DE723760C - Messverfahren an von einem Wechselstrom magnetisierten, mit einer Sekundaerwicklung versehenen Eisenproben - Google Patents

Messverfahren an von einem Wechselstrom magnetisierten, mit einer Sekundaerwicklung versehenen Eisenproben

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DE723760C
DE723760C DES142591D DES0142591D DE723760C DE 723760 C DE723760 C DE 723760C DE S142591 D DES142591 D DE S142591D DE S0142591 D DES0142591 D DE S0142591D DE 723760 C DE723760 C DE 723760C
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resistor
resistance
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DES142591D
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Kurt Fistl
Dr-Ing Hans Poleck
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Siemens AG
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Siemens AG
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/12Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
    • G01R33/123Measuring loss due to hysteresis

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  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

  • Meßverfahren an von einem Wechselstrom magnetisierten, mit einer Sekundärwicklung versehenen Eisenproben Die vorliegende Erfindung betrifft ein Meßverfahren an Eisenproben, die in der iiblichen Weise von einem Wechselstrom magnetisiert werden und, um von dem durch den Strom in der Magnetisierungswicklung erzeugten Spannungsabfall unabhängig zu werden, mit einer besonderen Sekundärwicklung versehen sind, in der eine EMIÇ induziert wird, die ein Maß für die Maximalindulçtion des Flusses im Eisen ist. Man kann dann die zugehörigen Eisenverluste in an sich bekannter Weise mittels eines Wattmeters bestimmen. Dieses Verfahren hat aber den Nachteil, daß die Probe dadurch im allgemeinen in unzuverlässigem Maße belastet wird, da die Spannung für die betreffende Wattmeterwicklung von der Sekundärwicklung der Probe geliefert werden muß. Die Meßergebnisse müßten deshalb besonders berichtigt werden.
  • Dieser Nachteil kann in an sich bekannter Weise durch die Verwendung von Gleichstrominstrumenten beseitigt werden, die an einen gesteuerten Gleichrichter angeschlossen sind. Dabei geht man so vor, daß man einerseits die Spannung U an der Sekundärwicklung der Probe und andererseits nach einem besonderen Verfahren den Betrag J cos bestimmt, wo J die Magnetisierungsstromstärke und ? die Phasenverschiebung des Magnetisierungsstromes gegenüber der Sekundärspannung U ist, und dann durch Multiplikation der Ablesungen einen den Eisenverlusten entsprechenden Wert U J- cos q7 erhält.
  • Dieses bekannte Verfahren hat aber den Nachteil, daß die Genauigkeit der dabei erforderlichen Einstellung des Schaltvektors der Steuerung des Gleichrichters in die Messung eingeht, was besonders bei hohen Induktionen bzw. bei großer Phasenverschiebung g erhebliche Schwierigkeiten macht. Außerdem sind zum Erfassen der Grundwelle besondere Schaltmaßnahmen erforderlich, die nur bei mäßigen Verzerrungen. der Stromkurve einwandfreie Messungen ergeben. Ein weiterer Nachteil besteht darin, daß Schwankungen der Speisespannung auch entsprechende Schwankungen der Größe 1 cos 92 mit sich bringen, so daß die Speisespannung sehr genau konstant gehalten werden muß.
  • Alle diese Nachteile werden bei dem neuen Verfahren unter Benutzung einer komplexen Kompensation mit einem grundwellenselektiven, phasenempfindlichen Nullindikator gemäß der Erfindung dadurch vermieden, daß zum Zwecke der Verlustmessung der Wirkleitwert IIR eines Widerstandes R gemessen wird, der sich in einem für die Grundwelle gültigen Ersatzschema der Probe als Parallelwiderstand zu der zugehörigen Induktivität w L darstellt, und das Produlrt U lIR gebildet wird, das ebenfalls den Eisenverlusten entspricht.
  • Es sind bereits Meßverfahren dieser Art bekanntgeworden, bei denen mit einem komplexen Kompensator gearbeitet wird. Dabei wurde aber der Fehler gemacht, daß als Ersatzschaltbild für die Eisenprobe die Reihenschaltung einer Induktivität und eines Ohmschen Widerstandes der Messung zugrundegelegt wurde. Dadurch ergeben sich insofern Schwierigkeiten, als der Magnetisierungsstrom bei hohen Induktionen sehr erheblich mit der Speisespannung schwankt und man die Spannung daher auch in diesem Falle sehr genau konstant halten muß.
  • Wenn man jedoch gemäß der Erfindung der Messung das richtige Ersatzschaltbild einer Parallelschaltung von Induktivität w L und Ohmschen Widerstand R zugrunde legt, so hat es sich gezeigt, daß der Wirkleitwert I/R sich bei Schwankungen der Speisespannung nur sehr wenig ändert, so daß genaue Messungen auch bei erheblichen Spannungsschwankungen möglich sind. Andererseits schwankt w L erheblich mit der Spannung, und der Nullindikator wird nun in der üblichen Weise in seiner Phasenlage so eingestellt, daß die Komponente w L bei der Messung des Wirkleitwertes I/R keinen Einfluß auf die Anzeige hat. Bei der Kompensation entspricht dann das eine Abgleichmittel dem Wirkleitwert I/R und das andere dem zugehörigen Blindleitwert ijw L. Man kann deshalb gegebenenfalls aus diesen beiden Werten auch den sogenannten Eisenwinkel 92 mit Hilfe der bekannten Gleichung tg cvL: i!w L: IIR ermitteln, der in manchen Fällen von Interesse ist, besonders wenn das betreffende Eisen für Meßwandler bestimmt ist.
  • Bei dem Aufbau der Meßschaltung kann man entweder von einer Spannungs- oder von einer Stromkompensation Gebrauch machen.
  • Im erstgenannten Fall wird eine von dem Magnetisierungsstrom J abgeleitete Spannung gegen eine von der Sekundärspannung U der Probe abgeleitete Spannung kompensiert. Bei Benutzung einer Stromliompensation wird dagegen ein von dem Magnetisierungsstrom J abgeleiteter Strom gegen einen von der Sekundärspannung U der Probe abgeleiteten Strom kompensiert.
  • In der Zeichnung sind einige Ausführungsbeispiele von Einrichtungen zum Ausüben des Verfahrens gemäß der Erfindung in Schaltbildern dargestellt, und zwar werden bei den in den Fig. I bis 3 dargestellten Schaltungen Spannungskompensationen und bei den in den Fig. 4 bis 6 dargestellten Schalt tungen Stromkompensationen benutzt.
  • In allen Fällen ist eine ringförmig gestaltete Eisenprobe 1 angenommen, die in der üblichen Weise mit einer von dem Magnetisierungsstrom J durchflossenen Primärspule 2 und einer Sekundärspule 3 versehen ist. Als Nullindikator ist der Einfachheit halber ein Vibrationsgalvanometer 4 angedeutet, jedoch kann auch jeder beliebige andere grundwellenselektive und phasenabhängige Nullindikator benutzt werden, wie er bei komplexen Kompensatoren üblich ist, z. B. ein in an sich bekannter Weise mit Hilfe von gesteuerten Gleichrichtern phasenabhängig arbeiten des Gleichstrommeßgerät, wobei zum Absperren der Oberwellen ein Tiefpaß vorgeschaltet werden kann. Man kann aber auch in an sich bekannter Weise zwei als sogenannte Nullmotoren wirkende Induktionszählermeßwerke als grundwellenselektive, phasenabhängige Nullindikatoren benutzen.
  • Bei dem in Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel wird einer an einem von dem Magnetisierungsstrom J durchflossenen Ohmschen Widerstand 5 abgenommenen Spannung Uj über den Indikator4 eine Spannung UK entgegengeschaltet, die von einem an sich bekannten komplexen Kompensator 6 er zeugt wird, der an die Sekundärwicklung 3 der Probe angeschlossen ist. Dabei besteht der Kompensator 6 z. B. aus einer Reihenschaltung von zwei Drosselspulen 7, 8 und zwei Ohmschen Widerständen 9, I0, die mit entsprechenden Abgriffkontakten II bzw. 12 versehen sind. Der Reihenschaltung von 10 und 8 ist ein Kondensator I3 derart parallel geschaltet, daß der in der Reihenschaltung von 7 und 9 fließende Strom 3 in Phase mit der Sekundärspannung U und der in der Reihenschaltung von Io und 8 fließende Strom 12 um go0 in der Phase gegenüber der Sekundärspannung U verschoben ist.
  • Wenn man nun die Abgriffe II und 12 50 verschiebt, daß der Strom im Nullindikator 4 verschwindet, so wird der Wirkleitwert I;R der Probe durch die mittels des Abgriffs II eingestellte Wirkkomponente und der Blindleitwert Ileo L durch die mittels eines Abgriffs 12 eingestellte Blindkomponente abgebildet.
  • Wenn vorher in an sich bekannter Weise die Sekundärspannung U gemessen worden ist, so erhält man dann die Eisenverluste aus dem Produkte U2 iJR und gegebenenfalls den Eisenwinkel nach der Gleichung tg 92 Itü) L : I(R. Bei dieser Schaltung müssen allerdings an die Genauigkeit des Spannungskompensators 6 verhältnismäßig hohe Anforderungen gestellt werden, und bei. hohen Induktionen können infolge der Frequenzabhängigkeit unzulässig große Meßfehler entstehen.
  • In Fig. 2 ist eine Schaltung dargestellt, bei der der Sekundärspannung U der Probe über den Indikator 4 die Spannung U an einer durch einen veränderten Widerstand 15 belasteten regelbaren Induktivität I6 entgegengeschaltet ist. Bei stromlosem Indikator 4 wird dann der Blindleitwert IluL der Probe durch die entsprechend eingestellte Induktivitäte6 und der Wirkleitwert I/R durch den entsprechend eingestellten Widerstand 15 abgebildet. Diese Anordnung hat den Vorzug, daß die Messung grundsätzlich frequenzunabhängig ist, da die Induktivität 16 mit dem Parallelwiderstand 15 ein genaues Abbild der Eisenprobe darstellt. Andererseits geht hier aber der Kupferwiderstand der Wicklung 15 in die Messung ein.
  • Dieser Fehler wird vermieden durch die in Fig. 3 dargestellte Anordnung, und zwar durch die Verwendung einer Gegeninduktivität mit einstellbarem Eisenschluß I7, deren Primärwicklung i8 von dem Magnetisierungsstrom J oder einem diesem entsprechenden Strom durchflossen wird und die eine Hilfswicklung 19 sowie eine Sekundärwicklung 20 trägt. Dabei ist die Hilfswicklung 19 durch einen veränderbaren Widerstand 21 geschlossen, und die Spannung U3 an der Sekundärwicklung 20 wird der Sekundärspannung U der Probe über den Indikator 4 entgegengeschaltet. Mit der Magnetisierungslwicklung2 der Probe ist die regelbare Primärwicklung 22 eines Stromwandlers 23 in Reihe geschaltet. An die Sekundärwicklung2+ des Stromwandlers ist die Primärwicklung 18 der Gegeninduktivität angeschlossen, derenEisenkern I7 mit einem Luftspalt versehen ist, in den einen Eisenkern 25 mehr oder weniger tief eingeschoben werden kann, um den Eisenschluß zu regeln.
  • Der regelbare Stromwandler 23 dient dabei gewissermaßen zum Einstellen des Meßbereiches. Im übrigen wird der Blindleitwert IloL L der Probe durch die Einstellung des Eisenkerns 25 und der Wirkleitwert I/R durch den Widerstand 21 abgebildet. Dabei ist der die Primärwicklung I8 durchfließende Sekundärstrom des Stromwandlers 23 dem Magnetis ierungsstrom J proportional, und der Kupferwiderstand der Primärwicklung 18 geht nicht in die Messung ein. Andererseits ist es erforderlich, zum Aufbau der Eisenkerne I7 und 25 möglichst verlustarmen magnetischen Werkstoff zu benutzen, weil die entsprechenden Eisenverluste sich beim Einschieben des Kerns 25 ändern und daher nicht genau ausgeglichen werden können.
  • Bei der in Fig. 4 dargestellten Anordnung findet eine Überlagerung zweier Ströme über den Indikator 4 statt, wobei der eine Strom mit der Sekundärspannung U der Probe in Phase liegt und der andere an einem von dem Magnetisierungsstrom J durchflossenen Ohm schen Widerstand 26 abgezweigt und über die Reihenschaltung eines regelbaren Ohmschen Widerstandes 27 und einer regelbaren Kapazität 28 geschlossen ist. Um einen Strom zu erzeugen, der mit der Sekundärspannung U in Phase ist, ist die Sekundärwicklung 3 über einen Ohmschen Widerstand 29 geschlossen.
  • Dann wird der BlindleitwertIlwL der Probe durch die Kapazität 28 und der Wirkleitwert IJR durch den Widerstand 27 abgebildet. Dabei ist allerdings zu beachten, daß der Betrag des Widerstandes 26 um so kleiner gehalten werden muß, je höher die Induktion des Flusses in der Probe ist, damit die Sekundärspannung U sinusförmig bleibt.
  • Eine genügende Meßempfindlichkeit ließe sich dann bei höheren Induktionen aber nur durch eine entsprechend große verlustfreie Kapazität 27 erreichen, was praktisch nicht möglich ist. Die Anordnung nach Fig. 4 ist daher vorwiegend für niedrige Induktionen geeignet.
  • Diese Beschränkung wird bei den in den Fig. 5 und 6 dargestellten Anordnungen grundsätzlich dadurch vermieden, daß statt einer regelbaren Kapazität eine regelbare Induktivität 30 benutzt wird. Man kann dann diese Induktivität ohne Schwierigkeiten so bemessen, daß man bei kleinem primärem Verbrauch in jedem Falle eine genügende Meßempfindlichkeit erhält.
  • Bei der in Fig. 5 dargestellten Schaltung werden zwei Ströme überlagert, von denen der eine der Sekundärspannung U der Probe um nahezu go0 nacheilt und der andere an einem von dem Magnetisierungsstrom J durchflossenen, nahezu induktionsfreien Widerstand abgezweigt und über die Reihen schaltung der regelbaren Induktivität 30 und eines regelbaren Ohmschen Widerstandes 31 geschlossen ist. In diesem Falle wird der Blindleitwert 1/co L der Probe durch den Widerstand 3I und der Wifideitwert IJR durch die Induktivität 30 abgebildet. Dies hat den besonderen Vorteil, daß im Verlauf der Messung bei verschiedenen Werten der Magnetisierung die Induktivität 30 nicht so stark verändert zu werden braucht, wogegen die erforderliche Änderung des Widerstandes 31 keine Schwierigkeiten macht.
  • Um einen Strom zu erzeugen, der um genau 90° gegenüber der Sekundärspannung u nacheilt, wäre eine verlustlose Drosselspule erforderlich. Da dies nicht möglich ist, müssen für genaue Messungen die Verluste der betreffenden Drosselspule, die in Fig. 5 mit 32 bezeichnet ist, durch eine entsprechende Bemessung des von dem Magnetisierungsstrom J durchflossenen Widerstandes ausgeglichen werden. Dies kann dadurch erfolgen, daß dieser aus der Reihenschaltung eines Ohmschen Widerstandes 33 und einer Hilfsinduktivität 34 besteht, wobei diese entsprechend bemessen wird. Diese Anordnung hat allerdings noch den Nachteil, daß der Ausgleich durch Temperaturänderungen gestört werden kann.
  • Eine solche Temperaturabhängigkeit wird bei der in Fig. 6 dargestellten Anordnung vermieden. Hier findet eine Überlagerung zweier Ströme statt, von denen der eine mit der Sekundärspannung U der Probe annähernd in Phase liegt und der andere von der Sekundärwicklung einer verlustarmen Gegeninduktivität 35 abgezweigt und über die Reihenschaltung einer regelbaren Induktivität 36 und eines regelbaren Ohmschen Widerstandes 37 geschlossen ist. Zu diesem Zweck ist z. B. ein mit einem Luftspalt versehener Eisenkern 35 mit einer von dem Magnetisierungsstrom J durchflossenen Primärwicklung 38 und einer Sekundärwicklung 39 versehen.
  • Auch hier wird der Blindleitwert I1wL der Probe durch den Widerstand 37 und der Wirkleitwert I/R durch die Induktivität 36 abgebildet.
  • In diesem Falle würde der Eisenverlust der Gegeninduktivität 35 einen Meßfehler verursachen, der aber durch eine geeignete Bemessung des Widerstandes ausgeglichen werden kann der von dem an die Sekundärspannung U angeschlossenen Strom durchflossen wird. Zu diesem Zweck wird vorzugsweise die Reihenschaltung eines Ohmschen Widerstandes 40 und einer entsprechend bemessenen Hilfsinduktivität 3I benutzt.

Claims (10)

  1. PATENTANSPRÜCHE: I. Meßverfahren an von einem Wechselstrom magnetisierten, mit einer Sekundärwicklung versehenen Eisenproben unter Benutzung einer komplexen Kompensation mit einem grundwellenselektiven, phasenernpfindlichen Nullindikator, dadurch gekennzeichnet. daß zum Zwecke der Verlustmessung der Wirkleitwert I eines Widerstandes gemessen wird, der sich in einem für die Grundwelle gültigen Ersatzschema der Probe als Parallelwiderstand zu der zugehörigen Induktivität osL L darstellt, und das Produkt U2 I1R gebildet wird, wobei U die Sekundärspannung der Probe ist.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß zum Zwecke der Bestimmung des sogenannten Eisenwinkels g der zugehörige Blindleitwert Ilw L gemessen wird.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch I oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine von dem Magnetisierungsstrom J und eine von der Sekundärspannung U der Probe abgeleitete Spannung gegeneinander kompensiert werden.
  4. 4. Einrichtung zum Ausüben des Verfahrens nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch eine Gegeneinanderschaltung einer an einem von dem Magnetisierungsstrom J durchflossenen Ohmschen Widerstand (5) abgenommenen Spannung U1 und einer Spannung UK, die von einem komplexen Kompensator (6) erzeugt wird, der an die Sekundärwicklung (3) der Probe angeschlossen ist, über den Indikator (4), so daß der Wirkleitwert IIR der Probe durch die an dem Kompensator (6) eingestellte Wirkkomponente (11) und der Blindleitwert I/eoL der Probe durch die an dem Kompensator eingestellte Blindkomponente (I2) abgebildet wird.
  5. 5. Einrichtung zum Ausüben des Verfahrens nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch eine Gegeneinanderschaltung der Sekundärspannung U der Probe und der Sekundärspannung U einer -durch einen veränderbaren Widerstand (I5) belasteten, möglichst verlustfreien, i11 den Magnetisierungsstrom eingeschalteten regelbaren Induktivität (I6) über den Indikator (4), so daß der Blindleitwert I csL der Probe durch die Induktivität (I6) und der Wirkleitwert ItR durch den Widerstand (I5) abgebildet wird.
  6. 6. Einrichtung zum Ausüben des Verfahrens nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch eine Gegeninduktivität (I7) mit einstellbarem Eisenschluß (25), einer von dem Magnetisierungsstrom durchflossenen Primärwicklung (18). einer über einen veränderbaren Widerstand(iI) gesdilossenen Hilfswicklung (I9) und einer Sekundärwichlung (20) und eine Gegenein anderschaltung der Spannung U an dieser Sekundärwicklung (20) und der Sekundärspannung U der Probe über den Indikator (4), so daß der Blindleitwert r/co L der Probe durch die Einstellung des Eisenschlusses (25) der Gegeninduktivität und der Wirkleitwert IIR durch den Widerstand (21) abgebildet wird.
  7. 7. Verfahren nach Anspruch I oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein von dem Magnetisierungsstrom J und ein von der Sekundärspannung U der Probe abgeleiteter Strom gegeneinander kompensiert werden.
  8. 8. Einrichtung zum Ausüben des Verfahrens nach Anspruch 7, gekennzeichnet durch die Überlagerung zweier Ströme, von denen der eine mit der Sekundärspannung U der Probe in Phase liegt und der andere an einem von dem Magnetisierungsstrom J durchflossenen Ohmschen Widerstand (26) abgezweigt und über die Reihenschaltung eines regelbaren Ohmschen Widerstandes (27) und einer regelbaren Kapazität (28) geschlossen ist, über den Indikator (4), so daß der Blindleitwert 1/co L der Probe durch die Kapazität (28) und der Wirkleitwert I/R durch den Widerstand (27) abgebildet wird.
  9. 9. Einrichtung zum Ausüben des Verfahrens nach Anspruch 7, gekennzeichnet durch die Überlagerung zweier Ströme, von denen der eine der Sekundärspannung U der Probe um nahezu go0 nacheilt und der andere an einem von dem Magnetisierungsstrom J durchflossenen, nahezu induktionsfreien Widerstand abgezweigt und über die Reihenschaltung einer regelbaren Induktivität (30) und eines regelbaren Ohmschen Widerstandes (3 I) geschlossen ist, über den Indikator (4), so daß der Blindleitwert 1/co L der Probe durch den Widerstand (3I) und der Wirkleitwert I/ durch die Induktivität (30) abgebildet wird.
  10. 10. Einrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß der von dem Magnetisierungsstrom J durchflossene Widerstand aus der Reihenschaltung eines Ohmschen Widerstandes (33) und einer Hilfsinduktivität (34) besteht, die so bemessen ist, daß der Gesamtverlust der an die Selçundärwicklung (3) der Probe angeschlossenen Gegeninduktivität (32) ausgeglichen wird.
    I I. Einrichtung zum Ausüben des Verfahrens nach Anspruch 7, gekennzeichnet durch die Überlagerung zweier Ströme, von denen der eine mit der Sekundärspan nung U der Probe annähernd in Phase liegt und der andere von der Sekundärwicklung (39) einer verlustarmen Gegeninduktivilät (35) abgezweigt und über die Reihenschaltung einer regelbaren Induktivität (36) und eines regelbaren Ohmschen Widerstandes (37) geschlossen ist, über den Indikator (4), so daß der Blindleitwert 1/co L der Probe durch den Widerstand (37) und derWirkleitwert I/R durch die Induktivität (36) abgebildet wird.
    I2. Einrichtung nach Anspruch II, dadurch gekennzeichnet, daß der von der Sekundärwicklung (3) der Probe abgezweigte Strom die Reihenschaltung eines Ohmschen Widerstandes (40) und einer Hilfsinduktivität (4I) durchfließt, die so bemessen ist, daß der Eisenverlust der Gegeninduktivität (35) ausgeglichen wird.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE937115C (de) * 1950-04-21 1955-12-29 Siemens Ag Pruefgeraet fuer Magnetbleche
DE1039629B (de) * 1952-12-10 1958-09-25 Licentia Gmbh Verfahren und Anordnung zur unmittelbaren Bestimmung derjenigen Komponenten der Permeabilitaet oder des Kehrwertes der Permeabilitaet von Prueflingen aus ferromagnetischem Werkstoff, die die Eigenschaften der elektrischen Geraete bestimmen, in denen die Werkstoffe Verwendung finden sollen
DE971356C (de) * 1952-11-06 1959-01-15 Licentia Gmbh Anordnung zur Ermittlung der magnetischen Spannung an magnetisierten ferromagnetischen Probekoerpern
US4140961A (en) * 1977-06-21 1979-02-20 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Shunt circuit for an insulation type current transformer to adapt to a wide-band of frequency

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