DE631167C - Verfahren zur Herstellung von elektrischen Schaltelementen, wie Widerstaenden, Kondensatoren o. dgl. - Google Patents
Verfahren zur Herstellung von elektrischen Schaltelementen, wie Widerstaenden, Kondensatoren o. dgl.Info
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- DE631167C DE631167C DEST49526D DEST049526D DE631167C DE 631167 C DE631167 C DE 631167C DE ST49526 D DEST49526 D DE ST49526D DE ST049526 D DEST049526 D DE ST049526D DE 631167 C DE631167 C DE 631167C
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C17/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
- H01C17/22—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for trimming
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Description
- Verfahren zur Herstellung von elektrischen Schaltelementen, wie Widerständen, Kondensatoren o. dgl. Die Erfindung bezieht sich auf Verfahren zur Herstellung von elektrischen Schalteleinenten, wie Widerständen, Köndensatoren o. dgl., bei denen die einzelnen Schaltelemente gemessen und zu Gruppen zusammengefaßt werden, deren Mitglieder durch eine der Gruppe jeweilig zugeordnete einheitliche Nachbearbeitung auf den Endwert innerhalb der vorgeschriebenen Toleranz gebracht werden.
- Bei der Herstellung von elektrischen Schaltelementen, denen durch Feinarbeiten gegen Ende ihres Herstellungsverfahrens eine innerhalb einer bestimmten Toleranz liegende Eigenschaft, z. B. ein bestimmter Widerstandswert bzw. ein bestimmter Kapazitätswert, verliehen werden soll, verfährt man gewöhnlich so, daß man jedes Schaltelement hinsichtlich dieser Eigenschaft prüft und einer individuellen Nachbearbeitung unterzieht, die ihm die erforderliche Eigenschaft verleiht. Hierzu ist eine vorausgehende Messung und eine unter wiederholter oder gar ständiger Meßköntrolle verlaufende Nachbearbeitung notwendig. Diese bekannten Verfahren erfordern infolgedessen einen sehr erheblichen Zeitaufwand, der sich vor allem bei der Massenfabrikation recht unangenehm bemerkbar macht. Der Zeitaufwand steigt mit der verlangten Genauigkeit, cla naturgemäß die Genauigkeitssteigerung eine Verlangsamung der Nachbearbeitung bedingt. Eine Verbesserung dieser Verfahren erreicht man schon dann, wenn die Schaltelemente nach entsprechender Messung einer groben Vorsortierung unterworfen und zu einigen Gruppen zusammengefaßt werden. Jede Gruppe wird darauf in ihrer Gesamtheit ein und derselben Nachbearbeitung unterworfen, wobei die Nachbearbeitung ihrem Verlauf und ihrer Größe nach beispielsweise durch Rechnung schon vorher festgelegt worden ist. Hierdurch wird eine .individuelle Beobachtung der Nachbearbeitung eines jeden einzelnen Gruppenmitgliedes vermieden und trotzdem der Endwert innerhalb der vorgeschriebenen Toleranz erreicht. Auf diese letztgenannten Verfahren, die schon eine wesentlicheVerringerung des Zeitaufwandes für die Nachbearbeitung erbringen, bezieht sich die Erfindung.
- Dass Neue der Erfindung besteht darin, daß die Grenzwerte der Gruppen eine geometrische Reihe bilden. Hierdurch erreicht man, daß man in jedem Fall mit der geringstmöglichen Anzahl von Gruppen und den Gruppen zugeordneten Werkzeugen für die Nachbearbeitung auskommt. Zweckmäßig wendet man das erfindungsgemäße Verfahren bei der Herstellung von hochohmigen streifenförmigen Widerständen mit einer Widerstandsschicht auf isolierender Unterlage an, wobei die Widerstände durch Ausstanzen von Teilen ihrer Bahn auf den vorgeschriebenen Endwert gebracht werden. Gerade auf dem letztgenannten Gebiet ist bisher eine große Zähl- -von' Messungen und nacheinander erfolgenden. Vergütungsvorgängen zur Erreichung des gewünschten Wider-. standswertes üblich. Beispielsweise hat män; jeden einzelnen Widerstand abwechselnd.: messen und an seinen Längskanten beschnif@@= ten, bis er den gewünschten Endwert hatte. Ein derartiges Verfahren verteuert die Herstellung der Widerstände ohne weiteres.
- Wenn beispielsweise derartige Widerstände in einem Ohmbereich von 0,4 bis i,i Megohm vorliegen und diese Widerstände innerhalb 15"/" Toleranz von i, i Megohm gebracht werden sollen, so ist folgendermaßen zu verfahren.
- Es werden aus den vorgemessenen Werten der Schaltelemente Gruppen mit folgenden Grenzen zebildet:
i. Gruppe: Höchster zulässiger Wert a = n (@+ Ioö ), kleinster zulässiger Wert b .--- i t (i- Iöo ), wobei n gleich dem Sollwert 2. Gruppe: Höchster Wert b, kleinster Wert wobei b --- a und b - `@ ist. q q q bq 3. Gruppe: Höchster Wert q , kleinster Wert 2 bzw. - q2 und Bei der nächsten Gruppe sind die Grenz- werte entsprechend q a I und @. , wenn r die - Im vorliegenden Fall ergibt sich als Reihenfaktor und als Grenzwert der Gruppen:
bei der ersten Gruppe r,265 bzw. 0,935, lvtegohm, - - zweiten - 0,935 - o,bgi - - - dritten - o,6gr - 0,511 - - - vierten - 0,511 - 0,378 - - In der Zeichnung sind beispielsweise Ausführungen des Widerstandes zum Teil in der Aufsicht (Abb. r, 3 und 5) und zum Teil im Schnitt (Abb.2) wiedergegeben.
- Die Isolierunterlage i trägt auf ihrer Oberfläche die Widerstandsschicht 2. Die Zuleitungsdrähte q. sind mittels der Ösen 3 am Widerstand befestigt. In den Abb. i und 2 ist der Widerstandswert durch Ausstanzen der Löcher 5, in der Abb. 3 durch Ausstanzen der zahnartigen Stücke 6 eingestellt worden. In-Abb. q. ist eine Ausführungsform wiedergegeben, bei welcher an Stelle mehrerer kleiner Löcher ein großes Loch 7 ausgestgnzt wurde.
Claims (3)
- PATENTANSPRÜCHE: i. Verfahren zur Herstellung von elektrischen Schaltelementen, wie Widerständen, Kondensatoren o. dgl., bei dem die einzelnen Schaltelemente gemessen und zu Gruppen zusammengefaßt werden, deren Mitglieder durch eine der Gruppe jeweilig zugeordnete einheitliche Nachbearbeitung auf den Endwert innerhalb der vorgeschriebenen Toleranz gebracht werden, dadurch gekennzeichnet, daß die Grenzwerte der Gruppen eine geometrische Reihe bilden. ..
- 2. Anwendung des Verfahrens nach Anspruch r auf die Herstellung von hochohmigen, streifenförmigen Widerständen mit einer Widerstandsschicht auf isolierender Unterlage.
- 3. Verfahren zur Herstellung elektrischer Widerstände nach Anspruch bei dem zur Einstellung des Widerstandswertes ein Teil der Widerstandsschicht entfernt wird, dadurch gekennzeichnet, daß, die Widerstände durch Ausstanzen von Teilen ihrer Bahn auf den vorgeschriebenen Endwert gebracht werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEST49526D DE631167C (de) | 1932-07-02 | 1932-07-02 | Verfahren zur Herstellung von elektrischen Schaltelementen, wie Widerstaenden, Kondensatoren o. dgl. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEST49526D DE631167C (de) | 1932-07-02 | 1932-07-02 | Verfahren zur Herstellung von elektrischen Schaltelementen, wie Widerstaenden, Kondensatoren o. dgl. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE631167C true DE631167C (de) | 1936-06-13 |
Family
ID=7465899
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEST49526D Expired DE631167C (de) | 1932-07-02 | 1932-07-02 | Verfahren zur Herstellung von elektrischen Schaltelementen, wie Widerstaenden, Kondensatoren o. dgl. |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE631167C (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3905195A1 (de) * | 1989-02-21 | 1990-08-30 | Josef Dr Lang | Verfahren zur gezielten herstellung von praezisions-widerstaenden geringer toleranz |
-
1932
- 1932-07-02 DE DEST49526D patent/DE631167C/de not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3905195A1 (de) * | 1989-02-21 | 1990-08-30 | Josef Dr Lang | Verfahren zur gezielten herstellung von praezisions-widerstaenden geringer toleranz |
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