DE4127096A1 - Gleichspannungs-kalibriereinrichtung fuer einen digital/analog-wandler - Google Patents

Gleichspannungs-kalibriereinrichtung fuer einen digital/analog-wandler

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Description

Die vorliegende Erfindung betrifft allgemein Digital/Analog- Wandler, und sie betrifft im besonderen eine Kalibrierein­ richtung zur Beseitigung des Gleichspannungs-Offset vom Digital/Analog-Wandler, sowie dessen zugehörige analogen Rekonstruktions-Filter.
Im Bereich der digitalen Audiotechnik und Telekommunikation ist die Technologie der hochpräzisen und hochauflösenden Digital/Analog-Konvertierung (DAC) eine der Schlüsseltechno­ logien bei Analogschaltungen geworden. Üblicherweise wurde bisher für hochauflösende Digital/Analog-Wandlung entweder die Schaltungstechnik des belasteten Netzwerks mit Trimmung oder die Technik der Mehrfachschleifen-Integration benutzt. Beim belasteten Netzwerk war die Trimmung des belasteten Netzwerks mittels eines Lasers, dynamischer Abgleichelemente oder der Einsatz des digitalen Verfahrens unter Verwendung von Nur-Lese-Speichern (ROM) erforderlich. Dies ist notwendig im Hinblick auf die Umwandlungsgenauigkeit, welche zu einem großen Teil von der Anpassungsgenauigkeit des belasteten Netzwerks abhängt. Typischerweise läßt sich mit nicht abgegli­ chenen belasteten Netzwerken eine Genauigkeit von 14 Bit erzielen, wohingegen das abgeglichene Netzwerk eine Umwand­ lungsgenauigkeit von über 15 Bit erreichen kann. Bei der Schaltungstechnik mit Mehrfachschleifen-Integration sind andererseits Integratoren, Abtast- und Haltekreise und Strom­ quellen erforderlich, welche notwendigerweise sehr schnell und mit relativ hoher Präzision arbeitende Einrichtungen sein müssen. Die Realisierung von hochauflösenden Digital/Analog­ Wandlern unter Benutzung dieser letzteren Technologie ist schwierig wegen der Abtastladung und der Abtastkapazität, die über die Basisimpedanz des typischerweise in Bipolar-Technolo­ gie ausgeführten Transistors leckt.
Eine andere Technik, die in der DAC-Technologie großen Stel­ lenwert bekommen hat, ist die Umwandlung mit überhöhter Ab­ tastrate (Oversampling). Bei dieser wird typischerweise ein Delta-Sigma-Modulator in Verbindung mit üblichen Oversamp­ ling-Rauschunterdrückungsverfahren mittels digitaler Filter eingesetzt. Dabei wird vorzugsweise ein Interpolationsfilter benutzt, um die Abtastrate zu erhöhen und anschließend alles Abbildungs- und Quantisierungsrauschen bei Fs/2 und darüber herauszufiltern, wobei Fs die Eingangs-Abtastfrequenz ist. Das Ausgangssignal des Interpolationsfilters wird anschlie­ ßend in einem Abtast- und Haltekreis (Sample-and-Hold-Glied) weiter verarbeitet, um das Oversampling-Ausgangssignal zu erhalten. Wenn das Interpolationsfilter die Abtastrate um den Faktor 8 vervielfacht, könnte im Abtast- und Haltekreis eine weitere, ebenfalls 8fache Überhöhung der Abtastrate stattfin­ den, so daß sich insgesamt ein 64fach-Oversampling ergeben könnte. Der Delta-Sigma-Modulator nimmt das Ausgangssignal des kombinierten Interpolationsfilter- und Abtast- und Halte­ kreises auf und wandelt dieses Oversampling-Signal in einen 1-Bit-Datenstrom um. Dieses 1-Bit-Ausgangssignal steuert dann einen Digital/Analog-Wandler, welcher nur zwei analoge Poten­ tialebenen aufweist und aus diesem Grunde inhärent linear ist. Das Signal wird anschließend auf ein analoges Tiefpaß­ filter gegeben.
Mit der Technik der Störgeräuschunterdrückung durch Oversamp­ ling bei hochauflösenden Digital/Analog-Wandlern traten zwei Probleme auf: Gleichspannungs-Offset und Phasenlinearität. Der Digitalteil des Digital/Analog-Wandlers, umfassend das Interpolationsfilter, Sample-and-Hold-Glied und den Delta- Sigma-Modulator, kann so ausgelegt werden, daß er im wesent­ lichen phasenlinear arbeitet, und es kann auch ein Gleich­ spannungs-Offset vorgesehen werden. Wenn jedoch der Analog- Teil des Gesamt DA-Wandlersystems implementiert wird, bei­ spielsweise das analoge Tiefpaßfilter, dann kann dies zusätz­ lich zu einer Nichtlinearität des Phasenverlaufs zu einem zusätzlichen Gleichspannungs-Offset führen. Es ist sehr schwierig, im Analogteil des DA-Konvertersystems einen Gleich­ spannungs-Offset zu unterbinden und einen linearen Phasengang zu gewährleisten. Bei Anwendungen, wie beispielsweise Digi­ tal-Audio, werden dieser Gleichspannungs-Offset und die man­ gelnde Linearität des Phasengangs hörbar und führen zu einer Verminderung der angestrebten Audio-Qualität.
Angesichts dieser Nachteile liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Digital/Analog-Wandlersystem zu schaffen, bei dem eine Methode zur Kalibrierung des Gleichspannungs-Offsets für die kombinierten Digital/Analog-Teile des DA-Wandlers vorgesehen ist, und das sich durch einen linearen Über-Alles- Phasengang für das Gesamtsystem auszeichnet.
Zur Lösung dieses technischen Problems ist erfindungsgemäß ein Digital/Analog-Wandler mit einer integrierten Kalibrier­ einrichtung für die Justage des Gleichspannungs-Offsets vorge­ sehen. Das System umfaßt einen Digital/Analog-Konverter, der ein digitales Eingangssignal empfängt und an seinem Ausgang ein analoges Ausgangssignal abgibt, dessen analoges Spannungs­ niveau dem Wert des digitalen Eingangssignals entspricht. Es ist ein Offset-Schaltkreis vorgesehen, der für einen gegebe­ nen Wert des digitalen Eingangssignals das analoge Spannungs­ niveau durch einen Offset-Wert verschiebt. Eine ferner vorge­ sehene Kalibrierschaltung legt den Betrag der Offset-Spannung im Ansprechen auf die Erzeugung eines Kalibriersignals fest. Das Offset-Signal wird durch die Kalibrierschaltung in der Weise festgesetzt, daß ein vorbestimmter Wert des digitalen Eingangssignals auf dem Digital-Eingang zur Ausgabe eines analogen Ausgangssignals mit vorbestimmtem Wert führt.
Nach einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung funktio­ niert die Kalibrierschaltung so, daß sie den Offset-Wert durch Vergleichen des analogen Ausgangssignals mit dem vorbe­ stimmten digitalen Wert des Eingangssignals am Digital-Ein­ gang bestimmt, und den Wert der Offset-Spannung variiert, bis das analoge Ausgangssignal ungefähr mit dem vorbestimmten Wert des analogen Ausgangssignal übereinstimmt. Die Höhe der Offset-Spannung ist eine digitale Größe, die in einem Offset- Register abgespeichert wird. Eine Summierstelle ist am Ein­ gang des Digital/Analog-Wandlers vorgesehen, welcher das digitale Eingangssignal und der Ausgang des Offset-Registers zugeführt werden.
Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung drückt die Kalibrierschaltung den Eingang zum Digital/Analog-Wandler auf einen digitalen Eingangswert von nahezu Null. Der Ausgang des Digital/Analog-Wandlers wird dann abgetastet, und der Offset-Wert im Register wird so lange verändert, bis der Wert des analogen Ausgangs im wesentlichen zu Null wird. Ein an- und abschaltbarer Verstärker ist vorgesehen, der den Analog- Ausgang des Digital/Analog-Wandlers von einem Analog-Ausgang elektrisch trennt, und ferner ein Schalter, der den Analog- Ausgangspfad während des Kalibriervorgangs auf einer fest vorgebenen Spannung hält.
Nach einem weiteren Gedanken der vorliegenden Erfindung um­ faßt der Digital/Analog-Wandler ein Interpolationsfilter, das die Abtastrate des Digital/Analog-Wandlers erhöht und den interpolierten digitalen Wert an einen Delta-Sigma-Modulator ausgibt, der das Signal in einen digitalen 1-Bit-Datenstrom, der dann als Eingangssignal für einen 1-Bit-DA-Wandler dient, umwandelt. Ein zudem vorhandenes Tiefpaßfilter filtert den 1-Bit-DA-Wandler und stellt so das analoge Ausgangssignal bereit.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung und die damit verbun­ denen Vorteile werden nachstehend unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 den Digitalteil und den Analogteil eines Digital/Analog-Wandlers mit Kalibrier-Steuereinrichtung und Offset-Register, in einem Block­ schaltbild;
Fig. 2 das Interpolationsfilter und den Abtast- und Haltekreis des DA-Wand­ lers, in einem Blockschaltbild;
Fig. 3 den Delta-Sigma-Modulator, in einem Blockschaltbild;
Fig. 4, 4a und 4b schematische Schaltbilder des getakteten Kondensatorfilters und kontinuierlichen Filters, welches das analoge Tiefpaßfilter umfaßt;
Fig. 5 ein Logik-Diagramm für die Kali­ brier-Steuereinrichtung und das Offset-Register;
Fig. 5a ein Zeitdiagramm für den Kalibrier- Schaltkreis.
In Fig. 1 ist ein Digital/Analog-Konvertersystem (DAC) darge­ stellt. Das DA-Wandlersystem besteht aus einem Digitalteil 10 und einem Analogteil 12. Der Digitalteil 10 umfaßt teilweise einen Interpolationskreis 14, der ein Interpolationsfilter sowie einen Abtast- und Haltekreis einschließt. Der Digital­ teil 10 umfaßt ferner einen Delta-Sigma-Modulator 16. Der Digitalteil 10 bewirkt eine Umwandlung des an einem Ein­ gang 18 anstehenden digitalen Eingangssignals in einen digi­ talen 1-Bit-Datenstrom an einem Ausgang 20. Der Ausgang 20 ist gleichzeitig Eingang des Analogteils 12, wobei der Analog­ teil 12 im allgemeinen einen 1-Bit-DA-Wandler 21 und ein analoges Tiefpaßfilter 22 umfaßt. Obwohl hier ein Delta- Sigma-Modulator 16 dargestellt ist, kann selbstverständlich auch jeder andere Typ eines 1-Bit-Quantisierers oder ein Äquivalent eingesetzt werden, um die Umwandlung in einen digitalen 1-Bit-Datenstrom durchzuführen. Der Delta-Sigma- Modulator 16 wird hier eingesetzt, da er sich durch gute Leistung bei niedrigem Niveau und differentieller Nichtli­ nearität auszeichnet. Die allgemeine Arbeitsweise des Digital­ teils 10 ist bekannt und beispielsweise beschrieben in Yasuykui Matsuya, Kuniharu Uchimura, Atsushi Awaiti und Takayo Kaneko, "A 17-Bit Oversampling D-to-A Conversion Tech­ nology Using Multi-Stage Noise Shaping", IEEE J. of Solid- State Circuits, Vol. 24, No. 4, August 1989. Auf diesen Auf­ satz wird hier ergänzend Bezug genommen.
Der Ausgang des Interpolationskreises 14 ist mit dem Eingang eines Summierers 24 verbunden, dessen Ausgang mit dem Eingang des Delta-Sigma-Modulators 16 verbunden ist. Der andere Ein­ gang des Summierers 24 ist mit dem Ausgang eines Offset-Regi­ sters 26 verbunden. Der Inhalt des Offset-Registers 26 stellt einen Gleichspannungs-Offset bereit, der ausreicht, um jedes möglicherweise in dem in Fig. 1 dargestellten System auftre­ tende Gleichspannungsdrift-Problem zu korrigieren. Wie später noch erläutert werden wird, wird der Inhalt des Offset-Regi­ sters 26 bestimmt durch eine interne Kalibrierroutine.
Das Analogfilter 22 im Analogteil 12 ist mit einem Verstär­ ker 28 an seinem Ausgang versehen. Der positive Eingang des Verstärkers 28 ist an Masse angeschlossen, und sein negativer Eingang ist über ein Widerstandselement 30 mit dem Ausgang des Analogfilters 22 verbunden. Der Ausgang des Verstär­ kers 28 ist mit dem Eingang einer zweiten Verstärkerstufe 32 verbunden, und der Ausgang der zweiten Verstärkerstufe 32 ist verbunden mit dem einem Knotenpunkt 34 zugeordneten Pfad für den Analogausgang. Ein Widerstandselement 36 ist zwischen den negativen Eingang des Verstärkers 28 und den Knotenpunkt 34 geschaltet. Der Ausgang des Verstärkers 28 ist zu einem der Eingänge eines Gatters 38 geführt, dessen Ausgang mit dem Eingang eines Kalibrier-Steuerkreises 40 verbunden ist. Der andere Eingang des Gatters 38 ist durch den Kalibrier- Steuerkreis 40 mit einem Ausgang für ein Kalibrier/Squelch- Signal CAL/SQUELCH verbunden. Der Kalibrier-Steuerkreis 40 setzt den Inhalt des Offset-Registers 22 auf einen Offset- Wert. Der Kalibrier-Steuerkreis 40 verfügt ferner über einen Digital-Eingang 18 und einen Rücksetz-Eingang. Ausgangsseitig weist der Kalibrier-Steuerkreis 40 zudem eine Steuerleitung zu dem Interpolationskreis 14 auf, um dessen Ausgang auf alle Null-Werte während des Kalibrierzyklus zu zwingen. Zu Zwecken der Kalibrierung ist ein Schalter 44 am Analogausgang zwischen dem Knotenpunkt 34 und Masse vorgesehen. Steht der Knotenpunkt 34 mit Masse in Verbindung, so ist damit auch der Widerstand 36 über den Schalter 44 geerdet, wodurch der Verstärker 28 mit offenem Gegenkopplungszweig (open loop) betrieben wird und als Vergleicher arbeitet.
Im Betrieb initiiert der Kalibrier-Steuerkreis 40 eine interne Kalibrierprozedur, bei der erst der Ausgang des Interpolationskreises 14 in einen völligen Ruhezustand versetzt und dann der Inhalt des Offset-Registers 26 auf einen vorbestimmten Wert gesetzt wird. Dies ergibt das erste Eingangssignal für den Delta-Sigma-Modulator 16. Anschließend wird der Ausgang des Verstärkers 28 von dem Kalibrier- Steuerkreis 40 abgetastet, um festzustellen, ob das Signal am Ausgang des Analogfilters 22 über Null liegt. Wenn der Ausgang des Analogfilters 22 über Null liegt, so wird am Ausgang des Verstärkers 28 der Logikzustand "Null" anstehen. Wenn das Signal am Ausgang des Analogfilters 22 unter den Wert "Null" abfällt, so wird das Signal am Ausgang des Verstärkers 28 den logischen Wert "Eins" annehmen. Der Inhalt des Offset-Registers 26 wird so lange zum Durchlaufen einer Reihe von Werten veranlaßt, bis der Übergangspunkt am Ausgang des Verstärkers 28 gefunden ist; so wird der zutreffende Offset festgestellt, der am Ausgang des Analogfilters 22 einen Null-Wert und gleichzeitig einen Null-Wert am Eingang des Interpolationskreises 14 ergibt. Während des Kalibriervor­ gangs ist der Schalter 44 geschlossen und der ausgangsseitige Verstärker 32 hat kein Ausgangssignal. Obwohl in dieser Dar­ stellung der Summierer 24 zwischen dem Interpolationskreis 14 und dem Eingang des Delta-Sigma-Modulators 16 angeordnet ist, kann das Summierglied selbstverständlich auch am Digitalein­ gang des Interpolationskreises 14 vorgesehen sein. Jedoch hat sich herausgestellt, daß vom Schaltungsdesign her betrachtet der Abgleichvorgang zwischen dem Interpolationskreis und dem Delta-Sigma-Modulator 16 vorgenommen werden sollte.
In Fig. 2 ist nun das Blockschaltbild des Interpolations­ kreises 14 dargestellt, welcher das Interpolationsfilter und den Abtast- und Haltekreis (Sample-and Hold-Glied) enthält. Das Interpolationsfilter ist hier in einer dreistufigen Topo­ logie ausgeführt: Ein als 125 Abgriffe aufweisendes Halbband­ filter ausgeführtes 2fach- Interpolationsfilter 50, ein als 24 Abgriffe aufweisendes Filter ausgebildetes 2fach-Interpo­ lationsfilter 52 und ein als mit vier Abgriffen ausgestat­ tetes Filter ausgeführtes 2fach-Interpolationsfilter 54. Das Interpolationsfilter 50 arbeitet so, daß es die Abtastfre­ quenz für ein 18-Bit-Eingangssignal von 48 kHz auf ein 18-Bit-Signal von 96 kHz transformiert. Das Interpolations­ filter 52 arbeitet so, daß es die Abtastfrequenz von 96 kHz auf 192 kHz erhöht, und das 2fach-Interpolationsfilter 54 transformiert die Abtastrate von 192 kHz auf eine Abtastfre­ quenz von 384 kHz. Diese dreistufige Topologie wurde aus Gründen der Flächenausnutzung und im Hinblick auf effiziente Berechnung gewählt. Wie in einer parallelen Patentanmeldung des gleichen Anmelders näher beschrieben ist, hat das Interpo­ lationsfilter 52 die Aufgabe, den Phasen- und Frequenzgang des Analogfilters 22 im Analogteil 12 zu kompensieren. Aller­ dings können alle drei Interpolationsfilter 50, 52 und 54 dazu benutzt werden, diesen Phasen- und Frequenzgang auszu­ gleichen. Infolge der Ausstattung des Interpolations­ filters 50 mit einem Halbband-Filter, bei dem jeder andere Koeffizient Null ist, konnte eine wesentliche Reduzierung von Rechenvorgängen (z. B. Anzahl der Multiplikationen pro Se­ kunde) erzielt werden. Die Interpolationsfilter 52 und 54 sind ebenfalls mittels FIR-Filtern realisiert, wobei jedes dieser FIR-Filter die zugehörigen Filter-Koeffizienten in einem Speicher 56 abgespeichert hat.
Jedes FIR-Filter ist durch den Einsatz einer digitalen Signal­ verarbeitungseinheit (DSP, Digital Signal Processing) reali­ siert, welche im wesentlichen eine arithmetisch-logische Einheit (ALU, Arithmetic Logic Unit) ist, deren Eingänge im Multiplex-Verfahren betrieben werden, um die für die Filter­ funktion notwendigen Berechnungen auszuführen. Typischerweise werden digitale Filter durch eine Folge von in einer bestimm­ ten Reihenfolge auszuführenden Multiplikations- und Addi­ tions/Subtraktions-Schritten ausgeführt, wobei die Reihenfol­ ge sequentiell ist. Also werden die digitalen Daten des Ein­ gangs von jedem der FIR-Filter 50-54 gemäß dem im Speicher 56 abgespeicherten Koeffizienten verarbeitet. Dies ergibt die Filter- und Interpolationsfunktion für den Ausgang des die dritte Stufe darstellenden Interpolationsfilters 54.
Das Ausgangssignal von 384 kHz des die dritte Stufe darstel­ lenden Interpolationsfilters 54 ist gleichzeitig das Eingangs­ signal für einen 8fach-Abtast- und Haltekreis 58, der die Abtastfrequenz auf 3072 MHz erhöht. Dies ist dann das Ein­ gangssignal für die Summierstelle 24. Zusätzlich ist eine Steuerleitung 60 von dem Kalibrier-Steuerkreis 40 angeschlos­ sen. Diese Steuerleitung 60 bewirkt einen Über-Alles-Grundzu­ stand am Ausgang des Abtast- und Haltekreises 58 zu Zwecken des Kalibrierens, was nachstehend detailliert beschrieben wird.
Fig. 3 enthält ein Blockschaltbild des Delta-Sigma-Modula­ tors 16, welcher das digitale 18-Bit-Signal in einen 1-Bit­ Datenstrom umwandelt. Das Signal am Ausgang des Summierers 24 wird auf den Eingang eines Summierers 62 gegeben und dann einer ersten Integrierstufe 64 zugeleitet. Das Ausgangssignal der ersten Integrierstufe 64 wird auf den Eingang einer Sum­ mierstelle 66 gegeben, deren Ausgangssignal dem Eingang einer zweiten Integrierstufe 68 zugeführt wird. Das Ausgangssignal der zweiten Integrierstufe 68 wird auf den Eingang einer dritten Integrierstufe 70 gegeben. Der Ausgang der dritten Integrierstufe 70 ist auf den Eingang einer Summierstelle 72 geschaltet, deren Ausgangssignal auf den Eingang einer vier­ ten Integrierstufe 74 gegeben wird. Der Ausgang der vierten Integrierstufe 74 ist mit dem Eingang einer fünften Integrier­ stufe 76 verbunden. Die Ausgänge aller Integrierstufen 64, 68, 70, 74 und 76 sind jeweils mit dem Eingang einer Summier­ stelle 80 über Vorwärtskopplungspfade 82, 84, 86, 88 und 90 verbunden, wobei diesen die Koeffizienten a1, a2 a3 a4 und a5 zugeordnet sind. Das Ausgangssignal der fünften Integrier­ stufe 76 wird über einen negativen Rückkopplungspfad 92 auf den Eingang der Summierstelle 72 gegeben, wobei diesem der Koeffizient b₂ zugeordnet ist. Das Minuszeichen am Eingang der Summierstelle 72 deutet eine Subtraktion an. Zusätzlich wird auch das Ausgangssignal von der fünften Integrier­ stufe 76 über einen positiven Vorwärtskopplungspfad 94 auf den Eingang der Summierstelle 72 gegeben, wobei diesem ein Koeffizient b3 zugeordnet ist. Ein Pluszeichen am Eingang des Rückkopplungspfades 94 zur Summierstelle 72 deutet eine Addi­ tion an. Der Rückkopplungspfad 96 verbindet den Ausgang der dritten Integrierstufe mit dem Eingang der Summierstelle 66 am Eingang der zweiten Integrierstufe 68, wobei der Rückkopp­ lungspfad 96 eine negative Gegenkopplung darstellt und einen zugehörigen Koeffizienten b1 hat.
Das Ausgangssignal der Summierstelle 80 ist gleichzeitig das Eingangssignal für einen 1-Bit-Quantisierer, der das Ausgangs­ signal der Summierstelle 80 in ein Signal umwandelt, welches den Endwert mit positivem oder negativem Vorzeichen annimmt. Das Ausgangssignal des Quantisierers 98 passiert eine Verzö­ gerungs-Übertragungsfunktion 100 und erscheint als Ausgangs­ signal auf der Leitung 102. Das Ausgangssignal auf der Lei­ tung 102 wird gleichzeitig über ein Funktionsglied 103 mit Koeffizientem g auf den Eingang der Summierstelle 62 gegeben, so daß es zu dem digitalen Eingangssignal des Delta-Sigma- Modulators 16 hinzuaddiert wird. Die Struktur der Schaltung gemäß Fig. 3 stellt somit einen Delta-Sigma-Modulator fünf­ ter Ordnung dar. Die Koeffizienten dieses Modulators fünfter Ordnung, wie er in Fig. 3 dargestellt ist, sind in der nach­ stehenden Liste 1 aufgeführt.
Liste 1
Koeffizienten des Delta-Sigma-Modulators
In Fig. 4 ist das schematische Blockschaltbild des Analog­ teils 12 mit dem Analogfilter 22 dargestellt. Das Analog­ filter 22 besteht aus zwei Abschnitten, nämlich einem getakte­ ten Kondensatorfilter 106 sowie einem kontinuierlichen Filter­ teil 108. Das getaktete Kondensatorfilter 106 enthält ein Tiefpaßfilter vierter Ordnung vom Butterworth-Typ, während der kontinuierliche Filter 108 von einem Butterworth-Tiefpaß­ filter zweiter Ordnung gebildet wird.
Das getaktete Kondensatorfilter 106 wird von vier getakteten Kondensatorstufen 110, 112, 114 und 116 gebildet. Das analoge Eingangssignal wird auf den positiven Eingang einer Summier­ stelle 118 gegeben, deren Ausgang mit dem Eingang der ersten getakteten Kondensatorstufe 110 verbunden ist. Das Ausgangs­ signal der getakteten Kondensatorstufe 110 wird auf den posi­ tiven Eingang einer Summierstelle 120 gegeben. Das Ausgangs­ signal der Summierstelle 120 wird auf den Eingang der zweiten getakteten Kondensatorstufe 112 gegeben, deren Ausgang mit dem positiven Eingang einer Summierstelle 122 verbunden ist. Das Ausgangssignal der Summierstelle 122 wird auf den Eingang der dritten getakteten Kondensatorstufe 114 gegeben, deren Ausgang mit dem positiven Eingang einer Summierstelle 124 verbunden ist. Das Ausgangssignal der Summierstelle 124 wird auf den Eingang einer getakteten Kondensatorstufe 116 gege­ ben, deren Ausgang mit einem Knotenpunkt 126 in Verbindung steht. Der Knotenpunkt 126 ist auf alle negativen Eingänge der Summierstellen 118, 120, 122 und 124 rückgekoppelt.
Das kontinuierliche Filter 108 ist mit seinem Eingang an den Knotenpunkt 126 angeschlossen, wobei der Knotenpunkt 126 über einen Widerstand 128 mit dem Knotenpunkt 130 verbunden ist. Ein Kondensator 132 ist mit einer Elektrode mit dem Knoten­ punkt 130 verbunden; seine andere Elektrode ist an Masse angeschlossen. Der Knotenpunkt 130 ist über einen Wider­ stand 134 mit dem negativen Eingang eines Verstärkers 136 verbunden; dessen positiver Eingang ist an Masse angeschlos­ sen. Der Verstärker 136 ist vorzugsweise ein zur Realisierung von Filtern geeigneter Operationsverstärker. Der Ausgang des Verstärkers 136 ist mit dem Analog-Ausgang am Knotenpunkt 138 verbunden. Der Knotenpunkt 138 ist über einen in Serie ge­ schalteten Kondensator 140 mit dem negativen Eingang des Verstärkers 136 verbunden. Gleichzeitig ist der Knoten­ punkt 138 über einen Widerstand 142 mit dem Knotenpunkt 130 verbunden. Ein Schalter 144 ist zwischen den Analog-Ausgangs­ pfad am Knotenpunkt 138 und Masse geschaltet. Das Steuer­ signal CAL/SQUELCH wird über eine Steuerleitung 146 sowohl dem Verstärker 136 als auch dem Schalter 144 zugeführt. Wie unten noch beschrieben werden wird, dient die Steuerlei­ tung 146 dazu, das Ausgangssignal des Verstärkers 136 von dem Knotenpunkt 138 für den Analog-Ausgang verschwinden zu lassen und überdies den Schalter 144 während des Kalibriervorgangs zu schließen. Dies veranlaßt dann die erste Verstärker­ stufe 136, als Vergleicher zu arbeiten.
Fig. 4a dient der detaillierten Beschreibung des Verstär­ kers 136. Dieser Verstärker 136 besteht aus einer ersten Stufe 148 und einer Ausgangsstufe 150. Die Ausgangsstufe 150 enthält zwei CMOS-Transistoren 152, von denen der eine mit seinem Source/Drain-Pfad zwischen positiver Spannung und dem Ausgangsknotenpunkt 138 schaltet und von denen der andere Transistor mit seinem Source/Drain-Pfad zwischen den Knoten­ punkt und Masse geschaltet ist. Die Transistoren 152 werden durch das CAL/SQUELCH-Signal auf der Leitung 146 gesteuert, um den Knotenpunkt 138 vom Ausgang der ersten Stufe 148 zu trennen. Der Ausgang der Stufe 148 stellt die Vergleichsope­ ration zur Verfügung, deren Ergebnissignal auf einen Eingang des Gatters 38 (vergleiche Fig. 1) gegeben wird. Der andere Eingang des Gatters 38 ist mit der Leitung 146 verbunden. Somit wird der Schalter 144 geschlossen und der Knoten­ punkt 138 mit Masse verbunden, sobald der Kalibriervorgang eingeleitet wird.
Ein Detail der getakteten Kondensatorstufen 110-116 ist in Fig. 4b dargestellt. Jede dieser Stufen weist eine Verstär­ kerstufe 143 auf, die einen zwischen ihrem negativen Eingang und dem Ausgang angeordneten Rückkopplungs-Kondensator 145 hat. Am Eingang ist ein geschalteter bzw. getakteter Kondensa­ tor 147 vorgesehen, der vom Ausgang der vorangehenden Summier­ stelle 118-124 mit zugehörigen, in der Nähe angeordneten Schaltern geschaltet wird. Die Schalter werden durch Signale Φ1 und Φ2 gesteuert. In gleicher Weise hat der Rückkopp­ lungszweig einen damit in Serie geschalteten getakteten Kon­ densator 149 und Zugang zum negativen Eingang des Verstär­ kers 143. Gleichartige Schalter sind in einer Anordnung von getakteten Kondensatoren vorgesehen und werden durch die Zeitsignale Φ1 und Φ2 gesteuert. Hierbei handelt es sich um eine übliche Schaltungsstruktur.
Ein den Kalibrier-Steuerkreis 40 näher erläuterndes Block­ schaltbild ist in Fig. 5 enthalten. Das Offset-Register ist ein 16-Bit-Register. Es ist eine Steuereinheit 154 für fort­ laufende Annäherung (Approximation) vorgesehen, welche über eine Schnittstelle mit dem Offset-Register 26 zusammen arbei­ tet. Das Offset-Register 26 hat 16 Bits, die von einem LSB (Last Significant Bit) bis zu einem MSB (Most Significant Bit) reichen. Die Steuereinheit 154 für fortlaufende Annähe­ rung ist dafür ausgelegt, entweder jedes Bit im Offset-Regi­ ster 26 auf den logischen Wert "Null" oder jedes Bit auf den logischen Wert "Eins" zu setzen. Die Steuereinheit 154 für sukzessive Annäherung ist dafür ausgelegt, anfangs alle Regi­ ster im Offset-Register 26 auf den logischen Wert "Null" zu setzen und anschließend jedes Bit, beginnend mit dem MSB, zu setzen und anschließend, sofern zweckmäßig, auf ein Rücksetz­ signal am Ende des Zyklus zu warten, welches bei seinem Er­ scheinen das Bit auf "Null" zurücksetzt, und dann den Zyklus mit dem nächst tieferen Bit fortzusetzen. Das CAL/SQUELCH- Signal stellt den Eingang für die Steuereinheit 154 für suk­ zessive Approximation auf der Leitung 146 dar und löst die Operation aus.
Ein ferner vorgesehener 10-Bit-Zähler 156 hat zwei Eingabe­ eingänge EN1 und EN2, die eine Ingangsetzung des Zäh­ lers 156 bewirken. Der Freigabeeingang EN1 ist über eine Leitung 159 mit einem Ausgang der Steuereinheit 154 für fort­ laufende Annäherung verbunden. Das Ausgangssignal auf der Leitung 159 wird durch einen internen Zähler 160 erzeugt. Von der Steuereinheit 154 wird ein Rücksetzsignal auf eine Lei­ tung 162 ausgegeben, um den 10-Bit-Zähler für jedes von der Steuereinheit 154 getestete Bit rückzusetzen. Das MSB des Zählers 156 erscheint als Ausgang auf der Leitung 164 zu einem Rücksetzeingang an der Steuereinheit 154 für fortlaufen­ de Annäherung. Wie später noch beschrieben wird, dient eine Leitung 164 und das darauf liegende Signal dazu, das über­ prüfte Bit vor einem Rücksetzen auf den logischen Wert "Null" zu schützen. Das Ausgangssignal des Vergleichers auf der Leitung 158 wird auf den Freigabeeingang EN2 gegeben und inkrementiert den Zähler 156, wenn es mit dem Takteingang kombiniert wird. Der Takteingang ist mit einem Signal beauf­ schlagt, welches das 64fache der Abtastfrequenz FS ist.
In Fig. 5a ist ein Zeitdiagramm für den Kalibriervorgang dargestellt. Das CAL/SQUELCH-Signal ist durch ein Signal 166 repräsentiert, dessen ansteigende Flanke die Kalibrierproze­ dur startet. Das MSB der Steuereinheit 154 wird repräsentiert durch einen zweiten Impuls 167, welcher dem Impuls 166 folgt. Ein Zählerrücksetzsignal wird gleichzeitig mit dem Impuls 167 erzeugt und über die Leitung 162 an den Zähler 156 ausgege­ ben, um den Zählerstand darin auf Null rückzusetzen. Der Freigabeeingang EN1 des Zählers 156 auf der Leitung 159 wird für eine bestimmte Ruhezeit 168 auf niedrigem Spannungsniveau (low) gehalten. Diese Ruhezeit ist vorgesehen, um den Digi­ tal/Analog-Wandler für ein bestimmtes Zeitintervall nach Beaufschlagung des Eingangs des Digital/Analog-Wandlers mit einem neuen Eingangssignalwert zur Ruhe kommen zu lassen, wobei dieses Eingangssignal von allen logischen "Null"s am Eingang des Summierers 24 gebildet wird. Typischerweise ist das analoge Tiefpaßfilter 22 die primäre Komponente des Schaltkreises, die für dieses Erfordernis von Bedeutung ist. Die Freigabeleitung 159 ändert dann für 1.024 Takte ihr Span­ nungsniveau auf "Hoch", was durch einen Impuls 165 repräsen­ tiert wird, wobei dies der gleiche Takt ist, wie er dem Ein­ gang des 10-Bit-Zählers 156 zugeführt wird. Die Zählfunktion wird von einem Zähler 160 ausgeführt. Nach 1.024 Takten wird die MSB-Leitung 164 abgetastet, um ein Rücksetzsignal zu erhalten, welches dann, wenn es den Zustand "Hoch" hat, das betreffende Bit nicht rücksetzt. Die Rücksetzfunktion er­ scheint bei einem Impuls 163, welcher dann, wenn das MSB des Zählers niedriges Spannungsniveau (low) annimmt, zu einem Rücksetzen des Bits auf Null führt. Anschließend wird das auf das MSB nächstfolgende Bit gesetzt, kann der Digital/Analog- Wandler für die mit dem Bezugszeichen 168 versehene Offset- Ruhezeit in den Ruhezustand gehen und wird das Ausgangssignal des Vergleichers über 1.024 Takte abgetastet. Dies wird für alle 16 Bits fortgesetzt.
Die Steuereinheit für fortlaufende Annäherung kann in einem zweiten Arbeitsmodus ein Signal auf einem Preset-Eingang 161 empfangen. Der Preset-Eingang 161 bringt ein anderes Bit als das MSB dazu, das erste in der fortlaufenden Approximations- Routine zu sein. Zusätzlich setzt das CAL/SQUELCH-Signal nicht alle Bits im Offset-Register 26 auf Null, wenn das Preset-Signal 161 benutzt wird. Der Wert im Register wird festgehalten, so daß die Suche in kürzerer Zeit durchgeführt werden kann.
Der vorstehend beschriebene Kalibrier-Steuerkreis 40 ist dafür ausgelegt, daß er das CAL/SQUELCH-Signal im Ansprechen auf ein externes Rücksetzsignal generiert. Darüber hinaus ist das Kalibrier-Steuersignal dazu geschaffen, mit dem Digital- Eingang 18 verbunden zu werden und den Augenblick festzustel­ len, wenn alle dessen Bits für eine vorbestimmte Zeitdauer den logischen Wert "Null" haben. Sofern dieser Zustand vor­ liegt, erzeugt der Kalibrier-Steuerkreis 40 das CAL-SQUELCH- Signal. Auf diese Weise wird ein mit Masse verbundener Aus­ gang immer dann geschaffen, wenn der Ausgang des Digital/ Analog-Wandlers einen echten Null-Eingangswert annimmt. Immer dann, wenn dieser Zustand auftritt, setzt der Kalibrier- Steuerkreis 40 den Bit-Zähler 156 zurück, so daß die Kalibrie­ rung nicht von einem Offset-Wert von Null aus begonnen wird. Vielmehr beginnt diese mit einem Offset-Wert, der geringfügig geringer ist als der im Offset-Register 26 zuvor eingespei­ cherte Offset-Wert. Es ist deshalb nicht notwendig, die gesam­ te binäre Suche, die von der Bit-Steuereinheit 154 durchge­ führt wird, zu durchlaufen, sondern statt dessen einen modifi­ zierten Suchlauf.
Obwohl vorstehend der Kalibriervorgang hinsichtlich eines Null-Offsets beschrieben wurde, könnte der Verstärkungsfaktor des Delta-Sigma-Modulators auch eingestellt werden. Dies würde für ein bekanntes Eingangssignal die Messung von zwei Spannungen, nämlich einer niedrigen Spannung sowie einer hohen Spannung, erforderlich machen. Das bekannte Eingangs­ signal könnte in der Summierstelle 24 durch das Offset-Regi­ ster 26 aufaddiert werden, und es könnte dann eine Messung erfolgen. Eine Berechnung könnte durchgeführt werden, und der Verstärkungsfaktor des Delta-Sigma-Modulators könnte eingere­ gelt werden. Dies wäre eine ähnliche Vorgehensweise, wie sie in dem US-Patent Nr. 49 43 807 (Early) vom 24. Juli 1990 beschrieben ist.
Es soll nochmals zusammengefaßt werden, daß hier eine Gleich­ spannungs-Kalibriereinrichtung für einen Digital/Analog-Wand­ ler vorgeschlagen wird. Der Digital/Analog-Wandler wird in einen Kalibriermodus versetzt, und sein Eingang wird auf den logischen Zustand "low" gesetzt. Eine bekannte Offset-Span­ nung wird dann dem Digital/Analog-Wandler zugeführt und deren Wert wird nach einem binären Suchraster variiert. Wenn das Ausgangssignal echt zu Null geworden ist, wird der Betrag der Offset-Spannung in dem Register abgespeichert und anschlie­ ßend zu dem externen Eingangssignal während des normalen Betriebs hinzuaddiert. Während des Kalibriervorgangs wird das Ausgangssignal unterdrückt und auf Massepotential gehalten, um den Ausgang mit einer niedrigen Impedanz abzuschließen.
Obwohl vorstehend ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel detail­ liert beschrieben ist, können darin auch verschiedene Abände­ rungen, Ersetzungen und Abweichungen vorgenommen werden, ohne die grundlegenden Gedanken und Prinzipien der Erfindung zu verlassen.
Verzeichnis der Bezugsziffern
 10 Digitalteil
 12 Analogteil
 14 Interpolationskreis
 16 Delta-Sigma-Modulator
 18 Digital-Eingang
 20 Analog-Ausgang
 21 Digital-Analog-Wandler (DAC)
 22 Tiefpaßfilter
 24 Summierer
 26 Offset-Register
 28 Verstärker
 30 Widerstandselement
 32 (zweite) Verstärkerstufe
 34 Knotenpunkt
 36 Widerstand
 38 Gatter
 40 Kalibriersteuerkreis
 44 Schalter
 50 Interpolationsfilter
 52 Interpolationsfilter
 54 Interpolationsfilter
 56 Speicher
 58 Abtast- und Haltekreis (Sample-and-Hold-Glied)
 60 Steuerleitung
 62 Summierstelle
 64 (erste) Integrierstufe
 66 Summierstelle
 68 (zweite) Integrierstufe
 70 (dritte) Integrierstufe
 72 Summierstelle
 74 (vierte) Integrierstufe
 76 (fünfte) Integrierstufe
 80 Summierstelle
 82 Vorwärtskopplungspfad
 84 Vorwärtskopplungspfad
 86 Vorwärtskopplungspfad
 88 Vorwärtskopplungspfad
 90 Vorwärtskopplungspfad
 92 Rückkopplungspfad
 94 Rückkopplungspfad
 96 Gegenkopplungszweig
 98 1-Bit-Quantisierer
100 Verzögerungs-Übertragungsfunktion
102 Leitung
103 Funktionsglied
106 getaktetes Kondensatorfilter
108 kontinuierliches Filter
110 Kondensatorstufe
112 Kondensatorstufe
114 Kondensatorstufe
116 Kondensatorstufe
118 Summierstelle
120 Summierstelle
122 Summierstelle
124 Summierstelle
126 Knotenpunkt
128 Widerstand
130 Knotenpunkt
132 Kondensator
134 Widerstand
136 Verstärker
138 Knotenpunkt
140 Kondensator
142 Widerstand
143 Verstärkerstufe
144 Schalter
145 Rückkopplungs-Kondensator
146 Steuerleitung
147 Kondensator
148 (erste) Stufe
149 Kondensator
150 Ausgangsstufe
152 Transistoren
154 Steuereinheit
156 10-Bit-Zähler
159 Leitung
160 Zähler
161 Preset-Eingang
162 Leitung
164 Leitung
165 Impuls
166 Signal
167 Impuls
168 Ruhezeit
169 Rücksetzsignal

Claims (38)

1. Digital/Analog-Wandler mit integrierter Kalibrierein­ richtung, gekennzeichnet durch
  • - einen Digital/Analog-Wandler (21), der ein digitales Eingangssignal an einem Digitaleingang (18) aufnimmt und ein analoges Ausgangssignal mit einem dem Digitalwert des digitalen Eingangssignals entsprechenden analogen Ausgangs­ niveau an seinem Ausgang abgibt;
  • - einen Offset-Schaltkreis zur Verschiebung des Ausgangs­ niveaus um eine Offset-Spannung für einen gegebenen digita­ len Eingangswert am Digitaleingang (18); und
  • - einen Kalibrier-Schaltkreis zur Bestimmung der Offset-Span­ nung im Ansprechen auf die Erzeugung eines Kalibriersig­ nals, wobei die Offset-Spannung durch den Kalibrier-Schalt­ kreis in der Weise festgesetzt wird, daß ein vorbestimmter Wert des digitalen Eingangssignals am Digitaleingang (18) ein Ausgangssignal mit vorbestimmtem analogen Ausgangswert ergibt.
2. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Kalibrier-Schaltkreis den Wert der Offset-Spannung im Ansprechen auf die Erzeugung eines Kalibriersignals bestimmt.
3. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 2, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Offset-Schaltkreis um­ faßt:
  • - einen im Eingangsteil des Digital/Analog-Wandlers vorgesehenen digitalen Summierer (24), dem über seinen einen Eingang das digitale Eingangssignal zugeführt wird; und
  • - ein Offset-Register (26) zur Abspeicherung des Betrags der Offset-Spannung als Digitalwert, wobei der Ausgang dieses Offset-Registers (26) einem zweiten Eingang des digitalen Summierers (24) zugeführt wird, um zu dem digitalen Ein­ gangssignal hinzuaddiert zu werden.
4. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 3, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Kalibrier-Schaltkreis umfaßt:
  • - eine Einrichtung, die das digitale Eingangssignal auf ein vorbestimmtes digitales Kalibrier-Eingangssignal zwingt;
  • - eine Abtastschaltung zum Abtasten des analogen Ausgangs- Spannungsniveaus des analogen Ausgangssignals des Digital/ Analog-Wandlers, wenn das vorbestimmte digitale Kalibrier- Eingangssignal auf den Digital/Analog-Wandler gegeben wird; und
  • - eine Register-Steuerschaltung, die den Wert der Offset- Spannung in dem Offset-Register (26) so lange variiert, bis das analoge Ausgangs-Spannungsniveau des analogen Ausgangs­ signals im wesentlichen mit dem vorbestimmten analogen Kalibrier-Ausgangssignal übereinstimmt, wenn das vorbe­ stimmte digitale Kalibrier-Eingangssignal auf den Digital/ Analog-Wandler gegeben wird.
5. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 4, dadurch ge­ kennzeichnet, daß das vorbestimmte digitale Kalibrier-Eingangssignal einen Wert von ungefähr "Null" hat, und das vorbestimmte analoge Kalibrier-Ausgangssignal einen Wert von ungefähr "Null" hat.
6. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 4, dadurch ge­ kennzeichnet, daß er zusätzlich umfaßt:
  • - einen Analog-Ausgangsanschluß (34) zur Übernahme des analogen Ausgangssignals vom Digital/Analog-Umwandler;
  • - einen Unterdrückungs-Schaltkreis, der das analoge Ausgangs­ signal von dem Analog-Ausgangsanschluß (34) im Ansprechen auf die Erzeugung des Kalibriersignals fernhält; und
  • - einen Spannungs-Steuerschaltkreis, der den Analog-Ausgangs­ anschluß (34) auf eine vorbestimmte Spannung setzt, wenn der Analog-Ausgangsanschluß durch den Unterdrückungs-Schalt­ kreis vom Ausgangssignal des Digital/Analog-Wandlers iso­ liert wird.
7. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 2, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Digital/Analog-Wandler enthält:
  • - ein Interpolationsfilter (14, 50, 52, 54) zur Erhöhung der Abtastfrequenz für jedes digitale Eingangssignal;
  • - ein Abtast- und Haltekreis (58), dem das Ausgangssignal des Interpolationsfilters (14, 50, 52, 54) zugeführt wird;
  • - ein n-Bit-Quantisierer, der das Ausgangssignal des Abtast- und Haltekreises (58) in einen digitalen n-Bit-Datenstrom umwandelt;
  • - ein n-Bit-Digital/Analog-Wandler (21), der das Ausgangs­ signal des n-Bit-Quantisierers in ein konvertiertes analo­ ges Signal umwandelt; und
  • - ein analoges Tiefpaßfilter (22), welches das Ausgangssignal des n-Bit-Digital/Analog-Wandlers (21) filtert, um dessen hochfrequente Signalanteile, die außerhalb der Bandbreite des analogen Tiefpaßfilters (22) liegen, im wesentlichen auszufiltern.
8. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 7, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Offset-Schaltkreis um­ faßt:
  • - einen digitalen Summierer (24), der zwischen dem Abtast- und Haltekreis (58) und dem Quantisierer vorgesehen ist; und
  • - ein Offset-Register (26) zur Abspeicherung der Offset- Spannung als digitaler Wert, wobei das Ausgangssignal dieses Offset-Registers (26) dem zweiten Eingang des Summierers (24) zugeführt wird, so daß der Offset-Wert zu dem digitalen Ausgangssignal des Abtast- und Haltekrei­ ses (58) hinzuaddiert wird.
9. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 7, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der n-Bit-Quantisierer einen Delta-Sigma-Modulator (16) enthält.
10. Digital/Analog-Wandler nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Digital/ Analog-Wandler einen Delta-Sigma-Digital/Analog-Wandler ent­ hält.
11. Digital/Analog-Wandler mit integrierter Kalibriereinrich­ tung, gekennzeichnet durch:
  • - einen Digital-Eingang (18), dem ein digitales Eingangs­ signal zugeführt wird;
  • - eine Interpolations-Stufe, die das digitale Eingangssignal empfängt und dessen Abtastfrequenz heraufsetzt; und
  • - einen Quantisierer, der das Ausgangssignal der Interpola­ tionsstufe aufnimmt und in einen digitalen Datenstrom umwan­ delt;
  • - einen Digital/Analog-Wandler, der den digitalen Datenstrom in ein konvertiertes analoges Signal umwandelt;
  • - einen Analogteil (12), umfassend ein analoges Tiefpaß­ filter (22) zur Filterung des umgewandelten analogen Aus­ gangssignals des Digital/Analog-Wandlers und Ausgabe eines analogen Ausgangssignals an einen ausgangsseitigen Analog- Knotenpunkt (34);
  • - ein Offset-Register (26) zur Abspeicherung des digitalen Werts der Offset-Spannung;
  • - einen Summierer (24), der den im Offset-Register (26) abge­ speicherten Wert für die Offset-Spannung zu dem digitalen Eingangssignal vor der Zuführung dieses digitalen Signals an den Quantisierer hinzuaddiert;
  • - eine Kalibrierschaltung, die den Wert für die Offset-Span­ nung im Ansprechen auf die Erzeugung eines Kalibriersignals bestimmt, wobei der Offset-Wert durch die Kalibrierschal­ tung in der Weise festgesetzt wird, daß ein vorbestimmter digitaler Eingangswert am Digital-Eingang (18) ein Ausgangs­ signal von vorbestimmtem analogen Ausgangspotential ergibt, wenn der vorbestimmte digitale Eingangswert durch den Sum­ mierer (26) zu dem Offset-Wert hinzuaddiert wird.
12. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 11, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Summierer (24) zwischen der Interpolationsstufe und dem Quantisierer angeordnet ist.
13. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 11, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Quantisierer einen Delta- Sigma-Modulator (16) enthält und an seinem Ausgang einen digitalen 1-Bit-Datenstrom abgibt.
14. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 11, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Interpolationsstufe ent­ hält:
  • - ein Interpolationsfilter (14, 50, 52, 54), das eine Filterfunktion mit endlicher Impulsantwort hat und mit vorbestimmten Koeffizienten für diese Filterfunktion mit endlicher Impulsantwort arbeitet; und
  • - einen Abtast- und Haltekreis (58), der das Ausgangssignal des Interpolationsfilters abtastet und dessen Abtastfre­ quenz heraufsetzt.
15. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 11, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Analogteil des Filters enthält:
  • - ein Tiefpaßfilter (106) mit getakteten Kondensatoren zur Aufnahme des Ausgangssignals des Digital/Analog-Wandlers; und
  • - ein kontinuierliches Tiefpaßfilter (108), welches das Aus­ gangssignal des getakteten Kondensatorfilters (106) emp­ fängt, und dessen Ausgangssignal mit dem Knotenpunkt (34) für das analoge Ausgangssignal verbunden ist.
16. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 11, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Kalibrier-Schaltkreis enthält:
  • - eine Einrichtung, die das digitale Eingangssignal auf ein vorbestimmtes digitales Kalibrier-Eingangssignal setzt;
  • - einen Abtastschaltkreis, der das analoge Ausgangsniveau des von dem Analogteil abgegebenen analogen Ausgangssignals abtastet; und
  • - einen Register-Steuerschaltkreis, der den Offset-Wert in dem Offset-Register so lange verändert, bis das analoge Ausgangsniveau des analogen Ausgangssignals im wesentlichen dem vorbestimmten Kalibrier-Ausgangssignal entspricht, wenn das vorbestimmte Kalibrier-Eingangssignal als digitales Eingangssignal auf den Eingang gegeben wird.
17. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß das vorbestimmte digitale Kalibrier-Eingangssignal im wesentlichen den Wert "Null" hat und das vorbestimmte analoge Kalibrier-Ausgangssignal eben­ falls einen Wert von im wesentlichen "Null" hat.
18. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 16, dadurch ge­ kennzeichnet, daß er ferner enthält:
  • - einen Unterdrückungs-Schaltkreis, der im Ansprechen auf die Erzeugung des Kalibriersignals den Knotenpunkt (34) für das analoge Ausgangssignal vom Ausgang des analogen Tiefpaß­ filters (22) trennt; und
  • - einen Spannungs-Steuerschaltkreis, der den Knotenpunkt (34) für das analoge Ausgangssignal auf einer vorbestimmten Spannung hält, wobei der Knotenpunkt (34) für das analoge Ausgangssignal vom Ausgang des analogen Tiefpaßfilters (22) und dem Analogteil (12) durch den Unterdrückungs-Schalt­ kreis getrennt wird.
19. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 16, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Register-Steuerschalt­ kreis den Offset-Wert des Offset-Registers (26) mittels eines binären Suchalgorithmus fortlaufend verändert und den Betrag des Offset-Werts an das Offset-Register (26) übergibt, sobald das analoge Ausgangssignal im wesentlichen dem vorbestimmten analogen Kalibrier-Ausgangssignal entspricht.
20. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 11, dadurch ge­ kennzeichnet, daß er ferner eine Einrichtung zur Erzeugung des Kalibrier-Steuersignals im Ansprechen auf ein externes Eingangssignal umfaßt.
21. Digital/Analog-Wandler nach Anspruch 11, dadurch ge­ kennzeichnet, daß er ferner eine Einrichtung zur Erzeugung des Kalibriersignals im Ansprechen auf das digitale Eingangssignal mit vorbestimmtem Wert umfaßt.
22. Verfahren zur Kalibrierung eines Digital/Analog-Wandlers, umfassend die Verfahrensschritte:
  • - Vorsehen eines Digital-Eingangs (18);
  • - Vorsehen eines Analog-Ausgangs (34);
  • - Umwandeln eines dem Digital-Eingang (18) zugeführten digi­ talen Eingangssignals in ein am Analog-Ausgang (34) anlie­ gendes analoges Ausgangssignal, wobei das analoge Ausgangs­ niveau des analogen Ausgangssignals dem digitalen Wert des digitalen Eingangssignals entspricht;
gekennzeichnet durch die weiteren Verfahrens­ schritte:
  • - Verschieben des analogen Ausgangsniveaus durch einen Offset-Wert für einen vorgegebenen digitalen Eingangswert am Digital-Eingang (18); und
  • - Bestimmen dieses Offset-Wertes in der Weise, daß ein vor­ bestimmter digitaler Eingangswert am Digital-Eingang (18) in der Ausgabe eines vorbestimmten analogen Ausgangswertes am Analog-Ausgang (34) ergibt.
23. Verfahren nach Anspruch 22, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Verfahrensschritt der Bestimmung des Offset-Wertes im Ansprechen auf die Erzeugung eines Kalibriersignals erfolgt.
24. Verfahren nach Anspruch 23, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Offset-Wert ein digitaler Wert ist und der Verfahrensschritt der Verschiebung des analogen Ausgangsniveaus durch den Offset-Wert umfaßt:
  • - Vorsehen eines Offset-Registers (26);
  • - Abspeichern des Offset-Wertes in dem Offset-Register (26); und
  • - Addieren des Ausgangs des Offset-Registers (26) mit dem digitalen Eingangssignal.
25. Verfahren nach Anspruch 23, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Verfahrensschritt der Bestimmung des Offset-Wertes umfaßt:
  • - Festsetzen des digitalen Eingangssignals auf ein vorbe­ stimmtes Kalibrier-Eingangssignal;
  • - Abtasten des analogen Ausgangsniveaus des analogen Ausgangs­ signals, wenn das digitale Eingangssignal auf das vorbe­ stimmte Kalibrier-Eingangssignal gesetzt wird; und
  • - Veränderung des Offset-Wertes so lange, bis das analoge Ausgangsniveau des Ausgangssignals im wesentlichen gleich dem vorbestimmten analogen Kalibrier-Ausgangssignal ist, wenn das digitale Eingangssignal auf das vorbestimmte Kalibrier-Eingangssignal gesetzt wird.
26. Verfahren nach Anspruch 25, dadurch gekenn­ zeichnet, daß das vorbestimmte digitale Kalibrier- Eingangssignal einen Wert von im wesentlichen "Null" hat, und das vorbestimme analoge Kalibrier-Ausgangssignal einen Wert von im wesentlichen "Null" hat.
27. Verfahren nach Anspruch 25, gekennzeichnet durch die weiteren Verfahrensschritte:
  • - Isolieren des analogen Ausgangssignals von dem Analog- Ausgang (34) im Ansprechen auf die Erzeugung eines Kali­ briersignals; und
  • - Beaufschlagen des Analog-Ausgangs (34) mit einer vorbe­ stimmten Spannung, wenn der Analog-Ausgang durch den Verfah­ rensschritt des Isolierens von dem analogen Ausgangssignal getrennt wird.
28. Verfahren nach Anspruch 23, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Verfahrensschritt der Umwandlung des digitalen Eingangssignals in ein analoges Ausgangssignal umfaßt:
  • - Filtern des digitalen Eingangssignals mittels eines Inter­ polationsfilters (14, 50, 52, 54), um dessen Abtastfrequenz zu erhöhen;
  • - Verarbeiten des Ausgangssignals des Interpolationsfilters durch einen Abtast- und Haltekreis (58);
  • - Umwandeln des Ausgangssignals des Abtast- und Halte­ kreises (58) in einen digitalen n-Bit-Datenstrom;
  • - Umwandeln des digitalen n-Bit-Datenstroms in ein konver­ tiertes analoges Signal; und
  • - Filtern des konvertierten analogen Signals mittels eines analogen Tiefpaßfilters (22), um die darin enthaltenen Informationsanteile mit außerhalb der Bandbreite der Tiefpaß-Filterung liegenden hohen Frequenz im wesentlichen zu entfernen.
29. Verfahren nach Anspruch 28, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Verfahrensschritt der Offset- Verschiebung umfaßt:
  • - Vorsehen eines Offset-Registers (26);
  • - Abspeichern des Offset-Werts als digitaler Wert in dem Offset-Register (26); und
  • - Addieren des Ausgangssignals des Offset-Registers (26) mit dem von dem Abtast- und Haltekreis (58) abgegebenen digi­ talen Signal, und zuvor Umwandeln des Ausgangssignals des Abtast- und Haltekreises (58) in einen digitalen n-Bit- Datenstrom.
30. Verfahren nach Anspruch 28, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Verfahrensschritt des Umwandelns des Ausgangssignals des Abtast- und Haltekreises (58) in einen digitalen n-Bit-Datenstrom die Verarbeitung des Ausgangssignals des Abtast- und Haltekreises (58) durch einen Delta-Sigma-Modulator (16) umfaßt.
31. Verfahren zum Kalibrieren eines Digital/Analog-Wandlers, gekennzeichnet durch die Verfahrensschritte:
  • - Empfangen eines digitalen Eingangssignals an einem Digital- Eingang (18);
  • - Erhöhen der Abtastfrequenz des digitalen Eingangssignals;
  • - Umwandeln des digitalen Signals mit der erhöhten Abtastfrequenz in einen digitalen n-Bit-Datenstrom;
  • - Umwandeln des digitalen n-Bit-Datenstroms in ein konvertiertes analoges Signal;
  • - Vorsehen eines analogen Tiefpaßfilters (22);
  • - Filtern des umgewandelten analogen Signals mittels des analogen Tiefpaßfilters (22);
  • - Vorsehen eines Offset-Registers (26);
  • - Abspeichern eines digitalen Offset-Wertes in dem Offset- Register (26);
  • - Addieren des in dem Offset-Register (26) abgespeicherten digitalen Offset-Werts zu dem digitalen Eingangssignal vor der Umwandlung des digitalen Eingangssignals in den digitalen n-Bit-Datenstrom; und
  • - Bestimmen des Offset-Werts im Ansprechen auf die Erzeugung eines Kalibriersignals, wobei der Offset-Wert in der Weise festgesetzt wird, daß ein vorbestimmer digitaler Eingangs­ wert am Digitaleingang (18) zu einem Ausgangssignal mit vorbestimmtem analogen Ausgangswert führt.
32. Verfahren nach Anspruch 31, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Verfahrensschritt des Aufaddie­ rens die Addition des Ausgangs des Offset-Registers (26) zu dem digitalen Signal umfaßt, nachdem dessen Abtastfrequenz erhöht worden ist, und vor der Umwandlung des digitalen Sig­ nals in einen digitalen 1-Bit-Datenstrom.
33. Verfahren nach Anspruch 31, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Verfahrensschritt des Umwandelns des digitalen Signals mit der erhöhten Abtastfrequenz in einen digitalen 1-Bit-Datenstrom die Verarbeitung des digi­ talen Signals mit der erhöhten Abtastfrequenz durch einen Delta-Sigma-Modulator (16) umfaßt.
34. Verfahren nach Anspruch 31, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Verfahrensschritt der Erhöhung der Abtastfrequenz umfaßt:
  • - Verarbeiten des digitalen Eingangssignals durch ein Interpolationsfilter (14, 50, 52, 54), welches das digitale Signal gemäß einer endlichen Impulsfunktion verarbeitet; und
  • - Verarbeiten des Ausgangssignals des Interpolationsfilters durch einen Abtast- und Haltekreis (58).
35. Verfahren nach Anspruch 31, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Verfahrensschritt der Bestimmung des Offset-Werts umfaßt:
  • - Setzen des digitalen Eingangssignals auf ein vorbestimmtes digitales Kalibrier-Eingangssignal;
  • - Abtasten des analogen Ausgangsniveaus des analogen Ausgangs­ signals, das von dem analogen Tiefpaßfilter (22) abgegeben wird, wenn das digitale Eingangssignal auf das vorbestimmte digitale Kalibrier-Eingangssignal gesetzt wird; und
  • - Verändern des in dem Offset-Register (26) abgespeicherten Offset-Werts so lange, bis das analoge Ausgangsniveau des analogen Ausgangssignals im wesentlichen gleich dem vorbe­ stimmten analogen Kalibrier-Eingangssignal ist, wenn das digitale Eingangssignal auf das vorbestimmte digitale Kali­ brier-Eingangssignal gesetzt wird.
36. Verfahren nach Anspruch 35, dadurch gekenn­ zeichnet, daß das vorbestimmte digitale Eingangs- Kalibriersignal einen Wert von im wesentlichen "Null" hat, und das vorbestimmte analoge Kalibrier-Ausgangssignal einen Wert von im wesentlichen "Null" hat.
37. Verfahren nach Anspruch 35, gekennzeichnet durch die weiteren Verfahrensschritte:
  • - Vorsehen eines Analog-Ausgangs (34) für den Empfang des analogen Ausgangssignals von dem analogen Tiefpaßfil­ ter (22);
  • - Trennen des analogen Ausgangssignals von dem Analog- Ausgang (34) im Ansprechen auf die Erzeugung eines Kali­ briersignals; und
  • - Setzen des Analog-Ausgangs (34) auf eine vorbestimmte Spannung, wenn der Analog-Ausgang durch den Trennvorgang isoliert ist.
DE4127096A 1990-08-22 1991-08-16 Gleichspannungs-Kalibriereinrichtung für einen Digital/Analog-Wandler Expired - Fee Related DE4127096C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/571,375 US5087914A (en) 1990-08-22 1990-08-22 DC calibration system for a digital-to-analog converter

Publications (2)

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GB (1) GB2247369B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10342056A1 (de) * 2003-09-11 2005-04-14 Infineon Technologies Ag Additionsschaltung für Sigma-Delta-Modulatorschaltungen

Families Citing this family (55)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2252829B (en) * 1991-02-15 1994-10-19 Crystal Semiconductor Corp Method and apparatus for decreasing the interference and noise sensitivity of a ratiometric converter type of circuit
US5212659A (en) * 1991-10-08 1993-05-18 Crystal Semiconductor Low precision finite impulse response filter for digital interpolation
US5248970A (en) * 1991-11-08 1993-09-28 Crystal Semiconductor Corp. Offset calibration of a dac using a calibrated adc
US5196850A (en) * 1991-11-13 1993-03-23 Crystal Semiconductor Fourth order digital delta-sigma modulator
US5592403A (en) * 1993-03-11 1997-01-07 Monolith Technologies Corporation Digital-to-analog converter including integral digital audio filter
US5381148A (en) * 1993-07-12 1995-01-10 Analog Devices, Inc. Method and apparatus for calibrating a gain control circuit
US5376892A (en) * 1993-07-26 1994-12-27 Texas Instruments Incorporated Sigma delta saturation detector and soft resetting circuit
FI96811C (fi) * 1993-11-30 1996-08-26 Nokia Mobile Phones Ltd Menetelmä ja piirijärjestely D/A-muuntimen DC-erojännitteen kompensoimiseksi
US5446455A (en) * 1993-12-02 1995-08-29 Motorola Inc. Auto-calibrated current-mode digital-to-analog converter and method therefor
US5583501A (en) * 1994-08-24 1996-12-10 Crystal Semiconductor Corporation Digital-to-analog converter with digital linearity correction
US5594612A (en) * 1994-08-24 1997-01-14 Crystal Semiconductor Corporation Analog-to-digital converter with digital linearity correction
US5594439A (en) * 1994-08-24 1997-01-14 Crystal Semiconductor Corporation Diagnosing problems in an electrical system by monitoring changes in nonlinear characteristics
US5598157A (en) * 1994-10-28 1997-01-28 Harris Corporation Sigma Delta analog to digital converter with three point calibration apparatus and method
US5644308A (en) * 1995-01-17 1997-07-01 Crystal Semiconductor Corporation Algorithmic analog-to-digital converter having redundancy and digital calibration
US5717321A (en) * 1995-01-17 1998-02-10 Cirrus Logic, Inc. Drive current calibration for an analog resistive touch screen
JPH09266447A (ja) * 1996-03-28 1997-10-07 Sony Corp 語長変換装置及びデータ処理装置
US5777912A (en) * 1996-03-28 1998-07-07 Crystal Semiconductor Corporation Linear phase finite impulse response filter with pre-addition
US5789974A (en) * 1996-07-17 1998-08-04 Analog Devices, Inc. Calibrating the DC-offset of amplifiers
US5764103A (en) * 1996-07-17 1998-06-09 Analog Devices, Inc. Switching amplifiers into and out of circuits with reduced output noise
US5894280A (en) * 1997-02-05 1999-04-13 Vlsi Technology, Inc. Digital to analog converter offset autocalibration system in a digital synthesizer integrated circuit
US6442213B1 (en) * 1997-04-22 2002-08-27 Silicon Laboratories Inc. Digital isolation system with hybrid circuit in ADC calibration loop
US6144326A (en) 1997-04-22 2000-11-07 Silicon Laboratories, Inc. Digital isolation system with ADC offset calibration
US6137827A (en) 1997-04-22 2000-10-24 Silicon Laboratories, Inc. Isolation system with digital communication across a capacitive barrier
US6289070B1 (en) 1997-04-22 2001-09-11 Silicon Laboratories, Inc. Digital isolation system with ADC offset calibration including coarse offset
US6281821B1 (en) 1997-09-30 2001-08-28 Jason P. Rhode Digital-to-analog converter with power up/down transient suppression and automatic rate switching
US6275540B1 (en) * 1997-10-01 2001-08-14 Motorola, Inc. Selective call receiver having an apparatus for modifying an analog signal to a digital signal and method therefor
US6275259B1 (en) * 1998-02-02 2001-08-14 International Business Machines Corporation Digital automatic gain control circuit for image system
US6191715B1 (en) 1998-10-29 2001-02-20 Burr-Brown Corporation System for calibration of a digital-to-analog converter
DE19905271A1 (de) * 1999-02-09 2000-08-10 Abb Research Ltd AD-Wandler mit hochauflösener Kalibrierung
US6114980A (en) * 1999-04-13 2000-09-05 Motorola, Inc. Method and apparatus for settling a DC offset
DK199901006A (da) * 1999-07-09 2001-01-10 Telital R & D Denmark As Digital til analog konverteringsanordning
US6229466B1 (en) * 1999-08-23 2001-05-08 Level One Communications, Inc. Digital calibration method and apparatus for multi-bit delta-sigma D/A converter
US6307490B1 (en) 1999-09-30 2001-10-23 The Engineering Consortium, Inc. Digital to analog converter trim apparatus and method
US6356217B1 (en) 2000-02-29 2002-03-12 Motorola, Inc. Enhanced DC offset correction through bandwidth and clock speed selection
US6452524B1 (en) 2001-02-08 2002-09-17 Ericsson Inc. Delta sigma converter incorporating a multiplier
US6489912B2 (en) * 2001-04-10 2002-12-03 International Business Machines Corporation Analog-to-digital converter for monitoring VDDQ and dynamically updating programmable Vref when using high-frequency receiver and driver circuits for commercial memory
US6509852B1 (en) 2001-08-03 2003-01-21 Texas Instruments Incorporated Apparatus and method for gain calibration technique for analog-to-digital converter
US6549156B1 (en) * 2002-04-15 2003-04-15 Semiconductor Components Industries Llc Method of forming a semiconductor device and structure therefor
US6756924B2 (en) * 2002-05-16 2004-06-29 Integrant Technologies Inc. Circuit and method for DC offset calibration and signal processing apparatus using the same
JP3978744B2 (ja) * 2002-07-25 2007-09-19 パイオニア株式会社 デジタルアナログ変換器
US7058371B2 (en) * 2003-03-12 2006-06-06 Via Technologies, Inc. Mechanism for modulating wireless communication signals
JP4277599B2 (ja) * 2003-07-14 2009-06-10 ヤマハ株式会社 オフセット補正方法、オフセット補正回路及び電子ボリューム
US7593483B2 (en) * 2004-05-07 2009-09-22 Broadcom Corporation Nonlinear mapping in digital-to-analog and analog-to-digital converters
TWI307223B (en) * 2006-02-09 2009-03-01 Realtek Semiconductor Corp Signal processing system capable of changing signal levels
US20080167735A1 (en) * 2007-01-08 2008-07-10 Gerardo Escobar Valderrama Repetitive controller to compensate for (61±1) harmonics
US8503695B2 (en) * 2007-09-28 2013-08-06 Qualcomm Incorporated Suppressing output offset in an audio device
US7991573B2 (en) * 2007-12-19 2011-08-02 Qimonda Ag Integrated circuit including calibration circuit
US7659841B1 (en) 2008-08-07 2010-02-09 Actel Corporation Quadratic and cubic compensation of sigma-delta D/A and A/D converters
US7961125B2 (en) * 2008-10-23 2011-06-14 Microchip Technology Incorporated Method and apparatus for dithering in multi-bit sigma-delta digital-to-analog converters
US7999709B2 (en) * 2009-08-03 2011-08-16 Freescale Semiconductor, Inc. Continuous-time image-reject filter with discrete-time feedback
KR20110036371A (ko) * 2009-10-01 2011-04-07 삼성전자주식회사 오디오 증폭기
KR101354767B1 (ko) * 2012-06-07 2014-01-23 엘에스산전 주식회사 출력 제어 장치 및 방법
JP6401929B2 (ja) * 2014-04-01 2018-10-10 ローム株式会社 Δσd/aコンバータおよびそれを用いた信号処理回路および電子機器
US9325337B1 (en) 2015-01-09 2016-04-26 Analog Devices Global Self-referenced digital to analog converter
CN117606517B (zh) * 2024-01-22 2024-04-02 河北美泰电子科技有限公司 用于惯性传感器标定的电路、惯性传感器封装及标定方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4943807A (en) * 1988-04-13 1990-07-24 Crystal Semiconductor Digitally calibrated delta-sigma analog-to-digital converter

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5953727B2 (ja) * 1977-04-06 1984-12-26 株式会社日立製作所 補正回路付da変換器
US4222107A (en) * 1979-01-22 1980-09-09 Burr-Brown Research Corporation Method and apparatus for automatically calibrating a digital to analog converter
US4272760A (en) * 1979-04-10 1981-06-09 Burr-Brown Research Corporation Self-calibrating digital to analog conversion system and method
JPS587877A (ja) * 1981-07-06 1983-01-17 Seiko Instr & Electronics Ltd 絶縁ゲ−ト型静電誘導トランジスタ
JPS60165831A (ja) * 1984-02-09 1985-08-29 Sharp Corp Pcm方式再生装置
JPS6261426A (ja) * 1985-09-11 1987-03-18 Fuji Electric Co Ltd D/a変換装置
JPS6367828A (ja) * 1986-09-09 1988-03-26 Teac Co デイジタル−アナログ変換装置
US4829236A (en) * 1987-10-30 1989-05-09 Teradyne, Inc. Digital-to-analog calibration system
JPH02184119A (ja) * 1989-01-11 1990-07-18 Toshiba Corp オーバーサンプリング形デジタル―アナログ変換回路

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4943807A (en) * 1988-04-13 1990-07-24 Crystal Semiconductor Digitally calibrated delta-sigma analog-to-digital converter

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Druckschrift DAC 74 (PDS-442) der Burr-Brown Research Corporation *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10342056A1 (de) * 2003-09-11 2005-04-14 Infineon Technologies Ag Additionsschaltung für Sigma-Delta-Modulatorschaltungen
DE10342056B4 (de) * 2003-09-11 2005-11-10 Infineon Technologies Ag Additionsschaltung für Sigma-Delta-Modulatorschaltungen

Also Published As

Publication number Publication date
JP2994497B2 (ja) 1999-12-27
GB9116734D0 (en) 1991-09-18
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JPH04245717A (ja) 1992-09-02
GB2247369A (en) 1992-02-26
GB2247369B (en) 1995-03-01
US5087914A (en) 1992-02-11

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