DE383967C - Einrichtung zum Pruefen von Bolzengewinden - Google Patents

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Verbesserung der nach Patent 349207 ausgebildeten Einrichtung von derjenigen Unterart, bei der Schneiden Verwendung finden, die entsprechend dem Zusatzpatent 376893 mit Marken versehen sind, und zwar besteht die Erfindung in einer besonderen Ausgestaltung dieser Marken und des Prüfmikroskops dieser Einrichtung, durch die eine Vereinfachung in der Handhabung derselben erzielt wird. Wie in der Beschreibung des genannten Zusatzpatentes erwähnt wird, ergibt sich bei Verwendung von mit Marken versehenen Schneiden und bei Einstellung des Prüfmikroskope auf die Marken statt auf die Lichtspalte, der Flankendurchmesser einer Schraube nicht mehr aus der Größe der Mikroskopverschiebung allein, sondern muß aus dieser Größe durch Abziehen eines gewissen ao Betrags !»rechnet werden. Dabei steht der abzuziehende Betrag für die betreffende Einrichtung nicht ein für allemal fest, sondern hängt ab von der Größe des Flankenwinkels der gerade zu prüfenden Schraube. Es muß daher in diesem Falle vor der Prüfung einer Schraube jedesmal auch eine etwa vorhandene Abweichung in der Größe des wirklichen Flankenwinkels vom Sollmaß desselben mit verhältnismäßig großer Genauigkeit gemessen werden.

Der vorliegenden Erfindung gemäß läßt es sich jedoch erreichen, daß auch bei Verwendung von Einrichtungen der in Rede stehenden Unterart die Größe der Mikroskopver-Schiebung gleich der Größe des zu messenden Flankendurchmessers ist; und zwar bildet man zu diesem Zweck die auf den Schneiden angebrachten Marken so aus, daß sie je aus einer der Anlagekante der Schneide parallelen Strichmarke bestehen und richtet dabei das Prüf mikroskop so ein, daß in derjenigen Stel- \ lung der Schneiden, in der deren Anlegekanten einander berühren, die vom Mikroskopobjektiv entworfenen Bilder der auf den Schneiden angebrachten Strichmarken gleich- ! zeitig je mit einer in der Bildebene des Mikroskops befindlichen Strichmarke zur Dekkung gebracht werden können. Bringt man bei der Messung eines Flankendurchmessers das Bild der einen Schneidenmarke mit der betreffenden Strichmarke des Mikroskops zur Deckung und nach der Verschiebung des Mikroskops das Bild der andern Schneidenmarke mit der anderen Strichmarke des Mikroskops zur Deckung, so hat man dadurch schon dem eben erwähnten, abzuziehenden Betrage Rechnung getragen, und es ist der zu ermittelnde Flankendurchmesser unmittelbar gleich der Verschiebung des Mikroskops. Daß dies bei beliebiger Größe des Flankenwinkels der Fall ist, ergibt sich ohne weiteres daraus, daß bei der angegebenen Ausbildung einem Flankendurchmesser Null eine Verschiebung Null des Mikroskops entspräche, da ja dann eben schon ohne eine Verschiebung das vorgeschriebene Zusammenfallen der beiden Schneidenmarken mit den beiden Marken des Mikroskops stattfindet; einem von Null verschiedenen Werte des Flankendurchmessers entspricht daher eine Verschiebung von der Größe dieses Durchmessers, um von dem Zusammenfallen der einen Schneidenmarke zu dem Zusammenfallen der anderen Schneidenmarke überzugehen.

Um die Verwechslungen zu verhüten, die sich ergeben können, wenn im Mikroskop zwei Marken angeordnet sind, deren jede immer zu einer bestimmten der beiden Schneidenmarken gehört, kann man das Mikroskop als Doppelbildmikroskop ausbilden, also so, daß die von den beiden Schneidenmarken kommenden Strahlenbündel an irgendeiner Stelle des Mikroskops durch spiegelnde oder brechende Mittel so zerlegt werden, daß von jeder Schneidenmarke im Alikroskopbildfelde zwei Bilder entworfen werden; man hat es dann in der Hand, die Anordnung so zu treffen, daß in derjenigen Stellung der Schneiden, in der deren Anlegekanten einander berühren, das eine Bild der einen Schneidenmarke mit einem Bild der anderen Schneidenmarke zusammenfällt. Die beiden andern Bilder wer-

*) Früheres Zusatzpatent 376893.

den dem Beobachter nicht sichtbar gemacht. ! Dann bedarf es im Mikroskop nur einer einzi- I gen Marke, die bei der Messung des Flanken- ι durchmesser zunächst mit dem dem Beobach- [ ter sichtbaren Bilde der einen Schneiden- ; marke und nach der Verschiebung des Mi- ■ kroskops mit dem sichtbaren Bilde der an- ! deren Schneidenmarke zum Zusammenfallen ; zu bringen ist.

ίο Um zu verhüten, daß die kleinen Verstellungen, die das Mikroskop beim Gebrauch | leicht in der Richtung seiner Achse erleiden j kann, eine Änderung der gegenseitigen Lage j der von den Schneidenmarken entworfenen -j Bilder bewirken, kann man in bekannter j Weise durch geeignet angeordnete Blenden ; einen telezentrischen Strahlengang der Haupt- ' strahlen der abbildenden Bündel vor dem Mi- | kroskop herbeiführen. j

In Abb. r der Zeichnung ist ein Paar von ; Schneiden dargestellt, das geeignet ist, in j einem der Erfindung entsprechenden Mikro- ! skop benutzt zu werden. Die beiden mit den Anlegekanten einander berührenden Schneiden sind mit a, die beiden Schneidenmarken mit aP bezeichnet.

Abb. 2 zeigt ein- Beispiel einer geeigneten Mikroskopstrichplatte. Die gläserne Strichplatte b trägt zwei parallele Strichmarken b¹, je von kurzen Linienstückchen mit Zwischenräumen dazwischen gebildet, und eine dazu senkrechte, die Mitte des Bildfeldes andeutende Strichmarke b². Bringt man bei der Messung eines Schraubenbolzens die Strich- j platte durch Drehen in eine solche Lage, daß j bei angelegten Schneiden die Marken b¹ den j Marken a° parallel sind, so ist offenbar eine 1 Verschiebung des Mikroskops genau um den Betrag des Flankendurchmessers des bstreffenden Bolzens nötig, um von dem Zusammenfallen des Bildes der einen Marke a° mit der einen Marke b¹ zu dem Zusammenfallen , des Bildes der andern Marke a° mit der an- { dem Marke b¹ überzugehen.
Abb. 3 und 4 zeigt in zwei Schnitten ein Beispiel eines der Erfindung entsprechenden , Doppelbildmikroskops; Abb. 5 ist eine An- | sieht der Strichplatte dieses Mikroskops in größerem Maß stäbe. Das Mikroskoprohr c trägt in seiner vorderen Abschlußplatte c° fest j angeordnet eine Objektivhälfte d¹. Entlang ; der achsialen ebenen Begrenzungsfläche dieser j Objektivhälfte ist die andere Objektivhälfte ei² j mit Hilfe einer Schraube e senkrecht zur ι Achse des Rohres c verschiebbar. Die Strichplatte f ist mit nur einer aus kurzen Linienslücken gebildeten Marke/¹ und einer dazu senkrechten Strichmarke f² ausgestattet. Das Okular des Mikroskops wird von den Linsen g¹ und g² gebildet. Das Mikroskop wird dem zur Verwendung bestimmten Schneidenpaar durch Einstellen der Obj ektivhälfte dso angepaßt, daß bei einander berührenden Schneidenkanten von den insgesamt vier Schneidenmarkenbildern die beiden mittleren miteinander zusammenfallen. Bei der Messung wird die Marke/¹ zunächst mit dem einen Schneidenmarkenbilde und dann durch Verschieben des ganzen Mikroskops mit dem andern Schneidenmarkenbilde zum Zusammenfallen gebracht.

Das in Abb. 6 und 7 dargestellte optische System eines Mikroskops unterscheidet sich von dem des vorigen Beispiels nur dadurch, daß das Objektiv d ein einheitliches ist und die Verdopplung der Bilder durch zwei hinter dem Objektiv liegende, entgegengesetzt gerichtete Keile h¹ und h² bewirkt wird.

Bei dem in Abb. 8 und 9 dargestellten System wird die Verdopplung durch zwei hinter dem einheitlichen Objektiv d liegende, in entgegengesetzter Richtung geneigte, planparallele Platten i¹ und i² bewirkt.

Claims (2)

1. Patent-An Sprüche:

   i. Einrichtung zum Prüfen von Bolzengewinden nach Patent 349207, die mit zwei Schneiden nach Patent 376893 ausgestattet ist, dadurch gekennzeichnet, daß jede der Schneiden auf der dem Mikro- go _' skop zuzukehrenden Seite mit einer der Anlegekante der Schneide parallelen Strichmarke versehen und das Prüfmikroskop so eingerichtet ist, daß in derjenigen Stellung der Schneiden, in der deren Anlegekanten einander berühren, die vom Mikroskopobjektiv entworfenen Bilder der Strichmarken gleichzeitig je mit einer in der Bildebene des Mikroskops befindlichen Strichmarke zur Deckung gebracht werden können.
2. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Prüfmikroskop als Doppelbildmikroskop ausgebildet ist, und zwar derart, daß in derjenigen Stellung der Schneiden, in der deren Anlegekanten einander berühren, eins der vom Mikroskop entworfenen Bilder der Strichmarke der einen Schneide und eins der vom Mikroskop entworfenen Bilder der Strichmarke der andern Schneide mit einer einzigen in der Bildebene des Mikroskops befindlichen Strichmarke zur Dekkung gebracht werden können.

   H erzu 1 Blatt Zeichnungen.