JP2000059220A - アナログ/ディジタル変換器制御方法 - Google Patents

アナログ/ディジタル変換器制御方法

Info

Publication number
JP2000059220A
JP2000059220A JP10219339A JP21933998A JP2000059220A JP 2000059220 A JP2000059220 A JP 2000059220A JP 10219339 A JP10219339 A JP 10219339A JP 21933998 A JP21933998 A JP 21933998A JP 2000059220 A JP2000059220 A JP 2000059220A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
control signal
reference voltage
conversion
converter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10219339A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuki Nishiuchi
泰樹 西内
Yuji Kitaguchi
裕次 北口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd, Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Priority to JP10219339A priority Critical patent/JP2000059220A/ja
Priority to US09/228,645 priority patent/US6181269B1/en
Publication of JP2000059220A publication Critical patent/JP2000059220A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/34Analogue value compared with reference values
    • H03M1/38Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
    • H03M1/46Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter
    • H03M1/462Details of the control circuitry, e.g. of the successive approximation register

Abstract

(57)【要約】 【課題】 逐次比較方式のA/D変換における変換時間
を短縮して、A/D変換器の高速化がはかれるA/D変
換器の制御方法を実現する。 【解決手段】 分周比の異なる信号CKおよびCK’に
基づいて生成した複数種類のタイミング信号CまたはT
ZSの一方を選択することによって、制御信号TZ1の
周期を各比較区間T1〜T4毎に変更可能とし、周期変
更が行われた制御信号に従って、参照電圧VREFと入
力電圧VINとの比較を行うようことにより、前回の参
照電圧と今回の参照電圧との差が大きく、参照電圧の安
定までに時間を要する比較区間T2以外では、制御信号
の周期を短縮するようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、アナログ/ディ
ジタル変換器(以下、A/D変換器という)を制御する
A/D変換器制御方法に関し、特に半導体基板上に形成
されて、半導体集積回路に構成されるA/D変換器制御
方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図38は例えば特開平1−321728
号公報に示された、従来のA/D変換器の制御方法が適
用される逐次変換方式によるA/D変換器の構成を示す
ブロック図である。図において、1はキャパシタ、2は
インバータであり、3はこのキャパシタ1とインバータ
2で構成されたチョッパ形コンパレータから出力される
信号(以下、信号COMPという)を保持する逐次近似
レジスタである。4はラダー抵抗であり、5,6はこの
ラダー抵抗4の両端に当該A/D変換器で変換可能な最
大電圧に等しい基準電圧Vを印加するための端子、7は
逐次近似レジスタ3の出力データに対応した参照電圧V
REFをラダー抵抗4より選択するスイッチ群である。
なお、このラダー抵抗4とスイッチ群7とは、インバー
タ2からの信号COMPをディジタル/アナログ変換
(以下、D/A変換という)するためのD/A変換器と
して機能している。なお、8は入力電圧VINが入力さ
れる入力端子である。
【0003】また、9,10,11は半導体スイッチで
あり、スイッチ群7から出力される参照電圧VREFは
この半導体スイッチ9を介して、入力端子8から入力さ
れた入力電圧VINは半導体スイッチ10を介して、そ
れぞれキャパシタ1に印加される。12はこれら各半導
体スイッチ9〜11のオン/オフのタイミング信号、お
よび逐次近似レジスタ3からスイッチ群7へのデータ送
出タイミングを制御するタイミングクロック(以下、信
号TZという)を発生させるA/Dクロック発生ブロッ
クである。なお、このA/Dクロック発生ブロック12
の存在は、特開平1−321728号公報には特に明示
されてはいない。
【0004】次に動作について説明する。図39は従来
のA/D変換器制御方法による、上記図38に示された
A/D変換器の動作を説明するためのタイミングチャー
トである。ここで、この図39は入力電圧VINとし
て、基準電圧Vの0.3125倍の電圧が入力端子8よ
り入力されている場合について例示したものである。ま
ず、A/Dクロック発生ブロック12の発生するタイミ
ング信号にて半導体スイッチ9をオフにする。その後、
A/Dクロック発生ブロック12より逐次近似レジスタ
3ヘ送られるタイミングクロックとしての信号TZがハ
イレベル(以下、Hと表記する)になると、逐次近似レ
ジスタ3の保持している値がスイッチ群7に出力され
る。逐次近似レジスタ3からは、最初にたとえば16進
の「8h 」が出力されるようになっているため、その値
によって制御されたスイッチ群7からは、ラダー抵抗4
が基準電圧Vを分圧した電圧1/2Vが参照電圧VRE
Fとして選択される。
【0005】A/Dクロック発生ブロック12は次に、
半導体スイッチ11をオンにしてインバータ2の入力側
と出力側を同電位にする。なお、この電位はインバータ
2の入出力特性で定まる。次いで半導体スイッチ10を
オンにして、入力端子VINでキャパシタ1を充電す
る。その後、半導体スイッチ10と半導体スイッチ11
を順次オフさせ、信号TZがローレベル(以下、Lと表
記する)になると、さらに半導体スイッチ9をオンにす
る。この半導体スイッチ9のオンによりスイッチ群7の
出力する参照電圧VREFがキャパシタ1に与えられて
入力電圧VINと比較される。
【0006】ここで、インバータ2においては、入力電
圧VINが1/2Vよりも低い場合にはその出力は
「0」になり、入力電圧VINが1/2V以上の場合に
はその出力は「1」になる。この場合、入力電圧VIN
が0.3125Vで参照電圧VREFが1/2Vである
ため、インバータ2より出力される信号COMPは
「0」となり、逐次近似レジスタ3に送られて保持され
る。
【0007】次に、A/Dクロック発生ブロック12の
発生するタイミング信号により半導体スイッチ9を再度
オフにする。その後、信号TZがHになると、逐次近似
レジスタ3は保持している値をスイッチ群7に送出す
る。ここで、VIN<1/2Vであったため、その値に
よって制御されるスイッチ群7は、ラダー抵抗4が基準
電圧Vを分圧した1/4Vを選択して参照電圧VREF
として出力する。次いで半導体スイッチ11をオンにし
てインバータ2の入力側と出力側を同電位にした後、半
導体スイッチ10をオンにしてキャパシタ1を充電す
る。
【0008】その後、半導体スイッチ9をオンさせて、
スイッチ群7からの参照電圧VREFをキャパシタ1に
与え、入力電圧VINと比較する。この場合、入力電圧
VINが0.3125Vで参照電圧VREFが1/4V
であるため、VIN>1/4Vとなって、インバータ2
より出力される信号COMPは「1」となる。この信号
COMPは逐次近似レジスタ3に送られて保持される。
以下、同様の制御動作が繰り返され、入力電圧VINの
0.3125Vが参照電圧VREFとしての3/8V、
5/16Vと逐次比較され、逐次近似レジスタ3にはそ
の都度、そのときの信号COMPが保持される。
【0009】次に、A/Dクロック発生ブロック12に
て出力される信号TZについて説明する。図40にA/
Dクロック発生ブロック12の構成例を示す。ここで、
A/D制御信号発生回路102にて逐次近似レジスタ1
2に供給する信号TZを作っている。分周器101は当
該A/D変換器に供給される源発振周波数である信号C
Kを分周して、A/D制御信号発生回路102を制御す
る信号CK’を生成している。
【0010】次に、図32に分周器101の構成例を示
す。ここで、ENABLE信号はA/D変換時に有効と
なる信号である。当該A/D変換器はこのENABLE
信号がHになると動作を開始する。分周器101は信号
CKを分周することによって生成した信号CK’をA/
D制御信号発生回路102に送る。なお、このA/D制
御信号発生回路102は図33に示すように、それぞれ
2つずつのラッチA103とラッチC104とを備えて
いる。
【0011】図34にラッチA103の構成例を、図3
5にラッチC104の構成例をそれぞれ示す。これらの
ラッチA103、ラッチC104を用いて、信号TZの
生成を行っている。また図41には、このA/Dクロッ
ク発生ブロック12における信号TZの生成動作のタイ
ミングチャートを示す。
【0012】ここで、ENABLE信号がLのときには
当該A/D変換器は動作を開始せず、図39に示す比較
区間T1においてHに変化するとその動作を開始する。
比較区間T1にてENABLE信号がHになると、信号
CK’のタイミングに応じて、図33のa,b,c,
d,eの各点より信号出力を得る。ここで生成される信
号TZは、周期が一定のタイミングクロックであり、a
点の信号の反転信号である。この周期が一定であるタイ
ミングクロックにより、当該A/D変換器は制御されて
いる。
【0013】次に、図38の逐次近似レジスタ3につい
て説明する。当該逐次近似レジスタ3は、A/Dクロッ
ク発生ブロック12の発生する周期一定の信号TZによ
り制御されている。図36にこの逐次近似レジスタ3の
構成例を示す。ここで、シフトレジスタ105(第2ビ
ット以下はシフトレジスタA106)はA/D変換結果
をどのデータラッチ107に格納するかを制御するもの
である。また比較結果出力部108はデータラッチ10
7に格納したデータ1S〜3Sを、データバスを介し読
み出す制御を行う機能を有している。
【0014】なお、このシフトレジスタ105およびシ
フトレジスタA106の動作タイミングを図37に示
す。図37のタイミングチャートにおいて、図36に示
すシフトレジスタ105の出力信号1S、およびシフト
レジスタA106の出力信号の2S〜4SがHの時が、
それに対応したデータラッチ107にデータを格納可能
とするための制御信号である。
【0015】ここで、このような従来の逐次比較型のA
/D変換器の制御方法に関連する記載がある文献として
は、この他にも、キャパシタの入力スイッチのオン期間
を選択的に調整して変換精度を向上させた特開平2−1
59814号公報、キャパシタの初期充電時間を比較時
間とは独立に可変設定して高速化をはかった特開平8−
288847号公報、キャパシタの充電時定数を切り換
えて変換時間を短縮した特開平6−120828号公
報、キャパシタを予備充電することによって高速化をは
かった特開平9−321624号公報などもある。ま
た、スイッチング比較器としては、特開昭64−659
28号公報、特開昭62−298230公報などがあ
る。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】従来のA/D変換器制
御方法は以上のように構成されているので、半導体スイ
ッチ9〜11の制御信号および逐次近似レジスタ3ヘの
信号TZには、周期一定のクロックが使用され、A/D
変換時間は、チャージに一番時間がかかる時の時間と、
比較に一番時間がかかる時の時間の和にビット数を乗算
した値によって決定される。ここで、入力電圧VINは
初回充電に最も長い時間が必要であり、それが上記チャ
ージに一番時間がかかる時に対応する。さらに、前回の
参照電圧と、今回の参照電圧との差が大きい程、参照電
圧の安定に要する時間には長い時間が必要であり、それ
が上記比較に一番時間がかかる時に対応する。なお、ラ
ダー抵抗4を用いて参照電圧を発生させている場合(例
えば、10ビットA/D変換器の1:8方式等)には、
出力電圧が上位用から下位用に切り替わるときの切り替
え動作後における参照電圧の安定に長い時間が必要とな
る。このように、A/D変換時間はチャージに一番時間
がかかる時の時間と、比較に一番時間がかかる時の時間
とによって決定されるため、それら以外の時にはA/D
変換時間に無駄が生じるという課題があった。
【0017】なお、このようなA/D変換器の変換時間
を短縮するために、従来より、チョッパアンプの応答速
度の高速化、源発振の周波数をあげる、ラダー抵抗4の
抵抗値を小さくする、チョッパアンプ部の容量を小さく
する、比較器を複数備えるなどの手法が採られていた。
【0018】しかしながら、チョッパアンプの応答速度
を高速にして変換時間を短縮する場合には、チョッパア
ンプのトランジスタサイズを大きく設計する必要がある
ため消費電流が増える、チョッパアンプは応答速度が速
いと過敏に反応するためノイズの影響を受けやすくなっ
て変換精度に悪影響を与える、ノイズの影響を受けやす
くなるため、その影響をおさえるためのレイアウトパタ
ンの配置、あるいは構造の変更が必要となり、レイアウ
トパタンの面積が大きくなる、動作ノイズが大きくな
る、チョッパアンプを構成する素子のサイズが大きくな
り、レイアウトパタンの面積が増える、消費電流が増え
ることにより、その増加分の電流を流すために、電源配
線の配線幅を太くする必要があり、レイアウトパタンの
面積が増える、などといった種々の課題があった。
【0019】また、源発振の周波数を高くして変換時間
を短縮する場合には、逐次比較方式ではチャージタイム
以上に源発振周波数を高くするとができず、ラダー抵抗
4の値を小さくして変換時間を短縮する場合には、ラダ
ー抵抗4に流れる電流が増加して消費電流が増加すると
いう課題があり、チョッパアンプ部の容量(図38のキ
ャパシタ1)を小さくして変換時間を短縮する場合に
は、プロセス上の微細化技術の限界があり、寄生容量も
無視できなくなるなどの課題があり、複数の比較器を用
いて変換時間を短縮する場合には、レイアウト面積およ
び消費電流が増え、比較器間のマッチングをとる必要が
生じ、さらに制御回路が複雑になるなどの課題があっ
た。
【0020】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、A/D変換における高速化を、上
記のような従来の高速化技術とは全く異なる方法にて実
現することで、逐次比較方式の変換時間を短縮し、A/
D変換の高速化がはかれるA/D変換器制御方法を得る
ことを目的とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】この発明に係るA/D変
換器制御方法は、各比較区間毎に制御信号の周期を変更
可能とし、参照電圧と入力電圧との比較を、その周期変
更を行った制御信号を用いて行うようにしたものであ
る。
【0022】この発明に係るA/D変換器制御方法は、
分周比の異なる信号に基づいて生成した複数種類のタイ
ミング信号の1つをその比較区間の制御信号として選択
することにより、制御信号の周期を比較区間毎に変更す
るようにしたものである。
【0023】この発明に係るA/D変換器制御方法は、
タイマを用いて制御信号の周期を比較区間毎に変更する
ようにしたものである。
【0024】この発明に係るA/D変換器制御方法は、
ソフトウェアを用いて制御信号の周期を比較区間毎に変
更するようにしたものである。
【0025】この発明に係るA/D変換器制御方法は、
各比較区間毎に制御信号のデューティを変更可能とし、
参照電圧と入力電圧との比較を、そのデューティが変更
を行った制御信号を用いて行うようにしたものである。
【0026】この発明に係るA/D変換器制御方法は、
ソフトウェアを用いて制御信号のデューティを比較区間
毎に変更するようにしたものである。
【0027】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明によるA/D変換器制御
方法が適用される、逐次変換方式によるA/D変換器の
構成を示すブロック図であり、ここでは変換ビット数が
4ビットのものを例示している。図において、1は参照
電圧VREFと入力電圧VINとの比較を行うチョッパ
形コンパレータを形成するキャパシタであり、2はこの
キャパシタ1の一端がその入力側に接続されて、当該キ
ャパシタ1とともに前記チョッパ形コンパレータを形成
するインバータである。3はこのチョッパ形コンパレー
タを構成しているインバータ2から出力される信号CO
MPによってセット/リセットされる、4ビット構成の
逐次近似レジスタである。
【0028】4は同一の抵抗値を持つ複数(4ビットA
/D変換器では16個)の抵抗が直列に接続されたラダ
ー抵抗であり、5および6はこのラダー抵抗4の両端に
印加される、当該A/D変換器によって変換可能な最大
電圧に等しい基準電圧Vが与えられる端子である。7は
ラダー抵抗4を構成している各抵抗の接続点に接続され
て、逐次近似レジスタ3の出力するデータによって制御
される複数(4ビットA/D変換器の場合15個)のス
イッチよりなり、ラダー抵抗4の各抵抗によって分圧さ
れた電圧値を選択して、それを参照電圧VREFとして
出力するスイッチ群である。なお、このラダー抵抗4と
スイッチ群7とは、インバータ1の出力する信号COM
PをD/A変換して参照電圧VREFを出力するD/A
変換部として機能している。
【0029】また、8は当該A/D変換器によってディ
ジタルデータに変換されるアナログの入力電圧VINが
入力される入力端子である。9はスイッチ群7から出力
される参照電圧VREFをキャパシタ1に印加するため
の、例えば電界効果トランジスタアナログスイッチなど
による半導体スイッチであり、10は入力端子8より入
力された入力電圧VINをキャパシタ1に印加するため
の同様の半導体スイッチである。11はインバータ2の
入力側と出力側とを短絡して、キャパシタ1の充電を可
能にするための同様の半導体スイッチである。
【0030】13はこれら半導体スイッチ9、半導体ス
イッチ10および半導体スイッチ11をオン/オフさせ
るためのタイミング信号を発生するとともに、逐次近似
レジスタ3に格納されたデータのスイッチ群7への送出
タイミングを指定するための制御信号(以下、信号TZ
1という)を発生するA/D制御信号発生ブロックAで
ある。
【0031】次に動作について説明する。ここで、図2
はこの実施の形態1のA/D変換器制御方法による、図
1に示したA/D変換器の動作を説明するためのタイミ
ングチャートである。なお、この図2は、入力端子8に
基準電圧Vの0.3125倍の電圧0.3125Vを入
力電圧VINとして印加し、それをA/D変換する場合
について例示したものである。
【0032】A/D変換を開始するにあたって、A/D
制御信号発生ブロックA13は従来のA/D変換器制御
方法におけるA/Dクロック発生ブロック12と同様
に、タイミング信号を発生して、まず半導体スイッチ9
をオフにする。その後、逐次近似レジスタ3に対して
も、それが保持しているディジタルデータをスイッチ群
7に送出させるためのタイミングを示す信号TZ1を与
える。第1ビット変換のための参照電圧VREFと入力
電圧VINの比較を行う比較区間T1においては、逐次
近似レジスタ3にはディジタルデータとしてたとえば1
6進の「8h 」があらかじめ与えられている。ここで、
ラダー抵抗4に印加された基準電圧Vはその16個の抵
抗によって16等分されており、スイッチ群7は逐次近
似レジスタ3から送られてきたこの「8h 」のデータに
て制御されて、その15個のスイッチ中の8番目のスイ
ッチを閉じ、ラダー抵抗4の分圧した電圧値1/2Vの
電圧を参照電圧VREFとして出力する。
【0033】A/D制御信号発生ブロックA13は次に
発生するタイミング信号によって半導体スイッチ11を
オンにし、さらに半導体スイッチ10をオンにする。半
導体スイッチ11がオンになるとインバータ2の入力側
と出力側が短絡されて、当該インバータ2の入出力特性
によって定まる同一の電位V0 となり、それがキャパシ
タ1の一端に印加される。その後、半導体スイッチ11
がオンすることで、キャパシタ1の他端には入力端子8
に入力された入力電圧VINが印加され、キャパシタ1
はこの入力電圧VINと前記電位V0 との電位差によっ
て充電される。キャパシタ1が充電されると、A/D制
御信号発生ブロックA13は次のタイミング信号を発生
させて、半導体スイッチ10をオフさせ、引き続いて半
導体スイッチ11をオフさせる。
【0034】その後、A/D制御信号発生ブロックA1
3は次のタイミング信号を発生させて半導体スイッチ9
をオンにし、そのときスイッチ群7より出力されている
参照電圧VREFをこの半導体スイッチ9を介してキャ
パシタ1に印加する。これによって、この参照電圧VR
EFと入力電圧VINとの比較が行われる。なお、この
場合、参照電圧VREFが1/2Vで入力電圧VINが
0.3125Vであり、VIN<VREFであるため、
インバータ2の出力値は「0」となる。このインバータ
2の出力値「0」は信号COMPとして逐次近似レジス
タ3に送られる。この信号COMPを受け取った逐次近
似レジスタ3は、保持しているディジタルデータの値を
16進の「8h 」から「4h 」に変更して保持しなお
す。
【0035】次に、A/D制御信号発生ブロックA13
は次のタイミング信号を発生させて半導体スイッチ9を
オフさせた後、逐次近似レジスタ3に対して保持してい
るディジタルデータをスイッチ群7に転送させる。スイ
ッチ群7は逐次近似レジスタ3から送られてきたディジ
タルデータによって制御され、ラダー抵抗4が基準電圧
Vを分圧した電圧値の内から、その値「4h 」に対応し
た電圧値1/4Vを選択し、それを参照電圧VREFと
して出力する。その後半導体スイッチ11をオンにして
インバータ2の入力側と出力側を同電位にし、さらに半
導体スイッチ10をオンにしてキャパシタ1を充電す
る。
【0036】次に、A/D制御信号発生ブロックA13
からのタイミング信号にて半導体スイッチ9をオンにす
る。これにより、スイッチ群7からの参照電圧VREF
がキャパシタ1に与えられ、入力電圧VINと比較され
る。この場合、入力電圧VINが0.3125Vで参照
電圧VREFが1/4Vであるため、VIN>1/4V
となって、インバータ2より出力される信号COMPは
「1」となる。この信号COMPは逐次近似レジスタ3
に送られ、逐次近似レジスタ3は保持しているディジタ
ルデータの値を16進の「4h 」から「6h 」に変更し
て保持しなおす。以下、同様の制御動作が繰り返され、
入力電圧VINの0.3125Vが参照電圧VREFと
しての3/8V、5/16Vと逐次比較され、逐次近似
レジスタ3にはその都度、そのときの信号COMPが送
られる。このようにして、逐次近似レジスタ3には最終
的に、比較結果として16進の「5h 」が保持され、こ
れが当該A/D変換器の変換結果として出力される。
【0037】ここで、上記A/D変換を行うためには、
図2に示す比較区間T2ではチャージ時間に一番時間を
必要とするが、この比較区間T2以外の比較区間T1,
T3,T4ではチャージ時間は短くてすむ。従って、他
の比較区間T1,T3,T4の周期を短くすれば、A/
D変換時間を短縮することが可能になる。この実施の形
態1においては、以下に説明する方法によって、この比
較区間T2以外の周期を変更し、A/D変換時間の短縮
を可能にした。
【0038】すなわち、この実施の形態1では、比較区
間T2以外の周期を、比較区間T2の周期の1/2とし
ている。なお、ここでは比較区間T2以外の周期を比較
区間T2の1/2周期としているが、これは説明を分か
り易くするためのものであり、特にこの周期にこだわる
必要はない。重要となるのは、周期を可変可能にするた
めの手法と、可変するための方法である。
【0039】まず、図1に示した、A/D制御信号発生
ブロックA13の出力する信号TZ1について説明す
る、図3にA/D制御信号発生ブロックA13の構成例
を示す。このA/D制御信号発生ブロックA13は図示
のように、分周器101、2つのA/D制御信号発生回
路102、およびA/D制御信号制御回路109によっ
て構成されている。
【0040】次に、その分周器101の構成例を図32
に示す。ここで、ENABLE信号はA/D変換時に有
効となる信号である。当該A/D変換器はこのENAB
LE信号がHになると動作を開始する。分周器101は
当該A/D変換器に供給される源発振周波数である信号
CKを分周して信号CK’を生成し、それをA/D制御
信号発生回路102に送る。A/D制御信号発生回路1
02では、分周器101が信号CKを分周して生成した
信号CK’より、従来の信号TZと同等のタイミング信
号である信号Cを生成する。
【0041】なお、このA/D制御信号発生回路102
は図33に示すように、それぞれ2つずつのラッチA1
03とラッチC104とを備えている。このラッチA1
03の構成例を図34に、ラッチC104の構成例を図
35に示す。A/D制御信号発生回路102はこれら2
種類のラッチA103、およびラッチC104を用いて
信号Cを生成している。
【0042】また信号TZSは、A/D制御信号発生回
路102の制御によって、信号CKから直接作成された
タイミング信号であり、この信号TZSは分周器101
で分周されていない分だけ、従来の信号TZに比べてそ
の周期は短く(1/2)なっている。
【0043】なお、この図3に示すA/D制御信号発生
ブロックA13の出力として、信号Cあるいは信号TZ
Sのどちらの信号を制御信号として使用するかは、A/
D制御信号制御回路109にて切り替えを行う。この切
り替えに使用する切り替え信号には、逐次近似レジスタ
3がその内部のシフトレジスタA106より出力するシ
フトレジスタの出力信号2Sを用いる。
【0044】次に、この逐次近似レジスタ3について説
明する。当該逐次近似レジスタ3は図38に同一符号を
付して示したものと基本的には同等に構成されたもの
で、A/D制御信号発生ブロックA13の発生する信号
TZ1を制御信号として制御される。図36にこの逐次
近似レジスタ3の構成例を示す。ここで、シフトレジス
タ105、およびシフトレジスタA106はA/D変換
結果をどのデータラッチ107に格納するかを制御する
ものである。
【0045】なお、シフトレジスタ105は第1ビット
用のシフトレジスタであり、図4に示すように、入力信
号として外部からの信号ではなく、内部信号が入力され
るように構成されている。また、シフトレジスタA10
6は第2ビット〜第4ビット用のシフトレジスタであ
り、図5に示すように、入力信号として上位のシフトレ
ジスタの出力する外部からの出力信号が入力されるよう
に構成されている。これらシフトレジスタ105および
シフトレジスタA106は、A/D制御信号発生ブロッ
クA13からの信号TZ1によって制御されている。
【0046】このシフトレジスタ105およびシフトレ
ジスタA106の動作タイミングを図37に示す。図3
7のタイミングチャートにおいて、図36に示すシフト
レジスタ105の出力信号1S、およびシフトレジスタ
A106の出力信号2S〜4SがHのときが、それに対
応したデータラッチ107にデータを格納可能とするた
めの制御信号である。
【0047】また、データラッチ107はA/D変換結
果を保持するものであり、図6にその構成例を、図7に
その動作タイミングをそれぞれ示す。シフトレジスタ1
05あるいはシフトレジスタA106からの出力信号1
S〜4SがHであるデータラッチ107において、A/
D制御信号発生ブロックA13からの信号TZ1がHか
らLに変化すると、インバータ2より出力された信号C
OMPの値が確定されて保持される。なお、比較結果出
力部108はREAD信号に応じて、データラッチ10
7に保持されたデータをデータバスを介して読み出す制
御を行う機能を有するものである。
【0048】これらシフトレジスタ105(シフトレジ
スタA106)、データラッチ107、および比較結果
出力部108はそれぞれ、当該A/D変換器の変換ビッ
ト数分だけ用意されている。例えば、変換ビット数が4
ビットのA/D変換器の場合には、それらが4つずつ設
けられている。
【0049】次に、逐次近似レジスタ3からの出力信号
2Sによる、A/D制御信号発生ブロックA13の切り
替え動作について、図8のタイミングチャートに基づい
て説明する。逐次近似レジスタ3のシフトレジスタA1
06より出力される出力信号2SがLであれば、分周器
101で分周された信号CK’に基づいて作成された信
号Cが選択される。また当該出力信号2SがHであれ
ば、信号CKより直接作成された信号TZSが選択され
て、信号TZ1はその比較区間において周期が1/2に
変更される。このようにして作成した信号TZ1をA/
D変換の制御信号として逐次近似レジスタ3に入力す
る。
【0050】このようにして、チャージに一番時間を要
する比較区間T2の周期を、従来の場合と同等の周期と
し、それよりもチャージ時間が短くてすむ比較区間T
1,T3,T4においては、周期を1/2に短縮してい
る。
【0051】以上のように、この実施の形態1によれ
ば、逐次変換方式のA/D変換において、比較区間T
1,T3,T4の周期を短くし、前回の参照電圧と今回
の参照電圧との差が大きいため、参照電圧の安定に時間
を要する比較区間T2においてのみ、それよりも長い周
期にしているので、比較時間の最適化がはかれ、A/D
変換器の高速化を実現できるなどの効果が得られる。な
お、この場合の変換時間の短縮率は、 変換時間 = 比較区間T1+比較区間T2+比較区間T
3+比較区間T4 より、従来の場合は、 変換時間 = 4T この実施の形態1の場合は、 変換時間 = 1/2T*3 + T = 5/2T となり、従来の変換時間に比べて37.5%の時短がは
かれる。
【0052】実施の形態2.上記実施の形態1において
は、信号CKを分周した信号CK’から生成した信号
C、または信号CKから直接生成した信号TZSの一方
を、該当比較区間の制御信号(信号TZ1)として選択
することで、制御信号の周期を変更可能としたものにつ
いて説明したが、制御信号の周期の変更をタイマを用い
て行うようにしてもよい。図9は、そのようなこの発明
の実施の形態2によるA/D変換器制御方法が適用され
る逐次変換方式によるA/D変換器の構成を示すブロッ
ク図であり、相当部分には図1と同一の符号を付してそ
の説明を省略する。
【0053】図において、14は半導体スイッチ9、半
導体スイッチ10および半導体スイッチ11をオン/オ
フするためのタイミング信号を発生するとともに、逐次
近似レジスタ3に格納されたデータのスイッチ群7への
送出のタイミングを指定するための制御信号(以下、信
号TZ2という)を発生するA/D制御信号発生ブロッ
クBである。なお、このA/D制御信号発生ブロックB
14は、当該A/D変換器の外部に配置されたTTZ信
号発生回路がタイマを用いて生成した信号TTZに基づ
いて、上記タイミング信号および信号TZ2を生成する
ものである。
【0054】次に動作について説明する。ここで、図1
0はこの実施の形態2のA/D変換器制御方法による、
図9に示したA/D変換器の動作を説明するためのタイ
ミングチャートであり、基本的な動作は実施の形態1の
場合と同様である。なお、この場合も、入力電圧VIN
として基準電圧Vの0.3125倍の電圧を入力端子8
に印加し、それを4ビットでA/D変換する場合につい
て例示している。
【0055】まず、信号TTZが外部より入力される。
この信号TTZは当該A/D変換器の制御信号である信
号TZ2を生成するための信号である。この信号TTZ
は図11に示す様に、タイマ111のタイマ出力として
の信号TS1〜TS3を切り替え回路110において切
り替え制御することで得られた信号であり、それが信号
TTZとして図9に示したA/D変換器に供給される。
ここで、この信号TTZを生成するTTZ信号生成回路
のタイマ111は図11に示すように、信号TS1を発
生するタイマA112、信号TS2を発生するタイマB
113、および信号TS3を発生するタイマC114に
よって構成されている。このタイマ111のタイマA1
12、タイマB113、およびタイマC114からのタ
イマ出力は、信号TS1〜TS3として切り替え回路R
31に送られる。
【0056】ここで、このタイマ111の、各タイマA
112〜タイマC114の機能およびカウント回数の設
定値を図12に示す。図示のように、タイマA112は
カウント回数として「2」が設定され、ダウンカウント
によるタイマカウントを繰り返し行って、アンダーフロ
ーの度にアンダーフロー信号を出力する機能を有するも
のである。タイマB113はカウント回数として「4」
が設定され、ダウンカウントによるタイマカウントを行
ってアンダーフローが発生すると、1回だけアンダーフ
ロー信号を出力する機能を有するものである。タイマC
114はタイマA112と同等の機能を有し、カウント
回数として「6」が設定されたものである。
【0057】次に、このTTZ信号発生回路の動作タイ
ミングを図13に示す。タイマ111の各タイマA11
2〜タイマC114は、上記図12で説明したそれぞれ
の機能に従ってタイマクロックのカウントを行い、タイ
マA112は信号TS1を、タイマB113は信号TS
2を、タイマC114は信号TS3をそれぞれ発生して
切り替え回路110に入力する。切り替え回路110は
ENABLE信号がHになると、上記信号TS1と信号
TS2の排他的論理和をとって信号TS12を生成す
る。次にこの生成された信号TS12と信号TS3の排
他的論理和をとって信号TTZを生成し、それをA/D
変換器に供給する。
【0058】A/D変換器ではその信号TTZをA/D
制御信号発生ブロックB14に入力する。A/D制御信
号発生ブロックB14ではその信号TTZに基づいて、
図10に示した、逐次近似レジスタ3への制御信号であ
る信号TZ2と、半導体スイッチ9〜11のオン/オフ
を制御するためのタイミング信号とを発生する。なお、
上記信号TZ2はTTZ信号発生回路から受け取った信
号TTZと同一のものであってもよい。
【0059】このように、この実施の形態2では、逐次
近似レジスタ3への制御信号(信号TZ2)の周期を変
更するのにタイマ111を用いることを特徴とする。こ
のタイマ111に設定する値はソフトウェアにて変更可
能であるため、制御信号の周期をソフトウェアで自由に
変更することができる。この実施の形態2においては実
施の形態1の場合と同様に、比較区間T2における制御
信号(信号TZ2)の周期を従来のそれと同等にし、比
較区間T1,T3,T4の周期は従来の周期の1/2と
した例を示している。
【0060】なお、ここではタイマを複数備えた例を示
したが、リロードレジスタを複数備えた1つのタイマを
用いることによっても同様の効果が得られる。また、切
り替え回路はなくてもよい。さらに、ここではタイマを
備えた例を示したが、PWMを備えても同様な効果が得
られる。
【0061】以上のように、この実施の形態2にれば、
タイマによって各比較区間T1〜T4の周期を変更可能
にしているので、実施の形態1の場合と同様に、逐次変
換方式のA/D変換において、比較区間T1,T3,T
4の周期を短くし、前回の参照電圧と今回の参照電圧と
の差が大きいため、参照電圧の安定に時間を要する比較
区間T2においてのみ、それよりも長い周期にすること
が可能となって、比較時間の最適化がはかれ、A/D変
換器の高速化を実現できるなどの効果が得られる。な
お、この場合の変換時間の短縮率は、 変換時間 = 比較区間T1+比較区間T2+比較区間T
3+比較区間T4 より、従来の場合は、 変換時間 = 4T この実施の形態2の場合は、 変換時間 = 1/2T*3 + T = 5/2T となり、従来の変換時間に比べて37.5%の時短がは
かれる。
【0062】実施の形態3.上記実施の形態1および実
施の形態2においては、逐次近似レジスタ3の制御信号
の周期を変更可能としたものについて説明したが、当該
制御信号のデューティを変更するようにしてもよい。図
14は、そのようなこの発明の実施の形態3によるA/
D変換器制御方法が適用される逐次変換方式によるA/
D変換器の構成を示すブロック図であり、相当部分には
図1と同一の符号を付してその説明を省略する。
【0063】図において、15は半導体スイッチ9、半
導体スイッチ10および半導体スイッチ11をオン/オ
フするためのタイミング信号を発生するとともに、逐次
近似レジスタ3に格納されたデータのスイッチ群7への
送出のタイミングを指定するための制御信号(以下、信
号TZ3という)を発生するA/D制御信号発生ブロッ
クCである。なお、このA/D制御信号発生ブロックC
15は、逐次近似レジスタ3のシフトレジスタからの出
力信号4Sに基づいて、上記タイミング信号および信号
TZ3を生成するものである。
【0064】次に動作について説明する。ここで、図1
5にこの実施の形態3のA/D変換器制御方法による、
図14に示したA/D変換器の動作タイミングを示して
いる。この場合も、基本的な動作は実施の形態1の場合
と同様であり、入力電圧VINとして基準電圧Vの0.
3125倍の電圧を入力端子8に印加し、それをA/D
変換する場合について例示している。なお、この実施の
形態3では、制御信号(TZ3信号)の周期は従来のT
Z信号の2/1に設定されているものとする。
【0065】まず、上記A/D制御信号発生ブロックC
15の動作について説明する。ここで、図16に当該A
/D制御信号発生ブロックC15の動作タイミングを示
し、図17にA/D制御信号発生ブロックC15の構成
例を示す。図17に示すように、このA/D制御信号発
生ブロックC15は、A/D制御信号発生回路102、
A/D制御信号発生回路β115、およびA/D制御信
号制御回路109によって構成されている。A/D制御
信号制御回路109は逐次近似レジスタ3のシフトレジ
スタの出力信号4Sに従って、A/D制御信号発生回路
β115からの信号TZNと、A/D制御信号発生回路
102からの信号TZSのいずれを使用するかを切り替
えて、その一方を信号TZ3として選択し、逐次近似レ
ジスタ3へ出力している。
【0066】すなわち、図16のタイミングチャートに
示すように、逐次近似レジスタ3のシフトレジスタから
の出力信号4SがLの期間は、A/D制御信号発生回路
102から出力されるHの幅が短い信号TZSが選択さ
れて、それが信号TZ3として出力される。一方、上記
出力信号4SがHの期間は、A/D制御信号発生回路β
115から出力されるHの幅が長い信号TZNが選択さ
れて、それが信号TZ3として出力される。このよう
な、デューティの変更が可能な信号TZ3を制御信号と
して用いてA/D変換を行った場合の動作タイミング
を、図15のタイミングチャートに示す。図示のよう
に、比較区間T4の周期においては、信号TZ3のH期
間の幅が信号TZNのH幅に対応して長くなり、制御信
号の最適化がはかられる。
【0067】ここで、上記A/D制御信号発生ブロック
C15を構成している、A/D制御信号発生回路β11
5の構成例を図18に示す。A/D制御信号発生回路β
115は、図33に示したA/D制御信号発生回路10
2のa点の信号、b点の反転信号、およびc点の信号の
ナンド論理により、上記信号TZNを生成している。そ
のときの、これら各信号のタイミングは図19のタイミ
ングチャートに示す通りである。
【0068】以上のように、この実施の形態3によれ
ば、逐次変換方式のA/D変換において、制御信号(信
号TZ3)の周期を従来の信号TZの1/2に設定し、
入力電圧と参照電圧との差が小さいため、長い比較時間
を必要とする比較区間T4の周期においてのみ、デュー
ティを変更することで制御信号のH期間の幅を長くして
いるので、比較時間の最適化がはかれ、A/D変換器の
高速化を実現できるなどの効果が得られる。なお、この
場合の変換時間の短縮率は、 変換時間 = 比較区間T1+比較区間T2+比較区間T
3+比較区間T4 より、従来の場合は、 変換時間 = 4T この実施の形態3の場合は、 変換時間 = 1/2T*4 = 2T となり、従来の変換時間に比べて50.0%の時短がは
かれる。
【0069】実施の形態4.上記実施の形態1では信号
Cと信号TZSの一方を制御信号として選択することで
制御信号の周期を変更可能としたものを、実施の形態2
では、タイマを用いて制御信号の周期の変更を行うもの
を示したが、制御信号の周期の変更をソフトウェアを用
いて行うようにしてもよい。図20は、そのようなこの
発明の実施の形態4によるA/D変換器制御方法が適用
される逐次変換方式によるA/D変換器の構成を示すブ
ロック図であり、相当部分には図1と同一の符号を付し
てその説明を省略する。
【0070】図において、16は半導体スイッチ9、半
導体スイッチ10および半導体スイッチ11をオン/オ
フするためのタイミング信号を発生するとともに、逐次
近似レジスタ3に格納されたデータのスイッチ群7への
送出のタイミングを指定するための制御信号(以下、信
号TZ4という)を発生するA/D制御信号発生ブロッ
クDである。また、17はソフトウェアにてその内容が
設定され、このA/D制御信号発生ブロックD16にて
所定の制御信号(信号TZ4)を発生させるための信号
SSTZを生成する制御信号設定レジスタである。
【0071】ここで、図21には上記A/D制御信号発
生ブロックD16の構成例を、図22には制御信号設定
レジスタ17の構成例をそれぞれ示している。A/D制
御信号発生ブロックD16は、図3にその構成例を示し
た実施の形態1のA/D制御信号発生ブロックA13と
同様に、分周器101、2つのA/D制御信号発生器1
02、およびA/D制御信号制御回路109によって構
成されている。また、制御信号設定レジスタ17は、そ
れぞれが図23にその構成例を示した3つの1ビットレ
ジスタ116と、信号出力制御回路117によって構成
されている。
【0072】次に動作について説明する。ここで、図2
4はこの実施の形態4のA/D変換器制御方法による、
図20に示したA/D変換器の動作を説明するためのタ
イミングチャートであり、基本的な動作は実施の形態1
の場合と同様である。この場合も、入力電圧VINとし
て基準電圧Vの0.3125倍の電圧を入力端子8に印
加し、それをA/D変換する場合について例示してい
る。なお、ここでは、比較区間T3およびT4におい
て、制御信号(信号TZ4)の周期を従来の1/2に変
更した場合について示している。
【0073】図21に示したA/D制御信号発生ブロッ
クD16では、逐次近似レジスタ3への制御信号として
の信号TZ4を、信号CKを分周器101で分周した信
号CK’よりA/D制御信号発生回路102が生成した
信号Cと、信号CKよりA/D制御信号発生回路102
が直接生成した信号TZSの一方を、制御信号設定レジ
スタ17がソフトウェアによる各1ビットレジスタ11
6への設定値と、逐次近似レジスタ3からの出力信号2
S〜4Sとによって生成した信号SSTZに基づいて選
択することによって生成している。
【0074】まず、図22に示した制御信号設定レジス
タ17の1ビットレジスタ116にデータバスより、ソ
フトウェアによるデータの設定が行われる。その際の、
ソフトウェアによるこの制御信号設定レジスタ17への
データの設定例を図25に示す。各々の比較において周
期を任意に変更する場合、この制御信号設定レジスタ1
7の対応した1ビットレジスタ116にHをソフトウェ
アでセットすることにより、該当する比較区間におい
て、逐次近似レジスタ3の制御信号としての信号TZ4
の周期をコントロールすることが可能となる。
【0075】ここで、ソフトウェアによりデータが設定
された制御信号設定レジスタ17の動作タイミングを図
26に示す。信号R2〜R4は各1ビットレジスタ11
6に格納されたデータの出力であり、この値がHであ
り、かつ逐次近似レジスタ3の各シフトレジスタA10
6の出力信号2S、3Sあるいは4Sが値がHの時に、
制御信号設定レジスタ17から出力される信号SSTZ
はHになる。
【0076】次に、この信号SSTZを用いて逐次近似
レジスタ3への信号TZ4を生成する際の動作タイミン
グを図27に示す。ここで、制御信号設定レジスタ17
からの信号SSTZがLの時、A/D制御信号発生ブロ
ックD16はA/D制御信号発生回路102が信号CK
より直接生成した信号TZSを選択する。また信号SS
TZがHの時には、分周器101で分周された信号C
K’からA/D制御信号発生回路102が生成した信号
Cを選択する。そしてそれらによる信号TZ4を該当す
る比較区間の制御信号として逐次近似レジスタ3に出力
する。
【0077】このようにして生成された信号TZ4を、
制御信号として用いてA/D変換を行う場合、図24の
タイミングチャートに示すように、比較区間T3および
比較区間T4の周期においては、制御信号の周期を従来
の1/2に短縮し、比較区間T1および比較区間T2の
周期においては、従来の場合と同等の周期とすること
で、制御信号の最適化をはかっている。なお、この実施
の形態4では、ソフトウェアの設定によって、比較区間
T3およびT4においてのみ、周期を短くするものを示
したが、この発明はこれにのみ限られるものではなく、
そのポイントは、ソフトウェアにて制御信号の周期を自
由に設定することによって、最適な時短を実現可能とし
たところにある。
【0078】以上のように、この実施の形態4によれ
ば、ソフトウェアによって各比較区間T1〜T4の周期
を変更可能にしているので、逐次変換方式のA/D変換
において、比較区間T3およびT4の周期を短くし、前
回の参照電圧と今回の参照電圧との差が大きいため、参
照電圧の安定に時間を要する比較区間T1およびT2に
おいてのみ、それよりも長い周期にすることが可能とな
り、比較時間の最適化がはかれ、A/D変換器の高速化
を実現できるなどの効果が得られる。なお、この場合の
変換時間の短縮率は、 変換時間 = 比較区間T1+比較区間T2+比較区間T
3+比較区間T4 より、従来の場合は、 変換時間 = 4T この実施の形態4の場合は、 変換時間 = 2T + 1/2T*2 = 3T となり、従来の変換時間に比べて25.0%の時短がは
かれる。
【0079】実施の形態5.上記実施の形態4において
は、ソフトウェアにて逐次近似レジスタ3の制御信号の
周期を変更する場合について説明したが、当該制御信号
のデューティをソフトウェアにて変更するようにしても
よい。図28は、そのようなこの発明の実施の形態5に
よるA/D変換器制御方法が適用される逐次変換方式に
よるA/D変換器の構成を示すブロック図であり、相当
部分には図20と同一の符号を付してその説明を省略す
る。
【0080】図において、18は半導体スイッチ9、半
導体スイッチ10および半導体スイッチ11をオン/オ
フするためのタイミング信号を発生するとともに、逐次
近似レジスタ3に格納されたデータのスイッチ群7への
送出のタイミングを指定するための制御信号(以下、信
号TZ5という)を発生するA/D制御信号発生ブロッ
クEである。なお、このA/D制御信号発生ブロックE
18は、ソフトウェアにて、その内容が設定された制御
信号設定レジスタ17からの信号SSTZに基づいて、
上記タイミング信号および信号TZ5を生成するもので
ある。
【0081】また、図29に上記A/D制御信号発生ブ
ロックE18の構成例を示す。A/D制御信号発生ブロ
ックE18は、図17にその構成例を示した実施の形態
3のA/D制御信号発生ブロックC15と同様に、A/
D制御信号発生回路102、A/D制御信号発生回路β
115、およびA/D制御信号制御回路109によって
構成されている。
【0082】次に動作について説明する。ここで、図3
0はこの実施の形態5のA/D変換器制御方法による、
図28に示したA/D変換器の動作を説明するためのタ
イミングチャートであり、基本的な動作は実施の形態3
の場合と同様である。この場合も、入力電圧VINとし
て基準電圧Vの0.3125倍の電圧を入力端子8に印
加し、それをA/D変換する場合について例示してい
る。なお、ここでは、制御信号(信号TZ5)のデュー
ティの変更により、比較区間T3およびT4においてH
期間の幅を長くした場合について示している。
【0083】まず、図29に示したA/D制御信号発生
ブロックE18では、逐次近似レジスタ3に制御信号と
して送る信号TZ5を、A/D制御信号発生回路102
が信号CKより生成した信号TZSと、A/D制御信号
発生回路β115が信号CKより生成した信号TZNの
一方を、制御信号設定レジスタ17がソフトウェアによ
る設定値と、逐次近似レジスタ3の出力信号2S〜4S
とによって生成した信号SSTZに基づいて選択するこ
とによって生成している。
【0084】まず、制御信号設定レジスタ17の1ビッ
トレジスタ116に、ソフトウェアにてデータバスより
データが設定される。各々の比較区間においてデューテ
ィを任意に変更する場合、この制御信号設定レジスタ1
7の対応した1ビットレジスタ116にHをソフトウェ
アでセットすることにより、該当する比較区間におい
て、逐次近似レジスタ3の制御信号としての信号TZ5
のH期間の幅をコントロールすることが可能となる。な
お、この制御信号設定レジスタ17における信号SST
Zの生成は、実施の形態4の場合と同様に行われる。
【0085】次に、この信号SSTZを用いて逐次近似
レジスタ3への信号TZ5を生成する際の動作タイミン
グを図31に示す。ここで、制御信号設定レジスタ17
からの信号SSTZがLの時、A/D制御信号発生ブロ
ックE18はA/D制御信号発生回路102が生成した
信号TZSを選択し、信号SSTZがHの時にはA/D
制御信号発生回路β115が生成した信号TZNを選択
する。そしてそれらに基づく信号TZ5を該当する比較
区間の制御信号として逐次近似レジスタ3に出力する。
【0086】このようにして生成された信号TZ5を、
制御信号として用いてA/D変換を行う場合、図30の
タイミングチャートに示すように、比較区間T3、比較
区間T4の周期においては、制御信号のH期間の幅を長
くすることで、制御信号の最適化をはかっている。な
お、この実施の形態5では、ソフトウェアの設定にて、
比較区間T3およびT4においてのみ、制御信号のH期
間の幅を長くするものを示したが、この発明はこれにの
み限られるものではなく、そのポイントは、ソフトウェ
アにて制御信号のH期間の幅を自由に設定することによ
って、最適な時短を実現可能としたところにある。
【0087】以上のように、この実施の形態5によれ
ば、ソフトウェアによって各比較区間T1〜T4のデュ
ーティを変更可能にしているので、逐次変換方式のA/
D変換において、制御信号(信号TZ5)の周期を従来
の信号TZの1/2に設定し、入力電圧と参照電圧との
差が小さいため、長い比較時間を必要とする比較区間T
3およびT4の周期でのみ、デューティを変更すること
で制御信号のH期間の幅を長くしているので、比較時間
の最適化がはかれ、A/D変換器の高速化を実現できる
などのなどの効果が得られる。なお、この場合の変換時
間の短縮率は、変換時間 = 比較区間T1+比較区間T
2+比較区間T3+比較区間T4より、従来の場合は、 変換時間 = 4T この実施の形態5の場合は、 変換時間 = 1/2T*4 = 2T となり、従来の変換時間に比べて50.0%の時短がは
かれる。
【0088】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、制御
信号の周期を各比較区間毎に変更可能とし、周期変更が
行われた制御信号に従って、参照電圧と入力電圧との比
較を行うように構成したので、前回の参照電圧と今回の
参照電圧との差が大きく、参照電圧の安定までに時間を
要する比較区間以外では、制御信号の周期を短縮するこ
とが可能となって、比較時間を最適化することができ、
A/D変換器の高速化がはかれるA/D変換器制御方法
が得られる効果がある。
【0089】この発明によれば、制御信号の比較区間毎
の周期変更を、分周比の異なる信号に基づいて生成した
複数種類のタイミング信号の1つを選択することによっ
て行うように構成したので、選択するタイミング信号に
応じて各比較区間の周期を変更することができるため、
前回の参照電圧と今回の参照電圧との差が大きく、参照
電圧の安定までに時間を要する比較区間以外では、制御
信号の周期を短縮することで、比較時間の最適化、A/
D変換器の高速化がはかれるなどの効果がある。
【0090】この発明によれば、制御信号の比較区間毎
の周期変更を、タイマ出力に基づいて生成した信号を用
いて制御するように構成したので、タイマの設定値によ
って各比較区間の周期を変更することができるため、前
回の参照電圧と今回の参照電圧との差が大きく、参照電
圧の安定までに時間を要する比較区間以外では、制御信
号の周期を短縮することで、比較時間の最適化、A/D
変換器の高速化がはかれるなどの効果がある。
【0091】この発明によれば、制御信号の比較区間毎
の周期変更を、ソフトウェアで設定した設定データに基
づいて生成された信号を用いて制御するように構成した
ので、ソフトウェアによって各比較区間の周期を変更に
することができるため、前回の参照電圧と今回の参照電
圧との差が大きく、参照電圧の安定までに時間を要する
比較区間以外では、制御信号の周期を短縮することで、
比較時間の最適化、A/D変換器の高速化がはかれるな
どの効果がある。
【0092】この発明によれば、制御信号のデューティ
を各比較区間毎に変更可能とし、デューティ変更が行わ
れた制御信号に従って、参照電圧と入力電圧との比較を
行うように構成したので、入力電圧と参照電圧との差が
小さく、長い比較時間を必要とする比較区間以外では、
制御信号のH期間の幅を短縮することが可能となって、
比較時間を最適化することができ、A/D変換器の高速
化がはかれるA/D変換器制御方法が得られる効果があ
る。
【0093】この発明によれば、制御信号の比較区間毎
のデューティの変更を、ソフトウェアで設定した設定デ
ータに基づいて生成された信号を用いて制御するように
構成したので、ソフトウェアによって各比較区間のデュ
ーティを変更することができるため、入力電圧と参照電
圧との差が小さく、長い比較時間を必要とする比較区間
以外では、制御信号のH期間の幅を短縮することで、比
較時間の最適化、A/D変換器の高速化がはかれるなど
の効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1によるA/D変換器
の構成を示すブロック図である。
【図2】 実施の形態1におけるサンプル&ホールド機
能付逐次変換近似方式でのA/D変換動作を説明するた
めのタイミングチャートである。
【図3】 実施の形態1におけるA/D制御信号発生ブ
ロックAの構成を示すブロック図である。
【図4】 実施の形態1における逐次近似レジスタで用
いられるシフトレジスタの構成を示す回路図である。
【図5】 実施の形態1における逐次近似レジスタで用
いられるシフトレジスタAの構成を示す回路図である。
【図6】 実施の形態1における逐次近似レジスタで用
いられるデータラッチの構成を示す回路図である。
【図7】 データラッチの動作を説明するためのタイミ
ングチャートである。
【図8】 実施の形態1におけるA/D制御信号発生ブ
ロックAの動作を説明するためのタイミングチャートで
ある。
【図9】 この発明の実施の形態2によるA/D変換器
の構成を示すブロック図である。
【図10】 実施の形態2における逐次変換近似方式で
のA/D変換動作を説明するためのタイミングチャート
である。
【図11】 実施の形態2におけるTTZ信号発生回路
の構成を示す回路図である。
【図12】 実施の形態2におけるタイマ機能およびカ
ウント回数の設定例を示す説明図である。
【図13】 実施の形態2におけるTTZ信号発生回路
の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図14】 この発明の実施の形態3によるA/D変換
器の構成を示すブロック図である。
【図15】 実施の形態3における逐次変換近似方式で
のA/D変換動作を説明するためのタイミングチャート
である。
【図16】 実施の形態3におけるA/D制御信号発生
ブロックCの動作を説明するためのタイミングチャート
である。
【図17】 実施の形態3におけるA/D制御信号発生
ブロックCの構成を示すブロック図である。
【図18】 実施の形態3におけるA/D制御信号発生
回路βの構成を示す回路図である。
【図19】 実施の形態3におけるA/Dクロック発生
回路βの動作を説明するためのタイミングチャートであ
る。
【図20】 この発明の実施の形態4によるA/D変換
器の構成を示すブロック図である。
【図21】 実施の形態4におけるA/D制御信号発生
ブロックDの構成を示すブロック図である。
【図22】 実施の形態4における制御信号設定レジス
タの構成を示すブロック図である。
【図23】 実施の形態4における制御信号設定レジス
タの1ビットレジスタの構成を示す回路図である。
【図24】 実施の形態4における逐次変換近似方式で
のA/D変換動作を説明するためのタイミングチャート
である。
【図25】 実施の形態4における制御信号設定レジス
タの設定例を示す説明図である。
【図26】 実施の形態4における制御信号設定レジス
タの動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図27】 実施の形態4におけるA/D制御信号発生
ブロックDの動作を説明するためのタイミングチャート
である。
【図28】 この発明の実施の形態5によるA/D変換
器の構成を示すブロック図である。
【図29】 実施の形態5におけるA/D制御信号発生
ブロックDの構成を示すブロック図である。
【図30】 実施の形態5における逐次変換近似方式で
のA/D変換動作を説明するためのタイミングチャート
である。
【図31】 実施の形態5におけるA/D制御信号発生
ブロックDの動作を説明するためのタイミングチャート
である。
【図32】 この発明の実施の形態1および従来の分周
器の構成を示す回路図である。
【図33】 この発明の実施の形態1、実施の形態3お
よび従来のA/D制御信号発生回路の構成を示す回路図
である。
【図34】 この発明の実施の形態1および従来のラッ
チ回路Aの構成を示す回路図である。
【図35】 この発明の実施の形態1および従来のラッ
チ回路Cの構成を示す回路図である。
【図36】 この発明の実施の形態1および従来の逐次
近似レジスタの構成を示すブロック図である。
【図37】 この発明の実施の形態1および従来のシフ
トレジスタの動作を説明するためのタイミングチャート
である。
【図38】 従来のA/D変換器の構成を示すブロック
図である。
【図39】 従来の逐次変換近似方式でのA/D変換動
作を説明するためのタイミングチャートである。
【図40】 従来のA/Dクロック発生ブロックの構成
を示すブロック図である。
【図41】 従来のA/Dクロック発生ブロックの動作
を説明するためのタイミングチャートである。
【符号の説明】
111 タイマ、VREF 参照電圧、VIN 入力電
圧、T1,T2,T3,T4 比較区間、TZ1,TZ
2,TZ3,TZ4,TZ5 信号(制御信号)、C
K,CK’ 信号(分周比の異なる信号)、C,TZS
信号(タイミング信号)、TS1,TS2,TS3
信号(タイマ出力)、TTZ 信号(タイマ出力に基づ
いて生成された信号)、R2,R3,R4 信号(設定
データ)、SSTZ 信号(設定データに基づいて生成
された信号)。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 北口 裕次 東京都千代田区大手町二丁目6番2号 三 菱電機エンジニアリング株式会社内 Fターム(参考) 5J022 AA02 AB05 BA05 BA06 CB02 CE01 CE08 CF01 CF07 CG01

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 制御信号に従って最上位ビットから順番
    に、対応する参照電圧を生成し、 前記参照電圧と入力電圧とを逐次比較してディジタルデ
    ータに変換する、逐次変換方式によるアナログ/ディジ
    タル変換器制御方法において、 前記参照電圧と入力電圧の比較が行われる比較区間毎
    に、前記制御信号の周期を変更可能とし、 前記周期の変更が行われた制御信号に従って、前記参照
    電圧と入力電圧との比較を行うことを特徴とするアナロ
    グ/ディジタル変換器制御方法。
  2. 【請求項2】 制御信号の周期の変更を、分周比の異な
    る信号に基づいて生成した複数種類のタイミング信号か
    ら、その1つをその比較区間における制御信号として選
    択することによって行うことを特徴とする請求項1記載
    のアナログ/ディジタル変換器制御方法。
  3. 【請求項3】 制御信号の周期の変更を、タイマからの
    タイマ出力に基づいて生成された信号にて制御すること
    を特徴とする請求項1記載のアナログ/ディジタル変換
    器制御方法。
  4. 【請求項4】 制御信号の周期の変更を、ソフトウェア
    によって設定された設定データに基づいて生成された信
    号にて制御することを特徴とする請求項1記載のアナロ
    グ/ディジタル変換器制御方法。
  5. 【請求項5】 制御信号に従って最上位ビットから順番
    に、対応する参照電圧を生成し、 前記参照電圧と入力電圧とを逐次比較してディジタルデ
    ータに変換する、逐次変換方式によるアナログ/ディジ
    タル変換器制御方法において、 前記参照電圧と入力電圧の比較が行われる比較区間毎
    に、前記制御信号のデューティを変更可能とし、 前記デューティの変更が行われた制御信号に従って、前
    記参照電圧と入力電圧との比較を行うことを特徴とする
    アナログ/ディジタル変換器制御方法。
  6. 【請求項6】 制御信号のデューティの変更を、ソフト
    ウェアによって設定されたデータに基づいて生成された
    信号にて制御することを特徴とする請求項5記載のアナ
    ログ/ディジタル変換器制御方法。
JP10219339A 1998-08-03 1998-08-03 アナログ/ディジタル変換器制御方法 Pending JP2000059220A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10219339A JP2000059220A (ja) 1998-08-03 1998-08-03 アナログ/ディジタル変換器制御方法
US09/228,645 US6181269B1 (en) 1998-08-03 1999-01-12 Method for controlling an analog/digital converter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10219339A JP2000059220A (ja) 1998-08-03 1998-08-03 アナログ/ディジタル変換器制御方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000059220A true JP2000059220A (ja) 2000-02-25

Family

ID=16733915

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10219339A Pending JP2000059220A (ja) 1998-08-03 1998-08-03 アナログ/ディジタル変換器制御方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6181269B1 (ja)
JP (1) JP2000059220A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002232292A (ja) * 2001-02-06 2002-08-16 Nec Microsystems Ltd A/d変換器
US9590651B2 (en) 2014-03-25 2017-03-07 Seiko Epson Corporation Successive comparison type analog/digital converter, physical quantity sensor, electronic device, moving object, and successive comparison type analog/digital conversion method

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6429798B1 (en) * 2000-02-08 2002-08-06 Ericsson Inc. Combined transmit filter and D-to-A converter
JP2002043942A (ja) * 2000-07-24 2002-02-08 Mitsubishi Electric Corp A/d変換器
US6567028B2 (en) * 2001-10-12 2003-05-20 Micron Technology, Inc. Reference voltage stabilization in CMOS sensors
JP2003258639A (ja) * 2002-02-27 2003-09-12 Nec Microsystems Ltd アナログ−ディジタル変換器
DE10227199A1 (de) * 2002-06-18 2004-01-08 Robert Bosch Gmbh Schnittstelle und Verfahren zur Bilddatenübertragung
JP2005026805A (ja) * 2003-06-30 2005-01-27 Renesas Technology Corp 半導体集積回路
US6956518B1 (en) * 2004-03-31 2005-10-18 Silicon Labs Cp, Inc. Method and apparatus for subclocking a SAR analog-to-digital converter
JP4751122B2 (ja) * 2005-07-28 2011-08-17 株式会社東芝 A/d変換器
JP4803729B2 (ja) * 2006-03-14 2011-10-26 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路
US7626531B2 (en) * 2008-02-01 2009-12-01 Agere Systems Inc. Systems and methods for analog to digital conversion
US7573415B1 (en) * 2008-02-01 2009-08-11 Agere Systems Inc. Area and power efficient analog to digital converter and methods for using such
EP2198520A4 (en) 2008-06-06 2012-11-21 Lsi Corp SYSTEMS AND METHODS FOR LOCK-BASED ANALOG-TO-DIGITAL CONVERSION
CN101821951B (zh) 2008-06-06 2014-07-23 Lsi公司 用于同步、重定时的模数转换的系统和方法
US8121186B2 (en) 2008-06-06 2012-02-21 Lsi Corporation Systems and methods for speculative signal equalization
JP2010268349A (ja) * 2009-05-18 2010-11-25 Renesas Electronics Corp アナログ/デジタル変換回路及びアナログ/デジタル変換方法
US8574960B2 (en) * 2010-02-03 2013-11-05 Stats Chippac, Ltd. Semiconductor device and method of forming cavity adjacent to sensitive region of semiconductor die using wafer-level underfill material
TWI426712B (zh) * 2010-05-25 2014-02-11 Sitronix Technology Corp Analog - to - digital conversion circuit
CN102281069B (zh) * 2010-06-08 2016-04-06 昇佳电子股份有限公司 模拟数字转换电路
US8193961B2 (en) 2010-09-23 2012-06-05 Lsi Corporation Systems and methods for enhancing analog to digital conversion resolution

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04290310A (ja) * 1991-03-19 1992-10-14 Fujitsu Ltd アナログ・デジタルコンバータ
JP3819986B2 (ja) * 1997-02-24 2006-09-13 株式会社ルネサステクノロジ アナログ/ディジタル変換器制御方法
JPH10336032A (ja) * 1997-05-30 1998-12-18 Mitsubishi Electric Corp A/d変換器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002232292A (ja) * 2001-02-06 2002-08-16 Nec Microsystems Ltd A/d変換器
US9590651B2 (en) 2014-03-25 2017-03-07 Seiko Epson Corporation Successive comparison type analog/digital converter, physical quantity sensor, electronic device, moving object, and successive comparison type analog/digital conversion method

Also Published As

Publication number Publication date
US6181269B1 (en) 2001-01-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000059220A (ja) アナログ/ディジタル変換器制御方法
US7315158B1 (en) Pulse width modulation circuit
JP3031419B2 (ja) 半導体集積回路
JP5407685B2 (ja) 逐次比較型ad変換器及び逐次比較型ad変換器の動作クロック調整方法
US7642945B2 (en) AD converter circuit and microcontroller
US5877719A (en) Method of controlling analog-to-digital converter
US5696509A (en) Digital to analog converter using capacitors and switches for charge distribution
KR19990049556A (ko) 인터리빙 샘플링 아나로그/디지탈 변환기
JP2967577B2 (ja) 多チャンネルパルス幅変調回路
JP3183494B2 (ja) タイミング信号発生回路
JPH11145832A (ja) A/d変換器
JPH1131968A (ja) Ad変換器
JP3116922B2 (ja) 半導体集積回路
JPH0883128A (ja) 自動調整回路
US6414621B1 (en) Analog to digital converter having a parallel converter and logic for generating serial data
JPH0923143A (ja) ディジタル信号の遅延方法及び回路
US11664732B2 (en) Synchronous clock generator circuit for multiphase DC-DC converter
JPH04129332A (ja) 逐次比較型a/d変換装置
JPH08116258A (ja) アナログデジタル変換回路
JPH09116438A (ja) ディジタル/アナログ変換器
JPS6352808B2 (ja)
JPH1188171A (ja) A/d変換器
KR100199219B1 (ko) 가변 지연 회로 및 타이밍 신호 발생 회로
JP3036869B2 (ja) Ad変換回路
SU1483438A1 (ru) Многофазный импульсный стабилизатор напр жени

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050715

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20060314

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20060410

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070410

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070417

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070814