JPH10213619A - リレー試験器 - Google Patents
リレー試験器Info
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- JPH10213619A JPH10213619A JP9031351A JP3135197A JPH10213619A JP H10213619 A JPH10213619 A JP H10213619A JP 9031351 A JP9031351 A JP 9031351A JP 3135197 A JP3135197 A JP 3135197A JP H10213619 A JPH10213619 A JP H10213619A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 試験器材を削減し、複数の配電盤を同時にか
つ容易に試験できるようにする。 【解決手段】 外部より入力される任意の試験入力量又
は試験対象の継電器の設定データから試験入力量を演算
し、その演算結果をディジタル信号に変換して被試験装
置に出力する手段24と、この被試験装置から入力された
継電器の試験結果の良否を判定し記憶，表示する手段2
6，27とからなる試験制御部２と、前記試験制御部より
入力したディジタル信号を継電器へ出力する手段と、継
電器の試験結果を前記試験制御部へ入力する手段とから
なるインターフェイス部３とを備えた。
つ容易に試験できるようにする。 【解決手段】 外部より入力される任意の試験入力量又
は試験対象の継電器の設定データから試験入力量を演算
し、その演算結果をディジタル信号に変換して被試験装
置に出力する手段24と、この被試験装置から入力された
継電器の試験結果の良否を判定し記憶，表示する手段2
6，27とからなる試験制御部２と、前記試験制御部より
入力したディジタル信号を継電器へ出力する手段と、継
電器の試験結果を前記試験制御部へ入力する手段とから
なるインターフェイス部３とを備えた。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、配電盤のリレー試
験器に関する。
験器に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の試験器で継電器の特性試験を実施
するには、大型で大容量の交流電圧電流発生器，電流
計，電圧計，位相計，オシロスコープ等の器材を、試験
する継電器が取り付けられた配電盤の周辺へ設置し、そ
の器材を試験対象の継電器要素に合わせて接続を替えな
がら配電盤の試験用対象へ接続する試験回路を作製して
いた。
するには、大型で大容量の交流電圧電流発生器，電流
計，電圧計，位相計，オシロスコープ等の器材を、試験
する継電器が取り付けられた配電盤の周辺へ設置し、そ
の器材を試験対象の継電器要素に合わせて接続を替えな
がら配電盤の試験用対象へ接続する試験回路を作製して
いた。
【０００３】その後、継電器の整定値，特性，定格を考
慮し継電器へ印加する電流値，電圧値及び位相値を手計
算で算出し、その値を前記試験回路にて設定して継電器
へ印加していた。又、継電器の動作結果は、継電器の出
力端子へオシロスコープなどを接続し目視にて確認を行
なっている。又、継電器の不審応動及び異常が発生した
場合、原因究明のために同様の試験回路を構成し、オシ
ロ装置等の外部記録装置の記録データを継電器へ入力し
て再現試験を行なっている。
慮し継電器へ印加する電流値，電圧値及び位相値を手計
算で算出し、その値を前記試験回路にて設定して継電器
へ印加していた。又、継電器の動作結果は、継電器の出
力端子へオシロスコープなどを接続し目視にて確認を行
なっている。又、継電器の不審応動及び異常が発生した
場合、原因究明のために同様の試験回路を構成し、オシ
ロ装置等の外部記録装置の記録データを継電器へ入力し
て再現試験を行なっている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の配電盤
試験及び継電器の異常が発生した場合、原因究明のため
の試験器は、多量の器材を配電盤が設置されている場所
へ運搬し、試験対象の継電器要素に合わせた試験回路を
構成しなければならない煩わしさがあった。更に継電器
の試験要素を変更する度に出力端子を変更する煩わしさ
もあった。
試験及び継電器の異常が発生した場合、原因究明のため
の試験器は、多量の器材を配電盤が設置されている場所
へ運搬し、試験対象の継電器要素に合わせた試験回路を
構成しなければならない煩わしさがあった。更に継電器
の試験要素を変更する度に出力端子を変更する煩わしさ
もあった。
【０００５】又、試験用電源に交流２００Ｖを使用する
ので試験中に感電する危険性及び誤接続による試験器材
の焼損、更に過大入力により継電器を焼損してしまう恐
れがあった。
ので試験中に感電する危険性及び誤接続による試験器材
の焼損、更に過大入力により継電器を焼損してしまう恐
れがあった。
【０００６】本発明は上記課題を解決するためになされ
たものであり、試験器材を削減し、複数の配電盤を同時
にかつ容易に試験することの可能なリレー試験器を提供
することを目的としている。
たものであり、試験器材を削減し、複数の配電盤を同時
にかつ容易に試験することの可能なリレー試験器を提供
することを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の［請求項１］に
係るリレー試験器は、外部より入力される任意の試験入
力量又は試験対象の継電器の設定データから試験入力量
を演算し、その演算結果をディジタル信号に変換して被
試験装置に出力する手段と、前記被試験装置から入力さ
れた継電器の試験結果の良否を判定し記憶，表示する手
段とからなる試験制御部と、前記試験制御部より入力し
たディジタル信号を継電器へ出力する手段と、継電器の
試験結果を前記試験制御部へ入力する手段とからなるイ
ンターフェイス部とを備えた。
係るリレー試験器は、外部より入力される任意の試験入
力量又は試験対象の継電器の設定データから試験入力量
を演算し、その演算結果をディジタル信号に変換して被
試験装置に出力する手段と、前記被試験装置から入力さ
れた継電器の試験結果の良否を判定し記憶，表示する手
段とからなる試験制御部と、前記試験制御部より入力し
たディジタル信号を継電器へ出力する手段と、継電器の
試験結果を前記試験制御部へ入力する手段とからなるイ
ンターフェイス部とを備えた。
【０００８】本発明の［請求項１］に係るリレー試験器
は、試験制御部は外部から入力される任意の試験入力量
（試験電圧値，試験電流値，試験位相値等）、又は試験
対象の継電器の設定データから試験入力量を求め、その
結果を量子化されたディジタル信号に変換して出力する
と共に、継電器の試験結果の良否を判定して記憶，表示
を行なうものである。一方、インターフェイス部は試験
制御部から入力したディジタル信号を継電器内部のバス
へ出力すると共に、継電器の動作信号を取り込み試験制
御部へ出力する。これによって、試験器材の削減ができ
継電器の試験を容易に行なうことが可能となる。更に、
過大入力印加による継電器の焼損を防止できる。
は、試験制御部は外部から入力される任意の試験入力量
（試験電圧値，試験電流値，試験位相値等）、又は試験
対象の継電器の設定データから試験入力量を求め、その
結果を量子化されたディジタル信号に変換して出力する
と共に、継電器の試験結果の良否を判定して記憶，表示
を行なうものである。一方、インターフェイス部は試験
制御部から入力したディジタル信号を継電器内部のバス
へ出力すると共に、継電器の動作信号を取り込み試験制
御部へ出力する。これによって、試験器材の削減ができ
継電器の試験を容易に行なうことが可能となる。更に、
過大入力印加による継電器の焼損を防止できる。
【０００９】本発明の［請求項２］に係るリレー試験器
は、［請求項１］において、試験制御部は継電器の障害
発生時のデータを被試験装置内の記憶装置から読み取
り、そのデータを再生させることにより試験入力量とし
て被試験装置内にある継電器へ入力する手段を備えた。
は、［請求項１］において、試験制御部は継電器の障害
発生時のデータを被試験装置内の記憶装置から読み取
り、そのデータを再生させることにより試験入力量とし
て被試験装置内にある継電器へ入力する手段を備えた。
【００１０】本発明の［請求項２］に係るリレー試験器
は、試験制御部はインターフェイス部を介して継電器の
障害発生時のデータを継電器内部の記憶装置から読み取
り、そのデータを再生し試験入力量として継電器へ入力
するものである。これにより、障害発生時の再現性試験
が容易にでき障害の原因究明及び復旧までの時間が短縮
可能である。
は、試験制御部はインターフェイス部を介して継電器の
障害発生時のデータを継電器内部の記憶装置から読み取
り、そのデータを再生し試験入力量として継電器へ入力
するものである。これにより、障害発生時の再現性試験
が容易にでき障害の原因究明及び復旧までの時間が短縮
可能である。
【００１１】本発明の［請求項３］に係るリレー試験器
は、［請求項１］において、インターフェイス部を複数
個設けると共に、各インターフェイス部に対応して被試
験装置を接続した。
は、［請求項１］において、インターフェイス部を複数
個設けると共に、各インターフェイス部に対応して被試
験装置を接続した。
【００１２】本発明の［請求項３］に係るリレー試験器
は、試験制御部と複数のインターフェイス部が並列に接
続されているものである。これにより、複数の継電器を
同時に試験を行なうことが可能である。
は、試験制御部と複数のインターフェイス部が並列に接
続されているものである。これにより、複数の継電器を
同時に試験を行なうことが可能である。
【００１３】本発明の［請求項４］に係るリレー試験器
は、［請求項１］において、試験制御部の入出力信号を
変調復調し通信回線へ接続する伝送部と、その通信回線
の対向端子に接続する伝送部と、前記伝送部より被試験
装置に接続するインターフェイス部とを備えた。
は、［請求項１］において、試験制御部の入出力信号を
変調復調し通信回線へ接続する伝送部と、その通信回線
の対向端子に接続する伝送部と、前記伝送部より被試験
装置に接続するインターフェイス部とを備えた。
【００１４】本発明の［請求項４］に係るリレー試験器
は、伝送部は試験制御部の入出力信号を通信回線を介し
遠隔地に設置されたインターフェイス部とを結合するも
のである。これによって、遠隔地に設置された継電器も
同時に試験を行なうことが可能である。
は、伝送部は試験制御部の入出力信号を通信回線を介し
遠隔地に設置されたインターフェイス部とを結合するも
のである。これによって、遠隔地に設置された継電器も
同時に試験を行なうことが可能である。
【００１５】本発明の［請求項５］に係るリレー試験器
は、外部より入力される任意の試験入力量をディジタル
信号に変換して被試験装置に出力する手段及び被試験装
置から入力される継電器内部で変換されたディジタル信
号の良否を判定し記憶，表示する手段とからなる試験制
御部と、前記試験制御部より出力されたディジタル信号
をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換部と、ここで変換
したアナログ信号をＰＴ，ＣＴ回路の入力量に増幅し継
電器に印加する電流電圧増幅部と、前記電流電圧増幅部
を介して印加した入力量が継電器内でディジタル変換さ
れた信号を取り込んで前記試験制御部へ入力するインタ
ーフェイス部とを備えた。
は、外部より入力される任意の試験入力量をディジタル
信号に変換して被試験装置に出力する手段及び被試験装
置から入力される継電器内部で変換されたディジタル信
号の良否を判定し記憶，表示する手段とからなる試験制
御部と、前記試験制御部より出力されたディジタル信号
をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換部と、ここで変換
したアナログ信号をＰＴ，ＣＴ回路の入力量に増幅し継
電器に印加する電流電圧増幅部と、前記電流電圧増幅部
を介して印加した入力量が継電器内でディジタル変換さ
れた信号を取り込んで前記試験制御部へ入力するインタ
ーフェイス部とを備えた。
【００１６】本発明の［請求項５］に係るリレー試験器
は、試験制御部は外部から入力される任意の試験入力量
を量子化されたディジタル信号に変換すると共に、継電
器内部で変換されたディジタル信号の良否を判定し記
憶，表示を行なう。一方、インターフェイス部は継電器
内部で変換されたディジタル信号を取り込んで試験制御
部へ出力する。Ｄ／Ａ変換部は試験制御部から出力され
たディジタル信号をアナログ信号に変換して出力する。
電流電圧増幅部はＤ／Ａ変換部より出力したアナログ信
号をＰＴ，ＣＴ回路の入力量に増幅し継電器に出力す
る。
は、試験制御部は外部から入力される任意の試験入力量
を量子化されたディジタル信号に変換すると共に、継電
器内部で変換されたディジタル信号の良否を判定し記
憶，表示を行なう。一方、インターフェイス部は継電器
内部で変換されたディジタル信号を取り込んで試験制御
部へ出力する。Ｄ／Ａ変換部は試験制御部から出力され
たディジタル信号をアナログ信号に変換して出力する。
電流電圧増幅部はＤ／Ａ変換部より出力したアナログ信
号をＰＴ，ＣＴ回路の入力量に増幅し継電器に出力す
る。
【００１７】本発明の［請求項６］に係るリレー試験器
は、外部より入力される任意の試験入力量をディジタル
信号に変換して被試験装置に出力する手段及び被試験装
置から入力される継電器の伝送信号の良否を判定し記
憶，表示する手段とからなる試験制御部と、前記試験制
御部より出力されたディジタル信号を継電器へ出力する
インターフェイス部と、継電器の送信信号を取り込んで
前記試験制御部へ入力する伝送インターフェイス部とを
備えた。
は、外部より入力される任意の試験入力量をディジタル
信号に変換して被試験装置に出力する手段及び被試験装
置から入力される継電器の伝送信号の良否を判定し記
憶，表示する手段とからなる試験制御部と、前記試験制
御部より出力されたディジタル信号を継電器へ出力する
インターフェイス部と、継電器の送信信号を取り込んで
前記試験制御部へ入力する伝送インターフェイス部とを
備えた。
【００１８】本発明の［請求項６］に係るリレー試験器
は、試験制御部において外部から入力される任意の試験
入力量を量子化されたディジタル信号に変換すると共
に、入力される継電器の伝送信号の良否を判定し記憶，
表示を行なう。又、インターフェイス部は試験制御部か
ら入力したディジタル信号を継電器内部のバスへ出力す
る。そして伝送インターフェイス部は継電器の送信信号
を取り込み前記試験制御部へ入力するものである。これ
によって、継電器が出力する伝送信号の確認試験が可能
である。
は、試験制御部において外部から入力される任意の試験
入力量を量子化されたディジタル信号に変換すると共
に、入力される継電器の伝送信号の良否を判定し記憶，
表示を行なう。又、インターフェイス部は試験制御部か
ら入力したディジタル信号を継電器内部のバスへ出力す
る。そして伝送インターフェイス部は継電器の送信信号
を取り込み前記試験制御部へ入力するものである。これ
によって、継電器が出力する伝送信号の確認試験が可能
である。
【００１９】
【発明の実施の形態】図１は［請求項１］によるリレー
試験器の実施の形態を示す構成図である。図においてリ
レー試験器１は試験制御部２とインターフェイス部３と
から構成される。試験制御部２は試験者が試験対象の継
電器、即ち、被試験装置４の設定データを入力部21に入
力することにより、この設定データから被試験装置４に
印加する試験入力量、例えば試験電圧値や試験電流値な
どを演算する。
試験器の実施の形態を示す構成図である。図においてリ
レー試験器１は試験制御部２とインターフェイス部３と
から構成される。試験制御部２は試験者が試験対象の継
電器、即ち、被試験装置４の設定データを入力部21に入
力することにより、この設定データから被試験装置４に
印加する試験入力量、例えば試験電圧値や試験電流値な
どを演算する。
【００２０】更にその試験入力量を、制御部22と演算部
23とで量子化されたディジタル信号に変換し、電圧電流
量出力部24に出力する。電圧電流量出力部24に入力され
たディジタル信号を被試験装置４のサンプリングタイミ
ングと同期をとる。そしてインターフェイス部３を介し
て被試験装置４のバスへディジタル信号に変換された試
験入力量を出力する。
23とで量子化されたディジタル信号に変換し、電圧電流
量出力部24に出力する。電圧電流量出力部24に入力され
たディジタル信号を被試験装置４のサンプリングタイミ
ングと同期をとる。そしてインターフェイス部３を介し
て被試験装置４のバスへディジタル信号に変換された試
験入力量を出力する。
【００２１】被試験装置４のバスへ入力されたディジタ
ル信号は、演算部41と記憶部42と入出力部43とを駆使し
演算された結果をリレー動作信号として被試験装置４の
バス上に出力する。そのリレー動作信号を被試験装置４
のバスに接続されたインターフェイス部３で読み取って
リレー動作信号入力部25へ出力し、制御部22へ入力され
る。
ル信号は、演算部41と記憶部42と入出力部43とを駆使し
演算された結果をリレー動作信号として被試験装置４の
バス上に出力する。そのリレー動作信号を被試験装置４
のバスに接続されたインターフェイス部３で読み取って
リレー動作信号入力部25へ出力し、制御部22へ入力され
る。
【００２２】入力されたリレー動作信号は、制御部22と
演算部26によってリレー動作の良否を判定し、その結果
を記憶部26及び表示部27にて記憶，表示する。本実施の
形態によれば、被試験装置４に交流入力５を印加する必
要がなく、試験器材の削減ができリレーの試験を容易に
行なうことが可能となる。更に、過大入力印加による継
電器の焼損を防止できる。
演算部26によってリレー動作の良否を判定し、その結果
を記憶部26及び表示部27にて記憶，表示する。本実施の
形態によれば、被試験装置４に交流入力５を印加する必
要がなく、試験器材の削減ができリレーの試験を容易に
行なうことが可能となる。更に、過大入力印加による継
電器の焼損を防止できる。
【００２３】本発明の［請求項２］による実施の形態を
図１を参照して更に説明する。本実施の形態では、継電
器に障害が発生した場合は、継電器即ち被試験装置４の
記憶部42に障害発生時のデータを記憶する機能を有して
いる。そこで、記憶部42に記憶されている障害発生時の
データを被試験装置４のバスと接続されているインター
フェイス部３より読み込んでリレー動作信号入力部25へ
出力する。
図１を参照して更に説明する。本実施の形態では、継電
器に障害が発生した場合は、継電器即ち被試験装置４の
記憶部42に障害発生時のデータを記憶する機能を有して
いる。そこで、記憶部42に記憶されている障害発生時の
データを被試験装置４のバスと接続されているインター
フェイス部３より読み込んでリレー動作信号入力部25へ
出力する。
【００２４】リレー動作信号入力部25へ入力されたデー
タは、制御部22と演算部23によって試験入力量として再
生し、更にこれをディジタル信号に変換し、電圧電流量
出力部24とインターフェイス部３を介して被試験装置４
に入力する。本実施の形態によれば、障害発生時の再現
性試験が容易にでき、障害の原因究明及び復旧までの時
間が短縮可能となる。
タは、制御部22と演算部23によって試験入力量として再
生し、更にこれをディジタル信号に変換し、電圧電流量
出力部24とインターフェイス部３を介して被試験装置４
に入力する。本実施の形態によれば、障害発生時の再現
性試験が容易にでき、障害の原因究明及び復旧までの時
間が短縮可能となる。
【００２５】図２は本発明の［請求項３］による実施の
形態を示す構成図である。図２において図１と同一機能
部分については同一符号を付して説明を省略する。本実
施の形態では複数のインターフェイス部3-1 〜3-N を並
列的に接続すると共に、夫々のインターフェイス部に対
応して複数の被試験装置4-1 〜4-N を設けたものであ
る。本実施の形態によれば、複数の被試験装置を同時に
試験することができる。
形態を示す構成図である。図２において図１と同一機能
部分については同一符号を付して説明を省略する。本実
施の形態では複数のインターフェイス部3-1 〜3-N を並
列的に接続すると共に、夫々のインターフェイス部に対
応して複数の被試験装置4-1 〜4-N を設けたものであ
る。本実施の形態によれば、複数の被試験装置を同時に
試験することができる。
【００２６】図３は［請求項４］による実施の形態を示
す構成図である。本実施の形態では、遠隔地にある電気
所の被試験装置も同時に試験をできるようにしたもので
ある。図３において図１と同一機能部分については同一
符号を付して説明を省略する。
す構成図である。本実施の形態では、遠隔地にある電気
所の被試験装置も同時に試験をできるようにしたもので
ある。図３において図１と同一機能部分については同一
符号を付して説明を省略する。
【００２７】本実施の形態の構成上の特徴点は、実施の
形態の電圧電流量出力部24とリレー動作信号入力部25と
の信号線をインターフェイス部３と並列に伝送部６に接
続した点である。なお、伝送部６は通信回線８を通し
て、遠隔地の他電気所７に設置された伝送部73との間で
電圧電流量出力部24とリレー動作信号入力部25の入出力
信号を通信する。
形態の電圧電流量出力部24とリレー動作信号入力部25と
の信号線をインターフェイス部３と並列に伝送部６に接
続した点である。なお、伝送部６は通信回線８を通し
て、遠隔地の他電気所７に設置された伝送部73との間で
電圧電流量出力部24とリレー動作信号入力部25の入出力
信号を通信する。
【００２８】伝送部73は被試験装置71に接続されたイン
ターフェイス部72に入出力信号の受け渡しを行なう。こ
れにより、遠隔地に設置された被試験装置71も同時に試
験を行なうことが可能である。
ターフェイス部72に入出力信号の受け渡しを行なう。こ
れにより、遠隔地に設置された被試験装置71も同時に試
験を行なうことが可能である。
【００２９】図４は［請求項５］による実施の形態を示
す構成図である。本実施の形態では、試験制御部２とイ
ンターフェイス部３とＤ／Ａ変換部９と電流電圧増幅部
10とから構成される。本実施の形態では、被試験装置４
側に設けたアナログ入力部44のアナログ／ディジタル変
換精度を確認しようとしたものである。
す構成図である。本実施の形態では、試験制御部２とイ
ンターフェイス部３とＤ／Ａ変換部９と電流電圧増幅部
10とから構成される。本実施の形態では、被試験装置４
側に設けたアナログ入力部44のアナログ／ディジタル変
換精度を確認しようとしたものである。
【００３０】試験制御部２は試験者が試験対象の継電
器、即ち、被試験装置４へ印加する試験入力量、例えば
試験電圧値や試験電流値などを入力部21へ入力すること
により、その試験入力量を制御部22と演算部23とで量子
化されたディジタル信号に変換し、電圧電流量出力部24
へ出力する。電圧電流量出力部24に入力されたディジタ
ル信号を被試験装置４のサンプリングタイミングと同期
をとってＤ／Ａ変換部９へ出力する。
器、即ち、被試験装置４へ印加する試験入力量、例えば
試験電圧値や試験電流値などを入力部21へ入力すること
により、その試験入力量を制御部22と演算部23とで量子
化されたディジタル信号に変換し、電圧電流量出力部24
へ出力する。電圧電流量出力部24に入力されたディジタ
ル信号を被試験装置４のサンプリングタイミングと同期
をとってＤ／Ａ変換部９へ出力する。
【００３１】Ｄ／Ａ変換部９では電圧電流量出力部24よ
り入力したディジタル信号をアナログ信号に変換し、電
流電圧増幅部10へ出力する。電流電圧増幅部10では入力
されたアナログ信号を被試験装置４のＰＴ，ＣＴ回路の
定格値に合わせ増幅し、被試験装置４の交流入力として
アナログ入力部44へ出力する。
り入力したディジタル信号をアナログ信号に変換し、電
流電圧増幅部10へ出力する。電流電圧増幅部10では入力
されたアナログ信号を被試験装置４のＰＴ，ＣＴ回路の
定格値に合わせ増幅し、被試験装置４の交流入力として
アナログ入力部44へ出力する。
【００３２】アナログ入力部44へ入力された交流入力
は、ディジタル信号に変換されて被試験装置４のバスへ
出力される。アナログ入力部44より出力されたディジタ
ル信号を被試験装置４のバスに接続されたインターフェ
イス部３で読み取り、リレー動作信号入力部25へ出力す
る。リレー動作信号入力部25へ入力された信号は制御部
22へ送られる。
は、ディジタル信号に変換されて被試験装置４のバスへ
出力される。アナログ入力部44より出力されたディジタ
ル信号を被試験装置４のバスに接続されたインターフェ
イス部３で読み取り、リレー動作信号入力部25へ出力す
る。リレー動作信号入力部25へ入力された信号は制御部
22へ送られる。
【００３３】リレー動作信号入力部25より入力されたデ
ィジタル信号は、制御部22と演算部23によって試験入力
量より変換されたディジタル信号と比較して良否の判定
を行なうと共に、その結果を記憶部26及び表示部27にて
記憶，表示する。本実施の形態によれば、アナログ入力
部44のアナログ／ディジタル変換精度の確認試験が可能
となる。
ィジタル信号は、制御部22と演算部23によって試験入力
量より変換されたディジタル信号と比較して良否の判定
を行なうと共に、その結果を記憶部26及び表示部27にて
記憶，表示する。本実施の形態によれば、アナログ入力
部44のアナログ／ディジタル変換精度の確認試験が可能
となる。
【００３４】図５は［請求項６］による実施の形態を示
す構成図である。本実施の形態では、試験制御部２とイ
ンターフェイス部３と伝送インターフェイス部11とから
構成される。試験制御部２は試験者が試験対象の継電
器、即ち、被試験装置４へ印加する試験入力量、例えば
試験電圧値や試験電流値などを入力部21へ入力すること
により、その試験入力量を制御部22と演算部23とで量子
化されたディジタル信号に変換して、電圧電流量出力部
24へ出力する。
す構成図である。本実施の形態では、試験制御部２とイ
ンターフェイス部３と伝送インターフェイス部11とから
構成される。試験制御部２は試験者が試験対象の継電
器、即ち、被試験装置４へ印加する試験入力量、例えば
試験電圧値や試験電流値などを入力部21へ入力すること
により、その試験入力量を制御部22と演算部23とで量子
化されたディジタル信号に変換して、電圧電流量出力部
24へ出力する。
【００３５】電圧電流量出力部24に入力されたディジタ
ル信号を被試験装置４のサンプリングタイミングと同期
をとりインターフェイス部３を介して被試験装置４のバ
スへディジタル信号に変換された試験入力量を出力す
る。被試験装置４のバスへ入力されたディジタル信号
は、演算部41と記憶部42と入出力部43とを駆使し送信信
号に変換して送信部45へ出力される。
ル信号を被試験装置４のサンプリングタイミングと同期
をとりインターフェイス部３を介して被試験装置４のバ
スへディジタル信号に変換された試験入力量を出力す
る。被試験装置４のバスへ入力されたディジタル信号
は、演算部41と記憶部42と入出力部43とを駆使し送信信
号に変換して送信部45へ出力される。
【００３６】送信部45では入力された送信信号を変調し
て出力する。送信部45より出力された送信信号を伝送イ
ンターフェイス部11へ取り込んで復調した後、リレー動
作信号入力部25へ出力し、リレー動作信号入力部25を介
して制御部22へ入力される。
て出力する。送信部45より出力された送信信号を伝送イ
ンターフェイス部11へ取り込んで復調した後、リレー動
作信号入力部25へ出力し、リレー動作信号入力部25を介
して制御部22へ入力される。
【００３７】入力された送信信号は制御部22と演算部23
によって試験入力量と被試験装置４で変換された送信信
号を比較して良否の判定を行なうと共に、その結果を記
憶部26及び表示部27にて記憶，表示する。本実施の形態
によれば、被試験装置４の伝送信号の確認が受信端装置
を必要とせずに可能となる。
によって試験入力量と被試験装置４で変換された送信信
号を比較して良否の判定を行なうと共に、その結果を記
憶部26及び表示部27にて記憶，表示する。本実施の形態
によれば、被試験装置４の伝送信号の確認が受信端装置
を必要とせずに可能となる。
【００３８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば継
電器の入力量をディジタル信号に変換することにより、
被試験装置に交流入力を直接印加することなく、複数の
配電盤の試験を同時に安全かつ容易に行なうことができ
る。又、試験装置は大型で多量の測定器材を準備する必
要がなくなり、しかも特性試験毎の試験回路の変更を行
なう必要がなくなって、運転中の配電盤に振動等を与え
ることなく安全に配電盤の試験を行なうことができる。
更に、従来装置では電圧・電流の調整を行ない、配電盤
の状態を確認しながら動作，不動作の電圧・電流値を測
定する等の手間がかかっていた点が、本発明のリレー試
験器を使うことにより、一人で、かつ短時間で試験を行
なうことが可能になる。
電器の入力量をディジタル信号に変換することにより、
被試験装置に交流入力を直接印加することなく、複数の
配電盤の試験を同時に安全かつ容易に行なうことができ
る。又、試験装置は大型で多量の測定器材を準備する必
要がなくなり、しかも特性試験毎の試験回路の変更を行
なう必要がなくなって、運転中の配電盤に振動等を与え
ることなく安全に配電盤の試験を行なうことができる。
更に、従来装置では電圧・電流の調整を行ない、配電盤
の状態を確認しながら動作，不動作の電圧・電流値を測
定する等の手間がかかっていた点が、本発明のリレー試
験器を使うことにより、一人で、かつ短時間で試験を行
なうことが可能になる。
【図１】本発明の［請求項１］ないし［請求項２］によ
るリレー試験器の実施の形態を示すブロック図。
るリレー試験器の実施の形態を示すブロック図。
【図２】本発明の［請求項３］によるリレー試験器の実
施の形態を示ブロック図。
施の形態を示ブロック図。
【図３】本発明の［請求項４］によるリレー試験器の実
施の形態を示ブロック図。
施の形態を示ブロック図。
【図４】本発明の［請求項５］によるリレー試験器の実
施の形態を示ブロック図。
施の形態を示ブロック図。
【図５】本発明の［請求項６］によるリレー試験器の実
施の形態を示ブロック図。
施の形態を示ブロック図。
１ リレー試験器 ２ 試験制御部 ３，3-1 〜3-N ，72 インターフェイス部 ４，4-1 〜4-N ，71 被試験装置 ５ 交流入力 ６，73 伝送部 ７ 他電気所 ８ 通信回線 ９ ディジタル／アナログ変換部 10 電流・電圧増幅部 11 伝送インターフェイス部 21 入力部 22 制御部 23，41 演算部 24 電圧・電流量出力部 25 リレー動作信号入力部 26，42 記憶部 27 表示部 43 入出力部 45 送信部
Claims (6)
- 【請求項１】 外部より入力される任意の試験入力量又
は試験対象の継電器の設定データから試験入力量を演算
し、その演算結果をディジタル信号に変換して被試験装
置に出力する手段と、前記被試験装置から入力された継
電器の試験結果の良否を判定し記憶，表示する手段とか
らなる試験制御部と、前記試験制御部より入力したディ
ジタル信号を継電器へ出力する手段と、継電器の試験結
果を前記試験制御部へ入力する手段とからなるインター
フェイス部とを備えたことを特徴とするリレー試験器。 - 【請求項２】 請求項１記載のリレー試験器において、
前記試験制御部は継電器の障害発生時のデータを被試験
装置内の記憶装置から読み取り、そのデータを再生させ
ることにより試験入力量として被試験装置内にある継電
器へ入力する手段を備えたことを特徴とするリレー試験
器。 - 【請求項３】 請求項１記載のリレー試験器において、
前記インターフェイス部を複数個設けると共に、各イン
ターフェイス部に対応して被試験装置を接続したことを
特徴とするリレー試験器。 - 【請求項４】 請求項１記載のリレー試験器において、
試験制御部の入出力信号を変調復調し通信回線へ接続す
る伝送部と、その通信回線の対向端子に接続する伝送部
と、前記伝送部より被試験装置に接続するインターフェ
イス部とを備えたことを特徴とするリレー試験器。 - 【請求項５】 外部より入力される任意の試験入力量を
ディジタル信号に変換して被試験装置に出力する手段及
び被試験装置から入力される継電器内部で変換されたデ
ィジタル信号の良否を判定し記憶，表示する手段とから
なる試験制御部と、前記試験制御部より出力されたディ
ジタル信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換部と、
ここで変換したアナログ信号をＰＴ，ＣＴ回路の入力量
に増幅し継電器に印加する電流電圧増幅部と、前記電流
電圧増幅部を介して印加した入力量が継電器内でディジ
タル変換された信号を取り込んで前記試験制御部へ入力
するインターフェイス部とを備えたことを特徴とするリ
レー試験器。 - 【請求項６】 外部より入力される任意の試験入力量を
ディジタル信号に変換して被試験装置に出力する手段及
び被試験装置から入力される継電器の伝送信号の良否を
判定し記憶，表示する手段とからなる試験制御部と、前
記試験制御部より出力されたディジタル信号を継電器へ
出力するインターフェイス部と、継電器の送信信号を取
り込んで前記試験制御部へ入力する伝送インターフェイ
ス部とを備えたことを特徴とするリレー試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9031351A JPH10213619A (ja) | 1997-01-30 | 1997-01-30 | リレー試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9031351A JPH10213619A (ja) | 1997-01-30 | 1997-01-30 | リレー試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10213619A true JPH10213619A (ja) | 1998-08-11 |
Family
ID=12328816
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9031351A Pending JPH10213619A (ja) | 1997-01-30 | 1997-01-30 | リレー試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10213619A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000232725A (ja) * | 1999-02-09 | 2000-08-22 | Nf Corp | 保護継電器の試験記録方法及び装置 |
| JP2005315624A (ja) * | 2004-04-27 | 2005-11-10 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | オシロ装置試験方法、オシロ装置試験システム、プログラム、および記録媒体 |
| CN100362356C (zh) * | 2005-07-06 | 2008-01-16 | 李迪琪 | 故障继电器注电测试器及测试方法 |
| JP2015225035A (ja) * | 2014-05-29 | 2015-12-14 | 三菱電機エンジニアリング株式会社 | 可搬型メンテナンスツール |
| JP2019168427A (ja) * | 2018-03-26 | 2019-10-03 | 三菱電機エンジニアリング株式会社 | 保護継電器試験用切替装置及び保護継電器試験用切替方法 |
| JP2021148654A (ja) * | 2020-03-19 | 2021-09-27 | 一般財団法人中部電気保安協会 | 継電器試験装置アタッチメント |
-
1997
- 1997-01-30 JP JP9031351A patent/JPH10213619A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000232725A (ja) * | 1999-02-09 | 2000-08-22 | Nf Corp | 保護継電器の試験記録方法及び装置 |
| JP2005315624A (ja) * | 2004-04-27 | 2005-11-10 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | オシロ装置試験方法、オシロ装置試験システム、プログラム、および記録媒体 |
| CN100362356C (zh) * | 2005-07-06 | 2008-01-16 | 李迪琪 | 故障继电器注电测试器及测试方法 |
| JP2015225035A (ja) * | 2014-05-29 | 2015-12-14 | 三菱電機エンジニアリング株式会社 | 可搬型メンテナンスツール |
| JP2019168427A (ja) * | 2018-03-26 | 2019-10-03 | 三菱電機エンジニアリング株式会社 | 保護継電器試験用切替装置及び保護継電器試験用切替方法 |
| JP2021148654A (ja) * | 2020-03-19 | 2021-09-27 | 一般財団法人中部電気保安協会 | 継電器試験装置アタッチメント |
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