WO1987000661A1 - Device for verifying coins - Google Patents

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WO1987000661A1
WO1987000661A1 PCT/CH1986/000105 CH8600105W WO8700661A1 WO 1987000661 A1 WO1987000661 A1 WO 1987000661A1 CH 8600105 W CH8600105 W CH 8600105W WO 8700661 A1 WO8700661 A1 WO 8700661A1
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WO
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coin
signals
signal
comparison
probe
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Application number
PCT/CH1986/000105
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English (en)
French (fr)
Inventor
Bernhard Trummer
Stefan Luder
Original Assignee
Autelca Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Autelca Ag filed Critical Autelca Ag
Publication of WO1987000661A1 publication Critical patent/WO1987000661A1/de

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    • G—PHYSICS
    • G07—CHECKING-DEVICES
    • G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
    • G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
    • G07D5/02—Testing the dimensions, e.g. thickness, diameter; Testing the deformation
    • G—PHYSICS
    • G07—CHECKING-DEVICES
    • G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
    • G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
    • G07D5/005—Testing the surface pattern, e.g. relief
    • G—PHYSICS
    • G07—CHECKING-DEVICES
    • G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
    • G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
    • G07D5/08—Testing the magnetic or electric properties

Definitions

  • the invention relates to a device for coin testing, with at least one self-induction coil excited with high frequency and serving as an inductive probe, which can be influenced by the coin to be tested to generate a signal dependent on the type of coin.
  • the embossing pattern for example, specifying a number and the currency on one side and the 'Playing a mint design, such as a coat of arms, on the other side of the coin. Coins of approximately the same dimensions and alloy differ only in the minting pattern. In the case of known devices for checking coins, however, the embossing pattern is disregarded.
  • the invention seeks to remedy this.
  • the invention as characterized in claim 1, solves the problem of creating a device for coin testing which emits a coincidence signal if the minting pattern of the coin to be tested matches the minting pattern of one of several, specific, to be accepted coins .
  • Particular embodiments of this invention are specified in the dependent patent claims.
  • the advantages achieved by the invention are essentially to be seen in the fact that the embossing pattern on one side of the coin is generally sufficient to distinguish the coin from coins of all other types and, if appropriate, to assign them to a specific one of several types of coin provided as acceptable. Since several types of coins of the same currency are often the same Having a coin picture in different sizes, it is essential that the device according to the invention also distinguishes such coins. Further advantages of the invention and its embodiments are apparent from the following description.
  • 1 and 2 is a side view and a section through a coin guide
  • 5 is an overview circuit diagram of a device for coin testing
  • Fig. 6 is a signal diagram.
  • the coin guide of which FIG. 1 shows a side view and FIG. 2 shows a cross section along the line II-II in FIG. 1, has a runway surface 1 for the coin 2 to be tested and a steep guide surface 3, on which the runway surface 1 rolling coin 2 with its front or back side slides.
  • an inductive probe 5 which extends up to or almost up to the guide surface 3.
  • the diameter of the probe 5 is substantially smaller than the diameter of the smallest acceptable coin, and the distance of the probe 5 from the runway surface 1 is larger than the radius and smaller than the diameter of the coins to be accepted that has the smallest diameter. It is thereby achieved that the probe 5 scans a track of coins of the intended diameter range rolling past it that is sufficiently long for the present purposes described in more detail below.
  • Fig. 3 shows the coin 2 with a scanning track
  • Fig. 4 shows three phases of the scanning process.
  • the coin reaches the probe 5 in its position 2a, whereupon the point 7 of the coin edge passes the probe 5.
  • the coin 2 is in a middle
  • Probe 5 passes. 10 denotes the track which is scanned by the probe 5 in this process.
  • Position 2b is scanned half 10a of track 10.
  • the location of the track 10 relative to the pattern of the embossing is indefinite because it is uncertain as to the locations 7, 8 and 9 with respect to that
  • Embossing patterns lie. If, for example, the coin reaches the probe 5 in a position which is offset by 90 angular degrees in a clockwise direction relative to the one shown, the track designated 11 is formed. It can also be seen that two coins of different diameters are the same
  • the oscillating circuit voltage decreases due to the influence on the damping when the point 7 of the (not recessed) coin edge of the coin 2 passes the probe 5.
  • the oscillating circuit voltage then fluctuates in accordance with the changes in the embossing depth along the scanned track, and finally the oscillating circuit voltage rises again when the point 9 of the coin edge passes the probe 5.
  • Such a course of the resonant circuit voltage is shown in FIG. 6. The frequency of the oscillator vibrations changes accordingly.
  • signals of this type obtained on different tracks on both sides of each type of coin to be accepted are stored in a memory (33, FIG. 5).
  • an acceptable coin is released from a part of the runway surface (not shown) with a gradient in different starting positions, in order to roll past the probe 5.
  • the different starting positions are obtained either by placing the coin in the same place but at the same angle Rotational positions offset against each other or in each case in the same position at points on the runway that are offset along the same by a fraction of the coin circumference.
  • analog signals are obtained for each coin to be accepted on tracks evenly distributed over the embossing pattern.
  • the diameter of the area of its alternating magnetic field in which its self-induction or damping can be most strongly influenced corresponds to a width of the scanning track, in which adjacent tracks essentially adjoin one another.
  • the signal obtained with a coin to be checked is compared with each of the stored signals and, if there is sufficient agreement, a match signal is emitted.
  • the probe 5 forms the resonant circuit coil of an oscillator 13. Its output voltage is demodulated in a demodulator 18, as a result of which the analog signal 14 shown in FIG. 6 is obtained.
  • a scanner 20 controlled by a time pulse generator 19 supplies signals 21 which correspond to discrete values of the analog signal 14 which follow one another at a distance of, for example, 1 ms. 6 shows only some of these signals 21. In this case, for example, 50 signals 21 are obtained from the signal 14.
  • the signals 21 are further processed and compared with the stored signals using the digital method. Accordingly, an analog-to-digital converter 23 follows the scanner 20.
  • the digital method is carried out in practice by means of a microprocessor, which is indicated in FIG. 5 by a dash-dotted frame 25.
  • some assemblies that are essential for the mode of operation are shown in simplified form in this frame 25.
  • sequences of signals of discrete values can only be compared with one another if each sequence contains the same number of signals, an always the same number Z of signals which are essentially uniformly distributed over this signal sequence is selected from the signal sequence 21.
  • the signals 21 are transmitted to a first shift register 27 and at the same time to a counter 28.
  • a divider 29 divides the number Z of the signals 21 by the desired number z of the signals to be selected.
  • the selection principle then consists in that a selection circuit 31 transmits the first (or last) of n successive signals 21 into a second shift register 32, where n is equal to Z by z.
  • n is usually not an integer.
  • n is rounded down to the next, smaller, whole number and the selection circuit 31 with the rounded number controlled. Although the desired number of signals is selected, a last part of the signal sequence 21 is not taken into account.
  • the integer multiples of the quotient n are rounded off or rounded up to an integer, and those of the signals 21 are selected whose position in the signal sequence corresponds to the rounded up or down numbers. For example, if n is 3.3, the integer multiples are 3.3, 6.6, 9.9, 13.2, ..., and the third, seventh, tenth, thirteenth, ... of the signals 21 is selected, that is, from the first shift register 27 in transmit the second shift register 32.
  • the signal sequence stored in the second shift register 32 is compared in a comparator with each of the signal sequences stored in the memory 33 and with the coin types to be accepted, in each case by the first, second, ..., zth signal of the signals in the second shift register 32 stored signal sequence with the first, second, ... z-th signal of the signal sequence to be compared in the memory 33 and the difference is formed in a subtraction unit 34.
  • An adder 36 adds the absolute values of the differences.
  • a comparator 38 outputs a match signal on a line 39 when the sum obtained from the adder 36 falls below a predetermined value.
  • two probes which follow one another in the direction of the coin movement can be arranged at equal distances from the runway surface 1 (FIGS. 1 and 2). ordered, the test signal from each of the two probes is compared with the signals stored in the memory and a match signal is generated if the comparison of one of the two test signals shows a match within the given limits.
  • the two test signals (if the distance between the probes in the direction of the coins is small) can be sampled alternately (as in the time-division multiplex method) and the discrete values of one test signal can be stored in one and the other in another of two shift registers, which replace the shift register 27.
  • the influence of the probe depends not only on the distance of the probe from the point of the coin surface in front of it, but also on the property of the coin alloy. For this reason, coins with the same diameter and the same minting pattern only give a match signal if the alloys also match within the given limits. Since - as mentioned - coins of different diameters, which have the same minting pattern in a correspondingly different size, are distinguished from one another by the test described, this test is sufficient in principle to distinguish coins that are to be accepted from those that are not. Because of its complexity, the test of the embossing pattern is preferably applied to coins of higher values.
  • the present device in a coin validator, in which the diameter, thickness and alloying properties of the coins are checked in the usual way, and to switch on the checking of the minting pattern only if these usual checks show that it can be a coin of higher value to be accepted.
  • the signal processing in all tests can be carried out with one and the same microprocessor. If the test of the embossing pattern is only used for coins of higher values, a smaller capacity of the memory 33 is sufficient, or, which may be more important, it is possible, for a given storage capacity, to store more discrete values of a larger number of tracks for each of the few coins of higher values and gains greater resolution in pattern scanning.

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Description

Einrichtung zur Münzenprüfung
Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zur Münzenprüfung, mit wenigstens einer mit Hochfrequenz erregten, als induktive Sonde dienende Selbstinduk¬ tionsspule, die durch die zu prüfende Münze zur Er¬ zeugung eines von der Münzsorte abhängigen Signals beeinflussbar ist.
Es ist bekannt, z.B. zwei solche Sonden so auszuführen und anzuordnen, dass das Signal der einen im wesent¬ lichen vom Durchmesser der Münze und das Signal der anderen im wesentlichen von den für die Beeinflussung assgebenden Eigenschaften der Legierung der Münze abhängt, um zu prüfen, ob die Münze diese beiden Eigenschaften einer anzunehmenden Münze hat (FR-A-2 212 589). - 2 -
Wesentliches Unterscheidungsmerkmal verschiedener Münzen ist aber das Prägungsmuster, z.B. die Angabe einer Zahl und der Währung auf einer Seite und die ' Wiedergabe eines Münzbildes, z.B. eines Wappens, auf der anderen Seite der Münze. Münzen annähernd gleicher Abmessungen und Legierung unterscheiden sich nur durch das Prägungsmuster. Bei bekannten Einrichtungen zur Münzenprüfung bleibt das Prägungsmuster jedoch unbe¬ rücksichtigt.
Es ist zwar bekannt, auch die Tiefe der Prägung zu prü¬ fen (US-A-4 108 296) , jedoch besagt dies nichts über das Prägungsmuster. Verschiedene Münzen können durchaus gleich tief geprägt sein.
Hier will die Erfindung Abhilfe schaffen. Die Erfin¬ dung, wie sie im Patentanspruch 1 gekennzeichnet ist, löst die Aufgabe, eine Einrichtung zur Münzenprüfung zu schaffen, die ein Uebereinstimmungssignal abgibt, wenn das Prägungsmuster der zu prüfenden Münze mit dem Prägungsmuster einer von mehreren, bestimmten, anzuneh¬ menden Münzen übereinstimmt. In den abhängigen Patent¬ ansprüchen sind besondere Ausführungsarten dieser Erfindung angegeben.
Die durch die Erfindung erzielten Vorteile sind im wesentlichen darin zu sehen, dass das Prägungsmuster einer Münzseite im allgemeinen bereits ausreicht, die Münze von Münzen aller anderen Sorten zu unterscheiden und gegebenenfalls einer bestimmten von mehreren, als annehmbar vorgesehenen Münzsorten zuzuordnen. Da mehrere Münzsorten derselben Währung oft dasselbe Münzbild in verschiedenen Grossen aufweisen, ist es wesentlich, dass die erfindungsgemässe Einrichtung auch solche Münzen unterscheidet. Weitere Vorteile der Erfindung und deren Ausführungsarten gehen aus der folgenden Beschreibung hervor.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines lediglich einen Ausführungsweg darstellender Zeichnungen näher beschrieben. Es zeigen
Fig. 1 und 2 eine Seitenansicht und einen Schnitt durch eine Münzführung,
Fig. 3 und 4 eine Darstellung eines Vorgangs, bei dem eine induktive Messonde eine Spur auf einer vor ihr vorbeirollenden Münze abtastet,
Fig. 5 ein Uebersichtsschaltbild einer Einrichtung zur Münzenprüfung und
Fig. 6 ein Signaldiagramm.
Die Münzführung, von der Fig. 1 eine Seitenansicht und Fig. 2 einen Querschnitt nach der Linie II-II in Fig. 1 zeigt, hat eine Rollbahnfläche 1 für die zu prüfende Münze 2 und eine steile Führungsfläche 3, an der dieauf der Rollbahnfläche 1 rollenden Münze 2 mit ihrer Vorder- oder Rückseite anliegend gleitet.
•-*... Hinter der Führungsfläche 3 ist eine induktive Sonde 5 angeordnet, die sich bis oder bis nahezu an die Füh¬ rungsfläche 3 erstreckt. Der Durchmesser der Sonde 5 ist wesentlich kleiner als der Durchmesser der klein- ■ sten annehmbaren Münze, und der Abstand der Sonde 5 von der Rollbahnfläche 1 ist grösser als der Radius und kleiner als der Durchmesser derjenigen der anzu- nehmenden Münzen, die den kleinsten Durchmesser hat. Dadurch wird erreicht, dass die Sonde 5 eine für die vorliegenden, weiter unten näher beschriebenen Zwecke ausreichend lange Spur an ihr vorbeirollender Münzen des vorgesehenen Durchmesserbereiches abtastet.
Fig. 3 zeigt die Münze 2 mit einer Abtastspur, und
Fig.4 zeigt drei Phasen des Abtastvorgangs. In Fig. 4 erreicht die Münze in ihrer Stellung 2a die Sonde 5, woraufhin die Stelle 7 des Münzrandes an der Sonde 5 vorbeigeht. Bei 2b ist die Münze 2 in einer mittleren
Stellung zur Sonde 5, wobei die Stelle 8 an der Sonde 5 vorbeigeht, und in der Stellung 2c verlässt die Münze 2 die Sonde 5, wobei die Stelle 9 des Münzrandes an der
Sonde 5 vorbeigeht. 10 bezeichnet die Spur, die bei diesem Vorgang von der Sonde 5 abgetastet wird. In der
Stellung 2b ist eine Hälfte 10a der Spur 10 abgetastet.
Der Verlauf dieser Spur ist für alle Münzen gleichen
Durchmessers derselbe. Jedoch ist die Lage der Spur 10 relativ zum Muster der Prägung unbestimmt, denn es ist ungewiss, wie die Stellen 7, 8 und 9 in bezug auf das
Prägungsmuster liegen. Wenn die Münze beispielsweise die Sonde 5 in einer Stellung erreicht, die gegenüber der dargestellten um 90 Winkelgrad im Uhrzeigersinn versetzt ist, entsteht die mit 11 bezeichnete Spur. Es ist auch ersichtlich, dass zwei Münzen unterschiedlicher Durchmesser, die dasselbe
Prägungsmuster in verschiedenen Grossen aufweisen, auch unabhängig von dieser Lageabhängigkeit immer an in bezug auf das Muster anders verlaufenden Spuren abgetastet werden. Die Beeinflussung der Sonde durch die Münze hängt davon ab, ob und wie stark die Oberfläche der Münze 2 an der vor der Sonde 5 befindlichen Stelle des Prägungsmusters vertieft ist. Unter diesem Einfluss ändern sich die Selbstinduktion und die Dämpfung der Sonde 5. Wenn die Münze 2 an der Sonde 5 vorbeirollt, ist der zeitliche Verlauf dieser Eigenschaften der Sondeeine Information über den längs der Spur (z.B. 10) verlaufenden Teil des Prägungsmusters. Ist die Sonde 5 beispielsweise die Schwingkreisspule eines Oszillators (13 in Fig. 5), so nimmt die Schwingkreiεspannung infolge des Einflusses auf die Dämpfung ab, wenn die Stelle 7 des (nicht vertieften) Münzrandes der Münze 2 an der Sonde 5 vorbeigeht. Anschliessend schwankt die Schwing¬ kreisspannung entsprechend den Aenderungen der Prägungstiefe längs der abgetasteten Spur und schliess- lich steigt die Schwingkreisspannung wieder an, wenn die Stelle 9 des Münzrandes an der Sonde 5 vorbeigeht. Ein solcher Verlauf der Schwingkreisspannung ist in Fig. 6 gezeigt. Entsprechend ändert sich auch die Frequenz der Oszillatorschwingungen.
Bei der vorliegenden Einrichtung sind an verschiedenen Spuren beider Seiten jeder anzunehmenden Münzsorte erhaltene Signale dieser Art in einem Speicher (33, Fig. 5) gespeichert. Zu diesem Zwecke wird je eine annehmbare Münze an einem ein Gefälle aufweisenden (nicht dargestellten) Teil der Rollbahnfläche in verschiedenen Ausgangslagen losgelassen, um an der Sonde 5 vorbeizurollen. Die verschiedenen Ausgangslagen werden erhalten, entweder indem die Münze an ein und derselben Stelle, jedoch in um gleiche Winkel gegeneinander versetzten Drehstellungen oder jeweils in derselben Stellung an Stellen der Rollbahn losgelassen wird, die längs derselben um je einen Bruchteil des Münzumfangs gegeneinander versetzt sind. Dadurch werden für jede anzunehmende Münze analoge Signale an gleich ässig über das Prägungsmuster verteilten Spuren erhalten. Durch entsprechende Ausführung der Sonde 5 wird erreicht, dass der Durchmesser des Bereiches ihres magnetischen Wechselfeldes, in dem ihre Selbstinduktion bzw. Dämpfung am stärksten beeinflussbar ist, einer Breite der Abtastspur entspricht, bei der nebeneinander verlaufende Spuren im wesentlichen aneinander anschliessen. Das mit einer zu prüfenden Münze erhaltene Signal wird mit jedem der gespeicherten Signale verglichen und bei hinreichender Ueber- einstim ung wird ein Uebereinstimmungssignal abgegeben.
Nach Fig. 5 bildet die Sonde 5 die Schwingkreisspule eines Oszillators 13. Dessen Ausgangsspannung wird in einem Demodulator 18 demoduliert, wodurch beispiels¬ weise das in Fig. 6 gezeigte analoge Signal 14 erhalten wird. Ein von einem Zeitimpulsgeber 19 gesteuerter Ab¬ taster 20 liefert Signale 21, die in einem Abstand von z.B. 1 ms aufeinander folgenden diskreten Werten des analogen Signals 14 entsprechen. In Fig. 6 sind nur einige dieser Signale 21 dargestellt. Dabei werden beispielsweise 50 Signale 21 aus dem Signal 14 erhal¬ ten. Beim dargestellten Ausführungsbeispiel (Fig. 5 und 6) erfolgen die Weiterverarbeitung der Signale 21 und der Vergleich mit den gespeicherten Signalen nach dem Digitalverfahren. Demgemäss folgt auf den Abtaster 20 ein Analog-Digital-Wandler 23. Das Digitalverfahren wird in der Praxis mittels eines Mikroprozessors durchgeführt, der in Fig. 5 durch einen strichpunktierten Rahmen 25 angedeutet ist. Lediglich zwecks Bezugnahme bei der folgenden Erläuterung der Vorgänge, sind in diesem Rahmen 25 einige für die Wirkungsweise wesentliche Baugruppen vereinfacht dargestellt.
Die Anzahl der durch die zu prüfende Münze erzeugten Signale 21 hängt vom Durchmesser und von der Laufge¬ schwindigkeit der Münze ab, und dies gilt auch, wenn je einer anzunehmenden Münzsorte zugeordnete, im Speicher 33 zu speichernde Signale für den Signalvergleich erzeugt twerden sollen.
Da Folgen von Signalen diskreter Werte nur dann mit¬ einander vergleichbar sind, wenn jede- Folge dieselbe Anzahl Signale enthält, wird aus der Signalfolge 21 eine stets gleiche Anzahl Z im wesentlichen gleich- massig über diese Signalfolge verteilter Signale aus¬ gewählt. Dazu werden die Signale 21 an ein erstes Schieberegister 27 und gleichzeitig an einen Zähler 28 übertragen. Ein Dividierwerk 29 dividiert die Anzahl Z der Signale 21 durch die gewünschte Anzahl z der auszu¬ wählenden Signale. Das Auswahlprinzip besteht dann darin, dass eine Auswahlschaltung 31 das erste (oder letzte) von je n aufeinander folgenden Signalen 21 in ein zweites Schieberegister 32 überträgt, wobei n gleich Z durch z. Nun ist aber n in aller Regel keine ganze Zahl. Bei einer einfachen Ausführungsart des Auswählens wird n auf die nächste, kleinere, ganze Zahl abgerundet und die Auswahlschaltung 31 mit der abgerundeten Zahl gesteuert. Dabei wird zwar die gewünschte Anzahl Signale ausgewählt, jedoch bleibt ein letzter Teil der Signalfolge 21 unberücksichtigt. Bei einer vollkommeneren Ausführungsart des Auswählens werden die ganzzahligen Vielfachen des Quotienten n auf eine ganze Zahl ab- bzw. aufgerundet und diejenigen der Signale 21 ausgewählt, deren Stellung in der Signalfolge den auf- bzw. abgerundeten Zahlen ent¬ spricht. Wenn beispielsweise n gleich 3.3 ist, sind die ganzzahligen Vielfache 3.3, 6.6, 9.9, 13.2, ..., und es wird das dritte, siebente, zehnte, dreizehnte, ... der Signale 21 ausgewählt, d.h., vom ersten Schieberegister 27 in das zweite Schieberegister 32 übertragen.
Die im zweiten Schieberegister 32 gespeicherte Signal¬ folge wird in einem Vergleicher mit jeder der im Speicher 33 gespeicherten, mit den anzunehmenden Münz¬ arten erhaltenen Signalfolgen verglichen, indem jeweils das erste, zweite, ..., z-te Signal der im zweiten Schieberegister 32 gespeicherten Signalfolge mit dem ersten, zweiten, ... z-ten Signal der zu vergleichenden Signalfolge im Speicher 33 verglichen und in einem Subtraktionswerk 34 die Differenz gebildet wird. Ein Addierwerk 36 addiert die absoluten Werte der Differenzen. Ein Vergleicher 38 gibt an einer Leitung 39 ein Uebereinstimmungssignal ab, wenn die vom Addierwerk 36 erhaltene Summe einen vorbestimmten Wert unterschreitet.
Zwecks erhöhter Prüfgenauigkeit können zwei in Münz¬ laufrichtung aufeinander folgende Sonden in gleichen Abständen von der Rollbahnfläche 1 (Fig. 1 und 2) an- geordnet, das Prüfsignal von jeder der beiden Sonden mit den im Speicher gespeicherten Signalen verglichen und ein Uebereinstimmungsignal erzeugt werden, wenn der Vergleich bei einem der beiden Prüfsignale eine Uebereinstimmung innerhalb der gegebenen Grenzen ergibt. Dabei können die beiden Prüfsignale (wenn der Abstand der Sonden in Laufrichtung der Münzen klein ist) , abwechselnd (wie beim Zeitmultiplexverfahren) ab¬ getastet und die diskreten Werte des einen Prüfsignals in einem und die des anderen in einem anderen von zwei Schieberegistern gespeichert werden, die an die Stelle des Schieberegisters 27 treten. Da die Geschwindigkeit der Münze sich auf der kurzen Strecke zwischen den bei¬ den Sonden kaum ändert, wird es genügen, die diskreten Werte eines der beiden Signale zu zählen, weil die beiden abgetasteten Spuren gleich lang sind. Die wei¬ tere Verarbeitung jedes der beiden Signale erfolgt ent¬ sprechend der für ein Prüfsignal beschriebenen Signal¬ verarbeitung und erfolgt in dem entsprechend programmierten Mikroprozessor.
Die Beeinflussung der Sonde hängt nicht nur vom Abstand der Sonde von der vor ihr liegenden Stelle der Münzoberfläche sondern auch von der Eigenschaft der Münzlegierung ab. Deshalb ergeben Münzen mit demselben Durchmesser und demselben Prägungsmuster nur dann ein Uebereinstim ungssignal, wenn auch die Legierungen innerhalb der gegebenen Grenzen übereinstimmen. Da - wie erwähnt - auch Münzen verschiedener Durchmesser, die dasselbe Prägungsmuster in entsprechend verschie¬ dener Grosse aufweisen, durch die beschriebene Prüfung voneinander unterschieden werden, genügt grundsätzlich diese Prüfung allein, um anzunehmende von nicht anzunehmenden Münzen zu unterscheiden. Wegen ihres Aufwandes ist die Prüfung des Prägungs¬ musters vorzugsweise bei Münzen höherer Werte ange¬ bracht. Demge äss kann es zweckmässig sein, die vor¬ liegende Einrichtung in einem Münzprüfer vorzusehen, in dem in üblicher Weise z.B. Durchmesser, Dicke und Legierungseigenschaft der Münzen geprüft wird, und die Prüfung des Prägungsmusters nur dann einzuschalten, wenn diese üblichen Prüfungen ergeben, dass es sich um eine anzunehmende Münze höheren Wertes handeln kann. Dabei kann die SignalVerarbeitung bei sämtlichen Prü¬ fungen mit ein und demselben Mikroprozessor erfolgen. Wenn die Prüfung des Prägungsmusters nur bei Münzen höherer Werte angewandt wird, genügt eine kleinere Kapazität des Speichers 33 bzw., was unter Umständen wichtiger ist, kann man bei gegebener Speicherkapazität mehr diskrete Werte einer grösseren Anzahl Spuren für jede der wenigen Münzen höherer Werte speichern und erhält ein grösseres Auflösungsvermögen bei der Musterabtastung.

Claims

Patentansprüche
1. Einrichtung zur Münzenprüfung, mit wenigstens einer mit Hochfrequenz.erregten, als induktive Sonde (5) dienenden Selbstinduktionsspule, die durch zu prüfende Münzen (2) zur Erzeugung eines von der Münzsorte abhängigen Signals (14) beeinflussbar ist, ge¬ kennzeichnet, durch eine Münzführung mit einer Rollbahn¬ fläche (1) für die zu prüfende Münze (2) und einer seitlichen steilen Führungsfläche (3) , an der die auf der Rollbahnfläche (1) rollende Münze (2) anliegend gleitet; wenigstens eine an oder hinter der Führungsfläche angeordnete hochfrequent erregte induk¬ tive Sonde (5) zur Erzeugung eines Signals (14), das jeweils vom Abstand der vor der Sonde (5) befindlichen Stelle des Prägungsmusters der an der Führungsfläche (3) anliegenden Seite der Münze von der Führungsfläche abhängt; einen Speicher (33) für Signale, die auf diese Weise durch je eine Münze (2) jeder anzunehmenden Münzsorte aus verschiedenen Ausgangslagen mit der einen und mit der anderen Münzseite an der Führungsfläche (3) gleitend erhalten sind; und eine Auswerteschaltung (25) , die das durch die zu prüfende Münze (2) erhaltene Signal (14) mit jedem der im Speicher (33) gespeicherten Signale vergleicht und ein Münzmuster-Uebereinstimmungssignal abgibt, wenn der Vergleich mit einem der gespeicherten Signale einem bestimmten Vergleichskriterium innerhalb bestimmter Grenzen entspricht.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich¬ net, dass ein Abtaster (20) und ein Analog-Digi- tal-Wandler (23) vorgesehen sind, zur Entnahme einer Folge von in gleichen zeitlichen Abständen aufeinander folgenden diskreten Werten (21) des Prüfsignals (14) entsprechenden digitalen Signalen; dass der Speicher
(33) zur Speicherung der Folgen digitaler, mit den anzunehmenden Münzarten erhaltener Signale ausgeführt ist; dass eine Vergleichsschaltung (34) jedes der digitalen Signale der durch die zu prüfende Münze (2) erhaltenen Signalfolge mit dem in der Reihenfolge der digitalen Signale der gespeicherten Signalfolgen entsprechenden Signal vergleicht, bei jedem Vergleich ein das Mass der Abweichung der verglichenen Signale angebendes Vergleichssignal abgibt; dass ein Addierwerk (36) die durch Vergleich mit jeweils einer der gespeicherten Signalfolgen erhaltenen Vergleichssignale addiert; und eine zweite Vergleichsschaltung (38) ein Münzmuster-Uebereinstimmungssignal abgibt, wenn die Summe innerhalb bestimmter Grenzen liegt.
3. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich¬ net, dass die Vergleichsschaltung ein Subtraktionswerk
(34) für die zu vergleichenden Signale aufweist, das ein den absoluten Wert der Differenz angebendes Ver¬ gleichssignal abgibt.
4. Einrichtung nach Anspruch.2, dadurch gekennzeich¬ net, dass die Vergleichsschaltung (34) ein Subtrahier¬ werk für die zu vergleichenden Signale und ein Multi¬ plizierwerk zum Quadrieren der Differenzen aufweist, um das Quadrat der Differenz als Vergleichssignal abzu¬ geben.
5. Einrichtung nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch eine AuswahlSchaltung (29, 29, 31), die aus der durch Abtasten und Digitalisieren erhaltenen Signalfolge eine vorbestimmte Anzahl im wesentlichen gleichmässig über diese Signalfolge verteilter Signale für den Signal¬ vergleich auswählt.
6. Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeich¬ net, dass die AuswahlSchaltung einen Zähler (28) zum Zählen der durch die Abtastung erhaltenen Signale und ein Dividierwerk (28) zur Division der Anzahl der ge¬ zählten Signale durch die vorbestimmte Signalanzahl enthält, um jeweils das erste von n aufeinander fol¬ genden Signalen auszuwählen, wobei n der durch die Di¬ vision erhaltene Quotient ist.
7. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich¬ net, dass zwei induktive Sonden in gleichen Abständen von der Rollbahnfläche (1) aufeinander folgend ange¬ ordnet sind; dass die Auswerteschaltung (25) zum Ver¬ gleich des von jeder der beiden Sonden erhaltenen Sig¬ nale (14) mit den im Speicher (33) gespeicherten Signa¬ len ausgeführt ist und das Uebereinstimmungssignal ab¬ gibt, wenn der Vergleich bei einem der beiden von den Sonden erhaltenen Signalen dem bestimmten Ver¬ gleichskriterium entspricht.
8. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich¬ net, dass zusätzliche Prüfeinrichtungen für andere Ei¬ genschaften der zu prüfenden Münze, z.B. Durchmesser, Dicke, Legierung, und Mittel vorgesehen sind, um das Prägungsmuster nur dann zu prüfen, wenn die Prüfung der anderen Münzeigenschaften ergibt, dass es sich um eine bestimmte, annehmbare Münze höheren Wertes handeln kann.
PCT/CH1986/000105 1985-07-26 1986-07-25 Device for verifying coins WO1987000661A1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH3254/85A CH667546A5 (de) 1985-07-26 1985-07-26 Einrichtung zur muenzenpruefung.
CH3254/85-9 1985-07-26

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO1987000661A1 true WO1987000661A1 (en) 1987-01-29

Family

ID=4251994

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YU (1) YU128886A (de)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4121033A1 (de) * 1991-06-26 1993-01-07 Nat Rejectors Gmbh Elektronischer muenzpruefer
EP0640944A1 (de) * 1993-08-19 1995-03-01 Laurel Bank Machines Co., Ltd. Münzendiskriminationsvorrichtung
EP0780810A2 (de) * 1995-12-21 1997-06-25 National Rejectors Inc. GmbH Elektronischer Münzprüfer
EP1098270A1 (de) * 1999-02-24 2001-05-09 Kabushiki Kaisha Nippon Conlux Verfahren und gerät zur münzsortierung
CN104813369A (zh) * 2012-10-25 2015-07-29 魅股份有限公司 将有价值物品分类的系统

Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0786939B2 (ja) * 1988-05-27 1995-09-20 株式会社日本コンラックス 硬貨識別装置
US4936435A (en) * 1988-10-11 1990-06-26 Unidynamics Corporation Coin validating apparatus and method
CH676162A5 (de) * 1988-11-07 1990-12-14 Ascom Autelca Ag
JP2767278B2 (ja) * 1989-04-10 1998-06-18 株式会社日本コンラックス 硬貨選別装置
GB2234619B (en) * 1989-07-28 1993-04-14 Mars Inc Coin validators
GB2243238B (en) * 1990-04-20 1994-06-01 Tetrel Ltd Coin validators
DE4101157A1 (de) * 1991-01-14 1992-07-16 Trenner D Wh Muenzpruefer Vorrichtung zur pruefung von muenzen oder dergleichen metallischen scheiben
EP0500367A3 (en) * 1991-02-20 1993-07-21 Telkor (Proprietary) Limited Coil arrangement and static measuring device
US5220614A (en) * 1991-02-22 1993-06-15 Professional Coin Grading Service, Inc. Automated coin grading system
GB2253297B (en) * 1991-02-27 1994-11-16 Mars Inc Coin validation
US5361886A (en) * 1991-04-11 1994-11-08 Act Gesellschaft Fuer Soft- Und Hardware-Systeme Gmbh Method and apparatus for examining coins
US5615760A (en) * 1991-04-18 1997-04-01 Mars Incorporated Method and apparatus for validating money
US5191957A (en) * 1991-06-28 1993-03-09 Protel, Inc. Coin discrimination method
US5568854A (en) * 1991-06-28 1996-10-29 Protel, Inc. Coin discrimination method
US5293979A (en) * 1991-12-10 1994-03-15 Coin Acceptors, Inc. Coin detection and validation means
GB2266804B (en) * 1992-05-06 1996-03-27 Mars Inc Coin validator
US5379875A (en) * 1992-07-17 1995-01-10 Eb Metal Industries, Inc. Coin discriminator and acceptor arrangement
US5433310A (en) * 1994-01-04 1995-07-18 Coin Mechanisms, Inc. Coin discriminator with offset null coils
CA2113492A1 (en) * 1994-01-14 1995-07-15 Donald W. Church Apparatus and method for identifying metallic tokens and coins
ATE160639T1 (de) * 1994-09-21 1997-12-15 Landis & Gyr Tech Innovat Einrichtung zur prüfung der echtheit von münzen, jetons oder anderen flachen metallischen gegenständen
US5630494A (en) * 1995-03-07 1997-05-20 Cummins-Allison Corp. Coin discrimination sensor and coin handling system
CA2173428A1 (en) 1995-04-06 1996-10-07 Donald W. Church Electronic parking meter
US5579887A (en) * 1995-06-15 1996-12-03 Coin Acceptors, Inc. Coin detection apparatus
DE59700421D1 (de) * 1996-03-19 1999-10-14 Electrowatt Tech Innovat Corp Anordnung zum prüfen von münzen
EP0923767B1 (de) * 1996-07-29 2002-06-19 QVEX, Inc. Vorrichtung und verfahren zum prüfen von münzen
AU4742097A (en) * 1996-09-30 1998-04-24 Coin Mechanisms, Inc. Method and apparatus for discriminating different coins
GB2323200B (en) * 1997-02-24 2001-02-28 Mars Inc Coin validator
KR100296694B1 (ko) * 1997-05-21 2001-08-07 오까다 마사하루 화폐선별방법및장치
GB2331614A (en) * 1997-11-19 1999-05-26 Tetrel Ltd Inductive coin validation system
US6739444B2 (en) 2001-02-20 2004-05-25 Cubic Corp Inductive coin sensor with position correction
JP4022583B2 (ja) * 2002-03-11 2007-12-19 旭精工株式会社 コインセレクタ
AU2003900636A0 (en) * 2003-02-13 2003-02-27 Microsystem Controls Pty Ltd Identification of coins, including magnetic characteristics
US20050224313A1 (en) * 2004-01-26 2005-10-13 Cubic Corporation Robust noncontact media processor
CA2664291C (en) 2008-04-25 2013-09-17 J.J. Mackay Canada Limited Improved data collection system for electronic parking meters
US20110316716A1 (en) 2008-12-23 2011-12-29 George Allan Mackay Low power wireless parking meter and parking meter network
CA3178279A1 (en) 2011-03-03 2012-09-03 J.J. Mackay Canada Limited Parking meter with contactless payment
US9329650B2 (en) 2012-03-14 2016-05-03 Accenture Global Services Limited Customer-centric demand side management for utilities
CA145137S (en) 2012-04-02 2013-07-22 Jj Mackay Canada Ltd Single space parking meter
CA2894350C (en) 2015-06-16 2023-03-28 J.J. Mackay Canada Limited Coin chute with anti-fishing assembly
USRE48566E1 (en) 2015-07-15 2021-05-25 J.J. Mackay Canada Limited Parking meter
CA3176773A1 (en) 2015-08-11 2017-02-11 J.J. Mackay Canada Limited Single space parking meter retrofit
USD813059S1 (en) 2016-02-24 2018-03-20 J.J. Mackay Canada Limited Parking meter
US10957445B2 (en) 2017-10-05 2021-03-23 Hill-Rom Services, Inc. Caregiver and staff information system
US11922756B2 (en) 2019-01-30 2024-03-05 J.J. Mackay Canada Limited Parking meter having touchscreen display
CA3031936A1 (en) 2019-01-30 2020-07-30 J.J. Mackay Canada Limited Spi keyboard module for a parking meter and a parking meter having an spi keyboard module

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH503338A (fr) * 1969-02-04 1971-02-15 Sodeco Compteurs De Geneve Dispositif d'identification de pièces de monnaie
US3921003A (en) * 1973-10-03 1975-11-18 Mars Inc Apparatus for identifying coins
EP0060392A2 (de) * 1981-03-06 1982-09-22 Sodeco-Saia Ag Vorrichtung zum Prüfen von Münzen

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL131067C (de) * 1963-06-04
FR1401488A (fr) * 1964-05-09 1965-06-04 Compteurs De Geneve Soc D Dispositif pour contrôler le versement de pièces de monnaie dans un automate
US3328720A (en) * 1965-07-15 1967-06-27 Westinghouse Electric Corp Dual mode oscillator circuits
US3738469A (en) * 1969-08-22 1973-06-12 G Prumm Tester for different types of coins
DE2014023A1 (de) * 1970-03-24 1971-10-07 Nat Rejectors Gmbh Vorrichtung zum Prüfen der Eigen schäften von Metallscheiben
DE2146184A1 (de) * 1971-09-15 1973-03-22 Standard Elektrik Lorenz Ag Muenzpruefer
US3749220A (en) * 1971-10-06 1973-07-31 Anritsu Electric Co Ltd Coin discriminating apparatus
US3918565B1 (en) * 1972-10-12 1993-10-19 Mars, Incorporated Method and apparatus for coin selection utilizing a programmable memory
FR2275829A1 (fr) * 1974-06-19 1976-01-16 Automatisme Cie Gle Dispositif pour la reconnaissance d'une categorie de pieces de monnaie
JPS5611181Y2 (de) * 1975-12-02 1981-03-13
DE2636922A1 (de) * 1976-08-17 1978-02-23 Nat Rejectors Gmbh Schaltungsanordnung zur ueberwachung einer muenzpruefeinrichtung
FR2408183A1 (fr) * 1977-11-03 1979-06-01 Signaux Entr Electriques Controleur de pieces metalliques, et notamment de pieces de monnaie
US4254857A (en) * 1978-09-15 1981-03-10 H. R. Electronics Company Detection device
US4323148A (en) * 1979-03-12 1982-04-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Coin selector for vending machine
DE2916123C2 (de) * 1979-04-19 1987-01-29 Walter Hanke Mechanische Werkstätten GmbH & Co KG, 1000 Berlin Anordnung zur Prüfung von Münzen
GB2093620B (en) * 1981-02-11 1985-09-04 Mars Inc Checking coins
GB2141277B (en) * 1983-06-06 1986-05-08 Coin Controls Electronic coin validator
GB8500220D0 (en) * 1985-01-04 1985-02-13 Coin Controls Discriminating between metallic articles

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH503338A (fr) * 1969-02-04 1971-02-15 Sodeco Compteurs De Geneve Dispositif d'identification de pièces de monnaie
US3921003A (en) * 1973-10-03 1975-11-18 Mars Inc Apparatus for identifying coins
EP0060392A2 (de) * 1981-03-06 1982-09-22 Sodeco-Saia Ag Vorrichtung zum Prüfen von Münzen

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4121033A1 (de) * 1991-06-26 1993-01-07 Nat Rejectors Gmbh Elektronischer muenzpruefer
EP0640944A1 (de) * 1993-08-19 1995-03-01 Laurel Bank Machines Co., Ltd. Münzendiskriminationsvorrichtung
US5494147A (en) * 1993-08-19 1996-02-27 Laurel Bank Machines Co., Ltd. Coin discriminating apparatus
EP0780810A2 (de) * 1995-12-21 1997-06-25 National Rejectors Inc. GmbH Elektronischer Münzprüfer
EP0780810A3 (de) * 1995-12-21 1998-11-25 National Rejectors Inc. GmbH Elektronischer Münzprüfer
EP1098270A1 (de) * 1999-02-24 2001-05-09 Kabushiki Kaisha Nippon Conlux Verfahren und gerät zur münzsortierung
EP1098270A4 (de) * 1999-02-24 2003-07-16 Nippon Conlux Co Ltd Verfahren und gerät zur münzsortierung
CN104813369A (zh) * 2012-10-25 2015-07-29 魅股份有限公司 将有价值物品分类的系统

Also Published As

Publication number Publication date
US4819780A (en) 1989-04-11
ATE50654T1 (de) 1990-03-15
US4742903A (en) 1988-05-10
EP0231220A1 (de) 1987-08-12
WO1987000662A1 (en) 1987-01-29
DE3669215D1 (de) 1990-04-05
EP0231219A1 (de) 1987-08-12
YU128886A (en) 1989-12-31
EP0213283B1 (de) 1990-02-28
EP0213283A1 (de) 1987-03-11
CH667546A5 (de) 1988-10-14
CA1250919A (en) 1989-03-07

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