DE4315082A1

DE4315082A1 - Vielfältig einsetzbare drehbare Verbinderanordnung zum Testen integrierter Schaltungsbausteine

Info

Publication number: DE4315082A1
Application number: DE4315082A
Authority: DE
Inventors: David Q Taylor
Original assignee: Hewlett Packard Co
Current assignee: Agilent Technologies Inc
Priority date: 1992-09-08
Filing date: 1993-05-06
Publication date: 1994-03-10
Anticipated expiration: 2013-05-07
Also published as: JP3207024B2; NL194248B; JPH06213963A; US5266059A; NL194248C; DE4315082C2; NL9300766A

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich allgemein auf den Bereich der Verbinder zum Testen von integrierten Schal tungen. Insbesondere offenbart die vorliegende Erfindung einen Verbinder, der an eine integrierte Schaltung in jeder Ausrichtung einer Mehrzahl von Ausrichtungen angeschlossen werden kann, um sich Zugriffs- oder Platzbeschränkungen auf der Leiterplatte anzupassen.

Es ist oft schwierig, freien Zugriff auf einen integrierten Schaltungsbaustein zum Testen zu erlangen, nachdem er auf einer Leiterplatte eingebaut wurde. Es ist oft besonders schwierig, den Testgerätverbinder in der ordnungsgemäßen Ausrichtung an den integrierten Schaltungsbaustein anzubrin gen, unter der Voraussetzung von engen Platzbeschränkungen. Dieses Problem tritt ferner in Situationen auf, in denen die Leiterplatte in einer dreidimensionalen Anordnung mit ande ren Leiterplatten verbunden ist. Eine Lösung in der Vergan genheit war es, einen bekannten Verbinder mit einem langen, elastischen Kabel, das sich zu dem Testgerät erstreckt, zu benutzen. Dieser Ansatz war in einigen Fällen zufriedenstel lend, leidet aber an der grundlegenden Einschränkung, daß ausreichend Platz vorhanden sein muß, um den Verbinder mit der integrierten Schaltung in der ordnungsgemäßen Ausrich tung anzuschließen. Zusätzlich kann die Länge des Kabels zu einer übermäßigen Belastung der Ausgangsanschlußleitungen der integrierten Schaltung führen.

Eine Anzahl von Kontakt und Meßfühlerarten wurde in der Vergangenheit zum Testen von integrierten Schaltungen er funden.

US-Patent 4,993,954 offenbart ein Bauelement zur Verbindung einer integrierten Schaltung und einer elektrischen Schal tung. Die gewünschten Verbindungen werden durch gestapelte, elektrisch isolierende Plättchen hergestellt. Jedes Plätt chen wird von einer Anzahl Leitungskanäle, entweder mit oder ohne Versatz, überquert.

US-Patent 4,975,638 offenbart eine Testmeßfühleranordnung zum Testen integrierter Schaltungen. Das Bauelement umfaßt ein Kontaktgabeteil, das aus einem elastischen Dünnschicht material gebildet ist, mit Meßfühlerkontakten, die auf der Unterseite in einer Struktur ausgebildet sind, die den Kontakten der integrierten Schaltung entsprechen.

US-Patent 4,837,622 und US-Patent 4,757,256 offenbaren eine hochintegrierte Meßfühlerschaltungsplatte als Testgerät zum Kontaktieren und Testen undurchtrennter, hochintegrierter Schaltungschips, die auf einer Halbleiterscheibe ausgebildet sind. Die Meßfühlerschaltungsplatte benutzt einen Meßfühler-Array, der eine ringförmige Form hat, mit zwei Sätzen Drahtmeßfühlern, die in zwei überlappenden, konischen Strukturen angeordnet sind.

US-Patent 4,830,623 offenbart eine Verbinderanordnung zur elektrischen Verbindung eines ersten und eines zweiten Arrays mit einer Art Kontaktinselkontaktierung.

Holsoppel (Holsoppel et al., "Increased Useable I/O Pins On a Substrate", IBM Technical Disclosure Bulletin Vol. 23, Nr. 7A, Dez. 1980) offenbart ein Bauelement, das die Anzahl der benutzbaren Eingabe/Ausgabe-Anschlußstifte eines Silizium chips, der auf einem oberen Substratbauelement montiert ist, erhöht. Das obere Substratbauelement ist durch einen An schlußstifts-Array mit einem tieferliegenden Substratbau element das eine ähnliche Struktur der Anschlußstifte hat, verbunden. Ausgewählte Anschlußstifte werden durch Metallbahnen elektrisch verbunden.

Der bekannte Stand der Technik offenbart keine Verbinderan ordnung, die mit einem integrierten Schaltungsbaustein in jeder Ausrichtung einer Anzahl von möglichen Ausrichtungen angewendet werden kann, um sich Platz- und Zugriffsbeschrän kungen auf der Leiterplatte anzupassen, während die Reihen folge der Verbindungen von den Anschlußstiften der integrierten Schaltung zu dem Testgerät erhalten bleibt. Zusätzlich schließt die vorliegende Erfindung eine Übergangsplatine ein, die es ermöglicht, daß die Verbinder anordnung in einfacher Weise an das Testgerät unter Verwendung einer beliebigen Kontaktstruktur aus einer Vielzahl unterschiedlicher Kontaktstrukturen angeschlossen wird.

Diese Erfindung schafft eine drehbare, vielfältig ein setzbare Verbinderanordnung mit einem Verbinder für integrierte Schaltungen, der mit einer integrierten Schaltung in irgendeiner Ausrichtung einer Mehrzahl von möglichen Ausrichtungen verbunden werden kann; einem zweiten Verbinder mit einer Struktur von elektrischen Kontakten, die in einer symmetrischen Struktur (z. B. in einem quadratischen Gitter) um einen Mittelpunkt angeordnet sind; einer beweglichen Schaltung, die eine Mehrzahl Leiterbahnen von den Kontakten des Verbinders für integrierte Schaltungen zu den Kontakten des zweiten Verbinders herstellt; und einer Testgerätverbinderanordnung mit einer Struktur von elektrischen Kontakten, für die Ineingriffnahme mit dem zweiten Verbinder in irgendeiner Ausrichtung einer Mehrzahl möglicher Ausrichtungen. Die ungerade Symmetrie der Struktur der Kontakte auf dem zweiten Verbinder ermöglicht es, daß die Anschlußleitungen der integrierten Schaltung in derselben Reihenfolge mit dem Testgerätverbinder verbunden werden, unabhängig von der ausgewählten Ausrichtung des Verbinders für integrierte Schaltungen bei der Ineingriffnahme mit der integrierten Schaltung, durch Wahl einer entsprechenden, vorher festgelegten Ausrichtung aus den möglichen Ausrichtungen für den Testgerätverbinder bei der Ineingriffnahme mit dem zweiten Verbinder. Zusätzlich kann der Prüfgerätverbinder eine austauschbare Übergangsplatine einschließen, um einen Schnittstelle zwischen den Kontakten des zweiten Verbinders und einer unterschiedlichen Kontaktstruktur, die durch das Testgerät benutzt wird, zu schaffen.

Ein primäres Ziel der vorliegenden Erfindung ist es, eine Verbinderanordnung zu schaffen, die mit der integrierten Schaltung in irgendeiner Ausrichtung einer Mehrzahl von Aus richtungen verbunden werden kann, um sich den Platz- und Zu griffsbeschränkungen, wie sie im allgemeinen auf Leiterplat ten angetroffen werden, anzupassen.

Ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung ist es, eine vielfältig einsetzbare Verbinderanordnung zu schaffen, die nicht an irgendeine besondere Art der Stiftanschlußanordnung des integrierten Schaltungsbausteines, der durch den Verbinder gehandhabt wird, gebunden ist. Z. B. kann eine 132 Anschlußstifte umfassende QFP- (quad flat pack = quadratisches flaches Gehäuse) Verbinderanordnung irgendeine Art von QFP-Gehäusen mit 132 Anschlußstiften, unabhängig von der Stiftanschlußanordnung des Bauelementes, testen.

Ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nach folgend unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:

Fig. 1 eine perspektivische Explosionsdarstellung der Verbinderanordnung über einem zu testenden inte grierten Schaltungsbaustein;

Fig. 2 eine vereinfachte graphische Darstellung, die die Verbinderanordnung angeschlossen an eine integrier te Schaltung in der ersten von vier möglichen Aus richtungen zeigt;

Fig. 3 eine vereinfachte graphische Darstellung, die die Verbinderanordnung angeschlossen an eine integrier te Schaltung in der zweiten von vier möglichen Aus richtungen zeigt;

Fig. 4 eine vereinfachte graphische Darstellung, die die Verbinderanordnung angeschlossen an eine integrier te Schaltung in der dritten von vier möglichen Aus richtungen zeigt;

Fig. 5 eine vereinfachte graphische Darstellung, die die Verbinderanordnung angeschlossen an eine integrier te Schaltung in der vierten von vier möglichen Aus richtungen zeigt;

Fig. 6 ein Beispieldiagramm, das die Signalabbildung der Anschlußleitungen einer integrierten Schaltung auf die Kontakte des zweiten Verbinders zeigt;

Fig. 7 eine Draufsichtdarstellung der ersten Schicht der elastischen Schaltung, die den Verbinder für inte grierte Schaltungen und die Kontakte des zweiten Verbinders verbindet;

Fig. 8 eine Draufsichtdarstellung der zweiten Schicht der elastischen Schaltung, die den Verbinder für inte grierte Schaltungen und Kontakte des zweiten Ver binders verbindet;

Fig. 9 eine Draufsichtdarstellung der dritten Schicht der elastischen Schaltung, die den Verbinder für inte grierte Schaltungen mit den Kontakten des zweiten Verbinders verbindet;

Fig. 10 eine Draufsichtdarstellung der vierten Schicht der elastischen Schaltung, die den Verbinder für inte grierte Schaltungen und die Kontakte des zweiten Verbinders verbindet;

Fig. 11 eine Draufsichtdarstellung der ersten Schicht von Verbindungen der Kontakte auf einem Beispiel einer Übergangsplatine; und

Fig. 12 eine Draufsichtdarstellung der zweiten Schicht von Verbindungen der Kontakte auf einem Beispiel einer Übergangsplatine.

Fig. 1 zeigt ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung in perspektivischer Darstellung. Die Verbinder anordnung 20 hat einen Verbinder 21 für integrierte Schaltungen, der über die Anschlußleitungen 12 der integrierten Schaltung 10, die getestet werden soll, angeschlossen wird. Die in Fig. 1 abgebildete integrierte Schaltung 10 ist ein bekannter, 132 Anschlußstifte umfassender integrierter QFP-Schaltungsbaustein. Der integrierte Schaltungsbaustein hat eine im wesentlichen quadratische Form mit 33 Anschlußleitungen, die sich von jeder seiner vier Kanten erstrecken. Der Verbinder 21 für integrierte Schaltungen hat einen entsprechenden Satz elektrischer Kontakte, die mit jeder der Anschlußleitungen 12 des integrierten Schaltungsbausteines 10 in Kontakt kommen, wenn der Verbinder 21 für integrierte Schaltungen über die integrierte Schaltung in irgendeiner von vier möglichen Ausrichtungen gesteckt wird. Ein Punkt oder andere sichtbare Zeiger 14 auf der oberen Oberfläche der integrierten Schaltung 10 geben die Position von Anschlußstift 1 an. Der Verbinder 21 für integrierte Schal tungen schließt sichtbare Zeiger 28, wie z. B. Kontroll markierungen, Farbkodierungen oder Bezugszahlen, ein, um anzuzeigen, welche der vier möglichen Ausrichtungen relativ zu dem Punkt 14 verwendet wurde.

Das gegenüberliegende Ende der Verbinderanordnung 20 schließt einen zweiten Verbinder 22 mit einer Mehrzahl von elektrischen Kontakten 23 ein. Diese Kontakte 23 sind in einer symmetrischen Struktur um einen Mittelpunkt angeord net. Das in den Zeichnungen gezeigte bevorzugte Ausführungs beispiel benutzt z. B. ein 12×12 Gitter der Kontakte 23, um einen Standard-PGA- (pin grid array = Anschlußstiftgitter- Array) Anschluß für das Testgerät zu schaffen. Trotzdem kön nen andere symmetrische Strukturen verwendet werden. Die Struktur der Kontakte 23 auf dem zweiten Verbinder 22 ist in vier identisch geformte Gebiete unterteilt, die symmetrisch um den Mittelpunkt der Struktur angeordnet sind.

Der Verbinder 21 für integrierte Schaltungen und der zweite Verbinder 22 sind durch eine kurze elastische Schaltung oder ein kurzes elastisches Kabel 25 miteinander verbunden. Diese elastische Schaltung 25 hat eine Reihe von Leiterbahnen, die sich von jedem der Kontakte des Verbinders 21 für inte grierte Schaltungen zu den Kontakten 23 des zweiten Verbinders erstrecken. Bei dem bevorzugten Ausführungs beispiel wird die elastische Schaltung 25 durch Stapelung von vier getrennten Schichten 70, 80, 90 und 100, vergleiche Fig. 7 bis 10, gebildet. Die ersten Enden 71, 81, 91 und 101 dieser Schichten sind durch die Anschlußstifte in dem Verbinder 21 für integrierte Schaltungen ausgerichtet, um elektrischen Kontakt mit den Anschlußleitungen 12 der integrierten Schaltung 10 zu schaffen. Die zweiten Enden 74, 84, 94 und 104 der Schichten sind miteinander laminiert und durch Anschlußstifte in dem zweiten Verbinder verbunden, um elektrische Verbindungen mit ausgesuchten Kontakten 75, 85, 95 und 105 auf der oberen Oberfläche des zweiten Verbinders 22 zu schaffen. Jede Schicht 70, 80, 90 und 100 hat eine Mehrzahl von Leiterbahnen 73, 83, 93 und 103, die die Kontakte entlang einer Kante 72, 82, 92 und 102 der integrierten Schaltung 10 auf eines der vier Gebiete der Kontakte 23 auf dem zweiten Verbinder 22 abbilden, vergleiche Fig. 7 bis 10.

Ein Beispiel des sich ergebenden Verbindungsplanes ist in Fig. 6 gezeigt. Der obere Abschnitt von Fig. 6 zeigt das bekannte Numerierungsschema für einen 132 Anschlußstifte umfassenden integrierten QFP-Schaltungsbaustein. Der untere Abschnitt von Fig. 6 zeigt die entsprechende Anordnung der Kontakte 23 auf dem zweiten Verbinder 22. Es ist zu beach ten, daß jeder der 132 Anschlußstifte der integrierten Schaltung auf die 144 Kontakte 23 auf dem zweiten Verbinder 22 in einer symmetrischen Struktur um die Mitte des Gitters abgebildet wird (unbenutzte Kontakte, mit einem "X" ge kennzeichnet, liegen auf Masse). Diese Struktur kann als eine Art einer ungeraden Symmetrie beschrieben werden. Z.B. kann der Verbinder 21 für integrierte Schaltungen im Falle eines quadratischen integrierten Schaltungsbausteins in jeder der vier Ausrichtungen bezogen auf Anschlußstift 1 der integrierten Schaltung 10 angeschlossen werden (d. h. in einer Ausrichtung von 0°, 90°, 180° und 270°). Jede der vier möglichen Ausrichtungen sind in Fig. 2 bis 5 gezeigt. Die sich ergebende relative Reihenfolge der Kontakte 23 auf dem zweiten Verbinder 22 dreht sich entsprechend. Wenn der Verbinder 21 für integrierte Schaltungen z. B. an der integrierten Schaltung 10, wie in Fig. 1 gezeigt, angeschlossen ist, wird der Anschlußstift 1 auf die Kontakte 23 des zweiten Verbinders 22 abgebildet, vergleiche Fig. 6. Wird der Verbinder 21 für integrierte Schaltungen entgegen dem Uhrzeigersinn um 90° gedreht, wird der Anschlußstift 1 tatsächlich zum Anschlußstift 34 und wird entsprechend auf das Gitter der Kontakte 23 auf dem zweiten Verbinder 22 abgebildet. Genau so führen darauffolgende zusätzliche 90°- Drehungen zu einer tatsächlichen Verschiebung von Anschlußstift 1 auf Anschlußstift 67, dann auf Anschlußstift 100. In jedem Fall drehen sich die anderen Kontakte 23 auf dem zweiten Verbinder 22 entsprechend derart, daß ihre relative Reihenfolge in allen vier möglichen Ausrichtungen erhalten bleibt.

Das Testgerät wird durch eine Testgerätverbinderanordnung 40, vergleiche Fig. 1, angeschlossen. Bei einem Ausführungs beispiel hat der Testgerätverbinder 40 eine Struktur der Kontakte 42 (d. h. ein 12×12 Gitter), das es erlaubt, diesen direkt an den zweiten Verbinder 22 anzuschließen. Alternativ kann eine auswechselbare Übergangsplatine 30 zwi schengefügt werden, um eine übliche Schnittstelle zwischen dem zweiten Verbinder 22 und dem Testgerätverbinder 40, ver gleiche Fig. 1, zu schaffen.

Wie bei der Verbindung zwischen der integrierten Schaltung 10 und dem Verbinder 21 für integrierte Schaltungen ist es physikalisch möglich, den Testgerätverbinder 40 an den zweiten Verbinder 22 in jeder der vier möglichen Ausrich tungen anzuschließen. Jedoch sollte der Anwender beim Anschluß des Testgerätverbinders 40 und des zweiten Ver binders 22 die richtige Ausrichtung wählen, die zu einer korrekten Anordnung der elektrischen Verbindungen zwischen den Anschlußstiften 12 der integrierten Schaltung und den Kontakten 45 des Testgerätes führt, vergleiche Fig. 2 bis 5. Die richtige Ausrichtung des Testgerätverbinders 40 wird auf einer 1 : 1 Grundlage durch die ausgewählte Ausrichtung des Verbinders 21 für integrierte Schaltungen bezogen auf die integrierte Schaltung 10 vorgegeben. Die Markierungen 29 auf dem zweiten Verbinder 22, vergleiche Fig. 1, schaffen ein einfaches Verfahren, um für den Anwender einen visuellen Zeiger für die korrekten Ausrichtung des Testgerätverbinders 40 zu schaffen. Fig. 2 bis 5 zeigen jede dieser vier Aus richtungskombinationen für den Verbinder 21 für integrierte Schaltungen und den Testgerätverbinder 40.

Fig. 11 und 12 stellen weitere Details eines Beispiels für eine Übergangsplatine 30 für einen Motorola-68020-Mikropro zessor bereit. Die untere Oberfläche der Übergangsplatine 30 hat ein 12×12 Gitter von Kontakten 31, um an das ent sprechende Gitter der Kontakte 23 auf der Oberseite des zweiten Verbinders 22 angeschlossen zu werden. Die obere Oberfläche hat eine Struktur der Kontakte 32, die in einem unvollständigen 13×13 Gitter angeordnet sind, um mit der bekannten Kontaktstruktur, wie sie von Testgeräten für den Motorola-68020-Prozessor benutzt wird, Eingriff zu nehmen. Ein Punkt oder andere visuelle Zeiger 35 helfen, sicherzustellen, daß die Übergangsplatine 30 an den Testgerätverbinder 40 mit der richtigen Ausrichtung angeschlossen wird. Die Übergangsplatte ist typischerweise als eine gedruckte mehrlagige Schaltungsplatine mit Signalleitungen 33 zur Verbindung von ausgewählten Kontakten 31 auf der unteren Oberfläche mit ausgewählten Kontakten 32 auf der oberen Fläche ausgeführt, um das gewünschte Schnittstellenprotokoll zu schaffen, wie z. B. in Fig. 11 und 12 zu sehen ist. Andere Schnittstellen können einfach durch Auswechseln der Übergangsplatine 30 angepaßt werden.

Claims

1. Verbinderanordnung (20) zum Testen eines integrierten Schaltungsbausteines (10) mit einer Mehrzahl von An schlußleitungen (12), gekennzeichnet durch folgende Merkmale:
einen Verbinder (21) für integrierte Schaltungen, der verbunden werden kann, um elektrische Kontakte mit min destens einigen Anschlußleitungen (12) des integrierten Schaltungsbausteines (10) in irgendeiner einer Mehrzahl von möglichen Ausrichtungen zu schaffen;
einen zweiten Verbinder (22) mit einer Struktur von elektrischen Kontakten (23), die in einer symmetrischen Struktur um einen Mittelpunkt angeordnet sind;
eine elastische Schaltung (25), die eine Mehrzahl von Leiterbahnen (73, 83, 93, 103) zwischen den Kontakten des Verbinders (21) für integrierte Schaltungen und den Kontakten (23) des zweiten Verbinders (22) schafft; und
eine Testgerätverbinderanordnung (40) mit einer Struktur von elektrischen Kontakten zur Ineingriffnahme mit der Struktur der Kontakte (23) des zweiten Verbinders (22) in irgendeiner einer Mehrzahl von möglichen Ausrichtungen um den Mittelpunkt des zweiten Verbinders (22) derart, daß die Anschlußleitungen (12) der integrierten Schaltung in derselben Reihenfolge mit den Kontakten des Testgerätverbinders (40) unabhängig von der gewählten Ausrichtung des Verbinders (21) für inte grierte Schaltungen bei der Ineingriffnahme mit der integrierten Schaltung (10), durch Wahl einer entsprechenden, vorher festgelegten Ausrichtung der möglichen Ausrichtungen des Testgerätverbinders (40) bei der Ineingriffnahme mit dem zweiten Verbinder (22) verbunden werden können.

2. Verbinderanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich net, daß die Kontakte (23) des zweiten Verbinders (22) in einem quadratischen Gitter angeordnet sind.

3. Verbinderanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Testgerätverbinderanordnung (40) eine feste Struktur der Kontakte (42) hat und ferner eine aus wechselbare Übergangsplatine (30) umfaßt, welche (30) folgende Merkmale aufweist:
eine erste Oberfläche mit einem ersten Satz Kontakte (31) zur Ineingriffnahme mit den Kontakten (23) des zweiten Verbinders (22);
eine zweite Oberfläche mit einem zweiten Satz Kontakte (32) zur Ineingriffnahme mit der festen Struktur der Kontakte (42); und
eine Einrichtung (33), um elektrische Verbindungen zwischen einem Satz der Kontakte (31) auf der ersten Oberfläche und einem Satz der Kontakte (32) auf der zweiten Oberfläche zu schaffen.

4. Verbinderanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, ferner gekennzeichnet durch folgendes Merkmal: mindestens einen sichtbaren Zeiger (28, 29), um die richtige Ausrichtung der Testgerätverbinderanordnung (40) bei der Ineingriffnahme mit dem Verbinder (22) entsprechend der ausgewählten Ausrichtung des Verbinders (21) für integrierte Schaltungen bei der Ineingriffnahme mit der integrierten Schaltung (10) anzuzeigen.

5. Verbinderanordnung zum Testen eines integrierten Schal tungsbausteines (10) mit einer im wesentlichen quadrati schen Form und mit einer Mehrzahl von Anschlußleitungen (12), die sich von jeder seiner vier Kanten erstrecken, gekennzeichnet durch folgende Merkmale:
einen Verbinder (21) für integrierte Schaltungen mit Kontakten, die an die Anschlußleitungen (12) des inte grierten Schaltungsbausteines (10) in jeder der vier möglichen Ausrichtungen angeschlossen werden können;
einen zweiten Verbinder (22) mit einer Struktur von Kontakten (23), unterteilt in vier, im wesentlichen identisch geformte, symmetrisch um einen Mittelpunkt angeordnete Gebiete;
eine elastische Schaltung (25) mit Leiterbahnen (73, 83, 93, 103) zur Verbindung der Kontakte des Verbinders (21) für integrierte Schaltungen mit den Kontakten (23) des zweiten Verbinders (22), wobei die Anschlußleitungen (12) der integrierten Schaltung für jede Kante in ein übereinstimmendes Muster in eines der Gebiete der Kontakte (23) des zweiten Verbinders (22) abgebildet werden;
eine Testgerätverbinderanordnung (40) mit einer Struktur von elektrischen Kontakten zur Ineingriffnahme mit der Struktur der Kontakte (23) des zweiten Verbinders (22) in irgendeiner von vier möglichen Ausrichtungen; und
mindestens einen sichtbaren Zeiger (28, 29) um die richtige Ausrichtung des Testgerätverbinders (40) zur Verbindung des zweiten Verbinders (22) abhängig von der ausgewählten Ausrichtung des Verbinders (21) für integrierte Schaltungen bezogen auf die integrierte Schaltung derart, daß die Anschlußleitungen (12) der integrierten Schaltung in derselben Reihenfolge mit den Kontakten der Testgerätverbinderanordnung (40) verbunden werden, anzuzeigen.

6. Verbinderanordnung nach Anspruch 5, dadurch gekenn zeichnet,
daß die Testgerätverbinderanordnung (40) eine feste Struktur von Kontakten (42) hat und ferner eine aus wechselbare Übergangsplatine (30) umfaßt, die (30) folgende Merkmale aufweist:
eine erste Oberfläche mit einem ersten Satz Kontakte (31) zur Ineingriffnahme mit den Kontakten (23) des zweiten Verbinders (22);
eine zweite Oberfläche mit einem zweiten Satz Kontakte (32) zur Ineingriffnahme mit der festen Struktur der Kontakte (42); und
eine Einrichtung (33), um elektrische Verbindungen zwischen einem Satz der Kontakte (31) der ersten Oberfläche und einem Satz der Kontakte (32) der zweiten Oberfläche zu schaffen.

7. Verbinderanordnung nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß die elastische Schaltung (25) vier Schichten (70, 80, 90, 100) umfaßt, wobei jede Schicht Leiterbahnen (73, 83, 93 und 103) hat, die die Kontakte entlang einer Kante der integrierten Schaltung mit einem der Gebiete der Kontakte (23) des zweiten Verbinders (22) kontakzieren.

8. Verbinderanordnung nach einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontakte (23) des zweiten Verbinders (22) in einem quadratischen Gitter angeordnet sind.

9. Verbinderanordnung zum Testen eines integrierten Schaltungsbausteines (10) mit einer im wesentlichen quadratischen Form mit einer Mehrzahl von Anschlußlei tungen (12), die sich von jeder seiner vier Kanten er strecken, gekennzeichnet durch folgende Merkmale:
einen Verbinder (21) für integrierte Schaltungen mit Kontakten, die mit den Anschlußleitungen (12) des inte grierten Schaltungsbausteines (10) in irgendeiner der vier möglichen Ausrichtungen verbunden werden kann;
einen zweiten Verbinder (22) mit einem im wesentlichen quadratischen Gitter von Kontakten (23), das in vier im wesentlichen identisch geformte, symmetrisch um einen Mittelpunkt angeordnete Gebiete unterteilt ist;
eine elastische Schaltung (25) mit vier Schichten (70, 80, 90, 100), wobei jede Schicht (70, 80, 90, 100) Leiterbahnen hat (73, 83, 93, 100), die die Kontakte des Verbinders (21) für integrierte Schaltungen entlang einer Kante der integrierten Schaltung in eines der Gebiete der Kontakte (23) des zweiten Verbinders (22) abbilden;
eine Testgerätverbinderanordnung (40) mit einer Struktur von elektrischen Kontakten zur Ineingriffnahme der Struktur der Kontakte (23) des zweiten Verbinders (22) in irgendeiner der vier möglichen Ausrichtungen; und
mindestens einen sichtbaren Zeiger (28, 29), um die richtige Ausrichtung des Testgeräteverbinders (40) beim Verbinden des zweiten Verbinders (22) abhängig von der gewählten Ausrichtung des Verbinders (21) für integrierte Schaltungen bezogen auf die integrierte Schaltung derart, daß die Anschlußleitungen (12) der integrierten Schaltung in derselben Reihenfolge an die Kontakte des Testgerätverbinders (40) angeschlossen werden, anzuzeigen.

10. Verbinderanordnung nach Anspruch 9, dadurch gekenn zeichnet,
daß die Testgerätverbinderanordnung (40) eine feste Struktur von Kontakten (42) hat und ferner eine aus wechselbare Übergangsplatine (30) umfaßt, die folgende Merkmale aufweist:
eine erste Oberfläche mit einem ersten Satz Kontakte (31) zur Ineingriffnahme mit den Kontakten (23) des zweiten Verbinders (22);
eine zweite Oberfläche mit einem zweiten Satz Kontakte (32) zur Ineingriffnahme mit der festen Struktur der Kontakte (42); und
eine Einrichtung (33), um elektrische Verbindungen zwischen einem Satz der Kontakte (31) der ersten Oberfläche und einem Satz der Kontakte (32) der zweiten Oberfläche zu schaffen.