DE69720237T2 - Verfahren und vorrichtung zum erzielen einer digital-analalog-umwandlungsarchitektur mit hochleistungsfähigkeit - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zum erzielen einer digital-analalog-umwandlungsarchitektur mit hochleistungsfähigkeit Download PDF

Info

Publication number
DE69720237T2
DE69720237T2 DE69720237T DE69720237T DE69720237T2 DE 69720237 T2 DE69720237 T2 DE 69720237T2 DE 69720237 T DE69720237 T DE 69720237T DE 69720237 T DE69720237 T DE 69720237T DE 69720237 T2 DE69720237 T2 DE 69720237T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
delay
bit
segmentation
bit switch
lsbs
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69720237T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69720237D1 (de
Inventor
Nianxiong Tan
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Infineon Technologies AG
Original Assignee
Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB filed Critical Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB
Application granted granted Critical
Publication of DE69720237D1 publication Critical patent/DE69720237D1/de
Publication of DE69720237T2 publication Critical patent/DE69720237T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/66Digital/analogue converters
    • H03M1/68Digital/analogue converters with conversions of different sensitivity, i.e. one conversion relating to the more significant digital bits and another conversion to the less significant bits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/06Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
    • H03M1/0614Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters of harmonic distortion
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/66Digital/analogue converters
    • H03M1/68Digital/analogue converters with conversions of different sensitivity, i.e. one conversion relating to the more significant digital bits and another conversion to the less significant bits
    • H03M1/682Digital/analogue converters with conversions of different sensitivity, i.e. one conversion relating to the more significant digital bits and another conversion to the less significant bits both converters being of the unary decoded type
    • H03M1/685Digital/analogue converters with conversions of different sensitivity, i.e. one conversion relating to the more significant digital bits and another conversion to the less significant bits both converters being of the unary decoded type the quantisation value generators of both converters being arranged in a common two-dimensional array
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/66Digital/analogue converters
    • H03M1/74Simultaneous conversion
    • H03M1/742Simultaneous conversion using current sources as quantisation value generators
    • H03M1/745Simultaneous conversion using current sources as quantisation value generators with weighted currents
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/66Digital/analogue converters
    • H03M1/74Simultaneous conversion
    • H03M1/742Simultaneous conversion using current sources as quantisation value generators
    • H03M1/747Simultaneous conversion using current sources as quantisation value generators with equal currents which are switched by unary decoded digital signals

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Description

  • GEBIET DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Erfindung betrifft den Aufbau von Digital-zu-Analog-(D/A-)Wandlern hoher Geschwindigkeit und hoher Genauigkeit für Telekommunikationsanwendungen, wobei Anforderungen bezüglich einer Verzerrung und einer Intermodulation streng sind. Genauer gesagt betrifft die Erfindung ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Bereitstellen einer Hochleistungs-Digital-zu-Analog-Umwandlungsarchitektur durch Kombinieren einer Segmentierung für die höchstwertigen Bits (MSBs) und binäres Gewichten der niederwertigsten Bits (LSBs) und insbesondere von Schaltkreisimplementierungstechniken zum Verkleinern einer Verzerrung und einer Intermodulation.
  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Digital-zu-Analog-(D/A-)Wandler hoher Geschwindigkeit und hoher Genauigkeit finden viele Anwendungen bei einer Signalverarbeitung. Für Breitband-Telekommunikationssysteme gibt es einen starken Bedarf an Hochleistungs-D/A-Wandlern. Die Anforderungen in Bezug auf eine Verzerrung und eine Intermodulation bei dieser Art von D/A-Wandlern sind sehr streng.
  • Einer der Hauptgründe, die eine Verzerrung und eine Intermodulation veranlassen, besteht in Übergangs-Stromspitzen. Zum Darstellen des Problems von Übergangs-Stromspitzen ist in 1a ein binär gewichteter 3-Bit-D/A-Wandler gezeigt. Es gibt drei Stromquellen mit den Werten Io, 2Io und 4Io. Wenn die digitale Eingabe b0 1 ist, wird der Strom Io zum Ausgang umgeschaltet; wenn die digitale Eingabe b1 1 ist, wird der Strom 2Io zum Ausgang umgeschaltet; und wenn die digitale Eingabe b2 1 ist, wird der Strom 4Io zum Ausgang umgeschaltet.
  • Es soll angenommen werden, dass es einen Codeübergang von 011 zu 100 gibt. Da nicht garantiert werden kann, dass alle Bit-Schalter gleichzeitig arbeiten, gibt es unterschiedliche temporäre Codes, wie es in 1b dargestellt ist. Daher erscheinen Stromspitzen oder Störimpulse am Ausgang, bevor die Endwerte erreicht werden. Die Störimpulse führen für gewöhnlich eine Verzerrung ein.
  • Zum Reduzieren der Störimpulsenergie kann eine andere Technik verwendet werden, die Segmentierung genannt wird. Ein segmentierter 3-Bit-D/A-Wandler ist in 2a gezeigt. Ungleich binär gewichteter D/A-Wandler gibt es nur Einheitsstromquellen in segmentierten D/A-Wandlern. Die digitalen 3-Bit-Eingangsdaten werden zuerst durch einen Decodierer 1 in 7 Ausgaben Q6–0 decodiert. Wenn der Eingangsdatenwert gleich J ist, gibt es nur J Ausgaben Q(J–1)~0 (J = 7~1) mit der Ausgabe von 1. Wenn die Eingangsdaten gleich Null sind, sind alle Ausgaben Q6–0 Nullen. Wenn es einen Codeübergang gibt, sagen wir von 011 bis 100, was in 2b gezeigt ist, gibt es nur einen Bit-Schalter Q3, der den Zustand ändert. Daher wird unter der Voraussetzung eine Störimpulsenergie minimiert, dass es keine Zwischenausgabe vom Decodierer 1 bei einem Codeübergang gibt. Dies kann durch Verwenden einer Latch-Schaltung am Decodiererausgang decodiert werden.
  • Eine Segmentierung hat ihren Nachteil. Sie benötigt mehr Stromquellen und Bit-Schalter im Vergleich mit einer Binärgewichtung. Bei binär gewichteten CMOS-D/A-Wandlern werden normalerweise Einheitsstromquellen verwendet, um eine Anpassung zu erhöhen. Dies macht die Stromquellen bei binär gewichteten und segmentierten D/A-Wandlern identisch. Jedoch haben segmentierte D/A-Wandler aufgrund der Tatsache, dass viel mehr Bit-Schalter und Drähte in segmentierten D/A- Wandlern benötigt werden, normalerweise eine kleinere Bandbreite und brauchen einen größeren Chipbereich. Zum Entwerfen von Hochleistungs-D/A-Wandlern ist eine Kombination aus einer Segmentierung und einer binären Gewichtung eine gute Wahl.
  • Architekturen, die eine Segmentierung und eine binäre Gewichtung kombinieren, sind verwendet worden. Ein Beispiel ist in 3 gezeigt, das aus J. M. Fournier und P. Senn, "A 130 -MHz 8-b CMOS video DAC for HDTV applications", IEEE J. Sold-State Circuits, Juli 1991, S. 1073-1077 genommen ist. Jedoch haben Daten eine unterschiedliche Verzögerung für Segmentierungs- und Binärgewichtungsteile, was die Geschwindigkeit begrenzt. Ebenso werden Bit-Schalter nicht durch Taktsignale getaktet, die verteilt sind, um eine gleiche Verzögerung zu garantieren. Ein weiteres schwerwiegendes Problem ist die Implementierung. Das Layout ist in eine Matrix organisiert, wobei jede Zelle eine Stromquelle, einen Bit-Schalter und einem lokalen Decodierer enthält.
  • Die 6-Bit-MSB-Daten in der zitierten Referenz werden von oben und von rechts zu einer Anfangs-Decodierschaltung zugeführt und dann mit Latch-Schaltungen 2 zwischengespeichert. Die 2-Bit-LSB-Daten in der zitierten Referenz werden direkt ohne die Verzögerungsfunktion zwischengespeichert, um die Verzögerung im Datenpfad auszugleichen. Daher ist kein Betrieb mit sehr hoher Frequenz möglich. In der Matrix enthält jede Zelle eine Stromquelle, einen Bit-Schalter und einen lokalen Decodierer, was mehrere Probleme mit sich bringt, wie es folgt:
    • 1) Die Anpassung von Stromquellen ist schlecht. Eine Anpassung bzw. Übereinstimmung ist eine Funktion eines Abstands zwischen Stromquellen. Je größer der Abstand ist, um so schlechter ist die Anpassung. Aufgrund der lokalen Decodierer und der Bit-Schalter ist der Abstand zwischen Stromquellen sehr groß;
    • 2) Eine Rauschkopplung ist schwerwiegend, weil eine Menge von Digitalsignalleitungen Stromquellen kreuzen müssen. Dieses Problem wird mit der Erhöhung einer Anzahl von Bits zur Segmentierung schwerwiegender; und
    • 3) Eine Störimpulsenergie ist noch sehr hoch. Auch wenn das Ändern von Zuständen im Ausgang der Latch-Schaltungen getaktet werden kann, können sich die Steuersignale für die Bit-Schalter beim Übergangsfall aufgrund der unterschiedlichen Drahtlänge von den Latch-Schaltungen zu jedem Bit-Schalter signifikant unterscheiden. Dies erzeugt eine Störimpulsenergie, was eine Verzerrung und eine Intermodulation einführt. Ebenso wird das Problem bei der Erhöhung einer Anzahl von Bits zur Segmentierung noch schwerwiegender.
  • Das Dokument US 5,070,331 offenbart einen D/A-Wandler hoher Auflösung, der mit einer einzelnen Versorgungsspannung betreibbar ist, die einen Segmentierungsdecodierer für die drei höchstwertigen Bits aufweist.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Diese Erfindung betrifft im Wesentlichen den Aufbau von D/A-Wandlern hoher Geschwindigkeit und hoher Genauigkeit, die in Breitband-Telekommunikationssystemen verwendet werden sollen. Verzerrungen und Intermodulationen in einem D/A-Wandler gibt es normalerweise aufgrund der Fehlanpassung bei den Referenzströmen, sowie aufgrund großer Übergangs-Stromspitzen. Große Übergangsspitzen treten dann auf, wenn nicht alle Bits gleichzeitig bei einem Hauptcodeübergang geschaltet werden. Zum Reduzieren von Übergangsspitzen ist eine Architektur erfunden, bei welcher eine binäre Gewichtung für die niederwertigsten Bits (LSBs) verwendet wird und eine Segmentierung für die höchstwertigen Bits (MSBs) verwendet wird, und wobei eine Datenverzögerung vom Eingang zu den Bit-Schaltern entzerrt bzw. ausgeglichen wird und wobei alle Bit-Schalter durch ein baumartiges Taktverteilungsnetzwerk getaktet werden. Zum weiteren Reduzieren von Übergangsspitzen und zum Erhöhen einer Anpassung sind neue Block-Layouts erfunden und sind Schaltungen für CMOS-Bit-Schalter und Stromquellen offenbart.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1a, b stellen eine binäre Gewichtung und einen Codeübergang bei einem binär gewichteten 3-Bit-D/A-Wandler dar.
  • 2a, b stellen eine Segmentierung und einen Codeübergang bei einem 3-Bit-Segmentierungs-D/A-Wandler dar.
  • 3 ist eine herkömmliche Implementierung eines D/A-Wandlers.
  • 4a, b stellen eine Hochleistungs-D/A-Wandlerarchitektur gemäß der Erfindung dar, die eine Segmentierung für die MSBs und eine binäre Gewichtung für die LSBs kombiniert.
  • 5 ist ein Block-Layout für die CMOS-D/A-Wandler gemäß der Erfindung.
  • 6 ist ein Block-Layout für die BiCMOS- oder Bipolar-D/A-Wandler gemäß der Erfindung.
  • 7a-c sind Schaltungen für MOS-Stromquellen mit zugehörigen Bit-Schaltern.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUGN DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSBEISPIELE
  • Eine Architektur gemäß der Erfindung, die eine Segmentierung und eine binäre Gewichtung kombiniert, ist in 4a und b gezeigt. Zum Reduzieren einer Störimpulsenergie sind m MSBs segmentiert. Zum Reduzieren eines Chipbereichs sind 1 LSBs binär gewichtet. Die 2m–1 Stromquellen 3 für die m MSBs sind identisch mit dem Wert von 21 Io. Die Stromquellen 4 für die 1 LSBs sind binär gewichtet mit dem Wert von Io bis 21–1 Io. Ebenso wird zum Reduzieren der Störimpulsenergie ein globaler Taktbaum 5 dazu verwendet, alle Bit-Schalter 6 mittels Flip-Flops zu takten, wie es in 4b gezeigt ist. Das Taktsignal wird durch ein baumartiges Verteilungsnetzwerk verteilt. Zum Kompensieren der Verzögerung im Segmentierungsdecodierer 7 wird ein Verzögerungsentzerrer 8, der aus verketteten Invertern besteht, zwischen den 1 LSB-Eingaben und den 1 LSB-Bit-Schaltern verwendet. Aufgrund der entzerrten Verzögerung zwischen allen Eingangsdaten ist die Architektur ein guter Kandidat für einen Hochgeschwindigkeitsbetrieb.
  • Eine neue CMOS-Implementierung gemäß der Erfindung, wie sie in 5 gezeigt ist, wird die früher zitierten Probleme überwinden. Ungleich aller vorherigen Entwürfe sind alle Stromquellen 10 dicht zusammen im neuen Entwurf organisiert. Blind- bzw. Dummy-Stromquellen 9 sind um die dicht angeordneten Stromquellen 10 angeordnet. Keine Bit-Schalter oder Decodierer-Funktionsblöcke sind in die Transistormatrix eingefügt, wo die Anpassung kritisch ist. Ebenso kreuzen keine digitalen Signale die Stromquellenmatrix.
  • Alle (2m – 1 + 1) Bit-Schalter 14 und ihre zugehörigen Flip-Flops 15 sind am oberen Teil angeordnet. Bei ihnen gibt es das Taktverteilungsnetzwerk 11. Der Segmentierungsdecodierer 12 für die m MSBs und der Verzögerungsentzerrer 13 für die 1 LSBs sind neben den Bit-Schaltern 14 und den Flip-Flops 15 angeordnet. Vom Takteingang zu jedem Bit-Schalter ist die Verzögerung genau dieselbe, was die Störimpulsenergie minimiert.
  • Zum Reduzieren einer Rauschkupplung werden separate Versorgungen für analoge und digitale Blöcke verwendet. Doppelringe werden auch verwendet (n-Wanne und Substrat), um eine Rauschkopplung über das Substrat zu verhindern. Der n-Wannenkontaktring und der p-Substratkontaktring, die Stromquellen umgeben, werden jeweils auf eine analoge Spannung Vdd und eine Erdung gnd vorgespannt.
  • Das einzige Problem ist der Unterschied von Abständen von Stromquellen zu ihren Bit-Schaltern. Da die Ausgangsimpedanz der Stromquellen sehr hoch ist, wird die parasitäre Widerstanddifferenz aufgrund des Verdrahtungsunterschieds den Stromwert nicht ändern. Daher wird sie die Leistungsfähigkeit nicht verschlechtern.
  • Diese Implementierung hat Vorteile gegenüber den existierenden Entwürfen. Stromquellen sind dichter angeordnet, was die Anpassung erhöht. Es gibt keine digitalen Signale, die Stromquellen kreuzen, und separate digitale und analoge Versorgungen können verwendet werden, was eine Rauschkopplung verringert. Vom Takteingang zu jedem Bit-Schalter ist die Verzögerung dieselbe, was die Störimpulsenergie weiter reduziert.
  • Für eine BICMOS- oder Bipolar-Implementierung ist normalerweise der R-2R-Leiter bzw. die R-2R-Kette bevorzugt, um eine binäre Gewichtung zu realisieren, in welcher passive Komponenten eine bessere Anpassung als aktive Komponenten haben. Ein solches Block-Layout ist in 6 gezeigt. Einer der Unterschiede ist die Verwendung der zwei R-2R-Leiter 16. Eine binäre Gewichtung wird durch die R-2R-Leiter 16 durchgeführt. Die Ausgänge der 2-2R-Leiter 16 sind direkt mit den Segmentierungs-Ausgangsströmen verbunden. Stromquellen, analoge Schaltungen, digitale Schaltungen und R-2R-Leiter können unterschiedliche Versorgungsleitungen haben, um die Rauschkopplungsprobleme zu vereinfachen.
  • Die kritischen Schaltungen in CMOS-D/A-Wandlern sind die Stromquellen und die Bit-Schalter. Die Stromquellen zusammen mit den Bit-Schaltern sind in 7 gezeigt. Sie werden bei einem D/A-Wandler hoher Auflösung und hoher Geschwindigkeit gemäß 5 verwendet, wobei die 4 MSBs segmentiert sind und die 6 LSBs binär gewichtet sind.
  • P-Typ-Transistoren werden eher als n-Typ-Transistoren als Stromquelle und Kaskaden-Transistoren verwendet. Der Grund ist folgender. Wenn der Ausgangsstrom durch einen externen Widerstand in eine Spannung umgewandelt wird, ist die Spannungsschwingung am Ausgangsanschluss zwischen 0 und 1 V (oder sogar darunter, und zwar in Abhängigkeit vom externen Widerstand). Daher können n-Typ-Transistoren als Schalter verwendet werden, um aufgrund des kleinen Einschaltwiderstandswertes eine schnellere Einstellung zu haben. Geeignet entworfene p-Typ-Stromquellen haben eine Ausgangsimpedanz, die hoch genug ist (im Megaohmbereich), um ein Verwenden von Schalttransistoren als Kaskaden-Transistoren (die die Schalttransistoren im Sättigungsbereich betreiben) zu vermeiden.
  • In 7a sind die Stromquelle (64 Einheitsstromquellen parallel) und der Bitschalter (4 Einheitsstromtransistoren parallel) für die 4 segmentierten MSBs gezeigt. In 7b sind die Stromquelle (32 Einheitsstromquellen parallel) und der Bit-Schalter (2 Einheits-Schalttransistoren parallel) für das 6-te LSB gezeigt. In 7c sind die Stromquelle (16, 8, 4, 2 oder 1 Einheitsstromquellen parallel) und der Bit-Schalter (1 Einheitsschalttransistoren) für die 5-ten 1-ten LSBs gezeigt. Zum weiteren Reduzieren der Störimpulsenergie sind die Schalttransistorgrößen bemaßt, wie die Ströme bemaßt sind, und Dummy-Transistoren werden dazu verwendet, eine gleiche kapazitive Last zu garantieren, wie es in 7 gezeigt ist. Nur die 5 LSBs haben die identischen Schalttransistoren (und Dummy-Transistoren), obwohl die Ströme unterschiedlich sind. Da die Ströme sehr klein sind, ist der Einfluss sehr gering.
  • Die Architektur der 4a, b und die Block-Layouts der 5 und 6 können in Chips implementiert sein, wie beispielsweise einem 10-Bit-CMOS-D/A-Wandlerchip, einem 10-Bit-1,5-V-CMOS-D/A-Wandlerchip oder einem 12-Bit-BiCMOS-D/A-Wandlerchip, wobei die zwei CMOS-Chips gemäß dem Block-Layout der 5 entworfen wurden und der BiCMOS-Chip gemäß dem Block-Layout der 6 entworfen wurde.

Claims (8)

  1. Verfahren zum Bereitstellen einer Hochleistungs-Digitalzu-Analog-Umwandlungsarchitektur durch Kombinieren einer Segmentierung für MSBs und einer binären Gewichtung für LSBs, gekennzeichnet durch Verwenden einer Verzögerung für die binär gewichteten LSBs zum Entzerren bzw. Ausgleichen einer Verzögerung, die durch die Segmentierung eingeführt ist, und durch Takten aller Bit-Schalter mit einem baumartigen Taktverteilungsnetzwerk.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine CMOS-Implementierung und ein dichtes Layout nur für die Stromquellen zum Erhöhen einer Anpassung und zum Erniedrigen einer Störimpulsenergie und durch Organisieren der Bit-Schalter und dieser zugehörigen Taktgebungsschaltung auf eine derartige Weise, dass die Verzögerung vom Takteingang zu jedem Bit-Schalter identisch ist.
  3. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine BiCMOS- und Bipolar-Implementierung und ein dichtes Layout für Stromquellen zum Erhöhen einer Anpassung und zum Erniedrigen einer Störimpulsenergie und durch Organisieren der Bit-Schalter und ihrer zugehörigen Taktgebungsschaltung auf eine derartige Weise, dass die Verzögerung vom Takteingang zu jedem Bit-Schalter identisch ist.
  4. Vorrichtung zum Bereitstellen einer Hochleistungs-Digital-zu-Analog-Umwandlungsarchitektur durch Kombinieren einer Segmentierung für MSBs und einer binären Gewichtung für LSBs, dadurch gekennzeichnet, dass eine Verzögerungsfunktion für die binär gewichteten LSBs zum Entzerren bzw. Ausgleichen einer Verzögerung vorgesehen ist, die durch die Segmentierung eingeführt ist, und dass alle Bit-Schalter (14) derart vorgesehen sind, dass sie mit einem baumartigen Taktverteilungsnetzwerk (11) getaktet werden.
  5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass eine CMOS-Implementierung vorgesehen ist, dass das Layout von Stromquellen dicht ist, um eine Anpassung zu erhöhen und um eine Störimpulsenergie zu verringern, und dass Bit-Schalter und ihre zugehörige Taktgebungsschaltung auf eine derartige Weise organisiert sind, dass die Verzögerung vom Takteingang zu jedem Bit-Schalter identisch ist.
  6. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass eine BiCMOS- und Bipolar-Implementierung vorgesehen sind, dass ein Layout von Stromquellen dicht ist, um eine Anpassung zu erhöhen und eine Störimpulsenergie zu verringern, und dass Bit-Schalter und ihre zugehörige Taktgebungsschaltung auf eine derartige Weise organisiert sind, dass die Verzögerung vom Takteingang zu jedem Bit-Schalter identisch ist.
  7. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass eine Schaltungsrealisierung für CMOS-Bit-Schalter und Stromquellen durch Verwenden von p-Typ-Transistoren als Stromtransistoren und von n-Typ-Transistoren als Schalter erfolgt, durch Bemaßen von Bit-Schaltern, wie Ströme bemessen sind, und durch Hinzufügen eines Dummy-Schalters, um eine gleiche Last für einen Bit-Schalter-Treiber sicherzustellen.
  8. Zusammenfassung Digital-zu-Analog-(D/A-)Wandler hoher Geschwindigkeit und hoher Genauigkeit finden viele Anwendungen bei einer Signalverarbeitung. Für Breitband-Telekommunikationssysteme gibt es eine starke Forderung nach Hochleistungs-D/A-Wandlern. Mit dem Aufbau der vorliegenden Erfindung wird ermöglicht, Verzerrungen und Intermodulationen für Digitalzu-Analog-(D/A-)Wandler hoher Geschwindigkeit und hoher Geschwindigkeit für Telekommunikationsanwendungen zu verhindern, wobei die Anforderungen bezüglich einer Verzerrung und einer Intermodulation sehr streng sein können. Durch Kombinieren einer Segmentierung für MSBs und einer binären Gewichtung für LSBs kann eine Hochleistungs-Digitalzu-Analog-Umwandlungsarchitektur erreicht werden, wobei eine Verzögerung für die binär gewichteten LSBs dazu verwendet wird, eine Verzögerung zu entzerren bzw. auszugleichen, die durch eine Segmentierung eingefügt ist, und wobei alle Bit-Schalter (14) mit einem baumartigen Taktverteilungsnetzwerk (11) getaktet werden. Neue Block-Layouts für CMOS-, BICMOSund Bipolar-Implementierungen sind somit erfunden und auch Schaltungen für CMOS-Bit-Schalter und Stromquellen sind offenbart. (5)
DE69720237T 1996-11-04 1997-10-07 Verfahren und vorrichtung zum erzielen einer digital-analalog-umwandlungsarchitektur mit hochleistungsfähigkeit Expired - Lifetime DE69720237T2 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9604024 1996-11-04
SE9604024A SE507892C2 (sv) 1996-11-04 1996-11-04 Förfarande och anordning för att åstadkomma en konstruktion för digital-till-analogomvandling med hög prestanda
PCT/SE1997/001672 WO1998020616A1 (en) 1996-11-04 1997-10-07 A method and device to provide a high-performance digital-to-analog conversion architecture

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69720237D1 DE69720237D1 (de) 2003-04-30
DE69720237T2 true DE69720237T2 (de) 2004-01-08

Family

ID=20404481

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69720237T Expired - Lifetime DE69720237T2 (de) 1996-11-04 1997-10-07 Verfahren und vorrichtung zum erzielen einer digital-analalog-umwandlungsarchitektur mit hochleistungsfähigkeit

Country Status (11)

Country Link
US (1) US5933107A (de)
EP (1) EP0934629B1 (de)
JP (1) JP3815797B2 (de)
KR (1) KR20000053011A (de)
CN (1) CN1136658C (de)
AU (1) AU4971797A (de)
CA (1) CA2271061A1 (de)
DE (1) DE69720237T2 (de)
SE (1) SE507892C2 (de)
TW (1) TW370742B (de)
WO (1) WO1998020616A1 (de)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000036747A (ja) * 1998-07-17 2000-02-02 Nec Corp 信号値表現方法
US6236238B1 (en) * 1999-05-13 2001-05-22 Honeywell International Inc. Output buffer with independently controllable current mirror legs
DE10006507C2 (de) * 2000-02-15 2002-07-18 Infineon Technologies Ag Kalibrierbarer Digital-/Analogwandler
DE10038372C2 (de) 2000-08-07 2003-03-13 Infineon Technologies Ag Differentieller Digital/Analog-Wandler
KR100727885B1 (ko) * 2003-05-20 2007-06-14 학교법인 인하학원 새로운 글리치 에너지 억제 회로와 새로운 2차원적 전류셀스위칭 순서를 이용한 10비트 디지털/아날로그 변환기
US7345609B2 (en) * 2003-06-27 2008-03-18 Nxp B.V. Current steering d/a converter with reduced dynamic non-linearities
ES2298485T3 (es) 2003-11-21 2008-05-16 Carestream Health, Inc. Aparato de radiologia dental.
US7002499B2 (en) * 2004-01-21 2006-02-21 Hrl Laboratories, Llc Clocked D/A converter
US7474243B1 (en) * 2007-09-13 2009-01-06 Infineon Technologies Ag Semiconductor device including switch that conducts based on latched bit and next bit
JP6058918B2 (ja) * 2012-06-06 2017-01-11 ラピスセミコンダクタ株式会社 電流出力制御装置、電流出力制御方法、デジタル制御発振装置、デジタルpll、周波数シンセサイザ、デジタルfll、及び半導体装置
US8643520B1 (en) * 2012-11-27 2014-02-04 Hong Kong Applied Science & Technology Research Institute Company Ltd. Digital-to-analog converter (DAC) current cell with shadow differential transistors for output impedance compensation
US9191025B1 (en) * 2014-09-30 2015-11-17 Stmicroelectronics International N.V. Segmented digital-to-analog converter
CN105448963B (zh) * 2015-12-04 2019-06-04 上海兆芯集成电路有限公司 晶体管以及电流源装置
KR102553262B1 (ko) 2017-11-17 2023-07-07 삼성전자 주식회사 기준 전압 생성기 및 이를 포함하는 메모리 장치
CN115033044B (zh) * 2021-03-05 2024-03-15 龙芯中科技术股份有限公司 电流源模块、稳压方法、数模转换器及设备
US20240322838A1 (en) * 2023-03-24 2024-09-26 Qualcomm Incorporated Load matching for a current-steering digital-to-analog converter

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57125517A (en) * 1981-01-28 1982-08-04 Victor Co Of Japan Ltd Da conversion circuit
JPS59163912A (ja) * 1983-03-08 1984-09-17 Toshiba Corp C−r型da変換器
US4763107A (en) * 1985-08-23 1988-08-09 Burr-Brown Corporation Subranging analog-to-digital converter with multiplexed input amplifier isolation circuit between subtraction node and LSB encoder
US4947168A (en) * 1988-05-23 1990-08-07 Hughes Aircraft Company Subranging analog-to-digital converter with calibration
US5070331A (en) * 1990-03-15 1991-12-03 Analog Devices, Incorporated High resolution D/A converter operable with single supply voltage
JP3085803B2 (ja) * 1992-11-26 2000-09-11 株式会社東芝 差動電流源回路
FR2733650B1 (fr) * 1995-04-28 1997-07-18 Sgs Thomson Microelectronics Convertisseur numerique/analogique de precision

Also Published As

Publication number Publication date
DE69720237D1 (de) 2003-04-30
TW370742B (en) 1999-09-21
EP0934629A1 (de) 1999-08-11
AU4971797A (en) 1998-05-29
CN1136658C (zh) 2004-01-28
JP3815797B2 (ja) 2006-08-30
JP2001505732A (ja) 2001-04-24
US5933107A (en) 1999-08-03
KR20000053011A (ko) 2000-08-25
SE9604024D0 (sv) 1996-11-04
SE507892C2 (sv) 1998-07-27
SE9604024L (sv) 1998-05-05
CN1237290A (zh) 1999-12-01
WO1998020616A1 (en) 1998-05-14
EP0934629B1 (de) 2003-03-26
CA2271061A1 (en) 1998-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69720237T2 (de) Verfahren und vorrichtung zum erzielen einer digital-analalog-umwandlungsarchitektur mit hochleistungsfähigkeit
DE10038372C2 (de) Differentieller Digital/Analog-Wandler
DE69008360T2 (de) Paralleler ad-wandler mit 2n-1-vergleichern.
DE102016109060B4 (de) Segmentierter DAC
DE102016111432B4 (de) Mehrstufiger Digital-Analog-Wandler
DE112014001378B4 (de) Mehrketten-Digital-Analog-Wandler
DE3009434A1 (de) Monolithischer analog/digital- umsetzer
DE4208702A1 (de) 2-schrittiger unterbereichs-analog/digital-wandler
DE68926171T2 (de) Digital-Analogwandler
DE19854652C2 (de) Digital-zu-Analog-Wandler-Vorrichtung und Verfahren zum Verbessern der integralen Nichtlinearitätsanpassung derselben
DE3531870A1 (de) Analog-digital-wandler
DE202016009120U1 (de) Mehrstufiger Digital-Analog-Wandler
DE69428246T2 (de) Analog-digital-analog Umsetzungsschaltung
DE3145889A1 (de) Integrierbarer digital/analog-wandler
DE102008050001B4 (de) Digital-Analog-Umsetzer
DE69528845T2 (de) N-bit umsetzer mit n-1-grössenverstärkern und n-vergleichern
DE4005489C2 (de) Schaltungsanordnung für einen Digital/Analog-Wandler
DE102019117376A1 (de) Schirmung in einem Einheitskondensatorarray
DE60124812T2 (de) Analog-Digital-Wandler nach dem Parallelverfahren
DE69520562T2 (de) Quadratischer Digital-Analogumsetzer
DE10361676B4 (de) Analog/Digital-Wandler und entsprechendes System
DE10052944C2 (de) Digital/Analog-Wandler
DE3306310A1 (de) Schaltung zum verbessern des betriebsverhaltens von digital-analog-konvertern
DE69526671T2 (de) Analog-digitalumsetzer unter verwendung von komplementären differentiellen emitter-paaren
DE102008062607A1 (de) Stromzellenschaltung in einem Digital-Analog-Umsetzer

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: INFINEON TECHNOLOGIES AG, 81669 MUENCHEN, DE