JP2000031170A - 結合用指部を用いてフレ―ム上に集積回路を実装する装置および方法 - Google Patents

結合用指部を用いてフレ―ム上に集積回路を実装する装置および方法

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 迅速に集積回路を結合用指部と接続させる装
置および方法を提供する。 【解決手段】 部分的に打ち抜かれた複数の結合用指部
1aを有しかつ薄い金属製プレートから作製されたフレ
ーム1上に、集積回路3を実装する装置および方法に関
するものである。装置は中央孔部12が形成された加熱
ヘッド11を有する加熱部材10を有しており、孔部1
2内には上下動可能にダイ13が設けられている。ダイ
13は、圧縮スプリング15により加熱ヘッド11の停
止部に対して押圧されており、非作動状態では加熱ヘッ
ド11の頂面18から突出している。ボンディング中
に、対向ダイ19が集積回路3をダイ13に対して押圧
する。集積回路3はダイ13に直接接触して加熱され、
これにより300℃〜400℃とされたボンディング温
度への加熱時間が従来よりも大幅に短縮化される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、請求項1の前提部
分に記載された装置および請求項4の前提部分にに記載
された方法に関する。
【0002】
【従来の技術】電気的接続を伴う集積回路すなわちIC
を実装するために、いわゆるリードフレーム(lead fra
me)と称されるフレームと共に接続された複数の結合用
指部が薄い金属シートから打ち抜かれるとともに、中間
ホイルが付着される。いわゆるダイボンダを用いて、集
積回路は載置されるとともに各結合用指部に対して接着
される。予熱装置において約200℃まで下面が予熱さ
れた集積回路が約8Nの圧力下で各結合用指部に取り付
けられた後に、各結合用指部を備えたフレームは、集積
回路が配置される領域が300℃〜400℃となるよう
に加熱される。集積回路を200℃に予熱しているにも
かかわらず、300℃〜400℃まで加熱するには依然
として3〜4秒かかる。このプロセスは“チップ・オン
・リード(chip-on-lead)”として当該産業界に知られ
ており、インテルにより1994年に最初に世界に紹介
されたものである。そして、典型的には120℃〜18
0℃でワイヤボンダにより、集積回路と各結合用指部と
の間に、非常に細い複数の結合用ワイヤが付着される。
【0003】“チップ・オン・リード”結合プロセス
は、今や、様々な不都合な要求を満足させなければなら
なくなっている。特に、集積回路を各結合用指部から分
離させるには、少なくとも5kg/cm2の力を用いな
ければならない。概して銅製ストリップとされる各結合
用指部の最小限の酸化のみが許容されるだけである。さ
らに、集積回路は、各結合用指部上に高度の正確性をも
って位置決めされなければならない。つまり、ダイを用
いて各結合用指部上に載置された集積回路を、完全に平
坦となるように各結合用指部上に配置することに注意し
なければならない。水平線に対して僅かな傾きが生じた
としても、満足のいく結合を得ることができない。既知
の方法では以下の欠点がある。それは、集積回路は、第
一の輸送ステップにおいて、予熱のために第一のホット
プレートへと運搬されなければならず、そして、第二の
輸送ステップにおいて、“ボンディングステーション”
として当該産業界において知られている実際の接続ステ
ーションへと運搬されなければならない。また、集積回
路は、予熱ステーションからボンディングステーション
へと輸送される間に冷却されてしまう。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、一層
迅速に集積回路を各結合用指部と接続させる装置および
方法を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的は、請求項1に
記載された特徴を有する装置、および請求項4に記載さ
れた特徴を有する方法により達成される。
【0006】新規な装置および方法により、有効動作時
間を約半分にまで短縮することができる。これにより、
自動化された機械装置の経済面において顕著な改良がも
たらされることになる。
【0007】本発明のその他の有利点は、特許請求の範
囲の従属項、および以下の詳細な説明から明らかとされ
る。本発明は、各添付図面に記載された具体例を参照し
て以下に詳細に説明される。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は、リードフレームの結合用
指部上の集積回路の主たる配置を示した図である。図2
は、上下動可能とされたダイを有する加熱部材を示した
図である。図3は、リードフレームの結合用指部に集積
回路を接合するプロセスにおける加熱部材を示した図で
ある。
【0009】各図面における共通の部材に対しては同様
の符号を用いることとする。ただし、スケールは異な
る。最初になされる説明は総ての図面に関するものであ
る。
【0010】図1には、複数の結合用指部1aを有する
いわゆるリードフレーム(lead frame)と称される金属
製フレーム1が示されている。該フレーム上には接着テ
ープとして構成された中間ホイル2が配置され、さらに
該中間ホイル2上には集積回路3が配置されている。集
積回路3の(ここではより詳細に図示しない)複数のコ
ネクタが、各結合用指部1aのそれぞれに対して、非常
に細い結合用ワイヤ4と接続されている。極端に薄いフ
レーム1は、概して、銅製または合金鋼製とされてい
る。
【0011】図2には、ステップ状孔部12が形成され
た中空加熱ヘッド11を有する加熱部材10が示されて
いる。上下動可能とされたステップ状ダイ13が、圧縮
スプリング15により加熱ヘッド11の内部ステップ1
6に対して押圧されているとともに、該ダイ13のヘッ
ド端部17が、加熱ヘッド11の頂面18から上方へと
突出している。圧縮スプリング15がダイ13に及ぼす
力は、好ましくは約5Nとされる。集積回路3の実装中
に該集積回路3の下側部(後述するようにフレーム1上
の集積回路3の下側部)に対して何の問題を生じさせる
ことなくダイ13の表面(頂面)を適合させうるため
に、ダイ13は、十分な間隙を有して加熱ヘッド11の
孔部内に配置される。すなわち、フレーム1上の集積回
路3の下側部に平面状態となるように配置され、これに
より優れた熱輸送が実現される。図3には、複数の傾斜
エッジ21を有しかつタブ状(tub)凹所20が形成さ
れた対向ダイ19がさらに示されている。集積回路3は
真空吸引により保持することができるようになってい
る。対向ダイ19と、該対向ダイを案内する部分22と
の間には、部分22から離間する方向に対向ダイ19を
押圧するスプリング23が設けられている。スプリング
23の長さ及び予め付勢される力(pre-tensioning)は
調節可能とされている。
【0012】好ましくは、打ち抜かれた各結合用指部を
有するフレーム、リードフレームには、ダイボンディン
グとは別個のプロセスにおいて中間ホイル2が設けられ
る。中間ホイル2は各結合用指部1aの少なくとも複数
の端部を覆うようになっている。
【0013】ダイボンディング中に、既知の方法におい
て、各リードフレームはボンディングステーションへと
輸送される。集積回路3に接続されるべき各結合用指部
1aは加熱ヘッド11の頂面18上に載置され、加熱さ
れる。中間ホイル2は、加熱ヘッド11から離間して対
向する結合用指部1aの側部上に配置される。他方で、
各集積回路3は対向ダイ19により交互に掴まれるとと
もに、各結合用指部1aの領域内で中間ホイル2上に対
して押圧される。そして各結合用指部1a間の領域で
は、各集積回路3はそれぞれ加熱ヘッド11のダイ13
に対して押圧される。ダイ13が集積回路3の下側部を
押圧するように、圧縮スプリング15はダイ13上に対
向力を及ぼす。各結合用指部1aを覆う中間ホイル2上
に集積回路3を載置するために、対向ダイ19が集積回
路3上に及ぼす力はダイ13が集積回路3上に及ぼす力
よりも大きいものとされている。さらに対向ダイ19
は、各結合用指部1a上に平面状態で配置されるように
案内される。ダイ13により直接加熱される集積回路3
および各結合用指部1aを、最高400℃とされる所望
の結合温度まで可能な限り短い時間で加熱するために、
加熱ヘッド11のダイ13に対して対向ダイ19をダイ
ボンダが押圧する力は、最高で40Nまで増加させるこ
とができる。このようにして、約1.5〜2.5秒とい
うサイクルタイムを達成することができる。
【0014】先行するプロセス段階において、フレーム
1を約150℃まで予熱しておくこともできる。ただ
し、これは、上述した方法に対して絶対的に必要という
ものではない。
【0015】加熱ヘッド11から集積回路3への熱伝導
が大きく改善されたので、従来の方法に比べてほぼ半分
にまでボンディングサイクルが減じられるということは
当業者であれば理解できるであろう。すなわち、装置の
生産性が大きく向上し、結果的に大幅な節約が達成され
ることになる。
【0016】本発明はさらに、金属製ではなく例えばポ
リイミドとされたプラスチック製のフレーム1に対して
使用することができ、各結合用指部1aは、打ち抜かれ
たものではなく導電経路(conductive paths)として適
用されるものでもよい。このようなフレームに対して
は、ボンディング温度は300℃よりもかなり低いもの
とされる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 リードフレームの結合用指部上の集積回路
の主たる配置を示した断面図である。
【図2】 上下動可能とされたダイを有する加熱部材
を示した断面図である。
【図3】 リードフレームの結合用指部に集積回路を
接合するプロセスにおける加熱部材を示した断面図であ
る。
【符号の説明】
1 フレーム 1a 結合用指部 3 集積回路 10 加熱部材 11 加熱ヘッド 12 中央孔部 13 ダイ 19 対向ダイ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 加熱部材(10)と押圧部材とを有す
    るとともに、複数の結合用指部(1a)を備えたフレー
    ム(1)上に集積回路(3)を実装する装置において、 前記加熱部材(10)は、中央孔部(12)が形成され
    た加熱ヘッド(11)を有しており、 前記中央孔部内にはダイ(13)が上下動可能に設けら
    れ、 前記ダイは、圧縮スプリング(15)により予め付勢さ
    れているとともに、前記加熱ヘッド(11)の上方に突
    出しており、 前記押圧部材は、前記ダイ(13)に対向する対向ダイ
    (19)とされていることを特徴とする装置。
  2. 【請求項2】 前記ダイ(13)は、該ダイの頂面が
    前記集積回路(3)の下側部上に平面状態で常に配置さ
    れるように、十分な間隙を有して前記加熱ヘッド(1
    1)内に設けられていることを特徴とする請求項1記載
    の装置。
  3. 【請求項3】 前記対向ダイ(19)は、前記加熱ヘ
    ッド(11)に対して40Nまでの力を及ぼすことを特
    徴とする請求項1または請求項2に記載の装置。
  4. 【請求項4】 加熱部材(10)と押圧部材とを用い
    て、複数の結合用指部(1a)を備えたフレーム(1)
    上に集積回路(3)を実装する方法において、 前記各結合用指部(1a)は加熱ヘッド(11)によ
    り、かつ、集積回路(3)は、圧縮スプリング(15)
    を用いて予め付勢された前記加熱ヘッド(11)内のダ
    イ(13)により、それぞれ予め決定された加熱温度ま
    で同時に加熱され、 前記集積回路(3)は、対向ダイ(19)により前記加
    熱ヘッド(11)に対して押圧されることを特徴とする
    方法。
  5. 【請求項5】 前記対向ダイ(19)は、前記加熱ヘ
    ッド(11)に対して40Nまでの力で押圧されること
    を特徴とする請求項4記載の方法。
  6. 【請求項6】 前記加熱温度は300℃〜400℃と
    され、時間間隔は1.5〜2.5秒とされていることを
    特徴とする請求項4または請求項5のいずれかに記載の
    方法。
  7. 【請求項7】 前記集積回路は、前記対向ダイ(1
    9)のタブ状凹所(20)の複数のエッジにより保持さ
    れることを特徴とする請求項4〜請求項6のいずれかに
    記載の方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN113787292A (zh) * 2021-09-06 2021-12-14 湖南旭阳显示科技有限公司 一种夹爪可更换的电子元件焊接夹具及其使用方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100364708C (zh) * 2005-09-08 2008-01-30 上海交通大学 用于射频识别电子标签封装线的焊接头
CN110449682A (zh) * 2019-07-03 2019-11-15 苏州工业园区职业技术学院 一种cpu散热铜箔贴片回流焊治具

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