DE1237344B - Ablesemikroskop - Google Patents

Description

• Ablesemikroskop Die Erfindung betrifft ein Ablesemikroskop für mit durchfallendem Licht beleuchtete Maßstäbe mit einer dem Objektiv vorgeordneten um seine optische Achse drehbaren rhomboedrischen Parallelspiegelanordnung, mittels welcher ein Maßstabstrich eingefangen und sein Bild unter meßbarer Drehung der Reflektoren mit einem festen Index, einer Kante oder einem Spalt in der Objekt- oder Bildebene des Mikroskops zur Deckung gebracht werden kann.
• Es ist bei mit Auflicht arbeitenden Ablesemikroskopen bekannt, ein; dem Objektiv vorgesetztes drehbares rhombisches Prisma mit einer Mikrometereinrichtung zu verbinden und zur Ermittlung des Feinmeßwertes, z. B. die Relativeinstellung eines Maßstabes gegenüber einem Index, zu benutzen.
• Ferner ist es bei Meßmikroskopen bekannt, eine um eine zur Sehachse senkrecht stehende Achse drehbar gelagerte planparallele Platte, welche das Sehfeld halbiert, zwischen Beobachtungsgegenstand und dem Objektiv des Mikroskops anzuordnen und durch eine meßbare Drehung der planparallelen Platte die Bilder zweier Punkte, deren Abstand zu messen ist, zur Deckung zu bringen.
• Bei mit Durchlicht arbeitenden Ablesemikroskopen der eingangs beschriebenen Art, insbesondere wenn diese mit einer photoelektrischen Einfangeinrichtung arbeiten, können bei nicht ganz homogener Ausleuchtung des abzulesenden Maßstababschnittes infolge unterschiedlicher Relativlagen von Leuchtfeld und Gesichtsfeld des Mikroskops sehr leicht Meßfehler auftreten.
• Derartige Fehler werden nach der Erfindung dadurch ausgeschaltet, daß zwischen der Beleuchtungseinrichtung und dem Maßstab eine rhomboedrische Parallelspiegelanordnung angeordnet ist, die der dem Mikroskopobjektiv vorgeordneten rhomboedrischen Parallelspiegelanordnung gleichartig ist, und beide Parallelspiegelanordnungen um eine gemeinsame Achse, die mit der optischen Achse des Mikroskopobjektivs zusammenfällt und den Ort der ersten Reflexion in der einen Parallelspiegelanordnung sowie den Ort der zweiten Reflexion in der anderen Parallelspiegelanordnung schneidet, drehbar gelagert sind.
• Hierdurch wird erreicht, daß bei Drehung der dem Objektiv vorgeschalteten Parallelspiegelanordnung eine gleichläufige Verschiebung des den Maßstab beleuchtenden Leuchtfeldes erzielt wird, so daß stets die gleiche Stelle des Leuchtfeldes zur Beaufschlagung des Gesichtsfeldes des Mikroskops insbesondere im Bereich des Spaltes der photoelektrischen Einfangeinrichtung herangezogen wird.
• Bei lichtelektrischer Auswertung der Messung erfolgt die Drehung der beiden Parallelspiegelanordnungen in an sich bekannter Weise mit Hilfe einer bekannten Nachlaufsteuerung, die beispielsweise stets dann zum Stehen kommt, wenn das Bild des Maßstabstriches symmetrisch innerhalb einer in der Objekt- oder Bildebene des Mikroskops angeordneten Spaltblende erscheint.
• Die Erfindung sei nun an Hand des in der Figur schematisch dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert.
• Hierin wird ein durchsichtiger Skalenträger 1 von einer Lichtquelle 2 über seine Beleuchtungslinse 3 und das rhomboedrische Prisma 4 durchleuchtet. Über eine zweimalige Spiegelung in dem Prisma 5 gelangt bei geeigneter Einstellung dieses Prismas ein Bild eines Skalenstriches über das Mikroskopobjektiv 6 in eine symmetrische Lage zum Spalt der Blende 7. Die Einsteuerung des Skalenstrichbildes in die symmetrische Lage zum Spalt erfolgt über eine von der Photozelle 8 erregte Nachlaufsteuerung 9 bekannter Art, die über den Verstärker 10 die erforderliche Antriebsenergie erhält. Die beiden Prismen 4 und 5 werden um eine Achse 11 gedreht, die mit der optischen Achse des Mikroskopobjektivs 6 zusammenfällt und den Ort der zweiten Reflexion im Prisma 5 sowie den Ort der ersten Reflexion im Prisma 4 schneidet. Zur Anzeige des Drehwinkels dient ein Zählwerk 12, das die der Skalenteilung folgende Dezimale anzeigt.

Claims (1)

1. Patentanspruch: Ablesemikroskop für mit durchfallendem Licht beleuchtete Maßstäbe mit einer dem Objektiv vorgeordneten um seine optische Achse drehbaren rhomboedrischen Parallelspiegelanordnung, mittels welcher ein Maßstabstrich eingefangen und sein Bild unter meßbarer Drehung der Reflektoren mit einem festen Index, einer Kante oder einem Spalt in der Objekt- oder Bildebene des Mikroskops zur Deckung gebracht werden kann, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Beleuchtungseinrichtung (Z, 3) und dem Maßstab (1) eine rhomboedrische Parallelspiegelanordnung (4) angeordnet ist, die der dem Mikroskopobjektiv (6) vorgeordneten rhomboedrischen Parallelspiegelanordnung (5) gleichartig ist, und beide Parallelspiegelanordnungen (4, 5) um eine gemeinsame Achse (11), die mit der optischen Achse des Mikroskopobjektivs (6) zusammenfällt und den Ort der ersten Reflexion in der einen Parallelspiegelanordnung (4) sowie den Ort der zweiten Reflexion in der anderen Parallelspiegelanordnung (5) schneidet, drehbar gelagert sind. In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschrift Nr. 393 737; britische Patentschrift Nr. 894 525.