DE3716240A1 - Pruefadapter, insbesondere fuer eine integrierte schaltung - Google Patents
Pruefadapter, insbesondere fuer eine integrierte schaltungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen Prüfadapter zum Herstellen
einer elektrischen Verbindung zwischen einer Prüfschal
tung und einer zu prüfenden, insbesondere integrierten
Schaltung, mit in einer Anschlußebene liegenden An
schlüssen derselben.
Allgemein befaßt sich die Erfindung mit einem Prüfgerät
für elektronische Schaltungen, wie zum Beispiel inte
grierte Schaltungen, und zwar speziell mit einem elektri
schen Prüfadapter, der im wesentlichen frequenzunabhängig
arbeitet, so daß eine Prüfung der zu prüfenden Schaltun
gen mit breitbandigen, schnell ansteigenden Signalen er
folgen kann. Dabei bildet der Adapter eine Schnittstel
lenanordnung zum auswechselbaren Verbinden einer Prüf
schaltung mit einer zu prüfenden Schaltung und kann
leicht zusammengebaut und zerlegt werden und ist darüber
hinaus kostengünstig herzustellen.
Bei Herstellung und Einsatz von integrierten Schaltungen,
die als sogenannte SMD-Schaltungen ausgelegt sind, wel
che an der Oberfläche einer zugehörigen gedruckten Schal
tung montiert bzw. angelötet werden, ist es wichtig, die
integrierten Schaltungen genau, zuverlässig und mit hoher
Geschwindigkeit zu prüfen. Automatische Prüf- und Hand
habungsgeräte, die diese Aufgabe durchführen können, sind
verfügbar. Bekannte Prüfgeräte zum Prüfen von integrier
ten SMD-Schaltungen werden beispielsweise von der Anmel
derin als Modell 757 in den Handel gebracht. Bei einem
typischen SMD-IC mit einem sogenannten PLCC-Gehäuse ist
die eigentliche integrierte Schaltung innerhalb eines ge
spritzten Kunststoffgehäuses mit im wesentlichen quader
förmiger Gestalt angeordnet. SMD-Schaltungen besitzen
typischerweise entweder zwei Reihen von Kontaktleitungen
auf einander gegenüberliegenden, paralleln Längsseiten
des Gehäuses oder vier Reihen von Kontaktleitungen, näm
lich eine an jeder Seite des Gehäuses. Die am meisten ver
wendeten SMD-Schaltungen besitzen vier Reihen von Verbin
dungsleitungen bzw. Anschlüssen. Dabei liegen die Leitun
gen bzw. Anschlüsse im wesentlichen in einer gemeinsamen
Verbindungs- bzw. Kontaktebene.
Eine SMD-Schaltung ist so ausgebildet, daß sie direkt auf
der Oberfläche einer gedruckten Schaltung montiert werden
kann oder in einer passend ausgebildeten Fassung. Spe
ziell unterscheiden sich SMD-Schaltungen von integrier
ten Schaltungen mit zwei parallelen Reihen von Kontakt
stiften (dual-in-line-Schaltungen) dadurch, daß letztere
Anschlußstifte aufweisen, welche dafür vorgesehen sind,
in zugeordnete Öffnungen einer gedruckten Schaltung bzw.
einer Fassung einzugreifen. Außerdem sind bei diesen
Schaltungen im Gegensatz zu SMD-Schaltungen, wo üblicher
weise vier Reihen von Kontakten vorhanden sind, normaler
weise nur zwei parallele Reihen von Anschlüssen vorgese
hen.
Vorbekannte Prüfgeräte für SMD-Schaltungen werden ent
weder manuell oder automatisch betrieben. Bei den manuell
betriebenen Prüfgeräten legt ein Bedienungsmann jede ein
zelne SMD-Schaltung in eine Fassung, führt die Prüfungen
durch und entnimmt die Schaltung wieder aus der Fassung.
Dieses Verfahren ist offensichtlich langsam und zeitrau
bend, wobei außerdem die Fassung schnell verschleißt. Die
typische Lebenserwartung einer Fassung liegt bei wenigen
tausend geprüften Schaltungen, wobei der Ersatz der Fas
sung das Auslöten der alten Fassung und das Einlöten einer
neuen Fassung erforderlich macht.
Manuell betätigte Prüfgeräte sind jedoch insofern vorteil
haft, als bei ihnen die Fassung direkt auf der Prüfschal
tungskarte montiert ist, so daß die Prüfung unter elektro
magnetischen Umgebungsbedingungen erfolgt, die denjeigen
beim tatsächlichen Einsatz entsprechen. Andererseits er
folgt bei den automatischen Prüfgeräten, die relativ
schnell arbeiten, die Prüfung der SMD-Schaltungen im
Abstand von der Prüfschaltung und damit in einer den tat
sächlichen Bedingungen nicht angepaßten Umgebung. Bei
spielsweise ist es bekannt, daß bereits die Änderung der
Länge einer Zuleitung um wenige Millimeter zu beträchtli
chen Änderungen der elektrischen Ansprechcharakteristik
der Schaltung führen kann, so daß sich beim Einsatz auto
matischer Prüfgeräte entsprechende Fehlerquellen ergeben.
Ein weiterer Gesichtspunkt für die Ausgestaltung von Prüf
adaptern für SMD-Schaltungen besteht darin, daß diese
Schaltungen sehr "weich" bzw. empfindlich sind. Eine Kraft
komponente von wenigen Gramm parallel zu einer der Haupt
ebenen einer SMD-Schaltung kann bereits die Anschlüsse
beschädigen. Ein einziger, bei der Prüfung beschädigter
Anschluß macht aber die ganze SMD-Schaltung unbrauchbar
für den späteren Einsatz. Bei einigen bekannten automa
tischen Prüfgeräten üben die Kontakte des Prüfgeräts eine
seitliche Kraft auf die Anschlüsse der SMD-Schaltung aus,
so daß die Anschlüsse bzw. Kontaktleitungen seitlich ver
schoben werden und in ihrer Kontaktreihe nicht mehr die
richtige Position einnehmen. Bei anderen vorbekannten
Prüfgeräten werden Schrägflächen verwendet, um die SMD-
Schaltung in die Prüfposition zu führen. In Abhängigkeit
von verschiedenen Faktoren, wie zum Beispiel dem Ausmaß
der Fehlausrichtung, können auch derartige Führungsein
richtungen zu einer Verlagerung und Fehlausrichtung der
Anschlüsse führen.
Ein weiterer Gesichtspunkt, der beispielsweise in der US-
PS 44 73 798 angesprochen wird, besteht darin, daß beim
Prüfen integrierter Schaltungen häufig steil ansteigende
Prüfsignale benötigt werden, bei denen sich das Potential
mehr oder weniger sprungförmig ändert. Ein typisches
steil ansteigendes Signal weist beispielsweise eine Span
nungsänderung von 1 V/ns auf. Ein solches Signal besteht,
wie sich durch die Fourier-Analyse zeigen läßt, aus mehre
ren überlagerten Sinus-Signalen mit sehr hohen Frequenzen,
die typischerweise bis zu etwa 300 MHz gehen. Schnell an
steigende Prüfsignale, die von der Prüfschaltung abgegeben
und über entsprechende Verbindungsleitungen der zu prüfen
den Schaltung zugeführt werden, verhalten sich also wie
hochfrequente Signale. Bei Vorhandensein derartiger hoch
frequenter Signalanteile werden die Eigeninduktivitäten
der Kontakte selbst zu einem Problem. Ein induktiver Wi
derstand X L führt nämlich zu Verzerrungen und Reflexionen,
welche die Qualität und Genauigkeit der Prüfung beeinträch
tigen. Die Induktivität eines Kontaktes bzw. einer Kontakt
zuleitung ist dabei eine Funktion der Querschnittsform des
Leiters und seiner Länge. Die Induktivität steigt direkt
mit der Länge an und ist umgekehrt proportional zur Breite
des Leiterquerschnitts. Da für den induktiven Widerstand
folgende Gleichung gilt: X L =2πfL, wobei f für die Fre
quenz der hochfrequenten Signalanteile steht, ergibt sich
selbst bei realtiv kurzen Kontakten ein induktiver Wider
stand, der zu beträchtlichen Verzerrungen führen kann und
die Genauigkeit der Messungen einschränkt.
Eine mögliche Lösung für das vorstehend angesprochene Prob
lem besteht darin, die Breite der Kontakte zu erhöhen. Der
für die Prüfeinrichtungen verfügbare Platz begrenzt je
doch die Abmessungen der Kontakte. Beispielsweise müssen
die Kontakte seitlich von den benachbarten Kontakten ge
trennt sein, wobei trotzdem eine eindeutige Zuordnung zu
den Anschlüssen der zu prüfenden SMD-Schaltung aufrechter
halten werden muß. Eine andere Möglichkeit besteht darin,
die Kontaktelemente kürzer auszubilden. Dies ist beim
Prüfen der Schaltungen mit Anschlußstiften schwierig. Im
Gegensatz dazu können die Kontakte beim Prüfen von SMD-
Schaltungen vergleichsweise kurz sein; trotzdem ist der
Signalpfad von den Kontakten bzw. Anschlüssen zur Prüf
schaltung lang genug, um die Signalform zu beeinträchti
gen.
Eine weitere mögliche Lösung wäre darin zu sehen, sich
mehr Zeit bei der Prüfung der einzelnen Schaltungen zu
lassen, so daß Verzerrungen und Reflexionen abklingen kön
nen. Bei vielen neuen SMD-Schaltungen, wie zum Beispiel
großen gate-array-Schaltungen, ist jedoch die Betriebsge
schwindigkeit der Schaltung selbst so hoch, daß bei lang
samer Durchführung der Prüfung wichtige Betriebsparameter
derselben nicht mehr exakt bestimmt werden können. Mit an
deren Worten muß also der Prüfvorgang mit einer Geschwin
digkeit in einer Größenordnung durchgeführt werden, die
der Geschwindigkeit beim normalen Betriebsablauf ent
spricht.
Eine weitere Möglichkeit zur Verbesserung der Prüfergebnis
se besteht darin, Änderungen der Bezugsspannung aufgrund
von Stromänderungen während des Prüfvorgangs zu vermeiden.
Eine typische Situation besteht beispielsweise darin, daß
bei der Durchführung einer Prüfung die Änderung der Be
triebsbedingungen zu einer Stromänderung im Bereich von
20 mA/ns führt. Eine derartige Stromänderung kann eine
Verschiebung des Bezugspotentials um 1 V oder mehr bewir
ken, so daß Meßwerte, die auf das Bezugspotential bezogen
sind, um 20% oder mehr verfälscht werden können. Dies
kann zur Folge haben, daß einwandfreie zu prüfenden Schal
tungen als Ausschuß aussortiert werden. Die Verwendung von
Kondensatoren zur Verhinderung von Schwankungen des Bezugs
potentials ist bekannt. Es gibt jedoch derzeit noch kein
System, bei dem das oben angesprochene Problem gelöst wird,
während gleichzeitig alle anderen Forderungen an den Prüf
adapter erfüllt werden.
Ein weiteres Problem besteht bei den vorbekannten Prüfadap
tern darin, daß die Kontakte im allgemeinen einzeln mit
Signalleitungen verlötet werden, die ihrerseits mit Kon
takten der Prüfschaltung verlötet sind. Diese Ausgestal
tung der Prüfvorrichtung führt zu vergleichsweise hohen
Herstellungskosten und verhindert Reparaturen und Änderun
gen zur Anpassung an Schaltungen mit einer anderen Zahl
und/oder Anordnung von Anschlüssen durch normale Service-
Techniker. Außerdem haben bekannte Prüfgeräte für inte
grierte SMD-Schaltungen keine einfachen Möglichkeiten zum
Anschließen einer Erdungsplatte oder einer anderen Anord
nung zum Erzeugen einer verteilten Kapazität zum Verbin
den mit dem Bezugspotential der Prüfschaltung. Ferner be
stehen keine Möglichkeiten, Änderungen im seitlichen Ab
stand zwischen dem Prüfadapter und dem Verbindungsbereich
auf der Prüfschaltungskarte auszugleichen.
Ausgehend vom Stande der Technik und der vorstehend auf
gezeigten Problematik, liegt der Erfindung die Aufgabe zu
grunde, einen Prüfadapter zu schaffen, welcher bei der
Prüfung von SMD-Schaltungen eine einwandfreie Signalüber
tragung selbst bei der Prüfung mit schnell ansteigenden
Signalen ermöglicht.
Diese Aufgabe wird bei einem Prüfadapter der eingangs an
gegebenen Art durch die Merkmale des kennzeichnenden Teils
des Patentanspruchs 1 gelöst oder auch durch einen Prüf
adapter mit den Merkmalen des Patentanspruchs 10.
Dabei ist es ein besonderer Vorteil des erfindungsgemäßen
Prüfadapters, daß er aus wenigen Komponenten besteht, die
leicht gegeneinander ausgerichtet und zusammengebaut bzw.
zerlegt werden können, so daß Servicearbeiten und Änderun
gen zur Prüfung unterschiedlicher Schaltungen und zum
Einsatz unterschiedlicher Prüfschaltungen problemlos
durchgeführt werden können.
In Ausgestaltung der Erfindung soll ferner die Aufgabe ge
löst werden, einen Prüfadapter anzugeben, welcher insbe
sondere zusätzlich zu den vorstehend angegebenen Vorteilen
die Möglichkeit bietet, auf einfache und sehr wirksame
Weise den negativen Einfluß von Schwankungen des Bezugs
potentials auf die bei der Prüfung einer Schaltung erhal
tenen Meßergebnisse zu vermeiden bzw. derartige Schwankun
gen zu verhindern.
Diese Teilaufgabe wird gemäß der Erfindung durch einen
Prüfadapter mit den Merkmalen des Patentanspruchs 26 ge
löst. Der besondere Vorteil dieses Prüfadapters besteht
dabei darin, daß ausgewählte Anschlüsse über ein elektri
sches, insbesondere elektronisches Bauteil miteinander ver
bunden werden, welches sich während des Prüfvorgangs sehr
dicht an der zu prüfenden Schaltung befindet.
Mit dem erfindungsgemäßen Prüfadapter bzw. mit dessen vor
teilhaften Ausgestaltungen wird ferner angestrebt, daß eine
einfache, einstellbare Verbindung zwischen einer den Kon
takten zugeordneten Erdungsebene bzw. -platte und dem Be
zugspotential der Prüfschaltung hergestellt werden kann.
Außerdem soll ein kurzer Signalpfad zwischen der zu prüfen
den Schaltung und der Prüfschaltung geschaffen werden.
Weiterhin soll bei der Prüfung einer Schaltung deren elek
tromagnetische Umgebung beim praktischen Einsatz möglichst
genau nachgebildet werden, wobei zusätzlich Beschädigungen
an der zu prüfenden Schaltung, insbesondere an den An
schlüssen derselben, zuverlässig vermieden werden sollten.
Weiterhin wird angestrebt, für ausgewählte Anschlüsse der
zu prüfenden Schaltung in unmittelbarer Nähe derselben
eine Erdungsverbindung zu schaffen. Schließlich werden
für den erfindungsgemäßen Prüfadapter günstige Herstel
lungskosten angestrebt.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform eines Prüfadapters
gemäß der Erfindung, insbesondere zum Prüfen von SMD-IC-
Schaltungen, ist ein Block mit einer zentralen Öffnung
vorgesehen, wobei von dieser Öffnung ein Stecker aufge
nommen wird, der von einer Kontaktebene an der zu prüfen
den Schaltung auf der einen Seite des Blockes bis zu einem
Steckerteil reicht, der auf der gegenüberliegenden Seite
für den Prüfvorgang die zu prüfende Schaltung simuliert,
wobei Kontaktanordnungen zwischen dem Block und dem Stek
ker montiert sind. Die Kontaktanordnungen erstrecken sich
in der ersten Richtung von der Kontaktebene zu der Prüf
schaltung und haben erste kragarmförmige abgewinkelte
Kontaktenden, welche in den Bereich über der zentralen
Öffnung des Blockes vorstehen, und zweite Kontaktenden,
welche über dem die zu prüfende Schaltung simulierenden
Steckerteil des Steckers liegen. Die Kontaktanordnungen
umfassen jeweils parallele Reihen von leitfähigen Strei
fen, welche die Kontakte bilden, und mindestens eine
Schicht aus isolierendem Material, die mit den Kontakten
verklebt ist. Dabei ist die Anzahl und Anordnung der Kon
takte so gewählt, daß sie den Anschlüssen der zu prüfen
den Schaltung entspricht, wobei die Kontaktanordnung ge
mäß einer bevorzugten Ausführungsform auch eine Erdungs
platte umfaßt, die von den Kontakten durch ein oder mehrere
isolierende Schichten in einem fest vorgegebenen Abstand
gehalten wird und parallel zur Ebene der Kontakte ver
läuft.
Die ersten Kontaktenden sind gegenüber der Kontaktebene
vorzugsweise schräg nach oben abgewinkelt und werden nach
unten in die Horizontale und in Richtung auf die erste End
fläche des Steckers umgebogen, wenn die Anschlüsse der zu
prüfenden Schaltung auf diese Kontaktenden aufgesetzt wer
den. Dabei sind die Kontakte federnd und entwickeln eine
Federkraft, welche die Qualität der elektrischen Verbindung
mit den Schaltungsanschlüssen verbessert, wobei das Auslen
ken der Kontaktenden bzw. das Niederdrücken derselben an
den Verbindungspunkten zu den Anschlüssen eine Wisch- und
Reinigungswirkung hat. Wenn die Auskragenden ersten Kontakt
enden in die Kontaktebene umgebogen werden, üben sie nur
eine vergleichsweise kleine seitliche Kraft auf die An
schlüsse der zu prüfenden Schaltung aus. Ferner sorgt die
Erdungsplatte für eine verteilte Kapazität, welche die
Induktivität der Kontakte kompensiert, so daß sich längs
der Kontakte für die betreffenden Frequenzanteile des Sig
nals eine im wesentlichen rein Ohm'sche Widerstandscharak
teristik ergibt.
Das zweite Steckerende mit den zweiten Kontaktenden an sei
ner Außenfläche simuliert für die Prüfschaltung die zu prü
fende Schaltung und ist in eine konventionelle Fassung der
selben eingesteckt. Da die Höhe des Prüfadapters in der
genannten ersten Richtung vergleichsweise klein ist und
typischerweise zwischen der Kontaktebene und der Ebene der
Prüfschaltung nur etwa 1,9 cm beträgt, befindet sich die
zu prüfende Schaltung dabei in einer elektromagnetischen
Umgebung, welche die elektrische Umgebung für ihren geplan
ten Einsatz sehr genau nachbildet.
Gemäß dem bevorzugten Ausführungsbeispiel umfaßt der er
findungsgemäße Prüfadapter ferner Einrichtungen zum Verbin
den der Erdungsplatten der Kontaktanordnungen mit einem Be
zugspotential der Prüfschaltung, welches typischerweise als
Erdungsebene bzw. -bereich einer gedruckten Schaltung zur
Vergügung steht. Bei der bevorzugten Ausführungsform umgibt
ein metallisches Erdungselement die Fassung und ist elek
trisch mit dem Erdungsbereich der Prüfschaltung verbunden.
Zwei benachbarte seitlich einstellbare Clips, welche zwi
schen dem Block und einem Rahmen justierbar sind, verlän
gern die Erdungsplatte zum Bezugspotential der Prüfschal
tung. Einer der Clips besitzt dabei eine flexible Kante,
welche federnd gegen die Erdungsplatte der betreffenden
Kontaktanordnung drückt, während der andere Clip eine
flexible Kante hat, welche federnd an dem Erdungselement
anliegt.
Zum Zusammenbau des Prüfadapters werden die Kontaktanord
nungen bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel mittels
Positionierstiften bezüglich der Seiten des Steckers aus
gerichtet, wobei typischerweise für eine quadratische SMD-
Schaltung mit Anschlüssen an allen vier Seiten insgesamt
vier Kontaktanordnungen verwendet werden und wobei der
Stecker in diesem Fall vorzugsweise einen im wesentlichen
quadratischen Querschnitt hat, welcher der Geometrie der
zu prüfenden Schaltung entspricht. Weitere Positionier
stifte dienen der Positionierung des Steckers bezüglich
des Blockes. Schrauben sichern die Steckeranordnung an dem
Block. Federclips, welche an dem Block montiert sind, drüc
ken jede Kontaktanordnung gegen den Stecker, um deren Po
sition zu stabilisieren. Das rahmenförmige Erdungselement
ist an gegenüberliegenden Seiten des Blockes, angrenzend an
die Prüfschaltung, unter Verwendung von Schrauben befestigt.
Die zweiten Kontaktenden sind vorzugsweise in eine Ausspa
rung am zweiten Ende des Steckers abgewinkelt, wobei ein
Sicherungselement, welches mit ein oder mehreren Schrauben
befestigt ist, die zweiten freien Kontaktenden in der Aus
sparung festlegt und ausrichtet.
Der Prüfadapter besitzt ferner elastische Befestigungsein
richtungen, die an ausgewählten Kontakten befestigt bzw.
aufgehängt sind, um elektrische bzw. elektronische Bau
teile, typischerweise Kondensatorchips, einzukoppeln, wel
che der Entkopplung ausgewählter Anschlüsse dienen. Für die
Befestigungseinrichtungen werden vorzugsweise flexible Arme
aus Metallblech verwendet, welche sich, ausgehend von ihrem
Verbindungspunkt, mit den Anschlüssen schnell verbreitern.
Das zusätzliche Bauteil wird auf diese Weise in einer Ent
koppelungsebene montiert, welche sich selbst beim Umbiegen
der freien Kontaktenden in unmittelbarer Nachbarschaft der
zu prüfenden Schaltung befindet. Dabei können mehrere Ebe
nen und mehrere Arme vorgesehen sein, um jede gewünschte
Kombination von Verbindungen über derartige Entkoppelungs
einrichtungen zu schaffen.
Bei einem bevorzugten abgewandelten Ausführungsbeispiel
verbinden die Signaldrähte die Kontakte mit einem
Satz von streifenförmigen Kontakten am Stecker. Der Stecker
und die streifenförmigen Kontakte wirken dabei derart zu
sammen, daß sie die Geometrie und die Kontaktanordnung einer
SMD-Schaltung besitzen. Zur Erzeugung einer charakteristi
schen Impedanz für ein schnell ansteigendes Prüfsignal wird
die elektrische Verbindung zwischen den Kontakten und dem
Stecker mit Hilfe eines flachen Kabels hergestellt, in dem
die Signaldrähte und die Erdungsdrähte alternierend neben
einander liegen.
Ein glockenförmiges Erdungselement überbrückt die Fassung
der Prüfschaltung und sorgt auf diese Weise dafür, daß die
charakteristische Impedanz im Stecker und Fassungsbereich
für die verschachtelten Signal- und Erdungsdrähte des Ka
bels erhalten bleibt. Ein Erdungsflansch umgibt die Fas
sung und sorgt für einen elektrischen Kontakt mit dem gloc
kenförmigen Erdungselement. Ferner kann ein rahmenförmiges
Erdungselement rings um die Kontakte angeordnet werden, wo
bei die Erdungsdrähte die Kontakte umgeben und die charak
teristische Impedanz an den Kontakten aufrechterhalten.
Weitere Einzelheiten und Vorteile der Erfindung werden
nachstehend anhand von Zeichnungen noch näher erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Darstellung einer bevor
zugten Ausführungsform eines Prüfadapters ge
mäß der Erfindung;
Fig. 2 eine perspektivische Explosionsdarstellung
des Prüfadapters gemäß Fig. 1;
Fig. 3 einen senkrechten Schnitt durch den Prüf
adapter gemäß Fig. 1 längs der Linie A-A in
dieser Figur, wobei sich eine zu prüfende
SMD-Schaltung in der Kontaktebene befindet
und wobei der Stecker des Adapters in einer
Fassung einer zugeordneten Prüfschaltung
sitzt;
Fig. 4 eine perspektivische Darstellung einer elek
tronischen SMD-Schaltung des Typs, welcher
unter Verwendung eines Prüfadapters gemäß
Fig. 1 bis 3, 6 und 7, prüfbar ist;
Fig. 5 eine perspektivische, teilweise aufgebrochene
Darstellung eines IC-Prüfgeräts mit einem
Prüfadapter gemäß Fig. 1 bis 3, 6 und 7;
Fig. 6 einen Querschnitt durch eine abgewandelte
Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Prüf
adapters vor der Installation desselben in
der Fassung einer Prüfschaltung;
Fig. 7 eine perspektivische Explosionsdarstellung
zur Verdeutlichung der Anordnung der Ent
kopplungseinrichtungen bezüglich der Kontakte
des Prüfadapters gemäß Fig. 6;
Fig. 8 eine perspektivische Darstellung einer er
sten Ausführungsform einer Entkoppelungsein
richtung;
Fig. 8A eine perspektivische Darstellung einer ab
gewandelten Ausführungsform einer Entkoppe
lungseinrichtung;
Fig. 9 ein schematisches Schaltbild für einen Kon
densator einer Entkoppelungseinrichtung;
Fig. 10 eine perspektivische Explosionsdarstellung
einer ersten Ausführungsform von Einrichtungen
zum Verbinden des erfindungsgemäßen Prüfadap
ters mit einer Prüfschaltung und
Fig. 11 einen Teilquerschnitt durch die Anordnung
gemäß Fig. 10.
Im einzelnen zeigen Fig. 1 bis 5 einen Prüfadapter 20 zum
Prüfen von SMD-Schaltungen 22, welcher speziell zur Ver
wendung in Verbindung mit einem Prüf- und Sortiergerät 24
geeignet ist, wie es von der Firma Daymark Corporation,
USA, als Modell 757 in den Handel gebracht wird. Bei die
ser Vorrichtung handelt es sich um eine Hochgeschwindig
keits-Prüf- und Sortiervorrichtung mit einer eingangssei
tigen Speichereinheit 26, welche die SMD-Schaltungen an
einem Eingang 28 aufnimmt und sie für ein gewisses Zeit
intervall in einem Heizbereich 30 behält, wo sie die ge
wünschte Temperatur annehmen können, ehe sie getestet wer
den. Der Prüfadapter 20 ist dabei in einem Prüfbereich A
angeordnet. Eine Transportvorrichtung transportiert die
SMD-Schaltungen von der Speichereinheit 26 zu dem Prüf
bereich A.
Der Prüfadapter 20 umfaßt zwei parallele Streifen von gut
leitfähigen, federnden Kontakten 32, die ein erstes Ende
32 a aufweisen, welches in einer Kontaktebene 34 in Kontakt
mit der zu prüfenden Schaltung gebracht wird, und die ein
zweites Ende 32 b aufweisen, welches in Kontakt mit einer
Fassung 36 einer Prüfschaltung 38 steht. In Fig. 1 sind
die ersten Kontaktenden 32 a in ihrem unbelasteten, nicht
gebogenen Zustand dargestellt. Die Kontaktenden sind schräg
nach oben abgewinkelt und haben typischerweise, gemessen von
der Kontaktebene 34 einen Winkel von 20° bezüglich einer
"ankommenden" Schaltung 22, welche sich dem Prüfadapter 20
in Richtung des in Fig. 1 eingezeichneten Pfeils 31 nähert.
In der Prüfposition sind die Kontaktenden 32 a nach unten
in Richtung auf die Kontaktebene 34 umgelenkt, wie dies
in Fig. 3 gezeigt ist. Jeder der Kontakte 32 dient dazu,
ein Signal von einem Anschluß 22 a der Schaltung 22 zu einem
zugeordneten Kontakt 36 a der Fassung zu übertragen, von wo
das Signal in die Prüfschaltung 38 gelangt. Das Ausmaß der
Kontaktauslenkung, die durch die Auslenkung entwickelte Fe
derkraft und die seitliche Komponente der von den Kontakten
bei vollen Auslenkung auf die Anschlüsse der zu prüfenden
Schaltung ausgeübten Kraft sind ausreichend klein, so daß
sich, wenn überhaupt, nur eine kleine seitliche Kraftkom
ponente ergibt und mit Sicherheit keine Kraftkomponente mit
einer ausreichenden Größe, um einen oder mehrere Anschluß
stifte in einem solchen Ausmaß zu verformen, daß die Zuver
lässigkeit der Prüfung merklich beeinträchtigt würde.
Typischerweise werden die Schaltungen 22 in Systemen ge
prüft, bei denen die charakteristische Impedanz des Systems
im Bereich von 50 bis 100 Ohm liegt. Der erfindungsgemäße
Prüfadapter besteht daher vorzugsweise aus Bauteilen, wel
che so ausgebildet und bezüglich der Kontakte 32 so ange
ordnet sind, daß eine charakteristische Impedanz erzeugt
wird, welche im wesentlichen längs des gesamten Signalweges
von der Kontaktebene zu den Anschlüssen der Fassung 36 einen
angepaßten Wert hat. Der einzige Teil der Kontakte 32, in
dem die Möglichkeit für eine Induktivität und eine entspre
chende induktive Impedanz besteht, liegt in den sehr kur
zen Kontaktenden 32 a (typischerweise 3,0 mm). Die Enden 32 a
sind jedoch hinreichend kurz und breit, so daß sie selbst
bei schnell ansteigenden Signalen in der Praxis nicht zu
einer ins Gewicht fallenden Signalverfälschung führen.
Der Prüfadapter 20 hat drei Hauptkomponenten: Einen Kon
taktblock 42, einen Stecker 44 und, wie gezeigt, vier Kon
taktanordnungen 46. Der Block 42 besteht aus isolierendem
Material, wie zum Beispiel Epoxidglas. Er hat eine im we
sentlichen quadratische Form (gesehen in einer seitlichen
Richtung 47 senkrecht zur Richtung 31) mit einer zentralen
Öffnung 42 a, die in Form und Abmessungen in der Ebene 47
normalerweise der Form und den Abmessungen der zu prüfen
den Schaltung 22 entspricht. Die Öffnung 42 a ist von einer
Aussparung 42 b umgeben, welche ihrerseits wiederum Aus
sparungen 42 c an ihren Ecken hat. Zwei der Aussparungen 42 c
dienen der Halterung von Positionierzapfen 48. Die Aus
sparung 42 b umfaßt ferner Gewindebohrungen 42 d zum Ein
schrauben von Halteschrauben 49 für Befestigungsclips 50
für die Kontaktanordnungen 46.
In scharfem Gegensatz zu den vorbekannten Konstruktionen
sind die Kontakte 32, eine zugeordnete Erdungsplatte 52
und ein oder mehrere dazwischenliegende Lagen aus iso
lierendem Material als Einheit miteinander verbunden. Die
isolierende Schicht 54 kann aus mehreren Lagen einer
Kunststoffolie oder aus einer einzigen Schicht eines Iso
lationsmaterials bestehen, welches mit den Kontakten und
der Erdungsplatte 52 verklebt ist. Wie die Zeichnung
zeigt, sind die Kontakte auf einer Stützschicht 56 aus
isolierendem Material ausgebildet. Die Stützschicht 56
sorgt für eine konstruktive Abstützung der relativ dünnen
Kontakte, welche sonst leicht verformt würden. Die Kontakte
sind mit der Stützschicht 56 verklebt. Die Stützschicht 56
besitzt Löcher 56 a, in welche Positionierstifte 45 ein
greifen, die in dem Stecker 44 befestigt sind. Der komplet
te Satz von Kontakten kann somit zusammen mit der zugehöri
gen Erdungsplatte 52 an den übrigen Teilen des Prüfadapters
befestigt und bezüglich derselben ausgerichtet werden, indem
man einfach die Kontaktenden 32 b an dem an die Prüfschal
tung 38 angrenzenden Ende 44 b des Steckers 44 einhängt
und dann die Positionierstifte 45 in die Löcher 56 a der
Stützschicht 56 einführt. Die Kontakte können somit für
Wartungs- und Reparaturarbeiten bequem als Einheit ausge
wechselt werden. Beim betrachteten Ausführungsbeispiel ist
es ferner von Bedeutung, daß die Notwendigkeit vermieden
wird, einzelne Kontakte oder damit verschachtelte Erdlei
tungen mit Signalübertragungselementen zu verlöten, eine
Aufgabe, welche mühsam und zeitraubend ist und ein hohes
Maß an Geschicklichkeit erfordert. Während die Kontaktan
ordnungen beim Ausführungsbeispiel an der Außenfläche des
Steckers montiert sind, sind auch andere Varianten möglich.
Beispielsweise können die Kontaktanordnungen fluchtend auf
Zapfen an den Innenwänden des Fensters 42 a des Blockes
sitzen, sie können sandwichartig zwischen dem Block ange
ordnet werden oder sie können in Aussparungen gehaltert
werden, die an den Seitenflächen des Steckers oder des
Blockes ausgebildet sind.
Die Schicht 54 hat eine im wesentlichen konstante
Dicke, so daß sie für einen festen Abstand zwischen den
Kontakten und der Erdungsplatte sorgt. Wie in der US-PS
44 73 798 beschrieben, auf deren Offenbarung hiermit aus
drücklich Bezug genommen wird, führt diese Anordnung bei
richtiger Wahl der Dicke und der Dielektrizitätskonstante
der Schicht 54 zu einer verteilten Kapazität bezüg
lich jedes einzelnen Kontaktes 32 derart, daß die kapazi
tive Impedanz die induktive Impedanz jedes Kontaktes kom
pensiert. Hierdurch wird letztlich erreicht, daß ein von
den Kontakten 32 übertragenes Signal, insbesondere ein
steil ansteigendes Signal, nur noch auf eine Impedanz
trifft, welche im wesentlichen ein rein Ohm'scher Wider
stand ist. Die Kontakte 32 sind, wie oben erwähnt, relativ
kurz und besitzen typischerweise eine Gesamtlänge von
weniger als etwa 2,54 cm, wodurch die Signalübertragungs
charakteristik der Kontaktanordnung weiter verbessert wird.
Die konstruktive Ausgestaltung der erfindungsgemäßen Kon
taktanordnung ist auch unter verschiedenen anderen Ge
sichtspunkten vorteilhaft. Erstens einmal werden kurze,
kragarmförmige Kontaktenden 32 a erhalten, welche einstückig
mit dem Rest des Kontaktes ausgebildet sind. Diese Konstruk
tion vermeidet Montage-und Positionierprobleme, die mit den
üblichen kurzen Kontakten verbunden sind, verbessert die
Federwirkung der Kontakte, wenn diese ausgelenkt werden,
und führt insgesamt zu einer Konstruktion, die gegenüber
einer Materialermüdung sehr widerstandsfähig ist. Zweitens
ermöglichen die Stützschicht 56 und die Verwendung vorge
formter Erdungsplatten 52 eine Ausbildung bzw. Form der
Signalübertragungselemente, die den konstruktiven Beschrän
kungen entspricht, die sich aufgrund der Geometrie von Block
und Stecker ergeben, wobei insbesondere das eine Ende 44 b
des Steckers in Verbindung mit den an seinem Umfang ange
ordneten Kontaktenden 32 b die zu prüfende Schaltung zur
Verbindung mit der Fassung 36 simuliert. Drittens sind die
Kontaktenden 32 so abgestützt, ausgebildet und ausgerich
tet, daß jedes von ihnen in Verbindung mit dem Steckerende
44 b eine zuverlässige elektrische Verbindung mit einem aus
gewählten Kontakt 36 a innerhalb der Fassung gewährleistet.
Der Kontaktblock 42 ist so dimensioniert, daß er in eine
geeignete Prüf- und Handhabungsvorrichtung, wie zum Bei
spiel die hier beschriebene Prüfvorrichtung 24, paßt. Eine
Fläche 42 d des Blockes ist im wesentlichen koplanar mit
dem Transportweg für die zu prüfenden SMD-Schaltungen 22,
wenn diese sich zu dem Prüfplatz in der Kontaktebene 34 be
wegen, wenn sie in Richtung des Pfeils 31 bewegt werden,
bis die Kontaktstifte 22 a der Schaltung in der Kontaktebene
34 die Kontaktenden 32 a erfassen und diese umbiegen, und
wenn die Schaltungen dann auf den Produkttransportweg
zurückbewegt werden, von wo sie in Abhängigkeit von den
Testergebnissen in entsprechende Behälter gelangen. Ein
wesentlicher Unterschied zwischen dem Prüfadapter 20 ge
mäß der Erfindung und vorbekannten Adaptern besteht darin,
daß der Adapter die Bewegung der zu prüfenden Schaltung
nicht steuert oder in anderer Weise lenkt. Die Bewegung
und Positionierung der Schaltungen 22 bezüglich der Kon
taktenden 32 a wird vielmehr durch die Prüfvorrichtung ge
steuert. Die gegenüberliegende Stirnfläche 42 e des Blockes
42 verläuft in geringem Abstand im wesentlichen parallel
zu der Prüfschaltung 38, bei der es sich typischerweise
um eine gedruckte Schaltung handelt, an der die Fassung 36
an dem Punkt montiert ist, an dem die Schaltung 22 bei der
tatsächlichen Verwendung in die Schaltung eingefügt würde.
Diese Anordnung gestattet die Durchführung der Prüfungen
in einer elektromagnetischen Umgebung, die tatsächli
chen Betriebsbedingungen sehr genau simuliert, vorausge
setzt, daß der Abstand zwischen der Fassung 36 und der
Kontaktebene 34 in Richtung des Pfeils 31 vergleichs
weise kurz ist, typischerweise kürzer als etwa 2,5 cm, wie
dies erfindungsgemäß der Fall ist. Überstehende Wand
bereiche 42 f gestatten eine ebene Montage des Adapters 20
im Prüfbereich des Prüfgeräts, wobei gleichzeitig ein
Spiel für die schräg nach oben gerichteten kragarmförmi
gen Kontaktenden 32 a und die Kontaktierbewegung der zu
prüfenden Schaltung 22 verbleibt.
Der Stecker 44 wird von dem Fenster 42 a des Blocks 42 auf
genommen. Wie das Fenster, besitzt auch der Stecker 44 im
Querschnitt eine Form und Abmessungen, welche im wesent
lichen denjenigen der zu prüfenden Schaltung entsprechen.
Der Stecker 44 besitzt vier Montageansätze 44 c, die ein
stückig an seinen vier Ecken angeformt sind und von den
Aussparungen 42 c des Blockes 42 aufgenommen werden. Öffnun
gen 44 d in den Ansätzen 44 c nehmen die Positionierstifte 48
auf, um den Stecker bezüglich des Blockes mit hoher Genauig
keit zu positionieren. Der Stecker 44 besitzt ein erstes
bzw. oberes Ende 44 a, welches im Betrieb der zu prüfenden
Schaltung 22 benachbart ist und eine umlaufende Wand 44 c
aufweist, die die Kontaktenden 32 a abstützt und gleichzei
tig das Umbiegen derselben nach unten gestattet. Die vier
Seiten des Steckers 44 sind in einem umlaufenden Rand
bereich 44 f nach unten abgeschrägt, so daß sich eine flä
chige Sitzanordnung bezüglich der angrenzenden Kontaktan
ordnung 46 ergibt. Schrägflächen 42 f in der zentralen
Öffnung 42 a des Blockes 42 sorgen in Verbindung mit den
Schrägflächen des Steckers dafür, daß die von den Posi
tionierstiften 45 gehalterten Kontaktanordnungen 46 sand
wichartig zwischen Block und Stecker positioniert werden.
Das untere Ende 44 b des Steckers ist im wesentlichen
rechteckig und besitzt gerade Seitenwände, so daß es die
betreffende SMD-Schaltung 22 simuliert. Die ganz unten
liegende Bodenfläche 44 g des Steckers 44 ist mit einer
Aussparung versehen, welche schräg nach innen geneigte
Flächen 44 h aufweist, an welche sich die schräg abgewin
kelten unteren Enden 32 b der Kontakte 32 anlegen können.
Ein Sicherungsstück 58 ist mittels einer Schraube oder
auf andere Weise in der Aussparung 44 g des Steckers 44 lös
bar festgelegt, um die Kontaktenden 32 b in einer vorgegebe
nen Lage zu positionieren und sie vor Beschädigungen zu
schützen.
Ein weiterer neuer Aspekt des erfindungsgemäßen Adapters 20
ist ein Befestigungssystem 60, welches die Erdungsplatten
52 der Kontaktanordnungen 46 mit Erde verbindet, das heißt
typischerweise mit einem internen Bezugspotential der Prüf
schaltung. Zu den Hauptmerkmalen der bevorzugten Ausführungs
form des Befestigungssystems 60 gehört ein Paar von Clips
62, 64, welche seitlich in der Richtung 47 einstellbar sind,
sowie ein isolierender Rahmen 66, der mittels Schrauben 68
befestigt ist, um die Clips in einer vorgegebenen Position
festzuklemmen. Weiterhin umfaßt das Befestigungssystem 60
ein Erdungselement 70, welches die Fassung 36 umgibt und
mit dem Bezugspotential der Prüfschaltung verlötet oder auf
andere Weise elektrisch verbunden ist. Das Erdungselement
70 hat beim bevorzugten Ausführungsbeispiel einen L-förmi
gen Querschnitt, wobei eine Wand 70 a auf der Schaltung auf
liegt und mit dieser verbunden ist, während sich die andere
Wand 70 b im wesentlichen in Richtung des Pfeils 31 er
streckt. Das Erdungselement kann ein einziges Bauteil sein,
welches die Fassung umgibt, oder aus zwei oder mehreren
diskreten Elementen bestehen, vorausgesetzt, daß jedes die
ser Elemente geerdet, das heißt mit dem Bezugspotential
der Prüfschaltung verbunden ist. Der Rahmen 66 ist iso
lierend und seitlich im Abstand von dem Erdungselement 70
angeordnet. Jeder obere Clip 62 besitzt einen plattenför
migen Grundkörper 62 a und eine freie Kante 62 b, die der
art abgewinkelt ist, daß sie sich federnd an der angren
zenden Erdungsplatte 52 abstützen kann, wenn der Clip, wie
gezeigt, in der Betriebsstellung festgeklemmt ist. In ent
sprechender Weise besitzt jeder untere Clip 64 einen plat
tenförmigen Grundkörper 64 a und eine freie Kante 64 b, die
derart abgewinkelt ist, daß sie sich federnd an der Wand
70 b des Erdungselementes 70 abstützt, wenn der Clip 64, wie
gezeigt, in seiner Betriebsstellung festgeklemmt ist. Die
Grundkörper 62 a und 64 a der Clips 62, 64 stehen flächenhaft
in elektrischer Verbindung miteinander. Die freie Kante 64 b
ist, wie die Zeichnung zeigt, nach oben abgewinkelt, so daß
der Clip 64 federnd ausgelenkt werden kann und in Richtung
des Pfeils 31 teleskopartig über das Erdungselement 70
gleiten kann. Das Befestigungssystem 60 "verlängert" die
Erdungsplatten 52 an den Kontakten bis zu der Prüfschal
tung, und zwar ohne Lötverbindungen, wobei ein einfaches
Lockern der Schrauben 68 eine seitliche gleitverschiebliche
Justierung eines oder beider Clips 62, 64 zum Ausgleich von
Änderungen der relativen Lage der Erdungsplatten der Kon
taktanordnungen 46 einerseits und des bzw. der Erdungsele
mente 70 andererseits gestattet.
Die vorliegende Erfindung ermöglicht ferner die Verwendung
eines oder mehrerer Anschluß-Entkoppelungs-Kondensatoren
72, welche zwischen ein oder mehreren ausgewählten Kontakt
spitzen bzw. -enden 32 a und der Erdungsplatte 52 angeordnet
werden. Der Entkoppelungskondensator 72 sorgt für eine im
wesentlichen direkte Erdung des bzw. der ausgewählten An
schlüsse, wobei der Entkopplungskondensator dem betreffen
den Anschluß bzw. Anschlußstift elektrisch "puffert".
Der Adapter 20 besitzt ferner eine federnde "Schleifenhal
terung" 80 (Fig. 3) für ein oder mehrere elektronische Ein
richtungen 82, wie zum Beispiel einen Kondensatorchip zum
Entkoppeln der elektrischen Anschlüsse. Die Halterung 80 be
sitzt zwei Arme 84 aus einem dünnen, flexiblen Metallblech.
Ein Teilstück 84 a besitzt eine Breite, die mit der Breite
eines der Kontaktenden 32 a vergleichbar ist, und dieses
Teilstück ist mit dem ausgewählten Kontakt elektrisch ver
bunden, beispielsweise verlötet. Die Arme verbreitern sich je
doch schnell in einem Hauptbereich 84 b, welcher bezüglich
des Teilstücks 84 a scharf abgewinkelt ist, so daß ein Kanal
gebildet wird, von dem die Elemente 82 derart aufgenommen
werden können, daß sie der zu prüfenden Schaltung 22 eng
benachbart sind, wenn diese zu Prüfzwecken in der Kontakt
ebene 34 angeordnet wird. Da die Arme federnd ausgebildet
sind, bleibt das Element S 2 in enger Nachbarschaft der
Schaltung 22, während die Kontaktenden 32 a von dieser aus
gelenkt werden. Hierdurch wird das Element 82 nicht nur
in die unmittelbare Nähe der Schaltung 22 gebracht; viel
mehr kann der Abstand zwischen dem Element 82 und der Schal
tung 22 in Richtung des Pfeils 31 auch so gewählt werden,
daß ein typischer Abstand dieser Komponenten beim prakti
schen Einsatz derselben simuliert wird, wo die Elemente
typischerweise auf gegenüberliegenden Seiten der Platine
einer gedruckten Schaltung angeordnet sind.
Wie Fig. 2 zeigt, ist es auch möglich, zwei oder mehrere
benachbarte Anschlüsse unter Verwendung relativ kurzer Kon
taktstreifen 90 miteinander zu verbinden, welche in der
Draufsicht jeweils eine im wesentlichen L-förmige Gestalt
haben und in der Seitenansicht einen schmalen abgewinkel
ten Montagebereich 90 a aufweisen. Der Montagebereich 90 a
wird mit dem ausgewählten Anschlußstift verlötet oder auf
andere Weise verbunden. Ein breiteres Teilstück 90 b wird
mit einer chipförmigen Baueinheit 82 verbunden. Der Strei
fen verbreitert sich dann schnell auf die volle Breite des
Teilstücks 90 b, um die Induktivität des Streifens für die
zu übertragenden Signale zu verringern. Wie bei der Schlin
genhalterung 80 werden auch aufgrund dieser Anordnung die
Elemente 82 sehr nahe bei der zu prüfenden Schaltung 22
angeordnet. Da außerdem jeder Schaltungsanschluß einzeln
über federnde Arme mit federnden Kontaktenden verbunden
ist, bewegt sich das Element 82 zusammen mit den Kontakt
enden 82 a, wenn diese ausgelenkt werden, wobei außerdem
Unterschiede im Ausmaß der Auslenkung benachbarter Kontakte
ermöglicht werden.
Bei einem abgewandelten Ausführungsbeispiel der Erfindung,
welches in Fig. 6 und 7 gezeigt ist, umfaßt ein Prüfadap
ter 100 ein Kontaktstützelement 102 aus isolierendem
Material und mit einem Fenster 104, in welches Kontakte
106 hineinragen. Die Kontakte durchgreifen das Kontakt
stützelement 102 und stehen mit einem freien Ende nach
außen über dasselbe vor. Das Kontaktstützelement 102 paßt
auf einen Kontaktblock 108 aus isolierendem Material. Der
Kontaktblock hat ein zentrales Fenster 110, welches dem
Fenster 104 des Kontaktstützelements 102 entspricht.
Der Kontaktblock besitzt ferner vier längliche Fenster
112, die symmetrisch um das zentrale Fenster 110 angeordnet
sind. Die länglichen Fenster 112 gestatten das Hindurch
führen von Signalkabeln von den Kontakten 106 zu einer Prüf
schaltung 114.
Der Prüfadapter 100 ist in einer Lage gezeichnet, in der er
noch nicht in einer Fassung 116 der Prüfschaltung 114 mon
tiert ist. Die Fassung 116 ist eine konventionelle SMD-
Aufnahmefassung, bei der es sich um eine Fassung handeln
kann, die so ausgebildet ist, daß sie die SMD-Schaltung 22
aufnehmen kann, die in Fig. 6 mit gestrichelten Linien ein
gezeichnet ist. Die Signalkabel bzw. -drähte 118 verbinden
die Kontakte 106 mit einem Satz von streifenförmigen Kontak
ten 120, die an einem Stecker 122 aus isolierendem Material
befestigt sind. Beim Ausführungsbeispiel sind die Signal
drähte 118 mit den Kontakten 106 und den streifenförmigen
Kontakten 120 verlötet. Der Stecker 122 bildet den zentra
len Teil eines unteren Basiselements 124. Das untere Basis
element 124 besitzt längliche Fenster 126, die symmetrisch
um den Stecker 122 angeordnet sind, so daß die streifen
förmigen Kontakte 120 durch das untere Basiselement 124
hindurchgehen können. Der Stecker 122 und die streifenför
migen Kontakte 120 wirken so zusammen, daß sie der Geome
trie und Kontaktanordnung einer SMD-Schaltung entsprechen.
Daher kann der Prüfadapter 100 in Verbindung mit manuell
betätigten Prüfeinrichtungen eingesetzt werden.
Ausgewählte Kontakte 130 sind an eine leitfähige Entkop
pelungsplatte 132 angelötet, die ein elektronisches Bau
teil umfaßt, typischerweise einen Kondensatorchip 134, wie
dies in Fig. 7, 8 und 8A gezeigt ist. Dieser Entkoppler
ist nützlich zum Prüfen des Betriebes der SMD-Schaltung
in Abhängigkeit von einer großen Stromänderung. Die Funk
tion des Kondensatorchips 134 wird am besten aus Fig. 9
deutlich. In dieser Fig. ist die Prüfschaltung mit dem
Bezugszeichen 136 bezeichnet. Die SMD-Schaltung 22 er
scheint als Last, während der Kondensator 134 parallel zu
der Last geschaltet ist. Da eine Kapazität Energie spei
chert, entkoppelt der Kondensator ausgewählte Prüfschal
tungsleitungen von der Speisespannungsquelle. Mit anderen
Worten dient also der Kondensator 134 als lokaler Speicher
zur Lieferung der von der Prüfschaltung 136 benötigten
Ströme.
Bei dem in Fig. 10 gezeigten Ausführungsbeispiel sorgt ein
sich glockenförmig erweiternder Erdungsanschluß 140 in Ver
bindung mit den Signalleitungen für das Aufrechterhalten
einer Signalübertragung von den Kontakten 106 über die
Stecker/Fassungs-Region hinweg mit charakteristischer Im
pedanz. Der Erdungsanschluß 140 umschließt dabei den
Stecker 122, der in Fig. 10 mit gestrichelten Linien ein
gezeichnet ist. Ein Erdungsflansch 142 umgibt die Fassung
116 und stellt den elektrischen Kontakt mit dem glocken
förmigen Erdungsanschluß 140 her. Die Art, in der der
Stecker 122 mit der Fassung 116 und mit dem Erdungsanschluß
140 und dem Erdungsflansch 142 verbunden ist, wird auch
aus Fig. 11 deutlich. Da unter den tatsächlichen Betriebs
bedingungen häufig geerdete Abschirmungen verwendet werden,
ermöglicht der glockenförmige Erdungsanschluß 140 eine
Prüfung unter entsprechenden elektrischen Bedingungen.
Die Signaldrähte 118 führen zu den Kontakten 106. Ein oder
mehrere Erdungskabel 144, die aus Gründen der Übersicht
lichkeit als gestrichelte Linien dargestellt sind, können
mit dem glockenförmigen Erdungsanschluß 142 verbunden sein.
Die Erdungs- oder Massekabel 144 sind mit einer geerdeten
Platte (nicht gezeigt) verlötet, welche an der äußeren
Oberfläche des Kontaktstützelements 102 befestigt ist.
Die Massekabel 144 und die Signaldrähte 118 können in der
aus Fig. 10 ersichtlichen Weise verschachtelt sein. Die
verteilten Kapazitäten zwischen den Signaldrähten und den
benachbarten Massekabeln führen zu einer Kompensation des
induktiven Widerstandes der Signaldrähte selbst, so daß sich
insgesamt ein im wesentlichen Ohm'scher Widerstand ergibt.
Auf diese Weise trifft ein Signal, welches über einen der
Signaldrähte 118 übertragen wird, auf eine charakteristi
sche Impedanz für ein schnell ansteigendes Prüfsignal.
In der vorstehenden Beschreibung wurde ein Prüfadapter be
schrieben, der speziell für das schnelle Testen von SMD-
IC-Schaltungen mit steil ansteigenden Signalen geeignet
ist, wobei der Adapter aus wenigen Komponenten zusammenge
baut ist, welche leicht fluchtend ausgerichtet und zusammen
gebaut oder zerlegt werden können, so daß die Wartung und
Reparatur durch das normale Wartungspersonal erfolgen kann.
Der Prüfadapter bildet dabei ein bequemes System zum Ver
längern einer Erdungsebene, die den Kontakten zugeordnet
ist, bis zu einer Erdungsebene der Prüfschaltung. Bei einem
Ausführungsbeispiel erfolgt diese Erdungsverbindung ohne
Löten in einstellbarer Weise, so daß eine einfache Gleit/
Steck-Verbindung zwischen dem Prüfadapter und der Prüf
schaltung hergestellt werden kann. Weitere Vorteile liegen
darin, daß der gesamte Adapter von wenigen Schrauben zu
sammengehalten wird, daß der Adapter die zu prüfende
Schaltung in der Prüfschaltung simuliert und die zu prü
fende Schaltung außerdem in eine elektromagnetische Um
gebung bringt, durch welche die elektromagnetische Umgebung,
die sich beim Einsatz der Schaltung ergibt, sehr genau
nachgebildet wird. Der Prüfadapter gemäß der Erfindung ver
meidet außerdem eine mechanische Wechselwirkung zwischen
den "Pins" (Anschlüssen) der zu prüfenden Schaltung, wie
zum Beispiel das Führen der Schaltung durch schräge Wände
in die Kontaktebene, was zu Prüffehlern und/oder mechani
schen Schäden führen kann. Weiterhin sorgt der Adapter für
eine Entkoppelung von der Speisespannungsquelle und für eine
Entkoppelung der einzelnen Anschlüsse voneinander und ist
durch extrem kurze Signalwege gekennzeichnet, die eine
geringe Induktivität aufweisen, wobei die Umgebung für
den geplanten Einsatz der zu prüfenden Schaltung gut simu
liert wird.
Während die Erfindung vorstehend anhand bevorzugter Aus
führungsbeispiele beschrieben wurde, versteht es sich, daß,
ausgehend von diesen Beispielen, zahlreiche Änderungen und/
oder Ergänzungen möglich sind, ohne daß der Fachmann dabei
den Grundgedanken der Erfindung verlassen müßte. Beispiels
weise sind die Kontaktanordnungen 46 beim Ausführungsbei
spiel zwischen dem Block und dem Stecker angeordnet. Sie
könnten aber auch an oder in einem dieser Elemente festge
legt sein. Was den Aufbau der Kontaktanordnungen selbst an
belangt, so könnten die Erdungsplatten ferner durch ein
zelne Distanzstücke im Abstand von den Kontakten gehalten
werden, wobei die Distanzelemente die durchgehende isolie
rende Schicht ersetzen würden. In den Fällen, in denen ein
Signalweg mit charakteristischer Impedanz keine wichtige
Prüfbedingung darstellt, könnten ferner die Erdungsplat
ten der Kontaktanordnungen weggelassen werden. Weiterhin
kann die Erdungsplatte dort, wo sie vorhanden ist, als
getrenntes Bauelement montiert und gehaltert sein, und zwar
im richtigen Abstand von den Kontakten, wenn alle Elemente
des Adapters zusammengebaut sind. Weiterhin können ver
schiedene Anordnungen eingesetzt werden, um die Erdungs
ebenen bzw. -platten zu tragen, die den Kontakten zur Ver
bindung mit dem Massepotential der Prüfschaltung zugeordnet
sind. Die beiden Clips 62, 64 könnten ferner zu einem einzi
gen Clip mit zwei miteinander verbundenen freien Kanten zu
sammengefaßt werden, obwohl dies mit einer gewissen Einbuße
hinsichtlich der Möglichkeit der Justierung verbunden wäre.
Weitere Modifikationen und Variationen sind im Rahmen der
Schutzansprüche denkbar.
Claims (28)
1. Prüfadapter zum Herstellen einer elektrischen Verbin
dung zwischen einer Prüfschaltung und einer zu prüfen
den, insbesondere integrierten Schaltung, mit in einer
Anschlußebene liegenden Anschlüssen derselben,
gekennzeichnet durch folgende Merkmale:
Es ist eine isolierende Basis (42; 108, 124) vorgesehen, die eine zentrale Aussparung aufweist, die so dimensioniert ist, daß sie die zu prüfende Schaltung (22) in einer Kontaktebene (34) aufnehmen kann, wobei sich die Basis im wesentlichen längs einer Prüfebene der Prüfschaltung (38) erstreckt und in einer ersten Richtung (31), senk recht zu der Prüfebene, zwischen der Kontaktebene (34) und der Prüfschaltung (38) eine gewisse Höhe aufweist;
es sind mehrere Kontakte (32; 106) vorgesehen, die im Bereich eines feststehenden Endes (32 b) an der Basis montiert sind und ein freies Ende (32 a) besitzen, welches in die Aussparung vorsteht und derart positioniert ist, daß zwischen jedem freien Kontaktende (32 a) und einem zugeordneten Anschluß der zu prüfenden Schaltung (22) in der Kontaktebene (34) eine elektrische Verbindung herstellbar ist, wobei die freien Kontaktenden (32 a) bezüglich der ersten Richtung (31) derart ausgerichtet sind, daß beim Positionieren der zu prüfenden Schaltung (22) in der Kontaktebene (34) zur Prüfung der Schaltung (22) die Kontaktenden (32 a) in eine Lage ausgelenkt werden, in der sie auf die Anschlüsse der Schaltung (22) im wesentlichen keine Querkräfte bezüglich der Prüfebene ausüben, und
mindestens einer der Signalpfade, welcher einen der Kontakte (32; 106) mit der Prüfschaltung (38) verbindet, besitzt eine im wesentlichen charakteristische Impe danz.
Es ist eine isolierende Basis (42; 108, 124) vorgesehen, die eine zentrale Aussparung aufweist, die so dimensioniert ist, daß sie die zu prüfende Schaltung (22) in einer Kontaktebene (34) aufnehmen kann, wobei sich die Basis im wesentlichen längs einer Prüfebene der Prüfschaltung (38) erstreckt und in einer ersten Richtung (31), senk recht zu der Prüfebene, zwischen der Kontaktebene (34) und der Prüfschaltung (38) eine gewisse Höhe aufweist;
es sind mehrere Kontakte (32; 106) vorgesehen, die im Bereich eines feststehenden Endes (32 b) an der Basis montiert sind und ein freies Ende (32 a) besitzen, welches in die Aussparung vorsteht und derart positioniert ist, daß zwischen jedem freien Kontaktende (32 a) und einem zugeordneten Anschluß der zu prüfenden Schaltung (22) in der Kontaktebene (34) eine elektrische Verbindung herstellbar ist, wobei die freien Kontaktenden (32 a) bezüglich der ersten Richtung (31) derart ausgerichtet sind, daß beim Positionieren der zu prüfenden Schaltung (22) in der Kontaktebene (34) zur Prüfung der Schaltung (22) die Kontaktenden (32 a) in eine Lage ausgelenkt werden, in der sie auf die Anschlüsse der Schaltung (22) im wesentlichen keine Querkräfte bezüglich der Prüfebene ausüben, und
mindestens einer der Signalpfade, welcher einen der Kontakte (32; 106) mit der Prüfschaltung (38) verbindet, besitzt eine im wesentlichen charakteristische Impe danz.
2. Prüfadapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die freien Kontaktenden (32 a) in unbelastetem Zu
stand gegenüber einer zur Anschlußebene der zu prüfen
den Schaltung (22) parallelen Ebene abgewinkelt sind
und daß die freien Kontaktenden (32 a) beim Bewegen der
zu prüfenden Schaltung (22) in die Kontaktebene derart
verformbar sind, daß sie im wesentlichen in einer zu
der Anschlußebene parallelen Ebene liegen.
3. Prüfadapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß elektrische Entkopplungseinrichtungen (82; 134) vorge
sehen sind, die beim Prüfvorgang dicht unter der zu
prüfenden Schaltung (22) angeordnet sind.
4. Prüfadapter nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Entkopplungseinrichtungen mindestens eine leit
fähige Platte (84 b; 132) mit mindestens zwei Armen (84 a)
umfassen, die mit den freien Enden (32 a) ausgewählter
Kontakte (32) verbunden sind, und daß sie mindestens
einen Kondensator (82; 134) umfassen, der zwischen
den ausgewählten Kontakten (32; 106) mit mindestens
einer Platte (84 b; 132) verbunden ist.
5. Prüfadapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Basis folgende Elemente umfaßt:
einen nicht-leitenden Stecker (122), der in seiner (Querschnitts-)Form im wesentlichen an die Form der zu prüfenden Schaltung (22) angepaßt ist, und
mehrere streifenförmige Kontakte (120), die an dem Stecker in einer der Anordnung der Anschlüsse der zu prüfenden Schaltung (22) entsprechenden Anordnung an geordnet sind, derart, daß der Stecker (122) von einer Fassung (116) für die zu prüfende Schaltung (22) aufge nommen und elektrisch mit den zugeordneten Anschlüssen der Prüfschaltung (38) verbunden werden kann.
einen nicht-leitenden Stecker (122), der in seiner (Querschnitts-)Form im wesentlichen an die Form der zu prüfenden Schaltung (22) angepaßt ist, und
mehrere streifenförmige Kontakte (120), die an dem Stecker in einer der Anordnung der Anschlüsse der zu prüfenden Schaltung (22) entsprechenden Anordnung an geordnet sind, derart, daß der Stecker (122) von einer Fassung (116) für die zu prüfende Schaltung (22) aufge nommen und elektrisch mit den zugeordneten Anschlüssen der Prüfschaltung (38) verbunden werden kann.
6. Prüfadapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der eine charakteristische Impedanz aufweisende
Signalpfad elektrische Leitungen mit ineinander ver
schachtelten Signal- und Erdungsleitungen (118, 144)
umfaßt.
7. Prüfadapter nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß, angrenzend an die in der Kontaktebene befindliche
zu prüfende Schaltung (22) eine Erdungsebene bzw.
-platte vorgesehen ist, mit der die Erdungsleitungen
(144) verbunden sind.
8. Prüfadapter nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß der eine charakteristische Impedanz aufweisende
Signalpfad folgende Elemente umfaßt:
einen glockenförmigen Erdungsanschluß (140) und einen Erdungsflansch (142), wobei der Erdungsanschluß (140) über den Erdungsflansch (142) paßt, und
einen rahmenförmigen Erdungsanschluß, der die elektrischen Kontakteinrichtungen umgibt und elektrisch über die Massekabel (144) mit dem glockenförmigen Er dungsanschluß (140) verbunden ist.
einen glockenförmigen Erdungsanschluß (140) und einen Erdungsflansch (142), wobei der Erdungsanschluß (140) über den Erdungsflansch (142) paßt, und
einen rahmenförmigen Erdungsanschluß, der die elektrischen Kontakteinrichtungen umgibt und elektrisch über die Massekabel (144) mit dem glockenförmigen Er dungsanschluß (140) verbunden ist.
9. Prüfadapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß Abschirmeinrichtungen zum Abschirmen mindestens
eines Teils des Signalpfades charakteristischer Impe
danz vorgesehen sind.
10. Prüfadapter, insbesondere nach einem der Ansprüche 1
bis 9, zum Herstellen einer elektrischen Verbindung
zwischen den Anschlüssen einer in einer Prüfebene be
findlichen, zu prüfenden elektronischen Schaltung und
einer Prüfschaltung, die von der Prüfebene in einer
ersten, zu der Kontaktebene senkrechten Richtung in
einem Abstand angeordnet ist, wenn die zu prüfende
Schaltung über dem Prüfadapter in der im wesentlichen
senkrecht zu der ersten Richtung verlaufenden Kontakt
ebene angeordnet ist, gekennzeichnet durch folgende
Merkmale:
Es ist ein Block (42) aus einem isolierenden Material vorgesehen, welcher eine zentrale Öffnung (42 a) auf weist und sich in einer zu der ersten Richtung (31) im wesentlichen senkrechten Ebene erstreckt;
es ist ein Stecker (44) vorgesehen, welcher aus einem isolierenden Material hergestellt ist und ein erstes Ende (44 a) besitzt, welches in geringem Abstand von der zu prüfenden Schaltung (22) angeordnet ist, sowie ein zweites Ende (44 b), welches angrenzend an die Prüf schaltung (38) über den Block (42) vorsteht, wobei der Stecker (44) in der zentralen Öffnung (42 a) des Blockes (42) angeordnet ist, und
es ist mindestens eine Kontaktanordnung (46) vorgesehen, welche im wesentlichen in der zentralen Öffnung (42 a) montiert ist und mehrere, im wesentlichen parallele leitfähige Kontakte (32) sowie mindestens eine Schicht (54) aus Isolationsmaterial aufweist, wobei die Kon takte (32) ein erstes Ende (32 a) aufweisen, welches derart abgewinkelt ist, daß es in Richtung auf einen zugeordneten Anschluß der zu prüfenden Schaltung (22) vorspringt und eine solche Lage einnimmt, daß es fe dernd ausgelenkt ist, wenn es in der Kontaktebene in Verbindung mit einem zugeordneten Anschluß der zu prü fenden Schaltung (22) steht, sowie ein zweites Ende (32 b), welches am zweiten Ende (44 b) des Steckers (44) in elektrischem Kontakt mit der Prüfschaltung (38) steht, die insbesondere als gedruckte Schaltung aus gebildet ist.
Es ist ein Block (42) aus einem isolierenden Material vorgesehen, welcher eine zentrale Öffnung (42 a) auf weist und sich in einer zu der ersten Richtung (31) im wesentlichen senkrechten Ebene erstreckt;
es ist ein Stecker (44) vorgesehen, welcher aus einem isolierenden Material hergestellt ist und ein erstes Ende (44 a) besitzt, welches in geringem Abstand von der zu prüfenden Schaltung (22) angeordnet ist, sowie ein zweites Ende (44 b), welches angrenzend an die Prüf schaltung (38) über den Block (42) vorsteht, wobei der Stecker (44) in der zentralen Öffnung (42 a) des Blockes (42) angeordnet ist, und
es ist mindestens eine Kontaktanordnung (46) vorgesehen, welche im wesentlichen in der zentralen Öffnung (42 a) montiert ist und mehrere, im wesentlichen parallele leitfähige Kontakte (32) sowie mindestens eine Schicht (54) aus Isolationsmaterial aufweist, wobei die Kon takte (32) ein erstes Ende (32 a) aufweisen, welches derart abgewinkelt ist, daß es in Richtung auf einen zugeordneten Anschluß der zu prüfenden Schaltung (22) vorspringt und eine solche Lage einnimmt, daß es fe dernd ausgelenkt ist, wenn es in der Kontaktebene in Verbindung mit einem zugeordneten Anschluß der zu prü fenden Schaltung (22) steht, sowie ein zweites Ende (32 b), welches am zweiten Ende (44 b) des Steckers (44) in elektrischem Kontakt mit der Prüfschaltung (38) steht, die insbesondere als gedruckte Schaltung aus gebildet ist.
11. Prüfadapter nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet,
daß die Kontaktanordnung (46) eine Erdungsplatte (52)
umfaßt, welche parallel zu und im Abstand von den Kon
takten (32) angeordnet ist und sich über einen erheb
lichen Teil der Länge derselben erstreckt, derart, daß
die Kontakte (32) für steil ansteigende Signale zwi
schen ihren Enden (32 a, 32 b) eine charakteristische
Impedanz aufweisen.
12. Prüfadapter nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet,
daß Verbindungseinrichtungen (62, 64) vorgesehen sind,
mit deren Hilfe die Erdungsplatte (52) ohne Lötarbei
ten und justierbar mit einem Erdungselement (70) der
Prüfschaltung (38) verbindbar ist.
13. Prüfadapter nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet,
daß die justierbaren Verbindungseinrichtungen leitfähige
Clipeinrichtungen (62, 64) umfassen, welche im wesent
lichen parallel zum Kontaktblock (42) bewegbar sind und
mit deren Hilfe eine leitfähige Verbindung zwischen
der Erdungsplatte (52) und dem Erdungselement (70)
herstellbar ist.
14. Prüfadapter nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet,
daß die Clipeinrichtungen einen ersten Clip (62) umfas
sen, welcher eine erste Kante (62 b) aufweist, welche
federnd in elektrischen Kontakt mit einer zugeordneten
Erdungsplatte (52) bringbar ist und einen zweiten Clip
(64), der im wesentlichen parallel zu und fluchtend
mit dem ersten Clip (62) angeordnet ist, und eine Kante
(64 b) aufweist, welche federnd in elektrischen Kontakt
mit dem Erdungselement (70) vorspannbar ist.
15. Prüfadapter nach Anspruch 12 oder 14, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Erdungselement (70) als leitfähiger
Streifen ausgebildet und an der Prüfschaltung (38) der
art montiert ist, daß er die Fassung (36) umschließt
und in elektrischer Verbindung mit einem Bezugspoten
tialanschluß der Prüfschaltung (38) steht.
16. Prüfadapter nach Anspruch 12 oder 14, dadurch gekenn
zeichnet, daß ein isolierender Rahmen (60) vorgesehen
ist, welcher das zweite Ende (44 b) des Steckers (44) um
gibt und über einem zentralen Teil der Clipeinrichtungen
(62, 64) angeordnet ist.
17. Prüfadapter nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet,
daß Sicherungseinrichtungen (68) vorgesehen sind, mit
deren Hilfe der Rahmen (60) derart an dem Block (42)
festlegbar ist, daß die Clipeinrichtungen (62, 64) zwi
schen diesen beiden Bauteilen in einer wählbaren Posi
tion bezüglich der Erdungsplatte (52) und des Erdungs
elements (70) festlegbar sind.
18. Prüfadapter nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekenn
zeichnet, daß Ausrichteinrichtungen (45) vorgesehen
sind, mit deren Hilfe die Kontaktanordnung (36) an dem
Stecker (44) montierbar und positionierbar ist.
19. Prüfadapter nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekenn
zeichnet, daß in dem zweiten Ende (44 b) des Steckers
(44) eine Aussparung vorgesehen ist, daß die zweiten
Kontaktenden (32 b) sich in die Aussparung hinein er
strecken, daß ein Sicherungselement vorgesehen ist,
welches passend von der Aussparung aufnehmbar ist und
über mindestens einem Teil der zweiten Kontaktenden
(32 b) liegt und daß Befestigungseinrichtungen zum lös
baren Befestigen des Sicherungselementes (58) in der
Aussparung vorgesehen sind.
20. Prüfadapter nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekenn
zeichnet, daß Halterungseinrichtungen (80) vorgesehen
sind, mit deren Hilfe ein insbesondere elektronisches
Bauteil (82) derart federnd montierbar ist, daß es in
elektrischer Verbindung mit ein oder mehreren ausgewähl
ten Anschlüssen der zu prüfenden Schaltung (22) steht
und dieser während des Prüfvorganges eng benachbart
ist.
21. Prüfadapter nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet,
daß die federelastischen Halterungseinrichtungen (80)
mindestens zwei Arme (84) aufweisen, die aus leitfähi
gem Material bestehen und von denen jeder ein erstes
Teilstück (84 a) aufweist, welches in elektrischer Ver
bindung mit einem ausgewählten Anschluß der zu prüfen
den Schaltung steht und einen zweiten Teil (84 b), der
in elektrischer Verbindung mit dem insbesondere elek
tronischen Bauteil (82) steht.
22. Prüfadapter nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet,
daß der zweite Teil (84 b) jedes Arms (84) eine größere
Breite als der erste Teil (84 a) desselben aufweist,
um die Induktivität des Arms für hochfrequente Komponen
ten eines über den Arm fließenden elektrischen Signals
zu reduzieren.
23. Prüfadapter nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen dem abgewinkelten ersten Ende (32 a) eines
der Kontakte (32) und der Erdungsplatte (56) ein elek
tronisches Bauelement montiert ist, um den zugeordne
ten Anschluß der zu prüfenden Schaltung (22) zu ent
koppeln.
24. Prüfadapter nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekenn
zeichnet, daß das zweite Ende (44 b) des Steckers (44)
derart ausgebildet ist, daß es eine zu prüfende Schal
tung nachbildet.
25. Prüfadapter nach einem der Ansprüche 10 oder 11, da
durch gekennzeichnet, daß Ausrichteinrichtungen (48)
vorgesehen sind, mit deren Hilfe der Stecker (44) beim
Einsetzen desselben in die zentrale Öffnung (42 a) be
züglich des Blockes (42) ausrichtbar ist.
26. Prüfadapter, insbesondere nach einem der Ansprüche 1
bis 25, zum Verbinden der Anschlüsse einer in einer
Prüfebene befindlichen, zu prüfenden elektrischen Schal
tung mit einer Prüfschaltung, die in einer ersten Rich
tung im Abstand von der Prüfebene angeordnet ist, wobei
der Prüfadapter mehrere leitfähige Kontakte aufweist,
von denen jeder mit einem ihm zugeordneten Anschluß
der Schaltung verbindbar ist, und mit Befestigungsein
richtungen, mit deren Hilfe ein elektrisches Bauteil
derart montierbar ist, daß es sich einerseits in gerin
gem Abstand von der zu prüfenden Schaltung befindet,
wenn diese sich bei ihrer Prüfung in einer Kontaktebene
befindet, und andererseits in elektrischer Verbindung
mit mindestens zwei ausgewählten Anschlüssen derselben
steht, dadurch gekennzeichnet, daß die Befestigungs
einrichtungen (80; 132) mindestens zwei Arme (84; 132)
aufweisen, die aus einem leitfähigen, federelastischen,
dünnen Material hergestellt sind und jeweils einen
schmalen Armbereich (84 a) aufweisen, der an einem der
Kontakte (32; 130) festgelegt ist, und einen breiten
Armbereich (84 b), der sich von dem betreffenden Kon
takt (32; 130) weg erstreckt, und daß die breiten Arm
bereiche (84 b) elektrisch mit dem Bauteil (82; 134),
insbesondere einem elektronischen Bauteil, verbunden
sind.
27. Prüfadapter nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet,
daß sich die breiten Armbereiche (84 b), ausgehend von
den schmalen Armbereichen (84 a) schnell verbreitern.
28. Prüfadapter nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet,
daß der schmale Armbereich (84 a) bezüglich des breiten
Armbereichs (84 b) derart abgewinkelt ist, daß das elek
tronische Bauteil (82) beim Umlegen der ersten Kontakt
enden (32 a) in der ersten Richtung (31) in enger Nach
barschaft der zu prüfenden Schaltung (22) verbleibt.
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |