NL194248C - Verbindingsklemmensamenstel voor het testen van een ge´ntegreerde schakelingsbouwsteen. - Google Patents

Verbindingsklemmensamenstel voor het testen van een ge´ntegreerde schakelingsbouwsteen. Download PDF

Info

Publication number
NL194248C
NL194248C NL9300766A NL9300766A NL194248C NL 194248 C NL194248 C NL 194248C NL 9300766 A NL9300766 A NL 9300766A NL 9300766 A NL9300766 A NL 9300766A NL 194248 C NL194248 C NL 194248C
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
contacts
integrated circuit
connection terminal
test equipment
terminal
Prior art date
Application number
NL9300766A
Other languages
English (en)
Other versions
NL9300766A (nl
NL194248B (nl
Inventor
David Quinn Taylor
Original Assignee
Agilent Technologies Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agilent Technologies Inc filed Critical Agilent Technologies Inc
Publication of NL9300766A publication Critical patent/NL9300766A/nl
Publication of NL194248B publication Critical patent/NL194248B/nl
Application granted granted Critical
Publication of NL194248C publication Critical patent/NL194248C/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416Connectors, terminals
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K1/118Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits specially for flexible printed circuits, e.g. using folded portions
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0271Arrangements for reducing stress or warp in rigid printed circuit boards, e.g. caused by loads, vibrations or differences in thermal expansion
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/14Structural association of two or more printed circuits
    • H05K1/141One or more single auxiliary printed circuits mounted on a main printed circuit, e.g. modules, adapters
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/18Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/189Printed circuits structurally associated with non-printed electric components characterised by the use of a flexible or folded printed circuit
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/03Conductive materials
    • H05K2201/0332Structure of the conductor
    • H05K2201/0388Other aspects of conductors
    • H05K2201/0394Conductor crossing over a hole in the substrate or a gap between two separate substrate parts
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10007Types of components
    • H05K2201/10189Non-printed connector
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10621Components characterised by their electrical contacts
    • H05K2201/10689Leaded Integrated Circuit [IC] package, e.g. dual-in-line [DIL]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S439/00Electrical connectors
    • Y10S439/912Electrical connectors with testing means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Description

1 194248
Verbindlngsklemmensamenstel voor het testen van een geïntegreerde schakelingsbouwsteen
De uitvinding heeft betrekking op een verbindingsklemmensamenstel voor het testen van een geïntegreerde schakelingsbouwsteen die is voorzien van een aantal aansluitleidingen, een geïntegreerde schakelings-5 verbindingsklem die kan worden verbonden om te voorzien in elektrische contacten met ten minste enige van de geïntegreerde schakelingsbouwsteenaansluitleidingen, en een tweede verbindingsklem die een patroon van in een symmetrisch patroon rond een middelpunt ingerichte elektrische contacten heeft
Een dergelijke verbindingsklemmensamenstel is bijvoorbeeld bekend uit de Europese octrooipublicatie EP-A2-0.458.448. Deze octrooipublicatie openbaart een verbindingsklemmensamenstel, die in elektrisch 10 contact met de aansluitleidingen van een geïntegreerde schakeling kan worden gebracht. Ten behoeve van testdoeleinden is deze bekende verbindingsklemmensamenstel voorzien van een tweede verbindingsklem met symmetrische elektrische contacten, welke met een testinstrument verbindingsklem kunnen worden verbonden.
Het is vaak moeilijk om vrije toegang tot een geïntegreerde schakelingsbouwsteen voor het testen te 15 verkrijgen nadat deze op een printplaat is gemonteerd. Het is vaak bijzonder moeilijk om de testapparatuur-verbindingsklem in de geschikte oriëntatie aan de geïntegreerde schakelingsbouwsteen te bevestigen, gegeven ernstige ruimtebeperkingen. Dit probleem wordt verder verergerd in situaties waarin de printplaat in een drie-dimensionale inrichting met andere printplaten is verbonden. Een oplossing in het verleden is geweest een conventionele verbindingsklem met een lange flexibele kabel, die zich uitstrekte naar de 20 testapparatuur, te gebruiken. Deze benadering kan in sommige omstandigheden voldoen, maar lijdt aan de uiteindelijke beperking dat voldoende ruimte beschikbaar moet zijn om de verbindingsklem in de geschikte oriëntatie aan de geïntegreerde schakeling te bevestigen. Daarnaast kan de lengte van de kabel resulteren in buitensporige belasting van de geïntegreerde schakeling.
Een dergelijke toepassing wordt getoond in het Amerikaanse octrooischrift nummer 4.853.626 waarbij 25 een verbindingsklemmensamenstel 20 met een geteste geïntegreerde schakeling kan worden verbonden.
Voor testdoeleinden is het verbindingsklemmensamenstel 20 via een lange flexibele kabel 18, met een testapparaat verbonden.
Een primair doel van de onderhavige uitvinding is om te voorzien in een verbindingsklemmensamenstel dat in elk van een aantal oriëntaties met de geïntegreerde schakeling kan worden gekoppeld om ruimte- en 30 toegangsbeperkingen die gewoonlijk op printplaten worden ontmoet, aan te kunnen.
Een ander doel van de onderhavige uitvinding is om te voorzien in een algemeen verbindingsklemmensamenstel dat niet is beperkt tot een bepaalde penneninrichting voor het type geïntegreerde schakelingsbouwsteen dat door de verbindingsklem wordt behandeld. Een QFP-(quad flat pack) verbindingsklemmensamenstel met 132 pennen kan elk type QFP-behuizing met 132 pennen sonderen, ongeacht de 35 pennenrangschikking voor de inrichting.
Overeenkomstig de uitvinding is het verbindingsklemmensamenstel voorzien van een kenmerk door een flexibele schakeling die voorziet in een aantal geleiders vanaf de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem-contacten naar de tweede verbindingsklemcontacten en een testapparatuurverbindingsklemsamenstel dat een patroon van elektrische contacten heeft, voor koppeling in elk van een aantal mogelijke oriëntaties rond 40 het middelpunt van de tweede verbindingsklem met het patroon van tweede verbindingsklemcontacten, zodanig dat de geïntegreerde schakelingsaansluitleidingen in dezelfde volgorde met de testapparatuurver- _bindingsklemcontacten kunnen worden verbonden, ongeacht de geselecteerde oriëntatie van de geïnte-_ greerde schakelingsverbindingsklem bij koppeling met de geïntegreerde schakeling door het selecteren van een overeenkomstige van tevoren bepaalde van de mogelijke oriëntaties voor de testapparatuurverbindings-45 klem bij koppeling met de tweede verbindingsklem.
Voorts toont het Amerikaans octrooischrift nr. 4.757.256 een hoge dichtheidssondekaart voor testapparatuur om contact te maken met op een halfgeleiderschijf gevormde nog niet van elkaar gescheiden op grote schaal geïntegreerde schakelingsplakjes en deze te testen. De sondekaart gebruikt een sondereeks die een ringvormige vorm heeft met stellen draadsondes die in twee afwisselend tussengevoegde conische 50 patronen zijn ingericht.
Het Amerikaanse octrooischrift nr. 4.830.623 geeft een verbihdingskleminrichting aan de openbaarheid prijs voor het elektrisch doorverbinden van eerste en tweede reeksen contactvlakken.
Het Amerikaanse octrooischrift nr. 4.975,638 geeft een testsondesamenstel aan de openbaarheid prijs om geïntegreerde schakelingen te testen. De inrichting is voorzien van een contactorgaan dat is gevormd 55 van flexibel filmmateriaal dat op het onderoppervlak gevormde sondecontacten heeft in een patroon dat overeenstemt met contacten van de geïntegreerde schakeling.
Het Amerikaanse octrooischrift nr. 4.993.954 geeft een inrichting aan de openbaarheid prijs voor 194248 2 doorverbinding tussen een geïntegreerde schakeling en een elektrische schakeling. De gewenste doorverbindingen worden verschaft door gestapelde isolerende plaatjes. Elk plaatje wordt gekruist door een aantal geleidende kanalen, hetzij met, hetzij zonder bocht.
Het artikel van Holsopple e.a., getiteld: "Increased Useable I/O Pins on a Substrate”, dat is gepubliceerd 5 in IBM Technical Disclosure bulletin, jaargang 23, nummer 7a, december 1980 toont een inrichting die het bruikbare aantal I/O pennen voor een op een bovenste substraat onderdeel 10 gemonteerde siliciumchip 12 vergroot. Het bovenste substraat onderdeel 10 is door een reeks van pennen 24 en 26 verbonden met een benedenste substraat onderdeel 14 dat een gelijksoortig patroon van contacten en pennen 16 en 18 draagt. Geselecteerde pennen zijn elektrisch verbonden met metaallijnen 22.
10 Geen van de gevonden literatuurplaatsen laat een verbindingsklemmensamenstel zien, dat in elk van een aantal mogelijke oriëntaties met de geïntegreerde schakelingsbouwsteen kan worden gekoppeld om ruimteen toegangsbeperkingen op de printplaat aan te kunnen, terwijl de volgorde van de verbindingen vanaf de geïntegreerde schakelingsleidingen naar de testapparatuur wordt gehandhaafd. Daarenboven is de onderhavige uitvinding voorzien van een overgangskaart die het mogelijk maakt dat het verbindingsas samenstel gemakkelijk wordt verbonden met testapparatuur onder gebruikmaking van een van een verscheidenheid van verschillende contactpatronen.
Deze en andere voordelen, kenmerken en doelen van de onderhavige uitvinding zullen gemakkelijker worden begrepen met het oog op de volgende gedetailleerde beschrijving en de tekening.
20 In de tekening toont figuur 1 een aanzicht in perspectief met uiteengenomen delen van het verbindingsklemmensamenstel boven een te testen geïntegreerde schakelingsbouwsteen.
Figuur 2 een vereenvoudigd schema, dat het verbindingsklemmensamenstel laat zien, dat in de eerste van vier mogelijke oriëntaties aan een geïntegreerde schakeling is bevestigd.
25 Figuur 3 een vereenvoudigd schema, dat het verbindingsklemmensamenstel laat zien, dat in de tweede van vier mogelijke oriëntaties aan een geïntegreerde schakeling is bevestigd.
Figuur 4 een vereenvoudigd schema, dat het verbindingsklemmensamenstel laat zien, dat in de derde van vier mogelijke oriëntaties aan een geïntegreerde schakeling is bevestigd.
Figuur 5 een vereenvoudigd schema, dat het verbindingsklemmensamenstel laat zien, dat in de vierde 30 van vier mogelijke oriëntaties aan een geïntegreerde schakeling is bevestigd.
Figuur 6 een monsterdiagram, dat een signaaloverzicht vanaf de leidingen van een geïntegreerde schakeling naar de contacten van de tweede verbindingsklem laat zien.
Figuur 7 een bovenaanzicht van de eerste laag van de flexibele schakeling, die de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem met de tweede verbindingsklemcontacten verbindt.
35 Figuur 8 een bovenaanzicht van de tweede laag van de flexibele schakeling, die de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem met de tweede verbindingsklemcontacten verbindt.
Figuur 9 een bovenaanzicht van de derde laag van de flexibele schakeling, die de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem met de tweede verbindingsklemcontacten verbindt.
Figuur 10 een bovenaanzicht van de vierde laag van de flexibele schakeling, die de geïntegreerde 40 schakelingsverbindingsklem met de tweede verbindingsklemcontacten verbindt.
Figuur 11 een bovenaanzicht van de eerste laag van doorverbindingen van de contacten op een monsterovergangskaart.
Figuur 12 een bovenaanzicht van de tweede laag van doorverbindingen van de contacten op een monsterovergangskaart.
45
Verwijzend nu naar figuur 1 is de onderhavige uitvinding in aanzicht in perspectief getoond. Het verbindings-klemmensamenstel 20 heeft een geïntegreerde schakelingsverbindingsklem 21 die is bevestigd over de aansluitleidingen 12 van de te testen geïntegreerde schakeling 10. De in figuur 1 weergegeven geïntegreerde schakeling 10 is bijvoorbeeld een conventionele geïntegreerde QFP-schakelingsbouwsteen. De 50 geïntegreerde schakelingsbouwsteen heeft een in hoofdzaak vierkante vorm met zich vanaf elk van de vier kanten ervan uitstrekkende 33 aansluitleidingen. De geïntegreerde schakelingsverbindingsklem 21 heeft een overeenkomstig stel elektrische contacten dat in contact komt met elk van de aansluitleidingen 12 van de geïntegreerde schakelingsbouwsteen 10 wanneer de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem in elk van vier mogelijke oriëntaties over de geïntegreerde schakeling wordt geschoven. Een stip of andere visuele 55 aanduiding 14 op het bovenoppervlak van de geïntegreerde schakeling 10 geeft de plaats van pen 1 aan.
De geïntegreerde schakelingsverbindingsklem 21 is voorzien van visuele aanduidingen 28, zoals streepjes, kleurcodering of referentiegetallen, om te laten zien welke van de vier mogelijke oriëntaties is toegepast met 3 194248 betrekking tot de stip 14.
Het tegengestelde einde van het verbindingsklemmensamenstel 20 is voorzien van een tweede verbindingsklem 22 die een aantal elektrische contacten 23 heeft. Deze contacten 23 zijn in een symmetrisch patroon rond een middelpunt ingericht. De in de tekening getoonde de voorkeur hebbende 5 uitvoeringsvorm bijvoorbeeld gebruikt een 12 bij 12 rooster van contacten 23 om te voorzien in een standaard PGA- (pin grid array) verbinding voor testapparatuur. Andere symmetrische patronen kunnen echter worden toegepast. Het patroon van contacten 23 op de tweede verbindingsklem 22 is verdeeld in vier identiek gevormde gebieden die symmetrisch rondom het middelpunt van het patroon zijn aangebracht.
De geïntegreerde schakelingsverbindingsklem 21 en de tweede verbindingsklem 22 zijn aan elkaar 10 geknoopt door een korte flexibele schakeling of kabel 25. Deze flexibele schakeling 25 heeft een reeks geleiders die lopen vanaf elk van de geïntegreerde schakelingsverbindingsklemcontacten naar de tweede verbindingsklemcontacten 23. In de de voorkeur hebbende uitvoeringsvorm is de flexibele schakeling 25 gevormd door het opstapelen van vier discrete lagen 70, 80, 90 en 100 zoals in figuren 7 tot en met 10 is getoond. De eerste einden 71, 81, 91 en 101 van deze lagen zijn uitgericht door pennen in de geïnte-15 greerde schakelingsverbindingsklem 21 om te voorzien in elektrisch contact met de aansluitleidingen 12 van de geïntegreerde schakeling 10. De tweede einden 74, 84, 94 en 104 van de lagen zijn samen gelamineerd en door pennen in de tweede verbindingsklem verbonden om te voorzien in elektrische verbindingen met geselecteerde contacten 75, 85, 95 en 105 op het bovenoppervlak van de tweede verbindingsklem 22. Elke laag 70, 80, 90 en 100 heeft een aantal geleiders 73, 83, 93 en 103 dat de contacten langs een kant 72, 20 82, 92 en 102 van de geïntegreerde schakeling 10 in een van de vier gebieden van contacten 23 van de tweede verbindingsklem 22 afbeeldt, zoals in figuren 7 tot en met 10 is getoond.
Een voorbeeld van het resulterende overzicht van verbindingen is in figuur 6 getoond. Het bovenste gedeelte van figuur 6 laat het conventionele nummeringsschema voor een geïntegreerde QFP-schakelingsbehuizing met 132 pennen zien. Het benedenste gedeelte van figuur 6 laat de overeenkomstige 25 inrichting van de contacten 23 op de tweede verbindingsklem 22 zien. (Merkt op dat elk van 132 pennen van de geïntegreerde schakeling is afgebeeld in een van de 144 contacten 23 op de tweede verbindingsklem 22,) en wel in een symmetrisch patroon rond het midden van het rooster.
(Ongebruikte contacten, die met een ”X” zijn gemarkeerd, zijn aan aarde geknoopt). Dit patroon kan worden beschreven als een type van oneven symmetrie. Gegeven een rechthoekige geïntegreerde 30 schakelingsbouwsteen bijvoorbeeld kan de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem 21 in elk van vier oriëntaties met betrekking tot pen 1 van de geïntegreerde schakeling 10 worden bevestigd (d.w.z. 0,90,180 en 270 graden). Elk van de vier mogelijke oriëntaties zijn in figuren 2 tot en met 5 getoond. De resulterende onderlinge volgorde van de contacten 23 op de tweede verbindingsklem 22 roteert dienovereenkomstig. -Indien bijvoorbeeld de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem 21 wordt bevestigd met de geïntegreerde 35 schakeling 10 zoals in figuur 1 is getoond, zal pen 1 worden afgebeeld in de contacten 23 van de tweede verbindingsklem 22, zoals in figuur 6 is getoond. Indien de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem tegen de wijzers van de klok in met 90 graden wordt geroteerd, wordt pen 1 effectief pen 34 en wordt deze dienovereenkomstig afgebeeld in het rooster van contacten op de tweede verbindingsklem. Gelijksoortiger-wijze verschuiven achtereenvolgende aanvullende 90 graden rotaties pen 1 effectief naar pen 67 en dan 40 naar pen 100. In elk geval roteren de andere contacten 23 op de tweede verbindingsklem dienovereenkomstig, zodat hun onderlinge volgorde in alle vier de mogelijke oriëntaties wordt gehandhaafd.
_De testapparatuur wordt verbonden door middel van een testapparatuurverbindingsktem 40. zoais in_ figuur 1 is getoond. In een uitvoeringsvorm heeft de testapparatuurverbindingsklem 40 een patroon van contacten 42 (d.w.z. een 12 bij 12 rooster) dat het mogelijk maakt dat deze direct met de tweede 45 verbindingsklem 22 kan worden verbonden. Alternatief kan een uitwisselbare overgangskaart 30 tussenin worden aangebracht om te voorzien in een maatverbindingsinrichting tussen de tweede verbindingsklem en de testapparatuurverbindingsklem, zoals in figuur 1 is getoond.
Zoals met de verbinding tussen de geïntegreerde schakeling 10 en de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem 21 is het fysisch mogelijk de testapparatuurverbindingsklem 40 in elk van vier mogelijke 50 oriëntaties met de tweede verbindingsklem 22 te verbinden. De gebruiker dient echter de geschikte oriëntatie voor bevestiging van de testapparatuurverbindingsklem met de tweede verbindingsklem te selecteren, die resulteert in correcte ordening van de elektrische verbindingen tussen de geïntegreerde schakelingspennen 12 en de testapparatuurcontacten 45, zoals in figuren 2 tot en met 5 is getoond. De geschikte oriëntatie voor de testapparatuurverbindingsklem wordt op één-op-één basis voorgeschreven door 55 de geselecteerde oriëntatie van de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem met betrekking tot de geïntegreerde schakeling. De markeringen 29 op de tweede verbindingsklem, die in figuur 1 zijn getoond, voorzien in een eenvoudige wijze voor het verschaffen van een visuele aanduiding voor de gebruiker van de

Claims (9)

194248 4 correcte oriëntatie voor de testapparatuurverbindingsklem. Figuren 2 tot en met 8 demonstreren elk van deze vier combinaties van oriëntaties voor de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem en testapparatuurverbindingsklem. Figuren 11 en 12 voorzien in verdere details van een monsterovergangskaart 30 voor een Motorola 5 68020 microprocessor. Het benedenste oppervlak van de overgangskaart 30 heeft een 12 bij 12 rooster van contacten 31 om te worden bevestigd met het overeenkomstige rooster van contacten 23 op de bovenzijde van de tweede verbindingsklem 22. Het bovenoppervlak heeft een patroon van contacten 32 dat is neergelegd in een onvolledig 13 bij 13 rooster om te koppelen met het conventionele patroon van contacten dat wordt gebruikt in testapparatuur voor Motorola 68020 processoren. Een stip of andere visuele aandui-10 ding 35 helpt te verzekeren dat de overgangskaart 30 in de geschikte oriëntatie met de apparatuur- verbindingsklem 40 is bevestigd. De overgangskaart wordt typisch uitgevoerd als een meerlagige printplaat met signaalsporen 33 die geselecteerde contacten 31 op het benedenste oppervlak doorverbinden met geiselecteerde contacten 32 op het bovenste oppervlak om te voorzien in het gewenste verbindingsprotocol, zoals bijvoorbeeld in figuren 11 en 12 is getoond. Andere verbindingen kunnen gemakkelijk worden 15 gerealiseerd door het eenvoudig veranderen van de overgangskaart 30. De bovenstaande beschrijving zet een aantal uitvoeringsvormen van de onderhavige uitvinding uiteen. Andere inrichtingen of uitvoeringsvormen die niet precies zijn uiteengezet, zouden in overeenstemming met hetgeen de onderhavige uitvinding leert en zoals in de volgende conclusies is uiteengezet, in de praktijk kunnen worden gebracht. 20
1. Verbindingsklemmensamenstel voor het testen van een geïntegreerde schakelingsbouwsteen die is 25 voorzien van een aantal aansluitleidingen, een geïntegreerde schakelingsverbindingsklem die kan worden verbonden om te voorzien in elektrische contacten met ten minste enige van de geïntegreerde schakelings-bouwsteenaansluitleidingen, en een tweede verbindingsklem die een patroon van in een symmetrisch patroon rond een middelpunt ingerichte elektrische contacten heeft, gekenmerkt door een flexibele schakeling (25) die voorziet in een aantal geleiders vanaf de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem-30 contacten naar de tweede verbindingsklemcontacten (23), en een testapparatuurverbindingsklemsamenstel (40) dat een patroon van elektrische contacten heeft, voor koppeling in elk van een aantal mogelijke oriëntaties rond het middelpunt van de tweede verbindingsklem (22) met het patroon van tweede verbindingsklemcontacten, zodanig dat de geïntegreerde schakelingsaanstuitleidingen (12) in dezelfde volgorde met de testapparatuurverbindingsklemcontacten kunnen worden verbonden, ongeacht de 35 geselecteerde oriëntatie van de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem (21) bij koppeling met de geïntegreerde schakeling (10) door het selecteren van een overeenkomstige van tevoren bepaalde van de mogelijke oriëntaties voor de testapparatuurverbindingsklem bij koppeling met de tweede verbindingsklem.
2. Verbindingsklemmensamenstel volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat de tweede verbindingsklemcontacten (23) in een vierkant rooster zijn ingericht.
3. Verbindingsklemmensamenstel volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat het testapparatuurverbindings-klemsamenstel (40) een vast patroon van contacten (42) heeft en verder een uitwisselbare overgangskaart (30) omvat, die een eerste oppervlak met een eerste stel contacten (31) voor koppeling met de tweede verbindingsklemcontacten (23) heeft, een tweede oppervlak met een tweede stel contacten (32) voor koppeling met het vaste patroon van contacten, en een inrichting (33) voor het voorzien in elektrische 45 verbindingen tussen een stel van de eerste oppervlakcontacten en een stel van de tweede oppervlak-contacten.
4. Verbindingsklemmensamenstel volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat dit verder ten minste één visuele aanduiding (28,29) omvat, om geschikte oriëntatie van de testapparatuurverbindingsklem (40) in ingrijping met de tweede verbindingsklem (22) aan te geven, die overeenkomt met de geselecteerde 50 oriëntatie van de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem (21) in ingrijping met de geïntegreerde schakeling (10).
5. Verbindingsklemmensamenstel voor het testen van een geïntegreerde schakelingsbouwsteen die een in hoofdzaak vierkante vorm heeft met een aantal aansluitleidingen dat zich vanaf elk van de vier kanten ervan uitstrekt, waarbij de geïntegreerde schakelingsbouwsteen is voorzien van een geïntegreerde schakelings- 55 verbindingsklem die contacten heeft, die met de aansluitleidingen van de geïntegreerde schakelingsbouwsteen kunnen worden verbonden, en een tweede verbindingsklem die een patroon van contacten heeft, dat in vier in hoofdzaak identiek gevormde, symmetrisch rond een middelpunt ingerichte gebieden is 5 194248 verdeeld, gekenmerkt door een flexibele schakeling (25) die geleiders heeft, die de geïntegreerde schake-lingsverbindingsklemcontacten met de tweede verbindingsklemcontacten (23) verbindt, waarbij de geïntegreerde schakelingsaansiuitleidingen (12) voor elke kant in een consistent patroon in een van de gebieden van de tweede verbindingscontacten zijn afgebeeld, waarbij de contacten van de geïntegreerde schakelings-5 verbindingsklem (21) in eik van vier mogelijke oriëntaties met de aansluitleidingen van de geïntegreerde schakelingsbouwsteen kunnen worden verbonden, een testapparatuurverbindingsklemsamenstel (40) dat een patroon van elektrische contacten voor koppeling met het patroon van tweede verbindingsklemcontacten in elk van vier mogelijke oriëntaties heeft, en ten minste één visuele aanduiding (28, 29) om de geschikte oriëntatie voor de testapparatuurverbindingsklem aan te geven om afhankelijk van de geseiec-10 teerde oriëntatie voor de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem met betrekking tot de geïntegreerde schakeling met de tweede verbindingsklem (22) te koppelen, zodat de geïntegreerde schakelingsaansluit-leidingen in dezelfde volgorde met de testapparatuurverbindingsklemcontacten zijn verbonden.
6. Verbindingsklemmensamenstel volgens conclusie 5, met het kenmerk, dat het testapparatuurverbindings-klemsamenstel (40) een vast patroon van contacten (42) heeft en verder een uitwisselbare overgangskaart 15 (30) omvat, die een eerste oppervlak met een eerste stel contacten (31) om te koppelen met de tweede verbindingsklemcontacten heeft, een tweede oppervlak met een tweede stel contacten (32) om te koppelen met het vaste patroon van contacten, en een inrichting voor het voorzien in elektrische verbindingen (33) tussen een stel van de eerste oppervlakcontacten en een stel van de tweede oppervlakcontacten.
7. Verbindingsklemmensamenstel volgens conclusie 5, met het kenmerk, dat de flexibele schakeling (25) 20 vier lagen (70,80, 90,100) omvat, waarbij elke laag geleiders (73, 83, 93 en 103) heeft, die contacten langs een kant van de geïntegreerde schakelingscontacten verbinden met een van de gebieden van de tweede verbindingsklemcontacten.
8. Verbindingsklemmensamenstel volgens conclusie 5, met het kenmerk, dat de tweede verbindingsklemcontacten (23) in een vierkant rooster zijn ingericht.
9. Verbindingsklemmensamenstel voor het testen van een geïntegreerde schakelingsbouwsteen die een in hoofdzaak vierkante vorm heeft met een aantal aansluitleidingen dat zich vanaf elk van de vier kanten ervan uitstrekt, waarbij de geïntegreerde schakelingsbouwsteen is voorzien van een geïntegreerde schakelingsverbindingsklem die contacten heeft, die met de aansluitleidingen van de geïntegreerde schakelingsbouwsteen kunnen worden verbonden, en een tweede verbindingsklem die een in hoofdzaak vierkant 30 rooster van contacten heeft, dat is verdeeld in vier in hoofdzaak identiek gevormde, rond een middelpunt symmetrisch ingerichte gebieden, gekenmerkt door een flexibele schakeling (25) met vier lagen, waarbij elke laag geleiders heeft, die geïntegreerde schakelingsverbindingsklemcontacten langs een kant van de geïntegreerde schakeling afbeelden in een van de gebieden van de tweede verbindingsklemcontacten (23), waarbij de contacten van de geïntegreerde schakelingsverbindingsklem (21) in elk van vier mogelijke 35 oriëntaties met de aansluitleidingen van de geïntegreerde schakelingsbouwsteen kunnen worden verbonden, een testapparatuurverbindingsklemsamenstel (40) dat een patroon van elektrische contacten heeft voor koppeling in elk van vier mogelijke oriëntaties met het patroon van tweede verbindingsklemcontacten, en ten minste één visuele aanduiding (28, 29) om de geschikte oriëntatie aan te geven, opdat de testapparatuurverbindingsklem afhankelijk van de geselecteerde oriëntatie voor de geïntegreerde schakelingsverbindings-40 klem met betrekking tot de geïntegreerde schakeling met de tweede verbindingsklem (22) koppelt, zodat de geïntegreerde schakelingsaansiuitleidingen in dezelfde volgorde met de testapparatuurverbindings-klemcontacten zijn verbonden. ~i0rVefbiridingsklemmensamenstël~völgens corïclüsie~9rmet hetkenmerkrdathet testapparatuurverbin-- dingsklemsamenstel (40) een vast patroon van contacten heeft en verder een uitwisselbare overgangskaart 45 (30) omvat, die een eerste oppervlak met een eerste stel contacten (31) heeft om te koppelen met de tweede verbindingsklemcontacten, een tweede oppervlak met een tweede stel contacten (32) om te koppelen met het vaste patroon van contacten, en een inrichting voor het voorzien in elektrische verbindingen (33) tussen een stel van de eerste oppervlakcontacten en een stel van de tweede oppervlakcontacten. Hierbij 10 bladen tekening
NL9300766A 1992-09-08 1993-05-06 Verbindingsklemmensamenstel voor het testen van een ge´ntegreerde schakelingsbouwsteen. NL194248C (nl)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US94158292 1992-09-08
US07/941,582 US5266059A (en) 1992-09-08 1992-09-08 Generic rotatable connector assembly for testing integrated circuit packages

Publications (3)

Publication Number Publication Date
NL9300766A NL9300766A (nl) 1994-04-05
NL194248B NL194248B (nl) 2001-06-01
NL194248C true NL194248C (nl) 2001-10-02

Family

ID=25476720

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL9300766A NL194248C (nl) 1992-09-08 1993-05-06 Verbindingsklemmensamenstel voor het testen van een ge´ntegreerde schakelingsbouwsteen.

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5266059A (nl)
JP (1) JP3207024B2 (nl)
DE (1) DE4315082C2 (nl)
NL (1) NL194248C (nl)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5564932A (en) * 1994-11-14 1996-10-15 Castleman; Mark-Andrew B. Customizeable interconnect device for stacking electrical components of varying configuration
JP3589726B2 (ja) * 1995-01-31 2004-11-17 株式会社ルネサスソリューションズ エミュレータプローブ
US5625299A (en) * 1995-02-03 1997-04-29 Uhling; Thomas F. Multiple lead analog voltage probe with high signal integrity over a wide band width
JPH08278900A (ja) * 1995-04-04 1996-10-22 Mitsubishi Electric Corp エミュレータプローブ
KR100211034B1 (ko) * 1996-12-20 1999-07-15 이계철 광커넥터용 기계적 특성 복합시험장치
US6046421A (en) * 1997-11-06 2000-04-04 Computer Service Technology, Inc. PCB Adapter for a test connector assembly for an automatic memory module handler for testing electronic memory modules
US5973285A (en) * 1997-11-26 1999-10-26 Computer Service Technology, Inc. Connector alignment assembly for an electronic memory module tester
HU224993B1 (en) 1999-01-28 2006-05-29 Framatome Connectors Int Connector system and electrical connector
KR100636041B1 (ko) * 1999-01-28 2006-10-19 에프씨아이 다수의 배향으로 정합 가능한 전기 커넥터
EP1701384A1 (en) * 2005-03-08 2006-09-13 Sun Microsystems France S.A. Network chip design for grid communication
US7528616B2 (en) * 2005-05-27 2009-05-05 Lsi Corporation Zero ATE insertion force interposer daughter card
US7887332B2 (en) * 2009-02-19 2011-02-15 Dell Products L.P. System and method for rotatable information handling system power cable connection
US8476918B2 (en) * 2010-04-28 2013-07-02 Tsmc Solid State Lighting Ltd. Apparatus and method for wafer level classification of light emitting device
CN104897929B (zh) * 2015-05-19 2019-01-01 苏州高新区世纪福科技有限公司 一种翻转式测试治具

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4460236A (en) * 1981-12-17 1984-07-17 At&T Bell Laboratories Test apparatus for electrical circuit boards
US4516072A (en) * 1982-11-22 1985-05-07 Amp Incorporated Device for use in testing printed circuit board components
US4866374A (en) * 1984-10-12 1989-09-12 Daymarc Corporation Contactor assembly for testing integrated circuits
US4837622A (en) * 1985-05-10 1989-06-06 Micro-Probe, Inc. High density probe card
US4757256A (en) * 1985-05-10 1988-07-12 Micro-Probe, Inc. High density probe card
US4853626A (en) * 1987-03-10 1989-08-01 Xilinx, Inc. Emulator probe assembly for programmable logic devices
US4835469A (en) * 1987-07-24 1989-05-30 John Fluke Mfg. Co., Inc. Integrated circuit clip for circuit analyzer
US4830623A (en) * 1988-02-10 1989-05-16 Rogers Corporation Connector arrangement for electrically interconnecting first and second arrays of pad-type contacts
FR2634340B1 (fr) * 1988-07-13 1994-06-17 Thomson Csf Dispositif d'interconnexion entre un circuit integre et un circuit electrique, application du dispositif a la connexion d'un circuit integre notamment a un circuit imprime, et procede de fabrication du dispositif
DE3838413A1 (de) * 1988-11-12 1990-05-17 Mania Gmbh Adapter fuer elektronische pruefvorrichtungen fuer leiterplatten und dergl.
US4975638A (en) * 1989-12-18 1990-12-04 Wentworth Laboratories Test probe assembly for testing integrated circuit devices
US5166609A (en) * 1990-05-24 1992-11-24 Tektronix, Inc. Adapter and test fixture for an integrated circuit device package
US5057023A (en) * 1990-06-01 1991-10-15 Intel Corporation High density connector system

Also Published As

Publication number Publication date
NL9300766A (nl) 1994-04-05
DE4315082C2 (de) 1995-11-30
DE4315082A1 (de) 1994-03-10
NL194248B (nl) 2001-06-01
US5266059A (en) 1993-11-30
JP3207024B2 (ja) 2001-09-10
JPH06213963A (ja) 1994-08-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL194248C (nl) Verbindingsklemmensamenstel voor het testen van een ge´ntegreerde schakelingsbouwsteen.
US3917984A (en) Printed circuit board for mounting and connecting a plurality of semiconductor devices
US6627984B2 (en) Chip stack with differing chip package types
US7081373B2 (en) CSP chip stack with flex circuit
US4716500A (en) Probe cable assembly
US4871317A (en) Surface mounted component adaptor for interconnecting of surface mounted circuit components
JP2002062315A (ja) コンタクトストラクチャ
JPH10185947A (ja) プローブ・アダプタ
US4016463A (en) High density multilayer printed circuit card assembly and method
US7514943B2 (en) Coordinate transforming apparatus for electrical signal connection
US6467163B1 (en) Universal component mounting structure for surface mountable electronic devices
TWI325499B (en) Apparatus for inspecting a liquid crystal display panel
US8476919B2 (en) Prober unit
JP4031185B2 (ja) プリント回路基板検査器
JP3322774B2 (ja) 多極端子板およびプローブ装置
JPH06180343A (ja) Ic測定装置用テストボード
JPH0668532B2 (ja) 高密度接続ポイントの回路基板試験装置
US7459921B2 (en) Method and apparatus for a paddle board probe card
JP3600159B2 (ja) Icチップ
JP2000156253A (ja) 積層型コネクター装置および回路基板の検査装置
JPH09184853A (ja) プローブユニット
JPH03120484A (ja) 集積回路検査装置
JPH05288803A (ja) Icトレー
JPS62297761A (ja) 実装用基板の検査方法およびそのテストボ−ド
JPH11258311A (ja) コンタクト装置と、それに用いる導電ピン及びガイドソケット

Legal Events

Date Code Title Description
A1A A request for search or an international-type search has been filed
BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
CNR Transfer of rights (patent application after its laying open for public inspection)

Free format text: AGILENT TECHNOLOGIES, INC A DELAWARE CORPORATION;HEWLETT-PACKARD COMPANY A DELAWARE CORPORATION

V1 Lapsed because of non-payment of the annual fee

Effective date: 20031201