DE3143583A1 - "belichtungsmessart-umschalteinrichtung fuer eine kamera mit automatischer belichtungssteuerung" - Google Patents

"belichtungsmessart-umschalteinrichtung fuer eine kamera mit automatischer belichtungssteuerung"

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DE3143583A1
DE3143583A1 DE19813143583 DE3143583A DE3143583A1 DE 3143583 A1 DE3143583 A1 DE 3143583A1 DE 19813143583 DE19813143583 DE 19813143583 DE 3143583 A DE3143583 A DE 3143583A DE 3143583 A1 DE3143583 A1 DE 3143583A1
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Masafumi Hachioji Yamasaki
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B7/00Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
    • G03B7/08Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
    • G03B7/081Analogue circuits
    • G03B7/083Analogue circuits for control of exposure time

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  • Exposure Control For Cameras (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

  • 3e schreibung
  • Belichtungsme ßart-Umschalteinrichtung für eine Kamera mit automatischer Belichtungssteuerung Die Erfindung betrifft eine Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung für eine Kamera mit automatischer Belichtungssteuerung, die bei der Lichtmessung eine Wahl zwischen Integralmessung und Punktmessung ermöglicht.
  • Bekanntlich läßt sich die Belichtungsmessung in einer Kamera mit bekannter automatischer Belichtungssteuerung in zwei Klassen unterteilen, nämlich die Integralmessung und die Punktmessung. Bei der Integrallichtmessung wird fiir normale aufzunehmende Objekte ein annehmbares Ergebnis erzielt, und diese Messung ist leichter anzuwenden als die Punktlichtmessung. Insgesamt arbeiten fast alle Kameras nach diesem Verfahren. Andererseits kann die Punktlichtmessung von Vorteil sein, wenn z.B. eine gewünschte Belichtung eines aufzunehmenden Objekts erwünscht ist, welches ein starkes Kontrastverhältnis hat.
  • Kürzlich ist eine Kamera entwickelt worden, die beide Möglichkeiten einschließt, nämlich die Integrallichtmessung und auch die Punktlichtmessung, so daß der Benutzer der Kamera bei seinen Aufnahmen die eine oder andere Tjic£tmeß technik wählen kann. Es ist auch eine Kamera dieser Art bekannt, bei der das Messen der Belichtung nach der einen oder anderen Meßart synchronisiert mit der Verschlußfreigabe erfolgt; und bei der ein Umschalten zwischen den beiden Belichtungsmeßarten mittels eines einzigen Meßart-Wählersclialters erfolgt.~ Es sei noch erwähnt, daß als Abwandlung der Punktlichtmessung ein Verfahren zur Verfügung steht, gemäß dem ein Belichtungswert gespeichert wird, der im Voraus durch Handbetätigung bestimmt wurde, ehe der Verschluß ausgelöst wird. Wenn eine Kamera beide Möglichkeiten der Belichtungsmessung, nämlich Integral- und Punktlichtmessung hat und außerdem so ausgelegt ist, daß ein Belichtungswert gespeichert werden kann, muß beim Aufnehmen bei der gewählten Punktlichtmessung zusätzlich zum Meßart-Wählerschalter auch noch ein Speicherschalter betätigt werden, um die Belichtung im Voraus einzustellen. Im Zusammenhang mit der Handbetätigung des Speicherschalters, der bei der Meßart mit Punktlichtmessung verwendet wird, ist klar, daß die meisten aufzunehmenden Objekte zentral innerhalb des Bildfeldes angeordnet sind, so daß der zentrale Bereich des Bildfeldes der Punktlichtmessung unterzogen wird. Jedoch möchte ein Benutzer unter Umständen manchmal eine photographische Komposition wählen, bei der die Abbildung des gelrunschten zu photographierenden Objektes beispielsweise in einer Ecke entfernt vom zentralen Bereich des Bildfeldes aufgenommen werden soll. In diesem Fall wird die Kamera zunächst auf das zentral im Bildfeld angeordnete, aufzunehmende Objekt fokussiert, und dann wird der Speicherschalter von Hand betätigt, um die Belichtungsmessung der Helligkeit des aufzunehmenden Objekts zu beendigen. Anschließend wird die Kamera erneut so ausgerichtet, daß das aufzunehmende Objekt an gewünschter Stelle im Bildfeld angeordnet ist, ehe der Verschluß ausgelöst wird. Auf diese Weise ist eine hochkomplizierte Aufnahme zu erreichen, die eine bestimmte Absicht des Benutzers deutlich wiedergibt.
  • Damit ist klar, daß eine Kamera mit automatischer Belichtungssteuerung, die eine freie Wahl zwischen Integral- llnd Punktlichtmessung ermöglicht, eine Aufnahmevielfalt bietet, die von anspruchsvollen Kompositionen bis zu Schnappschüssen reicht, und im Gebrauch flexibel und zweckmäßig ist.
  • Jedoch muß in einer Kamera der genannten Art zusätzlich zum Meßart-Wählerschalter der genannte Speicherschalter vorgesehen sein, der bei der Punktlichtmessung von Hand betätigt wird. Dadurch können folgende Sehlerquellen entstehen: 1.) Wenn der Benutzer der Kamera eine Aufna?une nach der Integralmeßart machen möchte, kann er von der lz cllell Annahme ausgehen, daß die Integrallichtmeßart in der Kamera eingestellt ist, während tatsächlich der Meßart-Wählerschalter sich in einer Stellung befindet, die der PuniCtlichtmeßart entspricht. Wenn er dann den Verschluß unmittelbar auslöst, erhält er eine falsche Belichtung, da der Speicherschalter, der zum Speichern von Belichtungsdaten benutzt wird, nicht von Hand betätigt wurde und die Kamera in der Punktlichtmeßart ohne Belichtungsinformation arbeitet.
  • 2.) Wenn der Benutzer der Kamera eine Aufnahme mit der Filiiltlichtmeßart machen möchte, kann er unter Umständen vergessen, daß der Speicherschalter nicht betätigt worden ist, um Belichtungsdaten zu speichern, obwohl ihm klar ist, daß der Meßart-Wählerschalter in die richtige Stellung entsprechend der Punktlichtmeßart gebracht wurde. Auch in diesem Pall führt die Verschlußbetätigung zu einer falschen Belichtung 7 wie oben schon erwähnt Der Benutzer der Kamera kann also die Betätigung des Meßart-wählerschalters oder des Speicherschalters vergessen In jedem Fall besteht das Problem, daß das Ergebnis eine falsche Belichtung sein kann, die dadurch entsteht, daß während der Punktlichtmeßart keine Belichtungsdaten zur Verfügung gestellt wurden, weil vor dem Aufnehmen ein Umschaltvorgang vergessen wurde. Diese Schwierigkeit besteht von Natur aus bei einer Kamera, die die Möglichkeit sowohl zur Integrallichtmessung als auch zur Punktlichtmessung umfaßt und bei der die Belichtungssteuerung während der Punktlichtmeßart in Übereinstimmung mit einem gespeicherten Wert der Helligkeit des zu photographierenden Objekts erfolgt, der über einen von Hand betätigten Speicherschalter geliefert wird.
  • Aufgabe der Erfindung ist es, eine Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung zu schaffen, bei der die Belichtungssteuerung entweder bei der Integrallichtmessung oder bei der punktlichtmessung erfolgt und mit der die zuvor erläuterten Nachteile und Einschränkungen vermieden sind.
  • Eine diese Aufgabe lösende Umschalteinrichtung ist mit ihren Ausgestaltungen in den Patentansprüchen gekennzeichnet.
  • Die Erfindung sieht eine logische Bestimmung der Ausgänge eines ersten Schalters, welcher zur Wahl der iichtmeßart vorgesehen ist, und eines zweiten Schalters vor, welcher mit einem von Hand betätigten Speicherschalter zusammengeschlossen ist.
  • Gemäß der Erfindung führt ein Nichtbetätigen des ersten Schalters, mit dem die gewünschte Lichtmeßart gewählt wird, oder des zweiten Schalters, der mit dem Speicherschalter verriegelt bzw0 zusammengeschlossen ist, dazu, daß automatisch die Integrallichtmeßart hergestellt wird, die ein passables Aufnahmeergebnis hat. Auf diese Weise kann eine falsche Belichtung während der Punktlichtmeßart vermieden werden. In diesem Sinne läßt sich die erfindungsgemäße Einrichtung als narrensicher bezeichnen, da sie einen photographischen Selbstschutz aufweist.
  • Im folgenden ist die Erfindung mit weiteren vorteilhaften Einzelheiten anhand eines schematisch dargestellten Ausführungsbeispiels naher erläutert. In den Zeichnungen zeigt: Fig. 1 ein Blockschaltbild einer Kamera mit automatischer Belichtungssteuerung mit einer Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung; Pig. 2 ein Schaltdiagramm eines in einer Kamera gemäß Fig. 1 enthaltenen,bestimmten Schaltkreises; Figo 3 einen schematischen Schnitt durch eine Kamera zur Erläuterung der Anordnung photometrischer oder photoelektrischer Wandlerelemente gemäß Fig. 2.
  • In einer Kamera mit automatischer Belichtungssteuerung ist eine Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung 1 gemäß der Erfindung mit dem Ausgang einer Integralbelichtungsmeßschaltung 2 und einer Punktbelichtungsmeßschaltung 3 verbunden. Der PunktbelichtungsmeBschaltung 3 ist ein Speicherschalter Da zugeordnet, der zum Speichern eines photometrischen Wertes benutzt wird, welcher die Jlelligkeit eines aufzunehmenden Objektes darstellt. Die Umschalteinrichtung 1 weist einen ersten Schalter 4, der zur Wahl einer bestimmten Belichtungsmeßart benutzt wird, einen zweiten Schalter 5, der mit dem Speicherschalter 3a zusammengeschlossen ist, und eine Umschaltlogikschaltung 6 auf, die auf die Ausgänge des ersten und zweiten Schalters 4 und 5 so anspricht, daß sie entweder den Ausgang der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 oder der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 an eine Verschlußantriebsschaltung 7 weitergibt.
  • Es sei darauf hingewiesen, daß sowohl der erste als auch der zweite Schalter 4, 5 an der Außenseite der Kamera an einer für die Handbetätigung leicht zugänglichen Stelle vorgesehen ist. Die beiden Belichtungsmeßschaltungen 2 und 3 erhalten als Eingang einen Ausgang von einer Belichtungsinformation-Voreinstellschaltung 8.
  • Eine bestimmte Schaltkreisanordnung der in Fig. 1 gezeigten Kamera ist in Fig. 2 dargestellt. Wie Zeigt 2 zeigt, weist für Zwecke der Integrallichtmessung die Integralbelichtungsmeßschaltung 2 einen SunSçtionsverstärker 21 auf, der einen invertierenden und einen nichtinvertierenden Eingangsanschluß hat, an die ein lichtelektrisches Wandlerelement 20 angeschlossen ist, dessen Anode mit dem invertierenden Eingangsanschluß verbunden ist. Zusätzlich ist eine logarithmische Verdichtungsschaltung mit einem NPN-Transistor 22 an den Ausgangsanschluß und den invertierenden Eingangsanschluß des Funktionsverstärkers 21 angeschlossen, wobei der Kollektor und die Basis des Transistors 22 miteinander und mit dem invertierenden Eingangsanschluß verbunden sind, während der Emitter mit dem Ausgangsanschluß des Punktionsverstärkers verbunden ist. Wie aus Fig. 3 zu entnehmen ist, geht Licht von einem aufzunehmenden Gegenstand, welches auf die Kamera 10 auftrifft, durch ein Aufnahmeobjektiv 11 und wird dann von einem beweglichen Spiegel 12 so reflektiert, daß es einem Weg folgt, in dem ein Fokussierglas 14 an solcher Stelle angeordnet ist, daß es einem Film 13 zugeordnet ist; und ferner ein Pentaprisma 15 sowie ein Okular 16 eines Suchers. Das Vandlerelement 20 ist innerhalb des Suchers z.B. zwischen dem pentaprisma 15 und dem Okular angeordnet, so daß es einen Teil des erwahnten Lichts empfängt, wodurch die tichtmessung in einem verhältnismäßig groß ausgedehnten Bereich der Abbildung eines aufzunehmenden Objekts oder im wesentlichen im gesamten Bildfeld vorgenommen wird.
  • Wie Fig. 2 zeigt, ist der Ausgangsanschluß des Sunktionsverstärkers 21 über einen Aufnahmeinformationsanzeiger 23 geerdet und außerdem über einen Speicherschalter 24 mit einem Ende eines Speicherkondensators 25 und mit dem nichtinvertierenden Eingangsanschluß eines weiteren Funktionsverstärkers 26 verbunden. Der Speicherschalter 24 ist in Abhängigkeit von der Aufwärtsbewegung des beweglichen Spiegels 12 (siehe Fig; 3) aus seiner geschlossenen in seine geöffnete Stellung bewegbar und kehrt in die geschlossene Stellung zurück, wenn der zweite Verschlußvoriiang läuft.
  • Das andere Ende des Speicherkondensators 25 ist geerdet Da der Funktionsverstärker 26 einen mit einem Ausgangsanschluß verbundenen invertierenden Eingangsanschluß hat, entsteht ein ScheS-nwiderstandsuswandlers der bewirkt, daß die Aufnahmedaten während einer längeren Zeitspanne am Speicherkondensator 25 gespeichert werden. Die Spannung am nichtinvertierenden Eingangsanschluß entspricht also der Ausgangsspannung des Punktionsverstärkers 26. Der Ausgangsanschluß des Punktionsverstärkers 26 ist mit dem Emitter eines NPN-Transistors 27 verbunden, welcher eine logarythmische Expansion ermöglicht. Die Basis des Transistors 27 ist geerdet, während der Kollektor mit einem Ende eines Integrationskondensators 28 verbunden ist, dessen anderes Ende geerdet ist, und ist außerdem über einen Schalter 29 mit einemAnschluß 30 verbunden, an dem eine Bezugsspannung TR1 anliegt. Der Schalter 29 wechselt von geschlossenem in geöffneten Zustand über, wenn die Aufwartsbewegung des beweglichen Spiegels 12 beendet ist. Der Kollektor' des Transistors 27 ist auch mit dem nichtinvertierenden Eingangsanschluß eines Funktionsverstärkers 31 verbunden, während der invertierende Eingangsanschluß und der Ausgangsanschluß so miteinander verbunden sind, daß sie ähnlich wie beim Funktionsverstärker 26 einen Scheinwiderstandsumwandler bilden. Der Ausgangsanschluß des Punktionsverstärkers 31 ist mit dem invertierenden Eingangsanschluß einer Vergleicheschaltung 32 verbunden, deren nichtinvertierender Eingangsanschluß mit einem Anschluß 33 verbunden ist, an dem eine Bezugespannung VR2 anliegt. Die Vergleichsschaltung 32 vergleicht die an ihren invertierenden Eingangsanschluß angelegte Spannung mit der Bezugsspannung VR2 und erzeugt an ihrem Ausgangsanschluß immer dann ein Signal von L"-Niveau, wenn der invertierende Eingang höher ist als die Bezugsspannung und ein Signal von "H"-Niveau, wenn die Bezugsspannung VR2 höher ist. Der Ausgangsanschluß der Vergleichsschaltung 32 ist mit einem Eingang eines NAND-Gatters 65 verbunden, welcher einen der Signaleingänge für die Umschaltlogikschaltung 6 darstellt.
  • Die Punktbelichtungsmeßschaltung 3 ist im wesentlichen ähnlich aufgebaut wie die Integralbelichtungsmeßschaltung 2.
  • Insbesondere weist die Punktbelichtungsmeßschaltung 3 ein lichtelektrisches Wandlerelement 40 auf, welches für die Punktbelichtungsmessung benutzt wird, einen Funktionsverstärker 41 zur logarithmischen Verdichtung, einen NPN-Transistor 42, einen Aufnahmeinformationsanzeiger 43, einen Speicherkondensator 45, einen Funktionsverstärker 46, der als Scheinwiderstandsumwandler wirkt, einen NPN-Transistor 47 zur logarithmischen Expansion, einen Integrationskondensator 48, einen weiteren Funktionsverstärker 51, der gleichfalls als ocheinwiderstandsunwandler wirkt, und eine Vergleichsschaltung 52, die alle ebenso angeschlossen und verbunden sind, wie die entsprechenden Teile in der Integralbelichtungsmeßschaltung 2, so daß eine nochmalige Beschreibung unnötig ist. Der einzige Unterschied zwischen der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 und der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 bestehtdarin, daß das Wandlerelement 40, welches bei der Punktlichtmeßart benutzt wird, außerhalb des Weges des Aufnahmelichtes bzw. unterhalb des beweglichen Spiegels 12 angeordnet ist, um einen Bruchteil des durch das Aufnahmeobjektiv 11 hindurchtretenden Lichtes aufzunehmen, den ein in der Mitte des beweglichen Spiegels 12 ausgebildeter, halbdurchlässiger Spiegel 12a durchgelassen hat und der von einem photometrischen Spiegel 17 reflektiert worden ist, welcher an der Rückseite des beweglichen Spiegels 12 angeordnet ist, wie Sigo 9 zeigt. Auf diese Weise kann das Wandlerelement Licht aus einem verhältnismaßig stark eingegrenzten Bereich der Abbildung eines aufzunehmenden Objekts empfangen, dohe im wesentlichen aus dem zentralen Bereich des Bildfeldes. In Pigo 2 entspricht der Speicherschalter 44 dem für die Integralbelichtungsmeßschaltung 2 gezeigten Speicherschalter 24, ist jedoch im Gegensatz zu diesem vor einer Aufnahme von Hand zu betätigen, auch wenn der Speicherschalter 24 geöffnet wird, wenn sich der bewegliche Spiegel 12 nach oben zu bewegen beginnt. Der Speicherschalter 44 entspricht also dem in Pig, 1 gezeigten Speicherschalter 3a. Allerdings sei erwähnt, daß der Speicherschalter 24 nicht allein betätigt wird, sondern in synchronisiertem Verhältnis mit dem Schließen eines zweiten Schalters 82 (5) geöffnet wird, wie weiter unten noch näher erläutert wird. Der zweite Schalter 82 wird ebenso wie der Speicherschalter 44 geöffnet, wenn der zweite Verschlußvorhang abläuft. Da der Kollektor des Transistors 47 mit dem Kollektor des in der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 enthaltenen Transistors 27 verbunden ist, wird die Bezugsspannung VR1 über den Schalter 29 der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 an den Kollektor des Transistors 47 angelegt. Der Ausgang anschluß einer Vergleichsschaltung 32, der den Ausgangsanschluß der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 darstellt, ist mit einem Eingang eines NAKD-Gatters 66 verbunden, der den anderen Signaleingang der Umschaltlogikschaltung 6 darstellt.
  • Mit dem nichtinvertierenden Eingangsanschluß der Funktionsverstärker 21, 41 der beiden Belichtungsmeßschaltungen 2 und 9 ist t der Ausgangsanschluß eines Funktionsverstärkers 54 verbunden, der die Belichtungsinformation-voreinstellschaltung 8 bildet. Dieser Funktionsverstärker 54 hat einen invertierenden Eingangsanschluß, der über einen Widerstand 55 mit einem Anschluß 56 verbunden ist, an dem eine Bezugsspannung VR3 anliegt, und hat außerdem einen nichtinvertierenden Eingangsanschluß, der geerdet ist. Eine Reihenkombination aus einem Regelwiderstand 57, welcher entsprechend der Pilmempfindlichkeit eingestellt ist, einem Regelwiderstand 58, der zur Bestimmung der Blendenöffnung dient, und einem halbfesten Widerstand 59, ist an den Ausgangsanschluß und den invertierenden Eingangsanschluß des Funktionsversä;rkers 54 angeschlossen, wodurch ein invertierender Verstärker geschaffen wird. Auf diese Weise liefert die Belichtungsinformation-Voreinstellschaltung 8 Belichtungsdaten hinsichtlich der Filinempflindlichkeit und Blendenöffnung, die logarlthmisch verdichtet sind, an die beiden Belichtungsmeßschaltungen 2 und 3.
  • Zu der Umschaltlogikschaltung 6 der Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung 1 gehört im wesentlichen ein Meßart-Wählerschaltkreis 63 mit NAND-Gattern 60, 61 und 62 und ein Schaltkreis 68 mit einem Inverter 64 und NAKD-Gattern 65, 66 und 67, die an die Ausgangsseite des Schaltkreises 63 angeschlossen sind. Die NAND-Gatter 60 und 61 sind mit einem ihrer Eingänge mit dem Ausgang des anderen Gatters verbunden, so daß sie ein R-S-Plipflop bilden. Der andere Eingangsanschluß des NAND-Gatters 60 ist über einen Widerstand 70 mit einem Anschluß 71 verbunden, an den eine Zufuhrspannung Vcc angelegt wird, und ist außerdem über einen Schalter 82 geerdet. Wie schon erwähnt, stellt der Schalter 82 den zweiten Betätigungsschalter 5 dar (siehe Fig. 1) und ist mechanisch mit dem Speicherschalter 44 (3a) verriegelt, der in der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 enthalten ist. Normalerweise ist der zweite Schalter 82, wie gezeigt, offen, wenn der Speicherschalter 44 geschlossen ist. Der andere Eingangsanschluß des EAND-Gatters 61 ist mit einem Anschluß 72 verbunden, an den beim Einschalten der Einrichtung ein negativer Rückstellimpuls R1 angelegt wird. Das R-S-Flipflop erzeugt einen Ausgang vom NAND-Gatter 60, der davon abhängt, ob der Schalter 82 offen oder geschlossen ist. Im einzelnen hat der Ausgang des NAND-Gatters 60, jedesmal wenn die Einrichtung eingeschaltet wird, "L"-Niveau, wenn der Schalter 82 offen ist (Speicherschalter 44 geschlossen), und hat 1H'1-Niveau, wenn der Schalter 82 geschlossen ist (Speicherschalter 44 offen) Der Ausgangsanschluß des NAND-Gatters 60 ist mit einem Eingang des NAND-Gatters 62 verbunden, dessen anderer Eingangsanschluß über einen Widerstand 73 geerdet ist, und ist außerdem über einen Schalter 81 mit dem Anschluß 71 verbunden, an dem die Zufuhrspannung Vcc anliegt. Der Schalter 81 entspricht dem im Zusammenhang mit Fig. 1 erwähnten ersten Schalter 4, der zur Wahl der Belichtungsmeßart benutzt wird. Wenn er offen ist, ist die Integrallichtmeßart gewählt, während durch Schließen des Schalters 81 die Punktlichtmeßart gewählt werden kann. Der Ausgang des NAND-Gatters 62 hängt von der Stellung des ersten Schalters 81 und dem Ausgang des NAND-Gatters 60 oder der Stellung des zweiten Schalters 82 ab. Wenn der erste Schalter, wie gezeigt, offen ist, um die Integrallichtmeßart herzustellen, hat ein Eingang des NAND-Gatters 62 "L Niveau, so daß der Ausgang des NAND-Gatters 62 unabhängig vom Ausgang des NAND-Gatters 60. und unabhängig von der Stellung des zweiten Schalters 82 "H"-Niveau annimmt. Wenn umgekehrt der erste Schalter 81 geschlossen ist, um die Punktlichtmeßart herzustellen, wird ein Eingang von "H"-Niveau über den-Schalter 81 an das NAND-Gatter 62 angelegt und folglich hängt der Ausgang des ITAND-Gatters 62 vom Ausgang des NAND-Gatters 60 bzw. der geöffneten oder geschlossenen Stellung des zweiten Schalters 82 ab. Insbesondere sind zwei Eingänge des Gatters 62 bei geöffnetem zweitem Schalter 82 auf 9'H"-bzw. 9 iveau, während, wenn der zweite Schalter 82 geschlossen ist, beide Eingänge des NAND-Gatters auf "H"-Niveau sind. Bei geschlossenem erstem Schalter 80 hat also der Ausgang des NAND-Gatters 62 "H"-Niveau, wenn der zweite Schalter 82 offen ist, und 'sL'9-Niveaus wenn der zweite Schalter 82 geschlossen ist. Der Ausgang des NAND-Gatters 62 läßt sich anhand der Stellung des ersten und zweiten Schalters 81 bzw. 82 wie in der nachfolgenden Tabelle gezeigt zusammenfassen.
    erster Schalter 81
    offen geschlossen
    zweiter Schalter 82 offen R H
    (Speicherschalter 44) (geschlossen) Integral) (Integral)
    geschlossen H L
    (offen) Integral) (Punktmes-
    sung)
    Der Ausgangsanschluß des NAND-Gatters 62 ist mit dem anderen Eingang des NAND-Gatters 65 verbunden, dessen übriger Eingang mit dem Ausgang der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 verbunden ist, und ist außerdem über einen Inverter 64 an den anderen Eingang des NAND-Gatters 66 angeschlossen, dessen anderer Eingang mit dem Ausgangsanschluß der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 verbunden ist. Da ein Ausgang von "L"-Nveau des NAND-Gatters 62 entweder am NAND-Gatter 65 oder am NAND-Gatter 66 anliegt, hat der Ausgang desjenigen der NAND-Gatter 65 und 66, an dem der Ausgang von 11L11-Niveau anliegt, ein "H"-Riveau unabhängig vom Ausgang der zugehörigen Lichtmeßschaltung. Andererseits hängt das Ausgangsniveau des anderen der NAND-Gatter 65 und 66, an welchem der Ausgang des NAND-Gatters 62 von "H"-Niveau anliegt, vom Ausgang der zugehörigen BelichtungsmeBschaltung ab. Mit anderen Worten, jedesmal wenn das NAND-Gatter 62 einen Ausgang von "H"-Niveau hat, ist das Ausgangsniveau des NAND-Gatters 66 auch "E", unabhängig vom Ausgang der Punktbelichtungsmeßschaltung 3, während das Ausgangsniveau des NAND-Gatters 65 vom Ausgang der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 abhängt. Wenn umgekehrt das NAND-Gatter 62 einen Ausgang von "L"-Niveau hat, hat der Ausgang des NAND-Gatters 65 ein "H"-Niveau, unabhängig vom Ausgang der Integralbelichtungsmeßschaltung 2, während das Ausgangsniveau des NAND-Gatters 66 vom Ausgang der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 abhängt. Folglich wird entweder der Ausgang der Integralbelichtungsmeßschaltung 2, wenn der Ausgang des NAND-Gatters 62 "H"-Niveau hat, oder der Ausgang der Punktbelichtungsmeßschaltung 3s wenn der Ausgang des NAND-Gatters 62 "Ti'-Niveau hat, an den Ausgangsanschluß des einen oder anderen NAND-Gatters 65 oder 66 angelegt. Diese Ausgangsanschlüsse sind mit zwei Eingängen eines NAND-Gatters 67 verbunden, dessen Ausgangsanschluß über einen Widerstand 75 mit der Basis eines in der Verschlußantriebsschaltung 7 enthaltenen PNP-Transistors 76 verbunden ist. Der Kollektor des Transistors 76 ist über einen Elektromagneten 77 geerdet, welcher den zweiten Verschlußvorhang am Laufen hindert, während der Emitter mit dem Anschluß 71 verbunden ist, an dem die Zufuhrspannung Vcc anliegt.
  • Bei Benutzung der erfindungsgemäßen Einrichtung nehmen nach beendetem Filmaufzug und vor Beginn der Belichtung die Schalter 24, 29, 44 und 82 die in Fig, 2 gezeigten Stellungen ein. Betrachten wir zunächst die Integrallichtmeßart, so ist der erste Schalter 81 offen, wie gezeigt, Wenn die Einrichtung unter diesen Umstanden eingeschaltet wird, erfolgt eine Integrallichtmessung. Wie in der obigen Tabelle angegeben, hat der Ausgang des NAND-Gatters 62 ein "H"-Niveau 7 so daß die Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung 1 eine Belichtungssteuerung mit Hilfe der Integral belichtungsmeßschaltung 2 ermöglicht In Abhängigkeit vom Beginn des Verschlußauslösebetriebs wird der Speicherschalter 24 geöffnet, wenn der bewegliche Spiegel 12 (siehe Pigo 3) sich nach oben zu bewegen beginnt. Belichtungsdaten, die logarithmisch verdichtet werden, werden am Speicherkondensator 25 gespeichert. Es erfolgt ein Stromfluß in einer Art ähnlich der Spannung am Speicherkondensator 25 vom Anschluß 30 über den Schalter 29 in den Kollektor des Transistors 27. Bei Beendigung der Aufwärtsbewegung des Spiegels 12 wird der Schalter 29 geöffnet, Wodurch der erste Verschlußvorhang zu laufen beginnt, was eine Belichtung in Gang setzt. Der Integrationskondensator 28 wird anfangs auf das Niveau der Bezugsspannung VR1 geladen und beginnt sich über den Transistor 27 in Abhängigkeit von Belichtungsdaten zu entladen, die am Speicherkondensator 25 gespeichert sind. Beim Entladen des Integrationskondensators 28 nimmt die Ausgangsspannung des Funktionsverstärkers 31 allmählich ab.
  • Vor dem Verstreichen der logari-thmisch expandierten Belichtungszeitspanne bleibt die Ausgangsspannung des Funktionsverstärkers 31 höher als die Bezugsspannung VR2, die an der Vergleichsschaltung 32 anliegt, welche folglich einen Ausgang von "L"-Niveau erzeugt. In diesem Zeitpunkt hat der Ausgang des NAND-Gatters 65 "H"-Niveau, so daß der Ausgang des NAND-Gatters 67 "L"-Niveau hat, was den Transistor 76 einschaltet, um den Elektromagneten 77 erregt zu halten und dadurch den zweiten Verschlußvorhang am Laufen zu hindern. Wenn die logarithmisch expandierte Belichtungsperiode verstreicht, sinkt die Spannung am Integrationskondensator 28 oder die Ausgangsspannung des Sunktionsverstärkers 31 unter das Niveau der Bezugsspannung VR2, woraufhin der Ausgang der Vergleichsschaltung 32 auf "H"-Niveau umschaltet. Infolgedessen ändert der Ausgang des NAND-Gatters 65 sein Niveau zu "L", und dadurch ändert der Ausgang des NAND-Gatters 67 sein Ausgangsniveau zu "H", was den Transistor 76 abschaltet, um den Elektromagneten 77 zu entregen, so daß der zweite Verschlußvorhang zum Schließen des Verschlusses ablaufen kann.
  • Betrachten wir nun die Punktbelichtungsmeßart, so wird diese durch anfängliches Schließen des ersten Schalters 81 hergestellt. Wenn die Einrichtung eingeschaltet wird, wird der zweite Schalter 82 geschlossen. Da der zweite Schalter 82 mit dem in der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 enthaltenen Speicherschalter 44 zusammengeschlossen ist, wird der Schalter 82 betätigt, wenn die Kamera so auf ein aufzunehmendes Objekt gerichtet ist, daß die Abbildung des Objekts zentral im Bildfeld angeordnet ist. Ist-der erste und zweite Schalter 81, 82 geschlossen, so läßt die obige Tabelle erkennen, daß der Ausgang des NAND-Gatters 62 "L't-Niveau hat, was eine Belichtungssteuerung mit Hilfe der Punktbelichtungsmeßschaltung 5 ermöglicht Der Speicherschalter 44 wird in Abhängigkeit vom Schließen des zweiten Schalters 82 geschlossen, so daß durch Punktbelichtungemessung erhaltene und logar: jthmisch verdichtete Belichtungsinformation am Speicherkondensator 45 gespeichert wird. Anschließend bewegt der Benutzer der Kamera diese so, daß eine gewünschte photographische Komposition durch Bewegen der Abbildung des aufzunehmenden Objekts zu einer geeigneten Stelle im Bildfeld erzielt wird, ehe der Verschluß ausgelöst wird. Da der anschließende Betrieb ähnlich ist wie im Fall der Integralbelichtungsmeßschaltung 2, wird er nicht näher erläutert.
  • Ehe die logarlthmisch expandierte Belichtungszeitspanne verstreicht, die von den am Speicherkondensator 45 gespeicherten Belichtungsdaten bestimmt wird, hat der Ausgang der Vergleichsschaltung 52 "X"-Niveau und der Ausgang des NAND-Gatters 66 tH"-Miveau, so daß der Ausgang des NAND-Gatters 67 auf 1"lt1-Niveau liegt, was den Elektromagneten 77 erregt hält, um den zweiten Verschlußvorhang am Laufen zu hindern. Wenn die Belichtungszeitspanne verstreicht, andert der Ausgang der Yergleichsschaltung 52 sein Niveau ZU "H"g was ein Entregen des Elektromagneten 77 bewirkt, wodurch der zweite Verschlußvorhang sich zum Schließen des Verschlusses bewegen kann0 Schließlich soll noch der Zustand erörtert werden, der sich einstellt, wenn die Betätigung des ersten and/oder zweiten Schalters 81, 82 vergessen wird. Wie schon gesagt, kann es auf zweierlei Weise zur Nichtbetätigung dieser Schalter kommen.
  • 1.) Wenn ein Benutzer der Kamera eine Aufnahme im Wege der Integralbelichtungsmessung machen möchte, kann er den Verschluß unter der Bedingung auslösen, daß der die jeweilige Belichtungsmeßart bestimmende erste Schalter 81 geschlossen ist, wodurch die Punktbelichtungsmeßart durch Unachtsamkeit oder Vergessen hergestellt wird. Hierbei ist der erste Schalter 81 geschlossen, während der zweite Schalter 82 offen ist, so daß, wie aus der obigen Tabelle erkennbar ist, der Ausgang des NAND-Gatters 62 der Umschaltlogikschaltung 6 auf "R"-Niveau liegt, wodurch das NAND-Gatter 65 aufgesteuert wird, um eine Belichtungssteuerung in Übereinstimmung mit dem Ausgang der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 zu ermöglichen. Da der zweite Schalter 82 nicht betätigt worden ist, bleibt in diesem Zeitpunkt der Speicherschalter 44 der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 geschlossen, so daß Belichtungsinformation in Form eines am Speicherkondensator 45 gespeicherten Wertes unbestimmt ist, was dazu führt, daß die Punktbelichtungsmeßschaltung einen irreführenden Belichtungssteuerausgang an die Umschaltlogikschaltung 6 liefert. Dieser Ausgang wird jedoch vom NAND-Gatter 66 blockiert, welches dann zugesteuert wird und verhindert, daß der Verschluß in Übereinstimmung mit diesem falschen Belichtungssteuerausgang gesteuert wird. Auf diese Weise wird die vom Benutzer beabsichtigte Belichtungssteuerung gemäß der Integralbelichtungsmeßart erzielt.
  • 2.) Wenn ein Benutzer der Kamera eine Aufnahme nach der Punktbelichtungsmeßart machen möchte, kann er den Verschluß auslösen, ehe der zweite Schalter 82 betätigt bzw. geschlossen wurde, da er fälschlicherweise annimmt, daß der zweite Schalter bereits geschlossen ist, obwohl im klar ist, daß der erste Schalter 81 in geschlossene Stellung gebracht wurde, was der Punktbelichtungsmeßart entspricht. Unter diesen Umständen bleibt die geöffnete oder geschlossene Stellung des ersten und zweiten Schalters 81, 82 die gleiche wie oben erwähnt, so daß der Ausgang der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 vom NAND-Gatter 66 blockiert wird, welches dann zugesteuert ist, während ein Ausgang der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 durch das NAND-Gatter 65 geleitet werden kann, um zur Belichtungssteuerung benutzt zu werden. Es ist erkennbar, daß unter diesen Umständen zwar eine Belichtungseteuerung erfolgt, die nicht auf der vom Benutzer beabsichtigten Punktbelichtungsmeßart beruht, daß aber die Verschlußsteuerung entsprechend einer falschen Belichtungszeitspanne, die sonst bei der Punktbelichtungsmessung erfolgen würde, vermieden werden kann. Es kann also ein akzeptabler Aufnahmevorgang nach der Integralbelichtungsmeßart erreicht werden.
  • Wenn, wie schon erwähnt, erfindungsgemäß der erste Schalter 81 in die der Punktbelic'htungsmessung entsprechende Stellung gebracht wird, erfolgt immer eine Belichtungssteuerung in Übereinstimmung mit der Integralbelichtungsmessung, wenn nicht der zweite Schalter 82, der einmalig für die Innktbelichtungsmessung vorgesehen ist, positiv betätigt wird, um eine falsche Belichtungssteuerung zu vermeiden, die sonst geschehen könnte, wenn der zweite Schalter bei der punktbelichtungsmeßart nicht betätigt würde.

Claims (4)

  1. A n s p r ü c h e 1. Belichtungsmeßast-UmschaltelnrichtuPlg fur eine Kamera mit automatischer 3elichtungssteuerung, die die Wahl zwischen Integralbelichtungsmessung und Punktbelichtungsmessung ermöglicht, bei der die Photometrie des gewunschten Bereichs eines Bildfeldes nach Wunsch des Benutzers der Kamera erfolgt und die erhaltene 3elichtungsinformation in Abhängigkeit von der Handbetätigung eines Speicherschalters gespeichert wird, g e k e n n z e i c h n e t durch einen ersten Schalter (4, 81), der zur Wahl zwischen der Integral- und der Punktbelichtungsineßart betätigbar ist; einen zweiten Schalter (5, 82), der mit dem Speicherschalter (3a, 44) zusaminengeschlossen ist; und eine Umschaltlogikschaltung (6), die einen durch die Punktbelichtungsmessung erhaltenen Ausgang immer dann durchläßt, wenn der erste Schalter (4, 81) und der zweite Schalter (5, 82), beide in Stellungen gebracht sind, die der ?1mktbelichtungsmeßart entsprechen, und sonst einen Ausgang durchläßt, der durch Integralbelichtungsmesw sung erhalten wird.
  2. 2. Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung nach Anspruch 1, dadurch g e k e n n z e i c h n e t, daß die Umschaltlogikschaltung (6) einen Belichtungsmeßartschaltkreis (65) aufweist, der einen logischen Ausgang eines Niveaus immer dann erzeugt, wenn der erste (4, 81) und der zweite Schalter (5, 82) in Stellungen gebracht sind, die der Punktbelichtungsmeßart entsprechen, und sonst einen logischen Ausgang eines anderen Niveaus erzeugt, sowie einen Schaltkreis (68), der ein Paar Eingänge aufweist, denen ein Ausgang bzw0 ein anderer Ausgang des Belichtungsmeßartschaltkreises (63) zugeführt wird, und ein weiteres Paar Eingänge, denen Ausgänge zugef-ührt werden, die durch die Integralbelichtungsmessung bzw. die Punktbelichtungsmessung erhalten werden, und der wahlweise immer dann einen Ausgang der Punktbelichtungsmessung abgibt, wenn der logische Ausgang des einen Niveaus vom Belichtungsmeßartschaltkreis (63) erzeugt wird, und immer dann einen Ausgang der Integralbelichtungsmessung, wenn der logische Ausgang des anderen Niveaus vom Belichtungsmeßartschaltkreis (63) erzeugt wird.
  3. 3. Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung nach Anspruch 2, dadurch g e k e n n z e i c h n e t, daß der Belichtungsmeßartschaltkreis (63) ein R-S-?lipflop (60, 61), welches in Abhängigkeit von der Stellung des zweiten Schalters (82) ein Signal erzeugt, und ein NAND-Gatter (62) aufweist, welches einen ersten Eingang hat, dem der Ausgang des Flipflops zugeführt wird, und einen zweiten Eingang, dem das Signal zugeführt wird, welches die Stellung des ersten Schalters (81) wiedergibt.
  4. 4. Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung nach Anspruch 2, dadurch g e k e n n z e i c h n e t, daß der Schaltkreis (68) einen Inverter (64), der den Ausgang des Belichtungsmeßartschaltkreises (63) uffikehrt, ein Paar NAND-Gatter (65, 66), deren einem Eingangspaar ein nichtinvertierender bzw ein vom Inverter (64) invertierter Ausgang des Belichtungsmeßartschaltkreises (63) zugeführt wird, während deren anderem Eingangspaar ein durch Integralbelichtungsmessung erhaltener Ausgang bzw. ein durch Punktbelichtungsmessung erhaltener Ausgang zugeführt wird, und ein NAND-Gatter (67) aufweist, dessen beide Eingänge mit dem jeweiligen Ausgang der beiden NAND-Gatter (65, 66) verbunden sind.
DE3143583A 1980-11-08 1981-11-03 Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung für eine Kamera mit automatischer Belichtungssteuerung Expired DE3143583C2 (de)

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