DE19507127A1 - Adaptersystem für Baugruppen-Platinen, zu verwenden in einer Prüfeinrichtung - Google Patents

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Adaptersystem für Baugruppen- Platinen, wie sie in großer Anzahl und in verschiedensten Ausführungen in elektronischen Geräten unterschiedlichster Größe verwendet werden. Solche Platinen werden mit einzelnen elektronischen Bauelementen bestückt.

Auf einer solchen Baugruppen-Platine befinden sich eine Vielzahl Bauelemente, Baugruppen und dgl. sowie sind zahlreiche Kontakt- und Lötstellen vorhanden, von denen nicht ausgeschlossen werden kann, daß ein Bauelement, eine Lötstelle und dgl. fehlerbehaftet sein können. Durch einen solchen Fehler ist meistenteils die ganze Baugruppen-Platine nicht verwendbar und würde, eingebaut in ein elektronisches Gerät, nicht tolerierbar sein bzw. zu Beanstandungen seitens des Kunden führen. Es ist daher vorgesehen, die Baugruppen-Platinen jede einzeln entsprechend einem vorzugebenden Prüfprogramm auf vollständige Fehlerfreiheit zu überprüfen. Es ist dabei u. a. die große Anzahl Kontaktstellen daraufhin zu überprüfen, daß die zwischen ihnen auf der Platine vorhandenen Leiterbahnen, Bauelemente und Baugruppen die vorgegebenen elektronischen Eigenschaften haben. Ersichtlich ist dies wirtschaftlich nur mittels einer automatisch arbeitenden Prüfeinrichtung durchzuführen, die an vorgegebenen Prüfstellen der Platine die Leiterbahnverbindungen und die Elemente überprüft, mit denen diese Baugruppen- Platine bestückt ist. Für eine automatisch ablaufende derartige Prüfung sind Prüf-/Testeinrichtungen entwickelt worden und erhältlich, die z. B. in einer Ebene eine große Anzahl Anschlüsse, z. B. federnde Kontaktspitzen, aufweisen. Diese Kontaktspitzen sind die jeweiligen äußeren Anschlüsse der Testkanäle der Prüf-/Testeinrichtung, wobei die Funktionen der einzelnen Testkanäle standardmäßig festgelegt sind. Werden die Prüfstellen eines Bauelementes bzw. einer Baugruppe mit je einer solchen Kontaktspitze, d. h. einem Testkanal der Prüfeinrichtung verbunden, kann mit der Prüfeinrichtung das angeschlossene Element der Baugruppen-Platine auf seine Fehlerfreiheit hin überprüft werden.

Bekannt sind, z. B. aus DE-A-42 26 069, standardisierte Prüfeinrichtungen mit einem jeweiligen speziellen Adapterteil, mit dem ausgewählte elektrische Verbindungen zwischen einer jeweiligen Prüfstelle einer Baugruppen-Platine und einer Kontaktspitze der Prüfeinrichtung hergestellt werden. Dazu werden die Ebene dieser Kontaktspitzen und die Baugruppen-Platine parallel zueinander und im Abstand übereinanderliegend angeordnet und Kontaktelemente befinden sich in dem Raum zwischen der Platine und der Prüfeinrichtung, die für den jeweiligen Fall in ausgewählter Weise diese Verbindungen herstellen. Üblich ist es hierfür, jeweilige mit einem elektrischen Draht miteinander verbundene Kontakt-Stiftpaare vorzusehen, von denen der eine Stift die ausgewählte Prüfstelle und der andere Stift eine jeweilige zugeordnet ausgewählte Kontaktspitze der Prüfeinrichtung kontaktiert.

Nachteilig bei solchen bekannten Anordnungen ist der Umstand, daß individuelle teilweise längere Drahtverbindungen zwischen den Stiften eines jeweiligen Paares vorzusehen sind, die hohe Erstellungskosten verursachen und sich gegebenenfalls hochfrequenztechnisch ungünstig auswirken. Auch ist das Hantieren mit den und das Einsetzen der Kontakt-Stiftpaare umständlich und zeitraubend. Auch können bei dieser Technik, insbesondere im Falle von Platinen mit hoher Packungsdichte, Probleme auftreten, weil der verfügbare Platz für die jeweils zwei Stifte pro Kontaktverbindung nicht immer ausreichend ist.

Aus der EP-0233992 A1 ist seit fast einem Jahrzehnt eine weitere Prüfeinrichtung mit Adapter zur kontaktierenden Anpassung an eine jeweilige Baugruppen-Platine bekannt und ist in Benutzung. Der Adapter weist in einer ersten Platte befestigte erste Federkontaktstifte auf, die der geforderten Kontaktierung von Prüfstellen der Platine entsprechend, dieser entgegengerichtet, auf der Platte verteilt flächenmäßig positioniert sind. Der Prüfeinrichtung zugewandt sind in dieser Platte längenkonstante zweite Kontaktstifte befestigt, die jeweils einem der ersten Federkontaktstifte zugeordnet, diesem benachbart, positioniert sind. Mit Drähten sind diese jeweiligen Kontakt-Stiftpaare miteinander elektrisch verbunden. Dieser bekannte Adapter umfaßt noch eine zweite Platte, mit deren den zweiten Kontaktstiften zugewandten trichterförmigen Löchern die verbiegbaren Kontaktenden der zweiten Kontaktstifte bei Aufschieben der Platte auf die Enden dieser Kontaktstifte so ausgerichtet werden, daß die Kontaktierungsenden die ausgewählten federnden Kontaktspitzen der Prüfeinrichtung treffen. Bei diesem bekannten Adapter sind immer zwei Stifte eines Stiftpaares für eine jeweilige Verbindung zwischen der Kontaktspitze der Prüfeinrichtung und der Prüfstelle der Platine vorgesehen. Für eine jeweilige Verbindung ist also Platz für zwei Stifte nebeneinander erforderlich. Im Bereich des Anschlusses eines großen Bauelemente-Bausteins auf der Platine ist dies nicht immer gegeben.

Aus der EP-0374434 A1 ist eine noch weitere Prüfeinrichtung mit einem Universaladapter bekannt. Dort sind in einer ersten Adapterplatte für die universale Verwendung dicht bei dicht axial verschiebbare, längenkonstante Kontaktstifte eingesetzt. In einer zugeordneten zweiten Adapterplatte sind einzelne Stifte ausgewählt positioniert befestigt, die dieser Auswahl entsprechend zugeordnete Stifte der Universaladapterplatte anheben können und diese somit mit der jeweiligen Prüfstelle der Platine in Kontakt bringen. Die Stifte der zweiten Platte sind mit jeweiliger Drahtverbindung mit den Anschlüssen der Prüfeinrichtung elektrisch verbunden.

Die voranstehend genannten Nachteile werden mit der vorliegenden Erfindung behoben, die außerdem auch noch nachfolgend erörterte weitere Vorteile bietet. Die vorliegende Erfindung besteht in erster Linie in einer einer Prüfeinrichtung zugeordneten erfindungsgemäßen Rasterplatte mit außerdem erfindungsgemäßer Wahl der Anordnung von Kontaktflächen. Eine Weiterbildung betrifft einen Adapter für die Benutzung von einzelnen Federkontaktstiften.

Die Erfindung ist eine Einrichtung wie sie im Patentanspruch 1 angegeben ist und deren weitere Ausgestaltungen sind in den Unteransprüchen angegeben.

In der hier nachfolgenden Beschreibung wird die Erfindung ins einzelne gehend und anhand der beigefügten Figuren näher erläutert.

Die Fig. 1 zeigt eine prinzipielle Darstellung eines bei der Erfindung verwendeten Adapters mit einer erfindungsgemäßen Rasterplatte.

Die Fig. 2 zeigt ergänzend zur Fig. 1 eine besondere Ausgestaltung eines bei der Erfindung zu verwendenden Federkontaktstiftes.

Die Fig. 3 bis 5 zeigen Schemata eines Beispiels einer erfindungsgemäßen Aufteilung/Verteilung der Kontaktflächen der Rasterplatte der Erfindung.

Die Fig. 6 und 7 zeigen weitere Schemata abgewandelter spezialisierter Verteilungen gemäß der Erfindung.

Die Fig. 8 bis 10 zeigen Schema und Fließbilder zu einer rekursiven Verteilungsanpassung.

Die Fig. 11 zeigt eine bei der Erfindung für Sonderfälle verwendbare Ausführung eines Federkontakt-Stiftpaares.

Die Fig. 12 zeigt einen bevorzugten Aufbau einer erfindungsgemäßen Rasterplatte.

Die Fig. 13 und 14 zeigen weitere Ausführungsformen der Federkontaktstift- Verbindungen im Zusammenwirken mit einer erfindungsgemäßen Rasterplatte.

Bekannt sind Prüfeinrichtungen 28, die in der Darstellung der Fig. 1 nach oben gerichtete federnde Kontaktspitzen 29 haben, und zwar für jeden Testkanal der Prüfeinrichtung einen solchen Kontakt. Erfindungsgemäß ist eine Rasterplatte 21 vorgesehen, die gemäß einer Ausführung an die Prüfeinrichtung 28 angepaßt ist. Diese Rasterplatte 21 weist auf ihrer in der Fig. 1 oberen Oberfläche Kontaktflächen 22 auf. Auf ihrer Unterseite sind weitere Kontaktierungsflächen 27 vorgesehen, von denen eine jede elektrischen Kontakt mit einer jeweiligen der Kontaktspitzen 29 der Prüfeinrichtung 28 hat, nämlich wenn die Rasterplatte 21 auf das Feld der Kontaktspitzen 29 aufgelegt ist.

Wie dies nachfolgend noch näher erläutert wird, ist die Anzahl der Kontaktflächen 22 der Oberfläche der Rasterplatte 21 erfindungsgemäß n-fach größer als die der Kontaktierungsflächen 27 der Unterseite, deren Anzahl im Regelfall gleich der der der federnden Kontaktspitzen 29 bemessen ist. Bei besonderer Wahl und Ausgestaltung der Potential-(Vcc-) und Masseanschlüsse können sich die angegebenen Relationen auch etwas verschieben.

Auf/in der Rasterplatte 21 sind jeweils n Kontaktflächen mit einer jeweiligen Kontaktierungsfläche 27 elektrisch verbunden. Über den Kontakt einer Kontaktspitze 29 mit einer Kontaktierungsfläche 27 sind also diese n Kontaktflächen mit einem jeweiligen zugeordneten Testkanal der Prüfeinrichtung verbunden. Wie diese jeweils n Kontaktflächen mit den jeweils n Kontaktflächen, die mit den jeweiligen übrigen Kontaktierungsflächen 27 verbunden sind, untereinander vermischt auf der Rasterplatte 21 verteilt/positioniert sind, wird noch weiter unten näher beschrieben.

Es sei darauf hingewiesen, daß die Rasterplatte 21 erfindungsgemäß ein Bestandteil der Prüfeinrichtung 28 sein kann, so daß auch diese Prüfeinrichtung derart erfindungsindividuell ausgestattet ist. Die einzelnen Testkanäle der Prüfeinrichtung sind dann in noch nicht bekannt gewesener Weise an die Kontaktierungsflächen 27 oder entsprechenden Anschlüsse direkt angeschlossen (womit das Feld der federnden Kontaktspitzen 29 eingespart werden kann).

Die Fig. 1 zeigt mit 1′ bezeichnet ein gemäß eines weiteren Merkmals der Erfindung ausgestaltetes und verwendetes Adapterteil für die Halterung von erfindungsspeziellen Federkontaktstiften, von denen hier zwei Stifte 2, 3 dargestellt sind. Mit 10, 11 und 12 sind notwendigerweise wenigstens zwei, hier dargestellt drei erfindungsspezielle Führungs-Lochplatten bezeichnet, die der Führung der Stifte 2 und 3 dienen. Eine jede dieser Führungs-Lochplatten weist Bohrungen 13 auf, durch die hindurch diese Federkontaktstifte geführt sind. Die Lochplatten 10, 11, 12 sind, wie dargestellt, in einem Abstand voneinander angeordnet und die Bohrungen 13 sind in den einzelnen Lochplatten übereinanderliegend oder zueinander mehr oder weniger versetzt positioniert. Auf diese Weise erhalten die Federkontaktstifte 2, 3 eine vorgebbar definierte Ausrichtung im Raum zwischen der Rasterplatte 21 und der Baugruppen-Platine 31, die beide in Bezug zum Adapterteil 1, wie noch näher beschrieben, angeordnet sind. Durch die mittels der Bohrungen 13 erreichte definierte Führung, die erfindungsgemäß gewollt insbesondere auch schräggerichtet ist, lassen sich bei der Erfindung Prüfstellen 32 der Platine 31 und Kontaktflächen 22 der Rasterplatte 21 mit jeweils nur einem einzigen Federkontaktstift 2, 3 verbinden, auch wenn die Prüfstelle 32 und die Kontaktfläche 22 (bezogen auf die Normalenrichtung der Platine 31 und der Rasterplatte 21) seitlich zueinander versetzt positioniert sind. Diese Schrägausrichtung ist stabil, d. h. die Federkontaktstifte 2, 3 können erfindungsgemäß in keiner Weise seitlich ausweichen.

Wie aus der Fig. 1 ersichtlich, haben solche Federkontaktstifte durchaus zueinander verschieden gerichtete Schrägstellungen.

Um ein beispielhaftes Größenverhältnis einer Anordnung der Fig. 1 anzugeben, seien z. B. 60 mm für den Abstand zwischen der Rasterplatte 21 und der Baugruppen-Platine 31 genannt. Der Abstand benachbarter Kontaktflächen 22 einer erfindungsgemäßen Rasterplatte 21 ist z. B. mit etwa 1 mm bemessen. Ein übliches Rastermaß von Bauteilen der Baugruppen-Platine ist z. B. 1,27 mm. Die beiden in Fig. 1 mit Federkontaktstiften kontaktierten, an der Baugruppen-Platine befindlichen Prüfstellen 32, 32′, an die Bauelemente 33 bzw. 33′ mit jeweils einem Anschluß angeschlossen sind, haben in Praxis einen das Mehrfache dieses Rastermaßes 1,27 mm betragenden Abstand voneinander. Lediglich der Vollständigkeit halber sei darauf hingewiesen, daß die Bauelemente- Anschlüsse an den Prüfstellen 32, 32′ . . . , wie aus Fig. 1 ersichtlich, unterschiedlich ausgestaltet sein können und dazu Federkontaktstifte mit entsprechend angepaßten Kontaktenden verwendet werden. Eine Prüfeinrichtung hat z. B. 1000 Testkanäle und die Anzahl der (n mal so vieln) Kontaktflächen 42 kann z. B. 50 000 betragen. Wieviele Prüfstellen 32 der Platine zu kontaktieren sind, hängt vom Einzelfall, d. h. von der speziellen Platine ab.

Die Baugruppen-Platine 31 wird in einer für sie vorzusehenden, weil jedoch bekannt, nicht näher ins einzelne gehend erörterten Halterung so gehalten, daß der vorgegeben definierte Abstand zur Prüfeinrichtung 28 bzw. zur Rasterplatte 21 eingehalten wird, und zwar auch entgegen den Federkräften einer großen Anzahl Federkontaktstifte 2, 3, . . . . Als Halterung für Baugruppen-Platinen sind mechanisch wirkende Niederhalter oder Ansaugung über Vakuumtechnik übliche Praxis. Für letzteren Fall ist vakuumdichte Abdichtung unterhalb der Platine 31 erforderlich. Aus dem Stand der Technik ist es dafür bekannt, Federkontaktstifte zu verwenden, deren Außenhülse, nämlich wie Fig. 2 zeigt, in einer Platte 112 vakuumdicht eingesetzt ist. Dies würde an sich die bei der Erfindung nicht nur zugelassene, sondern die Erfindung weiterbildende Möglichkeit der Schrägstellung der Federkontaktstifte, nämlich wie sie Fig. 1 zeigt, verhindern. Für diesen Fall sind für die Erfindung spezielle Federkontaktstifte 102 vorgesehen, die ein richtungsmäßig ablenkbares Teilstück 1002 besitzen. Mit 1012 ist ein Gelenk bezeichnet, das der an sich nur geringen erforderlichen Auslenkung wegen relativ einfach realisierbar ist, z. B. als ein Gummigelenk (mit elektrischer Überbrückung), als ein Kugelgelenk, ein Federgelenk und dgl. Ein solcher Kontaktfederstift soll oberhalb und unterhalb der festen Einspannung in die Platte 112 einen federnden Kontaktstift, z. B. gemäß irgendeiner bekannten Ausführung, aufweisen.

Auch bei einer Ausführungsform nach Fig. 2 ist zur Platte 112 wenigstens eine weitere Führungs-Lochplatte 10, nämlich für den auszulenkenden Stiftanteil 1002, vorzusehen.

Die Führungs-Lochplatten werden, dem Einzelfall angepaßt, mit den Bohrungen 13 versehen und im Abstand voneinander übereinanderliegend derart starr verbunden, daß spätere laterale Verschiebung der Lochplatten 10, 11, 12 (112) gegeneinander ausgeschlossen ist. Dies erfolgt mit z. B. üblichen mechanischen Mitteln, z. B. (nicht dargestellten) Verbindungsstangen 16, mit denen das Adapterteil außerdem auch gegenüber der Rasterplatte 21 verschiebungsfrei und mit definiertem Abstand zu haltern ist.

Nachfolgend wird ausgehend vom Stand der Technik ein ganz wesentlicher weiterer Teil der Erfindung beschrieben.

Um eine bestimmte Prüfstelle einer Baugruppen-Platine gemäß der Praxis des Standes der Technik mit der Kontaktfläche eines geeigneten Testkanals einer Prüfeinrichtung zu verbinden, sind im Stand der Technik die bereits erwähnten Federkontakt-Stiftpaare mit Drahtverbindung verwendet worden. Damit war es im wesentlichen problemlos, in der wenn auch weiteren Umgebung der Prüfstelle unter den von der Prüfeinrichtung angebotenen Testkanälen einen solchen zu finden, der nicht schon anderweitig belegt ist, wobei es auf lateralen Versatz der Prüfstelle und der zugeordneten Kontaktfläche des Testkanals zueinander nicht wesentlich ankam. Ein solcher Versatz von Prüfstelle und Kontaktfläche zueinander kann nach dem Stand der Technik ohne weiteres bis zum Hundertfachen des Rastermaßes groß sein. Ersichtlich ist Derartiges für ein erfindungsgemäßes Adapterteil mit singulären Federkontaktstiften unmöglich, da diese, wie auch aus Fig. 1 ersichtlich, nur geringen seitlichen Versatz der miteinander zu verbindenden Prüfstelle und Kontaktfläche, d. h. nur geringe Schrägstellung des dafür verwendeten jeweils nur einzelnen Kontaktstiftes, zulassen.

Gemäß einer Ausführung der Erfindung soll aber (im wesentlichen) nur mit solchen wie in Fig. 1 gezeigten einzelnen Federkontaktstiften gearbeitet werden. Der Vorteil dieser Beschränkung liegt darin, daß das Einsetzen der Federkontaktstifte in das aus wenigstens zwei Lochplatten 10, 11, 12 bestehende Adapterteil 1 ganz wesentlich vereinfacht ist gegenüber dem Zusammensetzen eines bekannten Adapterteils mit darin eingesetzten Federkontakt-Stiftpaaren. Ein zu berücksichtigender Umstand liegt darin, daß bestimmten Baugruppen-Platinen zugeordnete Adapterteile in Fertigungsbetrieben aufgehoben werden, jedoch bei der Erfindung aus Einsparungsgründen diese Adapterteile auch ohne darin befindliche Federkontaktstifte verwahrt werden können. Die eine nicht unbeträchtliche Investition bildenden Federkontaktstifte werden vorteilhafterweise vielfach zwischen-/wiederverwendet und auch in ein Adapterteil wieder eingesetzt, in dem sie eine Zeit zurückliegend schon einmal benutzt worden sind.

Mit der Kenntnis der Erfindung ist es ersichtlich, daß solche äußerlich glatten Federkontaktstifte, wie sie in Fig. 1 gezeigt und bei der Erfindung verwendet werden, mit sehr wenig Aufwand in ein vorbereitetes bzw. bereits vorliegendes Adapterteil eingesetzt und nach Verwendung dieses Adapterteils auch ebenso leicht wieder herausgenommen werden können. Das Einsetzen kann in einfacher Weise geschehen, indem man ein Bündel Federkontaktstifte über die beispielsweise oberste Lochplatte des Adapterteils aufrechtstehend hinüberschiebt und in jedes einzelne Loch dieser (oberen) Lochplatte einen der Federkontaktstifte des Bündels hineinfallen läßt.

Oben ist bereits angegeben, daß bei der Erfindung einem jeden Testkanal der Prüfeinrichtung jeweils eine n-fache Anzahl Kontaktflächen 22 auf der Rasterplatte 21 zugeordnet ist. Dies und die nachfolgend beschriebene, ein weiteres Merkmal der Erfindung bildende Verteilung dieser Kontaktflächen 22 dienen dazu, die bevorzugte, vorteilhafte, praktisch und möglichst ausschließliche Verwendung von nur einzelnen Federkontaktstiften 2, 3 zu ermöglichen.

Es lassen sich eine Vielzahl Ordnungsschemata für die Untereinander-Verteilung der Kontaktflächen 22 verschiedener Testkanäle angeben, mit denen die Präsenz bzw. Zugänglichkeit der/zu den einzelnen Testkanälen der Prüfeinrichtung über die Fläche der Rasterplatte 21 hinweg mehr oder weniger gleichmäßig verteilt gemacht werden kann. Mit mehr oder weniger gleichmäßiger Verteilung der Zugänglichkeit der Testkanäle auf der Rasterplatte 21 ist es möglich zu erreichen, daß von einer jeglichen Prüfstelle 32 (irgendeiner zu testenden Platine 31) in deren Nähe (unterhalb) auf der Rasterplatte 21 mit einem nur einzigen Federkontaktstift 2, 3 eine Kontaktverbindung mit einem von mehreren auswählbaren Testkanälen herstellbar ist. Um dies zu realisieren, ist bei der Erfindung (wie auch schon in der Fig. 1 angedeutet) vorgesehen, daß solche einzelnen Federkontaktstifte 2, 3 auch in Schrägstellung verwendet werden, nämlich mittels des Adapterteils 1′ schräggehaltert. Ersichtlich kann aber nur ein vorzugebendes Maß an maximaler Schrägstellung zugelassen werden.

Ein vorgegebenes Maß maximaler Schrägstellung eines jeweiligen Federkontaktstiftes 1, 2 . . . , d. h. ein Maß tolerierbaren seitlichen Versatzes, sei beispielsweise auf Plus/Minus das (diagonale) Rastermaß der Kontaktflächen der Rasterplatte 21, d. h. z. B. auf das Maß ±1,4 mm beschränkt. Das heißt, daß z. B. ausgehend von einer mit einem Testkanal zu verbindenden Prüfstelle 32, mittels des Federkontaktstiftes 2, 3 . . . nur die (im wesentlichen) senkrecht darunterliegende Kontaktstelle und wahlweise eine der in der Fläche vorhandenen acht weiteren Kontaktstellen, die diese senkrechte darunterliegende Kontaktstelle unmittelbar umgeben, kontaktiert werden können. Das heißt, daß unter Berücksichtigung der obengenannten Einschränkung von dieser Prüfstelle 32 ausgehend wahlweise neun Kontaktstellen 22 angesteuert werden können. Ist also die senkrecht unter der Prüfstelle 32 liegende Kontaktstelle 22 diejenige eines schon besetzten (oder schaltungstechnisch hier nicht verwendbaren) Testkanals, der also nicht zur Verfügung steht, oder ist dies ein mit keinem Testkanal verbundener Vcc- oder Masseanschluß, so kann mit dem Federkontaktstift durch entsprechend zueinander gewählte Positionierung der Bohrungen 13 in den Lochplatten 10, 11, 12 (wie in Fig. 1 gezeigt) von der Prüfstelle 32 ausgehend eine benachbarte Kontaktfläche 22 eines anderen Testkanals kontaktiert werden.

Die Fig. 3 zeigt als ein erstes Beispiel eine für die Erfindung allgemein bevorzugte Aufteilung bzw. Verteilung der Kontaktflächen einer erfindungsgemäß ausgestalteten Rasterplatte. Die lediglich der einfacheren Erläuterung halber als quadratisch angenommene Rasterplatte ist gedanklich in die vier Sektoren A/B, B/C, C/D und D/A aufgeteilt. Am Außenrand des Sektors A/B ist ein Viertel (= a) aller vorhandenen Testkanäle angeschlossen. In der Fig. 3 sind lediglich als Beispiel nur 20 Kanäle a₁ bis a₂₀ für den Sektor A/B angegeben. Am Sektor B/C ist ein weiteres Viertel der verfügbaren Testkanäle b₁ bis b₂₀ angeschlossen. Entsprechendes gilt für die beiden weiteren Sektoren. Im Sektor A/B ist die eine Hälfte der dort vorhandenen Kontaktflächen 22 mit den Kanälen a₁ bis a₂₀ und die andere Hälfte mit anderen Testkanälen, hier beispielsweise mit den Testkanälen b₁ bis b₂₀, verbunden. Das heißt, daß in dem Sektor A/B Kontaktflächen 22 der Kanäle a₁ bis a₂₀ und b₁ bis b₂₀, und zwar alle untereinander verteilt, zugänglich sind. Im Sektor A/B ist es also möglich unter Einschluß einer Schrägstellung des jeweiligen einzelnen Federkontaktstiftes mit einem solchen einzelnen Federkontaktstift 2, 3 Kontaktverbindungen von Prüfstellen 32 zur Hälfte aller überhaupt verfügbaren Kanäle herzustellen. Im Sektor B/C sind sinngemäß die Kontaktflächen der Testkanäle b₁ bis b₂₀ und c₁ bis c₂₀ verfügbar, wobei die Kanäle c₁ bis c₂₀ beispielsweise am Außenrand des Sektors C/D angeschlossen sind. Entsprechendes gilt für die Sektoren C/D und D/A. Im Sektor C/D sind Kontaktflächen der Testkanäle c₁ bis c₂₀ und d₁ bis d₂₀, und im Sektor D/A sind Kontaktflächen der Testkanäle d₁ bis d₂₀ und a₁ bis a₂₀ verfügbar. Ersichtlich sind in zwei benachbarten Sektoren zusammengenommen (z. B. A/B und B/C) Kontaktflächen von drei Viertel aller überhaupt vorhandenen Testkanäle verfügbar. Eine solche Verteilung der den Testkanälen zugeordneten Kontaktflächen untereinander ist im Sinne der Erfindung eine genügend gleichmäßige Verteilung, auch wenn, wie ersichtlich, Bereiche der Rasteroberfläche angebbar sind, in denen nebeneinander nicht alle überhaupt vorhandenen Testkanäle verfügbar sind. Dies gilt für die Erfindung auch deshalb, weil gemäß einer Weiterbildung der Erfindung noch ein rekursives Auswahlverfahren zusätzlich zur Verfügung gestellt ist.

Die Fig. 4 zeigt als Ausschnitt, wie gemäß einer bevorzugten weiteren Ausgestaltung des Ausführungsbeispiels der Fig. 4 die Testkanäle innerhalb eines jeweiligen Sektors mit ihren jeweils mehrfachen Kontaktflächen in der Ebene verteilt sein können.

Die Fig. 4 zeigt für den Sektor A/B, wie die Kontaktflächen der Testkanäle a₁ bis a₂₀ und b₁ bis b₂₀ untereinander zeilenweise und zeilenverschachtelt vorteilhafterweise verteilt sein können. Die in der Fig. 4 unterste Zeile des Sektors A/B enthält nebeneinander Kontaktflächen der Kanäle a₁ bis a₂₀. Die darüberliegende zweite, weiter innen liegende und damit in ihrer Länge verkürzte Zeile enthält den Testkanälen b₁ bis b₂₀ zugeordnete, in der Fig. 4 mit den Nummern 21 bis 40 bezeichnete Kontaktflächen, ausgenommen die Kontaktflächen No. 27 und No. 34, die (wegen der Verkürzung der Zeile) in die nächst drüberliegende dritte Zeile eingefügt sind. Desweiteren enthält diese dritte, noch mehr verkürzte Zeile wieder zu den Kanälen a₁ bis a₂₀ gehörende Kontaktflächen No. 1 bis No. 20, ausgenommen sechs Kontaktflächen, die schon in die darüberliegende vierte Zeile eingefügt sind. Die vierte Zeile und bei diesem Beispiel vollständig die fünfte Zeile enthalten wieder Kontaktflächen No. 21 bis No. 40 der Gruppe der Testkanäle b₁ bis b₂₀.

Es ist zu berücksichtigen, daß in der Praxis die Anzahl der Kanäle und damit die Anzahl der Kontaktflächen sehr viel größer ist und damit die Verteilung sehr viel feiner ist als dies anhand des vereinfachten Beispiels der Fig. 4 angenommen werden könnte.

In der zu prüfenden Baugruppen-Platine müssen bei einigen Testverfahren die einzelnen zu prüfenden Teilbereiche steuerbar mit elektrischer Spannung versorgt werden, und zwar im Regelfall ohne daß andere, momentan nicht zu prüfende Teilbereiche durch anliegende Spannung in Betrieb gesetzt werden. Es ist dementsprechend nützlich, ebenso wie man einzelne Prüfstellen kontaktiert, auch Erdung und die Stromzuführung aus der Prüfeinrichtung in die zu prüfende Platine über Federkontaktstifte zu bewirken. Zu diesem Zwecke sind einzelne Kontaktflächen mit Masse oder mit Betriebsspannung (von der Prüfeinrichtung steuerbar gespeist) verbunden. Zur oben beschriebenen Verteilung der Kontaktflächen und Testkanäle miteinander, kommt somit noch die der Verteilung von Masse- und Potential-Anschlüssen hinzu. Zum Beispiel stehen dann statt der oben angegebenen neun Auswahlmöglichkeiten z. B. nur acht Möglichkeiten zur Verfügung und die neunte Möglichkeit ist für die Spannungszuführung reserviert. Dies bedeutet aber keinerlei praktische Einschränkung der Brauchbarkeit der Erfindung, da die erfindungsgemäßen zur Verfügung stehenden Variations­ möglichkeiten sehr groß sind.

Die Fig. 5 zeigt wiederum als Ausschnitt eine den Fig. 3 und 4 entsprechende Verteilung, in der auch Kontaktflächen für Erdung und Stromzuführung in beispielhafter Weise berücksichtigt sind. Wieder enthält die unterste Zeile Kontaktflächen der Kanäle a₁ bis a₂₀, nämlich mit No. 1 bis No. 20 bezeichnet. Die Kontaktflächen No. 21 bis No. 40 sind den Testkanälen b₁ bis b₂₀ zugeordnet. Kontaktflächen mit den Nummern 41 bis 60 sind den Testkanälen c₁ bis c₂₀ zugeordnet. Diese Kontaktflächen sind im Sektor B/C enthalten, der sich vom rechten senkrechten Rand der Darstellung der Fig. 5 dreiecksmäßig zum Zentrum hin erstreckt. Der Fig. 5 ist zu entnehmen wie, wie schon oben angegeben, innerhalb der unteren/rechten Diagonalhälfte der Rasterplatte 21 der Fig. 5 drei Viertel aller verfügbaren Kanäle mit Kontaktfläche untereinander verteilt präsent sind.

Die Fig. 6 und 7 zeigen ein zu dem Beispiel der Fig. 3 bis 5 zweites Beispiel einer Verteilung der den einzelnen Testkanälen zugeordneten mehrfach vorhandenen Kontaktflächen. Das Schema der Fig. 6 weist eine geringere Gleichmäßigkeit der Verteilung der Kontaktflächen der einzelnen Testkanäle auf, hat jedoch den Vorzug, daß die auf/in der Rasteiplatte vorzusehende elektrische Verbindung der einzelnen verteilten Kontaktflächen zu ihrem zugeordneten Testkanalanschluß relativ kurz gehalten ausgeführt werden kann. In Fig. 6 sind mit a₁ bis a₈ die Anschlüsse von acht Testkanälen einer ersten Gruppe bezeichnet. Die Anschlüsse von Testkanälen weiterer Gruppen sind mit b₁ bis b₈, c₁ bis c₈ und d₁ bis d₈ bezeichnet. Mit schwarzen ausgefüllten Punkten sind den einzelnen Testkanälen zugeordnete Kontaktflächen dargestellt, die, wie aus der Figur ersichtlich, mit kurzen elektrischen Leiterbahnen mit ihrem Testkanal-Anschluß verbunden sind. Ebenfalls aus der Figur ersichtlich und keiner weiteren Erläuterung bedürfend, sind die Kontaktflächen verschiedener Testkanäle in ihrer Nachbarschaft untereinander verteilt. Eine solche weniger gleichverteilte Anordnung der Kontaktflächen der Testkanäle ist dann vorteilhaft, wenn es auf sehr kurze Verbindungen zwischen dem Testkanalanschluß und der Prüfstelle 32 der Platine ankommt. Nur die kurzen Leiterbahnen und der einzelne Federkontaktstift bilden die Gesamtlänge der Verbindung zwischen Testkanalanschluß und Prüfstelle.

Die Fig. 7 zeigt ein der Fig. 6 sehr ähnliches Schema, mit jedoch, wie mit einigen wenigen Bezeichnungen der hier nicht ausgefüllt dargestellten Kontaktflächen angedeutet, gegenüber der Fig. 6 weitergehender Verteilung der Kontaktflächen untereinander. Beim Beispiel der Fig. 7 sind die Verbindungen der Kontaktflächen teilweise jedoch bereits etwas länger. Es ist für den Einzelfall abzuwägen, welches Maß an Gleichmäßigkeit der Verteilung einerseits und minimierter Länge der Verbindungen auf/in der Rasterplatte andererseits für die Lösung des einzelnen Problems günstiger ist.

Vom Einzelfall abhängig und auch abhängig von der Anzahl der Prüfstellen einer Platine vergleichsweise zur Anzahl der überhaupt zur Verfügung stehenden Testkanäle, kann auch der Fall eintreten, daß für eine Prüfstelle 32 der Platine kein passender Testkanal im (mit einem einzelnen Federkontaktstift erreichbaren) Umgebungsbereich verfügbar ist. Diese Nichtverfügbarkeit ist dann gegeben, wenn sämtliche Kontaktflächen des Umgebungsbereiches einer solchen Prüfstelle zu Testkanälen gehören, die andernorts der Rasterplatte bereits belegt sind, nämlich weil die Testkanäle auch dort mit zugeordneten Kontaktflächen präsent und bereits mit anderen Prüfstellen kontaktiert sind.

Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist die folgende Lösung des Problems vorgesehen. Läßt sich in einem unterhalb der Prüfstelle 32 liegenden Bereich einander benachbarter Kontaktflächen keine solche finden, deren Testkanal noch frei ist, kann man in rekursiver Weise in einem anderen Bereich, in dem einer dieser Testkanäle auf seiner Kontaktfläche schon kontaktiert belegt ist, nach einer Möglichkeit suchen, durch Verlegen dieser Kontaktierung, d. h. durch Ausrichten des dort befindlichen Federkontaktstiftes auf eine andere Kontaktfläche eines noch freien Testkanals, die zuvor belegte Kontaktstelle freizumachen. Damit ergibt sich dann im zunächst erörterten Bereich der Prüfstelle 32 eine kontaktierbare Kontaktfläche eines jetzt frei gewordenen Testkanals. Natürlich wird diese Auswahl, wie noch nachfolgend näher beschrieben, zuvor "auf Papier", d. h. softwaremäßig, z. B. in einem Computer, errechnet und erst dann werden letztendlich die Führungs-Lochplatten 10, 11, 12 gebohrt. Lediglich ergänzend sei erwähnt, daß wenn z. B. im ersten rekursiven Schritt noch keine Kontaktstelle, d. h. kein Testkanal freigemacht werden kann, man zu einem anderen Bereich geht, in dem der Testkanal einer anderen Kontaktfläche des Bereichs der Prüfstelle 32 freigemacht werden kann. Man kann aber auch rekursiv in dem Bereich, in dem man den gewünschten Testkanal nicht freimachen konnte, eine noch weiter rekursive Freimachung vornehmen.

Die Fig. 8 dient zur weiteren Erläuterung des rekursiven Verfahrens des Verteilungsalgorithmus. Es sei angenommen, daß in der erfindungsgemäßen Vorrichtung ein (jeweiliger) Federkontaktstift bis zu dem Maß eines diagonalen Rasterabstandes l der Kontaktflächen der Rasterplatte schräggestellt werden kann. Weiter sei angenommen, daß in den herausgegriffenen, in der Figur dargestellten Bereichen I, II, III die mittlere der jeweils neun einander benachbarten Kontaktflächen ein Masseanschluß bzw. Potentialanschluß ist. Liegt nun der Fall vor, daß eine oberhalb (siehe auch Fig. 1) befindliche Prüfstelle 32 mit einer der Testkanal-Kontaktflächen des Feldes I mittels eines Federkontaktstiftes kontaktiert werden soll und die zu diesen weiteren acht Kontaktflächen dieses Bereiches I gehörenden Testkanäle bereits anderswo im gesamten Feld der Kontaktflächen der Rasterplatte besetzt sind, wird versucht, z. B. die Kontaktfläche No. 1 freizumachen, indem man an derjenigen Stelle der gesamten Rasterplatte, an der der Testkanal, der zu dieser Fläche No. 1 gehört, belegt ist, dort diese Belegung zu ändern. Liegt diese Belegung z. B. im Bereich II vor, so wird dort dann die mit diesem Testkanal verbundene Kontaktfläche No. 1 freigemacht, indem in dem Bereich II statt dessen z. B. der (noch freie) Testkanal der Kontaktfläche No. 2 belegt wird. Da also in dem Bereich II nunmehr die dortige Kontaktfläche 1 und damit der zugehörige Testkanal frei ist, steht dann die Kontaktfläche 1 des Bereiches I für die Kontaktierung mit dem Federkontaktstift zur Verfügung, der die Verbindung mit der Prüfstelle 32 der Platine bewirkt. Sollte im Extremfall die Kontaktfläche No. 1 im Bereich II in der wie eben beschriebenen Weise nicht freigemacht werden können, weil dort die Testkanäle aller übrigen dargestellten Kontaktflächen ebenfalls schon belegt sind, geht man dazu über, in einem noch weiteren Bereich in eine Umbelegung obiger Art, z. B. von der Kontaktfläche No. 2 auf z. B. die Kontaktfläche No. 3 eines anderen, noch freien Testkanals vorzunehmen. Diese Umbelegung macht im Bereich II den Testkanal der dortigen Kontaktflächen No. 2 frei, nämlich um so im Bereich II den Testkanal der Kontaktfläche No. 1 doch freizubekommen. Es ist dies das rekursive Verfahren. Man kann natürlich statt dessen versuchsweise auch den Schritt I → III vornehmen, nämlich unmittelbar im Bereich III den Testkanal der Kontaktfläche No. 1 wie gehabt freizumachen, dies aber nur dann wenn der Bereich II überhaupt eine diesem Testkanal zugeordnete Kontaktfläche No. 1 umfaßt.

Dieses nur scheinbar komplizierte Verfahren wird mittels eines Computers durchgeführt, dem ein entsprechendes Wahl- und Suchprogramm eingegeben ist. Das Fließbild-Schema der Fig. 9 gibt ein solches Programm an mit Einlesen und Vorsortieren der Eingangsdaten, wobei dies die Koordinaten der Prüfpunkte der Baugruppen-Platine sind. Das Vorsortieren berücksichtigt z. B. Kriterien, wie sie gegebenenfalls aufgrund interner Strukturen der Prüfsysteme sinnvoll sind. Im nächsten Schritt erfolgt die Auswahl der besten konfliktfreien Kontaktposition auf der Rasterplatte für eine gegebene Prüfstelle. Ist dies geschehen, erfolgt die gleiche Auswahl für die nächste anzuschließende Prüfstelle. Sind schließlich alle Prüfstellen zugeordnet, kann die Berechnung der Koordinaten für die Bohrungen 13 in den Führungs-Lochplatten 10, 11, 12 erfolgen und können die weiteren Arbeiten ausgeführt werden. Konnten nicht für alle Prüfstellen Kontaktflächen jeweils freie Testkanäle gefunden werden, geht das Programm wieder zurück auf den Schrift der Auswahl, um bessere Kontaktposition zu finden. Das Fließbild der Fig. 10 gibt das Schema des schon obenbeschriebenen rekursiven Verfahrens wieder. Zunächst ist eine Auswahl einer Kontaktposition (in einem Bereich I) ausgewählt worden, die mit einem schräggestellten Federkontaktstift erreichbar ist. Es sei dies eine Position erster Ordnung. Ist eine freie Position gefunden, geht das Schema sofort zur Übergabe der ausgewählten Kontaktposition an das Hauptprogramm der Fig. 9. Konnte keine freie Position gefunden werden, erfolgt eine Auswahl einer Kontaktposition durch Umplazierung in einem anderen Bereich II, III mit bereits gesetzten Kontaktpositionen (Positionen höherer Ordnung), nämlich um im Bereich des direkten Zugriffs (Position erster Ordnung) eine freie Position zu schaffen. Damit geht das Schema dann in die Übergabe der ausgewählten Kontaktposition an das Hauptprogramm über.

Bei Prüfeinrichtungen, bei denen, bedingt durch den internen Aufbau (z. B. gemultiplexte Pinelektronik), gewisse Einschränkungen bei der Zuordnung zwischen Prüfstellen und Testkanälen vorgegeben sind, müssen bei der Auswahl der Kontaktflächen zusätzlich vom Hersteller der Prüfeinrichtung vorgegebene Regeln eingehalten werden. Das Auswahlverfahren erfolgt in diesem Falle in gleicher Weise. Es wird bei der Auswahl jedoch neben dem Kriterium, daß der Testkanal nicht bereits belegt ist, auch noch das Kriterium berücksichtigt, ob die Zuordnungsregeln der Prüfeinrichtung erfüllt sind.

Im Extremfall, ein solcher könnte z. B. im Bereich einer mit vielen Steckerbeinen versehenen Steckbaugruppe auftreten, ist eine Hilfsmaßnahme durchführbar, die in Fig. 11 gezeigt ist. Dieser Extremfall kann häufiger auftreten, wenn insbesondere aus elektrischen Gründen Rasterplatten 21 verwendet werden, die zu einer vorgegebenen Anzahl kontaktierbarer Testkanäle eine n-fache Anzahl Kontaktflächen 22 haben, bei der die Zahl n nur wenig groß gewählt ist. Diese Maßnahme ist ein Federkontakt-Stiftpaar mit jedoch gegenüber dem Stand der Technik außerordentlich kurzer, nur über wenige Rasterlängen der Rasterplatte sich erstreckender elektrischer Drahtverbindung. Der einseitig mit Federkontakt versehene Stift 202 ist über den leitenden Draht 205 mit dem zweiten Federkontaktstift 203 mit nur einer Federkontaktspitze verbunden. An den jeweiligen anderen Enden der Stifte 202 und 203 sind elektrisch isolierende Körper 204 vorgesehen. Die Federkontaktstifte 202 und 203 stützen sich dort an den Platten 21 und 12 ab. Mit einem solchen Federkontakt-Stiftpaar ist es möglich, mehrere Rasterlängen zu überbrücken, wohingegen mit den generell vorgesehenen schräggerichteten Federkontaktstiften 2 und 3 nur Plus/Minus ein oder zwei Rasterlängen (quer und in der Diagonale) weit ausgewichen werden kann. Diese Hilfsmaßnahme widerspricht nicht dem erfindungsgemäßen Prinzip, weil sie zum einen nur dazu dient, lediglich für im Sonderfall eintretende Fälle eine Lösung zu bieten und zum anderen kompatibel im Hinblick auf die Führungs-Lochplatten des erfindungsgemäß vorgesehenen Adapterteils ist.

Bei der Erfindung sind, wie schon oben mehrfach erwähnt, in/auf der Rasterplatte 21 elektrische Verbindungen von den auf deren Oberfläche befindlichen Kontaktflächen 22 zu Punkten, z. B. zu den erwähnten Kontaktierungsflächen 27, vorzusehen. Besonders zweckmäßig ist es, diese Verbindungen als Leiterbahnen auszuführen.

Die Fig. 12 zeigt in geschnittener Seitenansicht eine gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ausgeführte Rasterplatte 21 in Mehrschichten-Aufbau. Mit 22 sind wiederum die auf der (hier oberen) Oberfläche der Rasterplatte 21 vorgesehenen Kontaktflächen bezeichnet. Mit 121 bis 125 sind Schichten oder dergleichen aus elektrisch isolierendem Material bezeichnet. Die Rasterplatte 21 weist mit 131 bezeichnete, den Kontaktflächen 22 zugeordnete Bohrungen auf. Zwischen den Schichten 122 und 123 sowie 124 und 125 sind bei diesem Beispiel flächenmäßig durchgehende Metallisierungen 132 und 133 vorgesehen, die für den Anschluß und die Weiterleitung von Massepotential und Stromversorgungs-Potential Vcc vorgesehen sind. Zwischen den Schichten 121 und 122 einerseits und 123 und 124 andererseits sind einige Leiterbahnen 141, 142, 143 dargestellt. Um z. B. die Kontaktfläche 22₁ mit der Metallisierung 132, nämlich mit dem Masseanschluß, elektrisch zu verbinden, ist vorgesehen, daß die zu dieser Kontaktfläche 22₁ gehörende Bohrung 131 innenwandig derart metailisiert ist und daß die Metallisierung 132 an diese Bohrung so weit herangeführt ist, daß über diese Innenmetallisierung 136 der Bohrung elektrische Verbindung zwischen der Metallisierung 132 und der Kontaktfläche 22₁ hergestellt ist. Entsprechendes gelte für die Kontaktfläche 22₂ mit einer innenwandigen Metallisierung der ihr zugehörigen Bohrung 131 und einer Kontaktverbindung mit der Metallisierung 133 des Vcc-Anschlusses. Dort wo keine elektrische Verbindung von den Metallisierungen 132/133 zu Kontaktflächen 22 vorliegen soll, werden diese Metallisierungen um die betreffenden Bohrungen 131 herum zweckmäßigerweise ringförmig ausgespart.

Für z. B. in der Richtung der Horizontalen der Ebene der Fig. 12 verlaufende Leiterbahnverbindungen 141 und 142 ist beispielsweise die Ebene zwischen den Schichten 121 und 122 reserviert. Zum Beispiel sind dort mit 22₃ und 22 _3′ einerseits und mit 22₄ und 22 _4′ andererseits bezeichnete Kontaktflächen vorgesehen, die jeweils mittels der Leiterbahnverbindungen 141 und 142 elektrisch verbunden sein sollen. Dazu sind die Innenwände der jeweiligen Bohrungen 131 metallisiert, daß zwischen der Leiterbahn 141 und der jeweiligen Kontaktfläche elektrische Verbindung besteht. Außerdem sind die den Kontaktflächen 22 _3′ und 22 _4′ zugehörigen Bohrungen 131 weiterreichend bis zu den zugehörigen Kontaktierungsflächen 27 der jeweiligen Kontaktspitze 28 der Prüfeinrichtung 29 elektrisch leitend metallisiert. Ersichtlich ist damit die elektrische Verbindung von der jeweiligen Kontaktierungsfläche 27, d. h. dem Anschluß für den Testkanal der Spitze 29, zu den beiden elektrisch parallel geschalteten Kontaktflächen 22₃ und 22 _3′ hergestellt. Das Gleiche gilt für die Kontaktflächen 22₄ und 22 _4′. Dies entspricht einer n = 2-fachen Vervielfältigung der Testkanalanschlüsse auf der Oberfläche der Rasterplatte 21. Erfindungsgemäß ist im Regelfall die n-fache Vervielfältigung weit größer gewählt.

Die Ebene zwischen den Schichten 123 und 124 sei in sinngemäßer Weise für Leiterbahnen 143 reserviert, die in zur Ebene der Fig. 12 senkrechter Richtung verlaufen, d. h. die Richtung der Verbindungen 141/142 im wesentlichen kreuzen.

Auch für Leiterbahnverbindungen 143 sind entsprechende innenwandige Metallisierungen der Bohrungen zur elektrischen Verbindung von Kontaktflächen 22 mit Kontaktierungsflächen 27 vorgesehen.

Solche Leiterbahnverbindungen 141, 142, 143, sowie auch die Verbindungen zwischen auf Masse- oder auf Vcc-Potential zu legende Kontaktflächen mit den Masse-/Vcc-Anschlüssen sind, verglichen mit nach dem Stand der Technik in bekannten Prüfeinrichtungen verwendeten Drahtverbindungen, hinsichtlich Überlastung empfindlich. Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung sind Sicherungselemente 150 für die Leiterbahnverbindungen der Rasterplatte vorgesehen. Es können dies Sicherungen nach Art einer Schmelzsicherung sein, die auf z. B. der unteren Oberfläche der Rasterplatte 21 zwischen der Innenwand- Metallisierung einer Bohrung 131 und der jeweiligen Kontaktierungsfläche 27 (für den Anschluß der Prüfspitze 28) angeordnet sind. Dort kann eine durchgebrannte Schmelzsicherung 150 gezielt nach bekannten Methoden wieder repariert werden. Solche Überlastungen können auftreten, wenn eine schadhafte Baugruppen-Platine geprüft wird.

Diese voranstehend beschriebene Ausführungsform einer gemäß einem Merkmal der Erfindung vorgesehene Rasterplatte 21 kann, wie schon eingangs erwähnt, ein getrenntes Adapterteil zu einer bekannten Prüfeinrichtung sein oder kann auch ein integraler Bestandteil der insoweit dann neuen Prüfeinrichtung sein. In diesem Falle können die Kontaktierungsflächen 27 und die einen nicht unwesentlichen Kostenfaktor bildenden Kontaktspitzen 29 der Prüfeinrichtung eingespart werden und direkte elektrische Drahtverbindungen von den Anschlüssen der einzelnen Testkanäle zu den Innenwand-Metallisierungen der jeweiligen Bohrungen 131 der Rasterplatte vorgesehen sein.

Es ist oben eine gängige Praxis erwähnt, mittels Unterdruck die Baugruppen- Platine 31 anzusaugen und mit Hilfe des Atmosphärendruckes die Platine auf die große Anzahl Federkontaktspitzen zu drücken, um den gewünschten Kontakt zwischen den Prüfstellen der Platine und diesen Federkontaktstiften zu gewährleisten. Zu diesem Zwecke bedarf es einer gegen Durchbiegung stabilen oberen Platte 112 des Adapters, wie sie schon in der Fig. 2 gezeigt ist.

Die Fig. 13 zeigt eine alternative Ausführungsform von im Zusammenhang mit der erfindungsgemäßen Rasterplatte 21 zu verwendenden Federkontaktstiften. Ähnlich wie bei der Ausführungsform der Fig. 2 sind Federkontaktstifte 302 vorgesehen, die fest und vakuumdicht in die Adapterplatte 112 eingesetzt sind. Mit den nach oben ragenden gefederten Spitzen kontaktieren diese Stifte die jeweiligen Prüfstellen der Platine (wie in Fig. 1 gezeigt). Das gegenüberliegende Ende dieser Federkontaktstifte 302 ist als Kontaktierungsende 303 ausgebildet. So wie in Fig. 1 gezeigt, erfolgt die weitere Kontaktverbindung zu den Kontaktflächen 42 der Rasterplatte 21 über Federkontaktstifte 2, 3 der obenbeschriebenen Art. Diese von den Lochplatten 10, 11 geführten Federkontaktstifte können wie beim Beispiel der Fig. 1 schräggerichtet ausgewählte Kontaktstellen 22 kontaktieren. Aus den das Adapterteil bildenden Lochplatten 10, 11, die, wie beim Beispiel der Fig. 1 in die Prüfeinrichtung eingesetzt, mechanisch starr miteinander verbunden sind, können nach Gebrauch dieses Adapters die Federkontaktstifte 2 in einfacher Weise wieder herausgenommen und in einem anderen Adapter weiterverwendet werden. Wie im Stand der Technik, können auch die fest eingesetzten Kontaktstifte 302 wieder-/weiterverwendet werden, wenn man sie aus der Platte 112 wieder herauszieht.

Eine noch weitere Ausgestaltung zur Erfindung ist eine überwiegende bis ausschließliche Verwendung von Federkontakt-Stiftpaaren, wie in ähnlicher Form bereits in Fig. 11 gezeigt. Wie schon oben erwähnt, sind solche Federkontakt- Stiftpaare vorteilhaft zu verwenden, wenn die erfindungsgemäße Rasterplatte 21 eine nicht sehr große n-fache Anzahl der Kontaktflächen 42 hat. Solche Federkontakt-Stiftpaare 202′, 203 können mit kurzen und mit längeren elektrischen Verbindungsdrähten 205 verwendet werden. Bei der in Fig. 14 dargestellten Ausführungsform sind die nach oben gerichteten Federkontaktspitzen 202′ in eine für Ansaugung der Platine genügend stabile Adapterplatte 112 vakuumdicht eingesetzt und gehaltert. Trotz der Verwendung der Federkontakt-Stiftpaare 202′, 203′ bietet auch diese Ausführungsform die meisten Vorteile, die sich aus der erfindungsgemäßen Rasterplatte 21 mit vervielfältigter Anzahl Kontaktstellen 22, nämlich gegenüber der Anzahl der vorhandenen Prüfspitzen der Prüfeinrichtung, ergeben. Eben durch die Zugriffsmöglichkeit auf erfindungsgemäß n-fach vervielfältigte und dazu untereinander verteilte Kontaktflächen 42 der vorgegebenen kleineren Anzahl Testkanäle, bietet sich auch bei dieser Ausführungsform mit Stiftpaaren der Vorteil, jeweils mit sehr kurzen Verbindungsdrahten 205 auszukommen.

Claims (21)

1. Prüfeinrichtung für Baugruppen-Platinen (31), mit einem Adapter (1′) zur Führung von Federkontaktstiften (202, 203), die zur kontaktierenden Verbindung einer jeweiligen vorgegebenen Prüfstelle (32) der Baugruppen-Platine (31) mit einem ausgewählten Kontakt der Prüfeinrichtung (28) verwendet sind, gekennzeichnet dadurch,
daß eine Rasterplatte (21) mit solchen auf ihr angeordneten Kontaktflächen (22) vorhanden ist, die zu Anschlüssen (27) für die zu benutzenden Testkanäle (29) der Prüfeinrichtung (28) vorgesehen und die in, bezogen auf die Anzahl dieser Testkanäle (29), in n-facher Mehrzahl vorhanden sind,
wobei jeweils eine n-fache Anzahl dieser Kontaktflächen (22) als eine jeweilige Gruppe (No 1, No 2, . . . , No 21, . . . , No 41, . . . ) untereinander parallelgeschaltet mit einem jeweiligen Testkanal (a₁, a₂, b₁, . . . , c₁, . . . ) elektrisch zu verbinden/verbunden sind und
zumindest in Bereichen (A/B, B/C) des Feldes der Kontaktflächen (22) der Rasterplatte (21) die Kontaktflächen verschiedener solcher Gruppen miteinander vermischt verteilt (Fig. 3 bis 7) positioniert sind.

2. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß die Rasterplatte (21) ein zusätzliches Adapterteil (1) zur Prüfeinrichtung (28) ist.

3. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß die Rasterplatte (21) integrierter Bestandteil der Prüfeinrichtung (28) ist und eine jeweilige n-fache Anzahl der Kontaktflächen (22) direkte elektrisch parallele Anschlüsse eines jeweiligen der Testkanäle (29) sind.

4. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1, 2 oder 3, gekennzeichnet dadurch, daß elektrische Verbindungen der Anschlüsse der Testkanäle (29) mit den ihnen jeweils zugeordneten Kontaktflächen (22) in/auf der Rasterplatte (21) als Metallisierungen/Leiterbahnen (131, 141, 142, 143) ausgeführt sind.

5. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche l bis 4, gekennzeichnet dadurch, daß die Rasterplatte (21) flächenmäßige Metallisierungen (132, 133) innerhalb eines Schichtaufbaues als Masse-/Potential-Zuleitungen umfaßt.

6. Prüfeinrichtung nach Anspruch 4 oder 5, gekennzeichnet dadurch, daß den Verbindungen der Kontaktflächen (22) mit den Testkanalanschlüssen Überlast-Sicherungselemente hinzugefügt sind.

7. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, gekennzeichnet dadurch, daß die Kontaktflächen (22), die einer Anzahl Testkanäle zugeordnet sind, wobei diese Testkanäle eine Auswahl der benutzten/vorhandenen Testkanäle ist, in einem Bereich des Feldes der Rasterplatte (21) miteinander vermischt verteilt positioniert sind (Fig. 3 bis 7).

8. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, gekennzeichnet dadurch, daß Kontaktflächen (22), die einer Anzahl Testkanäle zugeordnet sind, wobei diese Testkanäle eine Auswahl (a, b) der benutzten/vorhandenen Testkanäle (a, b, c, d) ist, in einem Bereich (A/B) des Feldes der Rasterplatte (21) miteinander vermischt verteilt positioniert sind und in einem anderen Bereich (B/C) Kontaktflächen (22) von Testkanälen einer anderen Auswahl (b, c) der Testkanäle miteinander vermischt verteilt positioniert sind (Fig. 3, 4 und 5).

9. Prüfeinrichtung nach Anspruch 8, gekennzeichnet dadurch, daß in einem Teilbereich (B/C) mehrerer Bereiche (A/B, B/C, C/D) miteinander vermischt positionierte Kontaktflächen (22) Kontaktflächen einer ersten Auswahl (a) mit Kontaktflächen einer anderen Auswahl (c) miteinander vermischt verteilt positioniert enthält.

10. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 9, gekennzeichnet dadurch, daß Kontaktflächen der einen Auswahl (a) und der anderen Auswahl (b) zeilenweise miteinander vermischt angeordnet sind (Fig. 4 und 5).

11. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, gekennzeichnet dadurch, daß für besonders kurze Verbindungen einer Kontaktfläche (22) mit dem zugeordneten Testkanalanschluß (27/29) in/auf der Rasterplatte (21) im wesentlichen Kontaktflächen (22) nur einer Anzahl einander benachbart angeordneter Testkanäle miteinander vermischt verteilt angeordnet sind (Fig. 7, 8).

12. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, gekennzeichnet dadurch, daß das Maß der Vervielfältigung (n) als Anzahl der Kontaktflächen einer jeweiligen Gruppe (No 1, No 2, . . . , No 21, . . . , No 41, . . . .) eines jeweiligen Testkanals (a₁, a₂, . . . b₁, . . . , c₁, . . . ) jeweils verschieden groß gewählt sein kann.

13. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12, gekennzeichnet dadurch, daß der Adapter (1′) zur Führung von auch schräggestellten Federkontaktstiften (2, 3) mehrere im Abstand voneinander parallel angeordnete Führungs-Lochplatten (10, 11, 12) umfaßt, in denen Bohrungen (13) für die vorgegebene Führung der darin eingesetzten Federkontaktstifte vorgesehen sind.

14. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12, gekennzeichnet dadurch, daß der Adapter (1′) eine Halterungsplatte (112) für die Halterung und wenigstens eine Führungs-Lochplatte (10, 11) für die Führung der Federkontaktstifte (102) umfaßt.

15. Prüfeinrichtung nach Anspruch 14, gekennzeichnet dadurch, daß knickbare Federkontaktstifte (102) verwendet sind, deren knickbarer Anteil geführt ist.

16. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß zusätzlich zu den in der Regel vorgesehenen Einzel-Federkontaktstiften (2, 3, 102) ein Federkontakt-Stiftpaar (Fig. 11) mit kurzer Drahtverbindung vorgesehen ist.

17. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12, gekennzeichnet dadurch, daß ein Adapter (1′′) vorgesehen ist, der Federkontakt-Stiftpaare enthält, deren jeweils zueinander gehörende Federkontaktstifte (202′, 203′) mit Drahtverbindungen (205) elektrisch verbunden sind, wobei der jeweils eine dieser Federkontaktstifte mit einer Kontaktfläche (22) der Rasterplatte (21) federkontaktiert ist.

18. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12, gekennzeichnet dadurch, daß der Adapter (1′) eine Hakerungsplatte (112) aufweist, in die Federkontaktstifte (302) zur federnden Kontaktierung der Prüfstelle (32) der Platine (31) derart eingesetzt sind, daß der jeweilige Federkontaktstift auf der der Platine gegenüberliegenden Seite der Halterungsplatte (112) eine Kontaktstelle (303) bildet und Federkontaktstifte (2, 3) vorgesehen sind, die mit Führungs-Lochplatten nach Anspruch 13 geführt sind (Fig. 13).

19. Verfahren zur Auswahl einer Kontaktfläche (22) eines zuzuordnenden Testkanals einer Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 18, gekennzeichnet dadurch, daß eine solche Kontaktfläche (22) ausgewählt wird, die sich im unmittelbaren Nahbereich der vorgegebenen Prüfstelle (32) der Platine (31) auf der Rasterplatte (22) befindet und deren zugehöriger Testkanal nicht belegt ist.

20. Verfahren nach Anspruch 19, gekennzeichnet dadurch, daß in dem Falle, in dem im unmittelbaren Nahbereich (I) einer mit einem Federkontaktstift (2, 3) auszuführenden Kontaktierung keine Kontaktfläche eines noch freien Testkanals (29) verfügbar ist, dann in einem anderen ausgewählten Bereich (II) der Rasterplatte (21) eine solche Umbesetzung (No 1 nach No 2) einer dort vorgesehenen Kontaktierung vorgenommen wird, durch die im ersten Nahbereich (I) eine Kontaktfläche (No 1) eines damit frei gewordenen Testkanals (a) verfügbar geworden ist (Fig. 8).

21. Verfahren nach Anspruch 19 oder 20, gekennzeichnet dadurch, daß bei einer gemultiplexten Prüfeinrichtung (28) bei der Auswahl der jeweils zu kontaktierenden Kontaktfläche (22) zusätzlich die internen Zuordnungs­ regeln der Prüfeinrichtung (28) berücksichtigt werden.