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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Wellenform-Meßvorrichtung.
Im spezielleren bezieht sich die vorliegende Erfindung auf eine
Wellenform-Meßvorrichtung
zum Messen einer Signalwellenform eines getesteten Signals, das
eine beliebige Eingangs-Wiederholungsperiode aufweist.
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Herkömmlicherweise
sind eine große
Anzahl verschiedener Meßtechniken
zum Messen einer Signalwellenform eines getesteten Signals vorgeschlagen
worden, wie zum Beispiel eines elektrischen Signals oder eines optischen
Signals und dergleichen, das eine beliebige Eingangs-Wiederholungsperiode aufweist.
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Im
Fall eines synthetisierten Signals mit hoher Frequenz, bei dem eine
Wiederholungsperiode eines getesteten Signals, d.h. eine Wiederholungsfrequenz
10 GHz übersteigt,
kann jedoch die Signalwellenform des getesteten Signals nicht direkt
auf einem Anzeigeschirm eines Oszilloskops oder dergleichen betrachtet
werden. Der Auswahlbereich einer derartigen Wellenformmeßtechnik
ist somit in sich eingeschränkt.
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Die
US 4 962 353 betrifft einen
Spannungsdetektor, der einen optischen Modulator zum Detektieren
von Spannungen mit einer zeitlichen Auflösung verwendet.
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Eine
herkömmliche
typische Technik zum Messen einer Signalwellenform eines getesteten
Signals, dessen Wiederholungsfrequenz 10 GHz übersteigt, wird im folgenden
unter Bezugnahme auf die 7A, 7B und 7C beschrieben.
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Wie
in den 7A und 7B gezeigt,
wird ein getestetes Signal "a" mit einer Wiederholungsperiode
Ta (beispielsweise einer Wiederholungsfrequenz von fa = 10 GHz)
mittels eines Abtastsignals "b" abgetastet, das
eine Periode Tb (zum Beispiel eine Wiederholungsfrequenz "fb" = 999,9 MHz) aufweist,
die länger
ist als die Wiederholungsperiode Ta dieses getesteten Signals "a".
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In
diesem Fall wird eine gegenseitige Beziehung zwischen der Wiederholungsperiode
Ta des getesteten Signals "a" und der Periode
Tb eingestellt, die länger
ist als die Wiederholungsperiode Ta des getesteten Signals "a". Wie in den 7A und 7B gezeigt
ist, wird im Verlauf der Zeit eine Abtastposition des Abtastsignals "b" in der Signalwellenform in der Wiederholungsperiode
Ta des getesteten Signals "a" um einen sehr geringen
zeitlichen Betrag ΔT
verschoben, so daß die
Zeit um 2 ΔT,
3 ΔT, 4 ΔT, 5 ΔT, 6 ΔT,... n ΔT verzögert wird.
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Auf
diese Weise erhält
man nach dem Abtasten durch dieses Abtastsignal "b" ein
abgetastetes getestetes Signal "c" als separate Wellenform,
bei der eine impulsförmige
Wellenform an einer Position erzeugt wird, die mit dem Abtastsignal "b" synchronisiert ist, wie dies in 7C gezeigt
ist.
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Dann
erhält
man die Hüllwellenform
einer jeden solchen Impulswellenform als Signalwellenform "d", die in Zeitachsenrichtung des getesteten
Signals "a" verlängert ist.
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Auf
der Basis der in den 7A, 7B und 7C dargestellten
Abtasttechnik ist eine Wellenform-Meßvorrichtung zum Messen einer
Signalwellenform "d" des getesteten Signals "a" derart konfiguriert, wie dies in 8 veranschaulicht
ist.
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Das
getestete Signal "a" mit der Wiederholungsperiode
Ta (Wiederholungsfrequenz "fa") wird in eine Abtastschaltung 1 und
eine Zeitgeberschaltung 2 eingespeist.
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Die
Zeitgeberschaltung 2 gibt einen Zeitpunkt der Erzeugung
jedes Impulses des Abtastsignals "b" an
eine Abtastsignalschaltung 3 ab.
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In
dem vorliegenden Fall muß der
Zeitpunkt der Erzeugung jedes Impulses des Abtastsignals "b" um den Betrag ΔT ausgehend von einem Startzeitpunkt
der Wiederholungsperiode Ta des getesteten Signals "a" verschoben werden, und somit wird er
mit dem getesteten Signal "a" synchronisiert,
das ein Eingangsreferenz-Zeitsignal aufweist.
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Die
Abtastsignal-Generatorschaltung 3 führt der Abtastschaltung 1 ein
Abtastsignal "b" mit Impulsform zu,
und zwar jedes Mal, wenn ein Impulserzeugungszeitpunkt von der Zeitgeberschaltung 2 zugeführt wird.
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Die
Abtastschaltung 1 tastet das getestete Eingangssignal "a" mittels des Abtastsignals "b" ab, das von der Abtastsignal-Generatorschaltung 3 zugeführt wird,
und gibt das abgetastete getestete Signal "c" an
einen Signalverarbeitungs-/Wellenformanzeigebereich 4 ab.
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Der
Signalverarbeitungs-/Wellenformanzeigebereich 4 berechnet
eine Hüllwellenform
des abgetasteten getesteten Signals "c",
wandelt eine Skala der Zeitachse dieser Hüllwellenform in eine Skala des
ursprünglichen
getesteten Signals "a" um und zeigt eine
Signalwellenform "d" des getesteten Signals "a" an und gibt diese ab.
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9 zeigt
ein Blockdiagramm zur Erläuterung
einer schematischen Konfiguration einer weiteren herkömmlichen
Wellenform-Meßvorrichtung
zum Messen einer Signalwellenform "d" eines
getesteten Signals "a" unter Verwendung
des Prinzips gemäß der in
den 7A, 7B und 7C dargestellten Abtasttechnik.
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Das
getestete Signal "a" mit der Wiederholungsfrequenz "fa" (Wiederholungsperiode
Ta) wird in die Abtastschaltung 1 und einen Frequenzteiler 5 eingespeist.
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Der
Frequenzteiler 5 teilt die Wiederholungsfrequenz "fa" des getesteten Signals "a" durch 1/n und führt diesen Wert einem Phasenkomparator 6 zu.
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Ein
spannungsgesteuerter Oszillator (VCO) 7 erzeugt ein Signal
mit einer Frequenz (fa/n), die 1/n (n: positive ganze Zahl) der
Wiederholungsfrequenz "fa" beträgt, und
führt diesen
Wert zurück
zu dem Phasenkomparator 6.
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Der
Phasenkomparator 6 detektiert eine Phasendifferenz zwischen
einer Phase eines Ausgangssignals des spannungsgesteuerten Oszillators und
einer Phase eines Ausgangssignals des Frequenzteilers 5 und
führt das
Phasendifferenzsignal dem spannungsgesteuerten Oszillator (VCO)
zu.
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Mittels
eines derartigen Phasensynchronisierungskreises (PLL) wird die Phase
des Ausgangssignals von dem spannungsgesteuerten Oszillator (VCO) 7 derart
gesteuert, daß sie
mit der Phase des getesteten Signals "a" synchronisiert
ist.
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Ein
Ausgangssignal mit einer Frequenz (fa/n), das von dem spannungsgesteuerten
Oszillator (VCO) 7 abgegeben wird, wird in eine Frequenz
von (fa/n)–Δf umgewandelt,
und zwar mittels eines nachfolgenden Frequenzteilers 8a mit
einer feststehenden Frequenzteilungsrate sowie eines Multiplizierers 8b mit
einer feststehenden Frequenzmulitiplizierrate, wobei das umgewandelte
Signal in eine Abtastsignal-Generatorschaltung 3a eingespeist
wird.
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Die
Abtastsignal-Generatorschaltung 3a führt der Abtastschaltung 1 das
Abtastsignal "b" zu, das eine Wiederholungsfrequenz,
die mit einem Eingangssignal fb = (fa/n) – Δf (1)synchronisiert
ist, sowie eine Wiederholungsperiode von Tb = (nTa) + ΔT (2)aufweist.
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Eine
Beziehung zwischen Δf
und ΔT wird
jedoch in etwa durch die nachfolgende Formel angegeben. Δf/ΔT = fa2/n2 (3).
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Die
Abtastschaltung 1 tastet das eingespeiste getestete Signal "a" mittels des Abtastsignals "b" ab, das von der Abtastsignal-Generatorschaltung 3a zugeführt wird,
und führt
das abgetastete getestete Signal "c" dem
Signalverarbeitungs-/Wellenformanzeigebereich 4 zu.
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Der
Signalverarbeitungs-/Wellenformanzeigebereich 4 berechnet
eine Hüllwellenform
des zugeführten,
abgetasteten getesteten Signals "c", wandelt eine Skala
einer Zeitachse dieser Hüllwellenform
in eine Skala des ursprünglichen
getesteten Signals "a" um und zeigt eine
Signalwellenform "d" des getesteten Signals "a" an und gibt diese ab.
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In
diesem Fall ist eine Vergrößerungsrate des
getesteten Signals "a" der gemessenen Hüllwellenform
gegenüber
der Signalwellenform "d" definiert als (fa/n Δf).
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In
dem Fall, in dem das getestete Signal "a" als
optisches Signal an Stelle eines elektrischen Signals vorliegt,
wird dieses optische Signal in ein elektrisches Signal umgewandelt,
und das umgewandelte Signal wird der Zeitgeberschaltung 2 oder
dem Frequenzteiler 5 zugeführt.
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Ferner
wird im Fall des optischen Signals ein Elektroabsorptions-Modulator
an Stelle der Abtastschaltung 1 verwendet.
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Dieser
Elektroabsorptions-Modulator legt ein impulsförmiges elektrisches Feld, das
durch ein Abtastsignal bedingt ist, in einer Vorwärtsrichtung
eines ankommenden opti schen Signals an, so daß es möglich wird, ein impulsförmiges getestetes
Signal "a" abzutasten, das
aus einem zugeführten
optischen Signal besteht.
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Anschließend wird
das getestete Signal "c", wie zum Beispiel
das abgetastete optische Signal, in ein elektrisches Signal umgewandelt,
und das umgewandelte Signal wird dem Signalverarbeitungs-/Wellenformanzeigebereich 4 zugeführt.
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Bei
einer herkömmlichen
Meßvorrichtung, die
ebenfalls eine Abtasttechnik der in den 8 und 9 dargestellten
Art verwendet, bestehen jedoch folgende Probleme, die der Lösung bedürfen.
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Genauer
gesagt, es wird bei der in 8 dargestellten
Wellenform-Meßvorrichtung
ein Abgabezeitpunkt eines von der Zeitgeberschaltung 2 abgegebenen
Zeitsteuersignals unter Verwendung eines Referenzzeitsignals gesetzt,
das von einem in dieser Zeitgeberschaltung 2 vorgesehenen
Oszillator abgegeben wird.
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In
diesem Fall handelt es sich bei einem Referenzzeitsignal, das von
dem Oszillator abgegeben wird, sowie einem Referenzsignal zum Bestimmen einer
Wiederholungsfrequenz Ta des getesteten Signals "a" um
Signale, die hinsichtlich der Hardware von verschiedenen Signalgeneratoren
erzeugt werden. Aus diesem Grund stimmen die verifizierten Phasen
nicht zu allen Zeitpunkten immer miteinander überein.
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Es
besteht daher ein Problem, daß ein
hohes Maß an
Jitter bzw. Flattern bei der Hüllenwellenform des
getesteten Signals "c" nach dem Abtasten
mittels der Abtastschaltung 1 auftritt und dann die Meßgenauigkeit
der Signalwellenform "d" des getesteten Signals "a" geringer wird.
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In
dem Fall zum Beispiel, in dem die Wiederholungsfrequenz Fa des getesteten
Signals "a" etwa 10 GHz beträgt, erreicht
ein Betrag des erzeugten Jitter einen Wert von mehreren ps (Picosekunden).
Ferner erreicht in der Signalwellenform "d" des
abschließenden
getesteten Signals "a" unter Berücksichtigung
einer Bandbreiteneinschränkung
des Photodetektors und der elektrischen Verarbeitungsschaltung die
Wellenformtoleranz einen Wert von 10 ps bis 20 ps.
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Weiterhin
wird bei der in 9 gezeigten Wellenform-Meßvorrichtung
ein Ausgangssignal von dem Multiplizierer 8b zum Erzeugen
des Abtastsignals "b" mit der Wiederholungsfrequenz
fb = (fa/n)–Δf, die von
der Abtastsignal-Generatorschaltung 3a abge geben wird,
mittels einer PLL-Schaltung erzeugt, die aus einem Frequenzteiler 5 zum
frequenzmäßigen Teilen
des getesteten Signals "a", einem Phasenkomparator 6 und
einem spannungsgesteuerten Oszillator (VCO) 7 gebildet
ist.
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Das
heißt,
in diesem Fall wird das Abtastsignal "b" durch
Verarbeiten des getesteten Signals "a" erzeugt,
das als Ziel gemessen werden soll. Somit ist das Abtastsignal "b" stets mit dem getesteten Signal "a" phasensynchronisiert.
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Bei
der in 9 dargestellten Wellenform-Meßvorrichtung besteht daher
im Gegensatz zu der in 8 dargestellten Wellenform-Meßvorrichtung
keine Notwendigkeit, zusätzlich
einen Oszillator zum Erzeugen des Abtastsignals "b" bereitzustellen. Der
Betrag des erzeugten Jitter ist somit deutlich eingeschränkt.
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Die
Wiederholungsfrequenz "fb" des Abtastsignals "b" wird jedoch durch eine Funktion der
Wiederholungsfrequenz "fa" des getesteten Signals "a" bestimmt, wie dies aus den vorstehend
angegebenen Formeln (1) und (3) erkennbar ist.
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Bei
der Wellenform-Meßvorrichtung,
die eine feststehende Frequenzteilungsrate und eine feststehende
Frequenzmulitiplizierungsrate aufweist, kann somit die Wiederholungsfrequenz "fb" des Abtastsignals "b" nicht in beliebiger Weise unabhängig von
der Wiederholungsfrequenz "fa" des getesteten Signals "a" eingestellt werden.
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Wenn
sich nämlich
die Wiederholungsfrequenz "fa" des getesteten Signals "a" ändert,
dann ändert
sich automatisch die zeitliche Auflösung der Signalwellenform "d" des gemessenen, getesteten Signals "a", d.h. die Meßgenauigkeit.
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Diese
Tatsache zeigt, daß die
Signalwellenform "d" des getesteten Signals "a" nicht durch eine beliebige zeitliche
Auflösung
gemessen werden kann.
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Ferner
besteht ein Problem dahingehend, daß der Auswählbereich der Wiederholungsfrequenz "fb" des Abtastsignals "b" aufgrund der Spezifikation oder der
Eigenschaften eines jeden der Frequenzteiler 5 und 8a beträchtlich
eingeschränkt
wird.
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Die
vorliegende Erfindung ist zur Lösung
des vorstehend geschilderten Problems erfolgt. Ein Ziel der vorliegenden
Erfindung besteht in der Schaffung einer Wellenform-Meßvorrichtung
zum Erzeugen eines frequenzsynthetisierten Signals zum Schaffen
einer Frequenz eines Abtastsignals unter Verwendung eines Generators
für frequenz synthetisierte
Signale, und zwar unter stets erfolgender Phasensynchronisierung
des auf diese Weise erzeugten frequenzsynthetisierten Signals mit
einem getesteten Signal unter Verwendung einer PLL-Technik, so daß eine Frequenz
eines Abtastsignals des getesteten Signals unabhängig von einer Wiederholungsfrequenz
des getesteten Signals in beliebiger Weise eingestellt werden kann,
die Meßgenauigkeit
der Signalwellenform des getesteten Signals verbessert werden kann, während ein
Betrag des erzeugten Jitter deutlich eingeschränkt wird, und ferner die Signalwellenform
mit einer beliebigen Auflösungsgenauigkeit
gemessen werden kann.
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Die
vorliegende Erfindung ist anwendbar bei einer Wellenform-Meßvorrichtung
zum Abtasten eines getesteten Signals, das eine beliebige Eingangs-Wiederholungsperiode
aufweist, mittels eines Abtastsignals, das eine Schwingungsperiode
aufweist, die länger
ist als die des getesteten Signals, zum Erzielen einer Hüllwellenform
des auf diese Weise abgetasteten getesteten Signals sowie zum Erzielen
einer Signalwellenform des getesteten Signals anhand der Hüllwellenform.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung wird eine Wellenform-Meßvorrichtung geschaffen, die
folgendes aufweist:
einen Abtastbereich (12) zum Abtasten
eines getesteten Signals, das eine beliebige Eingangs-Wiederholungsperiode
aufweist, mittels eines Abtastsignals, das eine Schwingungsperiode
aufweist, die länger
ist als die des getesteten Signals, und einen Datenverarbeitungsbereich
(23) zum Erzielen einer Hüllwellenform eines getesteten
Signals, das von dem Abtastbereich abgetastet worden ist, und zum
Erzielen einer Signalwellenform des getesteten Signals anhand der
Hüllwellenform,
wobei die Wellenform-Meßvorrichtung
folgendes aufweist:
einen Generator (15) für frequenzsynthetisierte
Signale, der einen Referenzsignal-Eingangsanschluß (REF) aufweist und der unter
Verwendung eines dem Referenzsignal-Eingangsanschluß zugeführten Referenzsignals
ein frequenzsynthetisiertes Signal mit einer Frequenz abgibt, die
gleich einer Wiederholungsfrequenz des getesteten Signals ist;
einen
Phasenkomparator (14), der eine Phasendifferenz zwischen
einer Phase des frequenzsynthetisierten Signals, das von dem Generator
für frequenzsynthetisierte
Signale abgegeben wird, und einer Phase des getesteten Signals detektiert
und dadurch ein Phasendifferenzsignal abgibt;
einen spannungsgesteuerten
Oszillator (17) zum Erzeugen eines Referenzsignals, das
mit dem getesteten Signal phasensynchronisiert ist, auf der Basis
des von dem Phasenkomparator abgegebenen Phasendifferenzsignals
und zum Zuführen
des Referenz signals zurück
zu dem Referenzsignal-Eingangsanschluß des Generators für frequenzsynthetisierte
Signale und zu dem Referenzsignal-Eingangsanschluß des Phasenkomparators;
und
eine Abtastsignal-Generatorschaltung (18) zum
Erzeugen des Abtastsignals unter Verwendung des von dem spannungsgesteuerten
Oszillator abgegebenen Referenzsignals.
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Bei
der auf diese Weise konfigurierten Wellenform-Meßvorrichtung wird ein durch
eine Abtastsignal-Generatorschaltung erzeugtes Abtastsignal auf der
Basis eines Referenzsignals erzeugt, das von einem spannungsgesteuerten
Oszillator abgegeben wird.
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Die
Wellenform-Meßvorrichtung
kann daher auf eine beliebige Frequenz eingestellt werden, die von
einer Wiederholungsfrequenz eines getesteten Signals unabhängig ist,
und zwar mittels eines Generators für frequenzsynthetisierte Signale,
der in der Abtastsignal-Generatorschaltung vorgesehen ist.
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Ferner
ist eine Phase dieses Referenzsignals stets mit einer Phase eines
getesteten Signals phasensynchronisiert, und zwar mittels einer PLL-Schaltung,
die aus einem Generator für
frequenzsynthetisierte Signale, einem Phasenkomparator und einem
spannungsgesteuerten Oszillator gebildet ist.
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Somit
kann eine Frequenz eines Abtastsignals zum Abtasten eines getesteten
Signals unabhängig
von einer Wiederholungsfrequenz eines getesteten Signals beliebig
eingestellt werden, wobei diese mit dem getesteten Signal stets
phasensynchronisiert ist. Das Auftreten von Jittern ist somit eingeschränkt.
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Es
wird eine Wellenform-Meßvorrichtung
geschaffen, die ferner folgendes aufweist:
einen Frequenzmeßbereich
(26) zum Messen einer Wiederholungsfrequenz des getesteten
Signals auf der Basis des von dem spannungsgesteuerten Oszillator
abgegebenen Referenzsignals; und
einen Frequenzeinstellbereich
(16) zum Einstellen einer Frequenz eines von dem Generator
für frequenzsynthetisierte
Signale abgegebenen frequenzsynthetisierten Signals, die für den Generator
für frequenzsynthetisierte
Signale relevant ist, auf der Basis der von dem Frequenzmeßbereich
gemessenen Wiederholungsfrequenz des getesteten Signals.
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Selbst
wenn bei der Wellenform-Meßvorrichtung
mit dieser Konfiguration die Wiederholungsfrequenz eines getesteten
Signals unbekannt ist, wird diese Wiederholungs frequenz durch den
Frequenzmeßbereich
gemessen, und ein abgegebenes frequenzsynthetisiertes Signal eines
Generators für
frequenzsynthetisierte Signale wird auf der Basis der auf diese
Weise gemessen Wiederholungsfrequenz automatisch eingestellt.
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Selbst
wenn die Wiederholungsfrequenz des getesteten Signals unbekannt
ist, kann daher die Signalwellenform des getesteten Signals exakt
gemessen werden.
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Es
wird eine Wellenform-Meßvorrichtung
geschaffen, die ferner folgendes aufweist:
einen Leistungsteiler
(11) zum leistungsmäßigen Teilen
des getesteten Signals, bei dem es sich um ein optisches Signal
handelt, auf zweierlei Weise, wenn es sich bei dem getesteten Signal
um das optische Signal handelt; und
eine Takt-Regenerierungseinrichtung
(13) zum Detektieren eines Takts mit seiner Wiederholungsfrequenz
von einem derartigen, durch den Leistungsteiler geteilten einzelnen
getesteten Signal, um dadurch das getestete Signal, bei dem es sich
um das optische Signal handelt, in ein getestetes Signal eines elektrischen
Signals mit einer Sinus-Wellenform mit der Wiederholungsfrequenz
umzuwandeln und dieses Signal abzugeben.
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Weiterhin
wird eine Wellenform-Meßvorrichtung
geschaffen, die ferner folgendes aufweist:
einen Photodetektor
(21), der dann, wenn es sich bei dem Abtastbereich um einen
Elektroabsorptions-Modulator (12) handelt, zum lichtmäßigen Empfangen eines
getesteten Signals dient, das durch Abtasten eines von dem Leistungsteiler
zugeführten
optischen Signals mittels eines von der Abtastsignal-Generatorschaltung
zugeführten
Abtastsignals gebildet wird und wobei das getestete Signal, das
nach dem Abtasten ein optisches Signal ist, in ein getestetes Signal
eines elektrischen Signals umgewandelt wird;
einen Analog-/Digital-Wandler
(22) zum Umwandeln des getesteten Signals, das durch den
Photodetektor in ein elektrisches Signal umgewandelt worden ist,
in ein getestetes digitales Signal und zum Zuführen des umgewandelten digitalen
getesteten Signals zu dem Datenverarbeitungsbereich; und
eine
Anzeige (24) zum Umwandeln einer Skala einer Zeitachse
der Hüllwellenform,
die durch den Datenverarbeitungsbereich gebildet worden ist, in
eine Skala eines ursprünglichen
getesteten Signals und zum Anzeigen einer Signalwellenform des getesteten Signals.
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Es
wird eine Wellenform-Meßvorrichtung
geschaffen, die folgendes aufweist:
einen Abtastbereich (12)
zum Abtasten eines getesteten Signals, das eine beliebige Eingangs-Wiederholungsperiode
aufweist, mittels eines Abtastsignals, das eine Schwingungsperiode
aufweist, die länger
ist als die des getesteten Signals, und einen Datenverarbeitungsbereich
(23) zum Erzielen einer Hüllwellenform eines getesteten
Signals, das von dem Abtastbereich abgetastet worden ist, und zum
Erzielen einer Signalwellenform des getesteten Signals anhand der
Hüllwellenform,
wobei die Wellenform-Meßvorrichtung
folgendes aufweist:
einen Generator (15) für frequenzsynthetisierte
Signale, der einen Referenzsignal-Eingangsanschluß (REF) aufweist und ein frequenzsynthetisiertes
Signal abgibt, das eine Frequenz aufweist, die man durch Addieren
oder Subtrahieren einer Frequenz eines Referenzsignals zu bzw. von
einer Wiederholungsfrequenz des getesteten Signals unter Verwendung
eines dem Referenzsignal-Eingangsanschluß zugeführten Referenzsignals erhält;
eine
Mischvorrichtung (27) zum Mischen eines frequenzsynthetisierten
Signals, das von dem Generator für
frequenzsynthetisierte Signale abgegeben wird, mit dem getesteten
Signal;
einen Phasenkomparator (14) mit einem Referenzsignal-Eingangsanschluß (REF),
wobei der Phasenkomparator eine Phasendifferenz zwischen einer Phase
eines dem Referenzsignal-Eingangsanschluß zugeführten Referenzsignals und einer
Phase eines Ausgangssignals von der Mischvorrichtung detektiert und
dadurch ein Phasendifferenzsignal abgibt;
einen spannungsgesteuerten
Oszillator (17) zum Erzeugen eines Referenzsignals, das
mit dem getesteten Signal phasensynchronisiert ist, auf der Basis
des von dem Phasenkomparator abgegebenen Phasendifferenzsignals
und zum Zuführen
des Referenzsignals zurück
zu dem Referenzsignal-Eingangsanschluß des Generators für frequenzsynthetisierte
Signale und zu dem Referenzsignal-Eingangsanschluß des Phasenkomparators;
und
eine Abtastsignal-Generatorschaltung (18) zum
Erzeugen des Abtastsignals unter Verwendung des von dem spannungsgesteuerten
Oszillator abgegebenen Referenzsignals.
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Bei
der in dieser Weise konfigurierten Wellenform-Meßvorrichtung wird ein durch
die Abtastsignal-Generatorschaltung erzeugtes Signal auf der Basis
eines von einem spannungsgesteuerten Oszillator abgegebenen Referenzsignals
erzeugt.
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Bei
der in dieser Weise konfigurierten Wellenform-Meßvorrichtung ist eine Mischvorrichtung zwischen
einem Generator für
frequenzsynthetisierte Signale und einem Phasenkomparator angeordnet.
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Das
Mischvorrichtungssignal kombiniert ein frequenzsynthetisiertes Signal
und ein getestetes Signal, das von dem Generator für frequenzsynthetisierte
Signale abgegeben wird, und führt
diese Signale einem Phasenkomparator zu.
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Eine
Frequenz eines frequenzsynthetisierten Signals, das von einem Generator
für frequenzsynthetisierte
Signale erzeugt wird, wird auf eine Frequenz eingestellt, die man
erhält,
wenn eine Wiederholungsfrequenz eines getesteten Signals und eine Frequenz
eines Referenzsignals miteinander addiert oder voneinander subtrahiert
werden, so daß eine Frequenzkomponente
eines Ausgangssignals, das von der Mischvorrichtung einem Phasenkomparator zugeführt wird,
auf eine Frequenzkomponente eines Referenzsignals abgesenkt werden
kann. Auf diese Weise besteht keine Notwendigkeit zur Verwendung eines
Phasenkomparators, der in der Lage ist, eine schnelle Verarbeitung
auszuführen.
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Es
wird eine Wellenform-Meßvorrichtung
geschaffen, die ferner folgendes aufweist:
einen Frequenzmeßbereich
zum Messen einer Wiederholungsfrequenz des getesteten Signals; und
einen
Frequenzeinstellbereich zum Einstellen einer Frequenz eines von
dem Generator für
frequenzsynthetisierte Signale abgegebenen frequenzsynthetisierten
Signals, die für
den Generator für
frequenzsynthetisierte Signale relevant ist, auf der Basis einer an
dem Frequenzmeßbereich
gemessenen Wiederholungsfrequenz des getesteten Signals.
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Es
wird eine Wellenform-Meßvorrichtung
geschaffen, die ferner folgendes aufweist:
einen Leistungsteiler
zum leistungsmäßigen Teilen des
getesteten Signals, bei dem es sich um ein optisches Signal handelt,
auf zweierlei Weise, wenn es sich bei dem getesteten Signal um das
optische Signal handelt; und
eine Takt-Regenerierungseinrichtung
zum Detektieren eines Takts mit seiner Wiederholungsperiode von einem
derartigen, durch den Leistungsteiler geteilten einzelnen getesteten
Signal, um dadurch das getestete Signal, bei dem es sich um das
optische Signal handelt, in ein getestetes Signal eines elektrischen Signals
mit einer Sinus-Wellenform
mit der Wiederholungsfrequenz umzuwandeln und dieses Signal abzugeben.
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Es
wird eine Wellenform-Meßvorrichtung
geschaffen, die ferner folgendes aufweist:
einen Photodetektor,
der dann, wenn es sich bei dem Abtastbereich um einen Elektroabsorptions-Modulator
handelt, zum lichtmäßigen Empfangen
eines getesteten Signals dient, das durch Abtasten eines getesteten
Signals des von dem Leistungsteiler zugeführten optischen Signals mittels
eines von der Abtastsignal-Generatorschaltung zugeführten Abtastsignals
gebildet wird, wobei ein getestetes Signal, das nach dem Abtasten
ein optisches Signal ist, in ein getestetes Signal eines elektrischen
Signals umgewandelt wird;
einen Analog-/Digital-Wandler zum
Umwandeln des getesteten Signals, das durch den Photodetektor in ein
elektrisches Signal umgewandelt worden ist, in ein digitales getestetes
Signal und zum Zuführen
des umgewandelten getesteten Signals zu dem Datenverarbeitungsbereich;
und
eine Anzeige zum Umwandeln einer Skala einer Zeitachse
der Hüllwellenform,
die durch den Datenverarbeitungsbereich gebildet worden ist, in
eine Skala eines ursprünglichen
getesteten Signals und zum Anzeigen einer Signalwellenform des getesteten
Signals.
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Es
wird eine Wellenform-Meßvorrichtung
geschaffen, die folgendes aufweist:
einen Abtastbereich zum
Abtasten eines getesteten Signals, das eine beliebige Eingangs-Wiederholungsperiode
aufweist, mittels eines Abtastsignals, das eine Wiederholungsperiode
aufweist, die länger ist
als die des getesteten Signals, und einen Datenverarbeitungsbereich
zum Erzielen einer Hüllwellenform
eines getesteten Signals, das von dem Abtastbereich abgetastet worden
ist, und zum Erzielen einer Signalwellenform des getesteten Signals
anhand der Hüllwellen-form,
wobei die Wellenform-Meßvorrichtung
folgendes aufweist:
einen Generator für frequenzsynthetisierte Signale, der
einen Referenzsignal-Eingangsanschluß aufweist und der unter Verwendung
eines dem Referenzsignal-Eingangsanschluß zugeführten Referenzsignals ein frequenzsynthetisiertes
Signal mit einer Frequenz gleich 1/n (n: positive ganze Zahl) einer Wiederholungsfrequenz
des getesteten Signals abgibt;
einen Frequenzteiler (28)
zum frequenzmäßigen Teilen
einer Wiederholungsfrequenz des getesteten Signals auf 1/n (n: positive
ganze Zahl) und zum Abgeben des getesteten Signals;
einen Phasenkomparator
zum Detektieren einer Phasendifferenz zwischen einer Phase des frequenzsynthetisierten
Signals, das von dem Generator für frequenzsynthetisierte
Signale abgegeben worden ist, und einer Phase des getesteten Signals,
das frequenz mäßig auf
1/n (n: positive ganze Zahl) geteilt ist, sowie zum Abgeben eines
Phasendifferenzsignals;
einen spannungsgesteuerten Oszillator
zum Erzeugen eines Referenzsignals, das mit dem getesteten Signal
phasensynchronisiert ist, auf der Basis des von dem Phasenkomparator
abgegebenen Phasendifferenzsignals und zum Zuführen des Referenzsignals zurück zu dem
Referenzsignal-Eingangsanschluß des
Generators für
frequenzsynthetisierte Signale; und
eine Abtastsignal-Generatorschaltung
zum Erzeugen des Abtastsignals unter Verwendung des von dem spannungsgesteuerten
Oszillator abgegebenen Referenzsignals.
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Es
wird eine Wellenform-Meßvorrichtung
geschaffen, die ferner folgendes aufweist:
einen Leistungsteiler
zum leistungsmäßigen Teilen des
getesteten Signals, bei dem es sich um ein optisches Signal handelt,
auf zweierlei Weise, wenn es sich bei dem getesteten Signal um das
optische Signal handelt; und
eine Takt-Regenerierungseinrichtung
zum Detektieren eines Takts mit seiner Wiederholungsperiode von einem
derartigen, durch den Leistungsteiler geteilten einzelnen getesteten
Signal, um dadurch das getestete Signal, bei dem es sich um das
optische Signal handelt, in ein getestetes Signal eines elektrischen Signals
mit einer Sinus-Wellenform
mit der Wiederholungsfrequenz umzuwandeln und dieses Signal abzugeben.
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Es
wird eine Wellenform-Meßvorrichtung
geschaffen, die ferner folgendes aufweist:
einen Photodetektor,
der dann, wenn es sich bei dem Abtastbereich um einen Elektroabsorptions-Modulator
handelt, zum lichtmäßigen Empfangen
eines getesteten Signals dient, das durch Abtasten eines getesteten
Signals des von dem Wellen- bzw. Leistungsteiler zugeführten optischen
Signals mittels eines von der Abtastsignal-Generatorschaltung zugeführten Abtastsignals
gebildet wird, wobei ein getestetes Signal, bei dem es sich nach
dem Abtasten um ein optisches Signal handelt, in ein getestetes
Signal eines elektrischen Signals umgewandelt wird;
einen Analog-/Digital-Wandler
zum Umwandeln des getesteten Signals, das durch den Photodetektor
in ein elektrisches Signal umgewandelt worden ist, in ein getestetes
digitales Signal und zum Zuführen
des umgewandelten digitalen getesteten Signals zu dem Datenverarbeitungsbereich;
und
eine Anzeige zum Umwandeln einer Skala einer Zeitachse
der Hüllwellenform,
die durch den Datenverarbeitungsbereich gebildet worden ist, in
eine Skala eines ursprünglichen
getesteten Signals und zum Anzeigen einer Signalwellenform des getesteten
Signals.
-
Es
wird eine Wellenform-Meßvorrichtung
geschaffen, die folgendes aufweist:
einen Abtastbereich zum
Abtasten eines getesteten Signals, das eine beliebige Eingangs-Wiederholungsperiode
aufweist, mittels eines Abtastsignals, das eine Wiederholungsperiode
aufweist, die länger ist
als die des getesteten Signals, und einen Datenverarbeitungsbereich
zum Erzielen einer Hüllwellenform
eines getesteten Signals, das von dem Abtastbereich abgetastet worden
ist, und zum Erzielen einer Signalwellenform des getesteten Signals
anhand der Hüllwellenform,
wobei die Wellenform-Meßvorrichtung
ferner folgendes aufweist:
einen Generator für frequenzsynthetisierte
Signale, der einen Referenzsignal-Eingangsanschluß aufweist
und der ein frequenzsynthetisiertes Signal abgibt, das eine Frequenz
aufweist, die man erhält, wenn
eine Frequenz gleich einer Wiederholungsfrequenz des getesteten
Signals und eine Frequenz, die m-mal (m: positive ganze Zahl) die
Frequenz des Referenzsignals beträgt, miteinander addiert oder
voneinander subtrahiert werden;
einen Frequenz-Multiplizierer
(29) zum Abgeben eines Signals mit einer Frequenz, die
m-mal (m: positive ganze Zahl) die Frequenz des Referenzsignals
ist; und
eine Mischvorrichtung zum Mischen des von dem Generator
für frequenzsynthetisierte
Signale abgegebenen frequenzsynthetisierten Signals mit dem getesteten
Signal;
einen Phasenkomparator mit einem Referenzsignal-Eingangsanschluß, wobei
der Phasenkomparator eine Phasendifferenz zwischen einer Phase eines Signals
mit einer Frequenz, die m-mal die Frequenz des von dem Frequenz-Multiplizierer
dem Referenzsignal-Eingangsanschluß zugeführten Referenzsignals beträgt, und
einer Phase eines Ausgangssignals von der Mischvorrichtung detektiert
und ein Phasendifferenzsignal abgibt;
einen spannungsgesteuerten
Oszillator zum Erzeugen eines Referenzsignals, das mit dem getesteten Signal
phasensynchronisiert ist, auf der Basis des von dem Phasenkomparator
abgegebenen Phasendifferenzsignals und zum Zuführen des Referenzsignals zurück zu dem
Referenzsignal-Eingangsanschluß des
Generators für
frequenzsynthetisierte Signale und zu dem Referenzsignal-Eingangsanschluß des Phasenkomparators;
und
eine Abtastsignal-Generatorschaltung zum Erzeugen des Abtastsignals
unter Verwendung des von dem spannungsgesteuerten Oszillator abgegebenen
Referenzsignals.
-
Es
wird eine Wellenform-Meßvorrichtung
geschaffen, die ferner folgendes aufweist:
einen Leistungsteiler
zum leistungsmäßigen Teilen des
getesteten Signals, bei dem es sich um ein optisches Signal handelt,
auf zweierlei Weise, wenn es sich bei dem getesteten Signal um das
optische Signal handelt; und
eine Takt-Regenerierungseinrichtung
zum Detektieren eines Takts mit seiner Wiederholungsfrequenz von
einem derartigen, durch den Leistungsteiler geteilten einzelnen
getesteten Signal, um dadurch das getestete Signal, bei dem es sich
um das optische Signal handelt, in ein getestetes Signal eines elektrischen
Signals mit einer Sinus-Wellenform
mit der Wiederholungsfrequenz umzuwandeln und dieses Signal abzugeben.
-
Zum
Erreichen der vorstehend geschilderten Zielsetzung wird gemäß einem
weiteren Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung eine Wellenform-Meßvorrichtung
geschaffen, wobei die Wellenform-Meßvorrichtung ferner folgendes
aufweist:
einen Leistungsteiler zum leistungsmäßigen Teilen des
getesteten Signals, bei dem es sich um ein optisches Signal handelt,
auf zweierlei Weise, wenn es sich bei dem getesteten Signal um das
optische Signal handelt; und
eine Takt-Regenerierungseinrichtung
zum Detektieren eines Takts der Wiederholungsfrequenz von einem
derartigen, durch den Leistungsteiler geteilten einzelnen getesteten
Signal, um dadurch das getestete Signal, bei dem es sich um das
optische Signal handelt, in ein getestetes Signal eines elektrischen Signals
mit einer Sinus-Wellenform mit der Wiederholungsfrequenz umzuwandeln
und das umgewandelte Signal abzugeben.
-
Es
wird eine Wellenform-Meßvorrichtung
geschaffen, die ferner folgendes aufweist:
einen Photodetektor,
der dann, wenn es sich bei dem Abtastbereich um einen Elektroabsorptions-Modulator
handelt, zum lichtmäßigen Empfangen
eines getesteten Signals dient, das durch Abtasten eines von dem
Leistungsteiler zugeführten
getesteten Signals des optischen Signals mittels eines Abtastsignals
gebildet wird, das von der Abtastsignal-Generatorschaltung zugeführt wird,
wobei das getestete Signal, das nach dem Abtasten ein optisches
Signal ist, in ein getestetes Signal eines elektrischen Signals
umgewandelt wird;
einen Analog-/Digital-Wandler zum Umwandeln
des gestesteten Signals, das durch den Photodetektor in ein elektrisches
Signal umgewandelt worden ist, in ein digitales getestetes Signal
und zum Zuführen
des umgewandelten digitalen getesteten Signals zu dem Datenverarbeitungsbereich;
und
eine Anzeige zum Umwandeln einer Skala einer Zeitachse
der Hüllwellenform,
die durch den Datenverarbeitungsbereich gebildet worden ist, in
eine Skala eines ursprünglichen
getesteten Signals und zum Anzeigen einer Signalwellenform des getesteten
Signals.
-
Die
Erfindung ist anhand der nachfolgenden ausführlichen Beschreibung in Verbindung
mit den Begleitzeichnungen noch besser zu verstehen; in den Zeichnungen
zeigen:
-
1 ein
Blockdiagramm zur Erläuterung
einer schematischen Konfiguration einer Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß einem
ersten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung;
-
2 ein
Blockdiagramm zur Erläuterung
einer schematischen Konfiguration einer Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß einem
zweiten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung;
-
3 ein
Blockdiagramm zur Erläuterung
einer schematischen Konfiguration einer Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß einem
dritten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung;
-
4 ein
Blockdiagramm zur Erläuterung
einer schematischen Konfiguration einer Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß einem
vierten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung;
-
5 ein
Blockdiagramm zur Erläuterung
einer schematischen Konfiguration einer Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß einem
fünften
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung;
-
6 ein
Blockdiagramm zur Erläuterung
einer schematischen Konfiguration einer Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß einem
sechsten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung;
-
7A, 7B und 7C Ansichten,
in denen jeweils ein Prinzip erläutert
wird, in dem eine Signalwellenform eines herkömmlichen typischen getesteten
Signals unter Verwendung einer Abtasttechnik gebildet wird;
-
8 ein
Blockdiagramm zur Erläuterung
einer schematischen Konfiguration einer herkömmlichen Wellenform-Meßvorrichtung;
und
-
9 ein
Blockdiagramm zur Erläuterung
einer schematischen Konfiguration einer weiteren herkömmlichen
Wellenform-Meßvorrichtung.
-
Im
folgenden wird auf die derzeit bevorzugten Ausführungsbeispiele der Erfindung
Bezug genommen, wie diese in den Begleitzeichnungen dargestellt
sind, in denen gleiche Bezugszeichen gleiche oder entsprechende
Teile bezeichnen.
-
Im
folgenden werden bevorzugte Ausführungsbeispiele
der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die Begleitzeichnungen
beschrieben.
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Erstes Ausführungsbeispiel
-
1 zeigt
ein Blockdiagramm zur Erläuterung
einer schematischen Konfiguration einer Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß einem
ersten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung.
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Zuerst
wird ein getestetes Signal "a", das von einem Eingangsanschluß (nicht
gezeigt) zugeführt wird
und bei dem es sich zum Beispiel um ein optisches Signal mit einer
Wiederholungsperiode Ta (Wiederholungsfrequenz "fa")
handelt, wie es in 7A gezeigt ist, zu einem Frequenzteiler 11 geführt.
-
Das
diesem Frequenzteiler 11 zugeführte getestete Signal "a" wird auf zweierlei Weise frequenzmäßig geteilt,
wobei der eine Teil einem Elektroabsorptions-Modulator 12 zugeführt wird,
bei dem es sich um einen Abtastbereich handelt, und der andere Teil
einer Taktregenerierungseinrichtung 13 zugeführt wird.
-
Bei
der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel
ist angenommen, daß die
Wiederholungsfrequenz "fa" des getesteten Signals "a" auf 100 GHz eingestellt ist.
-
Die
Taktregenerierungseinrichtung 13 detektiert einen Takt
einer Wiederholungsperiode Ta in dem getesteten Signal "a", bei dem es sich zum Beispiel um ein
zugeführtes
optisches Signal handelt. Diese Taktregenerierungseinrichtung 13 wandelt
das zugeführte
getestete Signal "a", bei dem es sich
zum Beispiel um ein optisches Signal handelt, in ein getestetes
Signal "a1" des elektrischen
Signals mit einer Sinus-Wellenform mit der Frequenz "fa" (Wiederholungsfrequenz)
um und führt
das umgewandelte Signal einem Eingangsanschluß eines nachfolgenden Phasenkomparators 14 zu.
-
Ein
Generator 15 für
frequenzsynthetisierte Signale ist zum Beispiel durch einen Frequenzsynthetisierer
oder dergleichen gebildet. Ein Referenzsignal "e",
das dem Referenzsignal-Eingangsanschluß REF zugeführt wird, wird multipliziert
oder frequenzmäßig geteilt,
so daß es
möglich
wird, ein frequenzsynthetisiertes Signal "g" zu
erzeugen, das eine beliebige Frequenz aufweist.
-
Im
spezielleren dient dieser Generator 15 für frequenzsynthetisierte
Signale zum Erzeugen und Abgeben des frequenzsynthetisierten Signals "g" mit der Frequenz "fa" von
10 GHz, bei der es sich um eine Wiederholungsfrequenz des getesteten
Signals "a" handelt, die von
einem beispielsweise einen Mikrocomputer (CPU) beinhaltenden Steuerbereich 16 angewiesen
wird, und zwar unter Verwendung eines Referenzsignals "e" von 10 MHz, das von einem spannungsgesteuerten
Oszillator (VCO) 17 dem Referenzsignal-Eingangsanschluß REF zugeführt wird.
-
In
diesem Fall multipliziert der Generator 15 für frequenzsynthetisierte
Signale die Frequenz des Referenzsignals "e" mit
1000.
-
Selbstverständlich wird
eine Phase des frequenzsynthetisierten Signals "g",
das von dem Generator 15 für frequenzsynthetisierte Signale
abgegeben wird, mit einer Phase des Referenzsignals "e" vollständig 1:1 synchronisiert.
-
Das
frequenzsynthetisierte Signal "g", das die von dem
Generator 15 für
frequenzsynthetisierte Signale abgegebene Frequenz "fa" aufweist, wird dem
anderen Eingangsanschluß eines
Phasenkomparators 14 zugeführt.
-
Der
Phasenkomparator 14 detektiert eine Phasendifferenz zwischen
einer Phase eines getesteten Signals "a1" mit
einer Frequenz "fa", das von einer Taktregenerierungseinrichtung 13 in
ein elektrisches Signal umgewandelt worden ist und dem einen Eingangsanschluß zugeführt wird,
sowie einer Phase des frequenzsynthetisierten Signals "g" mit einer Frequenz "fa" von
dem Generator 15 für
frequenzsynthetisierte Signale, das dem anderen Eingangsanschluß zugeführt wird,
und gibt ein Phasendifferenzsignal "h" an
einen spannungsgesteuerten Oszillator (VCO) 17 ab.
-
Dieser
spannungsgesteuerte Oszillator (VCO) 17 erzeugt das vorstehend
beschriebene Referenzsignal "e" von 10 MHz und führt das
erzeugte Signal zurück
zu einem Referenzsignal-Eingangsanschluß REF des Generators 15 für frequenzsynthetisierte
Signale.
-
Der
Phasenkomparator 14, der spannungsgesteuerte Oszillator
(VCO) 17 sowie der Generator 15 für frequenzsynthetisierte
Signale bilden eine PLL-Schaltung. Die Phase des von dem spannungsgesteuerten
Oszillator (VCO) 17 abgegebenen Referenzsignals ist somit
stets mit einer Phase des getesteten Signals "a1" synchronisiert.
-
Das
von dem spannungsgesteuerten Oszillator (VCO) 17 abgegebene
Referenzsignal "e" wird ferner zu dem
Generator 15 für
frequenzsynthetisierte Signale zurückgeführt und in eine Abtastsignal-Generatorschaltung 18 zum
Erzeugen eines Abtastsignals "b" eingespeist.
-
Diese
Abtastsignal-Generatorschaltung 18 ist gebildet aus einem
Signalgenerator 19, wie zum Beispiel einem frequenzsynthetisierten
Generator, und einer Wellenform-Abgleichschaltung 20.
-
Hier
ist der Signalgenerator 19 aus einem Frequenzsynthetisierer
oder dergleichen gebildet, wie zum Beispiel dem vorstehend beschriebenen Generator 15 für frequenzsynthetisierte
Signale. Das Referenzsignal "e", das dem Referenzsignal-Eingangsanschluß zugeführt wird,
wird multipliziert oder frequenzmäßig geteilt, so daß es möglich wird,
ein Signal zu erzeugen, das eine beliebige Frequenz aufweist.
-
Genauer
gesagt, es dient dieser Signalgenerator 19 zum Erzeugen
und Abgeben eines Signals mit einer Frequenz von 999,9 MHz, bei
der es sich um eine Frequenz "fb" eines von dem Steuerbereich 16 angewiesenen
Abtastsignals "b" handelt, und zwar
unter Verwendung des Referenzsignals "e" von 10
MHz, das von dem spannungsgesteuerten Oszillator (VCO) 17 zugeführt wird.
-
Wenn
eine Beziehung zwischen der Frequenz "fb" des
Abtastsignals "b" und der Wiederholungsfrequenz "fa" des getesteten Signals "a" verifiziert wird, und zwar wenn fa
= 10 GHz und fb = 999,9 MHz in die vorstehend beschriebene Formel
(1) eingesetzt werden, erhält
man hierbei das Resultat als 999,9 MHz = (10
GHz/n)–Δf.
-
Somit
ergibt sich die Formel (1) zum Beispiel, wenn n = 10 und Δf = 0,1 MHz
betragen.
-
Ein
Signal mit einer Sinus-Wellenform, das von diesem Signalgenerator 19 abgegeben
wird, wird mittels einer nachfolgenden Wellenform-Abgleichschaltung 20 einer
Wellenform-Abgleichung unterzogen und wird zu einem impulswellenförmigen Abtastsignal "b", das eine Wiederholungsfrequenz "fb" (Wiederholungsperiode
Tb) aufweist, wie diese in 7B gezeigt
ist.
-
Das
Abtastsignal "b" mit der Frequenz "fb", das von diesem
Abtastsignalgenerator 18 abgegeben wird, wird in einen
Elektroabsorptions-Modulator 12 eingespeist.
-
Dieser
Elektroabsorptions-Modulator 12 tastet in der vorstehend
beschriebenen Weise das getestete Signal "a" eines
von einem Leistungsteiler 11 zugeführten optischen Signals mit
Hilfe des Abtastsignals "b" ab, das von der
Abtastsignal-Generatorschaltung 18 zugeführt wird,
und liefert ein getestetes Signal "c" des
abgetasteten optischen Signals an einen Photodetektor 21.
-
Dieser
Photodetektor 21 wandelt das getestete Signal "c" des zugeführten optischen Signals nach
dem Abtasten in ein getestetes Signal "c1" eines
elektrischen Signals um.
-
Das
von dem Photodetektor 21 abgegebene getestete Signal "c1 " wird dann durch
einen Analog-/Digital-Wandler (A/D-Wandler) 22 in das abgetastete
digitale getestete Signal "c2" umgewandelt, und
das umgewandelte Signal wird in einen Datenverarbeitungsbereich 23 eingespeist.
-
Dieser
Datenverarbeitungsbereich 23 berechnet die Hüllwellenform
des zugeführten,
abgetasteten getesteten Signals "c2" und wandelt eine Skala
einer Zeitachse dieser Hüllwellenform
in eine Skala des ursprünglichen
getesteten Signals "a" um. Dann wird eine
Signalwellenform "d" des getesteten Signals "a" an eine Anzeige 24 abgegeben
und auf dieser angezeigt.
-
Bei
der in dieser Weise konfigurierten Wellenform-Meßvorrichtung gemäß dem ersten
Ausführungsbeispiel
kann eine Bedienungsperson dieser Wellenform-Meßvorrichtung eine Wiederholungsfrequenz "fb" eines Abtastsignals "b", die für einen Signalgenerator 19 eines
Abtastsignalgenerators 1 relevant ist, über einen Steuerbereich 16 in
vollständig unabhängiger Weise
von der Wiederholungsfrequenz "fa" des getesteten Signals "a" einstellen.
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In
diesem Fall stimmt eine Phase des Referenzsignals "e", das dem Signalgenerator 19 der
Abtastsignal-Generatorschaltung 18 zugeführt wird, stets
vollständig
mit einer Phase des getesteten Signals "a" überein,
und zwar mittels einer Phasensteuerfunktion einer PLL-Schaltung,
die gebildet ist aus einem Phasenkomparator 14, einem spannungsgesteuerten
Oszillator (VCO) 17 und einem Generator 15 für frequenzsynthetisierte
Signale.
-
Daher
kann bei einer solchen Wellenform-Meßvorrichtung die Frequenz "fb" des Abtastsignals "b" zum Abtasten eines getesteten Signals
unabhängig
von der Wiederholungsfrequenz "fa" des getesteten Signals "a" in beliebiger Weise eingestellt werden.
-
Zusätzlich dazu
ist das Abtastsignal "b" stets mit dem getesteten
Signal "a" synchronisiert,
und somit wird der Betrag von erzeugtem Jitter begrenzt.
-
Bei
einer derartigen Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem ersten
Ausführungsbeispiel
kann somit die Meßgenauigkeit
der Signalwellenform "d" des getesteten Signals "a" verbessert werden, während ein
Betrag an erzeugtem Jitter beträchtlich
eingeschränkt
wird, und die Signalwellenform "d" läßt sich
mit beliebiger Auflösungsgenauigkeit
messen.
-
Zweites Ausführungsbeispiel
-
2 zeigt
ein Blockdiagramm zur Erläuterung
einer schematischen Konfiguration einer Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß einem
zweiten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung.
-
In 2 sind
gleiche Elemente wie bei der Wellenform-Meßvorrichtung des in 1 gezeigten ersten
Ausführungsbeispiels
mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet. Auf eine Wiederholung
der ausführlichen
Beschreibung davon wird an dieser Stelle verzichtet.
-
Bei
der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem zweiten
Ausführungsbeispiel
wird ein getestetes Signal "a1" gemäß elektrischen
Signals, das von einer Taktregenerierungseinrichtung 13 abgegeben wird,
einem Wellenteiler 25 zugeführt.
-
Das
diesem Wellenteiler 25 zugeführte getestete Signal "a1" wird wellenmäßig in zwei
Fragmente geteilt, wobei das eine einem Phasenkomparator 14 zugeführt wird
und das andere in einen Frequenzzähler 26 eingespeist
wird.
-
Dieser
Frequenzzähler 26 mißt eine
Wiederholungsfrequenz "fa" des getesteten Signals "a1" des zugeführten elektrischen
Signals und führt
Daten über
die gemessene Wiederholungsfrequenz "fa" dem
Steuerbereich 16 zu.
-
In
den Frequenzzähler 26 wird
ein Referenzsignal "e" von einem spannungsgesteuerten
Oszillator 17 eingespeist, um einen Zeitpunkt eines Takts (Wellenform)
des getesteten Signals "a1" mit einem Zeitpunkt
einer Taktzählung
zu synchronisieren.
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Der
Steuerbereich 16 stellt eine Wiederholungsfrequenz "fa" des von dem Frequenzzähler 26 zugeführten getesteten
Signals "a1 ", die für einen Generator 15 für frequenzsynthetisierte
Signale relevant ist, als Frequenz eines frequenzsynthetisierten Signals "g" ein, das von dem Generator 15 für frequenzsynthetisierte
Signale abgegeben wird.
-
Der
Generator 15 für
frequenzsynthetisierte Signale liefert somit das frequenzsynthetisierte
Signal mit der Frequenz "a", das mit der Wiederholungsfrequenz
des getesteten Signals "a" identisch ist, wie dies
auch bei dem Generator 15 für frequenzsynthetisierte Signale
bei der Wellenform-Meßvorrichtung gemäß dem in 1 dargestellten
ersten Ausführungsbeispiel
der Fall ist.
-
Die
anschließende
Arbeitsweise ist identisch mit der Arbeitsweise der Wellenform-Meßvorrichtung gemäß dem in 1 dargestellten
ersten Ausführungsbeispiel.
-
Bei
der auf diese Weise konfigurierten Wellenform-Meßvorrichtung gemäß dem zweiten
Ausführungsbeispiel
wird die Wiederholungsfrequenz "fa" des getesteten Signals "a" mit Hilfe eines Frequenzzählers 26 gemessen,
und die gemessene Frequenz wird an dem Generator 15 für frequenzsynthetisierte
Signale eingestellt. Wie bei der vorstehend beschriebenen Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem ersten
Ausführungsbeispiel
kann somit die Signalwellenform "d" des getesteten Signals "a" mit beliebiger Auflösungsgenauigkeit gemessen werden, während das
Ausmaß an
erzeugtem Jitter eingeschränkt
wird.
-
Ferner
kann bei der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem zweiten
Ausführungsbeispiel
selbst bei unbekannter Wiederholungsfrequenz "fa" des
getesteten Signals "a" die Signalwellenform "d" des getesteten Signals "a" korrekt gemessen werden.
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Drittes Ausführungsbeispiel
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3 zeigt
ein Blockdiagramm zur Erläuterung
einer schematischen Konfiguration einer Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß einem
dritten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung.
-
In 3 sind
gleiche Elemente wie bei der Wellenform-Meßvorrichtung gemäß dem in 1 dargestellten
ersten Ausführungsbeispiel
mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet. Auf eine Wiederholung
einer ausführlichen
Beschreibung wird an dieser Stelle verzichtet.
-
Bei
der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem dritten
Ausführungsbeispiel
ist eine Mischvorrichtung 27 zwischen einem Generator 15 für frequenzsynthetisierte
Signale und dem einen Eingangsanschluß eines Phasenkomparators 14 angeordnet.
-
Ein
getestetes Signal "a1" eines elektrischen Signals,
das von einer Taktregenerierungseinrichtung 13 abgegeben
wird, wird in die Mischvorrichtung 27 eingespeist, ohne
in den Phasenkomparator 14 eingespeist zu werden.
-
Ein
spannungsgesteuerter Oszillator (VCO) 17 führt ein
Referenzsignal "e" mit einer Frequenz von
10 MHz einem Referenzsignal-Eingangsanschluß REF des Generators 15 für frequenzsynthetisierte
Signale zu und führt
das Referenzsignal ferner dem anderen Eingangsanschluß (Referenzsignal-Eingangsanschluß REF) des
Phasenkomparators 14 zu.
-
Ferner
wird in den Generator 15 für frequenzsynthetisierte Signale
eine Frequenz, die man erhält
durch Addieren einer Frequenz des Referenzsignals zu einer Wiederholungsfrequenz "fa" des getesteten Signals "a", als Einstellfrequenz von dem Steuerbereich 16 zugeführt.
-
Bei
der auf diese Weise konfigurierten Wellenform-Meßvorrichtung gemäß dem dritten
Ausführungsbeispiel
gibt der Generator 15 für
frequenzsynthetisierte Signale ein frequenzsynthetisiertes Signal "g" mit einer Frequenz ab, die man erhält durch
Addieren einer Frequenz eines Referenzsignals zu der Frequenz "fa" des getesteten Signals "a".
-
Bei
der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem vorliegenden
Ausführungs-beispiel
ist die Wiederholungsfrequenz "fa" des getesteten Signals "a" auf 10 GHz eingestellt, und die Frequenz
eines Referenzsignals "e" ist auf 10 MHz eingestellt.
Von dem Generator 15 für
frequenzsynthetisierte Signale wird somit das frequenzsynthetisierte
Signal "g", das eine Frequenz
von 10 GHz + 10 MHz aufweist, der nachfolgenden Mischvorrichtung 27 zugeführt.
-
Diese
Mischvorrichtung 27 mischt das von dem Generator 15 für frequenzsynthetisierte
Signale abgegebene frequenzsynthetisierte Signal "g" mit dem von der Taktregenerierungseinrichtung 13 abgegebenen
getesteten Signal "a1 ".
-
Ein
Ausgangssignal "j" von dieser Mischvorrichtung 27 beinhaltet
somit eine Phasendifferenzkomponente zwischen dem getesteten Signal "a1" und dem Referenzsignal "g" in dem frequenzsynthetisierten Signal "g".
-
Das
Ausgangssignal "j" von der Mischvorrichtung 27 beinhaltet
nämlich
eine Komponente mit einer Differenzfrequenz (10 MHz) zwischen der
Frequenz (10 GHz + 10 MHz) des frequenzsynthetisierten Signals "g" und einer Frequenz (10 GHz) des getesteten
Signals "a1".
-
Das
Ausgangssignal "j" von dieser Mischvorrichtung 27 wird
dem einen Eingangsanschluß eines Phasenkomparators 14 zugeführt.
-
Dieser
Phasenkomparator 14 detektiert eine Phasendifferenz zwischen
einer Phase des Ausgangssignals "j" der Mischvorrichtung 27 und
einer Phase des Referenzsignals "e" und führt einem
spannungsgesteuerten Oszillator (VCO) 17 ein Phasendifferenzsignal "h" zu.
-
Dieser
spannungsgesteuerte Oszillator (VCO) 17 erzeugt das vorstehend
beschriebene Referenzsignal "e" von 10 MHz und führt das
erzeugte Signal einem Referenzsignal-Eingangsanschluß REF des Generators 15 für frequenzsynthetisierte
Signale sowie einem Referenzsignal-Eingangsanschluß REF des
Phasenkomparators 14 zu.
-
Im
vorliegenden Fall bilden die Mischvorrichtung 27, der Phasenkomparator 14 und
der spannungsgesteuerte Oszillator (VCO) 17 eine PLL-Schaltung.
Eine Phase des von dem spannungsgesteuerten Oszillator (VCO) 17 abgegebenen Referenzsignals "e" ist somit stets mit einer Phase des
getesteten Signals "a1" synchronisiert.
-
Das
von diesem spannungsgesteuerten Oszillator (VCO) 17 abgegebene
Referenzsignal "e" von 10 MHz wird
zu dem jeweiligen Referenzsignal-Eingangsanschluß REF des Generators 15 für frequenzsynthetisierte
Signale und des Phasenkomparators 14 zurückgeführt und
in eine Abtastsignal-Generatorschaltung 18 eingespeist.
-
Diese
Abtastsignal-Generatorschaltung 18 erzeugt ein in 7B dargestelltes
Abtastsignal "b" und führt das
Signal einem Elektroabsorptions-Modulator 12 zu.
-
Die
sich anschließende
Arbeitsweise ist die gleiche wie die Arbeitsweise der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem in 1 gezeigten
ersten Ausführungsbeispiel.
-
Bei
der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem dritten
Ausführungsbeispiel
kann somit wiederum die Signalwellenform "d" des
zugeführten
getesteten Signals "a" gemessen werden.
-
Ferner
ist bei der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem dritten
Ausführungsbeispiel
die Mischvorrichtung 27 zwischen dem Generator 15 für frequenzsynthetisierte
Signale und dem Phasenkomparator 14 angeordnet, so daß eine Frequenzkomponente
des dem Phasenkomparator 14 zugeführten Ausgangssignals "j" von der Mischvorrichtung 27 auf eine
Frequenzkomponente des Referenzsignals "e" vermindert
werden kann. Es besteht somit keine Notwendigkeit, einen zur Ausführung einer
schnellen Verarbeitung ausgelegten Phasenkomparator für den Phasenkomparator 14 zu
verwenden.
-
Die
Kosten der Wellenform-Meßvorrichtung insgesamt
lassen sich somit reduzieren, und die Meßgenauigkeit der zu messenden
Signalwellenform "d" läßt sich
verbessern.
-
Viertes Ausführungsbeispiel
-
4 zeigt
ein Blockdiagramm zur Erläuterung
einer schematischen Konfiguration einer Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß einem
vierten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung.
-
In 4 sind
gleiche Elemente wie bei der Wellenform-Meßvorrichtung gemäß dem zweiten oder
dritten Ausführungsbeispiel,
wie diese in 2 oder 3 dargestellt
sind, mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet. Auf eine Wiederholung
der ausführlichen
Beschreibung wird an dieser Stelle verzichtet.
-
Bei
der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem vierten
Ausführungsbeispiel
sind ein Leistungsteiler 25 und ein Frequenzzähler 26 der
Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem in 2 dargestellten
zweiten Ausführungsbeispiel
der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem in 3 gezeigten dritten
Ausführungsbeispiel
hinzugefügt.
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In
diesem Fall wird ein getestetes Signal "a1",
das von einer Taktregenerierungseinrichtung 13 abgegeben
wird, einem Wellenteiler 25 zugeführt.
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Das
getestete Signal "a1", das diesem Leistungsteiler 25 zugeführt wird,
wird in zwei Fragmente geteilt, von denen das eine einer Mischvorrichtung 27 zugeführt wird
und das andere dem Frequenzzähler 26 zugeführt wird.
-
Dieser
Frequenzzähler 26 mißt eine
Wiederholungsfrequenz "fa" eines getesteten
Signals "a1" eines zugeführten elektrischen
Signals und liefert Daten über
die gemessene Wiederholungsfrequenz "fa" an
den Steuerbereich 16.
-
Der
Steuerbereich 16 stellt eine für den Generator 15 für frequenzsynthetisierte
Signale relevante Frequenz ein, die man erhält durch Addieren einer Frequenz
eines Referenzsignals "e" zu der von dem Frequenzzähler 26 eingegebenen
Wiederholungsfrequenz "fa" des getesteten Signals "a".
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Somit
gibt der Generator 15 für
frequenzsynthetisierte Signale ein frequenzsynthetisiertes Signal "g" mit einer Frequenz ab, die man erhält durch
Addieren der Frequenz des Referenzsignals zu der Wiederholungsfrequenz "fa" des getesteten Signals "a", wie dies auch bei dem Generator für frequenzsynthetisierte
Signale bei der Wellenform-Meßvorrichtung gemäß dem in 3 dargestellten
dritten Ausführungsbeispiel
der Fall ist.
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Bei
der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem vierten
Ausführungsbeispiel
kann somit wie bei der Wellenform-Meßvorrichtung gemäß dem vorstehend
beschriebenen dritten Ausführungsbeispiel
die Signalwellenform "d" des zugeführten getesteten
Signals "a" korrekt gemessen
werden.
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Ferner
kann bei der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem vierten
Ausführungsbeispiel
die Signalwellenform "d" des getesteten Signals "a" selbst dann korrekt gemessen werden,
wenn die Wiederholungsfrequenz "fa" des getesteten Signals "a" unbekannt ist.
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Fünftes Ausführungsbeispiel
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5 zeigt
ein Blockdiagramm zur Erläuterung
einer schematischen Konfiguration einer Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß einem
fünften
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung.
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In 5 sind
gleiche Elemente wie bei der Wellenform-Meßvorrichtung gemäß dem in 1 dargestellten
ersten Ausführungsbeispiel
mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet. Auf eine Wiederholung
der ausführlichen
Beschreibung wird an dieser Stelle verzichtet.
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Bei
der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel
ist ein Frequenzteiler 28 zwischen einer Taktregenerierungseinrichtung 13 und
einem Phasenkomparator 14 angeordnet.
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Dieser
Frequenzteiler 28 hat eine Funktion, ein von der Taktregenerierungseinrichtung 13 abgegebenes
elektrisches Signal "a1" mit einer Frequenz "fa" zu veranlassen,
mit einer Frequenz eines frequenzsynthetisierten Signals "g" zu übereinstimmen, das
von einem Generator 15 für frequenzsynthetisierte Signale
abgegeben wird.
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Auf
diese Weise ist der Frequenzteiler 28 zwischen der Taktregenerierungseinrichtung 13 und dem
Phasenkomparator 14 vorgesehen, so daß keine Notwendigkeit besteht,
dafür zu
sorgen, daß eine Frequenz
des von dem Generator 15 für frequenzsynthetisierte Signale
abgegebenen frequenzsynthetisierten Signals "g" stets
mit einer Frequenz "fa" des getesteten Signals "a" übereinstimmt.
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Bei
der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem vorliegenden,
in 5 dargestellten Ausführungsbeispiel ist die Frequenz "fa" des getesteten Signals "a" auf 40 GHz eingestellt, und eine Frequenz des
frequenzsynthetisierten Signals "g" des Generators 15 für frequenzsynthetisierte
Signale ist auf 10 GHz eingestellt, d.h. auf ein Viertel der Frequenz "fa" des getesteten Signals "a". Hinsichtlich des Frequenzteilungsverhältnisses
des Frequenzteilers 28 ist somit angenommen, daß dieses
auf vier eingestellt ist (d.h. n = 4).
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Sechstes Ausführungsbeispiel
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6 zeigt
ein Blockdiagramm zur Erläuterung
einer schematischen Konfiguration einer Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß einem
sechsten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung.
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In 6 sind
gleiche Elemente wie bei der Wellenform-Meßvorrichtung gemäß dem in 3 dargestellten
dritten Ausführungsbeispiel
mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet. Auf eine Wiederholung
der ausführlichen
Beschreibung wird an dieser Stelle verzichtet.
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Bei
der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel
ist ein Frequenz-Multiplizierer 29 zwischen einem spannungsgesteuerten
Oszillator 17 und einem Phasenkomparator 14 angeordnet.
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Dieser
Frequenz-Multiplizierer 29 hat eine Funktion zum Multiplizieren
einer Frequenz eines von dem spannungsgesteuerten Oszillator 17 abgegebenen
Referenzsignals "e" von 10 Hz, um dadurch die
Frequenz des einem Referenzsignal-Eingangsanschluß REF eines
Phasenkomparators 14 zugeführten Referenzsignals "e" mit einer Frequenz eines Ausgangssignals "j" in Übereinstimmung
zu bringen, das von einer Mischvorrichtung 27 an den Phasenkomparator 14 abgegeben
wird.
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Eine
von einem Steuerbereich 16 an einem Generator 15 für frequenzsynthe-tisierte
Signale einzustellende Frequenz beträgt somit 10 GHz + (N × 10) MHz
anstelle von 10 GHz + 10 MHz, so daß das Ausmaß an Einstellungsfreiheit zunimmt.
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Die
Konfiguration gemäß der vorliegenden Erfindung
ist nicht nur auf die jeweilige Konfiguration der vorstehenden Ausführungsformen
begrenzt.
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Zum
Beispiel ist bei der Wellenform-Meßvorrichtung gemäß jedem
der vorliegenden Ausführungsbeispiele
zwar angenommen, daß es
sich bei dem getesteten Signal "a" um ein optisches
Signal handelt, jedoch kann es sich bei diesem getesteten Signal "a" auch um ein allgemeines elektrisches
Signal handeln.
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In
diesem Fall wird ein dem Elektroabsorptions-Modulator 12 zugeführtes elektrisches
Eingangssignal als getestetes Signal definiert, und ein optisches
Eingangssignal ist als Abtastsignal definiert, so daß sich ein
Abtasten eines elektrischen Signals gewährleisten läßt.
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Dabei
dient eine Abtastsignal-Generatorschaltung 18 als Signalgeneratorschaltung
zum Abgeben eines optischen Signals unter Verwendung einer Lichtquelle
mit kurzen Impulsen oder dergleichen.
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Anstatt
des Elektroabsorptions-Modulators 12 kann ferner eine Abtastschaltung 1 verwendet werden,
die bei einem allgemeinen elektrischen Signal der in 8 und 9 gezeigten
Art Anwendung findet.
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Ferner
wird bei der Wellenform-Meßvorrichtung
gemäß dem dritten
und dem sechsten Ausführungsbeispiel
von dem Generator 15 für
frequenzsynthetisierte Signale zwar ein frequenzsynthetisiertes
Signal "g" abgegeben, das eine
Frequenz eines Referenzsignals aufweist oder eine Frequenz aufweist,
die man erhält
durch Addieren der Frequenz des Referenzsignals multipliziert mit
N-mal (m = N) zu einer Wiederholungsfrequenz "fa" eines
getesteten Signals "a", jedoch kann ohne
Einschränkung darauf
auch ein frequenzsynthetisiertes Signal "g" abgegeben
werden, das eine Frequenz eines Referenzsignals aufweist oder eine
Frequenz aufweist, die man erhält
durch Subtrahieren der Frequenz des Referenzsignals multipliziert
mit N-mal (m = N) von der Wiederholungsfrequenz "fa" des
getesteten Signals "a".
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Wie
vorstehend beschrieben worden ist, wird bei der Wellenform-Meßvorrichtung
ein frequenzsynthetisiertes Signal zum Erzielen einer Wiederholungsfrequenz
eines Abtastsignals unter Verwendung eines Generators für frequenzsynthetisierte
Signale erzeugt, wobei das auf diese Weise erzeugte frequenzsynthetisierte
Signal unter Verwendung einer PLL-Technik stets mit einem getesteten
Signal phasensynchronisiert ist.
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Bei
der Wellenform-Meßvorrichtung
der vorliegenden Erfindung kann somit eine Frequenz eines Abtastsignals
zum Abtasten eines getesteten Signals in beliebiger Weise eingestellt
werden, die Meßgenauigkeit
einer Signalwellenform des getesteten Signals kann verbessert werden,
während
ein Ausmaß an
erzeugten Jittern deutlich eingeschränkt ist, und eine Signalwellenform
kann mit einer beliebigen Auflösungsgenauigkeit
gemessen werden.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung kann somit eine Wellenform-Meßvorrichtung geschaffen werden,
bei der ein frequenzsynthetisiertes Signal zum Erzielen einer Wiederholungsfrequenz
eines Abtastsignals unter Verwendung eines Generators für frequenzsynthetisierte
Signale erzeugt wird und das auf diese Weise erzeugte frequenzsynthetisierte
Signal unter Verwendung einer PLL-Technik stets mit einem getesteten
Signal phasensynchronisiert ist, so daß eine Frequenz eines Abtastsignals
zum Abtasten eines getesteten Signals in beliebiger Weise eingestellt werden
kann, die Meßgenauigkeit
einer Signalwellenform des getesteten Signals verbessert werden kann,
während
ein Ausmaß an
erzeugtem Jitter deutlich eingeschränkt wird, und eine Signalwellenform mit
beliebiger Auflösungsgenauigkeit
gemessen werden kann.