DE3836813C2 - - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft sich eine Vorrichtung zum Prü­ fen von Leckströmen an Eingangsstiften eines elektrischen Prüflings

Beim Prüfen einer elektronischen Einrichtung werden häu­ fig die Leckströme der Eingangsstifte zur Einrichtung ge­ messen, um festzustellen, ob die Ströme innerhalb vorge­ gebener Grenzen liegen.

Es ist bekannt, zum Prüfen von Leckströmen eine einzige Präzisions-Strommeßschaltung für die Messung an allen An­ schlußstiften zu verwenden. Die Meßschaltung wird mit ei­ nem Stift verbunden, und die Messungen werden durchgeführt. Anschließend wird die Meßschaltung vom betreffenden Stift abgetrennt und mit dem nächsten zu prüfenden Stift ver­ bunden. Dieser Vorgang wird wiederholt, bis alle Anschluß­ stifte an der Schaltungsplatte geprüft sind.

Bei einer anderen bekannten Methode zum Prüfen von Eingangs- Leckströmen wird für jeden Stift jeweils ein Präzi­ sions-Strommeßschaltung verwendet.

Die Verwendung von sogenannten Leckstrommetern zum Messen von Leckströmen an Bauteilen mit drei und vier Anschlüßen ist all­ gemein bekannt und wird beispielsweise in der Zeitschrift "Messen und Prüfen", Februar 1970, Seite 94 oder in der Zeit­ schrift "Elektronik", Heft 17/1983, Seite 66 beschrieben. Dabei geht es jedoch ausschließlich um die Leckstrom-Messung an ein­ zelnen diskreten Bauteilen.

Wie bereits oben erwähnt, erfolgte die Messung der Leckströme einer umfangsreicheren elektronischen Einrichtung, die allgemein als "Prüfling" bezeichnet wird, mit einer größeren Anzahl von Eingangsanschlüssen bzw. Eingangsstiften bisher unter Verwendung einer einzigen Präzisions-Strommeßschaltung, indem die Meß­ schaltung mit einem Stift verbunden, die Messung durchgeführt und anschließend die Meßschaltung von dem betreffenden Stift getrennt und mit dem nächsten zu prüfenden Stift verbunden wird, wobei dieser Vorgang solange wiederholt wird, bis alle Anschlußstifte des Prüflings durchgeprüft sind. Dieses Verfah­ ren ist aufwendig und zeitraubend und hat darüber hinaus den Nachteil, daß sich innerhalb der verhältnismäßig langen Meß­ zeitspanne unter Umständen einzelne Bedingungen verändern können, sodaß die Genauigkeit der Prüfung in Frage gestellt ist.

Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine Vor­ richtung zum Prüfen von Leckströmen an Eingangsstiften eines elektronischen Prüflings zu schaffen, mit der die Leckstrom­ prüfung in kurzer Zeit und mit großer Genauigkeit durchgeführt werden kann.

Diese Aufgabe wird durch eine Vorrichtung mit den im Anspruch 1 angegebenen Merkmalen gelöst.

Ein Vorteil der erfindungsgemäßen Vorrichtung besteht darin, daß alle Eingangsstifte gleichzeitig mit den ihnen zugeordneten Strommeßschaltungen verbunden sind und somit die Messung prak­ tisch unter gleichen Bedingungen erfolgt. Durch die Verwendung eines Multiplexers zum Anschließen der verschiedenen Strommeß­ schaltungen erlaubt die Verwendung eines einzigen A/D-Wandlers, so daß der betriebene Aufwand verhältnismäßig gering ist.

Weitere vorteilhafte Ausbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen beschrieben.

Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung wird für die Eingangsstifte einer zu prüfenden Einrichtung eine Mehrzahl von Strommeßschaltungen vorgesehen, und die ana­ logen Ausgangssignale dieser Strommeßschaltungen werden über einen Multiplexer selektiv auf einen einzigen Ana­ log/Digital-Wandler (A/D-Wandler) gegeben, wodurch es möglich ist, die Leckströme der Eingangsstifte schnell und genau unter Verwendung eines einzigen A/D-Wandlers zu messen. In bevorzugten Ausführungsformen kann für jeden Stift eine gesonderte Strommeßschaltung verwendet werden; es kann ein Ergebnisspeicher zur Speicherung der digitalen Ausgangssignale vorgesehen sein; Speicher und Multiplexer können durch einen Zähler synchronisiert werden; jede Strommeßschaltung kann einen Operationsverstärker und einen Kondensator zwischen einem Eingang und einem Aus­ gang des Operationsverstärkers enthalten; die Strommeß­ schaltung kann den Leckstrom über eine Zeitperiode inte­ grieren, die einem ganzzahligen Vielfachen der vorherr­ schenden Hintergrund-Netzfrequenz entspricht.

Gemäß einem anderen Aspekt der Erfindung wird eine Viel­ zahl von Strommeßschaltungen verwendet, ferner ein Multi­ plexer, der an seinem Ausgang selektiv eine der Ausgangs­ größen der Strommeßschaltungen liefert, ferner ein Grenz­ wertspeicher, der einen Grenzwert für jeden Eingangsstift speichert, und eine Vergleichsschaltung, um jeden Multi­ plexerausgang, der den Leckstrom eines Stiftes anzeigt, mit dem jeweiligen Grenzwert für den betreffenden Stift zu vergleichen. In bevorzugten Ausführungsformen kann ein Gut/Schlecht-Speicher zur Speicherung der Gut/Schlecht- Information vorgesehen sein, sowie ein Maskenspeicher, um zu verhindern, daß Fehleranzeigen für diejenigen Strom­ meßschaltungen geliefert werden, die nicht mit Eingangs­ stiften verbunden sind.

Gemäß einem wiederum anderen Aspekt der Erfindung wird eine Vielzahl von Strommeßschaltungen und eine Vielzahl von Digital/Analog-Wandlern verwendet, um selektiv jeweils gewünschte Eingangssignale an die Stifte zu legen.

Gemäß einem wiederum anderen Aspekt der Erfindung wird eine Vielzahl von Meßschaltungen verwendet, ferner ein Multiplexer, der an seinem Ausgang selektiv jeweils eine der Ausgangsgrößen der Strommeßschaltungen liefert, ferner ein Korrekturspeicher zur Speicherung eines Korrekturwer­ tes für jede Strommeßschaltung und eine Einrichtung zum Korrigieren des Multiplexer-Ausgangssignals auf der Grund­ lage des jeweiligen Korrekturwertes. In vorteilhaften Aus­ führungsformen werden sowohl Offset-Korrekturwerte als auch Verstärkungs-Korrekturwerte vorgesehen, die in einem Offset- bzw. einem Verstärkungs-Speicher gespeichert werden.

In der nachstehenden Beschreibung wird eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung anhand von Zeichnungen erläutert. Im einzelnen zeigt

Fig. 1 ein Blockschaltbild einer Leckstrom-Prüfvor­ richtung gemäß der Erfindung;

Fig. 2 ein vereinfachtes Schaltbild einer Strommeß­ schaltung der Vorrichtung nach Fig. 1.

Die in Fig. 1 dargestellte Leckstrom-Prüfvorrichtung 10 dient zur Untersuchung von Leckströmen einer zu prüfenden Einrichtung 20, die im folgenden kurz als "Prüfling" be­ zeichnet wird. Eine Vielzahl von Strommeßschaltungen 24 ist über Anschlußkontakte 22 mit Eingangsanschlüssen ("Eingangsstiften") des Prüflings 20 verbunden. Die Analog­ ausgänge der Strommeßschaltungen 24 sind mit einem 256 : 1 Analogmultiplexer 26 vebunden, dessen Ausgangssignal nach Hinzuaddierung von Vestärkungs- und Offset-Korrekturwer­ ten in einer Summierschaltung 28 und nach Abfrage in einer Abfrage- und Halteschaltung 47 auf einen Analog/Digital- Wandler (A/D-Wandler) 48 gegeben werden, der 12-Bit- Digitalwerte liefert.

Das analoge Ausgangssignal des Multiplexers 26 wird so­ wohl in die analoge Summierschaltung 28 als auch in eine Verstärkungs-Korrekturschaltung 30 gegeben. Die Verstär­ kungs-Korrekturschaltung 30 empfängt außerdem einen digi­ talen Korrekturwert vom Ausgang eines "Verstärkungs"- Speichers 32. An die Summierschaltung 28 werden analoge Korrekturwerte sowohl von der Verstärkungs-Korrekturschal­ tung 30 als auch von einem Digital/Analog-Wandler (D/A- Wandler) 31 gelegt, der an seinem Eingang einen digitalen Offset-Korrekturwert vom Ausgang eines "Offset"-Speichers 34 empfängt.

Neben dem Verstärkungsspeicher 32 und dem Offsetspeicher 34 sind ferner ein Grenzwertspeicher 36 für einen oberen und einen unteren Grenzwert, ein sogenannter Maskenspei­ cher 38, ein Gut/Schlecht-Speicher 40 und ein Ergebnis­ speicher 42 vorgesehen. Bei allen vorstehend erwähnten Speichern handelt es sich um Speicher mit wahlfreiem Zu­ griff (Randomspeicher oder abgekürzt RAM), die durch das digitale Ausgangssignal eines Zustandszählers 46 über eine Adressenschiene 45 adressiert werden. Ein Demultiplexer 44 und der Multiplexer 26 werden über jeweils zugeordnete Adressenschienen 43 bzw. 47 adressiert, die mit dem Zu­ standszähler 46 verbunden sind. Der Zustandszähler 46 wird durch einen programmierbaren Frequenzgeber 50 ge­ taktet. Die Abfrage- und Halteschaltung 47, deren Aus­ gangsgröße den A/D-Wandler 48 beaufschlagt, wird durch weitere Ausgangssignale des Zustandszählers 46 getaktet. Das Ausgangssignal des A/D-Wandlers 48, das den Betrag des betreffenden Lenkstroms anzeigt, wird an eine Ver­ gleichslogikschaltung 52 (zum Vergleich mit vorbestimmten Grenzwerten) und in den Ergebnisspeicher 42 (zur Speiche­ rung und späteren Auslesung) gegeben. Der Verstärkungs­ speicher 32, der Offsetspeicher 34, der Grenzwertespei­ cher 36, der Maskenspeicher 38, der Gut/Schlecht-Speicher 40, der Ergebnisspeicher 42, der programmierbare Frequenz­ geber 50 und ein die Zurückweisung des Prüflings signa­ lisierendes Flipflop 51 sind alle mit der Datenschiene 54 verbunden.

Wie in der Fig. 2 dargestellt, enthält die Strommeßschal­ tung 24 einen Kondensator 25 und einen Schalter 72, die parallel zueinander zwischen den Ausgang eines Operations­ verstärkers 27 und den invertierenden Eingang dieses Ver­ stärkers geschaltet sind. In Reihe mit dem Schalter 72 liegt ein Widerstand 73. Der mit einem Eingangsstift des Prüflings 20 verbundene Kontakt 22 ist über eine Leitung 60 mit einem Anschluß 61 einer Umschalteinrichtung 62 ver­ bunden, die in der Fig. 2 schematisch als Dreiwegschalter dargestellt ist. Ein Anschluß 63 des Schalters 62 ist mit dem invertierenden Eingang des Operationsverstärkers 27 verbunden. Ein Anschluß 64 des Schalters 62 ist offen, und ein Anschluß 66 des Schalters 62 ist mit einem Präzisions­ widerstand 68 verbunden, an den eine geregelte Spannung gelegt wird. Ein D/A-Wandler 29, der zur Lieferung der gewünschten Eingangsspannung (z. B. hoch oder niedrig) an einen Eingangsstift verwendet wird, ist mit dem nicht­ invertierenden Eingang des Operationsverstärkers 27 ver­ bunden. Die Ausgänge des Operationsverstärkers 27 und des D/A-Wandlers 29 führen zum nicht-invertierenden bzw. in­ vertierenden Eingang eines Differenzverstärkers 74.

Im folgenden sei die Arbeitsweise der Prüfvorrichtung beschrieben.

Während eines Prozesses zur Eichung des Systems werden die Strommeßschaltungen 24 geeicht, indem für jede dieser Schaltungen Verstärkungs- und Offset-Korrekturspannungen errechnet werden, die durch gespeicherte Digitalzahlen in den Speichern 32 und 34 dargestellt werden. Die Offset- und Verstärkungs-Korrekturspannungen werden wie nachste­ hend bestimmt.

Für jede Strommeßschaltung 24 wird der Schalter 62 auf den Anschluß 64 gestellt, so daß kein Strom von der Leitung 60 zur Meßschaltung geliefert wird. Der D/A-Wandler 29 wird auf die gewünschte Eingangsspannung eingestellt. Zu einem bestimmten Zeitpunkt wird dann die Ausgangsgröße des Differenzverstärkers 74 (eine Spannung, die propor­ tional zum Integral des den Kondensator 25 ladenden Stroms ist) gemessen, indem diese Größe durch die Abfrage- und Halteschaltung 47 abgefragt und im A/D-Wandler 84 in eine Digitalzahl umgewandelt wird, wie es weiter unten noch aus­ führlicher beschrieben wird. Diese Digitalzahl, welche die Spannung der Strommeßschaltung nach ihrer Abtrennung vom zugehörigen Eingangsstift anzeigt (eine Situation entspre­ chend einem Leckstrom von 0), ist der "Offset", der im Offsetspeicher 34 an einer der betreffende Strommeßschal­ tungen zugeordneten Adresse gespeichert wird.

Nach Messung der Offsetspannung wird der Schalter 62 auf den Anschluß 66 umgeschaltet, um den Präzisionswider­ stand 68 mit dem Operationsverstärker 27 zu verbinden. An den Präzisionswiderstand 68 wird eine Spannung gelegt, so daß ein bekannter Eingangsstrom zum Kondensator 25 und zum invertierenden Eingang des Operationsverstärkers 27 fließt. Die Ausgangsgröße des D/A-Wandlers 29 wird im Differenzverstärker 74 von der Ausgangsgröße des Opera­ tionsverstärkers 27 subtrahiert. Das Ausgangssignal des Differenzverstärkers 74 (eine Spannung, die sich rampen- oder sägezahnförmig mit einer Geschwindigkeit ändert, die in direkter Beziehung zum Strom steht) wird in der Summier­ schaltung 28 mit der vom D/A-Wandler 31 gelieferten Off­ set-Korrekturspannung addiert, und die kombinierte Span­ nung wird zu einem bestimmten Zeitpunkt abgefragt. Die Verstärkung des Operationsverstärkers wird durch Vergleich des gemessenen Wertes mit dem bekannten Eingangsstrom fest­ gestellt, und für jede Strommeßschaltung 24 wird ein Ver­ stärkungs-Korrekturwert im Verstärkungsspeicher 32 ge­ speichert.

Bevor die eigentlichen Leckstromprüfungen durchgeführt werden, werden der Grenzwertespeicher 36 und der Masken­ speicher 38 über die Datenschiene 54 geladen. Im einzelnen werden in den Grenzwertespeicher 36 die oberen und unteren Grenzwerte für jeden Eingangsstift des Prüflings 20 ein­ gegeben (z. B. die vom Hersteller angegebenen Werte), und in den Maskenspeicher 38 wird das Muster der Stifte des Prüflings 20 eingespeichert, so daß bei der Leckstrom­ prüfung unbenutzte Exemplare der Strommeßschaltungen 24 keine Fehleranzeigen liefern.

Nachdem die Speicher 36 und 38 geladen sind und der D/A- Wandler 29 eingestellt ist, zählt der Zähler 46 von 1 bis 256, um entsprechende Zählwerte auf die Adressenschiene 43 zu geben, wodurch der 1 : 256-Demultiplexer 44 veranlaßt wird, nacheinander einzelne Strommeßschaltungen 24 durch Öffnen ihrer Schalter 72 zu aktivieren, so daß der be­ treffende Kondensator 25 aufgeladen wird und der zugehöri­ ge Differenzverstärker 74 eine Spannung (V) abgibt, die sich rampenförmig mit einer Geschwindigkeit ändert, wel­ che in direkter Beziehung zum Leckstrom (I) aus dem be­ treffenden Stift steht, gemäß der Formel V = I/C · Zeit.

Den Strommeßschaltungen 24 wird im allgemeinen erlaubt, ihre rampenförmige Spannungsänderung (Sägezahn) am Aus­ gang über jeweils eine Dauer zu vollführen, die im Falle einer Netzfrequenz von 60 Hz gleich ¹/₆₀ oder ¹/₆ Sekunde und im Falle einer Netzfrequenz von 50 Hz ¹/₅₀ oder ¹/₅ Sekunde beträgt (oder irgendein anderes ganzzahliges Viel­ faches der Periode der vorherrschenden Wechselfrequenz des Stromversorgungsnetzes im Hintergrund), abhängig vom Betrag des Stroms und von der gewünschten Genauigkeit. Die Zeiten für die Dauer der Sägezähne werden so einge­ stellt, daß sie gleich ganzzahligen Vielfachen der Netz­ frequenzperiode sind, so daß irgendwelche Rausch- oder Störerscheinungen, die durch elektromagnetische Felder aus den Stromversorgungseinrichtungen verursacht werden, auf den Wert Null ausintegriert werden. Die Wahl der Säge­ zahndauer beeinflußt sowohl die Auflösung als auch den Meßbereich. Bei einer Sägezahndauer von ¹/₆ Sekunde bei­ spielsweise ist der Bereich ± 200 Nanoampère und die Auf­ lösung (bei Verwendung von 12 Bits) ist 100 Picoampère; bei einer Sägezahndauer von ¹/₆₀ Sekunde ist der Bereich ± 2 Mikroampère, und die Auflösung ist 1 Nanoampère. Der Nachteil des Verlustes an Auflösung bei kürzeren Säge­ zahnzeiten wird jedoch in gewissem Maß durch die Tatsache aufgehoben, daß die möglicherweise gemessenen größeren Ströme weniger empfindlich gegen Ströme sind, die durch elektromagnetisches Hintergrundrauschen induziert werden. Außerdem beginnen die Störströme unwesentlich zu werden, wenn es notwendig ist, zur Messung von Strömen, die größer als 2 Mikroampère sind, die Sägezahnzeit auf weniger als ¹/₆₀ bzw. ¹/₅₀ Sekunde zu verkürzen (es lassen sich näm­ lich auch Sägezahnzeiten von ¹/₆₀₀ bzw. ¹/₅₀₀ Sekunde be­ nutzen). Um höhere Ströme zu messen, bleibt der Schalter 72 geschlossen, und die Ausgangsspannung des Differenz­ verstärkers 74 (die proportional dem Leckstrom mal dem Widerstandswert des Widerstandes 73 ist) wird einfach ohne Integration abgefragt (nach Korrektur).

Die Lieferung der digitalen Ausgangswerte 1 bis 256 vom Zustandszähler 46 über die Adressenschiene 43 zum Demul­ tiplexer 44 zur Auslösung der Sägezähne (Rampenfunktionen) an den Ausgängen der Meßschaltungen 24 wird über die Säg­ zahndauer ausgedehnt. Sobald die 256te Meßschaltung 24 ausgelöst worden ist, zählt der Zähler 46 aufs neue von 1 bis 256, wobei jedoch diesmal die Ausgangswerte über Schienen 47 und 45 geleitet werden, um den Ausgang einer jeden Strommeßschaltung 24 über den Multiplexer 26 zu leiten und zugeordnete Speicherplätze in den Speichern 32 bis 42 zu adressieren. Da der Zustandszähler durch einen programmierbaren Frequenzgeber 50 getaktet wird, kann die Zählgeschwindigkeit und damit die Sägezahnperiode einfach dadurch geändert werden, daß man die Frequenz des Aus­ gangssignals des Frequenzgebers 50 ändert. Auf diese Wei­ se wird jede Strommeßschaltung 24, eine nach der anderen mit dem A/D-Wandler 48 verbunden, und die Ausgänge aller Strommeßschaltungen 24 werden somit nacheinander gemessen. Da der 256 : 1-Multiplexer 26 und die Speicher 32 bis 42 gleichzeitig durch den Zustandszähler 46 adressiert wer­ den, sind alle Signalkorrekturen und Datenübertragungen synchronisiert. Da die "Adresse" einer jeden Strommeß­ schaltung 24 auf den Adressenschienen 47 und 45 erscheint, wird der Reihe nach für alle Schaltungen das analoge Aus­ gangssignal der betreffenden Schaltung 24 durch den 256 : 1- Multiplexer 26 geleitet, die zugeordneten Korrekturfakto­ ren werden aus den Verstärkungs- und Offset-Verstärkern 32 und 34 ausgelesen, die zugeordneten Grenzwert- und Maskeninformationen werden aus dem Grenzwertespeicher 36 und dem Maskenspeicher 38 ausgelesen, die Gut/Schlecht- Information und die gemessenen Ströme werden an zugeordne­ ten Adressen im Gut/Schlecht-Speicher 40 und im Ergebnis­ speicher 42 eingeschrieben. Das analoge Ausgangssignal des 256 : 1-Multiplexers 26 wird auf die Verstärkungs-Korrektur­ schaltung 30 gegeben, welche die Information aus dem Ver­ stärkungsspeicher 32 benutzt, um eine Spannung zu erzeu­ gen, die bei Addition mit der von der Strommeßschaltung gelieferten Spannung die vom Operationsverstärker 27 ein­ geführte Verstärkung korrigiert. Diese Verstärkungs-Korrek­ turspannung wird mit der Offset-Korrekturspannung (die auf der im Offsetspeicher 34 gespeicherten Zahl basiert und vom D/A-Wandler 31 geliefert wird) und mit dem vom Multiplexer 26 kommenden analogen Ausgangsgröße der Sum­ mierschaltung 28 summiert. Die Ausgangsgröße der Sum­ mierschaltung 28 ist eine korrigierte Spannung entsprechend dem Leckstrom von dem mit dem Kontakt 22 verbundenen Ein­ gangsstift. Die von der Summierschaltung 28 abgegebene korrigierte Spannung nimmt ihren sägezahnförmigen Verlauf und wird genau am Ende der Sägezahnperiode durch die Ab­ frage- und Halteschaltung 47 abgefragt, letztere liefert dann eine konstante Ausgangsspannung über eine genügend lange Zeit zur Digitalisierung im A/D-Wandler 48. Die Abfrage- und Halteschaltung 47 und der A/D-Wandler 48 werden beide zur passenden Zeit durch Zeitsteuersignale vom Zustandszähler 46 aktiviert. Das digitale Leckstrom­ signal vom A/D-Wandler 48 wird sowohl im Ergebnisspeicher 42 gespeichert (um den tatsächlichen Leckstromwert zu liefern) als auch in der Vergleichslogik 52 mit dem oberen und dem unteren Grenzwert für den betreffenden Stift ver­ glichen. Die Ergebnisse dieses Vergleichs werden im Gut/ Schlecht-Speicher 40 gespeichert (gut = Prüfung bestanden, schlecht = Prüfung nicht bestanden) und setzen das Prüf­ ling-Zurückweiseflipflop 51, wenn ein Fehler angezeigt wird. Somit braucht nur der Ausgangszustand des Flipflops 51 überprüft zu werden, um zu sehen, ob der Prüfling 20 den Vorgaben genügt, die übliche Situation.

Wenn gewünscht wird, den Leckstrom bei verschiedenen Ein­ gangsspannungen zu prüfen, werden die D/A-Wandler 29 ent­ sprechend neu eingestellt, und das Verfahren wird wieder­ holt.

Da alle Eingangsstifte gleichzeitig mit ihren zugeordne­ ten Strommeßschaltungen verbunden sind und alle Strommeß­ schaltungen gleichzeitig ihren Sägezahn vollführen, ist die Prüfung viel schneller als wenn jeder Prüfling ge­ sondert anzuschließen ist (und Gelegenheit zur Beruhigung haben muß) und die Ströme nacheinander gemessen werden. Die Verwendung des Multiplexers zum Anschließen der ver­ schiedenen Strommeßschaltungen der Reihe nach erlaubt die Verwendung eines einzelnen A/D-Wandlers, einer einzi­ gen Abfrage- und Halteschaltung, einer einzigen zugeord­ neten Schaltungsanordnung für die Korrektur und einer einzigen Vergleichsschaltung für alle Eingangsstifte. Da die gemessenen Leckströme gespeichert werden, ist es nicht erforderlich, fehlerbehaftete Stifte anschließend neu zu prüfen, z. B. unter Verwendung verschiedener Ver­ gleichsgrenzwerte, um den Betrag eines Leckstroms fest­ zustellen. Durch Verwendung individueller D/A-Wandler 29 kann jede Strommeßschaltung 24 ihren zugeordneten Kontakt 22 mit einer anderen Eingangsspannung ansteuern, wodurch es z. B. möglich ist, abwechselnde Stifte mit hohen und niedrigen Eingangssignalen zu beaufschlagen.

Neben der beschriebenen Ausführungsform sind auch andere Ausgestaltungen innerhalb des Bereichs der Patentansprüche möglich. So kann z. B. jede Strommeßschaltung 24 durch eine kleine Anzahl von Eingangsstiften, die selektiv an­ zuschließen wären, gemeinsam belegt werden.

Claims (18)

1. Vorrichtung zum Prüfen von Leckströmen an Eingangs­ stiften eines elektronischen Prüflings, gekennzeichnet durch
eine Anschlußeinrichtung mit einer Vielzahl von Kon­ takten (22) zur Herstellung elektrischer Verbindungen mit einzelnen Eingangsstiften;
eine Vielzahl von Strommeßschaltungen (24), deren jede mit einem zugeordneten Kontakt (22) der Anschluß­ einrichtung verbunden ist, um Leckströme zu fühlen und stromanzeigende analoge Ausgangssignale zu liefern;
einen Multiplexer (26), der zum Empfang der analogen Ausgangssignale angeschlossen ist und als Multiplexer- Ausgangssignal selektiv jeweils eines der analogen Ausgangssignale liefert;
einen Analog/Digital-Wandler (48), der zum Empfang des Multiplexer-Ausgangssignals angeschlossen ist und ein leckstromanzeigendes digitales Ausgangssignal lie­ fert.

2. Vorrichtung nach Anspruch 1 gekennzeichnet durch:
einen Grenzwertspeicher (36), der für jeden Stift ei­ nen Grenzwert speichert und selektiv adressierbar ist, um für jeweils denjenigen Stift, der dem jeweils ge­ lieferten einen analogen Ausgangssignal zugeordnet ist, einen Grenzwert bereitzustellen;
eine Vergleichsschaltung (52), die zum Empfang des Grenzwertes angeschlossen ist und diesen Grenzwert mit dem Multiplexer-Ausgangssignal vergleicht.

3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch:
eine Vielzahl von Digital/Analog-Wandlern (29), die mit jeweils zugeordneten Kontakten (22) der Anschluß­ einrichtung verbunden sind, um selektiv gewünschte Ein­ ganggsignale an die Eingangsstifte zu legen.

4. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2 oder 3, gekennzeichnet durch:
einen Korrekturspeicher (32, 34), der für jeden Ein­ gangsstift einen Korrekturwert speichert und selektiv adressierbar ist, um für jeweils diejenige Strommeß­ schaltung (24), die dem jeweils selektiv gelieferten analogen Ausgangssignal zugeordnet ist, einen jeweili­ gen Korrekturwert bereitzustellen;
eine Einrichtung (28, 30, 31) zum Korrigieren des Mul­ tiplexer-Ausgangssignals auf der Grundlage des Korrek­ turwertes.

5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß jede Strommeßschaltung (24) einen zugehörigen analo­ gen Offset hat und daß der Korrekturwert einen Offset­ wert enthält, um ein den analogen Offset korrigierendes Offsetsignal zu erzeugen.

6. Vorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeich­ net, daß jede Strommeßschaltung (24) eine zugeordnete Verstärkung hat und daß der Korrekturwert einen Verstär­ kungswert enthält, um ein die besagte Verstärkung korri­ gierendes Verstärkungssignal zu erzeugen.

7. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß sie eine Einrichtung enthält, die den Korrekturwert für jede der Strommeßschaltungen (24) erzeugt und ihn im Korrekturspeicher (32, 34) speichert.

8. Vorrichtung nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch:
einen Gut/Schlecht-Speicher (40) zur Speicherung einer Information darüber, ob die Prüfung bestanden ist ("gut") oder ob die Prüfung nicht bestanden ist ("schlecht");
einen Maskenspeicher (38), der eine Maskeninformation über das Fehlen von Eingangsstiften an bestimmten Strom­ meßschaltungen (24) speichert und selektiv adressierbar ist, um die Maskeninformation (52) an die Vergleichs­ schaltung (52) zu liefern, damit die Abgabe von Fehler­ anzeigen für solche Kontakte (22) verhindert wird, die nicht mit Eingangsstiften verbunden sind.

9. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2, 3, 4 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Multiplexer (26) sequentiell betätigt wird.

10. Vorrichtung nach Anspruch 2, 4, 5, 6 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß jeder der erwähnten Speicher mit dem Multiplexer (26) synchronisiert ist.

11. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2, 3 oder 4, dadurch ge­ kennzeichnet, daß jede Strommeßschaltung (24) den ihr zugeordneten Leckstrom integriert und daß ferner eine Einrichtung (47) vorgesehen ist, um das Multiplexer- Ausgangssignal abzufragen, wenn die Integration über eine Zeitspanne angedauert hat, die gleich einem ganz­ zahligen Vielfachen der Periode der vorherrschenden Stromversorungs-Netzfrequenz im Hintergrund ist, um die Rauscherscheinungen auszulöschen, die durch elektro­ magnetische Felder aus den Stromversorgungsschaltungen verursacht werden.

12. Vorrichtung nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch:
eine Vielzahl von Digital/Analog-Wandlern (29), die mit einzelnen Kontakten (22) der Anschlußeinrichtung verbunden sind, um selektiv gewünschte Eingangssignale an die Eingangsstifte zu legen;
einen Korrekturspeicher (32, 34), der für jeden Ein­ gangsstift einen Korrekturwert speichert und selektiv adressierbar ist, um für jeweils diejenige Strommeß­ schaltung, die dem jeweils selektiv gelieferten analogen Ausgangssignal zugeordnet ist, einen Korrekturwert be­ reitzustellen;
eine Einrichtung (28) zum Korrigieren des Multiplexer- Ausgangssignals auf der Grundlage des Korrekturwertes.

13. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 12, gekennzeichnet durch einen Ergebnisspeicher (42), der für jeden Ein­ gangsstift das betreffende digitale Ausgangssignal des Analog/Digital-Wandlers (48) speichert.

14. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 12, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die erwähnten Speicher und der Multiplexer (26) durch einen Zähler (46) synchronisiert sind.

15. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2, 3 oder 4, dadurch ge­ kennzeichnet, daß jede Strommeßschaltung (24) einen Ope­ rationsverstärker (26) enthält und einen Kondensator (25) aufweist, der zwischen einen Eingang und einen Aus­ gang des Operationsverstärkers geschaltet ist.

16. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2, 3 oder 4, dadurch ge­ kennzeichnet, daß mit den Strommeßschaltungen (24) ein Demultiplexer (44) verbunden ist, der die Aktivierung der Strommeßschaltungen steuert.

17. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2, 3 oder 4, dadurch ge­ kennzeichnet, daß für jeden Eingangsstift eine gesonder­ te Strommeßschaltung (24) vorgesehen ist.

18. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2, 3 oder 4, dadurch ge­ kennzeichnet, daß jede Strommeßschaltung (24) jeden Leckstrom integriert und daß ferner folgende Einrich­ tungen vorgesehen sind
eine Einrichtung (47), die das Multiplexer-Ausgangs­ signal abfragt, wenn die Integration eine gewünschte Zeitspanne angedauert hat;
einen Zustandszähler (46), der zur Steuerung des Abfragebetriebs der Abfrageeinrichtung (47) ange­ schlossen ist;
einen programmierbaren Frequenzgeber (50), der zur Taktsteuerung des Zustandszählers (46) angeschlossen ist, um die Integrationsdauer als Funktion der Aus­ gangsfrequenz des Frequenzgebers zu steuern.