DE4333391C1 - Testsystem für eine Regeneratoreinrichtung - Google Patents

Testsystem für eine Regeneratoreinrichtung

Info

Publication number
DE4333391C1
DE4333391C1 DE19934333391 DE4333391A DE4333391C1 DE 4333391 C1 DE4333391 C1 DE 4333391C1 DE 19934333391 DE19934333391 DE 19934333391 DE 4333391 A DE4333391 A DE 4333391A DE 4333391 C1 DE4333391 C1 DE 4333391C1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
phase
signal
test system
pja
dpm
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE19934333391
Other languages
English (en)
Inventor
Wilhelm Ing Hoschek
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19934333391 priority Critical patent/DE4333391C1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4333391C1 publication Critical patent/DE4333391C1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L1/00Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
    • H04L1/20Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector
    • H04L1/205Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector jitter monitoring

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein Testsystem für eine Regenerator­ einrichtung, von der ein in einem Übertragungsnetz gestörtes Referenzsignal wiederhergestellt wird.
In einem Übertragungsnetz mit einer Vielzahl von Netzknoten werden zu Synchronisationszwecken die einzelnen Netzknoten von einer zentralen Einrichtung mit einem Referenztaktsignal versorgt. Bei der Übertragung auf Leitungen wird das Refe­ renztaktsignal durch Störungen oder Verzerrungen gegenüber seiner ursprünglichen Qualität verändert. Aus diesem Grund sind in den Netzknoten Regeneratoreinrichtungen vorgesehen, die das Referenztaktsignal in seiner ursprünglichen Qualität wiederherstellen. Gemäß der CCITT-Empfehlung G.823 sind in digitalen Übertragungsnetzen bestimmte Anforderungen hin­ sichtlich der Frequenzgenauigkeit der digitalen Signale und des Ausgleichs von Signalstörungen (Jitter, Wander) einzuhal­ ten.
Zur Messung der Eigenschaften von Baugruppen der digitalen Übertragungstechnik hinsichtlich der CCITT-Empfehlung G.823 ist aus "Digitale Übertragungstechnik" von Peter Kahl, 6. Lieferung, R. v. Decker′s Verlag G. Schenk, 1987, Kapitel 3.5.3, Seiten 83 bis 88 eine Meßanordnung für Jittermessungen in digitalen Übertragungssystemen bekannt. Das der Meßan­ ordnung zugeführte Digitalsignal durchläuft eine Phasenmeß­ einrichtung, deren Ausgangssignal zwei parallel angeordneten Bewertungsfiltern zugeführt wird. Die verschiedenen Bewer­ tungsfilter verfügen über unterschiedliche Bandbreiten, so daß mit dem einen Bewertungsfilter tieffrequente Jitteran­ teile und mit dem anderen Bewertungsfilter hochfrequente Jitteranteile des Meßsignals ermittelt werden können.
Es ist die Aufgabe der Erfindung, eine Regeneratoreinrichtung der eingangs genannten Art hinsichtlich der gestellten Anforderungen im digitalen Übertragungsnetz testen zu können.
Diese Aufgabe wird durch das im Patentanspruch 1 angegebene Testsystem gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen des Testsy­ stems sind in den Unteransprüchen angegeben.
Das erfindungsgemäße Testsystem ermöglicht in einem einzigen Gerät die Nachbildung von unterschiedlichen, auf definierte Art und Weise gestörten Referenzsignalen durch einen Phasen­ modulator und die Messung der Phasenlagen des Eingangssignals und des Ausgangssignals der Regeneratoreinrichtung in Bezug auf die Phasenlage eines internen Referenzsignals durch zwei voneinander getrennte Phasenmeßeinrichtungen. Der Phasenmo­ dulator läßt sich durch eine Kontrolleinrichtung mit verschiedenen Steuerfunktionen einstellen.
Durch das Testsystem stehen dem Anwender eine Vielzahl von Steuerfunktionen zur Veränderung des internen Referenzsignals zur Verfügung, um die angeschaltete Regeneratoreinrichtung im Hinblick auf die in der oben genannten CCITT-Empfehlung gestellten Anforderungen überprüfen zu können.
Die Erfindung wird anhand von Figuren näher erläutert. Im einzelnen zeigen
Fig. 1 ein Prinzipschaltbild des erfindungsgemäßen Testsy­ stems,
Fig. 2 ein Prinzipschaltbild des im Testsystem enthaltenen Phasenmodulators und
Fig. 3 Fig. 4 Prinzipschaltbilder der im Testsystem ent­ haltenen Phasenmeßeinrichtungen.
Fig. 1 zeigt das Prinzipschaltbild eines Testsystems PJA, mit dem eine ausgangsseitig angeschaltete Regeneratoreinrich­ tung NFR getestet werden kann. Die Regeneratoreinrichtung NFR ist beispielsweise ein Taktfrequenz-Regenerator, der in den einzelnen Netzknoten eines digitalen Übertragungsnetzes zur Wiederherstellung eines von einer zentralen Einrichtung zur Verfügung gestellten Referenztaktsignals vorgesehen ist.
Das Testsystem PJA weist einen digitalen Phasenmodulator DPM, Phasenmeßeinrichtungen PHM1 und PHM2, eine Kontrolleinrich­ tung CTR und eine Frequenzumsetzeinrichtung FU auf. Eine an das Testsystem PJA eingangsseitig angeschlossene Versorgungs­ einrichtung FN10M liefert ein Referenzsignal vorgegebener Frequenz, das von der Frequenzumsetzeinrichtung FU in das in­ terne Referenzsignal REFI mit einer der Übertragungsbitrate im Übertragungsnetz entsprechenden Referenzfrequenz umgesetzt wird. Für das vorliegende Beispiel beträgt die Übertragungs­ bitrate 2048 kbit/s und die Frequenz 2048 kHz. Darüber hinaus weist das Testsystem PJA eine Schnittstelle SS zum Anschluß von externen Geräten wie beispielsweise eines nicht dargestellten Rechners auf.
Der digitale Phasenmodulator DPM empfängt von der Frequenzum­ setzeinrichtung FU das interne Referenzsignal REFI und er­ zeugt in Abhängigkeit von Steuersignalen SF, die von der Kon­ trolleinrichtung CTR eintreffen, ein Eingangssignal MSI für die angeschlossene Regeneratoreinrichtung NFR. Das Eingangs­ signal MSI entsteht aus dem internen Referenzsignal REFI durch Phasenveränderung abhängig von einer Steuerfunktion, die gemäß den Steuersignalen SF übergeben wird. Auf diese Weise ergibt sich ein simuliertes, dem bei Einsatz im Über­ tragungsnetz gestörten Referenzsignal nachgebildetes und ge­ genüber dem ursprünglichen Referenzsignal verändert es Ein­ gangssignal MSI.
Die jeweiligen Eingangssignale MSI entstehen durch Modulation der Phase des internen Referenzsignals REFI. Diese Phasenmo­ dulation ist abhängig von den verschiedenen Steuerfunktionen, die ein Mikroprozessor in der Kontrolleinrichtung CTR liefert und als Steuersignale SF an den Phasenmodulator DPM übergibt. Damit ist gewährleistet, daß ein auf definierte Art und Weise gestörtes Referenzsignal in Form des Eingangssignals MSI an die Regeneratoreinrichtung NFR angelegt und ein Ausgangssignal MSA gemessen wird.
An den Eingang der Regeneratoreinrichtung NFR ist eine erste Phasenmeßeinrichtung PHM1 parallel angeschaltet, die das von dem Modulator DPM jeweils erzeugte Eingangssignal MSI in Bezug auf das interne Referenzsignal REFI mißt. An den Aus­ gang der Regeneratoreinrichtung NFR ist eine zweite Phasenmeß­ einrichtung PHM2 angeschaltet, die das von der Regenerator­ einrichtung NFR abgegebene Ausgangssignal MSA ebenfalls in Bezug auf das interne Referenzsignal REFI mißt. Die zweite Phasenmeßeinrichtung PHM2 weist daher neben dem Ausgangssi­ gnal MSA der Regeneratoreinrichtung NFR das interne Referenz­ signal REFI als weiteres Eingangssignal auf. Die beiden Phasenmeßeinrichtungen PHM1 und PHM2 ermitteln jeweils eine Phasendifferenz zwischen dem internen Referenzsignal REFI und dem jeweiligen Eingangssignal MSI bzw. dem jeweiligen aus dem Eingangssignal MSI abgeleiteten Ausgangssignal MSA.
Eine Auswertung der ermittelten Phasendifferenzen durch die den beiden Phasenmeßeinrichtungen PHM1 und PHM2 nachgeschal­ tete Kontrolleinrichtung CTR kann unabhängig von der Einstel­ lung der Steuerfunktionen für die jeweilige Modulation durchgeführt werden. Die Anzeige der ermittelten Phasendif­ ferenzen bzw. der Eingangs- und Ausgangssignale MSI und MSA ist dabei über die Schnittstelle SS möglich. Die Kontrollein­ richtung CTR besteht aus einem Single-Chip-Microcontroller und externen Peripheriebausteinen.
Fig. 2 zeigt das Prinzipschaltbild des digitalen Phasenmodu­ lators DPM, von dem die dem gestörten Referenzsignal jeweils nachgebildeten Eingangssignale MSI an die Regeneratoreinrich­ tung abgegeben werden. Der Phasenmodulator DPM besteht im we­ sentlichen aus einer Phasenregelschleife (PLL, Phase-Locked- Loop), in deren Rückkopplungszweig eine digital einstellbare Verzögerungseinrichtung DVZ sich befindet.
Das am Signaleingang 1 eingespeiste interne Referenzsignal REFI, das im allgemeinen ein sinusförmiges Signal ist, wird von einem nachgeschalteten Komparator K in ein Rechteck- Signal umgewandelt. Das rechteckförmige interne Referenz­ signal der Frequenz 2,048 MHz wird über eine Teilerkette, be­ stehend aus in Serie geschalteten Teilereinrichtungen TA und TB, durch Frequenzteilung in ein erstes Vergleichssignal I* mit der Frequenz 32 kHz übergeführt. Eine weitere Teiler­ kette, bestehend aus in Serie geschalteten Teilereinrichtun­ gen TA und TC, liefert ein Ausgangssignal A mit der Frequenz 10,24 kHz, das als Hilfstaktsignal für die Zeitbasis eines internen Mikroprozessors PR zur Einstellung der verschiedenen Steuerfunktionen für die Modulation verwendet wird.
Das am Ausgang des Komparators K abgegebene rechteckförmige interne Referenzsignal REFI bildet auch das Eingangssignal einer parallel zur Teilereinrichtung TA angeordneten Takt­ versorgungseinrichtung HT für die Erzeugung eines hochfre­ quenten Hilfstaktsignals der Frequenz 102,4 MHz. Das Hilfstaktsignal ist erforderlich, um ein eintreffendes Refe­ renzsignal in inkrementellen Verzögerungsstufen von jeweils 9,76 ns in der Phase verändern zu können. Der Phasenhub ist dabei in Stufen von 1/50 UI (Unit Intervall, 1/50 UI=9,76 ns) einstellbar, wobei UI die Periodendauer des rechteckförmigen internen Referenzsignals der Frequenz 2,048 MHz angibt. Zur Erzeugung des Hilfstaktsignals durch die Taktversorgungsein­ richtung HT wird ebenfalls eine Phasenregelschleife (PLL) verwendet, die als Bezugsfrequenz die Frequenz des internen Referenzsignals aufweist.
Die stufenweise Phasenverzögerung erfolgt durch die an den Ausgang der Taktversorgungseinrichtung HT angeschaltete Ver­ zögerungseinrichtung DVZ im Rückkopplungszweig des Phasenre­ gelschleifees. Die Verzögerungseinrichtung DVZ wird vom Mikroprozessor PR und der Taktversorgungseinrichtung HT gesteuert. Die Frequenz des Hilfstaktsignals in Höhe von 102,4 MHz beträgt das 50fache der Frequenz 2,048 Mhz des rechteckförmigen internen Referenzsignals. Dadurch ist der Phasenhub in Schrittweiten von 1/50 UI wählbar. Der Mikropro­ zessor PR steuert die Verzögerung in einem Bereich von 1/50 UI bis 2800/50 UI (= 56 UI). Von der Verzögerungseinrichtung DVZ wird ein zweites Vergleichssignal R* der Frequenz 32 kHz abgegeben.
Ein in dem Phasenregelschleife angeordnet er Phasendetektor PHD empfängt an seinen Eingängen das erste Vergleichssignal I* und das zweite Vergleichssignal R*. Dabei wird im Phasen­ regelschleife das Vergleichssignal R* laufend mit dem Ver­ gleichssignal I* verglichen und über einen nachgeschalteten Tiefpaß TP und einen steuerbaren Oszillator VCO auf Phasen­ differenz Null an den Eingängen des Phasendetektors PHD geregelt. Auf diese Weise entsteht am Signalausgang 2 des Phasenmodulators DPM das ans die Regeneratoreinrichtung abzu­ gebende Eingangssignal MSI mit der Frequenz 2048 kHz und variabler Phasenlage.
Die Steuersignale SF am Eingang des Mikroprozessors PR ent­ halten die Daten und Parameter zur Einstellung der unter­ schiedlichen Steuerfunktionen für die Verzögerungseinrichtung DVZ. Es stehen für das Testsystem folgende Steuerfunktionen zur Verfügung:
  • 1. Ein positiver oder negativer Frequenzversatz zwischen dem internen Referenzsignal REFI am Signaleingang 1 und dem Eingangssignal MSI am Signalausgang 2 durch Frequenzerhöhung oder -verminderung in mehreren Bereichen von 2 Hz bis 0,2 mHz Differenzfrequenz.
  • 2. Eine dreieckförmige Phasenmodulation mit einer Modulations­ frequenz in mehreren Zeitintervallen pro Phasenschritt im Bereich zwischen 10 ms und 100 s bei einem Phasenhub von 0,06 UI bis 56 UI (ein Phasenschritt = 1/50 UI).
  • 3. Eine sinusförmige Phasenmodulation mit einer sinusförmigen Modulationsfrequenz in mehreren Bereichen zwischen 6,3 µHz und 20 Hz bei einem maximalen Phasenhub zwischen 36,9 UI und 1,5 UI.
  • 4. Eine Random-Phasenmodulation mit zufälligen Phasensprüngen innerhalb einer Amplitude von 1 UI. Die Amplitudenänderung wie auch die Zeitintervalle werden von einem Zufallsgenerator gesteuert. Das kürzeste Zeitintervall ist in mehreren Berei­ chen zwischen 10 ms und 100 s wählbar.
  • 5. Ein einmaliger Phasensprung mit einer Amplitude von 10 UI und einer Steilheit von 2 UI/s.
  • 6. Eine trapezförmige Phasenmodulation mit einer Modulations­ frequenz, deren Periodendauer in mehreren Bereichen (12 s, 30 s, 210 s, 2010 s) gewählt werden kann. Der Phasenhub bzw. die Flankensteilheit betragen dabei 10 UI bzw. 2 UI/s.
Bei der dreieckförmigen und sinusförmigen Phasenmodulation nimmt der Phasenmodulator DPM einen in der Mitte des verfüg­ baren Phaseneinstellbereichs liegenden Startwert ein, wobei der Übergang vom Endwert der zuletzt ausgeführten Steuerfunk­ tion zum Startwert der neuen Steuerfunktion rampenförmig mit einer Steilheit von 2 UI/s verläuft. Darüber hinaus ist es möglich, eine Folge mehrerer Steuerfunktionen, insbesondere einen positiven und einen negativen Frequenzversatz mit einer dazwischenliegenden Pause, aufeinanderfolgend in einer Sequenz durch den Mikroprozessor PR einzustellen.
Wegen der hohen Taktfrequenz des von der Taktversorgungsein­ richtung HT abgegebenen Hilfstaktsignals ist die Verzöge­ rungseinrichtung DVZ aus ECL-Bausteinen aufgebaut. Die Abgabe jeweils eines 9,76 ns-Impulses pro Verzögerungsschritt er­ folgt durch einen Vorwahlzähler, der von einem jeweils vorge­ wählten Startwert bis zu einem Maximalwert zählt und an­ schließend den Impuls abgibt.
Dem Phasendetektor PHD, der beispielsweise als Flip-Flop- Schaltung ausgebildet ist, ist ein EXOR-Glied EX zur Verknüp­ fung des ersten Vergleichssignals I* am Ausgang der Teiler­ einrichtung TB mit einem Polaritätssignal P, das vom Mikro­ prozessor PR bereitgestellt wird, vorgeschaltet. Das Polari­ tätssignal P wird nur bei den Steuerfunktionen, die einen po­ sitiven oder negativen Frequenzversatz bewirken, abgegeben.
Bei diesen Funktionen wäre es erforderlich, die Phasenver­ schiebung von 0 bis 64 UI durchzuführen und bei Erreichen des Maximalwerts von 64 UI die Verzögerungseinrichtung DVZ auf den Startwert 0 einzustellen. Bei der Umschaltung auf den Startwert darf möglichst keine Totzeit entstehen (< 10 ns), was praktisch nur schwierig durchführbar ist. Aus diesem Grund wird die Verzögerungseinrichtung DVZ bereits nach 32 UI auf den Startwert gesetzt und das Polaritätssignal P einge­ führt, das eine Umpolung das ersten Vergleichssignals I* durch das EXOR-Glied EX zur Folge hat.
Im Rückkopplungszweig des Phasenregelschleifees ist an den Ausgang des Phasendetektors PHD der als aktives Filter ausgebildete Tiefpaß TP und an dessen Ausgang der Spannungs­ gesteuerte Oszillator VCO mit der Frequenz 16 384 kHz ange­ schlossen. Durch eine Frequenzteilung des Oszillatorsignals in einer nachgeschalteten Teilereinrichtung TD entsteht am Signalausgang 2 das um einen eingestellten Phasenhub gegen­ über dem am Signaleingang 1 eingespeisten internen Referenz­ signal REFI veränderte Eingangssignal MSI derselben Frequenz.
Das am Ausgang der Teilereinrichtung TD abgegebene Signal wird über eine in Serie geschaltete weitere Teilereinrichtung TE auf die Verzögerungseinrichtung DVZ rückgeführt und damit die Phasenregelschleife geschlossen. Durch die Teilerein­ richtung TE ergibt sich ein Rücksignal R der Frequenz 32 kHz, das durch die Verzögerungseinrichtung DVZ entsprechend der jeweils eingestellten Steuerfunktion stufenweise in der Phase verändert wird. Die Einstellung der Verzögerungseinrichtung DVZ erfolgt programmgesteuert, wobei aus dem Rücksignal R ein Ladeimpuls für einen digitalen Phasenschieber abgeleitet wird. Das am Signalausgang 2 über einen nicht dargestellten Pufferverstärker an die nachgeschaltete Regenerator­ einrichtung weitergegebene Ausgangssignal MSA ist ein CMOS- Rechtecksignal.
Fig. 3 zeigt das Prinzipschaltbild der ersten Phasenmeßein­ richtung PHM1. Sie weist an einem Signaleingang 3 für das zu­ geführte interne Referenzsignal REFI eine erste Reihenschal­ tung aus einer Verstärkereinrichtung VR1 und einer Teiler­ einrichtung TR1, sowie an einem parallelen Signaleingang 4 eine weitere Serienschaltung aus einer Verstärkereinrichtung VS1 und einer Teilereinrichtung TS1 auf. Der Ausgang der Ver­ stärkereinrichtung VR1 und die Ausgänge der Teilereinrichtung TR1 sind zu den Eingängen einer angeschlossenen Multi­ plexeinrichtung MUX1R geführt, während der Ausgang der Ver­ stärkereinrichtung VS1 und die Ausgänge der Teilereinrichtung TS1 zu den Eingängen einer angeschalteten Multiplexeinrich­ tung MUX1S führen. Die jeweiligen Teilereinrichtungen TR1 und TS1 sind getrennt voneinander einstellbar.
Die jeweiligen Multiplexeinrichtungen MUX1R und MUX1S dienen der Umschaltung zwischen verschiedenen Meßbereichen entspre­ chend ihrer Eingänge 1UI, 4UI, 16UI und 64UI. Die Durchschal­ tung eines der Eingänge auf den jeweiligen Ausgang der Multiplexeinrichtung MUX1R bzw. MUX1S wird von einer gemein­ samen Zählereinrichtung Z1 gesteuert, die entsprechend der 4 : 1-Multiplexeinrichtungen von einem 2-Bit-Zähler gebildet wird.
Die Ausgänge der beiden Multiplexeinrichtungen MUX1R und MUX1S sind auf einen zugehörigen Phasenvergleicher PD1 zur Ermittlung der Phasendifferenz zwischen dem am Signaleingang 3 anliegenden internen Referenzsignal REFI und dem am Signal­ eingang 4 anliegenden Eingangssignal MSI geführt. An den Pha­ senvergleicher PD1 ist ein Ausgangstiefpaß TP1 angeschaltet, der an seinem Signalausgang 5 die von der Phasenmeßeinrich­ tung PHM1 ermittelte Phasendifferenz an die Kontrolleinrich­ tung gemäß Fig. 1 abgibt.
Fig. 4 zeigt das Prinzipschaltbild der zweiten Phasenmeßein­ richtung PHM2, die in gleicher Art und Weise wie die erste Phasenmeßeinrichtung PHM1 aufgebaut ist. Die Phasenmeßein­ richtung PHM2 weist an einem Signaleingang 6 für das interne Referenzsignal REFI eine Serienschaltung aus einer Verstärke­ reinrichtung VR2 und einer Teilereinrichtung TR2, sowie an einem Signaleingang 7 für das von der Regeneratoreinrichtung abgegebene Ausgangssignal MSA eine weitere Reihenschaltung aus einer Verstärkereinrichtung VS2 und einer Teilereinrich­ tung TS2 auf. Die Ausgänge der Verstärkereinrichtungen VR2 und VS2 und die Ausgänge der Teilereinrichtungen TR2 und TS2 sind mit den Eingängen zugehöriger Multiplexeinrichtungen MUX2R und MUX2S verbunden.
Für die Auswahl des geeigneten Meßbereichs zwischen den Ein­ gängen 1UI, 4UI, 16UI und 64UI sorgt eine ebenfalls als 2- Bit-Zähler ausgebildete Zählereinrichtung Z2. Der Phasenver­ gleicher PD2, der an die Ausgänge der beiden Multiplexein­ richtungen MUX2R und MUX2S angeschlossen ist, liefert eine Phasendifferenz zwischen den an den Signaleingängen 6 und 7 anliegenden Eingangssignalen. Diese Phasendifferenz wird über einen Ausgangstiefpaß TP2 und den Signalausgang 8 geführt, der mit dem Eingang der Kontrolleinrichtung gemäß Fig. 1 verbunden ist.
Nach dem Einschalten des erfindungsgemäßen Testsystems wird der zuletzt eingestellte Meßbereich in den Phasenmeßeinrich­ tungen PHM1 und PHM2 automatisch rückgesetzt. Die Multiplex­ einrichtungen MUX1R und MUX2R sind derart angeschlossen, daß sich der Meßbereich entsprechend dem Eingang 4UI einstellt. Nicht dargestellt sind Steuerleitungen, die von den Phasenmeß­ einrichtungen PHM1 und PHM2 an die Kontrolleinrichtung gemäß Fig. 1 geführt sind, um der Kontrolleinrichtung den ausge­ wählten Meßbereich anzuzeigen.
Die Phasenmeßeinrichtungen PHM1 und PHM2 ermöglichen die Mes­ sung der Phasendifferenzen über einen weiten Eingangsfre­ quenzbereich von etwa 100 kHz bis 5 MHz. Die Meßbereiche sind für jeden Meßkanal getrennt einstellbar. Auf diese Weise ist eine Auswertung der gemessenen Phasendifferenzen durch die Kontrolleinrichtung gemäß Fig. 1 gleichzeitig mit und unabhängig von den eingestellten Steuerfunktionen für den Phasenmodulator durchführbar. Eine Anzeige der Meßwerte kann über die Kontrolleinrichtung und die zugehörige Schnittstelle zu einem extern angeschlossenen Rechner erfolgen.

Claims (9)

1. Testsystem (PJA) für eine Regeneratoreneinrichtung (NFR), die zur Wiederherstellung eines in einem Übertragungsnetz ge­ störten Referenzsignal vorgesehen ist, gekennzeichnet durch
  • - einen Phasenmodulator (DPM) zur Erzeugung von dem gestörten Referenzsignal jeweils nachgebildeten Eingangssignalen (MSI) für die Regeneratoreinrichtung (NFR),
  • - eine erste Phasenmeßeinrichtung (PHM1) zur Ermittlung der Phasendifferenz zwischen einem internen Referenzsignal (REFI) und dem jeweiligen Eingangssignal (MSI) der Regene­ ratoreinrichtung (NFR) und eine zweite Phasenmeßeinrichtung (PHM2) zur Ermittlung der Phasendifferenz zwischen dem in­ ternen Referenzsignal (REFI) und dem jeweils von der Rege­ neratoreinrichtung (NFR) abgegebenen, aus dem jeweiligen Eingangssignal (MSI) abgeleiteten Ausgangssignal (MSA) und
  • - eine Kontrolleinrichtung (CTR) zur Steuerung des Phasenmo­ dulators (DPM) mit unterschiedlichen Steuerfunktionen.
2. Testsystem (PJA) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Phasenmodulator (DPM) eine Phasenregelschleife mit einer im Rückkopplungszweig angeordneten Verzögerungseinrich­ tung (DVZ) zur stufenweisen Phasenverzögerung des dem Pha­ senmodulator (DPM) zugeführten internen Referenzsignals (REFI) aufweist und
daß von der Phasenregelschleife ein von der Verzögerungseinrichtung (DVZ) abgegebenes Vergleichssi­ gnal (R*) mit einem aus dem internen Referenzsignal (REFI) abgeleiteten Vergleichssignal (I*) verglichen und auf eine Phasendifferenz Null an den Eingängen eines Phasendetektors (PHD) geregelt wird.
3. Testsystem (PJA) nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Phasenmodulator (DPM) eine Taktversorgungseinrich­ tung (HT) zur Erzeugung eines Hilfstaktsignals für die Verzö­ gerungseinrichtung (DVZ) aufweist.
4. Testsystem (PJA) nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Phasenmodulator (DPM) eine erste Teilerkette, beste­ hend aus in Serie geschalteten Teilereinrichtungen (TA und TB), zur Erzeugung des ersten Vergleichssignals (I*) und im Rückkopplungszweig der Phasenregelschleife eine zweite Teilerkette, bestehend aus in Serie geschalteten Teilerein­ richtungen (TD und TE), zur Erzeugung eines Rücksignals (R) für die Verzögerungseinrichtung (DVZ) aufweist.
5. Testsystem (PJA) nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß im Rückkopplungszweig der Phasenregelschleife an den Ausgang des Phasendetektors (PHD) ein Tiefpaß (TP) und an den Ausgang des Tiefpasses (TP) ein Oszillator (VCO) angeschaltet ist.
6. Testsystem (PJA) nach einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß an die Verzögerungseinrichtung (DVZ) des Phasenmodulators (DPM) die Kontrolleinrichtung (CTR) zur Einstellung der stufenweisen Phasenverzögerung angeschaltet ist.
7. Testsystem (PJA) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Phasenmeßeinrichtungen (PHM1 und PHM2) gleichartig aufgebaut sind.
8. Testsystem (PJA) nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß zur Einstellung von mehreren Meßbereichen jede Phasenmeß­ einrichtung (PHM1, PHM2) eine Teilereinrichtung (TR1, TR2) für das zugeführte interne Referenzsignal (REFI) und eine Teiler­ einrichtung (TS1, TS2) für das zugeführte Eingangssignal (MSI) bzw. Ausgangssignal (MSA) aufweist,
daß mit den Teilereinrichtungen (TR1 und TS1, TR2 und TS2) der jeweiligen Phasenmeßeinrichtung (PHM1, PHM2) parallel geschal­ tete Multiplexeinrichtungen (MUX1R und MUX1S, MUX2R und MUX2S) zur gleichzeitigen Auswahl eines Meßbereichs verbunden sind und
daß an die Multiplexeinrichtungen (MUX1R und MUX1S, MUX2R und MUX2S) ein zugehöriger Phasenvergleicher (PD1, PD2) zur Er­ mittlung der jeweiligen Phasendifferenz angeschaltet ist.
9. Testsystem (PJA) nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die jeweilige Phasenmeßeinrichtung (PHM1, PHM2) einen Zäh­ ler (Z1, Z2) zur Steuerung der zugehörigen Multiplexeinrich­ tungen (MUX1R und MUX1S, MUX2R und MUX2S) aufweist.
DE19934333391 1993-09-30 1993-09-30 Testsystem für eine Regeneratoreinrichtung Expired - Fee Related DE4333391C1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19934333391 DE4333391C1 (de) 1993-09-30 1993-09-30 Testsystem für eine Regeneratoreinrichtung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19934333391 DE4333391C1 (de) 1993-09-30 1993-09-30 Testsystem für eine Regeneratoreinrichtung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE4333391C1 true DE4333391C1 (de) 1995-02-09

Family

ID=6499101

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19934333391 Expired - Fee Related DE4333391C1 (de) 1993-09-30 1993-09-30 Testsystem für eine Regeneratoreinrichtung

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE4333391C1 (de)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5875397A (en) * 1996-12-10 1999-02-23 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson Communications system and method for testing of a communications apparatus
US6011830A (en) * 1996-12-10 2000-01-04 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson Operational test device and method of performing an operational test for a system under test
EP1039310A2 (de) * 1999-03-26 2000-09-27 Wavetek Wandel Goltermann Eningen GmbH &amp; Co. Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen eines Jittergenerators
US6185419B1 (en) 1996-12-10 2001-02-06 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson Communications system and method for testing of a communications apparatus
DE19644283B4 (de) * 1995-10-24 2005-12-08 Advantest Corp. Verzögerungszeit-Meßvorrichtung für eine Verzögerungsschaltung
WO2010031412A1 (en) * 2008-09-17 2010-03-25 Verigy (Singapore) Pte. Ltd. Test system for testing a signal path and method for testing a signal path

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Kahl, Peter (Hrsg.): Digitale Übertragungs- technik, 6. Lieferung, R.v. Decker's Verlag G. Schenk, 1987, Kapitel 3.5.3, S. 83-88 *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19644283B4 (de) * 1995-10-24 2005-12-08 Advantest Corp. Verzögerungszeit-Meßvorrichtung für eine Verzögerungsschaltung
US5875397A (en) * 1996-12-10 1999-02-23 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson Communications system and method for testing of a communications apparatus
US6011830A (en) * 1996-12-10 2000-01-04 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson Operational test device and method of performing an operational test for a system under test
US6185419B1 (en) 1996-12-10 2001-02-06 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson Communications system and method for testing of a communications apparatus
EP1039310A2 (de) * 1999-03-26 2000-09-27 Wavetek Wandel Goltermann Eningen GmbH &amp; Co. Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen eines Jittergenerators
EP1039310A3 (de) * 1999-03-26 2001-09-26 Acterna Eningen GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen eines Jittergenerators
WO2010031412A1 (en) * 2008-09-17 2010-03-25 Verigy (Singapore) Pte. Ltd. Test system for testing a signal path and method for testing a signal path

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3841512C2 (de)
DE19838096C2 (de) Fraktionaler Phasenregelkreis
DE69732085T2 (de) Anordnung und Verfahren zur Phasenmessung
DE69027493T2 (de) Digitaler Zeitbasisgenerator mit einstellbarer Verzögerung zwischen zwei Ausgängen
DE19644283B4 (de) Verzögerungszeit-Meßvorrichtung für eine Verzögerungsschaltung
DE60109912T2 (de) Taktphasensteuerung auf phasenregelkreisbasis zur implementierung einer virtuellen verzögerung
DE3538856A1 (de) Digitaler Phasendetektor
DE3332152C2 (de)
DE2735642C2 (de) Phasenverriegelungsschleife
DE2836723A1 (de) Zeitsteuerschaltung
DE69312522T2 (de) Phasendetektor und Verfahren zum Synchronisieren des Bittaktes in einem PLL
DE3027653C2 (de) Frequenz-Synthesizer
DE4229148A1 (de) Digitaler Phasenkomparator und Phasenregelkreis
DE4333391C1 (de) Testsystem für eine Regeneratoreinrichtung
DE4008781C2 (de) Phasenregelschleife mit Phasenschlupfsteuerung
DE60114438T2 (de) Kalibrierung der bandbreite einer frequenzregelschleife
DE69128509T2 (de) Zeitgeber
DE69033458T2 (de) Digital synchronisierte Quelle für ein Wobbelsignal
DE2832222C2 (de) Vorrichtung zum Simulieren von Bezugssignalen eines ILS-Gleitweg- oder Kurssenders
DE3448185C2 (de)
EP0630129A2 (de) Verfahren zur Erzeugung eines synchronisierten Taktes mit einer Schaltungsanordnung für einen regelbaren Oszillator
DE2513948A1 (de) Dekadisch einstellbarer frequenzgenerator mit einer phasengerasteten regelschleife
DE3538858A1 (de) PLL-Frequenzsynthesizer
DE3615952A1 (de) Taktgenerator fuer digitale demodulatoren
DE69016506T2 (de) Digitale phasenverriegelte Schleife.

Legal Events

Date Code Title Description
8100 Publication of the examined application without publication of unexamined application
D1 Grant (no unexamined application published) patent law 81
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee