DE3219503A1 - Vorrichtung zum selbsttaetigen fokussieren auf in optischen geraeten zu betrachtende objekte - Google Patents

Vorrichtung zum selbsttaetigen fokussieren auf in optischen geraeten zu betrachtende objekte

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GB08312404A GB2122045B (en) 1982-05-25 1983-05-06 Automatic focussing
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JP58084275A JPS58217909A (ja) 1982-05-25 1983-05-16 光学器械で観察中の対象物に自動的に焦点を合わせる装置
US06/496,587 US4595829A (en) 1982-05-25 1983-05-20 Apparatus for automatically focusing objects to be viewed in optical instruments
FR8308535A FR2527788B1 (fr) 1982-05-25 1983-05-24 Dispositif pour la focalisation automatique d'objets a examiner dans des appareils optiques
CH2854/83A CH664835A5 (de) 1982-05-25 1983-05-25 Vorrichtung zum selbsttaetigen fokussieren auf in optischen geraeten zu betrachtende objekte.

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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3527322A1 (de) * 1985-07-31 1987-02-12 Zeiss Carl Fa Autofokuseinrichtung fuer auflichtmikroskope
DE3639497A1 (de) * 1985-11-20 1987-05-21 Olympus Optical Co Fokusfeststellungsvorrichtung
DE3641048A1 (de) * 1985-12-02 1987-06-04 Olympus Optical Co Vorrichtung zur erkennung des fokussiergrades
DE3635560A1 (de) * 1985-12-23 1987-06-25 Jenoptik Jena Gmbh Aktive opto-elektronische anordnung zur automatischen fokussierung
US5299053A (en) * 1990-10-26 1994-03-29 American Cyanamid Company Variable shutter illumination system for microscope
US6879440B2 (en) 2002-02-02 2005-04-12 Leica Microsystems Semiconductor Gmbh Autofocus module and method for a microscope-based system
DE102010030430A1 (de) 2010-06-23 2011-12-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Autofokuseinrichtung für Mikroskope und geeignete Autofokus-Aperturblenden
DE102011003807A1 (de) 2011-02-08 2012-08-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop mit Autofokuseinrichtung und Verfahren zur Autofokussierung bei Mikroskopen
DE102011084562A1 (de) 2011-10-14 2013-04-18 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung und Korrektur von sphärischen Abbildungsfehlern in einem mikroskopischen Abbildungsstrahlengang
WO2018096003A1 (de) * 2016-11-22 2018-05-31 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop zur abbildung eines objekts
US11774739B2 (en) 2016-11-22 2023-10-03 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Method for controlling or regulating a microscope illumination

Families Citing this family (53)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2135150A (en) * 1983-02-15 1984-08-22 Gen Electric Optical inspection system
US4782239A (en) * 1985-04-05 1988-11-01 Nippon Kogaku K. K. Optical position measuring apparatus
JP2503388B2 (ja) * 1985-04-17 1996-06-05 株式会社ニコン レ−ザ−加工用光学装置
DE3617421A1 (de) * 1986-04-30 1987-11-05 Leitz Ernst Gmbh Optisches bauelement und vorrichtung zu dessen verwendung
US4935612A (en) * 1986-05-16 1990-06-19 Reichert Jung Optische Werks, A.G. Autofocus system and method of using the same
DE3707487A1 (de) * 1986-05-16 1987-11-26 Reichert Optische Werke Ag Verfahren zur autofokussierung von mikroskopen und mikroskope mit einer autofokussierung
JPS63153456A (ja) * 1986-12-18 1988-06-25 Yokogawa Electric Corp 光デイスクテストシステム
JPS63153455A (ja) * 1986-12-18 1988-06-25 Yokogawa Electric Corp 光デイスクテストシステム
DE3703422A1 (de) * 1987-02-05 1988-08-18 Zeiss Carl Fa Optoelektronischer abstandssensor
JPH07107481B2 (ja) * 1987-05-21 1995-11-15 アンリツ株式会社 変位測定装置
DE3720079A1 (de) * 1987-06-16 1988-12-29 Breitmeier Ulrich Optischer abtastkopf
JPS6419910U (de) * 1987-07-25 1989-01-31
JPH01142520A (ja) * 1987-11-27 1989-06-05 Hiroshi Kuminato 測定顕微鏡
US4945220A (en) * 1988-11-16 1990-07-31 Prometrix Corporation Autofocusing system for microscope having contrast detection means
US5251011A (en) * 1989-06-28 1993-10-05 Dainippon Screen Manufacturing Co., Ltd. Displacement detection system
DE69014439T2 (de) * 1989-06-28 1995-04-06 Dainippon Screen Mfg Verschiebungsdetektionssystem.
JP2757541B2 (ja) * 1990-06-29 1998-05-25 キヤノン株式会社 焦点検出装置及びそれを備えた観察装置
JPH0518862U (ja) * 1991-08-29 1993-03-09 古河電気工業株式会社 回路基板へのクリーム半田印刷用マスク
JPH05142462A (ja) * 1991-11-18 1993-06-11 Olympus Optical Co Ltd 合焦装置
JPH06239006A (ja) * 1993-02-13 1994-08-30 Meiban Kogei Kk ポッティング加工方法
US5434632A (en) * 1993-03-22 1995-07-18 U.S. Philips Corporation Image projection apparatus with a autofocusing system
GB9705105D0 (en) 1997-03-12 1997-04-30 Brown & Sharpe Limited Optical surface measurement apparatus and methods
US6251101B1 (en) 1998-06-26 2001-06-26 Visx, Incorporated Surgical laser system microscope with separated ocular and objective lenses
JP4491661B2 (ja) * 1999-11-17 2010-06-30 株式会社トプコン 光波距離計
DE19963345A1 (de) 1999-12-27 2001-07-05 Leica Microsystems Optische Messanordnung und Verfahren zur Neigungsmessung
US6974938B1 (en) * 2000-03-08 2005-12-13 Tibotec Bvba Microscope having a stable autofocusing apparatus
FR2836520B1 (fr) * 2002-02-28 2004-07-16 Univ Joseph Fourier Actionneur et moteur osmotiques
IL148664A0 (en) * 2002-03-13 2002-09-12 Yeda Res & Dev Auto-focusing method and device
JP4370554B2 (ja) * 2002-06-14 2009-11-25 株式会社ニコン オートフォーカス装置およびオートフォーカス付き顕微鏡
DE10234757B4 (de) 2002-07-30 2004-08-26 Leica Microsystems Semiconductor Gmbh Autofokusmodul für Mikroskopbasierte Systeme
DE10234756B3 (de) 2002-07-30 2004-02-12 Leica Microsystems Semiconductor Gmbh Autofokusmodul für mikroskopbasierte Systeme
DE10244618A1 (de) * 2002-09-25 2004-04-08 Olympus Biosystems Gmbh Einrichtung und Verfahren zur optischen Objektuntersuchung oder/und Erfassung oder/und Untersuchung von Schichten
GB0321918D0 (en) * 2003-09-19 2003-10-22 Aoti Operating Co Inc Focusing system and method
JP4800655B2 (ja) 2005-04-01 2011-10-26 オリンパス株式会社 光測定装置
JP4923541B2 (ja) 2005-11-30 2012-04-25 株式会社ニコン 顕微鏡
EP1934554A4 (de) * 2006-05-02 2010-07-14 Quality Vision Internat Inc Adapter für eine laserbereichs-sensorensystemoptik und entsprechendes verfahren
US7791731B2 (en) * 2007-12-18 2010-09-07 Quality Vision International, Inc. Partial coherence interferometer with measurement ambiguity resolution
US8638437B2 (en) 2008-02-14 2014-01-28 J.A. Woollam Co., Inc. System and method of aligning a sample
US8064055B2 (en) * 2008-02-14 2011-11-22 J.A. Woollam Co., Inc. System and method of aligning a sample
EP2144087B1 (de) * 2008-07-11 2010-05-26 Pepperl + Fuchs GmbH Verfahren und Ultraschallsensor zur Höhenbestimmung von Objekten auf einer Transporteinrichtung
US8983787B1 (en) 2008-12-12 2015-03-17 Martin M. Liphardt Method of evaluating data quality
BRPI1011689B1 (pt) 2009-03-11 2019-12-17 Sakura Finetek Usa Inc método de autofocalização e dispositivo de autofocalização
DE102011077001A1 (de) * 2011-06-06 2012-12-06 Siemens Aktiengesellschaft Autofokusregelung für ein optisches Inspektionssystem
JP6313211B2 (ja) 2011-10-25 2018-04-18 デイライト ソリューションズ、インコーポレイテッド 赤外撮像顕微鏡
CN103091827B (zh) * 2013-02-01 2015-09-09 沈阳博兴亚达科技有限公司 高清自动识别比对显微镜及痕迹自动识别比对方法
WO2014209471A2 (en) 2013-04-12 2014-12-31 Daylight Solutions, Inc. Infrared refractive objective lens assembly
DE102013103971A1 (de) 2013-04-19 2014-11-06 Sensovation Ag Verfahren zum Erzeugen eines aus mehreren Teilbildern zusammengesetzten Gesamtbilds eines Objekts
US10007102B2 (en) 2013-12-23 2018-06-26 Sakura Finetek U.S.A., Inc. Microscope with slide clamping assembly
JP5804154B2 (ja) * 2014-07-14 2015-11-04 株式会社ニコン オートフォーカス光学装置、顕微鏡
US10317663B2 (en) 2015-02-27 2019-06-11 General Electric Company Determination of deflection of a microscope slide
CN105004324B (zh) * 2015-05-16 2018-07-17 上海砺晟光电技术有限公司 一种具有三角测距功能的单目视觉传感器
US11280803B2 (en) 2016-11-22 2022-03-22 Sakura Finetek U.S.A., Inc. Slide management system
TW201830168A (zh) 2016-12-08 2018-08-16 美商精微超科技公司 用於重構晶圓之微影製程之對焦控制的掃描方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2443167B2 (de) * 1974-09-10 1976-12-30 Gesellschaft für Strahlen- und Umweltforschung mbH, 8000 München Scharfeinstellvorrichtung
DE2423136B2 (de) * 1974-05-13 1977-11-24 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Vorrichtung zur automatischen fokussierung von stereomikroskopen
DE2102922B2 (de) * 1971-01-22 1977-12-22 Anordnung zum selbsttaetigen fokussieren auf in optischen geraeten zu betrachtende objekte

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1520082A (fr) * 1967-04-20 1968-04-05 Leitz Ernst Gmbh Microscope avec dispositifs complémentaires interchangeables
JPS5114433B1 (de) * 1971-07-29 1976-05-10
DE2260474C3 (de) * 1972-12-11 1981-10-08 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar Verfahren und Einrichtung zur Scharfeinstellung eines Objektivs
NL7414776A (nl) * 1974-11-13 1976-05-17 Philips Nv Inrichting voor het uitlezen van een registra- tiedrager met een optische informatiestruktuur.
DE2460805C2 (de) * 1974-12-21 1983-01-27 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar Optischer Entfernungsmesser
FR2325953A1 (fr) * 1975-09-29 1977-04-22 Thomson Brandt Senseur optique de focalisation et dispositif de focalisation comportant un tel senseur
JPS5617329A (en) * 1979-07-23 1981-02-19 Canon Inc Distance-measuring instrument
GB2066014B (en) * 1979-12-14 1984-05-02 Plessey Co Ltd Focus indicator
US4319846A (en) * 1979-12-26 1982-03-16 Coburn Optical Industries, Inc. Method and apparatus for aligning an ophthalmic lens during a blocking operation
NL8003729A (nl) * 1980-06-27 1982-01-18 Philips Nv Inrichting voor optische scherpstelling.
JPS5752005A (en) * 1980-08-19 1982-03-27 Olympus Optical Co Ltd Focus detecting method
US4441175A (en) * 1982-01-25 1984-04-03 Magnetic Peripherals Inc. Partial beam focus sensing in an optical recording system

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2102922B2 (de) * 1971-01-22 1977-12-22 Anordnung zum selbsttaetigen fokussieren auf in optischen geraeten zu betrachtende objekte
DE2423136B2 (de) * 1974-05-13 1977-11-24 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Vorrichtung zur automatischen fokussierung von stereomikroskopen
DE2443167B2 (de) * 1974-09-10 1976-12-30 Gesellschaft für Strahlen- und Umweltforschung mbH, 8000 München Scharfeinstellvorrichtung

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3527322A1 (de) * 1985-07-31 1987-02-12 Zeiss Carl Fa Autofokuseinrichtung fuer auflichtmikroskope
DE3639497A1 (de) * 1985-11-20 1987-05-21 Olympus Optical Co Fokusfeststellungsvorrichtung
DE3641048A1 (de) * 1985-12-02 1987-06-04 Olympus Optical Co Vorrichtung zur erkennung des fokussiergrades
DE3635560A1 (de) * 1985-12-23 1987-06-25 Jenoptik Jena Gmbh Aktive opto-elektronische anordnung zur automatischen fokussierung
US5299053A (en) * 1990-10-26 1994-03-29 American Cyanamid Company Variable shutter illumination system for microscope
US6879440B2 (en) 2002-02-02 2005-04-12 Leica Microsystems Semiconductor Gmbh Autofocus module and method for a microscope-based system
DE102010030430A1 (de) 2010-06-23 2011-12-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Autofokuseinrichtung für Mikroskope und geeignete Autofokus-Aperturblenden
US8829402B2 (en) 2010-06-23 2014-09-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Autofocusing device for microscopes and suitable autofocus aperture stops
WO2012107468A1 (de) 2011-02-08 2012-08-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop mit autofokuseinrichtung und verfahren zur autofokussierung bei mikroskopen
DE102011003807A1 (de) 2011-02-08 2012-08-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop mit Autofokuseinrichtung und Verfahren zur Autofokussierung bei Mikroskopen
US9671601B2 (en) 2011-02-08 2017-06-06 Leica Microsystems Cms Gmbh Microscope having an autofocusing device and autofocusing method for microscopes
DE102011084562A1 (de) 2011-10-14 2013-04-18 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung und Korrektur von sphärischen Abbildungsfehlern in einem mikroskopischen Abbildungsstrahlengang
US8724103B2 (en) 2011-10-14 2014-05-13 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and apparatus for identifying and correcting spherical aberrations in a microscope imaging beam path
WO2018096003A1 (de) * 2016-11-22 2018-05-31 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop zur abbildung eines objekts
CN109983389A (zh) * 2016-11-22 2019-07-05 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 用于对物体成像的显微镜
US10823948B2 (en) 2016-11-22 2020-11-03 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope for imaging an object
US11774739B2 (en) 2016-11-22 2023-10-03 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Method for controlling or regulating a microscope illumination

Also Published As

Publication number Publication date
DE3219503C2 (de) 1985-08-08
CH664835A5 (de) 1988-03-31
ATA177883A (de) 1988-11-15
JPH0259963B2 (de) 1990-12-14
GB8312404D0 (en) 1983-06-08
FR2527788A1 (fr) 1983-12-02
GB2122045B (en) 1985-10-02
FR2527788B1 (fr) 1987-03-20
GB2122045A (en) 1984-01-04
US4595829A (en) 1986-06-17
JPS58217909A (ja) 1983-12-19
AT388458B (de) 1989-06-26

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