JP2757541B2 - 焦点検出装置及びそれを備えた観察装置 - Google Patents

焦点検出装置及びそれを備えた観察装置

Info

Publication number
JP2757541B2
JP2757541B2 JP2172482A JP17248290A JP2757541B2 JP 2757541 B2 JP2757541 B2 JP 2757541B2 JP 2172482 A JP2172482 A JP 2172482A JP 17248290 A JP17248290 A JP 17248290A JP 2757541 B2 JP2757541 B2 JP 2757541B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical system
light beam
objective optical
focus detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2172482A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0460603A (ja
Inventor
修 此内
雅史 鎌田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2172482A priority Critical patent/JP2757541B2/ja
Publication of JPH0460603A publication Critical patent/JPH0460603A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2757541B2 publication Critical patent/JP2757541B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は焦点検出装置及び該焦点検出装置を備えた観
察装置に関し、特に投光手段からの光束を結像光学系の
一部の領域を介して物体へ投光し、該物体からの反射光
束のうち、該結像光学系の他の領域を通過する光束の検
出器面上の入射位置情報を検出することにより、該結像
光学系の焦点位置の検出を行った焦点検出装置及び該焦
点検出装置を備えた観察装置に関するものである。
(従来の技術) 従来より結像光学系の焦点位置を光電的に検出する焦
点検出装置には、種々のタイプのものが提案されてい
る。例えば特開昭57−210308号公報では投光手段より光
束を物体側に投光し、物体からの反射光束を利用して焦
点検出を行う所謂能動方式の焦点検出装置が提案されて
いる。又特開昭57−72111号公報や特開昭60−41013号公
報等では結像光学系により形成された物体像の結像状態
を利用して焦点検出を行う受動方式の焦点検出装置が提
案されている。又特開昭57−22210号公報では能動方式
で、このとき光束を結像光学系を介して物体側へ投光す
るようにしたTTL(Through The Lens)方式の焦点検出
装置が提案されている。
第9図は従来の能動方式でかつTTL方式を用いた焦点
検出装置を備えた顕微鏡の光学系の要部概略図である。
同図において1は焦点合わせ用の光源で例えばレーザ
ーダイオード、LED(発光ダイオード)等から成ってい
る。光源1からの光束はコンデンサーレンズ2により集
光される。コンデンサーレンズ2で集光された光束の一
部は光軸に対して一方の側の部分が反射面91b、他方の
側の部分が透過面91aになっているナイフエッジミラー9
1の透過面91aを通過する。透過面91aを通過した光束は
ビームスプリッター8により反射され光束18として結像
光学系9に入射する。結像光学系9への入射光束は、第
11図で示すようにその瞳面111上で結像光学系9の光軸1
14に対して主光線が偏心した光束であり、瞳面111中の
斜線で示す領域112(113の様な光束は、ナイフエッジミ
ラー91の透過・反射面の形状によりつくる)内を通過す
る。
結像光学系9を通過した光束18は、物体92に投光さ
れ、その近傍に光源1の発光部のスポット像を結像す
る。物体92で反射した光束のうち、投光時とは光軸114
に対して略対称な光路に沿って反射した光束17は、結像
光学系9を再通過する。そしてビームスプリッター8で
反射し、ナイフエッジミラー91の反射面91bで反射して
コンデンサーレンズ6により集光されて焦点検出用の光
電変換素子7の受光面にスポット像を形成する。
同図において、光源1と物体92、物体92と光電変換素
子7は各々互いに略共役関係となっている。
10は顕微鏡のテレビカメラであり、結像光学系9を介
して物体92と略共役位置にあり、物体92を観察してい
る。
今、物体92が第9図の位置(合焦位置)11にあるとき
光電変換素子7面上には第10図に示すような光線104が
良好となるスポット光として結像する。このとき、光電
変換素子7からは、第10図に示す曲線101の如く急峻な
強度分布が得られる。
又、物体92が前ピン(後ピン)の位置12(13)にある
ときは、光電変換素子7面上には第10図に示すような光
線106(105)が入射する。このときの光線106(105)は
光線101に比べて拡がったスポット光となり、光電変換
素子7からは同図の曲線103のように広がりかつ物体92
からの反射光束17が光軸114に対して偏心している為
に、光線104による強度分布に対し横方向にズレた強度
分布が得られる。
このときの光電変換素子7面上での入射光束のズレ量
と物体92の合焦位置11からのディフォーカス量とは一定
の関係にある。第9図の装置では、光電変換素子7面上
への入射光束の光量重心の所定位置からのズレ量を検出
することにより結像光学系9の焦点検出を行っている。
即ち、光電変換素子7に2分割センサーを用いて、入射
光束の強度分布が曲線101のとき、第10図に示すように
左側のセンサー7aからの出力値をA、右側のセンサー7b
からの出力値をBとして出力値Aと出力値Bとの差信号
A−BがA−B=0となるように設定しておく。
第13図は物体92のディフォーカス量に対する光電変換
素子7からの差信号A−Bとの関係を示した説明図であ
る。即ち物体92が位置12にあるときは差信号はA−B>
0、物体92が位置13にあるときは差信号はA−B<0と
なる。
第9図に示す焦点検出装置は、光電変換素子7からの
出力信号の差信号A−BがA−B=0となるように、結
像光学系9又は物体92を光軸上に沿って移動させて、こ
れにより結像光学系9に物体9を合焦せしめている。
(発明が解決しようとする問題点) 第9図に示す焦点検出装置では、物体92が位置13にあ
り、合焦位置11より距離Δxだけディフォーカスしてい
ると、光電変換素子7付近では反射光束17は、第10図に
示すように、光電変換素子7から距離β・Δx程度、
手前の点105aに結像する。
但し、βは物体92が結像光学系9を介して光電変換素
子7側に結像される際の近軸横倍率である。
ここで、物体92が結像光学系9から大きく離れると、
即ちディフォーカス量Δxが大きくなってくると、第10
図における距離β・2・Δxが増大し、第12図に示す
ように物体92からの反射光束17がナイフエッジミラー91
よりも手前の点17aに集光するようになってくる。この
結果、物体92からの反射光束17の全てがナイフエッジミ
ラー91の透過部91aを通過し、反射面91bで反射されなく
なり、光電変換素子7へは入射しなくなってくる。この
とき光電変換素子7からの差信号A−Bは、第13図に示
すようにA−B=0となる。
即ち、ディフォーカス量Δxがある値ΔxMAX以上大き
くなると、差信号A−BはA−B=0となり、この結
果、焦点検出が出来なくなってくるという問題点が生じ
てくる。
本発明は、物体が結像光学系から大きくディフォーカ
スしていた場合であっても、光検出器の受光面上に常に
物体からの反射光束が入射し、光検出器からは所定の差
信号が得られるようにして結像光学系に対する物体のデ
ィフォーカスを広範囲にわたり検出することができる焦
点検出装置の提供を目的とする。
(問題点を解決するための手段) 本発明の焦点検出装置及びそれを備えた観察装置は、 光源と、対物光学系と、該光源からの光の一部を遮光
して該対物光学系の光軸に対して偏心した光束を該対物
光学系に向ける光制限部材と、該対物光学系を介して照
明された被検面からの反射光を、該対物光学系を介し、
該光制限部材によって光検出器に向け、該光検出器から
の信号に基づいて該被検面の該光軸の方向に関する変位
を検出する焦点検出装置において、 前記光制限部材が、一対のプリズムの貼り合わせ面
に、前記光源からの光束のうち光軸に対して片側の一部
を反射させ遮光する金属膜と前記光束の所定方向に振動
する直線偏光光束を前記対物光学系に向ける偏光膜とを
形成したビームスプリッターを備え、 前記対物光学系が該直線偏光光束を円偏光光束に変換
すると共に前記被検面からの反射光を該直線偏光光束と
直交する方向に偏向した偏光光束に変換せしめる偏光変
換部材を備え、 前記金属膜と前記偏光膜とで、前記対物光学系を介し
た前記被検面からの反射光を前記光検出器へ反射せしめ
ることを特徴としている。
この他本発明では、 (イ)光源が、発光ダイオードを備えており、該発光ダ
イオードからの光を集光して前記光制限部材に入射せし
めるレンズ系と、前記発光ダイオードからの光の偏光方
向を前記偏光分割部の偏光方位と一致せしめるべく前記
発光ダイオードと前記光制限部材の間に設けた偏光板と
を有していることを特徴としている。
(ロ)光源が発光ダイオードを備えることを特徴として
いる。
(ハ)前記光制限部材が、一対のプリズムの貼り合わせ
面に前記反射部を成す金属膜と前記偏光分割部を成す偏
光膜とを形成したビームスプリッターを備えることを特
徴としている。
(ニ)前記対物光学系が、前記偏光変換部材と前記被検
面の間に前記円偏光光束を所定位置に集光する対物レン
ズ系を有し、前記光検出器が該所定位置と前記被検面と
の前記光軸方向に関する相対的な変位に応じた信号を出
力することを特徴としている。
(ホ)前記光検出器が前記光制限部材からの前記反射光
を集光するレンズ系と該レンズ系からの光を光電変換し
該光の入射位置に応じた信号を出力するセンサーとを有
し、前記センサーと前記所定位置とが光学的に共役とな
るよう前記対物光学系を配置したことを特徴としてい
る。
(ヘ)前記光源の発光部と前記所定位置とが光学的に共
役となるよう前記対物光学系を配置したことを特徴とし
ている。
(実施例) 第1図は本発明の第1実施例の光学系の要部概略図で
あり、焦点検出装置を備えた顕微鏡(観察装置)を示し
ている。
同図において、1は光源で、LEDから成っており、波
長λの単色光又は波長λを中心とした拡がりを有す
る光束(中心波長λの準単色光)を放射している。2
はコンデンサーレンズであり、光源1からの光束を集光
している。コンデンサーレンズ2は、光源1からの光束
の有効利用を図る為に設けてあり、またレンズ2を構成
するレンズ系の構成、配置を適宜定めてやることで、物
体92への光源1の発光部の結像倍率を変更することもで
きる。
3は直線偏光子(偏光板)であり、コンデンサーレン
ズ2からの光束を紙面内で振動する直線偏光光束14に変
換している。4は光制限部材であり、光軸に対して偏心
した光束を形成する。
第2図に、その拡大図を示す。部材4は、第2図に示
すように、2つの直角プリズム21,22を貼り合わせて構
成されている。そして、これらの貼り合わせ面には、光
軸114近傍より片側の領域(反射部)23に光源1からの
波長λの光束を殆んど反射せしめるAl、Au、Cuなどの
金属膜が施され、又光軸114近傍より他方の側の領域24
(偏光分割部)は第3図に示すようなP,S偏光に対する
透過率と反射率の特性を備える偏光膜が施されている。
この偏光膜の偏光軸は、直線偏光光束14の偏光方向と一
致しており、従って部材4に入射した直線偏光光束14は
光軸114を境にした片側の領域24を通過して直線偏光光
束14と同じ方向に偏光した直線偏光光束15となって射出
する。
尚、第3図において、曲線31,32は光源1からの波長
λの光束のS,P両偏光成分に対する透過率、曲線33,34
は光源1からの波長λの光束のS,P両偏光成分に対す
る反射率を示している。
第1図に戻り5はλ/4板(偏光変換部材)であり、直
線偏光子3の偏光軸に対して、その主軸を45度傾けて配
置されている。λ/4板5は入射直線偏光光束15を円偏光
光束16に変換して射出せしめる。8はビームスプリッタ
ーであり、偏光特性はなく、λ/4板5からの光束(円偏
光)を反射し、光軸に対して(中心光線が)偏心してい
る光束18として対物レンズより成る結像光学系9の光軸
114に対して片側の一部の領域に入射させている。対物
レンズは複数個のレンズを並べたアセンブリである。92
は物体、6はコンデンサーレンズ、7は光電変換素子で
あり、2分割センサーから成っている。
光制限部材4のプリズム21の光入射面21aとプリズム2
2の光射出面22aとは各々平面で構成されており、これら
の面21a,22aが光軸114と直交するように部材4が配置し
てある。また、プリズム21とプリズム22の貼り合わせ
面、つまり、領域23と領域24が形成されている面は、光
軸114に対して45゜を成すように設定してある。
10はテレビカメラであり、結像光学系9に対して物体
92上の被検面が合焦している時にはその撮像面は結像光
学系9を介して物体92の被検面と略共役関係にあり、物
体92を観察している。
本実施例では、結像光学系9に対して物体92の被検面
が合焦する時に、光源1の発光部と物体92の被検面、物
体92の被検面と光電変換素子7の受光面は各々互いに略
共役関係となるように装置を構成している。
本実施例では、光源1からの発散光束をコンデンサー
レンズ2で集光し、直線偏光子3により紙面内で振動す
る直線偏光(P偏光)光束14として光制限部材4に入射
させている。第2図に示す通り、部材4に入射した直線
偏光光束14のうち、光軸114の近傍の境界線に対して一
方の側の領域23に入射した光束は金属膜で反射され、結
像光学系9に対して遮光される。一方、光軸114の近傍
にある境界線に対して他方の側の領域24に施されている
偏光膜は第3図の曲線31に示すようにP偏光を100%近
く透過させるので、直線偏光光束14のうち、この領域24
に入射した光束は殆んど領域24を通過し、λ/4板5に入
射する。
λ/4板5に入射した直線偏光光束15は、円偏光光束16
としてλ/4板5から射出し、ビームスプリッター8で反
射せしめられて光軸114に対して偏心した光束18として
結像光学系9に入射する。
このとき、第11図で示したように、光束18は結像光学
系9の瞳面111の光軸114より偏心した領域112を通過す
る。この領域112の形状は、光制限部材4の領域23と領
域24の形状と、そこに入射する光束14の断面形状に依存
して変化する。従って、例えば領域24の形状を円形とし
て、その周囲を領域24とすれば、結像光学系9の瞳面11
1での領域112は、第15図に示す如くなる。
結像光学系9は光束18をテレビカメラの撮像面と略共
役な位置に集光し、例えば位置11にある物体92の被検面
上に光スポット(光源11の像)を形成する。
物体92に投光された光束18は、物体92の被検面で反射
せしめられて光軸114に関して投光時の光路とは略対称
の光路に沿って逆方向に進む光束17となって、結像光学
系9に入射し、結像光学系9の光軸114に対して光束18
が通過した領域とは対称な位置にある他の領域を通過し
て、ビームスプリッター8に向けられビームスプリッタ
ー8で反射され、λ/4板5に入射する。
λ/4板5に入射に入射した光束17は、λ/4板5により
直線偏光光束15の偏光方向と直交した、紙面と垂直方向
に偏光した直線偏光(S偏光)光束となり、光制限部材
4に入射する。
光制限部材4に入射した直線偏光光束のうち、部材4
の領域23に入射した光束は金属膜で反射しコンデンサー
レンズ6に入射する。又、部材4の領域24に施されてい
る偏光膜は第3図の曲線33に示すようにS偏光を100%
近く反射させるので、この領域24に入射する直線偏光
(S偏光)光束も、領域24の偏光膜で反射してコンデン
サーレンズ6に入射する。コンデンサーレンズ6は入射
光束を集光して光電変換素子7の受光面上に光スポット
を形成する。光電変換素子7は入射光束を光電変換し
て、物体72の被検面の変位に応じた信号A,Bを出力す
る。
光電変換素子7からの出力信号A,Bは、信号線を介し
て制御器100に入力され、制御器100は差信号A−Bに相
当する信号を生成し、この信号に基づいて駆動装置101
を制御する。駆動装置101は、制御器100からの指令信号
により、物体92の被検面上に結像光学系9からの光束が
フォーカスするように物体92を結像光学系9の光軸方向
に上下動せしめる。また、制御器101は光源1の発光動
作の制御(ON/OFF)も行なう。
このとき、物体92の被検面が位置11にあれば、即ち合
焦位置にあれば、第4図に示すように、光束17は、主に
光制限部材4の領域23で反射し、光電変換素子7の受光
面上に、第10図に示す光束104の如く入射し、受光面上
に鮮明な光スポットを形成する。
又、物体92が位置12(前ピン)にあれば、第5図に示
すように、光束17は光制限部材4の領域23で反射し、光
電変換素子7の受光面上に、第10図に示す光束106の如
く入射し、受光面上に拡がった光スポットを形成する。
一方、物体92が位置13(後ピン)にあり、このときデ
ィフォーカス量Δxが大きく、即ち第10図に示すように
光電変換素子7から光束17の結像位置105aが大きくずれ
てβ・2・Δxが大きくなってくると、第6図に示す
ように光束17は光制限部材4の手前の点17bに結像した
後、領域23に殆ど入射せず、領域24に入射するようにな
る。
このときの、光束17は、前述したようにS偏光となっ
ているので、偏光膜で施されている領域24で反射し、第
10図に示すように、光束105として光電変換素子7の受
光面上に入射し、受光面上で拡がった光スポットを形成
する。
このように本実施例では、物体92が前ピン方向、後ピ
ン方向で大きくディフォーカスしていても、光束17を光
電変換素子7上に入射させることができるようにしてい
る。
この結果、光電変換素子7として第9図で示した従来
と同様の2分割センサーを用いた場合、ディフォーカス
量に対するセンサーAからの出力信号AとセンサーBか
らの出力信号Bとの差信号A−Bを、第14図に示すよう
に、物体92が従来の検出可能の最大ディフォーカス量Δ
xMAXよりも更にディフォーカスしていても検出すること
ができる。
このように本実施例によれば、物体92が広い範囲にわ
たってディフォーカスしていても、高精度に焦点位置を
検出することができる。
上記実施例では光源1としてLEDを使用していたが、
光源1としてレーザーダイオード(半導体レーザ)を使
用してもよい。この場合、レーザーダイオードから射出
するレーザ光の偏光方向が光制限部材の偏光膜の偏光軸
と一致するように、レーザーダイオードと光制限部材と
を配置することにより、偏光子3を取りはずすこともで
きる。
また、光源1からの光束の強度が大きい場合には、コ
ンデンサーレンズ2をとりはずすこともできるが、この
時にも、光源1の発光部の像が物体92の近傍に形成され
るようにする必要はある。また、場合によってはコンデ
ンサーレンズ6をとりはずした形で装置を構成すること
もできる。
上記実施例では光源変換素子7として2分割センサー
を使用していたが、光源変換素子7として1次元CCD、
2次元CCD、或いはPSD(Position Sensitive Detecto
r)などが使用できる。
また、光制限部材4の構造も、上記実施例の如くブロ
ックのような部材に限定されない。例えば、透明平行平
板上に金属膜と偏光膜を互いに隣接せしめて形成したも
のでもいい。
また、結像光学系9に対して物体92の被検面を合焦さ
せる場合、物体92を上下動させる代りに、顕微鏡全体ま
た、光学系の一部(例えば光学系9)を動かすような方
式も採用される。
また、本発明の焦点検出装置を、顕微鏡など観察装置
に搭載する場合には、上記実施例の如く入/4板5を部材
4とビームスプリッター8の間に配置するのが好ましい
が、他の光学機器の搭載する場合には、部材4と被検面
の間の任意の位置に設けることができる。
上記実施例において、光制限部材4の一方の直角プリ
ズム22の形状を変えて、例えば第7図に示すような底面
73aが光軸114に対して傾いた3角形状のプリズム73より
構成しても良い。このようにプリズム73の底面73aが光
電変換素子7への光軸に対して直交しないように設定す
ることにより、領域23の金属膜で反射せしめられた光束
14を領域24から離れる方向へ反射側に射出させている。
これにより領域23で反射せしめられた光束がプリズム73
の底面73aで反射して再び領域23,24に入射するのを防止
し、これらの光束が光電変換素子7にフレアーやゴース
ト光として入射するのを効果的に防止できる。
この他、上記実施例においては、第8図に示すよう
に、光制限部材4に直線偏光子3と入/4板5とを貼り合
わせて、部材3,4,5を一体化して構成しても良い。これ
によれば組立機構の簡素化を図ることができるので好ま
しい。
(発明の効果) 本発明によれば結像光学系の焦点位置を検出する際に
結像光学系に偏心した光束を入射させる手段として前述
したように直線偏光子、光学素子そして入/4板等の各要
素を適切に設定することにより、ディフォーカス量が大
きい広いディフォーカス範囲にわたって高精度に焦点位
置の検出が出来る焦点検出装置を達成することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1実施例の光学系の要部概略図、第
2,第4,第5,第6図は第1図の光学素子に入射する光束の
説明図、第3図は第2図の光学素子の領域24の光学特性
の説明図、第7,第8図は各々本発明に係る光学素子の他
の一実施例の要部概略図、第9図は従来の焦点検出装置
の光学系の要部概略図、第10図は第9図の検出器に入射
する光束の説明図、第11図,第15図は第9図の結像光学
系の瞳面上の光束の説明図、第12図は第9図の一部分の
説明図、第13,第14図はデイフォーカス量と差信号との
関係を示す説明図である。 図中、1は光源、2,6はコンデンサーレンズ、3は直線
偏光子、4は光学素子、5は入/4板、7は光電変換素
子、8はビームスプリッター、9は結像光学系、10はテ
レビカメラ、92は物体、111は結像光学系の瞳面、114は
光軸、14,15は直線偏光、16は円偏光、17,18は光束、10
0は制御器、101は駆動装置である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G02B 7/00

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光源と、対物光学系と、該光源からの光の
    一部を遮光して該対物光学系の光軸に対して偏心した光
    束を該対物光学系に向ける光制限部材と、該対物光学系
    を介して照明された被検面からの反射光を、該対物光学
    系を介し、該光制限部材によって光検出器に向け、該光
    検出器からの信号に基づいて該被検面の該光軸の方向に
    関する変位を検出する焦点検出装置において、 前記光制限部材が、一対のプリズムの貼り合わせ面に、
    前記光源からの光束のうち光軸に対して片側の一部を反
    射させ遮光する金属膜と前記光束の所定方向に振動する
    直線偏光光束を前記対物光学系に向ける偏光膜とを形成
    したビームスプリッターを備え、 前記対物光学系が該直線偏光光束を円偏光光束に変換す
    ると共に前記被検面からの反射光を該直線偏光光束と直
    交する方向に偏向した偏光光束に変換せしめる偏光変換
    部材を備え、 前記金属膜と前記偏光膜とで、前記対物光学系を介した
    前記被検面からの反射光を前記光検出器へ反射せしめる
    ことを特徴とする焦点検出装置。
  2. 【請求項2】前記対物光学系が、前記偏光変換部材と前
    記被検面との間に前記円偏光光束を所定位置に集光する
    対物レンズ系を有し、前記光検出器が該所定位置と前記
    被検面との前記光軸方向に関する相対的な変位に応じた
    信号を出力することを特徴とする請求項1記載の焦点検
    出装置。
  3. 【請求項3】前記光検出器が前記光制限部材からの前記
    反射光を集光するレンズ系と該レンズ系からの光を光電
    変換し該光の入射位置に応じた信号を出力するセンサー
    とを有することを特徴とする請求項2記載の焦点検出装
    置。
  4. 【請求項4】前記センサーとの前記所定位置とが光学的
    に共役となるように前記対物光学系を配置したことを特
    徴とする請求項3の焦点検出装置。
  5. 【請求項5】前記光源の発光部と前記所定位置とが光学
    的に共役となるように前記対物光学系を配置したことを
    特徴とする請求項4の焦点検出装置。
  6. 【請求項6】請求項1乃至5のいずれか1項記載の焦点
    検出装置を備えた観察装置。
JP2172482A 1990-06-29 1990-06-29 焦点検出装置及びそれを備えた観察装置 Expired - Fee Related JP2757541B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2172482A JP2757541B2 (ja) 1990-06-29 1990-06-29 焦点検出装置及びそれを備えた観察装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2172482A JP2757541B2 (ja) 1990-06-29 1990-06-29 焦点検出装置及びそれを備えた観察装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0460603A JPH0460603A (ja) 1992-02-26
JP2757541B2 true JP2757541B2 (ja) 1998-05-25

Family

ID=15942808

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2172482A Expired - Fee Related JP2757541B2 (ja) 1990-06-29 1990-06-29 焦点検出装置及びそれを備えた観察装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2757541B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5790306A (en) * 1995-06-16 1998-08-04 Global Surgical Corporation Microscope beamsplitter
US6377409B2 (en) * 1996-12-04 2002-04-23 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Prism and viewing optical system using the prism

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57172306A (en) * 1981-04-17 1982-10-23 Tdk Corp Focus controller of optical recording system
DE3219503C2 (de) * 1982-05-25 1985-08-08 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar Vorrichtung zum selbsttätigen Fokussieren auf in optischen Geräten zu betrachtende Objekte
JPH01259208A (ja) * 1988-04-08 1989-10-16 Olympus Optical Co Ltd 光学的表面形状測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0460603A (ja) 1992-02-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4251129A (en) Photoelectric detecting device
US20050200949A1 (en) Surveying instrument
JPH10161195A (ja) オートフォーカス方法及びオートフォーカス装置
US4632532A (en) Focus detecting apparatus
JP2757541B2 (ja) 焦点検出装置及びそれを備えた観察装置
US6501541B2 (en) Electronic distance meter
US4549802A (en) Focus detection apparatus
JP3688560B2 (ja) 光学式測定装置
US6897421B2 (en) Optical inspection system having an internal rangefinder
JPH0580246A (ja) 自動合焦装置及びそれを備えた観察装置
JP2003083723A (ja) 3次元形状測定光学系
JPH0949965A (ja) 焦点位置検出装置
US6501540B2 (en) Surveying instrument having an optical distance meter
US6677568B2 (en) Surveying instrument having a phase-difference detection type focus detecting device
JPS63259521A (ja) 複合型合焦検出装置
JP2002156578A (ja) 焦点検出装置、及びそれを備えた対物レンズ、光学顕微鏡又は光学検査装置
JPH0572467A (ja) 焦点検出手段を有した観察装置
JPH10133117A (ja) 焦点検出装置を備えた顕微鏡
JPH0460602A (ja) 焦点検出装置及びそれを備えた観察装置
JPS59121011A (ja) 合焦位置検出装置
JPH07174552A (ja) 焦点検出装置
JP2005275125A (ja) 光走査型共焦点観察装置
JP2828559B2 (ja) 位置ずれ検出装置
JPH0522883B2 (ja)
JPH0315437A (ja) 眼底カメラ

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees