FR2622702A1 - Appareil de mesure du courant de fuite des broches d'entree d'un dispositif sous test - Google Patents

Appareil de mesure du courant de fuite des broches d'entree d'un dispositif sous test Download PDF

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Abstract

Un appareil de mesure de courants de fuite de broches d'entrée d'un dispositif électronique sous test 20, comprend un ensemble de circuits de mesure de courant 24 connectés aux broches d'entrée et fournissant des signaux de sortie analogiques correspondants; un multiplexeur 26 qui sélectionne séquentiellement l'un des signaux de sortie analogiques; et un convertisseur analogique-numérique 48 qui fournit un signal de sortie numérique représentant le courant de fuite. On utilise une mémoire de correction 32, 34 pour corriger le signal de sortie du multiplexeur en fonction des facteurs de gain et de décalage de chaque circuit de mesure de courant.

Description

l
APPAREIL DE MESURE DU COURANT DE FUITE DES
BROCHES D'ENTREE D'UN DISPOSITIF SOUS TEST
La présente invention concerne la mesure des cou-
rants de fuite des broches d'entrée d'un dispositif sous test.
Lorsqu'on teste un dispositif électronique, on me-
sure souvent les courants de fuite des broches d'entrée du dispositif, pour déterminer si les courants sont compris
dans des limites spécifiées.
Un procédé de l'art antérieur pour mesurer des cou-
rants de fuite consiste à utiliser un circuit de mesure de courant de précision pour toutes les broches. On connecte le
circuit de mesure à une broche et on effectue les mesures.
On le déconnecte ensuite de cette broche et on le connecte à
la broche suivante à tester. On répète cette procédure jus-
qu'à ce que toutes les broches de la carte aient été testées.
Un autre procédé de l'art antérieur pour la mesure de courants de fuite d'entrée consiste à utiliser un circuit
de mesure de courant de précision par broche d'entrée.
Selon un aspect de l'invention, on établit un en-
semble de circuits de mesure de courant pour des broches
d'entrée d'un dispositif sous test, et on applique sélecti-
vement les signaux de sortie analogiques de ces circuits de
mesure de courant à un seul convertisseur analogique-numéri-
que (A/N), par l'intermédiaire d'un multiplexeur, ce qui permet de mesurer de façon rapide et précise les courants de
fuite des broches d'entrée, en utilisant un seul convertis-
seur A/N. Dans des modes de réalisation préférés, il existe un circuit de mesure de courant séparé pour chaque broche;
il existe une mémoire de résultats destinée à l'enregistre-
ment des signaux de sortie numériques; la mémoire et le mul-
tiplexeur sont synchronisés par un compteur; chaque circuit de mesure de courant comprend un amplificateur opérationnel et un condensateur connecté entre une entrée et une sortie de l'amplificateur opérationnel; et le circuit de mesure de courant intègre le courant de fuite sur une durée égale à un multiple entier de la période du réseau de distribution
d'énergie électrique qui correspond à la composante prédo-
minante du bruit de fond.
Selon un autre aspect, l'invention utilise un en-
semble de circuits de mesure de courant, un multiplexeur i5 destiné à fournir sélectivement pour son signal de sortie
l'un des signaux de sortie des circuits de mesure de cou-
rant, une mémoire de limitesqui enregistre une valeur limite pour chaque broche d'entrée, et un circuit de comparaison
pour comparer chaque signal de sortie du multiplexeur, indi-
quant un courant de fuite d'une broche, avec la valeur limi-
te respective pour la broche. Dans des modes de réalisation
préférés, il existe une mémoire "bon/mauvais" pour enregis-
trer l'information "bon/mauvais" et une mémoire de masque pour empêcher l'indication de défauts pour des circuits de mesure de courant qui ne sont pas connectés à des broches d'entrée.
Selon un autre aspect, l'invention utilise un en-
semble de circuits de mesure de courant et un ensemble de
convertisseurs numérique-analogique pour appliquer sélecti-
vement des signaux d'entrée désirés aux broches.
Selon un autre aspect, l'invention utilise un en-
semble de circuits de mesure, un multiplexeur qui fournit sélectivement pour son signal de sortie l'un des signaux de sortie des circuits de mesure de courant, une mémoire de
correction qui enregistre une valeur de correction pour cha-
que circuit de mesure de courant, et des moyens pour corriger le signal de sortie du multiplexeur sur la base de la valeur
de correction respective. Dans des modes de réalisation pré-
férés, on utilise à la fois des valeurs de correction de dé-
calage et de gain, qui sont enregistrées dans des mémoires
de décalage et de gain.
L'invention sera mieux comprise à la lecture de la
description qui va suivre d'un mode de réalisation, donné à
titre d'exemple non limitatif. La suite de la description se
réfère aux dessins annexés sur lesquels: La figure 1 est un schéma synoptique d'un appareil
de mesure de courants de fuite conforme à l'invention.
La figure 2 est un schéma simplifié d'un circuit de
mesure de courant de l'appareil de la figure 1.
Structure En considérant la figure 1, on voit un appareil de mesure de courant de fuite 10 destiné à mesurer des courants
de fuite d'entrée d'un dispositif sous test (DST) 20. Un en-
semble de circuits de mesure de courant 24 sont connectés à
des broches d'entrée du DST 20 par l'intermédiaire de con-
tacts de connecteur 22. Les signaux de sortie analogiques
des circuits de mesure de courant 24 sont appliqués à un mul-
tiplexeur analogique 26, du type 256:1, et le signal de sor-
tie de ce dernier est transmis à un convertisseur analogique-
numérique (A/N) à 12 bits, 48, après addition de facteurs de
correction de gain et de décalage dans un circuit de somma-
tion 28 et échantillonnage dans un circuit échantillonneur-
bloqueur 47.
Le signal de sortie analogique du multiplexeur 26 est appliqué à la fois au circuit de sommation analogique 28
et au circuit de correction de gain 30. Le circuit de correc-
tion de gain 30 reçoit également le signal de sortie de cor-
rection numérique qui provient de la mémoire de gain 32. Le
circuit de sommation 28 reçoit également les signaux de sor-
tie de correction analogiques qui proviennent à la fois du
circuit de correction de gain 30 et du convertisseur numéri-
que-analogique (N/A) de décalage, 31, ce dernier recevant en
entrée le signal de sortie de correction de décalage numéri-
que de la mémoire de décalage 34.
La mémoire de gain 32, la mémoire de décalage 34, la mémoire de limiteshaute/basse 36, la mémoire de masque 38, la mémoire "bon/mauvais" 40 et la mémoire de résultats 42
sont toutes des mémoires vives ùi sont adressées par le si-
gnal de sortie numérique du compteur d'états 46, par l'inter-
médiaire du bus d'adresse 45. Le démultiplexeur 44 et le mul-
tiplexeur 26 sont adressés par leurs bus d'adresse respectifs 43, 47 qui sont connectés au compteur d'états 46. Le compteur
d'états 46 reçoit un signal d'horloge qui provient du généra-
teur de fréquence programmable 50. Le circuit échantillonneur bloqueur 47 et le convertisseur analogique-numérique (A/N) 48, qui reçoit le signal de sortie du circuit échantillonneur bloqueur, reçoivent des signaux d'horloge qui proviennent d'autres sorties du compteur d'états 46. Le signal de sortie du convertisseur A/N 48, qui indique la valeur du courant de fuite mesuré, est appliqué au circuit logique de comparaison 52 (pour la comparaison avec des limites prédéterminées), et à la mémoire de résultats 42 (pour l'enregistrement et la restitution ultérieure). La mémoire de gain 32, la mémoire
de décalage 34, la mémoire de limiteshaute/basse 36, la mé-
moire de masque 38, la mémoire "bon/mauvais" 40, la mémoire de résultats 42, le générateur de fréquence programmable 50 et la bascule de rejet de dispositif 51 sont tous connectés
au bus de données 54.
En considérant la figure 2, on note que le circuit de mesure de courant 24 comporte un condensateur 25 et un interrupteur 72 connectés en parallèle entre la sortie de l'amplificateur opérationnel 27 et l'entrée inverseuse de ce dernier. Une résistance 73 est connectée en série avec l'interrupteur 72. Le contact 22, qui est connecté à une broche d'entrée du DST 20, est connecté par l'intermédiaire de la ligne 60 au noeud 61 du circuit de commutation 62, qui est représenté schématiquement sous la forme d'un commutateur à trois positions sur la figure 2. Le noeud 63 du commutateur
62 est connecté à l'entrée inverseuse de l'amplificateur opé-
rationnel 27. Le noeud 64 du commutateur 62 est en l'air, et le noeud 66 du commutateur 62 est connecté à une résistance
de précision 68 à laquelle est appliquée une tension comman-
dée. Le convertisseur N/A 29, qu'on utilise pour appliquer une tension d'entrée désirée (par exemple haute ou basse) à une broche d'entrée, est connecté à l'entrée non inverseuse de l'amplificateur opérationnel 27. Les signaux de sortie de l'amplificateur opérationnel 27 et du convertisseur N/A 29 sont respectivement appliqués aux entrées non inverseuse et
inverseuse de l'amplificateur différentiel 74.
Fonctionnement Pendant une procédure d'étalonnage du système, on étalonne les circuits de mesure de courant 24 en calculant
des tensions de correction de gain et de décalage pour cha-
cun d'eux, et les tensions de correction sont représentés par des nombres qui sont enregistrés dans les mémoires 32, 34. On procède de la manière suivante pour déterminer des
tensions de correction de décalage et de gain.
Pour chaque circuit de mesure de courant 24, on connecte le commutateur 62 au noeud 64, de façon qu'aucun courant ne soit appliqué au circuit de mesure à partir de la ligne 60. On règle le convertisseur N/A 29 sur la tension d'entrée désirée. On mesure ensuite à un instant particulier le signal de sortie de l'amplificateur différentiel 74 (c'est-à-dire une tension proportionnelle à l'intégrale du courant qui charge le condensateur 25), par échantillonnage avec le circuit échantillonneurbloqueur 47 et conversion en un nombre par le convertisseur A/N 48, comme on l'expliquera ultérieurement en détail. Ce nombre, qui indique la tension du circuit de mesure de courant lorsqu'il a été déconnecté
de sa broche d'entrée (c'est-à-dire une situation dans la-
quelle le courant de fuite est égal à zéro), est le décalage qui est enregistré dans la mémoire de décalage 34 à une
adresse qui correspond au circuit de mesure de courant res-
pectif. Apres avoir mesuré la tension de décalage, on com- mute le commutateur 62 vers le noeud 66, pour connecter la
résistance de précision 68 à l'amplificateur opérationnel 27.
On applique une tension à la résistance de précision 68, de façon à appliquer un courant d'entrée connu au condensateur
25 et à la borne d'entrée inverseuse de l'amplificateur opé-
rationnel 27. Le signal de sortie de convertisseur N/A 29
est soustrait du signal de sortie de l'amplificateur opéra-
tionnel 27 dans l'amplificateur différentiel 74. Le signal de sortie de l'amplificateur différentiel 74 (c'est-à-dire une tension qui varie en rampe avec une vitesse directement liée au courant) est additionné à la tension de correction de décalage que le convertisseur N/A 31 applique au circuit de sommation 28, et la tension combinée est échantillonnée à
un instant particulier. On détermine le gain de l'amplifica-
teur opérationnel en comparant la valeur mesurée avec le
courant d'entrée connu, et on enregistre une valeur de cor-
rection de gain dans la mémoire de gain 32, pour chaque cir-
cuit de mesure de courant 24.
Avant d'effectuer des tests de courant de fuite réels, on charge la mémoire de limites haute/basse 36 et la mémoire de masque 38, par l'intermédiaire du bus de données 54. On charge dans la mémoire de limites haute/basse 36 les limites haute et basse de chaque broche d'entrée du DST 20
(par exemple les limites qui sont spécifiées par le fabri-
cant). On charge dans la mémoire de masque 38 la configura-
tion de broches du DST 20, de façon que des circuits de me-
sure de courant 24 inutilisés ne produisent pas des indica-
tions de défauts.
Une fois que les mémoires 36 et 38 ont été char-
gées, et que les convertisseurs N/A 29 ont été réglés, le compteur 46 compte de 1 à 256 sur le bus d'adresse 43, de façon que le démultiplexeur 1:256, portant la référence 44, active séquentiellement des circuits de mesure de courant 24 individuels en ouvrant l'interrupteur 72, ce qui fait que le condensateur 25 se charge et l'amplificateur différentiel 74 fournit en sortie une tension (V) qui varie en rampe avec
une vitesse directement liée au courant de fuite (I) prove-
nant de la broche, par la relation V = (I/C) x temps.
On laisse généralement les circuits de mesure de courant 24 évoluer en rampe pendant 1/60 ième de seconde ou pendant 1/6 ième de seconde pour une fréquence du réseau
électrique de 60 Hz, ou pendant 1/50 ième ou 1/5 ième de se-
conde pour une fréquence du réseau électrique de 50 Hz (ou
d'autres multiples entiers de la période du réseau de dis-
tribution d'énergie électrique correspondant à la composante prédominante du bruit de fond), selon l'intensité du courant et la précision désirée. On prend des multiples entiers de la période du réseau électrique pour des durées d'évolution
en rampe, de façon que tout bruit résultant de champs élec-
tromagnétiques qui proviennent d'alimentations, s'annule par intégration. Le choix de la longueur de la durée d'évolution
en rampe affecte à la fois la résolution et la plage de me-
sure. Par exemple, avec une durée de rampe de 1/6 ième de seconde, la plage est de +200 nanoampères, et la résolution (avec 12 bits) est de 100 picoampères; avec une durée de
rampe de 1/60 ième de seconde, la plage est de +2 microampè-
res et la résolution est de 1 nanoampères. La perte de réso-
lution lorsqu'on prend une durée de rampe plus courte est cependant compensée dans une certaine mesure par le fait que les courants plus élevés qui seront probablement mesurés sont moins sensibles à l'action de courants induits par du bruit électromagnétique de fond. De plus, s'il est nécessaire de raccourcir la durée de rampe à une valeur inférieure aux durées de 1/60 ième ou 1/50 ième de seconde, dans le but de mesurer des courants supérieurs à 2 microampères (à titre d'exemple, on utilise également une période de 1/600 ième ou 1/500 ième de seconde), les courants de bruit commencent à devenir négligeables. Pour mesurer des courants plus élevés, l'interrupteur 72 reste fermé, et la tension de sortie de l'amplificateur différentiel 74 (qui est proportionnelle au produit du courant de fuite par la valeur de la résistanqe 73) est simplement échantillonnée (après correction), sans intégration. L'application des signaux de sortie numériques 1 à 256 au démultiplexeur 44 par le compteur d'états 46, par
l'intermédiaire du bus d'adresse 43, pour déclencher la va-
riation en rampe des circuits de mesure 24, est répartie sur
la durée de la variation en rampe. Dès que le 256-ième cir-
cuit de mesure 24 a été activé, le compteur 46 compte à nou-
veau de 1 à 256, mais il applique cette fois les signaux de
sortie sur les bus 47, 45, pour connecter la sortie de cha-
que circuit de mesure de courant 24 par l'intermédiaire du
multiplexeur 26, et pour adresser des positions d'enregis-
trement respectives dans les mémoires 32-42. Du fait que le
signal d'horloge du compteur d'états 46 provient du généra-
teur de fréquence programmable 50, on peut aisément changer
la vitesse de comptage, et donc la durée de rampe, en chan-
geant simplement la fréquence du signal de sortie du généra-
teur de fréquence 50. De cette manière, chaque circuit de
mesure de courant 24 est connecté séquentiellement au con-
vertisseur A/N 48, et le signal de sortie de chaque circuit de mesure de courant 24 est ainsi mesuré tour à tour. Du fait que le multiplexeur 26 du type 256:1 et les mémoires 32-42 sont simultanément adressés par le compteur d'états 46, toutes les corrections de signal et tous les transferts de données sont synchronisés. Du fait que "l'adresse" de chaque circuit de mesure de courant 24 apparait sur les bus d'adresse 47, 45, le signal de sortie analogique du circuit 24 considéré est transmis tour à tour par le multiplexeur 256:1, 26; les facteurs de correction appropriés sont lus
dans les mémoires de gain et de décalage 32, 34; les infor-
mations appropriées de limites et de masque sont lues dans la mémoire -de limites haute/basse 36 et dans la mémoire de masque 38; et l'information "bon/mauvais" et les courants mesurés sont écrits à des adresses appropriées dans la mé-
moire "bon/mauvais" 40 et dans la mémoire de résultats 42.
Le signal de sortie analogique du multiplexeur 256:1, 26, est appliqué au circuit de correction de gain 30, qui utilise
l'information provenant de la mémoire de gain 32 pour pro-
duire une tension qui, lorsqu'elle est additionnée à celle provenant du circuit de mesure de courant, corrige le gain que produit l'amplificateur opérationnel 27. Cette tension de
correction de gain est additionnée dans le circuit de somma-
tion 28 avec la tension de correction de décalage (qui est basée sur le nombre enregistré dans la mémoire de décalage 34 et fournie par le convertisseur N/A 31), et avec le signal de sortie analogique du multiplexeur 26. Le signal de sortie
du circuit de sommation 28 est une tension corrigée qui cor-
respond au courant de fuite provenant de la broche d'entrée
qui est connectée au contact 22. La tension corrigée qui ap-
paraît en sortie du circuit de sommation 28 évolue en rampe, et le circuit échantillonneur-bloqueur 47 l'échantillonne précisément à la fin de la durée de rampe, pour fournir ainsi
une tension de sortie constante qui dure suffisamment long-
temps pour permettre la numérisation par le convertisseur
A/N 48. Le circuit échantillonneur-bloqueur 47 et le conver-
tisseur A/N 48 sont activés à l'instant approprié par des signaux d'horloge provenant du compteur d'états 46. Le signal de courant de fuite numérique que fournit le convertisseur A/N 48 est à la fois enregistré dans la mémoire de résultats 42 (pour fournir la valeur réelle du courant de fuite), et comparé avec les limites haute et basse pour cette broche, dans le cirauit logique de comparaison 52. Les résultats de
cette comparaison sont enregistrés dans la mémoire "bon/mau-
vais" 40, et ils instaurent la bascule de rejet de dispositif
51 en cas d'indication d'un défaut. Il suffit donc de con-
trôler le signal de sortie de la bascule 51 pour voir si le DST 20 répond aux spécifications, ce qui est la situation habituelle. Si on désire tester le courant de fuite à des ten-
sions d'entrée différentes, on modifie de façon correspondan-
te le réglage des convertisseurs N/A 29 et on répète la pro-
cédure.
Du fait que toutes les broches d'entrée sont simul-
tanément connectées aux circuits de mesure de courant respec-
tifs, et du fait que tous les circuits de mesure de courant évoluent simultanément en rampe, le test est beaucoup plus
rapide que lorsque chaque dispositif doit être connecté sépa-
rément (et doit tout d'abord se stabiliser), et lorsque les courants sont mesurés l'un après l'autre. L'utilisation du multiplexeur pour connecter tour à tour les divers circuits de mesure de courant permet d'utiliser un seul convertisseur
A/N, un seul circuit échantillonneur-bloqueur, un seul cir-
cuit de correction associé et un seul circuit de comparaison pour toutes les broches d'entrée. Du fait que les courants de fuite mesurés sont enregistrés, il n'est pas nécessaire de reprendre ultérieurement le test de broches présentant un défaut, en utilisant par exemple des limites de comparaison
différentes, pour déterminer la valeur d'un courant de fuite.
En utilisant des convertisseurs N/A 29 individuels, chaque circuit de mesure de courant 24 peut attaquer son contact 22 correspondant avec une tension d'entrée différente, ce qui permet par exemple d'appliquer des tensions d'entrée hautes
et basses à des broches alternées.
Il va de soi que de nombreuses modifications peu-
vent apportées au dispositif décrit et représenté, sans sor-
tir du cadre de l'invention. A titre d'exemple, chaque cir-
cuit de mesure de courant 24 pourrait être utilisé en commun
par un petit nombre de broches d'entrée qui seraient connec-
tées sélectivement.

Claims (21)

REVENDICATIONS
1. Appareil pour mesurer des courants de fuite de broches d'entrée d'un dispositif électronique sous test (20), caractérisé en ce qu'il comprend: un connecteur comportant un ensemble de contacts (22) pour établir un contact électri- que avec des broches d'entrée respectives; un ensemble de circuits de mesure de courant (24) connectés à des contacts respectifs (22) du connecteur, pour détecter des courants de
fuite et pour fournir des signaux de sortie analogiques re-
présentant ces courants; un multiplexeur (26) qui est connec-
té de façon à recevoir les signaux de sortie analogiques et à fournir sélectivement l'un des signaux de sortie analogiques sous la forme d'un signal de sortie du multiplexeur; et un convertisseur analogiquenumérique (48) qui est connecté pour recevoir le signal de sortie du multiplexeur (26) et pour fournir un signal de sortie numérique indiquant un courant de fuite.
2. Appareil pour mesurer des courants de fuite de broches d'entrée d'un dispositif électronique sous test (20), caractérisé en ce qu'il comprend: un connecteur comportait
un ensemble de contacts (22) pour établir un contact électri-
que avec des broches d'entrée respectives; un ensemble de circuits de mesure de courant (24) connectés à des contacts (22) respectifs du connecteur, pour détecter des courants de fuite et pour fournir des signaux de sortie analogiques qui représentent ces courants; un multiplexeur (26) connecté de
façon à recevoir les signaux de sortie analogiques et à four-
nir sélectivement l'un des signaux de sortie analogiques, en tant que signal de sortie du multiplexeur; une mémoire de limites (36) qui enregistre une valeur limite pour chaque
broche, cette mémoire de limites pouvant être adressée sélec-
tivement pour présenter une valeur limite correspondant à la
broche qui correspond au signal de sortie analogique considé-
ré; et un circuit de comparaison (52) qui est connecté de fa-
çon à recevoir et à comparer la valeur limite avec le signal
de sortie du multiplexeur (26).
3. Appareil pour mesurer des courants de fuite de broches d'entrée d'un dispositif électronique sous test (20), caractérisé en ce qu'il comprend: un connecteur comportant un ensemble de contacts (22) pour établir un contact électri- que avec des broches d'entrée respectives; un ensemble de circuits de mesure de courant (24) connectés à des contacts respectifs (22) du connecteur pour détecter des courants de
fuite et pour fournir des signaux de sortie analogiques re-
présentant ces courants; un multiplexeur (26) connecté de
façon à recevoir les signaux de sortie analogiques et à four-
nir sélectivement l'un des signaux de sortie analogiques, en
tant que signal de sortie du multiplexeur (26); et un ensem-
ble de convertisseurs numérique-analogique connectés à des
contacts respectifs (22) du connecteur, pour appliquer sé-
lectivement des signaux d'entrée désirés aux broches d'entrée.
4. Appareil pour mesurer des courants de fuite de broches d'entrée d'un dispositif électronique sous test (20), caractérisé en ce qu'il comprend: un connecteur comportant
un ensemble de contacts (22) pour établir un contact électri-
que avec des broches d'entrée respectives; un ensemble de circuits de mesure de courant (24) connectés à des contacts respectifs (22) du connecteur, pour détecter des courants de
fuite et pour fournir des signaux de sortie analogiques re-
présentant ces courants; un multiplexeur (26) connecté de fa-
çon à recevoir les signaux de sortie analogiques et à fournir sélectivement l'un des signaux de sortie analogiques en tant que signal de sortie du multiplexeur (26); une mémoire de correction (32, 34) qui enregistre une valeur de correction pour chaque broche, cette mémoire de connexion pouvant être adressée sélectivement de façon à présenter une valeur de correction correspondant au circuit de mesure de courant (24) qui fournit le signal de sortie analogique considéré; et des moyens (28, 30, 31) pour corriger le signal de sortie du
multiplexeur (26) sur la base de la valeur de correction.
5. Appareil selon la revendication 4, caractérisé en ce que chaque circuit de mesure de courant (24) présente
un décalage analogique correspondant, et la valeur de cor-
rection comprend une valeur de décalage destinée à produire un signal de décalage qui corrige le décalage analogique pré- cité.
6. Appareil selon l'une quelconque des revendica-
tions 4 ou 5, caractérisé en ce que chaque circuit de mesure de courant (24) présente un gain correspondant, et la valeur de correction comprend une valeur de gain destinée à produire
un signal de gain pour corriger le gain précité.
7. Appareil selon la revendication 4, caractérisé en ce qu'il comprend en outre des moyens (29, 62, 68) pour
produire la valeur de correction pour chaque circuit de l'en-
semble de circuits de mesure de courant (24), et pour l'enre-
gistrer dans la mémoire de correction (32, 34).
8. Appareil selon la reendication 2, caractérisé en ce qu'il comprend en outre une mémoire "bon/mauvais" (40); et une mémoire de masque (38) qui enregistre une information
de masque concernant l'absence de broches d'entrée pour cer-
tains circuits de mesure de courant (24), cette mémoire de masque (38) pouvant être adressée sélectivement de façon à présenter l'information de masque au circuit de comparaison (52), pour empêcher l'indication de défauts pour des contacts
(22) qui ne sont pas connectés à des broches d'entrée.
9. Appareil selon l'une quelconque des revendica-
tions 1 à 4 ou 8, caractérisé en ce que le multiplexeur (26)
est actionné séquentiellement.
10. Appareil selon l'une quelconque des revendica-
tions 2, 4, 5, 6 ou 8, caractérisé en ce que chaque mémoire (32, 34, 36, 38, 40) est synchronisée avec le multiplexeur (26).
11. Appareil selon l'une quelconque des revendica-
tions 1 à 4, caractérisé en ce que chaque circuit de mesure de courant (24) intègre son courant de fuite respectif, et
en ce qu'il comprend en outre des moyens (47) pour échantil-
lonner le signal de sortie du multiplexeur (26) après une intégration sur une durée égale à un multiple entier de la
période du réseau de distribution d'énergie électrique cor-
respondant à la composante prédominante de bruit de fond, dans le but d'annuler le bruit qui est produit par des champs
électromagnétiques provenant d'alimentations.
12. Appareil selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comprend en outre une mémoire de limites (36) qui enregistre une valeur limite pour chaque broche, cette mémoire de limites pouvant être adressée sélectivement pour présenter une valeur limite correspondant à la broche qui correspond au signal de sortie analogique considéré; et un
circuit de comparaison (52) qui est connecté de façon à rece-
voir et à comparer avec le signal de sortie numérique un si-
gnal de limite qui est basé sur la valeur limite.
13. Appareil selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comprend en outre un ensemble de convertisseurs
numérique-analogique qui sont connectés aux contacts respec-
tifs (22) du connecteur, pour appliquer sélectivement des si-
gnaux d'entrée désirés aux broches d'entrée.
14. Appareil selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comprend en outre: une mémoire de correction (32, 34) enregistrant une valeur de correction pour chaque broche, cette mémoire de correction (32, 34) pouvant -être
adressée sélectivement pour présenter une valeur de correc-
tion correspondant au circuit de mesure de courant (24) qui fournit le signal de sortie analogique considéré; et des moyens (28, 30, 31) pour corriger le signal de sortie du
multiplexeur (26) sur la base de la valeur de correction.
15. Appareil selon la revendication 12, caractérisé en ce qu'il comprend en outre: un ensemble de convertisseurs numérique-analogique connectés à des contacts respectifs (22)
du connecteur, pour appliquer sélectivement des signaux d'en-
trée désirés aux broches d'entrée; une mémoire de correction (32, 34) enregistrant une valeur de correction pour chaque broche, cette mémoire de correction (32, 34) pouvant être
adressée sélectivement pour présenter une valeur de correc-
tion correspondant au circuit de mesure de courant (24) qui fournit le signal de sortie analogique considéré; et des moyens (28, 30, 31) pour corriger le signal de sortie du
multiplexeur (26) sur la base de la valeur de correction.
16. Appareil selon l'une quelconque des revendica-
tions 1, 12 ou 15, caractérisé en ce qu'il comprend en outre une mémoire de résultats (42> qui enregistre le signal de sortie numérique du convertisseur analogique-numérique (48)
pour chaque broche.
17. Appareil selon l'une quelconque des revendica-
tions 1, 12 ou 15, caractérisé en ce que les mémoires (32, 34, 36)et le multiplexeur (26) sont synchronisés par un
compteur (46).
18. Appareil selon l'une quelconque des revendica-
tions 1 à 4, caractérisé en ce que chaque circuit de mesure de courant (24) comprend: un amplificateur opérationnel
(27); et un condensateur (25) qui est connecté entre une en-
trée et une sortie de l'amplificateur opérationnel (27).
19. Appareil selon l'une quelconque des revendica-
tions 1 à 4, caractérisé en ce qu'il comprend en outre un démultiplexeur (44) qui est connecté aux circuits de mesure
de courant (24), et ce démultiplexeur (44) commande l'acti-
vation des circuits de mesure de courant.
20. Appareil selon l'une quelconque des revendica-
tions 1 à 4, caractérisé en ce qu'il comprend un circuit de
mesure de courant (24) séparé pour chaque broche.
21. Appareil selon l'une quelconque des revendica-
tions 1 à 4, caractérisé en ce que chaque circuit de mesure de courant (24) intègre le courant de fuite, et en ce qu'il
comprend en outre des moyens (47) pour échantillonner le si-
gnal de sortie du multiplexeur (26) après une intégration
sur une durée désirée, un compteur d'états (46) qui est con-
necté de façon à commander l'échantillonnage des moyens
d'échantillonnage (47), et un générateur de fréquence pro-
grammable (50) qui est connecté de façon à appliquer un si-
gnal d'horloge au compteur d'états (46), afin de commander la durée d'intégration en fonction de la fréquence du signal
de sortie du générateur de fréquence (50).
FR888814278A 1987-10-30 1988-11-02 Appareil de mesure du courant de fuite des broches d'entree d'un dispositif sous test Expired - Lifetime FR2622702B1 (fr)

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