DE499186C - Interferenzspektroskop - Google Patents

Description

• Interferenzspektroskop Das Interfercnzspektroskop nach dem Hauptpatent 455553 läßt in bezug auf .die Anwendung der verschiedenen Gangunterschiede eine große Mannigfaltigkeit zu. Außer dem naheliegenden Falle der Wiederholung gleicher Gangunterschiede sind auch Folgen von ungleichen Gangunterschieden, insbesondere nach gesetzmäßig steigenden Werten des Gangunterschiedes, in Betracht gezogen worden. Hierbei sind aber immer ganzzahlige Vielfache eines zugrunde gelegten Gangunterschiedes vorausgesetzt worden; dementsprechend zeigt z. B. die Abb. ? des Hauptpatents einen Satz von planparallelen Platten, deren jede die doppelte Dicke .der vorhergehenden hat, und es wird in Zeile 25 auf Seite 2 hervorgehoben, daß das große Dispersionsgebiet der dünnen Platte beibehalten wird, also die Ganzzah.ligkeit des Gangunterschiedsverhältnisses vorausgesetzt ist.
• Beim Gegenstand vorliegender Erfindung handelt es sich,darum, Verhältnisse .der Gangunterschiede der interferierenden Strahlen einzuführen, die nicht ganzzahli.g sind. Insbesondere ist für praktische Zwecke das Verhältnis i : 3,3 oder i : 3,7 vorteilhaft, z. B. bei durchsichtig versilberten Platten, die zusammen ein hlehrfacbinterferenzspelctroskop bilden. Bei höheren Werten des Reflexionskoeffizienten sind Verhältnisse von z.B. i : 4,3 o:ler i : 5,3 vorteilhaft. In allen diesen Fällen wird die Wahrscheinlichkeit eines Zusammenfallens von Interferenzmaximis verschiedener Gangctnterschied'e in Verbindung mit einem großen Dispersionsgebiet günstiger als bei Anwendung ganzzahliger Vielfacher oder an-,lerer Bruchteile als 0,3 oder 0,7, wie sich auch theoretisch ableiten läßt. Ferner wird, wie sich gleichfalls theoretisch zeigen läßt, bei einem nicht ganzzahlngen Verhältnis der Gangunterschiede das Dnspersionsgebiet größer als das der dünnsten Platte, zum Unterschied von den ganzzahligen Gangunterschieds-Verhältnissen.
• In besonders einfacher und technisch vorteilhafter Weise läßt sich der Erfindungsgedanke durch die Konstruktion nach Abb. i der Zeichnung verwirklichen. Das zu untersuchende Licht fällt z. B. auf ein Prisma a, das auf die z. B. planparallele Platte b (z. B. aus Glas oder Ouarz) aufgeklebt oder angesprengt ist. Auf dieser planparallelen Platte b ist eine zweite, kleinere planparallele Platte c angesprengt. Das Licht geht dann zu dem Prisma d, wird von dort nach der Platte b zurückgeworfen und tritt weiter in den nicht ezeichneten Beobachtungs- odc r photographischen Apparat. Wesentlich ist, daß die Hypotenusenfläche von d sowie die diesem Prisma zugekehrten freien Oberflächen von b und c mit durchsichtigen hfetallschichten (z. B. von Silber; Nickel oder Beryllium) überzagen sind. Diese Metallschichten sind in der Abbildung durch Strichelung angedeutet. -Durch bloße Abstandsänderung des Prismas d von den Teilen c, b und a bewirkt man eine Variation des Gangunterschiedes in jedem gewünschten Verhältnis. Es ist klar, daß man die Platte c statt auf der Platte b auch auf der Hypotenusenfiäche von d ansprengen kann und ,daß man ferner das an sich sehr bequeme, aber nicht nötige Prisma a. fortlassen kann.
• Abb. 2 gibt einen Fall wieder, wo durch Hinzufügung eines dritten Prismas e, einer dritten, z. B. planparallelen Platte f und noch einer weiteren planparallelen Platte g eine noch ,größere Verschärfung der Interferenzen erzielt wird. In der Alyb. 2 haben die Buchstaben a, b, c und d dieselbe Bedeutung wie in Abb. i. Die freien, und einander zugekehrten Oberflächen der Platten b, c, --und f sind wie vorher mit einem durchsichtigen Metallspiegelbelag versehen.

Claims (1)

1. PATENTANSPRUCH: Intexferenzspektroskop nach Patent 455553, dadurch gekennzeichnet, daß die Abstände der zur Erzeugung verschärfter Interferenzen verwendeten Flächen, z. B. von planparallelen Platten und Prismen, so bemessen sind, daß unter verschiedenen miteinander interferierenden Strahlen gebrochene Verhältniszahlen der Gangunterschiede auftreten.