するハーフミキサー(6)入力端の間に直列連結され
るN個の位相変換部(第1、第2、第3、…、第n位相
変換部)と、前記ハーフミキサー(6)から出力される
内部クロック(Intclk)を受信し、前記各位相変換部にフ
ィードバッククロック(Fbclk)を出力するモデル部
(7)でなる。
第1位相変換部(1)は必ず使用されなければならず、
具体的な回路は図7と同じである。
n位相変換部(5)は全て同一構造で図8に示されてお
り、ハーフミキサー(6)に対する詳細図は図9に示さ
れた通りである。
に対する動作関係を図12を参照して第4位相変換部ま
でだけを例に挙げ検討して見る。
相差を有する外部クロックExtclk、及び/Extclkを受信
してOut11とOut12信号を送り出す。
の位相が図12に示されたように1上限に存在している
とすれば、出力Out11の信号でAの位相を有する信号
を送り出し、出力Out12の信号でBの位相を有する信
号を送り出す。
ロック(Extclk)と位相が同一信号である。
1及びOut12を受信して出力Out21とOut22信号を
送り出す。
号でCの位相を有する信号を送り出し、フィードバック
クロック(Fbclk)の位相がCの位相より180°外にあるた
め出力Out22の信号でAの位相を有する信号(Extclkと
同じ位相)を送り出す。
1及びOut22(図12でC及びA)を受信して出力Out
31とOut32信号を送り出す。
の位相を有する信号を送り出し、フィードバッククロッ
ク(Fbclk)の位相がDの位相より180°内にあるため出力
Out32の信号でCの位相を有する信号を送り出す。
号(図12でCとD)WO受信して図12に示したEの
位相を有する信号と、フィードバッククロック(Fbcl
k)の位相がEの位相より180°内にあるためCの位相を
有する信号を送り出す。
二信号(図12でCとE)を受信して中間位相を有する
信号(図12でF)を出力(Intclk)に送り出す。
k)の位相は必ず図12で示された区間に存在し、フ
ィードバッククロックとの最大位相差は次の通りであ
る。
固定された遅延を有するためフィードバッククロック
(Fbclk)も −(PI/2(N+1))<Fbclk<+(PI/2(N+1)) (但し、PI:π、180°) の範囲を有することになる。
ドバッククロック(Fbclk)の最大位相差は、PI/2(N+1)
となる。前記の第4位相変換部までにだけある例で、フ
ィードバッククロックとの最大位相差は PI/2(N+1)=PI/25=PI/32=5.625° で、最大位相差が内部クロック(Intclk)のスペック
(SPEC)に満足すればよいのである。
つながるハーフミキサーを除去しても本発明の目的の達
成には大きな支障がないということは、当業者において
明らかなものである。
多数個の位相変換部を用いて外部から入力される外部ク
ロックの位相を予め報償した後、既存のDLL回路にこ
れを印加させることにより既存のDLL装置より1ステ
ップが小さいDLLの設計が可能である。さらに、全て
のロック範囲(Lock Range)を有することにより既存の
180°だけを有することに比べ十分補完された。
さらに本発明の第2実施例で見られたように、一般のD
LL装置を用いずに要求されるスペックに合うよう位相
変換部使用個数を増加してDLLの機能を具現すること
により、如何なる応用分野であれ非常に簡単に性能の質
を調節することができる利点を有する。
めのもので、当業者であれば添付の特許請求の範囲に開
示された本発明の思想と範囲を介し各種修正、変更、取
り替え及び付加が可能のはずである。
る。
き、制御器でカウンタとデジタルアナログ変換器を用い
た場合のDLLブロック図である。
き、制御器で電荷ポンプを用いた場合のDLLブロック
図である。
き、制御器でカウンタと選択器を用いた場合のDLLブ
ロック図である。
る。
第1位相変換部と第2位相変換部、及びハーフミキサー
を備えて位相差を速やかに補正したDLLブロック図で
ある。
ク図である。
ク図である。
である。
介し位相差を速やかに補正したDLLブロック図であ
る。
Claims (4)
- 【請求項1】 外部クロックを受信して内部クロックを
出力するクロック位相補正回路において、前記内部クロ
ックを出力する遅延手段と、 前記遅延手段から出力される内部クロックを受信してフ
ィードバッククロックを出力するモデル部と、 前記外部クロックとモデル部から出力される前記フィー
ドバッククロックを入力され、これらの位相を比較した
後検出信号を出力する位相検出器と、 前記位相検出器から出力される検出信号により動作し前
記遅延手段を制御する制御信号を前記遅延手段で出力す
る制御器と、 前記外部クロックと、前記外部クロックを反転させた反
転外部クロックと、前記フィードバッククロックを受信
し前記外部クロックの位相と前記フィードバッククロッ
クの位相差を減少させるトラック部を含み、 前記遅延手段はトラック部の出力信号を受信した後、前
記制御器からの制御信号で制御され前記内部クロックを
出力することを特徴とするクロック位相補正回路。 - 【請求項2】 前記トラック部は直列連結された複数個
の位相変換手段を含み、 前記複数個の位相変換手段は前記フィードバッククロッ
クの位相を検出した後、前記外部クロックの位相を順次
前記フィードバッククロックの位相に接近させることを
特徴とする、請求項1記載のクロック位相補正回路。 - 【請求項3】 前記トラック部は直列連結された複数個
の位相変換手段と、 前記位相変換手段から出力される位相の異なる一対の出
力信号を受信し、前記一対の出力信号の位相差の中間値
を位相とする前記内部クロックを出力するハーフミキサ
ーを含み、 前記複数個の位相変換手段は前記フィードバッククロッ
ク位相を検出した後、前記外部クロックの位相を順次前
記フィードバッククロックの位相に接近させることを特
徴とする、請求項1記載のクロック位相補正回路。 - 【請求項4】 外部クロックを受信して内部クロックを
出力するクロック位相補正回路において、 前記内部クロックを受信してフィードバッククロックを
出力するモデル部と、 前記外部クロックと、前記外部クロックを反転させた反
転外部クロックと、 前記フィードバッククロックを受信して前記外部クロッ
クの位相と前記フィードバッククロックの位相差を減少
させる直列連結された複数個の位相変換手段と、 前記位相変換手段から出力される位相の異なる一対の出
力信号を受信し、前記一対の出力信号の位相差の中間値
を位相とする前記内部クロックを出力するハーフミキサ
ーを含み、 前記複数個の位相変換手段は前記フィードバッククロッ
クの位相を検出した後、前記外部クロックの位相を順次
前記フィードバッククロックの位相に接近させることを
特徴とするクロック位相補正回路。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6404248B1 (en) | 2000-09-26 | 2002-06-11 | Nec Corporation | Delay locked loop circuit for synchronizing internal supply clock with reference clock |
JP2003347908A (ja) * | 2002-05-21 | 2003-12-05 | Hynix Semiconductor Inc | デューティサイクル修正が可能なデジタルdll装置及びデューティサイクル修正方法 |
JP2004220602A (ja) * | 2003-01-10 | 2004-08-05 | Hynix Semiconductor Inc | デューティ補正回路を備えたアナログ遅延固定ループ |
JP2010081627A (ja) * | 2009-11-09 | 2010-04-08 | Fujitsu Ltd | 遅延ロックループ回路 |
JP2011228958A (ja) * | 2010-04-20 | 2011-11-10 | Fujitsu Ltd | 集積回路及び位相制御方法 |
Families Citing this family (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19934501C1 (de) * | 1999-07-22 | 2000-11-09 | Siemens Ag | Synchroner integrierter Speicher |
JP3707960B2 (ja) * | 1999-07-23 | 2005-10-19 | 富士通株式会社 | 半導体装置 |
US6476652B1 (en) * | 1999-11-01 | 2002-11-05 | Hynix Semiconductor Inc. | Delay locked loop for use in synchronous dynamic random access memory |
KR100533984B1 (ko) * | 1999-12-30 | 2005-12-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 잡음 제거를 위해 딜레이제어기를 갖는 지연고정루프 |
TW439363B (en) * | 2000-01-26 | 2001-06-07 | Via Tech Inc | Delay device using a phase lock circuit for calibrating and its calibrating method |
US7312739B1 (en) | 2000-05-23 | 2007-12-25 | Marvell International Ltd. | Communication driver |
US7194037B1 (en) | 2000-05-23 | 2007-03-20 | Marvell International Ltd. | Active replica transformer hybrid |
USRE41831E1 (en) | 2000-05-23 | 2010-10-19 | Marvell International Ltd. | Class B driver |
US6775529B1 (en) | 2000-07-31 | 2004-08-10 | Marvell International Ltd. | Active resistive summer for a transformer hybrid |
US7433665B1 (en) | 2000-07-31 | 2008-10-07 | Marvell International Ltd. | Apparatus and method for converting single-ended signals to a differential signal, and transceiver employing same |
JP4443728B2 (ja) * | 2000-06-09 | 2010-03-31 | 株式会社ルネサステクノロジ | クロック発生回路 |
US7606547B1 (en) | 2000-07-31 | 2009-10-20 | Marvell International Ltd. | Active resistance summer for a transformer hybrid |
US6492852B2 (en) | 2001-03-30 | 2002-12-10 | International Business Machines Corporation | Pre-divider architecture for low power in a digital delay locked loop |
KR100422583B1 (ko) * | 2001-08-30 | 2004-03-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체기억장치용 위상비교기 및 그 제어방법 |
US6647081B2 (en) * | 2001-12-12 | 2003-11-11 | Emulex Corporation | Phase-locked loop (PLL) circuit for selectively correcting clock skew in different modes |
DE10203892B4 (de) * | 2002-01-31 | 2004-01-29 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Erzeugen einer Signalpulsfolge mit einer vorgegebenen stabilen Grundfrequenz |
US6642760B1 (en) * | 2002-03-29 | 2003-11-04 | Rambus, Inc. | Apparatus and method for a digital delay locked loop |
KR100477808B1 (ko) * | 2002-05-21 | 2005-03-21 | 주식회사 하이닉스반도체 | 듀티 사이클 교정이 가능한 디지털 디엘엘 장치 및 듀티사이클 교정 방법 |
KR100500925B1 (ko) * | 2002-11-27 | 2005-07-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | 디지털 위상 혼합기를 갖는 2 코스 하프 딜레이 라인을이용한로우 지터 dll |
KR100468776B1 (ko) * | 2002-12-10 | 2005-01-29 | 삼성전자주식회사 | 클락 지터의 영향을 감소시킬 수 있는 동기식 반도체메모리장치 |
KR100911894B1 (ko) * | 2003-04-30 | 2009-08-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 락킹타임을 줄일 수 있는 지연고정루프 |
US6937077B2 (en) * | 2003-09-23 | 2005-08-30 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and method for suppressing jitter within a clock signal generator |
KR100537196B1 (ko) * | 2004-03-05 | 2005-12-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 기억 소자에서의 지연 고정 루프 및 그의 클럭록킹 방법 |
DE602005003069T2 (de) * | 2004-07-29 | 2008-08-14 | Delphi Korea Corp., Yongin | Kraftfahrzeug Sicherheitsgurt-Umlenkbeschlag und Verfahren zur seinen Herstellung |
US7312662B1 (en) | 2005-08-09 | 2007-12-25 | Marvell International Ltd. | Cascode gain boosting system and method for a transmitter |
US7577892B1 (en) | 2005-08-25 | 2009-08-18 | Marvell International Ltd | High speed iterative decoder |
US7227809B2 (en) * | 2005-10-14 | 2007-06-05 | Micron Technology, Inc. | Clock generator having a delay locked loop and duty cycle correction circuit in a parallel configuration |
US7423465B2 (en) * | 2006-01-27 | 2008-09-09 | Micron Technology, Inc. | Duty cycle error calculation circuit for a clock generator having a delay locked loop and duty cycle correction circuit |
US8073890B2 (en) * | 2006-02-22 | 2011-12-06 | Micron Technology, Inc. | Continuous high-frequency event filter |
KR100728907B1 (ko) | 2006-06-26 | 2007-06-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리의 클럭신호 생성장치 및 방법 |
KR100863016B1 (ko) * | 2007-05-31 | 2008-10-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 동작 모드 설정 장치, 이를 포함하는 반도체 집적 회로 및반도체 집적 회로의 제어 방법 |
KR100902050B1 (ko) | 2007-06-26 | 2009-06-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 전원 제어 장치 및 이를 포함하는 dll 회로 |
US7759997B2 (en) * | 2008-06-27 | 2010-07-20 | Microsoft Corporation | Multi-phase correction circuit |
US7821316B2 (en) | 2008-08-29 | 2010-10-26 | Microsoft Corporation | Multiphase clock generator with enhanced phase control |
JP2010119056A (ja) * | 2008-11-14 | 2010-05-27 | Elpida Memory Inc | 情報システムおよび半導体装置とその制御方法 |
KR101196706B1 (ko) * | 2009-10-29 | 2012-11-07 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 지연 고정 루프 회로를 포함하는 반도체 집적 회로 |
KR101201842B1 (ko) | 2010-05-31 | 2012-11-15 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 위상 보정 회로 |
KR20130098683A (ko) * | 2012-02-28 | 2013-09-05 | 삼성전자주식회사 | 지연 위상 루프 회로 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치 |
US8994426B2 (en) * | 2012-08-31 | 2015-03-31 | Analog Devices, Inc. | Method and systems for high-precision pulse-width modulation |
KR102605646B1 (ko) * | 2018-06-07 | 2023-11-24 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 비대칭 펄스 폭 비교 회로 및 이를 포함하는 클럭 위상 보정 회로 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5295164A (en) * | 1991-12-23 | 1994-03-15 | Apple Computer, Inc. | Apparatus for providing a system clock locked to an external clock over a wide range of frequencies |
US5544203A (en) * | 1993-02-17 | 1996-08-06 | Texas Instruments Incorporated | Fine resolution digital delay line with coarse and fine adjustment stages |
US5337285A (en) * | 1993-05-21 | 1994-08-09 | Rambus, Inc. | Method and apparatus for power control in devices |
US5440515A (en) * | 1994-03-08 | 1995-08-08 | Motorola Inc. | Delay locked loop for detecting the phase difference of two signals having different frequencies |
US5440514A (en) * | 1994-03-08 | 1995-08-08 | Motorola Inc. | Write control for a memory using a delay locked loop |
TW367656B (en) * | 1994-07-08 | 1999-08-21 | Hitachi Ltd | Semiconductor memory device |
US5796673A (en) * | 1994-10-06 | 1998-08-18 | Mosaid Technologies Incorporated | Delay locked loop implementation in a synchronous dynamic random access memory |
JP3592386B2 (ja) * | 1994-11-22 | 2004-11-24 | 株式会社ルネサステクノロジ | 同期型半導体記憶装置 |
US5666322A (en) * | 1995-09-21 | 1997-09-09 | Nec Electronics, Inc. | Phase-locked loop timing controller in an integrated circuit memory |
WO1997040576A1 (en) * | 1996-04-25 | 1997-10-30 | Credence Systems Corporation | Frequency multiplier |
JP3612634B2 (ja) * | 1996-07-09 | 2005-01-19 | 富士通株式会社 | 高速クロック信号に対応した入力バッファ回路、集積回路装置、半導体記憶装置、及び集積回路システム |
US5815427A (en) * | 1997-04-02 | 1998-09-29 | Micron Technology, Inc. | Modular memory circuit and method for forming same |
US5818788A (en) * | 1997-05-30 | 1998-10-06 | Nec Corporation | Circuit technique for logic integrated DRAM with SIMD architecture and a method for controlling low-power, high-speed and highly reliable operation |
JPH11205102A (ja) * | 1998-01-13 | 1999-07-30 | Mitsubishi Electric Corp | 遅延同期回路 |
US6005426A (en) * | 1998-05-06 | 1999-12-21 | Via Technologies, Inc. | Digital-type delay locked loop with expanded input locking range |
US6043694A (en) * | 1998-06-24 | 2000-03-28 | Siemens Aktiengesellschaft | Lock arrangement for a calibrated DLL in DDR SDRAM applications |
-
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-
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- 1999-05-28 JP JP14970199A patent/JP3780748B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6404248B1 (en) | 2000-09-26 | 2002-06-11 | Nec Corporation | Delay locked loop circuit for synchronizing internal supply clock with reference clock |
JP2003347908A (ja) * | 2002-05-21 | 2003-12-05 | Hynix Semiconductor Inc | デューティサイクル修正が可能なデジタルdll装置及びデューティサイクル修正方法 |
JP2004220602A (ja) * | 2003-01-10 | 2004-08-05 | Hynix Semiconductor Inc | デューティ補正回路を備えたアナログ遅延固定ループ |
JP2010081627A (ja) * | 2009-11-09 | 2010-04-08 | Fujitsu Ltd | 遅延ロックループ回路 |
JP4553062B2 (ja) * | 2009-11-09 | 2010-09-29 | 富士通株式会社 | 遅延ロックループ回路 |
JP2011228958A (ja) * | 2010-04-20 | 2011-11-10 | Fujitsu Ltd | 集積回路及び位相制御方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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GB2337881A (en) | 1999-12-01 |
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