DE824408C - Photoelektrischer Belichtungsmesser - Google Patents

Photoelektrischer Belichtungsmesser

Info

Publication number
DE824408C
DE824408C DEM5701A DEM0005701A DE824408C DE 824408 C DE824408 C DE 824408C DE M5701 A DEM5701 A DE M5701A DE M0005701 A DEM0005701 A DE M0005701A DE 824408 C DE824408 C DE 824408C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
light
flap
exposure meter
meter according
photo element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DEM5701A
Other languages
English (en)
Inventor
Dr-Ing Dr V Freydorf
Karl Kratzer
Dipl-Ing Georg Kurlbaum
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Metrawatt AG
Original Assignee
Metrawatt AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Metrawatt AG filed Critical Metrawatt AG
Priority to DEM5701A priority Critical patent/DE824408C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE824408C publication Critical patent/DE824408C/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/4209Photoelectric exposure meters for determining the exposure time in recording or reproducing
    • G01J1/4214Photoelectric exposure meters for determining the exposure time in recording or reproducing specially adapted for view-taking apparatus

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

  • Photoelektrischer Belichtungsmesser Bei photoelektrischen Belichtungsmessern widerstreiten sich die Forderung nach großer Lichtempfindliellkeit, die die Feststellung der Belichtungszeit auch noch hei sehr ungünstigen Lichtverhältnissen gestattet, mit der Forderung nach räum-1 ider Kleinheit des Gerätes, die eine bequeme Handhabung ermöglicht, denn eine große Empfindlichkeit setzt neben einem empfindlichen Galvanometer eine große Fläche des Photoelements voraus. Man ist daher dazu übergegangen. zu einem Belichtungsmesser handlicher Größe einen Verstärkerzusatz zusteckbar zu machen, der ein großes Photoelement enthält, das für den Fall ungünstiger Lichtverhältnisse dem kleineren Photoelement des Belichtungsmessers nebengeschaltet wird.
  • Die Verwendung eines solchen getrennten Verstärkerzusatzes hat den Nachteil der leichten Verlierbarkeit und der unbequemen Handhabung.
  • Darüber hinaus muß der Verstärkerzusatz in engen Toleranzen geeicht werden, weil keine Gewähr besteht, daß das Zusatzelement immer mit demselben Belichtungsmesser Verwendung findet, da sich im Verkauf eine Zuordnung des Verstärkerzusatzes zu einem bestimmten Belichtungsmesser kaum organisieren läßt und die Eichung daher so bemessen werden muß, daß jeder Verstärkerzusatz mit jedem Belichtungsmesser richtige Werte ergibt. Dieser Zwang zu genauer Tolerierung erhöht die Fertigungskosten wesentlich.
  • Die oben geschilderte Anordnung hat den weiteren Nachteil, daß man zur Darstellung der beiden Meßbereiche zwei verschiedene Photoelemente benötigt, was ebenfalls Erhöhung der Herstellungskosten verursacht.
  • Es sind auch Belichtungsmesser bekannt, die ein relativ großes Photoelement an dem Belichtungs- messer dadurch unterbringen, daß das Lichtelement parallel zur Ebene des Zeigerausschlages des Galvanometers vorgesehen wird, wodurch die schon an sich durch die Skalenanordnung hedingte größte Abmessung des Belichtungsmessers auch gleichzeitig fiir die Unterbringung des Photoelements ausgenutzt wird, so daß eine flache handliche Bauweise des Gerätes entsteht. Diese Anordnung hat jedoch den Nachteil, daß das Galvanometer in der häufigsten Gebrauchslage mit waagerecht liegender Achse arbeiten muß, da das Photoelement auf das Aufnahmeobjekt gerichtet wird, also in senkrechte Lage kommt und der in einer Parallelebene dazu angeordnete Zeiger dann ebenfalls in einer senkrechten Lage spielt. Die Arbeitslage eines Galvanometers mit waagerechter Achse ist aber meRtechnisch bedeutend ungünstiger als die mit senkrechter Achse. Auch ist das Ablesen einer derart angeordneten Skala unbequem besonders da sie häufig ungünstig beleuchtet ist.
  • Es sind auch Vorschläge für Belichtungsmesser bekannt, bei denen ein in einem aufklappbaren Deckel befindliches großes Lichtelement herausklappbar am Galvanometergehäuse angebracht ist, wobei der empfindlichere Meßbereich durch Ahdecken dieses Elements durch eine zweite Klappe dargestellt wird. Diese Anordnung hat jedoch den Nachteil umständlicher Konstruktion und Handhabung.
  • Gegenstand der Erfindung ist ein Belichtungsmesser mit mindestens zwei Meßbereichen, der alle oben geschilderten Nachteile vermeidet, indem das Photoelement in einer schwenkl) aren Klappe an dem das Galvanometer enthaltende Gehäuse angebraucht ist, die für den empfindlichsten Nfeßbereich ausgeklappt wird, so daß die volle Fläche des Photoelements von dem vom Objekt kommenden Licht senkrecht oder nahezu senkrecht beaufschlagt wird, während für die empfindlicheren Meßbereiche die Klappe so weit geschlossen wird, daß die vom Objekt kommenden Lichtstrahlen nur durch einen Schacht Zutritt zum Photoelement haben.
  • Weitere Verbesserungen der Erfindung bestehen darin, daß das 1>hotoelement mit üblichen Iitteln, z. 12. Wabenblenden oder Linsenrastern, ausgestattet ist, die in ausgeklapptem Zustand unerwünschtes Seitenlicht vom Photoelement abhalten, und daß der bei geschlossener Klappe gebildete Lichtschacht zur besseren Abhaltung von Seitenlicht mit Längswänden versehen wird, Weiterhin werden Mittel angegel) ell, um die Lichteinwirkungen auf die Photozelle bei geschlossenem Schacht günstig zu bemessen und die zhandhabung des Gerätes durch besondere Anordnungen der Klappe zu erleichtern.
  • Im folgenden wird die Erfindung in einem Ausführungsbeispiel erläutert: An einem Belichtungsmesser, dargestellt in Fig. I und 2, mit in normaler Gebrauchslage waagerecht spielendemGalvanometerzeiger 1 wird ein Photoelement 2 um eine Achse 3 schwenkl>ar angebracht. Zur Inbetriebsetzung des empfindlichsten Meßbereichs wird das Photoelement herausgeklappt (Fig. I und Fig. 2 gestrichelt). In dieser Stellung wird es in voller Ausdehnung von dem vom Objekt in Pfeilrichtung kommenden Licht senkrecht oder nahezu senkrecht beaufschlagt. Zur Inbetriebnahme des unempfindlichsten Meßbereichs wird das Photoelement nahe an den Belichtungsmesser beraugeklappt (Fig. 1 ausgezogen gezeichnete Stellung), so daß das vom Objekt kommende Licht nur durch einen Schacht 4 Zutritt zum Photoelement gewinnt und demgemäß weniger stark wirksam wird.
  • Im Bedarfsfalle lasseii sich zwischenliegende Meßbereiche durch Zwischenstellungen der Klappe (zwischen der in Fig. I ausgezogenen und der gestrichelt gezeichneten Stelung), die zweckmäßig einrastbar gemacht werden darstellen. Diese Zwischenstellungen weichen nur wenig von der ganz eingeklappten Stellung ab. da eine Öffnung des Schachtes auf die doppelte 13reite schon mehr als eine Verdoppelung der Empfindlichkeit bringt.
  • Um störendes Seitenlicht bei der Messung auszuschalten, können vor dem Photoelement an sich bekannte Ntittel, wie Linsenraster 6 6 und Wahenblenden 7 o. dgl., angebracht werden. die in voll ausgeklapptem Zustand das vom Öl>jekt kommende Licht bevorzugt auf das Photoelement lenken. In eingeklapptem Zustand. also in den unempfindlicheren Meßbereichen kann durch geeignete Bemessung des Schachtes 4 und seiier Seitenwände 5 ebenfalls eine Richtwirkung der Empfindlichkeit erzielt werden.
  • Das vom Objekt durch den Schacht 4 eindringende Licht wird hauptsächlich durch Streuung an der zweckmäßig schrägen Oberwand 8 des heim Zusammenklappen entstehenden Schachtes 4 auf die Photozelle gelenkt. Die Streuung kann durch Aufrauen, hellfährben oder NTerspiegehl dieser Oberwand auf das gewünschte NIaß gebracht werden. Die Richtwirkung des Belichtungsmessers in zugeklapptem Zustand, die sich bei der getroffenen Anordnung von selbst ergibt, kann in horizontaler Richtung noch dadurch gesteigert werden, daß der Schacht 4 in bekannter Weise mit Längswänden g versehen wird.
  • Um den Belichtungsmesser auch bei ausgeklapptem Photoelement 2 bequem in der Hand halten zu können, wird die Klappe zweckmäßig nicht über die ganze Ausdehnung des Belichtungsmessers erstreckt, sondern, wie in Fig. 1 dargestellt, nur über einen Teil, so daß bei 10 eine handhabe verbleibt.
  • Die Umwertung des voii dem Galvanometer angezeigten Zeigerausschlages in die für die Photoaufnahme notwendigen Anwalzen kann in bekannter Weise über einstellbare Skalenringe 1 1 erfolgen.
  • Die in Fig. 1 dargestellte Anordnung ermöglicht eine bequeme Einhandbedienung des Belichtungsmessers. indem die Hand hei 10 den Belichtungsmesser erfaßt und der Daumen den gerändelten Skalenring 1 1 einstellt.
  • Will man einen größeren Teil des Belichtungsmessers zur unterbringung einer Photozelle ausnutzell als in Fig. I und doch die bequeme Handhabe beibehalten, so kann für die Photozelle auch eine Anordnung, wie in Fig. 2 dargestellt, getroffen werden. Hier wird die das Photoelement enthal- tende Klappe I2 zunächst aus dem Belichtungsmesser herausgezogen und dann erst in die senkrechte Lage geklappt.
  • PATENTANSPROCHE: I. Photoelektrischer Belichtungsmesser mit mindestens zwei hleßhereichen, dadurch gekennzeichnet, daß das Photoelement an einer ausschwenkbaren Klappe an dem das Galvanometer enthaltenden Gehäuse angebracht ist, die für den empfindlichsten Meßbereich ausgeklappt oder verschoben und dann ausgeklappt wird, so daß die volle Fläche des Photoelements von dem vom Objekt kommenden Licht senkrecht oder nahezu senkrecht beaufschlagt wird, während für die unempfindlicheren Meßbereiche die Klappe so weit geschlossen wird, daß die vom Objekt kommenden Lichtstrahlen nur durch einen Schacht Zutritt zum Photoelement haben.

Claims (1)

  1. 2. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Photoelement mit üblichen Mitteln, z. B. Wabenblenden oder Linsenrastern, ausgestattet ist, die in ausgeklapptem Zustand das unerwünschte Seitenlicht vom Photoelement abhalten.
    3. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß der bei geschlossener Klappe gebildete Lichtschacht zur besseren Abhaltung des Seitenlichtes mit Längswänden versehen ist.
    4. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch I und 2, dadurch gekennzeichnet, daß bei geschlossener Klappe die Umlenkung des durch den Schacht vom Objekt einfallenden Lichtes auf die Photozelle durch Aufrauhen, Färben oder Verspiegeln der Schachtwände unterstützt wird.
    5. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die ausschwenkbare Klappe sich nur über einen Teil der Gesamtausdehnung des Belichtungsmessers erstreckt, so daß eine bequeme Handhabe am Gehäuse verbleibt.
    6. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die schwenkbare Klappe sich mindestens über die Hälfte der Gesamtausdehnung des Belichtungsmesser erstreckt.
    Angezogene Druckschriften: Deutsche Patentschrift Nr. 68I 95'.
DEM5701A 1950-08-24 1950-08-24 Photoelektrischer Belichtungsmesser Expired DE824408C (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEM5701A DE824408C (de) 1950-08-24 1950-08-24 Photoelektrischer Belichtungsmesser

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEM5701A DE824408C (de) 1950-08-24 1950-08-24 Photoelektrischer Belichtungsmesser

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE824408C true DE824408C (de) 1951-12-10

Family

ID=7293227

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEM5701A Expired DE824408C (de) 1950-08-24 1950-08-24 Photoelektrischer Belichtungsmesser

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE824408C (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1043661B (de) * 1953-12-16 1958-11-13 Zeiss Ikon Ag Lichtelektrischer Belichtungsmesser
US2952184A (en) * 1957-08-29 1960-09-13 Gen Electric Booster cell and exposure meter
US2994246A (en) * 1957-03-26 1961-08-01 Seconic Kk Electric exposure meter

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE681951C (de) * 1936-07-28 1939-10-05 Metrawatt Akt Ges Elektrischer Belichtungsmesser mit im Deckel eingebautem Element

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE681951C (de) * 1936-07-28 1939-10-05 Metrawatt Akt Ges Elektrischer Belichtungsmesser mit im Deckel eingebautem Element

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1043661B (de) * 1953-12-16 1958-11-13 Zeiss Ikon Ag Lichtelektrischer Belichtungsmesser
US2994246A (en) * 1957-03-26 1961-08-01 Seconic Kk Electric exposure meter
US2952184A (en) * 1957-08-29 1960-09-13 Gen Electric Booster cell and exposure meter

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE824408C (de) Photoelektrischer Belichtungsmesser
DE2140504C3 (de) Neigungsmeßgerät
DE2846915C2 (de) Rollbandmaß
DE1090872B (de) Lichtkontaktinstrument mit einem oberen und einem unteren Grenzwert zugeordneten lichtelektrischen Zellen
DE2756364A1 (de) Fotoelektrische nivellierlatte
DE702213C (de) Elektrischer Belichtungsmesser fuer beliebig dunkle Objekte
DE2226962C3 (de) Belichtungssteuervorrichtung fur eine Kamera
DE884873C (de) Elektrischer Belichtungsmesser
DE2725403C2 (de) Objektiv für Repro- und Vergrößerungsgeräte
DE554184C (de) Entfernungsmesser
DE812968C (de) Spektralapparat mit drehbarem Dispersionsmittel und einer Einrichtung zur Ablesung von dessen Stellung an einer Teilung
DE681951C (de) Elektrischer Belichtungsmesser mit im Deckel eingebautem Element
DE858131C (de) Optische Anzeigevorrichtung mit zwei Empfindlichkeiten fuer Messinstrumente
DE1077445B (de) Radioaktive Messvorrichtung, insbesondere fuer den Tabakfuellstrang einer Zigarettenstrangmaschine
DE913829C (de) Halbautomatische Analysenwaage
DE693200C (de) Winkelmessgeraet, insbesondere Sextant
DE746395C (de) Abblendvorrichtung für Geräte zum Messen des Lichtdurchlasses, insbesondere lichtdurchlässiger Schichten.
DE1075852B (de) Vorrichtung zum Messen der Hohe von Flussigkeitsspie geln in Behaltern
DE953746C (de) Messgeraet zur Bestimmung der Farbtemperatur von Lichtquellen mit kontinuierlichem Spektrum
DE2461219C3 (de) Personenwaage
DE1548761A1 (de) Skalenanzeigeinstrument mit Grenzwertfuehler
CH212216A (de) Photoelektrischer Belichtungsmesser.
DE963374C (de) Lichtelektrischer Belichtungsmesser
DE847220C (de) Verschiebbarer Opalvorsatz fuer photoelektrische Belichtungsmesser
DE870948C (de) Belichtungsmesser fuer Fotokopiergeraete