DE60025937T2 - Jitterarmer phasenregelkreis mit steuerung des tastverhältnisses - Google Patents

Jitterarmer phasenregelkreis mit steuerung des tastverhältnisses Download PDF

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Description

  • Die vorliegende Anmeldung betrifft allgemein automatische Testausrüstung und insbesondere Zeitsteuerungsschaltungen zur Prüfung von Elektronik in automatischen Testsystemen.
  • Jüngste Entwicklungen bei Mischsignal-Produkten für Multimedia-Video, Datenumwandlung und das Internet haben die Nachfrage nach schnelleren, genaueren und komplexeren Systemen zur Prüfung dieser Produkte angespornt. "Mischsignal"-Produke stellen eine Mischung aus analoger und digitaler Funktionalität bereit und weisen zum Beispiel Analog/Digital-Umsetzer, Digital/Analog-Umsetzer, Modems, Steuereinrichtungen für Speicherplattenlaufwerke, Senderempfänger-Übertragungsstrecken, digitale Rundfunkgeräte und Hochgeschwindigkeitsinterpolatoren auf. Um Mischsignal-Produkte zu prüfen, versorgt eine automatische Testausrüstung (ATE) im allgemeinen sowohl analoge als auch digitale Prüfressourcen, oftmals gleichzeitig und mit hoher Geschwindigkeit. EP 0 709 967 offenbart eine Schaltung zur Erreichung hoher Geschwindigkeiten zum Beispiel unter Verwendung von CMOS-Technik.
  • 1 stellt einen Aufbau zur Prüfung eines Analog/Digital-Umsetzers (ADC), eines geläufigen Mischsignal-Produkts, dar. Eine zu prüfende Einheit (UUT) 112 weist einen ADC 114 auf, der mit einem Testsystem 110 verbunden ist. Das Testsystem legt ein analoges Signal an den ADC über eine analoge Quelle 116 an und empfängt digitale Codes vom ADC über die digitale Ein-/Ausgabeeinrichtung (I/O) 120. Ein Taktgeber 118 übergibt ein Taktsignal an den ADC 114. Wenn der ADC richtig arbeitet, stellen die durch den ADC erzeugten digitalen Codes die Zustände des analogen Signals zu Zeitpunkten dar, die durch den Taktgeber 118 definiert werden. Bei jeder aktiven Flanke des Taktgebers 118 führt der ADC eine neue Umsetzung des analogen Signals durch und erzeugt einen neuen digitalen Ausgabewert – ein Vorgang, der als "Abtastung" bezeichnet wird. Normalerweise weist das Testsystem 110 auch einen Computer (nicht abgebildet) auf, der die digitalen Werte von der Digital-I/O 120 liest und prüft, um nachzuweisen, daß der ADC richtig arbeitet.
  • Die Prüfung von Mischsignal-Vorrichtungen wie etwa des ADC von 1 schließt üblicherweise die Änderung der Frequenz des Abtast-Taktsignals ein, um sich der maximalen spezifizierten Arbeitgeschwindigkeit der Vorrichtung anzunähern oder sie zu überschreiten. Wir haben erkannt, daß es ebenfalls erwünscht wäre, das Tastverhältnis und die Impulsbreite des Abtast-Taktsignals zu ändern. Mischsignal-Vorrichtungen spezifizieren oft Eigenschaften wie etwa Rauschabstand (SNR) und Verzerrung. Diese Eigenschaften ändern sich als eine Funktion des Tastverhältnisses oder der Impulsbreite des angelegten Abtasttaktes. Die Fähigkeit, das Tastverhältnis und die Impulsbreite des Abtasttaktes zu ändern, würde folglich die Mischsignal-Prüfung und -Charakterisierung unterstützen.
  • Wie alle elektronischen Vorrichtungen erzeugen Mischsignal-Vorrichtungen von Natur aus ein Rauschen. Wie in 2b gezeigt, erzeugt ein ADC, der ein Eingangssignal empfängt, das aus drei reinen Tönen besteht, ein Leistungsspektrum, das diese drei Töne erkennen läßt, zuzüglich einer Vielzahl von Rauschkomponenten. Verglichen mit diesem tatsächlichen Leistungsspektrum erzeugt das in 2a gezeigte Leistungsspektrum eines idealen, theoretischen ADC kein Rauschen.
  • Eine der Möglichkeiten, wie sich das Rauschen in ATE-Systemen äußert, ist in Form von "Jitter" im Taktsignal. "Jitter" ist ein Taktungsfehler eines periodischen Signals, meßbar in Sekunden und beobachtbar als zufällige zeitliche Verschiebungen der Signalflanken von Takt zu Takt relativ zu ihren idealen oder mittleren Positionen.
  • 3-5 stellen die Auswirkungen von Jitter auf digitale Werte dar, die von einem idealen ADC abgerufen werden, der auf die in 1 gezeigte Weise konfiguriert ist. 3 stellt einen idealen Fall dar: Ein reiner Ton 318 wird durch den idealen ADC mit einem jitterfreien Taktsignal 312 abgetastet, um eine diskrete Taktdarstellung 310 zu erzeugen. Da es keinen Jitter gibt, ist die Abtastperiode 316 zwischen zwei beliebigen benachbarten Taktimpulsen vollkommen regelmäßig. In 4 tastet der gleiche ideale ADC den gleichen reinen Ton 318 ab; der Abtast-Takt unterliegt jedoch Jitter. Der Jitter erscheint als Unregelmäßigkeit in den Intervallen zwischen benachbarten Impulsen 416 des Taktsignals 412. Obwohl die abgetasteten Werte 414 die Werte des Eingangstons 318 in dem Moment, an dem der Abtastwert aufgenommen wird, perfekt darstellen, ist der Abstand zwischen den abgetasteten Werten 414 unregelmäßig.
  • 5 stellt die Auswirkung des Jitters von 4 auf ein herkömmliches Testsystem dar. Die abgetasteten Daten 510 sind die gleichen wie die Daten 410 von 4, abgesehen davon, daß die Daten in einen regelmäßigen Abstand gebracht worden sind. Ohne eine Möglichkeit zur Korrektur des Taktjitters wird ein ATE-System die abgetasteten Daten verarbeiten, so als würden die Flanken regelmäßig auftreten – genau wie in 5 gezeigt. Im Gegensatz zum perfekten Ton 318, der abgetastet wurde, enthalten die Ausgangswerte 510 Rauschen. Soweit die ATE bestimmen kann, sind die Auswirkungen des Taktjitters vom Amplitudenrauschen im ADC oder einer analogen Quelle nicht zu unterscheiden.
  • Frühere Methoden haben versucht, den Jitter bei der Mischsignal-Prüfung zu verringern. Gemäß einer Methode wird ein frei schwingender Kristalloszillator anstelle des ATE-Taktgebers 118 verwendet. Der frei schwingende Kristall ist auf eine Weise, die der von 1 ähnelt, direkt mit dem Takteingang der UUT verbunden. Kristalloszillatoren sind von Natur aus stabil und sind mit sehr wenig Jitter erhältlich. Darum verringert die Methode mit frei schwingendem Kristalloszillator den durch die ATE hervorgerufenen Jitter.
  • Weil der Kristalloszillator frei schwingt, ist seine Periode jedoch nicht von selbst mit der Periode des ATE-Taktgebers synchronisiert, das heißt, die beiden Takte sind nicht "kohärent". Der ADC nimmt bei jeder aktiven Flanke des Kristalloszillators eine neue Umwandlung vor, aber die Digital-I/O 120 fragt Werte vom ADC unter Steuerung eines getrennten, nämlich des ATE-Taktgebers ab. Die Nicht-Kohärenz fügt den abgetasteten Daten Rauschen hinzu.
  • 6a zeigt das Leistungsspektrum eines reinen Tons, der durch einen idealen ADC abgetastet und durch einen idealen Kristalloszillator getaktet, aber durch einen nicht-kohärenten ATE-Taktgeber gelesen wurde. Das resultierende Leistungsspektrum offenbart ausgeprägte "Ränder" um den Eingangston herum. 6b zeigt ein Leistungsspektrumn, das unter identischen Bedingungen erworben wurde, ausgenommen, daß die beiden Takte kohärent sind. Verglichen mit dem durch die kohärenten Takte erzeugten Leistungsspektrum ist das durch die nicht-kohärenten Takte erzeugte Leistungsspektrum breiter. Das breitere Spektrum benötigt mehr Zeit zur Verarbeitung und reduziert somit den Durchsatz des Testers.
  • Mit der Methode des frei schwingenden Takts werden auch Fehler durch "Windowing" des Eingangssignals eingeführt. "Windowing" ist ein bekannter DSP-Algorithmus, bei dem Daten über ein vorbestimmtes Zeitintervall gesammelt und Abtastwert für Abtastwert durch eine Fensterfunktion vervielfacht werden. Die Methode des frei schwingenden Takts erfordert Windowing, weil die analoge Quelle 116 nicht von selbst mit dem Takt des ADC synchronisiert ist. Somit hat die ATE keine direkte Kontrolle darüber, wann eine komplette Periode des Eingangssignals abgetastet worden ist. Das Windowing schneidet periodische Signale mittendrin ab und verzerrt das Leistungsspektrum abgetasteter Signale.
  • Ein zweiter Ansatz zur Verringerung des Taktjitters wird von Fang Xu in der internationalen Patentanmeldung PCT/US 97/10753 offenbart, die am 26. Juni 1997 angemeldet, am 30. Dezember 1998 veröffentlicht und auf Teradyne, Inc. übertragen wurde. In dieser Anmeldung offenbart Xu ein Bandfilter hoher Güte, das aus einer Anordnung von Übertragungsstrecken-Stichleitungen von einem Viertel Wellenlänge gebildet wird. Das Filter ist in Reihe zwischen einen digitalen Kanal der ATE (oder einer anderen Signalquelle) und der UUT geschaltet. Xus Filter funktioniert, indem er eine vorbestimmte Basisfrequenz und ihre ungeraden Harmonischen durchläßt, aber alle anderen Frequenzen dämpft. Perfekte Rechteckwellen enthalten nur ungerade Harmonische. Somit läßt Xus Filter Rechteckwellen ungedämpft durch. Andere Tastverhältnisse als 50% entsprechen jedoch geraden Harmonischen, und Xus Filter eliminiert sie. Da Jitter zufälligen Änderungen im Tastverhältnis gleicht, verringert Xus Filter Jitter, während er die Rechteckwellenform und Flankensteilheit erhält.
  • Weil seine Frequenzantwort durch die Geometrie seiner Bestandteile festgelegt ist, arbeitet Xus Filter im allgemeinen nur auf einer Frequenz. Diese Begrenzung wirkt sich negativ auf die ATE-Programme aus, die Vorrichtungen vorzugsweise über einen Bereich von Betriebsbedingungen prüfen. Wenngleich es möglich ist, Xus Filter zu modifizieren, so daß er variable Frequenzen erzeugt, sind die modifizierten Filter ziemlich groß. Xus Filter werden außerdem für niederfrequente Signale größer. Da in ATE-Systemen Platz nahe der UUT häufig knapp ist, ist Xus Filter dort unzweckmäßig, wo niedrige oder variable Frequenzen erwünscht sind. Obendrein blockiert Xus Filter eigens Tastverhältnisse, die sich von 50% unterscheiden, und ist somit für Anwendungen ungeeignet, in denen Benutzer das Tastverhältnis ändern möchten.
  • Unter Beachtung des vorhergehenden Hintergrunds ist es eine Aufgabe der Erfindung, einen Taktgeber mit steuerbarem Tastverhältnis bereitzustellen.
  • Es ist eine weitere Aufgabe der Erfindung, eine unabhängige Steuerung der Vorder- und Hinterflanken des Takts bereitzustellen.
  • Eine weitere Aufgabe ist die Verringerung des Jitters sowohl an den Vorder- als auch an den Hinterflanken des Takts.
  • Noch eine weitere Aufgabe ist die Synchronisierung der Aktivitäten der ATE, um die Kohärenz des Testers zu begünstigen.
  • Um die vorhergehenden Aufgaben und andere Aufgaben und Vorteile zu erreichen, wird eine Zeitsteuerungsschaltung bereitgestellt wie in Anspruch 1 definiert. Die Zeitsteuerungsschaltung verringert den Jitter des Eingangstakts wesentlich und steuert das Tastverhältnis des Ausgangstakts.
  • Gemäß der Erfindung wird ein entsprechendes Verfahren zur Erzeugung eines jitterarmen Taktsignals bereitgestellt wie in Anspruch 15 definiert.
  • Optionale Merkmale der Erfindung werden durch die abhängigen Ansprüche 2 bis 14 und 16 bis 23 definiert.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Die Erfindung wird durch Bezugnahme auf die folgende ausführlichere Beschreibung und die beigefügten Zeichnungen besser verstanden, wobei diese zeigen
  • 1 ist ein Blockschaltbild eines Mischsignal-Prüfaufbaus gemäß dem Stand der Technik;
  • 2A und 2B sind Diagramme, die die Leistungsspektren eines Signals ohne Rauschen (2A) und mit Rauschen (2B) darstellen;
  • 3 ist ein Diagramm, das die diskrete Abtastung eines reinen Tons mit einem Null-Jitter-Takt darstellt;
  • 4 ist ein Diagramm, das die diskrete Abtastung des reinen Tons von 3 mit einem Takt darstellt, der Jitter hat;
  • 5 ist ein Diagramm, das die Auswirkung von Jitter auf den abgetasteten Ton von 3 zeigt;
  • 6A und 6B zeigen die Auswirkung der Taktkohärenz auf Leistungsspektren eines abgetasteten reinen Tons. Die Takte sind in 6B kohärent und in 6A nicht-kohärent;
  • 7 ist ein Blockschaltbild einer Zeitsteuerungsschaltung, die gemäß der Erfindung aufgebaut ist;
  • 8a ist eine schematische Ansicht des Kombinators von 7;
  • 8b ist ein Zeitsteuerungsdiagramm des Kombinators von 8a;
  • 9 ist ein Blockschaltbild der PLLs von 7;
  • 10 ist ein Blockschaltbild des Oszillators von 9;
  • 11A ist eine schematische Ansicht des Phasendetektors von 9;
  • 11B ist eine schematische Ansicht der Filterschaltung von 9;
  • 12A ist ein Blockschaltbild des ersten Frequenzteilers von 9;
  • 12B ist ein Blockschaltbild des Selektors von 9;
  • 13 ist ein Blockschaltbild eines Lock-Detektors, der in Verbindung mit der Zeitsteuerungsschaltung von 7 verwendet wird;
  • 14 ist ein Zeitsteuerungsdiagramm, das die durch die Zeitsteuerungsschaltung von 7 durchgeführte Regeneration eines Eingangstaktsignals zeigt, wobei der regenerierte Takt das Tastverhältnis des Eingangstakts erhält;
  • 15 und 16 sind Zeitsteuerungsdiagramme, die die durch die Zeitsteuerungsschaltung von 7 durchgeführte Frequenzvervielfachung eines Taktsignals zeigen, wobei die Impulsbreite des vervielfachten Takts durch die Impulsbreite des Eingangstakts gesteuert wird;
  • 17 ist ein Zeitsteuerungsdiagramm, das zeigt, wie die Zeitsteuerungsschaltung von 7 aus unterschiedlichen Eingangstakten identische Ausgangstakte erzeugen kann, wenn sie mit Frequenzvervielfachung betrieben wird; und
  • 18 ist ein Blockschaltbild eines ATE-Aufbaus zur Prüfung einer Mischsignal-Vorrichtung unter Verwendung der Zeitsteuerungsschaltung von 7.
  • BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORM
  • Die Zeitsteuerungsschaltung gemäß der Erfindung arbeitet als Teil des Mischsignal-Prüfsystems CatalystTM von Teradyne, wenngleich sie in einer Vielzahl von Umgebungen verwendet werden kann. Das CatalystTM-Prüfsystem weist einen 100 MHz-Mastertakt und eine Vielzahl von digitalen Hochgeschwindigkeitskanälen (HSDs), die mit einer UUT verbunden sein können, zur digitalen Überprüfung der UUT auf. Eine Vielzahl von Taktgeneratoren empfängt den Mastertakt und leitet daraus auf der Grundlage von Benutzereingaben Frequenz und Frankenlagen für die HSDs ab. Das Tastverhältnis eines HSD kann von nahezu null bis nahezu einhundert Prozent variiert werden, indem die Lage der ansteigenden und abfallenden Flanken des HSD in Schritten von 10 Picosekunden (10·10–12 Sekunden) variiert wird. Die Frequenz eines HSD kann von Gleichspannung bis 200 MHz variiert werden.
  • Das CatalystTM-Prüfsystem weist auch analoge Quellen und Empfänger auf, um analoge Auslöseimpulse an die UUT zu übergeben und analoge Antworten von ihr zu empfangen. Die analogen Quellen und Empfänger empfangen eine digitale Steuerung, um unter Führung des Mastertakts diskrete Ausgangspegel zu erzeugen oder diskrete Eingangspegel zu erfassen.
  • Das CatalystTM-Prüfsystem weist auch eine Digital-I/O zum Lesen und Schreiben digitaler Worte von der bzw. zur UUT auf, wiederum gemäß der durch den Mastertakt gesteuerten Zeitsteuerung. Die HSDs, die analogen Quellen und Empfänger und die Digital-I/O leiten ihre Zeitsteuerungskenngrößen alle vom gleichen Mastertakt ab und sind somit alle "kohärent".
  • Da der CatalystTM-Mastertakt die Zeitsteuerung der HSDs, der analogen Quellen und Empfänger und der Digital-I/O steuert, äußert sich Jitter im Mastertakt in jedem dieser Systemkomponenten. Da der Jitter im Mastertakt jedoch all diesen Komponenten gemeinsam ist, steuert der Mastertakt-Jitter nur leichte Fehler bei. Zum Beispiel kann eine HSD-Flanke aufgrund von Jitter verschoben sein, und ein ADC kann daher früher oder später getaktet sein als er sollte. Aber die analoge Quelle, die den ADC speist, wird um das gleiche Intervall verschoben. Da die Verschiebung für den Takt und die Quelle gleich ist, heben sich die Fehler größtenteils auf. Jedwede aus der Verschiebung resultierende Fehler verschwinden im wesentlichen aus den durch den ADC erzeugten digitalen Codes.
  • Nicht jeder Jitter löscht sich aus. Wir haben erkannt, daß die Taktgeneratoren, die die HSD-Signale ableiten, Jitter zu den HSD-Ausgängen hinzufügen, der dem Rest des Systems nicht eigen ist. Anders als der gemeinsame Jitter, der über das gesamte System hinweg "korreliert" ist, fügt dieser "unkorrelierte" Jitter Fehler hinzu, die die Genauigkeit des Prüfsystems begrenzen.
  • Die Zeitsteuerungsschaltung gemäß der Erfindung verringert unkorrelierten Jitter, während korrelierter Jitter erhalten bleibt. Tests der Zeitsteuerungsschaltung gemäß der Erfindung haben eine Verringerung des unkorrelierten Jitters von bis zu 19 Picosekunden auf weniger als 1 Picosekunde RMS gezeigt.
  • GESAMTAUFBAU
  • 7 stellt eine Zeitsteuerungsschaltung 700 gemäß der Erfindung dar. Ein Eingangssignal 710a, zum Beispiel ein Signal von einem HSD, hat eine vordefinierte Frequenz und ein vordefiniertes Tastverhältnis und ist mit einem Eingang einer Differenzschaltung 710 verbunden. Die Differenzschaltung 710 hat einen nichtinvertierenden Ausgang 710b und einen invertierenden Ausgang 710c. Bei ansteigenden Flanken des Eingangssignals 710a erzeugt der nichtinvertierende Ausgang 710b der Differenzschaltung ansteigende Flanken und der invertierende Ausgang 710c erzeugt abfallende Flanken. Bei abfallenden Flanken des Eingangssignals 710a erzeugt der nichtinvertierende Ausgang 710b abfallende Flanken und der invertierende Ausgang 710c erzeugt ansteigende Flanken.
  • Die Zeitsteuerungsschaltung 700 weist eine erste und zweite Phasenregelschleife (PLL) 712 bzw. 714 auf. Der nichtinvertierende Ausgang 710b der Differenzschaltung 710 ist mit dem Eingang der ersten PLL 712 gekoppelt. Der invertierende Ausgang 710c der Differenzschaltung ist mit dem Eingang der zweiten PLL 714 gekoppelt. Vorzugsweise sind die erste und zweite PLL 712 und 714 im wesentlichen identisch und haben einen geringen eigenen Jitter. Die erste und zweite PLL haben vorzugsweise auch einen sehr geringen zeitlichen Versatz zwischen ihren Ausgängen, das heißt, die Phasendifferenz zwischen ihren Ausgängen ist die gleiche wie die Phasendifferenz zwischen ihren Eingängen.
  • Während des normalen Betriebs synchronisieren sich beide PLLs auf Flanken ihrer jeweiligen Eingangssignale. Da der eine Ausgang der Differenzschaltung 710 invertiert ist, der andere aber nicht, richten sich die erste und zweite PLL an Flanken entgegengesetzter Polarität des Eingangssignals 710a aus. Wenn sich zum Beispiel das Ausgangssignal der ersten PLL an ansteigenden Flanken des Eingangssignals 710a ausrichtet, richtet sich das Ausgangssignal der zweiten PLL an abfallenden Flanken aus. Die Ausgangssignale 712a und 714a der ersten und zweiten PLL treffen am Kombinator 716 zusammen. Der Kombinator 716 kombiniert diese Ausgangssignale, um einen Ausgangstakt mit Eigenschaften der Ausgangssignale von beiden PLLs zu erzeugen.
  • 8a stellt eine Ausführungsform des Kombinators 716 gemäß der Erfindung dar. Eine bistabile Kippstufe 810, zum Beispiel eine Setz/Rücksetz-Kippstufe, empfängt die Ausgangssignale 712a und 714a der ersten und zweiten PLL am Setz- bzw. Rücksetz-Eingang. Ein Signal von der ersten PLL, zum Beispiel ein Hochpegel, aktiviert den Setz-Eingang der bistabilen Kippstufe 810 und bewirkt, daß die bistabile Kippstufe einen Zustand (zum Beispiel Q = hoch) annimmt. Ein späteres Signal von der zweiten PLL aktiviert den Rücksetz-Eingang der bistabilen Kippstufe 810 und bewirkt, daß die bistabile Kippstufe einen entgegengesetzten Zustand annimmt (zum Beispiel Q = tief). Die bistabile Kippstufe 810 ändert somit ihren Zustand einmal bei jeder Flanke des Eingangssignals (wobei eine Frequenzvervielfachung von eins angenommen wird, wie unten beschrieben). Die bistabile Kippstufe "setzt" als Antwort auf jede ansteigende Flanke des Eingangssignals und "setzt zurück" als Antwort auf jede abfallende Flanke. Die bistabile Kippstufe 810 reproduziert somit die zeitliche Lage beider Flanken des Eingangssignals 710a und bewahrt somit die Impulsbreite und das Tastverhältnis des Eingangssignals.
  • Die oben beschriebene Arbeitsweise betrifft den Fall, wo die PLLs ohne Frequenzvervielfachung arbeiten, das heißt, wo die Ausgangsfrequenz gleich der Eingangsfrequenz ist. Die Zeitsteuerungsschaltung gemäß der Erfindung ist jedoch nicht auf den Betrieb ohne Vervielfachung begrenzt. Die PLLs können mit einer Frequenzvervielfachung größer als Eins arbeiten. Unter diesen Umständen ändert die bistabile Kippstufe 810 ihren Zustand mit jedem Flankendurchgang des Eingangssignals mehrmals. Die Arbeitsweise bei vervielfachten Frequenzen ist unten mit Bezug auf 15-18 beschrieben.
  • Die meisten Setz/Rücksetz-Kippstufen wie die bistabile Kippstufe 810 erzeugen einen unbestimmten Zustand, wenn der Setz- und der Rücksetz-Eingang beide gleichzeitig aktiv sind. Die bistabile Kippstufe 810 ist für diesen Zustand anfällig, wenn die Impulsbreiten am Setz- und am Rücksetz-Eingang länger als die erwünschte Ausgangsimpulsbreite sind. Um Unbestimmtheit im Kombinator 716 zu vermeiden, sind sowohl der Setz- als auch der Rücksetz-Eingang der bistabilen Kippstufe 810 mit einer in Reihe geschalteten monostabilen Kippstufe ausgerüstet. Wie in 8a dargestellt, weist jede monostabile Kippstufe ein Logikgatter 812 auf, zum Beispiel ein Differenz-NAND-Gatter, und ein Verzögerungsglied 814, das mit einem invertierenden Eingang des Logikgatters gekoppelt ist. Wie in 8b gezeigt, wandelt jede monostabile Kippstufe Taktsignale mit beliebig langen Impulsbreiten in Impulszüge mit Impulsbreiten von feststehender Länge um. Die Dauer der Impulsbreiten entspricht der Verzögerungszeit "Δ" des Verzögerungsglieds 814. Vorzugsweise wird die Verzögerungszeit Δ als extrem kurz ausgewählt, zum Beispiel 500 Picosekunden, gerade lang genug, um die Haltezeit-Spezifikation der bistabilen Kippstufe 810 zu erfüllen. Da die bistabile Kippstufe 810 einen unbestimmten Zustand nur annimmt, wenn sich ihre Eingangsimpulse überschneiden, macht die Begrenzung der Eingangs-Impulsbreiten auf 500 Picosekunden den Weg zum Betrieb mit bis zu einem Gigahertz frei.
  • Vorzugsweise stellen die PLLs 712/714 ihre Ausgangssignale als Differenzsignale bereit, und das NAND-Gatter 812 hat Differenzeingänge. Das Invertieren eines Eingangssignals des NAND-Gatters erfolgt durch Kreuzung der Differenzsignale an seinem Eingang. Das Verzögerungsglied 814 besteht vorzugsweise aus einer differentiellen Übertragungsleitungslänge mit gesteuerter Impedanz, die innerhalb von abgeschirmten Ebenen der Platine, auf der die monostabile Kippstufe implementiert ist, vergraben ist. Alternativ kann das Verzögerungsglied 814 mit einem oder mehreren Logikgattern oder mit einer handelsüblichen Verzögerungsleitung implementiert werden. Man sollte darauf achten, induzierten Jitter zu minimieren, indem man Methoden verwendet, die dem Fachmann bekannt sind.
  • Vorzugsweise werden die digitalen Bauelemente der Zeitsteuerungsschaltung 700 unter Verwendung von positiver emittergekoppelter Logik (PECL) implementiert, zum Beispiel aus der ECLinPS-LiteTM-Familie von integrierten Schaltkreisen, hergestellt von der Motorola Inc.
  • Als eine Alternative zur Differenzschaltung 710 bewältigt jede beliebige Schaltung, die phasenverschobene Ausgangssignale erzeugt, die Aufgabe der unabhängigen Steuerung beider Flanken des Taktsignals. In einer anderen Alternative wird auf die Differenzschaltung 710 verzichtet, und die PLLs sind so aufgebaut, daß sie auf Flanken mit entgegengesetzter Polarität antworten.
  • Im Idealfall haben die erste und zweite PLL die gleiche Laufzeitverzögerung zwischen ihren Eingängen und Ausgängen. Aufgrund von normalen Abweichungen in den Bauelement-Eigenschaften können die Laufzeitverzögerungen jedoch nicht exakt aufeinander abgestimmt werden. Die resultierende zeitliche Verschiebung zwischen den PLLs verzerrt die Beziehungen zwischen ansteigenden und abfallenden Flanken, was dazu führt, daß die Ausgangsimpulse entweder schmaler oder breiter als die entsprechenden Eingangsimpulse erscheinen. Gemäß der Erfindung wird die zeitliche Verschiebung durch Beeinflussung der Flankenlagen der ansteigenden und abfallenden Flanken des Eingangssignals, zum Beispiel eines Signals von einem HSD, kompensiert. Im CatalystTM-System wird die HSD-Zeitsteuerung durch den Benutzer programmiert und durch Systemsoftware gesteuert. Die Verschiebung zwischen den PLLs kann gemessen werden und Flanken des HSD können individuell nachgeregelt werden, um die PLL-Signale auszurichten. Alternativ können die PLLs jeweils eine variable Verzögerungsleitung aufweisen, die nachgeregelt werden kann, um die Verschiebung zu kompensieren. Als eine Variante dieses Prinzips kann eine PLL eine konstante spezifische Volumenverzögerung aufweisen, und die andere kann eine variable Verzögerung aufweisen. Die variable Verzögerung wird ausgeglichen und hat einen hinreichenden Regelbereich, der sich über beide Seiten der spezifischen Volumenverzögerung erstreckt.
  • AUFBAU DER PHASENREGELSCHLEIFE
  • 9 ist ein Blockschaltbild einer PLL, wie etwa der PLLs 712 und 714, gemäß der Erfindung. Die PLL 712/714 weist Bauelemente auf, die herkömmlicherweise in PLL-Schaltungen zu finden sind, zum Beispiel einen Phasendetektor 910, ein Schleifenfilter 912 und einen spannungsgesteuerten Oszillator 916. Wie bekannt, hat der Phasendetektor 910 einen ersten und zweiten Eingang und einen Ausgang. Das Ausgangssignal des Phasendetektors ist proportional zu einer Phasendifferenz zwischen Signalen am ersten und zweiten Eingang. Wie ebenfalls bekannt, stabilisiert das Schleifenfilter 912 die Rückkopplung der PLL 712/714, und der VCO 916 wandelt eine Spannung vom Schleifenfilter in ein Signal mit einer Frequenz um, die sich mit der angelegten Spannung ändert.
  • Zusätzlich zu diesen Bauelementen, die üblicherweise in PLL-Schaltungen vorkommen, weist die PLL 712/714 auch einen ersten und zweiten Frequenzteiler 918 bzw. 924 auf. Er weist auch einen programmierbaren Verstärker (PGA) 914 und einen Selektor 920 auf. Der erste und der zweite Frequenzteiler teilen jeweils die Ausgangsfrequenz des VCO durch eine vordefinierte Konstante. Der PGA verstärkt das Ausgangssignal des Schleifenfilters 912 mit einer programmierbaren Verstärkung, und der Selektor 920 läßt Ausgangs- und Rückkopplungssignale der PLL durch oder blockiert sie selektiv. Der Selektor 920 steuert die Ausgangs- und Rückkopplungssignale der PLL separat und ermöglicht somit der PLL, Ausgangsimpulse zu überspringen, während die PLL mit Rückkopplung weiterarbeitet.
  • Der erste Frequenzteiler 918 ist im Vorwärtszweig der PLL angeordnet und bewirkt die Teilung der VCO-Frequenz durch eine Konstante "N". Der zweite Frequenzteiler 924 ist im Rückkopplungszweig angeordnet und bewirkt die Teilung der Ausgangsfrequenz durch eine Konstante "M". Da sich der erste Frequenzteiler 918 im Vorwärtszweig der Rückkopplungsschleife befindet, hat er keine Auswirkung auf die Frequenzvervielfachung der geschlossenen Schleife der PLL – die Rückkopplung umgeht die Teilung. Aber der zweite Frequenzteiler 924 beeinflußt die Verstärkung der geschlossenen Schleife. Da die Rückkopplung der PLL dazu neigt, die beiden Eingänge zum Phasendetektor 910 anzugleichen, erhöht sie die Frequenz des Ausgangssignals um einen Faktor M nach oben. Der PLL zeigt somit eine Gesamtfrequenzvervielfachung gleich M.
  • Die PLL 712/714 ist dafür ausgelegt, zwischen 1 MHz und 1 GHz – nahezu einem Bereich von 10 Oktaven – zu arbeiten. Der VCO 916 ist jedoch nur über einen Bereich von einer Oktave variabel (zwischen 2 und 4 GHz, wie unten beschrieben). Darum schließt die Erfüllung der Entwurfsziele der PLL die Änderung der Teilerwerte über einen großen Bereich ein.
  • Die Änderung der Teilerwerte M und N verändert die Leistungsfähigkeit der PLL. Die Schleifenverstärkung der PLL 712/714 ist umgekehrt proportional zum Produkt M·N. Mit "Schleifenverstärkung" wird die Gesamtverstärkung entlang der Schleife bezeichnet, zum Beispiel die Verstärkung zwischen dem ersten und zweiten Eingang des Phasendetektors 910. Auf bekannte Weise beeinflußt die Schleifenverstärkung einer PLL die Einschwingzeit der PLL, die Genauigkeit, Stabilität und andere Wechselstromeigenschaften. Wenn sie unkompensiert bliebe, würde jede Veränderung von M oder N die Schleifenverstärkung der PLL 712/714 ändern und somit die Wechselstromeigenschaften der PLL. Von besonderer Bedeutung ist, daß jede Änderung von M oder N die Fähigkeit der PLL beeinträchtigen würde, Jitter aus ihrem Eingangssignal zu filtern.
  • Um zu vermeiden, daß dies geschieht, wird der PGA 914 von der PLL 712/714 dafür verwendet, die Auswirkungen der Frequenzteiler aufzuheben. Der PGA 914 arbeitet so, daß er als Antwort auf eine programmierbare Steuerung eine Spannungsverstärkung zwischen seinem Eingang und Ausgang erzeugt. Die Verstärkung des PGA wird direkt proportional zum Produkt M·N variiert, um die Schleifenverstärkung (und die Wechselstromeigenschaften) über den gesamten Bereich von Ausgangsfrequenzen im wesentlichen konstant zu halten.
  • Der PGA 914 ist vorzugsweise zwischen dem Ausgang des Schleifenfilters 912 und dem Eingang des VCO 916 angeordnet. Diese Anordnung ist jedoch nicht entscheidend. Alternativ kann der PGA irgendwo im analogen Signalweg der PLL 712/714 angeordnet sein. Zum Beispiel könnte der PGA 914 dem Schleifenfilter 912 vorangehen, statt ihm zu folgen, oder könnte in das Schleifenfilter 912 eingebaut sein. Gemäß einer weiteren Alternative wird die Dynamik des Schleifenfilters 912 variiert, um unterschiedliche Werte der Schleifenverstärkung zu erhalten, und ein separater PGA ist nicht erforderlich.
  • Der PGA 914 kann aus handelsüblichen Bauelementen oder Kombinationen davon hergestellt werden. In der bevorzugten Ausführungsform besteht der PGA 914 aus zwei kaskadierten Kanälen eines AD604, vertrieben von Analog Devices Incorporated in Norwood, Massachusetts. Die Gesamtverstärkung des resultierenden PGA kann über einen Bereich von 96 dB variiert werden.
  • Vorzugsweise weist die Zeitsteuerungsschaltung 700 ein anwenderprogrammierbares Gate-Array (FPGA, nicht gezeigt) auf, um die PGA-Verstärkung sowie andere Funktionen der Zeitsteuerungsschaltung zu steuern. Alternativ kann diskrete digitale Logik verwendet werden. Die ATE kann die PGA-Verstärkung auch direkt steuern, und zwar durch Schreiben in ein Register mittels der Zeitsteuerungsschaltung.
  • SPANNUNGSGESTEUERTER OSZILLATOR
  • Obwohl spannungsgesteuerte Oszillatoren herkömmlicherweise in PLLs eingeschlossen sind, ist der VCO 916 gemäß der Erfindung keine normale Ausführung. 10 stellt den VCO 916 gemäß der Erfindung dar. Der VCO 916 weist einen jitterarmen, stabilen Oszillator 1012 mit einem Frequenzbereich von 2 GHz bis 4 GHz dar. Der Oszillator 1012 ist vorzugsweise ein "YIG"-Oszillator, wie etwa das Modell MLPB-0204 von Micro Lambda, Incorporated in Dayton, Ohio. Der YIG-Oszillator weist eine Yttrium-Eisen-Granat-Kugel auf, die unter Verwendung eines Dünnschichtprozesses hergestellt wurde, um einen Resonator hoher Güte zu ergeben. Der Resonator erzeugt eine Ausgangsfrequenz, die proportional zu einem angelegten magnetischen Feld ist. Das magnetische Feld wird durch einen Permanentmagneten innerhalb der Kugel geliefert, die separate elektromagnetische Spulen zur Grobeinstellung und Feineinstellung des angelegten magnetischen Feldes aufweist. Der Feineinstellungsport des YIG-Oszillators ist auf 400 kHz bandbegrenzt und schützt den Oszillator gegen Breitbandrauschen. Der YIG-Oszillator erreicht ein sehr niedriges Phasenrauschen von –130 dBc/Hz bei einem Versatz von 100 kHz von einer Trägerfrequenz von 4 GHz.
  • Der VCO 916 weist einen Grobabstimmungstreiber 1016 auf, der mit der Grobeinstellungsspule des YIG-Oszillators gekoppelt ist. Der Grobabstimmungstreiber 1016 empfängt sein Eingangssignal vom Digital/Analog-Umsetzer (DAC) 1014. Der DAC und der Grobabstimmungstreiber legen eine ungefähre Arbeitsfrequenz des YIG-Oszillators fest, wobei diese Frequenz einer erwarteten Ausgangsfrequenz des YIG-Oszillators entspricht, wenn die PLL synchronisiert ist. Vorzugsweise wird ein Kondensator über der Grobabstimmungsspule angeordnet, um die Grobabstimmungsspule vor störendem Rauschen zu schützen.
  • Der VCO weist auch einen Feinabstimmungstreiber 1010 auf, der mit der Feineinstellungsspule des YIG-Oszillators gekoppelt ist. Durch Ansprechen der Rückkopplung der PLL 712/714 konzentriert sich der Feinabstimmungstreiber 1010 auf einen Wert, der die Ausgangsfrequenz präzise steuert.
  • Das Magnetfeld ist direkt proportional zum angelegten Strom. Darum stellen die Grob- und Feinabstimmungstreiber 1016 und 1010 ihre Ausgangssignale vorzugsweise in Form von Strömen bereit. Die Grob- und Feinabstimmungstreiber 1016 und 1010 sind vorzugsweise spannungsgesteuerte Stromquellen.
  • Alternativ stellen die Grob- und Feinabstimmungstreiber Ausgangssignale in Form von Spannungen bereit und sind darauf angewiesen, daß die YIG-Abstimmungsströme durch den parasitären Widerstand der Spulen entstehen. Jedoch kann die spannungsgesteuerte Methode keine Änderungen des Widerstandes der Steuerungsspulen infolge von Änderungen der Temperatur kompensieren. Der Spulenwiderstand hängt stark von der Temperatur ab, und eine Drift im Spulenstrom ändert die Arbeitsfrequenz des YIG. Wenn sich der Strom durch die Grobabstimmungsspule um eine hinreichend große Spanne ändert, ist die Rückkopplung nicht mehr imstande, die Änderung auszugleichen, und die PLL kippt aus der Synchronisation. Für den Feinabstimmungstreiber gilt, daß die Spannungssteuerung der Feinabstimmungsspule eine Polstelle zur Übertragungsfunktion der PLL hinzufügt. Die hinzugefügte Polstelle erschwert unnötig die Stabilisierung der PLL.
  • Vorzugsweise wird der DAC 1014 unter Verwendung der gleichen Steuerungsquelle wie der PGA 914 programmiert. Zum Beispiel steuert ein FPGA sowohl den DAC 1014 als auch den PGA 914.
  • PHASENDETEKTOR/SCHLEIFENFILTER
  • 11a und 11b stellen den Phasendetektor 910 und das Schleifenfilter 912 gemäß der Erfindung schematisch dar. Der Phasendetektor 910 weist einen digitalen Phasendetektor 1110 auf, der mit einer spannungsgesteuerten Stromquelle (VCCS) gekoppelt ist. Die VCCS weist Transistoren 1112, 1114, 1116 und 1118 und die zugeordneten Vorwiderstände, Kondensatoren und Dioden auf. Der digitale Phasendetektor 1110 erzeugt Aufwärts- und Abwärts-Ausgangsimpulse und ihre Gegenstücke als Antwort auf Phasendifferenzen zwischen einem Taktsignal an einem Referenzeingang "R" und einem Taktsignal an einem variablen Eingang "V". Die VCCS empfängt die digitalen Ausgangssignale und erzeugt einen analogen Strom. Die VCCS liefert und zieht Strom zu einer virtuellen Masse des Schleifenfilters 912 als Antwort auf die Abwärts- und Aufwärts-Impulse vom digitalen Phasendetektor 1110.
  • Vorzugsweise wird der Stromfluß in den Ausgangstransistoren 1112, 1114, 1116 und 1118 der VCCS dauernd aufrechterhalten, um eine schnelle Antwortzeit zu begünstigen. Die Stärken der Ströme ändern sich jedoch als Antwort auf die Ausgangssignale des digitalen Phasendetektors 1110. Der digitale Phasendetektor 1110 ist vorzugsweise ein PECL-Bauelement wie etwa Modell MCK 12140 der Motorola Inc.
  • Die Spannung V1 beträgt vorzugsweise +5 V, V2 beträgt +3 V und V3 beträgt –5 V, um sowohl mit den PECL-Ausgängen des digitalen Phasendetektors 1110 als auch mit der auf Masse bezogenen analogen Elektronik des Schleifenfilters 912 kompatibel zu sein. Logikfamilien und Versorgungsspannungen können jedoch innerhalb des Schutzbereichs der Erfindung geändert werden, wie dem Fachmann bekannt ist.
  • Die VCCS verringert den Jitter am Ausgang der PLL. Zuerst dämpft die Differenzschaltung das Rauschen von der PECL-Versorgung. Weil das Rauschen der PECL-Versorgung in beiden Schaltungszweigen der VCCS gleich erscheint, ist das Rauschen im Gleichtakt. Darum heben sich die Auswirkungen des Rauschens der PECL-Versorgung am Ausgang der VCCS auf. Zweitens erhöht die Differenzschaltung die Verstärkung des Phasendetektors, was den Gesamtjitter der PLL verringert. Die PLL erfordert einen bestimmten Vorwärtsverstärkungswert (das Produkt aus den Verstärkungen des Phasendetektors 910, des PGA des 914, des VCO 916 und des Teilers 918), um seinen Ausgangsfrequenzbereich zu erreichen. Wir haben erkannt, daß der PGA 914 mehr Rauschen als der Phasendetektor 910 erzeugt. Durch Erhöhen der Verstärkung des Phasendetektors 910 kann die Verstärkung – und somit der Rauschbeitrag – des PGA verringert werden, wodurch der Gesamtjitter der PLL verringert wird.
  • Wie in 11b gezeigt, ist das Schleifenfilter 912 als Integrator ausgeführt. Das Schleifenfilter weist einen Verstärker 1150, zum Beispiel einen Operationsverstärker, einen Rückkopplungskondensator 1154 und einen Rückkopplungswiderstand 1152 auf. Der Rückkopplungswiderstand 1154 arbeitet mit dem Phasendetektor 910 zusammen, um bei Gleichspannung in der Schleifenverstärkung der PLL eine Polstelle zu bilden. Der Rückkopplungswiderstand 1152 fügt eine Nullstelle zur Antwort der geschlossenen Schleife des Integrators hinzu und hilft, die Gesamtrückkopplung der PLL zu stabilisieren.
  • Die Polstellen und Nullstellen des Schleifenfilters 912 haben eine dominierende Wirkung bei der Bestimmung der Frequenzantwort der PLL insgesamt und haben deshalb auch eine dominierende Wirkung auf die Jitter-Übertragungsfunktion. Durch Anpassung der Polstellen und Nullstellen des Schleifenfilters 912 kann die Jitter-Übertragungsfunktion der PLL darauf zugeschnitten werden, Jitter unterschiedlicher Frequenzen selektiv zu filtern.
  • TEILERSCHALTUNG UND SELEKTOR
  • 12a bzw. 12b stellen den ersten Frequenzteiler 918 und den Selektor 920 gemäß der Erfindung dar. Wie in 12a gezeigt, weist der erste Frequenzteiler 918 einen Vor-Frequenzteiler 1210 auf, der die Ausgangsfrequenz des YIG durch einen feststehenden Faktor von 4 teilt. Der Vor-Frequenzteiler 1210 wird vorzugsweise aus Galliumarsenid statt aus Silizium hergestellt, um den Frequenzbereich des YIG-Oszillators von 2 bis 4 GHz zu bewältigen. Der Ausgang des Vor-Frequenzteilers 1210 ist mit einem festen Halbierzähler 1212 und dann mit einem programmierbaren 1:P-Verhältnis-Zähler 1214 gekoppelt.
  • Wie in 12b gezeigt, weist der Selektor 920 eine erste und zweite Selektorvorrichtung 1250 bzw. 1252 auf. Die Ausgänge des Vor-Frequenzteilers 1210 und der beiden Zähler 1212 und 1214 sind mit der ersten Selektorvorrichtung 1250 verbunden, wo sie durch Betreiben eines Steuerungssignals 922b wahlweise zum Ausgang der PLL durchgelassen werden. Die Ausgänge der Zähler 1212 und 1214 sind auch mit der zweiten Selektorvorrichtung 1252 verbunden, wo sie durch Betreiben eines Steuerungssignals 922a wahlweise zum Phasendetektor 910 der PLL zurückgeführt werden.
  • Durch Verteilung der Ausgangs- und Rückkopplungssignale zwischen dem ersten und zweiten Selektor 1250 und 1252 ermöglicht der PLL gemäß der Erfindung, daß unterschiedliche Signale ausgegeben und rückgekoppelt werden. Zum Beispiel kann die PLL den Ausgang des Vor-Frequenzteilers 1210 direkt seinem Ausgang zuführen, und zwar zur gleichen Zeit, da er den Ausgang des 1:P-Verhältnis-Zählers 1214 direkt seiner Rückkopplung zuführt. Somit kann die PLL Signale mit höheren Frequenzen ausgeben, als die Rückkopplung nachführen kann. Oftmals ist es erwünscht, Impulse zu überspringen oder andernfalls ein Taktsignal abzuschalten, während der Betrieb der PLL fortgesetzt wird. Der Selektor 1250 stellt diese Fähigkeit bereit, indem er entweder ein feststehenden hohen Zustand "1" oder einen feststehenden niedrigen Zustand "0" auswählt, während die PLL weiterhin mit dem Eingangssignal synchronisiert bleibt.
  • SYNCHRONISATIONSDETEKTOR
  • 13 stellt einen einfachen und wirksamen Phasensynchronisationsdetektor dar, der in Verbindung mit der Erfindung verwendet wird. Die Abwärts- und Aufwärts-Signale vom digitalen Phasendetektor 1110 sind mit dem invertierenden und dem nichtinvertierenden Eingang eines Differenzverstärkers 1310 gekoppelt. Der Differenzverstärker 1310 erzeugt eine positive Spannung als Antwort auf ein Abwärts-Signal und eine negative Spannung als Antwort auf ein Aufwärts-Signal. Der Differenzverstärker weist vorzugsweise ein Tiefpaßfilter auf, um die positiven und negativen Abweichungen des Differenzverstärkers zu mitteln. Alternativ kann ein getrenntes Tiefpaßfilter bereitgestellt werden.
  • Der Ausgang des Differenzverstärkers 1310 ist mit einer Absolutwert-Schaltung 1312 verbunden, die positive Signale sowohl für positive als auch für negative Eingangssignale erzeugt, und zwar auf eine Weise, die der Bildung des Absolutwerts des Eingangssignals der Schaltung entspricht. Der Ausgang der Absolutwert-Schaltung 1312 ist mit einem Eingang eines Komparators 1314 verbunden. Ein Referenzsignal Vt ist mit einem anderen Eingang des Komparators verbunden. Wenn die Anzahl der Abwärts-Impulse vom digitalen Phasendetektor 1110 gleich der Anzahl der Aufwärts-Impulse ist, ist die PLL synchronisiert. Als Antwort auf den synchronen Zustand geht das Ausgangssignal der Absolutwert-Schaltung 1312 gegen Null und kreuzt dabei die Referenzspannung. Der Komparator 1314 ändert dann seinen Ausgangszustand. Vorzugsweise hat der Komparator 1314 eine Eingangshysterese – sie erfordert eine Bewegung an ihrem Eingang, die größer ist als der erwartete Rauschpegel, um ihren Zustand zu ändern, wenn sie synchron oder asynchron geworden ist.
  • ANPASSUNG DER PLL-ÜBERTRAGUNGSFUNKTION
  • Unsere Messungen haben gezeigt, daß unkorrelierter Jitter ein Grundrauschen des Prüfsystems bildet, das mit der Frequenz relativ konstant bleibt. Jitter, der durch die PLL selbst induziert wurde (vor allem durch den VCO), überschreitet dieses Grundrauschen bei niedrigen Frequenzen und nimmt exponentiell ab, wenn sich die Frequenz vergrößert. Unsere Messungen haben auch gezeigt, daß der meiste korrelierte Jitter innerhalb von 2 oder 3 kHz um die HSD-Frequenz liegt. Wir haben erkannt, daß die negativen Auswirkungen des Jitters minimiert werden können, indem die Bandbreite der PLL auf die Übergangsfrequenz des durch die PLL hervorgerufenen Jitters und des unkorrelierten Jitters eingestellt wird. In der bestimmten oben beschriebenen Hardware-Implementierung ist diese optimale Einstellung ungefähr 5 kHz. Wenn die Bandbreite der PLL auf diesen optimalen Wert eingestellt ist, läßt die PLL den Löwenanteil des korrelierten Jitters durch und filtert den Löwenanteil des VCO-Rauschens. Die PLL filtert auch unkorrelierten Jitter oberhalb dieses optimalen Werts.
  • Durch Variieren der Verstärkung des PGA 914, wie oben beschrieben, kann die Schleifenbandbreite auf ihrem optimalen Wert gehalten werden, unabhängig von den Werten M und N der Frequenzteiler 924 und 914. Die PLL hält somit über den vollen Bereich von Betriebszuständen den Jitter auf einem Minimum.
  • ARBEITSWEISE DER ZEITSTEUERUNGSSCHALTUNG
  • 14-16 stellt die Arbeitsweise der Zeitsteuerungsschaltung 700 für drei unterschiedliche Frequenzvervielfachungswerte dar. Wie in 14 gezeigt, hat die Zeitsteuerungsschaltung 700 eine Frequenzvervielfachung von eins und empfängt ein Eingangssignal 1410 mit einer Periode "P" und einer Impulsbreite "Tw". Die erste PLL 712 erzeugt ein erstes Taktsignal als Antwort auf ansteigende Flanken des Eingangssignals 1410 und die zweite PLL 714 erzeugt ein zweites Taktsignal als Antwort auf abfallende Flanken des Eingangssignals 1410. Monostabile Kippstufen im Kombinator 716 wandeln das erste und zweite Taktsignal in eine erste und zweite Impulsfolge 1412 bzw. 1414 um. Die Setz/Rücksetz-Kippstufe 810 fortlaufend als Antwort auf die erste Impulsfolge 1412 einen "Setz"-Schritt und fortlaufend als Antwort auf die zweite Impulsfolge 1414 einen "Rücksetz"-Schritt durch. Das resultierende Ausgangssignal der Setz/Rücksetz-Kippstufe 810, der Ausgangstakt 1416, hat als Antwort die auf die ansteigenden Flanken des Eingangssignals 1410 ansteigende Flanken und als Antwort auf die abfallenden Flanken des Eingangssignals 1410 abfallende Flanken. Die Periode und die Impulsbreite des Ausgangstakts 1416 sind die gleichen wie die Periode und die Impulsbreite des Eingangssignals 1410. Folglich regeneriert die Zeitsteuerungsschaltung 700 den Eingangstakt 1410 unter Wahrung des Tastverhältnisses und der Impulsbreite.
  • 15 stellt die Arbeitsweise der Zeitsteuerungsschaltung 700 mit einer Frequenzvervielfachung von zwei dar. Die PLLs 712 und 714 erzeugen Takte mit der doppelten Frequenz des Eingangstaktes 1510, und monostabile Kippstufen wandeln die Takte in Impulsfolgen 1512 und 1514 um. Die Setz/Rücksetz-Kippstufe 810 erzeugt wie zuvor einen Ausgangstakt 1516 aus den Impulsfolgen. Obwohl die Frequenz des Ausgangstaktes 1516 das Doppelte der Eingangsfrequenz beträgt, bleibt die Impulsbreite des Eingangstaktes erhalten.
  • Ein letztes Beispiel ist in 16 gezeigt. Hier wird die Zeitsteuerungsschaltung mit einer Frequenzvervielfachung von acht betrieben. Wie zuvor erzeugen die PLLs 712 und 714 jeweils Ausgangssignale, dieses Mal jeweils mit der achtfachen Frequenz des Eingangssignals 1610, und die monostabilen Kippstufen wandeln die Takte in Impulsfolgen 1612 und 1614 um. Der Ausgangstakt 1616 hat eine Frequenz gleich dem Achtfachen der Frequenz des Eingangstaktes 1610.
  • 16 zeigt, wie die Zeitsteuerungsschaltung verwendet werden kann, um relativ kurze Ausgangsimpulse aus relativ langen Eingangsimpulsen zu erzeugen. Somit kann die Zeitsteuerungsschaltung ebensogut zur Impulsbreitenteilung wie zur Frequenzvervielfachung verwendet werden. Die Impulsbreitenteilung ist besonders wünschenswert, wenn der Benutzer Ausgangstakte mit kürzeren Impulsbreiten erzeugen möchte, als ein HSD bereitstellen kann.
  • Die Zeitsteuerungsschaltung teilt die Impulsbreite eines Eingangssignals jedes Mal, wenn die Frequenzvervielfachung M bewirkt, daß die Periode des Ausgangssignals der Zeitsteuerungsschaltung kürzer ist als die Impulsbreite. Wie aus den Wellenformen von 14-16 ersichtlich wird, sind die Ausgangsimpulsbreiten immer gleich dem Rest der Eingangsimpulsbreite, geteilt durch die Ausgangsperiode. Die Ausgangsimpulsbreite kann somit mathematisch wie folgt ausgedrückt werden: TwOut = TwIn MODULO POut, wobei POut = PIn/M (1)oder TwOut = TwIn MODULO (PIn/M) (2)
  • Durch Kombination von Impulsbreitenteilung und Impulsüberspringen (siehe oben "Teilerschaltung und Selektor") kann die Zeitsteuerungsschaltung unabhängig sowohl die Impulsbreite als auch die Frequenz ihrer Ausgangssignale steuern.
  • Die Zeitsteuerungsschaltung kann jedes erwünschte Ausgangssignal aus M unterschiedlichen Eingangssignalen erzeugen. Wie in 17 dargestellt, kann die Zeitsteuerungsschaltung ein Ausgangssignal 1710 aus jedem der Eingangssignale 1720, 1730 oder 1740 erzeugen. Alle diese Eingangssignale haben eine Frequenz gleich 1/3 der Frequenz des Ausgangssignals; jedoch sind ihre Tastverhältnisse jeweils gleich 1/6, 1/2 und 5/6. Die unterschiedlichen Eingangssignale, die das gleiche Ausgangssignal ergeben, können durch die folgenden Beziehungen ausgedrückt werden: DutyIn = 1/M·(j + DutyOut) (3)oder TwIn = j·POut + TwOut (4)wobei j = alle ganzen Zahlen von 0 bis einschließlich (M – 1).
  • Wenn ein HSD mit Frequenzen nahe seiner Maximalgrenze betrieben wird, hat der Benutzer die Flexibilität, die Hochfrequenz-Anforderungen an den HSD zu minimieren, indem er einen Wert für "j" etwa in der Mitte des oben angegebenen Bereichs auswählt.
  • VERFAHREN DER PRÜFUNG EINER UUT MIT DER ZEITSTEUERUNGS-SCHALTUNG
  • 18 stellt einen Aufbau zur Prüfung einer UUT 1814 unter Verwendung der Zeitsteuerungsschaltung 700 dar. Das ATE-System 1810 weist einen Mastertakt 1818 auf. Der Mastertakt erzeugt eine gemeinsame Zeitsteuerungsreferenz für die analoge Quelle 1816, die Digital-I/O 1820 und den Taktgenerator 1824. Da all diese Bauelemente auf den ATE-Mastertakt 1818 bezogen sind, sind folglich all diese Bauelemente kohärent.
  • Während einer typischen Prüfung der UUT 1814 programmiert ein Benutzer die analoge Quelle 1816 derartig, daß sie eine Prüf-Wellenform erzeugt. Die Prüf-Wellenform weist eine Abfolge diskreter Pegel auf, die als Antwort auf Taktimpulse vom Mastertakt 1818 erzeugt werden. Als Antwort auf eine Benutzereingabe leitet der Taktgenerator 1824 aus dem Mastertakt 1818 eine erwünschte Frequenz und Impulsbreite ab. Ein HSD 1826 gibt das erwünschte Taktsignal aus, und die Zeitsteuerungsschaltung 700 erzeugt den erwünschten Ausgangstakt.
  • Wenn die UUT 1814 angesprochen wird, erzeugt sie als Antwort auf den Ausgangstakt von der Zeitsteuerungsschaltung 700 eine Abfolge von digitalen Ausgangssignalen. Unter Benutzersteuerung ruft die Digital-I/O 1820 die digitalen Ausgangssignale von der UUT ab und meldet die Signale zur Verarbeitung an die ATE.
  • Vorzugsweise weist die ATE 1810 einen Softwaretreiber (nicht gezeigt) zum Konfigurieren des HSD 1826 und der Zeitsteuerungsschaltung 700 auf, um den erwünschten Ausgangstakt zu erzeugen. Ein Benutzer legt vorzugsweise eine Frequenz und eine Impulsbreite eines erwünschten Ausgangstaktes fest. Der Softwaretreiber stellt dann gemäß der obigen Gleichung (1) eine optimale Impulsbreite und Frequenz des HSD ein. Der Treiber programmiert auch die Zeitsteuerungsschaltung 700 durch Einstellen der Frequenzteiler, der PGA-Verstärkung und des Grobeinstellungswerts des VCO 916.
  • Die kohärente Konfiguration des ATE-Systems 1810 begünstigt eine genaue und effiziente Prüfung. Da alle Bauelemente unter Steuerung des Mastertaktes arbeiten, ist der größte Teil des Jitters des Mastertaktes 1818 allen Bauelementen gemeinsam. Dieser gemeinsame oder korrelierte Jitter wird von der Zeitsteuerungsschaltung 700 durchgelassen und steuert nur kleine Meßfehler bei. Außerdem wird der Großteil des unkorrelierten Jitters durch die Zeitsteuerungsschaltung 700 gefiltert. Somit steuert auch der unkorrelierte Jitter nur kleine Fehler bei.
  • Weil die durch die Zeitsteuerungsschaltung 700 begünstigte Konfiguration kohärent ist, verringert sie "Ränder" in den Leistungsspektrum abgetasteter Signale und begünstigt folglich die Genauigkeit. Durch die kohärente Konfiguration ist auch das Windowing von Eingangsdaten nicht mehr notwendig. Da die ATE die Erzeugung von analogen Signalen wie auch das Abtasten und Auslesen der UUT und der Digital-I/O steuert, braucht die ATE keine Eingangssignale durch Windowing willkürlich einzugrenzen, bevor die digitale Signalverarbeitung durchgeführt wird. Die Rechenlast der ATE wird verringert, da die ATE nicht genötigt ist, soviel Rauschen zu verarbeiten.
  • Die Zeitsteuerungsschaltung 700 läßt sich reibungslos in aktuelle ATE-Systeme integrieren. Die meisten ATE-Systeme haben einen Mastertakt, der die Aktivitäten über die gesamte ATE hinweg koordiniert. Die Zeitsteuerungsschaltung 700 kann zu diesen Systemen hinzugefügt werden, um ihre Leistungsfähigkeit mit nur kleinen Änderungen an der ATE zu verbessern. Die Zeitsteuerungsschaltung 700 verbessert die Genauigkeit dieser ATE-Systeme, indem sie korrelierten Jitter durchläßt und unkorrelierten Jitter aus den digitalen Kanälen filtert.
  • Im Betriebsbeispiel von 18 ist die UUT ein Analog/Digital-Umsetzer. Es versteht sich jedoch, daß die oben beschriebenen Prüfungsprinzipien auch auf andere Mischsignal-Vorrichtungen wie etwa Digital/Analog-Umsetzer, Modems, Steuereinrichtungen für Speicherplattenlaufwerke, Senderempfänger-Übertragungsstrecken, digitale Rundfunkgeräte und Hochgeschwindigkeitsinterpolatoren anwendbar sind.
  • Wenngleich eine Ausführungsform beschrieben wurde, können viele alternative Ausführungsformen oder Abwandlungen vorgenommen werden. Zum Beispiel bezieht die Anpassung der PLLs zur Zurückweisung unkorrelierten Jitters eine Tiefpaßfilterung der PLLs bei ungefähr 5 kHz ein. Dies dient nur der Veranschaulichung. Die Filteranordnung kann dafür modifiziert werden, unkorrelierten Jitter überall dort zu verringern, wo er auftritt. Zum Beispiel kann die Frequenzantwort des Schleifenfilters verändert werden, um eine andere Bandbreite bereitzustellen. Alternativ können die PLLs Bandpaß-, Bandsperren- oder Hochpaßfilter oder Kombinationen davon verwenden, um nach Bedarf bestimmte Frequenzbänder des Jitters anzustreben.
  • Der Eingang der oben beschriebenen Zeitsteuerungsschaltung ist ein HSD. Die Zeitsteuerungsschaltung ist jedoch mit anderen Signalquellen innerhalb des Testsystems oder mit externen Signalquellen verwendbar. Bei anderen Anwendungen kann die Bandbreite der PLLs so angepaßt werden, daß die Jitter-Eigenschaften der verwendeten Signalquelle entsprechen.

Claims (23)

  1. Zeitsteuerungsschaltung für automatische Testausrüstung mit: einem ersten Phasenregelkreis (712) mit einem Ausgang, der ein erstes Taktsignal erzeugt; einem zweiten Phasenregelkreis (714) mit einem Ausgang, der ein zweites Taktsignal erzeugt, wobei der erste und zweite Phasenregelkreis mit einem identischen Eingangssignal gekoppelt sind und wobei das erste und zweite Taktsignal eine vorbestimmte Phasenbeziehung haben; und einem Kombinator (716) zum Ausgeben einer Abfolge von logischen Hoch- und Tiefpegeln als Antwort auf Logikübergänge des ersten und zweiten Taktsignals mit einer bistabilen Kippstufe (810) mit einem ersten und einem zweiten Eingang, die jeweils mit den Ausgängen des ersten und zweiten Phasenregelkreises gekoppelt sind, wobei die bistabile Kippstufe dafür eingerichtet ist, als Antwort auf Logikübergänge des ersten und zweiten Taktsignals gesetzt und zurückgesetzt zu werden.
  2. Zeitsteuerungsschaltung nach Anspruch 1, ferner mit: einer Differenzschaltung mit einem Eingang, der ein Eingangssignal empfängt, und mit einem ersten und einem zweiten Ausgang, die jeweils invertierte und nichtinvertierte Versionen des Eingangssignals bereitstellen, wobei der erste Ausgang der Differenzschaltung mit einem Eingang des ersten Phasenregelkreises gekoppelt ist und der zweite Ausgang der Differenzschaltung mit einem Eingang des zweiten Phasenregelkreises gekoppelt ist.
  3. Zeitsteuerungsschaltung nach Anspruch 1 oder 2, wobei die bistabile Kippstufe (810) eine Setz/Rücksetz-Kippstufe mit einem Setz-Eingang, der der eine des ersten und zweiten Eingangs der bistabilen Kippstufe ist, und mit einem Rücksetz-Eingang ist, der der andere des ersten und zweiten Eingangs ist, wobei die Kombinatorschaltung ferner umfaßt: eine erste monostabile Kippstufe mit einem Eingang, der mit dem Ausgang des ersten Phasenregelkreises gekoppelt ist, und einem Ausgang, der mit dem ersten Eingang der bistabilen Kippstufe gekoppelt ist; und eine zweite monostabile Kippstufe mit einem Eingang, der mit dem Ausgang des zweiten Phasenregelkreises gekoppelt ist, und einem Ausgang, der mit dem zweiten Eingang der bistabilen Kippstufe gekoppelt ist.
  4. Zeitsteuerungsschaltung nach Anspruch 3, wobei die erste und zweite monostabile Kippstufe jeweils umfassen: ein Logikgatter (812) mit einem invertierenden Eingang und einem nichtinvertierenden Eingang, die beide mit dem Eingang der jeweiligen monostabilen Kippstufe gekoppelt sind; und ein Verzögerungsglied (814), das zwischen dem invertierenden Eingang des Logikgatters und dem Eingang der jeweiligen monostabilen Kippstufe angeordnet ist.
  5. Zeitsteuerungsschaltung nach Anspruch 4, wobei das Verzögerungsglied (814) eine zusätzliche Ablaufverfolgungslänge auf einer Schaltungsplatine umfaßt.
  6. Zeitsteuerungsschaltung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei jeder des ersten und zweiten Phasenregelkreises einen Eingang hat und folgendes umfaßt: einen Phasendetektor (910) mit einem ersten und einem zweiten Eingang und einem Ausgang, wobei der erste Eingang mit dem Eingang des Phasenregelkreises gekoppelt ist und der zweite Eingang mit dem Ausgang des Phasenregelkreises gekoppelt ist; einem Schleifenfilter (912) mit einem Eingang und einem Ausgang, wobei der Eingang mit dem Ausgang der Phasendetektorschaltung gekoppelt ist; und einem Oszillator (916) mit einem Eingang und einem Ausgang, wobei der Eingang mit dem Ausgang des Schleifenfilters gekoppelt ist.
  7. Zeitsteuerungsschaltung nach Anspruch 6, ferner mit: einem programmierbaren Verstärker (914) mit einer Verstärkung, einem mit dem Ausgang des Schleifenfilters gekoppelten Eingang und einem mit dem Eingang des Oszillators gekoppelten Ausgang; einem ersten Frequenzteiler (918) mit einer Teilerkonstante N, einem mit dem Ausgang der Oszillatorschaltung gekoppelten Eingang und einem mit dem Ausgang des Phasenregelkreises gekoppelten Ausgang; und einem Mittel zum Ändern der Verstärkung des programmierbaren Verstärkers als Antwort auf die Teilerkonstante N, um eine im wesentlichen konstante Schleifenverstärkung des Phasenregelkreises beizubehalten.
  8. Zeitsteuerungsschaltung nach Anspruch 6, ferner mit: einem programmierbaren Verstärker (914) mit einer Verstärkung, einem mit dem Ausgang des Schleifenfilters gekoppelten Eingang und einem mit dem Eingang des Oszillators gekoppelten Ausgang; einem ersten Frequenzteiler (924) mit einer Teilerkonstante M, der in Reihe zwischen den Ausgang des Phasenregelkreises und den zweiten Eingang der Phasendetektorschaltung geschaltet ist; und einem Mittel zum Ändern der Verstärkung des programmierbaren Verstärkers als Antwort auf die Teilerkonstante M, um eine im wesentlichen konstante Schleifenverstärkung des Phasenregelkreises beizubehalten.
  9. Zeitsteuerungsschaltung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei bei Verwendung: Eingangsrauschen auf einem Eingangssignal zu den Phasenregelkreisen übermittelt wird; internes Rauschen innerhalb der Phasenregelkreise erzeugt wird, wobei das Eingangsrauschen und das interne Rauschen Funktionen der Frequenz sind, wobei die interne Rauschfunktion bei einer Übergangsfrequenz unter die Eingangsrauschfunktion fällt; und der erste und der zweite Phasenregelkreis eine Bandweite haben, die im wesentlichen gleich der Übergangsfrequenz zwischen der Eingangsrausch- und der internen Rauschfunktion ist.
  10. Zeitsteuerungsschaltung nach Anspruch 6, wobei die Phasendetektorschaltung umfaßt: einen digitalen Phasendetektor (1110) mit Ausgängen, die digitale Logikpegel bereitstellen; und einen spannungsgesteuerten Stromverstärker, der Eingänge aufweist, die mit den Ausgängen des digitalen Phasendetektors gekoppelt sind, und der als Antwort auf die dadurch bereitgestellten Logikpegel einen Ausgangsstrom erzeugt.
  11. Zeitsteuerungsschaltung nach Anspruch 10, ferner mit einer Lock-Detect-Schaltung mit: einem Differenzverstärker (1310) mit einem ersten und einem zweiten Differenzeingang, die mit den digitalen UP- und DOWN-Ausgängen des digitalen Phasendetektors gekoppelt sind; einer Absolutwert-Schaltung (1312) mit einem Eingang, der mit dem Ausgang des Differenzverstärkers gekoppelt ist, und einem Ausgang, der sowohl für positive als auch für negative differentielle Eingaben in den Differenzverstärker ein positives Signal erzeugt; und einem Komparator (1314) mit einem ersten Eingang, der mit dem Ausgang der Absolutwert-Schaltung gekoppelt ist, und einem zweiten Eingang, der ein Referenzsignal empfängt, wobei der Komparator ein synchronisiertes Signal als Antwort darauf erzeugt, daß das Ausgangssignal der Absolutwert-Schaltung das Referenzsignal kreuzt.
  12. Zeitsteuerungsschaltung nach Anspruch 6, wobei der Oszillator eine YIG-(Yttrium-Eisen-Granat-)Oszillatorschaltung umfaßt.
  13. Zeitsteuerungsschaltung nach Anspruch 12, wobei die YIG-Oszillatorschaltung einen Feineinstellungseingang, der mit dem Eingang des Oszillators gekoppelt ist, und einen Grobeinstellungseingang hat, wobei der Oszillator ferner umfaßt: eine Digital/Analog-Umsetzer-(DAC-)Schaltung (1014) mit einem Ausgang; und eine Grobabstimmungs-Treiberschaltung (1016) mit einem Eingang, der mit dem Ausgang der DAC-Schaltung gekoppelt ist, und einem stromgesteuerten Ausgang, der mit dem Grobeinstellungseingang der YIG-Oszillatorschaltung gekoppelt ist.
  14. Zeitsteuerungsschaltung nach Anspruch 13, wobei der Oszillator ferner umfaßt: einen Feinabstimmungstreiber (1010) mit einem Einga ng, der in Reihe zwischen den Eingang des Oszillators und den Feineinstellungseingang der YIG-Oszillatorschaltung geschaltet ist, wobei der Ausgang des Feinabstimmungstreibers ein stromgesteuerter Ausgang ist.
  15. Verfahren zur Erzeugung eines jitterarmen Taktsignals, das ein durch ein Eingangssignal gesteuerter Arbeitszyklus hat, mit den folgenden Schritten: Einkoppeln des Eingangs-Taktsignals in einen ersten und zweiten Phasenregelkreis (712, 714); durch den ersten Phasenregelkreis bewirktes Erzeugen eines ersten regenerierten Taktsignals, das mit den steigenden Flanken des Eingangssignals phasensynchronisiert ist; durch den zweiten Phasenregelkreis bewirktes Erzeugen eines zweiten regenerierten Taktsignals, das mit den fallenden Flanken des Eingangssignals phasensynchronisiert ist; und Kombinieren des ersten und zweiten regenerierten Taktsignals, um einen Ausgangstakt mit einer abwechselnden Folge von logischen Hoch- und Tiefpegeln zu erzeugen; wobei der Kombinierschritt eine bistabile Kippstufe (810) einschließt, die dafür eingerichtet ist, als Antwort auf Logikübergänge des ersten und zweiten regenerierten Taktsignals abwechselnd gesetzt und rückgesetzt zu werden.
  16. Verfahren nach Anspruch 15, wobei die bistabile Kippstufe eine Setz/Rücksetz-Kippstufe ist und der Kombinierschritt die folgenden Schritte umfaßt: Einkoppeln eines des ersten und zweiten regenerierten Taktsignals in einen Setz-Eingang der Setz/RÜcksetz-Kippstufe; und Einkoppeln des anderen des ersten und zweiten regenerierten Taktsignals in einen Rücksetz-Eingang der Setz/Rücksetz-Kippstufe.
  17. Verfahren nach Anspruch 15 oder 16, wobei jeder Phasenregelkreis einen Rückkopplungsweg und einen Vorwärtskopplungsweg aufweist, wobei der Vorwärtskopplungsweg eine Oszillatorschaltung aufweist, wobei das Verfahren ferner die Schritte umfaßt: Teilen einer Frequenz eines Signals von der Oszillatorschaltung im Vorwärtskopplungsweg; und Teilen einer Frequenz des regenerierten Taktsignals des jeweiligen Phasenregelkreises im Rückkopplungsweg, wodurch ein großer Bereich von Ausgangsfrequenzen erzeugt wird.
  18. Verfahren nach einem der Ansprüche 15 bis 17, wobei jeder Phasenregelkreis dafür eingerichtet ist, Jitter aus dem Eingangssignal auszufiltern.
  19. Verfahren nach Anspruch 18, wobei das Eingangssignal aufweist: ein erstes Frequenzband, das Jitterkomponenten aufweist, die es mit dem System-Mastertakt gemeinsam hat, und ein zweites Frequenzband, das Jitterkomponenten aufweist, die es nicht mit dem System-Mastertakt gemeinsam hat, wobei jeder Phasenregelkreis dafür bestimmt ist, das erste Frequenzband im wesentlichen durchzulassen und das zweite Frequenzband im wesentlichen zu filtern.
  20. Verfahren nach einem der Ansprüche 15 bis 19, ferner mit dem Schritt: Ändern eines Arbeitszyklus des Eingangssignals, um den Arbeitszyklus des Ausgangstaktes zu ändern.
  21. Verfahren nach Anspruch 20, wobei: der erste und zweite Phasenregelkreis zum Multiplizieren der Frequenz des Eingangs-Taktsignals mit einer Konstante bestimmt sind, und die Frequenz des Ausgangstaktes gleich einem Vielfachen der Frequenz des Eingangstaktes ist und der Arbeitszyklus des Ausgangstaktes sich mit dem Arbeitszyklus des Ausgangstaktes ändert.
  22. Verfahren nach Anspruch 21, wobei die Impulsbreite des Ausgangstaktes gleich dem Rest der Division der Impulsbreite des Eingangstaktes durch die Periode des Ausgangstaktes ist.
  23. Verfahren nach einem der Ansprüche 15 bis 22, wobei der Arbeitszyklus des Ausgangstaktes durch den Arbeitszyklus des Eingangstaktes bestimmt ist und das Verfahren ferner die folgenden Schritte umfaßt: a) Multiplizieren der Frequenz des Eingangstaktes mittels des ersten Phasenregelkreises, um einen ersten multiplizierten Takt zu erhalten; und b) Multiplizieren der Frequenz des Eingangstaktes mittels des zweiten Phasenregelkreises, um einen zweiten multiplizierten Takt zu erhalten.
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Families Citing this family (51)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6594330B1 (en) * 1999-10-26 2003-07-15 Agere Systems Inc. Phase-locked loop with digitally controlled, frequency-multiplying oscillator
US6728327B1 (en) * 2000-01-05 2004-04-27 Lsi Logic Corporation Lower-jitter phase-locked loop
JP2001267897A (ja) * 2000-03-17 2001-09-28 Oki Electric Ind Co Ltd 遅延装置および方法
US7292091B1 (en) 2000-10-11 2007-11-06 Silicon Laboratories Inc. Method and apparatus for reducing interference
US6813111B2 (en) * 2000-11-24 2004-11-02 Texas Instruments Incorporated Implementation method of digital phase-locked loop
US6826495B2 (en) * 2001-09-28 2004-11-30 Intel Corporation Noise injection method to characterize common-clock timing margins
JP3593104B2 (ja) * 2002-01-11 2004-11-24 沖電気工業株式会社 クロック切替回路
WO2003073280A1 (en) * 2002-02-26 2003-09-04 Advantest Corporation Measuring apparatus and measuring method
US7343387B2 (en) 2002-02-26 2008-03-11 Teradyne, Inc. Algorithm for configuring clocking system
US7080304B2 (en) * 2002-02-26 2006-07-18 Teradyne, Inc. Technique for programming clocks in automatic test system
AU2003222702A1 (en) * 2002-05-03 2003-11-17 Mcgill University Method and device for use in dc parametric tests
US6677879B1 (en) * 2002-08-20 2004-01-13 Xilinx, Inc. Method and circuit for folded analog-to-digital converter (ADC) using frequency detectors and time detectors
US7136429B2 (en) * 2002-10-08 2006-11-14 Hewlett-Packard Development Company, Lp. Passive redundant digital data receiver with dual comparator edge detection
FR2846165A1 (fr) * 2002-10-17 2004-04-23 St Microelectronics Sa Procede d'estimation de la phase dans un systeme de communication numerique et boucle a verrouillage de phase
US6867659B2 (en) * 2003-04-22 2005-03-15 Lucent Technologies Inc. Method and apparatus for filtering a clock signal
EP1738468B1 (de) * 2004-03-29 2008-07-09 Nxp B.V. Verfahren zur verringerung von zwischensymbolstörungen, sigma-delta-umsetzer zur durchführung dieses verfahrens und durch dieses verfahren erzeugte informationen übermittelndes speichermedium
US7119583B2 (en) * 2004-03-31 2006-10-10 Micron Technology, Inc. Phase detector and method having hysteresis characteristics
DE102004035532B4 (de) * 2004-07-22 2010-06-10 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen eines Referenztaktübertragungssignals und Ableiten eines Referenztakts aus demselben
TWI236227B (en) * 2004-09-10 2005-07-11 Ali Corp Jitter signal circuit device of built-in-self-test phase locked loop with digital output and method thereof
CN1756082B (zh) * 2004-09-27 2010-05-12 扬智科技股份有限公司 一种锁相回路抖动信号检测电路装置及其运作方法
US7574185B2 (en) * 2004-12-17 2009-08-11 Verigy (Singapore) Pte. Ltd. Method and apparatus for generating a phase-locked output signal
US7173470B2 (en) * 2005-03-11 2007-02-06 Analog Devices, Inc. Clock sources and methods with reduced clock jitter
US8054119B2 (en) * 2005-04-19 2011-11-08 International Business Machines Corporation System and method for on/off-chip characterization of pulse-width limiter outputs
US7496155B1 (en) * 2005-09-16 2009-02-24 Xilinx, Inc. Duty cycle correction of a multi-gigahertz clock signal with crossover point control
US8068538B2 (en) * 2005-11-04 2011-11-29 Advantest Corporation Jitter measuring apparatus, jitter measuring method and test apparatus
US7345549B2 (en) * 2006-02-28 2008-03-18 Teradyne, Inc. Phase locking on aliased frequencies
US7358785B2 (en) * 2006-04-06 2008-04-15 International Business Machines Corporation Apparatus and method for extracting a maximum pulse width of a pulse width limiter
US7394277B2 (en) * 2006-04-20 2008-07-01 Advantest Corporation Testing apparatus, testing method, jitter filtering circuit, and jitter filtering method
DE102006048379B4 (de) * 2006-10-12 2008-11-06 Infineon Technologies Ag Verfahren zur Durchsatzsteuerung einer elektronischen Schaltung sowie entsprechende Durchsatzsteuerung und zugehörige Halbleiterschaltung
US7423456B2 (en) * 2006-12-01 2008-09-09 Micron Technology, Inc. Fast response time, low power phase detector circuits, devices and systems incorporating the same, and associated methods
US8400338B2 (en) * 2006-12-29 2013-03-19 Teradyne, Inc. Compensating for harmonic distortion in an instrument channel
US20080158026A1 (en) * 2006-12-29 2008-07-03 O'brien David Compensating for harmonic distortion in an instrument channel
JP2009026426A (ja) * 2007-07-23 2009-02-05 Sony Corp Pll回路、記録装置及びクロック信号生成方法
JP5202631B2 (ja) * 2007-07-23 2013-06-05 テラダイン、 インコーポレイテッド 偽信号化された周波数上の位相ロック
US7598803B2 (en) * 2007-12-26 2009-10-06 National Kaohsiung University Of Applied Sciences Combined phase-locked loop and amplitude-locked loop module for switching FM signals
US8189726B2 (en) * 2008-03-05 2012-05-29 Qimonda Ag Methods and apparatus for operating a digital communications interface
KR101043997B1 (ko) * 2009-05-06 2011-06-24 포항공과대학교 산학협력단 저전압용 디지털 차동 신호 송신기 회로
US8004332B2 (en) * 2009-11-03 2011-08-23 Advantest Corporation Duty ratio control apparatus and duty ratio control method
TWI462006B (zh) * 2011-01-11 2014-11-21 Mstar Semiconductor Inc 顯示器系統及其相關控制方法
US8576951B2 (en) 2011-10-24 2013-11-05 Sigear Europe Sarl Mixed-signal radio frequency receiver implementing multi-mode spur avoidance
WO2013062855A1 (en) * 2011-10-24 2013-05-02 Sigear Europe Sarl Mixed-signal radio frequency receiver implementing multi-mode spur avoidance
US8594170B2 (en) 2011-10-24 2013-11-26 Sigear Europe Sarl Clock masking scheme in a mixed-signal system
US9379722B2 (en) 2013-06-25 2016-06-28 Qualcomm Incorporated Frequency divider with duty cycle adjustment within feedback loop
DE112014003723B4 (de) * 2013-08-12 2024-06-06 Analog Devices, Inc. Systeme und Verfahren zur Rauschunterdrückung
US10587193B2 (en) * 2015-04-20 2020-03-10 Vitesco Technologies USA, LLC. Synchronous buck regulator with short circuit to voltage source protection
US10581418B2 (en) * 2018-01-05 2020-03-03 Samsung Electronics Co., Ltd System and method for fast converging reference clock duty cycle correction for digital to time converter (DTC)-based analog fractional-N phase-locked loop (PLL)
EP3573241B1 (de) 2018-05-24 2022-08-03 The Swatch Group Research and Development Ltd Referenzoszillator mit variablem zyklischem tastverhältnis, frequenzgenerator und signalempfänger mit diesem referenzoszillator
US11043960B2 (en) * 2019-06-10 2021-06-22 Stmicroelectronics International N.V. Sigma-delta analog-to-digital converter circuit with correction for mismatch error introduced by the feedback digital-to-analog converter
US11159248B2 (en) * 2019-12-18 2021-10-26 Teradyne, Inc. Optical receiving device
US10868562B1 (en) 2020-02-10 2020-12-15 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited Loop gain auto calibration using loop gain detector
US11522553B2 (en) 2020-05-05 2022-12-06 Stmicroelectronics International N.V. Sigma-delta analog-to-digital converter circuit with real time correction for digital-to-analog converter mismatch error

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3813604A (en) * 1972-10-04 1974-05-28 Marconi Co Canada Digital discriminator
US4330751A (en) * 1979-12-03 1982-05-18 Norlin Industries, Inc. Programmable frequency and duty cycle tone signal generator
JPS61216529A (ja) * 1985-03-22 1986-09-26 Kokusai Electric Co Ltd 誘導無線周波数シンセサイザ装置
US4835486A (en) * 1986-04-28 1989-05-30 Burr-Brown Corporation Isolation amplifier with precise timing of signals coupled across isolation barrier
JPH02244820A (ja) * 1989-03-16 1990-09-28 Oki Electric Ind Co Ltd Pll回路
US4943787A (en) * 1989-09-05 1990-07-24 Motorola, Inc. Digital time base generator with adjustable delay between two outputs
JPH03120131A (ja) * 1989-09-29 1991-05-22 Sharp Corp 画像形成装置
US5036298A (en) 1990-04-26 1991-07-30 Analog Devices, Inc. Clock recovery circuit without jitter peaking
US5281926A (en) * 1992-10-06 1994-01-25 Zenith Electronics Corp. Phase locked loop made operative when stable input sync signal is detected
JP3030598B2 (ja) * 1994-06-24 2000-04-10 アンリツ株式会社 ジッタ検出装置
US5491439A (en) * 1994-08-31 1996-02-13 International Business Machines Corporation Method and apparatus for reducing jitter in a phase locked loop circuit
US5675620A (en) 1994-10-26 1997-10-07 At&T Global Information Solutions Company High-frequency phase locked loop circuit
JPH08195691A (ja) * 1995-01-13 1996-07-30 Sony Corp 受信回路
US5550499A (en) * 1995-04-18 1996-08-27 Cyrix Corporation Single delay line adjustable duty cycle clock generator
US5675273A (en) * 1995-09-08 1997-10-07 International Business Machines Corporation Clock regulator with precision midcycle edge timing
US5900757A (en) * 1996-05-01 1999-05-04 Sun Microsystems, Inc. Clock stopping schemes for data buffer
US5699024A (en) * 1996-05-06 1997-12-16 Delco Electronics Corporation Accurate integrated oscillator circuit
US5828255A (en) * 1996-11-15 1998-10-27 International Business Machines Corporation Phase locked loop having adaptive jitter reduction
JPH10313249A (ja) * 1997-05-12 1998-11-24 Advantest Corp 分周器およびその分周器を用いた発振器
JPH1174766A (ja) * 1997-08-27 1999-03-16 Sony Corp クロックパルス逓倍装置
JP2978856B2 (ja) * 1997-09-29 1999-11-15 山形日本電気株式会社 水平走査パルス信号制御回路
JP3851425B2 (ja) * 1997-10-14 2006-11-29 富士通株式会社 Pll回路

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Publication number Publication date
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