DE393737C - Mikroskop zum Messen kleiner Strecken - Google Patents

Description

• Mikroskop zum Messen -kleiner Strecken. Die Erfindung betrifft ein einfaches oder zusammengesetztes Mikroskop mit einer zwischen Gegenstand und Mikroskop angebrachten, um eine senkrecht zur Sehrichtung stehende Achse drehbaren, durchsichtigen, planparallelen, das Sehfeld halbierenden Platte, durch, deren Drehung die Bilder der beiden Punkte, deren Abstand zu messen ist, in Deckung gebracht werden, so daß hierauf die Skalenablesung die gesuchte Strecke anzeigt.
• Ein eine planparallele Platte von derDickea und dem Brechungsexponenten n unter dem Einfallswinkel a durchdringender Lichtstrahl w 1 ir d bekanntlich um parallel verschoben. Diese Tatsache wird schon in verschiedener Weise in mehreren Vorrichtungen zur Messung kleiner Strecken und kleiner Winkel praktisch nutzbar gemacht, indem entweder eine das Gesichtsfeld eines Strichmikroskops oder Zielfernrohrs ganz ausfüllende drehbare Platte vor oder hinter dem Objektiv oder eine solche es nur halb ausfüllende zwischen dem Fernrohrobjektiv und seinem hinteren Brennpunkte oder eine feste und eine bewegliche oder auch zwei bewegliche Platten, von denen jede nur die Hälfte des Sehfeldes ausfüllt, verwandt werden. Die Erfindung besteht nun darin, daß eine in bekannter Weise mit einem Zeiger versehene drehbare, planparallele, das Sehfeld halbierende Platte zwischen Beobachtungsgegenstand und erster Mikroskoplinse angeordnet ist, wodurch eine besonders einfache Meßvorrichtung entsteht.
• Blickt das Auge ohne oder mit Hilfe irgendeines Mikroskops oder Fernrohrs (s. Abb. i und 2) auf eine zur Drehachse A der Platte P parallele Gerade G gleichzeitig durch die Platte hindurch und neben ihr vorbei, so sieht es im allgemeinen zwei parallele Bilder G und G, dieser Geraden im Abstande e, und dieser Abstand bleibt konstant, auch wenn die Platte parallel zu sich verschoben wird, d. h. auch bei freihändigem Halten des Mikroskops. Ist der Abstand zweier parallelen Geraden G und G1 (Abb. 2 und 3), wie z. B. der beiden diametralen Ränder von Fasern, Fäden, Drähten und Blechen oder eines Zeigerstriches von benachbarten Teilungsstrichen, zu messen, so ist die Platte so lange um A zu drehen, bis das durch sie gelieferte Bild G, bzw. G"1 der einen Geraden die Verlängerung des ohne Platte gesehenen Bildes G' bzw. G der zweiten Geraden bildet, worauf der Drehwinkel a den gesuchten Abstand e liefert.

Claims (1)

1. PATENT-ANsPRUcFI: Meßmikroskop, gekennzeichnet durch eine drehbare, planparallele, das Sehfeld halbierende Platte (P), welche zwischen Beobachtungsgegenstand und erster Mikroskoplinse angeordnet ist.