DE602006000507T2 - Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Flächengewichts und des Feuchtegehalts einer Schicht, z.B. aus Papier, unter Verwendung dielektrischer Resonatoren - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Flächengewichts und des Feuchtegehalts einer Schicht, z.B. aus Papier, unter Verwendung dielektrischer Resonatoren Download PDF

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Description

  • Hintergrund der Erfindung
  • 1. Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen einer Dicke oder Grammatur (Masse pro 1 m2) einer blattartigen Substanz einschließlich von Papier, nicht gewebtem Stoff und Film unter Ausnutzung einer Resonanz einer Mikrowelle.
  • 2. Beschreibung der verwandten Technik
  • Die Dicke und die Grammatur der blattartigen Substanz einschließlich von Papier und Film sind eines der wichtigsten Charakteristika bei einer Produktqualität eines Herstellungsprozesses. Bei dem Produktionsprozess ist es notwendig, Online-Messungen der Dicke durchzuführen, in einem Falle des Papiers insbesondere der Grammatur.
  • Herkömmlicherweise wurde bei einem Herstellen des Papiers ein Verfahren, bei dem ein Betastrahl genutzt wird, als das Verfahren zum Durchführen der Online-Messungen der Grammatur verwendet, und insbesondere wird hauptsächlich Krypton-85 verwendet. Der Betastrahl ist eine Art Strahlung und ein geladener Partikel, der durch einen Betazerfall eines radioaktiven Isotops erzeugt wird. Eine der Oberflächen einer Probe wird mit dem Betastrahl bestrahlt und ein Betrag an Betastrahl, der durch die Probe transmittiert wird, wird an der anderen Oberfläche erfasst. Der Betastrahl, mit dem eine der Oberflächen der Probe bestrahlt wird, regt Zustände von Atomen an, die die Probe bilden, oder ionisiert die Atome in dem Verlauf des Betastrahls durch die Probe. Der Betastrahl erfährt durch ein Verlieren von kinetischer Energie des Betastrahls in sich selbst auch einen Energieverlust und der Betastrahl wird dann durch die andere Oberfläche transmittiert. Der Betrag eines Energieverlusts ist durch physikalische Eigenschaften wie z. B. einen Absorptionskoeffizienten und einen Betrag wie z. B. eine Dicke und eine Grammatur einer Substanz bestimmt, die die Probe bildet. Der Energieverlust wird durch Formel (3) ausgedrückt. I = I0exp(–μρχ) (3)wobei
  • I0:
    ausgestrahlte Strahlungsintensität
    I:
    Strahlungsintensität nach Transmission
    μ:
    Absorptionskoeffizient, der durch Strahlungsenergie und Probe bestimmt ist
    ρ:
    Dichte von Probe
    χ:
    Dichte von Transmissionssubstanz
    ist.
  • Aufgrund von b = ρ·χ, wenn die Grammatur durch „b" ausgedrückt wird, kann Formel (3) durch Formel (4) ausgedrückt werden. I = I0exp(–μb) (4)
  • Das heißt, der Absorptionskoeffizient μ, der bei jeder Probe bestimmt ist, kann durch eine Berechnung bestimmt werden, wenn vorhergehend bei jeder Probe eine Kalibrierungskurve vorgenommen wird, die von einem Messziel ist, unter Verwendung einer Standardprobe, deren Grammatur bekannt ist. Somit kann während des Vorgangs die Grammatur der Probe durch ein Messen der ausgestrahlten Strahlungsintensität I0 und der Strahlungsintensität I nach der Trans mission aus Formel (4) bestimmt werden. Somit kann bei dem Verfahren, bei dem der Betastrahl genutzt wird, die Grammatur sofort online während des Vorgangs bestimmt werden, so dass eine Papiermaschine online gesteuert werden kann, obwohl es notwendig ist, den Absorptionskoeffizienten der Zielprobe vorhergehend zu bestimmen.
  • JP2272349 offenbart ein Verfahren zum Bestimmen einer Grammatur und eines Feuchtigkeitsgehalts einer Papierbahn durch ein Messen der Resonanzfrequenz und des Resonanzspitzenpegels eines offenen Hohlraumresonators, der nahe der Papierbahn platziert ist.
  • US5826458 offenbart ein Verfahren zum Bestimmen des Feuchtigkeitsgehalts eines Bestands in einer Papierfertigungsmaschine mittels eines dielektrischen Resonators.
  • JP2003254915 offenbart ein Verfahren zum Bestimmen der Anisotropie einer Papierbahn mittels einer Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • In einem Falle des Verfahrens jedoch, bei dem der Betastrahl für die Grammaturmessungen genutzt wird, ist der Betastrahl für den menschlichen Körper schädlich, da der Betastrahl eine Strahlung ist. Somit ist es schwierig, den Betastrahl zu handhaben. Falls ein unvorhergesehener Fall erzeugt wird, könnte der Bediener durch den Betastrahl nachteilig beeinflusst werden.
  • Angesichts des Vorhergehenden ist es eine Aufgabe der Erfindung, eine Grammaturmessvorrichtung, die kostengünstig und einfach zu handhaben ist, und ein Grammaturmessverfahren derselben zu schaffen.
  • Das Grammaturmessverfahren der Erfindung ist es, eine Grammatur einer Messprobe durch ein Anordnen einer Probenmessoberfläche eines dielektrischen Resonators lediglich an einer Oberflächenseite einer Probe unter einer festen Bedingung zu bestimmen.
  • Ein Aspekt des Grammaturmessverfahrens weist die Schritte auf, die in Anspruch 1 definiert sind.
  • Ein anderer Aspekt des Grammaturmessverfahrens weist die Schritte auf, die in Anspruch 2 definiert sind.
  • Bei dem Grammaturmessverfahren der Erfindung kann die feste Bedingung darin bestehen, die Messungen durch ein Bringen der Probe in einen Kontakt mit der Probenmessoberfläche des dielektrischen Resonators durchzuführen, oder die feste Bedingung kann darin bestehen, die Messungen durch ein Trennen der Probe von der Probenmessoberfläche des dielektrischen Resonators um eine vorbestimmte Entfernung durchzuführen.
  • Bei dem Grammaturmessverfahren der Erfindung kann ein Feuchtigkeitsgehaltbetrag oder ein Feuchtigkeitsgehaltsverhältnis der Messprobe auch basierend auf einem Unterschied in einem Resonanzspitzenpegel zwischen dem Fehlen und dem Vorhandensein der Probe bestimmt werden.
  • 1 zeigt eine Grammaturmessvorrichtung.
  • Die Grammaturmessvorrichtung umfasst einen dielektrischen Resonator 1, der lediglich an einer Oberflächenseite einer Probe 10 angeordnet ist; einen Abschirmbehälter 4, mit der der dielektrische Resonator 1 mit Ausnahme einer Probenmessoberfläche im Wesentlichen bedeckt ist; ein Mikrowellenanregungsbauelement 6 und 2a, das bewirkt, dass der dielektrische Resonator 1 einen elektrischen Feldvektor erzeugt; ein Erfassungsbauelement 8 und 2b, das eine Transmissionsenergie oder eine Reflexionsenergie durch den dielektrischen Resonator 1 erfasst; ein Speicherungsbauelement 12, in dem eine Kalibrierungskurve gespeichert ist, wobei die Kalibrierungskurve einen Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag für eine Grammatur anzeigt, wobei die Kalibrierungskurve basierend auf dem Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag erstellt ist, wobei der Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag für jede Grammatur unter einer festen Bedingung mit dem dielektrischen Resonator 1 durch ein Ändern der Grammatur einer Standardprobe gemessen wird, wobei eine Dielektrizitätskonstante und eine Dichte der Standardprobe konstant gehalten werden, wobei die Grammatur bei der Standardmessprobe bekannt ist; und ein Datenverarbeitungsbauelement 14, das die Grammatur einer Messprobe aus der Kalibrierungskurve und einem Messergebnis des Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag der Messprobe berechnet, wobei die Dielektrizitätskonstante und die Dichte der Messprobe gleich denjenigen der Standardprobe sind. Das Mikrowellenanregungsbauelement umfasst einen Mikrowellenoszillator 6 und eine Antenne 2a, und das Erfassungsbauelement umfasst einen Wellendetektor 8 und eine Antenne 2b.
  • Eine andere Grammaturmessvorrichtung umfasst den dielektrischen Resonator 1, den Abschirmbehälter 4, das Mikrowellenanregungsbauelement 6 und 2a und das Erfassungsbauelement 8 und 2b. Bei diesem Aspekt jedoch speichert das Speicherungsbauelement 12 eine Konstante „A" der folgenden Gleichung (6). Die Konstante „A" ist basierend auf einem Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag Δf für jede Grammatur bestimmt, der unter der festen Bedingung mit dem dielektrischen Resonator 1 gemessen wird, durch ein Ändern einer Grammatur „b" einer Standardprobe, die eine bekannte Grammatur „b" aufweist. Ferner berechnet das Datenverarbeitungsbauelement 14 eine Grammatur „b" einer Messprobe, die die gleiche Dielektrizitätskonstante und Dichte wie die Standardprobe aufweist, gemäß der folgenden Gleichung (6) aus der Konstante „A", die in dem Speicherbauelement 12 gespeichert ist, und dem Messergebnis des Resonanzfrequenz verschiebungsbetrags Δf der Messprobe unter der festen Bedingung mit dem dielektrischen Resonator. Δf = A·b (6)wobei Δf = f0 – fS,
  • f0:
    eine Resonanzfrequenz in einem Fall, in dem die Probe (die Standardprobe oder die Messprobe) fehlt, und
    fS:
    eine Resonanzfrequenz in einem Fall, in dem die Probe (die Standardprobe oder die Messprobe) vorhanden ist,
    ist.
  • Die Grammaturmessvorrichtungen gemäß der Erfindung sind in den Ansprüchen 7 und 8 definiert.
  • Bei der Grammaturmessvorrichtung der Erfindung kann das Datenverarbeitungsbauelement 14 eine Funktion eines Bestimmens eines Feuchtigkeitsgehaltsbetrages oder eines Feuchtigkeitsgehaltsverhältnisses der Probe basierend auf einem Unterschied in Resonanzspitzenpegeln zwischen dem Fehlen und dem Vorhandensein der Probe aufweisen, und somit kann die Grammaturmessvorrichtung eine Feuchtigkeitsmessfunktion aufweisen.
  • Die Grammaturmessvorrichtung der Erfindung umfasst eine Ausrichtungsmessfunktion. Bei der Grammaturmessvorrichtung, die die Ausrichtungsmessfunktion umfasst, umfasst der dielektrische Resonator eine Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren, die in der gleichen Ebene angeordnet sind, und die dielektrischen Resonatoren sind so angeordnet, dass elektrische Feldvektoren derselben, die eindirektionale Komponenten in einer In-Probe-Ebene parallel zu der Ebene aufweisen, sich voneinander unterscheiden, das Datenverarbeitungsbauelement 14 weist ferner eine Funktion eines Bestimmens einer dielektrischen Anisotropie der Probe basierend auf einem Unterschied in einer Ausgabe unter den dielektrischen Resonatoren auf, und somit weist die Grammaturmessvorrichtung eine Ausrichtungsmessfunktion auf, und die Kalibrierungskurve oder die Konstante A wird unter Verwendung eines Mittelwertes der Ausgaben der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren bestimmt, und die Grammatur der Messprobe wird aus der Kalibrierungskurve oder der Konstante A und dem Messergebnis basierend auf dem Mittelwert der Ausgaben der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren für die Messprobe bestimmt.
  • Bei der Grammaturmessvorrichtung der Erfindung umfasst eine Verstärkerschaltung ein Zeitverzögerungselement, und die Verstärkerschaltung ist mit der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren verbunden, um Ausgaben der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren zu verstärken. Jeder aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren bildet ein Dielektrischer-Resonator-Erfassungssystem, das eine Einrichtung für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals umfasst, wobei die Einrichtung für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals zwischen einem Mikrowellenoszillator und einer Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung eingefügt ist, wobei der Mikrowellenoszillator mit jedem aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren verbunden ist, wobei die Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung mit der Verstärkerschaltung verbunden ist, um aus der Ausgabe der Verstärkerschaltung einen Resonanzspitzenpegel zu erfassen, und die Grammaturmessvorrichtung umfasst eine Steuereinrichtung zum Vergleichen der Ausgabe aus der Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung eines jeden Dielektrischer-Resonator-Erfassungssystems mit einem vorbestimmten Zielresonanzspitzenpegel, um ein Signal zum Ändern eines Dämpfungs- oder eines Verstärkungsgrades für die Einrichtung für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals zu erzeugen, so dass die Ausgabe aus der Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung nahe an den vorbestimmten Zielresonanzspitzenpegel gebracht ist.
  • Das Dielektrischer-Resonator-Erfassungssystem umfasst ferner eine Analog/Digital-Wandlungsschaltungseinheit, und die vorbestimmte Zielresonanzspitzenpegelspannung kann in einem Eingabebereich der Analog/Digital-Wandlungsschaltungseinheit gesetzt werden.
  • Ein Beispiel für die Einrichtung für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals ist ein programmierbarer Dämpfer. Der programmierbare Dämpfer kann zwischen den dielektrischen Resonator und den Mikrowellenoszillator geschaltet sein. Ein anderes Beispiel für die Einrichtung für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals ist eines, das in der Verstärkerschaltung bereitgestellt ist.
  • Somit wird in der Erfindung der Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag der Messprobe mit dem dielektrischen Resonator gemessen, und der Messwert des Resonanzfrequenzverschiebungsbetrags wird auf die vorhergehend bestimmte Kalibrierungskurve angewendet, um die Grammatur der Probe zu bestimmen, oder die Konstante „A" wird vorhergehend bestimmt, um die Grammatur der Probe unter Verwendung der Gleichung zu erhalten. Somit kann die Grammatur sicher mit einer einfachen Handhabung gemessen werden, während die Strahlung und dergleichen, die den schädlichen Einfluss auf den menschlichen Körper haben, nicht genutzt werden.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • 1 ist ein Blockdiagramm, das schematisch eine Grammaturmessvorrichtung zeigt;
  • 2A ist ein Blockdiagramm, das einen dielektrischen Resonator in der Erfindung zeigt, und 2B zeigt eine äquivalente Schaltung desselben;
  • 3A zeigt eine Wellenform, die eine Resonanzspitze bei dem dielektrischen Resonator aufzeigt, und
  • 3B zeigt Wellenformen, die eine Änderung in einer Resonanzkurve gemäß einem Vorhandensein oder einem Fehlen einer Probe aufzeigen;
  • 4 ist ein Graph, der eine Beziehung zwischen einer Grammatur (angezeigt in g/m2) und einem Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag zeigt;
  • 5 zeigt Wellenformen, die die Änderung in einer Resonanzkurve gemäß dem Vorhandensein oder dem Fehlen der Probe, die Feuchtigkeit enthält, aufzeigen;
  • 6 ist ein Flussdiagramm, das ein Verfahren zum Messen eines Feuchtigkeitsgehalts der Probe zeigt, die eine konstante Dicke aufweist;
  • 7 ist ein Flussdiagramm, das ein Verfahren zum Messen des Feuchtigkeitsgehalts der Probe zeigt, die eine nicht konstante Dicke aufweist;
  • 8 ist ein Flussdiagramm, das ein Verfahren zum Messen des Feuchtigkeitsgehalts einer Überzugsschicht der Probe zeigt;
  • 9 ist ein Grundriss, der einen rechteckigen dielektrischen Resonator zeigt, der bei einem Messen einer Probenausrichtung verwendet wird;
  • 10 zeigt Wellenformen, die eine Resonanzfrequenzverschiebung gemäß dem Vorhandensein oder dem Fehlen der Probe bei den Ausrichtungsmessungen aufzeigen;
  • 11 ist eine Draufsicht, die eine Ausrichtungsmesseinheit zeigt, in der fünf dielektrische Resonatoren angeordnet sind;
  • 12 zeigt ein Beispiel für ein Ausrichtungsmuster, das von den fünf dielektrischen Resonatoren von 11 erhalten wird;
  • 13 ist ein Graph, der eine Beziehung zwischen einem Resonanzspitzenpegel (angezeigt in Spannung) und einer Resonanzfrequenz zu dieser Zeit für jeden dielektrischen Resonator zeigt;
  • 14 ist ein Blockdiagramm, das eine Schaltung zeigt, die Signale von den fünf dielektrischen Resonatoren verarbeitet;
  • 15 ist ein Zeitgebungsschaubild, das die Signalverarbeitung in dem Blockdiagramm von 14 zeigt;
  • 16 ist ein detailliertes Blockdiagramm, das die Signalverarbeitungsschaltung für einen der dielektrischen Resonatoren in der Schaltung von 14 zeigt;
  • 17 ist ein Wellenformschaubild, das eine Schritteingabewellenform, die in eine Verstärkerschaltung eingegeben wird, und eine Wellenform, die aus der Verstärkerschaltung ausgegeben wird, zeigt;
  • 18 zeigt Wellenformen, die eine Beziehung zwischen der Resonanzkurve und der Resonanzspitzenpegelspannung zeigen;
  • 19 ist ein Blockdiagramm, das eine Handlung eines Grammaturdämpfers zeigt;
  • 20 ist ein Blockdiagramm, das einen Zustand zeigt, in dem der programmierbare Dämpfer in die Signalverarbeitungsschaltung von 14 eingegliedert ist;
  • 21 ist ein Flussdiagramm, das einen Vorgang zeigt, bei dem ein Dämpfungspegel in dem programmierbaren Dämpfer bestimmt wird;
  • 22 ist eine Ansicht, in der eine Ausgabespannung eines jeden dielektrischen Resonators auf einer Anzeige angezeigt ist, 22A zeigt einen Zustand unmittelbar nachdem die Messung dargelegt wird, und 22B zeigt einen Zustand, nachdem der programmierbare Dämpfer betrieben wird;
  • 23 zeigt eine Resonanzspitzenspannung eines jeden dielektrischen Resonators bei einer Herstellung eines Papierblattes, wenn keine Steuerung zum Konstanthalten der Resonanzspitzenspannung durchgeführt wird; und
  • 24 zeigt die Resonanzspitzenspannung, nachdem die Steuerung zum Konstanthalten der Resonanzspitzenspannung von 23 durchgeführt wird.
  • Beschreibung der bevorzugten Ausführungsbeispiele
  • 2A und 2B zeigen schematisch eine Grammaturmessvorrichtung. 2A ist ein Blockdiagramm, das einen dielektrischen Resonator zeigt, und 2B ist eine äquivalente Schaltung desselben.
  • Eine Resonanzmode, in der ein dielektrischer Resonator 1 in Resonanz ist, während ein elektrischer Feldvektor 20 existiert, der nach Außen aus dem dielektrischen Resonator 1 heraustritt, kann durch ein Anordnen von Mikrowellenstaban tennen 2a und 2b an ordnungsgemäßen Positionen und Ausrichtungen bezüglich des dielektrischen Resonators 1 erzeugt werden. Bei 2A ist ein Abschirmbehälter aus praktischen Gründen ausgelassen. Beispiele für die Resonanzmode umfassen eine HEM-Mode in einem Fall, in dem eine Probenoberfläche, die zu dem dielektrischen Resonator 1 gewandt ist, in einer kreisförmigen Form gebildet ist, und eine TM-Mode und eine TE-Mode in einem Fall, in dem die Probenoberfläche in einer quadratischen Form gebildet ist. Die Intensität des elektrischen Feldvektors 20 ist mit Entfernung von dem dielektrischen Resonator 1 im Wesentlichen exponentiell gesenkt. Wenn jedoch eine Probe 10 platziert ist, während dieselbe etwas von dem dielektrischen Resonator 1 getrennt ist, oder wenn die Probe 10 platziert ist, während dieselbe in einem Kontakt mit dem dielektrischen Resonator 1 ist, ist eine Resonanzfrequenz gemäß einer Dielektrizitätskonstante der Probe 1 durch eine elektromagnetische Kopplung verschoben.
  • Eine Mikrowelle, die aus einem Oszillator 6 emittiert wird, ist elektromagnetisch mit dem dielektrischen Resonator 1 durch die Stabantenne 2a gekoppelt, und der dielektrische Resonator 1 kann zu einem Resonanzzustand werden. Der elektrische Feldvektor 20 des dielektrischen Resonators 1 tritt im Wesentlichen parallel zu der Oberfläche 10 hervor, was eine Wechselwirkung mit einem Dipolmoment erzeugt, den die Probe 10 besitzt. Die transmittierte Mikrowelle aus dem dielektrischen Resonator 1 wird durch die Stabantenne 2b durch einen Wellendetektor 8 erfasst. Eine Steuerung 16 nimmt die Mikrowellenintensität auf, die durch den Wellendetektor 8 erfasst wird. Das Bezugszeichen 18 bezeichnet einen Computer, der von einem Datenverarbeitungsbauelement zum Bestimmen der Grammatur aus der erfassten Mikrowellenintensität ist.
  • Als nächstes wird ein Prinzip einer Grammaturmessung (Dickenmessung) beschrieben. Bei dem dielektrischen Resonator 1 ist eine Beziehung, gezeigt in 3A, zwischen der transmittierten Mikrowellenintensität und der Frequenz vorhanden. Die Resonanzkurve, die in 3A gezeigt ist, wird eine Q-Kurve genannt. Die Q-Kurve wird gemäß Formel (7) geändert, wenn die Probe 10 platziert ist.
    Figure 00130001
  • ωS:
    Komplexwinkelfrequenz (in einem Fall, in dem eine Probe vorhanden ist)
    ω0:
    Komplexwinkelfrequenz (in einem Fall, in dem eine Probe fehlt)
    P:
    elektrische Polarisation
    J:
    Leitungsstromdichte
    Ea:
    elektrisches Feld
    M:
    magnetisches Feld
    εS:
    Dielektrizitätskonstante eines dielektrischen Resonators
    *:
    gibt eine komplexe Zahl an
  • 3B zeigt die Änderung in einer Resonanzfrequenz gemäß dem Vorhandensein oder dem Fehlen (leer) der Probe.
  • Obwohl Formel (7) ursprünglich in einem Falle eines Hohlraumresonators erreicht wird, wird Formel (7) auch in der Erfindung erreicht, da die Probe im Wesentlichen nahe dem dielektrischen Resonator 1 angeordnet ist oder in einen Kontakt mit dem dielektrischen Resonator 1 gebracht wird.
  • In Formel (7) bezeichnet das Zeichen W eine Akkumulationsenergie in dem dielektrischen Resonator 1, und die Akkumulationsenergie W ist durch die Dielektrizitätskonstante des dielektrischen Resonators εS und des elektrischen Feldes E bestimmt. Somit ist die Akkumulationsenergie W ein intrinsischer Wert der Vorrichtung, der nicht durch die Probe, die gemessen werden soll, beeinflusst wird. Dann wird ein Term μ0·M·Ha* null, da die Probe ein nicht-magnetisches dielektrisches Material ist. Formel (8) wird durch ein Zusammenfassen und Umschreiben von Formel (7) erhalten.
  • Figure 00140001
  • Die komplexe Dielektrizitätskonstante ist in einen reellen Teil und einen imaginären Teil unterteilt, und lediglich der reelle Teil, nämlich lediglich eine Dielektrizitätskonstante ε', wird beschrieben, um Formel (9) zu erhalten.
  • Figure 00140002
  • Wenn ein Integrierterm auf der rechten Seite integriert ist, wird Formel 10 erhalten.
  • Figure 00140003
  • ΔV ist ein Volumen der Probe und ΔV wird durch ΔV = S·d ausgedrückt. Wobei „S" eine Messfläche der Probe ist und „d" eine Dicke der Probe ist. Wenn ΔV = S·d in Formel (10) eingesetzt wird, wird Formel (11) erhalten.
  • Figure 00150001
  • Da ω = 2πf, ω = 2πf in Formel (11) eingesetzt wird, wird Formel (12) erhalten.
  • Figure 00150002
  • Wenn 2π auf der linken Seite eliminiert wird, um –fa zu multiplizieren, wird Formel (13) erhalten.
  • Figure 00150003
  • Da die Grammatur „b" durch b = e·d unter Verwendung einer Dichte „e" und der Dicke „d" der Probe ausgedrückt wird, wird Formel (14) erhalten, wenn b = e·d in Formel (13) eingesetzt wird.
  • Figure 00150004
  • Jedes von f0, Ea, W und S ist eine intrinsische Konstante der Vorrichtung, ε0 ist eine Konstante, und ε' ist die Probendielektrizitätskonstante, die durch die Probe bestimmt ist. Somit wird Formel (15) erhalten, wenn die Konstantabschnitte zusammengefasst werden. Δf = A·b (15)wobei Δf = f0 – fS
  • f0:
    Resonanzfrequenz in einem Fall, in dem die Probe fehlt
    fS:
    Resonanzfrequenz in einem Fall, in dem die Probe vorhanden ist
    A:
    Konstante.
  • Das heißt, der Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag Δf, der in 3B gezeigt ist, ist proportional zu der Grammatur „b" der Probe. Wenn die Konstante „A" vorhergehend bestimmt wird, kann die Dicke der Probe durch ein Messen von Δf erhalten werden.
  • Eine Prozedur zum Bestimmen der Konstante „A" ist unten spezifisch beschrieben. Bei der tatsächlichen Papierherstellung werden für die gleichen Arten von Papierblättern ein Kompoundierungsverhältnis und die Dichte der Materialien konstant gehalten, während die Grammatur variiert wird. Die Probendielektrizitätskonstante ist ein Wert, der durch das Kompoundierungsverhältnis der Papiermaterialien, die Papierdichte und den Feuchtigkeitsgehalt bestimmt ist. Die Materialien umfassen Zellstoff, Pigment und Chemikalien, die gemäß der beabsichtigten Verwendung hinzugefügt werden. Die Art von Papier ist durch die Materialien bestimmt, und das Kompoundierungsverhältnis des Papiers ist ebenfalls bestimmt, wie es oben beschrieben ist. Zum Beispiel ist das Zellstoffmaterial in jeder Art von Papier bestimmt. Das heißt, für die gleichen Arten von Papierblättern, die unterschiedliche Grammaturen aufweisen, wird die Dielektrizitätskonstante konstant gehalten, da eine Kalanderbedingung und dergleichen bestimmt sind, so dass nicht lediglich das Kompoundierungsverhältnis konstant gehalten wird, sondern auch die Dichte konstant gehalten wird. Die Grammatur wird durch eine Einstellung des Materialbetrags bei einer Papierfertigung gesteuert. Insbesondere wenn Papier mit einer größeren Grammatur hergestellt wird, ist der Materialbetrag erhöht, und wenn Papier mit einer kleineren Grammatur hergestellt wird, ist der Materialbetrag verringert. Somit weist die Konstante „A" den Wert auf, der durch die gleiche Art Papierblatt bestimmt ist.
  • Dann wird die Grammatur geändert, während der Materialbetrag in mehreren Stufen eingestellt wird, und der Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag Δf wird gemäß jeder Stufe aufgezeichnet. Die Grammaturen der Papierblätter, bei denen eine Blattfertigung zu Ende gebracht wird, werden offline gemessen, um den Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag Δf entsprechend jeder Grammatur in jeder Stufe aufzutragen. 4 zeigt ein Beispiel für die Beziehung zwischen der Grammatur und dem Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag Δf. Wie aus 4 zu sehen ist, weisen die Grammatur und der Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag Δf eine lineare Korrelation auf, und eine Steigung der linearen Korrelation gibt die Konstante „A" von Formel (15) an.
  • In der Erfindung sind zwei Modi vorhanden, nämlich ein Modus, in dem die Korrelation als eine Kalibrierungskurve aufrechterhalten wird, und ein Modus, in dem die Konstante „A", die aus der Korrelation bestimmt wird, aufrechterhalten wird. In dem Modus, in dem die Kalibrierungskurve verwendet wird, wird der Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag Δf, der für eine unbekannte Probe gemessen wird, auf die Kalibrierungskurve angewendet, um die Grammatur zu bestimmen. In dem Modus, in dem die Konstante „A" verwendet wird, wird Δf, das für die unbekannte Probe gemessen wird, auf Formel (15) angewendet, und die Grammatur wird durch eine Berechnung bestimmt. Wenn ein unbekanntes Papier in der obigen Weise online gemessen wird, kann die Grammatur der unbekannten Probe unmittelbar unter Verwendung von Δf, das durch die Messung erhalten wird, und der vorhergehend bestimmten Kalibrierungskurve oder Konstante „A" erhalten werden.
  • Somit wird in der Erfindung die Grammatur aus dem Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag Δf, nämlich aus einem Spitzenfrequenzverschiebungsbetrag der Resonanzkurve bestimmt, so dass es notwendig ist, eine Spitzenfrequenz genau zu messen. Ein Verschärfen der Resonanzkurve durch ein Erhöhen einer Resonanzschärfe (Q-Wert) ist bei den genauen Messun gen der Spitzenfrequenz wirksam. Somit erhalten die Erfinder das folgende Wissen als ein Ergebnis von verschiedenartigen Experimenten für eine Form eines dielektrischen Resonators, eine Form des Abschirmbehälters, eine Beziehung zwischen denselben und dergleichen.
  • Es wird bevorzugt, dass die Umgebungen des dielektrischen Resonators mit Ausnahme einer Probenmessoberfläche mit einem Abschirmmaterial bedeckt sind, das aus einem elektrisch leitfähigen Material gefertigt ist. Dies ermöglicht eine Verstärkung des Q-Wertes der Resonanzkurve. An diesem Punkt ist das Abschirmmaterial, das aus dem elektrisch leitfähigen Material gefertigt ist, bevorzugter auch in der Probenmessoberfläche des dielektrischen Resonators angeordnet, um die Probe zwischen der Messoberfläche des dielektrischen Resonators und dem Abschirmmaterial anzuordnen.
  • Für die Form des dielektrischen Resonators wird eine zylindrische Form mehr bevorzugt als eine Prismaform, um die Grammatur zu messen. Wenn der zylindrische dielektrische Resonator verwendet wird, ist der elektrische Feldvektor verteilt, um in einem Fall, in dem die Resonanzmode eine TM01δ-Mode ist, einen Kreis zu ziehen. Somit wird der Konstantenmesswert ungeachtet der Probenausrichtung erhalten, sogar wenn die Probe eine Anisotropie in der Dielektrizitätskonstante aufweist.
  • Wenn eine untere Oberfläche des Prismas auf die Probenmessoberfläche gesetzt wird, wird bei dem prismatischen dielektrischen Resonator der elektrische Feldvektor aufgrund der Form des prismatischen dielektrischen Resonators andererseits parallel zu der Probenmessoberfläche. Wenn z. B. die Probe, die die Anisotropie in der Dielektrizitätskonstante aufweist, gemessen wird, wird der Messwert durch die Ausrichtung der Probe bei fast allen der TM-Moden wie z. B. TM101 und TM201 geändert. Obwohl die Änderung in dem Messwert durch die Ausrichtung der Probe für den Zweck der Anisotropiemessungen einer Probendielektrizi tätskonstante, wie später beschrieben, geeignet ist, wird die Änderung in dem Messwert zu einem Nachteil für die Grammaturmessungen, die den Hauptzweck der Erfindung darstellen. Bei einem der Verfahren zum Messen der Probe, die die Dielektrizitätskonstantenanisotropie aufweist, mit dem prismatischen dielektrischen Resonator sind mehrere prismatische dielektrische Resonatoren angeordnet, und Elemente von Daten können gleichzeitig aus den mehreren dielektrischen Resonatoren erhalten werden, um die Grammatur aus einem Durchschnitt der Datenelemente zu bestimmen. Bei einem anderen Verfahren wird ein prismatischer dielektrischer Resonator verwendet, der prismatische dielektrische Resonator wird in eine Probe-In-Ebene-Richtung gedreht, und die Datenelemente aus dem dielektrischen Resonator können an mehreren Punkten in der Drehrichtung erhalten werden, um die Grammatur aus dem Durchschnitt der Datenelemente zu bestimmen.
  • Das Verfahren und die Vorrichtung der Erfindung umfassen auch eine Feuchtigkeitsmessfunktion, wobei ein Datenverarbeitungsbauelement eine Funktion eines Bestimmens des Feuchtigkeitsgehaltsbetrages oder Feuchtigkeitsgehaltsverhältnisses der Probe basierend auf dem Unterschied in Resonanzspitzenpegeln zwischen einem Fehlen und einem Vorhandensein der Probe aufweist.
  • Wenn die Resonanz mit dem Mikrowellenresonator erzeugt wird, werden die in 5 gezeigten Resonanzkurven erhalten. Die Resonanzkurve auf der rechten Seite ist eine, bei der die Probe fehlt (leer). Wenn die Probe in dem Resonator oder nahe dem Resonator existiert, sind sowohl der Spitzenpegel als auch der Q-Wert durch den dielektrischen Verlust verringert, zu der gleichen Zeit, wenn die Resonanzfrequenz zu der Niederfrequenzseite verschoben wird, durch die Dielektrizitätskonstante, die die Probe wie die Resonanzkurve auf der linken Seite besitzt. Der Feuchtigkeitsgehaltsbetrag oder das Feuchtigkeitsgehaltsverhältnis wird durch ein Vermerken der Änderung in dem Spitzenpegel der Resonanzkurve durch den dielektrischen Verlust gemessen.
  • Die Messungen der Probe, die eine bekannte konstante Dicke „t" aufweist, werden unten unter Bezugnahme auf ein Flussschaubild, das in 6 gezeigt ist, beschrieben. Bei Schritt 1 wird ein Resonanzspitzenpegel P0 in dem Zustand gemessen, in dem die Probe nicht existiert (leer). Bei Schritt 2 wird ein Resonanzspitzenpegel Ps der Probe gemessen.
  • Bei Schritt 3 wird der Unterschied ΔP (= P0 – Ps) zwischen beiden berechnet. Der Unterschied ΔP ist proportional zu einem Wert ε''·t, bei dem der dielektrische Verlust ε'' der Probe und die Dicke t der Probe zusammen multipliziert werden. Somit wird, wenn die Beziehung zwischen dem Feuchtigkeitsgehalt und ΔP vorhergehend als die Kalibrierungskurve für die Probe, die die gleiche Dicke „t" aufweist, bestimmt wird, der Feuchtigkeitsgehalt aus dem Wert von ΔP erhalten, das in Schritt 3 bestimmt wird. Zum Beispiel wird an der Probe eine Feuchtigkeitskonditionierung bei zumindest drei Bedingungen durchgeführt, bei denen sich absolute Feuchtigkeiten der Probe voneinander unterscheiden, und der Feuchtigkeitsgehalt (Gewichtsprozent) und ΔP werden in jeder Bedingung gemessen, um die Kalibrierungskurve vorzubereiten, die die Beziehung zwischen dem Feuchtigkeitsgehalt (Gewichtsprozent) und ΔP ausdrückt. Bei Schritt 4 wird ΔP, das bei Schritt 3 bestimmt wird, auf die Kalibrierungskurve angewendet, um den Feuchtigkeitsgehalt zu bestimmen. In einem Falle der Online-Messungen können die Schritte 2 und 4 in vorbestimmten Intervallen wiederholt werden.
  • Das Verfahren zum Messen der Probe, deren Dicke nicht konstant ist, ist unten unter Bezugnahme auf ein Flussschaubild, das in 7 gezeigt ist, beschrieben. Bei Schritt 1 werden der Resonanzspitzenpegel P0 und eine Resonanzfrequenz F0 in dem Zustand gemessen, in dem die Probe nicht existiert (leer). Bei Schritt 2 werden der Resonanzspitzenpegel Ps der Probe und eine Resonanzfrequenz Fs gemessen. Bei Schritt 3 wird der Unterschied ΔP (= P0 – Ps) zwischen dem Leeren und der Probe berechnet.
  • Bei Schritt 4 wird der Unterschied ΔF (= F0 – Fs) zwischen dem Leeren und der Probe berechnet. Bei dem Hohlraumresonator ist die Dielektrizitätskonstante ε' durch Formel (16) ausgedrückt. ε' - 1 = K1 × ΔF/t (16)
  • Andererseits ist der Unterschied ΔP proportional zu ε''·t, wie es oben beschrieben ist, so dass Formel (17) erhalten wird. ε'' = K2 × ΔP/t (17)
  • Hier sind K1 bzw. K2 Vorrichtungskonstanten.
  • Wenn „t" aus den Formeln (16) und (17) beseitigt wird, wird Formel (18) erhalten. ε'' = K2/K1·(ε' – 1) × (ΔP/ΔF) (18)
  • Wenn die Dielektrizitätskonstante ε' konstant ist, kann Formel (18) durch Formel (19) ausgedrückt werden ε'' = K3 × (ΔP/ΔF) (19)
  • Wobei K3 eine Konstante ist.
  • Das heißt, dass in einem Fall, in dem der Film der Probe den Spurbetrag an Feuchtigkeit enthält, nämlich in einem Fall der Konstante ε', ε'' proportional zu ΔP/ΔF ist, ungeachtet der Dicke „t" der Probe. Somit wird ΔP/ΔF, das in Schritt 5 bestimmt wird, zu einem Wert, der zu dem Feuchtigkeitsgehaltsverhältnis korreliert wird. An diesem Punkt wird das Feuchtigkeitsgehaltsverhältnis aus ΔP/ΔF durch die Kalibrierungskurve bestimmt (Schritt 6), wenn die Kalibrierungskurve vorhergehend erstellt wird, ähnlich dem Falle, in dem die Dicke konstant ist.
  • Für eine Probe, bei der eine oder mehrere Überzugsschichten über einer oder beiden Oberflächenseiten bereitgestellt sind, während der Film als ein Basismaterial wie ein Überzugsfilm verwendet wird, ist das Verfahren zum Bestimmen des Feuchtigkeitsgehaltsverhältnisses in jeder Schicht unten beschrieben.
  • (Messungen von Δε'' von Überzugsschicht)
  • Mit einer Probe aus einem PET-Film (PET = poly ethylene telephthalate) mit einer ersten Überzugsschicht und einer anderen Probe aus einem PET-Film ohne eine Überzugsschicht wird die Feuchtigkeitskonditionierung bei Raumtemperatur und gewöhnlicher Luftfeuchtigkeit durchgeführt, und ein dielektrischer Verlust ε''nass wird in dem Zustand bestimmt, in dem die Feuchtigkeit einen Gleichgewichtszustand erreicht, unter Verwendung eines Molekularausrichtungsmessers. Ein dielektrischer Verlust ε''erste Überzugsschicht nass der ersten Überzugsschicht wird lediglich bei Raumtemperatur und Luftfeuchtigkeit aus den dielektrischen Verlusten der zwei Proben bestimmt. Dann wird ein dielektrischer Verlust ε''trocken unter Verwendung des Molekularausrichtungsmessers in dem Zustand bestimmt, in dem die Feuchtigkeit ausreichend entfernt ist, und ein dielektrischer Verlust ε''erste Überzugsschicht trocken wird ähnlich in dem Zustand bestimmt, in dem die Feuchtigkeit entfernt ist. Der Unterschied Δε'' zwischen beiden entspricht dem Feuchtigkeitsgehaltsbetrag (nämlich dem Feuchtigkeitsgehaltsverhältnis) pro Flächeneinheit der ersten Überzugsschicht.
  • Ein dielektrischer Verlust ε''zweite Überzugsschicht, ein dielektrischer Verlust ε''dritte Überzugsschicht, ... einer zweiten Überzugsschicht, einer dritten Überzugsschicht, ... werden ähnlich bestimmt. Diese Werte sind ein intrinsischer physikalischer Eigenschaftswert bei der Messbedingung einer Raumtemperatur und einer Luftfeuchtigkeit.
  • (Dickenmessungen)
  • Eine Dicke tBasis des Basisfilms, Dicken terste Überzugsschicht, tzweite Überzugsschicht, tdritte Überzugsschicht, ... und eine Gesamtdicke tGesamt werden aus einem Dickenmesser, einem Überzugsbetrag und dergleichen bestimmt.
  • (Berechnung eines Feuchtigkeitsgehalts einer jeden Überzugsschicht)
  • Die Messprozedur ist unter Bezugnahme auf ein Flussschaubild von 8 beschrieben.
  • Bei Schritt 1 wird der Resonanzspitzenpegel P0 in dem Zustand gemessen, in dem die Probe nicht existiert (leer). Der Resonanzspitzenpegel Ps der Proben einschließlich von Überzugsfilmen, bei denen eine oder mehrere Überzugsschichten aufgetragen sind, wird bei Schritt 2 gemessen.
  • Bei Schritt 3 wird der Unterschied ΔPGesamt (= P0 – Ps) zwischen beiden berechnet. In diesem Falle wird ein Verteilungsverhältnis des Feuchtigkeitsbetrages, der in dem Basisfilm und jeder Überzugsschicht enthalten ist, zu dem Gesamtfeuchtigkeitsbetrag, der in dem gesamten des Überzugsfilms enthalten ist, erörtert. Es sei angenommen, dass „W" der Gesamtfeuchtigkeitsbetrag ist. Wenn die Feuchtigkeit den Gleichgewichtszustand zwischen den Überzugsschichten erreicht, kann der Gesamtfeuchtigkeitsbetrag „W" durch Formel (20) unter Verwendung von Δε'' einer jeden Schicht und der Dicke „t" ausgedrückt werden. W = Δε''Basis·tBasis + ε''erste Überzugsschicht·terste Überzugsschicht + Δε''zweite Überzugsschicht·tzweite Überzugsschicht + Δε''dritte Überzugsschicht·tdritte Überzugsschicht + ...(20)
  • Somit wird ein Verteilungsverhältnis Rx zu jeder Schicht durch Formel (21) ausgedrückt. Rx = Δε''X·tX/W (21)
  • Hier gibt X entweder den Basisfilm oder jede Überzugsschicht an.
  • Bei Schritt 4 wird das Feuchtigkeitsverteilungsverhältnis einer jeden Schicht aus Δε'' einer jeden Schicht und der Dicke „t" in der obigen Prozedur bestimmt. Da das ΔPGesamt proportional zu dem Gesamtfeuchtigkeitsgehaltsbetrag des Überzugsfilms ist, wird der Feuchtigkeitsgehaltsbetrag einer jeden Schicht zu einem Wert proportional zu ΔPx, bestimmt durch Formel 22 (Schritt 5). ΔPx = ΔPGesamt × Rx (22)
  • Somit wird ΔPx/tx zu einem Wert, der mit dem Feuchtigkeitsgehaltsverhältnis einer jeden Schicht korreliert wird (Schritt 6). In einem Falle der Online-Messungen können die Schritte 2 bis 6 in festen Intervallen wiederholt werden.
  • Die Grammaturmessungen der Erfindung werden mit einem Ausrichtungsmesser realisiert. Bei dem Ausrichtungsmesser wird der dielektrische Resonator verwendet, und eine Faserausrichtung des Papiers oder die Molekularausrichtung eines Molekularblattes, wie z. B. des Films, wird online aus der Änderung in einer Resonanzfrequenz gemessen. In diesem Falle wird ein Durchschnittswert der Dielektrischer-Resonator-Ausgaben in Ausrichtungsrichtungen, die bei den Ausrichtungsmessungen verwendet werden, für die Grammaturmessungen verwendet.
  • Das offengelegte japanische Patent Nr. H10-325811 offenbart einen Ausrichtungsmesser, bei dem der dielektrische Resonator genutzt wird. Bei dem Ausrichtungsmesser, der in dem offengelegten japanischen Patent Nr. H10-325811 offenbart ist, sind die mehreren dielektrischen Resonatoren angeordnet, und die Faserausrichtung des Papiers oder die Molekularausrichtung des Films wird online aus dem Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag in jedem dielektrischen Resonator gemessen.
  • Zum Beispiel wird der dielektrische Resonator, der in 9 gezeigt ist, bei diesem Verfahren verwendet. 9 ist ein Grundriss, der eine Struktur des dielektrischen Resonators zeigt. Der rechteckige dielektrische Resonator 1 wird durch eine Antenne 2a angeregt, und die andere Antenne 2b gibt die Resonanzfrequenz aus. Der rechtwinklige dielektrische Resonator 1 und die Antennen 2a und 2b sind in dem Abschirmbehälter 4 aufgenommen. Wenn die Probe nahe dem dielektrischen Resonator 1 platziert ist, wie es in 10 gezeigt ist, ist die Resonanzfrequenz von dem leeren Zustand, in dem die Probe nicht existiert, zu der Niederfrequenzseite verschoben. 10 zeigt die Resonanzfrequenzverschiebung gemäß der Änderung in einer Dielektrizitätskonstante, die durch das Vorhandensein oder das Fehlen der Probe in dem dielektrischen Resonator bewirkt wird. Bei 10 bezeichnet das Zeichen MD eine Papierflussrichtung (Maschinenrichtung) der Papiermaschine und das Zeichen CD bezeichnet eine Richtung (Querrichtung) in rechten Winkeln zu der Papierflussrichtung der Papiermaschine in einem Falle, in dem die Probe ein Papier ist. Da der Verschiebungsbetrag, der durch Δf = f0 – f1(f2) ausgedrückt wird, proportional zu einem Produkt der Dielektrizitätskonstante und der Dicke der Probe ist, wird, wenn jeder von fünf rechtwinkligen dielektrischen Resonatoren 1a bis 1e in einem Winkel von z. B. 72° von den benachbarten dielektrischen Resonatoren angeordnet ist, wie es in 11 gezeigt ist, um jeden Verschiebungsbetrag auf einer Polarkoordinate aufzutragen, ein Ausrichtungsmuster, das der Dielektrizi tätskonstantenanisotropie entspricht, erhalten, wie es in 12 gezeigt ist. 11 ist ein Grundriss, der eine Ausrichtungsmesseinheit 3 zeigt, in der die fünf dielektrischen Resonatoren angeordnet sind. 12 zeigt ein Beispiel für das Ausrichtungsmuster, das aus den fünf dielektrischen Resonatoren erhalten wird, die in 11 gezeigt sind. Die Ausrichtungsrichtung der Faser- oder Molekularkette wird aus einer Hauptachse des Ausrichtungsmusters, das in 12 gezeigt ist, bestimmt, und ein Ausrichtungsgrad wird aus einem Unterschied oder einem Verhältnis zwischen der Hauptachse und der Nebenachse festgestellt.
  • Wenn die Faserausrichtung des laufenden Papiers basierend auf dem obigen Messprinzip tatsächlich online gemessen wird, traten herkömmlicherweise verschiedenartige Probleme auf. Eines der Probleme besteht darin, dass der Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag nicht zweckmäßig gemessen werden kann. So wird das ursprüngliche Ausrichtungsmuster nicht erhalten. Die Erfinder haben verschiedenartige Arten von Messungen für die Papierausrichtung durch das Kontaktverfahren durchgeführt. Die Erfinder nahmen an, dass dies auf die Tatsache zurückzuführen ist, dass der Kontaktzustand aufgrund einer Gleichlaufstörung des laufenden Papiers fluktuiert wird, um einen Zwischenraum zwischen dem Papier und der Messoberfläche des dielektrischen Resonators zu variieren, und dadurch die gemessene Resonanzfrequenz fluktuiert wird. Als ein Ergebnis der tatsächlichen Online-Messungen jedoch wurde festgestellt, dass die Resonanzfrequenz nicht zweckmäßig gemessen wird.
  • Die Betrachtung des Falles der Fluktuation ist wie folgt: Ursprünglich ist die Resonanzfrequenz des dielektrischen Resonators unabhängig von dem Resonanzspitzenpegel. Das heißt, die Resonanzfrequenz sollte konstant gehalten werden, sogar wenn eine Mikrowellenleistung, die in den dielektrischen Resonator eingegeben wird, geändert wird, um den Resonanzspitzenpegel zu variieren. Tatsächlich wurde jedoch herausgefunden, dass die Resonanzfrequenz geändert wird, wenn der Resonanzspitzenpegel variiert wird. Wie es in 13 gezeigt ist, tendiert die Resonanzfrequenz z. B. dazu, erhöht zu sein, wenn der Resonanzspitzenpegel erhöht ist. 13 zeigt ein Beispiel für die Beziehung zwischen den Resonanzspitzenpegeln und den Resonanzfrequenzen für die dielektrischen Resonatoren Nr. 1 bis Nr. 5 der in 11 gezeigten Ausrichtungsmesseinheit 3.
  • Die Erfinder stellten fest, dass die Änderung in der Resonanzfrequenz durch eine Verstärkerschaltung bewirkt wird. Um die Resonanzfrequenz mit einer hohen Geschwindigkeit nahe einer Echtzeit zu messen, wird die Resonanzfrequenz durch ein in 15 gezeigtes Zeitgebungsschaubild unter Verwendung eines in 14 gezeigten Signalverarbeitungssystems gemessen. 14 ist ein Blockdiagramm, das die Schaltung zeigt, die Signale aus den fünf dielektrischen Resonatoren verarbeitet. 15 ist das Zeitgebungsschaubild, das die Signalverarbeitung in dem Blockdiagramm zeigt, das in 14 gezeigt ist. Die Signale, die aus einem Mikrowellenwobbeloszillator (Mikrowellensweeposzillator) 21 ausgegeben werden, der von einer Mikrowellenoszillationseinrichtung ist, werden an die dielektrischen Resonatoren 1a bis 1e durch Isolatoren 22a bis 22e verteilt. In 14 ist der Mikrowellenwobbeloszillator als ein Wobbler angezeigt. Die Ausgabe aus dem dielektrischen Resonator wird durch Erfassungsdioden 23a bis 23e in eine Spannung umgewandelt, und die Spannung wird in Spitzenerfassung- und Mittelungsverarbeitungschaltungseinheiten 25a bis 25e durch Verstärker- und A/D-Wandlungschaltungseinheiten 24a bis 24e eingegeben. Wie es in 15 gezeigt ist, wird die Frequenz durch den Mikrowellenwobbeloszillator gewobbelt, ein Startpulsabschnitt wird aus einem Wobbelsignal (Sweep-Signal) 21s erfasst, um eine Zeit zu messen, bis der Resonanzpegel die Spitze erreicht, und die Resonanzfrequenz wird ab der Zeit durch eine proportionale Berechnung bestimmt. Wenn z. B. die Frequenz kontinuierlich um ein 250 MHz-Wobbeln um 4 GHz herum erhöht wird, wird die Resonanz kurve aus einer Mikrowellentransmissionsintensität erhalten. Die Spitzenfrequenz der Resonanzkurve wird zu der Resonanzfrequenz, die bestimmt werden soll. Da eine Wobbelstartzeitgebung durch den Startpulsabschnitt erfasst werden kann, der von einer vorderen Flanke des Wobbelsignals ist, wird die Zeit, um den Spitzenpegel zu erreichen, von der Wobbelstartzeitgebung gemessen, und die Resonanzfrequenz wird durch ein Berechnen der Wobbelgeschwindigkeit von 250 MHz mit der Dauer von 10 ms gemessen. Die Resonanzfrequenzmessungen werden in Intervallen von 50 ms wiederholt und 20 Resonanzfrequenzmessungen werden gemittelt, um die Resonanzfrequenz zu erhalten. Somit ist eine Wobbelzeit so extrem kurz wie 10 ms, und das Signal wird mit einer hohen Geschwindigkeit verstärkt, um eine Digitalverarbeitung durchzuführen.
  • 16 zeigt ein detailliertes Schaltungsdiagramm für einen der dielektrischen Resonatoren in der Schaltung, die in 14 gezeigt ist, nämlich für eine der Dielektrischer-Resonator-Erfassungssystem-Schaltungen. Zum Beispiel umfasst die Verstärker- und A/D-Wandlungschaltungseinheit 24a eine Verstärkerschaltung 31 und eine A/D-Wandlereinheit LSI 32. Die digitale Ausgabe aus der Verstärker- und A/D-Wandlungschaltungseinheit 24a wird in die Spitzenerfassung- und Mittelungsverarbeitungschaltungseinheit eingegeben. Zum Beispiel umfasst die Spitzenerfassung- und Mittelungsverarbeitungschaltungseinheit 25a eine Spitzenerfassung LSI und eine Mittelungsverarbeitung LSI. Korrekterweise weist die Spitzenerfassung LSI eine Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung auf, die die Resonanzspitze erfasst, und die Mittelungsverarbeitung LSI führt die Mittelungsverarbeitung der Resonanzspitzenfrequenz durch, die bei jedem Wobbeln erhalten wird.
  • Eine Mikrocomputereinheit 26 ist mit einer Nachstufe der Spitzenerfassung- und Mittelungsverarbeitungschaltungseinheit 25a verbunden. Die Mikrocomputereinheit 26 überträgt kollektiv das Signal aus jedem Dielektrischer-Resonator- Erfassungssystem an einen Nachstufe-Personalcomputer 27, und die Mikrocomputereinheit 26 hat eine Funktion eines Steuerns und Betreibens der Verstärker- und A/D-Wandlungschaltungseinheiten 24a bis 24e und der Spitzenerfassung- und Mittelungsverarbeitungschaltungseinheiten 25a bis 25e in jedem Dielektrischer-Resonator-System. Der Personalcomputer 27 ist mit der Mikrocomputereinheit 26 verbunden. Der Personalcomputer 27 berechnet die Ausgabe aus der Mikrocomputereinheit 26, um die Ausrichtung oder den Ausrichtungsbetrag zu messen, und der Personalcomputer 27 zeigt die Ausrichtung oder den Ausrichtungsbetrag als Daten an und speichert dieselben.
  • Da die Nachverstärkungsausgabe eine Welligkeit aufweist, die durch ein Rauschen bewirkt wird, ist hier eine RC-Schaltung, die einen Kondensator C1 und einen Widerstand R2 aufweist, in eine Rückkopplungsleitung in der Verstärkerschaltung 31 in der Verstärker- und A/D-Wandlungschaltungseinheit 24a von 16 eingefügt, was ermöglicht, dass die Welligkeitsspannung absorbiert und reduziert wird, um eine Gleichstromspannung zu erhalten, die wenig Fluktuation aufweist. Somit ist es notwendig, dass die Verstärkerschaltung den Kondensator C1 aufweist.
  • Der Kondensator C1 und der Widerstand R2 werden zu einem so genannten Zeitverzögerungsfaktor, und dadurch wird eine Verzögerung (Zeitkonstante), die in 17 gezeigt ist, in der Verstärkerschaltung erzeugt. 17 ist ein Wellenformschaubild, das eine schrittweise eingegebene Wellenform, die in die Verstärkerschaltung eingegeben wird, und eine Wellenform, die aus der Verstärkerschaltung ausgegeben wird, zeigt. Sogar wenn der ideale schrittweise Puls Ps, der eine extrem kurze Anstiegszeit aufweist, eingegeben wird, wird die Ausgabewellenform des Verstärkers nicht zu einer idealen schrittweisen Form, sondern die Antwortwellenform, die die gemäßigte Anstiegszeit aufweist, wird erhalten. Die Zeit, um 63,2% der Endausgabespannung zu erreichen, wird allgemein Zeitkonstante τ genannt, und die Zeitkonstante τ wird durch die Kapazität C1 des Kondensators und den Widerstandswert R2 ausgedrückt. Das heißt, Zeitkonstante (τ) = R2·C1, und Verstärkungsfaktor (|G|) = Vo/Vi = R2/R1. Wobei Vo eine Ausgabespannung ist und Vi eine Eingabespannung ist.
  • Wenn die Resonatorausgabe in einem Fall, in dem des Wobbeln mit einer hohen Geschwindigkeit mit einer Wobbelzeit von 10 ms durchgeführt wird, in die Schaltung eingegeben wird, in der die obige Verstärkerschaltung verwendet wird, wie es in 18 gezeigt ist, wird die Nachverstärkungsresonanzkurvewellenform in der Resonanzspitzenpegelspannung geändert. 18 zeigt die Änderung in der Resonanzkurve gemäß dem Anstieg der Resonanzspitzenpegelspannung in der Resonanzkurve. Die Resonanzkurve sollte idealerweise symmetrisch sein, sogar wenn die Resonanzspitzenpegelspannung steigt. In Wirklichkeit jedoch ist die Resonanzkurve von der symmetrischen Form verschoben und zu der Hochfrequenzseite gebogen. Wie aus 18 zu sehen ist, ist die Resonanzspitzenfrequenz zu der höheren Resonanzspitzenfrequenzseite verschoben, wenn die Resonanzspitzenpegelspannung erhöht ist. Das heißt, sogar in dem gleichen Resonanzsystem, das die gleiche Schaltung aufweist, wird ein Phänomen, dass die Resonanzspitzenfrequenz, die nicht geändert sein sollte, geändert ist, lediglich durch ein Ändern der Resonanzspitzenpegelspannung erzeugt, was zu der Tatsache führt, dass die reelle Resonanzfrequenz nicht gemessen werden kann. In 18 wird die ideale Resonanzkurve C1, die den höchsten Spitzenpegel hat, zu der tatsächlichen Resonanzkurve C2, die durch eine Verzögerung des Verstärkersystems erzeugt wird.
  • Die Resonanzspitzenpegelspannungsverschiebung hat keinen Einfluss auf eine Ausrichtungsmessvorrichtung gemäß der Erfindung. Gemäß der Erfindung umfasst die Ausrichtungsmessvorrichtung eine Mehrzahl von Dielektrischer-Resonator-Erfassungssystemen. Jedes der Dielektrischer-Resonator-Erfassungssysteme umfasst einen dielektrischen Resonator, eine Verstärkerschaltung, eine Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung und eine Einrichtung für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals. Der dielektrische Resonator ist mit der Mikrowellenoszillationseinrichtung verbunden. Die Verstärkerschaltung ist mit dem dielektrischen Resonator verbunden, um die Ausgabe des dielektrischen Resonators zu verstärken, und die Verstärkerschaltung umfasst ein Zeitverzögerungselement. Die Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung ist mit der Verstärkerschaltung verbunden, um den Resonanzspitzenpegel aus der Ausgabe der Verstärkerschaltung zu erfassen. Die Einrichtung für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals ist zwischen die Mikrowellenoszillationseinrichtung und die Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung eingefügt. Die Ausrichtungsmessvorrichtung umfasst eine Steuereinrichtung. Die Steuereinrichtung vergleicht die Ausgabe aus der Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung eines jeden Dielektrischer-Resonator-Erfassungssystems mit einem vorbestimmten Resonanzspitzenpegel, um ein Signal zum Ändern eines Dämpfungsgrades oder eines Verstärkungsgrades für die Einrichtung für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals zu erzeugen, so dass die Ausgabe nahe an den vorbestimmten Resonanzspitzenpegel gebracht ist.
  • Der Computer als die Steuereinrichtung vergleicht die Ausgabe aus der Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung mit dem vorbestimmten Resonanzspitzenpegel und überträgt das Signal zum Ändern des Dämpfungsgrades oder des Verstärkungsgrades, um den programmierbaren Dämpfer als die Einrichtung für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals zu steuern, um die Ausgabe nahe an den vorbestimmten Spitzenpegel zu bringen. Da der Resonanzspitzenpegel immer konstant gehalten wird, kann die Ausrichtung somit gemessen werden, während die Resonanzspitzenfrequenzverschiebung von dem reellen Wert, die durch die Resonanzspitzenpegelverschiebung bewirkt wird, kaum einen Einfluss auf die Ausrichtungsmessungen hat.
  • Es wird bevorzugt, dass das Dielektrischer-Resonator-Erfassungssystem eine Analog-und-Digital-Wandlungsschaltungseinheit (A/D-Wandlungsschaltung) aufweist und die vorbestimmte Spitzenpegelspannung in einem Eingabebereich der Analog-und-Digital-Wandlungsschaltungseinheit gesetzt wird. Dies ist aufgrund der Tatsache, dass eine Genauigkeit durch ein Setzen des Eingabebereichs der Analog-und-Digital-Wandlungsschaltungseinheit so groß wie möglich verbessert wird. Wenn die vorbestimmte Resonanzspitzenpegelspannung etwas von dem Maximalwert des Eingabebereichs verringert wird, wird bei einem Überschwingen eine Grenze gesichert.
  • Es wir bevorzugt, dass die Einrichtung für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals ein programmierbarer Dämpfer ist und von dem Blickpunkt einer Konfiguration aus zwischen den dielektrischen Resonator und den Mikrowellenoszillator geschaltet ist.
  • Die Einrichtung für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals kann auch als die Verstärkerschaltung verwendet werden. In diesem Falle wird bevorzugt, dass ein Verstärkungsfaktor der Verstärkerschaltung in einer analogen oder digitalen Weise variabel ist.
  • Bei einem Ausrichtungsmessverfahren in der Ausrichtungsmessvorrichtung werden die Ausgaben aus den mehreren dielektrischen Resonatoren, verbunden mit der Mikrowellenoszillationseinrichtung, verstärkt, jeder Resonanzspitzenpegel wird aus jeder verstärkten Ausgabe erfasst, der Resonanzspitzenpegel eines jeden dielektrischen Resonators wird mit dem vorbestimmten Resonanzspitzenpegel verglichen und die Ausgabe aus der Mikrowellenoszillationseinrichtung an den dielektrischen Resonator oder die Ausgabe aus dem dielektrischen Resonator wird gedämpft oder verstärkt, so dass der Resonanzspitzenpegel eines jeden Resonators nahe an den vorbestimmten Resonanzspitzenpegel gebracht wird.
  • Bei dem Verfahren und der Vorrichtung zum Messen der Ausrichtung wird ein Fehler bei den Resonanzfrequenzmessungen weiter verringert, wenn die Resonanzfrequenz aus der Resonanzspitze des dielektrischen Resonators bestimmt wird. Die Ausrichtung kann bei einem Messen des Ausrichtungsgrades aus dem Unterschied in einer Resonanzfrequenz zwischen dem Fehlen und dem Vorhandensein der Probe korrekter gemessen werden.
  • Bei 18 wird gedacht, dass die Resonanzspitzenfrequenzen T1, T2, T3 und T4, die den Fluktuationen der Resonanzspitzenpegel A1, A2, A3 und A4 entsprechen, zu den ursprünglichen Positionen korrigiert werden, die durch eine Normalposition Tn angegeben sind. Jedoch ist es tatsächlich schwierig, die Korrektur der Resonanzspitzenfrequenzen T1, T2, T3 und T4 zu realisieren, da es notwendig ist, einen beträchtlichen Betrag an Wellenformsimulation durchzuführen.
  • Für den Zweck einer Annehmlichkeit dachten die Erfinder, dass, wenn die Korrektur durchgeführt wird, so dass die Resonanzspitzenfrequenzen zu einem bestimmten Resonanzspitzenpegel werden, z. B. dem Resonanzspitzenpegel, der in 18 durch A3 angegeben ist, der Fehler, der durch den Unterschied in einem Resonanzspitzenpegel in jedem Datenelement, das durch jeden dielektrischen Resonator erhalten wird, beträchtlich unterdrückt ist, obwohl die Resonanzfrequenzen die Verschiebungsbeträge gemäß dem Resonanzspitzenpegel aufweisen. Da die schlussendlich bestimmte Ausrichtungsintensität basierend auf dem Unterschied in einer Resonanzfrequenz zwischen dem Fehlen und dem Vorhandensein der Probe berechnet wird, tendiert der Verschiebungsbetrag dazu, bei dem Berechnen des Unterschieds entfernt zu werden, sogar wenn die Resonanzfrequenzen die Verschiebungsbeträge aufweisen. Somit wird angenommen, dass der tatsächliche Verschiebungsbetrag weiter verringert ist.
  • Wie es oben beschrieben ist, werden normalerweise fünf unterschiedliche Resonanzspitzenpegel erhalten, wenn die fünf dielektrischen Resonatoren verwendet werden. Ein programmierbarer Dämpfer wird eingeführt, um die fünf Resonanzspitzenpegel einheitlich zu machen. Der programmierbare Dämpfer erhält einen arbiträren Dämpfungspegel aus dem elektrischen Signal, so dass der programmierbare Dämpfer eine „Einrichtung für eine variable Dämpfung eines elektrischen Signals" genannt werden kann. Wie es z. B. in 19 gezeigt ist, wird in einem Falle des programmierbaren 7-Bit-Modell-Dämpfers ein arbiträrer Dämpfungspegel, der von einer Minimalauflösung von 0,125 dB bis zu einer Maximalauflösung von 15,875 dB reicht, schrittweise durch eine Kombination der elektrischen Signale (TTL-Pegel) erhalten, die auf die Bits angewendet werden. 19 zeigt eine Wirkung des programmierbaren Dämpfers. Eine Tabelle in 19 zeigt den Dämpfungspegel des programmierbaren Dämpfers, der dem eingegebenen 7-Bit-Signal entspricht. Der Dämpfungspegel einer Mikrowelleneingabe Pin kann gesteuert und als Pout an den Dämpfer vor dem dielektrischen Resonator ausgegeben werden, durch die Kombination der 7-Bit-Signale. Der Dämpfungspegel wird durch einen Dämpfungspegel (dB) = –Log10(Pout/Pin) ausgedrückt.
  • Bei Messungen dieser Art wird allgemein ein Dämpfer verwendet, so dass die Signalformänderung minimal ist und eine einfache Schaltungskonfiguration aufrechterhalten wird. Wenn die Vorteile des Dämpfers jedoch vernachlässigt werden, kann auch der Verstärker verwendet werden, um den Resonanzspitzenpegel einheitlich zu machen. Folglich kann im Prinzip die Einrichtung für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals verwendet werden.
  • Es wurde festgestellt, dass die fünf Resonanzspitzen in den fünf dielektrischen Resonatoren sich leicht voneinander unterscheiden. Dies wird auf einen individuellen Unterschied des dielektrischen Resonators und dergleichen zurückgeführt.
  • Wie es in dem Blockdiagramm von 20 gezeigt ist, ist der programmierbare Dämpfer eingefügt, und eine Rückkopplungssteuerung wird durch eine Steuerschleife durchgeführt, bei der der Personalcomputer genutzt wird. 20 ist ein Blockdiagramm, das die Dielektrischer-Resonator-Schaltung des Ausrichtungsmessers in dem Zustand zeigt, in dem der programmierbare Dämpfer in die Schaltung von 14 eingegliedert ist, die das Signal aus dem dielektrischen Resonator verarbeitet. In 20 ist die gleiche Komponente durch das gleiche Bezugszeichen wie in 14 bezeichnet. Jedoch unterscheidet sich der in 20 gezeigte Personalcomputer 27 von dem in 14 gezeigten Personalcomputer 27 dahingehend, dass eine Funktion eines Steuerns des programmierbaren Dämpfers durch eine Software hinzugefügt ist. In einem Falle, in dem die fünf dielektrischen Resonatoren verwendet werden, wie es in 14 gezeigt ist, sind programmierbare Dämpfer 33a bis 33e jeweils in die dielektrischen Resonatoren eingefügt, wie es in 20 gezeigt ist.
  • Die Mikrowellen, die aus dem Mikrowellenwobbeloszillator ausgegeben werden, in 20 zu Wobbler abgekürzt, werden verteilt und in die fünf programmierbaren Dämpfer 33a bis 33e eingegeben, und die Mikrowellen werden um den Betrag gedämpft, der durch das elektrische Signal 34s bestimmt ist. Das elektrische Signal 34s wird von dem Personalcomputer 27 an jeden programmierbaren Dämpfer übertragen. Die gedämpften Mikrowellen werden in die fünf dielektrischen Resonatoren 1a bis 1e durch jeweils die Isolatoren 22a bis 22e eingegeben. Der Resonanzpegel wird durch die Antenne erfasst, die sich an der entgegengesetzten Seite befindet, und die Transmissionsintensität wird durch jede der Erfassungsdioden 23a bis 23e in eine Spannung umgewandelt. Dann wird die Spannung durch die Verstärker- und A/D-Wandlungschaltungseinheiten 24a bis 24e an die Spitzenerfassung- und Mittelungsverarbeitungschaltungseinheiten 25a bis 25e übertragen. Die Resonanzfrequenz wird durch die Spitzenerfassung LSI gemessen. In 20 ist das Bezugs zeichen der Komponente in jedem Dielektrischer-Resonator-Erfassungssystem zweckmäßig vernachlässigt. Da das analoge Rampenwobbeln (Rampensweep) in der Frequenz durchgeführt wird, wird der Anstiegspuls RP (siehe 15) des Wobbelpulses, der aus dem Mikrowellenwobbeloszillator ausgegeben wird, erfasst, um das Zeitintervall ab dann, wenn der Anstiegspuls RP erfasst wird, bis die Erfassungsspannung die Spitze erreicht zu messen. Die Wobbelgeschwindigkeit (Frequenzwobbelungsbreite pro Zeiteinheit, z. B. 250 MHz/10 ms) und die Frequenz zu der Startzeit (z. B. 4000,000 MHz) sind vorhergehend bekannt, so dass die Resonanzfrequenz aus der Zeit, bis die Spannung die Spitze erreicht, durch die proportionale Berechnung erhalten wird. Das heißt, die Frequenzwobbelung (Frequenz-Sweep) der Mikrowelle, die von dem Mikrowellenwobbeloszillator oszilliert wird, wird in festen Intervallen wiederholt, und der Mikrowellenwobbeloszillator gibt gleichzeitig das Wobbelsignal aus, das lediglich bei dem Wobbeln zu einem hohen Pegel wird. Somit ist die Resonanzfrequenz bestimmt, wenn die Zeit, ab der das Wobbelsignal steigt, bis die Transmissionsintensität zum Maximum wird, gemessen wird.
  • Die Resonanzspitzenpegelspannung wird an den Personalcomputer 27 durch den Mikrocomputer 26 übertragen, die Resonanzspitzenpegelspannung wird mit der vorbestimmten Resonanzspitzenpegelspannung verglichen, der Dämpfungspegel des programmierbaren Dämpfers wird gemäß der Abweichung (vorbestimmte Resonanzspitzenpegelspannung – gegenwärtige Spitzenpegelspannung) bestimmt, der Dämpfungspegel des programmierbaren Dämpfers wird durch ein Ausgeben des Digitalsignals aus dem Personalcomputer geändert, und die Resonanzspitzenpegelspannung wird auf die vorbestimmte Resonanzspitzenpegelspannung eingestellt. Der Personalcomputer ist die Steuereinrichtung zum Vergleichen der Resonanzspitzenpegelspannung mit der vorbestimmten Resonanzspitzenpegelspannung, um die Steuerung basierend auf dem Unterschied durchzuführen. In 20 wird der obige Prozess in jedem der fünf Dielektrischer-Resonator-Erfassungssysteme durch den Personalcomputer durchgeführt.
  • Die vorbestimmte Resonanzspitzenpegelspannung wird so hoch wie möglich in dem Eingabespannungsbereich der A/D-Wandlung der Verstärker- und A/D-Wandlungschaltungseinheiten 24a bis 24e gesetzt, obwohl die geringfügige Grenze gesichert ist, so dass die Eingabe nicht gesättigt ist. Zum Beispiel wird die vorbestimmte Resonanzspitzenpegelspannung auf 90% der Maximaleingabespannung gesetzt. Die Eingabespannung zu der A/D-Wandlung hängt auch von der Größe der Vorstufenverstärkung ab.
  • Somit werden die gemessene Resonanzfrequenz und Resonanzspitzenpegelspannung durch den Mikrocomputer 26 an den Personalcomputer übertragen. Der Personalcomputer vergleicht die vorbestimmte Zielresonanzspitzenpegelspannung mit der tatsächlich gemessenen Resonanzspitzenpegelspannung, und der Personalcomputer steuert den Dämpfungspegel des programmierbaren Dämpfers gemäß der Abweichung. Kurz gesagt ist der Dämpfungspegel erhöht, wenn die Spitzenspannung größer als die vorbestimmte Spannung ist, und der Dämpfungspegel ist verringert, um die Mikrowellenleistung zu verbessern, wenn die Spitzenspannung kleiner als die vorbestimmte Spannung ist.
  • Die konstante Resonanzspitzenpegelspannung wird immer durch ein automatisches und kontinuierliches Wiederholen der obigen Steuerung in einer kurzen Zeitdauer erhalten.
  • Ein spezifisches Beispiel der obigen Steuerung ist unten beschrieben. Annehmend, dass P1 die gemessene Resonanzspitzenpegelspannung ist und P2 die vorbestimmte Zielresonanzspitzenpegelspannung ist, wird P durch die folgende Gleichung berechnet. P = 10 × log(P1/P2)
  • Bis zu welchem Grad der Dämpfungspegel des programmierbaren Dämpfers bestimmt ist, wenn ein absoluter Wert von P in dem Bereich existiert, wird gemäß einem Flussschaubild, das in 21 gezeigt ist, unter Verwendung des Personalcomputers bestimmt. 21 ist ein Flussschaubild, das einen Vorgang zeigt, in dem die vorbestimmte Zielresonanzspitzenpegelspannung mit der tatsächlich gemessenen Resonanzspitzenpegelspannung verglichen wird, um den Dämpfungspegel des programmierbaren Dämpfers gemäß der Abweichung zu steuern. Wenn die Messdaten der neuen Resonanzspitzenpegelspannung in den Personalcomputer durch ein Durchführen der Steuerung gemäß dem Flussschaubild von 21 eingegeben werden, wird das Setzen des Dämpfungspegels geändert, um die Resonanzspitzenpegelspannung immer im Wesentlichen konstant zu halten.
  • Das Flussschaubild von 21 wird kurz beschrieben. Die reguläre Messung wird von einem Schritt 31 gestartet. Bei einem Schritt 32 gibt der Personalcomputer den Dämpfungspegel an jeden programmierbaren Dämpfer aus. Der Dämpfungspegel wird vorhergehend als ein Anfangswert an einer Einstelldatei in dem Personalcomputer gesetzt. Bei Schritt 33 werden die Messwerte für die vorhergehend gesetzte Anzahl von Messwerten in jedem der fünf Resonanzspitzenspannungen gemittelt, die bei diesem Ausführungsbeispiel aus den fünf dielektrischen Resonatoren erhalten werden, und die gemittelten Werte werden in dem Personalcomputer angezeigt. Bei einem Schritt 34 wird die Abweichung zwischen dem Sollwert (Zielresonanzspitzenpegelspannung) und dem tatsächlichen Messwert berechnet. Angenommen, dass P1 der tatsächliche Wert ist und P2 der Sollwert ist (P2 wird vorhergehend in der Einstelldatei gesetzt), wird die Abweichung P durch die folgende Gleichung berechnet. P = 10 × log(P1/P2)
  • Bei einem Schritt 35 wird bestimmt, ob die Abweichung P niedriger als ein gewisser konstanter Wert PS für alle dielektrischen Resonatoren ist oder nicht. Der konstante Wert PS ist ein Sollwert einer Grenzlinie, in der der gemessene Wert nahe genug an den Sollwert gebracht wird, um fähig zu sein, die tatsächliche Messung durchzuführen. Wenn die Abweichung P nicht niedriger als der konstante Wert PS ist, geht der Fluss zu Schritt 36 als No über, und N wird zu Null gesetzt. Bei einem Schritt 37 wird das Signal für jeden programmierbaren Dämpfer gemäß der Abweichung für jeden dielektrischen Resonator bestimmt. Bei einem Schritt 38 wird das Signal ausgegeben und für jeden programmierbaren Dämpfer gehalten. Dann kehrt der Fluss zu Schritt 33 zurück. Wenn bestimmt wird, dass die Messung durchgeführt werden kann, da die Abweichung P niedriger als der konstante Wert PS ist, geht der Fluss bei Schritt 35 zu einem Schritt 39 über und N wird um 1 inkrementiert. Bei einem Schritt 40 wird bestimmt, ob N gleich NS ist oder nicht. NS ist ein vorbestimmter Wert, der bestimmt, ob der messbare Zustand ausreichend stabil ist oder nicht.
  • Bei Schritt 40 geht der Fluss zu einem Schritt 41 über, wenn der messbare Zustand ausreichend stabil ist, d. h., wenn die Resonanzspitzenpegelspannung im Wesentlichen konstant gehalten wird, während dieselbe ausreichend stabilisiert ist. Bei Schritt 41 wird die Resonanzfrequenz gemessen, d. h. die Ausrichtungsmessung wird durchgeführt. Die Information über einen Stabilitätsgrad wird zweckmäßig in dem Personalcomputer durch ein Beleuchten von grünen, orangefarbenen und roten Lampen während des Flusses von 21 angezeigt.
  • Wenn der Einmalbetrag einer Änderung in einem Dämpfungspegel des programmierbaren Dämpfers übermäßig erhöht ist, wird die Fluktuation manchmal weiter erhöht, um das so genannte Überschwingen zu erzeugen, in einem Fall, in dem die Änderung in dem Dämpfungspegel und der Spitzenspannung einander überlappen. Somit kann die stabile Steuerung häufig durch ein Ändern des Dämpfungspegels in einer Einheit der Minimalauflösung durchgeführt werden, wenn die Abweichung in einem vorbestimmten Bereich existiert. In einem Fall, in dem der absolute Wert von P klein ist, z. B. in einem Fall, in dem der absolute Wert von P nicht mehr als 0,125 beträgt, ist keine Änderung erforderlich. Bis zu welchem Grad der Dämpfungspegel bestimmt ist, wenn der absolute Wert von P in dem Bereich existiert, kann auf das tatsächliche Messsystem eingestellt werden. Grundsätzlich jedoch wird der Dämpfungspegel durch den Betrag geändert, bei dem der gemessene Wert von dem Sollwert verschoben ist.
  • Die tatsächliche Messung wird mit der Vorrichtung durchgeführt, bei der die Dielektrischer-Resonator-Schaltung des Ausrichtungsmessers wie in 20 gezeigt verwendet wird. Die Einstellungen der Bauelemente sind wie folgt. SM5947 (Produkt von Anritsu Corporation) wird als der Mikrowellenwobbeloszillator verwendet, eine Wobbelbreite reicht von 3940 bis 4190 MHz, die Wobbelgeschwindigkeit beträgt 10 ms und die Zielresonanzspitzenspannung wird auf 1,1 V gesetzt, was 90 der Maximaleingabespannung der A/D-Wandlung durch den Personalcomputer ist. 22 zeigt den Zustand, in dem die Ausgabespannung eines jeden dielektrischen Resonators auf der Anzeige des Personalcomputers angezeigt wird. 22A zeigt den Zustand unmittelbar, nachdem die Messung gestartet wird, und 22B zeigt den Zustand, nachdem mehrere Sekunden verstreichen, seit die Messung gestartet wird. Wie aus den 22A und 22B zu ersehen ist, werden die Resonanzspitzenspannungen in 2 bis 3 Sekunden, wie es in 22B gezeigt ist, zu der Zielresonanzspitzenspannung ausgeglichen, sogar wenn die Resonanzspitzenspannungen der fünf dielektrischen Resonatoren unmittelbar, nachdem die Messung gestartet wird, fluktuiert werden.
  • 23 zeit den Zustand der Resonanzspitzenspannung eines jeden dielektrischen Resonators bei einem Fertigen des Papierblattes, wenn die Zeit fortschreitet. In 23 werden zu der Zeit einer Niveauänderung eine Zusammensetzung, die Dicke und die Grammatur (Gewicht pro Flächeneinheit) des Papiers während der Messung durch ein Ändern der Art von Papier geändert. Wie es in 24 gezeigt ist, werden die fünf dielektrischen Resonatoren auf der konstanten Spannung von 1,1 V gehalten, in einem Falle, in dem die Steuerung zum Konstanthalten der Resonanzspitzenspannung während der Messung durchgeführt wird. Im Gegensatz dazu wird die Resonanzspitzenspannung in einem Fall, in dem die Steuerung zum Konstanthalten der Resonanzspitzenspannung nicht durchgeführt wird, geändert, was die Resonanzfrequenz ändert, wie es in 23 gezeigt ist. Somit wird das korrekte Ausrichtungsmuster nicht erhalten.
  • Somit ist durch ein Konstanthalten der Resonanzspitzenspannung nicht lediglich die Messgenauigkeit der Resonanzfrequenz, die von dem endgültigen Messartikel ist, verbessert, sondern auch die Fluktuation in der Resonanzfrequenz ist verringert, um die Stabilität zu verbessern. Zum Vergleich zeigt Tabelle 1 eine Standardabweichung der Resonanzfrequenz eines jeden der fünf dielektrischen Resonatoren (Nr. 1 bis Nr. 5) für einen Fall, in dem die Steuerung zum Konstanthalten der Resonanzspitzenspannung durchgeführt wird, und den Fall, in dem die Steuerung zum Konstanthalten der Resonanzspitzenspannung nicht durchgeführt wird. In einem Fall, in dem die Steuerung zum Konstanthalten der Resonanzspitzenspannung nicht durchgeführt wird, beträgt die Standardabweichung 43,45 kHz für die Resonanzfrequenz von ungefähr 4000 MHz. In einem Fall, in dem die Steuerung zum Konstanthalten der Resonanzspitzenspannung durchgeführt wird, ist die Standardabweichung bemerkenswert auf 30,27 kHz für die Resonanzfrequenz von ungefähr 4000 MHz verringert, und die Messung kann stabil durchgeführt werden. (Tabelle 1)
    Standardabweichung (KHz)
    Nr. 1 Nr. 2 Nr. 3 Nr. 4 Nr. 5 Durchschnitt
    mit Steuerung 28,51 34,25 34,87 27,43 26,27 30,27
    ohne Steuerung 47,82 39,78 45,17 49,17 35,37 43,45
  • Bei einer Schaltung des Ausführungsbeispiels werden die Daten aus der Mitte der Schaltung durch das Digitalsystem verarbeitet. Jedoch kann die Schaltung natürlich durch all die Analogsysteme gebildet sein, oder die Schaltung kann durch ein zweckmäßiges Verwenden sowohl des Analogsystems als auch des Digitalsystems gebildet sein.
  • Gemäß der Erfindung wird die Steuerung zum Konstanthalten der Resonanzspitzenspannung durchgeführt. Somit können der Feuchtigkeitsgehaltsbetrag und dergleichen nicht einfach basierend auf dem Unterschied in einem Resonanzspitzenpegel zwischen dem Vorhandensein und dem Fehlen der Probe bestimmt werden. Gemäß der Erfindung wird die Steuerung durchgeführt, so dass die Resonanzspitzenpegel, in einem Falle, in dem die Probe vorhanden ist, und in einem Falle, in dem die Probe fehlt, ausgeglichen und konstant gehalten werden. In diesem Fall kann angenommen werden, dass der Unterschied in einem Resonanzspitzenpegel der Unterschied in einem Mittelwert der Dämpfungspegel zwischen dem Vorhandensein und dem Fehlen der Probe in den programmierbaren Dämpfern für die dielektrischen Resonatoren ist, was die Basis zum Konstantmachen eines Resonanzspitzenpegels ist.
  • Die Erfindung kann auf die Grammaturmessungen von blattartigen Substanzen, wie z. B. Papier, nicht gewebte Faser und Film, angewendet werden.

Claims (9)

  1. Ein Grammaturmessverfahren zum Bestimmen einer Grammatur einer Messprobe durch ein Anordnen einer Probenmessoberfläche eines dielektrischen Resonators (1) lediglich an einer Oberflächenseite einer Probe (10) unter einer festen Bedingung, wobei das Grammaturmessverfahren folgende Schritte aufweist: einen ersten Schritt eines Erhaltens einer Kalibrierungskurve, die einen Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag für eine Grammatur anzeigt, durch ein Messen eines Resonanzfrequenzverschiebungsbetrags des dielektrischen Resonators (1) für jede Grammatur einer Standardprobe, die eine bekannte Grammatur aufweist, durch ein Ändern der Grammatur, während eine Dielektrizitätskonstante und eine Dichte der Standardprobe konstant gehalten werden; einen zweiten Schritt eines Messens eines Resonanzfrequenzverschiebungsbetrags einer Messprobe, die die gleiche Dielektrizitätskonstante und Dichte wie die Standardprobe aufweist und eine unbekannte Grammatur aufweist, unter der festen Bedingung mit dem dielektrischen Resonator und einen dritten Schritt eines Bestimmens der Grammatur der Messprobe aus dem Messwert des zweiten Schrittes und der Kalibrierungskurve, wobei der Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag ein Unterschied in der Resonanzfrequenz zwischen einem Fehlen und einem Vorhandensein der Probe (10) (der Standardprobe oder der Messprobe) ist, wobei eine Messvorrichtung, die eine Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) umfasst, verwendet wird, wobei die dielektrischen Resonatoren (1a1e) in der gleichen Ebene angeordnet werden, so dass elektrische Feldvektoren der dielektrischen Resonatoren (1a1e), die eindirektionale Komponenten in einer In-Probe-Ebene parallel zu der Ebene aufweisen, sich in Richtung voneinander unterscheiden, Resonanzspitzenpegel aus verstärkten Signalen von Ausgaben aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) erfasst werden, während eine Ausgabe einer Mikrowellenoszillationseinrichtung (21) an jeden aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) oder die Ausgaben aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) gedämpft oder verstärkt werden, so dass jeder Resonanzspitzenpegel nahe an einen vorbestimmten Resonanzspitzenpegel gebracht wird, eine dielektrische Anisotropie der Messprobe aus einem Unterschied in der Ausgabe unter der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) bestimmt wird und die Kalibrierungskurve unter Verwendung eines Mittelwertes der Ausgaben der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) bestimmt wird und die Grammatur der Messprobe aus der Kalibrierungskurve und einem Messergebnis basierend auf dem Mittelwert der Ausgaben der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) für die Messprobe bestimmt wird.
  2. Ein Grammaturmessverfahren zum Bestimmen einer Grammatur einer Messprobe durch ein Anordnen einer Probenmessoberfläche eines dielektrischen Resonators (1) lediglich an einer Oberflächenseite einer Probe (10) unter einer festen Bedingung, wobei das Grammaturmessverfahren folgende Schritte aufweist: einen Schritt eines Berechnens einer Konstante „A" gemäß der folgenden Gleichung (I) durch ein Messen eines Resonanzfrequenzverschiebungsbetrags f einer Standardprobe, die eine bekannte Grammatur „b" aufweist, unter der festen Bedingung; und einen Schritt eines Berechnens einer Grammatur „b" der Messprobe, die die gleiche Dielektrizitätskonstante und Dichte wie die Standardprobe aufweist, gemäß der folgenden Gleichung (I) durch ein Messen eines Resonanzfrequenzverschiebungsbetrags Δf der Messprobe unter der festen Bedingung mit dem dielektrischen Resonator (1) Δf = A·b wobei Δf = f0 – fS (I) f0: eine Resonanzfrequenz in einem Fall, bei dem die Probe (10) (die Standardprobe oder die Messprobe) fehlt und fS: eine Resonanzfrequenz in einem Fall, bei dem die Probe (10) (die Standardprobe oder die Messprobe) vorhanden ist, wobei eine Messvorrichtung, die eine Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) umfasst, verwendet wird, wobei die dielektrischen Resonatoren (1a1e) in der gleichen Ebene angeordnet werden, so dass elektrische Feldvektoren der dielektrischen Resonatoren (1a1e), die eindirektionale Komponenten in einer In-Probe-Ebene parallel zu der Ebene aufweisen, in Richtung voneinander unterschiedlich sind, Resonanzspitzenpegel aus verstärkten Signalen von Ausgaben aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) erfasst werden, während eine Ausgabe einer Mikrowellenoszillationseinrichtung (21) an jeden aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) oder die Ausgaben aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) gedämpft oder verstärkt werden, so dass jeder Resonanzspitzenpegel nahe an einen vorbestimmten Resonanzspitzenpegel gebracht wird, eine dielektrische Anisotropie der Messprobe aus einem Unterschied in einer Ausgabe unter der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) bestimmt wird und die Konstante A unter Verwendung eines Mittelwertes der Ausgaben der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) bestimmt wird und die Grammatur der Messprobe aus der Konstante „A" und einem Messergebnis basierend auf dem Mittelwert der Ausgaben der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) für die Messprobe bestimmt wird.
  3. Ein Grammaturmessverfahren gemäß Anspruch 1 oder 2, bei dem die feste Bedingung darin besteht, die Messung durch ein Bringen der Probe (10) in einen Kontakt mit der Probenmessoberfläche des dielektrischen Resonators (1) durchzuführen.
  4. Ein Grammaturmessverfahren gemäß Anspruch 1 oder 2, bei dem die feste Bedingung darin besteht, die Messung durch ein Trennen der Probe (10) von der Probenmessoberfläche des dielektrischen Resonators (1) um eine vorbestimmte Entfernung durchzuführen.
  5. Ein Grammaturmessverfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4, bei dem das Dielektrischer-Resonator-Erfassungssystem eine A/D-Wandlungsschaltung aufweist.
  6. Ein Grammaturmessverfahren gemäß Anspruch 1 oder 2, bei dem ein Feuchtigkeitsgehaltsbetrag oder ein Feuch tigkeitsgehaltsverhältnis der Messprobe unter Verwendung des Mittelwertes der Dämpfungspegel der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) als den Resonanzspitzenpegel bestimmt wird.
  7. Eine Grammaturmessvorrichtung, die folgende Merkmale aufweist: einen dielektrischen Resonator (1), der lediglich an einer Oberflächenseite einer Probe (10) angeordnet ist; einen Abschirmbehälter (4), der den dielektrischen Resonator (1) mit Ausnahme einer Probenmessoberfläche im Wesentlichen bedeckt; ein Mikrowellenanregungsbauelement (6, 2a) zum Bewirken, dass der dielektrische Resonator (1) einen elektrischen Feldvektor erzeugt, ein Erfassungsbauelement (2b, 8) zum Erfassen einer Übertragungsenergie oder einer Reflexionsenergie durch den dielektrischen Resonator (1); ein Speicherbauelement (12), das eine Kalibrierungskurve speichert, die einen Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag für eine Grammatur anzeigt und basierend auf einem Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag des dielektrischen Resonators (1) für jede Grammatur einer Standardprobe erstellt ist, die eine bekannte Grammatur aufweist, durch ein Ändern der Grammatur, während eine Dielektrizitätskonstante und eine Dichte der Standardprobe konstant gehalten werden; und ein Datenverarbeitungsbauelement (14) zum Bestimmen einer Grammatur einer Messprobe aus einem Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag einer Messprobe, die die gleiche Dielektrizitätskonstante und Dichte wie die Standardprobe aufweist, und der Kalibrierungskurve; wobei der Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag der Unterschied in einer Resonanzfrequenz zwischen einem Fehlen und einem Vorhandensein der Probe (10) (der Standardprobe oder der Messprobe) ist, wobei der dielektrische Resonator eine Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) umfasst, die an der gleichen Ebene angeordnet sind, so dass elektrische Feldvektoren der dielektrischen Resonatoren (1a1e), die eindirektionale Komponenten in einer In-Probe-Ebene parallel zu der Ebene aufweisen, in Richtung voneinander unterschiedlich sind, wobei das Datenverarbeitungsbauelement (14) eine Funktion eines Bestimmens einer dielektrischen Anisotropie der Messprobe (10) basierend auf einem Unterschied in einer Ausgabe unter den dielektrischen Resonatoren (1a1e) aufweist und die Grammaturmessvorrichtung dadurch eine Ausrichtungsmessfunktion aufweist und die Kalibrierungskurve unter Verwendung eines Mittelwertes der Ausgaben der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) bestimmt ist und die Grammatur der Messprobe (10) aus der Kalibrierungskurve und dem Messergebnis basierend auf dem Mittelwert der Ausgaben der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) für die Messprobe bestimmt ist, eine Verstärkerschaltung (24a24e) ein Zeitverzögerungselement aufweist, wobei die Verstärkerschaltung (24a24e) mit jedem aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) verbunden ist, um eine Ausgabe eines jeden aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) zu verstärken, jeder aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) ein Dielektrischer-Resonator-Erfassungssystem bildet, das eine Einrichtung (33a33e) für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals umfasst, wobei die Einrichtung (33a33e) für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals zwischen einem Mikrowellenoszillator (21) und einer Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung (25a25e) eingefügt ist, wobei der Mikrowellenoszillator (21) mit jedem aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) verbunden ist, wobei die Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung (25a25e) mit der Verstärkerschaltung (24a24e) verbunden ist, um aus der Ausgabe der Verstärkerschaltung (24a24e) einen Resonanzspitzenpegel zu erfassen, und die Grammaturmessvorrichtung eine Steuereinrichtung (26, 27) zum Vergleichen der Ausgabe aus der Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung (25a25e) eines jeden Dielektrischer-Resonator-Erfassungssystems. mit einem vorbestimmten Resonanzspitzenpegel umfasst, um ein Signal zum Ändern eines Dämpfungs- oder eines Verstärkungsgrades für die Einrichtung (33a33e) für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals zu erzeugen, so dass die Ausgabe aus der Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung (25a25e) nahe an den vorbestimmten Resonanzspitzenpegel gebracht ist.
  8. Eine Grammaturmessvorrichtung, die folgende Merkmale aufweist: einen dielektrischen Resonator (1), der lediglich an einer Oberflächenseite einer Probe (10) angeordnet ist; einen Abschirmbehälter (4), der mit Ausnahme einer Probenmessoberfläche den dielektrischen Resonator (1) im Wesentlichen bedeckt; ein Mikrowellenanregungsbauelement (6, 2a) zum Bewirken, dass der dielektrische Resonator (1) einen elektrischen Feldvektor erzeugt; ein Erfassungsbauelement (2b, 8) zum Erfassen einer Übertragungsenergie oder einer Reflexionsenergie durch den dielektrischen Resonator (1); ein Speicherbauelement (12), das eine Konstante „A" gemäß der folgenden Gleichung (II) speichert, wobei die Konstante „A" basierend auf einem Resonanzfrequenzverschiebungsbetrag f für jede Grammatur einer Standardprobe bestimmt ist, die eine bekannte Grammatur „b" aufweist, der unter der festen Bedingung mit dem dielektrischen Resonator (1) durch ein Ändern der Grammatur, während eine Dielektrizitätskonstante und eine Dichte der Standardprobe konstant gehalten werden, gemessen wird; und ein Datenverarbeitungsbauelement (14) zum Berechnen einer Grammatur „b" einer Messprobe, die die gleiche Dielektrizitätskonstante und Dichte wie die Standardprobe aufweist, gemäß der folgenden Gleichung (II) aus der Konstante A, die in dem Speicherbauelement gespeichert ist, und einem Messergebnis eines Resonanzfrequenzverschiebungsbetrags Δf der Messprobe unter der festen Bedingung mit dem dielektrischen Resonator Δf = A·b wobei Δf = f0 – fS (II) f0: eine Resonanzfrequenz in einem Fall, in dem die Probe (10) (die Standardprobe oder die Messprobe) fehlt und fS: eine Resonanzfrequenz in einem Fall, in dem die Probe (10) (die Standardprobe oder die Messprobe) vorhanden ist, wobei der dielektrische Resonator eine Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) umfasst, die an der gleichen Ebene angeordnet sind, so dass elektrische Feldvektoren der dielektrischen Resonatoren (1a1e), die eindirektionale Komponenten in einer In-Probe-Ebene parallel zu der Ebene aufweisen, in Richtung voneinander unterschiedlich sind, das Datenverarbeitungsbauelement (14) eine Funktion eines Bestimmens einer dielektrischen Anisotropie der Messprobe (10) basierend auf einem Unterschied in einer Ausgabe unter den dielektrischen Resonatoren (1a1e) aufweist und die Grammaturmessvorrichtung dadurch eine Ausrichtungsmessfunktion aufweist und die Konstante A unter Verwendung eines Mittelwertes der Ausgaben der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) bestimmt ist und die Grammatur der Messprobe (10) aus der Konstante „A" und dem Messergebnis basierend auf dem Mittelwert der Ausgaben der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) für die Messprobe bestimmt ist, eine Verstärkerschaltung (24a24e) ein Zeitverzögerungselement umfasst, wobei die Verstärkerschaltung (24a24e) mit jedem aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) verbunden ist, um eine Ausgabe eines jeden aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren ((1a1e) zu verstärken, jeder aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) ein Dielektrischer-Resonator-Erfassungssystem bildet, das eine Einrichtung (33a33e) für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals umfasst, wobei die Einrichtung (33a33e) für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals zwischen einem Mikrowellenoszillator (21) und einer Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung (25a25e) eingefügt ist, wobei der Mikrowellenoszillator (21) mit jedem aus der Mehrzahl von dielektrischen Resonatoren (1a1e) verbunden ist, wobei die Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung (25a25e) mit der Verstärkerschaltung (24a24e) verbunden ist, um aus der Ausgabe der Verstärkerschaltung (24a24e) einen Resonanzspitzenpegel zu erfassen, und die Grammaturmessvorrichtung eine Steuereinrichtung (26, 27) zum Vergleichen der Ausgabe aus der Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung (25a25e) eines jeden Dielektrischer-Resonator-Erfassungssystems mit einem vorbestimmten Resonanzspitzenpegel umfasst, um ein Signal zum Ändern eines Dämpfungs- oder eines Verstärkungsgrades für die Einrichtung (33a33e) für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals zu erzeugen, so dass die Ausgabe aus der Resonanzspitzenpegelerfassungsschaltung (25a25e) nahe an den vorbestimmten Resonanzspitzenpegel gebracht ist.
  9. Eine Grammaturmessvorrichtung gemäß Anspruch 7 oder 8, bei der das Datenverarbeitungsbauelement (14) eine Funktion eines Bestimmens eines Feuchtigkeitsgehaltsbetrages oder eines Feuchtigkeitsgehaltsverhältnisses der Messprobe (10) basierend auf dem Unterschied in einem Mittelwert der Dämpfungspegel zwischen dem Fehlen und dem Vorhandensein der Messprobe (10) bei der Einrichtung (33a33e) für eine variable Dämpfung und Verstärkung eines elektrischen Signals aufweist und die Grammaturmessvorrichtung dadurch eine Feuchtigkeitsmessfunktion aufweist.
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