EP0213283A1 - Einrichtung zur Münzenprüfung - Google Patents
Einrichtung zur Münzenprüfung Download PDFInfo
- Publication number
- EP0213283A1 EP0213283A1 EP86107405A EP86107405A EP0213283A1 EP 0213283 A1 EP0213283 A1 EP 0213283A1 EP 86107405 A EP86107405 A EP 86107405A EP 86107405 A EP86107405 A EP 86107405A EP 0213283 A1 EP0213283 A1 EP 0213283A1
- Authority
- EP
- European Patent Office
- Prior art keywords
- coin
- amplifier
- signal
- coils
- coins
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/02—Testing the dimensions, e.g. thickness, diameter; Testing the deformation
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/005—Testing the surface pattern, e.g. relief
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/08—Testing the magnetic or electric properties
Definitions
- the invention relates to a device for coin testing.
- the object is achieved to create a device of this type, which makes it possible to test several coin properties precisely within narrow tolerances, has a low, short-term power consumption, takes up little space, so It is feasible that it corrects the influence of changes in the properties of its components on the test results itself, and requires little adjustment work in their manufacture and maintenance.
- the advantages achieved by the invention are essentially to be seen in the fact that all oscillators are formed with one and the same amplifier, so that only one amplifier has to be compared when manufacturing the device and when maintaining it, and only when checking several coin properties the feed current of this single amplifier flows.
- the supply current duration can be very short in that, after a part of a test signal of a coin characteristic that is sufficient for evaluation, the switching device connects the oscillation circuit provided for the subsequent test of another coin characteristic to the amplifier, if the evaluation of the test signal does not already result in a coin return signal.
- the switching device automatically follows the chronological sequence in which the coin to be tested influences different coils one after the other, so that these coils can be arranged very close to one another.
- the coils of oscillation circuits for testing the same or different coin properties can also be arranged in such a way that the coin to be tested influences them at the same time, the oscillation circuits with these coils being periodically alternately excited, ie being briefly connected to the amplifier several times by the switching device.
- the simultaneous influence is made possible by the fact that each oscillation circuit has only one coil, on the end face of which the coin passes.
- test signals for the different coin properties are formed from the oscillator vibrations by one and the same demodulator with a subsequent analog-digital converter
- changes (drift) of properties of the components of the demodulator and of the analog components that are inevitable in the long run and have an undesirable influence on the test signals have Digital converter has the same effect on all test signals. This enables an automatic correction in the evaluation device, so that the drift when dimensioning the tolerance ranges of the test criteria (with their over or under If the evaluation device triggers a coin return signal), can be ignored. This enables a very critical and nevertheless reliable test.
- a particularly stable amplifier circuit for the oscillator in which neither feedback coils nor coil taps are necessary, together with an embodiment of the switching device in which, despite the use of semiconductor switches, the entire resonant circuit voltage is at the amplifier input, a rapidly responding, threshold-free demodulator, the type of Correction of drift phenomena, a special coil arrangement for checking the minting of the coin, with which the minting pattern can also be checked in addition to the embossing depth, and a special coil arrangement and signal evaluation for checking the diameter of the coin, thanks to which a high resolution capability in a large diameter range is achieved.
- FIG. 1 shows an overview circuit diagram of a device for coin testing, the basic structure of which consists of the following assemblies: six oscillation circuits 1-6, the oscillation circuit coils 7-12 of which are arranged on a coin guide (FIGS. 2 and 3) in such a way that they are influenced in part by the coin to be tested, in order to test several coin properties, in part simultaneously and in part; an amplifier 14 (FIG. 4) and a switching device, for example 42, 43, by means of which each of the oscillation circuits 1-6 can be connected individually to the amplifier 14 to form an oscillator which, in accordance with the influence of the respective oscillation circuit coil, for example 7, by means of the testing coin provides amplitude-modulated (and also frequency-influenced) high-frequency test signals.
- an amplitude demodulator 19 for the high-frequency test signals which provides an analog test signal which is characteristic of the coin to be tested influencing the respective resonant circuit coil and thus of the coin property in question, which is converted into a digital test signal in an analog-digital converter 20; an evaluation device 22 with read-only memory 23, in which the digital test signals are compared with test criteria stored in read-only memory 23, and a coin acceptance signal is triggered on a line 25 when all the test signals received from a coin meet the criteria stored for one of the coins to be accepted, and one Coin return signal is triggered on a line 26 if all the test signals of one and the same coin do not meet the criteria stored for one of the coins to be accepted; a control device 28, which controls the switching device 16, 17 in such a way that the oscillation circuits 1-6 one after the other in the order in which their coils 7-12 are influenced by the coin to be tested, and oscillation circuits (1, 2 and 4 , 5, 6), the coils (7, 8 or 10, 11, 12) of which are influenced simultaneously
- the evaluation device 22 and the control device 28 are combined to form a data processing device (microprocessor CPU) to which the read-only memory (EPROM) 23 is assigned.
- microprocessor CPU microprocessor CPU
- EPROM read-only memory
- the coin guide according to FIGS. 2 and 3 has a steep guide surface 31, on which the coins rolling on a runway 32 with a gradient slide with their entire front and rear sides, so that a certain, small distance between the coin and the one behind it Guide surface 31 arranged resonance circuit coils 7-11 is ensured.
- the oscillation circles 1 to 6 are intended for the testing of several coin properties as follows: The oscillation circles 1 and 2 with the coils 7 and 8 for the embossing, the oscillation circles 3 and 4 with the coils 9 and 10 for the diameter, the oscillation circuit 5 with the coil 11 for the alloy and the oscillation circuit 6 with the coil 12 for the thickness the coin.
- the resonant circuit coils 7-12 are arranged in such a way that the coin to be tested first influences the coils 7 and 8 simultaneously, then the coil 9 individually and then the coils 10, 11 and 12 simultaneously.
- the coil 10 is arranged on the guide surface 31 above the coil 11 and the coil 12 coaxially to the coil 11 opposite this.
- the switching device 16, 17 first connects the oscillating circuits 1 and 2 (coils 7 and 8) periodically alternately (for example 0.5 to 1 ms each) when checking the coin properties.
- the oscillating circuits 1, 2 and 6 In the absence of a coin, the oscillating circuits 1, 2 and 6 have a natural frequency of 247 kHz, the oscillating circuits 3 and 4 have a natural frequency of 230 kHz and the oscillating circuit 5 has a lower natural frequency of 120 kHz, at which the field of the coil 11 goes deeper into the coin body penetrates, whereby the influence of the electrical and magnetic properties of the coin alloy on the test signal is greater and the influence of the embossing depth is smaller.
- the damping of the oscillation circuits 1-6 are against levels, e.g. 36, adjusted so that the high-frequency voltage of the oscillator with each of the oscillation circuits 1-6 has the same amplitude in the absence of a coin, e.g. peak-to-peak value 2.5 V.
- the amplifier 14 is a non-inverting amplifier with a gain of one.
- the switching device 16, 17 has two jointly controllable semiconductor switches for each of the oscillation circuits 1-6, through which one the input 39 and through the other the output 40 of the amplifier 14 can be individually connected to each of the oscillation circuits 1-6.
- the oscillation circuit 1 can be connected to the amplifier input 39 by the semiconductor switch 42 and to the amplifier output 40 by the semiconductor switch 43.
- both these semiconductor switches assigned to one of the oscillation circuits 1-6, for example 42 and 43, and the semiconductor switches 45 and 46 mentioned below are parts of two analog switches 16 and 17 of the type customary for the time-division multiplex method of transmission technology, their control logic is designated with 48 and 49, respectively.
- the use of two separate switches, e.g. 42 and 43, has the following reason: If a single semiconductor switch were used, the amplifier input voltage would not be the same as the resonant circuit voltage, but would be influenced by the temperature-dependent forward voltage drop at this switch, which changes due to drift phenomena. This would impair the stability (in particular amplitude stability) of the oscillator.
- the amplifier input voltage is practically exactly the same as the resonant circuit voltage; because the forward voltage drop at the one, for example 42, of these two semiconductor switches, that connects the oscillation circuit, eg 1, to the amplifier input 39 is negligible because of the very weak amplifier input current.
- the non-constant forward resistance of the semiconductor switch a high stability of the oscillator is achieved.
- the amplifier 14 is a stabilized differential amplifier with a first and a second transistor 51 and 52 in an emitter circuit.
- the same partial voltages of two DC voltage dividers 57, 58 and 59, 60 are present at the inputs 54 and 55 of this amplifier circuit.
- Relative to the output 62 (collector of the second transistor 52), 54 (base of the first transistor 51) is the non-inverting input.
- the resonant circuit voltage is superimposed on this input in that the oscillating circuit 1 is connected to this input 54 through the semiconductor switch 43 and a capacitor 63 bridging the resistor 57.
- the output 62 is also connected to the oscillation circuit 1 by the semiconductor switch 42.
- a pulse shaper 64 which delivers pulses with the frequency of the oscillator vibrations to the evaluation device 22, which uses these pulses as an additional test signal, in particular, for example, when testing the coin alloy, in order to influence the oscillator as little as possible, to the other output 66 (collector of the first transistor 51).
- a constant current source 67 is used to stabilize the amplifier in conjunction with a current mirror 68 which is connected between the interconnected emitters of transistors 51 and 52 and a fixed negative reference potential (for example -5V).
- a resistor 69 in series with the constant current source 67 supplies a constant (negative) reference voltage, which is amplified by an amplifier 71 and is inverted, the voltage U ref at the output 72 of this amplifier 71 being practically independent of the load.
- the amplitude demodulator 19 has a first constant current source 75, which supplies a charging current represented by an arrow 76 of, for example, 0.33 mA in the forward direction of a diode 77 to a capacitor 78.
- the constant current source 75 is controlled by a comparator 79 such that the charging current 76 flows when the instantaneous value of the high-frequency voltage is greater than the capacitor voltage.
- a second constant current source 82 supplies a discharge current, represented by an arrow 83, of 0.004 mA, for example, directly to the capacitor 78.
- the second constant current source 82 is controlled by a second comparator 84 so that the discharge current 83 flows when the capacitor voltage has the polarity corresponding to the charge current 76 Has.
- the comparator 84 can also be omitted, so that the discharge current 83 flows continuously. If the instantaneous value of the high-frequency voltage is less than the voltage at the capacitor 78, the current of the constant current source 75 opposite to the direction of the arrow 76 flows through the diode 85.
- the currents 76 and 83 of the constant current sources 75 and 82 are possibly by means of two transistors 87 and 88 Changes in the reference voltage on the output line 72 of the amplifier 71 (FIG.
- the output signal (voltage of the capacitor 78) of the demodulator 19 is amplified in an amplifier 89 and converted in the analog-digital converter 20 into a corresponding digital signal.
- the semiconductor switches 45 and 46 are temporarily closed in succession before the coin check (immediately after a coin detector responds).
- a first voltage U ref 1 and then a second voltage U ref 2 are applied to the input of the amplitude demodulator 19.
- These voltages are obtained by one or two voltage dividers (not shown) from the voltage U ref on the output line of the amplifier 71 (FIG.
- U ref 1 to a first digital signal in a lowermost part of the signal range of the analog-digital Converter 20 and U ref 2 leads to a second digital signal in an uppermost part of the signal range of the analog-to-digital converter 20.
- U ref 2 is somewhat smaller than the oscillator amplitude with an oscillation circuit not influenced by a coin and U ref 1 is of an order of magnitude smaller than U ref 2 .
- the evaluation device 22 data processing device, microprocessor CPU
- the subtractor forms the difference between the value of the first signal and the first setpoint.
- the dividing unit forms the quotient of the value of the second signal and the second setpoint.
- the coils 7 and 8 for checking the minting of the coin are pot core coils, the pot core end face of which is significantly smaller than the area of the smallest coin to be accepted. They are arranged in succession at such a distance from the runway 32 of the coin guide and at such a mutual distance in the direction of coin movement 34 (FIG. 7) that they are influenced by all of the coins to be accepted for a time sufficient to generate an evaluable test signal. Since the oscillation circuits 1 and 2 with the coils 7 and 8 are periodically alternately connected to the amplifier 14 to form an oscillator, the test signal for the coinage consists of two partial signals P 1 and P 2 interleaved with one another in the time-division multiplex method (FIG.
- the test signal P1, P2 contains much more information about the coinage than a in usually by influencing a single coil generated test signal.
- the limits of the range between which the signal maxima and minima lie are stored in the memory 23 for each coin to be accepted as test criteria for the depth of the coinage.
- the evaluation device 22 checks whether the area in which the minima and maxima of the test signal parts P 1 and P 2 lie corresponds to one of the areas stored as criteria for one of the coins to be accepted. If this is the case, the coin being tested has the embossing depth of this coin to be accepted.
- the greater information content of the test signal P 1, P 2 obtained with the two coils 7 and 8, which is characteristic of the embossing, also makes it possible to store typical criteria of the coins to be accepted for the embossing pattern (writing or numerical and image embossing) and for testing, e.g. to be used in addition to the depth of the embossing. These criteria must be saved for both sides of each coin because they are different for the two sides of the coin and it is not possible to predict which side of the coin will face the coils 7 and 8 when it is checked. It may be expedient to arrange the coils 7 and 8 at different distances from the runway 32 of the coin guide.
- the coils 9 and 10 for checking the diameter of the coin have pot cores, the diameter of which is considerably larger than the diameter of the coils 7 and 8. At the pot cores of the coils 9 and 10, two segments lying opposite one another are cut off in order to reduce their dimension in the direction of coin movement 34 and thus the duration of their influence and the length of the measuring section on the coin guide. These coils 9 and 10 are arranged in succession in the direction of the coin 34 so that the highest point of the pole core of the coil 9 and the lowest point of the pole core of the coil 10 have the same distance from the runway 32 of the coin guide.
- the test signal consists of two consecutive partial signals d1 and d2 for coins in a lower part of the diameter range or D1 and D2 for coins in an upper part of the diameter range, with d1 and D1 on influencing the coil 9, d2 and D2 are based on influencing the coil 10.
- d1 has a pronounced minimum that is clearly related to the coin diameter (great slope of the signal value as a function of the diameter of the coin), while d2 has a much less pronounced, less meaningful minimum (small slope of the signal value as a function of the diameter of the coin).
- the minimum of d 1 is evaluated for the test.
- D 1 has a wide range of a minimum which is only insignificantly influenced by the coin diameter, while D 2 has a pronounced minimum, much more influenced by the coin diameter.
- the minimum of D2 is evaluated for the test.
- the evaluation device 22 determines the minima of these test signals by differentiating them. Criteria for the coin diameter are an upper and a lower limit of the minimum of the first and second partial signals for each of the coins to be accepted. If the first or second partial signal d 1 or D 2 of the coin to be checked lies between the limits stored for one of the coins to be accepted, then the coin has the diameter of this coin to be accepted.
- the coil 11 intended for checking the coin alloy and the coil 12 provided for checking the coin thickness are pot core coils, the pot core diameter of which are dimensioned and are arranged at such a distance from the runway 32 that they also differ from that of the coins to be accepted, which has the smallest diameter, being influenced in its entire pole area for a sufficient time to generate an evaluable test signal.
- the distance of the coil 12 from the guide surface 31 of the coin track is only slightly larger than the thickness of the thickest of the coins to be accepted.
- the test signal L obtained for the alloy of the coin metal when the coil 11 is influenced by the coin to be tested has a constant signal part between two minima.
- the criteria for each of the coins to be accepted are stored in the memory 23.
- One these two minima arise when the edge of the coin enters the field of the coil 11, and the other occurs when the edge of the coin leaves the field of the coil 11 again, one zone of the coin acting as a conductor moved (limited in the field) in the high-frequency field of the coil 11 . If the coin has an edge zone made of one and a middle part made of another alloy, this affects the two minima and the constant, middle signal part.
- these minima and this central signal part can be used as distinguishing features of different coins of this type and of coins made of only one alloy and of coins with a central hole by storing corresponding criteria in the memory 23 and comparing them with these parts of the signal L.
- the oscillation circuit 5 must be excited not only while the entire pole region of its coil 11 is being influenced by the coin to be tested, but also connected to the amplifier 14 when the coin edge reaches or leaves the pole region.
- the oscillation circuit 3 is excited only in a region of maximum influence on its coil 9. It would also suffice to excite the oscillation circuit 4 only in an area of maximum influence on its coil 10 and at the same time to excite the oscillation circuit 6.
- the test signal S for the thickness of the coin obtained when the coil 12 is influenced by the coin to be tested also has a constant signal part between two minima, for which the criteria with which this signal part is evaluated during the evaluation are stored in the memory 23 for each of the coins to be accepted of the signal S is compared.
- the two minima are irrelevant.
- the mentioned minima occur for the reason mentioned also with the signals P1 and P2, but come because of the small ratio of the diameter of the coils 7 and 8 to The coin diameter (e.g. 4 mm) and the coin speed (e.g. 0.5 m / s) are only valid for a short time, but could also be used in the minting test.
- the oscillation circuits 3 and 4 are not yet or no longer excited when the coin edge enters and exits the field of the coil 9 or 10, as further below in connection with the switching of the analog switches 16 and 17 from the oscillation circuits 1 and 2 to the oscillation circuit 3 from the oscillation circuit 3 to the oscillation circuits 4, 5 and 6.
- the decisive minimum for the signal evaluation of d 1 and D 2 and possibly the minima of, for example, L are determined by the evaluation device 22 by differentiating these signals.
- the middle, constant part of the signals L and S runs in an area in the middle of which the minimum of D2 (time t3) lies. Accordingly, the amount that these signals have at this point in time (or shortly thereafter) is evaluated in the evaluation device 22.
- Criteria for the alloy and for the thickness of the coin are an upper and a lower limit of the constant, middle signal part of L and S (and possibly the minima of the signal L). If the signal part in question lies between the limits stored for the alloy or thickness of one of the coins to be accepted, the coin to be tested has the alloy or thickness of this coin to be accepted.
- the switching of the device from one test process to the next test process or to the following simultaneous test processes is triggered by the coin to be tested itself.
- the evaluation device 22 (by means of the control device 28) sends a signal to the control logic 48 and 49 of the analog switches 16 and 17, by means of which the semiconductor switches associated with the oscillation circuit 3 with the coil 9 are closed, so that the amplifier 14 forms an oscillator with the oscillation circuit 3 .
- Its oscillating circuit coil 9 is now influenced by the coin to be checked.
- the evaluation device 22 causes the oscillating circuits 4, 5 and 6 to be repeatedly repeatedly connected individually to the amplifier 14 to form an oscillator.
- the coin influenced the coils 10, 11 and 12 of these oscillation circuits 4, 5 and 6 simultaneously.
- the second partial signal d2 or D2 for checking the diameter by influencing the coil 11, the signal L for checking the alloy and by influencing the coil 12, the signal S for checking the thickness of the coin.
- the device could also be designed in such a way that the analog switches 16 and 17 connect the oscillation circuits 1 to 6 to the amplifier 14 in a cycle which is repeated over and over again during the coin check in order to form an oscillator.
- this leads to a longer test duration - just like a possible sequence of the test procedures according to a fixed time program, which requires a certain coin speed.
- the evaluation device 22 determines that a test signal or partial signal of a test signal does not correspond to any of the criteria stored for the relevant coin characteristic of the coins to be accepted, or several signals (obtained from one and the same coin) do not correspond to the signals to be accepted for the relevant characteristics of one and the same If the coin meets stored criteria, it triggers the coin return signal on line 26. If all of the test signals obtained for the different coin properties correspond to the criteria stored for these properties of one and the same, acceptable coin, the evaluation device 22 triggers the coin acceptance signal on the line 25. After a coin acceptance or coin return signal, the device returns to its idle state. In the case of a coin return signal at time t 1 or t 2, there is no control signal for switching to the next or the next test processes.
- the device can also be designed such that the frequency response determines the test signals.
- the exemplary embodiment can also be expanded such that when checking at least one of the coin properties, e.g. of the alloy, it is checked whether the frequency of the oscillator vibrations influenced by the coin corresponds to the criteria stored therefor.
- the design of the coils 8 to 12, the arrangement of the coils 8 and 9 as well as the arrangement of the coils 9 and 10 with respect to one another, the test signals, their evaluation and the criteria used here can also be used without the time-division multiplex principle.
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Coins (AREA)
- Control Of Vending Devices And Auxiliary Devices For Vending Devices (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
- Detergent Compositions (AREA)
Abstract
Description
- Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zur Münzenprüfung.
- Durch die Erfindung, wie sie in den Patentansprüchen gekennzeichnet ist, wird die Aufgabe gelöst, eine Einrichtung dieser Art zu schaffen, die es ermöglicht, mehrere Münzeigenschaften genau innerhalb enger Toleranzen zu prüfen, einen niedrigen, nur kurzzeitigen Stromverbrauch hat, wenig Raum beansprucht, so ausführbar ist, dass sie den Einfluss von Aenderungen der Eigenschaften ihrer Bauteile auf die Prüfergebnisse selbst korrigiert, und bei ihrer Herstellung und ihrem Unterhalt wenig Abgleicharbeit erfordert.
- Die durch die Erfindung erzielten Vorteile sind im wesentlichen darin zu sehen, dass alle Oszillatoren mit ein und demselben Verstärker gebildet werden, so dass bei der Herstellung der Einrichtung und bei deren Unterhalt nur ein einziger Verstärker abgeglichen werden muss, und bei der Prüfung mehrerer Münzeigenschaften nur der Speisestrom dieses einzigen Verstärkers fliesst. Dabei kann die Speisestromdauer sehr kurz sein, indem die Schaltvorrichtung nach einem zur Auswertung ausreichenden Teil eines Prüfsignals einer Münzeigenschaft, den für die anschliessende Prüfung einer weiteren Münzeigenschaft vorgesehenen Schwingungskreis mit dem Verstärker verbindet, falls die Auswertung des Prüfsignals nicht bereits zu einem Münzrückgabesignal führt. Dabei folgt die Schaltvorrichtung automatisch der zeitlichen Folge, in der die zu prüfende Münze verschiedene Spulen nacheinander beeinflusst, so dass diese Spulen sehr dicht aufeinander folgend angeordnet werden können. Dies ermöglicht eine sehr kurze Prüfzeit und eine sehr kurze Prüfstrecke der Münzführung. Auch können die Spulen von Schwingungskreisen für die Prüfung derselben oder verschiedener Münzeigenschaften so angeordnet werden, dass die zu prüfende Münze sie gleichzeitig beeinflusst, wobei die Schwingungskreise mit diesen Spulen periodisch abwechselnd erregt, d.h durch die Schaltvorrichtung mehrmals kurzzeitig mit dem Verstärker verbunden werden. Die gleichzeitige Beeinflussung wird ermöglicht, indem jeder Schwingungskreis nur eine Spule hat, an deren Stirnfläche die Münze vorbeigeht. Durch diese Massnahmen kann z.B. mit einer Münzgeschwindigkeit von 0,5 m/s eine Prüfdauer von weniger als 100 ms bei einem Energieverbrauch von 200 mWs pro Münze erzielt werden. Indem die Prüfsignale für die verschiedenen Münzeigenschaften aus den Oszillatorschwingungen durch ein und denselben Demodulator mit anschliessendem Analog-Digital-Wandler gebildet werden, haben die auf die Dauer unvermeidbaren, die Prüfsignale unerwünscht beeinflussenden Aenderungen (Drift) von Eigenschaften der Bauteile des Demodulators und des Analog-Digital-Wandlers auf alle Prüfsignale dieselbe Wirkung. Dies ermöglicht eine automatische Korrektur in der Auswertevorrichtung, so dass der Drift bei der Bemessung der Toleranzbereiche der Prüfkriterien (bei deren Ueber- oder Unter schreitung die Auswertevorrichtung ein Münzrückgabesignal auslöst), unbeachtet bleiben kann. Dies ermöglicht eine sehr kritische und trotzdem zuverlässige Prüfung. Vorteilhaft sind auch eine besonders stabile Verstärkerschaltung für den Oszillator, bei der weder Rückkopplungsspulen noch Spulenabgriffe nötig sind, zusammen mit einer Ausführung der Schaltvorrichtung, bei der trotz Verwendung von Halbleiterschaltern die ganze Schwingkreisspannung am Verstärkereingang liegt, ein schnell ansprechender, schwellenfreier Demodulator, die Art der Korrektur von Drifterscheinungen, eine besondere Spulenanordnung für die Prüfung der Prägung der Münze, mit der ausser der Prägungstiefe auch das Prägungsmuster geprüft werden kann, und eine besondere Spulenanordnung und Signalauswertung für die Prüfung des Durchmessers der Münze, durch die ein grosses Auflösungsvermögen in einem grossen Durchmesserbereich erzielt wird. Weitere Vorteile und Lösungen von im Zusammenhang mit der Erfindung stehenden Einzelaufgaben gehen aus der folgendden, detaillierten Beschreibung einer erfindungsgemässen Einrichtung zur Münzenprüfung hervor. Insgesamt zeichnet sich die Einrichtung durch Einfachheit, niedrigen, kurzzeitigen Stromverbrauch, kleinen Raumbedarf und zuverlässige, genaue Prüfergebnisse innerhalb enger Toleranzen aus.
- Im folgenden wird die Erfindung anhand von Zeichnungen, die lediglich einen Ausführungsweg darstellen, näher beschrieben. Es zeigen:
- Fig. 1 einen Uebersichtsschaltplan einer Einrichtung zur Münzenprüfung,
- Fig. 2 eine Seitenansicht eines Abschnittes der Münzführung der Einrichtung,
- Fig. 3 einen Schnitt nach der Linie III-III in Fig. 2,
- Fig. 4 den Stromlaufplan des Verstärkers der Einrichtung nach Fig. 1,
- Fig. 5 einen Stromlaufplan des Amplitudendemodulators der Einrichtung nach Fig. 1,
- Fig. 6 ein Zeitablaufdiagramm der Prüfsignale und deren Teilsignale, die infolge einer Beeinflussung verschiedener Schwingungskreise der Einrichtung nach Fig. 1 durch die geprüft werdende Münze teils nacheinander und teils gleichzeitig auftreten.
- In Fig. 1 ist ein Uebersichtsschaltplan einer Einrichtung zur Münzenprüfung dargestellt, die in ihrem grundsätzlichen Aufbau aus folgenden Baugruppen besteht:
sechs Schwingungskreise 1-6, deren Schwingkreisspulen 7-12 an einer Münzführung (Fig. 2 und 3) so angeordnet sind, dass sie für die Prüfung mehrerer Münzeigenschaften teils gleichzeitig und teils einzeln nacheinander von der zu prüfenden Münze beeinflusst werden;
ein Verstärker 14 (Fig. 4) und eine Schaltvorrichtung z.B. 42, 43, durch die jeder der Schwingungskreise 1-6 einzeln mit dem Verstärker 14 zur Bildung eines Oszillators verbindbar ist, der entsprechend der Beeinflussung der jeweiligen Schwingkreisspule, z.B. 7, durch die zu prüfende Münze amplitudenmodulierte (und auch in ihrer Frequenz beeinflusste) hochfrequente Prüfsignale liefert.
ein Amplitudendemodulator 19 für die hochfrequenten Prüfsignale, der ein für die Beeinflussung der jeweiligen Schwingkreisspule durch die zu prüfende Münze und damit für die betreffende Münzeigenschaft charakteristisches, analoges Prüfsignal liefert, das in einem Analog-Digital-Wandler 20 in ein digitales Prüfsignal umgewandelt wird;
eine Auswertevorrichtung 22 mit Festwertspeicher 23, in welcher die digitalen Prüfsignale mit im Festwertspeicher 23 gespeicherten Prüfkriterien verglichen werden, und ein Münzannahmesignal an einer Leitung 25 ausgelöst wird, wenn alle von einer Münze erhaltenen Prüfsignale den für eine der anzunehmenden Münzen gespeicherten Kriterien entsprechen, und ein Münzrückgabesignal an einer Leitung 26 ausgelöst wird, wenn nicht alle Prüfsignale ein und derselben Münze den für eine der anzunehmenden Münzen gespeicherten Kriterien entsprechen;
eine Steuervorrichtung 28, welche die Schaltvorrichtung 16, 17 so steuert, dass die Schwingungskreise 1-6 in der Reihenfolge, in der ihre Spulen 7-12 durch die zu prüfende Münze beeinflusst werden, einzeln nacheinander, und Schwingungskreise (1, 2 bzw. 4, 5, 6), deren Spulen (7, 8 bzw. 10, 11, 12) gleichzeitig beeinflusst werden, wiederholt miteinander abwechselnd mit dem Verstärker 14 verbunden werden, bis die Auswertevorrichtung 22 ein Münzannahme- oder -rückgabesignal an der Leitung 25 bzw. 26 auslöst. - Die Auswertevorrichtung 22 und die Steuervorrichtung 28 sind zu einer Datenverarbeitungseinrichtung (Mikroprozessor CPU) zusammengefasst, welcher der Festwertspeicher (EPROM) 23 zugeordnet ist.
- Die Münzführung nach Fig. 2 und 3 hat eine steile Führungsfläche 31, an der die auf einer Rollbahn 32 mit Gefälle rollenden Münzen mit ihrer ganzen Vorder- bzw. Rückseite gleiten, so dass ein bestimmter, kleiner Abstand zwischen der Münze und den dicht hinter der Führungsfläche 31 angeordneten Schwingkreisspulen 7-11 sichergestellt ist. Die Schwingungskreise 1 bis 6 sind wie folgt für die Prüfung mehrerer Münzeigenschaften vorgesehen: Die Schwingungs kreise 1 und 2 mit den Spulen 7 und 8 für die Prägung, die Schwingungskreise 3 und 4 mit den Spulen 9 und 10 für den Durchmesser, der Schwingungskreis 5 mit der Spule 11 für die Legierung und der Schwingungskreis 6 mit der Spule 12 für die Dicke der Münze. Die Schwingkreisspulen 7-12 sind so angeordnet, dass die zu prüfende Münze zuerst die Spulen 7 und 8 gleichzeitig, dann die Spule 9 einzeln und anschliessend die Spulen 10, 11 und 12 gleichzeitig beeinflusst. Dazu ist die Spule 10 an der Führungsfläche 31 oberhalb der Spule 11 und die Spule 12 koaxial zur Spule 11 dieser gegenüber angeordnet. Entsprechend der teils gleichzeitigen und der teils aufeinander folgenden Beeinflussung der Spulen 7 bis 12 verbindet die Schaltvorrichtung 16, 17 bei der Prüfung der Münzeigenschaften zuerst die Schwingungskreise 1 und 2 (Spulen 7 und 8) periodisch abwechselnd (z.B. jeweils 0,5 bis 1 ms), dann den Schwingungskreis 3 (Spule 9) und anschliessend in dauernder Wiederholung nacheinander die Schwingungskreise 4, 5 und 6 (Spulen 10, 11 und 12) mit dem Verstärker 14 zur Bildung eines Oszillators. Die konstruktive Ausführung und Einzelheiten der Anordnung der Schwingkreisspulen 7 bis 12, die bei ihrer Beeinflussung durch die zu prüfende Münze auftretenden Prüfsignale, deren Auswertung und die Auslösung der Steuersignale für die Schaltvorrichtung 16, 17 werden weiter unten näher beschrieben.
- Bei Abwesenheit einer Münze haben die Schwingungskreise 1, 2 und 6 eine Eigenfrequenz von 247 kHz, die Schwingungskreise 3 und 4 eine Eigenfrequenz von 230 kHz und der Schwingungskreis 5 eine niedrigere Eigenfrequenz von 120 kHz, bei der das Feld der Spule 11 tiefer in den Münzkörper eindringt, wobei der Einfluss der elektrischen und magnetischen Eigenschaften der Münzlegierung auf das Prüfsignal grösser und der Einfluss der Prägungstiefe kleiner ist. Die Dämpfungen der Schwingungskreise 1-6 sind an Wider ständen, z.B. 36, so abgeglichen, dass die Hochfrequenzspannung des Oszillators mit jedem der Schwingungskreise 1-6 in Abwesenheit einer Münze dieselbe Amplitude hat, z.B. Spitze-Spitze-Wert 2,5 V.
- Um Rückkopplungsspulen oder Spulenabgriffe und eine entsprechend aufwendige Schaltvorrichtung zu vermeiden, ist der Verstärker 14 ein nicht invertierender Verstärker mit dem Verstärkungsgrad Eins. Die Schaltvorrichtung 16, 17 hat für jeden der Schwingungskreise 1-6 zwei gemeinsam ansteuerbare Halbleiterschalter, durch deren einen der Eingang 39 und durch deren anderen der Ausgang 40 des Verstärkers 14 mit jedem der Schwingungskreise 1-6 einzeln verbindbar ist. Beispielsweise ist der Schwingungskreis 1 durch den Halbleiterschalter 42 mit dem Verstärkereingang 39 und durch den Halbleiterschalter 43 mit dem Verstärkerausgang 40 verbindbar. Zwecks Verwendung integrierter Bauelementeinheiten sind sowohl diese, je einem der Schwingungskreise 1-6 zugeordneten Halbleiterschalter, z.B. 42 und 43, als auch die weiter unten erwähnten Halbleiterschalter 45 und 46 Teile zweier Analogschalter 16 und 17 der für das Zeitmultiplexverfahren der Uebertragungstechnik üblichen Art, deren Ansteuerlogik mit 48 bzw. 49 bezeichnet ist. Die Verwendung zweier, getrennter Schalter, z.B. 42 und 43, hat folgenden Grund: Bei Verwendung eines einzigen Halbleiterschalters wäre die Verstärkereingangsspannung nicht gleich der Schwingkreisspannung, sondern von dem temperaturabhängigen und wegen Drift-Erscheinungen veränderlichen Durchlassspannungsabfall an diesem Schalter beeinflusst. Dadurch würde die Stabilität (insbesondere Amplitudenstabilität) des Oszillators beeinträchtigt. Bei Verwendung der beiden Halbleiterschalter ist die Verstärkereingangsspannung jedoch praktisch genau gleich der Schwingkreisspannung; denn der Durchlassspannungsabfall an demjenigen, z.B. 42, dieser beiden Halbleiterschalter, der den Schwingungskreis, z.B. 1, mit dem Verstärkereingang 39 verbindet, ist wegen des sehr schwachen Verstärkereingangsstromes vernachlässigbar. Dabei wird trotz des nicht konstanten Durchlasswiderstands der Halbleiterschalter eine hohe Stabilität des Oszillators erzielt.
- Fig. 4 zeigt den Verstärker 14 in dem Zustand der Analogschalter 16, 17 in dem er mit dem Schwingungskreis 1 einen Oszillator bildet. Der Verstärker 14 ist ein stabilisierter Differenzverstärker mit einem ersten und einem zweiten Transistor 51 und 52 in Emitterschaltung. An den Eingängen 54 und 55 dieser Verstärkerschaltung liegen gleiche Teilspannungen zweier Gleichspannungsteiler 57, 58 und 59, 60. Bezogen auf den Ausgang 62 (Kollektor des zweiten Transistors 52) ist 54 (Basis des ersten Transistors 51) der nicht invertierende Eingang. Diesem Eingang ist die Schwingkreisspannung überlagert, indem der Schwingungskreis 1 durch den Halbleiterschalter 43 und einen den Widerstand 57 überbrückenden Kondensator 63 mit diesem Eingang 54 verbunden ist. Der Ausgang 62 ist durch den Halbleiterschalter 42 ebenfalls mit dem Schwingungskreis 1 verbunden. Ein Impulsformer 64, der Impulse mit der Frequenz der Oszillatorschwingungen an die Auswertevorrichtung 22 liefert, welche diese Impulse als zusätzliches Prüfsignal, inbesondere z.B. bei der Prüfung der Münzlegierung verwendet, ist, um den Oszillator möglichst wenig zu beeinflussen, an den anderen Ausgang 66 (Kollektor des ersten Transistors 51) angeschlossen. Zur Stabilisierung des Verstärkers dienen eine Konstantstromquelle 67 in Verbindung mit einem Stromspiegel 68, der zwischen die miteinander verbundenen Emitter der Transistoren 51 und 52 und ein festes negatives Bezugspotential (z.B. -5V) geschaltet ist. Ein in Reihe mit der Konstantstromquelle 67 liegender Widerstand 69 liefert eine konstante (negative) Referenzspannung, die durch einen Verstärker 71 verstärkt und invertiert wird, wobei die Spannung Uref am Ausgang 72 dieses Verstärkers 71 praktisch belastungsunabhängig ist.
- Der Amplitudendemodulator 19 hat nach Fig. 5 eine erste Konstantstromquelle 75, die einen durch einen Pfeil 76 dargestellten Ladestrom von z.B. 0,33 mA in Durchlassrichtung einer Diode 77 an einen Kondensator 78 liefert. Die Konstantstromquelle 75 ist von einem Komparator 79 so gesteuert, dass der Ladestrom 76 fliesst, wenn der Augenblickswert der Hochfrequenzspannung grösser als die Kondensatorspannung ist. Eine zweite Konstantstromquelle 82 liefert einen durch einen Pfeil 83 dargestellten Entladestrom von z.B. 0,004 mA unmittelbar an den Kondensator 78. Die zweite Konstantstromquelle 82 ist von einem zweiten Komparator 84 so gesteuert, dass der Entladestrom 83 fliesst, wenn die Kondensatorspannung die dem Ladestrom 76 entsprechende Polarität hat. Da der Entladestrom 83 sehr viel schwächer als der Ladestrom 76 ist, kann der Komparator 84 auch weggelassen werden, so dass der Entladestrom 83 dauernd fliesst. Wenn der Augenblickswert der Hochfrequenzspannung kleiner als die Spannung am Kondensator 78 ist, fliesst der dann zur Pfeilrichtung 76 entgegengesetzte Strom der Konstantstromquelle 75 durch die Diode 85. Die Ströme 76 und 83 der Konstantstromquellen 75 und 82 sind mittels zweier Transistoren 87 und 88 von evtl. Aenderungen der Referenzspannung an der Ausgangsleitung 72 des Verstärkers 71 (Fig. 4) derart beeinflusst, dass bei einer durch eine Aenderung des Speisestromes des Verstärkers 14 bewirkten Aenderung der Hochfrequenzspannung des mit diesem und jeweils einem der Schwingungskreise 1-6 gebildeten Oszillators der Ladestrom 76 (und mit dem Komparator 84 auch der Entladestrom 83) des Kondensators 78 im Demodulator 19 ebenso ändert, so dass diese Aenderung der Hochfrequenzspannung keinen Einfluss auf das analoge Signal hat. Dies ermöglicht es, eng tolerierte Prüfkriterien zu verwenden. Das Ausgangssignal (Spannung des Kondensators 78) des Demodulators 19 wird in einem Verstärker 89 verstärkt und im Analog-Digital-Wandler 20 in ein entsprechendes digitales Signal umgewandelt.
- Zur Korrektur der Wirkungen allmählicher Aenderungen (Drift) derjenigen Eigenschaften von Bauelementen der Einrichtung, welche die Prüfsignale beeinflussen, werden vor der Münzprüfung (unmittelbar nach dem Ansprechen eines Münzdetektors) die Halbleiterschalter 45 und 46 (Fig. 1) nacheinander vorübergehend geschlossen. Dadurch wird eine erste Spannung Uref 1 und danach eine zweite Spannung Uref 2 an den Eingang des Amplitudendemodulators 19 gelegt. Diese Spannungen sind durch einen oder zwei nicht dargestellte Spannungsteiler aus der Spannung Uref an der Ausgangsleitung des Verstärkers 71 (Fig. 4) erhalten und so bemessen, dass Uref 1 zu einem ersten Digitalsignal in einem untersten Teil des Signalbereichs des Analog-Digital-Wandlers 20 und Uref 2 zu einem zweiten Digitalsignal in einem obersten Teil des Signalbereichs des Analog-Digital-Wandlers 20 führt. Dazu ist Uref 2 etwas kleiner als die Oszillatoramplitude bei nicht durch eine Münze beeinflusstem Schwingungskreis und Uref 1 grössenordnungsmässig kleiner als Uref 2. Die im einzelnen nicht dargestellte Auswertevorrichtung 22 (Datenverarbeitungseinrichtung, Mikroprozessor CPU) hat ein Subtrahierwerk, ein Dividierwerk sowie ein Addierwerk und ein Multiplizierwerk, und im Speicher 23 (EPROM) sind ein erster Sollwert für das erste und ein zweiter Sollwert für das zweite dieser beiden digitalen Signale gespeichert. Das Subtrahierwerk bildet die Differenz zwischen dem Wert des ersten Signals und dem ersten Sollwert. Das Dividierwerk bildet den Quotienten aus dem Wert des zweiten Signals und dem zweiten Sollwert. Bevor bei der anschliessenden Münzprüfung die Prüfsignale mit den gespeicherten Prüfsignal-Kriterien verglichen werden, wird jedes Prüfsignal vom Addierwerk durch Addition der Differenz und vom Multiplizierwerk durch Multiplikation mit dem Quotienten korrigiert. Dadurch werden Aenderungen (Drift) der Eigenschaften von Bauelementen des Demodulators 19 und insbesondere des Analog-Digital-Wandlers 20 so kompensiert, dass mit sehr eng tolerierten Prüfkriterien gearbeitet werden kann. Durch die erste dieser Korrekturen wird eine Verschiebung der Digitalwerte, durch die zweite wird eine Aenderung des Analog-Digital-Bereichs des Analog-Digital-Wandlers 20 berichtigt.
- Die Spulen 7 und 8 zur Prüfung der Prägung der Münze sind Topfkernspulen, deren Topfkernstirnfläche wesentlich kleiner als die Fläche der kleinsten, anzunehmenden Münze ist. Sie sind in einem solchen Abstand von der Rollbahn 32 der Münzführung und in einem solchen gegenseitigen Abstand in Münzlaufrichtung 34 (Fig. 7) aufeinander folgend angeordnet, dass sie von allen anzunehmenden Münzen während einer zur Erzeugung eines auswertbaren Prüfsignals ausreichenden Zeit gleichzeitig beeinflusst werden. Da die Schwingungskreise 1 und 2 mit den Spulen 7 und 8 periodisch abwechselnd mit dem Verstärker 14 zur jeweiligen Bildung eines Oszillators verbunden sind, besteht das Prüfsignal für die Prägung der Münze aus zwei, wie beim Zeitmultiplexverfahren miteinander verschachtelten Teilsignalen P₁ und P₂ (Fig. 6), von denen P₁ auf einer Beeinflussung der Spule 7 und P₂ auf einer Beeinflussung der Spule 8 beruht. Weil die Spulen 7 und 8 dabei von verschiedenen, kleinen Flächenteilen (verschiedener Kreisringsektoren) der Münzoberfläche beeinflusst sind, enthält das Prüfsignal P₁, P₂ wesentlich mehr Information über die Prägung als ein in üblicherweise durch Beeinflussung einer einzigen Spule entstandenes Prüfsignal. Als Prüfkriterien für die Tiefe der Prägung der Münze sind im Speicher 23 für jede anzunehmende Münze die Grenzen des Bereichs gespeichert, zwischen denen die Signalmaxima und -minima liegen. Die Auswertevorrichtung 22 prüft, ob der Bereich, in dem die Minima und Maxima der Prüfsignalteile P₁ und P₂ liegen, einem der als Kriterien je für eine der anzunehmenden Münzen gespeicherten Bereiche entspricht. Trifft dies zu, so hat die geprüft werdende Münze die Prägungstiefe dieser anzunehmenden Münze.
- Der grössere Informationsinhalt des mit den beiden Spulen 7 und 8 erhaltenen, für die Prägung charakteristischen Prüfsignals P₁, P₂ ermöglicht es auch, für das Prägungsmuster (Schrift- bzw. Zahlen- und Bildprägung) typische Kriterien der anzunehmenden Münzen zu speichern und zur Prüfung, z.B. zusätzlich zur Tiefe der Prägung heranzuziehen. Diese Kriterien sind für beide Seiten jeder Münze zu speichern, weil sie für die beiden Seiten der Münze verschieden sind und nicht voraussehbar ist, welche Seite der Münze bei ihrer Prüfung den Spulen 7 und 8 zugewandt ist. Dabei kann es zweckmässig sein, die Spulen 7 und 8 in verschiedenen Abständen von der Rollbahn 32 der Münzführung anzuordnen.
- Die Spulen 9 und 10 für Prüfung des Durchmessers der Münze haben Topfkerne, deren Durchmesser wesentlich grösser als der Durchmesser der Spulen 7 und 8 ist. An den Topfkernen der Spulen 9 und 10 sind zwei einander gegenüberliegende Segmente abgeschnitten, um ihre Abmessung in Münzlaufrichtung 34 und damit die Dauer ihrer Beeinflussung und die Länge der Messstrecke an der Münzführung herabzusetzen. Diese Spulen 9 und 10 sind in Münzlaufrichtung 34 aufeinander folgend so angeordnet, dass die höchste Stelle des Polkerns der Spule 9 und die tiefste Stelle des Polkerns der Spule 10 denselben Abstand von der Rollbahn 32 der Münzführung haben. Damit wird die Prüfung des Münzendurchmessers in zwei einander teilweise überlappenden Durchmesserbereichen durchgeführt, was im Vergleich mit der Beeinflussung nur einer Spule wesentlich differenziertere Prüfsignale in einem grösseren Durchmesserbereich ergibt, die enger tolerierte Prüfkriterien für die Durchmesserprüfung ermöglichen. Dabei besteht das Prüfsignal aus zwei aufeinander folgenden Teilsignalen d₁ und d₂ für Münzen in einem unteren Teil des Durchmesserbereichs bzw. D₁ und D₂ für Münzen in einem oberen Teil des Durchmesserbereichs, wobei d₁ bzw. D₁ auf einer Beeinflussung der Spule 9, d₂ bzw. D₂ auf einer Beeinflussung der Spule 10 beruhen. Bei einer Münze im unteren Durchmesserteilbereich hat d₁ ein ausgeprägtes Minimum, das in einer eindeutigen Beziehung zum Münzdurchmesser steht (grosse Steilheit des Signalwertes in Funktion des Durchmessers der Münze), während d₂ ein viel weniger ausgeprägtes, wenig aussagekräftiges Minimum (kleine Steilheit des Signalwertes in Funktion des Durchmessers der Münze) hat. Das Minimum von d₁ wird für die Prüfung ausgewertet. Bei einer Münze im oberen Durchmesserteilbereich hat D₁ einen breiten Bereich eines Minimums, das nur unwesentlich vom Münzdurchmesser beeinflusst ist, während D₂ ein ausgeprägtes, viel stärker vom Münzdurchmesser beeinflusstes Minimum hat. Das Minimum von D₂ wird für die Prüfung ausgewertet. Im Speicher 25 sind für jede der anzunehmenden Münzen, deren Durchmesser im unteren Durchmesserteilbereich liegt, die Kriterien für das Minimum des ersten Teilsignals d₁ und für jede der anzunehmenden Münzen, deren Durchmesser im oberen Durchmesserteilbereich liegt, die Kriterien für das Minimum des zweiten Teilsignals D₂ gespeichert.
- Die Auswertevorirchtung 22 ermittelt die Minima dieser Prüfsignale, indem sie diese differenziert. Kriterien für den Münzdurchmesser sind für jede der anzunehmenden Münzen eine obere und eine untere Grenze des Minimums des ersten bzw. zweiten Teilsignals. Liegt das erste bzw. zweite Teilsignal d₁ bzw. D₂ der zu prüfenden Münze zwischen den für eine der anzunehmenden Münzen gespeicherten Grenzen, so hat die Münze den Durchmesser dieser anzunehmenden Münze.
- Die für die Prüfung der Münzlegierung vorgesehene Spule 11 und die für die Prüfung der Münzdicke vorgesehene Spule 12 sind Topfkernspulen, deren Topfkerndurchmesser so bemesen und die in einem solchen Abstand von der Rollbahn 32 angeordnet sind, dass sie auch von derjenigen der anzunehmenden Münzen, die den kleinsten Durchmesser hat, während einer zur Erzeugung eines auswertbaren Prüfsignals ausreichenden Zeit in ihrem ganzen Polbereich beeinflusst werden. Der Abstand der Spule 12 von der Führungsfläche 31 der Münzlaufbahn ist nur wenig grösser als die Dicke der dicksten der anzunehmenden Münzen. Dadurch wird ein möglichst grosser Einfluss der Münzdicke auf die Amplitude (und Frequenz) der Schwingungen des Schwingungskreises 6 mit der Spule 12 erzielt, wenn dieser zusammen mit dem Verstärker 14 einen Oszillator bildet.
- Das bei Beeinflussung der Spule 11 durch die zu prüfende Münze erhaltene Prüfsignal L für die Legierung des Münzmetalls hat zwischen zwei Minima einen konstanten Signalteil. Zu diesem Signalteil sind im Speicher 23 für jede der anzunehmenden Münzen die Kriterien gespeichert. Eines dieser beiden Minima entsteht, wenn der Münzrand in das Feld der Spule 11 eintritt, und das andere entsteht, wenn der Münzrand wieder aus dem Feld der Spule 11 austritt, wobei eine Münzrandzone als im Hochfrequenzfeld der Spule 11 bewegter (im Feld begrenzter) Leiter wirkt. Hat die Münze eine Randzone aus einer und einen mittleren Teil aus einer anderen Legierung, so beeinflusst dies die beiden Minima und den konstanten, mittleren Signalteil. Deshalb können diese Minima und dieser mittlere Signalteil als Unterscheidungsmerkmale von verschiedenen Münzen dieser Art und von Münzen aus nur einer Legierung sowie von Münzen mit einem zentralen Loch benutzt werden, indem entsprechende Kriterien im Speicher 23 gespeichert und mit diesen Teilen des Signals L verglichen werden. Dazu muss der Schwingungskreis 5 nicht nur während der Beeinflussung des ganzen Polbereiches seiner Spule 11 durch die zu prüfende Münze sondern auch dann erregt, d.h. mit dem Verstärker 14 verbunden sein, wenn der Münzrand den Polbereich erreicht oder verlässt. Im Gegensatz dazu genügt es, dass der Schwingungskreis 3 nur in einem Bereich maximaler Beeinflussung seiner Spule 9 erregt ist. Auch würde es genügen, den Schwingungskreis 4 nur in einem Bereich maximaler Beeinflussung seiner Spule 10 und gleichzeitig den Schwingungskreis 6 zu erregen.
- Das bei Beeinflussung der Spule 12 durch die zu prüfende Münze erhaltene Prüfsignal S für die Dicke der Münze hat ebenfalls zwischen zwei Minima einen konstanten Signalteil, zu dem im Speicher 23 für jede der anzunehmenden Münzen die Kriterien gespeichert sind, mit denen dieser Signalteil bei der Auswertung des Signals S verglichen wird. Dabei haben die beiden Minima keine Bedeutung.
- Die erwähnten Minima treten aus dem erwähnten Grunde auch bei den Signalen P₁ und P₂ auf, kommen aber wegen des kleinen Verhältnisses des Durchmessers der Spulen 7 und 8 zum Münzdurchmesser (z.B. 4 mm) und zur Münzgeschwindigkeit (z.B. 0,5 m/s) nur sehr kurzzeitig zur Geltung, könnten jedoch bei der Prägungsprüfung zusätzlich herangezogen werden. Die Schwingungskreise 3 und 4 sind, wenn der Münzrand in das Feld der Spule 9 bzw. 10 eintritt und aus diesem austritt, noch nicht bzw. nicht mehr erregt, wie weiter unten im Zusammenhang mit dem Weiterschalten der Analogschalter 16 und 17 von den Schwingungskreisen 1 und 2 zum Schwingungskreis 3 vom Schwingungskreis 3 zu den Schwingungskreisen 4, 5 und 6 beschrieben. Das für die Signalauswertung massgebende Minimum von d₁ bzw. D₂ und gegebenenfalls die Minima von z.B. L ermittelt die Auswertevorrichtung 22 durch Differentiation dieser Signale. Der mittlere, konstante Teil der Signale L und S verläuft in einem Bereich, in dessen Mitte das Minimum von D₂ (Zeitpunkt t₃) liegt. Demgemäss wird der Betrag, den diese Signale in diesem Zeitpunkt (oder kurz danach) haben, in der Auswertevorrichtung 22 ausgewertet.
- Kriterien für die Legierung und für die Dicke der Münze sind eine obere und eine untere Grenze des konstanten, mittleren Signalteils von L bzw. S (und gegebenenfalls die Minima des Signals L). Liegt der betreffende Signalteil zwischen den für die Legierung bzw. Dicke einer der anzunehmenden Münzen gespeicherten Grenzen, so hat die zu prüfende Münze die Legierung bzw. Dicke dieser anzunehmenden Münze.
- Da zur gleichzeitigen Erzeugung der Teilsignale P₁ und P₂ für die Prägung, des Teilsignals D₂ für den Durchmesser, des Signals L für die Legierung und des Signals S für die Dicke der Münze die Schwingungskreise 1 und 2 bzw. 4, 5 und 6 mit den Spulen 7 und 8 bzw. 10, 11 und 12 in dauernd aufeinander folgender Wiederholung jeweils kurzzeitig durch Verbindung mit dem Verstärker 14 erregt werden, bestehen P₁, P₂, D₂, L und S aus kurzen, wie beim Zeitmultiplex miteinander verschachtelten Signalteilen. Die Zuordnung dieser miteinander verschachtelten Signalteile zu den Signalen bereitet in der Auswertevorrichtung 22 keine besonderen Schwierigkeiten, weil dieselbe Auswertevorrichtung 22 (des Mikroprozessors CPU) auch die Steuervorrichtung 28 für die Analogschalter 16 und 17 steuert, durch welche die Schwingungskreise 1 und 2 bzw. 4, 5 und 6 jeweils mit dem Verstärker 14 verbunden und dabei erregt sind.
- Die Weiterschaltung der Einrichtung von einem Prüfvorgang zum folgenden Prüfvorgang bzw. zu den folgenden gleichzeitigen Prüfvorgängen wird jeweils von der zu prüfenden Münze selbst ausgelöst. Sobald ein zur Auswertung ausreichender Teil des Prüfsignals (Teilsignals) P₁ des Schwingungskreises 1 (Spule 7) vorliegt (das ist im Zeitpunkt t₁ der Fall, in dem die ansteigende Flanke des Teilsignals P₁ erkennen lässt, dass keine weitere Information zu erwarten ist), veranlasst die Auswertevorrichtung 22 (mittels der Steuervorrichtung 28) ein Signal an die Ansteuerlogik 48 und 49 der Analogschalter 16 und 17, durch das deren dem Schwingungskreis 3 mit der Spule 9 zugeordnete Halbleiterschalter geschlossen werden, so dass der Verstärker 14 mit dem Schwingungskreis 3 einen Oszillator bildet. Dessen Schwingkreisspule 9 wird nun von der zu prüfenden Münze beeinflusst. Dadurch entsteht dann das erste Teilsignal d₁ bzw. D₂ des Prüfsignals für den Münzdurchmesser. Sobald dieses Teilsignal nach einem Minimum ansteigt, das ist im Zeitpunkt t₂, enthält es alle erforderliche Information, und nun veranlasst die Auswertevorrichtung 22, dass die Schwingungskreise 4, 5 und 6 dauernd wiederholt je einzeln mit dem Verstärker 14 zur Bildung eines Oszillators verbunden werden. Die Münze beeinflusst die Spulen 10, 11 und 12 dieser Schwingungskreise 4, 5 und 6 gleichzeitig. Dabei entstehen durch Beeinflussung der Spule 10 das zweite Teilsignal d₂ bzw. D₂ für die Prüfung des Durchmessers, durch Beeinflussung der Spule 11 das Signal L für die Prüfung der Legierung und durch Beeinflussung der Spule 12 das Signal S für die Prüfung der Dicke der Münze.
- Die Einrichtung könnte auch so ausgeführt werden, dass die Analogschalter 16 und 17 die Schwingungskreise 1 bis 6 in einem während der Münzprüfung dauernd wiederholten Zyklus mit dem Verstärker 14 zur Bildung eines Oszillators verbinden. Dies führt jedoch - ebenso wie eine ebenfalls mögliche Aufeinanderfolge der Prüfvorgänge nach einem festen Zeitprogramm, die eine bestimmte Münzgeschwindigkeit voraussetzt - zu einer längeren Prüfungsdauer.
- Sobald die Auswertevorrichtung 22 feststellt, dass ein Prüfsignal oder Teilsignal eines Prüfsignals keinen der für die betreffende Münzeigenschaft der anzunehmenden Münzen gespeicherten Kriterien entspricht, oder mehrere, solche (von ein und derselben Münze erhaltene) Signale nicht den für die betreffenden Eigenschaften ein und derselben, anzunehmenden Münze gespeicherten Kriterien entsprechen, löst sie das Münzrückgabesignal an der Leitung 26 aus. Entsprechen alle für die verschiedenen Münzeigenschaften erhaltenen Prüfsignale den für diese Eigenschaften ein und derselben, annehmbaren Münze gespeicherten Kriterien, so löst die Auswertevorrichtung 22 das Münzannahmesignal an der Leitung 25 aus. Nach einem Münzannahme- oder Münzrückgabesignal nimmt die Einrichtung wieder ihren Ruhezustand an. Im Falle eines Münzrückgabesignals im Zeitpunkt t₁ oder t₂ unterbleibt dabei ein Steuersignal für das Weiterschalten zum nächsten bzw. zu den nächsten Prüfvorgängen.
- Da jede zu prüfende Münze sowohl die Amplitude als auch die Frequenz der Oszillatorschwingungen beeinflusst, kann die Einrichtung auch so ausgeführt werden, dass der Frequenzverlauf die Prüfsignale bestimmt. Auch kann das Ausführungsbeispiel so erweitert werden, dass bei Prüfung wenigstens einer der Münzeigenschaften, z.B. der Legierung, geprüft wird, ob die durch die Münze beeinflusste Frequenz der Oszillatorschwingungen dafür gespeicherten Kriterien entspricht.
- Die Ausführung der Spulen 8 bis 12, die Anordnung der Spulen 8 und 9 sowie die Anordnung der Spulen 9 und 10 in bezug aufeinander, die Prüfsignale, deren Auswertung und die dabei benutzten Kriterien sind sinngemäss auch ohne das Zeitmultiplex-Prinzip anwendbar.
Claims (14)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AT86107405T ATE50654T1 (de) | 1985-07-26 | 1986-05-31 | Einrichtung zur muenzenpruefung. |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH3254/85 | 1985-07-26 | ||
CH3254/85A CH667546A5 (de) | 1985-07-26 | 1985-07-26 | Einrichtung zur muenzenpruefung. |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
EP0213283A1 true EP0213283A1 (de) | 1987-03-11 |
EP0213283B1 EP0213283B1 (de) | 1990-02-28 |
Family
ID=4251994
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
EP86107405A Expired - Lifetime EP0213283B1 (de) | 1985-07-26 | 1986-05-31 | Einrichtung zur Münzenprüfung |
EP86904068A Pending EP0231220A1 (de) | 1985-07-26 | 1986-07-25 | Einrichtung zur münzenprüfung |
EP86904067A Ceased EP0231219A1 (de) | 1985-07-26 | 1986-07-25 | Einrichtung zur münzenprüfung |
Family Applications After (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
EP86904068A Pending EP0231220A1 (de) | 1985-07-26 | 1986-07-25 | Einrichtung zur münzenprüfung |
EP86904067A Ceased EP0231219A1 (de) | 1985-07-26 | 1986-07-25 | Einrichtung zur münzenprüfung |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US4742903A (de) |
EP (3) | EP0213283B1 (de) |
AT (1) | ATE50654T1 (de) |
CA (1) | CA1250919A (de) |
CH (1) | CH667546A5 (de) |
DE (1) | DE3669215D1 (de) |
WO (2) | WO1987000662A1 (de) |
YU (1) | YU128886A (de) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0364079A2 (de) * | 1988-10-11 | 1990-04-18 | Unidynamics Corporation | Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen von Münzen |
EP0367921A2 (de) * | 1988-11-07 | 1990-05-16 | Ascom Autelca Ag | Einrichtung zur Prüfung von Münzen |
WO1991002334A1 (en) * | 1989-07-28 | 1991-02-21 | Mars Incorporated | Coin validators |
EP0508560A2 (de) * | 1991-04-11 | 1992-10-14 | ACT GESELLSCHAFT FÜR SOFT UND HARDWARESYSTEME mbH | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Münzen |
EP0704825A1 (de) * | 1994-09-21 | 1996-04-03 | Landis & Gyr Technology Innovation AG | Einrichtung zur Prüfung der Echtheit von Münzen, Jetons oder anderen flachen metallischen Gegenständen |
US6398001B1 (en) | 1997-02-24 | 2002-06-04 | Mars Incorporated | Coin validator |
Families Citing this family (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0786939B2 (ja) * | 1988-05-27 | 1995-09-20 | 株式会社日本コンラックス | 硬貨識別装置 |
JP2767278B2 (ja) * | 1989-04-10 | 1998-06-18 | 株式会社日本コンラックス | 硬貨選別装置 |
GB2243238B (en) * | 1990-04-20 | 1994-06-01 | Tetrel Ltd | Coin validators |
DE4101157A1 (de) * | 1991-01-14 | 1992-07-16 | Trenner D Wh Muenzpruefer | Vorrichtung zur pruefung von muenzen oder dergleichen metallischen scheiben |
EP0500367A3 (en) * | 1991-02-20 | 1993-07-21 | Telkor (Proprietary) Limited | Coil arrangement and static measuring device |
US5220614A (en) * | 1991-02-22 | 1993-06-15 | Professional Coin Grading Service, Inc. | Automated coin grading system |
GB2253297B (en) * | 1991-02-27 | 1994-11-16 | Mars Inc | Coin validation |
US5624019A (en) * | 1991-04-18 | 1997-04-29 | Mars Incorporated | Method and apparatus for validating money |
DE4121033C2 (de) * | 1991-06-26 | 1994-10-27 | Nat Rejectors Gmbh | Elektronischer Münzprüfer |
US5191957A (en) * | 1991-06-28 | 1993-03-09 | Protel, Inc. | Coin discrimination method |
US5568854A (en) * | 1991-06-28 | 1996-10-29 | Protel, Inc. | Coin discrimination method |
US5293979A (en) * | 1991-12-10 | 1994-03-15 | Coin Acceptors, Inc. | Coin detection and validation means |
GB2266804B (en) * | 1992-05-06 | 1996-03-27 | Mars Inc | Coin validator |
US5379875A (en) * | 1992-07-17 | 1995-01-10 | Eb Metal Industries, Inc. | Coin discriminator and acceptor arrangement |
JP3170147B2 (ja) * | 1993-08-19 | 2001-05-28 | ローレルバンクマシン株式会社 | 硬貨判別装置 |
US5433310A (en) * | 1994-01-04 | 1995-07-18 | Coin Mechanisms, Inc. | Coin discriminator with offset null coils |
CA2113492A1 (en) * | 1994-01-14 | 1995-07-15 | Donald W. Church | Apparatus and method for identifying metallic tokens and coins |
US5630494A (en) * | 1995-03-07 | 1997-05-20 | Cummins-Allison Corp. | Coin discrimination sensor and coin handling system |
CA2173428A1 (en) | 1995-04-06 | 1996-10-07 | Donald W. Church | Electronic parking meter |
US5579887A (en) * | 1995-06-15 | 1996-12-03 | Coin Acceptors, Inc. | Coin detection apparatus |
DE19548233C2 (de) * | 1995-12-21 | 1998-03-12 | Nat Rejectors Gmbh | Elektronischer Münzprüfer |
DE59700421D1 (de) * | 1996-03-19 | 1999-10-14 | Electrowatt Tech Innovat Corp | Anordnung zum prüfen von münzen |
WO1998005008A1 (en) * | 1996-07-29 | 1998-02-05 | Quadrum Telecommunications, Inc. | Coin validation apparatus |
WO1998014910A1 (en) * | 1996-09-30 | 1998-04-09 | Coin Mechanisms, Inc. | Method and apparatus for discriminating different coins |
KR100296694B1 (ko) | 1997-05-21 | 2001-08-07 | 오까다 마사하루 | 화폐선별방법및장치 |
GB2331614A (en) * | 1997-11-19 | 1999-05-26 | Tetrel Ltd | Inductive coin validation system |
JP2000242823A (ja) * | 1999-02-24 | 2000-09-08 | Nippon Conlux Co Ltd | 硬貨選別方法および装置 |
US6739444B2 (en) | 2001-02-20 | 2004-05-25 | Cubic Corp | Inductive coin sensor with position correction |
JP4022583B2 (ja) * | 2002-03-11 | 2007-12-19 | 旭精工株式会社 | コインセレクタ |
AU2003900636A0 (en) * | 2003-02-13 | 2003-02-27 | Microsystem Controls Pty Ltd | Identification of coins, including magnetic characteristics |
US20050224313A1 (en) * | 2004-01-26 | 2005-10-13 | Cubic Corporation | Robust noncontact media processor |
US8184019B2 (en) | 2008-04-25 | 2012-05-22 | J.J. Mackay Canada Limited | Data collection system for electronic parking meters |
CA2745365C (en) | 2008-12-23 | 2013-01-08 | J.J. Mackay Canada Limited | Low power wireless parking meter and parking meter network |
CA3178279A1 (en) | 2011-03-03 | 2012-09-03 | J.J. Mackay Canada Limited | Parking meter with contactless payment |
US9329650B2 (en) | 2012-03-14 | 2016-05-03 | Accenture Global Services Limited | Customer-centric demand side management for utilities |
CA145137S (en) | 2012-04-02 | 2013-07-22 | Jj Mackay Canada Ltd | Single space parking meter |
CN104813369B (zh) * | 2012-10-25 | 2018-01-12 | 魅股份有限公司 | 将有价值物品分类的系统 |
CA2894350C (en) | 2015-06-16 | 2023-03-28 | J.J. Mackay Canada Limited | Coin chute with anti-fishing assembly |
USRE48566E1 (en) | 2015-07-15 | 2021-05-25 | J.J. Mackay Canada Limited | Parking meter |
CA3176773A1 (en) | 2015-08-11 | 2017-02-11 | J.J. Mackay Canada Limited | Single space parking meter retrofit |
USD813059S1 (en) | 2016-02-24 | 2018-03-20 | J.J. Mackay Canada Limited | Parking meter |
US10957445B2 (en) | 2017-10-05 | 2021-03-23 | Hill-Rom Services, Inc. | Caregiver and staff information system |
CA3031936A1 (en) | 2019-01-30 | 2020-07-30 | J.J. Mackay Canada Limited | Spi keyboard module for a parking meter and a parking meter having an spi keyboard module |
US11922756B2 (en) | 2019-01-30 | 2024-03-05 | J.J. Mackay Canada Limited | Parking meter having touchscreen display |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1401488A (fr) * | 1964-05-09 | 1965-06-04 | Compteurs De Geneve Soc D | Dispositif pour contrôler le versement de pièces de monnaie dans un automate |
US3328720A (en) * | 1965-07-15 | 1967-06-27 | Westinghouse Electric Corp | Dual mode oscillator circuits |
DE2146184A1 (de) * | 1971-09-15 | 1973-03-22 | Standard Elektrik Lorenz Ag | Muenzpruefer |
GB2045500A (en) * | 1979-03-12 | 1980-10-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Coin selector for vending machine |
DE2916123A1 (de) * | 1979-04-19 | 1980-10-30 | Walter Hanke Mechanische Werks | Schaltungsanordnung zur pruefung der groesse von materialzusammensetzung von muenzen |
GB2169429A (en) * | 1985-01-04 | 1986-07-09 | Coin Controls | Coin discrimination apparatus |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL131067C (de) * | 1963-06-04 | |||
CH503338A (fr) * | 1969-02-04 | 1971-02-15 | Sodeco Compteurs De Geneve | Dispositif d'identification de pièces de monnaie |
US3738469A (en) * | 1969-08-22 | 1973-06-12 | G Prumm | Tester for different types of coins |
DE2014023A1 (de) * | 1970-03-24 | 1971-10-07 | Nat Rejectors Gmbh | Vorrichtung zum Prüfen der Eigen schäften von Metallscheiben |
US3749220A (en) * | 1971-10-06 | 1973-07-31 | Anritsu Electric Co Ltd | Coin discriminating apparatus |
US3918565B1 (en) * | 1972-10-12 | 1993-10-19 | Mars, Incorporated | Method and apparatus for coin selection utilizing a programmable memory |
GB1453283A (en) * | 1973-10-03 | 1976-10-20 | Mars Inc | Apparatus for identifying coins |
FR2275829A1 (fr) * | 1974-06-19 | 1976-01-16 | Automatisme Cie Gle | Dispositif pour la reconnaissance d'une categorie de pieces de monnaie |
JPS5611181Y2 (de) * | 1975-12-02 | 1981-03-13 | ||
DE2636922A1 (de) * | 1976-08-17 | 1978-02-23 | Nat Rejectors Gmbh | Schaltungsanordnung zur ueberwachung einer muenzpruefeinrichtung |
FR2408183A1 (fr) * | 1977-11-03 | 1979-06-01 | Signaux Entr Electriques | Controleur de pieces metalliques, et notamment de pieces de monnaie |
US4254857A (en) * | 1978-09-15 | 1981-03-10 | H. R. Electronics Company | Detection device |
GB2093620B (en) * | 1981-02-11 | 1985-09-04 | Mars Inc | Checking coins |
ATE17060T1 (de) * | 1981-03-06 | 1986-01-15 | Sodeco Compteurs De Geneve | Vorrichtung zum pruefen von muenzen. |
GB2141277B (en) * | 1983-06-06 | 1986-05-08 | Coin Controls | Electronic coin validator |
-
1985
- 1985-07-26 CH CH3254/85A patent/CH667546A5/de not_active IP Right Cessation
-
1986
- 1986-05-31 EP EP86107405A patent/EP0213283B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-05-31 AT AT86107405T patent/ATE50654T1/de not_active IP Right Cessation
- 1986-05-31 DE DE8686107405T patent/DE3669215D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-06-19 US US06/876,078 patent/US4742903A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-06-24 CA CA000512335A patent/CA1250919A/en not_active Expired
- 1986-07-18 YU YU01288/86A patent/YU128886A/xx unknown
- 1986-07-25 WO PCT/CH1986/000106 patent/WO1987000662A1/de unknown
- 1986-07-25 EP EP86904068A patent/EP0231220A1/de active Pending
- 1986-07-25 EP EP86904067A patent/EP0231219A1/de not_active Ceased
- 1986-07-25 US US07/043,346 patent/US4819780A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-07-25 WO PCT/CH1986/000105 patent/WO1987000661A1/de not_active Application Discontinuation
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1401488A (fr) * | 1964-05-09 | 1965-06-04 | Compteurs De Geneve Soc D | Dispositif pour contrôler le versement de pièces de monnaie dans un automate |
US3328720A (en) * | 1965-07-15 | 1967-06-27 | Westinghouse Electric Corp | Dual mode oscillator circuits |
DE2146184A1 (de) * | 1971-09-15 | 1973-03-22 | Standard Elektrik Lorenz Ag | Muenzpruefer |
GB2045500A (en) * | 1979-03-12 | 1980-10-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Coin selector for vending machine |
DE2916123A1 (de) * | 1979-04-19 | 1980-10-30 | Walter Hanke Mechanische Werks | Schaltungsanordnung zur pruefung der groesse von materialzusammensetzung von muenzen |
GB2169429A (en) * | 1985-01-04 | 1986-07-09 | Coin Controls | Coin discrimination apparatus |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0364079A2 (de) * | 1988-10-11 | 1990-04-18 | Unidynamics Corporation | Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen von Münzen |
EP0364079A3 (de) * | 1988-10-11 | 1990-11-22 | Unidynamics Corporation | Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen von Münzen |
EP0367921A2 (de) * | 1988-11-07 | 1990-05-16 | Ascom Autelca Ag | Einrichtung zur Prüfung von Münzen |
EP0367921A3 (de) * | 1988-11-07 | 1990-12-27 | Ascom Autelca Ag | Einrichtung zur Prüfung von Münzen |
WO1991002334A1 (en) * | 1989-07-28 | 1991-02-21 | Mars Incorporated | Coin validators |
US5337877A (en) * | 1989-07-28 | 1994-08-16 | Mars, Inc. | Coin validators |
EP0508560A2 (de) * | 1991-04-11 | 1992-10-14 | ACT GESELLSCHAFT FÜR SOFT UND HARDWARESYSTEME mbH | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Münzen |
EP0508560A3 (en) * | 1991-04-11 | 1995-08-23 | Act Soft Hardware | Method and device for checking coins |
EP0704825A1 (de) * | 1994-09-21 | 1996-04-03 | Landis & Gyr Technology Innovation AG | Einrichtung zur Prüfung der Echtheit von Münzen, Jetons oder anderen flachen metallischen Gegenständen |
US6398001B1 (en) | 1997-02-24 | 2002-06-04 | Mars Incorporated | Coin validator |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1987000661A1 (en) | 1987-01-29 |
ATE50654T1 (de) | 1990-03-15 |
WO1987000662A1 (en) | 1987-01-29 |
CH667546A5 (de) | 1988-10-14 |
YU128886A (en) | 1989-12-31 |
CA1250919A (en) | 1989-03-07 |
US4742903A (en) | 1988-05-10 |
US4819780A (en) | 1989-04-11 |
EP0231220A1 (de) | 1987-08-12 |
DE3669215D1 (de) | 1990-04-05 |
EP0213283B1 (de) | 1990-02-28 |
EP0231219A1 (de) | 1987-08-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0213283B1 (de) | Einrichtung zur Münzenprüfung | |
EP0228019B2 (de) | Berührungsloser Näherungsschalter | |
DE3220068C2 (de) | ||
CH672383A5 (de) | ||
DE1448914A1 (de) | Integrationssummierer | |
EP0071873A2 (de) | Schaltungsanordnung zum Wahrnehmen von Gegenständen mit einer Leiterschleife | |
DE2656111B2 (de) | Wirbelstrompriifgerät | |
EP0969268A1 (de) | Verfahren zum Regeln des Spulenstroms von magnetisch-induktiven Durchflussaufnehmern | |
DE3026827C2 (de) | Münzprüfer | |
DE3606586C2 (de) | ||
DE2421824A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur feststellung der mittelamplitude von impulsen bei der teilchenuntersuchung | |
DE3231116A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur pruefung von muenzen mit der phasenverschiebung niedriger frequenzen | |
DE2726890B2 (de) | Speise- und Regelschaltungsanordnung für eine gasgefüllte Neutronenröhre und Verfahren zum Speisen und Regeln der Neutronenröhre | |
EP0380937A1 (de) | Induktiver Durchflussmesser | |
DE2249082C3 (de) | Dreieckspannungsgenerator | |
EP0886247A2 (de) | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Prüfung von Münzen | |
DE2645223A1 (de) | Verfahren zur gewinnung von kenngroessen fuer die regelung des schweissprozesses beim lichtbogenschweissen | |
DE3737774C2 (de) | ||
DE2511260C3 (de) | Schaltungsanordnung in einer Strickmaschine | |
DE3108755C2 (de) | ||
EP0190100A1 (de) | Sensoranordnung für Lichtbogen-Bearbeitungsmaschinen | |
DE1765139A1 (de) | Verfahren und Geraet zum Widerstandsschweissen | |
DE1122157B (de) | Gyromagnetische Magnetometerschaltung | |
EP0607624B1 (de) | Elektrischer Einschaltsensor für batteriebetriebene Münzprüfer | |
EP0207217B1 (de) | Koordinatenmessvorrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PUAI | Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase |
Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012 |
|
AK | Designated contracting states |
Kind code of ref document: A1 Designated state(s): AT CH DE FR GB IT LI |
|
17P | Request for examination filed |
Effective date: 19870413 |
|
17Q | First examination report despatched |
Effective date: 19890508 |
|
RAP1 | Party data changed (applicant data changed or rights of an application transferred) |
Owner name: ASCOM AUTELCA AG |
|
GRAA | (expected) grant |
Free format text: ORIGINAL CODE: 0009210 |
|
AK | Designated contracting states |
Kind code of ref document: B1 Designated state(s): AT CH DE FR GB IT LI |
|
REF | Corresponds to: |
Ref document number: 50654 Country of ref document: AT Date of ref document: 19900315 Kind code of ref document: T |
|
GBT | Gb: translation of ep patent filed (gb section 77(6)(a)/1977) | ||
REF | Corresponds to: |
Ref document number: 3669215 Country of ref document: DE Date of ref document: 19900405 |
|
ET | Fr: translation filed | ||
ITF | It: translation for a ep patent filed |
Owner name: STUDIO APRA' BREVETTI |
|
PLBE | No opposition filed within time limit |
Free format text: ORIGINAL CODE: 0009261 |
|
STAA | Information on the status of an ep patent application or granted ep patent |
Free format text: STATUS: NO OPPOSITION FILED WITHIN TIME LIMIT |
|
26N | No opposition filed | ||
PGFP | Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: GB Payment date: 19910419 Year of fee payment: 6 |
|
PGFP | Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: AT Payment date: 19910424 Year of fee payment: 6 |
|
PGFP | Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: FR Payment date: 19910429 Year of fee payment: 6 |
|
PGFP | Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: CH Payment date: 19910522 Year of fee payment: 6 |
|
ITTA | It: last paid annual fee | ||
PGFP | Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: DE Payment date: 19910722 Year of fee payment: 6 |
|
PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: LI Effective date: 19920531 Ref country code: GB Effective date: 19920531 Ref country code: CH Effective date: 19920531 Ref country code: AT Effective date: 19920531 |
|
GBPC | Gb: european patent ceased through non-payment of renewal fee |
Effective date: 19920531 |
|
PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: FR Effective date: 19930129 |
|
REG | Reference to a national code |
Ref country code: CH Ref legal event code: PL |
|
PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: DE Effective date: 19930202 |
|
REG | Reference to a national code |
Ref country code: FR Ref legal event code: ST |
|
PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: IT Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date: 20050531 |